KR20070018800A - Closed Loop Backdrilling System - Google Patents
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Abstract
다층 회로 기판(16)은 적어도 하나의 신호 층(20), 적어도 하나의 피드백 층 및 신호 층(20)과 피드백 층(22) 사이에 위치한 적어도 하나의 유전체 층(24)을 포함한다. 신호 층(20)은 적어도 하나의 도금 구멍(12)에 연결된다. 피드백 층(22)은 도금 구멍(12)에 인접하게 위치하지만 도금 구멍(12)과 전기적으로 절연된 접촉 패드(26)를 가진다. 접촉 패드(26)는 측정 유닛(48)에 연결된다. 유전체 층(24)은 신호 층(20)과 피드백 층(22)의 접촉 패드(26) 사이에 위치한다. 도금 구멍(12)의 부분은 스토브 부분(18)을 형성하고 이는 신호 층(20)에서 거리를 멀리 확장하고 일반적으로 피드백 층(22)의 접촉 패드(26)에서 거리를 멀리 확장한다. 스토브 부분을 제거하기 위해서, 특정 깊이에 도달할 때, 다층 회로판의 피드백 층으로부터 전기 피드백을 받을 때까지 다층 회로 기판 속에서 구멍을 뚫거나 그 경로를 만든다. 측정 유닛(48)에 의한 전기적 피드백을 받자마자, 보어링 장치(40)는 구멍에서 철회하고 보어링 장치에 의해 형성된 구멍은 에폭시 수지 또는 다른 충전 소재로 충전된다. The multilayer circuit board 16 includes at least one signal layer 20, at least one feedback layer and at least one dielectric layer 24 positioned between the signal layer 20 and the feedback layer 22. The signal layer 20 is connected to at least one plating hole 12. The feedback layer 22 has a contact pad 26 located adjacent to the plating hole 12 but electrically insulated from the plating hole 12. The contact pad 26 is connected to the measuring unit 48. The dielectric layer 24 is located between the contact layer 26 of the signal layer 20 and the feedback layer 22. The portion of the plating hole 12 forms the stove portion 18, which extends the distance away in the signal layer 20 and generally in the contact pad 26 of the feedback layer 22. To remove the stove portion, when a certain depth is reached, a hole or a path is made in the multilayer circuit board until it receives electrical feedback from the feedback layer of the multilayer circuit board. Upon receiving electrical feedback by the measuring unit 48, the boring device 40 is withdrawn from the hole and the hole formed by the boring device is filled with epoxy resin or other filling material.
Description
본 특허 출원은 2003년 9월 19일에 출원한 미국 시리얼 넘버 60/504,399호에 의해 증명되는 이전 특허 출원에 대해 우선권을 주장하며, 그 전체 내용은 여기에서 인용에 의해 통합된다.This patent application claims priority to a prior patent application, as evidenced by US Serial No. 60 / 504,399, filed September 19, 2003, the entire contents of which are hereby incorporated by reference.
다층 회로 기판 및/또는 배선 기판은 본 기술분야에서 이미 공지되었다. 다층 회로 기판은 미리 정해진 패턴으로 배열된 많은 신호 층(도체 층)으로 형성된다. 신호 층은 유전체 층에 의해 서로 절연된다. 따라서 다층 회로 기판은 (번갈아 가면서) 삽입된 신호 층과 유전체 층으로 형성된다.Multilayer circuit boards and / or wiring boards are already known in the art. Multilayer circuit boards are formed of many signal layers (conductor layers) arranged in a predetermined pattern. The signal layers are isolated from each other by the dielectric layer. The multilayer circuit board is thus formed of alternating signal and dielectric layers.
한 신호 층을 또 다른 신호 층에 연결하기 위해서 도금 구멍(plated hole) 또는 "바이아스(vias)"는 다층 회로 기판을 통과하여 형성된다. 일반적으로 도금 구멍은 다층 회로 기판의 한 주요 면에서 다층 회로 기판의 반대 면까지 확장된다. 어떤 경우에, 도금 구멍 또는 바이아스는 다층 회로 기판의 한 면으로 신호 층에서 확장하는 "스토브 부분(stub portion)"을 포함한다. 또 어떤 경우에는, 고속 신호를 이용하는 전기 시스템에서 잡신호 비(noise ratio) 대 신호를 향상시키기 위해 스토브 부분을 제거하는 것이 바람직하다. 스토브 부분이 적을수록, 신호의 질은 더 양호하다.To connect one signal layer to another signal layer, plated holes or "vias" are formed through the multilayer circuit board. In general, the plating holes extend from one main side of the multilayer circuit board to the opposite side of the multilayer circuit board. In some cases, the plating holes or vias include "stub portions" that extend in the signal layer to one side of the multilayer circuit board. In other cases, it is desirable to remove the stove portion to improve the noise ratio versus signal in electrical systems using high speed signals. The fewer stove parts, the better the signal quality.
과거에는 도금 구멍의 스토브 부분은 "백드릴링(back drilling)"이라고 불리는 과정에서 제거된다. 백드릴링 과정에서, 도금 구멍의 스토브 부분은 미리 정해진 깊이로 스토브 부분을 드릴링함으로써 제거된다. 그러나 실제로 다층 회로 기판에서 다양한 층의 두께는 일정하지 않고, 또한 다층 회로 기판 안에서 신호 층의 깊이는 다양하므로 제거되어야 하는 스토브 부분의 양이 자주 변한다. 너무 깊이 드릴링하는 것은 도금 구멍에서 신호 층을 단절시키거나, 신뢰할 수 없는 연결을 남길 것이다.; 충분한 깊이로 드릴링하지 않으면 잡신호 비 대 신호가 감소한다.In the past, the stove part of the plated hole was removed in a process called "back drilling". In the backdrilling process, the stove portion of the plating hole is removed by drilling the stove portion to a predetermined depth. In practice, however, the thickness of the various layers in a multilayer circuit board is not constant, and the depth of the signal layer in the multilayer circuit board varies, so the amount of stove portion to be removed often changes. Drilling too deep will break the signal layer in the plating holes or leave unreliable connections; Failure to drill to a sufficient depth will reduce the excess signal signal.
여기에서 논의되는 발명은 다층 회로 기판에서 층의 두께가 다양한 경우와 연관된 문제를 극복하는 기술을 이용한다.The invention discussed herein utilizes techniques that overcome the problems associated with varying the thickness of layers in a multilayer circuit board.
일반적으로, 본 발명은 다층 회로 기판 및 다층 회로 기판을 백드릴링을 위한 폐 루프 백드릴링 시스템에 관한 것이다. 다층 회로 기판은 적어도 하나의 신호 층, 적어도 하나의 피드백(feedback) 층 및 신호 층과 피드백 층 사이에 위치한 적어도 하나의 유전체 층을 포함한다. 신호 층은 적어도 하나의 도금 구멍에 연결된다. 피드백 층은 접촉 패드를 가지며, 이는 도금 구멍에 인접하여 위치하고, 신호/전기 소스에 연결되지만 도금 구멍으로부터는 전기적으로 단절되어 있다. 유전체 층은 신호 층과 피드백 층의 접촉 패드 사이에 위치한다. 도금 구멍의 부분은 스토브 부분을 형성하며, 이는 신호 층으로부터 거리를 멀리 확장하고 일반적으로 피드백 층의 접촉 패드로부터 거리를 멀리 확장한다. 피드백 층은 다층 회로 기판 안에서, 도 2에서 도시된 바와 같이 개별 네트워크 층 또는 바닥층, 신호 층 또는 파워 층과 같은 어떤 층도 될 수 있다.In general, the present invention relates to a multilayer circuit board and a closed loop backdrilling system for backdrilling a multilayer circuit board. The multilayer circuit board includes at least one signal layer, at least one feedback layer and at least one dielectric layer located between the signal layer and the feedback layer. The signal layer is connected to at least one plating hole. The feedback layer has a contact pad, which is located adjacent to the plating hole and is connected to the signal / electric source but is electrically disconnected from the plating hole. The dielectric layer is located between the contact pads of the signal layer and the feedback layer. The portion of the plating hole forms the stove portion, which extends the distance away from the signal layer and generally extends away from the contact pad of the feedback layer. The feedback layer can be any layer, such as an individual network layer or a bottom layer, a signal layer or a power layer, as shown in FIG. 2, in a multilayer circuit board.
스토브 부분을 제거하기 위해서, 특정 깊이에 도달할 때, 다층 회로판의 피드백 층으로부터 전기 피드백을 받을 때까지 다층 회로 기판 속으로 구멍을 뚫거나 그 경로를 만든다. 일반적으로, 피드백 층에 보어링 장치의 부분이 접할 때 다층 회로 기판에서 전기 피드백을 받는다. 다층 회로 기판으로부터 전기 피드백을 받자마자, 보어링 장치는 구멍에서 철회하고, 보어링 장치에 의해 형성된 구멍은 에폭시 수지나 다른 충전 소재로 채워질 수 있다.To remove the stove portion, when a certain depth is reached, a hole or a path is made into the multilayer circuit board until it receives electrical feedback from the feedback layer of the multilayer circuit board. Generally, electrical feedback is received in a multilayer circuit board when a portion of the boring device is in contact with the feedback layer. Upon receiving electrical feedback from the multilayer circuit board, the boring device withdraws from the hole, and the hole formed by the boring device can be filled with epoxy resin or other filling material.
한 바람직한 실시예에서, 피드백 층은 다층 회로 기판의 제조 과정 동안에만 이용된다. 환언하면, 이 실시예에서, 일단 제조 과정이 끝나면, 피드백 층은 어떤 구성요소 또는 신호 층을 연결하는데 또는 어떤 다른 전기 용도 유형을 위해 이용되지 않는다. In one preferred embodiment, the feedback layer is used only during the manufacture of the multilayer circuit board. In other words, in this embodiment, once the manufacturing process is over, the feedback layer is not used to connect any component or signal layer or for any other type of electrical use.
도 1은 본 발명에 따라 건조된 폐 루프 백드릴링 시스템의 개략도이다.1 is a schematic diagram of a closed loop backdrilling system constructed in accordance with the present invention.
도 2는 피드백 층이 개별 네트워크를 형성한 다층 회로 기판에서 형성된 피드백 층의 한 실시예의 상부 평면도이다.2 is a top plan view of one embodiment of a feedback layer formed from a multilayer circuit board in which the feedback layer forms a separate network.
도 3은 본 발명에 따라 건조된 다층 회로 기판 부분의 횡단면도이다.3 is a cross sectional view of a portion of a multilayer circuit board dried according to the present invention.
도 4는 본 발명에 따라 건조된 피드백 층의 접촉 패드의 상부 평면도이다.4 is a top plan view of a contact pad of a feedback layer dried according to the present invention.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따라 건조된 다층 회로 기판 부분의 횡단면도이다.5 is a cross sectional view of a portion of a multilayer circuit board dried in accordance with another embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따라 건조된 다층 회로 기판 부분의 횡단면 도이다.6 is a cross sectional view of a portion of a multilayer circuit board dried in accordance with another embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명에 따라 건조된 접촉 패드의 다른 실시례의 상부 평면도이다.7 is a top plan view of another embodiment of a contact pad dried in accordance with the present invention.
도 8은 본 발명에 따라 건조된 폐 루프 백드릴링 시스템의 다른 실시예의 개략도이다.8 is a schematic diagram of another embodiment of a closed loop backdrilling system constructed in accordance with the present invention.
도 9는 본 발명에 따라 건조된 폐 루프 백드릴링 시스템의 또 다른 실시예의 개략도이다.9 is a schematic diagram of another embodiment of a closed loop backdrilling system constructed in accordance with the present invention.
도면, 특히 도 1에서 참조 번호 10으로 지정된 것은 본 발명에 따라 건조된 폐 루프 백드릴링 시스템이다. 폐 루프 백드릴링 시스템(10)은 특정 또는 미리 정해진 깊이에 도달할 때 제조 중인 제품(14)으로부터 전기 피드백을 이용하면서 제조 중인 제품(14)에 이미 형성된 도금 구멍(12)을 깊이-드릴링하는데 이용된다. 드릴링 과정 동안의 피드백은 제조 중인 제품(14) 안에서 특정 층 깊이와 관계없이 매우 높은 정확도를 내는 것을 가능하게 한다. 바람직한 한 실시예에서, 제조 중인 제품(14)은 다층 인쇄 회로 기판(16)이다. 제조 중인 제품(14)이 여기에서 다층 회로 기판(16)으로 설명하고 있다 하더라도, 제조 중인 제품(14)은 기구나 장치 안에서 특정 또는 미리 정해진 깊이로 드릴링하는 것이 바람직한 어떠한 기구나 장치가 될 수 있다.Designated by
다층 회로 기판(16)은 적어도 하나 또는 그 이상의 신호 층(20), 적어도 하나 또는 그 이상의 피드백 층(22) 및 적어도 하나 또는 그 이상의 유전체 층(24)을 포함한다. 신호 층(20)은 도금 구멍(12)에 연결된다. 피드백 층(22)은 접촉 패드 (26)를 가진다(도 4에 도시). 접촉 패드(26)는 신호 층(20)에서 멀리 떨어져 위치하며 도금 구멍(12)과 전기적으로 절연되어 있다. 신호 층(20)으로부터 접촉 패드(26)를 전기적으로 절연시키도록 유전체 층(24)은 신호 층(20)과 피드백 층(22)의 접촉 패드(26) 사이에 위치한다. 아래에서 더 자세히 논의될 바와 같이, 접촉 패드(26)는 전기적 피드백을 제공하기 위해 다층 회로 기판(16)의 제조 과정 동안 접촉한다.
다층 회로 기판(16)은 또한 엔트리 소재(28) 및 두 번째 도금 구멍(30)을 포함한다. 엔트리 소재(28)는 다층 회로 기판(16)의 첫 번째 표면(32)으로 확장된다. 엔트리 소재(28)와 같은 엔트리 소재들은 본 기술분야에서 이미 공지되었다. 따라서 본 발명을 어떻게 만드는지 또는 이용하는지 기술분야의 기술자에게 알리기 위해 엔트리 소재(28)에 대해서 더 이상 설명은 필요 없다고 생각된다. 두 번째 도금 구멍(30)은 피드백 층(22)의 접촉 패드(26)에 전기적으로 연결되어 있다.The
폐 루프 백드릴링 시스템(10)은 보어링 장치(40)를 포함한다. 보어링 장치(40)는 절삭 장치(44)를 지지하는 축 유닛(42) 및 Z-축 모터 제어를 위한 서버servo) 제어 유닛(46)을 포함한다. 보어링 장치(40)는 드릴, 밀링 기계(milling machine) 또는 루터(router)일 수 있다.Closed
폐 루프 백드릴링 시스템(10)은 또한 측정 유닛(48)을 포함한다. 측정 유닛(48)은 1) 축 유닛(42) 및/또는 축 유닛(42)의 절삭 장치(44) 및 2) 절삭 장치(44)와 피드백 층(22)의 접촉 패드(26) 사이에 접촉 또는 근접을 판단하기 위한 두 번째 도금 구멍(30)에 연결된다.The closed
일반적으로, 측정 유닛(48)은 절삭 장치(44)와 접촉 패드(26) 사이의 접촉 또는 밀접 접근을 지시하는 물리적 특성의 변이를 감지한다. 한 바람직한 실시예에서, 측정 유닛(48)은 절삭 장치(44)와 접촉 패드(26) 사이의 정전용량을 감지하기 위해서 드릴 축에서 공기베어링의 건조에 기인한 정전용량 센서를 포함한다. 또 다른 바람직한 실시예에서, 측정 유닛(48)은 절삭 장치(44)와 피드백 층(22) 사이의 저항을 측정하기 위한 저항계(resistance meter)이다. 이 경우에, 절삭 장치(44)는 전도성 소재로 건조되거나, 전도성 소재로 도금된다. 절삭 장치(44)는 세라믹 소재나 철 같은 금속 재질 등의 절삭 유형 소재로 건조될 수 있다.In general, the
절삭 장치(44)가 피드백 층(22)에 접촉하면, 저항은 급격히 감소한다. 이 급격한 변이를 지시하는 신호는 축 유닛(42)을 제어하기 위한 서버 제어 유닛(46)으로 전달된다. 절삭 장치(44)가 피드백 층(22)에 도달하면, 축 유닛(42)이 도금 구멍에서 절삭 장치(44)를 철회시키거나 서버 제어 유닛(46)이 피드백 층(22)을 넘어서 더 깊이 드릴링된 것을 측정하도록 신호를 서버 제어 유닛(46)으로 보낸다. 서버 제어 유닛(46)은 백드릴링 작업 동안 충분히 연속수단으로 절삭 장치(44)를 이동시키도록 프로그램될 수 있다. 서버 제어 유닛(46)은 또한 무브 인-스탑, 무브 인-스탑 등등의 펄스 드릴링 또는 사용자 정의 드릴링 작업 같은 다른 드릴링 작업으로 프로그램될 수 있다. 펄스 드릴링의 장점은 드릴링 동안 버(burr; 금속을 절삭 또는 세이핑할 때 만들어진 얇은 리지(ridge) 또는 거칠기 영역)를 깨뜨리거나 백드릴링의 효과가 향상된다는 것이다. 본 발명에서는 서버 제어 유닛(46)을 사용하고 있는 것으로 설명하고 있다고 하더라도, 본 발명은 축 유닛(42)의 이동을 제어하기 위한 다른 유형의 제어기도 사용할 수 있다. When the cutting
도 3에서 도시된 바와 같이, 절삭 장치(44)는 백드릴링 작업 동안 백드릴 지름(50)과 같은 크기의 구멍(12)의 부분을 확대시킨다. 도금 구멍(12)의 스토브 부분(18)에서 도금을 제거하기 위해서 백드릴 지름(50)(또는 확대된 부분의 횡단면 영역)은 도금 구멍(12)의 첫 번째 드릴 지름(52)(또는 도금 구멍(12)의 횡단면 영역)보다 더 크다. 따라서, 절삭 장치(44)가 철회될 때까지 절삭 장치(44)는 백드릴링 작업 동안 도금 구멍(12)의 도금을 제거한다. 절삭 장치(44)의 지름은 도금 구멍(12)의 도금을 제거할 수 있는 한 어떤 사이즈도 가능하다. 한 바람직한 실시예에서, 절삭 장치(44)는 도금 구멍(12)의 첫 번째 드릴 지름(52)을 형성하는 데 사용되는 절삭 장치의 지름보다 더 큰 약 0.35㎜의 지름을 가진다. 바람직하게는 절삭 장치(44)는 동그란 구멍을 형성한다. 그러나 절삭 장치(44)는 실질적으로 네모난 구멍, 타원형의 구멍 등을 형성하도록 병진 운동하거나 또 다른 절삭 장치와 한 쌍이 될 수 있다.As shown in FIG. 3, the cutting
접촉 패드(26)의 한 바람직한 실시예는 도 4에서 도시된다. 접촉 패드(26)는 거기에 구멍(60)을 형성하는 일반적인 '도넛' 형태를 가질 수 있다. 접촉 패드(26)는 또한 접촉 패드(26)의 부분이 백드릴되도록 도금 구멍(12)에 인접하게 위치할 만큼 긴 다른 모양으로 제공될 수 있다. 예를 들면, 다층 회로 기판(16) 안에서 바닥층의 부분으로 형성된 접촉 패드(26a)의 다른 실시예가 도 7에 도시된다. 도금 구멍(12)이 간극을 통해 구멍(60a)을 확장하면서, 접촉 패드(26a)는 하나 또는 그 이상의 구멍(60a), 즉 간극 구멍 또는 안티패드(antipad)를 형성한다. 접촉 패드(26, 26a)는 전기적인 전도성 소재로 바람직하게 건조된다. 구멍(60, 60a)의 사이즈는 매우 넓지만, 접촉 패드(26, 26a)는 도금 구멍(12)과 전기적으로 접촉하지 않도록 바람직하게 첫 번째 지름(52)보다 더 크나, 지름(50)보다는 더 작다. 이 점에 있어서는, 접촉 패드(26, 26a)는 도금 구멍(12)에 인접하게 연장되지만, 도금 구멍(12)에는 접촉하지 않는다.One preferred embodiment of the
접촉 패드(26, 26a)가 도 4와 도 7에서 도넛 모양 또는 직사각형 모양을 가지는 것처럼 도시되고 설명되었다고 하더라도, 접촉 패드(26, 26a)는 백드릴링 작업 동안 접촉 패드(26, 26a)가 전기적으로 도금 구멍(12)과 절연되고 절삭 장치(44)에 접촉할 수 있을 만큼 긴 기하학적인, 비기하학적 또는 비대칭의 모양을 가질 수 있다.Although the
도 2에서 도시된 바와 같이, 한 실시예에서, (특정한 층에서) 모든 백드릴링 깊이를 위한 패턴이 두 번째 도금 구멍(30)에 전기적으로 연결되는 데 사용된다. 두 번째 도금 구멍은 또한 여기서 "공통 패드"로 언급될 수도 있다. 각각의 접촉 패드(26)가 신호 층(20)과 도금 구멍(12)에 인접하게 제공되면서 공통 패드(30)는 복수의 접촉 패드(26)에 전기적으로 연결된다. 환언하면 바람직한 실시례에서 각각의 접촉 패드(26)가 전도체(72)의 패턴을 통해 공통 패드(30)에 전기적으로 연결되면서 피드백 층(22)은 복수(둘 또는 그 이상)의 접촉 패드(26)를 가지는 미리 정해진 패턴을 형성한다. 또 다른 바람직한 실시례에서 피드백 층(22)은 인쇄 회로 기판(16)에서 어떤 신호나 신호 층에 접촉 또는 연결되지 않는다. 피드백 층(22)이 도 2에서 도시된 것처럼 개별 네트워크로 실행되는 것으로 제한되지 않는다. 이 관점에서, 피드백 층(22)은 신호 층, 파워 층 또는 바닥 평판 층과 같이, 다층 인쇄 회로 기판(16) 안에서 접촉 패드(26, 26a)에 전기적 신호를 제공할 수 있는 어떠한 전도체 층에 의해 형성될 수 있다.As shown in FIG. 2, in one embodiment, a pattern for all backdrilling depths (in a particular layer) is used to electrically connect to the
절삭 장치(44)가 접촉 패드(26, 26a) 중 어느 하나에 접촉할 때 측정 유닛(48)은 전기 피드백을 서버 제어 유닛(46)에 전달하기 위해서 공통 패드(30)에 전기적으로 연결된다. When the cutting
폐 루프 백드릴링 시스템(10), 그리고 특히, 다층 회로 기판(16)이 단지 하나의 피드백 층(22)을 가지는 것처럼 여기에서 설명하고 있다 하더라도, 몇 개의 피드백 층이라도 다층 회로 기판(16) 안에서 이용될 수 있다. 예를 들면, 다층 회로 기판(16)은 둘 또는 그 이상의 피드백 층(22)을 포함할 수 있다.Although the closed
접촉 패드(26,26a)와 신호 층(20) 사이의 공간은 제거되어야 하는 스토브 부분(18)의 양뿐만 아니라 백드릴링 작업 동안 사용되는 절삭 장치(44)의 사이즈와 모양에 따라 다양할 수 있다. 공간은 신호 층(20)에 가능한 가까워야 하지만 보어링 장치(40)의 축 유닛(42)이 멈추어질 수 있을 만큼 충분히 멀어야 한다. 예를 들면, 접촉 패드(26, 26a)와 신호 층(20) 사이의 공간은 약 0.004인치와 0.001인치 사이가 적당한 것으로 알려졌다.The space between the
스토브 부분(18)을 제거하기 위해서, 측정 유닛(48)이 공통 패드나 두 번째 도금 구멍(30)에 연결되는 것처럼, 측정 유닛(48)은 피드백 층(22)에 연결된다. 그러고 나서 축 유닛(42)은 작동되고, 서버 제어 유닛(46)은 축 유닛(42)이 다층 회로 기판(16)을 향해 그리고 그 속으로 절삭 장치(44)를 이동시키게 한다. 특정 깊이에 도달했음을 지시하는 전기 피드백을 피드백 층(22)으로부터 받을 때까지 절삭 장치(44)는 다층 회로 기판(16)으로 이동된다. 폐 루프 백드릴링 시스템(10)의 응용에 따라서, 서부 제어 유닛(46)은 1) 축 유닛(42)이 절삭 장치(44)를 철회시키거나, 2) 축 유닛(42)이 절삭 장치(44)를 철회하기 전에 피드백 층(22)을 지나 미리 정해진 거리로 절삭 장치(44)를 이동하게 한다.In order to remove the
그리고 나서 상기에 개시된 과정은 각각 그리고 모든 도금 구멍(12)이 백드릴링되도록 반복될 수 있다. 그 후 절삭 장치(44)에 의해 형성된 구멍은 에폭시 수지 또는 다른 충전재 소재로 채워진다. The process disclosed above can then be repeated so that each and all plating
폐 루프 백드릴링 시스템(10)은 또한 폐 루프 백드릴링 시스템(10)의 사용을 감시하는 것을 가능하게 하기 위한 보고 시스템(80; reporting system)을 제공받을 수 있다. 보고 시스템(80)은 서버 제어 유닛(46) 또는 측정 유닛(48)이 실시간으로 백드릴되는 구멍의 수를 세고 허가료가 만기 되는 백드릴된 구멍의 수를 보여주면서, 정기적으로(매일, 매달, 매 분기 등등) 보고서나 인보이스를 제공하는 것처럼 보어링 장치(40)의 부분으로부터 입력을 받는다. 보고서나 인보이스는 폐 루프 백드릴링 시스템(10)의 사용자 또는 지정된 수집 기관에 전기적으로 전달될 수 있다.The closed
다층 회로 기판의 제조 및 사용은 본 기술분야에서 공지되었다. 따라서, 다층 회로 기판을 만드는 데 있어서 이용되는 특정 소재, 접착제 및 다른 요소들의 설명은 여기에서 자세히 논의하지 않는다. 그러나 다층 회로 기판의 각 층을 부착하고 형성하기 위한 다양한 건조 및 가공 방법의 예들은 미국 특허 제5,677,515호 의 단 1의 8줄에서 55줄, 단 2의 32줄에서 단 3의 7줄의 기재에서 공개되었고, 거기서 참조한 도면들은 본 출원에서 참조에 의해 통합되었다.The manufacture and use of multilayer circuit boards are known in the art. Thus, the description of the specific materials, adhesives and other elements used in making multilayer circuit boards is not discussed in detail herein. However, examples of the various drying and processing methods for attaching and forming each layer of a multilayer circuit board are described in US Pat. No. 5,677,515 in column 1 of 8, 55 lines, column 2 of 32, line 3 of 7 The drawings referred to therein are hereby incorporated by reference in this application.
본 발명에 따라 건조된 다른 실시예의 다층 회로 기판(100)은 도 5 및 도 6에서 도시된다. 다층 회로 기판(100)은 다층 회로 기판(100)이 계단형의 구조를 가진 도금 구멍(102)을 가진다는 것을 제외하고는, 상기에서 설명한 다층 회로 기판(16)과 유사하게 건조된다. 밑에서 더 자세히 논의할 것처럼, 도금 구멍(102)의 계단형 구조는 직변의 도금 구멍(12)보다 더 조밀하게 연결된다.Another embodiment of a
도금 구멍(102)은 첫 번째 부분(104)과 두 번째 부분(106)을 가진다. 첫 번째 부분(104)과 두 번째 부분(106)은 측면 돌출부(108)에 의해 분리된다. 두 번째 부분(106)은 첫 번째 부분(104)의 횡단면 영역보다 더 작은 횡단면 영역을 가진다.The
도금 구멍(102)은 어떠한 적당한 수단으로도 만들어질 수 있다. 예를 들면, 도금 구멍(102)은 계단형 드릴 비트를 사용하는 드릴링 작업에서 형성되고 이어서 도금될 수 있다. 그러나 도금 구멍(102)은 두 개의 절삭 장치 또는 지름이 다른 드릴 비트를 이용해서 다중 드릴링 작업에서 형성되고 이어서 도금될 수 있다.The plating holes 102 can be made by any suitable means. For example, plating
다층 회로 기판(100)은 하나 또는 그 이상의 신호 층(120), 하나 또는 그 이상의 피드백 층(122) 및 하나 또는 그 이상의 유전체 층(124)을 포함한다. 피드백 층(122)은 접촉 패드(126)를 가진다. 유전체 층(124)은 신호 층(120)과 피드백 층(122) 사이에 위치한다. 도금 구멍(102)은 신호 층(120)에 연결되고, 접촉 패드(126)에 인접하여 위치한다. 접촉 패드(126)는 유전체 층(124)에 의해 도금 구멍(102)으로부터 전기적으로 절연된다. 일반적으로 도금 구멍(102)의 두 번째 부분 (106)은 스토브 부분을 형성하며, 이는 신호 층(120)에서 거리를 멀리 확장하고 피드백 층(122)의 접촉 패드(126)에서 또한 거리를 멀리 확장한다.
백드릴링 작업에서 사용되는 절삭 장치의 지름이 도금 구멍(102)의 첫 번째 부분(104)의 지름과 동일하거나 지름이 더 작을 수 있다는 점을 제외하고는, 다층 회로 기판(100)의 도금 구멍(102)은 상기에서 설명한 것과 유사한 방법으로 스토브 부분을 제거하기 위해 백드릴링된다. 도금 구멍(102)의 지름이 백드릴링 작업 동안 증가하지 않기 때문에 이것은 구멍의 집단을 더 조밀하게 한다.The plating holes of the multilayer circuit board 100 (except that the diameter of the cutting device used in the backdrilling operation may be the same as or smaller than the diameter of the
적어도 두 개의 다른 목적 즉, 깊이 라우팅 및 가이드 라우팅을 위해 다층 회로 기판 안에서 접촉 패드를 파묻는 개념은 본 발명에서 이용될 수 있다.The concept of embedding contact pads in a multilayer circuit board for at least two other purposes, namely depth routing and guide routing, may be used in the present invention.
깊이 라우팅은 다층 회로 기판에서 영역을 제거하기 위해 보어링 장치(40)의 관통 깊이의 마지막 레벨이 구성요소나 연결기를 받는 것을 결정하는데 이용될 수 있다. 이런 응용에서, 절삭 장치(44)의 팁이 접촉 패드에 접촉할 때까지 보어링 장치(40)의 절삭 장치(44)는 다층 회로 기판 방향으로 이동한다. 그러고 나서 절삭 장치(44)의 관통은 멈추거나 다층 회로 기판 속으로 미리 정해진 거리로 더 이동된다. 그러면 절삭 장치(44)는 구성요소나 연결기를 위한 영역을 제거하기 위해 미리 정해진 양만큼 측면(x 및/또는 y축)으로 병진 운동한다.Depth routing can be used to determine the last level of penetration depth of the
가이드 라우팅은 보어링 장치의 측면 병진 운동(x 및/또는 y축)을 가이드 하는데 이용될 수 있다. 일단 절삭 장치(44)가 접촉 패드에 도달하면, 절삭 장치(44)의 관통 레벨이 멈추거나 다층 회로 기판 속으로 더 미리 정해진 거리로 이동된다. 절삭 장치(44)가 접촉 패드에 접촉할 때 보어링 장치(40)가 다층 회로 기판 또는 절삭 장치(44)를 측면으로 이동시키기 시작하거나 측면 이동을 계속한다. 절삭 장치(44)가 접촉 패드와 떨어지면, 보어링 장치(40)는 철회하거나 멈춘다.Guide routing can be used to guide the lateral translational motion (x and / or y axis) of the boring device. Once the cutting
본 발명에 따라 건조된 폐 루프 백드릴링 시스템의 다른 실시예는 도 8에서 도시된다. 특정 또는 미리 정해진 깊이에 도달할 때 제조 중인 제품(14)으로부터 전기 피드백을 이용하면서 폐 루프 백드릴링 시스템(200)은 제조 중인 제품(14)에서 이미 형성된 도금 구멍(12)을 깊이-드릴링하는데 이용된다. 드릴링 과정 동안의 피드백은 제조 중인 제품(14) 안에서 특정 층 깊이와 관계없이 매우 높은 정확도를 내는 것을 가능하게 한다. 상기에서 설명한 바와 같이, 한 실시예에서 제조 중인 제품(14)은 다층 인쇄 회로 기판(16)이다. 제조 중인 제품(14)이 여기에서 다층 회로 기판(16)으로 설명하고 있다 하더라도, 제조 중인 제품(14)은 기구 또는 장치 안에서 특정 또는 미리 정해진 깊이로 드릴링하는 것이 바람직한 어떠한 기구 또는 장치일 수 있다. Another embodiment of a closed loop backdrilling system constructed in accordance with the present invention is shown in FIG. 8. The closed
다층 회로 기판(16)은 적어도 하나 또는 그 이상의 신호 층(20), 적어도 하나 또는 그 이상의 피드백 층(22) 및 적어도 하나 또는 그 이상의 유전체 층(24)을 포함한다. 신호 층(20)은 도금 구멍(12)에 연결된다. 피드백 층(22)은 접촉 패드를 가지며, 이는 접촉 패드(202)가 거기 사이에서 전기적 연결을 허용하기 위해 도금 구멍(12)에 연결되는 것을 제외하고는 상기에서 설명한 접촉 패드(26 또는 26a)와 구조 및 기능면에서 유사하다. 신호 층(20)으로부터 접촉 패드(202)를 전기적으로 절연시키도록 유전체 층(24)은 신호 층(20)과 피드백 층(22)의 접촉 패드(202) 사이에 위치한다. 밑에서 더 상세히 논의할 것처럼, 접촉 패드(202)는 다층 회로 기판(16)의 제조 과정 동안 도금 구멍(12)과 접촉 패드(202) 사이의 전기 연결을 단절시키기 위해 접촉된다.
폐 루프 백드릴링 시스템(200)은 보어링 장치(40)를 포함한다. 보어링 장치(40)는 절삭 장치(44) 및 Z-축 모터 제어를 위한 서버 제어 유닛(46)을 지지하는 축 유닛(42)을 포함한다.Closed
폐 루프 백드릴링 시스템(200)은 또한 측정 유닛(204)을 포함한다. 측정 유닛(204)은 a) 도금 구멍(12) 및 b) 도금 구멍(12)과 피드백 층(22) 사이의 전기 연결의 단절을 판단하기 위한 피드백 층(22)에 연결된다. 도 8에서 도시된 바와 같이, 측정 유닛(204)은 레지스터(R; resistor)와 전력 공급기(P; power supply)를 포함한다. 예를 들면, 측정 유닛(204)은 AC 또는 DC 전류를 측정하기 위한 전류계(ammeter)일 수 있다.Closed
사용중에, 보어링 장치(40)의 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)을 향해 또는 그 속으로 절삭 장치(44)를 미리 정해진 양만큼 이동시키도록 작동한다. 그러고 나서 절삭 장치(44)의 전도성이 측정 유닛(204)의 기록을 방해하지 않기 위해서 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)으로부터 멀리 떨어진 방향으로 절삭 장치(44)를 미리 정해진 양만큼 철회하도록 작동된다. 그러고 나서 서버 제어 유닛(46)은 피드백 층(22)이 여전히 도금 구멍(12)에 연결되어 있는지 여부를 판단하기 위해 측정 유닛(204)을 감시한다. 만약 그렇다면, 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)의 더 많은 스토브 부분(18)을 제거하기 위해 도금 구멍(12)을 향해 절삭 장치(44)를 이동하도록 작동한다. 그러고 나서 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)으로부터 절삭 장치(44)를 철회하도 록 작동하며 서버 제어 유닛(46)은 다시 피드백 층(22)이 도금 구멍(12)에 연결되어 있는지 여부를 판단하기 위해 측정 유닛(204)을 감시한다. 도금 구멍(12)이 피드백 층(22)에서 떨어졌고 측정 유닛(204)이 판단할 때까지 이 과정은 반복된다.In use, the
본 발명에 따라 건조된 폐 루프 백드릴링 시스템의 또 다른 실시예는 도 9에서 도시된다. 특정 또는 미리 정해진 깊이에 도달하면 제조 중인 제품(14)으로부터 전기 피드백을 이용하면서 폐 루프 백드릴링 시스템(300)은 제조 중인 제품(14)에서 이미 형성된 도금 구멍(12)을 깊이-드릴링하는데 이용된다. 드릴링 과정 동안의 피드백은 제조 중인 제품(14) 안에서 특정 층 깊이와 관계없이 매우 높은 정확도를 내는 것을 가능하게 한다. 상기에서 설명한 대로, 한 실시예에서 제조 중인 제품(14)은 다층 인쇄 회로 기판(16)이다. 제조 중인 제품(14)이 여기에서 다층 회로 기판(16)으로 설명된다 하더라도, 제조 중인 제품(14)은 기구 또는 장치 안에서 특정 또는 미리 정해진 깊이로 드릴링하는 것이 바람직한 어떠한 기구 또는 장치일 수 있다. Another embodiment of a closed loop backdrilling system constructed in accordance with the present invention is shown in FIG. 9. When a certain or predetermined depth is reached, the closed
다층 회로 기판(16)은 적어도 하나 또는 그 이상의 신호 층(20) 및 적어도 하나 또는 그 이상의 유전체 층(24)을 가진다. 신호 층(20)은 도금 구멍(12)에 연결되어 있다.
폐 루프 백드릴링 시스템(300)은 보어링 장치(40)를 포함한다. 보어링 장치(40)는 절삭 장치(44) 및 Z-축 모터 제어를 위한 서버 제어 유닛(46)을 지지하는 축 유닛(42)을 가진다.Closed
폐 루프 백드릴링 시스템(300)은 또한 신호 발생기(signal generator) 및 측 정 유닛(304)을 가진다. 신호 발생기와 측정 유닛(304)은 a) 도금 구멍(12) 및 b) 도금 구멍(12)에 신호를 제공하고 나서 스토브 부분(18)에 의해 발생한 신호의 반사 또는 방해를 판단하기 위한 신호 층(20)에 연결되어 있다. 신호 발생기 및 측정 유닛(304)은 잡신호 비 대 신호와 같은 스토브 부분(18)의 존재 또는 양을 지시하는 어떤 적당한 물리적 특성도 판단할 수 있다.Closed
사용중에, 보어링 장치(40)의 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)을 향해 또는 그 속으로 미리 정해진 양만큼 절삭 장치(44)를 이동하도록 작동된다. 그러고 나서 절삭 장치(44)의 전도성이 신호 발생기와 측정 유닛(304)의 기록을 방해하지 않기 위해서 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)으로부터 미리 정해진 양만큼 떨어지게 절삭 장치(44)를 철회하도록 작동된다. 그 후 서버 제어 유닛(46)은 측정된 물리적 특성과 미리 정해진 양 사이의 관련성을 판단하기 위해 신호 발생기와 측정 유닛(304)을 감시한다. 예를 들면 잡신호 비 대 신호를 감시할 때, 잡신호 비 대 신호가 스토브 부분(18)의 충분한 양의 제거를 지시하는 상기의 미리 정해진 양인지 여부를 (서버 제어 유닛(42) 또는 신호 발생기 및 측정 유닛(304)에 의해) 판단하게 된다. 만약 그렇지 않다면, 그 후 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)의 스토브 부분(18)을 더 많이 제거하기 위해서 도금 구멍(12) 방향으로 미리 정해진 양만큼 절삭 장치(44)를 이동하도록 작동된다. 그 후 축 유닛(42)은 도금 구멍(12)으로부터 멀리 절삭 장치(44)를 철회시키도록 작동하고 난 후 서버 제어 유닛(46)은 다시 충분한 스토브 부분(18)이 제거되었는지 여부를 판단하기 위해 신호 발생기와 측정 유닛(304)을 감시한다. 충분한 양의 스토브 부분(18)이 제거되었음을 지시하는 신호 발생기 및 측정 유닛(304)에 의한 신호가 나올 때까지 이 과정은 반복된다.In use, the
폐 루프 백드릴링 시스템(200, 300)은 수동 또는 자동으로 작동될 수 있다. 환언하면 측정 유닛(204) 또는 신호 발생기 및 측정 유닛(304)에 의한 측정은 개인에 의해 수동으로 작동될 수 있으며, 그는 또한 서버 제어 유닛(204)을 제어하고 있다. 그러나 축 유닛(42)의 철회와 전진은 일반적으로 서버 제어 유닛(46)을 작동하거나 제어하는 소프트웨어 프로그램에 의해 제어될 수 있도록 측정 유닛(204) 또는 신호 발생기 및 측정 유닛(304)에 의한 측정을 자동화할 수 있다.Closed
여기에서 설명된 다양한 구성요소, 요소 및 조립들의 건조 및 작동 또는 다음의 청구항에서 정의된 바에 따라 본 발명의 의도 및 범위에서 벗어나지 않고 여기에서 설명한 단계 또는 방법의 일련의 단계들은 변화될 수도 있다.The construction and operation of the various components, elements and assemblies described herein or a series of steps in the steps or methods described herein may be varied without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the following claims.
Claims (42)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020067007254A KR20070018800A (en) | 2003-09-19 | 2004-09-17 | Closed Loop Backdrilling System |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US60/504,399 | 2003-09-19 | ||
KR1020067007254A KR20070018800A (en) | 2003-09-19 | 2004-09-17 | Closed Loop Backdrilling System |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070018800A true KR20070018800A (en) | 2007-02-14 |
Family
ID=43652065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020067007254A KR20070018800A (en) | 2003-09-19 | 2004-09-17 | Closed Loop Backdrilling System |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20070018800A (en) |
-
2004
- 2004-09-17 KR KR1020067007254A patent/KR20070018800A/en not_active Application Discontinuation
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |