KR20060071674A - Method for detecting bad pixels of liquid crystal display - Google Patents

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Abstract

화소 불량을 검출하기 위한 액정 표시 장치의 테스트 방법이 제공된다. 화소 불량을 검출하기 위한 액정 표시 장치의 테스트 방법은 (홀수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제1 영역, (홀수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제2 영역, (짝수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제3 영역, (짝수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제4 영역을 포함하는 액정 패널을 제공하는 단계, 제1 및 제4 영역은 소정의 색을 표현하고 제2 및 제3 영역은 블랙을 표현하는 단계, 제1 및 제4 영역은 블랙을 표현하고 제2 및 제3 영역은 소정의 색을 표현하는 단계를 포함한다.A test method of a liquid crystal display device for detecting pixel defects is provided. The test method of the liquid crystal display for detecting pixel defects includes a first region including dots in (odd rows and odd columns), a second region including dots in (odd rows and even columns), (even rows and odd rows). Providing a liquid crystal panel comprising a third region comprising dots of a column) and a fourth region comprising dots of (even rows, even columns), the first and fourth regions representing a predetermined color and The second and third regions represent black, the first and fourth regions represent black, and the second and third regions represent a predetermined color.

액정 표시 장치, 테스트, 오프 도트, 하이 도트Liquid crystal display, test, dot off, high dot

Description

화소 불량을 검출하기 위한 액정 표시 장치의 테스트 방법{Method for detecting bad pixels of liquid crystal display}Method for detecting bad pixels of liquid crystal display

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스터(tester)의 블록도이다. 1 is a block diagram of a tester of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스터의 프로브 유닛 및 액정 패널의 사시도이다.2 is a perspective view of a probe unit and a liquid crystal panel of the tester of the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다.3A and 3B are conceptual views of a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다.4A and 4B are conceptual views illustrating a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 5a 및 도 5b는 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다.5A and 5B are conceptual views of a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a third exemplary embodiment of the present invention.

도 6a 및 도 6b는 본 발명의 제4 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다.6A and 6B are conceptual views of a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.

(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명) (Explanation of symbols for the main parts of the drawing)

1 : 액정 표시 장치의 테스터 10 : 제어부1: tester of liquid crystal display 10: control unit

20 : 패턴 저장부 30 : 신호 발생부 20: pattern storage unit 30: signal generator                 

40 : 프로브 유닛 50 : 액정 패널40: probe unit 50: liquid crystal panel

60 : 검출부60: detector

본 발명은 화소 불량을 검출하기 위한 액정 표시 장치의 테스트 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 신뢰도가 높은 화소 불량을 검출하기 위한 액정 표시 장치의 테스트 방법을 제공하는 것이다.The present invention relates to a test method for a liquid crystal display device for detecting pixel defects, and more particularly, to provide a test method for a liquid crystal display device for detecting pixel defects with high reliability.

액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 외부에서 인가되는 전압에 의해 배열 방향이 변화되는 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 가진 액정층을 포함한다. 액정 표시 장치는 액정층에 전압을 인가하고, 이 전압의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으로써 문자, 숫자, 임의의 아이콘 등의 화상을 표시한다.A liquid crystal display (LCD) includes a liquid crystal layer having dielectric anisotropy in which the arrangement direction is changed by a voltage applied from the outside. The liquid crystal display device displays an image such as letters, numbers, arbitrary icons, etc. by applying a voltage to the liquid crystal layer, and adjusting the intensity of the voltage to adjust the transmittance of light passing through the liquid crystal layer.

액정 표시 장치는 평판 표시 장치(Flat Panel Display; FPD) 중에서 대표적인 것으로서, 음극선관에 비해 소형, 경량화 및 저소비전력 등과 같은 장점이 있다. 따라서, 액정 표시 장치는 이와 같은 특유의 장점으로 인하여 산업 전반 예를 들어, 컴퓨터 산업, 전자 산업, 정보 통신 산업 등에 폭넓게 응용되고 있다. 또한, 액정표시장치는 휴대용 컴퓨터의 디스플레이 장치 및 데스크 톱 컴퓨터의 모니터, 고화질 영상 기기의 모니터 등의 폭넓은 분야에도 다양하게 적용되고 있다.Liquid crystal displays are representative of flat panel displays (FPDs), and have advantages such as small size, light weight, and low power consumption compared to cathode ray tubes. Therefore, the liquid crystal display device is widely applied to the general industry, for example, the computer industry, the electronic industry, the information and communication industry, etc. due to such unique advantages. In addition, the liquid crystal display device has been applied to various fields such as a display device of a portable computer, a monitor of a desktop computer, and a monitor of a high-definition video device.

액정 표시 장치는 TFT 기판과 컬러 필터(color filter) 기판으로 구성된 액 정 패널, 액정 패널에 소정의 화상이 표시되도록 제어 신호를 제공하는 구동 IC(Integrated Circuit), 액정 패널을 백라이트(backlight)하는 백라이트 유닛(Back Light Unit; BLU) 등으로 구성된다. 여기서, 유리 모기판을 이용하여 액정 패널을 제조하는 과정을 개략적으로 설명하면 다음과 같다.The liquid crystal display includes a liquid crystal panel composed of a TFT substrate and a color filter substrate, an integrated circuit (IC) for providing a control signal to display a predetermined image on the liquid crystal panel, and a backlight for backlighting the liquid crystal panel. Unit (Back Light Unit; BLU) and the like. Here, a process of manufacturing a liquid crystal panel using a glass mother substrate is briefly described.

TFT 기판 또는 컬러 필터 기판의 가장자리를 따라 실런트(sealant)를 프린팅한 다음, 두 장의 유리 모기판을 얼라인(align)하여 상호 부착한다. 두 장의 유리 모기판에 나타나는 절단 예정선을 따라 절단하여 유리 모기판들로부터 TFT 기판과 컬러 필터 기판을 분리시킨다. 그 후, 실런트로 인해 TFT 기판과 컬러 필터 기판 사이에 형성된 공간에 액정을 주입하고, 액정 주입구를 완전히 밀봉하여 액정이 세어 나오는 것을 방지한다. A sealant is printed along the edge of the TFT substrate or color filter substrate, and then the two glass mother substrates are aligned and attached to each other. The TFT substrate and the color filter substrate are separated from the glass mother substrates by cutting along the cutting schedule lines appearing on the two glass mother substrates. After that, the liquid crystal is injected into the space formed between the TFT substrate and the color filter substrate due to the sealant, and the liquid crystal injection port is completely sealed to prevent the liquid crystal from leaking out.

이와 같이 제작된 액정 패널은 출하 시점에서 다수 회의 동작 특성 테스트를 하게 된다. 특히, 그로스 테스트(gross test)는 백라이트 유닛 및 구동 IC들이 조립된 모듈(module)과 동일한 환경에서 액정 패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 것을 의미한다. 이하에서 도트를 R(red), G(green), B(blue) 등의 화소가 병치 혼합을 이루어 하나의 혼합된 색을 표현하는 단위로 기술한다.The liquid crystal panel thus manufactured is subjected to a plurality of operating characteristics tests at the time of shipment. In particular, the gross test refers to determining an operating characteristic of a liquid crystal panel and a defect of dots / pixels in the same environment as a module in which the backlight unit and the driving ICs are assembled. Hereinafter, a dot is described as a unit expressing one mixed color by juxtaposing mixing of pixels such as R (red), G (green), and B (blue).

종래의 그로스 테스트에서는 도트/화소의 불량 여부를 판단하기 위해 주로 R, G, B, W(white) 패턴(pattern)을 사용한다. 예를 들면, W 패턴에서 오프 도트(off dot)는 주위의 다른 도트(dot)보다 어둡게 보이기 때문에, 불량 도트로 검출될 수 있다. 그런데, 최근 해상도(resolution)가 점점 높아지고 화소의 크기가 작 아짐에 따라 불량 도트/화소를 찾아내는 것이 어려워지고 있다. 인접한 정상 도트가 표현하는 색에 의해 불량 도트가 가려지기 때문이다.In the conventional gross test, mainly R, G, B, and W (white) patterns are used to determine whether a dot / pixel is defective. For example, in the W pattern, an off dot may appear darker than other dots around it, and thus may be detected as a bad dot. However, in recent years, as the resolution becomes higher and the size of the pixel becomes smaller, it becomes difficult to find a defective dot / pixel. This is because the defective dot is covered by the color represented by the adjacent normal dot.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 신뢰도가 높은 화소 불량을 검출하기 위한 액정 표시 장치의 테스트 방법을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a test method of a liquid crystal display device for detecting a pixel defect having high reliability.

본 발명의 기술적 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다. The technical problem of the present invention is not limited to the technical problem mentioned above, and other technical problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은, (홀수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제1 영역, (홀수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제2 영역, (짝수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제3 영역, (짝수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제4 영역을 포함하는 액정 패널을 제공하는 단계, 제1 및 제4 영역은 소정의 색을 표현하고 제2 및 제3 영역은 블랙을 표현하는 단계, 제1 및 제4 영역은 블랙을 표현하고 제2 및 제3 영역은 소정의 색을 표현하는 단계를 포함한다.According to a test method of a liquid crystal display according to a first exemplary embodiment of the present invention, the dots of a first region including (odd rows and odd columns) and dots of (odd rows and even columns) may be obtained. Providing a liquid crystal panel comprising a second region comprising, a third region comprising dots of (even rows, odd columns), and a fourth region comprising dots of (even rows, even columns), first and The fourth region representing a predetermined color and the second and third regions representing black, the first and fourth regions representing black, and the second and third regions representing a predetermined color. do.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발 명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various forms, and only the embodiments are to make the disclosure of the present invention complete, and the general knowledge in the technical field to which the present invention belongs. It is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is defined only by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스터(tester)를 나타낸 블록도이다. 1 is a block diagram illustrating a tester of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스터(1)는 제어부(10), 패턴 저장부(20), 신호 발생부(30), 프로브 유닛(40), 검출부(60)을 포함한다.Referring to FIG. 1, the tester 1 of the liquid crystal display according to the exemplary embodiment may include a controller 10, a pattern storage unit 20, a signal generator 30, a probe unit 40, and a detector ( 60).

제어부(10)는 액정 표시 장치의 테스터(1)에 설치된 다수 개의 구성 요소를 제어한다. 예를 들어, 도면에는 표시하지 않았으나, 액정 패널(50)을 진공을 이용하여 흡착하여 프로브 유닛(40)으로 로딩(loading)하거나, 로딩된 액정 패널(50)을 프로브 유닛(40)에 정렬시키는 등의 동작을 제어한다. 특히, 제어부(10)는 패턴 저장부(20)에 저장된 패턴 정보를 로딩하여 이에 해당하는 소정의 제어 신호를 신호 발생부(20)에 제공한다.The controller 10 controls a plurality of components installed in the tester 1 of the liquid crystal display. For example, although not shown in the drawing, the liquid crystal panel 50 is adsorbed using a vacuum to be loaded into the probe unit 40, or the loaded liquid crystal panel 50 is aligned with the probe unit 40. Control the operation of the back. In particular, the controller 10 loads the pattern information stored in the pattern storage unit 20 and provides a predetermined control signal to the signal generator 20.

패턴 저장부(20)는 액정 표시 장치의 테스트 과정에서 사용될 다수 개의 패턴 정보를 저장하며, ROM(Read Only Memory)를 주로 사용한다. 다수 개의 패턴 정보는 예를 들어, 잔상 불량을 테스트하기 위한 잔상 패턴 및 블랙(black) 패턴, 구동 불량을 테스트하기 위한 R(Red), G(Green), B(Blue)의 64 계조 패턴(RGB H/V 64 gray), 오프 도트(off dot)를 검출하기 위한 R, G, B, W(White) 패턴 등을 포함한다. The pattern storage unit 20 stores a plurality of pattern information to be used in a test process of the liquid crystal display, and mainly uses a ROM (Read Only Memory). The plurality of pattern information may include, for example, a 64 gradation pattern (RGB) of a residual pattern and a black pattern for testing an afterimage defect, and a red (R), green (G), and blue (B) pattern for testing a driving defect. H / V 64 gray), and R, G, B, and W (White) patterns for detecting off dots.

특히, 본 발명의 일 실시예에 따른 패턴 저장부(20)는 오프 도트(홀수 행, 홀수 열)의 도트들, (짝수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 영역과 (홀수 행, 짝수 열)의 도트들, (짝수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 영역이 교차하여(alternately) 소정의 색을 표시하는 제1 패턴 정보(도 3의 51a, 51b 참조)를 더 포함한다. In particular, the pattern storage unit 20 according to an embodiment of the present invention includes an area including dots of off dots (odd rows, odd columns), dots of (even rows, even columns) and (odd rows, even columns). ) Further includes first pattern information (see 51a and 51b of FIG. 3) in which an area including dots of () and dots of (even rows, odd columns) alternately displays a predetermined color.

또한, 홀수 행의 도트들을 포함하는 영역, 짝수 행의 도트들을 포함하는 영역이 교차하여(alternately) 소정의 색을 표시하는 제2 패턴 정보(도 5의 53a, 53b 참조)을 더 포함한다. 또한, 홀수 열의 도트들을 포함하는 영역, 짝수 열의 도트들을 포함하는 영역을 포함하는 영역이 교차하여(alternately) 소정의 색을 표시하는 제3 패턴 정보(도 6의 54a, 54b 참조)를 더 포함한다.The apparatus further includes second pattern information (see 53a and 53b of FIG. 5) indicating a predetermined color by alternately including an area including dots of odd rows and an area including dots of even rows. The apparatus further includes third pattern information (see 54a and 54b of FIG. 6) indicating a predetermined color by alternately including an area including dots of odd columns and an area including dots of even columns. .

신호 발생부(30)는 제어부(10)로부터 소정의 제어 신호를 수신하여 프로브 유닛(40)에 소정의 구동 신호를 제공한다. 자세히 설명하면, 액정 패널의 게이트 라인에 게이트 온/오프 신호 등과 같은 게이트 신호를 순차적으로 제공하고, 패턴 저장부(20)의 패턴 정보에 부합하는 계조 전압과 같은 데이터 신호를 데이터 라인에 제공한다. 이하에서는 게이트 신호 및 데이터 신호를 통칭하여 구동 신호라 한다.The signal generator 30 receives a predetermined control signal from the controller 10 and provides a predetermined driving signal to the probe unit 40. In detail, a gate signal such as a gate on / off signal is sequentially provided to the gate line of the liquid crystal panel, and a data signal such as a gray voltage corresponding to the pattern information of the pattern storage unit 20 is provided to the data line. Hereinafter, the gate signal and the data signal are collectively referred to as driving signals.

프로브 유닛(40)은 액정 패널(50)에 구동 신호를 인가하기 위한 장치이다. 프로브 유닛(40)은 다수 개의 프로브 핀(probe pin)을 포함하며, 프로브 핀은 액정 패널(50)의 입력 패드(pad)들과 1:1로 접촉된다. The probe unit 40 is a device for applying a driving signal to the liquid crystal panel 50. The probe unit 40 includes a plurality of probe pins, which are in 1: 1 contact with the input pads of the liquid crystal panel 50.

검출부(60)는 프로브 유닛(40)을 통해서 인가된 구동 신호에 따라 화상을 표시한 액정 패널(50)의 동작 특성 등을 검출한다. 또한, 별개의 비교부(도면 미도시)를 두어 검출부(60)에서 검출된 결과를 기저장된 기준 결과와 비교하여 불량 여부를 판단할 수도 있다.The detection unit 60 detects an operating characteristic of the liquid crystal panel 50 displaying an image according to a driving signal applied through the probe unit 40. In addition, a separate comparison unit (not shown) may be provided to determine whether there is a defect by comparing the result detected by the detection unit 60 with a pre-stored reference result.

일반적으로 도트/화소의 불량 여부를 판단하기 위해 사용되는 패턴은 R(red), G(green), B(blue), W(white) 패턴(pattern)이다. 예를 들어, R을 표현하는 화소의 불량 여부를 판단하려면 액정 패널(50)의 모든 도트들이 R을 표현하도록 한다. 이 때, 불량 화소는 R을 표현할 수 없어 오프 도트(off dot)가 되기 때문에 주위의 다른 도트에 비해 어둡게 된다. 그런데, 최근 해상도가 점점 높아짐에 따라 인접한 정상 도트가 표현하는 색에 의해 불량 도트가 가려지므로 불량 여부를 판단하기 어렵다.In general, patterns used to determine whether a dot / pixel is defective are R (red), G (green), B (blue), and W (white) pattern. For example, to determine whether the pixel representing R is defective, all the dots of the liquid crystal panel 50 express R. At this time, since the defective pixel cannot express R and becomes an off dot, it becomes dark compared with other dots around. However, as the resolution becomes higher recently, it is difficult to determine whether or not the defective dot is covered by the color represented by the adjacent normal dot.

따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스터(1)는 예를 들어 오프 도트(홀수 행, 홀수 열)의 도트들, (짝수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 영역과 (홀수 행, 짝수 열)의 도트들, (짝수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 영역이 교차하여(alternately) 소정의 색을 표시하는 제1 패턴(도 3의 51a, 51b 참조)을 액정 패널에 인가한다. 이와 같이, R을 표현하는 하나의 도트에 인접한 4개의 도트들은 블랙을 표현함으로써 인접한 정상 도트에 의해 불량 도트가 가려지는 것을 방지할 수 있다. 이에 대해서는 도 3a 내지 도 5b를 참조하여 자세히 후술한다. Therefore, the tester 1 of the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention may include, for example, an area including dots of off dots (odd rows and odd columns) and dots of (even rows and even columns) and ( A liquid crystal panel includes a first pattern (see 51a and 51b of FIG. 3) in which an area including dots of odd rows and even columns and dots of (even rows and odd columns) alternately displays a predetermined color. To apply. In this manner, four dots adjacent to one dot representing R can prevent black from being covered by defective dots by adjacent normal dots. This will be described later in detail with reference to FIGS. 3A to 5B.                     

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스터의 프로브 유닛 및 액정 패널을 나타낸 사시도이다.2 is a perspective view illustrating a probe unit and a liquid crystal panel of the tester of the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 액정 패널(50)은 TFT 기판(55), 컬러 필터 기판(56), 액정(도면 미도시), 신호 라인(57), 입력 패드들(58)을 포함한다.Referring to FIG. 2, the liquid crystal panel 50 includes a TFT substrate 55, a color filter substrate 56, a liquid crystal (not shown), a signal line 57, and input pads 58.

TFT 기판(55)은 도면에는 표시하지 않았으나 등가 회로로 볼 때 다수 개의 게이트 라인, 데이터 라인, 스위칭 소자 및 화소 전극(pixel electrode)을 포함한다. 게이트 라인은 행 방향으로 뻗어 있어 게이트 신호(gate signal)를 전달하고, 데이터 라인은 열 방향으로 뻗어 있고 데이터 신호(data signal)을 전달한다.Although not shown in the figure, the TFT substrate 55 includes a plurality of gate lines, data lines, switching elements, and pixel electrodes when viewed in an equivalent circuit. The gate line extends in a row direction to transmit a gate signal, and the data line extends in a column direction and transmits a data signal.

비정질 실리콘(amorphous silicon) 또는 다결정 실리콘(polysilicon)을 채널층으로 하는 스위칭 소자는 게이트 라인과 데이터 라인의 교차점에 형성되며, 스위칭 소자의 출력 단자에는 투명한 화소 전극이 연결된다. 보통 ITO(Indium Tin Oxide)나 IZO(Indium Zinc Oxide)를 이용하여 투명한 화소 전극을 형성한다. 이 투명 화소 전극은 컬러필터 기판 상 기준 전극과의 사이에 전위차를 형성하여 액정의 배열을 조절함으로써 원하는 영상을 표현한다.A switching element having amorphous silicon or polysilicon as a channel layer is formed at an intersection point of a gate line and a data line, and a transparent pixel electrode is connected to an output terminal of the switching element. In general, a transparent pixel electrode is formed using indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). The transparent pixel electrode forms a potential difference between the reference electrode on the color filter substrate and adjusts the arrangement of liquid crystals to express a desired image.

한편 1 프레임 동안 원하는 전위차를 유지하기 위해 보조용량 커패시터 및 액정 커패시터가 형성된다. 보조용량 커패시터는 상기 투명 화소 전극과 별도의 스토이지 전극을 이용한 독립 배선 방식(separate wire type)과 바로 위 게이트 전극의 돌출부 및 상기 투명 화소 전극을 이용한 전단 게이트 방식(previous gate type)으로 구분된다. 액정 커패시터는 상기 화소 전극과 컬러필터 상의 기준 전극을 이용하여 형성된다. 상기 보조용량 커패시터 및 액정 커패시터는 상호 병렬로 연결됨을 특징으로 한다.Meanwhile, in order to maintain a desired potential difference for one frame, a storage capacitor and a liquid crystal capacitor are formed. The storage capacitor is classified into a separate wire type using the transparent pixel electrode and a separate storage electrode, and a front gate type using the protrusion of the immediately above gate electrode and the transparent pixel electrode. The liquid crystal capacitor is formed using the pixel electrode and the reference electrode on the color filter. The storage capacitor and the liquid crystal capacitor are connected in parallel with each other.

컬러 필터 기판(56)은 편광판 상부에 위치하며 각 화소마다 색상이 표시될 수 있도록 화소 전극에 대응하는 영역에 R, G, B의 컬러 필터(color filter)를 구비한다. 컬러 필터는 화소 전극의 상부 또는 하부에 형성될 수 있다. 또한, 컬러 필터 상에는 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide) 등과 같은 투명 도전 물질로 이루어진 기준 전극이 형성된다.The color filter substrate 56 is disposed above the polarizer and includes color filters of R, G, and B in regions corresponding to the pixel electrodes so that colors may be displayed for each pixel. The color filter may be formed above or below the pixel electrode. In addition, a reference electrode made of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO) is formed on the color filter.

액정층(도면 미도시)은 TFT 기판(55)과 컬러 필터 기판(56) 사이에 채워지며, 유전율 이방성을 가진다. 액정층(도면 미도시)의 두께는 5um정도이며 TN(Twisted Nematic) 배열을 한다. 액정층(도면 미도시)은 외부에서 인가되는 전압에 의해 배열 방향이 변화되어 액정층(도면 미도시)을 통과하는 빛의 투과율을 조절한다.A liquid crystal layer (not shown) is filled between the TFT substrate 55 and the color filter substrate 56 and has dielectric anisotropy. The liquid crystal layer (not shown) has a thickness of about 5 μm and has a twisted nematic (TN) arrangement. The alignment direction of the liquid crystal layer (not shown) is changed by a voltage applied from the outside to adjust the transmittance of light passing through the liquid crystal layer (not shown).

신호 라인(57)은 TFT 기판(55)상에 형성된 게이트 라인에 게이트 신호를 전달하고, 데이터 라인에 데이터 신호를 전달한다.The signal line 57 transmits a gate signal to a gate line formed on the TFT substrate 55 and a data signal to a data line.

입력 패드들(58)은 신호 라인(57)의 일단에 위치하여, 테스터(도 1의 10 참조)에서 다수 개의 구동 신호를 수신한다.The input pads 58 are located at one end of the signal line 57 and receive a plurality of driving signals from the tester (see 10 in FIG. 1).

프로브 유닛(도1의 40 참조)의 형태는 구동 IC가 액정 패널(50)과 연결되는 방식에 따라 다르다. 즉, 구동 IC는 TCP(Tape Carrier Package) 실장 방식과 COG(Chip On Glass) 실장 방식으로 연결될 수 있다. TCP 실장 방식은 구동 IC가 부착된 테이프를 TFT 기판에 별도로 부착하는 방법이고, COG 실장 방식은 TFT 기판의 소정 영역 위에 직접 구동 IC를 형성하는 방법이다. 본 발명의 일 실시예의 액정 표시 장치의 테스터는 COG 실장 방식을 예로 든다.The shape of the probe unit (see 40 in FIG. 1) depends on how the driving IC is connected to the liquid crystal panel 50. That is, the driving IC may be connected in a Tape Carrier Package (TCP) mounting method and a Chip On Glass (COG) mounting method. The TCP mounting method is a method of separately attaching a tape with a driving IC to a TFT substrate, and the COG mounting method is a method of forming a direct drive IC on a predetermined region of a TFT substrate. The tester of the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention uses a COG mounting method as an example.

프로브 유닛(도 1의 40 참조)은 프로브 베이스(41), 프로브 스테이지(42), 프로브 블록(43), 프로브 핀(44)을 포함한다. The probe unit (see 40 in FIG. 1) includes a probe base 41, a probe stage 42, a probe block 43, and a probe pin 44.

프로브 베이스(41)는 테스트 대상인 액정 패널(50)이 노출되도록 액정 패널(50)보다 크기가 큰 개구부를 포함한다. 또한, 프로브 베이스(41) 상부에는 프로브 블록(43), 프로브 핀(44) 등 다수 개의 구조물이 형성된다.The probe base 41 includes an opening larger in size than the liquid crystal panel 50 so that the liquid crystal panel 50 under test is exposed. In addition, a plurality of structures, such as a probe block 43 and a probe pin 44, are formed on the probe base 41.

프로브 스테이지(42)는 프로브 베이스(41)의 하부에 설치되고, 그 상부에는 액정 패널(50)이 놓여진다. 또한, 프로브 스테이지(42)는 입력 패드들(58)과 프로브 블록(43)들을 접촉시키기 위해 승/하강될 수 있다.The probe stage 42 is installed under the probe base 41, and the liquid crystal panel 50 is placed on the probe stage 42. In addition, the probe stage 42 may be raised or lowered to contact the input pads 58 and the probe blocks 43.

프로브 블록(43)은 프로브 베이스(41)의 상부면에 다수 개 형성되고, 다수 개의 프로브 핀(44)을 하나의 단위로 일체화하는 역할을 한다. A plurality of probe blocks 43 are formed on the upper surface of the probe base 41, and serve to integrate the plurality of probe pins 44 into one unit.

프로브 핀(44)은 액정 패널(50)과 프로브 유닛(도 1의 40 참조)을 전기적으로 연결하며, 테스터(도 1의 10 참조)의 구동 신호를 인가하는 역할을 한다.The probe pin 44 electrically connects the liquid crystal panel 50 and the probe unit (see 40 of FIG. 1) and applies a driving signal of the tester (see 10 of FIG. 1).

이하에서는 도 3a 내지 도 6b를 참조하여, 본 발명의 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명한다. 도면에서 기호(■)는 화소가 블랙을 표시하고 있음을 나타내고, 기호(□)는 화소가 소정의 색(R, G, B) 등을 표시하고 있음을 나타낸다. 또한, 도면에서는 액정 패널이 8개의 도트가 하나의 행(row)을 이루고 있는 경우를 예로 든다.Hereinafter, a test method of the liquid crystal display of the present invention will be described with reference to FIGS. 3A to 6B. In the drawing, symbol (?) Indicates that the pixel displays black, and symbol? Indicates that the pixel displays predetermined colors (R, G, B) and the like. In the drawing, the liquid crystal panel has an example in which eight dots form one row.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다. 3A and 3B are conceptual views of a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.                     

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 우선 액정 패널의 다수 개의 도트들을 (홀수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제1 영역, (홀수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제2 영역, (짝수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제3 영역, (짝수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제4 영역을 구분하여 설명하기로 한다. Referring to FIGS. 3A and 3B, first, a plurality of dots of a liquid crystal panel include a first region including dots of (odd rows and odd columns), a second region including dots of (odd rows and even columns), ( A third area including dots of even rows and odd columns and a fourth area including dots of (even rows and even columns) will be described separately.

도 3a의 패턴(51a)에서 제1 및 제4 영역은 화이트(W)를 표현하고, 제2 및 제3 영역은 블랙을 표현한다. 도 3b의 패턴(51b)에서 제1 및 제4 영역은 블랙을 표현하고, 제2 및 제3 영역은 화이트(W)를 표현한다. 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은 패턴(51a, 51b)을 교차하여(alternately) 액정 패널에 제공한다.In the pattern 51a of FIG. 3A, the first and fourth regions represent white (W), and the second and third regions represent black. In the pattern 51b of FIG. 3B, the first and fourth regions represent black, and the second and third regions represent white (W). The test method of the liquid crystal display according to the first exemplary embodiment of the present invention alternately provides the patterns 51a and 51b to the liquid crystal panel.

도 3a의 패턴(51a)에서는 불량 화소(A)가 검출되지 않지만, 도 3b의 패턴(51b)에서 불량 화소(A)는 검출될 수 있다. 즉, 불량 화소(A)를 포함하는 도트(dotA)는 인접한 도트들이 블랙을 표현하고 있으므로 쉽게 눈에 띌 수 있다. 따라서, 불량 화소(A)는 검출될 가능성이 높아진다.Although the bad pixel A is not detected in the pattern 51a of FIG. 3A, the bad pixel A may be detected in the pattern 51b of FIG. 3B. That is, the dot dotA including the bad pixel A is easily noticeable since the adjacent dots represent black. Therefore, the bad pixel A becomes more likely to be detected.

이와 같이, 도 3a 및 도 3b의 패턴(51a, 51b)를 교차시켜 액정 패널에 제공하면, 해상도가 높은 액정 패널에서도 불량 화소/도트를 종래의 테스트 방법보다 쉽게 검출할 수 있다.As such, when the patterns 51a and 51b of FIGS. 3A and 3B are crossed and provided to the liquid crystal panel, the defective pixels / dots can be detected more easily than the conventional test method even in a liquid crystal panel having a high resolution.

표 1은 종래의 R, G, B, W 패턴을 사용할 경우와 본 발명의 제1 실시예에 따른 패턴(51a, 51b)을 사용할 경우를 비교한 결과이다. 본 발명의 제1 실시예에 따른 패턴(51a, 51b)을 사용할 경우, 종래의 R, G, B, W 패턴을 사용할 경우보다 모듈 불량율은 36.5% 감소하고, 검사자별 판단 일치율은 4.3% 증가하였음을 알 수 있 다.Table 1 compares the case of using the conventional R, G, B and W patterns with the case of using the patterns 51a and 51b according to the first embodiment of the present invention. In the case of using the patterns 51a and 51b according to the first embodiment of the present invention, the module failure rate was reduced by 36.5% and the judgment agreement rate was increased by 4.3% compared to the case of using the conventional R, G, B, and W patterns. It can be seen.

모듈 불량율Module failure rate 검사자별 판단 일치율Judgment Concordance Rate by Inspector 종래의 패턴Conventional pattern 본 발명의 제1실시예에 따른 패턴Pattern according to the first embodiment of the present invention 종래의 패턴Conventional pattern 본 발명의 제1실시예에 따른 패턴Pattern according to the first embodiment of the present invention 6.262PPM6.262PPM 3.978PPM (36.5% 감소)3.978PPM (36.5% decrease) 82.4% 82.4%                                              86.7% (4.3% 증가)86.7% (4.3% increase)

도 4a 및 도 4b은 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다.4A and 4B are conceptual views illustrating a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 4a 및 도 4b를 참조하면, 액정 패널의 다수 개의 도트들을 도 3a 및 도 3b와 같은 다수 개의 영역으로 구분하여 설명하기로 한다.4A and 4B, a plurality of dots of the liquid crystal panel are divided into a plurality of regions as shown in FIGS. 3A and 3B.

도 4a의 패턴(52a)에서 제2 및 제3 영역은 레드(R)를 표현하고, 제1 및 제4 영역은 블랙을 표현한다. 도 4b의 패턴(52b)에서 제2 및 제3 영역은 블랙을 표현하고, 제1 및 제4 영역은 레드(R)를 표현한다. 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은 패턴(52a, 52b)을 교차하여(alternately) 액정 패널에 제공한다. 도 4a 및 도 4b의 패턴(52a, 52b)에서는 레드(R)만을 표현하고 있으나 이에 제한되지 않고 그린(G), 블루(B)도 가능하다.In the pattern 52a of FIG. 4A, the second and third regions represent red (R), and the first and fourth regions represent black. In the pattern 52b of FIG. 4B, the second and third regions represent black, and the first and fourth regions represent red (R). The test method of the liquid crystal display according to the second exemplary embodiment of the present invention alternately provides the patterns 52a and 52b to the liquid crystal panel. Although only red (R) is represented in the patterns 52a and 52b of FIGS. 4A and 4B, green (G) and blue (B) may also be used.

도 4a의 패턴(52a)에서는 불량 화소(B)가 검출되지 않지만, 도 4b의 패턴(52b)에서 불량 화소(B)는 검출될 수 있다. 즉, 불량 화소(B)를 포함하는 도트(dotB)는 인접한 도트들이 블랙을 표현하고 있으므로 쉽게 눈에 띌 수 있다. 따라서, 불량 화소(B)는 검출될 가능성이 높아진다.Although the bad pixel B is not detected in the pattern 52a of FIG. 4A, the bad pixel B may be detected in the pattern 52b of FIG. 4B. That is, the dot including the bad pixel B may be easily seen because adjacent dots represent black. Therefore, the bad pixel B is likely to be detected.

이와 같이, 도 4a 및 도 4b의 패턴(52a, 52b)를 교차시켜 액정 패널에 제공하면, 해상도가 높은 액정 패널에서도 불량 화소/도트를 종래의 테스트 방법보다 쉽게 검출할 수 있다.As such, when the patterns 52a and 52b of FIGS. 4A and 4B are crossed and provided to the liquid crystal panel, the defective pixels / dots can be detected more easily than the conventional test method even in a liquid crystal panel having a high resolution.

도 5a 및 도 5b은 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다.5A and 5B are conceptual views of a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a third exemplary embodiment of the present invention.

도 5a 및 도 5b를 참조하면, 우선 액정 패널의 다수 개의 도트들을 홀수 행의 도트들을 포함하는 제5 영역, 짝수 행의 도트들을 포함하는 제6 영역으로 구분하여 설명하도록 한다.5A and 5B, first, a plurality of dots of a liquid crystal panel are divided into a fifth region including odd rows and a sixth region including even rows.

도 5a의 패턴(53a)에서 제5 영역은 레드(R)를 표현하고, 제6 영역은 블랙을 표현한다. 도 5b의 패턴(53b)에서 제5 영역은 블랙을 표현하고, 제6 영역은 레드(R)를 표현한다. 본 발명의 제3 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은 패턴(53a, 53b)을 교차하여(alternately) 액정 패널에 제공한다. 도 5a 및 도 5b의 패턴(53a, 53b)에서는 레드(R)만을 표현하고 있으나 이에 제한되지 않고 그린(G), 블루(B)도 가능하다.In the pattern 53a of FIG. 5A, the fifth region represents red (R) and the sixth region represents black. In the pattern 53b of FIG. 5B, the fifth region represents black and the sixth region represents red (R). The test method of the liquid crystal display according to the third exemplary embodiment of the present invention alternately provides the patterns 53a and 53b to the liquid crystal panel. Although only red (R) is represented in the patterns 53a and 53b of FIGS. 5A and 5B, green (G) and blue (B) may also be used.

도 5a의 패턴(53a)에서는 불량 화소(C)가 검출되지 않지만, 도 5b의 패턴(53b)에서 불량 화소(C)는 검출될 수 있다. 즉, 불량 화소(C)를 포함하는 도트(dotC)는 양쪽에 위치한 도트들이 블랙을 표현하고 있으므로 쉽게 눈에 띌 수 있다. 따라서, 불량 화소(C)는 검출될 가능성이 높아진다.Although the bad pixel C is not detected in the pattern 53a of FIG. 5A, the bad pixel C may be detected in the pattern 53b of FIG. 5B. That is, the dot C including the bad pixel C may be easily noticeable since the dots located on both sides represent black. Therefore, the bad pixel C is likely to be detected.

이와 같이, 도 5a 및 도 5b의 패턴(53a, 53b)를 교차시켜 액정 패널에 제공하면, 해상도가 높은 액정 패널에서도 불량 화소/도트를 종래의 테스트 방법보다 쉽게 검출할 수 있다.As such, when the patterns 53a and 53b of FIGS. 5A and 5B are crossed and provided to the liquid crystal panel, the defective pixels / dots can be detected more easily than in the conventional test method even in a liquid crystal panel having a high resolution.

도 6a 및 도 6b은 본 발명의 제4 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방 법을 설명하기 위한 액정 패널의 개념도이다.6A and 6B are conceptual views illustrating a liquid crystal panel for explaining a test method of a liquid crystal display according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.

도 6a 및 도 6b를 참조하면, 우선 액정 패널의 다수 개의 도트들을 홀수 열의 도트들을 포함하는 제7 영역, 짝수 열의 도트들을 포함하는 제8 영역으로 구분하여 설명하도록 한다.6A and 6B, first, a plurality of dots of a liquid crystal panel are divided into seventh areas including odd rows and eighth areas including even rows.

도 6a의 패턴(54a)에서 제7 영역은 레드(R)를 표현하고, 제8 영역은 블랙을 표현한다. 도 6b의 패턴(54b)에서 제7 영역은 블랙을 표현하고, 제8 영역은 레드(R)를 표현한다. 본 발명의 제4 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법은 패턴(54a, 54b)을 교차하여(alternately) 액정 패널에 제공한다. 도 6a 및 도 6b의 패턴(54a, 54b)에서는 레드(R)만을 표현하고 있으나 이에 제한되지 않고 그린(G), 블루(B)도 가능하다.In the pattern 54a of FIG. 6A, the seventh region represents red (R) and the eighth region represents black. In the pattern 54b of FIG. 6B, the seventh region represents black and the eighth region represents red (R). The test method of the liquid crystal display according to the fourth exemplary embodiment of the present invention alternately provides the patterns 54a and 54b to the liquid crystal panel. In the patterns 54a and 54b of FIGS. 6A and 6B, only red (R) is represented, but not limited thereto, and green (G) and blue (B) may be possible.

도 6a의 패턴(54a)에서는 불량 화소(D)가 검출되지 않지만, 도 6b의 패턴(54b)에서 불량 화소(D)는 검출될 수 있다. 즉, 불량 화소(D)를 포함하는 도트(dotD)는 양쪽에 위치한 도트들이 블랙을 표현하고 있으므로 쉽게 눈에 띌 수 있다. 따라서, 불량 화소(D)는 검출될 가능성이 높아진다.Although the bad pixel D is not detected in the pattern 54a of FIG. 6A, the bad pixel D may be detected in the pattern 54b of FIG. 6B. That is, the dot including the bad pixel D may be easily noticeable since the dots located on both sides represent black. Therefore, the bad pixel D is more likely to be detected.

이와 같이, 도 6a 및 도 6b의 패턴(54a, 54b)를 교차시켜 액정 패널에 제공하면, 해상도가 높은 액정 패널에서도 불량 화소/도트를 종래의 테스트 방법보다 쉽게 검출할 수 있다.As described above, when the patterns 54a and 54b of FIGS. 6A and 6B are crossed and provided to the liquid crystal panel, a bad pixel / dot can be detected more easily than a conventional test method even in a liquid crystal panel having a high resolution.

본 발명의 일 실시예에서는 오프 도트(off dot)의 불량 검출을 위주로 설명하였으나, 하이 도트(high dot)의 불량 검출에도 적용될 수 있음은 자명하다. Although an embodiment of the present invention has been described mainly for the detection of defects of off dots, it is obvious that the present invention can be applied to the detection of defects of high dots.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. I can understand that. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are exemplary in all respects and not restrictive.

상기한 바와 같은 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 테스트 방법에 따르면 다음과 같은 효과가 하나 혹은 그 이상 있다. According to the test method of the liquid crystal display according to the present invention as described above has one or more of the following effects.

첫째, 화소의 크기가 작아지더라도 불량 도트/화소를 용이하게 검출할 수 있으므로 테스트의 신뢰도를 높일 수 있다.First, even if the size of the pixel is small, it is possible to easily detect a defective dot / pixel, thereby increasing the reliability of the test.

둘째, 액정 표시 장치의 불량율이 낮아지므로 수율을 높일 수 있다.Second, since the defective rate of the liquid crystal display is lowered, the yield can be increased.

Claims (6)

(홀수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제1 영역, (홀수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제2 영역, (짝수 행, 홀수 열)의 도트들을 포함하는 제3 영역, (짝수 행, 짝수 열)의 도트들을 포함하는 제4 영역을 포함하는 액정 패널을 제공하는 단계;A first region containing dots of (odd rows, odd columns), a second region containing dots of (odd rows, even columns), a third region containing dots of (even rows, odd columns), (even Providing a liquid crystal panel comprising a fourth region comprising dots of rows, even columns; 상기 제1 및 제4 영역은 소정의 색을 표현하고, 상기 제2 및 제3 영역은 블랙을 표현하는 단계; 및The first and fourth areas representing a predetermined color, and the second and third areas representing black; And 상기 제1 및 제4 영역은 블랙을 표현하고, 상기 제2 및 제3 영역은 소정의 색을 표현하는 단계를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.And the first and fourth regions represent black, and the second and third regions represent a predetermined color. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소정의 색은 R, G, B, W 중 어느 하나인 액정 표시 장치의 테스트 방법.The said predetermined color is any of R, G, B, W test method of a liquid crystal display device. 홀수 행의 도트들을 포함하는 제1 영역, 짝수 행의 도트들을 포함하는 제2 영역을 포함하는 액정 패널을 제공하는 단계;Providing a liquid crystal panel comprising a first region comprising odd rows of dots and a second region comprising even rows of dots; 상기 제1 영역은 소정의 색을 표현하고, 상기 제2 영역은 블랙을 표현하는 단계; 및The first region represents a predetermined color, and the second region represents black; And 상기 제1 영역은 블랙을 표현하고, 상기 제2 영역은 소정의 색을 표현하는 단계를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.And the first region expresses black and the second region expresses a predetermined color. 제 3항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 소정의 색은 R, G, B, W 중 어느 하나인 액정 표시 장치의 테스트 방법.The said predetermined color is any of R, G, B, W test method of a liquid crystal display device. 홀수 열의 도트들을 포함하는 제1 영역, 짝수 열의 도트들을 포함하는 제2 영역을 포함하는 액정 패널을 제공하는 단계;Providing a liquid crystal panel comprising a first region comprising odd rows of dots and a second region comprising even rows of dots; 상기 제1 영역은 소정의 색을 표현하고, 상기 제2 영역은 블랙을 표현하는 단계; 및The first region represents a predetermined color, and the second region represents black; And 상기 제1 영역은 블랙을 표현하고, 상기 제2 영역은 소정의 색을 표현하는 단계를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.And the first region expresses black and the second region expresses a predetermined color. 제 5항에 있어서, The method of claim 5, 상기 소정의 색은 R, G, B, W 중 어느 하나인 액정 표시 장치의 테스트 방법.The said predetermined color is any of R, G, B, W test method of a liquid crystal display device.
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KR1020040110361A KR20060071674A (en) 2004-12-22 2004-12-22 Method for detecting bad pixels of liquid crystal display

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101403127B1 (en) * 2012-11-23 2014-06-03 엘지디스플레이 주식회사 Display Panel and Method for Testing Display Panel
KR20150064469A (en) * 2013-12-03 2015-06-11 삼성전자주식회사 Method, apparatus and storage medium for compensating for defect pixel of display

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