KR20050114483A - Current/voltage measuring apparatus - Google Patents
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Abstract
본 발명은 각종 전자 부품의 전류, 혹은 전압을 측정하며, 측정된 아날로그의 전류, 혹은 전압을 디지털로 변환하여 PC에 제공하여 전자 부품의 이상 유무를 확인하기 위한 것으로, 이를 위한 구성은 각종 측정물의 전압, 혹은 전류의 기준치를 측정하여 세팅하는 세팅수단과, 측정물의 양단을 통해 흐르는 전류, 혹은 전압을 측정하는 측정수단과, 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭하는 증폭수단과, 증폭된 전류, 혹은 전압을 디지털의 전류, 혹은 전압으로 변환하는 변환수단과, 변환된 디지털의 전류, 혹은 전압과 세팅된 기준치를 비교하는 비교수단과, 비교결과에 따라 측정물의 정상 유무를 출력하는 출력수단을 포함한다. 따라서, 기존 측정물의 전류, 혹은 전압을 측정하기 위한 메터기의 값이 상당히 고가임에 따라 대량의 전자부품을 양산하는 공장에서는 고가의 전원 메터기를 다량으로 사용함에 따라 발생되는 경제적으로 부담을 해결할 수 있는 효과가 있다.The present invention measures the current or voltage of various electronic components, and converts the measured analog current or voltage to digital to provide to the PC to check the abnormality of the electronic component, the configuration for this configuration Setting means for measuring and setting a reference value of voltage or current, measuring means for measuring the current or voltage flowing through both ends of the workpiece, amplifying means for amplifying the measured current or voltage, amplified current, or Conversion means for converting a voltage into a digital current or voltage, a comparison means for comparing the converted digital current or voltage and a set reference value, and an output means for outputting the presence or absence of a normal object according to the comparison result. . Therefore, as the value of the meter for measuring current or voltage of the existing measurement object is very expensive, the factory that mass-produces a large amount of electronic components can solve the economic burden caused by using a large amount of expensive power meter. It has an effect.
Description
본 발명은 전류/전압 측정 장치에 관한 것으로, 특히 각종 전자 부품의 전류, 혹은 전압을 측정할 수 있는 장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a current / voltage measuring device, and more particularly to a device capable of measuring the current or voltage of various electronic components.
통상적으로, 전원을 제공받아 동작하는 전자부품의 경우, 내부적으로 전원공급장치를 구비하며, 이 전원공급장치로부터 공급되는 공급전원을 이용하여 안정적으로 전자부품을 동작한다. In general, in the case of an electronic component operated by receiving power, the electronic component is provided internally, and the electronic component is stably operated using the supply power supplied from the power supply apparatus.
이때, 전자부품의 자체 손실, 혹은 공급전원의 이상으로 인하여, 전자부품이 비정상적으로 동작할 경우, 이를 체크하기 위해 전원 메터기를 이용하여 전자부품의 전류, 혹은 전압을 측정하고, 측정된 값을 직렬 통신, 혹은 GPIB(General Purpose Interface Bus, GPIB) 통신을 통해 PC에 전달한다. At this time, if the electronic component operates abnormally due to the loss of the electronic component or abnormality of the power supply, measure the current or voltage of the electronic component by using a power meter to check it, and measure the value in series. Communicate to a PC via communications, or GPIB (General Purpose Interface Bus).
이로서, 사용자는 PC를 통해 전류, 혹은 전압 값을 확인하면서, 전자부품 자체 문제인지, 아니면, 공급전원의 이상인지를 파악할 수 있다.As a result, the user can check the current or voltage value through the PC to determine whether the electronic component itself is a problem or the power supply is abnormal.
그러나, PC와 직렬 통신, 혹은 GPIB 통신을 통해 연결된 전원 메터기의 값이 상당히 고가이며, 대량의 전자부품을 양산하는 공장에서는 고가의 전원 메터기를 다량으로 사용해야 하므로, 경제적으로 부담을 갖게 되는 문제점이 있다.However, the value of the power meter connected to the PC through serial communication or GPIB communication is quite expensive, and in a factory that produces a large amount of electronic components, a large amount of expensive power meter must be used, which causes economic problems. have.
이에, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 각종 전자 부품의 전류, 혹은 전압을 측정하며, 측정된 아날로그의 전류, 혹은 전압을 디지털로 변환하여 PC에 제공하여 전자 부품의 이상 유무를 확인할 수 있는 전류/전압 측정 장치를 제공함에 있다. Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, the object of the present invention is to measure the current or voltage of various electronic components, and to convert the measured current or voltage of the digital to digital to provide a PC An object of the present invention is to provide a current / voltage measuring device capable of checking a component for abnormalities.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에서 전류/전압 측정 장치는 각종 측정물의 전압, 혹은 전류의 기준치를 측정하여 세팅하는 세팅수단과, 측정물의 양단을 통해 흐르는 전류, 혹은 전압을 측정하는 측정수단과, 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭하는 증폭수단과, 증폭된 전류, 혹은 전압을 디지털의 전류, 혹은 전압으로 변환하는 변환수단과, 변환된 디지털의 전류, 혹은 전압과 세팅된 기준치를 비교하는 비교수단과, 비교결과에 따라 측정물의 정상 유무를 출력하는 출력수단을 포함하는 것을 특징으로 한다. In the present invention for achieving the above object, the current / voltage measuring device and the setting means for measuring and setting the voltage, or the reference value of the current of the various measurement object, the measurement means for measuring the current or voltage flowing through both ends of the measurement object and A comparison between amplifying means for amplifying a measured current or voltage, a converting means for converting the amplified current or voltage into a digital current or voltage, and a reference value set with the converted digital current or voltage. Means and an output means for outputting the presence or absence of the measured object in accordance with the comparison result.
이하, 본 발명의 실시예는 다수개가 존재할 수 있으며, 이하에서 첨부한 도면을 참조하여 바람직한 실시 예에 대하여 상세히 설명하기로 한다. 이 기술 분야의 숙련자라면 이 실시 예를 통해 본 발명의 목적, 특징 및 이점들을 잘 이해하게 될 것이다. Hereinafter, a plurality of embodiments of the present invention may exist, and a preferred embodiment will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Those skilled in the art will appreciate the objects, features and advantages of the present invention through this embodiment.
본 발명의 핵심 기술요지를 살펴보면, 마이컴(23)은 동작 전원(마이컴 전원(5V))에 의해 동작되면서 펄스신호를 주기적으로 발생하여 일정한 펄스신호를 칩 상태부(24)에 제공하며, 칩 상태부(24)는 마이컴(23)으로부터 제공되는 펄스신호가 일정한지를 체크하여 마이컴(23)의 상태를 PC(30)에 제공한다. Looking at the core technical gist of the present invention, the microcomputer 23 is operated by an operating power source (microcom power supply (5V)) to generate a pulse signal periodically to provide a constant pulse signal to the chip state unit 24, the chip state The unit 24 checks whether the pulse signal provided from the microcomputer 23 is constant and provides the PC 30 with the state of the microcomputer 23.
이후, 마이컴(23)은 검출부(21)의 양단을 통해 흐르는 전류, 혹은 전압을 측정한 후, 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭부(25)에 제공하며, 증폭부(25)는 마이컴(23)에 의해 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭하여 A/D 변환부(29)를 통해 변환된 디지털의 전류, 혹은 전압을 PC(30)에 제공한다. Thereafter, the microcomputer 23 measures the current or voltage flowing through both ends of the detector 21, and then provides the measured current or voltage to the amplifier 25, and the amplifier 25 receives the microcomputer 23. Amplifies the current or voltage measured by the A) and provides the digital current or voltage converted by the A / D converter 29 to the PC 30.
PC(30)는 측정물(10)이 정상적으로 동작하는 경우의 전류, 혹은 전압의 기준치를 세팅하고 있는 상태에서, 칩 상태부(24)로부터 제공되는 펄스 신호가 일정하게 제공될 경우, 마이컴(23)의 상태를 정상으로 판단하고, 이와 동시에, A/D 변환부(29)로부터 제공되는 디지털의 전류, 혹은 전압과 기 세팅된 기준치 값과 비교하여 현재 측정물(10)의 이상 유무를 사용자에게 출력하는 것으로, 이러한 기술적 수단을 통해 본 발명에서 목적으로 하는 바를 쉽게 달성할 수 있다.When the pulse signal provided from the chip state part 24 is constantly provided in the state which sets the reference value of the current or voltage in the case where the measured object 10 operates normally, the PC 30 will be a microcomputer 23. ) Is judged to be normal, and at the same time, the current current or voltage provided from the A / D converter 29 is compared with the preset reference value, and the user is notified of the abnormality of the current measured object 10. By outputting, it is possible to easily achieve the purpose of the present invention through such technical means.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전류/전압 측정 장치를 도시한 블록구성도로서, 측정물(10), 측정 장치(20), PC(30)을 포함한다. 1 is a block diagram illustrating a current / voltage measuring apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, and includes a measuring object 10, a measuring device 20, and a PC 30.
측정물(10)은 공급전원에 의해 동작되는 각종 전자부품이다. The measurement object 10 is various electronic components operated by a power supply.
측정 장치(20)는 측정물(10)의 전류, 혹은 전압을 검출하기 위해 0.2Ω(오옴)의 값을 갖는 저항으로, 공급 전원에 의해 동작되는 측정물(10)에서 흐르는 전류가 저항을 통해 흐를 수 있도록 측정물(10)의 양단과 저항의 양단을 각각 연결하는 검출부(21)와, 검출부(21)의 양단을 통해 흐르는 양단의 전류, 혹은 전압을 측정한 후, 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭부(25)에 제공하며, 동작 전원(마이컴 전원(5V))에 의해 동작되고 펄스신호를 주기적으로 발생하여 일정하게 칩 상태부(24)에 제공하는 마이컴(23)과, 마이컴(23)에서 일정하게 제공되는 펄스 신호를 통해 마이컴(23)의 상태를 체크하여 PC(30)에 제공하는 칩 상태부(24)와, 마이컴(23)에 의해 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭하여 A/D 변환부(29)에 제공하는 증폭부(25)와, 증폭부(25)에서 전류, 혹은 전압의 값을 보다 정확한 파형으로 증폭하도록 필터링(filtering)해주는 필터부(27)와, 증폭부(25)에 의해 증폭된 아날로그의 전류, 혹은 전압을 디지털의 전류, 혹은 전압으로 변환하여 PC(30)로 출력하는 A/D 변환부(29)를 구비한다.The measuring device 20 is a resistor having a value of 0.2 Ω (ohms) for detecting a current or a voltage of the measured object 10, and a current flowing from the measured object 10 operated by a power supply is supplied through the resistance. After measuring the current or voltage at both ends of the detection unit 21 and the both ends of the detection unit 21 and the both ends of the resistance to flow through the measurement unit 21 so as to flow, the measured current or voltage And a microcomputer 23 which are operated by an operating power source (microcomputer power supply 5V) and periodically generate a pulse signal to provide the chip state unit 24 to the amplification unit 25, and the microcomputer 23. A) by amplifying the current or voltage measured by the chip state unit 24 and the microcomputer 23 to check the state of the microcomputer 23 through the pulse signal provided at The amplifier 25 and the amplifier 25 provided to the / D converter 29 more accurately determine the current or voltage values. A filter unit 27 for filtering to amplify a waveform and A for converting the analog current or voltage amplified by the amplifier 25 into digital current or voltage and outputting it to the PC 30. / D conversion unit 29 is provided.
PC(30)는 측정물(10)이 정상적으로 동작하는 경우의 전류, 혹은 전압을 세팅하고 있는 상태에서, 칩 상태부(24)로부터 제공되는 펄스 신호가 일정하여 마이컴(23)의 상태가 정상임을 판단하며, 측정 장치(20)로부터 제공되는 디지털의 전류, 혹은 전압이 기 세팅된 값과 비교하여 현재 측정물(10)의 이상 유무를 사용자에게 출력한다.In the state in which the PC 30 is setting current or voltage when the workpiece 10 operates normally, the pulse signal provided from the chip state unit 24 is constant, indicating that the state of the microcomputer 23 is normal. In operation, the digital current or voltage provided from the measuring device 20 is compared with a preset value to output the presence or absence of an abnormality of the current measured object 10 to the user.
도 2의 흐름도를 참조하면서, 상술한 구성을 바탕으로, 본 발명에 따른 전류/전압 측정 장치의 동작에 대하여 보다 상세하게 설명한다. With reference to the flowchart of FIG. 2, the operation of the current / voltage measuring device according to the present invention will be described in more detail based on the above-described configuration.
먼저, 각종 측정물(10)이 정상적으로 동작할 경우의 전압, 혹은 전류의 기준치를 사전에 측정하여 PC(30)에 세팅시켜 둔다(단계 201).First, a reference value of voltage or current when the various measured objects 10 operate normally is measured in advance and set in the PC 30 (step 201).
상술한 바와 같이 세팅된 상태에서, 측정물(10)의 전류, 혹은 전압을 검출하기 위해 측정 장치(20)내 검출부(21)(예로, 0.2Ω(오옴) 저항)를 이용하여 측정물(10)의 양단과 검출부(21)의 양단을 각각 연결하여 검출부(21)의 양단을 통해 흐르는 전류, 혹은 전압을 검출한다(단계 202).In the state set as described above, the measurement object 10 using the detection unit 21 (for example, 0.2Ω (ohm) resistance) in the measurement device 20 to detect the current or voltage of the measurement object 10. And both ends of the detector 21 are connected, respectively, to detect current or voltage flowing through both ends of the detector 21 (step 202).
마이컴(23)은 동작 전원(마이컴 전원(5V))에 의해 동작되면서 펄스신호를 주기적으로 발생하여 일정한 펄스신호를 칩 상태부(24)에 제공한다(단계 203). 그러면, 칩 상태부(24)는 마이컴(23)으로부터 제공되는 펄스신호가 일정한지를 체크하여 마이컴(23)의 상태를 PC(30)에 제공한다(단계 204). The microcomputer 23 is operated by an operating power source (microcomputer power supply 5V) and periodically generates a pulse signal to provide a constant pulse signal to the chip state unit 24 (step 203). Then, the chip state unit 24 checks whether the pulse signal provided from the microcomputer 23 is constant and provides the PC 30 with the state of the microcomputer 23 (step 204).
이후, 마이컴(23)은 검출부(21)의 양단을 통해 흐르는 양단 전류, 혹은 전압을 측정한 후, 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭부(25)에 제공한다(단계 205). 그러면, 증폭부(25)는 마이컴(23)에 의해 측정된 전류, 혹은 전압을 증폭하여 A/D 변환부(29)에 제공한다(단계 206). 여기서, 필터부(27)는 코일과 커패시터로 구성된 LC 필터로서, 증폭부(25)에 의해 증폭되는 전류, 혹은 전압의 값을 보다 정확한 파형으로 증폭하도록 필터링(filtering)한다. After that, the microcomputer 23 measures the current or the voltage across both ends of the detector 21, and then provides the measured current or voltage to the amplifier 25 (step 205). Then, the amplifier 25 amplifies the current or voltage measured by the microcomputer 23 and provides it to the A / D converter 29 (step 206). Here, the filter unit 27 is an LC filter composed of a coil and a capacitor, and filters the current or voltage value amplified by the amplifier 25 to amplify the waveform to a more accurate waveform.
A/D 변환부(29)는 증폭부(25)에 의해 증폭된 아날로그의 전류, 혹은 전압을 디지털의 전류, 혹은 전압으로 변환하여 PC(30)에 제공한다(단계 207). The A / D converter 29 converts the analog current or voltage amplified by the amplifier 25 into digital current or voltage and provides it to the PC 30 (step 207).
PC(30)는 측정물(10)이 정상적으로 동작하는 경우의 전류, 혹은 전압의 기준치를 세팅하고 있는 상태에서, 칩 상태부(24)로부터 제공되는 펄스 신호가 일정하게 제공되는지를 체크한다(단계 208).The PC 30 checks whether the pulse signal provided from the chip state unit 24 is constantly provided in the state where the reference value of the current or the voltage when the workpiece 10 operates normally is set (step). 208).
상기 체크(208)결과, 펄스 신호가 일정하지 않을 경우, 마이컴(23)의 상태가 이상이 있는 것으로 판정하여 사용자에게 출력한다(단계 209). As a result of the check 208, if the pulse signal is not constant, it is determined that the state of the microcomputer 23 is abnormal and is output to the user (step 209).
반면에, 상기 체크(208)결과, 펄스 신호가 일정할 경우, 마이컴(23)의 상태를 정상으로 판정하여 A/D 변환부(29)로부터 제공되는 디지털의 전류, 혹은 전압과 기 세팅된 기준치 값과 동일한지를 판단한다(단계 210).On the other hand, if the pulse signal is constant as a result of the check 208, the state of the microcomputer 23 is determined to be normal, and the digital current or voltage provided from the A / D converter 29 is set to a predetermined reference value. It is determined whether it is equal to the value (step 210).
상기 판단(210)결과, 측정된 값과 기준치 값의 범위가 너무 차이가 있을 경우, 측정물(10)의 상태가 비정상적으로 판단하고 그 결과를 사용자에 출력하며(단계 211), 상기 판단(210)결과, 측정된 값과 기준치 값의 범위가 동일할 경우, 측정물(10)의 상태를 정상으로 판단하고 그 결과를 사용자에게 출력한다(단계 212).As a result of the determination 210, if the range of the measured value and the reference value is too different, the state of the measurement object 10 is abnormally determined and the result is output to the user (step 211), and the determination 210 As a result, when the range of the measured value and the reference value is the same, it is determined that the state of the measurement object 10 is normal and the result is output to the user (step 212).
따라서, 측정물(10)에서 흐르는 전류, 혹은 전압을 고가의 메터기를 통해 측정하지 않고도 상술한 회로 구성을 통해 측정물(10)의 전류, 혹은 전압을 측정하여 기 세팅된 기준치 값과 비교하여 측정물의 이상 유무를 실시간으로 모니터링할 수 있다. Therefore, without measuring the current or voltage flowing in the measurement object 10 through an expensive meter, the current or voltage of the measurement object 10 is measured through the above-described circuit configuration and measured by comparing with a preset reference value. The presence of water can be monitored in real time.
상기에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 각종 전자 부품의 전류, 혹은 전압을 측정하며, 측정된 아날로그의 전류, 혹은 전압을 디지털로 변환하여 PC에 출력함으로서, 전자 부품의 이상 유무를 모티터링할 수 있다. As described above, the present invention measures the current or voltage of various electronic components, and by converting the measured analog current or voltage to digital and outputting it to a PC, it is possible to monitor the presence or absence of abnormality of the electronic components. .
특히, 기존 측정물의 전류, 혹은 전압을 측정하기 위한 메터기의 값이 상당히 고가임에 따라 대량의 전자부품을 양산하는 공장에서는 고가의 전원 메터기를 다량으로 사용함에 따라 발생되는 경제적으로 부담을 해결할 수 있는 효과가 있다.In particular, as the value of the meter for measuring current or voltage of an existing measurement object is very expensive, a factory that mass-produces a large amount of electronic components can solve the economic burden caused by using a large amount of expensive power meter. It has an effect.
또한, 본 발명의 사상 및 특허청구범위 내에서 권리로서 개시하고 있으므로, 본원 발명은 일반적인 원리들을 이용한 임의의 변형, 이용 및/또는 개작을 포함할 수도 있으며, 본 명세서의 설명으로부터 벗어나는 사항으로서 본 발명이 속하는 업계에서 공지 또는 관습적 실시의 범위에 해당하고 또한 첨부된 특허청구범위의 제한 범위내에 포함되는 모든 사항을 포함한다. In addition, since the present invention is disclosed as a right within the spirit and claims of the present invention, the present invention may include any modification, use and / or adaptation using general principles, and the present invention as a matter deviating from the description of the present specification. It includes all matter falling within the scope of known or customary practice in the art to which it belongs and falling within the scope of the appended claims.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전류, 혹은 전압 측정 장치를 도시한 블록 구성도이며, 1 is a block diagram showing a current or voltage measuring device according to an embodiment of the present invention,
도 2는 본 발명에 따른 전류, 혹은 전압 측정 장치의 동작을 위한 상세 흐름도이다.2 is a detailed flowchart for the operation of the current or voltage measuring device according to the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10 : 측정물 20 : 측정 장치10: measuring object 20: measuring device
21 : 검출부 23 : 마이컴21: detector 23: microcomputer
24 : 칩 상태부 25 : 증폭부24: chip state portion 25: amplification portion
27 : 필터부 29 : A/D 변환부27 filter unit 29 A / D conversion unit
30 : PC30: PC
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020040039710A KR20050114483A (en) | 2004-06-01 | 2004-06-01 | Current/voltage measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020040039710A KR20050114483A (en) | 2004-06-01 | 2004-06-01 | Current/voltage measuring apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20050114483A true KR20050114483A (en) | 2005-12-06 |
Family
ID=37288758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020040039710A KR20050114483A (en) | 2004-06-01 | 2004-06-01 | Current/voltage measuring apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20050114483A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010101416A3 (en) * | 2009-03-03 | 2010-11-25 | 주식회사 엘지화학 | Method and apparatus for diagnosing an abnormality of a current-measuring unit of a battery pack |
| WO2018236106A1 (en) * | 2017-06-19 | 2018-12-27 | 주식회사 지파랑 | Source and measurement unit for measuring semiconductor device |
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2004
- 2004-06-01 KR KR1020040039710A patent/KR20050114483A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010101416A3 (en) * | 2009-03-03 | 2010-11-25 | 주식회사 엘지화학 | Method and apparatus for diagnosing an abnormality of a current-measuring unit of a battery pack |
| US8390296B2 (en) | 2009-03-03 | 2013-03-05 | Lg Chem, Ltd. | Method and apparatus for detecting abnormality of current sensor in battery pack |
| WO2018236106A1 (en) * | 2017-06-19 | 2018-12-27 | 주식회사 지파랑 | Source and measurement unit for measuring semiconductor device |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| WITN | Withdrawal due to no request for examination |