KR20070108560A - Memory cell data reading circuit, memory circuit, and memory cell data reading method - Google Patents

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KR20070108560A
KR20070108560A KR1020077022271A KR20077022271A KR20070108560A KR 20070108560 A KR20070108560 A KR 20070108560A KR 1020077022271 A KR1020077022271 A KR 1020077022271A KR 20077022271 A KR20077022271 A KR 20077022271A KR 20070108560 A KR20070108560 A KR 20070108560A
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마사시 아사카와
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후지쯔 가부시끼가이샤
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Abstract

A memory cell data reading circuit comprising a judgment circuit (3) that reads a plurality of data from multiplexed memory cells (5) the data inverting directions of which are univocal, and that, if different data are existent in the read data, judges the data, which has not been inverted in accordance with the data inverting direction, as legal data stored in the memory cells (5); and an output part (4) that outputs, as data stored in the memory cells, the data that is judged as the legal data by the judgment circuit (3).

Description

메모리 셀의 데이터 판독 회로, 메모리 회로, 메모리 셀의 데이터 판독 방법{MEMORY CELL DATA READING CIRCUIT, MEMORY CIRCUIT, AND MEMORY CELL DATA READING METHOD}Data reading circuit of memory cell, memory circuit, data reading method of memory cell {MEMORY CELL DATA READING CIRCUIT, MEMORY CIRCUIT, AND MEMORY CELL DATA READING METHOD}

본 발명은 메모리 셀에 있어서의 소프트 에러에 대하여 에러 정정을 행하기 위한 메모리 셀의 데이터 판독 회로, 메모리 회로, 메모리 셀의 데이터 판독 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a data readout circuit of a memory cell, a memory circuit, and a data readout method of a memory cell for performing error correction for soft errors in the memory cell.

최근의 메모리 장치에 있어서는, 프로세스의 미세화, 용량의 증가, 저전압화가 진행되고 있다. 이 흐름에 따라, 소프트 에러율이 증가하는 경향이 있어 문제가 되고 있다. 여기서, 소프트 에러란 물리적인 고장 등에 의해 사용 불가능하게 되는 하드 에러와는 달리 중성자선 등의 환경의 영향에 의해 발생하는 에러로서, 재차 기록함으로써 사용 가능해지는 것이다.In recent memory devices, process miniaturization, an increase in capacity, and a decrease in voltage are in progress. With this flow, the soft error rate tends to increase, which is a problem. Here, the soft error is an error generated by the influence of the environment, such as neutron beams, unlike a hard error that cannot be used due to a physical failure or the like.

종래의 메모리 장치에 있어서는, 이 소프트 에러에 대하여, 이중화나 패리티 검사에 의한 에러 검출 또는 다수결 판정 회로나 ECC 회로에 의한 에러 정정 등의 대책이 행해지고 있었다.In the conventional memory device, countermeasures such as error detection by redundancy or parity check, or error correction by a majority vote determination circuit or an ECC circuit have been taken against this soft error.

또한, 본 발명에 관련된 종래 기술로서, 예컨대, 하기에 나타내는 특허 문헌 1이 알려져 있다. 이 오류 정정 기능이 부가된 반도체 메모리는 3개 이상의 홀수개 의 메모리 셀을 갖는 메모리 셀 어레이부와 메모리 셀 어레이부마다의 다수결 회로를 이용함으로써, 메모리 셀의 에러를 정정하는 것이다.Moreover, patent document 1 shown below is known as a prior art which concerns on this invention, for example. The semiconductor memory to which this error correction function is added corrects an error of a memory cell by using a memory cell array unit having three or more odd memory cells and a majority decision circuit for each memory cell array unit.

특허 문헌 1: 일본 특허 공개 평성 제6-52697호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-52697

그러나, 에러 검출만으로는 에러를 정정할 수 없다. 또한, 에러정정을 행하기 위해서는 에러 정정을 위한 복잡한 회로가 필요하게 된다. 예컨대, 특허 문헌 1의 오류 정정 기능이 부가된 반도체 메모리는 3개 이상의 홀수개의 메모리 셀을 갖는 메모리 셀 어레이부와 메모리 셀 어레이부마다의 다수결 회로가 필요하게 된다.However, error detection alone cannot correct the error. In addition, in order to perform error correction, a complicated circuit for error correction is required. For example, the semiconductor memory to which the error correction function of Patent Document 1 is added requires a memory cell array section having three or more odd memory cells and a majority decision circuit for each memory cell array section.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위해서 이루어진 것으로서, 복잡한 회로를 이용하지 않고서 메모리 셀의 에러를 정정할 수 있는 메모리 셀의 데이터 판독 회로, 메모리 회로, 메모리 셀의 데이터 판독 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a data reading circuit of a memory cell, a memory circuit, and a data reading method of a memory cell capable of correcting an error of the memory cell without using a complicated circuit. do.

전술한 과제를 해결하기 위해서 본 발명은 메모리 셀의 데이터를 판독하는 메모리 셀의 데이터 판독 회로로서, 메모리 셀의 데이터 반전 방향이 일률적인 다중화된 메모리 셀로부터 복수의 데이터를 판독하고, 판독한 데이터 중에 다른 데이터가 있는 경우에는, 상기 데이터 반전 방향에 따라 반전하지 않는 경우의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 판단 회로와, 상기 판단 회로에 의해 정당한 데이터로서 판단된 데이터를 메모리 셀의 기억 데이터로서 출력하는 출력부를 포함한 것이다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM In order to solve the above-mentioned subject, this invention is a data reading circuit of the memory cell which reads the data of a memory cell, Comprising: A plurality of data is read from the multiplexed memory cell in which the data reversal direction of a memory cell is uniform, When there is other data, a judgment circuit for judging data when not inverted in accordance with the data reversal direction as legitimate data stored in the memory cell, and data judged as legitimate data by the judging circuit are stored in the memory cell. It includes an output unit that outputs data.

또한, 본 발명에 따른 메모리 셀의 데이터 판독 회로에 있어서, 상기 판단 회로는 상기 다중화된 메모리 셀로부터 판독한 데이터가 전부 같은 경우에는, 상기 다중화된 메모리 셀 중 어느 하나의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 것을 특징으로 하는 것이다.Further, in the data readout circuit of the memory cell according to the present invention, if the data read out from the multiplexed memory cell are all the same, data of any one of the multiplexed memory cells is stored in the memory cell. It is characterized by judging as legitimate data.

또한, 본 발명에 따른 메모리 셀의 데이터 판독 회로에 있어서, 상기 판단 회로는 OR 회로인 것을 특징으로 하는 것이다.Further, in the data read circuit of the memory cell according to the present invention, the decision circuit is an OR circuit.

또한, 본 발명은 메모리 셀의 데이터 반전 방향이 일률적인 다중화된 메모리 셀을 갖는 메모리 회로로서, 상기 다중화된 메모리 셀로부터 복수의 데이터를 판독하고, 판독한 데이터 중에 다른 데이터가 있는 경우에는, 상기 데이터 반전 방향에 따라 반전하지 않는 경우의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 판단 회로와, 상기 판단 회로에 의해 정당한 데이터로서 판단된 데이터를 메모리 셀의 기억 데이터로서 출력하는 출력부를 포함한 것이다.In addition, the present invention is a memory circuit having a multiplexed memory cell in which the data inversion direction of the memory cell is uniform, and reads a plurality of data from the multiplexed memory cell, and when there is other data among the read data, the data And a determination circuit for judging data when not inverted in accordance with the inversion direction as legitimate data stored in the memory cell, and an output unit for outputting data judged as legitimate data by the judging circuit as memory data of the memory cell.

또한, 본 발명에 따른 메모리 회로에 있어서, 상기 판단 회로는 상기 다중화된 메모리 셀로부터 판독한 데이터가 전부 같은 경우에는, 상기 다중화된 메모리 셀 중 어느 하나의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 것을 특징으로 하는 것이다.Further, in the memory circuit according to the present invention, when the data read from the multiplexed memory cells are all the same, the judgment circuit judges any one of the multiplexed memory cells as valid data stored in the memory cell. It is characterized by.

또한, 본 발명에 따른 메모리 회로에 있어서, 상기 다중화하는 메모리 셀의 다중도를 선택적으로 설정할 수 있는 다중도 설정부를 포함하고, 상기 판단 회로는 상기 다중도 설정부에 의해 선택적으로 다중화된 모든 메모리 셀로부터의 데이터를 판독하여 상기 판단을 행하는 것을 특징으로 하는 것이다.Further, in the memory circuit according to the present invention, a multiplicity setting unit for selectively setting the multiplicity of the multiplexed memory cells, wherein the determination circuit includes all the memory cells selectively multiplexed by the multiplicity setting unit The determination is made by reading data from the data.

또한, 본 발명에 따른 메모리 회로에 있어서, 상기 판단 회로는 OR 회로인 것을 특징으로 하는 것이다.In the memory circuit according to the present invention, the determination circuit is an OR circuit.

또한, 본 발명은 메모리 셀의 데이터를 판독하는 메모리 셀의 데이터 판독 방법으로서, 메모리 셀의 데이터 반전 방향이 일률적인 다중화된 메모리 셀로부터 복수의 데이터를 판독하고, 판독한 데이터 중에 다른 데이터가 있는 경우에는, 상기 데이터 반전 방향에 따라 반전하지 않는 경우의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 판단 단계와, 상기 판단 회로에 의해 정당한 데이터로서 판단된 데이터를 메모리 셀의 기억 데이터로서 출력하는 출력 단계를 실행하는 것이다.In addition, the present invention provides a data read method of a memory cell for reading data of a memory cell, wherein a plurality of data is read from a multiplexed memory cell in which the data reversal direction of the memory cell is uniform, and there is other data among the read data. The judgment step of judging data in the case of not inverting according to the data inversion direction as legitimate data stored in a memory cell, and an output for outputting data judged as legitimate data by the judging circuit as memory data of the memory cell. To execute the steps.

또한, 본 발명에 따른 메모리 셀의 데이터 판독 방법에 있어서, 상기 판단 단계는 상기 다중화된 메모리 셀로부터 판독한 데이터가 전부 같은 경우에는, 상기 다중화된 메모리 셀 중 어느 하나의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 것을 특징으로 하는 것이다.Further, in the data reading method of the memory cell according to the present invention, if the data read from the multiplexed memory cell are all the same, data of any one of the multiplexed memory cells is stored in the memory cell. It is characterized by judging as legitimate data.

도 1은 본 발명의 실시 형태의 구성의 일례를 도시한 블록도.1 is a block diagram showing an example of a configuration of an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 실시 형태에 있어서의 데이터 판독 동작의 일례를 도시한 흐름도.2 is a flowchart showing an example of a data reading operation in the embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 실시 형태의 구성의 다른 일례를 도시한 블록도.3 is a block diagram showing another example of the configuration of the embodiment of the present invention;

이하, 본 발명의 실시 형태에 대해서 도면을 참조하면서 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described, referring drawings.

메모리 셀은 전하의 양으로 데이터의 값을 나타내고 있다. 본 실시 형태에서 는, 메모리 셀에 있어서 전하가 많은 상태의 데이터의 값을 "1"로 하고, 전하가 적은 상태의 데이터의 값을 "0"으로 한다. 본 발명은 DRAM(Dynamic Random Access Memory)이나 플래시 RAM(Random Access Memory) 등, 메모리 셀의 소프트 에러에 의한 데이터의 반전 방향이 정해져 있는 메모리에 적용한다. 이러한 메모리는 중성자선 등의 영향에 의해 메모리 셀의 전하가 이동함으로써, 전하가 많은 상태로부터 적은 상태로 데이터가 반전하는 소프트 에러가 발생한다. 즉, 본 실시 형태에 있어서의 소프트 에러의 반전 방향은 "1"에서 "0"으로의 방향이다.The memory cell represents the value of data by the amount of charge. In the present embodiment, the value of data in a state of high charge is set to "1" and the value of data in a state of low charge is set to "0" in the memory cell. The present invention is applied to a memory in which data reversal direction due to soft error of a memory cell is determined, such as DRAM (Dynamic Random Access Memory) or Flash RAM (Random Access Memory). In such a memory, a soft error in which data is inverted from a state of high charge to a state of charge occurs due to the movement of charges in a memory cell under the influence of neutron beams. That is, the inversion direction of the soft error in this embodiment is a direction from "1" to "0".

우선, 본 발명의 실시 형태의 구성에 대해서 설명한다.First, the structure of embodiment of this invention is demonstrated.

도 1은 본 발명의 실시 형태의 구성의 일례를 도시한 블록도이다. 본 실시 형태는 입력부(1), 메모리 셀 그룹(2), 판단 회로(3), 출력부(4)를 구비한다. 메모리 셀 그룹(2)은 인접한 2개의 메모리 셀(5)을 다중화한 것이다. 판단 회로(3)는 메모리 셀 그룹(2)으로 구비된다.1 is a block diagram illustrating an example of a configuration of an embodiment of the present invention. This embodiment includes an input unit 1, a memory cell group 2, a determination circuit 3, and an output unit 4. The memory cell group 2 is a multiplex of two adjacent memory cells 5. The determination circuit 3 is provided with the memory cell group 2.

다음에, 본 발명의 실시 형태의 동작에 대해서 설명한다.Next, operation | movement of embodiment of this invention is demonstrated.

우선, 본 발명의 실시 형태에 있어서의 데이터 기록의 동작에 대해서 설명한다. 데이터 입력부(1)는 외부로부터의 데이터 기록의 지시에 따라 지시된 메모리 셀 그룹(2)으로 데이터를 전달한다. 메모리 셀 그룹(2)에 입력된 데이터는 모든 메모리 셀(5)과 같이 기록된다.First, the operation of data recording in the embodiment of the present invention will be described. The data input unit 1 transfers data to the indicated memory cell group 2 in accordance with an instruction of data writing from the outside. Data input to the memory cell group 2 is written like all the memory cells 5.

다음에, 본 발명의 실시 형태에 있어서의 데이터 판독의 동작에 대해서 설명한다. 도 2는 본 발명의 실시 형태에 있어서의 데이터 판독의 동작의 일례를 도시한 흐름도이다. 우선, 판단 회로(3)는 대응하는 메모리 셀 그룹(2)에 있어서의 모 든 메모리 셀(5)로부터 데이터를 판독한다(S11). 다음에, 판단 회로(3)는 모든 메모리 셀(5)로부터의 데이터가 같은지 여부의 판단을 행한다(S12). 데이터가 같은 경우(S12, Y), 판단 회로(3)는 소프트 에러가 없다고 판단하여 메모리 셀 그룹(2)으로부터 판독된 같은 데이터를 정당한 데이터로서 결정하고(S13), 처리 S15로 이행한다. 한편, 데이터가 다른 경우(S12, N), 판단 회로(3)는 소프트 에러가 있다고 판단하여 에러의 정정을 행하고(S14), 처리 S15로 이행한다. 여기서, 에러의 정정이란 소프트 에러에 의한 반전 방향에 따라 반전하지 않는 경우의 데이터를 정당한 데이터로서 결정하는 것이다. 본 실시 형태에 있어서의 반전 방향은 "1"에서 "0"으로의 방향이기 때문에, 메모리 셀 그룹(2)에 있어서의 다른 데이터 중, "0"은 소프트 에러에 의해 반전한 결과라고 판단하고, "1"을 반전하지 않는 정당한 데이터로서 결정한다. 이러한 판단 회로(3)는 OR 회로를 이용하여 실현할 수 있고, 매우 작은 회로 규모로 실현할 수 있다.Next, the operation of reading data in the embodiment of the present invention will be described. 2 is a flowchart showing an example of the operation of reading data in the embodiment of the present invention. First, the determination circuit 3 reads data from all the memory cells 5 in the corresponding memory cell group 2 (S11). Next, the judgment circuit 3 judges whether or not the data from all the memory cells 5 are the same (S12). If the data is the same (S12, Y), the determination circuit 3 determines that there is no soft error, and determines the same data read from the memory cell group 2 as legitimate data (S13), and the process proceeds to process S15. On the other hand, when the data is different (S12, N), the determination circuit 3 determines that there is a soft error, corrects the error (S14), and proceeds to process S15. Here, the error correction is to determine the data in the case of not inverting in accordance with the inversion direction due to the soft error as legitimate data. Since the inversion direction in this embodiment is a direction from "1" to "0", it is judged that "0" is the result of inversion by a soft error among other data in the memory cell group 2, "1" is determined as legitimate data that does not invert. Such a determination circuit 3 can be realized by using an OR circuit, and can be realized on a very small circuit scale.

다음에, 출력부(4)는 판단 회로(3)에 의해 결정된 정당한 데이터를 외부로 출력하고(S15), 이 플로우를 종료한다.Next, the output part 4 outputs the legitimate data determined by the determination circuit 3 to the outside (S15), and complete | finishes this flow.

또한, 본 실시 형태에 있어서는, 메모리 셀 그룹(2)에 있어서의 메모리 셀(5)의 다중도를 2로 하였지만, 메모리 셀의 미사용 영역에 여유가 있으면, 다중도를 증가시키고, 보다 많은 인접한 메모리 셀을 메모리 셀 그룹으로 하여도 좋다. 이 다중도의 증가에 따르면, 메모리 셀 그룹(2)의 메모리 셀(5)이 전부 에러가 됨으로써 에러를 정정할 수 없는 경우를 줄일 수 있어 신뢰도를 향상시킬 수 있다.In the present embodiment, the multiplicity of the memory cells 5 in the memory cell group 2 is set to 2, but if there is room in the unused areas of the memory cells, the multiplicity is increased to allow more adjacent memories. The cell may be a memory cell group. According to this increase in the degree of multiplicity, the memory cells 5 of the memory cell group 2 become all errors, thereby reducing the cases in which the error cannot be corrected and improving the reliability.

또한, 메모리 셀의 미사용 영역의 수나 필요로 되는 신뢰성에 따라 외부로부 터의 지시에 의해 다중도를 설정할 수 있도록 하여도 좋다. 도 3은 본 발명의 실시 형태의 구성의 다른 일례를 도시한 블록도이다. 도 3에 있어서, 도 1과 동일 부호는 도 1에 도시된 대상과 동일하거나 또는 동등한 것을 나타내고 있어 여기서의 설명을 생략한다. 도 1과 비교하면 도 3은 입력부(1) 대신에 입력부(11)를 구비하고, 판단 회로(3) 대신에 판단 회로(13)를 구비하며, 출력부(4) 대신에 출력부(14)를 구비하고, 새롭게 다중도 설정부(16)를 구비한다. 다중도 설정부(16)는 외부로부터의 지시에 따라 임의의 수의 메모리 셀(5)을 다중화한 메모리 셀 그룹을 설정한다. 데이터 기록시에 있어서, 입력부(11)는 다중도 설정부(16)가 설정한 메모리 셀 그룹에 데이터를 기록한다. 데이터 판독시에 있어서, 판단 회로(13)는 다중도 설정부(16)가 설정한 메모리 셀 그룹으로부터 데이터를 판독하고, 전술한 데이터 판독 동작을 행하여 정당한 데이터를 결정한다. 출력부(14)는 판단 회로(13)에 의해 결정된 정당한 데이터를 외부로 출력한다.In addition, depending on the number of unused areas of the memory cell and the required reliability, the multiplicity may be set by an instruction from the outside. 3 is a block diagram showing another example of the configuration of the embodiment of the present invention. In FIG. 3, the same code | symbol as FIG. 1 shows the same or same thing as the object shown in FIG. 1, and abbreviate | omits description here. Compared to FIG. 1, FIG. 3 includes an input unit 11 instead of the input unit 1, a determination circuit 13 instead of the determination circuit 3, and an output unit 14 instead of the output unit 4. And a multiplicity setting unit 16. The multiplicity setting section 16 sets a memory cell group multiplexed with any number of memory cells 5 according to an instruction from the outside. In data writing, the input unit 11 writes data in the memory cell group set by the multiplicity setting unit 16. At the time of data reading, the decision circuit 13 reads data from the memory cell group set by the multiplicity setting section 16 and performs the above-described data reading operation to determine valid data. The output unit 14 outputs valid data determined by the determination circuit 13 to the outside.

또한, 판단 단계는 실시 형태에 있어서의 처리 S11, S12,S13,S14에 대응한다. 또한, 출력 단계는 실시 형태에 있어서의 처리 S15에 대응한다.In addition, the determination step corresponds to the processes S11, S12, S13, and S14 in the embodiment. In addition, an output step corresponds to the process S15 in embodiment.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 2개 이상의 메모리 셀과 아주 간단한 판정부만으로 에러 정정을 행할 수 있고, 종래와 같이, 3개 이상의 메모리 셀과 다수결 판정부를 필요로 하는 다수결에 의한 에러 정정이나 복잡한 계산 회로를 필요로 하는 ECC에 의한 에러 정정에 비하여 회로 규모를 대폭 삭감할 수 있다.As described above, according to the present invention, error correction can be performed only by two or more memory cells and a very simple decision unit. As in the related art, error correction by majority vote requiring three or more memory cells and a majority decision determination unit or The circuit scale can be significantly reduced compared to error correction by ECC which requires a complicated calculation circuit.

Claims (9)

메모리 셀의 데이터를 판독하는 메모리 셀의 데이터 판독 회로로서,A data reading circuit of a memory cell for reading data of a memory cell, 메모리 셀의 데이터 반전 방향이 일률적인 다중화된 메모리 셀로부터 복수의 데이터를 판독하고, 판독한 데이터 중에 다른 데이터가 있는 경우에는, 상기 데이터 반전 방향에 따라 반전하지 않는 경우의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 판단 회로와,When a plurality of pieces of data are read from a multiplexed memory cell in which the data inversion direction of the memory cell is uniform, and if there is other data among the read data, data stored in the memory cell when not inverted in accordance with the data inversion direction is stored. A judgment circuit judging as legitimate data, 상기 판단 회로에 의해 정당한 데이터로서 판단된 데이터를 메모리 셀의 기억 데이터로서 출력하는 출력부를 포함하여 이루어지는 메모리 셀의 데이터 판독 회로.And an output unit for outputting data judged as legitimate data by the determination circuit as storage data of the memory cell. 제1항에 있어서, 상기 판단 회로는 상기 다중화된 메모리 셀로부터 판독한 데이터가 전부 같은 경우에는, 상기 다중화된 메모리 셀 중 어느 하나의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 것을 특징으로 하는 메모리 셀의 데이터 판독 회로.The data determining apparatus of claim 1, wherein the determination circuit judges any one of the multiplexed memory cells as valid data stored in the memory cell when the data read out from the multiplexed memory cells are the same. Data readout circuit of the memory cell. 제1항에 있어서, 상기 판단 회로는 OR 회로인 것을 특징으로 하는 메모리 셀의 데이터 판독 회로.2. The data read circuit of claim 1, wherein the decision circuit is an OR circuit. 메모리 셀의 데이터 반전 방향이 일률적인 다중화된 메모리 셀을 갖는 메모 리 회로로서,A memory circuit having multiplexed memory cells in which the data reversal direction of the memory cells is uniform, 상기 다중화된 메모리 셀로부터 복수의 데이터를 판독하고, 판독한 데이터 중에 다른 데이터가 있는 경우에는, 상기 데이터 반전 방향에 따라 반전하지 않는 경우의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 판단 회로와,A judging circuit that reads a plurality of data from the multiplexed memory cells, and judges the data in the case of not inverting in accordance with the data reversal direction as legitimate data stored in the memory cell when there is other data among the read data; , 상기 판단 회로에 의해 정당한 데이터로서 판단된 데이터를 메모리 셀의 기억 데이터로서 출력하는 출력부를 포함하여 이루어지는 메모리 회로.And an output unit for outputting data judged as valid data by the determination circuit as storage data of a memory cell. 제4항에 있어서, 상기 판단 회로는 상기 다중화된 메모리 셀로부터 판독한 데이터가 전부 같은 경우에는, 상기 다중화된 메모리 셀 중 어느 하나의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 것을 특징으로 하는 메모리 회로.The data determining apparatus according to claim 4, wherein the determination circuit judges any one of the multiplexed memory cells as valid data stored in the memory cell when the data read out from the multiplexed memory cells are the same. Memory circuit. 제4항에 있어서, 상기 다중화하는 메모리 셀의 다중도를 선택적으로 설정할 수 있는 다중도 설정부를 포함하고,The apparatus of claim 4, further comprising a multiplicity setting unit for selectively setting a multiplicity of the multiplexed memory cells. 상기 판단 회로는 상기 다중도 설정부에 의해 선택적으로 다중화된 모든 메모리 셀로부터의 데이터를 판독하여 상기 판단을 행하는 것을 특징으로 하는 메모리 회로.And the judgment circuit reads out data from all memory cells selectively multiplexed by the multiplicity setting section and performs the judgment. 제4항에 있어서, 상기 판단 회로는 OR 회로인 것을 특징으로 하는 메모리 회로.5. The memory circuit according to claim 4, wherein said determination circuit is an OR circuit. 메모리 셀의 데이터를 판독하는 메모리 셀의 데이터 판독 회로로서,A data reading circuit of a memory cell for reading data of a memory cell, 메모리 셀의 데이터 반전 방향이 일률적인 다중화된 메모리 셀로부터 복수의 데이터를 판독하고, 판독한 데이터 중에 다른 데이터가 있는 경우에는, 상기 데이터 반전 방향에 따라 반전하지 않는 경우의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 판단 단계와,When a plurality of pieces of data are read from a multiplexed memory cell in which the data inversion direction of the memory cell is uniform, and if there is other data among the read data, data stored in the memory cell when not inverted in accordance with the data inversion direction is stored. A judgment step of judging as legitimate data, 상기 판단 회로에 의해 정당한 데이터로서 판단된 데이터를 메모리 셀의 기억 데이터로서 출력하는 출력 단계를 포함하여 이루어지는 메모리 셀의 데이터 판독 방법.And an output step of outputting, as the stored data of the memory cell, data determined as legitimate data by the judgment circuit. 제8항에 있어서, 상기 판단 단계는 상기 다중화된 메모리 셀로부터 판독한 데이터가 전부 같은 경우에는, 상기 다중화된 메모리 셀 중 어느 하나의 데이터를 메모리 셀에 기억된 정당한 데이터로서 판단하는 것을 특징으로 하는 메모리 셀의 데이터 판독 방법.10. The method as claimed in claim 8, wherein the determining step judges that any one of the multiplexed memory cells is valid data stored in the memory cell when the data read from the multiplexed memory cells are the same. Method of reading data from a memory cell.
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