KR20060089751A - 전선 쌍 식별을 위한 그룹배선 장치, 시스템 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전선 쌍(wire pair) 식별을 진행하는 그룹배선 패치 장치 및 방법으로, 내장된(buit-in) 발광장치와 여과장치가 전선 쌍 리셉터클에 설치되는 것을 포함한다. 테스트 전압을 발광장치의 회로에 인가했을 때, 이 발광장치는 빛을 발생하여 전선 쌍을 식별하는 작업을 진행하게 된다. 통신신호 혹은 저전압 신호를 인가할 때, 상기 여과장치는 발광장치의 회로에서 발생되는 루프백 단락 현상을 저하시키거나 혹은 방지한다. 따라서 본 발명의 그룹배선 패치 장치는 전선 쌍을 식별하는 작업이 완성된 후에도 발광장치의 회로를 제거할 필요 없이 여전히 정상적인 통신신호 전송기능을 수행한다.

서버, 허브, 인터넷, 패치 패널, 전선 쌍, 케이블, 발광장치, 여과장치

Description

전선 쌍 식별을 위한 그룹배선 장치, 시스템 및 방법{A Group Wiring Patching System And Method For Wire Pair Identification}

본 발명은 전기전도체 소팅(sorting)에 관한 것으로, 특히 전선 쌍 식별을 위한 전압 공급기로 사용될 수 있는 패치(patch) 패널 등의 그룹 배선 패치 장치(device)의 개량에 관한 것이다.

현대는 언제 어디서나 선로로 신호전송을 하는 시대로 각기 다른 위치에 연결되는 각기 다른 전선(wires) 혹은 회로(circuits)의 전선 쌍 식별을 하는 것은 매우 필요한 일이다.

도 1을 참고하면, 이는 하나의 전형적인 통신시스템인데, 예를 들어 인터넷 서비스 제공시스템(ISP), 근거리 통신망(LAN), 광역 통신망(WAN), 도시권 통신망(MAN), 기업내부 통신망 시스템, 국제간 인터넷 시스템, 전화작업센터 등은 늘 수백 혹은 수천 개의 각기 다른 지역위치와 연관된 단말기 사용자가 동일 서버시스템(10)에서 제공하는 서비스를 사용한다.

어떤 사용자(11)는 모뎀시스템(112)을 통해 인터넷(111)으로부터 서버시스템(10)으로 연결하고, 어떤 사용자(12)는 먼 거리에 위치하는 로컬 서버(121)를 이용하여 이 서버시스템(10)에 연결하며, 또 어떤 사용자(13)는 동일한 건물에 위치 하는 각기 다른 층의 허브(131)로 이 서버시스템(10)에 연결하며, 또 다른 사용자(14)는 그들의 자리 혹은 작업탁자 부근에 위치하는 인터넷 콘센트(jack)(141)로 서버시스템(10)에 연결한다. 또한 어떤 사용자(15)는 서버시스템(10)에 접속하기 위해서 무선 인터넷 장치(151)와 무선허브(152)를 사용한다. 그리고 필요 시 다른 서버시스템(10a)과 이 서버시스템(10)의 연결을 진행한다.

상술한 모든 연결작업은 많건 작건 모두 소위 "전선(wires)" 혹은 "케이블(cables)"을 사용해 이 서버시스템(10)에 연결한다. 바로 이러한 이유로 인해 배선시스템(wiring system)는 매우 중요한 과제가 된다. 이 배선시스템 중에서 사방팔방에서 오는 수천 가닥이 서버시스템(10)에 연결되기 전에 먼저 집중되어 배선프레임(20), 예를 들어 패치 패널이 중첩된 곳(patch panel stack)에 연결된다.

이 방대한 배선시스템은 명확히 말하자면, 어떻게 효과적으로 이 많은 전선을 관리하느냐 하는 것이 매우 중요한 관건이다. 예를 들어 어떻게 패치 패널(21)의 어느 콘센트(jack)(211)가 어느 말단위치에 연결되는지를 식별하는가 하는 것이 중요하다.

배선시스템에서 전선 쌍을 식별하는 전통적인 방법은 두 명의 작업인원을 필요로 하는데, 그중 한 명은 패치 패널이 중첩된 곳(patch panel stack)(분배프레임(distribution frame)(20))에 위치하고, 다른 한 명은 각 단말 사용자 중의 한 위치에 배치된다. 단말기 사용자 위치의 작업인원이 설비를 조작하여 테스트 신호를 이 위치상의 선로에 전송하면, 패치 패널이 중첩된 곳 위치의 작업인원이 발성장치(speaker device)를 사용해 하나하나 순서대로 패치 패널이 중첩된 각 콘센 트(jack)에 삽입하고 순서대로 검사와 스캔작업을 진행하여 이 발성장치가 전술한 테스트 신호가 구동하여 발생시킨 테스트 소리(test tone)를 수신한다.

이때 발생된 테스트 소리의 특정한 전선 쌍(wire pair)이 식별되어 번호가 매겨져 나중에 식별에 사용된다. 이 과정이 계속해서 모든 전선 쌍이 모두 식별이 완료될 때까지 중복적으로 진행된다. 이러한 전통적인 전선 쌍 식별방법은 인력과 시간을 낭비할 뿐 아니라 전형적인 대형 배선시스템에서 수일 혹은 심지어 수 주일의 시간을 들여 전선 쌍을 식별하게 된다.

미국특허 US.PAT.NO.5,847,557호는 배선시스템의 전선 쌍 식별방법을 개시한 것이다. 전선 쌍 식별을 시작하기 전 패치 패널이 중첩된 곳(분배프레임)의 각 콘센트는 모두 지시 플러그에 삽입되고, 각 지시 플러그 중에는 모두 발광다이오드(LED)를 가지고 있다. 단말기 사용자 위치를 통해 테스트 전압을 제공하고 패치 패널이 중첩된 곳(분배프레임)에 이 단말기 사용자 위치의 지시 플러그를 연결해 이 테스트 전압을 이어 발광다이오드가 발광하게 한다. 이렇게 하여 이 특정 전선 쌍은 식별된다. 패치 패널이 중첩된 곳(분배프레임)에 위치하는 작업인원은 패치 패널에 중첩된 각 콘센트를 하나하나 스캔하지 않아도 되는데 이로써 시간과 노동력 원가를 절감할 수 있다.

그러나 미국특허 US.PAT.NO.5,847,557호에서 밝힌 전선 쌍 식별 방법은 여전히 결점을 갖고 있다. 예를 들어 이는 작업인원이 전선 쌍 식별을 하기 전에 먼저 모든 패치 패널이 중첩된 곳(배선프레임)의 모든 콘센트에 지시 플러그(수천개도 가능)를 꽂아야 한다. 그런 후 모든 전선 쌍 식별 작업이 완성된 후 다시 모든 지 시 플러그를 하나하나 패치 패널이 중첩된 곳(배선프레임)에서 뽑아내어야 한다. 이는 여전히 시간과 인력의 낭비를 초래한다.

또한, US.PAT.NO.5847557호의 기술에서는 발광다이오드(LED)를 직접 패치 패널이 중첩된 곳(배선프레임)의 콘센트에 내장할 수 없는데, 이는 발광다이오드(LED) 회로가 루프백 단락(loop back shorting)을 일으켜 심각하게 통신을 간섭하기 때문이다. 따라서 종래의 전선 쌍 식별방법은 여전히 개선의 여지가 있다고 하겠다.

본 발명의 주요 목적은 전선 쌍 식별을 진행하는 그룹배선 패치 장치(device)를 제공하는 것으로, 이 그룹배선 패치 장치는 내장된(built-in) 발광장치와 그 전선 쌍 리셉터클에 연결된 여과장치를 가지는 것을 포함한다. 테스트 전압을 상기 발광장치의 회로에 인가했을 때, 이 발광장치는 빛을 발생하여 전선 쌍을 식별하는 작업을 수행하게 된다. 통신주파수 신호 혹은 저전압 신호를 인가할 때, 상기 여과장치는 상기 발광장치의 회로에서 발생되는 루프백 단락 현상을 저하시키거나 혹은 방지한다. 따라서 본 발명의 그룹배선 패치 장치는 전선 쌍을 식별하는 작업이 완성된 후에도 발광장치의 회로를 제거할 필요 없이 여전히 정상적인 통신신호 전송기능을 진행한다.

비교적 좋은 점은, 본 발명의 여과장치에서 인위적인 전선(artificial wire)으로 저전압 루프백 단락을 피할 수 있다. 인위적인 전선의 개념은 큰 전기저항을 제공하여 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기가 저주파수 테스트 신호를 발생했을 때 이 발광장치와 여과장치의 회로를 통과하는 신호가 매우 미약해지고, 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기가 근본적으로 어떤 회로도 존재하지 않는다고 "여기는" 것이다.

비교적 좋은 점은, 본 발명의 발광장치는 두 개의 독립된 발광다이오드(LED)를 포함하는데, 이 양자는 병렬연접이되 극성은 상반된다. 이렇게 하여 케이블 테스트기에서 전송한 직류 테스트 전압의 방향이 어떤 가에 상관없이 발광다이오드 중의 하나가 발광하게 된다. 또한, 이 두 개의 발광다이오드의 발광색깔은 서로 다르며, 따라서 그 발광하는 색깔의 식별에 따라 전선 쌍 식별을 수행하는 동시에 두 케이블이 반대로 접속되었는지 여부를 판단한다.

이밖에 교류전압 혹은 기타 전술한 케이블 안정선(혹은 전기적 특성)으로부터 테스트기에서 발생한 저주파수 신호가 리셉터클에 가해졌을 때, 이 두 개의 발광 다이오드는 그 상태를 식별할 수 있도록 교대로 반짝거린다.

본 발명의 두 번째 목적은 새로운 케이블 테스트기를 제공하는데, 직류 테스트 전압의 기능을 제공하는 외에 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기의 기능을 가지고 있다. 상기 케이블 테스트기는 테스트전압 공급기, 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈, 통제기, 입력 인터페이스, 표시패널, 및 출력을 포함한다. 상기 테스트전압 공급기는 직류 테스트 전압을 제공하여 전선 쌍 식별작업을 진행한다. 상기 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈은 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트를 진행하는 데 필요한 모든 기능을 가지고 있다. 상기 입력 인터페이스, 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈 및 테스트 전압 공급기는 모두 상기 통제기에 연결된다. 상기 입력 인터페이스(예를 들어 조작지령의 입력 등)의 조작으로 상기 통제기는 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈과 테스트 전압 공급기 중의 하나에 전환연결하여 양자의 한 신호(혹은 전압)를 출력을 경유해 전송해 낸다. 한편, 상기 표시패널은 케이블 테스트기의 사용상태를 표시한다.

본 발명에서 밝히는 이 새로운 케이블 테스트기는 작업자가 동시에 전선 쌍 식별과 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트의 작업을 수행하게 하며, 두 번으로 나누어 중복적으로 테스트기를 하나하나 각 리셉터클 중에 삽입해 각각 전선 쌍 식별과 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 작업을 진행할 필요가 없다.

본 발명의 주요 원리는 내장된 발광장치와 그 전선 쌍 리셉터클에 연결된 여과장치를 가진 그룹배선 패치 장치를 제공함에 있다. 테스트 전압을 발광장치의 회로에 인가했을 때, 상기 발광장치는 빛을 발생하여 전선 쌍을 식별하는 작업을 수행하게 된다. 통신주파수 신호 혹은 저전압 신호를 인가할 때, 상기 여과장치는 발광장치의 회로에서 발생되는 루프백 단락 현상을 저하시키거나 혹은 방지한다. 따라서 본 발명의 그룹배선 패치 장치는 전선 쌍을 식별하는 작업이 완성된 후에도 발광장치의 회로를 제거할 필요 없이 여전히 정상적인 통신신호 전송기능을 수행한다.

아래 본 발명의 그룹배선 패치 장치 및 이를 이용한 전선 쌍 식별 과정에 대해 여러 구체적인 실시예로 상세히 설명하기로 한다.

도 2와 3을 참고하면, 이는 각각 본 발명의 그룹배선 패치 장치(40)의 한 구체적인 실시예의 입체 개략도와 A-A단면 개략도이다.

이 실시예 중 그룹배선 패치 장치(40)는 패치 패널의 형식이다. 기술 숙지자는 아래 형식에 대해 알 것이다. 패치 패널, 배선단말기, 콘센트(jack)형 패치 상자, 블록형 패치 상자, 각 층 출구 콘센트, 분배프레임(DF) 및 배선모듈 등, 이 그룹배선 패치 장치(40)(이하 패치 패널로 칭함)는 아래를 포함하되, 패널(41), 패널(41)에 고정설치되는 회로판(42), 패널(41)에 설치되며 회로판(42)에 연결되는 다수의 콘센트형의 전선 쌍 리셉터클(43), 회로판(42)에 연결되며 동시에 본 실시 예에서 전선 쌍 리셉터클(43)의 반대측에 위치하는 다수의 절연치환접촉(IDC:Insulation Displacement Contact)블록(44) 및 회로판(42)에 장치되며 각각 다수의 전선 쌍 리셉터클(43)에 연결되는 다수의 테스트 회로(45)이다.

패널(41) 앞측 표면에는 다수의 스티커 붙이는(Labelling) 구역(46)이 있어 각 전선 쌍 리셉터클(43)이 번호를 매기고 스티커를 붙이는 작업을 진행하게 제공한다. 이 패널(43)은 전선 쌍 리셉터클(43)과 회로판(42)에 대해 지지기능(supporting function)을 제공한다. 패널(41)에는 더욱 약간의 기구, 예를 들어 나사구멍(47)과 케이블 정리고리(48) 등을 설치하며, 나사구멍(47)은 패널(41)을 적당한 위치, 예를 들어 케이스, 프레임 혹은 지지대(rack)(도면에는 미표시)에 고정시킨다.

각 전선 쌍 리셉터클(43)은 적어도 두 접점(도면에는 미표시)을 포함하는데, 각 접점은 각각 도선에 연결된다(도면에는 미표시). 각 테스트 회로(45)는 각각 서로 대응되는 전선 쌍 리셉터클(43)의 두 개의 도선 사이에 연결되며, 나아가 발광장치(451)와 여과장치(452)를 포함한다. 이 발광장치(451)는 테스트 전압이 테스트 회로(45)에 가해질 때 밝은 빛을 방출한다. 여과장치(452)는 테스트 회로(45)와 발광장치(451)와 직렬연결된다. 여과장치(452)는 통신주파수 신호 혹은 저전압 신호가 접점에 가해졌을 때 테스트회로(45)에 루프백 단락 현상이 조성되는 것을 방지한다. 본 구체적인 실시 예 중에서 발광장치(451)는 발광다이오드(LED)인 것이 바람직하다. 패널(41)의 앞측 표면에는 다수의 작은 구멍(49)이 형성되고, 그 위치는 상기 발광장치(451)에 대응되며 발광장치(451)에서 발출되는 빛이 작은 구멍(49)을 통해 외부로 노출된다.

이하의 설명 중, 대부분의 구성요소는 상술한 실시 예와 동일 혹은 유사하다. 따라서 동일 혹은 유사한 구성요소는 동일 명칭과 번호를 부여하고 부연설명하지 않기 한다.

도 4는 본 발명의 그룹배선 패치 장치(40)의 테스트 회로(45)가 케이블 테스트기(60)에 배합되어 전선 쌍 식별을 진행하는데 사용되는 비교적 구체적인 실시 예의 개략도이다. 부호 WPR1,WPR2...WPRn는 서로 대응되게 연결되는 전선 쌍 리셉터클(43)(WPR)의 각 테스트회로(45)이다. 그리고 Outlet1,Outlet2...Outlet n등은 단말에 위치하며, 각지의 기타 단말 전선 쌍 리셉터클에 분포되어 있음을 표시한다. 이러한 단말 전선 쌍 리셉터클 Outlet1,Outlet2...Outlet n등은 불특정한 순서로 어지럽게 전선 혹은 케이블(70)로써 각각 서로 대응되는 전선 쌍 리셉터클(43) WPR1,WPR2...WPRn에 연결된다. 특기할 만한 것은 이러한 단말 전선 쌍 리셉터클은 콘센트형 혹은 플러그형으로 모뎀장치, 로컬서버, 허브, 인터넷 전선 콘센트(wall jack), 무선인터넷장치(wireless networking device) 혹은 또 다른 인터넷 시스템(communication system) 등에 설치된다. 도 4에서 예시한 이 구체적인 실시예 중에서 케이블 테스트기(60)는 직류(DC) 전원(61)과 전기저항(62)를 포함하는데, 단순히 직류 테스트전압을 각 단말 전선 쌍 리셉터클 Outlet1,Outlet2... Outlet n 중의 하나에 제공한다.

본 발명의 테스트 회로(45)의 실시예 중에서 테스트회로(45)는 각 그룹배선 패치 장치(40)의 전선 쌍 리셉터클(43)의 두 접점(431,432)에 연결된 두 도선(51,52) 사이에 접속된다. 적어도 하나의 발광장치(451)(예를 들어 발광다이오드(LED)와 적어도 하나의 여과장치(452)는 테스트 회로(45)에 직렬연결된다. 구체적인 실시예 중에서 여과장치(452)는 저역통과 필터(4521)와 인위적인 도선(4522)을 포함한다. 더욱 양호한 점은 저역통과 필터(4521)는 주파수가 200Hz 이하의 신호만 통과시키게 허락한다. 따라서 거의 모든 통신주파수 신호, 예를 들어 전화신호와 컴퓨터 인터넷신호 등을 포함하는 거의 모든 신호를 이 저역통과 필터(4521)에 의해 여과되며, 다만 저주파 신호, 예를 들어 교류(AC) 전압신호 혹은 기타 테스트 신호만 통과된다.

상기 인위적 도선(4522)은 상당한 길이의 전선(혹은 케이블)을 이용하는데, 이로써 케이블의 안정성 혹은 기타 전기적 특성 테스트를 진행할 때 두 접점(431,432)이 "단락(short-circuit)"이 발생한 것으로 검출되지 않는다. 인위적 도선(4522)의 원리는 상당히 큰 전기저항을 제공하는데, 따라서 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기가 저주파 신호를 발생할 때, 테스트 회로(45)를 통과한(즉 발광장치(451)와 여과장치(452)를 통과한) 신호는 매우 미약하여 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기가 두 접점(431,432)에 근본적으로 테스트 회로(45)가 존재하지 않는다고 "여기게(thinks)" 된다. 비교적 양호한 것은 상기 인위적 도선(431,432)은 400Ohm(오옴)보다 콘 전기저항을 가진 저항(resistor)이다. 그러나 주의할 만한 점은 인위적 도선(4522)의 전기저항이 각기 다른 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기에 따라 변한다는 것이다.

도 5를 참고하면 이는 본 발명 중 그룹배선 패치 장치의 테스트회로(45a)의 제2실시예 개략도이다.

본 실시예 중에서 이 테스트 회로(45a) 역시 전선 쌍 리셉터클의 두 접점(431,432) 사이에 접합되며 동시에 직렬연결의 발광장치(451a), 저역통과 필터(4521) 및 인위적 도선(4522)을 포함한다. 본 실시예에서 예시한 발광장치(451a)는 두 개의 독립된 발광다이오드(4511,4512)(LED)를 포함하는데, 양자는 병렬연결되나 극성은 상반된다. 이렇게 하여 케이블 테스트기(60)에서 전송한 직류 테스트 전압의 방향이 어떠하든 간에 하나의 발광다이오드(4511,4512)가 발광하게 된다. 또한 이 두 개의 발광다이오드(4511,4512)의 발광색깔은 서로 다르며, 따라서 그 발광하는 색깔로 식별하며 나아가 전선 쌍 식별을 진행하는 동시에 두 도선(51,52)이 상반되게 접속되었는지 여부를 판단한다. 이밖에 교류전압 혹은 기타 전술한 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기에서 발생한 저주파 신호가 두 접점(431,432)에 가해질 때, 두 발광다이오드(4511,4512)는 교대로 반짝거리며 그 상태를 식별할 수 있다(당연히 전압이 발광 다이오드(4511,4512)를 구동시킬 만큼 큰 경우에만 이러하다.).

도 6을 참고하면, 이는 본 발명의 케이블 테스트기(70)의 한 구체적인 실시예 개략도이다. 도 4와 다른 점은 도 6에서 예시한 이 케이블 테스트기(70)는 직류 테스트전압의 기능을 제공할 뿐 아니라 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트기의 기능도 가지고 있다. 이 케이블 테스트기(70)는 다음을 포함한다. 테스트 전압 공급기(71), 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈(72), 통제기(73), 입력 인터페이스(74), 표시패널(75) 및 출력(76). 이 출력(76)은 콘센트 혹은 플러그의 형식으로 케이블 연결에 제공된다. 상기 테스트 전압 공급기(71)는 적어도 직류전원(711)과 전기저항(712)을 포함한다.

상기 테스트 전압 공급기(71)는 직류 테스트 전압을 제공하여 상술한 전선 쌍 식별 작업을 진행하게 한다. 상기 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈(72)은 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트를 진행하는데 필요한 모든 기능을 가지고 있다. 여기서 말하는 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈(72)은 종래의 기술이며, 또한 시장에서 구매 혹은 제작주문이 가능하므로 여기서는 부연설명하지 않는다. 상기 입력 인터페이스(74)는 스위치, 버튼, 키패드 등의 형식이다. 상기 입력 인터페이스(74), 케이블 안정성(혹은 전성특성) 테스트 모듈(72) 및 테스트 전압 공급기(71)는 모두 상기 통제기(73)에 연결된다.

상기 입력 인터페이스(74)의 조작에 의해(예를 들어 조작지령의 입력 등) 상기 통제기(73)가 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 모듈(72) 및 테스트 전압 공급기(71) 중의 하나로 전환연결하여 양자 중 하나의 신호(혹은 전압)를 상기출력(76)을 통해 전송한다. 동시에 상기 표시패널(75)은 케이블 테스트기(70)의 사용상태를 표시한다. 본 발명의 새로운 케이블 테스트기(70)의 설계는 작업인원이 동시에 전선 쌍 식별과 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트의 작업을 진행하게 하며 두 번으로 나누어 중복적으로 하나하나 각 리셉터클에 삽입하여 전선 쌍 식별과 케이블 안정성(혹은 전기적 특성) 테스트 작업을 나누어 진행하기 않아도 되게 한다.

도 7,8,9,10을 참고하면, 본 발명자는 본 발명의 그룹배선 패치 장치(40) 및 시장에서 구매가 가능한 종래의 패치 패널에 대해 여러 종류의 특성테스트를 진행해 비교 분석한 것이다.

진행된 특성테스트는 "회귀손실(Return Loss)", "삽입손실(Insertion Loss)", "원단누화(FEXT)", "근단누화(NEXT)" 등이며, 그 테스트 결과는 각각 도 7,8,9와 10에 나타나 있다. 상술한 케이블 테스트기에 사용되는 것은 시장에서 구매한 휴렛팩커드(Hewlett-Packard)사가 제조한 "HP-8752C" 케이블 테스트기이다. 테스트를 받은 종래의 패치 패널은 테스트 회로, 발광다이오드 혹은 여과장치에 설치되지 않았다. 종래의 패치 패널에서 행한 테스트 결과는 도 7 내지 10의 실선이며, "W/O LED"로 표시되어 있다.

테스트를 받은 본 발명의 그룹배선 패치 장치(40)는 도 5에서 예시한 실시예를 채용하여 패치 패널의 형식으로 모든 테스트회로(45a), 발광장치(451a) 및 여과장치(452)에 설치되어 있다.

그룹배선 패치 장치(40)에 설치된 리셉터클은 RJ-45 형식의 콘센트(jack)이며, 그 No.4와 No.5 단자의 사이에는 테스트 회로(45a)에 접합되어 테스트를 진행한다. 본 실시예 중에서 인위적인 도선(4522)의 전기저항은 대략 21K 오옴이고, 저역통과 필터(4521)의 규격은 "외부직경-내부직경-두께(OD-ID-TH)"가 "9㎜-5㎜-3㎜"의 코일을 채용하며 19바퀴를 감는다.

본 발명의 그룹배선 패치 장치(40)의 테스트결과는 도 7 내지 10의 "허선"이며, "+LED CIRCUITRY"로 표시되어있다. 도 7 내지 10으로 알 수 있는 것은 본 발명의 그룹배선 패치 장치(40)의 통신주파수 특성이 거의 LED회로를 가지지 않는 종래의 패치 패널과 동일하며 어떤 때는 그보다 더욱 양호하다. 예를 들어 도 7에서 표시한 "회귀손실" 특성테스트에서 주파수가 40MHz보다 작을 때 허선 "+LED CIRCUITRY"가 실선 "W/O LED"보다 더 낮은 dB값을 나타낸다(이는 비교적 적은 회귀손실이다).

또한 도 10에서 표시한 "근단누화(NEXT)" 테스트 결과 중, 주파수가 20MHz보다 클 때 허선 "+LED CIRCUITRY"가 실선 "W/O LED"보다 더 낮은 dB값을 나타낸다(이는 비교적 적은 수치이다). 또한 기타 조건에서 예를 들어 도 8과 9에서 표시한 것은 허선 "+LED CIRCUITRY"와 실선 "W/O LED"가 거의 중첩되는데, 이는 본 발명의 그룹배선 패치 장치(40)의 테스트 회로(45a)가 거의 통신주파수에 영향을 미치지 않는 특성을 나타낸다.

이밖에 본 발명자는 본 발명의 테스트 회로(45a)와 여과장치(452)가 특정한 주파수 범위내에서 회귀손실과 근단누화를 저하시킨다고 생각하며, 이 점은 왜 도 7과 10에서 본 발명의 그룹배선 패치 장치(40)가 더욱 양호한 전기적 특성을 보여주는지를 설명한다.

이상의 서술한 내용은 본 발명의 비교적 구체적인 실시예이며, 결코 이로써 본 발명의 권리범위를 제한하는 것은 아니다. 무릇 본 발명의 범위에서 행한 어떠한 변화와 수정도 본 발명의 범위에 속하는 것임을 밝혀둔다.

도 1은 종래의 통신장치와 그 단말기 사용자 사이의 연결관계의 대표적인 예를 나타내는 개략도.

도 2는 본 발명의 그룹배선 패치 장치의 구체적인 실시예의 입체 개략도.

도 3은 본 발명의 도 2의 A-A단면 개략도.

도 4는 본 발명의 그룹배선 패치 장치의 테스트 회로를 케이블 테스트기에 사용하는 비교적 구체적인 실시예의 개략도.

도 5는 본 발명 중 그룹배선 패치 장치의 테스트 회로 제2실시예 개략도.

도 6은 본 발명의 케이블 테스트기의 구체적인 실시예 개략도.

도 7은 본 발명의 그룹배선 패치 장치의 실시예에서 "회귀손실(Return Loss)" 특성 테스트를 진행한 결과도.　

도 8은 본 발명의 그룹배선 패치 장치의 실시예에서 "삽입손실(Insertion Loss)" 특성 테스트를 진행한 결과도.

도 9는 본 발명의 그룹배선 패치 장치의 실시예에서 "원단누화(FEXT)" 특성 테스트를 진행한 결과도.

도 10은 본 발명의 그룹배선 패치 장치의 실시예에서 "근단누화(NEXT)" 특성 테스트를 진행한 결과도.

Claims (11)

1. 다수의 전선 쌍 리셉터클과 다수의 테스트 회로를 포함하되,

   상기 각 전선 쌍 리셉터클은 적어도 두 개의 접점을 가지고 있으며, 각 접점은 도선으로 연결되고, 상기 각 테스트 회로는 상기 두 접점의 두 도선 사이에 접속되며, 적어도 하나의 발광장치와 여과장치를 포함하되, 상기 적어도 하나의 발광장치는 테스트 회로에 접속되고, 이 발광장치는 테스트 전압이 상기 두 접점에 가해질 때 밝은 빛을 방출하며, 상기 여과장치는 테스트 회로의 발광장치에 직렬연결되고, 이 여과장치는 통신신호가 상기 두 접점에 가해졌을 때, 이 테스트 회로에 루프백 단락 현상이 조성되는 것을 방지하며, 상기 여과장치는 저전압의 루프백 단락 및 저역통과 필터가 예정된 주파수값보다 높은 주파수의 신호를 여과시키는 것을 방지하는 인위적인 도선을 더 포함하는 그룹배선 패치 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 저역통과 필터는 200Hz보다 높은 주파수의 신호를 여과하는 그룹배선 패치 장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 인위적인 도선은 전기저항이며, 그 전기저항값은 400오옴보다 큰 그룹배선 패치 장치.
4. 제1항에 있어서, 상기 그룹배선 패치 장치는 패널 및 테스트 회로, 발광장 치, 여과장치를 설치하기 위한 회로판을 더 포함하되, 상기 패널은 전선 쌍 리셉터클과 회로판을 지지하며, 상기 발광장치에서 방출한 빛은 적어도 그 일부분이 이 패널의 앞측 표면에 노출되는 그룹배선 패치 장치.
5. 제1항에 있어서, 상기 발광장치는 두 개의 독립된 발광다이오드(LED)가 병렬연결되나 그 극성은 반대로 연결되는 그룹배선 패치 장치.
6. 테스트 전압을 공급하는 테스트기와; 다수의 전선 쌍 리셉터클을 포함하는데, 각 전선 쌍 리셉터클은 적어도 두 개의 접점을 포함하며, 적어도 하나의 발광장치와 여과장치에 접속되며, 상기 발광장치는 상기 두 접점의 사이에 연결되고, 상기 여과장치는 상기 두 접점 사이에 연결되며 동시에 발광장치가 서로 직렬연결되어 통신신호가 상기 두 접점에 가해질 때, 테스트 회로에 루프백 단락이 발생하는 것을 방지하는 그룹배선 패치 장치와; 상기 그룹배선 패치 장치의 각기 다른 곳에 위치하고, 적어도 두 개의 접점을 가지는 적어도 하나의 로컬 리셉터클; 및 전기적으로 상기 로컬 리셉터클의 접점과 상기 전선 쌍 리셉터클의 접점을 연결하여 양자 간에 전선 쌍을 규정하기 위한 연결수단을 포함하되,

   상기 테스트기는 테스트 전압을 로컬 리셉터클의 접점에 가하여 그 로컬 리셉터클에 연결되는 전선 쌍 리셉터클의 발광장치가 발광하게 하여 로컬 리셉터클과 전선 쌍 리셉터클 사이에서 서로 대응하는 전선 쌍을 식별하도록 하며, 상기 여과장치는 저전압의 루프백 단락을 방지하고, 저역통과 필터가 예정된 주파수치보다 높은 신호를 여과하는 인위적인 도선을 더 포함하는 전선 쌍 식별을 위한 그룹배선 패치 장치.
7. 제6항에 있어서, 상기 발광장치는 두 개의 독립된 발광다이오드(LED)가 병렬연결되나 그 극성은 반대로 연결되는 전선 쌍 식별을 위한 그룹배선 패치 장치.
8. 제6항에 있어서, 상기 테스트기는 출력과; 상기 테스트전압을 제공하는 직류전원을 포함하는 테스트전압 공급기와; 적어도 하나의 케이블 안정성 테스트의 기능을 제공하는 하나의 케이블 안정성 테스트 모듈과; 테스트기의 조작지령을 접수하는 입력 인터페이스와; 상기 출력, 테스트전압 공급기, 케이블 안정성 테스트 모듈, 입력 인터페이스에 연결되는 통제기; 및 상기 테스트기의 기능 상태를 표시하는 표시패널을 포함하되, 상기 입력 인터페이스의 조작을 통해 상기 통제기는 테스트전압 공급기와 케이블 안정성 테스트 모듈 사이의 연결을 전환하여 상기 테스트전압 공급기와 케이블 안정성 테스트 모듈의 어느 하나에 상기 출력의 신호를 전송하는 전선 쌍 식별을 위한 그룹배선 패치 장치.
9. 다수의 제1리셉터클과, 상기 제1리셉터클과 다른 단말 위치에 위치하는 다수의 제2리셉터클을 포함하되, 각의 제2리셉터클은 상기 서로 대응되는 제1리셉터클과 서로 연결되어 양자 사이에서 전선 쌍을 식별해 내는 배선장치를 포함하며,

   상기 각 제1리셉터클은 적어도 두 개의 접점과, 상기 두 접점 사이에 연결되 는 적어도 하나의 발광장치와, 상기 두 접점 사이에 연결되며 동시에 발광장치가 서로 직렬연결되어 통신신호가 상기 두 접점에 인가됐을 때, 테스트 회로에 루프백 단락이 발생하는 것을 방지하는 여과장치를 포함하되, 상기 여과장치는 저전압 루프백 단락을 방지하고, 저역통과 필터가 200Hz보다 높은 주파수 신호를 여과하는 인위적인 도선을 더 포함하며,

   테스트전압을 상기 제2리셉터클에 인가하여 연결된 서로 대응되는 제1리셉터클에 설치한 발광장치가 발광하게 하여 전선 쌍을 식별해내는 단계를 포함하되, 상기 통신신호가 제1리셉터클의 두 접점에 가해질 때, 상기 발광장치가 상기 두 접점 사이에 여전히 연결되어 있을 때에도 상기 제1리셉터클과 제2리셉터클 사이의 정상적인 통신작용이 간섭을 받지않도록 상기 여과장치는 상기 두 접점 사이에 루프백 단락이 발생하는 것을 방지하는 배선장치의 전선 쌍 식별방법.
10. 제9항에 있어서, 상기 인위적인 도선은 전기저항이며, 그 전기저항값은 400오옴보다 큰 배선장치의 전선 쌍 식별방법.
11. 제9항에 있어서, 상기 발광장치는 두 개의 독립된 발광다이오드(LED)가 병렬연결되나 그 극성은 반대로 연결되는 배선장치의 전선 쌍 식별방법.

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