KR20050068085A - Analysis method and apparatus for poor lcd module by use of camera multiple focus process - Google Patents

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KR20050068085A
KR20050068085A KR1020030099139A KR20030099139A KR20050068085A KR 20050068085 A KR20050068085 A KR 20050068085A KR 1020030099139 A KR1020030099139 A KR 1020030099139A KR 20030099139 A KR20030099139 A KR 20030099139A KR 20050068085 A KR20050068085 A KR 20050068085A
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김경식
장윤석
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(주)아이디에스
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Abstract

개시된 본 발명은 카메라를 이용하여 LCD 모듈의 각 층별로 촬영할 수 있도록 하고, 층별로 촬영된 영상신호를 이용하여 불량상태를 분석하는 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법 및 장치에 관한 것으로서, 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 양품 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 기준 데이터를 생성시켜 저장하는 기준 데이터 생성과정; 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 검사용 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 비교 데이터를 생성시키는 비교 데이터 생성과정; 및 상기 기준 데이터와 비교 데이터를 각 층별로 비교하여, 각 층별 상태를 화면상에 출력하여 검사자가 층별 불량 상태를 분석할 수 있도록 하는 불량분석과정으로 이루어진 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an LCD module failure analysis method and apparatus using a multi-focus method that allows a camera to shoot by each floor of the LCD module and analyzes a failure state by using an image signal photographed by floor. Photographing the good quality LCD module by manipulating the focal point in a preset order, and then generating reference data using the photographed signal to generate and store a plurality of reference data; A comparison data generation process of photographing a test LCD module by operating a focus of a camera in a predetermined order and generating a plurality of comparison data using the photographed signal; And comparing the reference data with the comparison data for each floor, and outputting a status of each floor on the screen so that the inspector can analyze the failure status of each floor.

Description

카메라 다중 초점방식을 이용한 ＬＣＤ모듈 불량분석방법 및 장치{Analysis method and apparatus for poor LCD module by use of camera multiple focus process}Analysis method and apparatus for poor LCD module by use of camera multiple focus process}

본 발명은 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD module failure analysis method and apparatus using a camera multi focus method.

보다 상세하게는, 카메라를 이용하여 LCD 모듈의 각 층별로 촬영할 수 있도록 하고, 층별로 촬영된 영상신호를 이용하여 불량상태를 분석하는 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법 및 장치에 관한 것이다.More specifically, the present invention relates to an LCD module failure analysis method and apparatus using a multi-focus method, which allows a camera to photograph each floor of an LCD module, and analyzes a defect state using an image signal photographed for each floor.

일반적으로 LCD 모듈 불량은 여러 형태가 있고 조립 공정이 다양하여 어느 공정이든 이물, 얼룩 및 깨짐 등의 불량이 발생한다.In general, LCD module defects come in many forms and various assembly processes cause defects such as foreign objects, stains, and cracks.

대부분 LCD 모듈은 검사자가 육안으로 검사를 하고 있다. 즉 검사용 고정장치에 LCD 패널을 고정시켜 둔 후 LCD 패널에 소정 밝기의 조명기구로 빛을 조사하고, 검사자의 목시(目視) 위치를 조금씩 변경시켜 가면서 LCD 패널상의 불량 유무를 결정하게 되고, 불량 상태에 따라 재가공을 하게 되거나, 또는 폐기결정을 하게 된다.Most LCD modules are visually inspected by the inspector. In other words, after fixing the LCD panel to the inspection fixture, the LCD panel is irradiated with light with a predetermined brightness, and the inspector's visual position is changed little by little to determine whether there is a defect on the LCD panel. Depending on the condition, it may be reworked or discarded.

그러나, 상기와 같이 LCD 모듈 불량분석을 검사자의 육안에만 의존할 경우 불량 분류의 착오 및 오류를 유발할 수 있으며, 이에 따라 양산성을 하락시킬 수 있다는 문제점이 있었다.However, if the LCD module failure analysis as described above only depends on the naked eye of the inspector may cause a misclassification and error of the failure classification, thereby reducing the productivity.

또한, LCD 모듈 불량분석을 검사자의 육안에만 의존할 경우 불량의 종류를 판별하기 위해 또다른 불량을 유발할 가능성이 있다는 문제점이 있었다.In addition, there is a problem that if the LCD module failure analysis depends only on the naked eye of the inspector may cause another failure to determine the type of failure.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로 카메라를 이용하여 LCD 모듈의 각 층별로 촬영할 수 있도록 하고, 층별로 촬영된 영상신호를 이용하여 불량상태를 분석하는 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법 및 장치를 제공하는데 있다. Accordingly, the present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above so that it is possible to shoot by each floor of the LCD module using a camera, and to analyze the failure state using the image signal photographed by floor. To provide an LCD module failure analysis method and apparatus using the method.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예는, 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 양품 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 기준 데이터를 생성시켜 저장하는 기준 데이터 생성과정; 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 검사용 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 비교 데이터를 생성시키는 비교 데이터 생성과정; 및 상기 기준 데이터와 비교 데이터를 각 층별로 비교하여, 각 층별 상태를 화면상에 출력하여 검사자가 층별 불량 상태를 분석할 수 있도록 하는 불량분석과정으로 이루어진 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention for achieving the above object, a standard for photographing a good quality LCD module by operating the focus of the camera in a predetermined order, and then generating and storing a plurality of reference data using the photographed signal Data generation process; A comparison data generation process of photographing a test LCD module by operating a focus of a camera in a predetermined order and generating a plurality of comparison data using the photographed signal; And comparing the reference data with the comparison data for each floor, and outputting a status of each floor on the screen so that the inspector can analyze the failure status of each floor.

또한, 상기 불량분석과정은 상기 검사용 LCD 모듈의 제 1 층 내지 제 5 층 중 적어도 하나의 층에서 이물포함, POL 찍힘, 스크래치, 스페이서 눌림, 백라이트 이물, 얼룩 등에 의한 불량정도를 체크하고, 그 불량상태를 판단하여 화면상에 출력하는 것을 특징으로 한다.In addition, the failure analysis process checks the degree of defects due to foreign matter including, POL stamping, scratch, spacer pressed, backlight foreign matter, stain, etc. in at least one layer of the first to fifth layers of the inspection LCD module, and Judging the defective state is characterized in that the output on the screen.

또한, 본 발명의 다른 실시예는 기준 데이터를 저장하고 있으며, 검사용 LCD 모듈 정보에 대응시켜 각 층별 불량상태를 저장하고 있는 저장부; 외부로부터 입력되는 초점 조절용 제어신호에 응하여 초점을 변경시켜 가면서 촬영하는 카메라; 및 상기 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 양품 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 기준 데이터를 생성시켜 상기 저장부에 저장하고, 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 검사용 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 비교 데이터를 생성하며, 상기 기준 데이터와 비교 데이터를 각 층별로 비교하여, 각 층별 상태를 화면상에 출력하여 검사자가 층별 불량 상태를 분석할 수 있도록 하고, 검사자의 요청에 응하여 층별 불량 상태를 검사용 LCD 모듈 정보에 대응시켜 상기 저장부에 저장하는 제어부로 이루어진 것을 특징으로 한다.In addition, another embodiment of the present invention stores a reference data, the storage unit for storing the defective state for each floor corresponding to the inspection LCD module information; A camera photographing while changing a focus in response to a focus control signal input from an external device; And photographing the good quality LCD module by operating the focus of the camera in a preset order, generating a plurality of reference data using the photographed signal, storing the reference data in the storage unit, and manipulating the focus of the camera in a preset order. After photographing the LCD module for inspection, a plurality of comparison data are generated using the photographed signal, and the reference data and the comparison data are compared for each floor, and the status of each floor is displayed on the screen so that the inspector can check the defective status of each floor It is characterized by consisting of a control unit for analyzing the, and in response to the request of the inspector to store the failure state for each floor corresponding to the LCD module information for inspection and stored in the storage unit.

또한, 상기 제어부는 상기 검사용 LCD 모듈의 제 1 층 ~ 제 5 층 중 적어도 하나의 층에서 이물포함, POL 찍힘, 스크래치, 스페이서 눌림, 백라이트 이물, 얼룩 등에 의한 불량정도를 체크하고, 그 불량상태를 판단하여 화면상에 출력하는 것을 특징으로 한다.In addition, the control unit checks the degree of defects due to foreign matter included, POL imprinted, scratched, spacer pressed, backlit foreign material, stain, etc. in at least one layer of the first to fifth layers of the inspection LCD module, the defect state Determine and output to the screen.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석장치의 구성을 설명하기 위한 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a configuration of an LCD module failure analysis apparatus using a camera multi-focus method according to the present invention.

첨부 도면 도 1에 도시된 바와 같이, 기준 데이터를 저장하고 있으며, 검사용 LCD 모듈 정보에 대응시켜 각 층별 불량상태를 저장하고 있는 저장부(10)와, 외부로부터 입력되는 초점 조절용 제어신호에 응하여 초점을 변경시켜 가면서 촬영하는 카메라(20)와, 상기 카메라(20)로부터 입력되는 영상신호를 수치화하여 캡쳐하는 캘리브레이션부(30)와, 상기 캡쳐된 영상신호를 디지털 신호로 변환하는 영상신호 처리부(40)와, 상기 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 양품 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 기준 데이터를 생성시켜 상기 저장부(10)에 저장하고, 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 검사용 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 비교 데이터를 생성하며, 상기 기준 데이터와 비교 데이터를 각 층별로 비교하여, 각 층별 상태를 화면상에 출력하여 검사자가 층별 불량 상태를 분석할 수 있도록 하고, 검사자의 요청에 응하여 층별 불량 상태를 검사용 LCD 모듈 정보에 대응시켜 상기 저장부(10)에 저장하는 제어부(50)와, 상기 제어부(50)의 제어에 응하여 상기 층별 불량분석정보를 화면상에 출력하는 표시부(60)와, 검사자가 검사장치를 조정할 수 있도록 복수의 버튼들을 구비하고 있는 키패드(70)로 구성된다.As shown in FIG. 1, reference data is stored, and the storage unit 10 stores the defective state of each floor in correspondence with the inspection LCD module information, and in response to a focus control control signal input from the outside. A camera 20 for photographing while changing a focus, a calibration unit 30 for digitizing and capturing an image signal input from the camera 20, and an image signal processor for converting the captured image signal into a digital signal ( 40) and photographing the good quality LCD module by operating the focus of the camera in a predetermined order, generating a plurality of reference data using the photographed signal, and storing the plurality of reference data in the storage unit 10, and focusing the camera. After photographing the LCD module for inspection by operating in a preset order, a plurality of comparison data are generated using the photographed signal, and the reference data and the comparison data are generated. Compares each floor to each floor, and outputs the status of each floor on the screen so that the inspector can analyze the failure status of each floor, and in response to the request of the inspector, the failure status of each floor corresponds to the LCD module information for inspection. And a display unit 60 for outputting the failure analysis information for each floor on the screen according to the control of the control unit 50, and a plurality of buttons for the inspector to adjust the inspection device. Consisting of a keypad 70.

한편, 상기 제어부(50)는 상기 검사용 LCD 모듈의 제 1 층 ~ 제 5 층 중 적어도 하나의 층에서 이물포함, POL 찍힘, 스크래치, 스페이서 눌림, 백라이트 이물, 얼룩 등에 의한 불량정도를 체크하고, 그 불량상태를 판단하여 화면상에 출력한다.On the other hand, the control unit 50 checks the degree of defects due to foreign matter including, POL imprinted, scratch, spacer pressed, backlight foreign matter, stain, etc. in at least one layer of the first to fifth layers of the inspection LCD module, The defective state is determined and displayed on the screen.

상기와 같이 구성된 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the LCD module failure analysis device using the camera multi-focus method configured as described above are as follows.

도 2는 본 발명에 따른 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.2 is a flowchart illustrating an LCD module failure analysis method using a camera multi-focus method according to the present invention.

먼저, 검사자는 양품의 LCD 모듈을 검사장치에 탑재시킨 후, 키패드(70)를 이용하여 기준 데이터를 생성시키기 위한 검사 시작 명령을 입력한다. 그러면 제어부(50)는 검사자의 요청에 응하여 카메라(20)의 초점이 미리 설정된 순서로 조작될 수 있도록 하여 카메라에 탑재된 초점조절부(21)를 제어하고, 조절된 초점거리로 양품의 LCD 모듈을 촬영할 수 있도록 제어한다. 그리고, 카메라(20)는 제어부(50)의 제어에 응하여 양품 LCD 모듈을 촬영하고, 촬영된 영상신호를 캘리브레이션부(30)로 출력한다.First, the inspector mounts the good quality LCD module on the inspection apparatus, and then inputs an inspection start command for generating reference data using the keypad 70. Then, the control unit 50 controls the focus adjusting unit 21 mounted on the camera so that the focus of the camera 20 can be operated in a preset order in response to a request from the inspector, and the LCD module of the good product with the adjusted focal length. Control the camera to shoot. Then, the camera 20 photographs the good LCD module under the control of the controller 50, and outputs the photographed video signal to the calibration unit 30.

그러면, 상기 캘리브레이션부(30)는 상기 카메라(20)로부터 입력되는 영상신호를 수치화하여 캡쳐하고, 캡쳐된 영상을 영상신호 처리부(40)로 출력한다.Then, the calibration unit 30 quantizes and captures an image signal input from the camera 20, and outputs the captured image to the image signal processing unit 40.

그러면 영상신호 처리부(40)는 캡쳐된 영상을 디지털 신호로 변환시켜 제어부(50)로 출력하고, 제어부(50)는 각 층별로 촬영된 신호를 이용하여 복수의 기준 데이터를 생성시켜 저장부(10)에 저장한다(S100).Then, the image signal processing unit 40 converts the captured image into a digital signal and outputs it to the control unit 50. The control unit 50 generates a plurality of reference data by using the signals photographed for each floor. Save to (S100).

그리고, 검사장치에 탑재된 양품 LCD 모듈을 검사용 LCD 모듈로 교체한 후 검사자가 키패드(70)를 이용하여 검사 시작 명령을 입력하면, 제어부(50)는 검사자의 요청에 응하여 카메라(20)의 초점이 미리 설정된 순서로 조작될 수 있도록 하여 카메라에 탑재된 초점조절부(21)를 제어하고, 조절된 초점거리로 검사용 LCD 모듈을 촬영할 수 있도록 제어한다(첨부 도면 도 3 참조). Then, after replacing the good quality LCD module mounted on the inspection apparatus with the inspection LCD module and the inspector inputs an inspection start command using the keypad 70, the controller 50 responds to the request of the inspector. The focus may be manipulated in a preset order to control the focus control unit 21 mounted on the camera, and to control the photographing of the inspection LCD module at the adjusted focal length (see FIG. 3).

즉, 제어부(50)는 카메라 렌즈에서 상기 상판 POL(1)까지의 초점 거리를 "a"가 되도록 초점 조절부(21)를 제어하고, 카메라 렌즈에서 상기 하판 글래스 (2)까지의 초점 거리를 "b"가 되도록 초점 조절부(21)를 제어하고, 카메라 렌즈에서 상기 하판(3)까지의 초점 거리를 "c"가 되도록 초점 조절부(21)를 제어하고, 카메라 렌즈에서 상기 하판 POL(4)까지의 초점 거리를 "d"가 되도록 초점 조절부(21)를 제어하며, 카메라 렌즈에서 상기 백라이트 유닛(5)까지의 초점 거리를 "e"가 되도록 초점 조절부(21)를 제어한다. That is, the controller 50 controls the focus adjusting unit 21 so that the focal length from the camera lens to the upper plate POL 1 is "a", and the focal length from the camera lens to the lower glass 2. The focus adjuster 21 is controlled to be "b", the focus adjuster 21 is controlled to be "c" to the focal length from the camera lens to the lower plate 3, and the lower plate POL ( The focus adjusting unit 21 is controlled so that the focal length up to 4) is “d”, and the focus adjusting unit 21 is controlled so that the focal length from the camera lens to the backlight unit 5 is “e”. .

그리고, 카메라(20)는 제어부(50)의 제어에 응하여 검사용 LCD 모듈을 촬영하고, 촬영된 영상신호를 캘리브레이션부(30)로 출력하면 상기 캘리브레이션부(30)는 상기 카메라(20)로부터 입력되는 영상신호를 수치화하여 캡쳐하고, 캡쳐된 영상을 영상신호 처리부(40)로 출력한다.Then, the camera 20 photographs the LCD module for inspection under the control of the controller 50, and outputs the photographed image signal to the calibration unit 30. The calibration unit 30 is input from the camera 20. The video signal is digitized and captured, and the captured image is output to the video signal processor 40.

그러면 영상신호 처리부(40)는 캡쳐된 영상을 디지털 신호로 변환시켜 제어부(50)로 출력하고, 제어부(50)는 각 층별로 촬영된 신호를 이용하여 복수의 비교 데이터를 생성시킨다(S110).Then, the image signal processor 40 converts the captured image into a digital signal and outputs the digital signal to the controller 50, and the controller 50 generates a plurality of comparison data using signals photographed for each floor (S110).

그리고, 제어부(50)는 상기 기준 데이터와 비교 데이터를 각 층별로 비교하여, 각 층별 상태를 화면상에 출력하여 검사자가 층별 불량 상태를 분석할 수 있도록 한다(S120).In addition, the controller 50 compares the reference data with the comparison data for each floor, and outputs the status of each floor on the screen so that the inspector can analyze the failure status of each floor (S120).

이때, 상기 제 1 층인 상판 POL(1)에 발생할 수 있는 불량상태는 POL 찍힘, 스크래치, 눌림 등을 포함하며, 상기 제 2 층인 상판 글래스(2) 및 제 4 층인 하판 POL(4)에 발생할 수 있는 불량상태는 이물포함, POL 찍힘, 스크래치 등을 포함하며, 상기 제 3 층인 하판(3)에서 발생할 수 있는 불량상태는 스페이서 눌림 등을 포함하며, 상기 제 5 층인 백라이트 유닛(4)에서 발생할 수 있는 불량상태는 백라이트 이물 또는 얼룩 등을 포함한다. 물론 상기에서 언급하지 않은 불량 상태가 더 존재할 수 있다. At this time, the defective state that may occur in the upper plate POL (1), which is the first layer, may include POL stamping, scratching, pressing, etc., and may occur in the upper plate glass (2), which is the second layer, and the lower plate POL (4), which is the fourth layer. Defective conditions include foreign matter inclusion, POL imprinting, scratches, and the like, and a defective state that may occur in the lower plate 3, which is the third layer, may include a spacer pressed, and may occur in the backlight unit 4, which is the fifth layer. Defective conditions include a backlit foreign material or stain. Of course, there may be further defective conditions not mentioned above.

그리고, LCD 모듈의 상판 POL 및 상판 글래스 층에서 상기와 같은 불량상태가 발생하는 경우 대부분 재 공정(Rework)을 통해 재사용이 가능한 경우가 대부분이나, 하판, 하판 POL, 백라이트 유닛 층에서 상기와 같은 불량상태가 발생하는 경우 재 공정을 통해 불량상태를 해결할 수 없기 때문에 폐기시켜야 하는 경우가 대부분이다.In addition, when the above bad conditions occur in the upper panel POL and the upper glass layer of the LCD module, most of them may be reused through rework. However, such defects may be caused in the lower panel, the lower panel POL, and the backlight unit layer. If a condition occurs, it is often necessary to dispose of it because reprocessing cannot solve the bad condition.

예를 들면 첨부 도면 도 4는 제어부(50)의 제어에 따라 표시부(60)의 검사화면상으로 출력되는 양품이미지의 영상이며, 첨부 도면 도 5는 초점 거리 "b"에서 촬영한 상판 글래스의 영상(1)으로서 불량상태를 포함하고 있음을 알 수 있다. 그리고, 첨부 도면 도 6은 초점 거리 "E"에서 촬영한 백라이트 유닛(BLU)의 영상(2)으로서 불량상태를 포함하고 있음을 알 수 있다.For example, FIG. 4 is an image of a non-defective image that is output on the inspection screen of the display unit 60 under the control of the controller 50. FIG. 5 is an image of the top glass photographed at the focal length “b”. It can be seen that (1) includes a defective state. 6 shows that the image 2 of the backlight unit BLU photographed at the focal length “E” includes a defective state.

상기와 같이 각 층별로 불량상태를 정확하게 검출하여 검사자의 검사 화면상에 보여줌으로써, 검사자가 화면상으로 LCD 모듈의 불량상태를 간단하게 파악할 수 있으며, LCD 모듈의 각 층별 불량상태에 따라 재공정 후 재사용 또는 폐기 등과 같은 후처리 공정을 검사화면상에서 분류하여 안내 메시지를 출력해 줌으로써, 검사자가 판단하여 처리할 수 있도록 한다.By accurately detecting the defective state by each floor as shown above and showing it on the inspector's inspection screen, the inspector can easily identify the defective state of the LCD module on the screen and after reprocessing according to the defective state of each layer of the LCD module The post-processing process such as reuse or disposal is classified on the inspection screen to output a guide message, so that the inspector can determine and process it.

그리고, LCD 모듈 검사장치는 LCD 모듈 검사 데이터를 LCD모듈의 고유정보에 매칭시켜 데이터베이스를 구축해 둠으로써, LCD모듈의 현황을 간단한 조작으로 빠른 시간 내에 알 수 있도록 한다.In addition, the LCD module inspection apparatus establishes a database by matching the LCD module inspection data with the unique information of the LCD module, so that the current status of the LCD module can be quickly known by a simple operation.

이에 따라서, 본 발명은 LCD 모듈 불량분석을 검사자의 육안에 의존하지 않게 되므로 불량 분류의 착오 및 오류가 유발되는 것을 방지할 수 있으며, 이에 따라 양산성을 향상시킬 수 있도록 하는 효과가 있다.Accordingly, the present invention does not depend on the naked eye of the LCD module analysis, it is possible to prevent the misclassification and error of the failure classification, thereby improving the productivity.

또한, 본 발명은 LCD 모듈 불량분석을 검사자의 육안에 의존하지 않게 되므로 불량의 종류를 판별하기 위해 또다른 불량을 유발할 가능성을 사전에 방지할 수 있도록 하는 효과가 있다.In addition, since the LCD module failure analysis does not depend on the naked eye of the inspector, the present invention has an effect of preventing the possibility of causing another failure in advance to determine the type of failure.

또한, 본 발명은 LCD 모듈의 각 층별을 촬영하고, 층별로 촬영된 영상신호를 검사자의 검사 화면을 통해 보여줌으로써 객관적으로 불량상태를 분석할 수 있도록 하여 숙련된 검사자가 아닌 경우에도 쉽게 할 수 있도록 함으로써 유동 인력을 확보할 수 있도록 하는 효과가 있다. In addition, the present invention by taking a picture of each floor of the LCD module, by showing the image signal taken by the tester's inspection screen objectively to analyze the defect state so that even if you are not an experienced inspector easily As a result, it is possible to secure a floating manpower.

또한, 본 발명은 LCD 모듈의 각 층별 불량상태에 따라 재공정 후 재사용 또는 폐기 등과 같은 후처리 공정을 검사화면상에서 분류하여 처리할 수 있도록 함으로써, LCD 모듈 검사용 데이터를 확보하고, 확보된 LCD 모듈 검사용 데이터를 LCD모듈의 고유정보에 매칭시켜 데이터베이스를 구축할 수 있으며, 구축된 데이터베이스를 이용하여 LCD모듈의 현황을 관리할 수 있도록 하는 효과가 있다. In addition, according to the present invention, the post-treatment process such as reuse or disposal after reprocessing can be classified and processed on the inspection screen according to the defective state of each layer of the LCD module, thereby securing LCD module inspection data and securing the LCD module. The database can be constructed by matching the inspection data with the unique information of the LCD module, and it is effective to manage the current status of the LCD module using the constructed database.

본 발명은 상기 실시예에만 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 많은 변형이 가능함은 명백하다.The present invention is not limited only to the above embodiments, and it is apparent that many modifications are possible by those skilled in the art within the technical spirit of the present invention.

도 1은 본 발명에 따른 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석장치의 구성을 설명하기 위한 블록도,1 is a block diagram illustrating a configuration of an LCD module failure analysis apparatus using a camera multi-focus method according to the present invention;

도 2는 본 발명에 따른 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법을 설명하기 위한 동작 흐름도,2 is a flowchart illustrating an LCD module failure analysis method using a camera multi-focus method according to the present invention;

도 3은 LCD 모듈에서 각 층별 초점 거리를 도시한 도면,3 is a view showing a focal length for each floor in an LCD module;

도 4는 양품 LCD 모듈의 이미지 화면,4 is an image screen of a good quality LCD module,

도 5는 초점 거리 "b"를 갖는 층별에 형성된 불량상태를 도시한 도면,5 is a view showing a bad state formed in each floor having a focal length "b";

도 6은 초점 거리 "e"를 갖는 층별에 형성된 불량상태를 도시한 도면이다.FIG. 6 is a view showing a defective state formed for each floor having a focal length "e".

*** 도면의 주요부분에 대한 부호설명 ****** Explanation of main parts of drawing ***

10 : 저장부 20 : 카메라10: storage 20: camera

21 : 초점조절부 30 : 캘리브레이션부21: focusing unit 30: calibration unit

40 : 영상신호 처리부 50 : 제어부40: image signal processor 50: controller

60 : 표시부 70 : 키패드 60: display unit 70: keypad

Claims (4)

디스플레이장치의 제조 공정 중 단위공정별로 이루어지는 화질 외관 검사 공정을 포함하는 LCD 모듈 검사 방법에 있어서,In the LCD module inspection method comprising the image quality visual inspection process for each unit process of the manufacturing process of the display device, 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 양품 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 기준 데이터를 생성시켜 저장하는 기준 데이터 생성과정;A reference data generation process of photographing a good quality LCD module by operating a focus of a camera in a predetermined order, and then generating and storing a plurality of reference data using the photographed signal; 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 검사용 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 비교 데이터를 생성시키는 비교 데이터 생성과정; 및A comparison data generation process of photographing a test LCD module by operating a focus of a camera in a predetermined order and generating a plurality of comparison data using the photographed signal; And 상기 기준 데이터와 비교 데이터를 각 층별로 비교하여, 각 층별 상태를 화면상에 출력하여 검사자가 층별 불량 상태를 분석할 수 있도록 하는 불량분석과정; A failure analysis process of comparing the reference data with the comparison data for each floor and outputting the status of each floor on the screen so that the inspector can analyze the failure status of each floor; 으로 이루어진 것을 특징으로 하는 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법.LCD module failure analysis method using a camera multi-focus method characterized in that consisting of. 제 1 항에 있어서, 상기 불량분석과정은,According to claim 1, wherein the failure analysis process, 상기 검사용 LCD 모듈의 제 1 층 ~ 제 5 층 중 적어도 하나의 층에서 이물포함, POL 찍힘, 스크래치, 스페이서 눌림, 백라이트 이물, 얼룩 등에 의한 불량정도를 체크하고, 그 불량상태를 판단하여 화면상에 출력하는 것을 특징으로 하는 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석방법.In the at least one layer of the first to fifth layers of the LCD module for inspection, the degree of defects caused by inclusion of foreign matters, POL imprinting, scratching, spacer pressing, backlight foreign matters, stains, etc. is checked, and the defect state is judged on the screen. LCD module failure analysis method using a camera multi-focus method characterized in that the output to. 기준 데이터를 저장하고 있으며, 검사용 LCD 모듈 정보에 대응시켜 각 층별 불량상태를 저장하고 있는 저장부; A storage unit which stores reference data and stores defective states of each floor in correspondence with the inspection LCD module information; 외부로부터 입력되는 초점 조절용 제어신호에 응하여 초점을 변경시켜 가면서 촬영하는 카메라; 및A camera photographing while changing a focus in response to a focus control signal input from an external device; And 상기 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 양품 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 기준 데이터를 생성시켜 상기 저장부에 저장하고, 카메라의 초점을 미리 설정된 순서로 조작하여 검사용 LCD 모듈을 촬영한 다음, 촬영된 신호를 이용하여 복수의 비교 데이터를 생성하며, 상기 기준 데이터와 비교 데이터를 각 층별로 비교하여, 각 층별 상태를 화면상에 출력하여 검사자가 층별 불량 상태를 분석할 수 있도록 하고, 검사자의 요청에 응하여 층별 불량 상태를 검사용 LCD 모듈 정보에 대응시켜 상기 저장부에 저장하는 제어부; After photographing the good quality LCD module by operating the focus of the camera in a preset order, a plurality of reference data are generated using the photographed signal, stored in the storage unit, and the focus of the camera is manipulated in a preset order for inspection. After taking the LCD module for the camera, a plurality of comparison data are generated using the captured signal, and the reference data and the comparison data are compared for each floor, and the status of each floor is displayed on the screen. A control unit configured to analyze and store the failure state of each floor in response to a request of an inspector, and store the defective state in correspondence with the LCD module information for inspection; 으로 이루어진 것을 특징으로 하는 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석장치.LCD module failure analysis device using a camera multi-focus method, characterized in that consisting of. 제 3 항에 있어서, 상기 제어부는,The method of claim 3, wherein the control unit, 상기 검사용 LCD 모듈의 제 1 층 ~ 제 5 층 중 적어도 하나의 층에서 이물포함, POL 찍힘, 스크래치, 스페이서 눌림, 백라이트 이물, 얼룩 등에 의한 불량정도를 체크하고, 그 불량상태를 판단하여 화면상에 출력하는 것을 특징으로 하는 카메라 다중 초점방식을 이용한 LCD 모듈 불량분석장치.In the at least one layer of the first to fifth layers of the LCD module for inspection, the degree of defects caused by inclusion of foreign matters, POL imprinting, scratching, spacer pressing, backlight foreign matters, stains, etc. is checked, and the defect state is judged on the screen. LCD module failure analysis device using a camera multi-focus method characterized in that the output to.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100647528B1 (en) * 2005-08-10 2006-11-23 동양반도체 주식회사 Method and apparatus for detecting surface of backlight unit
KR101485637B1 (en) * 2012-12-03 2015-01-23 (주)쎄미시스코 Inspection method and apparatus for an article comprising multiple layers

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