KR20050067317A - Pattern forming method and fabrication method for tft and lcd using the same - Google Patents

Pattern forming method and fabrication method for tft and lcd using the same Download PDF

Info

Publication number
KR20050067317A
KR20050067317A KR1020030098198A KR20030098198A KR20050067317A KR 20050067317 A KR20050067317 A KR 20050067317A KR 1020030098198 A KR1020030098198 A KR 1020030098198A KR 20030098198 A KR20030098198 A KR 20030098198A KR 20050067317 A KR20050067317 A KR 20050067317A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
dfr
pattern
patterned
resultant
Prior art date
Application number
KR1020030098198A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101045431B1 (en
Inventor
백승한
조용진
이정일
정시화
Original Assignee
엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지.필립스 엘시디 주식회사 filed Critical 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority to KR1020030098198A priority Critical patent/KR101045431B1/en
Publication of KR20050067317A publication Critical patent/KR20050067317A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101045431B1 publication Critical patent/KR101045431B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof  ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film

Abstract

본 발명에 따른 패턴 형성 방법은, 기판 상에 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하는 단계와; 형성하고자 하는 패턴 형상이 구비된 열전달 수단을 이용하여, 열전달 수단에 형성된 패턴 형상에 따라 DFR층에 열을 인가하는 단계; 및 DFR층에 대한 현상을 수행하여, 열전달 수단으로부터 열이 인가되지 않은 부분을 제거하고 DFR층에 패턴을 형성하는 단계; 를 포함한다.The pattern forming method according to the present invention comprises the steps of forming a dry film resist (DFR) layer on the substrate; Using heat transfer means having a pattern shape to be formed, applying heat to the DFR layer according to the pattern shape formed on the heat transfer means; And performing development on the DFR layer to remove the unheated portion from the heat transfer means and to form a pattern in the DFR layer; It includes.

여기서 본 발명에 의하면, 열전달 수단은 롤러 형상으로 구성되어 회전되며, 롤러의 표면에는 형성하고자 하는 패턴이 돌출 형성되어 있고, 그 돌출된 패턴 형상이 소정 온도로 유지되도록 함으로써, DFR층 표면은 회전되는 롤러의 표면 패턴과의 접촉에 의하여 열이 전달되고 경화된다.According to the present invention, the heat transfer means is configured to rotate in the shape of a roller, the surface of the roller is formed to protrude a pattern to be formed, the projected pattern shape is maintained at a predetermined temperature, the surface of the DFR layer is rotated Heat is transferred and cured by contact with the surface pattern of the roller.

또한, 본 발명에 따른 박막트랜지스터 제조방법은, 기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 활성층, 소스/드레인 전극을 순차적으로 패터닝하고 적층 형성하여 박막트랜지스터를 제조함에 있어, 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하고, 그 결과물에 대한 식각 공정을 수행하여 게이트 전극, 활성층, 소스/드레인 전극을 각각 형성하는 점에 그 특징이 있다.In addition, the method for manufacturing a thin film transistor according to the present invention, in order to form a thin film transistor by sequentially patterning and laminating a gate electrode, a gate insulating film, an active layer, a source / drain electrode on a substrate, using a heat transfer means to a predetermined shape A patterned dry film resist (DFR) layer is formed, and the resulting etching process is performed to form a gate electrode, an active layer, and a source / drain electrode, respectively.

Description

패턴 형성 방법과 이를 이용한 박막트랜지스터 및 액정표시장치 제조방법{Pattern forming method and fabrication method for TFT and LCD using the same}Pattern forming method and manufacturing method of thin film transistor and liquid crystal display using the same {Pattern forming method and fabrication method for TFT and LCD using the same}

본 발명은 액정표시장치(liquid crystal display) 제조방법에 관한 것으로서, 특히 식각 공정을 진행하기 위한 소정 패턴층을 형성함에 있어, 간단하고 생산성을 증대시킬 수 있는 패턴 형성 방법과 이를 이용한 박막트랜지스터 및 액정표시장치 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a liquid crystal display, and in particular, in forming a predetermined pattern layer for performing an etching process, a pattern forming method for increasing productivity and a thin film transistor and a liquid crystal using the same A display device manufacturing method.

최근 정보화 사회로 시대가 급격하게 변해가면서 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 평판표시장치(flat panel display)의 필요성이 대두되었는데, 그 중 색 재현성 등이 우수한 액정표시장치가 활발하게 개발되고 있다.Recently, as the information society has changed rapidly, the necessity of a flat panel display having excellent characteristics such as thinness, light weight, and low power consumption has emerged. Among them, liquid crystal display devices having excellent color reproducibility, etc. are actively active. Is being developed.

알려진 바와 같이, 액정표시장치는 일측에 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을, 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정 물질을 주입함으로써 형성된다. 또한, 액정표시장치는 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 영상을 표현하는 장치이다.As is known, a liquid crystal display is formed by arranging two substrates each having electrodes formed on one side thereof so that the surfaces on which the two electrodes are formed face each other and injecting a liquid crystal material between the two substrates. In addition, the liquid crystal display device is a device for representing an image by changing the transmittance of light by moving the liquid crystal molecules by an electric field generated by applying a voltage to the two electrodes.

이와 같은 액정표시장치의 하부 기판은 화소 전극에 신호를 인가하기 위한 박막트랜지스터를 포함하는 어레이 기판으로서, 금속막 및 절연막을 형성하고 사진 식각하는 공정을 반복함으로써 형성된다. 또한, 액정표시장치의 상부 기판은 칼라필터를 포함하는 기판으로서, 칼라필터는 적(R), 녹(G), 청(B)의 세 가지 색이 순차적으로 배열되어 있다.The lower substrate of the liquid crystal display device is an array substrate including a thin film transistor for applying a signal to a pixel electrode, and is formed by repeating a process of forming a metal film and an insulating film and then etching the photo. In addition, the upper substrate of the liquid crystal display device is a substrate including a color filter, in which three colors of red (R), green (G), and blue (B) are sequentially arranged.

한편, 도 1은 일반적인 액정표시장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.1 is a diagram schematically illustrating a configuration of a general liquid crystal display device.

도 1을 참조하여 간략하게 설명하면, 일반적인 액정표시장치는 TFT 어레이가 형성되어 있는 TFT 기판과, 칼라필터가 배열되어 있는 칼라필터 기판과, 상기 TFT 기판과 칼라필터 기판 사이에 주입된 액정 및 영상 표시를 위하여 빛을 공급하는 백 라이트(Back Light)를 포함하여 구성된다.Referring briefly to FIG. 1, a general liquid crystal display device includes a TFT substrate on which a TFT array is formed, a color filter substrate on which a color filter is arranged, a liquid crystal and an image injected between the TFT substrate and the color filter substrate. And a back light for supplying light for display.

여기서, 상기 TFT 기판에 형성된 TFT 어레이는 전기적 신호를 전달, 제어하는 역할을 하며, 액정은 인가된 전압에 따라 분자구조를 달리하여 빛의 투과 정도를 제어한다. 이와 같은 과정을 통하여 제어된 빛은 칼라필터 기판을 통과하면서 원하는 색과 영상으로 나타나게 된다.Here, the TFT array formed on the TFT substrate serves to transmit and control an electrical signal, and the liquid crystal controls the degree of light transmission by changing the molecular structure according to the applied voltage. The light controlled through the above process passes through the color filter substrate and appears in a desired color and image.

이와 같은 액정표시장치를 제조하는 과정에 있어, 상기 칼라필터 기판과 TFT 기판 사이에는 실링재(sealing material)가 들어가게 된다. 이러한 실링재는 상기 칼라필터 기판과 TFT 기판을 합착시켜 주며, 또한 상기 칼라필터 기판과 TFT 기판 사이에 주입되는 액정이 외부로 유출되지 않도록 밀봉시켜주는 역할을 수행한다.In the process of manufacturing such a liquid crystal display device, a sealing material enters between the color filter substrate and the TFT substrate. Such a sealing material bonds the color filter substrate and the TFT substrate, and also seals the liquid crystal injected between the color filter substrate and the TFT substrate so as not to leak out.

그리고, 이러한 TFT 기판과 칼라필터 기판을 형성함에 있어서, TFT 기판 및 칼라필터 기판은 복수의 층이 적층 형성되어 구성되며, 각 층은 소정 형상으로 패터닝되어 형성된다. 이때, 각 층을 소정 형상으로 형성하기 위해서는, 대상층 상에 레지스트 층을 소정 형상으로 패터닝하여 형성하고, 그 레지스트 층이 형성된 상태에서 식각을 수행함으로써, 대상층을 소정 형상으로 패터닝할 수 있게 된다. 여기서, 상기 레지스트 층을 형성하는 재질로는 포토 레지스트(Photo Resist)가 이용될 수도 있으며 DFR(Dry Film Resist)이 이용될 수도 있다.In forming the TFT substrate and the color filter substrate, the TFT substrate and the color filter substrate are each formed by stacking a plurality of layers, and each layer is formed by patterning a predetermined shape. In this case, in order to form each layer in a predetermined shape, the target layer may be patterned into a predetermined shape by patterning and forming a resist layer on the target layer, and performing etching in a state where the resist layer is formed. In this case, a photo resist may be used as a material for forming the resist layer, or a dry film resist (DFR) may be used.

그러면 도 2를 참조하여 종래 이용되는 패턴 형성 방법에 대하여 간략하게 설명해 보기로 한다. 도 2는 종래 기술에 따른 패턴 형성 방법을 나타낸 순서도이다. 예를 들어, 도 2에 나타낸 패턴 형성 방법을 이용하여, TFT 기판 상에 게이트 전극을 형성하는 과정을 설명하면 다음과 같이 수행될 수 있다.2 will be briefly described with reference to FIG. 2. 2 is a flowchart illustrating a pattern forming method according to the prior art. For example, a process of forming a gate electrode on a TFT substrate using the pattern forming method shown in FIG. 2 can be described as follows.

먼저, 기판 상에 게이트 전극을 형성할 금속막을 형성한다. 그리고, 상기 금속막 상에 DFR층을 적층 형성한다(단계 201). First, a metal film for forming a gate electrode is formed on a substrate. Then, a DFR layer is laminated on the metal film (step 201).

이후, 상기 DFR층 상에 소정 패턴이 형성된 마스크를 위치시키고 노광기를 이용하여 노광을 수행한다(단계 202). 이때, 노광기에 의하여 빛이 조사된 영역과 비조사된 영역으로 구분될 수 있게 되며, 상기 DFR층에는 마스크에 형성되어 있는 소정 패턴과 동일한 형상으로 경화된 영역이 생성된다. Thereafter, a mask in which a predetermined pattern is formed is placed on the DFR layer, and exposure is performed using an exposure apparatus (step 202). In this case, the light may be divided into a region irradiated with light and an unirradiated region, and a region hardened in the same shape as a predetermined pattern formed on the mask is formed in the DFR layer.

그리고, 이와 같이 노광된 상태에서 현상을 수행하여, 상기 DFR층의 경화되지 않은 영역을 제거함으로써, 상기 DFR층에는 마스크에 형성된 소정 패턴과 동일한 패턴이 형성되게 된다(단계 203).Then, by developing in the exposed state to remove the uncured region of the DFR layer, the same pattern as the predetermined pattern formed on the mask is formed on the DFR layer (step 203).

이어서, 상기 결과물에 대한 식각을 수행하면, 상기 DFR층이 형성되지 않은 영역의 금속막이 식각됨으로써, 기판 상의 금속막을 패터닝하여 게이트 금속을 형성할 수 있게 된다. 이후, 상기 기판 상의 DFR층을 제거하고 TFT 형성을 위한 다음 공정을 진행하게 된다.Subsequently, when the resultant is etched, the metal film in the region where the DFR layer is not formed is etched to form a gate metal by patterning the metal film on the substrate. Thereafter, the DFR layer on the substrate is removed and the next process for forming the TFT is performed.

한편, 이와 같은 공정을 수행하는 경우에는 노광기를 이용하여 빛을 조사하여야 하는데, 노광기를 이용하는 경우에는 시설 투자에 대한 비용도 많이 들어가게 되고, 공정 시간도 오래 걸리는 단점이 있다. 이에 따라, 공정 시간을 줄이고 패턴 형성을 간단하게 할 수 있는 방안에 대한 연구가 진행되고 있다.On the other hand, when performing such a process is to be irradiated with light using an exposure machine, the use of an exposure machine costs a lot of facility investment, there is a disadvantage that takes a long process time. Accordingly, research is being conducted on a method for reducing process time and simplifying pattern formation.

본 발명은 식각 공정을 진행하기 위한 소정 패턴층을 형성함에 있어, 간단하고 생산성을 증대시킬 수 있는 패턴 형성 방법을 제공함에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a pattern forming method which is simple and can increase productivity in forming a predetermined pattern layer for performing an etching process.

또한 본 발명은 식각 공정을 진행하기 위한 소정 패턴층을 형성함에 있어, 간단하고 생산성을 증대시킬 수 있는 패턴 형성 방법을 이용한 박막트랜지스터 및 액정표시장치 제조방법을 제공함에 다른 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a thin film transistor and a liquid crystal display device using a pattern forming method that can increase productivity in forming a predetermined pattern layer for performing an etching process.

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 패턴 형성 방법은, 기판 상에 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하는 단계와; 형성하고자 하는 패턴 형상이 구비된 열전달 수단을 이용하여, 상기 열전달 수단에 형성된 패턴 형상에 따라 상기 DFR층에 열을 인가하는 단계; 및 상기 DFR층에 대한 현상을 수행하여, 상기 열전달 수단으로부터 열이 인가되지 않은 부분을 제거하고 상기 DFR층에 패턴을 형성하는 단계; 를 포함하는 점에 그 특징이 있다.In order to achieve the above object, the pattern forming method according to the present invention comprises the steps of forming a dry film resist (DFR) layer on the substrate; Applying heat to the DFR layer according to the pattern shape formed on the heat transfer means by using the heat transfer means provided with the pattern shape to be formed; And performing development on the DFR layer to remove a portion to which heat is not applied from the heat transfer means and to form a pattern on the DFR layer. Its features are to include.

여기서 본 발명에 의하면, 상기 열전달 수단은 롤러 형상으로 구성되어 회전되며, 상기 롤러의 표면에는 형성하고자 하는 패턴이 돌출 형성되어 있고, 그 돌출된 패턴 형상이 소정 온도로 유지되도록 함으로써, 상기 DFR층 표면은 상기 회전되는 롤러의 표면 패턴과의 접촉에 의하여 열이 전달되고 경화되는 점에 그 특징이 있다.According to the present invention, the heat transfer means is configured to rotate in the shape of a roller, the surface to be formed is a pattern to be formed protruding, the projected pattern shape is maintained by a predetermined temperature, the surface of the DFR layer Is characterized in that heat is transferred and hardened by contact with the surface pattern of the rotating roller.

또한, 상기의 다른 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 박막트랜지스터 제조방법은, 기판에 제 1 금속막을 증착하고, 상기 증착된 제 1 금속막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하는 단계와; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 게이트 전극을 형성하는 단계와; 상기 게이트 전극 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 절연막 상에 반도체막을 형성하고, 상기 반도체막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 활성층을 형성하는 단계와; 상기 활성층 상에 제 2 금속막을 증착하고, 상기 증착된 제 2 금속막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계; 및 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계; 를 포함하는 점에 그 특징이 있다.In addition, the thin film transistor manufacturing method according to the present invention in order to achieve the above another object, the first metal film is deposited on the substrate, and the DFR (patterned in a predetermined shape using a heat transfer means on the deposited first metal film) Forming a dry film resist layer; Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a gate electrode; Forming a gate insulating film on the gate electrode; Forming a semiconductor film on the gate insulating film, and forming a DFR layer patterned into a predetermined shape on the semiconductor film by using heat transfer means; Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form an active layer; Depositing a second metal film on the active layer and forming a patterned DFR layer on the deposited second metal film by using a heat transfer means; And etching the resultant to form a source electrode and a drain electrode by removing the patterned DFR layer. Its features are to include.

또한, 상기의 다른 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 박막트랜지스터 제조방법은, 기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 활성층, 소스/드레인 전극을 순차적으로 패터닝하고 적층 형성하여 박막트랜지스터를 제조함에 있어, 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하고, 그 결과물에 대한 식각 공정을 수행하여 상기 게이트 전극, 활성층, 소스/드레인 전극을 각각 형성하는 점에 그 특징이 있다.In addition, the thin film transistor manufacturing method according to the present invention in order to achieve the above another object, in order to manufacture a thin film transistor by sequentially patterning and laminating a gate electrode, a gate insulating film, an active layer, a source / drain electrode on a substrate, It is characterized by forming a DFR (Dry Film Resist) layer patterned into a predetermined shape using a heat transfer means, and performing the etching process on the resultant to form the gate electrode, the active layer, and the source / drain electrodes, respectively. .

또한, 상기의 다른 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 액정표시장치 제조방법은, 기판에 제 1 금속막을 증착하고, 상기 증착된 제 1 금속막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하는 단계와; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 게이트 전극을 형성하는 단계와; 상기 게이트 전극 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 절연막 상에 반도체막을 형성하고, 상기 반도체막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 활성층을 형성하는 단계와; 상기 활성층 상에 제 2 금속막을 증착하고, 상기 증착된 제 2 금속막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계와; 상기 결과물 상에 보호막을 형성하고, 상기 보호막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 드레인 콘택홀을 형성하는 단계와; 상기 보호막 상에 상기 드레인 콘택홀과 전기적으로 연결되는 제 3 금속막을 증착하고, 상기 보호막 상에 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계; 및 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 화소 전극을 형성하는 단계; 를 포함하는 점에 그 특징이 있다.In addition, the liquid crystal display device manufacturing method according to the present invention in order to achieve the above another object, the first metal film is deposited on a substrate, the DFR patterned in a predetermined shape by using a heat transfer means on the deposited first metal film Forming a dry film resist layer; Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a gate electrode; Forming a gate insulating film on the gate electrode; Forming a semiconductor film on the gate insulating film, and forming a DFR layer patterned into a predetermined shape on the semiconductor film by using heat transfer means; Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form an active layer; Depositing a second metal film on the active layer, and forming a patterned DFR layer on the deposited second metal film by using a heat transfer means to a predetermined shape; Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a source electrode and a drain electrode; Forming a protective film on the resultant, and forming a DFR layer patterned into a predetermined shape by using heat transfer means on the protective film; Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a drain contact hole; Depositing a third metal film electrically connected to the drain contact hole on the passivation layer, and forming a DFR layer patterned into a predetermined shape on the passivation layer using heat transfer means; And etching the resultant, and removing the patterned DFR layer to form a pixel electrode. Its features are to include.

또한, 상기의 다른 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 액정표시장치 제조방법은, 기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 활성층, 소스 전극 및 드레인 전극, 보호막, 화소 전극을 순차적으로 패터닝하고 적층 형성하여 액정표시장치를 제조함에 있어, 열전달 수단을 이용하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하고, 그 결과물에 대한 식각 공정을 수행하여 상기 게이트 전극, 활성층, 소스 전극 및 드레인 전극, 화소 전극을 각각 형성하는 점에 그 특징이 있다.In addition, in order to achieve the above object, the liquid crystal display device manufacturing method according to the present invention, by sequentially patterning and laminating a gate electrode, a gate insulating film, an active layer, a source electrode and a drain electrode, a protective film, a pixel electrode on a substrate In manufacturing a liquid crystal display device, a dry film resist (DFR) layer patterned into a predetermined shape is formed by using a heat transfer means, and an etching process is performed on the resultant to form the gate electrode, the active layer, the source electrode and the drain electrode, Its characteristics are that it forms a pixel electrode, respectively.

이와 같은 본 발명에 의하면, 식각 공정을 진행하기 위한 소정 패턴층을 형성함에 있어, 간단하고 생산성을 증대시킬 수 있는 패턴 형성 방법을 제공함으로써, 박막트랜지스터 및 액정표시장치를 보다 간단하게 제조할 수 있으며, 생산량을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, it is possible to manufacture a thin film transistor and a liquid crystal display device more simply by providing a pattern forming method which can simplify the productivity in forming a predetermined pattern layer for performing an etching process. This has the advantage of improving output.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 따른 패턴 형성 방법을 나타낸 순서도이다.3 is a flowchart illustrating a pattern forming method according to the present invention.

도 3을 참조하여 본 발명에 따른 패턴 형성 방법을 설명하면 다음과 같다. 여기서는, 액정표시장치를 구성하는 TFT 기판 상에 게이트 전극을 형성하는 과정을 예를 들어 설명해 보기로 한다.Referring to Figure 3 describes the pattern forming method according to the present invention. Here, a process of forming the gate electrode on the TFT substrate constituting the liquid crystal display device will be described as an example.

먼저, 기판 상에 게이트 전극 형성을 위한 금속막을 증착한다. 그리고, 상기 금속막 상에 DFR(Dry Film Resist)층을 적층 형성한다(단계 301). First, a metal film for forming a gate electrode is deposited on a substrate. A dry film resist (DFR) layer is stacked on the metal film (step 301).

그리고, 형성하고자 하는 패턴 형상이 구비된 열전달 수단을 이용하여, 상기 열전달 수단에 형성된 패턴 형상에 따라 상기 DFR층에 열을 인가한다(단계 302). 이때 상기 열전달 수단에 의하여 열이 전달된 상기 DFR층의 소정 영역은 경화가 됨으로써, 상기 DFR층에는 열전달 수단에 형성되어 있는 소정 패턴과 동일한 형상으로 경화된 영역이 생성된다. Then, heat is applied to the DFR layer according to the pattern shape formed on the heat transfer means by using the heat transfer means provided with the pattern shape to be formed (step 302). In this case, a predetermined region of the DFR layer, to which heat is transferred by the heat transfer means, is cured, thereby creating a region that is cured in the same shape as a predetermined pattern formed in the heat transfer means.

여기서 상기 열전달 수단에는 요철 형상으로 소정 패턴이 형성되어 있고, 상기 돌출된 패턴 형상이 소정 온도로 유지되도록 함으로써, 상기 열전달 수단의 돌출된 패턴 형상과 접촉되는 상기 DFR층의 원하는 영역에만 열을 전달할 수 있게 된다. 이때, 상기 열전달 수단은 130~200℃의 범위에서 그 온도가 조절되도록 한다. 이는 DFR층의 특성을 반영하여 설정된 온도 영역이므로, 레지스트 층의 물성이 변경되는 경우에는 해당 물성에 따라 상기 유지 온도는 변경될 수 있다.Here, the heat transfer means is formed with a predetermined pattern in a concave-convex shape, and by maintaining the protruding pattern shape at a predetermined temperature, heat can be transferred only to a desired region of the DFR layer in contact with the protruding pattern shape of the heat transfer means. Will be. At this time, the heat transfer means to control the temperature in the range of 130 ~ 200 ℃. Since this is a temperature range set in consideration of the characteristics of the DFR layer, when the physical properties of the resist layer are changed, the holding temperature may be changed according to the corresponding physical properties.

그리고, 이와 같이 일부 영역이 경화된 상태에서 현상을 수행하여, 상기 DFR층의 경화되지 않은 영역을 제거함으로써, 상기 DFR층에는 상기 열전달 수단에 형성된 소정 패턴과 동일한 패턴이 형성되게 된다(단계 303).Then, the development is performed in a state where the partial region is cured to remove the uncured region of the DFR layer, thereby forming the same pattern as the predetermined pattern formed on the heat transfer means in the DFR layer (step 303). .

이어서, 상기 결과물에 대한 식각을 수행하면, 상기 DFR층이 형성되지 않은 영역의 금속막이 식각됨으로써, 기판 상의 금속막을 패터닝하여 게이트 금속을 형성할 수 있게 된다. 이후, 상기 기판 상의 DFR층을 제거하고 TFT 형성을 위한 다음 공정을 진행하게 된다.Subsequently, when the resultant is etched, the metal film in the region where the DFR layer is not formed is etched to form a gate metal by patterning the metal film on the substrate. Thereafter, the DFR layer on the substrate is removed and the next process for forming the TFT is performed.

그러면, 도 4를 참조하여, 본 발명에 따른 열전달 수단을 이용하여 패턴을 형성하는 공정에 대하여 간략하게 설명해 보기로 한다. 도 4는 본 발명에 따른 패턴 형성 방법에 의하여, DFR 적층 공정 및 DFR 패터닝 공정이 수행되는 상태를 개념적으로 나타낸 도면이다.4, a process of forming a pattern using the heat transfer means according to the present invention will be briefly described. 4 is a view conceptually illustrating a state in which a DFR lamination process and a DFR patterning process are performed by the pattern forming method according to the present invention.

도 4에 나타낸 바와 같이, 본 발명에 따른 패턴 형성 방법을 수행하기 위해서는 먼저 기판(403) 상에 DFR(405)이 적층 형성되어야 한다. 이때, 상기 기판(403)은 기판 이송수단(401), 예컨대 컨베이어 시스템에 의하여 DFR 적층 공정 영역(410)으로 이동되어 DFR 적층 롤러(407a, 407b)에 공급될 수 있다. 여기서, 상기 DFR 적층 롤러(407a, 407b)는 공급되는 기판(403)에 DFR(405)을 눌러줌으로써, 상기 기판(403) 상에 DFR층을 형성할 수 있게 된다.As shown in FIG. 4, in order to perform the pattern forming method according to the present invention, first, a DFR 405 must be stacked on a substrate 403. In this case, the substrate 403 may be moved to the DFR lamination process region 410 by a substrate transfer means 401, for example, a conveyor system, and supplied to the DFR lamination rollers 407a and 407b. In this case, the DFR lamination rollers 407a and 407b can form a DFR layer on the substrate 403 by pressing the DFR 405 onto the substrate 403 to be supplied.

이후, DFR(405)이 적층 형성된 기판(403)은 기판 이송수단(401)에 의하여 DFR 패터닝 공정 영역(420)의 DFR 패터닝 롤러(409a, 409b)에 공급된다. 이때, 상기 DFR(405)이 적층 형성된 기판(403)은 상기 DFR 패터닝 롤러(409a, 409b)를 통과하는 과정에서, 상부 DFR 패터닝 롤러(409b)의 표면에 형성되어 있는 돌출 패턴과 접촉하게 된다.Subsequently, the substrate 403 having the DFR 405 stacked thereon is supplied to the DFR patterning rollers 409a and 409b of the DFR patterning process region 420 by the substrate transfer means 401. At this time, the substrate 403 in which the DFR 405 is stacked is in contact with the protruding pattern formed on the surface of the upper DFR patterning roller 409b in the process of passing through the DFR patterning rollers 409a and 409b.

여기서, 상기 상부 DFR 패터닝 롤러(409b)의 표면에는 형성하고자 하는 패턴이 돌출 형성되어 있으며, 그 돌출된 패턴 형상은 소정 온도로 유지되도록 구성된다. 이에 따라, 상기 DFR(405) 표면은 상기 회전되는 상부 DFR 패터닝 롤러(409b)의 표면 패턴과의 접촉에 의하여 열이 전달되고 경화되게 되는 것이다.Here, a pattern to be formed is protruded on the surface of the upper DFR patterning roller 409b, and the protruding pattern shape is configured to be maintained at a predetermined temperature. Accordingly, the surface of the DFR 405 is to transmit heat and harden by contact with the surface pattern of the rotating upper DFR patterning roller 409b.

이후, 현상 공정을 통하여 경화되지 않은 DFR 영역은 제거됨으로써, 상기 상부 DFR 패터닝 롤러(409b)의 표면에 형성된 패턴과 동일한 형상으로 DFR(405)을 패터닝할 수 있게 된다.Thereafter, the DFR region that is not cured through the developing process is removed, thereby patterning the DFR 405 in the same shape as the pattern formed on the surface of the upper DFR patterning roller 409b.

한편, 이와 같은 패턴 형성 방법은 박막트랜지스터 및 액정표시장치를 제조하는데 있어 매우 유용하게 이용될 수 있다. 특히, 대면적 텔레비젼에 채용되는 박막트랜지스터 및 액정표시장치의 배선 폭은 대략 10~20㎛의 해상도(resolution)를 갖기 때문에 열전달 수단을 이용하여 원하는 형상의 패턴을 충분히 형성할 수 있게 된다. On the other hand, such a pattern forming method can be very useful for manufacturing a thin film transistor and a liquid crystal display device. In particular, since the wiring width of the thin film transistor and the liquid crystal display device employed in the large-area television has a resolution of approximately 10 to 20 µm, it is possible to sufficiently form a pattern having a desired shape using heat transfer means.

따라서 본 발명에 의하면, 종래의 포토리소그라피 방법을 이용하여 패터닝을 수행하는 경우에 비하여 별도의 노광기가 필요없게 되므로 비용면에서도 제조 원가를 줄일 수 있으며, 또한 공정시간도 단축할 수 있는 장점이 있다.Therefore, according to the present invention, there is no need for a separate exposure machine as compared with the case of performing patterning using a conventional photolithography method, thereby reducing the manufacturing cost in terms of cost and also reducing the processing time.

그러면, 이와 같은 열전달 수단을 이용하여 박막트랜지스터 및 액정표시장치를 제조하는 과정에 대하여 간략하게 설명해 보기로 한다. 알려진 바와 같이, 액정표시장치의 TFT 기판을 제조하는 공정 중에는 박막트랜지스터를 제조하는 공정이 포함되어 있으므로, 여기서는 액정표시장치의 TFT 기판을 제조하는 공정을 기준으로 하여 통합하여 설명하기로 한다. Then, the process of manufacturing the thin film transistor and the liquid crystal display using the heat transfer means will be briefly described. As is known, the process of manufacturing the TFT substrate of the liquid crystal display device includes the process of manufacturing the thin film transistor, and therefore, the description will be made here on the basis of the process of manufacturing the TFT substrate of the liquid crystal display device.

즉 본 발명에 의하면, 기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 활성층, 소스 전극 및 드레인 전극, 보호막, 화소 전극을 순차적으로 패터닝하고 적층 형성하여 액정표시장치의 TFT 기판을 제조함에 있어, 열전달 수단을 통한 패턴 형성 방법에 의하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하고, 그 결과물에 대한 식각 공정을 수행하여 상기 게이트 전극, 활성층, 소스 전극 및 드레인 전극, 화소 전극을 각각 형성함으로써 액정표시장치의 TFT 기판을 제조할 수 있게 된다.In other words, according to the present invention, the gate electrode, the gate insulating film, the active layer, the source electrode and the drain electrode, the protective film, and the pixel electrode are sequentially patterned and stacked on the substrate to manufacture a TFT substrate of the liquid crystal display device. The TFT substrate of the liquid crystal display device is formed by forming a DFR layer patterned into a predetermined shape by a pattern forming method and etching the resultant to form the gate electrode, the active layer, the source electrode and the drain electrode, and the pixel electrode, respectively. It becomes possible to manufacture.

한편, 액정표시장치의 TFT 기판을 제조함에 있어서, 패턴을 형성하는 공정 수에 따라서 다양한 제조방법이 알려져 있는데, 여기서는 그 한 예를 기준으로 간략하게 설명하기로 한다.Meanwhile, in manufacturing a TFT substrate of a liquid crystal display device, various manufacturing methods are known depending on the number of steps for forming a pattern, which will be briefly described based on one example.

먼저, 기판에 제 1 금속막을 증착하고, 열전달 수단에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 증착된 제 1 금속막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성한다. 그리고, 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 게이트 전극을 형성한다.First, a first metal film is deposited on a substrate, and a DFR layer patterned in a predetermined shape is formed on the deposited first metal film by using a pattern forming method by heat transfer means. Then, the resultant is etched and the patterned DFR layer is removed to form a gate electrode.

이후, 상기 게이트 전극 상에 게이트 절연막을 형성한다. 그리고, 상기 게이트 절연막 상에 반도체막을 형성하고, 열전달 수단에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 반도체막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하며, 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 활성층을 형성한다. Thereafter, a gate insulating film is formed on the gate electrode. In addition, a semiconductor film is formed on the gate insulating film, and a patterned DFR layer is formed on the semiconductor film by using a pattern forming method by heat transfer means, and the resultant is etched and patterned. The DFR layer is removed to form an active layer.

이어서, 상기 활성층 상에 제 2 금속막을 증착하고, 열전달 수단에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 증착된 제 2 금속막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하며, 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 소스 전극 및 드레인 전극을 형성한다.Subsequently, a second metal film is deposited on the active layer, and a patterned DFR layer is formed on the deposited second metal film in a predetermined shape by using a pattern forming method by heat transfer means, and the etching of the resultant is performed. And patterned DFR layer to form a source electrode and a drain electrode.

또한, 상기 결과물 상에 보호막을 형성하고, 열전달 수단에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 보호막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하며, 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 드레인 콘택홀을 형성한다.In addition, by forming a protective film on the resultant, by using a pattern formation method by a heat transfer means, to form a patterned DFR layer on the protective film, and to perform etching on the resultant, the patterned DFR layer Is removed to form a drain contact hole.

그리고, 상기 보호막 상에 상기 드레인 콘택홀과 전기적으로 연결되는 제 3 금속막을 증착하고, 열전달 수단에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 보호막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하며, 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 화소 전극을 형성하는 일련의 과정을 통하여 액정표시장치의 TFT 기판을 제조할 수 있게 된다.And depositing a third metal film electrically connected to the drain contact hole on the passivation layer, and forming a patterned DFR layer on the passivation layer using a pattern forming method by a heat transfer means, and forming the resultant DFR layer. It is possible to manufacture the TFT substrate of the liquid crystal display by performing an etching process and removing the patterned DFR layer to form a pixel electrode.

이상의 설명에서와 같이 본 발명에 따른 패턴 형성 방법과 이를 이용한 박막트랜지스터 및 액정표시장치 제조방법에 의하면, 식각 공정을 진행하기 위한 소정 패턴층을 형성함에 있어, 간단하고 생산성을 증대시킬 수 있는 패턴 형성 방법을 제공함으로써, 박막트랜지스터 및 액정표시장치를 보다 간단하게 제조할 수 있으며, 생산량을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.As described above, according to the pattern forming method and the method of manufacturing the thin film transistor and the liquid crystal display device using the same according to the present invention, in forming a predetermined pattern layer for the etching process, it is simple and pattern formation that can increase productivity By providing the method, the thin film transistor and the liquid crystal display device can be manufactured more simply, and there is an advantage that the yield can be improved.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면.1 is a view schematically showing a configuration of a general liquid crystal display device.

도 2는 종래 기술에 따른 패턴 형성 방법을 나타낸 순서도.2 is a flow chart showing a pattern formation method according to the prior art.

도 3은 본 발명에 따른 패턴 형성 방법을 나타낸 순서도.3 is a flow chart showing a pattern forming method according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 패턴 형성 방법에 의하여, DFR 적층 공정 및 DFR 패터닝 공정이 수행되는 상태를 개념적으로 나타낸 도면.4 is a view conceptually illustrating a state in which a DFR lamination process and a DFR patterning process are performed by the pattern forming method according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

401... 기판 이송수단 403... 기판401 ... substrate transfer means 403 ... substrate

405... DFR 407a, 407b... DFR 적층 롤러405 ... DFR 407a, 407b ... DFR Lamination Roller

409a, 409b... DFR 패터닝 롤러 410... DFR 적층 공정 영역409a, 409b ... DFR Patterning Rollers 410 ... DFR Lamination Process Area

420... DFR 패터닝 공정 영역420 ... DFR patterning process area

Claims (7)

기판 상에 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하는 단계와;Forming a dry film resist (DFR) layer on the substrate; 형성하고자 하는 패턴 형상이 구비된 열전달 수단을 이용하여, 상기 열전달 수단에 형성된 패턴 형상에 따라 상기 DFR층에 열을 인가하는 단계; 및Applying heat to the DFR layer according to the pattern shape formed on the heat transfer means by using the heat transfer means provided with the pattern shape to be formed; And 상기 DFR층에 대한 현상을 수행하여, 상기 열전달 수단으로부터 열이 인가되지 않은 부분을 제거하고 상기 DFR층에 패턴을 형성하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 패턴 형성 방법.Performing development on the DFR layer to remove a portion where heat is not applied from the heat transfer means and to form a pattern on the DFR layer; Pattern forming method comprising a. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 열전달 수단은 롤러 형상으로 구성되어 회전되며, 상기 롤러의 표면에는 형성하고자 하는 패턴이 돌출 형성되어 있고, 그 돌출된 패턴 형상이 소정 온도로 유지되도록 함으로써, 상기 DFR층 표면은 상기 회전되는 롤러의 표면 패턴과의 접촉에 의하여 열이 전달되고 경화되는 것을 특징으로 하는 패턴 형성 방법.The heat transfer means is configured to rotate in a roller shape, and a pattern to be formed is formed on the surface of the roller to protrude, and the protruding pattern shape is maintained at a predetermined temperature, whereby the surface of the DFR layer is A pattern forming method, characterized in that heat is transferred and cured by contact with a surface pattern. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 열전달 수단은 130~200℃의 범위에서 그 온도가 조절되는 것을 특징으로 하는 패턴 형성 방법.The heat transfer means is a pattern forming method characterized in that the temperature is controlled in the range of 130 ~ 200 ℃. 기판에 제 1 금속막을 증착하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 증착된 제 1 금속막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하는 단계와;Dry film resist (DFR) patterned to a predetermined shape on the deposited first metal film by depositing a first metal film on a substrate and using the pattern forming method according to any one of claims 1 to 3. Forming a layer; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 게이트 전극을 형성하는 단계와;Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a gate electrode; 상기 게이트 전극 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와;Forming a gate insulating film on the gate electrode; 상기 게이트 절연막 상에 반도체막을 형성하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 반도체막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와;Forming a semiconductor film on the gate insulating film, and forming a patterned DFR layer on the semiconductor film using a pattern forming method according to any one of claims 1 to 3; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 활성층을 형성하는 단계와;Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form an active layer; 상기 활성층 상에 제 2 금속막을 증착하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 증착된 제 2 금속막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계; 및A second metal film is deposited on the active layer, and a patterned DFR layer is formed on the deposited second metal film in a predetermined shape by using the pattern forming method according to any one of claims 1 to 3. Doing; And 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조방법.Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a source electrode and a drain electrode; Thin film transistor manufacturing method comprising a. 기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 활성층, 소스/드레인 전극을 순차적으로 패터닝하고 적층 형성하여 박막트랜지스터를 제조함에 있어,In manufacturing a thin film transistor by sequentially patterning and laminating a gate electrode, a gate insulating film, an active layer, and a source / drain electrode on a substrate, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법에 의하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하고, 그 결과물에 대한 식각 공정을 수행하여 상기 게이트 전극, 활성층, 소스/드레인 전극을 각각 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조방법.A dry film resist (DFR) layer patterned into a predetermined shape is formed by the pattern forming method according to any one of claims 1 to 3, and an etching process is performed on the resultant to form the gate electrode, the active layer, A thin film transistor manufacturing method comprising forming a source / drain electrode, respectively. 기판에 제 1 금속막을 증착하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 증착된 제 1 금속막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하는 단계와;Dry film resist (DFR) patterned to a predetermined shape on the deposited first metal film by depositing a first metal film on a substrate and using the pattern forming method according to any one of claims 1 to 3. Forming a layer; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 게이트 전극을 형성하는 단계와;Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a gate electrode; 상기 게이트 전극 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와;Forming a gate insulating film on the gate electrode; 상기 게이트 절연막 상에 반도체막을 형성하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 반도체막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와;Forming a semiconductor film on the gate insulating film, and forming a patterned DFR layer on the semiconductor film using a pattern forming method according to any one of claims 1 to 3; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 활성층을 형성하는 단계와;Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form an active layer; 상기 활성층 상에 제 2 금속막을 증착하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 증착된 제 2 금속막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와; A second metal film is deposited on the active layer, and a patterned DFR layer is formed on the deposited second metal film in a predetermined shape by using the pattern forming method according to any one of claims 1 to 3. Making a step; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계와; Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a source electrode and a drain electrode; 상기 결과물 상에 보호막을 형성하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 보호막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계와;Forming a protective film on the resultant, and forming a patterned DFR layer on the protective film using a pattern forming method according to any one of claims 1 to 3; 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 드레인 콘택홀을 형성하는 단계와;Etching the resultant and removing the patterned DFR layer to form a drain contact hole; 상기 보호막 상에 상기 드레인 콘택홀과 전기적으로 연결되는 제 3 금속막을 증착하고, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법을 이용하여, 상기 보호막 상에 소정 형상으로 패터닝된 DFR층을 형성하는 단계; 및A third metal film electrically connected to the drain contact hole is deposited on the passivation layer, and is patterned into a predetermined shape on the passivation layer using the pattern forming method according to any one of claims 1 to 3. Forming a DFR layer; And 상기 결과물에 대한 식각을 수행하고, 패터닝된 DFR층을 제거하여 화소 전극을 형성하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.Etching the resultant, and removing the patterned DFR layer to form a pixel electrode; Liquid crystal display device manufacturing method comprising a. 기판 상에 게이트 전극, 게이트 절연막, 활성층, 소스 전극 및 드레인 전극, 보호막, 화소 전극을 순차적으로 패터닝하고 적층 형성하여 액정표시장치를 제조함에 있어,In manufacturing a liquid crystal display device by sequentially patterning and stacking a gate electrode, a gate insulating film, an active layer, a source electrode and a drain electrode, a protective film, and a pixel electrode on a substrate, 상기 제 1항 내지 제 3항 중의 어느 한 항에 의한 패턴 형성 방법에 의하여 소정 형상으로 패터닝된 DFR(Dry Film Resist)층을 형성하고, 그 결과물에 대한 식각 공정을 수행하여 상기 게이트 전극, 활성층, 소스 전극 및 드레인 전극, 화소 전극을 각각 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 제조방법.A dry film resist (DFR) layer patterned into a predetermined shape is formed by the pattern forming method according to any one of claims 1 to 3, and an etching process is performed on the resultant to form the gate electrode, the active layer, A source electrode, a drain electrode, and a pixel electrode are formed, respectively.
KR1020030098198A 2003-12-27 2003-12-27 Pattern forming method and fabrication method for TFT and LCD using the same KR101045431B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030098198A KR101045431B1 (en) 2003-12-27 2003-12-27 Pattern forming method and fabrication method for TFT and LCD using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030098198A KR101045431B1 (en) 2003-12-27 2003-12-27 Pattern forming method and fabrication method for TFT and LCD using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20050067317A true KR20050067317A (en) 2005-07-01
KR101045431B1 KR101045431B1 (en) 2011-06-30

Family

ID=37258057

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030098198A KR101045431B1 (en) 2003-12-27 2003-12-27 Pattern forming method and fabrication method for TFT and LCD using the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101045431B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100731516B1 (en) * 2005-12-09 2007-06-25 (주)에스티아이 Apparatus and method for laminating film with means for patterning film

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5742157A (en) 1980-08-26 1982-03-09 Citizen Watch Co Ltd Formation of pattern for circuit substrate
JP3490375B2 (en) * 1999-06-28 2004-01-26 シャープ株式会社 Manufacturing method of liquid crystal display device
KR20020037649A (en) * 2000-11-15 2002-05-22 윤경환 The fabrication equipment and method for LCD light guide panel using dual heated cylindrical rollers
TW508985B (en) 2000-12-19 2002-11-01 Kolon Inc Method of using dry film photoresist to manufacture print circuit board

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100731516B1 (en) * 2005-12-09 2007-06-25 (주)에스티아이 Apparatus and method for laminating film with means for patterning film

Also Published As

Publication number Publication date
KR101045431B1 (en) 2011-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3830916B2 (en) Manufacturing method of liquid crystal display element
KR101275802B1 (en) Method for fabrication plate for liquid crystal display panel using the mulitlayer dry film resist
WO2018032670A1 (en) Method for manufacturing tft substrate
JP2004206059A (en) Method of fabricating color filter substrate for liquid crystal display device
KR20070002388A (en) Patterning method by lift-off and method of fabricating the array substrate for liquid crystal display device of the same
WO2014015617A1 (en) Array substrate and display device
KR20000001757A (en) Liquid crystal display device production method
KR101045431B1 (en) Pattern forming method and fabrication method for TFT and LCD using the same
JP2001291842A (en) Ferroelectric capacitor array and method for manufacturing ferroelectric memory
US8040477B2 (en) Array substrate, liquid crystal display panel, and method of manufacturing the same
KR100976343B1 (en) Fabrication method for printing plate and fabrication method for LCD
US7531454B2 (en) Method and apparatus of fabricating liquid crystal display device
KR20040059001A (en) Fabricating method of liquid crystal display device for simplifying process
JPH01229229A (en) Thin-film transistor of amorphous silicon and production thereof
JP2001330851A (en) Method for manufacturing liquid crystal display device and liquid crystal display device
KR19990074563A (en) Liquid Crystal Display and Manufacturing Method Thereof
US10983405B2 (en) Control component for optoelectronic device
KR101386564B1 (en) Method for forming printing plate
JP2003177551A (en) Method of forming pattern and aligner used for the same
JPS5814568A (en) Manufacture of thin film transistor matrix array
KR100661290B1 (en) Color filter substrate for liquid crystal display device and method of fabricating the same
JP2745544B2 (en) Manufacturing method of TFT type liquid crystal display device
TW201035627A (en) Structure for enhancing combination and alignment of liquid crystal display panel and its method
JP4138452B2 (en) Method for manufacturing substrate for liquid crystal display device and method for manufacturing liquid crystal display device
JP2004177429A (en) Method for manufacturing matrix substrate for liquid crystal, and matrix substrate for liquid crystal

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150528

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180515

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190515

Year of fee payment: 9