KR20060076598A - Method of fabricating inkjet printhead - Google Patents

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Abstract

잉크젯 프린트헤드의 제조방법이 개시된다. 개시된 잉크젯 프린트헤드의 제조방법은, 기판의 표면쪽을 식각하여 적어도 하나의 리스트릭터 형성을 위한 다수의 제1 트렌치를 소정 깊이로 형성하고, 잉크 챔버의 크기를 한정하는 식각저지벽 형성을 위한 다수의 제2 트렌치를 상기 제1 트렌치보다 얕은 깊이로 형성하는 단계; 제1 트렌치들 및 제2 트렌치들이 위치하는 부분에 각각 산화물로 이루어진 적어도 하나의 포스트 및 식각저지벽을 형성하는 단계; 기판 상에 노즐이 형성된 노즐 플레이트를 형성하는 단계; 기판의 배면쪽에 포스트를 노출시키도록 매니폴드를 형성하는 단계; 상기 매니폴드를 통하여 노출된 포스트를 제거함으로써 리스트릭터를 형성하는 단계; 및 기판의 표면쪽에 리스트릭터와 연통하는 잉크 챔버를 형성하는 단계;을 포함한다.Disclosed is a method of manufacturing an inkjet printhead. The disclosed method of manufacturing an inkjet printhead includes etching a surface of a substrate to form a plurality of first trenches for forming at least one restrictor to a predetermined depth, and forming a plurality of etch stop walls for defining an ink chamber size. Forming a second trench of a shallower depth than the first trench; Forming at least one post and an etch stop wall made of an oxide in a portion where the first trenches and the second trenches are located; Forming a nozzle plate on which a nozzle is formed; Forming a manifold to expose the post on the back side of the substrate; Forming a restrictor by removing posts exposed through the manifold; And forming an ink chamber in communication with the restrictor toward the surface of the substrate.

Description

잉크젯 프린트헤드의 제조방법{Method of fabricating inkjet printhead}Method of fabricating inkjet printhead

도 1은 종래 잉크젯 프린트헤드의 일부 단면도이다.1 is a partial cross-sectional view of a conventional inkjet printhead.

도 2 내지 도 4는 도 1에 도시된 잉크젯 프린트헤드의 제조방법을 설명하기 위한 도면들이다.2 to 4 are diagrams for describing a method of manufacturing the inkjet printhead shown in FIG. 1.

도 3a 내지 도 17b는 본 발명의 실시예에 따른 잉크젯 프린트헤드의 제조방법을 설명하기 위한 도면들이다.3A to 17B are views for explaining a method of manufacturing an inkjet printhead according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

200... 기판 202... 매니폴드200 ... Substrate 202 ... Manifold

204... 노즐 206... 잉크 챔버 204 ... nozzle 206 ... ink chamber

208... 리스트릭터 211... 산화막208 ... Lister 211 ... Oxide

220... 노즐 플레이트 221... 제1 보호층220 ... nozzle plate 221 ... first protective layer

222... 제2 보호층 224... 열전도층222 ... 2nd protective layer 224 ... thermal conductive layer

226... 제3 보호층 227... 시드층226 ... Third passivation layer 227 ... Seed layer

228... 열발산층 242... 히터228 Heat dissipation layer 242 Heater

244...도선 250... 식각저지벽244 ... wire 250 ... etched jersey wall

260... 식각방지막 270... 포스트 260 ... etch barrier 270 ... post

본 발명은 잉크젯 프린트헤드의 제조방법에 관한 것으로, 상세하게는 공정을 단순화할 수 있고, 정밀도를 향상시킬 수 있는 열구동 방식의 잉크젯 프린트헤드의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing an inkjet printhead, and more particularly, to a method of manufacturing an inkjet printhead of a thermal drive type which can simplify the process and improve the precision.

잉크젯 프린트헤드는 인쇄용 잉크의 미소한 액적(droplet)을 기록용지 상의 원하는 위치에 토출시켜서 소정 색상의 화상으로 인쇄하는 장치이다. 이러한 잉크젯 프린트헤드는 잉크 액적의 토출 메카니즘에 따라 크게 두가지 방식으로 분류될 수 있다. 그 하나는 열원을 이용하여 잉크에 버블(bubble)을 발생시켜 그 버블의 팽창력에 의해 잉크 액적을 토출시키는 열구동 방식의 잉크젯 프린터헤드이고, 다른 하나는 압전체를 사용하여 그 압전체의 변형으로 인해 잉크에 가해지는 압력에 의해 잉크 액적을 토출시키는 압전구동 방식의 잉크젯 프린트헤드이다. An inkjet printhead is an apparatus for ejecting a small droplet of printing ink to a desired position on a recording sheet to print an image of a predetermined color. Such inkjet printheads can be largely classified in two ways depending on the ejection mechanism of the ink droplets. One is a heat-driven inkjet printhead which generates bubbles in the ink by using a heat source and ejects ink droplets by the expansion force of the bubbles, and the other is ink due to deformation of the piezoelectric body using a piezoelectric body. A piezoelectric drive inkjet printhead which discharges ink droplets by a pressure applied thereto.

상기 열구동 방식의 잉크젯 프린트헤드에서의 잉크 액적 토출 메카니즘을 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다. 저항 발열체로 이루어진 히터에 펄스 형태의 전류가 흐르게 되면, 히터에서 열이 발생되면서 히터에 인접한 잉크는 대략 300℃로 순간 가열된다. 이에 따라 잉크가 비등하면서 버블이 생성되고, 생성된 버블은 팽창하여 잉크 챔버 내부에 채워진 잉크에 압력을 가하게 된다. 이로 인해 노즐 부근에 있던 잉크가 노즐을 통해 액적의 형태로 잉크 챔버 밖으로 토출된다. The ink droplet ejection mechanism of the thermally driven inkjet printhead will be described in detail as follows. When a pulse current flows through a heater made of a resistive heating element, heat is generated in the heater and the ink adjacent to the heater is instantaneously heated to approximately 300 ° C. Accordingly, as the ink boils, bubbles are generated, and the generated bubbles expand and apply pressure to the ink filled in the ink chamber. As a result, the ink near the nozzle is discharged out of the ink chamber in the form of droplets through the nozzle.

여기에서, 버블의 성장방향과 잉크 액적의 토출 방향에 따라 상기 열구동 방식은 다시 탑-슈팅(top-shooting), 사이드-슈팅(side-shooting), 백-슈팅(back- shooting) 방식으로 분류될 수 있다. 탑-슈팅 방식은 버블의 성장 방향과 잉크 액적의 토출 방향이 동일한 방식이고, 사이드-슈팅 방식은 버블의 성장 방향과 잉크 액적의 토출 방향이 직각을 이루는 방식이며, 그리고 백-슈팅 방식은 버블의 성장 방향과 잉크 액적의 토출 방향이 서로 반대인 잉크 액적 토출 방식을 말한다. Here, the thermal driving method is classified into top-shooting, side-shooting, and back-shooting according to the bubble growth direction and the ink droplet ejection direction. Can be. In the top-shooting method, the growth direction of the bubble and the ejection direction of the ink droplets are the same. In the side-shooting method, the growth direction of the bubble and the ejection direction of the ink droplets are perpendicular to each other. An ink droplet ejecting method in which the growth direction and the ejecting direction of the ink droplets are opposite to each other.

이와 같은 열구동 방식의 잉크젯 프린트헤드는 일반적으로 다음과 같은 요건들을 만족하여야 한다. 첫째, 가능한 한 그 제조가 간단하고 제조비용이 저렴하며, 대량 생산이 가능하여야 한다. 둘째, 고화질의 화상을 얻기 위해서는 인접한 노즐 사이의 간섭(cross talk)은 억제하면서도 인접한 노즐 사이의 간격은 가능한 한 좁아야 한다. 즉, DPI(dots per inch)를 높이기 위해서는 다수의 노즐을 고밀도로 배치할 수 있어야 한다. 셋째, 고속 인쇄를 위해서는, 잉크 챔버로부터 잉크가 토출된 후 잉크 챔버에 잉크가 리필되는 주기가 가능한 한 짧아야 하고, 동시에 가열된 잉크와 히터의 냉각이 빨리 이루어져 구동 주파수를 높일 수 있어야 한다. Such thermally driven inkjet printheads generally must meet the following requirements. First, the production should be as simple as possible, inexpensive to manufacture, and capable of mass production. Second, in order to obtain a high quality image, the distance between adjacent nozzles should be as narrow as possible while suppressing cross talk between adjacent nozzles. In other words, in order to increase dots per inch (DPI), it is necessary to be able to arrange a plurality of nozzles at high density. Third, for high speed printing, the period of refilling ink in the ink chamber after the ink is ejected from the ink chamber should be as short as possible, and at the same time, the heated ink and the heater should be cooled quickly to increase the driving frequency.

도 1에는 종래 열구동 방식의 잉크젯 프린트헤드의 단면이 도시되어 있다. 도 1을 참조하면, 기판(100)의 표면쪽에는 토출될 잉크가 채워지는 잉크 챔버(106)가 형성되어 있고, 기판(100)의 배면쪽에는 상기 잉크 챔버(106)로 잉크를 공급하기 위한 매니폴드(102)가 형성되어 있다. 그리고, 상기 잉크 챔버(106)와 매니폴드(102) 사이에는 매니폴드(102)로부터 잉크 챔버(106)로 잉크를 공급하는 유로인 리스트릭터(restrictor,108)가 기판(100)을 수직으로 관통하여 형성되어 있다. 한편, 상기 기판(100)의 표면쪽에는 식각저지벽(etch stop wall,150)이 잉크 챔버(106)의 측면을 둘러싸도록 마련되어 있다. 상기 식각저지벽(150)은 잉크 챔버(106)의 크기 를 제한하여 노즐(104)의 고집적화를 이루기 위한 것이다. 1 is a cross-sectional view of a conventional thermally driven inkjet printhead. Referring to FIG. 1, an ink chamber 106 in which ink to be discharged is filled is formed on a surface side of the substrate 100, and a back side of the substrate 100 is used to supply ink to the ink chamber 106. Manifold 102 is formed. In addition, between the ink chamber 106 and the manifold 102, a restrictor 108, a flow path for supplying ink from the manifold 102 to the ink chamber 106, vertically penetrates the substrate 100. It is formed. Meanwhile, an etch stop wall 150 is provided on the surface of the substrate 100 so as to surround the side surface of the ink chamber 106. The etch stop wall 150 limits the size of the ink chamber 106 to achieve high integration of the nozzle 104.

상기한 잉크 챔버(106), 리스트릭터(108) 및 매니폴드(102)가 형성된 기판(100)의 상부에는 노즐 플레이트(120)가 마련된다. 상기 노즐 플레이트(120)는 기판(100) 상에 적층된 다수의 물질층으로 이루어져 있다. 이 물질층들은 제1, 제2 및 제3 보호층(121)(122)(126)과 열전도층(124)과, 열발산층(127)을 포함한다. 상기 제1 보호층(121)과 제2 보호층(122) 사이에는 히터(142)가 형성되어 있으며, 상기 제2 보호층(122)과 제3 보호층(126) 사이에는 도선(conductor,144)이 형성되어 있다. 상기 열전도층(124)는 제2 보호층(122) 위에 형성되고, 제1 보호층(121)과 제2 보호층(122)을 관통하여 형성된 컨택홀을 통해 기판(100)의 상면에 접촉된다. 상기 열전도층(124)은 히터(142)와 히터(142) 주변의 열을 기판(100)과 열발산층(128)으로 전도시키는 역할을 한다. 상기 열발산층은 제3 보호층(126)과 열전도층(124)의 상면에 형성되어 히터(142) 및 그 주변의 열을 외부로 방열시키는 역할을 한다. 한편, 상기 노즐 플레이트(120)에는 노즐이 관통하여 형성되어 있다. 여기서, 상기 노즐은 제1, 제2 및 제3 보호층에 형성되는 하부 노즐(104a)과 열발산층에 형성되는 상부 노즐(104b)로 이루어진다. 도 1에서 참조부호 127은 전기도금에 의하여 열발산층을(128) 형성하기 위한 시드층을 나타낸다.The nozzle plate 120 is provided on the substrate 100 on which the ink chamber 106, the restrictor 108, and the manifold 102 are formed. The nozzle plate 120 is composed of a plurality of material layers stacked on the substrate 100. These material layers include first, second and third protective layers 121, 122, 126, a heat conductive layer 124, and a heat dissipation layer 127. A heater 142 is formed between the first passivation layer 121 and the second passivation layer 122, and a conductor 144 is formed between the second passivation layer 122 and the third passivation layer 126. ) Is formed. The thermal conductive layer 124 is formed on the second protective layer 122 and is in contact with the upper surface of the substrate 100 through contact holes formed through the first protective layer 121 and the second protective layer 122. . The heat conductive layer 124 serves to conduct the heat around the heater 142 and the heater 142 to the substrate 100 and the heat dissipation layer 128. The heat dissipation layer is formed on the upper surfaces of the third protective layer 126 and the heat conducting layer 124 to serve to dissipate heat to the outside of the heater 142 and its surroundings. On the other hand, the nozzle plate 120 is formed through the nozzle. Here, the nozzle includes a lower nozzle 104a formed in the first, second and third protective layers and an upper nozzle 104b formed in the heat dissipation layer. In FIG. 1, reference numeral 127 denotes a seed layer for forming the heat dissipation layer 128 by electroplating.

도 2 내지 도 4에는 도 1에 도시된 잉크젯 프린트헤드를 제조하는 방법이 개략적으로 도시되어 있다. 먼저, 도 2를 참조하면, 기판(100)의 표면 쪽에 트렌치(151)를 대략 2㎛ 정도의 폭으로 형성한 다음, 상기 트렌치(151) 내부에 실리콘 산화물로 이루어진 식각저지벽(150)을 형성한다. 여기서, 상기 식각저지벽(150)은 산 화공정에 의하여 상기 트렌치(151) 내부를 기판(100)의 산화물로 채움으로써 형성된다. 다음으로, 도 3을 참조하면, 상기 기판(100)의 상부에 제1 보호층(121), 히터(142), 제2 보호층(122), 도선(144), 열전도층(124) 및 제3 보호층(126)을 형성한 다음, 상기 제1, 제2 및 제3 보호층(121,122,126)을 식각하여 기판(100)의 표면을 노출시키는 하부노즐(104a)을 형성한다. 이어서, 도 4를 참조하면, 도 3의 결과물 표면에 시드층(127)을 형성하고, 노즐(104)이 위치할 부분에 노즐 형상의 몰드(미도시)를 형성한다. 이어서, 상기 몰드 양측의 시드층(127) 상면에는 전기도금(electroplating)에 의하여 열발산층(128)을 소정 두께로 형성한 다음, 상기 몰드를 제거하게 되면 하부노즐(104a)과 상부노즐(104b)로 이루어진 노즐(104)을 형성된다. 그리고, 기판(100)의 배면 쪽에 매니폴드(102)를 형성하고, 매니폴드(102)가 형성된 기판(100)의 배면을 식각함으로써 리스트릭터(108)를 소정 깊이로 형성한다. 마지막으로, 노즐(104)을 통하여 노출된 기판(100)을 식각하여 리스트릭터(108)와 연결되는 잉크 챔버(106)를 형성하게 되면 잉크젯 프린트헤드가 완성된다.2 to 4 schematically illustrate a method of manufacturing the inkjet printhead shown in FIG. First, referring to FIG. 2, a trench 151 is formed on the surface of the substrate 100 to a width of about 2 μm, and then an etch stop wall 150 made of silicon oxide is formed in the trench 151. do. Here, the etch stop wall 150 is formed by filling the inside of the trench 151 with the oxide of the substrate 100 by an oxidation process. Next, referring to FIG. 3, the first protective layer 121, the heater 142, the second protective layer 122, the conductive wire 144, the thermal conductive layer 124, and the first protective layer 121 are formed on the substrate 100. After forming the third protection layer 126, the first, second and third protection layers 121, 122, and 126 are etched to form a lower nozzle 104a exposing the surface of the substrate 100. Next, referring to FIG. 4, the seed layer 127 is formed on the resultant surface of FIG. 3, and a nozzle-shaped mold (not shown) is formed at a portion where the nozzle 104 is to be located. Subsequently, the heat dissipation layer 128 is formed on the upper surface of the seed layer 127 on both sides of the mold by electroplating, and then the lower nozzle 104a and the upper nozzle 104b are removed when the mold is removed. Nozzle 104 is formed. The manifold 102 is formed on the back side of the substrate 100, and the restrictor 108 is formed to a predetermined depth by etching the back side of the substrate 100 on which the manifold 102 is formed. Finally, when the substrate 100 exposed through the nozzle 104 is etched to form the ink chamber 106 connected to the restrictor 108, the inkjet printhead is completed.

그러나, 상기와 같은 잉크젯 프린트헤드의 제조방법에서는 기판(100)의 표면쪽에 비교적 넓은 폭의 트렌치(151)가 형성되는데, 이러한 트렌치(151) 내부에 산화공정에 의하여 식각저지벽(150)을 형성하는데에는 장시간이 소요된다는 문제점이 있다. 그리고, 상기 리스트릭터(108)는 포토리소그라피(photolithography) 공정을 이용하여 매니폴드(102)가 형성된 기판(102)의 배면쪽을 식각함으로써 형성되는데, 이때 매니폴드(102)에 의해 생기는 단차로 인하여 리스트릭터(108)의 정밀도가 떨어지게 되는 문제점이 있다. However, in the inkjet printhead manufacturing method as described above, a trench 151 having a relatively wide width is formed on the surface side of the substrate 100. An etching stop wall 150 is formed in the trench 151 by an oxidation process. There is a problem that takes a long time. In addition, the restrictor 108 is formed by etching the back side of the substrate 102 on which the manifold 102 is formed by using a photolithography process, due to the step generated by the manifold 102. There is a problem that the precision of the restrictor 108 is lowered.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 공정을 단순화할 수 있고, 정밀도를 향상시킬 수 있는 열구동 방식의 잉크젯 프린트헤드의 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a method of manufacturing an inkjet printhead of a thermal drive type which can simplify the process and improve the precision.

상기한 목적을 달성하기 위하여,In order to achieve the above object,

본 발명의 구현예에 따른 잉크젯 프린트헤드의 제조방법은,Method of manufacturing an inkjet printhead according to an embodiment of the present invention,

(가) 기판의 표면쪽을 식각하여 적어도 하나의 리스트릭터 형성을 위한 다수의 제1 트렌치를 소정 깊이로 형성하고, 잉크 챔버의 크기를 한정하는 식각저지벽 형성을 위한 다수의 제2 트렌치를 상기 제1 트렌치보다 얕은 깊이로 형성하는 단계;(A) forming a plurality of first trenches for forming at least one restrictor to a predetermined depth by etching the surface of the substrate, and a plurality of second trenches for forming an etch stop wall defining a size of the ink chamber; Forming to a depth shallower than the first trench;

(나) 상기 제1 트렌치들 및 제2 트렌치들이 위치하는 부분에 각각 산화물로 이루어진 적어도 하나의 포스트 및 상기 식각저지벽을 형성하는 단계;(B) forming at least one post made of oxide and the etch stop wall in a portion where the first trenches and the second trenches are located;

(다) 상기 기판 상에 노즐이 형성된 노즐 플레이트를 형성하는 단계; (C) forming a nozzle plate having a nozzle formed on the substrate;

(라) 상기 기판의 배면쪽에 상기 포스트를 노출시키도록 매니폴드를 형성하는 단계;(D) forming a manifold to expose the post on the back side of the substrate;

(마) 상기 매니폴드를 통하여 노출된 상기 포스트를 제거함으로써 상기 리스트릭터를 형성하는 단계; 및(E) forming the restrictor by removing the post exposed through the manifold; And

(바) 상기 기판의 표면쪽에 상기 리스트릭터와 연통하는 상기 잉크 챔버를 형성하는 단계;을 포함한다. (F) forming the ink chamber in communication with the restrictor toward the surface of the substrate.

여기서, 상기 기판은 n-형 실리콘(n-type Si)으로 이루어지는 것이 바람직하다.Here, the substrate is preferably made of n-type silicon (n-type Si).

상기 (가)단계는,In step (a),

상기 기판 표면의 소정 영역에 상기 제1 트렌치들 형성을 위한 다수의 제1 홈과 상기 제2 트렌치들 형성을 위한 다수의 제2 홈을 형성하는 단계;Forming a plurality of first grooves for forming the first trenches and a plurality of second grooves for forming the second trenches in a predetermined region of the substrate surface;

상기 제1 홈들을 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각하여 다수의 제1 상부트렌치를 형성하는 단계; 및Etching the first grooves to a predetermined depth perpendicular to the surface of the substrate to form a plurality of first upper trenches; And

상기 제1 상부트렌치들 및 제2 홈들을 각각 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각하여 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치들을 형성하는 단계;을 포함할 수 있다.And etching the first upper trenches and the second grooves to a predetermined depth perpendicular to the surface of the substrate, respectively, to form the first trenches and the second trenches.

상기 제1 홈 및 제2 홈들은 상기 기판의 표면에 제1 식각마스크를 형성하고, 상기 제1 식각마스크를 통하여 노출된 상기 기판의 표면을 식각함으로써 형성될 수 있다. 여기서, 상기 제1 홈 및 제2 홈들은 KOH 또는 TMAH 등과 같은 알칼리 용액을 식각액으로 사용하여 상기 기판의 표면을 식각함으로써 형성될 수 있으며, 이때 상기 제1 홈 및 제2 홈들은 피라미드(pyramid) 형상으로 형성될 수 있다.The first grooves and the second grooves may be formed by forming a first etching mask on the surface of the substrate and etching the surface of the substrate exposed through the first etching mask. Here, the first grooves and the second grooves may be formed by etching the surface of the substrate using an alkaline solution such as KOH or TMAH as an etchant, wherein the first grooves and the second grooves are pyramid shaped. It can be formed as.

상기 제1 상부트렌치들은 상기 제1 식각마스크 상에 상기 제1 홈들을 노출시키도록 제2 식각마스크를 형성하고, 상기 제2 식각마스크를 이용하여 상기 제1 홈들의 바닥을 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각함으로써 형성될 수 있다. 여기서, 상기 제1 상부트렌치들은 HF 용액을 식각액으로 사용하여 상기 제1 홈들의 바닥을 소정 깊이로 이방성 식각하는 마크로 포러스 실리콘 식각공정(macro porous Si etching process)에 의하여 형성되는 것이 바람직하다. The first upper trenches form a second etching mask to expose the first grooves on the first etching mask, and the bottom of the first grooves is perpendicular to the surface of the substrate using the second etching mask. Can be formed by etching to a predetermined depth. The first upper trenches may be formed by a macroporous Si etching process that anisotropically etches the bottom of the first grooves to a predetermined depth by using an HF solution as an etching solution.

상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치들은 상기 제2 식각마스크를 제거하고, 상기 제1 식각마스크를 통하여 노출된 상기 제1 상부트렌치 및 제2 홈들의 바닥을 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각함으로써 형성될 수 있다. 여기서, 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치들은 HF 용액을 식각액으로 사용하여 상기 제1 상부트렌치 및 제2 홈들의 바닥을 소정 깊이로 이방성 식각하는 마크로 포러스 실리콘 식각공정에 의하여 형성되는 것이 바람직하다.The first trenches and the second trenches remove the second etching mask and etch the bottom of the first upper trench and the second grooves exposed through the first etching mask to a predetermined depth perpendicular to the surface of the substrate. It can be formed by. Here, the first trenches and the second trenches are preferably formed by a macroporous silicon etching process for anisotropically etching the bottom of the first upper trench and the second grooves to a predetermined depth using an HF solution as an etching solution.

상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치는 0.1㎛ ~ 10㎛, 바람직하게는 0.1㎛ ~ 1㎛의 폭으로 형성될 수 있다.The first trench and the second trench may be formed to have a width of 0.1 μm to 10 μm, preferably 0.1 μm to 1 μm.

상기 (나)단계에서, 상기 포스트 및 식각저지벽은 상기 제1 트렌치들 및 제2 트렌치들 주위의 상기 기판을 산화시킴으로써 형성될 수 있다.In the step (b), the post and etch stop walls may be formed by oxidizing the substrate around the first trenches and the second trenches.

상기 (다)단계는,The (c) step,

상기 기판 상에 제1, 제2 및 제3 보호층을 순차적으로 적층하면서, 히터와 상기 히터에 연결되는 도선을 상기 보호층들 사이에 형성하는 단계; 및Sequentially stacking first, second, and third protective layers on the substrate, and forming a heater and a conductive wire connected to the heater between the protective layers; And

상기 제2 및 제3 보호층을 식각하여 상기 제1 보호층을 노출시키는 상기 노즐을 형성하는 단계;를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 제3 보호층 위에 금속으로 이루어진 열발산층을 형성하는 단계;를 더 포함될 수 있다.And etching the second and third protective layers to form the nozzle exposing the first protective layer. The method may further include forming a heat dissipation layer made of a metal on the third protective layer.

상기 보호층들 사이에는 상기 기판과 열발산층에 접촉되는 열전도층이 더 형성될 수 있다. A thermal conductive layer in contact with the substrate and the heat dissipation layer may be further formed between the protective layers.

상기 (라)단계에서, 상기 매니폴드는 상기 기판의 배면을 소정 깊이로 습식 식각함으로써 형성될 수 있다. 그리고, 상기 (마)단계에서, 상기 리스트릭터는 상기 기판의 배면쪽에 노출된 포스트를 상기 제1 보호층이 노출될 때까지 식각함으로써 형성될 수 있다. In the step (d), the manifold may be formed by wet etching the back surface of the substrate to a predetermined depth. And, in the step (e), the restrictor may be formed by etching the post exposed on the back side of the substrate until the first protective layer is exposed.

상기 매니폴드 및 리스트릭터가 형성된 기판의 표면에는 패릴린(parylene)을 증착함으로써 식각방지막을 형성할 수 있다.An etch stop layer may be formed on the surface of the substrate on which the manifold and the restrictor are formed by depositing parylene.

상기 (바)단계는,The (bar) step,

상기 노즐을 통하여 노출된 제1 보호층을 제거하는 단계;Removing the first protective layer exposed through the nozzle;

상기 제1 보호층을 통하여 노출된 기판의 표면쪽을 소정 깊이로 식각하여 상기 잉크 챔버를 형성하는 단계; 및Etching the surface side of the substrate exposed through the first protective layer to a predetermined depth to form the ink chamber; And

상기 식각방지막을 제거하는 단계;를 포함할 수 있다. And removing the etch stop layer.

여기서, 상기 잉크 챔버는 상기 제1 보호층을 통하여 노출된 상기 기판의 표면을 XeF2 가스를 식각가스로 하여 등방성 식각함으로써 형성되는 것이 바람직하다.Here, the ink chamber is preferably formed by isotropic etching the surface of the substrate exposed through the first protective layer using XeF 2 gas as an etching gas.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 도면에서 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 지칭하며, 각 구성요소의 크기나 두께는 설명의 명료성을 위하여 과장되어 있을 수 있다. 또한, 한 층이 기판이나 다른 층의 위에 존재한다고 설명될 때, 그 층은 기판이나 다른 층에 직접 접하면서 위에 존재할 수도 있고, 그 사이에 제3의 층이 존재할 수도 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings refer to like elements, and the size or thickness of each element may be exaggerated for clarity. In addition, when one layer is described as being on top of a substrate or another layer, the layer may be present over and in direct contact with the substrate or another layer, with a third layer in between.

도 5a 내지 도 17b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 잉크젯 프린트헤드의 제조방법을 설명하기 위한 도면들이다.5A to 17B are views for explaining a method of manufacturing an inkjet printhead according to a preferred embodiment of the present invention.

도 5a 및 도 5b는 기판(200)의 표면에 다수의 제1 홈(272) 및 제2 홈(252)을 형성한 상태를 도시한 단면도 및 평면도이다. 도 5a 및 도 5b를 참조하면, 기판(200)의 표면에 산화막을 형성하고, 이를 패터닝하여 기판(200) 표면의 소정 영역을 노출시키는 제1 식각마스크(210)를 형성한다. 여기서, 상기 기판(200)으로는 후술되는 마크로 포러스 실리콘 식각공정(macro porous silicon etching process)을 위하여 n-형 실리콘(n-type Si)으로 이루어지는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 제1 식각마스크(210)를 통하여 노출된 기판(200)의 표면을 식각함으로써 적어도 하나의 리스트릭터(도 17a의 208) 형성을 위한 다수의 제1 홈(272)과, 잉크 챔버(도 17a의 206)의 크기를 한정하는 식각저지벽(도 17a의 250) 형성을 위한 다수의 제2 홈(252)을 형성한다. 여기서, 상기 제1 홈(272) 및 제2 홈들(252)은 0.1㎛ ~ 10㎛, 바람직하게는 0.1㎛ ~ 1㎛의 크기로 형성될 수 있다. 5A and 5B are cross-sectional views and plan views illustrating a state in which a plurality of first grooves 272 and second grooves 252 are formed on a surface of the substrate 200. 5A and 5B, an oxide film is formed on the surface of the substrate 200 and patterned to form a first etching mask 210 exposing a predetermined region of the surface of the substrate 200. Here, the substrate 200 is preferably made of n-type Si for a macro porous silicon etching process to be described later. In addition, by etching the surface of the substrate 200 exposed through the first etching mask 210, a plurality of first grooves 272 and an ink chamber for forming at least one restrictor (208 of FIG. 17A) and an ink chamber ( A plurality of second grooves 252 are formed to form an etch stop wall (250 of FIG. 17A) defining the size of 206 of FIG. 17A. Here, the first groove 272 and the second grooves 252 may be formed to a size of 0.1㎛ ~ 10㎛, preferably 0.1㎛ ~ 1㎛.

구체적으로, 상기 제1 홈(272) 및 제2 홈들(252)은 KOH 또는 TMAH(Tetramethyl Ammonium Hydroxide)등과 같은 알칼리 용액을 식각액으로 사용하여 기판(200)의 표면을 습식식각함으로써 형성될 수 있다. 이때, 상기 제1 홈(272) 및 제2 홈들(252)은 각각 피라미드(pyramid) 형상으로 형성되게 된다. 도 5a에서 참조부호 211은 기판(200)의 배면에 형성된 산화막을 나타낸다.In detail, the first groove 272 and the second grooves 252 may be formed by wet etching the surface of the substrate 200 using an alkaline solution such as KOH or TMAH (Tetramethyl Ammonium Hydroxide) as an etchant. In this case, the first grooves 272 and the second grooves 252 are each formed in a pyramid shape. In FIG. 5A, reference numeral 211 denotes an oxide film formed on the back surface of the substrate 200.

이어서, 도 6을 참조하면, 상기 제1 홈들(272)의 바닥을 식각하여 다수의 제1 상부트렌치(271')를 소정 깊이로 형성한다. 구체적으로, 상기 제1 식각마스크(210)의 상면에 상기 제2 홈들(252)을 덮도록 제2 식각마스크(215)를 형성함으로써 상기 제1 홈들(272)을 노출시킨다. 그리고, 상기 제2 식각마스크(215)를 이용하여 제1 홈들(272)의 바닥을 기판(200)의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각하게 되면 다수의 제1 상부트렌치(271')가 형성된다. 여기서, 상기 제1 상부트렌치들(271')은 n-형 실리콘으로 이루어진 기판(200)을 마크로 포러스 실리콘 식각공정(macro porous silicon etching process)에 의하여 소정 깊이로 식각(deep etching)함으로써 형성되는 것이 바람직하다. 여기서, 상기 마크로 포러스 실리콘 식각공정은 HF 용액을 식각액으로 하여 상기 제1 홈들(272)의 바닥을 소정 깊이로 이방성 식각하는 것을 포함한다. 6, the bottoms of the first grooves 272 are etched to form a plurality of first upper trenches 271 ′ to a predetermined depth. Specifically, the first grooves 272 are exposed by forming the second etching mask 215 on the top surface of the first etching mask 210 to cover the second grooves 252. When the bottoms of the first grooves 272 are etched to a predetermined depth perpendicular to the surface of the substrate 200 by using the second etching mask 215, a plurality of first upper trenches 271 ′ are formed. . Here, the first upper trenches 271 ′ are formed by deep etching the substrate 200 made of n-type silicon to a predetermined depth by a macro porous silicon etching process. desirable. Here, the macroporous silicon etching process includes anisotropically etching the bottom of the first grooves 272 to a predetermined depth by using an HF solution as an etching solution.

다음으로, 도 7을 참조하면, 상기 제2 식각마스크(215)를 제거한 다음, 제1 식각마스크(210)를 통하여 노출된 제1 상부트렌치(271') 및 제2 홈들(252)의 바닥을 소정 깊이로 식각하여 다수의 제1 트렌치(271) 및 제2 트렌치(251)를 형성한다. 여기서, 상기 제1 트렌치(271) 및 제2 트렌치들(251)은 각각 0.1㎛ ~ 10㎛, 바람직하게는 0.1㎛ ~ 1㎛의 폭으로 형성될 수 있다. 그리고, 상기 제1 트렌치들(271)은 제2 트렌치들(251)보다 더 깊은 깊이로 형성되게 된다. 상기 제1 트렌치(271) 및 제2 트렌치들(251)은 전술한 바와 같이 n-형 실리콘으로 이루어진 기판(200)을 마크로 포러스 실리콘 식각공정에 의하여 소정 깊이로 식각(deep etching)함으로써 형성되는 것이 바람직하다. 여기서, 상기 마크로 포러스 실리콘 식각공정은 HF 용액을 식각액으로 하여 상기 제1 상부트렌치(271') 및 제2 홈들(252)의 바닥을 소정 깊이로 이방성 식각하는 것을 포함한다. Next, referring to FIG. 7, after removing the second etching mask 215, the bottom of the first upper trench 271 ′ and the second grooves 252 exposed through the first etching mask 210 are removed. A plurality of first trenches 271 and second trenches 251 are formed by etching to a predetermined depth. The first trenches 271 and the second trenches 251 may be formed to have a width of 0.1 μm to 10 μm, preferably 0.1 μm to 1 μm, respectively. The first trenches 271 are formed to have a deeper depth than the second trenches 251. As described above, the first trench 271 and the second trenches 251 are formed by deep etching a substrate 200 made of n-type silicon to a predetermined depth by a macroporous silicon etching process. desirable. Here, the macroporous silicon etching process includes anisotropically etching the bottom of the first upper trench 271 ′ and the second grooves 252 to a predetermined depth using an HF solution as an etching solution.

도 8a 및 도 8b는 각각 상기 제1 트렌치(271) 및 제2 트렌치들(251)이 위치하는 부분에 산화물로 이루어진 적어도 하나의 포스트(270) 및 식각저지벽(250)을 형성한 상태를 도시한 단면도 및 평면도이다. 구체적으로, 상기 제1 식각마스크(210)를 통하여 노출된 제1 트렌치(271) 및 제2 트렌치들(251)의 주위에 있는 실리콘 기판(200)을 산화시키게 되면, 산화물로 이루어진 식각저지벽(250)과 적어도 하나의 포스트(270)가 형성된다. 이때 상기 식각저지벽(250)은 도 8b에 도시된 바와 같이 상기 포스트들(270)을 둘러싸도록 형성된다. 그리고, 상기 포스트들(270)은 상기 식각저지벽(250)보다 더 깊은 깊이로 형성된다. 한편, 도 8a 및 도 8b에서는, 2개의 포스트(270)가 형성된 경우가 도시되어 있지만, 본 실시예에서는 이에 한정되지 않고 1개 또는 3개 이상의 포스트(270)가 형성될 수도 있다. 8A and 8B illustrate a state in which at least one post 270 and an etch stop wall 250 made of oxide are formed in a portion where the first trenches 271 and the second trenches 251 are located, respectively. One cross section and a top view. Specifically, when the silicon substrate 200 around the first trench 271 and the second trenches 251 exposed through the first etching mask 210 is oxidized, an etch stop wall made of oxide ( 250 and at least one post 270 are formed. In this case, the etch stop wall 250 is formed to surround the posts 270 as shown in FIG. 8B. In addition, the posts 270 are formed to have a deeper depth than the etch stop wall 250. 8A and 8B, the case where two posts 270 are formed is illustrated, but the present invention is not limited thereto, and one or three or more posts 270 may be formed.

이어서, 도 9를 참조하면, 기판(200)의 표면에 제1 보호층(221)을 형성한다. 구체적으로, 상기 제1 보호층(221)은 기판(200) 표면으로부터 상기 제1 식각마스크(210)를 제거한 다음, 상기 기판(200)의 표면에 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물을 소정 두께로 증착함으로써 형성될 수 있다. 여기서, 상기 제1 보호층(221)은 후술되는 제2 및 제3 보호층(222,226)과는 다른 물질로 이루어지는 것이 바람직하다. Next, referring to FIG. 9, a first protective layer 221 is formed on the surface of the substrate 200. Specifically, the first protective layer 221 is formed by removing the first etching mask 210 from the surface of the substrate 200, and then depositing silicon oxide or silicon nitride to a predetermined thickness on the surface of the substrate 200. Can be. The first protective layer 221 may be formed of a material different from those of the second and third protective layers 222 and 226 which will be described later.

다음으로, 도 10을 참조하면, 기판(200)의 상면에 형성된 제1 보호층(221) 위에 히터(242)를 형성한다. 상기 히터(242)는 제1 보호층(221)의 전표면에 불순물이 도핑된 폴리 실리콘, 탄탈륨-알루미늄 합금, 탄탈륨 질화물(tantalum nitride), 티타늄 질화물(titanium nitride) 또는 텅스텐 실리사이드(tungsten silicide)등의 발열 저항체를 소정 두께로 증착한 다음 이를 패터닝함으로써 형성될 수 있다. 그리고, 제1 보호층(221)과 히터(242)의 상면에 제2 보호층(222)을 형성한다. 구체적으로, 제2 보호층(222)은 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물을 소정 두께로 증착함 으로써 이루어질 수 있다. 이어서, 제2 보호층(222)을 부분적으로 식각하여 히터(242)의 일부분, 즉 도선(conductor,244)과 접속될 부분을 노출시키고, 제2 보호층(222)과 제1 보호층(221)을 순차적으로 식각하여 기판(200)의 일부분, 즉 열전도층(224)과 접촉될 부분을 노출시키는 컨택홀을 형성한다. 그리고, 제2 보호층(222)의 상면에 도선(244)과 열전도층(224)을 형성한다. 상기 열전도층(224)은 히터(242)와 히터(242) 주변의 열을 기판(200)과 후술되는 열발산층(228)으로 전도시키는 기능을 한다. 구체적으로, 상기 도선(244)와 열전도층(224)은 전기 및 열 전도성이 좋은 금속, 예컨대 알루미늄(Al)이나 알루미늄 합금 또는 금(Au)이나 은(Ag)을 스퍼터링에 의해 소정 두께로 증착하고 이를 패터닝함으로써 형성될 수 있다. 이때, 도선(244)와 열전도층(224)은 서로 절연되도록 형성된다. 그러면, 도선(244)은 히터(242)와 접속되며, 열전도층(224)은 상기 컨택홀을 통해 기판(200)과 접촉된다. 상기 제2 보호층(222)과 열전도층(224)의 상면에 제3 보호층(226)을 형성한다. 구체적으로, 상기 제3 보호층(226)은 TEOS(Tetraethylorthosilicate) 산화물을 플라즈마 화학기상증착법(PECVD; Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)에 의해 소정 두께로 증착함으로써 이루어질 수 있다. 그리고, 제3 보호층(226)을 부분적으로 식각하여 열전도층(224)을 노출시킨다. Next, referring to FIG. 10, the heater 242 is formed on the first protective layer 221 formed on the upper surface of the substrate 200. The heater 242 may be polysilicon, tantalum-aluminum alloy, tantalum nitride, titanium nitride, tungsten silicide, or the like doped with impurities on the entire surface of the first protective layer 221. It can be formed by depositing a heating resistor of a predetermined thickness and then patterning it. The second protective layer 222 is formed on the upper surfaces of the first protective layer 221 and the heater 242. Specifically, the second protective layer 222 may be formed by depositing silicon oxide or silicon nitride to a predetermined thickness. Subsequently, the second protective layer 222 is partially etched to expose a portion of the heater 242, that is, a portion to be connected to the conductor 244, and the second protective layer 222 and the first protective layer 221. ) Is sequentially etched to form contact holes exposing portions of the substrate 200, that is, portions to be in contact with the thermal conductive layer 224. The conductive wire 244 and the thermal conductive layer 224 are formed on the upper surface of the second protective layer 222. The heat conductive layer 224 functions to conduct the heater 242 and the heat around the heater 242 to the substrate 200 and the heat dissipating layer 228 described later. Specifically, the conductive wire 244 and the thermal conductive layer 224 are deposited to a predetermined thickness by sputtering a metal having good electrical and thermal conductivity, such as aluminum (Al) or aluminum alloy or gold (Au) or silver (Ag). It can be formed by patterning it. In this case, the conductive wire 244 and the thermal conductive layer 224 are formed to be insulated from each other. Then, the conductive wire 244 is connected to the heater 242, the thermal conductive layer 224 is in contact with the substrate 200 through the contact hole. A third protective layer 226 is formed on the upper surfaces of the second protective layer 222 and the thermal conductive layer 224. Specifically, the third protective layer 226 may be formed by depositing TEOS (Tetraethylorthosilicate) oxide to a predetermined thickness by plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD). The third protective layer 226 is partially etched to expose the thermal conductive layer 224.

이어서, 도 11을 참조하면, 상기 제3 및 제2 보호층(226,222)을 식각하여 제1 보호층(221)을 노출시키는 노즐(도 12의 204)의 하부를 형성한다. 상기 노즐(204)의 하부는 제3 보호층(226)과 제2 보호층(222)을 반응성이온식각법(RIE; Reactive Ion Etching)에 의하여 순차적으로 식각함으로써 형성될 수 있다. 그리 고, 위 결과물의 전표면에 전기도금을 위한 시드층(227)을 형성한다. 상기 시드층(227)은 전해도금을 위해 도전성이 양호한 구리(Cu), 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 금(Au) 또는 니켈(Ni) 등의 금속을 스퍼터링에 의해 소정 두께로 증착함으로써 이루어질 수 있다. 이어서, 상기 시드층(227)의 상면에 노즐(204) 형성을 위한 몰드(230)를 형성한다. 상기 몰드(230)는 시드층(227)의 전표면에 포토레지스트를 도포한 뒤 이를 패터닝하여 노즐(204)이 형성될 부위에만 포토레지스트를 잔존시킴으로써 형성될 수 있다. 여기서, 상기 몰드(230)의 상부는 위쪽으로 갈수록 그 직경이 점차 작아지는 테이퍼 형상으로 형성된다. 다음으로, 상기 몰드(230)의 양측에 위치하는 시드층(227)의 상면에 소정 두께의 열발산층(228)을 형성한다. 상기 열발산층(228)은 열전도성이 양호한 금속, 예컨대 니켈(Ni)이나 크롬(Cr)을 시드층(227)의 표면에 전기도금시킴으로써 형성될 수 있다. 상기 열발산층(228)은 히터(242) 및 그 주변의 열을 외부로 발산하는 기능을 한다. 즉, 잉크가 토출된 후에 히터(242) 및 그 주변에 잔류하는 열은 열전도층(224)을 통해 기판(220) 및 열발산층(228)으로 전도되어 외부로 발산된다. 따라서, 잉크가 토출된 후에 보다 빠른 방열이 이루어지게 되므로, 높은 구동주파수로 안정적인 인쇄가 가능하게 된다. Next, referring to FIG. 11, the third and second protective layers 226 and 222 are etched to form a lower portion of the nozzle 204 of FIG. 12 to expose the first protective layer 221. The lower portion of the nozzle 204 may be formed by sequentially etching the third protective layer 226 and the second protective layer 222 by reactive ion etching (RIE). Then, the seed layer 227 for electroplating is formed on the entire surface of the above result. The seed layer 227 is formed by depositing a metal having a high conductivity such as copper (Cu), chromium (Cr), titanium (Ti), gold (Au), or nickel (Ni) to a predetermined thickness by sputtering. Can be done. Subsequently, a mold 230 for forming a nozzle 204 is formed on an upper surface of the seed layer 227. The mold 230 may be formed by applying a photoresist to the entire surface of the seed layer 227 and then patterning the photoresist and leaving the photoresist only at a portion where the nozzle 204 is to be formed. Here, the upper portion of the mold 230 is formed in a tapered shape whose diameter gradually decreases toward the upper side. Next, a heat dissipation layer 228 having a predetermined thickness is formed on an upper surface of the seed layer 227 positioned on both sides of the mold 230. The heat dissipation layer 228 may be formed by electroplating a metal having good thermal conductivity, such as nickel (Ni) or chromium (Cr), on the surface of the seed layer 227. The heat dissipation layer 228 functions to dissipate heat to the outside of the heater 242 and the surroundings thereof. That is, the heat remaining in the heater 242 and the surroundings after the ink is discharged is conducted to the substrate 220 and the heat dissipating layer 228 through the heat conductive layer 224 and is emitted to the outside. Therefore, since heat dissipation is made faster after the ink is discharged, stable printing is possible at a high driving frequency.

다음으로, 도 12를 참조하면, 상기 몰드(230)와 그 아래의 시드층(227)을 순차적으로 식각하게 되면, 상기 제1 보호층(221)을 노출시키는 노즐(204)이 형성된다. Next, referring to FIG. 12, when the mold 230 and the seed layer 227 below are sequentially etched, a nozzle 204 exposing the first protective layer 221 is formed.

이어서, 도 13을 참조하면, 기판(200)의 배면쪽에 상기 포스트(270)를 노출키는 매니폴드(202)를 형성한다. 상기 매니폴드(202)는 잉크 챔버(도 17a의 206)로 잉크를 공급하는 기능을 한다. 구체적으로, 상기 기판(200)의 배면에 형성된 산화막(211)을 패터닝한 다음, 이를 식각마스크로 하여 TMAH(Tetramethyl Ammonium Hydroxide) 용액을 식각액으로 하여 기판(200)의 배면을 소정 깊이로 습식식각하게 되면 상기 포스트(270)의 하면을 노출시키는 매니폴드(202)가 형성된다. Subsequently, referring to FIG. 13, a manifold 202 that exposes the post 270 is formed on the rear surface of the substrate 200. The manifold 202 functions to supply ink to the ink chamber (206 in FIG. 17A). Specifically, after patterning the oxide film 211 formed on the back of the substrate 200, using the Tetramethyl Ammonium Hydroxide (TMAH) solution as an etching solution to wet etching the back surface of the substrate 200 to a predetermined depth The manifold 202 is formed to expose the bottom surface of the post 270.

다음으로, 도 14를 참조하면, 상기 매니폴드(202)에 의하여 노출된 포스트(270)를 식각하여 제거하게 되면 적어도 하나의 리스트릭터(208)가 기판(200)의 표면에 수직인 방향으로 형성된다. 그리고, 상기 매니폴드(202)와 리스트릭터(208)가 형성된 기판(200)의 표면에 식각방지막(260)을 형성한다. 상기 식각방지막(260)은 리스트릭터(208)의 정밀도를 향상시키기 위한 것으로, 매니폴드(202)와 리스트릭터(208)가 형성된 기판(200)의 표면에 폴리머(polymer)의 일종인 패릴린(parylene)을 증착함으로써 형성될 수 있다. Next, referring to FIG. 14, when the post 270 exposed by the manifold 202 is removed by etching, at least one restrictor 208 is formed in a direction perpendicular to the surface of the substrate 200. do. An etch stop layer 260 is formed on the surface of the substrate 200 on which the manifold 202 and the restrictor 208 are formed. The etch stop layer 260 is used to improve the precision of the restrictor 208, and is formed of parylene, which is a kind of polymer, on the surface of the substrate 200 on which the manifold 202 and the restrictor 208 are formed. parylene).

이어서, 도 15를 참조하면, 노즐(204)을 통하여 노출된 기판(200) 상면의 상기 제1 보호층(221)을 기판(200)이 노출될 때까지 식각하여 제거한다. 이에 따라, 상기 기판(200) 상에는 노즐(204)이 관통되어 형성된 노즐 플레이트(220)가 마련된다. 15, the first protective layer 221 on the upper surface of the substrate 200 exposed through the nozzle 204 is removed by etching until the substrate 200 is exposed. Accordingly, the nozzle plate 220 formed by penetrating the nozzle 204 is provided on the substrate 200.

그리고, 도 16을 참조하면, 상기 노즐 플레이트(220)에 형성된 노즐(204)을 통하여 노출된 기판(200)의 표면을 소정 깊이로 식각하여 토출될 잉크가 채워지는 잉크 챔버(206)를 형성한다. 구체적으로, 상기 잉크 챔버(206)는 XeF2 가스를 식각가스로 하여 상기 기판(200)의 표면을 등방성 건식식각함으로써 형성될 수 있다. 이때, 상기 기판(200)은 잉크 챔버(206)의 측벽을 이루는 식각저지벽(250)에 도달할 때까지 식각되게 된다. 16, the surface of the substrate 200 exposed through the nozzle 204 formed on the nozzle plate 220 is etched to a predetermined depth to form an ink chamber 206 filled with ink to be discharged. . Specifically, the ink chamber 206 may be formed by isotropic dry etching the surface of the substrate 200 using XeF 2 gas as an etching gas. In this case, the substrate 200 is etched until it reaches the etch stop wall 250 that forms the sidewall of the ink chamber 206.

마지막으로, 도 17a를 참조하면, 상기 잉크 챔버(206)가 리스트릭터(208)와 연통하도록 상기 식각방지막(260)을 애싱(ashing) 또는 산소 플라즈마 식각 공정 등을 통하여 제거하게 되면 잉크젯 프린트헤드가 완성된다. 도 17b에는 이렇게 완성된 잉크젯 프린트헤드의 내부 구조를 도시한 평면도가 개략적으로 도시되어 있다. Finally, referring to FIG. 17A, when the ink chamber 206 is removed through an ashing or oxygen plasma etching process such that the ink chamber 206 communicates with the restrictor 208, an inkjet printhead may be formed. Is completed. 17B is a schematic plan view showing the internal structure of the inkjet printhead thus completed.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명했지만, 본 발명의 범위는 이에 한정되지 않고, 다양한 변형 및 균등한 타실시예가 가능하다. 예컨대, 본 발명에서 프린트헤드의 각 요소를 구성하기 위해 사용되는 물질은 예시되지 않은 물질을 사용할 수도 있다. 또한, 각 물질의 적층 및 형성방법도 단지 예시된 것으로서, 다양한 증착방법과 식각방법이 적용될 수 있다. 아울러, 각 단계에서 예시된 구체적인 수치는 제조된 프린트헤드가 정상적으로 작동할 수 있는 범위 내에서 얼마든지 예시된 범위를 벗어나 조정가능하다. 또한, 본 발명의 프린트헤드 제조방법의 각 단계의 순서는 예시된 바와 달리할 수 있다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.While the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and equivalent other embodiments are possible. For example, the materials used to construct each element of the printhead in the present invention may use materials not illustrated. In addition, the method of laminating and forming each material is also merely illustrated, and various deposition methods and etching methods may be applied. In addition, the specific values exemplified in each step may be adjusted outside the exemplified ranges as long as the manufactured printhead can operate normally. In addition, the order of each step of the printhead manufacturing method of the present invention may be different from that illustrated. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the appended claims.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 잉크젯 프린트헤드의 제조방법에 의하면 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the manufacturing method of the inkjet printhead according to the present invention has the following effects.

첫째, 잉크 챔버의 측벽을 이루는 식각저지벽과 리스트릭터 형성을 위한 포 스트를 동시에 형성함으로써 잉크젯 프린트헤드의 제조공정을 단순화할 수 있다.First, it is possible to simplify the manufacturing process of the inkjet printhead by simultaneously forming an etch stop wall constituting the sidewall of the ink chamber and a post for forming a restrictor.

둘째, 기판에 마크로 포러스 실리콘 식각공정에 의하여 트렌치들을 형성하고, 이 트렌치들에 산화공정에 의한 산화물을 채움으로써 산화 시간을 줄일 수 있게 되고, 이에 따라 잉크젯 프린트헤드의 제조에 소요되는 시간을 줄일 수 있다.Secondly, trenches are formed on the substrate by a macroporous silicon etching process, and the trenches are filled with oxides by the oxidation process, thereby reducing the oxidation time, thereby reducing the time required for manufacturing the inkjet printhead. have.

셋째, 재현성있는 리스트릭터의 형성으로 인하여, 정밀도 및 균일도가 향상된 잉크젯 프린트헤드를 제작할 수 있다.Third, due to the formation of a reproducible restrictor, it is possible to manufacture an inkjet printhead with improved precision and uniformity.

Claims (28)

(가) 기판의 표면쪽을 식각하여 적어도 하나의 리스트릭터 형성을 위한 다수의 제1 트렌치를 소정 깊이로 형성하고, 잉크 챔버의 크기를 한정하는 식각저지벽 형성을 위한 다수의 제2 트렌치를 상기 제1 트렌치보다 얕은 깊이로 형성하는 단계;(A) forming a plurality of first trenches for forming at least one restrictor to a predetermined depth by etching the surface of the substrate, and a plurality of second trenches for forming an etch stop wall defining a size of the ink chamber; Forming to a depth shallower than the first trench; (나) 상기 제1 트렌치들 및 제2 트렌치들이 위치하는 부분에 각각 산화물로 이루어진 적어도 하나의 포스트 및 상기 식각저지벽을 형성하는 단계;(B) forming at least one post made of oxide and the etch stop wall in a portion where the first trenches and the second trenches are located; (다) 상기 기판 상에 노즐이 형성된 노즐 플레이트를 형성하는 단계; (C) forming a nozzle plate having a nozzle formed on the substrate; (라) 상기 기판의 배면쪽에 상기 포스트를 노출시키도록 매니폴드를 형성하는 단계;(D) forming a manifold to expose the post on the back side of the substrate; (마) 상기 매니폴드를 통하여 노출된 상기 포스트를 제거함으로써 상기 리스트릭터를 형성하는 단계; 및(E) forming the restrictor by removing the post exposed through the manifold; And (바) 상기 기판의 표면쪽에 상기 리스트릭터와 연통하는 상기 잉크 챔버를 형성하는 단계;을 포함하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. (F) forming the ink chamber in communication with the restrictor on the surface side of the substrate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판은 n-형 실리콘(n-type Si)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.The substrate is a method of manufacturing an inkjet printhead, characterized in that made of n-type silicon (n-type Si). 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 (가)단계는,In step (a), 상기 기판 표면의 소정 영역에 상기 제1 트렌치들 형성을 위한 다수의 제1 홈과 상기 제2 트렌치들 형성을 위한 다수의 제2 홈을 형성하는 단계;Forming a plurality of first grooves for forming the first trenches and a plurality of second grooves for forming the second trenches in a predetermined region of the substrate surface; 상기 제1 홈들을 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각하여 다수의 제1 상부트렌치를 형성하는 단계; 및Etching the first grooves to a predetermined depth perpendicular to the surface of the substrate to form a plurality of first upper trenches; And 상기 제1 상부트렌치들 및 제2 홈들을 각각 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각하여 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치들을 형성하는 단계;을 포함하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And etching the first upper trenches and the second grooves to a predetermined depth perpendicular to a surface of the substrate to form the first trenches and the second trenches, respectively. . 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 제1 홈 및 제2 홈들은 상기 기판의 표면에 제1 식각마스크를 형성하고, 상기 제1 식각마스크를 통하여 노출된 상기 기판의 표면을 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. The first grooves and the second grooves are formed by forming a first etching mask on the surface of the substrate, and etching the surface of the substrate exposed through the first etching mask. . 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 홈 및 제2 홈들은 KOH 또는 TMAH와 같은 알칼리 용액을 식각액으로 사용하여 상기 기판의 표면을 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. And the first grooves and the second grooves are formed by etching the surface of the substrate using an alkaline solution such as KOH or TMAH as an etchant. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 홈 및 제2 홈들은 피라미드(pyramid) 형상으로 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And the first grooves and the second grooves are formed in a pyramid shape. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제1 상부트렌치들은 상기 제1 식각마스크 상에 상기 제1 홈들을 노출시키도록 제2 식각마스크를 형성하고, 상기 제2 식각마스크를 이용하여 상기 제1 홈들의 바닥을 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. The first upper trenches form a second etching mask to expose the first grooves on the first etching mask, and the bottom of the first grooves is perpendicular to the surface of the substrate using the second etching mask. The inkjet printhead manufacturing method, characterized in that formed by etching to a predetermined depth. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 제1 상부트렌치들은 마크로 포러스 실리콘 식각공정(macro porous Si etching process)에 의하여 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. The first upper trenches are formed by a macro porous Si etching process. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 제1 상부트렌치들은 HF 용액을 식각액으로 사용하여 상기 제1 홈들의 바닥을 소정 깊이로 이방성 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. And the first upper trenches are formed by anisotropically etching the bottom of the first grooves to a predetermined depth using an HF solution as an etchant. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치들은 상기 제2 식각마스크를 제거하고, 상기 제1 식각마스크를 통하여 노출된 상기 제1 상부트렌치 및 제2 홈들의 바닥을 상기 기판의 표면에 수직하게 소정 깊이로 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.The first trenches and the second trenches remove the second etching mask and etch the bottom of the first upper trench and the second grooves exposed through the first etching mask to a predetermined depth perpendicular to the surface of the substrate. The inkjet printhead manufacturing method, characterized in that formed by. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치들은 마크로 포러스 실리콘 식각공정에 의하여 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And the first trenches and the second trenches are formed by a macroporous silicon etching process. 제 11 항에 있어서,The method of claim 11, 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치들은 HF 용액을 식각액으로 사용하여 상기 제1 상부트렌치 및 제2 홈들의 바닥을 소정 깊이로 이방성 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. And the first trenches and the second trenches are formed by anisotropically etching the bottoms of the first upper trenches and the second grooves to a predetermined depth using an HF solution as an etchant. 제 12 항에 있어서,The method of claim 12, 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치는 0.1㎛ ~ 10㎛의 폭으로 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.The first trench and the second trench is a manufacturing method of the inkjet printhead, characterized in that formed in a width of 0.1㎛ ~ 10㎛. 제 13 항에 있어서,The method of claim 13, 상기 제1 트렌치 및 제2 트렌치는 0.1㎛ ~ 1㎛의 폭으로 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.The first trench and the second trench is a manufacturing method of the inkjet printhead, characterized in that formed in a width of 0.1㎛ ~ 1㎛. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (나)단계에서, 상기 포스트 및 식각저지벽은 상기 제1 트렌치들 및 제2 트렌치들 주위의 상기 기판을 산화시킴으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.In the step (b), the post and the etch stop wall are formed by oxidizing the substrate around the first trenches and the second trenches. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (다)단계는,The (c) step, 상기 기판 상에 제1, 제2 및 제3 보호층을 순차적으로 적층하면서, 히터와 상기 히터에 연결되는 도선을 상기 보호층들 사이에 형성하는 단계; 및Sequentially stacking first, second, and third protective layers on the substrate, and forming a heater and a conductive wire connected to the heater between the protective layers; And 상기 제2 및 제3 보호층을 식각하여 상기 제1 보호층을 노출시키는 상기 노즐을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방 법. And etching the second and third passivation layers to form the nozzles exposing the first passivation layer. 제 16 항에 있어서,The method of claim 16, 상기 제1 보호층은 상기 제2 및 제3 보호층과는 다른 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And the first protective layer is made of a material different from the second and third protective layers. 제 16 항에 있어서,The method of claim 16, 상기 제3 보호층 위에 금속으로 이루어진 열발산층을 형성하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And forming a heat dissipation layer made of a metal on the third protective layer. 제 18 항에 있어서,The method of claim 18, 상기 열발산층은 전기도금에 의하여 상기 제3 보호층 위에 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And the heat dissipating layer is formed on the third passivation layer by electroplating. 제 18 항에 있어서,The method of claim 18, 상기 보호층들 사이에는 상기 기판과 열발산층에 접촉되는 열전도층이 더 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. And a thermally conductive layer in contact with the substrate and the heat dissipating layer is formed between the protective layers. 제 16 항에 있어서,The method of claim 16, 상기 (라)단계에서, 상기 매니폴드는 상기 기판의 배면을 소정 깊이로 습식 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.In the step (d), the manifold is formed by wet etching the back surface of the substrate to a predetermined depth. 제 21 항에 있어서,The method of claim 21, 상기 (마)단계에서, 상기 리스트릭터는 상기 기판의 배면쪽에 노출된 포스트를 상기 제1 보호층이 노출될 때까지 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. In the step (E), the restrictor is formed by etching the post exposed on the back side of the substrate until the first protective layer is exposed, characterized in that the inkjet printhead manufacturing method. 제 22 항에 있어서,The method of claim 22, 상기 매니폴드 및 리스트릭터가 형성된 기판의 표면에는 식각방지막이 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.The method of claim 1, wherein an etch stop layer is formed on a surface of the substrate on which the manifold and the restrictor are formed. 제 23 항에 있어서,The method of claim 23, 상기 식각방지막은 상기 매니폴드 및 리스트릭터가 형성된 기판의 표면에 패릴린(parylene)을 증착함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.The etch stop layer is formed by depositing parylene on the surface of the substrate on which the manifold and the restrictor are formed. 제 23 항에 있어서,The method of claim 23, 상기 (바)단계는,The (bar) step, 상기 노즐을 통하여 노출된 제1 보호층을 제거하는 단계;Removing the first protective layer exposed through the nozzle; 상기 제1 보호층을 통하여 노출된 기판의 표면쪽을 소정 깊이로 식각하여 상기 잉크 챔버를 형성하는 단계; 및Etching the surface side of the substrate exposed through the first protective layer to a predetermined depth to form the ink chamber; And 상기 식각방지막을 제거하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법. Removing the etch stop layer; a method of manufacturing an inkjet printhead, comprising: a. 제 25 항에 있어서,The method of claim 25, 상기 식각저지벽은 상기 잉크 챔버의 측벽을 이루는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And the etch stop wall forms a sidewall of the ink chamber. 제 26 항에 있어서,The method of claim 26, 상기 잉크 챔버는 상기 제1 보호층을 통하여 노출된 상기 기판의 표면을 XeF2 가스를 식각가스로 하여 등방성 식각함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.And the ink chamber is formed by isotropic etching the surface of the substrate exposed through the first protective layer using XeF 2 gas as an etching gas. 제 25 항에 있어서,The method of claim 25, 상기 식각방지막은 애싱(ashing) 또는 산소 플라즈마 식각 공정에 의하여 제거되는 것을 특징으로 하는 잉크젯 프린트헤드의 제조방법.The anti-etching film is a method of manufacturing an inkjet printhead, characterized in that removed by an ashing (ash) or oxygen plasma etching process.
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