KR20060025033A - Method and system for testing by using automatic control program - Google Patents
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Abstract
본 발명은 본 발명은 자동화 제어 프로그램을 이용한 테스트 방법 및 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a test method and system using an automated control program.
본 발명은 제품의 품질 및 성능을 테스트하기 위한 테스트 시스템에서 테스트 작업을 자동화하고 통일성있는 사용자 인터페이스를 제공하는 제어 프로그램을 이용하여 테스트를 수행하는 방법으로서, (a) 테스트 프로그램 관리 서버로부터 자동으로 테스트 프로그램을 다운로드하는 단계; (b) 테스트 제품에 관한 기본 정보를 화면에 출력하는 단계; (c) 테스트 프로그램을 자동으로 실행하여 테스트를 수행하는 단계; (d) 테스트 진행 상황을 실시간으로 화면에 출력하는 단계; (e) 테스트를 수행하는 과정에서 생성되는 테스트 결과에 관한 정보를 저장하는 단계; 및 (f) 테스트 프로그램의 실행을 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동화 제어 프로그램을 이용한 테스트 방법을 제공한다.The present invention is a method for performing a test using a control program that automates a test task and provides a uniform user interface in a test system for testing the quality and performance of a product, and (a) automatically testing from a test program management server. Downloading a program; (b) outputting basic information about the test product on a screen; (c) automatically executing a test program to perform a test; (d) outputting the test progress on the screen in real time; (e) storing information about a test result generated during a test; And (f) it provides a test method using an automated control program comprising the step of terminating the execution of the test program.
본 발명에 의하면, 작업자가 임의로 테스트 프로그램을 선택함으로써 발생할 수 있는 실수 또는 오류를 방지하고, 안정적인 테스트 환경을 구축할 수 있을 뿐만 아니라 테스트 시스템의 테스트 수행 능력을 향상 시킬 수 있다.According to the present invention, it is possible to prevent mistakes or errors that may occur when an operator arbitrarily selects a test program, to establish a stable test environment, and to improve test performance of the test system.
테스트 프로그램, 제어 프로그램, 반도체 테스트, Control Program, GUITest Program, Control Program, Semiconductor Test, Control Program, GUI
Description
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 테스트를 위한 시스템을 간략하게 나타낸 블럭 구성도,1 is a block diagram schematically illustrating a system for semiconductor testing according to a preferred embodiment of the present invention;
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 테스트를 수행하기 위한 방법을 설명하기 위한 순서도이다.2 is a flowchart illustrating a method for performing a semiconductor test according to a preferred embodiment of the present invention.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>
110 : 테스트 프로그램 관리 서버 120 : 테스트 데이터베이스110: test program management server 120: test database
130 : 테스터 140 : 프로버130: tester 140: prober
150 : 핸들러150: handler
본 발명은 자동화 제어 프로그램(Automatic Control Program)을 이용한 테스트 방법 및 시스템에 관한 것이다. 더욱 상세하게는, 제품의 품질 및 성능을 테스트하기 위한 테스트 방법 및 시스템에 있어서, 자동화 제어 프로그램을 이용하여 다수의 테스터에 자동으로 테스트 프로그램을 설치하여 테스트 절차를 자동화하고, 각 테스터에 동일한 그래픽 사용자 인터페이스(Graphic User Interface)를 제공하며, 테스트 과정 및 결과를 실시간 모니터링하여 테스트 결과를 저장하는 테스트 방법 및 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a test method and system using an automatic control program. More specifically, in a test method and system for testing the quality and performance of a product, an automated control program is used to automatically install a test program on multiple testers to automate the test procedure, and the same graphic user on each tester. It provides an interface (Graphic User Interface), and relates to a test method and system for storing test results by monitoring the test process and results in real time.
공업화 및 산업화가 진행해 감에 따라 제품 생산의 효율성을 제고하기 위한 다양한 형태의 자동화된 테스트 장비가 개발되어 왔다. 특히 반도체의 경우에는 집적도가 낮고 종류가 많지 않았을 때에는 이를 위한 검사 과정은 간단하였으나, 반도체 생산 기술의 발전과 더불어 반도체의 집적도가 높아지고 종류가 더욱 다양해짐에 따라 테스트 과정은 더욱 복잡하게 되었으며, 테스트 장비는 더욱 정교한 하드웨어와 소프트웨어를 요구하게 되었다.As industrialization and industrialization progress, various types of automated test equipment have been developed to increase the efficiency of product production. In particular, in the case of semiconductors, when the degree of integration is low and there are not many kinds, the inspection process is simple. However, with the development of semiconductor production technology, as the degree of integration of semiconductors increases and the types of semiconductors become more diverse, the testing process becomes more complicated. Demanded more sophisticated hardware and software.
이에 따라, 테스트 과정을 단순화하고 테스트 절차를 보다 용이하게 수행할 수 있는 많은 테스트 시스템이 개발되어 생산된 제품을 테스트하기 위해 사용되고 있다. 이러한 테스트 시스템은 일반적으로 중앙 집중형 시스템으로 구성된다. 일반적인 테스트 인터페이스를 활용한 테스트 시스템은 테스트 작업에 대한 전반적인 제어를 수행하는 관리 서버, 관리 서버에 의해 제어되고, 제품의 품질, 특성, 오류 여부 등을 테스트하는 테스터, 테스터에 의해 제어되어 테스터의 테스트 작업 수행을 보조하는 다수의 하위 장치 등으로 구성된다. 또한, 관리 서버, 테스터 및 스테이션들은 유무선 통신망을 이용하여 연결되어 상호 간에 데이터를 송수신한다.Accordingly, many test systems have been developed and used to test the products produced to simplify the test process and to make the test procedure easier. Such test systems typically consist of a centralized system. The test system utilizing the general test interface is controlled by the management server and the management server which performs overall control over the test work, and is controlled by the tester and tester that tests the product quality, characteristics, and errors. It consists of a number of sub-devices that assist in performing the work. In addition, the management server, testers and stations are connected by using a wired or wireless communication network to transmit and receive data with each other.
이러한 종래의 테스트 시스템에서 테스트를 수행하려면, 테스트를 수행하는 작업자는 테스터를 이용하여 중앙의 관리 서버에 접속하여 수행할 테스트 작업에 적합한 테스트 프로그램 및 로트(Lot) 번호를 입력하여 테스트 프로그램을 다운로 드한다. 작업자는 테스터에 다운로드한 테스트 프로그램을 직접 실행한다. 또한, 작업자는 테스터에 저장된 제어 프로그램을 통해 별도의 조회 절차를 거쳐서 테스트 과정을 확인한다.In order to perform a test in such a conventional test system, a tester uses a tester to connect to a central management server and download a test program by entering a test program and lot number suitable for a test task to be performed. De The operator runs the test program downloaded directly to the tester. In addition, the operator checks the test process through a separate inquiry procedure through a control program stored in the tester.
한편, 이러한 종래의 테스트 방법 및 시스템에 의한 테스트 수행은 테스트 장비 운영, 유지 보수 및 테스트 수행 과정에 있어서 여러 가지 문제점을 가지고 있다. 작업자가 테스트 프로그램을 다운로드하고 실행하는 데에 있어서, 테스터 매뉴얼 또는 카드 시트(Card Sheet)를 거의 사용하지 않는다. 왜냐하면 작업자가 테스터를 이용하여 관리 서버에 접속한 후에 카드 시트를 보고 적절한 테스트 프로그램을 선정하고 해당 테스트 프로그램이 저장된 디렉토리를 찾아 해당 테스트 프로그램을 다운로드하여 실행시킨다. 이 때, 관리 서버 내의 데이터베이스(미도시) 디렉토리 내에 해당 테스트 프로그램이 없거나 변경된 경우에 작업자는 수행할 테스트에 적합한 테스트 프로그램을 찾아 다운로드하는 데에 많은 시간과 노력을 투자하여야 할 뿐만 아니라 이 과정에서 심각한 오류를 발생시킬 수 있다.On the other hand, the test performance by the conventional test method and system has a number of problems in the test equipment operation, maintenance and test performance process. Operators rarely use tester manuals or card sheets to download and run test programs. Because the operator uses the tester to access the management server, look at the card sheet, select the appropriate test program, find the directory where the test program is stored, and download and run the test program. In this case, if the test program is not found or changed in the database (not shown) directory of the management server, the operator should not only invest a lot of time and effort in finding and downloading the test program suitable for the test to be performed, It may cause an error.
또한, 다양하면서도 방대한 테스트 절차를 작업자가 충분히 숙지하기 어렵기 때문에 작업자가 테스트 작업을 수행하는 중에 사소한 문제가 발생하더라도 문제 해결을 위해 해결 방법을 문의하거나 수리 요청을 위해 빈번하게 중앙 관리자를 호출하는 비효율이 발생하게 된다. 또한, 테스트 시스템에 테스트 장비를 제공하는 업체가 통일되지 않아서 그에 따라 각 테스트 장비에서 사용되는 컴퓨터 시스템의 운영 체제가 상이할 뿐만 아니라 GUI(Graphic User Interface)도 각각 다르다. 이로 인해 작업자는 테스트 장비 사용에 오류를 발생시킬 가능성이 농후하다. 이러한 테스트 절차 수행에 있어서 발생할 수 있는 비효율은 테스트 또는 생산 작업의 일부를 중단시킴으로 인해 막대한 생산 차질을 초래한다.In addition, it is difficult for the operator to fully understand the extensive and extensive testing procedures, which makes it inefficient to ask for solutions to solve problems or to call the central manager frequently for repair requests, even if minor problems arise during the test work. This will occur. In addition, there is no unified provider of test equipment for the test system, so the operating system of the computer system used in each test equipment is different, and the graphical user interface (GUI) is different. This increases the likelihood that the operator will be in error in the use of test equipment. Inefficiencies that may occur in performing these test procedures result in significant production disruptions due to interruption of some of the test or production operations.
이러한 문제점을 해결하기 위해 본 발명은, 자동화된 제어 프로그램을 이용하여 테스터에 자동으로 테스트 프로그램을 다운로드하여 테스트 절차를 자동화하고, 통합된 사용자 인터페이스를 제공하여 테스트 과정 및 결과를 실시간으로 모니터링하고 테스트 결과를 저장하는 테스트 방법 및 시스템을 제공한다.In order to solve this problem, the present invention automatically downloads the test program to the tester using an automated control program to automate the test procedure, and provides an integrated user interface to monitor the test process and results in real time, and test results. Provide a test method and system for storing it.
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 제품의 품질 및 성능을 테스트하기 위한 테스트 프로그램 관리 서버, 테스트 데이터베이스, 테스트 장비 및 제어 장비를 포함하는 테스트 시스템에서 테스트 작업을 자동화하고 통일성 있는 사용자 인터페이스(User Interface)를 제공하는 제어 프로그램(Control Program)을 이용하여 테스트를 수행하는 방법으로서, (a) 테스트 실행에 관한 정보를 입력 받아 상기 테스트 프로그램 관리 서버로부터 자동으로 테스트 프로그램을 다운로드하는 단계; (b) 상기 제어 프로그램을 이용하여 테스트할 대상인 테스트 제품에 관한 기본 정보를 화면에 출력하는 단계; (c) 상기 제어 프로그램을 이용하여 상기 테스트 프로그램을 자동으로 실행하여 상기 테스트를 수행하는 단계; (d) 상기 제어 프로그램을 이용하여 상기 테스트 제품의 테스트 진행 상황을 실시간으로 화면에 출력하는 단계; (e) 상기 테스트를 수행하는 과정에서 생성되는 테스트 결과에 관한 정보를 상기 테스트 프로그램 관리 서버로 전송하여 상기 테스트 데이터베이스에 저장하는 단계; 및 (f) 상기 테스트 제품의 테스트를 완료하고 상기 테스트 프로그램의 실행을 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동화 제어 프로그램을 이용한 테스트 방법을 제공한다.In order to achieve this object, the present invention provides a uniform user interface and automated test operation in a test system including a test program management server, a test database, test equipment, and control equipment for testing product quality and performance. A method of performing a test by using a control program (Control Program) to provide a), comprising the steps of: (a) receiving information about the test execution to automatically download a test program from the test program management server; (b) outputting basic information about a test product to be tested by using the control program on a screen; (c) automatically executing the test program using the control program to perform the test; (d) outputting a test progress of the test product on a screen in real time using the control program; (e) transmitting information on a test result generated in the course of performing the test to the test program management server and storing the test result in the test database; And (f) completing the test of the test product and terminating execution of the test program.
또한, 본 발명의 다른 목적에 의하면, 테스트 작업을 자동화하고 통일성 있는 사용자 인터페이스(User Interface)를 제공하는 제어 프로그램(Control Program)을 이용하여 제품의 품질 및 성능을 테스트하기 위한 테스트 시스템으로서, 상기 테스트를 수행하기 위한 테스트 프로그램을 저장하는 테스트 프로그램 관리 서버; 상기 테스트 프로그램 관리 서버와 연결되어 상기 제어 프로그램을 이용하여 상기 테스트 프로그램 관리 서버로부터 상기 테스트 프로그램을 수신하여 실행하는 테스터; 상기 테스터와 연결되고 상기 테스터에 의해 제어되어 상기 테스터가 상기 테스트를 수행하도록 보조하는 제어 장비; 및 상기 테스트 프로그램 관리 서버와 연결되어 테스트 결과에 관한 정보를 저장하는 테스트 데이터베이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동화 제어 프로그램을 이용한 테스트 시스템을 제공한다.In addition, according to another object of the present invention, as a test system for testing the quality and performance of the product using a control program (Automation Control Program) that automates the test work and provides a uniform user interface, the test A test program management server to store a test program for performing the test; A tester connected to the test program management server to receive and execute the test program from the test program management server using the control program; Control equipment connected to the tester and controlled by the tester to assist the tester in performing the test; And a test database connected with the test program management server to store information regarding a test result.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. First of all, in adding reference numerals to the components of each drawing, it should be noted that the same reference numerals are used as much as possible even if displayed on different drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the related well-known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
또한, 이하에서는 설명의 편의를 위해 본 발명을 반도체 테스트를 위한 시스템에 적용하여 반도체 테스트 시스템 및 방법에 대해 설명한다. 그러나, 본 발명은 반도체 테스트를 위한 시스템 및 방법에 한정되는 것이 아니라, 제품의 품질 및 성능을 테스트하는 모든 가능한 시스템 및 방법에 사용될 수 있다.In addition, hereinafter, a semiconductor test system and method will be described by applying the present invention to a system for semiconductor test for convenience of description. However, the invention is not limited to systems and methods for semiconductor testing, but may be used in all possible systems and methods for testing the quality and performance of products.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 테스트를 위한 시스템을 간략하게 나타낸 블럭 구성도이다.1 is a block diagram schematically illustrating a system for a semiconductor test according to a preferred embodiment of the present invention.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 테스트를 위한 시스템은 테스트 프로그램 관리 서버(110), 테스트 데이터베이스(120), 테스터(130), 프로버(140) 및 핸들러(150)를 포함한다.A system for semiconductor testing according to a preferred embodiment of the present invention includes a test
테스트 프로그램 관리 서버(110)는 통상적인 네트워크 서버로 구현된다. 네트워크 서버란, 일반적으로 사설 인트라넷 또는 인터넷과 같은 컴퓨터 네트워크를 통해 다른 네트워크 서버와 통신이 가능한 하위 장치와 연결되어 작업 수행 요청을 접수하고 그에 대한 작업을 수행하여 제공하는 컴퓨터 시스템 및 컴퓨터 소프트웨어(네트워크 서버 프로그램)를 뜻하는 것이다. 그러나 이러한 네트워크 서버 프로그램 이외에도, 네트워크 서버 상에서 동작하는 일련의 응용 프로그램과 경우에 따라서는 내부에 구축되어 있는 각종 데이터베이스를 포함하는 넓은 개념으로 이해되어야 할 것이다. 이러한 네트워크 서버는 도스(DOS), 윈도우(Windows), 리눅스(Linux), 유닉스(UNIX) 또는 매킨토시(Macintosh) 등의 운영체제에 따라 다양하게 제공되고 있는 네트워크 서버 프로그램을 이용하여 구현될 수 있다.The test
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 프로그램 관리 서버(110)는 자체 내의 데이터베이스(미도시)에 반도체 제품을 테스트하기 위한 테스트 프로그램을 프로그램 버전(Version)별로 디렉토리(Directory)를 구성하여 저장한다. 또한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 프로그램 관리 서버(110)는 테스터(130)로부터 '테스트 결과에 관한 정보'를 수신하여 테스트 데이터베이스(120)에 저장한다. 그리고, 테스트 프로그램 관리 서버(110)는 저장한 '테스트 결과에 관한 정보'를 관리자 또는 작업자로부터 요청이 있는 경우에 화면에 출력하게 할 수 있다. 여기서, '테스트 결과에 관한 정보'에 대해서는 후술하는 과정에서 설명하기로 한다.The test
테스트 데이터베이스(120)는 데이터베이스 관리 시스템(DBMS : Database Management System) 프로그램을 이용하여 컴퓨터 시스템의 저장 공간에 구현된 데이터 구조를 의미하는 것으로, 데이터의 검색, 삭제, 편집 및 추가 등을 자유롭게 행할 수 있는 데이터 저장 형태를 뜻한다. 이러한 데이터베이스는 오라클(Oracle), 인포믹스(informix), 사이베이스(Sybase), MS SQL(Microsoft Structured Query Language) 또는 DB2와 같은 관계형 데이터베이스 관리 시스템(RDBMS : Relational Database Management System)을 이용하여 본 발명의 목적에 맞게 구현될 수 있고, 데이터의 저장, 검색, 삭제, 편집 및 추가 등의 기능을 수행하기 위한 적당한 필드(Field) 또는 엘리먼트들을 가지고 있다.The
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 데이터베이스(120)는 테스트 프로그램 관리 서버(110)로부터 테스트 결과값을 수신하여 저장한다. 여기서, 테스트 데이터베이스(120)는 '테스트 결과에 관한 정보'를 각 테스트 이벤트(Event) 별, 테스트 장비 별, 테스트 제품 별로 구분하여 저장할 수 있다. 또한, 테스트 데이터 베이스(120)는 테스트 프로그램 관리 서버(110)로부터 요청이 있는 경우에 '테스트 결과에 관한 정보'를 검색하여 테스트 프로그램 관리 서버(110)로 전송한다.The
테스터(130)는 반도체 소자의 전기적 특성을 테스트하는 장비로서, 테스터(130)에는 프로버(140), 핸들러(150) 등의 하위 장비들을 제어하기 위해 중앙 처리 장치, 메모리 등의 컴퓨터 시스템이 내장되어 있으며, 반도체 소자를 전기적으로 검사하기 위한 전원 공급기, 전류/전압 측정기, 클락 발생기(Clock Generator) 등의 부가 장치가 장착될 수 있다.The
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스터(130)는 테스트 프로그램 관리 서버(110), 프로버(140) 및 핸들러(150)와 연결된다. 테스터(130)는 테스트 프로그램 관리 서버(110)로 접속하여 입력된 '테스트 실행에 관한 정보'를 이용하여 테스트 프로그램 관리 서버(110)의 데이터베이스(미도시)에 저장된 테스트 프로그램 중 가장 적합한 테스트 프로그램을 검색하여 다운로드하고, 실행을 위한 명령을 입력한다든가 하는 별도의 작업이 없이도 테스트 프로그램을 실행하여 프로버(140), 핸들러(150) 등의 하위의 장비를 제어한다.The
여기서, '테스트 실행에 관한 정보'는 테스터(130)가 테스트를 수행할 제품 또는 작업자를 인식하여 테스트 수행에 적합한 테스트 프로그램을 검색하여 선정하기 위한 정보로서 예를 들면, 제품의 로트(Lot) 번호, 테스터(130)의 ID, 제품명 등이 될 수 있다. 여기서, 작업자가 테스터(130)에 '테스트 실행 정보'를 입력하는 방법은 구비된 키보드를 이용하여 키값을 입력할 수 있으며, 제품의 로트 번호나 테스터 ID 등을 인쇄하여 카드 시트나 테스터(130)의 전면 등의 외부에 부착하고 테스터(130)에 구비된 바코드 리더(Reader)를 통해 '테스트 실행 정보'를 입력할 수도 있다. 따라서, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스터(130)는 작업자가 '테스트 실행 정보'를 입력할 수 있도록 사용자 인터페이스를 구비한다. 여기서, 사용자 인터페이스는 키보드나 바코드 리더가 될 수 있다.Here, the information on the test execution is information for the
또한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스터(130)는 작업자에게 테스트 수행을 위한 GUI(Graphic User Interface)를 제공하여 작업자로부터 '테스트 실행에 관한 정보'를 입력받거나 '테스트 제품에 관한 기본 정보' 및 테스트 진행 상황을 화면 상에 출력하여 작업자에게 제공하기 위한 제어 프로그램(Control Program)을 내장하고 있다. 본 발명에서는 작업자가 테스터(130)에 내장된 제어 프로그램을 이용하여 조회를 위한 명령을 입력한다든가 하는 별도의 조회 작업을 수행하지 않고도 테스트 과정을 모니터링할 수 있으므로 테스트 작업 효율을 향상 시킬 수 있다. 여기서, '테스트 제품에 관한 기본 정보'는 테스트 프로그램에 의해 진행될 테스트의 대상인 제품의 기본 정보(예를 들면, 장비, 공정명, 수량 등)를 말한다.In addition, the
또한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스터(130)는 '테스트 결과에 관한 정보'를 테스트 프로그램 관리 서버(110)로 전송하여 테스트 데이터베이스(120)에 저장한다. 여기서, '테스트에 결과에 관한 정보'는 테스터(130) 자체 내의 소프트 빈(Soft Bean) 정보, 프로버(140)로부터 수신한 웨이퍼(Wafer)의 좌표(X-Y Coordination) 정보, 핸들러(150)로부터 수신한 온도값, 잼(Jam) 코드 정보 및 그 정보들을 이용하여 계산한 결과값을 포함한다.In addition, the
따라서, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스터(130)는 테스트 프로그램 관리 서버(110)와 데이터를 송수신하기 위한 통신 수단 및 프로버(140) 및 핸들러(150)와 데이터를 송수신하기 위한 통신 수단을 구비한다. 테스트 프로그램 관리 서버(110)와 데이터를 송수신하기 위한 통신 수단으로서는 LAN(Local Area Network) 등이 사용될 수 있으며, 프로버(140) 및 핸들러(150)와 데이터를 송수신하기 위한 통신 수단으로서 GPIB(General Purpose Interface Bus) 등의 병렬 통신 방식 또는 RS232, RS485, USB(Universal Serial Bus) 등의 직렬 통신 방식의 통신 수단이 사용될 수 있다. 여기서, GPIB는 센서나 프로그래밍이 가능한 기기 장치 등을 컴퓨터에 접속할 때 사용되는 IEEE 488 표준 병렬 인터페이스를 말한다. 또한, RS232 또는 RS485 등은 EIA(Electronic Industries Association)에 의해 승인된 직렬 장치 접속용 표준 인터페이스이다.Accordingly, the
또한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스터(130)는 GUI를 제공하는 데에 있어서, 테스터의 운영 체제와 관계 없이 동일한 GUI를 제공하기 위한 제어 프로그램을 내장한다. 여기서, 제어 프로그램은 테스터(130)에 내장된 컴퓨터 시스템의 운영 체제와 관계 없이 동일한 GUI를 제공하기 위해 펄(Perl), 자바 스크립트(Java Script), TCL/TK(Tool Command Language/Tool Kit) 등과 같은 프로그래밍 언어를 사용하여 작성될 수 있다.In addition, the
본 발명에서 운영 체제와 관계 없이 동일한 GUI를 제공할 수 있도록 작성된 제어 프로그램을 사용하는 이유는 후술하는 바와 같다. 도 1에서는 설명의 편의를 위하여 하나의 테스터(130)만을 도시하였으나 실제로는 다수의 테스터(미도시)가 존재할 수 있다. 이러한 다수의 테스터(미도시)를 생산하는 제조 업체가 상이할 수 있기 때문에 각 테스터에서 사용하는 컴퓨터 시스템의 운영 체제 또한 상이할 수 있다. 종래에는 상이한 운영 체제로 인하여 테스터에 출력되는 GUI 또한 상이할 수 밖에 없었고, 이는 작업자가 테스트 과정을 모니터링하기 위해 다수의 GUI에 대해 숙지하여야 하는 어려움이 존재했으며, 이로 인해 작동 및 모니터링 작업에 오류가 발생할 개연성이 컸다. 본 발명에 의하면, 전술한 바와 같이 GUI를 통일함으로써 작업자의 부담을 줄일 수 있으며, 테스트 과정의 오류 발생 확률을 낮추는 효과를 발생시킬 수 있다.The reason for using the control program written to provide the same GUI regardless of the operating system in the present invention will be described later. In FIG. 1, only one
프로버(140)는 웨이퍼로 제작한 칩을 테스트하기 위해 상온에서 웨이퍼를 운반, 정렬 및 위치 시키는 역할을 수행하는 장비이다. 또한, 프로버(140)는 작업대 위의 전력 패드 또는 입/출력 패드를 정밀한 전기 프로버와 연결하고 각각의 소형 다이 패드를 테스터(130)와 연결하는 역할을 수행하는 프로브 카드(미도시)와 소프트웨어 제어 하에서 칩을 구동시켜 웨이퍼의 기능을 점검하는 자동 테스트 장비(ATE : Automatic Test Equipment)를 포함할 수 있다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 프로버(140)는 테스터(130)와 연결되어 웨이퍼의 좌표값을 테스터(130)로 전송한다.
핸들러(150)는 패키지 테스트로서 칩을 테스트하기 위해 칩을 운반하여 소켓에 위치시키고 주변 온도를 특정한 온도로 설정하는 역할을 수행하는 장비이다. 또한, 핸들러(150)는 칩의 핀과 소켓을 접속하는 DUT(Device Under Test) 보드(Board) 및 소프트웨어 제어 하에서 칩의 성능을 평가하는 자동 테스트 장치를 포함할 수 있다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 핸들러(150)는 테스터(130)와 연 결되어 온도값, 잼 코드 등의 정보를 테스터(130)로 전송한다.The
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 테스트를 수행하기 위한 방법을 설명하기 위한 순서도이다.2 is a flowchart illustrating a method for performing a semiconductor test according to a preferred embodiment of the present invention.
이하에서는, 도 1을 통해 설명한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 반도체 테스트를 위한 시스템에서 반도체 테스트를 수행하기 위한 방법을 설명한다. 즉, 관리자 또는 작업자가 자동화된 제어 프로그램을 테스터(130)에 설치 및 저장한다(S210).Hereinafter, a method for performing a semiconductor test in a system for a semiconductor test according to a preferred embodiment of the present invention described with reference to FIG. 1 will be described. That is, the manager or worker installs and stores the automated control program in the tester 130 (S210).
작업자는 반도체 소자를 테스트하기 위해 테스터(130)에 전원을 인가하여 제어 프로그램을 구동시킨다. 작업자는 제어 프로그램에 의해 테스터(130)의 화면에 출력되는 GUI를 통해 '테스트 실행에 관한 정보'를 입력한다. 여기서, 작업자가 테스터(130)에 '테스트 실행에 관한 정보'를 입력하는 방법에 대해서는 도 1을 통해서 설명하였으므로 중복 설명을 피하기 위해 상세한 설명을 생략한다.The operator applies the power to the
테스터(130)는 테스트 프로그램 관리 서버(110)로 접속하여 입력된 '테스트 실행에 관한 정보'에 포함된 작업자 ID, 로트 번호, 자신의 ID 등을 이용하여 적합한 테스트 프로그램을 검색하고 선정하여 다운로드한다(S220). 즉, 테스터(130)는 테스트 프로그램 관리 서버의 자체 데이터베이스(미도시)에 프로그램 버전별로 디렉토리를 구성하여 저장된 테스트 프로그램을 검색하고 '테스트 실행에 관한 정보'를 이용하여 적합한 테스트 프로그램을 선정하며, 선정된 테스트 프로그램을 다운로드 한다. 여기서, 적합한 테스트 프로그램이란 테스트 프로그램 관리 서버(110)에 저장된 다수의 테스트 프로그램 중에서 테스트 제품, 테스트 공정(Process), 테 스트 제품의 로트 번호 등이 고려된 최신 버전의 테스트 프로그램을 말한다.The
본 발명에서는 종래의 테스트 방법과 같이 작업자가 테스터(130)를 이용하여 테스트 프로그램 관리 서버(110)에 접속하고 직접 테스트 프로그램을 선택하는 방식을 사용하는 것이 아니다. 즉, 작업자가 기본적인 테스트 정보인 '테스트 실행에 관한 정보'를 테스터(130)에 입력하기만 하면 제어 프로그램의 정해진 알고리즘에 의하여 테스터(130)가 자체적으로 테스트 프로그램 관리 서버(110)에 접속하여 적합한 테스트 프로그램을 다운로드하여 자동으로 실행하게 된다. 따라서, 본 발명에 의하면 작업자가 임의로 테스트 프로그램을 선택함으로써 발생할 수 있는 실수 또는 오류를 방지할 수 있는 효과가 있다.In the present invention, like the conventional test method, the operator does not use the method of connecting to the test
단계 S220에서 테스트 프로그램을 다운로드한 테스터(130)는 '테스트 제품에 관한 기본 정보'를 제어 프로그램을 이용하여 구비된 화면에 출력한다(S230). 따라서, 테스터(130)의 화면에 출력된 정보를 통해 작업자는 테스트가 시작되기 전에 올바른 테스트 작업을 수행하는지 여부를 인지할 수 있으므로 발생할 수 있는 오류를 수정할 수 있다. 여기서, 테스터(130)의 화면에 출력되는 GUI는 도 1에서 설명한 바와 같이 다수의 테스터(미도시)에 대해 모두 통일되어 있다. 이에 대한 상세한 설명은 중복 설명을 피하기 위해 생략한다.The
테스트 제품의 기본 정보를 화면에 출력한 테스터(130)는 테스트 프로그램을 자동으로 실행하고, 테스터(130)는 실행된 테스트 프로그램의 정해진 알고리즘에 의하여 프로버(140) 또는 핸들러(150)를 제어하여 제품의 테스트 작업을 수행한다(S240). 테스터(130)는 테스트 작업을 수행하는 과정에서 제어 프로그램을 이용하 여 테스트 수행의 진척도를 나타내는 진행률, 테스트 결과 등을 실시간으로 자체 내의 화면에 출력한다(S250). 작업자는 화면에 출력되는 진행률, 테스트 결과 등을 통해 추가로 조회 작업을 수행하지 않고서도 테스트 과정을 모니터링할 수 있다.The
또한, 테스터(130)는 테스트 작업을 수행하는 과정에서 발생하는 정보, 프로버(140) 및 핸들러(150)로부터 수신한 정보를 이용하여 제어 프로그램에 의해 정해진 알고리즘에 의하여 '테스트 결과에 관한 정보'를 생성하고 테스트 프로그램 관리 서버(110)로 전송하여 테스트 데이터베이스(120)에 저장한다(S260).In addition, the
테스터(130)는 테스트 프로그램에 의해 정해진 알고리즘에 따라 모든 테스트 작업을 수행하면 테스트 프로그램을 종료한다(S270). 테스터(130)에 의해 수행된 테스트가 종료되면 테스트 프로그램 관리 서버(110)는 테스트 수행 결과를 각 테스트 이벤트별, 테스터 ID별, 작업자 ID별로 자체 내의 화면에 출력하거나 테스트 데이테베이스에 저장하여 관리자로부터 요청이 있으면 화면에 출력할 수 있다.The
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those skilled in the art to which the present invention pertains may make various modifications and changes without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention but to describe the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the equivalent scope should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 제어 프로그램을 이용하여 테스트 절차를 자동화하여 작업자가 임의로 테스트 프로그램을 선택함으로써 발생할 수 있는 실수 또는 오류를 방지한다.As described above, according to the present invention, a test program is automated using a control program to prevent mistakes or errors that may occur when an operator arbitrarily selects a test program.
또한, 제어 프로그램을 이용하여 통합된 사용자 인터페이스를 제공함으로써 테스트 장비 또는 테스트 시스템에 종속되지 않고 작업자가 테스트 작업을 수행하거나 모니터링할 수 있으므로 안정적인 테스트 환경을 구축할 수 있을 뿐만 아니라 테스트 시스템의 테스트 수행 능력을 향상 시킬 수 있다.In addition, by providing an integrated user interface using a control program, the operator can perform or monitor test tasks without being dependent on test equipment or test system, thereby creating a stable test environment and test performance of the test system. Can improve.
또한, 테스트 과정 및 결과를 실시간으로 모니터링하고 테스트 결과값을 저장함으로써 작업자 또는 관리자는 편리하게 테스트 작업을 수행할 수 있으며, 작업 수행 과정에서 발생할 수 있는 실수 또는 오류를 방지할 수 있다.In addition, by monitoring the test process and results in real time and storing the test results, the operator or administrator can conveniently perform the test work and prevent mistakes or errors that may occur during the work process.
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