KR20070026606A - System and method for quality assurance of a biosensor test strip - Google Patents

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KR20070026606A
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에프. 호프만-라 로슈 아게
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Abstract

The present invention provides a test strip (200) for measuring a signal of interest in a biological fluid when the test strip (200) is mated to an appropriate test meter (not shown), wherein the test strip and the test meter include structures to verify the integrity of the test strip traces (214C, 216C, 224C), to measure the parasitic resistance of the test strip traces, and to provide compensation in the voltage applied to the test strip to account for parasitic resistive losses in the test strip traces. ® KIPO & WIPO 2007

Description

바이오센서 테스트 스트립의 품질 보증을 위한 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR QUALITY ASSURANCE OF A BIOSENSOR TEST STRIP}SYSTEM AND METHOD FOR QUALITY ASSURANCE OF A BIOSENSOR TEST STRIP}

본 출원은, 2004년 6월 18일에 출원된 미국 가출원 번호 제 60/581,002 호의 이익을 주장한다. 본 출원은 또한 2004년 6월 18일에 출원된 출원 번호 제 10/871,937 호에 관한 것이며, 그 전부가 여기에 참조로 구체화되어 있다.This application claims the benefit of US Provisional Application No. 60 / 581,002, filed June 18, 2004. This application also relates to application number 10 / 871,937, filed June 18, 2004, the entirety of which is incorporated herein by reference.

본 발명은, 생물의 체액내의 분석 대상물(혈당 등)의 농도 관련 신호뿐만 아니라, 분석 대상물 농도 신호에 인터페란트(interferant ; 혈당의 경우 헤마토크릿 및 온도 등)에 관한 신호를 측정하는데 사용하기 위한 장치에 관한 것이다. 더 구체적으로, 본 발명은 바이오센서 테스트 스트립의 품질 보증을 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다.The present invention is an apparatus for use in measuring signals relating to the concentration of analyte (blood sugar, etc.) in an organism's body fluid, as well as signals relating to the interferant (hematocrit and temperature for blood sugar, etc.) to analyte concentration signal. It is about. More specifically, the present invention relates to systems and methods for quality assurance of biosensor test strips.

생물의 체액내의 물질의 농도 측정은 많은 의학적 조건의 진단 및 치료용으로 중요한 수단이다. 예를 들면, 혈액과 같은 체액내의 포도당 측정은 당뇨병의 효과적인 치료에 중요하다.Measurement of the concentration of a substance in the body fluids of an organism is an important means for the diagnosis and treatment of many medical conditions. For example, glucose measurement in body fluids such as blood is important for effective treatment of diabetes.

당뇨병 치료는 통상적으로 기저(basal) 및 식사시간(meal-time) 의 2가지 형태의 인슐린 치료를 포함한다. 기저 인슐린은, 예컨대 시간-릴리즈된 인슐린, 종종 취침 전에 연속적으로 나타난다. 식사시간 인슐린은, 당류 및 탄수화물의 신진대사를 포함하는 다양한 요인에 의해 발생된 혈당의 변동을 조정하기 위해서 더욱 빨리 작용하는 인슐린의 추가적인 복용을 제공한다. 혈당 변동의 적절한 조정은 혈액내 당의 농도의 정확한 측정을 요구한다. 정확한 측정의 실패는, 실명 및 말단의 순환 장애를 포함하는 심각한 합병증을 유발할 수 있으며, 극단적으로 당뇨병은 손가락, 손, 발 등의 사용을 못 할 수 있다.Diabetes treatment typically involves two forms of insulin treatment, basal and meal-time. Basal insulin, for example time-released insulin, often appears continuously before bedtime. Mealtime insulin provides an additional dose of insulin that acts more quickly to adjust for fluctuations in blood glucose caused by various factors, including metabolism of sugars and carbohydrates. Proper adjustment of blood glucose fluctuations requires accurate measurement of the concentration of sugar in the blood. Failure to make accurate measurements can lead to serious complications, including blindness and distal circulatory disorders, and extremes can lead to the failure of fingers, hands, feet, and the like.

예를 들어 포도당과 같은 혈액 샘플내의 분석대상물의 농도를 판정하기 위한 다수의 방법이 공지되어 있다. 그러한 방법은 통상적으로 광학적 방법과 전기화학적 방법의 2가지 카테고리 중의 하나로 귀결된다. 광학적 방법은 통상적으로 분광기를 포함하여, 통상적으로 분석 대상물과 결합할 때 공지의 색상을 생성하는 반응물과의 결합에서, 분석 대상물의 농도에 의해 발생된 체액에서 스펙트럼의 이동을 관찰한다. 전기 화학적 방법은, 통상적으로 분석 대상물과 결합할 때 전하-이송체(carriers)를 생성하는 반응물과의 결합에서, 분석 대상물의 전류(전류법), 전위(전위차법) 또는 축적 전하(전기량법)와 농도 사이의 상호관계에 의존한다. 예를 들면, 콜럼버스에게 허여된 미국특허 제 4,233,029 호, 페이스에게 허여된 제 4,225,410 호, 콜럼버스에게 허여된 제 4,323,536 호, 무글리에게 허여된 제 4,008,448 호, 리자 등에게 허여된 제 4,654,197 호, 쯔민스키 등에게 허여된 제 5,108,564 호, 난카이 등에게 허여된 제 5,120,420 호, 쯔민스키 등에게 허여된 제 5,128,015 호, 화이트에게 허여된 제 5,243,516 호, 다이발드 등에게 허여된 제 5,437,999 호, 폴만 등에게 허여된 제 5,288,636 호, 카르텔 등에게 허여된 제 5,628,890 호, 힐 등에게 허여된 제 5,682,884 호, 힐 등에게 허여된 5,727,548 호, 크리스무어 등에게 허여된 제 5,997,817 호, 후지와라 등에게 허여된 제 6,004,441 호, 프리델 등에게 허여된 제 4,919,770 호, 및 쉬어에게 허여된 제 6,054,039 호를 참조하면 된다. 테스트를 수행하기 위한 바이오센서는 통상적으로 생물의 체액과 관련된 분석 대상물과 화학적으로 반응하는 반응물을 갖는 일회용 테스트 스트립이다. 테스트 스트립은, 분석 대상물의 농도를 판정하고 사용자에게 표시하기 위해서, 테스트 미터가 분석 대상물과 반응물 사이의 반응을 측정할 수 있도록, 비일회용 테스트 미터에 적합하다.Many methods are known for determining the concentration of analyte in a blood sample, such as, for example, glucose. Such methods typically result in one of two categories: optical and electrochemical methods. Optical methods typically include spectrometers and, in combination with reactants that produce a known color when combined with the analyte, observe the shift of the spectrum in the body fluid generated by the concentration of the analyte. Electrochemical methods, typically in combination with reactants that produce charge-carriers when combined with the analyte, are the current (ammeter), potential (potentiometric method) or accumulated charge (electrometer) of the analyte. Depends on the correlation between and concentration. For example, US Pat. No. 4,233,029 to Columbus, 4,225,410 to Pace, 4,323,536 to Columbus, 4,008,448 to Mugly, 4,654,197 to Liza et al., Zuminsky 5,108,564 to Back, 5,120,420 to Nankai, 5,128,015 to Zminski, 5,243,516 to White, 5,437,999 to Divald, and Paulman, etc. 5,288,636 5,628,890 to Cartel et al., 5,682,884 to Hill et al., 5,727,548 to Hill et al., 5,997,817 to Chris Moore et al., 6,004,441 to Fujiwara et al., Friedel. See 4,919,770 to Back, and 6,054,039 to Shear. Biosensors for performing tests are typically disposable test strips with reactants that chemically react with the analyte associated with the body fluids of the organism. The test strip is suitable for a non-disposable test meter so that the test meter can measure the reaction between the analyte and the reactant to determine and display the concentration of the analyte to the user.

도 1 은 통상적으로 (10) 으로 표시한 통상의 종래 기술의 일회용 바이오센서 테스트 스트립(예를 들어, 본 출원과 동일한 양수인에게 양도되고 본원에 참조된 미국 특허 제 4,999,582 호 및 제 5,438,271 호 참조)을 개략적으로 도시한다. 테스트 스트립 (10) 은 비전도성 기판 (12) 상에 형성되어 있으며, 그 위에 전도성 영역 (14, 16) 이 형성되어 있다. 화학적 반응물 (18) 은 테스트 스트립 (10) 의 일방의 단부에서 전도성 영역 (14, 16) 에 적용된다. 반응물 (18) 은, 전위가 측정 전극 (14a 및 16a) 사이에 작용할 때 검출될 수 있는 방법으로, 생물의 샘플과 관련된 분석 대상물과 반응한다.1 shows a conventional prior art disposable biosensor test strip, typically designated as 10 (see, for example, US Pat. Nos. 4,999,582 and 5,438,271, assigned to the same assignee as the present application and referenced herein). Shown schematically. The test strip 10 is formed on the nonconductive substrate 12, and the conductive regions 14 and 16 are formed thereon. The chemical reactant 18 is applied to the conductive regions 14, 16 at one end of the test strip 10. Reactant 18 reacts with the analyte associated with the sample of the organism in a manner that can be detected when an electrical potential acts between the measurement electrodes 14a and 16a.

테스트 스트립 (10) 은, 샘플내의 농도가 판정되기 위한 분석 대상물을 포함하는 샘플과 직접 접촉하는 측정 전극 (14a, 16a) 을 포함하는 반응 구역 (20) 을 구비한다. 전류법의 또는 전기량법의 전기화학적 측정 시스템에서, 반응 구역 (20) 의 측정 전극 (14a, 16a) 은, 측정 전극에 대한 전기적 전위를 공급하고, 이러한 전위(예컨대, 전류, 임피던스, 전하 등)에 대한 전기화학적 센서의 반응을 측 정하는 전기회로(통상적으로 기술분야에서 공지된, 테스트 스트립 (10) 이 삽입된 테스트 미터(도시되지 않음))에 연결된다. 이러한 반응은 반응물 농도에 비례한다.The test strip 10 has a reaction zone 20 comprising measuring electrodes 14a, 16a in direct contact with the sample comprising the analyte for which the concentration in the sample is to be determined. In an amperometric or electrochemical electrochemical measurement system, the measuring electrodes 14a, 16a of the reaction zone 20 supply an electrical potential to the measuring electrode, and these potentials (eg, current, impedance, charge, etc.) It is connected to an electrical circuit (usually known in the art, a test meter with an inserted test strip 10 (not shown)) measuring the response of the electrochemical sensor to. This reaction is proportional to the reactant concentration.

테스트 미터는 테스트 스트립 (10) 의 접촉 구역 (22) 의 접촉 패드 (14b, 16b) 에서 테스트 스트립 (10) 과 접촉한다. 접촉 구역 (22) 은, 측정 구역 (20) 으로부터 다소 멀리 위치하고, 보통(항상 그렇지는 않음) 테스트 스트립 (10) 의 반대쪽 단부에 위치한다. 전도성 트레이스 (14c, 16c) 는 접촉 구역 (22) 의 접촉 패드 (14b, 16b) 를 반응 구역 (20) 의 각각의 측정 전극 (14a, 16a) 에 연결한다.The test meter is in contact with the test strip 10 at the contact pads 14b, 16b of the contact zone 22 of the test strip 10. The contact zone 22 is located somewhat further away from the measurement zone 20 and is usually (but not always) at the opposite end of the test strip 10. The conductive traces 14c and 16c connect the contact pads 14b and 16b of the contact zone 22 to the respective measuring electrodes 14a and 16a of the reaction zone 20.

특히 바이오 센서 (10) 용 전극, 트레이스 및 접촉 패드는 전기적으로 전도성의 얇은 필름(예를 들어, 순금속, 탄소 잉크, 및 은도금, 이에 한정되지 않음)으로 구성되며, 접촉 구역 (22) 을 반응 구역 (20) 으로 연결하는 전도성 트레이스 (14c, 16c) 의 고유저항은 수백 옴 이상이다. 이러한 와류 저항은 트레이스 (14c, 16c) 의 길이에 따라 전위의 강하를 유발하여, 반응 구역 (20) 의 측정 전극 (14a, 16a) 에 존재하는 전위는, 접촉 구역 (22) 에서 테스트 미터에 의해 테스트 스트립 (10) 의 접촉 패드 (14b, 16b) 에 적용된 전위보다 상당히 작아진다. 반응 구역 (20) 내에 도입되는 반응의 임피던스가 트레이스 (14c, 16c) 의 와류 저항의 크기의 등급(order)내일 수 있기 때문에, 측정되는 신호는 트레이스에 의해 유도된 I-R(전류×저항)강하로 인해 상당한 오프셋을 가질 수 있다. 오프셋이 테스트 스트립마다 다르다면, 노이즈가 측정 결과에 추가된다. 게다가, 마모, 크랙, 스크래치, 화학적 분해 등과 같은 테스트 스트립 (10) 에 대한 물리적 손상이 제조, 선적, 저장 및/또는 사용자 오작동시 발생할 수 있다. 전도성 영역 (14, 16) 에는 극도로 높은 저항 또는 개방 회로가 존재하는 점에서 이러한 결함은 전도성 영역을 손상시킬 수 있다. 트레이스 저항의 그러한 증가는 테스트 미터가 정확한 테스트의 실행을 방해할 수 있다.In particular, the electrodes, traces and contact pads for the biosensor 10 consist of an electrically conductive thin film (eg, pure metal, carbon ink, and silver plating, but not limited to), and the contact zone 22 is a reaction zone. The resistivity of the conductive traces 14c and 16c connecting to (20) is more than a few hundred ohms. This eddy current causes a drop in the potential along the length of the traces 14c and 16c, so that the potential present in the measuring electrodes 14a and 16a of the reaction zone 20 is measured by the test meter in the contact zone 22. It is considerably smaller than the potential applied to the contact pads 14b and 16b of the test strip 10. Since the impedance of the reaction introduced into the reaction zone 20 can be within the order of the magnitude of the vortex resistance of the traces 14c and 16c, the signal to be measured is the IR (current x resistance) drop induced by the trace. Can have a significant offset. If the offset is different for each test strip, noise is added to the measurement results. In addition, physical damage to the test strip 10, such as wear, cracks, scratches, chemical degradation, and the like, may occur during manufacture, shipping, storage and / or user malfunction. Such defects can damage the conductive region in that there is an extremely high resistance or open circuit in the conductive region 14, 16. Such an increase in trace resistance can hinder the test meter from performing the correct test.

따라서, 테스트 스트립 트레이스의 무결성을 확인하고, 테스트 스트립 트레이스의 와류 저항을 측정하며, 반응 구역에서 테스트 스트립 측정 전극에 실제로 적용되는 전위 레벨을 제어하기 위한 시스템 및 방법이 요구된다.Accordingly, what is needed is a system and method for verifying the integrity of a test strip trace, measuring the eddy current resistance of the test strip trace, and controlling the potential level actually applied to the test strip measurement electrode in the reaction zone.

본 발명은, 테스트 스트립이 적절한 테스트 미터에 정합되면 생물의 체액과 관련된 신호를 측정하고, 상기 테스트 스트립 및 상기 테스트 미터는 테스트 스트립 트레이스의 무결성을 확인하고, 테스트 스트립 트레이스의 와류 저항을 측정하며, 또한 테스트 스트립에 적용된 전압을 보상하여, 테스트 스트립 트레이스에서 와류 저항의 손실을 계산하는 테스트 스트립을 제공한다.The present invention measures the signal associated with the body fluids of the organism when the test strip is matched to an appropriate test meter, the test strip and the test meter confirm the integrity of the test strip trace, measure the eddy current resistance of the test strip trace, It also provides a test strip that compensates for the voltage applied to the test strip to calculate the loss of eddy currents in the test strip trace.

본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 예시에 의해서 더 설명된다.The invention is further illustrated by way of example with reference to the accompanying drawings.

도 1 은 생물의 체액과 관련된 분석 대상물의 농도를 측정하는데 사용하는 통상의 종래 기술의 테스트 스트립의 개략적인 평면도이다.1 is a schematic plan view of a conventional prior art test strip used to measure the concentration of an analyte associated with a body fluid of an organism.

도 2 는 본 발명에 따른 제 1 실시형태의 테스트 스트립의 개략적인 평면도이다.2 is a schematic plan view of a test strip of a first embodiment according to the present invention.

도 3 은 도 2 의 제 1 실시형태 테스트 스트립과 함께 사용되는 제 1 실시형태의 전기적 테스트 회로의 개략적인 다이어그램이다.FIG. 3 is a schematic diagram of the electrical test circuit of the first embodiment used with the first embodiment test strip of FIG. 2.

도 4 는 생물 체액과 관련된 분석 대상물의 농도를 측정하는데 사용하는 제 2 의 통상의 종래 기술의 테스트 스트립의 분해 조립도이다.4 is an exploded view of a second conventional prior art test strip used to measure the concentration of analyte associated with biological fluids.

도 5 는 본 발명과 함께 사용하기 적합한 제거 장치의 도면을 도시한다.5 shows a view of a removal device suitable for use with the present invention.

도 6 은 제 2 마스크를 도시한 도 5 의 레이저 제거 장치의 도면이다.FIG. 6 is a view of the laser ablation apparatus of FIG. 5 showing a second mask. FIG.

도 7 은 본 발명과 함께 사용하는데 적합한 제거 장치의 도면이다.7 is a diagram of a removal device suitable for use with the present invention.

도 8 은 본 발명에 따른 제 2 실시형태의 테스트 스트립의 개략적인 평면도이다.8 is a schematic plan view of a test strip of a second embodiment according to the present invention.

도 9 는 도 8 의 제 2 실시형태의 테스트 스트립과 함께 사용되는 제 2 실시형태의 전기적 테스트 회로의 개략적인 선도이다.FIG. 9 is a schematic diagram of an electrical test circuit of the second embodiment used with the test strip of the second embodiment of FIG. 8.

도 10 은 도 8 의 제 2 실시형태의 테스트 스트립과 함께 사용되는 제 3 실시형태의 전기적 테스트 회로의 개략적인 선도이다.FIG. 10 is a schematic diagram of an electrical test circuit of a third embodiment used with the test strip of the second embodiment of FIG. 8.

본 발명의 원리의 이해를 촉진할 목적으로, 참조는 도면에 도시된 실시형태를 참조하였고, 상기 실시형태를 설명하기 위해 특별한 말을 사용하였다. 그럼에도 불구하고 본 발명의 범위가 제한되지 않는다는 것을 알 수 있다. 관련 발명이 예상되는 당업자에게 정상적으로 유발될 수 있는 것으로서, 도시된 장치에서의 개조 및 변형, 및 도시된 발명의 범위의 다른 응용이 보호되는 것이 바람직하다. 특히, 본 발명이 혈당 미터의 관점에서 논의되더라도, 본 발명이 다른 분 석 대상물 및 다른 샘플 유형을 측정하는 장치로 사용될 수 있는 것이 예상된다. 그러한 대안의 실시형태는 그 기술분야에서 자명하게 논의된 실시형태로 소정의 개조를 요구한다.For the purpose of facilitating the understanding of the principles of the invention, reference has been made to the embodiments shown in the drawings, and special language has been used to describe the embodiments. Nevertheless, it will be understood that the scope of the present invention is not limited. It is desirable that modifications and variations in the devices shown, as well as other applications of the scope of the inventions shown, be protected as those related inventions would normally arise to those skilled in the art to be expected. In particular, although the present invention is discussed in terms of blood glucose meters, it is contemplated that the present invention can be used as an apparatus for measuring other analytes and other sample types. Such alternative embodiments require certain adaptations to the embodiments which are obviously discussed in the art.

본 발명의 시스템 및 방법이 구성의 넓은 다양한 테스트 스트립으로 사용되고 구성 및 프로세스가 널리 다양하게 제조될 수 있더라도, 본 발명의 제 1 실시형태의 전기화학적 테스트 스트립이 도 2 에 개략적으로 도시되며, 통상적으로 (200) 으로 표시된다. 테스트 스트립 (10) 과 실질적으로 동일한 테스트 스트립 (200) 의 부분은 동일한 도면부호로 표시한다. 도 2 를 참조하여, 테스트 스트립 (200) 은, 50 nm 의 전도성 금층(비제한 적인 예를 들면, 스퍼터링(spttering) 또는 증착(vapor deposition)에 의함)인 상면에 코팅된, 350 ㎛ 두께의 폴리에스테르(듀퐁사로부터 입수가능한 멜리넥스(Melinex) 329)의 불투명체로 형성된 바닥 기판 (12) 을 포함한다. 트레이스(trace) 및 접촉 패드를 연결하는 전극이 레이저 제거 처리에 의해 전도성 층에 새겨진다. 레이저 제거 처리는 크롬 코팅된 석영(chrome-on-quartz) 마스크를 관통하는 엑시머 레이저에 의해서 실행된다. 마스크 패턴은 레이저 필드의 일부를 반사시키고, 필드의 다른 일부를 관통하고, 레이저 라이트에 의해 접촉되어 증발되는 금도금상에 패턴을 생성한다. 레이저 제거 처리는 이하에서 더욱 자세히 설명된다. 예를 들면, 작동 (214a), 대향 (216a), 및 대향 센스 (224a) 전극은 도시된 바와 같이 형성될 수 있으며, 각각의 트레이스 (214c, 216c 및 224c) 에 의해서 각각의 측정 접촉 패드 (214b, 216b, 224b) 에 연결될 수 있다. 기술분야에서 공지된 바와 같이, 테스트 스트립 (200) 이 테스트 미터에 삽입되면, 이러한 접촉 패드 (214b, 216b 및 224b) 는 테스트 스트립 (200) 상에 전도성 영역을 제공하여 테스트 미터의 커넥터 접촉에 의해 접촉된다.Although the systems and methods of the present invention can be used in a wide variety of test strips of construction and the configurations and processes can be manufactured in a wide variety, the electrochemical test strips of the first embodiment of the present invention are schematically illustrated in FIG. It is represented by 200. Portions of the test strip 200 that are substantially the same as the test strip 10 are denoted by the same reference numerals. Referring to FIG. 2, test strip 200 is a 350 μm thick poly coated on top surface that is a 50 nm conductive gold layer (eg, by way of non-limiting sputtering or vapor deposition). Bottom substrate 12 formed of an opaque body of an ester (Melinex 329 available from DuPont). Electrodes connecting the traces and contact pads are engraved on the conductive layer by a laser ablation process. Laser ablation treatment is performed by an excimer laser that penetrates a chrome-on-quartz mask. The mask pattern reflects a portion of the laser field, penetrates the other portion of the field, and creates a pattern on the gold plating that is contacted and evaporated by the laser light. The laser ablation treatment is described in more detail below. For example, the actuation 214a, opposing 216a, and opposing sense 224a electrodes may be formed as shown and each measuring contact pad 214b by a respective trace 214c, 216c and 224c. , 216b, 224b. As is known in the art, when test strip 200 is inserted into a test meter, such contact pads 214b, 216b and 224b provide a conductive area on test strip 200 by contacting the connector of the test meter. Contact.

도 2 및 도 3 은, 테스트 스트립의 대향 전극 라인에서 와류 I-R 강하의 보상을 함으로써 종래 기술의 테스트 스트립을 개선하는 본 발명의 실시형태를 도시한다. 도 2 의 테스트 스트립 (200) 은 대향 센스 전극 (224a), 접촉 패드 (224b), 및 트레이스 (224c) 를 제외하고는, 도 1 의 종래 기술의 테스트 스트립 (10) 과 실질적으로 동일하다. 대향 센스 라인 (224) 의 제공은 테스트 미터(후술)가 접촉 패드 (216b, 224b) 사이의 와류 저항을 보상하게 한다. 도 3 의 회로를 사용하면, 도 2 의 실시형태는 테스트 스트립 (200) 의 대향 전극측에서 I-R 강하만을 보상한다. 작동 전극측에서 모방될 수 있더라도, 테스트 스트립 (200) 의 작동 전극측의 와류 저항은 이 회로를 사용하여 검출될 수 없으며, 이는 본 발명을 참조하면 당업자에게 명백하다. 테스트 스트립의 작동측과 대향측상에서 와류 저항을 보상하는 다른 방법이 이하에 표현된다. 따라서, 도 2 의 대향 라인 (216) 은 테스트 미터가 소정의 와류 저항 전위 강하를 보상하게 하고, 도 3 에 의해서 더욱 상세하게 설명된다.2 and 3 show an embodiment of the present invention that improves the test strip of the prior art by compensating for the vortex I-R drop in the opposite electrode line of the test strip. The test strip 200 of FIG. 2 is substantially the same as the prior art test strip 10 of FIG. 1, except for the opposing sense electrode 224a, the contact pad 224b, and the trace 224c. The provision of the opposite sense line 224 allows the test meter (described below) to compensate for the eddy current resistance between the contact pads 216b, 224b. Using the circuit of FIG. 3, the embodiment of FIG. 2 only compensates for the I-R drop at the opposite electrode side of the test strip 200. Although it can be imitated at the working electrode side, the eddy current resistance at the working electrode side of the test strip 200 cannot be detected using this circuit, which will be apparent to those skilled in the art with reference to the present invention. Another way of compensating for eddy current resistance on the working and opposing sides of the test strip is represented below. Thus, the opposing line 216 of FIG. 2 allows the test meter to compensate for the desired vortex resistance potential drop and is described in more detail by FIG.

도 3 은 테스트 미터내에 장착된 제 1 실시형태의 전극 보상 회로(통상 (300) 으로 표시)의 개략적인 전기회로 선도를 도시한다. 도시된 바와 같이, 테스트 스트립 (200) 이 테스트 미터에 삽입되면 회로는 접촉 패드 (214b, 216b 및 224b) 에 연결한다. 당업자가 알 수 있듯이, 전위가 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 적용되고, 반응물 (18) 에 적용된 생물의 샘플에 존재하는 분석 대상물의 양의 비율로, 대향 전극 (216a) 과 작동 전극 (214a) 사이에 전류를 생성한다. 작동 전극 (214a) 으로부터의 전류는, 작동 전극 트레이스 (214c) 에 의해서 작동 전극 접촉 패드 (214b) 로 전송되고, 전류-전압 증폭기 (310) 에 제공된다. 증폭기 (310) 의 아날로그 출력 전압이 아날로그-디지털 변환기(A/D) (312) 에 의해 디지털 신호로 변환된다. 이 디지털 신호는 테스트 스트립 (200) 에 적용된 생물의 샘플내의 분석 대상물의 농도를 판정하기 위해서 미리 저장된 프로그램에 따라, 마이크로프로세서 (314) 에 의해 처리된다. 이 농도는 액정 표시장치(LCD) 화면과 같은 적절한 출력 장치 (316) 에 의해 사용자에게 표시된다.FIG. 3 shows a schematic electrical circuit diagram of the electrode compensation circuit (usually denoted 300) of the first embodiment mounted in a test meter. As shown, the circuitry connects to the contact pads 214b, 216b and 224b when the test strip 200 is inserted into the test meter. As will be appreciated by those skilled in the art, the potential is applied to the counter electrode contact pad 216b, and the ratio of the amount of analyte present in the sample of the organism applied to the reactant 18, the counter electrode 216a and the working electrode 214a Create a current in between. Current from the working electrode 214a is transmitted to the working electrode contact pad 214b by the working electrode trace 214c and is provided to the current-voltage amplifier 310. The analog output voltage of the amplifier 310 is converted into a digital signal by an analog-to-digital converter (A / D) 312. This digital signal is processed by the microprocessor 314 according to a pre-stored program to determine the concentration of the analyte in the sample of the organism applied to the test strip 200. This concentration is displayed to the user by an appropriate output device 316, such as a liquid crystal display (LCD) screen.

마이크로프로세서 (314) 는 또한 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 적용되는 전위를 나타내는 디지털 신호를 출력한다. 이 디지털 신호는 디지털-아날로그 변환기(D/A) (318) 에 의해서 아날로그 전압 신호로 변환된다. D/A (318) 의 아날로그 출력은 OP 증폭기 (320) 의 제 1 입력에 적용된다. OP 증폭기 (320) 의 제 2 입력은 대향 센스 전극 접촉 패드 (224b) 에 연결된다. OP 증폭기 (320) 는 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 연결된다.The microprocessor 314 also outputs a digital signal indicative of the potential applied to the counter electrode contact pad 216b. This digital signal is converted into an analog voltage signal by a digital-to-analog converter (D / A) 318. The analog output of the D / A 318 is applied to the first input of the OP amplifier 320. The second input of the OP amplifier 320 is connected to the opposing sense electrode contact pads 224b. OP amplifier 320 is connected to opposing electrode contact pad 216b.

OP 증폭기 (320) 는 전압 폴로워 배열에 연결되어 있고, 증폭기는 제 2 입력에서 나타나는 전압이 제 1 입력에서 나타나는 전압과 동일해질 때까지 출력(오퍼레이션의 물리적 제한)을 조절한다. OP 증폭기 (320) 의 제 2 입력은 높은 임피던스 입력이고, 따라서 실질적으로는 대향 센스 라인 (224) 으로 전류가 흐르지 않는다. 실질적으로 흐르는 전류가 없기 때문에, 대향 센스 라인 (224) 의 소 정의 와류 저항은 전위 강하를 일으키지 않고, OP 증폭기 (320) 의 제 2 입력에 나타나는 전압은 대향 센스 전극 (224a) 에서의 전압과 실질적으로 동일하며, 반대로 그 근접한 물리적 근접에 의해 대향 전극 (216a) 에서 나타나는 전압과 실질적으로 동일하다. 따라서 대향 전극 (216a)(대향 센스 라인 (224) 으로 피드백함)에서 나타나는 실제 전위가 마이크로프로세서 (314) 에 의해 명명된 전위와 동일하게 될 때까지, OP 증폭기 (320) 는 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 적용된 전위를 변화시키는 역할을 한다. 따라서 OP 증폭기(320) 는 대향 전극 트레이스 (216c) 에서의 와류 저항에 의해 생긴 소정의 전위 강하를 자동으로 보상하고, 대향 전극 (216a) 에서 나타나는 전위가 소망하는 전위이다. 전류를 생성하는 전압이 마이크로프로세서 (314) 에 의해 명령된 전압과 완전히 동일하기 때문에, 작동 전극에 의해 생성된 전류로부터 생물의 샘플내의 분석 대상물 농도의 계산이 더욱 정확해진다. 회로 (300) 에 의해 제공된 와류 저항 전압 강하를 보상하지 않고, 마이크로프로세서 (314) 는 명령된 전압이 대향 전극 (216a) 에 실질적으로 적용되는 잘못된 추정하에서 전류를 분석한다.OP amplifier 320 is connected to a voltage follower arrangement, and the amplifier adjusts the output (physical limit of operation) until the voltage appearing at the second input is equal to the voltage appearing at the first input. The second input of the OP amplifier 320 is a high impedance input, so substantially no current flows in the opposite sense line 224. Since there is no substantially flowing current, the predetermined eddy current resistance of the opposing sense line 224 does not cause a potential drop, and the voltage appearing at the second input of the OP amplifier 320 is substantially equal to the voltage at the opposing sense electrode 224a. Are substantially the same as the voltage present at the counter electrode 216a by its close physical proximity. Thus, the op amp 320 is provided with the opposing electrode contact pad (until the opposing electrode 216a (feed back to the opposing sense line 224) becomes equal to the potential named by the microprocessor 314. Serves to change the potential applied to 216b). Thus, the OP amplifier 320 automatically compensates for the predetermined potential drop caused by the eddy current resistance at the counter electrode trace 216c, and the potential at the counter electrode 216a is the desired potential. Since the voltage generating the current is exactly the same as the voltage commanded by the microprocessor 314, the calculation of the analyte concentration in the sample of the organism from the current generated by the working electrode becomes more accurate. Without compensating for the eddy resistance voltage drop provided by the circuit 300, the microprocessor 314 analyzes the current under false estimation that the commanded voltage is substantially applied to the counter electrode 216a.

탄소 잉크 프린팅, 은페이스트(silver paste) 실크-스크리닝, 금속화된 플라스틱 스크라이빙(scribing), 전기 도금, 화학적 도금, 및 광화학적 에칭과 같은 예에 제한되지 않는 방법은, 다중 전극을 갖는 테스트 스트립을 제공하는데 유용하다. 여기서 설명된 바와 같이 추가적인 전극 센스를 갖는 테스트 스트립을 제공하는 바람직한 한 방법은 레이저 제거 기술의 사용이다. 바이오센서용 전극을 제공하는 이러한 기술의 사용의 예는, 2001년 5월 25일에 출원된 미국특허 출원 번호 제 09/866,030 호의 "연속적인 카버레이(Coverlay) 채널을 구비한 레이저 제거 전극을 갖는 바이오센서", 1999년 10월 4일에 출원된 미국특허 출원번호 제 09/411,940 호의 "패턴화된 라미네이트 및 전극용 특징으로 형성된 레이저" 에서 설명되어 있으며, 양 공개공보가 참조 되었다. 극히 작은 최소 배선폭(feature size)을 가지는 전도성 영역이 반복적 방법으로 정확하게 제조되기 때문에, 레이저 제거는 특히 본 발명에 따른 테스트 스트립을 제공하는데 유용하다. 레이저 제거는 테스트 스트립의 크기를 확장하지 않고 테스트 스트립에 본 발명의 여분의 센스 라인을 추가하는 수단을 제공한다.Methods that are not limited to examples such as carbon ink printing, silver paste silk-screening, metallized plastic scribing, electroplating, chemical plating, and photochemical etching include testing with multiple electrodes. Useful for providing strips. One preferred method of providing test strips with additional electrode senses as described herein is the use of laser ablation techniques. An example of the use of this technique to provide an electrode for a biosensor is to have a laser ablation electrode with a continuous Coverer channel of US Patent Application No. 09 / 866,030, filed May 25, 2001. Biosensor ", US Patent Application No. 09 / 411,940, filed Oct. 4, 1999," Laser Formed with Patterned Laminates and Electrodes ", both publications are referenced. Laser conduction is particularly useful for providing test strips according to the present invention, since conductive regions with extremely small feature sizes are produced accurately in an iterative manner. Laser ablation provides a means to add an extra sense line of the present invention to the test strip without expanding the size of the test strip.

본 발명에서는, 서로에 대해서 그리고 바이오 센서 전반에 대한 전기적 콤포넌트의 정확한 배치를 제공하는 것이 바람직하다. 바람직한 실시형태에서는, 콤포넌트의 상대적 배치는, 전기적 콤포넌트용으로 정확한 패턴을 가지는 마스크 또는 다른 장치를 통해서 실행되는 넓은 필드 레이저 제거의 사용에 의해 적어도 부분적으로 이루어진다. 이는 인접한 모서리의 위치조정을 정확하게 하고, 모서리의 부드러움이 근접한 허용오차로 향상된다.In the present invention, it is desirable to provide accurate placement of electrical components with respect to each other and throughout the biosensor. In a preferred embodiment, the relative placement of the components is at least partly made by the use of wide field laser ablation, which is carried out through a mask or other device having the correct pattern for the electrical component. This precisely positions the adjacent edges and improves the smoothness of the edges to close tolerances.

도 4 는 본 발명의 레이저 제거 처리를 설명하는데 유용한 간단한 바이오센서 (401) 를 도시하며, 제 1 전극 세트 (404) 및 제 2 전극 세트 (405), 및 각각 대응하는 트레이스 (406, 407) 및 접촉 패드 (408, 409) 를 포함하는 전극 시스템을 형성하는 전도성 재료 (403) 에 형성된 기판 (402) 을 포함한다. 바이오센서 (401) 는 레이저 제거 처리를 설명할 목적으로 사용되고, 본 발명의 센스 라인에 구체화되지 않는다. 전도성 재료 (403) 는 순금속 또는 합금, 또는 금속 도 체인 다른 재료를 포함할 수 있다. 바람직하게는, 전도성 재료는 전극을 형성하는데 사용되는 레이저의 파장을 흡수하고 신속하고 정확한 처리에 따른 두께를 갖는다. 비제한적인 예는, 알루미늄, 탄소, 구리, 크롬, 금, 산화 인듐 주석(ITO), 팔라듐, 백금, 은, 산화 주석/금, 티타늄, 그 혼합물, 및 합금 또는 이러한 원소의 금속 조성을 포함한다. 바람직하게는, 전도성 재료는 순금속 또는 합금 또는 그들의 산화물을 포함한다. 가장 바람직하게는, 전도성 재료는 금, 팔라듐, 알루미늄, 티타늄, 백금, ITO 및 크롬을 포함한다. 전도성 재료는 두께가 약 10 내지 80 nm 이고, 더욱 바람직하게는 30 내지 70 nm 이며, 가장 바람직하게는 50 nm 이다. 전도성 재료의 두께는 재료의 전송 특성 및 바이오센서의 사용에 관련된 다른 인자에 따른다.4 shows a simple biosensor 401 useful for explaining the laser ablation process of the present invention, wherein a first electrode set 404 and a second electrode set 405, and corresponding traces 406 and 407, respectively; A substrate 402 formed in a conductive material 403 forming an electrode system comprising contact pads 408 and 409. The biosensor 401 is used for the purpose of explaining the laser ablation process and is not embodied in the sense line of the present invention. Conductive material 403 may comprise a pure metal or alloy, or a metal or chain other material. Preferably, the conductive material absorbs the wavelength of the laser used to form the electrode and has a thickness following rapid and accurate processing. Non-limiting examples include aluminum, carbon, copper, chromium, gold, indium tin oxide (ITO), palladium, platinum, silver, tin oxide / gold, titanium, mixtures thereof, and alloys or metal compositions of these elements. Preferably, the conductive material comprises a pure metal or alloy or oxides thereof. Most preferably, the conductive material includes gold, palladium, aluminum, titanium, platinum, ITO and chromium. The conductive material has a thickness of about 10 to 80 nm, more preferably 30 to 70 nm, most preferably 50 nm. The thickness of the conductive material depends on the transmission properties of the material and other factors related to the use of the biosensor.

도시되지는 않았지만, 패턴화된 전도성 재료는 추가적인 금속층으로 코팅 또는 도금될 수 있다. 예를 들면, 전도성 재료는 구리가 될 수 있으며, 레이저를 통해 전극 패턴으로 제거되며, 그 후에, 구리는 티타늄/텅스텐층, 그리고 금층으로 도금될 수 있어서 소망하는 전극을 형성한다. 바람직하게는, 전도성 재료의 단일층이 사용되며 베이스 (402) 에 놓여있다. 통상적으로는 필요가 없더라도, 당업분야에서 알려진 바와 같이, 크롬 니켈 또는 티타늄과 같은 시드(seed) 또는 보조층을 사용함으로써, 베이스에 전도성 재료의 접착을 향상시킬 수 있다. 바람직한 실시형태에서, 바이오센서 (401) 는 금, 팔라듐, 백금 또는 ITO 의 단일층을 갖는다.Although not shown, the patterned conductive material may be coated or plated with additional metal layers. For example, the conductive material may be copper, which is removed with a laser pattern through a laser, after which the copper may be plated with a titanium / tungsten layer, and a gold layer to form the desired electrode. Preferably, a single layer of conductive material is used and lies on the base 402. Although not normally required, as is known in the art, the use of a seed or auxiliary layer, such as chromium nickel or titanium, can improve the adhesion of the conductive material to the base. In a preferred embodiment, the biosensor 401 has a single layer of gold, palladium, platinum or ITO.

바이오 센서 (401) 는 도 5, 도 6 및 도 7 에 각각 도시된 2 개의 장치 (10, 10') 를 사용하여 예시적으로 제조된다. 다른 방법으로 설명되지 않았더라도, 장치 (410, 410') 는 유사한 방식으로 작동한다. 도 5 를 참조하여, 바이오센서 (401) 는 80 nm 의 금 라미네이트를 가지며, 폭이 약 40 mm 인 리본 롤 (420) 을 공급함으로써 주문 제작된 넓은 필드 레이저 제거 장치 (410) 로 제조된다. 장치 (410) 는 레이저광 (412) 의 광선을 생성하는 레이저 소스 (411), 크롬 도금된 석영 마스크 (414), 및 렌즈 (416) 를 포함한다. 도시된 렌즈 (416) 가 단일의 렌즈일지라도, 렌즈 (416) 는 광 (412) 을 미리 정해진 형태로 만드는데 협력하는 다수의 렌즈가 바람직하다.The biosensor 401 is exemplarily manufactured using the two devices 10, 10 ′ shown in FIGS. 5, 6 and 7, respectively. Although not described otherwise, the devices 410 and 410 'operate in a similar manner. Referring to FIG. 5, the biosensor 401 has a gold laminate of 80 nm and is manufactured with a custom-made wide field laser removal device 410 by supplying a ribbon roll 420 having a width of about 40 mm. Apparatus 410 includes a laser source 411, a chrome plated quartz mask 414, and a lens 416 that produce a beam of laser light 412. Although the illustrated lens 416 is a single lens, a plurality of lenses are preferred in which the lens 416 cooperates to make the light 412 into a predetermined shape.

적절한 제거 장치 (410 ; 도 5 내지 6) 의 비제한적인 예는, 독일 가르브센(Garbsen)의 LPKF 레이저 전기 게엠바하(LPKF Laser Electronic GmbH)로부터 상업적으로 입수 가능한 주문 제작된 마이크로라인레이저 200-4 레이저 시스템, 독일 게튕젠(Gottingen)의 람브다 피직 아게(Lambda Physik AG)로부터 상업적으로 입수 가능한 LPX-400, LPX-300 또는 LPX-200 레이저 시스템, 및 콜로라도 스프링사(Colorado Spring, Co)의 국제 포토툴 회사(International Phototool Company)로부터 상업적으로 입수 가능한 크롬 도금된 석영 마스크이다.Non-limiting examples of suitable removal devices 410 (FIGS. 5-6) are custom-made microline lasers 200-4 commercially available from LPKF Laser Electronic GmbH of Garbsen, Germany. Laser systems, LPX-400, LPX-300 or LPX-200 laser systems commercially available from Lambda Physik AG of Gottingen, Germany, and International of Colorado Springs, Co. A chrome plated quartz mask commercially available from International Phototool Company.

마이크로라인레이저 200-4 레이저 시스템(도 5 내지 6)에 있어서, 레이저 소스 (411) 는 LPX-200 KrF-UV-레이저이다. 하지만, 높은 파장 UV 레이저가 사용될 수 있다. 레이저 소스 (411) 은 248 nm 에서, 600 mJ 의 펄스 에너지, 및 50 Hz 의 펄스 반복 주파수로 작동한다. 레이저 빔 (412) 의 세기는 유전체의 빔 감쇠기(도시되지 않음)에 의해 3 % 와 92 % 사이에서 무한히 조절될 수 있다. 빔 프로파일은 27x15 ㎟ (0.62 제곱인치)이고, 펄스 지속시간은 25 ns 이다. 마스크 (414) 상의 배치도는 광학 소자 빔 확장기, 균질화기(homogenizer), 및 필드 렌즈(도시되지 않음)에 의해서 동일하게 투영된다. 호모지나이저의 성능은 에너지 프로파일의 측정에 의해서 판정된다. 이미징 렌즈 (416) 는 마스크 (414) 의 구조를 리본 (420) 으로 전송한다. 이미징 비율은 2:1 인데, 이는 일방의 손에서 큰 영역이 제거되지만, 타방의 손에서 적용된 크롬 마스크의 제거점 미만의 에너지 밀도를 유지하기 위해서이다. 2:1 의 이미징이 도시되었지만, 소망하는 디자인 요구에 따라 소정의 다른 비율이 가능하다. 리본 (420) 은 화살표 (425) 로 도시된 바와 같이 이동해서 다수의 레이아웃 세그먼트가 연속으로 제거되게 한다.In the microline laser 200-4 laser system (FIGS. 5-6), the laser source 411 is an LPX-200 KrF-UV-laser. However, high wavelength UV lasers can be used. The laser source 411 operates at 248 nm with a pulse energy of 600 mJ, and a pulse repetition frequency of 50 Hz. The intensity of the laser beam 412 can be infinitely adjusted between 3% and 92% by a dielectric beam attenuator (not shown). The beam profile is 27x15 mm 2 (0.62 square inches) and the pulse duration is 25 ns. The layout on the mask 414 is equally projected by the optical element beam expander, homogenizer, and field lens (not shown). The performance of the homogenizer is determined by measuring the energy profile. Imaging lens 416 transmits the structure of mask 414 to ribbon 420. The imaging ratio is 2: 1 to remove large areas in one hand, but to maintain an energy density below the removal point of the chrome mask applied in the other hand. Although 2: 1 imaging is shown, certain other ratios are possible depending on the desired design requirements. Ribbon 420 moves as shown by arrow 425 to cause the plurality of layout segments to be removed in series.

마스크 (414) 의 위치조정, 리본 (420) 의 이동, 및 레이저 에너지는 컴퓨터제어된다. 도 5 에 도시된 바와 같이, 레이저 빔 (412) 은 리본 (420) 에 투영되어서 제거된다. 투명 영역 또는 마스크 (414) 의 창 (418) 을 통과하는 광 (412) 은 리본 (420) 으로부터 금속을 제거한다. 마스크 (414) 의 크롬 코팅된 영역 (424) 은 레이저광 (412) 을 차단하고 그 영역에서의 제거를 방지하여, 리본 (420) 표면에 도금된 구조가 된다. 도 6 을 참조하여, 전기적 콤포넌트의 완전한 구조는 제 2 마스크 (414') 를 통한 추가적인 제거 단계를 요구할 수 있다. 제거되는 렌즈 및 전기적 콤포넌트의 크기에 따라, 단일의 제거 단계 또는 2 개 이상의 제거 단계만이 필수적일 수 있다. 게다가, 다중의 마스크 대신에, 다중 필드가 동일한 마스크에 형성될 수 있다.Positioning of mask 414, movement of ribbon 420, and laser energy are computer controlled. As shown in FIG. 5, the laser beam 412 is projected onto the ribbon 420 and removed. Light 412 passing through the transparent area or window 418 of the mask 414 removes metal from the ribbon 420. The chrome coated area 424 of the mask 414 blocks the laser light 412 and prevents its removal from that area, resulting in a structure plated on the ribbon 420 surface. Referring to FIG. 6, the complete structure of the electrical component may require an additional removal step through the second mask 414 ′. Depending on the size of the lens and the electrical component to be removed, only a single removal step or two or more removal steps may be necessary. In addition, instead of multiple masks, multiple fields can be formed in the same mask.

구체적으로, 적절한 제거 장치 (410' ; 도 7) 의 비제한적인 제 2 예는, 독일 가르브센(Garbsen)의 LPKF 레이저 전기 게엠바하(LPKF Laser Electronic GmbH)로부터 상업적으로 입수 가능한 주문 제작된 레이저 시스템, 독일 게튕젠(Gottingen)의 람브다 피직 아게(Lambda Physik AG)로부터 상업적으로 입수 가능한 람브다 스틸(STEEL ; Stable energy eximer laser) 레이저 시스템, 및 콜로라도 스프링사(Colorado Spring, Co)의 국제 포토툴 회사(International Phototool Company)로부터 상업적으로 입수 가능한 크롬 도금된 석영 마스크이다. 레이저 시스템은 308 nm 파장에서 1000 mJ 펄스 에너지를 나타낸다. 게다가, 레이저 시스템은 100 Hz 의 주파수를 갖는다. 장치 (410') 는 도 5 및 도 6 에 도시된 바와 같이 2 개를 통과하는 바이오센서를 생성하도록 형성될 수 있지만, 바람직하게는 그 렌즈는 25 ns 로 단일 통과시 10x40 mm 패턴의 형성을 허용한다.Specifically, a non-limiting second example of a suitable removal device 410 '(FIG. 7) is a custom laser system commercially available from LPKF Laser Electronic GmbH of Garbsen, Germany. , The Stable energy eximer laser (STEEL) laser system commercially available from Lambda Physik AG of Gottingen, Germany, and the international phototool of Colorado Springs, Co. Chromium plated quartz mask commercially available from International Phototool Company. The laser system exhibits 1000 mJ pulse energy at 308 nm wavelength. In addition, the laser system has a frequency of 100 Hz. The device 410 'can be configured to produce a two pass biosensor as shown in FIGS. 5 and 6, but preferably the lens allows the formation of a 10x40 mm pattern in a single pass at 25 ns. do.

특수한 이론과 결합되지 않더라도, 마스크 (414, 414', 414'') 를 관통하는 레이저 펄스 또는 빔 (412) 은 리본 (420) 에서 1 ㎛ 미만의 표면 (402) 내에서 흡수된다. 빔 (412) 의 광자는 광해리 및 금속/중합체 인터페이스에서 화학적 결합의 급격한 파괴를 유발하기에 충분한 에너지를 가진다. 이러한 급격한 화학적 결합 파괴는 흡수 영역 및 힘 부재(금속 필름 (403)) 내에서 급격한 압력 증가를 유발하여 중합체 베이스 표면으로부터 배출된다. 통상의 펄스 지속시간은 약 20 내지 25 ns 이기 때문에, 재료와의 상호 작용이 급격하게 유발하고 전도성 재료 (403) 의 모서리로의 열 손상을 유발하여, 구조물 주변이 최소화된다. 본 발명에 의해 의도된 바와 같이, 전기적 콤포넌트의 모서리는 높은 모서리 특성 및 정확한 위치를 가진다.Although not combined with a particular theory, laser pulses or beams 412 that penetrate the masks 414, 414 ′, 414 ″ are absorbed within the surface 402 of less than 1 μm in the ribbon 420. Photons of the beam 412 have sufficient energy to cause photodissociation and rapid breakdown of chemical bonds at the metal / polymer interface. This abrupt chemical bond breakdown causes a rapid pressure increase in the absorbing region and the force member (metal film 403) and exits from the polymer base surface. Since the typical pulse duration is about 20 to 25 ns, the interaction with the material causes a sudden and thermal damage to the edges of the conductive material 403, thereby minimizing the periphery of the structure. As intended by the present invention, the edges of the electrical components have high edge characteristics and accurate position.

리본 (420) 으로부터 금속을 제거하는데 사용된 에너지 밀도는, 리본 (420) 이 형성되어 있는 재료, 베이스 재료에 금속 필름의 접착, 금속 필름의 두께, 및 예컨대, 지지 및 증착과 같이 베이스에 필름을 위치시키는데 사용된 가능한 처리에 따른다. 금용 에너지 밀도 레벨은 KALADEX® 상에서 약 50 내지 약 90 mJ/㎠ 이고, 폴리이미드상에서 약 100 내지 120 mJ/㎠ 이며, MELINEX® 상에서 약 60 내지 120 mJ/㎠ 이다. 상기 언급된 에너지 밀도 레벨의 미만 또는 초과인 에너지 밀도 레벨은 본 발명에 따른 다른 베이스 재료에 적합하다.The energy density used to remove the metal from the ribbon 420 is determined by the material on which the ribbon 420 is formed, the adhesion of the metal film to the base material, the thickness of the metal film, and the film on the base such as, for example, support and deposition. Follow the possible treatments used to locate them. The energy density level for gold is about 50 to about 90 mJ / cm 2 on KALADEX ® , about 100 to 120 mJ / cm 2 on polyimide and about 60 to 120 mJ / cm 2 on MELINEX ® . Energy density levels below or above the above mentioned energy density levels are suitable for other base materials according to the invention.

리본 (420) 의 영역의 패턴화는 마스크 (414, 414') 를 사용하여 이루어진다. 각 마스크 (414 414') 는, 형성되는 전극 콤포넌트 패턴의 미리 정해진 부분의 정확한 2 차원적 도시를 포함하는 마스크 필드 (422) 를 예시적으로 포함한다. 도 5 는 접촉 패드 및 트레이스의 부분을 포함하는 마스크 필드 (422) 를 도시한다. 도 6 에 도시된 바와 같이, 제 2 마스크 (414') 는 핑거(finger) 를 포함하는 전극 패턴 및 트레이스의 제 2 대응 부분을 포함한다. 전술한 바와 같이, 제거되는 영역의 크기에 따라, 마스크 (414) 는 전극 패턴(도 7)의 완전한 도시, 또는 도 5 및 도 6 에 도시된 것과 다른 패턴의 부분을 포함할 수 있다. 바람직하게는, 본 발명의 제 1 양태에서는, 테스트 스트립상의 전기적 콤포넌트의 전체 패턴이 동시에 제거되도록, 즉 넓은 필드가 테스트 스트립(도 7)의 전체 크기를 내포하게 된다. 대안으로, 도 5 및 도 6 에 도시된 바와 같이, 전체 바이오 센서의 부분은 연속적으로 실행된다.Patterning of the area of the ribbon 420 is accomplished using masks 414, 414 ′. Each mask 414 414 ′ illustratively includes a mask field 422 that includes an accurate two-dimensional representation of a predetermined portion of the electrode component pattern to be formed. 5 shows a mask field 422 that includes contact pads and portions of traces. As shown in FIG. 6, the second mask 414 ′ includes an electrode pattern comprising a finger and a second corresponding portion of the trace. As discussed above, depending on the size of the area to be removed, the mask 414 may comprise a complete illustration of the electrode pattern (FIG. 7), or portions of a pattern other than those shown in FIGS. 5 and 6. Preferably, in the first aspect of the invention, the wide field contains the total size of the test strip (FIG. 7) such that the entire pattern of electrical components on the test strip is simultaneously removed. Alternatively, as shown in FIGS. 5 and 6, portions of the entire biosensor are run continuously.

마스크 (414) 가 이하에서 논의되더라도, 다른 방식으로 표시된 것을 제외하고는 상기 논의는 마스크 (414', 414'') 에 적용된다. 도 5 를 참조하여, 크롬에 의해 보호된 마스크 필드 (422) 의 영역 (424) 은 리본 (420) 으로의 레이저 빔 (412) 투과를 방지한다. 마스크 필드 (422) 의 투명 영역 또는 윈도우 (418) 는 레이저 빔 (412) 이 마스크 (414) 를 관통하고, 리본 (420) 의 미리 정해진 영역을 가압한다. 도 5 에 도시된 바와 같이, 마스크 필드 (422) 의 투명 영역 (418) 은 전도성 재료 (403) 가 제거되는 리본 (420) 의 영역에 대응한다.Although the mask 414 is discussed below, the discussion applies to the masks 414 ', 414 " except as otherwise indicated. Referring to FIG. 5, the area 424 of the mask field 422 protected by chromium prevents the laser beam 412 penetration into the ribbon 420. The transparent area or window 418 of the mask field 422 allows the laser beam 412 to penetrate the mask 414 and press against a predetermined area of the ribbon 420. As shown in FIG. 5, the transparent area 418 of the mask field 422 corresponds to the area of the ribbon 420 from which the conductive material 403 is removed.

게다가, 마스크 필드 (422) 는 라인 (430) 으로 도시된 길이 및 라인 (432) 으로 도시된 폭을 갖는다. LPX-200 의 2:1 의 이미징 비가 주어지며, 마스크의 길이 (430) 는 패턴화된 길이 (434) 의 2 배의 길이이고, 마스크의 폭 (432) 은 리본 (420) 상에 패턴화된 폭 (436) 의 2 배의 폭이다. 렌즈 (416) 는 리본 (420) 에 닿는 레이저 빔 (412) 의 크기를 감소시킨다. 마스크 필드 (422) 의 상대적 치수 및 패턴화는 본 발명에 따라 변형될 수 있다. 마스크 (414' ; 도 6) 는 전기적 콤포넌트의 2 차원적 도시를 완성하는데 사용된다.In addition, the mask field 422 has a length shown by line 430 and a width shown by line 432. Given a 2: 1 imaging ratio of LPX-200, the length 430 of the mask is twice the length of the patterned length 434, and the width 432 of the mask is patterned on the ribbon 420 Twice the width 436. Lens 416 reduces the size of laser beam 412 that strikes ribbon 420. The relative dimensions and patterning of the mask field 422 can be modified in accordance with the present invention. Mask 414 '(FIG. 6) is used to complete the two-dimensional illustration of the electrical component.

도 5 를 계속하여 참조하면, 레이저 제거 장치 (410) 에서 엑시머 레이저 소스 (411) 는 빔 (412) 을 방출하고, 빔은 크롬 코팅된 석영 마스크 (414) 를 관통한다. 마스크 필드 (422) 는 레이저 빔 (412) 의 일부를 반사시키고, 빔의 다른 일부는 관통시키며, 레이저 빔 (412) 에 의해 가압된 금 필름상에 패턴을 생성시킨다. 리본 (420) 은 장치 (410) 에 대하여 정지해 있을 수 있거나, 장치 (410) 를 통한 롤상에서 연속적으로 이동할 수 있다. 따라서, 리본 (420) 의 비제한적인 이동 속도는 약 0 m/min 내지 약 100 m/min 이며, 더욱 바람직하게는 약 30 m/min 내지 약 60 m/min 이다. 리본 (420) 의 이동 속도 (420) 는 선택된 장비 (410) 에 의해서만 제한되고, 본 발명에 따라 레이저 소스 (411) 의 펄스 지속시간에 따라 100 m/min 를 초과할 수 있다.With continued reference to FIG. 5, in the laser ablation apparatus 410, the excimer laser source 411 emits a beam 412, which passes through a chrome coated quartz mask 414. The mask field 422 reflects a portion of the laser beam 412, penetrates the other portion of the beam, and creates a pattern on the gold film pressed by the laser beam 412. The ribbon 420 may be stationary relative to the device 410 or may move continuously on a roll through the device 410. Accordingly, the non-limiting moving speed of the ribbon 420 is about 0 m / min to about 100 m / min, more preferably about 30 m / min to about 60 m / min. The moving speed 420 of the ribbon 420 is limited only by the selected equipment 410 and may exceed 100 m / min depending on the pulse duration of the laser source 411 in accordance with the present invention.

마스크 (414) 의 패턴이 리본 (420) 에 생성된 후에, 리본은 마스크 (414' ; 도 6) 와 함께 장치 (410) 를 통해서 다시 감기고 이송된다. 대안으로, 레이저 장치 (410) 는 본 발명에 따라 직렬로 위치될 수 있다. 따라서, 마스크 (414, 414') 를 사용함으로써, 리본 (420) 의 큰 영역이 동일한 마스크 영역에서 다중 마스크 필드 (422) 를 포함하는 스텝-앤드-리피트(step-and-repeat) 공정을 사용하여 패턴화 되어서, 베이스의 기판에 복잡한 전극 패턴 및 다른 전기적 콤포넌트의 경제적인 생산, 전극 콤포넌트의 정확한 모서리, 및 베이스 재료로부터 많은 양의 금속 필름의 제거를 가능하게 한다.After the pattern of the mask 414 is created on the ribbon 420, the ribbon is rewound and transported through the device 410 with the mask 414 ′ (FIG. 6). Alternatively, laser device 410 may be located in series in accordance with the present invention. Thus, by using masks 414, 414 ′, a large area of ribbon 420 uses a step-and-repeat process that includes multiple mask fields 422 in the same mask area. Patterned to enable the economic production of complex electrode patterns and other electrical components on the substrate of the base, the precise edges of the electrode components, and the removal of large amounts of metal film from the base material.

도 8 및 도 9 에 도시된 본 발명의 제 2 실시형태는 테스트 스트립상의 작동 및 대향 전극 리드의 I-R 강하 보상을 제공함으로써 종래 기술을 개선한다. 도 8 은, 통상적으로 (800) 으로 표시된, 본 발명의 제 2 실시형태의 테스트 스트립의 구성을 개략적으로 도시한다. 테스트 스트립 (800) 은 50 nm 의 전도성 금층(예를 들어, 스퍼터링 또는 증착과 같은 비제한적인 실시예의 방법에 의함)으로 그 상면에 코팅된 바닥 기판 (12) 를 포함한다. 트레이스 및 접촉 패드를 연결하는 전극이 상기 기술된 바와 같이 레이저 제거 처리에 의해 전도성 층에 패턴화된 다. 예를 들면, 작동 (814a), 작동 센스 (826a), 대향 (216a), 및 대향 센스 (224a) 전극이 도시된 바와 같이 형성되고, 각각의 트레이스 (814c, 826c, 216c 및 224c) 에 의해서 각각의 측정 접촉 패드 (814b, 826b, 216b 및 224b) 에 결합될 수 있다. 이러한 접촉 패드 (814b, 826b, 216b 및 224b) 는 테스트 스트립 (800) 상에 전도성 영역을 제공하여, 테스트 스트립 (800) 이 테스트 미터에 삽입된 후에, 테스트 미터(도시되지 않음)의 접속기 접촉에 의해서 접촉된다.The second embodiment of the present invention shown in FIGS. 8 and 9 improves on the prior art by providing operation on the test strip and I-R drop compensation of the counter electrode leads. 8 schematically shows the configuration of a test strip of the second embodiment of the present invention, typically indicated at 800. The test strip 800 comprises a bottom substrate 12 coated on its top surface with a 50 nm conductive gold layer (eg, by the method of non-limiting examples such as sputtering or deposition). The electrodes connecting the traces and contact pads are patterned on the conductive layer by laser ablation treatment as described above. For example, actuation 814a, actuation sense 826a, opposing 216a, and opposing sense 224a electrodes are formed as shown and each is traced by respective traces 814c, 826c, 216c and 224c, respectively. Can be coupled to the measuring contact pads 814b, 826b, 216b, and 224b. These contact pads 814b, 826b, 216b, and 224b provide a conductive area on the test strip 800 so that after the test strip 800 is inserted into the test meter, the contactor contacts of the test meter (not shown) are provided. Contact by

작동 센스 전극 (826a), 접촉 패드 (826b), 및 트레이스 (826c) 의 추가를 제외하고는, 도 8 의 테스트 스트립 (800) 은 도 2 의 제 1 실시형태의 테스트 스트립 (200) 과 실질적으로 동일하다. 작동 센스 라인 (826)의 제공은 테스트 미터가 접촉 패드 (814b 및 216b) 로의 접속의 접촉 저항에 의해 발생한 소정의 I-R 강하를 보상하고, 트레이스 (814c 및 216c) 의 트레이스 저항을 보상한다.With the exception of the addition of the actuation sense electrode 826a, the contact pads 826b, and the traces 826c, the test strip 800 of FIG. 8 is substantially the same as the test strip 200 of the first embodiment of FIG. same. The provision of the actuation sense line 826 allows the test meter to compensate for any I-R drop caused by the contact resistance of the connection to the contact pads 814b and 216b, and to compensate for the trace resistance of the traces 814c and 216c.

도 9 는, 테스트 미터내에 장착된 제 2 실시형태의 전극 보상 회로(통상 (900) 으로 표시)의 개략적인 전기적 회로 선도를 도시한다. 도시된 바와 같이, 테스트 스트립 (800) 이 테스트 미터에 삽입되면, 회로는 접촉 패드 (826b, 814b, 216b 및 224b) 에 연결된다. 당업자가 알 수 있듯이, 전위는 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 적용되고, 반응물 (18) 에 적용된 생물의 샘플에 존재하는 분석 대상물의 양에 비례하는 전류가 대향 전극 (216b) 과 작동 전극 (814a) 사이에서 발생한다. 작동 전극 (814a) 으로부터의 전류는 작동 전극 트레이스 (814c) 에 의해서 작동 전극 접촉 패드 (814b) 로 전송되고, 전류-전압 증폭기 (310) 로 전송된다. 증폭기 (310) 의 아날로그 출력 전압은 A/D (312) 에 의해서 디지털 신호로 변환된다. 상기 디지털 신호는, 테스트 스트립 (800) 에 적용된 생물의 샘플에 관련된 분석 대상물의 농도를 판정하기 위해서, 미리 저장된 프로그램에 따라 마이크로프로세서 (314) 에 의해 처리된다. 상기 농도는 LCD 출력 장치 (316) 에 의해서 사용자에게 표시된다.9 shows a schematic electrical circuit diagram of an electrode compensation circuit (usually indicated by 900) of a second embodiment mounted in a test meter. As shown, when the test strip 800 is inserted into the test meter, the circuit is connected to the contact pads 826b, 814b, 216b, and 224b. As will be appreciated by those skilled in the art, the potential is applied to the counter electrode contact pad 216b, and a current proportional to the amount of analyte present in the sample of the organism applied to the reactant 18 has a counter electrode 216b and a working electrode 814a. Occurs between). Current from the working electrode 814a is sent to the working electrode contact pad 814b by the working electrode trace 814c and to the current-voltage amplifier 310. The analog output voltage of the amplifier 310 is converted into a digital signal by the A / D 312. The digital signal is processed by the microprocessor 314 according to a pre-stored program to determine the concentration of the analyte associated with the sample of the organism applied to the test strip 800. The concentration is displayed to the user by the LCD output device 316.

마이크로프로세서 (314) 는 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 적용되는 전위를 나타내는 디지털 신호를 출력한다. 상기 디지털 신호는 D/A (318) 에 의해 아날로그 전압 신호(기준 전압원)로 변환된다. D/A (318) 의 아날로그 신호는 OP 증폭기 (320) 의 제 1 입력으로 작용한다. OP 증폭기 (320) 의 제 2 입력은 OP 증폭기 (910) 의 출력에 연결된다. OP 증폭기 (910) 는 기계 증폭기를 사용하여 다른 증폭기 구성으로 연결된다. OP 증폭기 (910) 의 제 1 입력은 작동 센스 전극 접촉 패드 (826b) 에 연결되고, OP 증폭기 (910) 의 제 2 입력은 대향 센스 전극 접촉 패드 (224b) 에 연결된다. OP 증폭기 (320) 의 출력은 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 연결된다. 바이오센서 테스트 스트립 (800) 이 테스트 미터에 연결되면, OP 증폭기 (910) 의 제 1 입력은 작동 센스 트레이스 (826c) 에 연결되고, 제 2 입력은 대향 센스 트레이스 (224c) 에 연결된다. OP 증폭기의 출력은 대향 전극 트레이스에 연결된다. 상기 구성에서 OP 증폭기 (910) 는 차동 증폭기로 작동한다.The microprocessor 314 outputs a digital signal indicative of the potential applied to the counter electrode contact pad 216b. The digital signal is converted into an analog voltage signal (reference voltage source) by the D / A 318. The analog signal of the D / A 318 serves as the first input of the OP amplifier 320. The second input of the OP amplifier 320 is connected to the output of the OP amplifier 910. The OP amplifier 910 is connected to another amplifier configuration using a mechanical amplifier. The first input of the OP amplifier 910 is connected to the operating sense electrode contact pad 826b, and the second input of the OP amplifier 910 is connected to the opposing sense electrode contact pad 224b. The output of the OP amplifier 320 is connected to the opposing electrode contact pad 216b. When the biosensor test strip 800 is connected to the test meter, the first input of the OP amplifier 910 is connected to the operational sense trace 826c and the second input is connected to the opposite sense trace 224c. The output of the OP amplifier is connected to the counter electrode trace. In this configuration, the OP amplifier 910 acts as a differential amplifier.

OP 증폭기 (320) 는 전압 폴로워 구성내에 연결되고, 증폭기는 제 2 출력에서 나타난 전압이 제 1 입력에서 나타난 명령된 전압과 동일해질 때까지 그 출력(작동의 물리적 제한내)을 조절한다. OP 증폭기(910) 의 두 입력은 높은 임피던 스 입력이어서, 대향 센스 라인 (224) 또는 작동 센스 라인 (826) 에서 실질적으로 흐르는 전류가 없다. 실질적으로 흐르는 전류가 없기 때문에, 대향 센스 라인 (224) 또는 작동 센스 라인 (826) 에서의 소정의 저항은 전위 강하를 유발하지 않고, OP 증폭기 (910) 의 입력을 나타내는 전압은 실질적으로 측정 셀 사이(즉, 대향 전극 (216a) 과 작동 전극 (814a) 사이)의 전압과 실질적으로 동일하다. OP 증폭기 (910) 가 차동 증폭기 형상으로 연결되기 때문에, OP 증폭기의 출력은 측정 셀 사이의 전압을 나타낸다.OP amplifier 320 is coupled in a voltage follower configuration, and the amplifier regulates its output (within the physical limitations of operation) until the voltage indicated at the second output is equal to the commanded voltage indicated at the first input. The two inputs of the OP amplifier 910 are high impedance inputs so that there is no current flowing substantially in the opposing sense line 224 or the operating sense line 826. Since there is no substantially flowing current, any resistance in the opposing sense line 224 or the operating sense line 826 does not cause a potential drop, and the voltage representing the input of the OP amplifier 910 is substantially between the measuring cells. (I.e., between the counter electrode 216a and the working electrode 814a). Since the OP amplifier 910 is connected in a differential amplifier shape, the output of the OP amplifier represents the voltage between the measuring cells.

OP 증폭기 (320) 는 측정 셀 사이를 나타내는 실질적 전위가 마이크로프로세서 (314) 에 의해 명령된 전위와 동일하게 될 때까지 출력(즉, 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 적용된 전위)을 조정하기 위해서 작동한다. OP 증폭기 (320) 는 대향 전극 트레이스 (216c), 대향 전극 패드 (216b), 작동 전극 트레이스 (814c), 및 작동 전극 접촉 (814b) 에서의 와류 저항에 의해 발생된 소정의 전위 강하를 자동으로 보상하고, 따라서 측정 셀 사이를 나타내는 전위는 소망하는 전위이다. 작동 전극에 의해 생성된 전류로부터 생물의 샘플에서의 분석 대상물 농도의 계산이 더욱 정확하게 된다.OP amplifier 320 operates to adjust the output (i.e., the potential applied to opposing electrode contact pad 216b) until the substantial potential representing between the measuring cells becomes equal to the potential commanded by microprocessor 314. do. The OP amplifier 320 automatically compensates for any potential drop caused by the vortex resistance at the counter electrode trace 216c, the counter electrode pad 216b, the working electrode trace 814c, and the working electrode contact 814b. Therefore, the potential shown between the measurement cells is a desired potential. The calculation of the analyte concentration in the sample of the organism is more accurate from the current generated by the working electrode.

도 8 과 결합하는 도 10 은, 작동 전극과 대향 전극 라인의 I-R 강하 보상을 제공할 뿐만 아니라, 테스트 미터가 I-R 강하를 보상할 수 있도록 보장하기 위해서, 작동 전극 및 대향 전극 라인의 두 저항이 미리 정해진 한계를 넘지 않는 검사를 제공함으로써, 종래 기술을 개선하는 본 발명의 제 3 실시형태를 도시한다. 도 10 은 테스트 미터 내에 장착된 제 3 실시형태의 전극 보상 회로(통상적으로 (1000) 으로 표시)의 개략적인 전기적 회로 선도를 도시한다. 전극 보상 회로 (1000) 는 도 8 의 테스트 스트립 (800) 과 함께 작동한다. 나타난 바와 같이, 테스트 스트립 (800) 이 테스트 미터에 삽입되면, 회로는 접촉 패드 (826b, 814b, 216b 및 224b) 에 연결된다. 당업자가 알 수 있듯이, 전위는 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 적용되고, 반응물 (18) 에 적용된 생물의 샘플내에 존재하는 분석 대상물의 양에 비례하는 전류를 대향 전극 (216a) 과 작동 전극 (814a) 사이에서 생성한다. 작동 전극 (814a) 으로부터의 전류는 작동 전극 트레이스 (814c) 에 의해서 작동 전극 접촉 패드 (814b) 에 전송되고, 전류-전압 증폭기 (310) 에 제공된다. 스위치 (1004) 가 폐쇄 위치에 있을 때, 전류-전압 증폭기 (310) 의 출력은 유니티 게인(unity gain)을 갖는 버퍼로 형성되는 기계 증폭기 (1002) 의 입력에 사용된다. 증폭기 (1002) 의 아날로그 출력 전압은 A/D (312) 에 의해 디지털 신호로 변환된다. 그 후에 디지털 신호는, 테스트 스트립 (800) 에 사용되는 생물의 샘플내의 분석 대상물의 농도를 판정하기 위해서, 미리 저장된 프로그램에 따라 마이크로프로세서 (314) 에 의해 처리된다. 이 농도는 LCD 출력 장치 (316) 에 의해서 사용자에게 표시된다.10, in combination with FIG. 8, not only provides IR drop compensation of the working electrode and the counter electrode line, but also ensures that the test meter can compensate for the IR drop, so that the two resistors of the working electrode and the counter electrode line are pre-set. A third embodiment of the present invention is shown which improves on the prior art by providing an inspection that does not exceed a defined limit. FIG. 10 shows a schematic electrical circuit diagram of an electrode compensation circuit (typically denoted by 1000) of a third embodiment mounted in a test meter. The electrode compensation circuit 1000 works in conjunction with the test strip 800 of FIG. 8. As shown, when the test strip 800 is inserted into the test meter, the circuit is connected to the contact pads 826b, 814b, 216b, and 224b. As will be appreciated by those skilled in the art, the potential is applied to the counter electrode contact pad 216b, and a current proportional to the amount of analyte present in the sample of the organism applied to the reactant 18 is applied to the counter electrode 216a and the working electrode 814a. Between). Current from the working electrode 814a is transmitted to the working electrode contact pad 814b by the working electrode trace 814c and provided to the current-voltage amplifier 310. When the switch 1004 is in the closed position, the output of the current-voltage amplifier 310 is used for the input of the mechanical amplifier 1002 formed into a buffer having unity gain. The analog output voltage of the amplifier 1002 is converted into a digital signal by the A / D 312. The digital signal is then processed by the microprocessor 314 in accordance with a prestored program to determine the concentration of the analyte in the sample of the organism used in the test strip 800. This concentration is displayed to the user by the LCD output device 316.

마이크로프로세서 (314) 는 또한 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 사용되는 전위를 나타내는 디지털 신호를 출력한다. 상기 디지털 신호는 D/A (318) 에 의해 아날로그 전압 신호로 변환된다. D/A (318) 의 아날로그 출력은 스위치 (1006) 가 도시된 위치일 때, 전압 폴러워로 형성되는 OP 증폭기(320) 의 입력에 사용된다. OP 증폭기 (320) 의 출력은 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 연결되 고, 반응물 (18) 에 적용되는 생물의 체액을 측정한다. 게다가, 스위치 (1006, 1008 및 1010) 가 도 10 에 도시된 위치이면, 회로는 도 9 와 같이 구성되고, 도 9 에 대하여 상술한 바와 같이 와류 저항 및 접촉 저항을 자동으로 보상하는데 사용될 수 있다.The microprocessor 314 also outputs a digital signal indicative of the potential used for the counter electrode contact pad 216b. The digital signal is converted into an analog voltage signal by the D / A 318. The analog output of the D / A 318 is used at the input of the OP amplifier 320 formed of a voltage follower when the switch 1006 is in the position shown. The output of the OP amplifier 320 is connected to the opposing electrode contact pad 216b and measures the body fluid of the organism applied to the reactant 18. In addition, if the switches 1006, 1008 and 1010 are in the position shown in FIG. 10, the circuit is configured as in FIG. 9 and can be used to automatically compensate for eddy current resistance and contact resistance as described above with respect to FIG. 9.

대향 전극 라인 (216) 에서의 와류 저항의 양을 측정하기 위해서, 스위치 (1008) 는 도 10 에 도시된 위치에, 스위치 (1006) 는 도 10 에 도시된 반대의 위치에 배치되고, 스위치 (1010) 는 폐쇄된다. OP 증폭기 (320) 는 유니티 게인을 갖는 버퍼의 역할을 하고, 공지의 저항 (Rnom) 을 통해서 전위를 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 사용한다. 이 저항은 전류를 발생시켜서 전류-전압 증폭기 (310) 에 의해 감지되는 대향 전극 라인 (216) 및 대향 센스 라인 (224) 에서 흐르게 하고, 스위치 (1010) 를 통해서 전류 센스 라인에 연결된다. 전류-전압 증폭기 (310) 의 출력은 A/D (312) 를 통해서 마이크로프로세서 (314) 에 제공된다. Rnom 의 값을 알기 때문에, 마이크로프로세서 (314) 는 대향 센스 라인 (224) 및 대향 전극 라인 (216) 에서의 소정의 와류 저항의 값을 계산할 수 있다. 이 와류 저항값은, 테스트 스트립 (800) 에 물리적 손상이 발생 여부, 또는 비전도성 축적이 접촉 패드상에 존재하는지 여부를 판정하기 위해서, 테스트 미터에 저장된 미리 정해진 한계값이 비교되고, 테스트 스트립 (800) 이 테스트를 신뢰성 있게 사용될 수 없는 크기를 비교될 수 있다. 그런 경우에, 테스트 미터는, 테스트를 진행하기 전에 대안의 테스트 스트립이 테스트 미터로 삽입되어야 하는 것을 사용자에 게 알리도록 프로그램화될 수 있다.In order to measure the amount of eddy current resistance in the counter electrode line 216, the switch 1008 is placed in the position shown in FIG. 10, the switch 1006 is placed in the opposite position shown in FIG. 10, and the switch 1010 ) Is closed. The OP amplifier 320 acts as a buffer with unity gain and uses a potential on the counter electrode contact pad 216b through a known resistor R nom . This resistance generates a current to flow in the opposite electrode line 216 and the opposite sense line 224 sensed by the current-voltage amplifier 310, and is connected to the current sense line through the switch 1010. The output of the current-voltage amplifier 310 is provided to the microprocessor 314 via the A / D 312. Knowing the value of R nom , the microprocessor 314 can calculate the value of the desired vortex resistance in the opposite sense line 224 and the opposite electrode line 216. This vortex resistance value is compared with a predetermined limit value stored in the test meter to determine whether physical damage has occurred to the test strip 800 or whether non-conductive accumulation is present on the contact pad. 800) These tests can be compared to sizes that cannot be used reliably. In such a case, the test meter may be programmed to inform the user that an alternative test strip should be inserted into the test meter before proceeding with the test.

작동 전극 라인 (814) 에서의 와류 저항의 양을 측정하기 위해서, 스위치 (1006 및 1008) 은 도 10 에 도시된 위치의 반대 위치에 배치되고, 스위치 (1010) 는 개방된다. OP 증폭기 (320) 는 유니티 게인을 갖는 버퍼의 역할을 하고, 전위를 알려진 저항 (Rnom) 을 통해서 작동 센스 접촉 패드 (826b) 에 사용한다. 이 저항은 전류를 발생시켜서, 전류-전압 증폭기 (310) 에 의해 감지되는 작동 센서 라인 (826) 및 작동 전극 라인 (814) 에서 흐르게 한다. 전류-전압 증폭기 (320) 의 출력은 A/D (312) 를 통해서 마이크로프로세서 (314) 에 제공된다. Rnom 의 값을 알기 때문에, 마이크로프로세서 (314) 는 작동 센스 라인 (826) 및 작동 전극 라인 (814) 에서의 소정의 와류 저항의 값을 계산할 수 있다. 이 와류 저항값은, 테스트 스트립 (800) 에 물리적 손상이 발생 여부, 또는 비전도성 축적이 접촉 패드상에 존재하는지 여부를 판정하기 위해서, 테스트 미터에 저장된 미리 정해진 한계값이 비교되고, 테스트 스트립 (800) 이 테스트를 신뢰성 있게 사용될 수 없는 크기를 비교될 수 있다. 그런 경우에, 테스트 미터는, 테스트를 진행하기 전에 대안의 테스트 스트립이 테스트 미터로 삽입되어야 하는 것을 사용자에게 알리도록 프로그램화될 수 있다.In order to measure the amount of eddy current resistance in the working electrode line 814, the switches 1006 and 1008 are placed in opposite positions to the position shown in FIG. 10, and the switch 1010 is opened. The OP amplifier 320 acts as a buffer with unity gain and uses the potential through the known resistor R nom to the operating sense contact pads 826b. This resistance generates a current that flows in the working sensor line 826 and the working electrode line 814 as sensed by the current-voltage amplifier 310. The output of the current-voltage amplifier 320 is provided to the microprocessor 314 via the A / D 312. Knowing the value of R nom , the microprocessor 314 can calculate the value of the desired vortex resistance in the operating sense line 826 and the working electrode line 814. This vortex resistance value is compared with a predetermined limit value stored in the test meter to determine whether physical damage has occurred to the test strip 800 or whether non-conductive accumulation is present on the contact pad. 800) These tests can be compared to sizes that cannot be used reliably. In such a case, the test meter may be programmed to inform the user that an alternative test strip should be inserted into the test meter before proceeding with the test.

본원에 기재된 모든 공보, 종래 출원, 다른 문헌은 개별적으로 및 전체적으로 참조된 바와 같이 본원에 참조 되었다.All publications, conventional applications, and other documents described herein are incorporated herein by reference individually and in their entirety.

본 발명이 도면 및 전술한 설명에서 상세하게 예시되고 설명되었더라도, 설 명은 예시적인 것으로, 그에 제한되지 않는다. 바람직한 실시형태의 사용 또는 형성 방법을 추가로 설명하는데 도움이 되는 바람직한 실시형태, 및 소정의 다른 실시형태가 도시되었다. 본 발명의 사상 내에서 모든 변형과 수정은 보호되는 것이 바람직하다.Although the present invention has been illustrated and described in detail in the drawings and the foregoing description, the description is by way of example and not limitation. Preferred embodiments, and certain other embodiments, are shown to help further illustrate the use or formation of the preferred embodiments. All variations and modifications within the spirit of the invention are preferably protected.

Claims (27)

바이오센서 테스트 스트립을 사용하여 분석 대상물의 농도를 검출하기 위한 바이오 센서 시스템으로서, 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 은,A biosensor system for detecting a concentration of an analyte using a biosensor test strip, wherein the biosensor test strip 800 includes: 작동 전극 (814b),Working electrode 814b, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 전극 트레이스 (814c),A working electrode trace 814c operatively connected to the working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 센스 트레이스 (826c),An actuation sense trace 826c operatively connected to the actuation electrode 814a, 대향 전극 (216a),Counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 전극 트레이스 (216c),A counter electrode trace 216c operatively connected to the counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 센스 트레이스 (224c) 를 포함하며,An opposing sense trace 224c operatively connected to the opposing electrode 216a, 상기 시스템은,The system, 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 을 수용하는 인터페이스를 구비한 테스트 미터,A test meter having an interface for receiving the biosensor test strip 800, 제 1 및 제 2 차동 증폭기 (910) 입력 및 차동 증폭기 (910) 출력을 갖는 차동 증폭기 (910) 를 포함하며, 상기 제 1 차동 증폭기 (910) 입력은 상기 작동 센스 트레이스 (826c) 에 작동 연결되고 상기 제 2 차동 증폭기 (910) 입력은 상기 대향 센스 트레이스 (224c) 에 작동 연결되며, 상기 차동 증폭기 (910) 출력은 상기 대향 전극 트레이스 (216c) 에 작동 연결되는 것을 특징으로 하는 바이오센서 시스템.A differential amplifier 910 having a first and a second differential amplifier 910 input and a differential amplifier 910 output, the first differential amplifier 910 input being operatively connected to the operational sense trace 826c; And the second differential amplifier (910) input is operatively connected to the opposite sense trace (224c) and the differential amplifier (910) output is operatively connected to the opposite electrode trace (216c). 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 기준 전압 출력을 구비한 기준 전압 소스 (318), 및A reference voltage source 318 with a reference voltage output, and 제 1 및 제 2 OP 증폭기 (320) 입력 및 OP 증폭기 (320) 출력을 구비한 OP 증폭기 (320) 를 더 포함하며,Further comprising an OP amplifier 320 having a first and a second OP amplifier 320 input and an OP amplifier 320 output, 상기 제 1 OP 증폭기 (320) 입력은 상기 기준 전압 출력에 작동 연결되고, 상기 제 2 OP 증폭기 (320) 입력은 상기 차동 증폭기 (910) 출력에 작동 연결되고, 상기 OP 증폭기 (320) 출력은 상기 대향 전극 트레이스 (216c) 에 작동 연결되는 것을 특징으로 하는 바이오센서 시스템.The first OP amplifier 320 input is operatively connected to the reference voltage output, the second OP amplifier 320 input is operatively connected to the differential amplifier 910 output, and the OP amplifier 320 output is the A biosensor system, operatively connected to the counter electrode trace 216c. 제 2 항에 있어서, 상기 기준 전압 소스 (318) 는 디지털-아날로그 변환기 (318) 인 것을 특징으로 하는 바이오센서 시스템.3. A biosensor system according to claim 2, wherein the reference voltage source (318) is a digital-to-analog converter (318). 제 2 항에 있어서, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결 입력을 갖는 아날로그-디지털 변환기 (312) 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 바이오센서 시스템.3. A biosensor system according to claim 2, further comprising an analog-to-digital converter (312) having an operative connection input to the actuation electrode (814a). 제 4 항에 있어서, The method of claim 4, wherein 아날로그 입력 및 디지털 출력을 갖는 상기 아날로그-디지털 변환기 (312) 와,Said analog-to-digital converter 312 having an analog input and a digital output; 입력은 상기 작동 전극 트레이스 (814c) 에 작동 연결되고 출력은 상기 아날 로그-디지털 변환기 (312) 입력에 작동 연결되는 전류-전압 증폭기 (310) 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 바이오센서 시스템.And a current-voltage amplifier (310), the input being operatively connected to the working electrode trace (814c) and the output is operatively connected to the analog-to-digital converter (312) input. 제 5 항에 있어서, The method of claim 5, 상기 아날로그-디지털 변환기 (312) 디지털 출력에 작동 연결된 마이크로프로세서 (314) 입력을 구비하고 마이크로프로세서 (314) 기준 전압 제어 출력을 제공하는 마이크로프로세서 (314), 및A microprocessor 314 having a microprocessor 314 input operatively coupled to the analog-to-digital converter 312 and providing a microprocessor 314 reference voltage control output, and 상기 마이크로프로세서 (314) 기준 제어 출력에 작동 연결된 기준 전압 소스 (318) 제어 입력을 더 포함하는 기준 전압 소스 (318) 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 바이오센서 시스템.And a reference voltage source (318) further comprising a reference voltage source (318) control input operatively coupled to the microprocessor (314) reference control output. 제 6 항에 있어서, 상기 마이크로프로세서 (314) 는 표시 제어 출력을 더 포함하며 상기 분석 대상물의 상기 농도를 표시하고, 7. The apparatus of claim 6, wherein the microprocessor 314 further comprises a display control output to indicate the concentration of the analyte, 상기 시스템은,The system, 상기 마이크로 프로세서 (314) 표시 제어 출력에 작동 연결된 출력 표시 (316) 를 더 포함하며, 상기 분석 대상물의 상기 농도의 표시는 상기 출력 표시 (316) 를 통해서 사용자에게 제공되는 것을 특징으로 하는 바이오센서 시스템.And an output indication 316 operatively connected to the microprocessor 314 display control output, wherein the indication of the concentration of the analyte is provided to the user via the output indication 316. . 바이오센서 시스템으로서,As a biosensor system, 바이오센서 테스트 스트립 (800) 은,Biosensor test strip 800, 작동 전극 (814a),Working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 전극 트레이스 (814c),A working electrode trace 814c operatively connected to the working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 센스 트레이스 (826c),An actuation sense trace 826c operatively connected to the actuation electrode 814a, 대향 전극 (216a),Counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 전극 트레이스 (216c),A counter electrode trace 216c operatively connected to the counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 센스 트레이스 (224c),A counter sense trace 224c operatively connected to the counter electrode 216a, 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 에 작동 연결된 테스트 미터를 포함하며,A test meter operatively connected to the biosensor test strip 800, 상기 테스트 미터는,The test meter, 제 1 및 제 2 차동 증폭기 (910) 입력 및 차동 증폭기 (910) 출력을 구비한 차동 증폭기 (910) 로서, 상기 제 1 차동 증폭기 (910) 입력은 상기 작동 센스 트레이스 (826c) 에 작동 연결되고, 상기 제 2 차동 증폭기 (910) 입력은 상기 대향 센스 트레이스 (224c) 에 작동 연결되는 차동 증폭기 (910),A differential amplifier 910 having a first and a second differential amplifier 910 input and a differential amplifier 910 output, the first differential amplifier 910 input being operatively connected to the operational sense trace 826c, The second differential amplifier 910 input is a differential amplifier 910 operatively connected to the opposite sense trace 224c, 기준 전압 소스 (318), 및A reference voltage source 318, and 제 1 및 제 2 전압 폴로워 (320) 입력 및 전압 폴로워 (320) 출력을 구비한 전압 폴로워 증폭기 (320) 로서, 상기 제 1 전압 폴로워 (320) 입력은 상기 기준 전압 소스 (318) 에 작동 연결되고, 상기 제 2 전압 폴로워 (320) 입력은 상기 차동 증폭기 (910) 출력에 작동 연결되며, 상기 전압 폴로워 (320) 출력은 상기 대향 전극 트레이스 (216c) 에 작동 연결되는 전압 폴로워 증폭기를 포함하는 바이오센서 시스템.A voltage follower amplifier (320) having a first and a second voltage follower (320) input and a voltage follower (320) output, the first voltage follower (320) input being the reference voltage source (318). A voltage follower that is operatively connected to the second voltage follower 320 input is operatively connected to the differential amplifier 910 output, and the voltage follower 320 output is operatively connected to the counter electrode trace 216c. Biosensor system comprising a war amplifier. 테스트 스트립 (800) 의 측정 셀에서 테스트시 생물의 샘플에 소망하는 크기의 자극을 적용하는 방법으로서, 상기 방법은,A method of applying a stimulus of a desired size to a sample of a creature under test in a measurement cell of a test strip 800, the method comprising: 상기 테스트 스트립 (800) 에 자극을 적용하는 단계,Applying a stimulus to the test strip 800, 상기 자극에 반응하여 상기 측정 셀을 통해서 생기는 전압차의 크기를 측정하는 단계, 및Measuring a magnitude of a voltage difference generated through the measurement cell in response to the stimulus, and 상기 측정 셀을 통해서 생긴 전압차가 상기 소망하는 크기와 실질적으로 동일한 크기를 가지도록 상기 테스트 스트립 (800) 에 상기 자극의 상기 크기를 조절하는 단계를 포함하는 방법.Adjusting the magnitude of the stimulus on the test strip (800) such that the voltage difference produced through the measurement cell has a magnitude substantially equal to the desired magnitude. 제 9 항에 있어서, 상기 자극에 반응하여 상기 측정 셀을 통해서 생긴 상기 전압차를 측정하기 위해서, 높은 입력 임피던스를 갖는 장치를 사용하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.10. The method of claim 9, further comprising using a device having a high input impedance to measure the voltage difference generated through the measurement cell in response to the stimulus. 제 10 항에 있어서, 상기 높은 입력 임피던스를 갖는 상기 장치는 차동 증폭기 (910) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.12. The method of claim 10, wherein said device with high input impedance comprises a differential amplifier (910). 제 9 항에 있어서, 상기 테스트 스트립 (800) 은 대향 전극 (216a) 및 작동 전극 (814a) 을 포함하며, 상기 방법은,10. The method of claim 9, wherein the test strip 800 comprises a counter electrode 216a and a working electrode 814a, the method comprising: 상기 측정 셀과 소망하는 기준 전압까지의 측정된 전위차를 비교하는 단계,Comparing the measured potential difference between the measurement cell and the desired reference voltage, 상기 대향 전극 (216a) 및 작동 전극 (814a) 사이의 상기 전압을 조정하기 위해서, 상기 측정 셀과 상기 소망하는 기준 전압 사이의 상기 전위차의 비교를 사용하는 단계를 더 포함하는 방법.Using a comparison of the potential difference between the measurement cell and the desired reference voltage to adjust the voltage between the counter electrode (216a) and a working electrode (814a). 제 12 항에 있어서, 상기 소망하는 기준 전압은 전압 기준이 제어된 마이크로프로세서 (314) 에 의해서 제공되는 것을 특징으로 하는 방법.13. The method of claim 12, wherein the desired reference voltage is provided by a microprocessor (314) in which a voltage reference is controlled. 제 13 항에 있어서, 전압 기준이 제어된 상기 마이크로프로세서 (314) 는 디지털-아날로그 변환기 (318) 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.14. The method of claim 13, wherein the microprocessor (314) having a controlled voltage reference further comprises a digital-to-analog converter (318). 제 9 항에 있어서, 상기 측정 셀 사이의 상기 전위차를 감지하기 위해서 대향 센스 라인 (224) 및 작동 센스 라인 (826) 을 사용하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.10. The method of claim 9, further comprising using an opposing sense line (224) and an operating sense line (826) to sense the potential difference between the measurement cells. 측정 셀, 대향 전극 (216a), 및 작동 전극 (814a) 을 포함하는 테스트 스트립 (800) 을 사용하여 분석 대상물의 측정을 하는 방법으로서, 상기 방법은,A method of measuring an analyte using a test strip 800 comprising a measuring cell, a counter electrode 216a, and a working electrode 814a, the method comprising: 바이오센서 장치내에 테스트 스트립 (800) 을 수용하는 단계,Receiving the test strip 800 in the biosensor device, 상기 측정 셀을 통해서 전위를 생성하기 위해서 상기 대향 전극 (216a) 에 자극을 적용하는 단계,Applying a stimulus to the counter electrode 216a to create a potential through the measurement cell, 상기 자극의 상기 적용에 의해 상기 측정 셀을 통해서 생성된 전위차를 측정 하는 단계,Measuring a potential difference generated through said measuring cell by said application of said stimulus, 상기 측정 셀을 통해서 생성된 상기 측정된 전위차에 기초하여 상기 대향 전극에 적용된 자극을 적응시키는 단계를 포함하는 방법.Adapting the stimulus applied to the counter electrode based on the measured potential difference produced through the measurement cell. 제 16 항에 있어서, 상기 테스트 스트립 (800) 은,The method of claim 16, wherein the test strip 800, 작동 전극 (814a),Working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 센스 접촉 패드 (826b),An actuation sense contact pad 826b operatively connected to the actuation electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 전극 접촉 패드 (814b),A working electrode contact pad 814b operatively connected to the working electrode 814a, 대향 전극 (216a),Counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 전극 접촉 패드 (216b), 및An opposite electrode contact pad 216b operatively connected to the opposite electrode 216a, and 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 센스 접촉 패드 (224b) 를 더 포함하며,Further comprising an opposing sense contact pad 224b operatively connected to the opposing electrode 216a, 상기 방법은,The method, 상기 작동 전극 (814a) 으로부터의 작동 센스 접촉 패드 (826b) 전위를 상기 작동 센스 접촉 패드 (826b) 로부터 수신 단계,Receiving an operating sense contact pad 826b potential from the operating electrode 814a from the operating sense contact pad 826b, 상기 대향 전극 (216a) 으로부터의 대향 센스 접촉 패드 (224b) 전위를 상기 대향 센스 접촉 패드 (224b) 로부터 수신 단계,Receiving an opposite sense contact pad 224b potential from the opposite electrode 216a from the opposite sense contact pad 224b, 상기 측정 셀을 통해 전위를 측정하기 위해서, 작동 센스 접촉 패드 (224b) 전위와 대향 센스 접촉 패드 (224b) 전위를 비교하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.Comparing the working sense contact pad (224b) potential with the opposite sense contact pad (224b) potential to measure the potential through the measuring cell. 바이오센서 테스트 스트립 (800) 중 하나 이상의 트레이스의 와류 임피던스를 측정하는 방법으로서, 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 은,A method of measuring the eddy current impedance of one or more traces of a biosensor test strip 800, wherein the biosensor test strip 800 comprises: 작동 전극 (814a),Working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 전극 트레이스 (814c),A working electrode trace 814c operatively connected to the working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 상기 작동 센스 트레이스 (826c),The actuation sense trace 826c operatively connected to the actuation electrode 814a, 대향 전극 (216a),Counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 전극 트레이스 (216c),A counter electrode trace 216c operatively connected to the counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216b) 에 작동 연결된 대향 센스 트레이스 (224c) 를 포함하며,An opposing sense trace 224c operatively connected to the opposing electrode 216b, 상기 방법은,The method, 공지된 저항기의 임피던스와 작동 센스 트레이스 (826c) 임피던스 및 작동 전극 트레이스 (814c) 임피던스를 포함하는 직렬 회로 임피던스를 같는 직렬회로를 형성하기 위해서, 상기 작동 센스 트레이스 (826c) 및 작동 전극 트레이스 (814c) 에 직렬로 공지의 임피던스를 갖는 저항기를 선택적으로 배치하는 단계,The operating sense trace 826c and the working electrode trace 814c to form a series circuit equal to the impedance of the known resistor and the operating sense trace 826c and the series circuit impedance including the operating electrode trace 814c impedance. Selectively placing a resistor having a known impedance in series with 상기 직렬회로를 통과하는 전류를 생성하기 위해서 자극을 선택적으로 적용하는 단계, Selectively applying a stimulus to generate a current through the series circuit, 상기 직렬회로를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계,Measuring a current flowing through the series circuit, 바이오센서 테스트 스트립 (800) 중 하나 이상의 트레이스의 와류 임피던스를 계산하기 위해서 전류 측정을 사용하는 단계를 포함하는 방법.Using the current measurement to calculate the eddy current impedance of one or more traces of the biosensor test strip (800). 제 18 항에 있어서, 상기 직렬회로 임피던스는 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 의 손상 여부를 판정하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 방법.19. The method of claim 18, wherein the series circuit impedance is used to determine whether the biosensor test strip (800) is damaged. 바이오센서 테스트 스트립 (800) 중 하나 이상의 트레이스의 와류 임피던스를 측정하는 방법으로서, 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 은,A method of measuring the eddy current impedance of one or more traces of a biosensor test strip 800, wherein the biosensor test strip 800 comprises: 작동 전극 (814a),Working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 전극 트레이스 (814c),A working electrode trace 814c operatively connected to the working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 상기 작동 센스 트레이스 (826c),The actuation sense trace 826c operatively connected to the actuation electrode 814a, 대향 전극 (216a),Counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 전극 트레이스 (216c),A counter electrode trace 216c operatively connected to the counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216b) 에 작동 연결된 대향 센스 트레이스 (224c) 를 포함하며,An opposing sense trace 224c operatively connected to the opposing electrode 216b, 상기 방법은,The method, 공지된 저항기의 임피던스와 대향 센스 트레이스 (224c) 임피던스 및 대향 전극 트레이스 (216c) 임피던스를 포함하는 직렬 회로 임피던스를 갖는 직렬회로를 형성하기 위해서, 상기 대향 센스 트레이스 (224c) 및 대향 전극 트레이스 (216c) 에 직렬로 공지의 임피던스를 갖는 저항기를 선택적으로 배치하는 단계,The counter sense trace 224c and the counter electrode trace 216c to form a series circuit having a series circuit impedance including the impedance of the known resistor and the counter sense trace 224c impedance and the counter electrode trace 216c impedance. Selectively placing a resistor having a known impedance in series with 상기 직렬회로를 통과하는 전류를 생성하기 위해서 자극을 선택적으로 적용하는 단계, Selectively applying a stimulus to generate a current through the series circuit, 상기 직렬회로를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계,Measuring a current flowing through the series circuit, 바이오센서 테스트 스트립 (800) 중 하나 이상의 트레이스의 와류 임피던스를 계산하기 위해서 전류 측정을 사용하는 단계를 포함하는 방법.Using the current measurement to calculate the eddy current impedance of one or more traces of the biosensor test strip (800). 제 20 항에 있어서, 상기 계산된 임피던스의 지표중 하나 이상은 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 의 손상 여부를 판정하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 방법.21. The method of claim 20, wherein at least one of the indicators of the calculated impedance is used to determine whether the biosensor test strip (800) is damaged. 바이오센서 테스트 스트립 (800) 중 하나 이상의 트레이스의 와류 임피던스를 측정하기 위해서 바이오센서 미터를 사용하는 방법으로서, 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 은,A method of using a biosensor meter to measure the eddy current impedance of one or more traces of a biosensor test strip 800, wherein the biosensor test strip 800 is: 작동 전극 (814a),Working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 전극 트레이스 (814c),A working electrode trace 814c operatively connected to the working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 상기 작동 센스 트레이스 (826c),The actuation sense trace 826c operatively connected to the actuation electrode 814a, 대향 전극 (216a),Counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 전극 트레이스 (216c),A counter electrode trace 216c operatively connected to the counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216b) 에 작동 연결된 대향 센스 트레이스 (224c) 를 포함하며,An opposing sense trace 224c operatively connected to the opposing electrode 216b, 상기 바이오센서 미터는 바이오센서 미터 테스트 스트립 인터페이스를 포함하고,The biosensor meter comprises a biosensor meter test strip interface, 상기 바이오센서 미터 테스트 스트립 인터페이스는,The biosensor meter test strip interface, 작동 전극 접촉 패드 (814b),     Working electrode contact pad 814b, 작동 센스 접촉 패드 (826b),     Working sense contact pad 826b, 대향 전극 접촉 패드 (216b), 및     Counter electrode contact pads 216b, and 대향 센스 접촉 패드 (224b) 를 포함하며,     An opposing sense contact pad 224b, 상기 방법은,The method, 상기 바이오센서 미터내에 상기 테스트 스트립 (800) 을 수용하는 단계,Receiving the test strip 800 in the biosensor meter, 상기 작동 전극 트레이스 (814c) 는 상기 작동 전극 접촉 패드 (814b) 에 작동 연결되고, 상기 작동 센스 트레이스 (826c) 는 상기 작동 센스 접촉 패드 (826b) 에 작동 연결되고, 상기 대향 전극 트레이스 (216c) 는 상기 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 작동 연결되고, 또한 대향 센스 트레이스 (224c) 는 상기 대향 센스 트레이스 (224b) 에 작동 연결되도록 상기 테스트 스트립 (800) 을 상기 바이오센서 미터 테스트 스트립 인터페이스에 작동 연결하는 단계, The working electrode trace 814c is operatively connected to the working electrode contact pad 814b, the working sense trace 826c is operatively connected to the working sense contact pad 826b, and the counter electrode trace 216c is And operatively connect the test strip 800 to the biosensor meter test strip interface such that the opposing sense trace 224c is operatively connected to the opposing sense trace 224b. step, 공지된 저항기의 임피던스와 작동 센스 트레이스 (826c) 임피던스 및 작동 전극 트레이스 (814c) 임피던스를 포함하는 직렬 회로 임피던스를 같는 직렬회로를 형성하기 위해서, 상기 작동 센스 트레이스 (826c) 및 작동 전극 트레이스 (814c) 에 직렬로 공지의 임피던스를 갖는 저항을 선택적으로 변환하는 단계,The operating sense trace 826c and the working electrode trace 814c to form a series circuit equal to the impedance of the known resistor and the operating sense trace 826c and the series circuit impedance including the operating electrode trace 814c impedance. Selectively converting a resistor having a known impedance in series with 상기 직렬회로를 통과하는 전류를 생성하기 위해서 자극을 제공하는 단계, Providing a stimulus to generate a current through the series circuit, 상기 직렬회로를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계, 및Measuring a current flowing through the series circuit, and 상기 작동 전극 트레이스 (814c) 임피던스 및 상기 작동 센스 트레이스 (826c) 임피던스를 계산하기 위해서 전류 측정을 사용하는 단계를 포함하는 방법.Using a current measurement to calculate the working electrode trace (814c) impedance and the working sense trace (826c) impedance. 제 22 항에 있어서, 상기 테스트 스트립 (800) 의 손상 여부를 판정하기 위해서 상기 직렬회로 임피던스를 사용하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.23. The method of claim 22, further comprising using the series circuit impedance to determine whether the test strip (800) is damaged. 제 23 항에 있어서, 상기 테스트 스트립 (800) 유용성의 지표를 표시하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.24. The method of claim 23, further comprising indicating an indicator of usefulness of the test strip (800). 바이오센서 테스트 스트립 (800) 중 하나 이상의 트레이스의 와류 임피던스를 측정하기 위해서 바이오센서 미터를 사용하는 방법으로서, 상기 바이오센서 테스트 스트립 (800) 은,A method of using a biosensor meter to measure the eddy current impedance of one or more traces of a biosensor test strip 800, wherein the biosensor test strip 800 is: 작동 전극 (814a),Working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 작동 전극 트레이스 (814c),A working electrode trace 814c operatively connected to the working electrode 814a, 상기 작동 전극 (814a) 에 작동 연결된 상기 작동 센스 트레이스 (826c),The actuation sense trace 826c operatively connected to the actuation electrode 814a, 대향 전극 (216a),Counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216a) 에 작동 연결된 대향 전극 트레이스 (216c),A counter electrode trace 216c operatively connected to the counter electrode 216a, 상기 대향 전극 (216b) 에 작동 연결된 대향 센스 트레이스 (224c) 를 포함하며,An opposing sense trace 224c operatively connected to the opposing electrode 216b, 상기 바이오센서 미터는 바이오센서 미터 테스트 스트립 인터페이스를 포함 하고,The biosensor meter includes a biosensor meter test strip interface, 상기 바이오 센서 미터 테스트 스트립 인터페이스는,The biosensor meter test strip interface, 작동 전극 접촉 패드 (814b),     Working electrode contact pad 814b, 작동 센스 접촉 패드 (826b),     Working sense contact pad 826b, 대향 전극 접촉 패드 (216b), 및     Counter electrode contact pads 216b, and 대향 센스 접촉 패드 (224b) 를 포함하며,     An opposing sense contact pad 224b, 상기 방법은,The method, 상기 바이오센서 미터내에 상기 테스트 스트립 (800) 을 수용하는 단계,Receiving the test strip 800 in the biosensor meter, 상기 작동 전극 트레이스 (814c) 는 상기 작동 전극 접촉 패드 (814b) 에 작동 연결되고, 상기 작동 센스 트레이스 (826c) 는 상기 작동 전극 접촉 패드 (826b) 에 작동 연결되고, 상기 대향 전극 트레이스 (216c) 는 상기 대향 전극 접촉 패드 (216b) 에 작동 연결되고, 또한 대향 센스 트레이스 (224c) 는 상기 대향 센스 트레이스 (224b) 에 작동 연결되도록 상기 테스트 스트립 (800) 을 상기 바이오센서 미터 테스트 스트립 인터페이스에 작동 연결하는 단계,The working electrode trace 814c is operatively connected to the working electrode contact pad 814b, the working sense trace 826c is operatively connected to the working electrode contact pad 826b, and the counter electrode trace 216c is And operatively connect the test strip 800 to the biosensor meter test strip interface such that the opposing sense trace 224c is operatively connected to the opposing sense trace 224b. step, 공지된 저항기의 임피던스와 대향 센스 트레이스 (224c) 임피던스 및 대향 전극 트레이스 (216c) 임피던스를 포함하는 직렬 회로 임피던스를 같는 직렬회로를 형성하기 위해서, 상기 대향 센스 트레이스 (224c) 및 대향 전극 트레이스 (216c) 에 직렬로 공지의 임피던스를 갖는 저항기를 선택적으로 배치하는 단계,The counter sense trace 224c and the counter electrode trace 216c to form a series circuit equal to the impedance of the known resistor and the series circuit impedance including the counter sense trace 224c impedance and the counter electrode trace 216c impedance. Selectively placing a resistor having a known impedance in series with 상기 직렬회로를 통과하는 전류를 생성하기 위해서 자극을 선택적으로 적용하는 단계,Selectively applying a stimulus to generate a current through the series circuit, 상기 직렬회로를 통해서 흐르는 전류를 측정하는 단계, 및Measuring a current flowing through the series circuit, and 상기 대향 센스 트레이스 (224c) 임피던스 및 상기 작동 센스 트레이스 (216c) 임피던스의 지표를 계산하기 위해서 전류 측정을 사용하는 단계를 포함하는 방법.Using a current measurement to calculate an indicator of the opposite sense trace (224c) impedance and the operating sense trace (216c) impedance. 제 25 항에 있어서, 상기 테스트 스트립 (800) 의 손상 여부를 판정하기 위해서 상기 직렬회로의 상기 임피던스의 하나 이상의 지표를 사용하는 단계를 포함하는 방법.26. The method of claim 25 including using one or more indicators of the impedance of the series circuit to determine whether the test strip (800) is damaged. 제 26 항에 있어서, 상기 테스트 스트립 (800) 유용성의 지표를 표시하는 단계를 더 포함하는 방법.27. The method of claim 26, further comprising indicating an indicator of usefulness of the test strip (800).
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