KR20070032401A - Digital frequency locked delay line - Google Patents
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Abstract
장치는 입력 신호에 기초하여 다수의 출력 신호를 제공하는 지연 동기 회로를 갖는 신호 발생기를 포함한다. 이들 출력 신호는 서로와 또한 입력 신호와 고정된 신호 관계를 갖는다. 신호 발생기는 또한 출력 신호에 의해 형성되는 어떤 범위의 신호들로부터 인에이블 신호를 선택하는 셀렉터를 포함한다. 이 장치는 송수신기 회로를 더 포함하며, 이 송수신기 회로는 데이터 처리를 위해 인에이블 신호를 사용한다.The apparatus includes a signal generator having a delay synchronization circuit that provides a plurality of output signals based on the input signal. These output signals have a fixed signal relationship with each other and with the input signal. The signal generator also includes a selector that selects the enable signal from a range of signals formed by the output signal. The apparatus further includes a transceiver circuit, which uses the enable signal for data processing.
반도체 장치, 디지털 주파수 동기 지연선, 지연 동기 회로, 위상 검출기, Semiconductor devices, digital frequency synchronization delay lines, delay synchronization circuits, phase detectors,
Description
본 발명은 일반적으로 반도체 장치에 관한 것이며, 보다 상세하게는 반도체 장치에서의 신호의 발생에 관한 것이다.FIELD OF THE INVENTION The present invention generally relates to semiconductor devices, and more particularly to the generation of signals in semiconductor devices.
메모리 장치, 메모리 컨트롤러, 및 프로세서 등의 반도체 장치는 데이터를 저장 및 처리하기 위해 많은 컴퓨터 및 전자 제품에 존재한다. 이들 장치 대부분은 서로 또는 동일 장치 내에서 통신을 하기 위해 전기 신호를 사용한다.BACKGROUND Semiconductor devices, such as memory devices, memory controllers, and processors, exist in many computers and electronics to store and process data. Most of these devices use electrical signals to communicate with each other or within the same device.
장치의 동작 속도는 신호의 주파수에 부분적으로 의존한다. 반도체 장치가 더욱 진보됨에 따라, 장치의 한 부분은 한 주파수에서 동작하고, 동일 장치의 또는 다른 장치의 또다른 부분은 다른 주파수에서 동작할 수 있다. 따라서, 동일 장치의 서로 다른 부분 또는 서로 다른 장치에서의 서로 다른 동작을 동기화시키는 것이 복잡하고 제약될 수 있다.The operating speed of the device depends in part on the frequency of the signal. As semiconductor devices become more advanced, one part of the device may operate at one frequency and another part of the same device or another device may operate at a different frequency. Thus, synchronizing different operations on different parts of the same device or on different devices can be complex and constrained.
본 발명의 실시예들은 반도체 장치에 유연성을 제공하여 동일한 장치 내에서의 동작 또는 서로 다른 장치들 간의 동작을 개선시키기 위해 광범위한 주파수에 걸쳐 어떤 범위의 안정된 신호를 발생하는 회로 및 방법을 제공한다.Embodiments of the present invention provide circuits and methods for generating a range of stable signals over a wide range of frequencies to provide flexibility in semiconductor devices to improve operation within the same device or between different devices.
한 측면은 지연선을 갖는 장치를 포함한다. 이 지연선은 다수의 가변 지연 셀을 갖는다. 각각의 가변 지연 셀은 지연 코드를 수신하는 다수의 지연 제어 노드를 갖는다. 이 장치는 또한 지연선의 입력 노드 및 출력 노드로부터의 신호를 비교하는 위상 검출기를 포함한다. 이 장치는 또한 상기 위상 검출기에 응답하여 지연 코드를 조정하는 코드 조정기를 포함한다. 이 장치는 또한 인에이블 신호를 제공하기 위해 상기 가변 지연 셀의 다수의 출력 노드로부터의 일정 범위의 출력 신호로부터 선택을 하는 셀렉터를 포함한다.One aspect includes a device having a delay line. This delay line has a plurality of variable delay cells. Each variable delay cell has a number of delay control nodes that receive a delay code. The apparatus also includes a phase detector for comparing the signals from the input and output nodes of the delay line. The apparatus also includes a code adjuster that adjusts the delay code in response to the phase detector. The apparatus also includes a selector that selects from a range of output signals from the plurality of output nodes of the variable delay cell to provide an enable signal.
다른 측면은 신호를 발생하는 방법을 포함한다. 이 방법은 다수의 가변 지연 셀에 지연 코드를 설정한다. 이 방법은 지연된 출력 신호를 획득하기 위해 상기 가변 지연 셀을 통해 입력 신호를 전파시킨다. 이 방법은 상기 입력 신호와 상기 지연된 출력 신호가 고정된 신호 관계를 가질 때까지 상기 지연된 출력 신호를 조정한다. 이 방법은 상기 가변 지연 셀의 다수의 출력 노드에서 일정 범위의 출력 신호로부터 선택을 한다. 이 방법은 상기 선택된 출력 신호를 인에이블 노드로 전달한다.Another aspect includes a method of generating a signal. This method sets delay codes for a number of variable delay cells. This method propagates an input signal through the variable delay cell to obtain a delayed output signal. This method adjusts the delayed output signal until the input signal and the delayed output signal have a fixed signal relationship. This method selects from a range of output signals at multiple output nodes of the variable delay cell. This method delivers the selected output signal to an enable node.
추가의 측면은 신호를 처리하는 방법을 포함한다. 이 방법은 적어도 하나의 데이터 신호 및 적어도 하나의 스트로브 신호를 수신한다. 이 방법은 셀 출력 신호 각각이 입력 신호와 고정된 신호 관계를 갖도록 복수의 셀 출력 신호를 획득하기 위해 다수의 가변 지연 셀을 통해 입력 신호를 전파시킨다. 이 방법은 상기 셀 출력 신호 중 하나를 인에이블 신호로 선택한다. 이 방법은 데이터 신호 및 스트로브 신호 중 적어도 하나를 상기 장치의 한 부분으로부터 상기 장치의 다른 부분으로 전달하기 위해 적어도 하나의 수신기를 활성화시킨다.Further aspects include a method of processing a signal. The method receives at least one data signal and at least one strobe signal. This method propagates the input signal through a plurality of variable delay cells to obtain a plurality of cell output signals such that each of the cell output signals has a fixed signal relationship with the input signal. This method selects one of the cell output signals as an enable signal. The method activates at least one receiver for transferring at least one of a data signal and a strobe signal from one part of the device to another part of the device.
본 발명의 다른 측면들은 도면 및 청구항을 포함하여 본 출원을 검토해보면 명백해질 것이다.Other aspects of the present invention will become apparent upon a review of the present application, including the drawings and the claims.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 지연 동기 회로를 갖는 신호 발생기를 나타낸 도면.1 illustrates a signal generator having a delay synchronization circuit according to embodiments of the present invention.
도 2는 도 1에 대한 예시적인 타이밍도.2 is an exemplary timing diagram for FIG. 1.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디지털 지연 코드 발생기를 갖는 지연 제어기를 나타낸 도면.3 illustrates a delay controller having a digital delay code generator in accordance with embodiments of the present invention.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 가변 지연 셀을 갖는 지연선을 나타낸 도면.4 illustrates a delay line having a variable delay cell according to embodiments of the present invention.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 메모리 장치를 나타낸 도면.5 illustrates a memory device according to embodiments of the present invention.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 메모리 시스템을 나타낸 도면.6 illustrates a memory system in accordance with embodiments of the present invention.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 전자 시스템을 나타낸 도면.7 illustrates an electronic system in accordance with embodiments of the present invention.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 테스팅 시스템을 나타낸 도면.8 illustrates a testing system in accordance with embodiments of the present invention.
이하의 설명 및 도면은 당업자가 본 발명을 충분히 실시할 수 있게 해줄 수 있는 본 발명의 특정 실시예를 나타낸 것이다. 다른 실시예들은 구조적, 논리적, 전기적 프로세스 및 다른 변화를 포함할 수 있다. 도면에서, 유사한 참조 번호는 몇개의 도면에 걸쳐 거의 유사한 구성요소를 나타낸다. 예들은 가능한 변형들을 대표할 뿐이다. 어떤 실시예들의 일부분 및 특징부는 다른 실시예들의 일부분 및 특징부에 포함되거나 이들을 치환할 수 있다. 본 발명의 범위는 청구항 및 모든 이용가능한 등가물을 포괄한다.The following description and drawings illustrate specific embodiments of the present invention that will enable those skilled in the art to fully practice the present invention. Other embodiments may include structural, logical, electrical processes, and other changes. In the drawings, like reference numerals refer to like elements throughout the several views. The examples only represent possible variations. Portions and features of certain embodiments may be included in or substituted for parts and features of other embodiments. The scope of the invention is encompassed by the claims and all available equivalents.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 지연 동기 회로를 갖는 신호 발생기(100)를 나타낸 것이다. 신호 발생기(100)는 지연 동기 회로(110), 인에이블 제어기(120), 및 셀렉터(131, 132)를 포함한다. 지연 동기 회로(110)는 입력 노드(101)에서 입력 신호(CLK_IN)를 수신하고 출력 노드(102)에서 지연된 출력 신호(DL_OUT)를 발생한다. DL_OUT 신호는 CLK_IN 신호의 지연된 버전이다. 어떤 실시예에서, CLK_IN 신호는 클럭 신호이다. 지연 동기 회로(110)는 또한 노드(101) 및 셀 출력 노드(111, 112, 113)에서 다수의 셀 출력 신호(EN0-EN3(EN0, EN1, EN2, EN3))를 발생한다. 지연 동기 회로(110)는 셀렉터(131)의 선택을 제어하기 위해 선택 노드(109) 상에 로크 신호(LOCK)를 발생한다.1 illustrates a
셀렉터(131)는 입력 노드(133) 상에서 클럭 신호(CLK)를 수신하고 노드(135) 상에서 프리앰블 신호(PREAMBLE_EN)를 수신한다. LOCK 신호의 상태에 기초하여, 셀렉터(131)는 CLK 신호 또는 PREAMBLE_EN 신호 중 하나를 노드(101) 상의 CLK_IN 신호로 선택한다. 어떤 실시예들에서, CLK 신호는 클럭 신호이다.The
인에이블 제어기(120)는 제어 신호(CNTL)에 응답하여 셀렉터(131)에 PREAMBLE_EN 신호를 제공하고 선택 노드(128) 상에 인에이블 코드(EN_CODE)를 제공한다. 어떤 실시예들에서, EN_CODE는 서로 다른 신호선 상의 다수의 서로 다른 신호에 의해 제공된 다수의 이진 비트의 조합이다. 도 1은 명확함을 위해 선들(128)을 하나의 선으로 나타내고 있다.
셀렉터(132)는 EN0-EN3 신호 중 하나를 선택하여 인에이블(EN) 신호로서 인에이블 노드(190)로 보내기 위해 EN_CODE를 사용한다. 따라서, EN 신호는 EN_CODE의 값에 기초하여 인에이블 제어기(120)에 의해 선택된 EN0-EN3 신호 중 하나이다.The
지연 동기 회로(110)는 다수의 지연 셀(121-124)(121, 122, 123, 124)을 갖는 지연선(104)과, 위상 검출기(106), 반전 유닛(115) 및 코드 조정기(108)를 포함하는 지연 제어기(105)를 포함한다. 도 1에 나타낸 실시예에서, 지연선(104)은, 예로서, 4개의 지연 셀(121-124)을 포함한다. 어떤 실시예들에서, 지연선(104)의 지연 셀의 수는 4와 다를 수 있다. 따라서, 어떤 실시예들에서, EN0-EN3 신호 등의 셀 출력 신호의 수는 4와 다를 수 있다.The
지연선(104)은 입력 노드(101)와 출력 노드(102) 사이의 CLK_IN 신호의 신호경로에 지연(지연 시간)을 적용한다. 지연선(104)에 의해 적용되는 지연량은 지연 셀(121-124)의 총 지연량이다. 지연 셀(121-124) 각각의 지연량은 선(138) 상의 동일한 지연 코드(DL_CODE)에 의해 제어된다. 지연 셀(121-124) 각각은 가변 지연 셀이다. 지연 셀(121-124) 각각이 동일한 DL_CODE에 의해 제어되기 때문에, 지연 셀(121-124) 각각은 DL_CODE의 값에 상관없이 동일한 또는 같은 지연량을 갖는다. 어떤 실시예들에서, DL_CODE는 디지털 코드이다. 따라서, 어떤 실시예들에서, 지연 셀(121-124) 각각의 지연은 디지털적으로 제어된다.
위상 검출기(106)는 신호(CLK_IN*) 및 DL_OUT 신호를 수신하는 입력 노드를 갖는다. CLK_IN* 신호는 인버터(115)의 출력 노드에서의 CLK_IN 신호의 반전이다. 어떤 실시예에서, 인버터(115)는 위상 검출기(106) 내에 포함되어 있다. 위상 검 출기(106)는 조정 신호(ADJ1, ADJ2)를 제공하는 출력 노드(126, 127)를 갖는다.
코드 조정기(108)는 ADJ1 및 ADJ2 신호에 응답하여 선(138) 상에 DL_CODE를 출력한다. 어떤 실시예들에서, DL_CODE는 서로 다른 신호선 상의 다수의 서로 다른 신호에 대응하는 다수의 이진 비트의 조합으로 표현되는 디지털 코드이다. 도 1은 명확함을 위해 선들(138)을 하나의 선으로 나타내고 있다.The
지연 동기 회로(110)는 CLK_IN 신호를 사용하여, DL_OUT 신호가 CLK_IN 신호와 신호 관계를 갖도록, DL_OUT 신호를 발생한다. 도 1에서, DL_OUT 신호는 CLK_IN 신호와 180도 위상이 벗어나 있다.The
지연 동기 회로(110)는 사전 동기 모드(pre-locked mode) 및 동기 모드(locked mode)를 갖는다. 사전 동기 모드에서, CLK_IN* 신호와 DL_OUT 신호 간의 위상은 고정된 관계에 있지 않을 수 있다. 지연 동기 회로(110)는 CLK_IN* 신호와 DL_OUT 신호 간의 위상이 고정될 때까지 지연선(104)을 조정한다. 도 1에서, 지연 동기 회로(110)는, CLK_IN 신호와 DL_OUT 신호가 동일한 위상을 가질 때까지, 지연선(104)을 조정한다. CLK_IN 신호 및 DL_OUT 신호가 동일한 위상을 가질 때, 지연 동기 회로(110)는 지연 동기 회로(110)를 동기 모드에 두기 위해 LOCK 신호를 활성화시킨다.The
사전 동기 모드에서, 위상 검출기(106)는 CLK_IN* 신호와 DL_OUT 신호 간의 위상차를 비교한다. 어떤 실시예들에서, 위상 검출기(106)는 CLK_IN* 신호와 DL_OUT 신호의 상승 엣지(또는 하강 엣지)를 비교한다. CLK_IN* 및 DL_OUT 신호의 엣지가 일치하지 않는 경우, 위상 검출기(106)는 ADJ1 신호 및 ADJ2 신호 중 하나 를 활성화시킨다. 코드 조정기(108)는 ADJ1 또는 ADJ2 신호에 응답하여 DL_CODE의 값을 조정한다(증가 또는 감소시킨다). DL_CODE의 값은 지연선(104)이 CLK_IN 신호에 적용하는 지연량을 제어한다. 따라서, DL_CODE의 값이 조정될 때, 지연선(104)의 지연량도 역시 조정된다. 비교 및 조정 프로세스는 CLK_IN* 및 DL_OUT 신호가 동일한 위상을 가질 때까지 수행된다. CLK_IN* 및 DL_OUT 신호가 동일한 위상을 가질 때, 지연 동기 회로(110)는 지연 동기 회로(110)를 동기 모드에 두기 위해 LOCK 신호를 활성화시킨다.In the pre-sync mode,
도 1에서, CLK_IN* 신호가 CLK_IN 신호의 반전이기(CLK_IN 신호와 180도 위상이 벗어나 있기) 때문에, 지연 동기 회로(110)가 동기 모드에 있을 때, DL_OUT 신호도 역시 CLK_IN 신호와 180도 위상이 벗어나 있다.In Fig. 1, since the CLK_IN * signal is the inversion of the CLK_IN signal (out of 180 degree phase with the CLK_IN signal), when the
도 2는 도 1에 대한 예시적인 타이밍도이다. 도 2는 동기 모드에 있는 지연 동기 회로(100)(도 1)의 타이밍을 나타낸 것이다. 명확함을 위해, 도 2는 셀렉터(131, 132)에 의해 야기되는 지연을 무시한다. 도 2에 나타낸 바와 같이, DL_OUT 및 CLK_IN* 신호는 동일한 위상을 갖는다. DL_OUT 신호는 CLK_IN 신호와 180도 위상이 벗어나 있다. TCK는 CLK 또는 CLK_IN 신호의 사이클(주기)을 나타낸다.2 is an exemplary timing diagram for FIG. 1. 2 shows the timing of the delay synchronization circuit 100 (FIG. 1) in the synchronization mode. For clarity, FIG. 2 ignores the delay caused by the
도 2는 EN0-EN3 신호가 CLK_IN 신호와 또한 서로 고정된 신호 관계를 갖는 것을 나타낸 것이다. 도 2에 나타낸 바와 같이, EN1-EN3 신호 각각은 CLK 또는 CLK_IN 신호에 대해 1/8 TCK(1/8 클럭 사이클)의 배수의 고정된 지연을 갖는다. 예 를 들어, EN1 신호는 CLK 또는 CLK_IN 신호에 대해 1/8 TCK의 지연을 갖는다. 다른 예로서, EN2 신호는 CLK 또는 CLK_IN 신호에 대해 1/8 TCK의 2배의 지연을 갖는다. 또한, 도 2는 EN1-EN3 신호 각각이 서로에 대해 1/8 TCK의 배수의 고정된 지연을 가짐을 나타내고 있다. 예를 들어, EN1 신호는 EN2 신호에 대해 1/8 TCK의 지연을 가지며, 또 EN3 신호에 대해 1/8 TCK의 2배(또는 1/4 클럭 사이클)의 지연을 갖는다.2 shows that the EN0-EN3 signals have a fixed signal relationship with the CLK_IN signal. As shown in FIG. 2, each of the EN1-EN3 signals has a fixed delay of multiples of 1/8 T CK (1/8 clock cycles) for the CLK or CLK_IN signal. For example, the EN1 signal has a delay of 1/8 T CK relative to the CLK or CLK_IN signal. As another example, the EN2 signal has a delay twice the 1/8 T CK for the CLK or CLK_IN signal. 2 also shows that each of the EN1-EN3 signals has a fixed delay multiple of 1/8 T CK relative to each other. For example, the EN1 signal has a delay of 1/8 T CK for the EN2 signal and twice the delay (or 1/4 clock cycle) of 1/8 T CK for the EN3 signal.
어떤 실시예에서, EN0-EN3 신호 각각은 CLK 또는 CLK_IN 신호에 대해 TCK의 N배(N TCK)(단, N은 1보다 작은 실수임)와 같은 고정된 지연을 갖는다.In certain embodiments, EN0-EN3 signals each of N times the T CLK or CLK_IN signal CK for the (NT CK) (where, N is a real number being less than 1) has a fixed delay, such as.
EN0-EN3 신호가 CLK 또는 CLK_IN 신호와 고정된 신호 관계를 가지지 때문에, CLK 또는 CLK_IN 신호의 주파수가 변할 때 EN0-EN3 신호의 주파수는 변한다. 그렇지만, 고정된 관계는 변하지 않은 채로 있다. 예를 들어, CLK_IN 신호의 사이클이 1 나노초일 때, EN1-EN3 신호 각각은 CLK_IN 신호에 대해 0.125 나노초(1/8 TCK)의 배수의 고정된 지연을 갖는다. 다른 예로서, CLK_IN 신호의 사이클이 2 나노초일 때, EN1-EN3 신호 각각은 0.25 나노초(여전히 CLK_IN 신호에 대해 1/8 TCK임)의 배수의 고정된 지연을 갖는다.Because the EN0-EN3 signal has a fixed signal relationship with the CLK or CLK_IN signal, the frequency of the EN0-EN3 signal changes when the frequency of the CLK or CLK_IN signal changes. However, the fixed relationship remains unchanged. For example, when the cycle of the CLK_IN signal is 1 nanosecond, each of the EN1-EN3 signals has a fixed delay of multiples of 0.125 nanoseconds (1/8 T CK ) relative to the CLK_IN signal. As another example, when the cycle of the CLK_IN signal is 2 nanoseconds, each of the EN1-EN3 signals has a fixed delay of multiples of 0.25 nanoseconds (still 1/8 T CK for the CLK_IN signal).
PREAMBLE_EN 신호는 CLK_IN 신호와 고정된 관계를 갖는다. 도 2로 나타낸 실시예에서, PREAMBLE_EN 신호는 약 50 퍼센트 듀티비를 갖는다. 어떤 실시예에서, PREAMBLE_EN 신호의 듀티비는 50 퍼센트와 다를 수 있다. 어떤 실시예들에서, PREAMBLE_EN 신호는 각각의 펄스의 각각의 상승 엣지가 CLK_IN 신호의 상승 엣지와 일치하는 다수의 펄스를 포함한다.The PREAMBLE_EN signal has a fixed relationship with the CLK_IN signal. In the embodiment shown in FIG. 2, the PREAMBLE_EN signal has about 50 percent duty ratio. In some embodiments, the duty ratio of the PREAMBLE_EN signal may be different than 50 percent. In some embodiments, the PREAMBLE_EN signal includes a number of pulses where each rising edge of each pulse matches the rising edge of the CLK_IN signal.
도 2는 일정 범위(이 범위 내의 각각의 신호는 CLK, CLK_IN 및 PREAMBLE_EN 신호와 고정된 신호 관계를 가짐)의 신호(EN0-EN3)가 신호 발생기(100)에 존재하는 것을 나타내고 있다. 따라서, CLK, CLK_IN 또는 PREAMBLE_EN 신호가 부적당한 선택인 경우, EN1-EN3 신호 중 임의의 하나가 CLK, CLK_IN 또는 PREAMBLE_EN 신호 대신에 사용될 수 있다.FIG. 2 shows that signals EN0-EN3 of a certain range (each signal in this range has a fixed signal relationship with the CLK, CLK_IN and PREAMBLE_EN signals) are present in the
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디지털 지연 코드 발생기(330)를 갖는 지연 제어기(300)를 나타낸 것이다. 지연 제어기(300)는 위상 검출기(306), 인버터(315), 그리고 논리 유닛(320) 및 디지털 지연 코드 발생기(330)를 갖는 코드 조정기(308)를 포함한다. 위상 검출기(306)는 입력 신호(CLK_IN*, DL_OUT)를 수신하고, 조정 신호(ADJ1, ADJ2)를 활성화시킨다. 논리 유닛(320)는 ADJ1 및 ADJ2 신호에 응답하여 로크 신호(LOCK)를 제어한다. 디지털 지연 코드 발생기(330)는 ADJ1 및 ADJ2 신호에 응답하여 비트선(331, 332) 상에 다수의 코드 비트(C0-CN)를 발생한다.3 illustrates a
위상 검출기(306)는 CLK_IN* 신호와 DL_OUT 신호 간의 신호 관계를 비교한다. 어떤 실시예에서, 위상 검출기(306)는 ADJ1 및 ADJ2 신호를 제어하기 위해 CLK_IN* 및 DL_OUT 신호의 상승 엣지(또는 하강 엣지)를 비교한다. 예를 들어, 위상 검출기(306)는, CLK_IN* 신호의 상승 엣지가 DL_OUT 신호의 상승 엣지보다 앞서 있을 때(lead), ADJ1 신호를 활성화시키고 ADJ2 신호를 비활성화시킨다. 다른 예 로서, 위상 검출기(306)는, CLK_IN* 신호의 상승 엣지가 DL_OUT 신호의 상승 엣지보다 뒤져 있을 때(lag), ADJ2 신호를 활성화시키고 ADJ1 신호를 비활성화시킨다. 어떤 실시예들에서, 이상 검출기는, CLK_IN* 및 DL_OUT 신호의 엣지(예를 들어, 상승 엣지)가 일치할 때(이는 또한 CLK_IN* 및 DL_OUT 신호가 동일한 위상을 가질 때임), ADJ1 및 ADJ2 신호 둘다를 비활성화시킨다.
어떤 실시예들에서, 논리 유닛(320)은, ADJ1 및 ADJ2 신호 둘다가 동일한 신호 레벨을 가질 때, LOCK 신호를 활성화시키도록 구성되어 있다. 예를 들어, 논리 유닛(320)은, ADJ1 및 ADJ2 신호 둘다가 로우 신호 레벨을 가질 때, LOCK 신호를 활성화시킨다. 다른 실시예들에서, 논리 유닛(320)은, ADJ1 및 ADJ2 신호 중 어느 것도 클럭 신호(CLK)의 다수의 사이클 내에서 활성화되어 있지 않을 때, LOCK 신호를 활성화시키도록 구성되어 있다. 예를 들어, 논리 유닛(320)은, ADJ1 및 ADJ2 신호 중 어느 것도 CLK 신호의 3 사이클 내에 활성화되지 않을 때, LOCK 신호를 활성화시킨다.In some embodiments,
디지털 지연 코드 발생기(330)는 비트선(331, 332)에 연결된 카운터 비트선을 갖는 카운터(334)를 포함한다. 도 3에서, 비트선(331, 332)은 또한 카운터 비트선이라고도 한다. 어떤 실시예들에서, 카운터(334)는 업다운 카운터이다. 코드 비트(C0-CN)의 조합은 카운터(334)의 카운트 값에 대응하는 이진값(디지털 값)을 나타낸다. 디지털 지연 코드 발생기(330)는 ADJ1 및 ADJ2 신호에 기초하여 C0-CN 코드 비트의 값을 조정하기 위해 카운터(334)를 사용한다. 어떤 실시예들에서, 디지털 지연 코드 발생기(320)는, CO-CN 코드 비트의 값이 도 1의 지연선(104) 등의 지연선의 최소 지연에 대응하도록, 카운터(334)의 값을 설정한다.The digital
어떤 실시예들에서, 디지털 지연 코드 발생기(330)는 카운터(334)의 카운트 값을 증가 또는 감소시킴으로써 C0-CN 코드 비트의 값을 조정한다. 예를 들어, 디지털 지연 코드 발생기(330)는, ADJ1 신호가 활성화될 때, 카운터(334)의 카운트 값을 증가시킬 수 있고, ADJ2 신호가 활성화될 때, 카운터(334)의 카운트 값을 감소시킨다.In some embodiments, digital
어떤 실시예에서, 디지털 지연 코드 발생기(330)는, ADJ1 및 ADJ2 신호 둘다가 동일한 신호 레벨을 가질 때, C0-CN 코드 비트의 값을 조정하는 일을 중단한다. 다른 실시예들에서, 디지털 지연 코드 발생기(330)는, ADJ1 및 ADJ2 신호 중 어느 것도 클럭 신호(CLK)의 다수의 사이클 내에 활성화되지 않을 때, C0-CN 코드 비트의 값을 조정하는 일을 중단한다. 어떤 다른 실시예들에서 디지털 지연 코드 발생기(330)는, LOCK 신호가 논리 유닛(320)에 의해 활성화될 때, C0-CN 코드 비트의 값을 조정하는 일을 중단한다.In some embodiments, digital
어떤 실시예들에서, 도 3의 지연 제어기(300)는 도 1의 지연선(104) 등의 지연선을 제어하는 데 사용될 수 있다. 이들 실시예에서, 디지털 지연 코드 발생기(320)는, C0-CN 코드 비트의 값이 지연선으로 하여금 초기 지연값을 갖게 하도록, 카운터(334)의 값을 설정할 수 있다. 어떤 실시예들에서, 초기 지연값은 지연선의 지연 값 범위 내의 최소 지연값이다. 다른 실시예들에서, 초기 지연값은 지연선의 지연값 범위 내의 임의의 값이다.In some embodiments, the
어떤 실시예들에서, 지연 제어기(300)는 도 1의 지연 제어기(105)를 치환한 다.In some embodiments,
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 가변 지연 셀을 갖는 지연선(400)을 나타낸 것이다. 지연선(400)은 출력 노드(402)에 출력 신호(DL_OUT)를 발생하기 위해 입력 노드(401)에서의 입력 신호(CLK_IN)에 지연을 적용하는 다수의 지연 셀(421-424)(421, 422, 423, 424)을 포함한다. DL_OUT 신호는 CLK_IN 신호의 지연 버전이다. CLK_IN 및 DL_OUT 신호는 고정된 신호 관계를 갖는다. 어떤 실시예들에서, CLK_IN 및 DL_OUT 신호는 180도 위상이 벗어나 있다. 다른 실시예들에서, DL_OUT 신호는 CLK_IN 신호와 N도 위상이 벗어나 있으며, 여기서 N은 0 내지 360이다. 예를 들어, N은 90 또는 270일 수 있다.4 illustrates a
지연선(400)은 또한 다수의 셀 출력 신호(EN0, EN1, EN2, EN3)를 발생한다. EN0 신호는 CLK_IN 신호이다. EN1, EN2, 및 EN3 신호는 각각 지연 셀(421, 422, 423)의 셀 출력 노드에서의 신호이다. 어떤 실시예들에서, EN1, EN2 및 EN3 신호 각각은 서로 고정된 신호 관계를 갖는다. 예를 들어, EN2 신호는 EN1 신호가 제1 지연량만큼 지연된 것이고, EN3 신호는 EN2 신호가 제2 지연량만큼 지연된 것이며, 이 때 제2 지연량은 제1 지연량과 같다. EN1, EN2 및 EN3 신호 각각은 CLK_IN 신호에 대해 TCK의 N배(N TCK)와 같은 고정된 지연을 가지며, 여기서 N은 1보다 작은 실수이고 TCK는 CLK_IN 신호의 사이클(주기)이다. 예를 들어, EN1, EN2 및 EN3 신호 각각은 CLK_IN 신호가 CLK_IN 신호의 1/8 TCK(1/8 클럭 사이클)의 배수만큼 지연된 것일 수 있다. 다른 예로서, EN1, EN2 및 EN3 신호 각각은 CLK_IN 신호가 CLK_IN 신호의 1/4 TCK(1/4 클럭 사이클)의 배수만큼 지연된 것일 수 있다.
지연 셀(421-424) 각각은 가변 지연 셀이다. 지연 셀(421-424) 각각은 노드(401)와 노드(402) 사이의 CLK_IN 신호의 신호 경로에 동일한 지연량을 적용한다. 각각의 셀은 다수의 지연 제어 노드(411, 412, 413, 431, 432, 433)를 포함한다. 다수의 지연 코드 비트(신호)(DL_C0, DL_C1, DL_CN, 및 DL_CO*, DL_C1*, CL_CN*)는 셀(421-424) 각각에서의 지연량을 제어한다. 이들 코드 비트는 다수의 코드 비트쌍을 형성한다. 예를 들어, 코드 비트 DL_C0 및 DL_C0*은 한쌍의 코드 비트를 형성한다. 다른 코드 비트쌍은 DL_C1 및 DL_C1*, 그리고 DL_CN 및 DL_CN*을 포함한다. 각각의 쌍에서의 코드 비트는 한쌍의 신호(한쪽의 신호가 다른쪽 신호의 반전된 버전임)로 나타내어질 수 있다. 간단함을 위해, 코드 비트(DL_C0, DL_C1, DL_CN, 및 DL_C0*, DL_C1*, DL_CN*)는 모두 DL_C 코드라고 한다.Each of the delay cells 421-424 is a variable delay cell. Each of delay cells 421-424 applies the same amount of delay to the signal path of the CLK_IN signal between
어떤 실시예들에서, DL_C 코드는 디지털 코드이다. 예를 들어, DL_C는 이진값을 나타내는 이진 비트의 조합일 수 있다. 도 4의 DL_C 코드는 도 1의 DL_CODE를 나타낼 수 있다.In some embodiments, the DL_C code is a digital code. For example, DL_C may be a combination of binary bits representing a binary value. The DL_C code of FIG. 4 may indicate the DL_CODE of FIG. 1.
명확함을 위해, 도 4는 단지 지연 셀(421)만의 상세 구조를 나타낸 것이다. 다른 지연 셀(422, 423, 424)은 지연 셀(421)과 유사한 구조를 갖는다.For clarity, FIG. 4 shows a detailed structure of
지연 셀(421)은 전원 노드(461, 462) 사이에 병렬로 연결된 다수의 지연 스테이지(451, 452, 453)를 포함한다. 지연 스테이지 각각은 입력 노드(471)와 출력 노드(472)를 포함한다. 하나의 지연 셀 내의 모든 입력 노드(471)는 서로 연결되 어 있다. 하나의 지연 셀 내의 지연 스테이지들의 입력 노드(471)의 조합도 역시 지연 셀의 입력 노드(셀 입력 노드)이다. 하나의 지연 셀 내의 지연 스테이지들의 출력 노드(472)의 조합도 역시 지연 셀의 출력 노드(셀 출력 노드)이다.Delay
하나의 지연 셀의 출력 노드는 연속해 있는 지연 셀들에서의 다른 지연 셀의 입력 노드에 연결된다. 예를 들어, 지연 셀(421)의 출력 노드(472)는 지연 셀(422)의 입력 노드(IN)에 연결된다. 명확함을 위해, 지연 셀(422, 423, 424)의 입력 노드 및 출력 노드는 각각 IN 및 OUT으로 표시되어 있다. 모든 지연 셀(421-424)은 동일한 수의 지연 스테이지를 갖는다.The output node of one delay cell is connected to the input node of the other delay cell in successive delay cells. For example, the
지연 스테이지(451, 452, 453) 각각은 노드(461)와 노드(462) 사이에 직렬로 연결된 다수의 트랜지스터(481-484)(481, 482, 483, 484)를 포함한다. 각각의 스테이지에서의 트랜지스터는 각각의 스테이지에서의 전류 경로를 형성한다. 예를 들어, 지연 스테이지(451)에서의 트랜지스터(481-484)는 노드(461)와 노드(462) 사이의 전류 경로를 형성한다. 지연 셀(421)이 노드(461)와 노드(462) 사이에 병렬로 다수의 지연 스테이지를 가지기 때문에, 다수의 병렬 전류 경로가 지연 셀(421)에 존재한다(각각의 지연 스테이지에 하나의 전류 경로가 존재한다).Each of the delay stages 451, 452, and 453 includes a plurality of transistors 481-484, 481, 482, 483, 484 connected in series between the
각각의 전류 경로에서의 전류량은 DL_C 코드의 한쌍의 코드 비트에 의해 제어된다. 예를 들어, 지연 스테이지(451)에서, 코드 비트(DL_C0 및 DL_C0*)는 지연 스테이지(451)에서의 전류량을 제어하기 위해 게이트 트랜지스터(481, 484)를 제어한다. 따라서, 트랜지스터(481, 484)는 각각의 전류 경로에서의 전류량을 제어하는 스위치로서 기능하며, 이 때 트랜지스터의 게이트는 스위치의 스위치 제어 노드 로서 역할한다. 이와 유사하게, 지연 스테이지(452)에서의 전류량은 코드 비트(DL_C1 및 DL_C1*)에 의해 제어된다. 지연 스테이지(453)에서의 전류량은 코드 비트(DL_CN 및 DL_CN*)에 의해 제어된다. 각각의 지연 셀에서의 전류량은 각각의 지연 셀에서의 다수의 활성 지연 스테이지를 선택함으로써 증가 또는 감소될 수 있다. 활성(활성화된) 지연 스테이지는 트랜지스터(481, 484) 둘다가 턴온되어 있는 지연 스테이지이다. 비활성(비활성화된) 지연 스테이지는 트랜지스터(481, 484) 중 하나 또는 둘다가 턴오프되어 있는 지연 스테이지이다.The amount of current in each current path is controlled by a pair of code bits of the DL_C code. For example, in the
각각의 지연 셀에서의 전류량이 동일한 코드 비트(DL_C)에 의해 제어되기 때문에, 지연 셀(421-424)은 동일한 전류량을 갖는다. 각각의 지연 셀에서의 전류량이 코드 비트(DL_C)에 의해 제어되기 때문에, DL_C 코드가 디지털 코드인 실시예들에서, 지연 셀(421, 422, 423) 각각에서의 전류량은 디지털적으로 제어된다.Since the amount of current in each delay cell is controlled by the same code bit DL_C, the delay cells 421-424 have the same amount of current. Since the amount of current in each delay cell is controlled by the code bit DL_C, in embodiments where the DL_C code is a digital code, the amount of current in each of the
지연선(400)의 총 지연량은 지연 셀(421-424) 각각의 지연에 의존한다. 각각의 지연 셀의 지연량은 각각의 지연 셀의 전류 경로에서의 전류에 의존한다. 따라서, 각각의 지연 셀의 전류 경로에서의 전류를 조정함으로써, 지연선(400)의 총 지연도 조정된다. 각각의 지연 셀의 전류 경로에서의 전류는 각각의 지연 셀 내의 활성 지연 스테이지의 수에 비례한다. 각각의 지연 스테이지가 DL_C 코드의 코드 비트에 의해 활성화될 수 있기 때문에, 활성 지연 스테이지의 수는 DL_C 코드의 코드 비트의 값을 선택함으로써 선택될 수 있다.The total delay amount of the
어떤 실시예들에서, DL_C 코드는 이진 비트의 조합이다. 이들 실시예에서, 다른 수의 활성 지연 스테이지를 생성하기 위해 이진 비트의 다른 조합이 선택될 수 있다. 예를 들어, 지연 스테이지(453)를 활성화시키고 스테이지(451, 452)를 비활성화시키기 위해 이진 비트의 조합(001)이 선택될 수 있다. 따라서, 이 예에서, 지연 스테이지들 중 단지 하나만이 지연 셀(421-424) 각각에서 활성화된다. 다른 예로서, 지연 스테이지(451, 452)를 활성화시키고 지연 스테이지(453)를 비활성화시키기 위해 이진 비트의 조합(110)이 선택될 수 있다. 따라서, 이 예에서, 2개의 지연 스테이지가 지연 셀(421-424) 각각에서 활성화된다.In some embodiments, the DL_C code is a combination of binary bits. In these embodiments, other combinations of binary bits may be selected to generate different numbers of active delay stages. For example, a combination of binary bits 001 can be selected to activate
어떤 실시예들에서, 지연 셀(421-424) 각각에서의 지연 스테이지는 짝수개의 전류 결핍 인버터(current starved inverter)를 형성하며, 여기서 각각의 전류 결핍 인버퍼는 홀수개의 지연 스테이지에 의해 형성되고 각각의 전류 결핍 인버터는 DL_C 코드 등의 동일한 지연 코드에 의해 제어된다. 예를 들어, 지연 셀(421)은 6개의 지연 스테이지를 포함할 수 있으며, 여기서 제1 그룹의 3개의 지연 스테이지(지연 스테이지(451, 452, 453) 등)는 제1 전류 결핍 인버터를 형성하고 제2 그룹의 3개의 지연 스테이지(지연 스테이지(451, 452, 453)와 유사함)는 제1 전류 결핍 인버터와 직렬로 연결된 제2 전류 결핍 인버터를 형성한다. 이 예에서의 제1 및 제2 전류 결핍 인버터는 동일한 DL_C 코드에 의해 제어된다. 전류 결핍 인버터 전부가 동일한 지연 코드에 의해 제어되기 때문에, 전류 결핍 인버터 전부는 동일한 지연량을 갖는다.In some embodiments, the delay stages in each of the delay cells 421-424 form an even number of current starved inverters, where each current lacking inbuffer is formed by an odd number of delay stages and each The current deficient inverter is controlled by the same delay code as the DL_C code. For example, delay
지연 셀(421-424) 각각이 M개의 전류 결핍 인버터(단, M은 짝수임)를 가지며, EN1-EN3 신호 각각이 CLK_IN 신호에 대해 고정된 지연(N TCK)을 가지는 실시예 에서, 각각의 전류 결핍 인버터는 (N/M) TCK(즉, TCK의 N/M 배)(단, TCK는 CLK_IN 신호의 사이클임)의 지연을 갖는다. 예를 들어, 지연선(400)이 8개의 전류 결핍 인버터를 갖는 실시예에서(각각의 지연 셀 내에 2개의 전류 결핍 인버터), EN1, EN2 및 EN3 신호는 각각 CLK_IN 신호에 대해 1/8 TCK, 1/4 TCK,및 3/8 TCK의 지연을 갖는다. 이 예에서, 8개의 전류 결핍 인버터 전부는 1/16 TCK의 동일한 지연을 갖는다.In embodiments where each of the delay cells 421-424 has M current deficient inverters (where M is even) and each of the EN1-EN3 signals has a fixed delay (NT CK ) relative to the CLK_IN signal, each current lack inverter (N / M) T CK (i.e., N / M times the T CK) (However, T being the cycle of the CK signal CLK_IN) has a delay. For example, in an embodiment where the
도 4의 지연선(400)에서, DL_OUT 신호는 CLK_IN 신호가 지연 셀(421-424)에 의해 적용된 양만큼 지연된 것이기 때문에, CLK_IN과 DL_OUT 간의 관계는 각각의 지연 셀에서의 지연을 조정함으로써 조정될 수 있다. 상기한 바와 같이, 각각의 지연 셀에서의 지연량을 조정하기 위해 DL_C 코드의 서로 다른 값이 선택될 수 있다.In the
어떤 실시예들에서, DL_C 코드의 값은 도 1의 지연 제어기(105) 또는 도 4의 지연 제어기(400) 등의 지연 제어기에 의해 제어된다.In some embodiments, the value of the DL_C code is controlled by a delay controller, such as
도 4에 의해 나타낸 실시예에서, 지연선(400)은, 예를 들어, 4개의 지연 셀을 포함한다. 어떤 실시예에서, 지연선(400)의 지연 셀의 수는 4와 다를 수 있다. 따라서, 어떤 실시예에서, EN0-EN3 신호 등의 셀 출력 신호의 수는 4와 다를 수 있다. 게다가, 도 4는, 예로서, 3개의 지연 스테이지를 갖는 각각의 지연 셀을 나타낸 것이다. 어떤 실시예에서, 각각의 지연 셀에서의 지연 스테이지의 수는 3과 다를 수 있다.In the embodiment shown by FIG. 4,
어떤 실시예에서, 지연선(400)은 도 1의 지연선(104)을 치환한다.In some embodiments,
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 메모리 장치(500)를 나타낸 것이다. 메모리 장치(500)는 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM) 장치, 정적 랜덤 액세스 메모리(SRAM) 장치, 또는 플래쉬 메모리 장치일 수 있다. DRAM 장치의 예로는 SDRAM(synchronous DRAM), SGRAM(synchronous graphics random access memory), 다양한 세대의 DDR SDRAM(double data rate SDRAM), 다양한 세대의 GDDR(Graphic Double Data Rate DRAM) 및 램버스 DRAM 장치가 있다. 도 5에서, 메모리 장치(500)의 어떤 요소가 명확함을 위해 생략되어 있다.5 illustrates a
메모리 장치(500)는 데이터를 저장하기 위한 복수의 메모리 셀(503)을 갖는 메모리 어레이(502)를 포함한다. 메모리 셀(503)은 행 및 열로 배열되어 있다.The
행 디코더(504) 및 열 디코더(506)는 어드레스선(508) 상에 제공되는 어드레스 신호(A0 내지 AX(A0-AX))에 응답하여 메모리 셀(503)에 액세스한다.The
행 어드레스 버퍼(534)는 선(544) 상의 신호에 기초하여 선(508) 상의 행 어드레스를 행 디코더(504)로 전달한다. 열 어드레스 버퍼(536)는 선(546) 상의 신호에 기초하여 선(508) 상의 열 어드레스를 열 디코더(506)로 전송한다.The
제어 회로(518)는 제어선(520) 상의 제어 신호에 응답하여 메모리 장치(500)의 동작을 제어한다. 선(520) 상의 제어 신호의 예로는 RAS*(Row Access Strobe, 행 액세스 스트로브) 신호, CAS*(Column Access Strobe, 열 액세스 스트로브) 신호, WE*(Write Enable, 기록 인에이블) 신호, CS*(Chip Select, 칩 선택) 신호, 및 CLK(Clock, 클럭) 신호가 있다. 메모리 장치(500)의 동작의 예로는 판독 동작 및 기록 동작이 있다. 제어 회로(518)는 판독 동작에서 READ 명령을 발행하고 기록 동작에서 WRITE 명령을 발행한다.The
기록 동작은 데이터선 또는 데이터 단자(594)로부터의 입력 데이터를 메모리 셀(503)에 기록한다. 판독 동작은 메모리 셀(503)로부터의 출력 데이터를 데이터선(594)으로 판독한다. 데이터선(594)은 양방향 데이터선이고, 이들 선은 외부 소스에 의해 메모리 장치(500)에 제공되는 입력 데이터 및 메모리 장치(500)로부터 출력되는 출력 데이터 둘다를 전달한다. 선(508) 상이 어드레스 신호(A0-AX)의 조합은 판독 또는 기록되는 메모리 셀(503)의 행 또는 열의 어드레스를 제공한다.The write operation writes input data from the data line or
제어 회로(518)는 메모리 장치(500)의 동작 코드를 나타내는 값들을 저장하는 모드 레지스터(519)를 포함한다. 동작 코드의 예로는 기록 지연 시간 간격(write latency time interval) 및 판독 지연 시간 간격(read latency time interval)이 있다.The
메모리 장치(500)는 또한 스트로브 송수신기 회로(570), 데이터 송수신기 회로(590), 입력 데이터 경로(511), 및 출력 데이터 경로(522)를 포함한다. 데이터 송수신기 회로(590)는 메모리 장치(500)로/로부터의 데이터를 전송한다. 스트로브 송수신기 회로(570)는 데이터의 타이밍 정보를 전송한다.
스트로브 송수신기 회로(570)는 기록 스트로브 유닛(571) 및 판독 스트로브 유닛(573)을 포함한다. 기록 스트로브 유닛(571)은 스트로브 입력 회로(STRB IN)(572-0 내지 572-M)를 갖는다. 기록 스트로브 유닛(571)은 입력 데이터의 타이밍 정보를 전달한다. 선 또는 스트로브 단자(582) 상의 기록 스트로브 신호(비 트)(WDQS-0 내지 WDQS-M)는 입력 데이터의 타이밍 정보를 나타낸다. 외부 소스는 입력 데이터와 함께 WDQS-0 내지 WDQS-M 신호를 메모리 장치(500)에 제공한다.The
판독 스트로브 유닛(573)은 스트로브 출력 회로(STRB OUT)(574-0 내지 574-M)를 갖는다. 판독 스트로브 유닛(573)은 출력 데이터의 타이밍 정보를 전달한다. 선 또는 스트로브 단자(584) 상의 판독 스트로브 신호(RDQS-0 내지 RDQS-M)는 메모리 장치(500)로부터 출력된 데이터의 타이밍 정보를 나타낸다.Read
데이터 송수신기 회로(590)는 데이터 송수신기(D TX)(592-0 내지 592-N)를 포함한다. 데이터 송수신기(592-0 내지 592-N)는 양방향 회로이고, 이들은 양방향으로 데이터를 전달한다. 데이터 송수신기(592-0 내지 592-N)는 입력 데이터 및 출력 데이터 둘다를 전송한다. 데이터선(594) 상의 데이터(데이터 신호 또는 데이터 비트)(DQ-0 내지 DQ-N)는 입력 데이터 및 출력 데이터 둘다를 나타낸다. 메모리 장치(500)가 기록 동작 동안에 데이터를 수신할 때, DQ-0 내지 DQ-N은 입력 데이터를 나타낸다. 메모리 장치(500)가 판독 동작 동안에 데이터를 출력할 때, DQ-0 내지 DQ-N은 출력 데이터를 나타낸다.The
어떤 실시예에서, RDQS-0 내지 RDQS-M 신호 각각은 DQ-0 내지 DQ-N 신호 중 하나의 타이밍 정보를 전달하고, 이들 실시예에서, RDQS-0 내지 RDQS-M 신호의 수는 DQ-0 내지 DQ-N 신호의 수와 같다(N=M). 다른 실시예들에서, RDQS-0 내지 RDQS-M 신호 각각은 일군의 DQ-0 내지 DQ-N 신호의 타이밍 정보를 전달하며, 이들 실시예에서, RDQS-0 내지 RDQS-M 신호의 수는 DQ-0 내지 DQ-N 신호의 수보다 작다(M<N).In some embodiments, each of the RDQS-0 to RDQS-M signals carries timing information of one of the DQ-0 to DQ-N signals, and in these embodiments, the number of RDQS-0 to RDQS-M signals is DQ- It is equal to the number of 0 to DQ-N signals (N = M). In other embodiments, each of the RDQS-0 through RDQS-M signals carries timing information of a group of DQ-0 through DQ-N signals, and in these embodiments, the number of RDQS-0 through RDQS-M signals is DQ. -0 to less than the number of DQ-N signals (M <N).
입력 데이터 경로(511)는 기록 동작 동안에 데이터 송수신기 회로(590)와 메모리 어레이(502) 간에 데이터를 전송한다. 출력 데이터 경로(522)는 판독 동작 동안에 데이터 송수신기 회로(590)와 메모리 어레이(502) 간에 데이터를 전송한다.
어떤 실시예에서, 선(508, 520, 582, 584, 594)은 메모리 장치(500)의 패키지화된 집적 회로 상의 핀(pin) 또는 솔더 볼(solder ball)에 대응한다. 다른 실시예에서, 선(508, 520, 582, 584, 594)은 메모리 장치(500)의 회로 다이 상의 패드에 대응한다.In some embodiments,
메모리 장치(500)는 선(589) 상의 제어 신호(CNTL)에 응답하여 다수의 인에이블 신호(EN(0-N))를 발생하는 신호 발생기(588)를 더 포함한다. 어떤 실시예에서, 신호 발생기(588)는 도 1 내지 도 4에 기술된 신호 발생기(100)의 실시예를 포함한다. 어떤 실시예에서, EN(0-N) 신호는 도 1 내지 도 4에 기술한 EN0-EN3 신호 중 하나를 포함한다. 다른 실시예들에서, EN(0-N) 신호는 도 1 내지 도 4에 기술한 EN0-EN3 신호의 조합을 포함한다.The
어떤 실시예에서, 신호 발생기(588)는 신호 발생기(100) 등의 신호 발생기를 포함하며, 이 때 신호 발생기는 신호 발생기(588)가 비교적 콤팩트한 회로가 될 수 있도록 적은 수의 지연 셀을 포함한다. 따라서, 도 1 내지 도 4에 기술된 EN0-EN3 신호 등의 어떤 범위의 신호를 제공하기 위해, 신호 발생기(588)가 메모리 장치(500)의 적절한 장소에서 비교적 적은 면적에 로컬적으로 형성될 수 있는 실시예들이 존재한다.In some embodiments,
어떤 실시예에서, EN(0-N) 신호는 스트로브 입력 회로(STRB IN)(572-0 내지 572-M), 스트로브 출력 회로(STRB OUT)(574-0 내지 574-M), 및 데이터 송수신기(592-0 내지 592-N)의 조합을 제어하는 타이밍 신호로서 기능한다. 다른 실시예에서, EN(0-N) 신호는 메모리 장치(500)의 다른 회로 부분에서의 제어 타이밍 신호로서 역할한다.In some embodiments, the EN (0-N) signal is a strobe input circuit (STRB IN) 572-0 to 572-M, a strobe output circuit (STRB OUT) 574-0 to 574-M, and a data transceiver It serves as a timing signal for controlling the combination of (592-0 to 592-N). In another embodiment, the EN (0-N) signal serves as a control timing signal in another circuit portion of the
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 메모리 시스템(600)을 나타낸 것이다. 메모리 시스템(600)은 장치(610, 620), 및 외부 클럭 발생기(630)를 포함한다.6 illustrates a
외부 클럭 발생기(630)는 장치(610, 620) 둘다에 외부 클럭(CLK)을 제공한다. 어떤 실시예들에서, 외부 클럭 발생기(630)는 회로 기판 상의 발진기를 포함한다.
장치(610)는 다수의 데이터 신호(DQ-0 내지 DQ-N)를 제공하는 다수의 데이터 드라이버(614)를 갖는 송수신기 회로(612), 및 다수의 스트로브 신호(DQS-0 내지 DQS-M)를 제공하는 다수의 스트로브 드라이버(616)를 포함한다. 스트로브 신호(DQS-0 내지 DQS-M) 각각은 데이터 신호(DQ-0 내지 DQ-N) 중 하나 이상의 타이밍 정보를 전달한다.
장치(620)는 DQ-0 내지 DQ-N 신호를 수신하는 다수의 데이터 수신기(624) 및 DQS-0 내지 DQS-M 신호를 수신하는 다수의 스트로브 수신기(628)를 갖는 송수신기 회로(622)를 포함한다. 스트로브 신호(DQS-0 내지 DQS-M) 각각은 데이터 신호(DQ-0 내지 DQ-N) 중 하나 이상의 타이밍 정보를 전달한다.
신호 발생기(635)는 장치(620)의 기록 동작 등의 동작 중에 스트로브 수신기(629)를 제어하기 위해 인에이블 신호(EN)를 제공한다. EN 신호는, DQS-0 내지 DQS-M 신호가 수신기(628)의 입력 노드(627)로부터 출력 노드(629)로 전달될 수 있게 해주기 위해, 수신기(628)를 활성화시킨다.The
데이터 타이밍 발생기(640)는 장치(620)의 기록 동작 등의 동작 중에 데이터 수신기(624)를 제어하기 위해 데이터 인에이블 신호(D_EN)를 제공한다. D_EN 신호는, DQ-0 내지 DQ-N 신호가 수신기(624)의 입력 노드(623)로부터 출력 노드(625)로 전달될 수 있게 해주기 위해, 수신기(624)를 활성화시킨다.The
어떤 실시예에서, 신호 발생기(635)는 도 1 내지 도 5에 기술된 신호 발생기(100) 등의 신호 발생기 및 다른 회로 요소의 실시예들을 포함한다. 다른 실시예들에서, 데이터 타이밍 발생기(640)는 도 1 내지 도 5에 기술된 신호 발생기(100) 등의 신호 발생기 및 다른 회로 요소의 실시예들을 포함한다. 어떤 다른 실시예들에서, 신호 발생기(635) 및 데이터 타이밍 발생기(640) 둘다는 도 1 내지 도 5에 기술된 신호 발생기(100) 등의 신호 발생기 및 다른 회로 요소의 실시예들을 포함한다.In some embodiments,
장치(620)는 또한 신호 발생기(635)에 입력 신호(CLK_IN)를 제공하기 위한 내부 클럭 발생기(650)를 포함한다. 데이터 캡처 회로(660)는 추가의 처리를 위해 DQ-0 내지 DQ-N 신호 및 DQS-0 내지 DQS-M 신호를 캡처한다. 제어 유닛(670)은 장치(600)의 다른 회로를 제어한다.
EN, CLK, 및 CLK_IN 신호는 도 1 내지 도 4에 기술된 신호들과 유사하다. 도 1 내지 도 4에 기술한 바와 같이, 신호 발생기(100)는 EN0-EN3 신호 등의 어떤 범위의 인에이블 신호를 제공하며, 이 때 EN0-EN3 신호 중 하나가 EN 신호로 선택 된다. 도 6에서, 신호 발생기(635)는 발생기(100)의 실시예들을 포함할 수 있다. 따라서, 신호 발생기(635)는 또한 EN0-EN3 신호와 유사한 어떤 범위의 인에이블 신호를 제공한다. 이 범위의 인에이블 신호는, DQS-0 내지 DQS-M 신호 등의 신호의 전송을 적절히 제어하기 위해, 이 범위의 인에이블 신호 중에서 적절한 신호를 선택하는 유연성을 장치(620)에 제공한다. 게다가, 이 범위의 인에이블 신호는, CLK 및 CLK_IN 신호등의 신호가 부적절한 선택인 경우에, 유용한 대안을 제공한다.The EN, CLK, and CLK_IN signals are similar to the signals described in Figures 1-4. As illustrated in FIGS. 1 to 4, the
어떤 실시예에서, 장치(610)는 도 5의 메모리 장치(500) 등의 메모리 장치이고, 장치(620)는 메모리 컨트롤러이다. 다른 실시예들에서, 장치(610)는 도 5의 메모리 장치(500) 등의 메모리 장치이고, 장치(620)는 마이크로프로세서 등의 프로세싱 유닛이다. 어떤 실시예에서, 장치(610, 620) 둘다는 단일 칩에 형성된다.In some embodiments,
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 전자 시스템(700)을 나타낸 것이다. 전자 시스템(700)은 프로세서(710), 메모리 장치(720), 메모리 컨트롤러(730), 그래픽 컨트롤러(740), 입력 및 출력(I/O) 컨트롤러(750), 디스플레이(752), 키보드(754), 포인팅 장치(756), 및 주변 장치(758)를 포함한다. 버스(760)는 이들 장치 전부를 서로 연결시킨다. 클럭 발생기(770)는 외부 클럭 신호(CLK)를 전자 시스템(700)의 장치들 중 적어도 하나에 제공한다. 전자 시스템(700)에 도시된 2개 이상의 장치가 단일 칩에 형성될 수 있다. 어떤 실시예에서, 전자 시스템(700)은 도 7에 도시된 하나 이상의 장치를 생략할 수 있다.7 illustrates an
버스(760)는 회로 기판 상의 전도성 배선일 수 있거나 하나 이상의 케이블일 수 있다. 버스(760)는 또한 전자기 방사(예를 들어, 무선파) 등의 무선 수단에 의 해 전자 시스템(700)의 장치들을 연결시킬 수 있다. 주변 장치(758)는 프린터, 광학 장치(예를 들어, CD-ROM 장치 또는 DVD 장치), 자기 장치(예를 들어, 플로피 디스크 드라이버) 또는 오디오 장치(예를 들어, 마이크)일 수 있다. 메모리 장치(720)는 DRAM 장치, SRAM 장치일 수 있거나, 플래쉬 메모리 장치 또는 이들의 조합일 수 있다.The
전자 시스템(700)에 도시된 장치들 중 적어도 하나는 도 1 내지 도 6에 기술된 신호 발생기(100) 등의 신호 발생기 및 다른 회로 요소의 실시예를 포함한다. 따라서, 전자 시스템(700)에 도시된 장치들 중 적어도 하나는 도 1 내지 도 6에 기술된 EN0-EN3 신호 등의 어떤 범위의 인에이블 신호로부터 인에이블 신호를 선택하는 옵션을 갖는다. 어떤 범위의 인에이블 신호로부터 인에이블 신호를 선택하는 옵션은 전자 시스템(700) 내의 장치들 중 적어도 하나가 동일 장치 내에서 또는 전자 시스템(700)의 2개 이상의 장치들 간에 데이터를 적절히 전송할 수 있게 해줄 수 있다.At least one of the devices shown in the
도 7의 전자 시스템(700)은 컴퓨터(예를 들어, 데스크톱, 랩톱, 핸드헬드, 서버, 웹 기기, 라우터, 기타 등등), 무선 통신 장치(예를 들어, 셀룰러 전화, 무선 전화, 페이저, 개인 휴대 단말기, 기타 등등), 컴퓨터 관련 주변 장치(예를 들어, 프린터, 스캐너, 모니터, 기타 등등), 엔터테인먼트 장치(예를 들어, 텔레비전, 라디오, 스테레오, 테이프 및 콤팩 디스크 플레이어, 비디오 카세트 레코더, 캠코더, 디지털 카메라, MP3(Motion Picture Experts Group, Audio Layer 4) 플레이어, 비디오 게임, 시계, 기타 등등), 및 기타 등등을 포함한다.The
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 테스팅 시스템(800)을 나타낸 것이다. 테스팅 시스템(800)은 다수의 도체선 또는 채널(825)을 통해 장치(820)에 연결되어 있는 회로 허브(810)를 포함한다. 어떤 실시예에서, 회로 허브(810)는 테스터이며, 장치(820)는 반도체 장치이다. 다른 실시예들에서, 회로 허브(810)는 테스터이고, 장치(820)는 도 5의 메모리 장치(500) 등의 메모리 장치이다. 어떤 실시예에서, 선(825) 상의 D0-DN 신호는 도 5의 DQ-0 내지 DQ-N 신호, WDQS-0 내지 WDQS-M 신호, 및 RDQS-0 내지 RDQS-M 신호의 조합을 나타낸다. 다른 실시예에서, 선(825) 상의 D0-DN 신호는 도 6의 DQ-0 내지 DQ-N 신호 및 DQS-0 내지 DQS-M 신호의 조합을 나타낸다.8 illustrates a
어떤 실시예들에서, 장치(820)는 제1 주파수에서 동작한다. 다른 실시예에서, 장치(820)는 제2 주파수에서 동작하며, 이 제2 주파수는 제1 주파수와 같지 않다. 회로 허브(810)는 장치(820)와의 데이터 전송을 관리하도록 구성되어 있다. 어떤 실시예에서, 회로 허브(810)는 장치(820)를 테스트하도록 구성되어 있으며, 이 때 장치(820)는 변하는 주파수에서 동작한다.In some embodiments,
회로 허브(810)는 신호 발생기(840) 및 제어 유닛(850)을 갖는 장치(830)를 포함한다. 어떤 실시예들에서, 장치(830)는 메모리 컨트롤러이다. 다른 실시예들에서, 장치(830)는 프로세서 등의 프로세싱 유닛이다. 장치(830)의 신호 발생기(840)는 다수의 인에이블 신호(EN0-EN3(EN0 내지 EN3))를 발생한다. 제어 유닛(810)은 장치(830)에 대한 제어를 제공한다. 어떤 실시예에서, 제어 유닛(810)은 EN0-EN3 신호 중 하나를 선택하기 위해 EN0-EN3 신호를 스캔하도록 구성되어 있 으며, 이 때 선택된 신호는 회로 허브(810)가 장치(820)와 회로 허브(810) 간의 D0-DN 신호의 전송을 적절히 관리할 수 있게 해준다. 어떤 실시예에서, 회로 허브(810)의 장치(830)는 도 6의 장치(620)의 실시예를 포함한다.The
신호 발생기(830)는 도 1 내지 도 7에 기술된 신호 발생기(100, 588 또는 635)의 실시예를 포함한다. 도 8에서, EN0-EN3 신호는 도 1 내지 도 7에 기술된 EN0-EN3 신호를 나타낸다. 도 1 내지 도 7에 기술된 바와 같이, EN0-EN3 신호는 어떤 범위의 인에이블 신호를 제공하며, 이 때 그 범위 내의 인에이블 신호가 장치들 간의 신호의 전송을 적절히 제어하기 위해 선택될 수 있다.
도 8에서, 장치(820)가 변하는 주파수로 동작하기 때문에, 장치(820)는 변하는 주파수 영역에서 D0-DN 신호를 전송할 수 있다. EN0-EN3 신호는 회로 허브(810)의 주파수 영역을 장치(810)의 각각의 주파수 영역에 적합하게 해주는 신호를 EN0-EN3 신호 중에서 선택함으로써 D0-DN 신호의 전송을 적절히 관리하는 유연성을 회로 허브(810)에 제공한다. 예를 들어, 회로 허브(810)는, 장치(820)가 제1 주파수에서 동작할 때, D0-DN 신호의 전송을 관리하기 위해 EN1 신호를 선택할 수 있고, 회로 허브(810)는, 장치(820)가 제1 주파수와 같지 않은 제2 주파수에서 동작할 때, D0-DN 신호의 전송을 관리하기 위해 EN2 신호를 선택할 수 있다. 따라서, 회로 허브(810)는, 회로 허브(810)와 장치(820) 간의 D0-DN 신호의 전송을 관리하기 위해, 장치(810)의 동작 주파수에 기초하여 EN0-EN3 신호를 선택하도록 구성되어 있다.In FIG. 8, since
도 1 내지 도 7의 설명에서, 어떤 실시예에서의 일부분 및 특징부가 다른 실 시예들의 일부분 및 특징부 내에 포함되거나 이들을 치환할 수 있다.In the description of FIGS. 1-7, portions and features in certain embodiments may be included in or substituted for portions and features of other embodiments.
결론conclusion
본 발명의 여러가지 실시예가 동일한 장치 내에서의 동작 또는 서로 다른 장치들 간의 동작을 개선시키기 위해 어떤 범위의 안정된 신호를 발생하는 회로 및 방법을 제공한다.Various embodiments of the present invention provide circuits and methods for generating a range of stable signals to improve operation within the same device or between different devices.
집적 회로 장치가 더 진보됨에 따라, 이 장치의 한 부분은 한 주파수에서 동작할 수 있고, 이 장치 또는 다른 장치의 다른 부분은 다른 주파수에서 동작할 수 있다. 따라서, 동일 장치의 서로 다른 부분에서 또는 서로 다른 장치들 간의 서로 다른 동작을 동기화시키는 것은 복잡할 수 있다. 본 발명의 실시예들은, 선택된 신호가 동일한 장치 내에서 또는 2개 이상의 장치들 사이에서의 데이터의 전송의 정확성을 개선할 수 있도록, 어떤 범위의 신호 중에서 신호를 선택하기 위한 유연성을 제공하는 기술을 제공한다. 게다가, 본 발명의 실시예들은 또한, 선택된 신호 및 그 범위의 신호가 환경 인자의 변동에도 불구하고 안정된 채로 있도록, 제조 프로세스, 동작 전압, 및 온도 등의 환경 요인에서의 임의의 변동을 보상한다. 게다가, 본 발명의 실시예들은 넓은 범위의 주파수에서 또한 감소된 전류 또는 전력 소모로 동작하는 신호 발생기에 대한 비교적 콤팩트한 회로를 제공한다.As integrated circuit devices become more advanced, one part of this device may operate at one frequency and another part of this device or another device may operate at different frequencies. Thus, synchronizing different operations in different parts of the same device or between different devices can be complicated. Embodiments of the present invention provide techniques that provide the flexibility to select a signal from a range of signals so that the selected signal can improve the accuracy of the transmission of data within the same device or between two or more devices. to provide. In addition, embodiments of the present invention also compensate for any variation in environmental factors such as manufacturing process, operating voltage, and temperature, such that the selected signal and its range of signals remain stable despite variations in environmental factors. In addition, embodiments of the present invention provide a relatively compact circuit for a signal generator that operates over a wide range of frequencies and also with reduced current or power consumption.
상기한 설명이 예시적인 것이며 제한하는 것이 아님을 잘 알 것이다. 상기 설명을 읽어보고 이해하면 많은 다른 실시예들이 당업자에게는 명백할 것이다. 따라서, 본 발명의 범위는 첨부된 청구항을, 이러한 청구항의 자격을 갖는 전 범위의 등가물과 함께, 참조하여 결정되어야만 한다.It will be appreciated that the above description is exemplary and not limiting. Many other embodiments will be apparent to those skilled in the art upon reading and understanding the above description. Accordingly, the scope of the invention should be determined with reference to the appended claims, along with the full range of equivalents to which such claims are entitled.
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