KR20060109069A - Uv-curable and thermosetting resin composition - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 자외선 및 열경화성 수지 조성물에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 열 경화성 수지 조성물로서 인쇄형 프린트 배선판(printed circuit board) 및 패키지 공정 분야에서 주로 사용되어지는 수지 조성물에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to ultraviolet and thermosetting resin compositions, and more particularly, to resin compositions mainly used in the field of printed circuit boards and packaging processes as thermosetting resin compositions.
묽은 알칼리 수용액에 현상 가능한 액상 포토 솔더 레지스트는 종래의 패턴 형성 스크린을 이용한 자외선 경화형 솔더 마스크 또는 열 경화형 솔더 마스크에 비하여 극세, 고밀도 패턴 형성이 가능하다는 장점을 갖는다. 이러한 알칼리 현상 타입의 솔더 레지스트로서는 예를 들면 노볼락형 에폭시 화합물과 모노카르복실산의 반응 생성물에 포화 또는 불포화한 다염기산 산무수물을 부가한 감광성 수지를 바인더 폴리머로 하고, 광중합 개시제, 희석제 및 에폭시 화합물을 포함하는 솔더 레지스트 조성물이 제안되어 있다(일본 특허 공개 (소)61-243869호 공보 참조).The liquid photo solder resist that can be developed in a dilute aqueous alkali solution has the advantage of being capable of forming an ultrafine, high density pattern as compared to a UV curable solder mask or a heat curable solder mask using a conventional pattern forming screen. As such an alkali developing type soldering resist, for example, a photopolymerizable resin obtained by adding a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride to a reaction product of a novolak-type epoxy compound and a monocarboxylic acid is used as a binder polymer, and a photopolymerization initiator, a diluent, and an epoxy compound. A soldering resist composition containing the above is proposed (refer to Unexamined-Japanese-Patent No. 61-243869).
그러나 기존 액상 포토 솔더 레지스트는 열 반응형의 에폭시 화합물을 조성에 포함하고 있으며, 바인더 폴리머로 사용된 자외선 경화성의 묽은 알칼리 수용액 에 현상 가능한 수지(이하 바인더 폴리머)의 측쇄에 결합된 카르복시산 그룹과 에폭시 수지와 경화하는 반응 메커니즘을 갖기 때문에 사용과정에서 문제가 발생하였을 경우 일반적인 박리액인 10% 부피분율의 가성소다 수용액에 의해 잘 박리되지 않고 또한 잔사가 발생하여 재작업성에 문제가 있다. However, conventional liquid photo solder resists contain a thermally reactive epoxy compound in the composition, and a carboxylic acid group and an epoxy resin bonded to the side chain of a resin (hereinafter, referred to as a binder polymer) that can be developed in a UV-curable dilute aqueous alkali solution used as a binder polymer. Because of having a reaction mechanism to cure with, if a problem occurs during use, it is not easily peeled off by a 10% volume fraction of caustic soda solution, which is a general stripping solution, and residues are generated, which causes problems in reworkability.
최근의 인쇄회로기판은 경박단소화 추세에 따라 기판 한장에 고밀도의 회로가 형성되어 있고 또한 여러겹의 기판이 적층되어 있기 때문에 고가의 제품이 늘어나고 있는 추세이다. 따라서 액상의 솔더 마스크를 사용하는 과정 중에 인쇄 문제나 솔더 마스크 패턴의 쏠림으로 인해 기판을 폐기한다면 금전적인 손실 및 환경 오염의 문제가 발생하게 된다.In recent years, as printed circuit boards are becoming thinner and shorter in size, high-density circuits are formed on one board and multiple layers of boards are stacked, thereby increasing the number of expensive products. Therefore, if the substrate is discarded due to printing problems or the solder mask pattern is drawn during the process of using the liquid solder mask, there is a problem of financial loss and environmental pollution.
그러나 기존의 솔더 마스크(자외선 경화성이며 열 경화성 수지 조성물)는 상술한 바와 같은 조성의 반응 메커니즘으로 인해 경화 후에 기판에 강한 밀착력을 갖기 때문에 일반적인 박리액에 대해 재작업성 부분에 문제가 되고 있다. 일반적인 자외선 경화성 열 경화성 수지 조성물은 경화후에는 네트워크화된 망상의 분자 구조를 갖기 때문에 상기한 박리액에 용해되어 벗겨지는 것이 아닌 솔더 마스크와 기판 표면사이의 팽윤 현상에 의해 밀착력 저하로 인해 벗겨지는 것이 올바른 박리 메커니즘이다. However, the conventional solder mask (ultraviolet curable and thermosetting resin composition) has a strong adhesion to the substrate after curing due to the reaction mechanism of the composition as described above, which is a problem in the reworkability to the general peeling liquid. Since the general ultraviolet curable thermosetting resin composition has a networked network molecular structure after curing, it is not correct to be dissolved and peeled off in the above-mentioned stripping solution, but to be peeled off due to the deterioration of adhesion due to the swelling phenomenon between the solder mask and the substrate surface. Peeling mechanism.
따라서 기존 사용되고 있는 자외선 및 열 경화성 수지 조성물의 상기한 문제점들을 개선할 수 있는 재작업성이 우수한 조성물의 개발이 필요하다.Therefore, there is a need for the development of a composition having excellent reworkability that can improve the above-mentioned problems of the ultraviolet and thermosetting resin compositions currently used.
이에, 본 발명은 일반적인 박리액인 가성소다 수용액에 쉽게 팽윤될 수 있도록하기 위하여 친수성인 에틸렌글리콜로 분자쇄를 연장시킨 자외선 반응형 아크릴계 또는 비닐계 단량체를 사용함으로써 일반적인 박리액에 대한 벗겨짐성이 좋고 또한 잔사가 없어 재작업이 용이한 장점을 갖는 자외선 및 열경화성 수지 조성물을 제공하는 데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention provides good peeling properties for general stripping solution by using ultraviolet-reactive acrylic or vinyl monomers in which molecular chains are extended with hydrophilic ethylene glycol in order to be easily swelled in an aqueous solution of caustic soda, which is a general stripping solution. It is also an object of the present invention to provide an ultraviolet and thermosetting resin composition having the advantage of having no residue and easy reworking.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 자외선 경화성이며 열 경화성 수지 조성물은 인쇄회로기판에 사용되는 액상 포토 솔더 레지스트 조성물로서, (A)자외선 경화성이며 묽은 알칼리 용액에 현상 가능한 수지, (B)광중합개시제, (C)자외선 반응형 아크릴계 또는 비닐계 단량체, (D) 에폭시 수지 및 (E)유기용매를 포함하는 것으로, 이때 (C)자외선 반응형 아크릴계 또는 비닐계 단량체는 다음 화학식 1 또는 2로 표시되는 화합물 중에서 선택된 1종 이상의 화합물을 포함하는 것을 그 특징으로 한다. The ultraviolet curable and thermosetting resin composition of the present invention for achieving the above object is a liquid photo solder resist composition used in a printed circuit board, (A) ultraviolet curable resin developable in dilute alkali solution, (B) photopolymerization Including an initiator, (C) ultraviolet reactive acrylic or vinyl monomer, (D) epoxy resin and (E) organic solvent, wherein (C) ultraviolet reactive acrylic or vinyl monomer is represented by the following formula (1) or (2) Characterized in that it comprises at least one compound selected from among the compounds.
화학식 1Formula 1
화학식 2Formula 2
상기 화학식 1 내지 2에 있어서, 단량체의 한 분자 내에 부가된 에틸렌글리콜기의 총합(a+b+c)은 15 내지 30의 값을 갖는다.In Chemical Formulas 1 to 2, the sum (a + b + c) of the ethylene glycol groups added in one molecule of the monomer has a value of 15 to 30.
이와 같은 본 발명을 더욱 상세하게 설명하면 다음과 같다. The present invention will be described in more detail as follows.
(A)자외선 경화성이며 묽은 알칼리 수용액에 현상 가능한 수지 (A) UV-curable resin that can be developed in dilute alkaline aqueous solution
본 발명의 수지 조성물은 바인더 폴리머로서 자외선 경화성이며 묽은 알칼리 수용액에 현상 가능한 자외선 경화성 수지를 포함하는 바, 이는 분자 단위 내에 최소한 둘 이상의 에틸렌계 불포화 결합을 갖는 것으로 다음과 같은 화합물들을 예로 들 수 있다.: The resin composition of the present invention contains an ultraviolet curable resin as a binder polymer and developable in a dilute aqueous alkali solution, which has at least two ethylenically unsaturated bonds in a molecular unit, and examples thereof include the following compounds. :
1)노볼락형 에폭시 화합물과 에틸렌계 화합물과 a)불포화 카르복시산과의 반응에 의해 부분 또는 완전 에스테르 반응 생성물을 만들고 이 반응에 의해 에폭시기가 개환하여 생성되는 이차 수산기에 b)다가산 무수물을 부가반응시켜 수득한 최종 반응 생성물; 1) reaction of a novolak-type epoxy compound with an ethylene-based compound and a) unsaturated carboxylic acid to form a partial or complete ester reaction product, and b) polyhydric anhydride addition reaction to a secondary hydroxyl group produced by ring opening of an epoxy group by this reaction. Final reaction product obtained by
2)트리페놀메탄형 에폭시 화합물과 a)불포화 카르복시산과의 반응에 의해 부분 또는 완전 에스테르 반응 생성물을 만들고 이 반응에 의해 에폭시기가 개환하여 생성되는 이차 수산기에 b)다가산 무수물을 부가반응시켜 수득한 최종 반응생성물; 2) a partial or complete ester reaction product is produced by a reaction of a triphenol methane type epoxy compound with a) unsaturated carboxylic acid, and b) polyhydric anhydride is added to a secondary hydroxyl group produced by ring opening of an epoxy group. Final reaction product;
3)비스페놀형 에폭시 화합물과 a)불포화 카르복시산과의 반응에 의해 부분 또는 완전 에스테르 반응생성물을 만들고, 이 반응에 의해 에폭시기가 개환하여 생성되는 이차 수산기에 b)다가산 무수물을 부가반응시켜 수득한 최종 반응 생성물; 3) the final product obtained by reaction of a bisphenol-type epoxy compound with a) unsaturated carboxylic acid to form a partial or complete ester reaction product, and b) polyhydric anhydride addition reaction to a secondary hydroxyl group produced by ring opening of an epoxy group by this reaction. Reaction product;
4)글리시딜 (메타)아크릴레이트를 이용하여 아크릴 공중합체를 중합한 다음 이를 a)불포화 카르복시산과 반응시켜 부분 또는 완전 에스테르 반응 생성물을 만들고 이 반응에 의해 에폭시기가 개환하여 생성되는 이차 수산기에 b)다가산 무수물을 부가반응시켜 수득한 최종 반응 생성물. 4) Polymerize the acrylic copolymer with glycidyl (meth) acrylate and then a) react with the unsaturated carboxylic acid to form a partial or complete ester reaction product, and by this reaction, the secondary hydroxyl group produced by ring opening of the epoxy group is b. Final reaction product obtained by addition reaction of polyacid anhydride.
여기서, a)불포화 카르복시산으로는 (메타)아크릴산, 신남산, 알파-시안신남산, 크로톤산, 2-(메타)아크릴로일 히드록시 에틸 프탈산, 2-(메타)아크릴로일 히드록시 에틸 헥사 히드로프탈산과 같은 하나의 에틸렌계 불포화기를 가지는 화합물과; 트리메틸올 프로판 디(메타)아크릴레이트, 펜타에리쓰리톨 트리(메타)아크릴레이트, 디펜타에리쓰리톨 펜타(메타)아크릴레이트와 같은 수산기를 갖는 다관능 아크릴 화합물에 분자 내에 최소한 2개 이상의 카르복시산을 갖는 화합물 또는 분자 내에 1개 이상의 카르복시산 무수물을 가지는 화합물을 에스테르화 반응시킨 생성물 등을 예로 들 수 있으며, 당 분야에서는 (메타)아크릴산을 주로 사용하고 있다. Here, a) Unsaturated carboxylic acid includes (meth) acrylic acid, cinnamic acid, alpha-cyancinnamic acid, crotonic acid, 2- (meth) acryloyl hydroxyethyl phthalic acid, 2- (meth) acryloyl hydroxyethyl hexa A compound having one ethylenically unsaturated group such as hydrophthalic acid; At least two carboxylic acids in a molecule are added to a polyfunctional acrylic compound having a hydroxyl group such as trimethylol propane di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate The product etc. which esterified the compound which has one or more carboxylic acid anhydrides in a molecule | numerator, or a molecule | numerator are mentioned, For example, (meth) acrylic acid is mainly used in the field | area.
상기한 b)다가산 무수물로는 숙신산 무수물, 말레인산 무수물, 메틸 숙신산 무수물, 프탈린산 무수물, 이타콘산 무수물, 그로렌드산 무수물, 테트라히드로프탈 린산 무수물, 헥사히드로프탈린산 무수물, 트리멜리틴산 무수물, 피로멜리틴산 무수물 등이 있으며, 이중 당 분야에서는 말레인산 무수물, 테트라히드로프탈린산 무수물, 헥사히드로프탈린산 무수물을 많이 사용하고 있다. B) The polyhydric anhydrides described above include succinic anhydride, maleic anhydride, methyl succinic anhydride, phthalic anhydride, itaconic anhydride, gloronic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, and trimellitic anhydride. And pyromellitic anhydride, and the like, maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, and hexahydrophthalic anhydride are used in this field.
(B)광중합개시제 (B) photopolymerization initiator
광중합개시제로 유용한 화합물로는 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-(4-모르포리닐)-1-프로파논, 2-벤질-2-(디메틸아미노)-1-[4-(4-모르포리닐)페닐]-1-부타논, 비스(에타 5-2,4-사이클로펜타디엔-1-일)비스[2,6-디플루오로-3-(1H-피롤-1-일)페닐]티타니움, 포스핀 옥사이드 페닐 비스(2,4,6-트리메틸 벤조일), 벤조인, 벤조인 메틸 에테르와 같은 벤조인 메틸 에테르와 같은 벤조인 알킬 에스테르계, 2-에틸 안트라퀴논이나 1-클로로 안트라퀴논과 같은 안트라퀴논계, 이소프로필 티오산톤이나 2,4-디에틸 티오산톤과 같은 티오산톤계, 벤조페논이나 4-벤조일 4'-메틸디페닐 술피드와 같은 벤조페논계 등이 있으며 이중 하나 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. Compounds useful as photoinitiators include 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2- (4-morpholinyl) -1-propanone, 2-benzyl-2- (dimethylamino) -1 -[4- (4-morpholinyl) phenyl] -1-butanone, bis (eta 5-2,4-cyclopentadien-1-yl) bis [2,6-difluoro-3- (1H Benzoin alkyl esters such as benzoin methyl ether such as -pyrrole-1-yl) phenyl] titanium, phosphine oxide phenyl bis (2,4,6-trimethyl benzoyl), benzoin, benzoin methyl ether, 2- Anthraquinones such as ethyl anthraquinone or 1-chloro anthraquinone, thioxanthones such as isopropyl thioxanthone or 2,4-diethyl thioxanthone, benzophenone or 4-benzoyl 4'-methyldiphenyl sulfide There is a benzophenone-based, such as may be used in combination of one or two or more.
또한 광중합개시제의 광중합 속도나 증감효과를 위해 에틸 4-(디메틸아미노)벤조에이트, 2-에틸헥실 4-(디메틸아미노)벤조에이트, 2-(디메틸아미노)에틸 벤조에이트 및 트리에탄올 아민과 같은 3차 아민류 등을 더 포함할 수 있다. In addition, tertiary compounds such as ethyl 4- (dimethylamino) benzoate, 2-ethylhexyl 4- (dimethylamino) benzoate, 2- (dimethylamino) ethyl benzoate, and triethanol amine for the photopolymerization rate or sensitizing effect of the photoinitiator. Amines and the like may be further included.
광중합개시제의 함량은 유기 용매를 제외한 포토 솔더 레지스트 총량을 기준으로 하여 0.1 내지 20중량%, 바람직하게는 1 내지 10중량%를 사용하는 것이 자외선에 대하여 적절한 광활성을 가질 수 있다. The content of the photopolymerization initiator may have appropriate photoactivity against ultraviolet rays using 0.1 to 20% by weight, preferably 1 to 10% by weight, based on the total amount of photo solder resists excluding the organic solvent.
(C)자외선 반응형 아크릴계 또는 비닐계 단량체 (C) UV Responsive Acrylic or Vinyl Monomer
본 발명의 수지 조성물은 자외선 반응형 아크릴계 또는 비닐계 단량체로서 상기 화학식 1 또는 2로 표시되는 화합물 중 선택된 1종 이상의 화합물을 포함한다. 화학식 1 또는 2로 표시되는 화합물에 있어서 에틸렌글리콜 단위의 반복단위 수의 합, 즉 a+b+c는 15 내지 30인 것이 바람직한 바, 만일 그 합이 15미만일 경우에는 박리속도가 늦고 잔사가 발생할 가능성이 높으며 30초과면 박리속도는 빠르나 해상성이 낮아지고 내열성에 문제가 발생할 수 있다. 이같이 친수성이 에틸렌글리콜로 분자쇄를 연장시킨 아크릴계 또는 비닐계 화합물을 사용하게 되면 일반적인 박리액인 가성소다 등에 대해 벗겨짐성이 좋아진다.The resin composition of the present invention includes at least one compound selected from the compounds represented by Formula 1 or 2 as the UV-responsive acrylic or vinyl monomer. In the compound represented by the formula (1) or (2), the sum of the number of repeating units of ethylene glycol units, that is, a + b + c, is preferably 15 to 30. If the sum is less than 15, the peeling rate is slow and residues occur. It is highly probable and the surface peeling speed is over 30 seconds, but resolution is low and problems with heat resistance may occur. In this way, when the acrylic or vinyl compound having the hydrophilicity extended from the molecular chain with ethylene glycol is used, peeling property is improved with respect to caustic soda, which is a general stripping solution.
이같은 역할을 하는 화학식 1 또는 2로 표시되는 화합물은 각각 단독으로 사용하여도 좋고 혼합하여 사용할 수도 있다. The compounds represented by the formula (1) or (2) having such a role may be used alone or in combination.
한편, 이와 더불어 다른 자외선 반응형 아크릴계 또는 비닐계 단량체를 혼용할 수도 있는데, 이들 단량체를 상기 화학식 1 또는 2로 표시되는 화합물과 혼용시 그 함량은 전체 아크릴계 또는 비닐계 단량체 중 70중량% 이내, 바람직하게는 20 내지 50중량%이다. 만일, 그 함량이 70중량% 초과면 박리성이 저하되는 문제가 있다. On the other hand, in addition to this may be mixed with other UV-responsive acrylic or vinyl monomers, when used in combination with the compound represented by the formula (1) or 2, the content is within 70% by weight of the total acrylic or vinyl monomer, preferably Preferably from 20 to 50% by weight. If the content exceeds 70% by weight, there is a problem that the peelability is lowered.
사용 가능한 자외선 경화형 아크릴계 또는 비닐계 단량체로는 2-히드록시 에틸(메타)아크릴레이트, 2-히드록시프로필 (메타)아크릴레이트, 테트라히드로푸르푸릴 (메타)아크릴레이트, 2-페녹시에틸 (메타)아크릴레이트, 글리시딜 (메타)아크릴레이트, 이소보닐 (메타)아크릴레이트, 카프로락톤 (메타)아크릴레이트, 에톡시레이티드 (메타)아크릴레이트, 프로폭시레이티드 (메타)아크릴레이트, 에틸렌 글리콜 디(메타)아크릴레이트, 프로필렌 글리콜 디(메타)아크릴레이트, 1,4-부탄디올 디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올 디(메타)아크리렐이트, 폴리에틸렌 글리콜 디(메타)아크릴레이트, 폴리프로필렌 글리콜 디(메타)아크릴레이트, 에톡시레이티드 비스페놀 A 디(메타)아크릴레이트, 프로폭시레이티드 비스페놀 A 디(메타)아크릴레이트, 트리메틸올프로판 트리(메타)아크릴레이트, 에톡시레이티드 트리메틸올프로판 트리(메타)아크릴레이트, 프로폭시레이티드 트리메틸올프로판 트리(메타)아크릴레이트, 글리세릴 트리(메타)아크릴레이트, 프로폭시레이티드 글리세릴 트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리쓰리톨 테트라(메타)아크릴레이트, 디트리메틸올프로판 테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에리쓰리톨 펜타(메타)아크릴레이트, 디펜타에리쓰리톨 헥사(메타)아크릴레이트 또는 우레탄계 아크릴레이트 등을 들 수 있다.UV curable acrylic or vinyl monomers that can be used include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, and 2-phenoxyethyl (meth). ) Acrylate, glycidyl (meth) acrylate, isobonyl (meth) acrylate, caprolactone (meth) acrylate, ethoxylated (meth) acrylate, propoxylated (meth) acrylate, ethylene Glycol di (meth) acrylate, propylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) ) Acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, ethoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, propoxylated bisphenol A di (meth) acrylate, trimethylolpropane Tri (meth) acrylate, ethoxylated trimethylolpropane tri (meth) acrylate, propoxylated trimethylolpropane tri (meth) acrylate, glyceryl tri (meth) acrylate, propoxylated glyceryl Tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, ditrimethylolpropane tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) Acrylate or urethane acrylate and the like.
이와같은 자외선 반응형 아크릴계 또는 비닐계 단량체의 총 함량은 상기한 (A)자외선 경화성이며 물은 알칼리 수용액에 현상 가능한 수지의 고형분 함량 100중량부에 대해 1 내지 70중량부, 바람직하게는 10 내지 40중량부이다. 만일 그 함량이 (A)자외선 경화성이며 묽은 알칼리 수용액에 현상 가능한 수지의 고형분 함량 100중량부에 대해 1중량부 미만이면 자외선 경화성이 부족하여 감도 및 해상성이 저하되고 과도한 현상으로 인하여 경화된 솔더 레지스트 패턴이 솔더링 및 도금 공정에서 탈락하는 문제가 발생할 수 있다. 또한 40중량부 초과면 지촉 건조성이 저하되고, 솔더 내열성에 문제가 발생할 수 있다. The total content of such an ultraviolet-responsive acrylic or vinyl monomer is (A) ultraviolet curable as described above, and water is 1 to 70 parts by weight, preferably 10 to 40 parts by weight, based on 100 parts by weight of the solid content of the resin which can be developed in an aqueous alkali solution. Parts by weight. If the content is (A) UV-curable and less than 1 part by weight based on 100 parts by weight of the solid content of the resin which can be developed in a dilute alkali aqueous solution, the UV-curability is insufficient, so that the sensitivity and resolution are lowered and the cured solder resist is caused by excessive development. The problem may occur that the pattern falls out of the soldering and plating process. In addition, if it exceeds 40 parts by weight, the contact dryness may be lowered, and a problem may occur in solder heat resistance.
(D)에폭시 화합물 (D) epoxy compound
본 발명에서 사용되는 에폭시 화합물은 하나의 분자 중에 적어도 2개 이상의 에폭시기를 가지는 에폭시 화합물이다. The epoxy compound used in the present invention is an epoxy compound having at least two or more epoxy groups in one molecule.
이와같은 에폭시 화합물로는 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 트리글리시딜 이소시아누레이트, YX-4000H(Yuka Shell Epoxy Kabushiki Kaisha사 제조) 등의 비페놀형 에폭시 수지, 소르비톨 폴리글리시딜 에테르, N-글리시딜형 에폭시 수지, 알리사이클릭형 에폭시 수지(예를 들면 Daicel Chemical Industries, Ltd.사의 EHPE-3150), 폴리올, 폴리글리시딜 에테르 화합물, 글리시딜 에테르 화합물, 트리스(하이드록시페닐)메탄계 다기능성 에폭시 수지, 수소화된 비스페놀 A형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔-페놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 또는 에폭시기를 가진 비닐 중합 폴리머 등을 들 수 있다. 이와같은 화합물들 중 하나 또는 2 이상의 조합을 사용할 수 있다. Such epoxy compounds include phenol novolak type epoxy resins, cresol novolak type epoxy resins, bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, triglycidyl isocyanurates, and YX-4000H (Yuka Shell Epoxy Kabushiki Kaisha) Non-phenolic epoxy resins such as manufactured), sorbitol polyglycidyl ether, N-glycidyl type epoxy resins, alicyclic epoxy resins (e.g., EHPE-3150 manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), polyols, poly Glycidyl ether compound, glycidyl ether compound, tris (hydroxyphenyl) methane-based multifunctional epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, dicyclopentadiene-phenol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, or epoxy group And vinyl polymers having a polymer. One or a combination of two or more of these compounds may be used.
에폭시 화합물의 함량은 상기한 (A)자외선 경화성이며 묽은 알칼리 수용액에 현상 가능한 수지의 고형분 함량 100중량부에 대하여 1 내지 70중량부, 바람직하게는 20 내지 60중량부이다. 만일 그 함량이 (A)자외선 경화성이며 묽은 알칼리 수용액에 현상 가능한 수지의 고형분 함량에 대하여 1중량부 미만이면 열 경화성이 부족하여 솔더 내열성, 도금 내성이 저하되며, 70중량부 초과면 건조 후 현상성의 급격한 저하로 인해 현상 부위에서의 솔더 레지스트 잔사가 발생될 수 있다. The content of the epoxy compound is 1 to 70 parts by weight, preferably 20 to 60 parts by weight based on 100 parts by weight of the solid content of the resin (A), which is ultraviolet curable and developable in a dilute aqueous alkali solution. If the content is (A) ultraviolet curable and less than 1 part by weight relative to the solids content of the resin which can be developed in a dilute alkali aqueous solution, the heat curability is insufficient and the solder heat resistance and plating resistance are lowered. Sudden deterioration may result in solder resist residues at the developing site.
(E)유기용매 (E) organic solvent
본 발명에서 사용 가능한 유기 용매는 헥산, 옥탄, 데칸과 같은 지방족 탄화수소, 에틸 벤젠, 프로필 벤젠, 톨루엔, 크실렌과 같은 방향족 탄화수소, 에탄올, 프로판올, 이소프로판올, 부탄올, 2-메톡시 프로판올, 헥산올과 같은 알콜류, 디에틸렌 글리콜 모노 에틸 에테르, 디에틸렌 글리콜 모노 메틸 에테르, 디프로필렌 글리콜 모노 메틸 에테르와 같은 글리콜 에테르류와 디에틸렌글리콜 모노에틸 에테르 아세테이트와 같은 글리콜 에테르의 에스테르화물, 아세톤, 메틸에틸케톤과 같은 케톤류, 솔벤트 나프타, 석유 나프타와 같은 석유 용매가 있으며 자외선 경화성 수지에 대한 용해도와 건조조건을 고려하여 하나 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다. Organic solvents usable in the present invention are aliphatic hydrocarbons such as hexane, octane, decane, aromatic hydrocarbons such as ethyl benzene, propyl benzene, toluene, xylene, ethanol, propanol, isopropanol, butanol, 2-methoxy propanol, hexanol Esters of alcohols, glycol ethers such as diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, and glycol ethers such as diethylene glycol monoethyl ether acetate, such as acetone, methylethylketone There are petroleum solvents such as ketones, solvent naphtha, petroleum naphtha, and one or two or more kinds thereof may be mixed in consideration of solubility and drying conditions for the ultraviolet curable resin.
그밖에 본 발명의 포토 솔더 레지스트 조성물은 무기 분말, 소포제 등과 같은 첨가제, 열 경화 촉진제, 안료, 자외선 경화성 올리고머나 폴리머, 고분자량의 중합체 등을 첨가할 수 있다. 무기 분말로는 황산 바륨, 이산화티탄, 실리카, 탈크, 산화알루미늄, 탄산칼슘, 티탄바륨, 산화아연, 벤토나이트 등을 사용할 수 있으며, 입자 형태 및 크기를 고려하여 하나 또는 2종 이상을 혼합하여 자외선 경화성이며 묽은 알칼리 수용액에 현상가능한 수지에 충분히 분산시켜 사용할 수 있다. In addition, in the photo solder resist composition of the present invention, an additive such as an inorganic powder, an antifoaming agent, a thermal curing accelerator, a pigment, an ultraviolet curable oligomer or polymer, a high molecular weight polymer, and the like can be added. As the inorganic powder, barium sulfate, titanium dioxide, silica, talc, aluminum oxide, calcium carbonate, titanium barium, zinc oxide, bentonite, and the like can be used. It can be used by fully disperse | distributing to developable resin in dilute aqueous alkali solution.
아울러, 프탈로시아닌 그린, 프탈로시아닌 블루, 디아조옐로우, 불용성 아조 안료, 크리스탈 바이올렛, 카본블랙과 같은 착색제와 실리콘계 또는 아크릴계 소포제 및 레벨링제, 흐름성 방지제와 같은 요변제의 사용이 가능하며, 본 발명의 솔더 레지스트 조성물의 열경화 속도를 향상시킬 목적으로 디시안디아미드, 디시안디아미드 유도체, 멜라민, 멜라민 유기산염, 멜라민 유도체, 2-메틸 이미다졸이나 2-에틸 4-메틸 이미다졸 또는 2-페닐 4-메틸 이미다졸과 같은 이미다졸류 및 그 유도 체, 우레아, 우레아 유도체, 보론 트리플루오라이드의 착화물, 페놀류, 트리페닐포스핀, 트리에틸 아민과 같은 3급 아민류, 다가산 무수물, 4차 암모늄염이 사용될 수 있으며 건조 관리폭을 고려하여 하나 또는 2종 이상의 화합물을 혼합 사용할 수 있다. In addition, it is possible to use colorants such as phthalocyanine green, phthalocyanine blue, diazo yellow, insoluble azo pigment, crystal violet, carbon black, and thixotropic agents such as silicone-based or acrylic antifoaming agents and leveling agents and flow preventing agents, and the solder of the present invention. Dicyandiamide, dicyandiamide derivatives, melamine, melamine organic acid salts, melamine derivatives, 2-methyl imidazole or 2-ethyl 4-methyl imidazole or 2-phenyl 4-methyl for the purpose of improving the thermal curing rate of the resist composition. Imidazoles such as imidazoles and derivatives thereof, urea, urea derivatives, complexes of boron trifluoride, phenols, tertiary amines such as triphenylphosphine, triethyl amine, polyacid anhydride, quaternary ammonium salts may be used One or two or more compounds may be mixed in consideration of drying control width.
본 발명의 자외선 경화성 및 열 경화성 수지 조성물인 액상 포토 솔더 레지스트를 적용하기 위한 바람직한 방법은 다음과 같다. The preferable method for applying the liquid photo solder resist which is the ultraviolet curable and thermosetting resin composition of this invention is as follows.
스크린, 스프레이, 커텐, 침적, 롤 또는 스핀 방식의 인쇄기를 통하여 액상 포토 솔더 레지스트를 기판(일반적으로 동박이 형성된 에폭시 기판)에 적정 두께만큼 도포한 후 60∼100℃에서 건조하여 솔더 레지스트에 함유된 용매 성분을 휘발시킨다. 바람직하게는 70∼85℃에서 실시하는 것이 좋으며, 건조시간은 용매의 휘발속도와 솔더 레지스트의 건조 관리 폭을 고려하여 실시한다. 그 다음으로는 기판을 실온의 온도(15∼25℃)로 냉각시킨 후, 원하는 패턴이 형성된 네가티브 방식의 마스크를 기판에 직접 혹은 간접의 방법으로 적용시키고 자외선을 조사한다. 이때 사용되는 자외선 램프는 저압 수은등, 중합 수은등, 고압 수은등, 초고압 수은등, 제논 렘프, 메탈할라이드 램프 등을 들 수 있으나, 바람직하게는 고압 수은등, 메탈할라이드 램프이다. 이후 묽은 알칼리 수용액에서 자외선이 조사되지 않은 솔더 레지스트 부분을 현상하여 솔더 레지스트의 패턴을 얻는다. 이렇게 형성된 솔더 레지스트 패턴을 130∼180℃의 온도, 바람직하게는 140∼160℃의 온도에서 열 경화하여 포토 솔더 레지스트의 열 경화성 성분을 경화하여 원하는 수준의 도막 강도와 표면 경도 그리고 기판에 대한 밀착력을 갖게 한다. 또한 이러한 공정에 현상 후에 자외선 경화를 한번 더 실시할 수 있는데, 이것은 현상 후 미반응된 자외선 경화성분을 완전히 반응시키고 형성된 포토 솔더 레지스트 표면의 성질(표면 장력 등의 성질)을 개질할 수 있다. The liquid photo solder resist is applied to a substrate (usually an epoxy substrate with copper foil) by a screen, spray, curtain, deposition, roll or spin printing machine, and then dried at 60 to 100 ° C. The solvent component is volatilized. Preferably, it is good to carry out at 70-85 degreeC, and drying time considers the volatilization rate of a solvent and the drying control width of a soldering resist. Next, after cooling the substrate to room temperature (15-25 ° C.), a negative mask having a desired pattern is applied directly or indirectly to the substrate and irradiated with ultraviolet rays. In this case, the ultraviolet lamp used may include a low pressure mercury lamp, a polymeric mercury lamp, a high pressure mercury lamp, an ultra high pressure mercury lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, and the like, and preferably a high pressure mercury lamp and a metal halide lamp. Thereafter, a portion of the solder resist not irradiated with ultraviolet rays is developed in a dilute aqueous alkali solution to obtain a pattern of the solder resist. The solder resist pattern thus formed is thermally cured at a temperature of 130 to 180 ° C., preferably at 140 to 160 ° C., to cure the thermosetting component of the photo solder resist to obtain a desired level of coating strength, surface hardness, and adhesion to the substrate. Have it. In addition, after the development, the UV curing may be performed once more, which may completely react the unreacted ultraviolet curing component after development and modify the properties (such as surface tension) of the surface of the formed photo solder resist.
현상 단계에서 사용할 수 있는 묽은 알칼리 수용액으로는 대표적으로 탄산나트륨 수용액을 사용하며, 이밖에 탄산칼륨 수용액, 탄산암모늄 수용액, 탄산수소나트륨 수용액, 탄산수소칼륨 수용액을 사용할 수 있고, 경우에 따라서 현상액의 거품이 발생하는 것이 방지하기 위하여 실리콘계 또는 아크릴계 소포제를 사용하기도 한다. 또한 상기 묽은 알칼리 수용액을 대체할 수 있는 현상액으로는 에탄올 아민, 디에탄올 아민, 트리에탄올 아민, 이소프로판올 아민, 디이소프로판올 아민과 같은 유기 아민을 사용하는 것이 바람직하다. As the diluted alkaline aqueous solution that can be used in the developing step, typically, an aqueous solution of sodium carbonate is used. In addition, an aqueous solution of potassium carbonate, an aqueous solution of ammonium carbonate, an aqueous solution of sodium bicarbonate, and an aqueous solution of potassium hydrogen carbonate may be used. Silicone- or acrylic antifoaming agents may be used to prevent them from occurring. In addition, it is preferable to use organic amines such as ethanol amine, diethanol amine, triethanol amine, isopropanol amine, and diisopropanol amine as a developing solution which can replace the diluted alkaline aqueous solution.
이하, 본 발명을 실시예에 의거 상세히 설명하면 다음과 같은 바, 본 발명이 실시예에 의해 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to Examples, but the present invention is not limited by the Examples.
실시예 1 내지 4 및 비교예 1 내지 3Examples 1-4 and Comparative Examples 1-3
다음 표 1의 조성의 솔더 레지스트 조성물을 이용하여 각각의 액상 포토 솔더 레지스트 용액을 제조하고, 다음과 같은 공정을 거쳐서 본 발명의 포토 솔더 레지스트 도막을 얻었다. Each liquid photo solder resist solution was prepared using the soldering resist composition of the following Table 1, and the photo solder resist coating film of this invention was obtained through the following process.
1)도포(인쇄) 1) Application (printing)
각각의 제조된 포토 솔더 레지스트를 스크린 인쇄기로 동박 적층물에 30㎛의 두께(동박위 기준)로 균일하게 도포하였다. Each prepared photo solder resist was uniformly applied to the copper foil laminate with a screen printer with a thickness of 30 μm (copper phase basis).
2)건조 2) drying
포토 솔더 레지스트가 도포된 동박 적층물은 80℃의 건조기에서 20분간 용매를 휘발하여 20㎛의 두포 두께를 가지도록 하였다. The copper foil laminate coated with the photo solder resist was volatilized for 20 minutes in a dryer at 80 ° C. to have a thickness of 20 μm.
3)노광 3) exposure
원하는 패턴이 형성된 네가티브 방식의 마스크를 솔더 레지스트 도막 위에 직접 접촉시킨 후, 메탈할라이드 램프가 장착된 자외선 조사기를 이용하여 300mJ/㎠의 광량으로 포토 솔더 레지스트를 자외선 경화시켰다. After the negative mask having the desired pattern was directly contacted on the solder resist coating film, the photo solder resist was ultraviolet cured at a light amount of 300 mJ / cm 2 using an ultraviolet irradiator equipped with a metal halide lamp.
4)현상 4) phenomenon
1.0중량%의 탄산나트륨 수용액에 노광 작업이 끝난 동박 적층 기판을 80초 동안 통과시켜 자외선이 조사되지 않은 부분을 선택적으로 제거하였다. The copper foil laminated substrate after exposure operation was passed through 1.0 weight% of sodium carbonate aqueous solution for 80 second, and the part which was not irradiated with ultraviolet rays was selectively removed.
5)경화단계 5) Hardening stage
현상이 끝난 동박 적층기판을 150℃에서 50분간 경화하여 최종의 솔더 레지스트 도막을 형성하였다. The developed copper foil laminated substrate was cured at 150 ° C. for 50 minutes to form a final solder resist coating film.
구체 평가방법은 다음과 같으며 그 결과는 다음 표 2와 같다. Specific evaluation methods are as follows, and the results are shown in Table 2 below.
1)건조관리 폭 1) Drying Management Width
포토 솔더 레지스트를 동박 적층 기판에 30㎛의 두께(동박위 기준)로 균일하게 도포한 후 80℃ 온도에서 50, 60, 70, 80, 90분까지 각각의 5가지 조건으로 건조를 실시하였다. 그리고 나서 15∼25℃의 온도에서 냉각한 후 솔더 레지스트 표면 온도가 20℃ 정도가 되면 네가티브 방식의 마스크를 그 위에 직접 접촉한 후 감압 밀착하여 300mJ/㎠의 광량에서 노광을 실시하였다. 노광이 끝나면 1.0중량%의 탄산나트륨 수용액에 80초 동안 현상과 80초 동안 수세를 하여 자외선 조사가 되지 않은 부분의 솔더 레지스트가 잔사없이 깨끗이 제거되는지 여부를 관찰하였다. The photo solder resist was uniformly applied to a copper foil laminated substrate at a thickness of 30 μm (copper foil basis), and then dried under five conditions at 50 ° C. to 50, 60, 70, 80, and 90 minutes at 80 ° C. temperature. Then, after cooling at the temperature of 15-25 degreeC, when the soldering resist surface temperature became about 20 degreeC, the negative type mask was directly contacted on it, and it contacted under reduced pressure, and exposed at the light quantity of 300mJ / cm <2>. After the exposure, the developer was washed with 1.0 wt% aqueous sodium carbonate solution for 80 seconds and washed with 80 seconds to observe whether the solder resist of the non-ultraviolet irradiation was removed without residue.
잔사없이 깨끗하게 현상되면 ○, 부분적으로 잔사가 생기면 △, 전체적으로 잔사가 생기거나 현상이 되지 않으면 ×로 표기하여 구분하였다. When the image is developed cleanly without residues, ○, partial residues are generated △, and if residues are not formed or developed as a whole, they are marked with ×.
2)지촉 건조성 2) Dry touch
포토 솔더 레지스트를 동박 적층 기판에 30㎛의 두께(동박위 기준)로 균일하게 도포한 후 포토 솔더 레지스트에 포함된 용매를 80℃의 온도에서 20분간 건조하였다. 이때 건조된 용매의 부피로 인하여 솔더 레지스트는 20㎛ 정도의 두께를 가지고 있으며 이를 15∼25℃의 온도에서 냉각하였다. 솔더 레지스트 표면온도가 20℃ 정도가 되면 네가티브 방식의 마스크를 그 위에 직접 접촉한 후 감압 밀착하여 300mJ/㎠의 광량에서 노광을 실시하였다. 그 후에 솔더 레지스트 표면에서 마스크를 벗겨낼 때 마스크가 쉽게 탈착가능하고 솔더 레지스트 표면에 마스크의 압착 자국이 남지 않으면 ○, 마스크의 탈착은 용이하나 솔더 레지스트 표면에 마스크의 압착 자국이 남으면 △, 마스크의 탈착이 어려우면 ×로 표기하여 구분하였다. The photo solder resist was uniformly applied to a copper foil laminated substrate at a thickness of 30 μm (copper foil basis), and then the solvent contained in the photo solder resist was dried at a temperature of 80 ° C. for 20 minutes. At this time, the solder resist has a thickness of about 20㎛ due to the volume of the dried solvent and it was cooled at a temperature of 15 ~ 25 ℃. When the soldering resist surface temperature became about 20 degreeC, the negative mask was directly contacted on it, and it contacted under reduced pressure, and exposed at the light quantity of 300mJ / cm <2>. Then, when the mask is peeled off from the surface of the solder resist, the mask is easily detachable, and if the mask is not left on the surface of the solder resist, the mask is easily detachable, but if the mask is left on the surface of the solder resist, △, If desorption was difficult, it was marked with ×.
3)해상성 3) Resolution
포토 솔더 레지스트를 동박 적층 기판의 에폭시 면에 50㎛의 두께(동박위 기준)로 균일하게 도포한 후 포토 솔더 레지스트에 포함된 용매를 80℃의 온도에서 20분간 건조하였다. 이때 건조된 용매의 부피로 인하여 솔더 레지스트는 35㎛ 정도 의 두께를 가지고 있으며 이를 15∼25℃의 온도에서 냉각하였다. 솔더 레지스트 표면 온도가 20℃ 정도가 되면 30, 40, 50, 60, 70, 80, 90㎛의 회로폭이 새겨진 네가티브 방식의 마스크를 그 위에 직접 접촉한 후 감압 밀착하여 300mJ/㎠의 광량에서 노광을 실시하였다. 노광이 끝나면 1.0중량%의 탄산나트륨 수용액에 120초 동안 현상과 120초 동안 수세하여 솔더 레지스트가 과현상되어 제거되지 않고 남아있는 네가티브 마스크의 회로폭을 기준으로 비교하며, 회로폭이 작을수록 우수하다. The photo solder resist was uniformly applied to the epoxy side of the copper foil laminated substrate at a thickness of 50 μm (copper foil basis), and the solvent contained in the photo solder resist was dried at a temperature of 80 ° C. for 20 minutes. At this time, due to the volume of the dried solvent, the solder resist has a thickness of about 35㎛ and it was cooled at a temperature of 15 ~ 25 ℃. When the solder resist surface temperature is about 20 ° C, a negative mask having a circuit width of 30, 40, 50, 60, 70, 80, or 90 µm is directly contacted thereon, and then exposed under reduced pressure to be exposed at a light quantity of 300 mJ / cm 2. Was carried out. After the exposure, 1.0 wt% aqueous sodium carbonate solution was developed for 120 seconds and washed with 120 seconds for the solder resist to be over-developed and compared with the circuit width of the negative mask remaining. The smaller the circuit width, the better.
4)밀착력 4) adhesion
경화 공정이 끝난 포토 솔더 레지스트가 인쇄된 동박 적층 기판에 대해 크로스커트 밀착력 테스트를 실시하였다. JIS D 0202에 따라 실시하였으며, 기판에서 하나의 격자라도 탈착이 되지 않았으면 ○, 1∼10개 정도의 격자가 탈착되면 △, 그리고 10개 이상의 격자가 탈착되면 ×로 표시하였다. The crosscut adhesion test was done about the copper foil laminated board | substrate with which the hardening process finished photo solder resist was printed. It was carried out according to JIS D 0202, and if any one lattice was not detached from the substrate, it was indicated by ,, Δ when 1 to 10 lattices were detached, and × when 10 or more lattices were detached.
5)솔더 내열성 5) solder heat resistance
경화 공정이 끝난 포토 솔더 레지스트가 인쇄된 동박 적층 기판에 대해 저잔사 솔더 플럭스인 청솔화학회사 제조의 케미텍 177을 도포하고 288℃의 용융된 솔더조에 10초 동안 침지시켰다. 이때 각각의 조성에 대해 플럭스 도포에서 솔더조에 침지를 1회, 3회, 5회 실시하여 포토 솔더 레지스트의 들뜸을 관찰하였다. ○는 포토 솔더 레지스트이 들뜸이 전혀 없는 경우이며, △는 약간 들뜸이 나타난 경우이고, ×는 들뜸이 심하게 나타난 경우이다. Chemitec 177, manufactured by Cheongsol Chemical Co., Ltd., a low residue solder flux, was applied to the copper foil laminated substrate printed with the photo solder resist after the curing process, and immersed in a molten solder bath at 288 ° C. for 10 seconds. At this time, immersion in the solder bath was performed once, three times, and five times for each composition, and the lifting of the photo solder resist was observed. (Circle) is a case where a photo solder resist has no lifting at all, (triangle | delta) is a case where a little float is shown, and x is a case where a float is shown severely.
6)무전해 니켈 및 치환 금도금 내성 6) Electroless nickel and substituted gold plating resistance
경화 공정이 끝난 포토 솔더 레지스트가 인쇄된 동박 적층 기판에 대해 무전 해 니켈 그리고 치환 금 도금을 실시하였다. 이때 공정은 일반적인 무전해 니켈 및 치환 금 도금 공정을 따르며 공정이 끝난 후의 도금 두께는 니켈은 5㎛, 금은 0.08㎛이 되었다. 그리고 나서 무전해 니켈과 치환 금 도금에 대한 본 발명의 포토 솔더 레지스트의 내성을 평가하기 위하여 접착 테이프를 솔더 레지스트 표면에 압착시킨 후 탈착하였다. 이때 접착 테이프에 솔더 레지스트가 묻어 나오지 않으면 ○, 소수의 솔더 레지스트가 묻어나오면 △, 그리고 다수의 솔더 레지스트가 기판에서 박리되면 ×로 표시하였다. Electroless nickel and substituted gold plating were performed on the copper foil laminated substrates on which the curing process was completed. At this time, the process follows a general electroless nickel and substituted gold plating process, and the plating thickness after the process is 5 µm for nickel and 0.08 µm for gold. Then, in order to evaluate the resistance of the photo solder resist of the present invention to electroless nickel and substituted gold plating, the adhesive tape was pressed onto the solder resist surface and then detached. At this time, if a solder resist did not come out on the adhesive tape, (circle), if a few solder resists came out, (triangle | delta), and when many solder resists peeled from a board | substrate, it marked with x.
7) 박리성7) Peelability
경화 공정이 끝난 포토 솔더 레지스트가 인쇄된 동박 적층 기판에 대해 10% 부피분율의 가성소다 수용액을 80℃로 가열한 박리액에 15분 동안 침지한 후 수세하여 솔더 레지스트 도막이 완전히 박리되어 기판 상에 잔사가 전혀 없으면 ○, 세선부위나 기판위에 박리되지 않은 솔더 레지스트가 일부 남아있으면 △, 전혀 박리되지 않으면 ×로 표시하였다.On the copper-clad laminated substrate on which the photo-resist resist has been cured, a 10% by volume aqueous solution of caustic soda was immersed in a stripping solution heated to 80 ° C. for 15 minutes and washed with water to completely remove the solder resist coating film and leaving a residue on the substrate. When there is no at all,?, When a part of the solder resist which has not been peeled off on the thin wire part or the substrate remains,?
상기 표 2의 결과로부터, 본 발명에 따른 포토 솔더 레지스트 조성물(실시예 1 내지 4)은 우수한 해상성, 솔더 내열성, 내금도금성을 가지며, 특히 박리액에 대해 우수한 박리성을 가짐을 알 수 있다. 반면, 자외선 반응형 아크릴계 단량체로서 화학식 1 또는 2로 표시되는 화합물을 포함하지 않는 경우(비교예 1 내지 3)는 박리액에 대한 박리성이 떨어질 뿐만 아니라 내도금성 등도 떨어짐을 알 수 있다.을 갖는 공정 특성을 확인할 수 있었다. From the results of Table 2, it can be seen that the photo solder resist compositions (Examples 1 to 4) according to the present invention have excellent resolution, solder heat resistance, and plating resistance, and particularly have excellent peelability with respect to the stripping solution. . On the other hand, when the ultraviolet-responsive acrylic monomer does not contain the compound represented by the formula (1) or (2) (Comparative Examples 1 to 3) it can be seen that not only the peeling resistance to the peeling solution is poor but also the plating resistance and the like. Process characteristics could be confirmed.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명에 따라 화학식 1 또는 2로 표시 되는 화합물 중에서 선택된 화합물을 포함하는 자외선 경화성이며 열 경화성인 수지 조성물은 우수한 해상성과 내열성, 내금도금성을 가지면서 일반적인 박리액에 대한 벗겨짐성이 좋고 또한 잔사가 없기 때문에 재작업이 용이한 장점을 갖는다.As described in detail above, an ultraviolet curable and heat curable resin composition comprising a compound selected from the compounds represented by Formula 1 or 2 according to the present invention has excellent resolution, heat resistance, plating resistance, and Peelability is good and there is no residue, so it is easy to rework.
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