KR20040102519A - Liquid crystal display - Google Patents

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KR20040102519A
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KR1020030034011A
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김장수
김시열
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삼성전자주식회사
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Abstract

PURPOSE: An LCD(Liquid Crystal Display) is provided to prevent a light-leakage phenomenon from generating, thereby increasing a view angle contrast ratio. CONSTITUTION: A substrate interval member(320) supports a liquid crystal layer and upper and lower display plates with a constant distance. Plural gate lines(121) are formed longitudinally on an insulation substrate. A sustain electrode line(131) electrically separated from the gate line is formed on the insulation substrate. A gate insulation film is formed on the gate line and sustain electrode line. A linear semiconductor(154) made of hydrogenated amorphous silicon is formed on the upper portion of the gate insulation film. A linear resistant contact assistant and an island resistant contact assistant are formed on the upper portion of the linear semiconductor. Plural data lines(171) and plural drain electrodes of a TFT(Thin Film Transistor) are formed on the linear resistant contact assistant, an island resistant contact assistant and the gate insulation film. Color filters(R.G.B.) having red, green and blue colors are formed on the upper portion of the linear semiconductor and the gate insulation film, not covered by the data line, the drain electrode and the sustain electrode. A protective film is formed on the color filters and has a contact hole(185) for exposing the drain electrode. A pixel electrode(190) is formed on the protective film and physically and electrically connected to the drain electrode through the contact hole. Plural contact assistants(81,82) are formed on the protective film. A light shielding film(220) is formed on the surface of an upper insulation substrate facing to the lower insulation substrate. The substrate interval material is positioned at a common electrode of the upper portion of the light shielding film.

Description

액정 표시 장치{Liquid crystal display}Liquid crystal display

본 발명은 공통 전극 표시판 및 그의 제조 방법과 그 표시판을 포함하는 액정 표시 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a common electrode display panel, a manufacturing method thereof, and a liquid crystal display device including the display panel.

액정 표시 장치는 현재 가장 널리 사용되고 있는 평판 표시 장치 중 하나로서, 전계 생성 전극이 형성되어 있는 두 장의 표시판과 그 사이에 삽입되어 있는액정층과 두 표시판의 간격을 균일하게 지지하는 기판 간격재로 이루어진다.The liquid crystal display is one of the most widely used flat panel display devices. The liquid crystal display includes two display panels on which electric field generating electrodes are formed, a liquid crystal layer interposed therebetween, and a substrate spacer that uniformly supports the gap between the two display panels. .

이러한 액정 표시 장치는 두 전극에 전압을 인가하여 액정층에 전계를 생성하고 전기장의 세기를 변화시켜 액정층의 액정 분자들을 재배열시킴으로써 투과되는 빛의 투과율을 조절하여 화상을 표시한다.The liquid crystal display displays an image by applying a voltage to two electrodes to generate an electric field in the liquid crystal layer, changing the intensity of the electric field, and rearranging the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer to adjust the transmittance of transmitted light.

액정 표시 장치 중에서도 현재 주로 사용되는 것은 두 표시판에 전극이 각각 형성되어 있고 전극에 인가되는 전압을 스위칭하는 박막 트랜지스터를 가지고 있는 액정 표시 장치이며, 두 기판 중 하나에는 게이트선 및 데이터선과 같은 다수의 배선, 화소 전극 및 화소 전극에 전달되는 데이터 신호를 제어하는 박막 트랜지스터가 형성되어 있으며(이하 박막 트랜지스터 표시판이라 함), 나머지 다른 표시판에는 화소 전극과 마주하는 공통 전극 및 차광막이 형성되는 것이 일반적이다.Among the liquid crystal display devices, a liquid crystal display device having a thin film transistor for forming an electrode on each of two display panels and switching a voltage applied to the electrode is one of the liquid crystal display devices, and one of the two substrates includes a plurality of wirings such as a gate line and a data line. In addition, a thin film transistor for controlling a pixel electrode and a data signal transmitted to the pixel electrode is formed (hereinafter referred to as a thin film transistor display panel), and a common electrode and a light blocking film facing the pixel electrode are generally formed on the other display panel.

이러한 액정 표시 장치 중에서 TN(twisted nematic) 방식은 양의 유전율 이방성을 가지는 액정 분자를 두 표시판의 면에 대하여 최대의 전압이 인가될 때 액정 분자가 수직으로 배향하여 블랙 화면을 구현한다. 이때, 두 표시판 사이에 인가되는 전압의 필드가 왜곡되는 영역에서는 빛이 누설되어 시야각 대비비가 떨어질 수 있다. 이에 따라서, 액정 표시 장치에서 이를 방지하고자 하부 표시판에서 빛이 누설되는 영역에 대하여 상부 표시판에 차광막을 설치하고 있다.TN (twisted nematic) method of the liquid crystal display device displays a black screen by vertically aligning the liquid crystal molecules having positive dielectric anisotropy when the maximum voltage is applied to the surfaces of the two display panels. In this case, light may leak in an area where the field of the voltage applied between the two display panels is distorted, thereby decreasing the viewing angle contrast ratio. Accordingly, in order to prevent the liquid crystal display, the light blocking film is disposed on the upper display panel in a region where light leaks from the lower display panel.

그러나, 색필터가 박막 트랜지스터 기판에 형성되어 있는 액정 표시 장치에서는 공통 전극 표시판에 빛이 투과하는 것을 방지하기 위하여 공통 전극 표시판에 단차를 가지고 형성되어 있다. 이에 따라 차광막의 단차 부분이 표시 영역에 노출되고 그 단차 부분에서 전압이 왜곡 현상이 발생하여 액정이 배향이 흐트러져 단차부분에서 빛이 새는 문제점이 발생하게 된다.However, in the liquid crystal display device in which the color filter is formed on the thin film transistor substrate, the common electrode display panel has a step in order to prevent light from passing through the common electrode display panel. As a result, the stepped portion of the light shielding film is exposed to the display area, and a voltage distortion occurs at the stepped portion, causing the liquid crystal to be disoriented, causing light leakage at the stepped portion.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 액정 표시 장치에서 빛이 새는 현상을 방지하여 시야각 대비비를 증가시키는 것이다.An object of the present invention is to increase the viewing angle contrast ratio by preventing light leakage in the liquid crystal display.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배치도이고,1 is a layout view of a liquid crystal display according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에서 II-II' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II 'of FIG. 1;

도 3은 도 1에서 III-III' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,3 is a cross-sectional view taken along line III-III 'of FIG. 1,

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 상부 표시판(대향 표시판)의 제조 방법을 그 공정 순서에 따라 도시한 단면도이고,4A to 4C are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing an upper panel (opposing panel) in the liquid crystal display according to the first embodiment of the present invention, in the order of their processes;

도 5a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 하부 표시판(박막 트랜지스터 표시판)을 제조하는 첫 번째 단계의 배치도이고,FIG. 5A is a layout view of a first step of manufacturing a lower panel (thin film transistor array panel) in a liquid crystal display according to a first exemplary embodiment of the present invention; FIG.

도 5b는 도 5a에서 Vb-Vb'선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,5B is a cross-sectional view taken along the line Vb-Vb ′ in FIG. 5A;

도 6a는 본 발명의 제1 실시예에 따라 제조하는 두 번째 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고,6A is a layout view of a thin film transistor array panel in a second step of manufacturing according to the first embodiment of the present invention;

도 6b는 도 6a에서 VIb-VIb'선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,FIG. 6B is a cross-sectional view taken along the line VIb-VIb ′ in FIG. 6A;

도 7a는 본 발명의 제1 실시예에 따라 제조하는 세 번째 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고,7A is a layout view of a thin film transistor array panel in a third step of manufacturing according to the first embodiment of the present invention;

도 7b는 도 7a에서 ⅤIIb-ⅤIIb'선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line VIIb-VIIb 'of FIG. 7A;

도 8a는 본 발명의 제1 실시예에 따라 제조하는 네 번째 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고,8A is a layout view of a thin film transistor array panel according to a fourth step of manufacturing according to the first embodiment of the present invention;

도 8b는 도 8a에서 VIIIb-VIIIb'선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,FIG. 8B is a cross-sectional view taken along the line VIIIb-VIIIb ′ in FIG. 8A;

도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배치도이고,9 is a layout view of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 10 및 도 11은 도 9에서 X-X' 선 및 XI-XI'선을 따라 잘라 도시한 박막 트랜지스터 표시판만의 단면도이고,10 and 11 are cross-sectional views of a thin film transistor array panel cut along the lines X-X 'and XI-XI' in FIG.

도 12a는 본 발명의 실시예에 따라 제조하는 첫 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고,12A is a layout view of a thin film transistor array panel in a first step of manufacturing according to an embodiment of the present invention;

도 12b는 도 12a에서 XIIb-XIIb' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이며,12B is a cross-sectional view taken along the line XIIb-XIIb ′ in FIG. 12A.

도 13, 14, 15는 각각 도 12a에서 XIIb-XIIb'선을 따라 잘라 도시한 단면도로서 도 12b 다음 단계들을 공정 순서에 따라 도시한 단면도이고,13, 14, and 15 are cross-sectional views taken along the line XIIb-XIIb 'of FIG. 12A, respectively, and are cross-sectional views illustrating the following steps in the order of the processes of FIG.

도 16a는 도 15 다음 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고,FIG. 16A is a layout view of a thin film transistor array panel in the next step of FIG. 15;

도 16b는 도 16a에서 XVIb-XVIb' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이며,16B is a cross-sectional view taken along the line XVIb-XVIb ′ in FIG. 16A.

도 17a는 도 16a 다음 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고17A is a layout view of a thin film transistor array panel in a next step of FIG. 16A.

도 17b는 도 17a에서 XVIIb-XVIIb' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,FIG. 17B is a cross-sectional view taken along the line XVIIb-XVIIb ′ in FIG. 17A;

이러한 과제를 달성하게 위해 본 발명에서는 다음과 같은 액정 표시 장치를 마련한다.In order to achieve such a problem, the present invention provides the following liquid crystal display device.

보다 상세하게, 제1 절연 기판, 제1 절연 기판 위에 형성되어 있는 게이트선, 제1 절연 기판 위에 형성되어 있으며 게이트선과 절연되어 교차하는 데이터선, 제1 절연 기판 위에 형성되어 있으며 데이터선과 절연되어 교차하는 유지 전극선, 3개의 단자 중 2개의 단자가 게이트선과 데이터선에 각각 연결되어 있는 박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터의 나머지 1개의 단자에 연결되어 있는 화소 전극, 제1 절연 기판과 마주보고 있는 제2 절연 기판, 제2 절연 기판 위에 형성되어 있는 공통 전극, 및 제2 절연 기판에 형성되어 있는 차광막을 포함하고, 차광막의 경계는 게이트선 및 데이터선을 비롯한 상기 제1 절연 기판 위에 형성되어 있는 불투명 패턴과 중첩하는 위치에 배치되어 있는 액정 표시 장치를 마련한다.More specifically, a first insulating substrate, a gate line formed on the first insulating substrate, a data line formed on the first insulating substrate and intersecting with and insulated from the gate line, and a data line formed on the first insulating substrate and insulated and intersecting with the data line A storage electrode line, a thin film transistor in which two of the three terminals are respectively connected to a gate line and a data line, a pixel electrode connected to the remaining one terminal of the thin film transistor, and a second insulating substrate facing the first insulating substrate. And a light blocking film formed on the second insulating substrate, and a common electrode formed on the second insulating substrate, and the boundary of the light blocking film overlaps with the opaque pattern formed on the first insulating substrate including gate lines and data lines. A liquid crystal display device arranged at a position to be provided is provided.

이러한 액정 표시 장치는 공통 전극 표시판 또는 박막 트랜지스터 표시판 상부에 형성되어 있으며, 상기 데이터선과 동일한 층에 형성되어 있으며, 게이트선에 연결되어 있거나 상기 게이트선과 전기적으로 분리되어 동일한 층에 형성되어 있는 유지 전극선과 중첩되어 유지 축전기를 이루는 유지 축전기용 도전체를 더 포함한다.The liquid crystal display device is formed on the common electrode display panel or the thin film transistor array panel, and is formed on the same layer as the data line, and is connected to the gate line or electrically separated from the gate line, and formed on the same layer. It further includes a conductor for a storage capacitor overlapping to form a storage capacitor.

또한, 이러한 액정 표시 장치는 화소 영역에 배치되어 액정 물질층의 액정 분자를 분할 배향하며, 기판 간격재와 동일한 층으로 형성되어 있는 돌기를 더 포함할 수 있으며, 박막 트랜지스터 표시판은 데이터선과 실질적으로 동일한 모양으로 패터닝되어 있으며, 비정질 규소로 이루어진 반도체를 더 포함하는 것이 바람직하다.In addition, the liquid crystal display may further include protrusions disposed in the pixel area to divide and align the liquid crystal molecules of the liquid crystal material layer, and formed of the same layer as the substrate spacer, and the thin film transistor array panel may be substantially the same as the data line. Patterned in shape, it is preferable to further include a semiconductor made of amorphous silicon.

첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.DETAILED DESCRIPTION Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.

도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 위에 있다고 할 때, 이는 다른 부분 바로 위에 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 바로 위에 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.In the drawings, the thickness of layers, films, panels, regions, etc., are exaggerated for clarity. Like parts are designated by like reference numerals throughout the specification. When a part of a layer, film, area, plate, etc. is over another part, this includes not only the part directly above the other part but also another part in the middle. In contrast, when a part is just above another part, it means that there is no other part in between.

이제 본 발명의 실시예에 따른 공통 전극 표시판 및 그의 제조 방법과 그 기판을 포함하는 액정 표시 장치에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.A common electrode display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, a manufacturing method thereof, and a liquid crystal display including the substrate will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 도 1 내지 도 2를 참고로 하여 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 구조에 대하여 상세히 설명한다.First, the structure of the liquid crystal display according to the first exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 2.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시판을 포함하는 액정 표시 장치의 구조를 도시한 배치도이고, 도 2는 도 1에서 II-II' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고, 도 3은 도 1에서 III-III선 및 III-III 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.1 is a layout view illustrating a structure of a liquid crystal display including a display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II 'of FIG. 1, and FIG. 1 is a cross-sectional view taken along lines III-III and III-III.

본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치는 상부 표시판(200)과 하부 표시판(100) 및 이들 두 표시판(100, 200) 사이에 형성되어 있는 액정 물질층(3)과 두 표시판(100, 200)을 일정한 간격으로 지지하는 기판 간격재(320)를 포함한다. 이때, 액정 물질층(3)의 액정 분자(40)는 그 장축이 전계가 인가하지 않은 상태에서 배향막(11, 21)의 배향력 또는 액정 물질의 특성에 의해, 두 표시판(100, 200)에 대하여 수직으로 배열되어 있다. 그러나 액정 분자(40)는 필요에 따라 그 장축이 두 표시판(100, 200)의 면에 대하여 평행하며 하부 표시판(100)에서부터 상부 표시판(200)에 이르기까지 나선형으로 비틀리도록 배열할 수도 있다.In the liquid crystal display according to the first exemplary embodiment, the liquid crystal material layer 3 and the two display panels 100, which are formed between the upper panel 200 and the lower panel 100, and the two display panels 100 and 200. And a substrate spacer 320 supporting the 200 at regular intervals. In this case, the liquid crystal molecules 40 of the liquid crystal material layer 3 may be formed on the two display panels 100 and 200 by the alignment force of the alignment layers 11 and 21 or the characteristics of the liquid crystal material in the state where the major axis thereof is not applied to the electric field. It is arranged vertically with respect to. However, the liquid crystal molecules 40 may be arranged such that their major axes are parallel to the surfaces of the two display panels 100 and 200 and spirally twisted from the lower display panel 100 to the upper display panel 200 as necessary.

하부 표시판(100)에는, 절연 기판(110) 위에 주로 가로 방향으로 뻗어 있는 복수의 게이트선(gate line)(121)과 게이트선(121)과는 전기적으로 분리되어 있는 유지 전극선(131)이 형성되어 있다. 게이트선(121)과 유지 전극선(131)은 비저항(resistivity)이 낮은 은(Ag) 또는 은 합금(Ag alloy) 또는 알루미늄(Al) 또는 알루미늄 합금(Al alloy)으로 이루어진 단일막으로 이루어질 수도 있고, 이러한 단일막에 더하여 물리적, 전기적 접촉 특성이 좋은 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta) 따위의 물질로 이루어진 다른 막을 포함하는 다층막으로 이루어질 수도 있다. 각 게이트선(121)의 일부는 복수의 가지가 뻗어 나와 박막 트랜지스터의 게이트 전극(124)을 이룬다. 이때, 게이트선(121)은 측면은 경사져 있으며, 경사각은 수평면으로부터 20-80°범위이다.The lower display panel 100 includes a plurality of gate lines 121 extending mainly in the horizontal direction on the insulating substrate 110 and the storage electrode lines 131 electrically separated from the gate lines 121. It is. The gate line 121 and the storage electrode line 131 may be formed of a single film made of silver (Ag) or silver alloy (Ag) or aluminum (Al) or aluminum alloy (Al alloy) having low resistivity. In addition to such a single film, it may be made of a multilayer film including other films made of materials such as chromium (Cr), titanium (Ti), and tantalum (Ta) having good physical and electrical contact properties. A portion of each gate line 121 extends to form a gate electrode 124 of the thin film transistor. At this time, the side of the gate line 121 is inclined, the inclination angle is in the range of 20-80 ° from the horizontal plane.

또한, 유지 전극선(131)은 공통 전압 따위의 전압을 인가 받으며, 복수의 화소 전극(190)과 연결된 복수의 드레인 전극(175)과 게이트 절연막(140)을 사이에 두고 중첩되어 있어 복수의 유지 축전기를 이룬다. 여기서, 유지 전극선(131)의 드레인 전극(175)과 중첩하는 부분은 유지 축전기의 용량을 증대하기 위하여 폭이 확장되어 있다.In addition, the storage electrode line 131 receives a voltage such as a common voltage and overlaps the plurality of drain electrodes 175 and the gate insulating layer 140, which are connected to the plurality of pixel electrodes 190, with the plurality of storage capacitors interposed therebetween. To achieve. Here, the portion of the sustain electrode line 131 overlapping with the drain electrode 175 is expanded in order to increase the capacitance of the storage capacitor.

게이트선(121) 및 유지 전극선(131) 위에는 질화 규소(SiNx) 따위로 이루어진 게이트 절연막(gate insulating layer)(140)이 형성되어 있다.A gate insulating layer 140 made of silicon nitride (SiNx) is formed on the gate line 121 and the storage electrode line 131.

게이트 절연막(140) 상부에는 수소화 비정질 규소(hydrogenated amorphous silicon) 따위로 이루어진 선형 반도체 (154)가 형성되어 있다. 각 선형 반도체(154)는 주기적으로 폭이 확장된 부분을 가지는데 이 부분이 게이트 전극(124) 위로 연장되어서 박막 트랜지스터의 채널을 이룬다. 선형 반도체(154)의 상부에는 실리사이드(silicide) 또는 n형 불순물이 고농도로 도핑되어 있는 n+ 수소화 비정질 규소 따위로 만들어진 복수의 선형 저항성 접촉 부재(163)와 섬형 저항성 접촉 부재(165)가 형성되어 있다. 각 섬형 저항성 접촉 부재(165)는 게이트 전극(125)을 중심으로 선형 저항성 접촉 부재(163)의 반대쪽에 에 위치하며 이와 분리되어 있다.A linear semiconductor 154 made of hydrogenated amorphous silicon is formed on the gate insulating layer 140. Each linear semiconductor 154 has a portion which is periodically extended, which extends over the gate electrode 124 to form a channel of the thin film transistor. On the top of the linear semiconductor 154, a plurality of linear ohmic contacts 163 and island-type ohmic contacts 165 made of n + hydrogenated amorphous silicon doped with silicide or n-type impurities are formed. . Each of the islands of ohmic contact 165 is located on the opposite side of the linear ohmic contact 163 with respect to the gate electrode 125 and is separated therefrom.

선형 저항성 접촉 부재(163)와 섬형 저항성 접촉 부재(165) 및 게이트 절연막(140) 위에는 복수의 데이터선(171) 과 박막 트랜지스터의 복수 드레인 전극(175)이 형성되어 있다. 데이터선(171)과 드레인 전극(175)은 비저항이 낮은Al 또는 Ag 따위로 이루어질 수 있으며, 게이트선(121)과 같이 다른 물질과 접촉 특성이 우수한 도전 물질을 포함할 수 있다. 데이터선(171)은 주로 세로 방향으로 뻗어 게이트선(121)과 교차하며 각 데이터선(171)에서 뻗은 복수의 가지는 소스 전극(173)을 이룬다. 한 쌍의 소스 전극(173)과 드레인 전극(175)은 각각 해당 저항성 접촉 부재(163, 165)의 상부에 적어도 일부분 위치하고, 서로 분리되어 있으며 게이트 전극(124)에 대하여 서로 반대쪽에 위치한다.A plurality of data lines 171 and a plurality of drain electrodes 175 of the thin film transistor are formed on the linear ohmic contact 163, the island-type ohmic contact 165, and the gate insulating layer 140. The data line 171 and the drain electrode 175 may be formed of Al or Ag having a low specific resistance, and may include a conductive material having excellent contact characteristics with other materials, such as the gate line 121. The data line 171 mainly extends in the vertical direction to intersect the gate line 121 and forms a source electrode 173 having a plurality of branches extending from each data line 171. The pair of source and drain electrodes 173 and 175 are at least partially positioned on the upper portions of the ohmic contacts 163 and 165, respectively, and are separated from each other and disposed opposite to the gate electrode 124.

선형 반도체(154)와 데이터선(171) 및 드레인 전극(175) 사이에 위치한 선형 및 섬형 저항성 접촉 부재(163, 165)는 이들 사이의 접촉 저항을 낮추어 준다.The linear and island resistive contact members 163 and 165 positioned between the linear semiconductor 154 and the data line 171 and the drain electrode 175 lower the contact resistance therebetween.

데이터선(171), 드레인 전극(173) 및 유지 전극선(131)과 이들로부터 가려지지 않은 선형 반도체(154) 및 게이트 절연막(140) 상부에는 적, 녹, 청의 색 필터(R, G, B)가 형성되어 있다. 각 색 필터(R, G, B)는 세로 방향으로 뻗어 있다. 본 실시예에서, 색 필터(R, G, B)의 경계는 데이터선(171) 위에 위치하며 일치하지만, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 색 필터(R, G, B)가 데이터선(171) 상부에서 서로 중첩되어 누설되는 빛을 차단하는 기능을 가질 수 있다. 색 필터(R, G, B)는 게이트선(121) 및 데이터선(171)의 끝 부분(125, 179)에는 형성되어 있지 않다.Red, green, and blue color filters (R, G, and B) are disposed on the data line 171, the drain electrode 173, and the storage electrode line 131, and the linear semiconductor 154 and the gate insulating layer 140 that are not hidden from the data line 171. Is formed. Each color filter R, G, B extends in the vertical direction. In the present embodiment, the boundaries of the color filters R, G, and B are located above and coincident with the data lines 171, but according to another embodiment of the present invention, the color filters R, G, and B are connected to the data lines (the data lines). 171 may have a function of blocking light leaking overlapping each other from the top. The color filters R, G, and B are not formed at the end portions 125 and 179 of the gate line 121 and the data line 171.

색 필터(R, G, B)의 아래에는 드러난 선형 반도체(154)의 일부를 덮는 산화 규소 또는 질화 규소 등의 절연 물질로 이루어진 층간 절연막(도시하지 않음)이 형성될 수 있다.An interlayer insulating film (not shown) made of an insulating material such as silicon oxide or silicon nitride may be formed below the color filters R, G, and B to cover a portion of the linear semiconductor 154 that is exposed.

색 필터(R, G, B) 위에는 평탄화 특성이 우수하며 유전율이 낮은 아크릴계의유기 절연 물질 또는 SiOC 또는 SiOF 등과 같이 화학 기상 증착으로 형성되며 4.0 이하의 낮은 유전율을 가지는 저유전율 절연 물질로 이루어진 보호막(180)이 형성되어 있다. 이러한 보호막(180)은 드레인 전극(175)을 드러내는 접촉 구멍(185)을 가지고 있다. 앞에서 설명한 바와 같이 색 필터(R, G, B)의 하부에 층간 절연막이 추가된 경우에는 층간 절연막과 동일한 평면 모양을 가진다. 보호막(180)은 또한 데이터선(171)의 끝 부분(179)을 드러내는 복수의 접촉 구멍(182)을 가지고 있으며, 게이트 절연막(140)과 함께 게이트선(121)의 끝 부분(125)을 드러내는 복수의 접촉 구멍(181)을 가지고 있다. 접촉 구멍(181, 182)은 게이트선(121) 및 데이터선(171) 과 그 구동 회로(도시하지 않음)의 전기적 연결을 위한 것이다.On the color filters (R, G, B), a protective film made of a low dielectric constant insulating material having a low dielectric constant of 4.0 or less, formed by chemical vapor deposition such as an acrylic organic insulating material having excellent planarization characteristics and a low dielectric constant or SiOC or SiOF, etc. 180 is formed. The passivation layer 180 has a contact hole 185 exposing the drain electrode 175. As described above, when the interlayer insulating film is added to the lower portion of the color filters R, G, and B, the interlayer insulating film has the same planar shape as the interlayer insulating film. The passivation layer 180 also has a plurality of contact holes 182 exposing the end portion 179 of the data line 171, and together with the gate insulating layer 140, exposing the end portion 125 of the gate line 121. It has a plurality of contact holes 181. The contact holes 181 and 182 are for electrical connection between the gate line 121 and the data line 171 and its driving circuit (not shown).

한편, 보호막(180)은 생략될 수 있다.Meanwhile, the passivation layer 180 may be omitted.

보호막(180) 위에는 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide) 따위의 투명한 도전 물질로 만들어지는 화소 전극(190)이 형성되어 있다. 화소 전극(190)은 접촉 구멍(185)을 통하여 드레인 전극(175)과 물리적·전기적으로 연결되어 있다.A pixel electrode 190 made of a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO) is formed on the passivation layer 180. The pixel electrode 190 is physically and electrically connected to the drain electrode 175 through the contact hole 185.

화소 전극(190)은 박막 트랜지스터로부터 데이터 전압을 받아 다른 표시판(200)의 공통 전극(270)과 함께 전기장을 생성하며, 인가 전압을 변화시키면 두 전계 생성 전극 사이의 액정층(3)의 분자 배열이 변화한다. 전기 회로의 관점에서 화소 전극(190)과 공통 전극(270)은 전하를 저장하는 액정 유전체 축전기를 이룬다.The pixel electrode 190 receives the data voltage from the thin film transistor and generates an electric field together with the common electrode 270 of the other display panel 200. When the applied voltage is changed, the molecular arrangement of the liquid crystal layer 3 between the two field generating electrodes is changed. This changes. From an electrical circuit point of view, the pixel electrode 190 and the common electrode 270 form a liquid crystal dielectric capacitor that stores charge.

화소 전극(190)은 게이트선(121) 및 데이터선(171)과 중첩되어 개구율(aperture ratio)을 높이고 있다.The pixel electrode 190 overlaps the gate line 121 and the data line 171 to increase the aperture ratio.

한편, 유지 전극선(131)과 드레인 전극(175) 사이에 형성되는 유지 축전기는 액정 축전기와 병렬로 연결되어 있어서 화소 전극의 전하 보존 능력을 향상시킨다.On the other hand, the storage capacitor formed between the storage electrode line 131 and the drain electrode 175 is connected in parallel with the liquid crystal capacitor, thereby improving the charge retention capability of the pixel electrode.

한편, 보호막(180)의 위에는 복수의 접촉 부재(contact assistant)(81, 82)가 형성되어 있다. 접촉 보조 부재(81, 82)는 각각 접촉 구멍(181, 182)을 통하여 게이트선(121) 및 데이터선(171)의 노출된 끝 부분(129, 179)과 연결되어 있다. 접촉 보조 부재(81, 82)는 게이트선(121) 및 데이터선(171)의 노출된 끝 부분(129, 179)을 보호하고 박막 트랜지스터 표시판과 구동 회로의 접착성을 보완하기 위한 것이며 필수적인 것은 아니다. 접촉 보조 부재(81, 82)는 화소 전극(190)과 동일한 층으로 형성된다.On the other hand, a plurality of contact assistants 81 and 82 are formed on the passivation film 180. The contact auxiliary members 81 and 82 are connected to the exposed end portions 129 and 179 of the gate line 121 and the data line 171 through the contact holes 181 and 182, respectively. The contact auxiliary members 81 and 82 protect the exposed ends 129 and 179 of the gate line 121 and the data line 171 and complement the adhesion between the thin film transistor array panel and the driving circuit. . The contact auxiliary members 81 and 82 are formed of the same layer as the pixel electrode 190.

한편, 하부 표시판(100)과 마주하는 상부 표시판(200)에는, 하부 절연 기판(110)과 마주하는 상부 절연 기판(210)의 면에 게이트선(121)과 데이터선(171)으로 둘러싸인 적(R) 녹(G) 청(B)의 화소 영역에 차광막(220)이 형성되어 있다. 차광막(220)은 검은색의 안료를 포함하는 유기 물질로 이루어져 있다. 이러한 차광막(220)은 박막 트랜지스터의 채널부에 입사할 경우 광 전자를 유발하여 누설 전류를 발생시키는 빛을 차단하기 위해 박막 트랜지스터의 상부를 덮고 차광막(220)의 경계가 게이트선(121) 및 데이터선(171)을 비롯한 불투명 패턴 위에 놓이도록 되어 있다.On the other hand, the upper display panel 200 facing the lower display panel 100 is surrounded by a gate line 121 and a data line 171 on the surface of the upper insulating substrate 210 facing the lower insulating substrate 110. R) A light blocking film 220 is formed in the pixel area of green (G) and blue (B). The light blocking film 220 is made of an organic material including a black pigment. The light blocking film 220 covers an upper portion of the thin film transistor to block light that induces photo electrons to generate a leakage current when the light blocking film 220 is incident on the channel portion of the thin film transistor, and the boundary of the light blocking film 220 has a gate line 121 and data. And opaque patterns, including lines 171.

이와 같이, 차광막(220)을 게이트선(121) 및 데이터선(171) 등의 불투명 패턴 상부에까지 연장하여 차광막(220)의 경계가 불투명 패턴 위에 위치하도록 하면차광막(220)의 경계부 단차로 인하여 발생하는 빛샘을 불투명 패턴이 차단할 수 있다.As such, when the light blocking film 220 extends to the upper portion of the opaque pattern such as the gate line 121 and the data line 171 so that the boundary of the light blocking film 220 is positioned above the opaque pattern, the light blocking film 220 is generated due to the boundary step of the light blocking film 220. Opaque patterns can block light leakage.

차광막(220)이 형성되어 있는 하부 절연 기판(210)의 상부에는 화소 전극 (190)과 함께 액정 분자를 구동하기 위한 전계를 형성하며 투명한 도전 물질로 이루어진 공통 전극(270)이 형성되어 있다.A common electrode 270 formed of a transparent conductive material is formed on the lower insulating substrate 210 on which the light blocking film 220 is formed to form an electric field for driving the liquid crystal molecules together with the pixel electrode 190.

이때, 기판 간격재(320)는 차광막(220) 상부의 공통 전극(270)에 위치한다. 또한 화소 영역에는 기판 간격재(320)와 동일한 층으로 액정 물질층(3)의 액정 분자(40)를 분할 배향하기 위한 분할 배향 수단인 돌기를 형성할 수도 있다. 이때, 액정 물질층(3)의 액정 분자(310)는 양의 유전율 이방성을 가지는 TN 모드 액정이 사용되며, 두 표시판(100, 200)의 상부에 형성되어 있는 배향막(11, 21)의 배향력 또는 액정 물질층(3)의 성질에 의해 두 표시판(100, 200)에 대하여 수평으로 배향된다.In this case, the substrate spacer 320 is positioned on the common electrode 270 on the light blocking film 220. In the pixel region, protrusions may be formed as division alignment means for dividing the liquid crystal molecules 40 of the liquid crystal material layer 3 in the same layer as the substrate spacer 320. In this case, TN mode liquid crystal having positive dielectric anisotropy is used as the liquid crystal molecules 310 of the liquid crystal material layer 3, and the alignment force of the alignment layers 11 and 21 formed on the two display panels 100 and 200. Alternatively, the liquid crystal material layer 3 is oriented horizontally with respect to the two display panels 100 and 200.

그러면, 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치용 상부 표시판(200, 대향 표시판) 및 하부 표시판(100, 박막 트랜지스터 표시판)의 제조 방법에 대하여 설명하기로 한다.Next, a method of manufacturing the upper panel 200 (the opposing display panel) and the lower panel 100 (the thin film transistor array panel) for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention will be described.

우선, 도 4a 내지 도 4c를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치의 상부 표시판의 제조 방법에 대하여 구체적으로 설명하기로 한다.First, a method of manufacturing the upper panel of the liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 4A to 4C.

도 4a에서 보는 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치용 상부 표시판(200)의 제조 방법에서는, 우선 상부 절연 기판(210)의 상부에 검은색 안료를 포함하는 감광성 유기 물질을 형성하고 마스크를 이용한 사진 공정으로 노광 및현상하여 차광막(220)을 형성한다. 이때, 차광막(220)은 액정 표시 장치용 상부 표시판(200)과 마주하는 박막 트랜지스터 기판의 박막 트랜지스터의 상부에 위치하게 배치하면서 차광막(220)의 경계가 게이트선 및 데이터선을 비롯한 불투명 패턴 상부의 일부분과 중첩되게 형성하되, 박막 트랜지스터의 채널 영역만을 덮을 수 있도록 작게 형성하는 것이 바람직하다. 그리고 차광막을 유기막으로 형성할 경우 1.5~3.0㎛ 범위의 두께를 가지는 것이 바람직하며, 액정 표시 장치용 상부 표시판(200)과 마주하는 박막 트랜지스터 기판의 박막 트랜지스터의 상부에 위치하게 배치하면서 차광막(220)의 경계가 박막 트랜지스터의 채널 영역에 넓게 분포하는 게이트선 및 데이터선을 비롯한 불투명 패턴의 경계 안쪽의 상부 일부분과 중첩되어 위치하게 형성한다.As shown in FIG. 4A, in the method of manufacturing the upper panel 200 for a liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention, first, a photosensitive organic material including a black pigment is formed on the upper insulating substrate 210. The light shielding film 220 is formed by exposure and development by a photo process using a mask. In this case, the light blocking film 220 is disposed above the thin film transistor of the thin film transistor substrate facing the upper panel 200 for the liquid crystal display, and the boundary of the light blocking film 220 is formed on the opaque pattern including the gate line and the data line. It is preferably formed to overlap with a portion, but small so as to cover only the channel region of the thin film transistor. When the light shielding film is formed of an organic film, the light shielding film may have a thickness in a range of 1.5 to 3.0 μm, and the light blocking film 220 may be disposed on the thin film transistor of the thin film transistor substrate facing the upper panel 200 for the liquid crystal display device. ) Is formed so as to overlap the upper portion inside the boundary of the opaque pattern including the gate line and the data line widely distributed in the channel region of the thin film transistor.

이어, 도 4b에서 보는 바와 같이, 상부 절연 기판(210)의 상부에 ITO 또는 IZO와 같은 투명한 도전 물질을 적층하여 전면적으로 공통 전극(270)을 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 4B, a transparent conductive material such as ITO or IZO is stacked on the upper insulating substrate 210 to form the common electrode 270 on the entire surface.

이어, 도 4c에서 보는 바와 같이, 아크릴계의 감광성 유기 물질을 도포하고 마스크를 이용한 사진 공정으로 노광 및 현상하여 차광막(220)의 상부에 위치하는 기판 간격재(320)를 형성한다. 이때, 두 표시판(100, 200)의 간격(cell gap)을 4.0㎛로 설정하고 차광막(220)를 1.5㎛로 형성하였을 경우에는 기판 간격재(350)가 2.5㎛의 두께를 가지도록 형성하게 된다.Subsequently, as shown in FIG. 4C, an acrylic photosensitive organic material is coated and exposed and developed by a photo process using a mask to form a substrate spacer 320 positioned on the light blocking film 220. In this case, when the cell gap between the two display panels 100 and 200 is set to 4.0 μm and the light shielding film 220 is formed to 1.5 μm, the substrate spacer 350 is formed to have a thickness of 2.5 μm. .

이어, 도 2에서 보는 바와 같이, 상부 절연 기판(210)의 상부에 상부 배향막(21)을 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 2, the upper alignment layer 21 is formed on the upper insulating substrate 210.

이러한 본 발명의 실시예에 따른 액정 공통 전극 표시판의 제조 방법에서는화소 영역에 박막 트랜지스터 기판의 박막 트랜지스터 채널부와 게이트선 및 데이터선을 비롯한 불투명 패턴의 일부분과 중첩되게 마주하는 차광막을 형성함으로써 차광막의 경계에서 새는 빛을 채널부의 게이트선과 데이터선으로 차단하여 빛이 박막 트랜지스터의 채널부에 투과되는 것을 방지할 수 있다. 여기서, 차광막은 박막 트랜지스터 기판의 게이트선과 데이터선의 형태에 따라 다양한 모양을 가질 수 있다. 또한 박막 트랜지스터 기판의 게이트선과 데이터선의 형태는 차광막의 형태에 따라 차광막의 경계가 게이트선 및 데이터선의 내부에 위치 할 수 있도록 다양한 형태로 변경할 수 있다. 이때, 박막 트랜지스터 기판의 게이트선과 데이터선의 형태를 변경할 경우에는 기생 커패시턴스가 최소화되게 변경하는 것이 바람직하다.In the method of manufacturing the liquid crystal common electrode panel according to the exemplary embodiment of the present invention, the light blocking film is formed in the pixel region so as to overlap a portion of the opaque pattern including the thin film transistor channel portion, the gate line, and the data line of the thin film transistor substrate. Light leaking from the boundary may be blocked by the gate line and the data line of the channel portion, thereby preventing light from being transmitted to the channel portion of the thin film transistor. The light shielding film may have various shapes according to the shape of the gate line and the data line of the thin film transistor substrate. In addition, the shape of the gate line and the data line of the thin film transistor substrate may be changed in various forms such that the boundary of the light blocking layer may be located inside the gate line and the data line according to the shape of the light blocking film. In this case, when changing the shape of the gate line and the data line of the thin film transistor substrate, it is desirable to change the parasitic capacitance to be minimized.

또한, 차광막(220)의 경계가 박막 트랜지스터 기판의 박막 트랜지스터 채널부와 인접하는 게이트선 및 데이터선 등의 불투명 패턴 상부에 위치하도록 함으로써 차광막(220)의 경계부 단차로 인하여 발생하는 빛샘을 불투명 패턴이 차단하도록 할 수 있다.In addition, since the boundary of the light blocking film 220 is positioned above the opaque patterns such as the gate line and the data line adjacent to the thin film transistor channel portion of the thin film transistor substrate, the light leakage generated by the step difference of the boundary of the light blocking film 220 is reduced. You can block it.

이어, 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법에서 대하여 도 5a 내지 8c와 앞서의 도 1 내지 도 3을 참고로 하여 상세히 설명한다.Next, a method of manufacturing a thin film transistor array panel in the liquid crystal display according to the first exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 5A to 8C and FIGS. 1 to 3.

도 5a 내지 도 8a는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 표시판을 제조하는 방법의 각 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고, 도 5b 내지 8b는 각각 도 4a 내지 도 8a에서 박막 트랜지스터 표시판을 Vb-Vb, VIb-VIb, VIIb-VIIb, VIIIb-VIIIb'을 따라 잘라 도시한 단면도이다.5A to 8A are layout views of thin film transistor array panels at each step of the method of manufacturing a thin film transistor array panel for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIGS. 5B to 8B are thin films of FIGS. 4A to 8A, respectively. The transistor display panel is sectional drawing which cut | disconnected and shown along Vb-Vb, VIb-VIb, VIIb-VIIb, VIIIb-VIIIb '.

먼저, 도 5a 내지 5b에 도시한 바와 같이, 절연 기판(110) 위에 금속 따위의 도전체층을 스퍼터링 따위의 방법으로 1,000 Å 내지 3,000 Å의 두께로 증착하고 사진 및 식각 공정으로 패터닝하여 복수의 게이트선(121) 및 복수의 유지 전극선(131)을 형성한다.First, as illustrated in FIGS. 5A through 5B, a conductive layer such as a metal is deposited on the insulating substrate 110 to a thickness of 1,000 Å to 3,000 으로 by a sputtering method, and patterned by a photo and etching process to form a plurality of gate lines. And a plurality of sustain electrode lines 131.

다음, 도 6a 및 6b에 도시한 바와 같이, 게이트 절연막(140), 비정질 규소층(150), 저항성 접촉층(160)의 삼층막을 연속하여 적층하고, 위의 두 층을 사진 식각하여 게이트 절연막(140) 상부에 복수의 선형 반도체(154)와 복수의 선형 도핑된 비정질 규소(doped amorphous silicon island)(161)를 형성한다.Next, as shown in FIGS. 6A and 6B, three layers of the gate insulating layer 140, the amorphous silicon layer 150, and the ohmic contact layer 160 are sequentially stacked, and the two layers are photographed and etched to form the gate insulating layer ( 140, a plurality of linear semiconductors 154 and a plurality of linearly doped amorphous silicon islands 161 are formed thereon.

이어, 도 7a 및 도 7b에서 보는 바와 같이, 복수의 소스 전극(173)을 포함하는 복수의 데이터선(171), 복수의 드레인 전극(175)을 사진 식각 공정으로 형성한다. 이어, 데이터선(171) 및 드레인 전극(175)으로 가려지지 않은 도핑된 비정질 규소(161) 부분을 제거하여, 도핑된 비정질 규소(161) 각각을 복수의 선형 및 섬형 저항성 접촉 부재(163, 165)로 분리하는 한편, 둘 사이의 선형 반도체(154)의 부분을 노출시킨다. 이어, 노출된 선형 반도체(154)의 표면을 안정화시키기 위하여 산소 플라스마를 실시하는 것이 바람직하다.7A and 7B, the plurality of data lines 171 and the plurality of drain electrodes 175 including the plurality of source electrodes 173 are formed by a photolithography process. Subsequently, portions of the doped amorphous silicon 161 that are not covered by the data line 171 and the drain electrode 175 are removed, so that each of the doped amorphous silicon 161 is formed into a plurality of linear and island resistive contact members 163 and 165. ), While exposing the portion of the linear semiconductor 154 between the two. Subsequently, an oxygen plasma is preferably performed to stabilize the surface of the exposed linear semiconductor 154.

다음, 질화 규소로 이루어진 층간 절연막(도시하지 않음)을 형성한 후, 도 8a 및 8b에 도시한 바와 같이, 적, 녹, 청의 안료를 포함하는 감광성 유기 물질을 각각 차례로 도포하여 적, 녹, 청의 색 필터(R, G, B)를 차례로 형성한 다음, 보호막(180)을 적층한다. 이어 보호막(180)과 게이트 절연막(140)을 사진 식각 공정으로 함께 패터닝하여 접촉 구멍(181, 182, 185)을 형성한다.Next, after forming an interlayer insulating film (not shown) made of silicon nitride, as shown in FIGS. 8A and 8B, the photosensitive organic materials including the pigments of red, green, and blue are sequentially applied to each other to form red, green, and blue colors. The color filters R, G, and B are sequentially formed, and then the passivation layer 180 is laminated. Next, the passivation layer 180 and the gate insulating layer 140 are patterned together by a photolithography process to form contact holes 181, 182, and 185.

마지막으로, 도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 1400 Å 내지 1600 Å 두께의 ITO 또는 IZO층을 증착하고 사진 식각하여 복수의 화소 전극(190) 및 복수의 접촉 보조 부재(81, 82)를 형성한 다음, 그 상부에 하부 배향막(11)을 형성한다.Lastly, as shown in FIGS. 1 and 2, the ITO or IZO layer having a thickness of 1400 μs to 1600 μs is deposited and photo-etched to form the plurality of pixel electrodes 190 and the plurality of contact assistants 81 and 82. After forming, the lower alignment layer 11 is formed on the upper portion.

한편, 앞에서는 5매의 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 완성한 박막 트랜지스터 표시판을 포함하는 액정 표시 장치의 구조에 대해서 설명하였으나, 제조 비용을 최소화하기 위해 박막 트랜지스터 표시판은 4매 마스크를 이용하여 완성할 수 있으며, 이에 대하여 도면을 참조하여 구체적으로 설명하기로 한다. 여기서, 공통 전극 표시판의 구조는 제1 실시예와 동일하므로 구체적으로 설명하지 않기로 한다.Meanwhile, the structure of a liquid crystal display including a thin film transistor array panel completed by a photolithography process using five masks has been described above. However, in order to minimize manufacturing costs, the thin film transistor array panel may be completed using four masks. This will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Here, since the structure of the common electrode display panel is the same as in the first embodiment, it will not be described in detail.

도 9 내지 도 11을 참고로 하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치 및 이에 포함되어 있는 박막 트랜지스터 표시판에 대하여 상세히 설명한다.9 to 11, a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention and a thin film transistor array panel included therein will be described in detail.

도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배치도이고, 도 10 및 도 11은 각각 도 9에 도시한 박막 트랜지스터 표시판을 X-X' 선 및 XI-XI' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다. 도 9에서는 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 장치용 공통 전극 표시판에 형성되어 있는 차광막과 기판 간격재에 대해서 도시되어 있지만, 도 10 및 도 11에서는 공통 전극 표시판의 구조가 제1 실시예와 동일하여 박막 트랜지스터 표시판에 대해서만 도시하였다.9 is a layout view of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention, and FIGS. 10 and 11 are cross-sectional views taken along line XX 'and XI-XI', respectively, of FIG. 9. to be. 9 illustrates a light shielding film and a substrate spacer formed in a common electrode display panel for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention. In FIGS. 10 and 11, the structure of the common electrode display panel is the same as that of the first embodiment. Only the thin film transistor array panel is shown.

도 9 내지 도 11에서 보는 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 박막 트랜지스터 표시판은 절연 기판(110)의 게이트 절연막(140)위에 비정질 규소층, 도핑된 비정질 규소층 및 데이터선(171)의 삼층막을 연속하여 증착한 다음, 이 삼층막을 동시에 사진 식각하여 패터닝 하여 마스크의 사용을 줄이는 것이 그 특징 중 하나이다.9 to 11, the thin film transistor array panel according to the second exemplary embodiment of the present invention includes an amorphous silicon layer, a doped amorphous silicon layer, and a data line 171 on the gate insulating layer 140 of the insulating substrate 110. It is one of the characteristics that the use of a mask is reduced by successively depositing three layers of and then photo-etching and patterning the three layers.

또한, 유지 전극선(131)은 게이트선(121)과 동일한 층으로 만들어지고, 게이트선(121)과 거의 평행하며 게이트선(121)으로부터 전기적으로 분리되어 있다. 유지 전극선(131)은 공통 전압 따위의 전압을 인가 받으며, 복수의 화소 전극(190)과 연결된 복수의 드레인 전극(175)과 게이트 절연막(140)을 중심으로 서로 마주 보고 있어 복수의 유지 축전기를 이룬다.In addition, the storage electrode line 131 is made of the same layer as the gate line 121, is substantially parallel to the gate line 121, and is electrically separated from the gate line 121. The storage electrode line 131 receives a voltage such as a common voltage and faces each other around the plurality of drain electrodes 175 and the gate insulating layer 140 connected to the plurality of pixel electrodes 190 to form a plurality of storage capacitors. .

또한, 복수의 선형 반도체(154) 및 복수의 저항성 접촉 부재(163, 165)가 구비되어 있다.In addition, a plurality of linear semiconductors 154 and a plurality of ohmic contacts 163 and 165 are provided.

선형 반도체(154)는 박막 트랜지스터의 채널 영역을 제외하면 복수의 데이터선(171) 및 복수의 드레인 전극(175)과 거의 동일한 평면 모양이다. 즉, 채널 영역에서 데이터선(171)과 드레인 전극(175)은 서로 분리되어 있으나, 선형 반도체(154)는 이곳에서 끊어지지 않고 연결되어 박막 트랜지스터의 채널을 이룬다.The linear semiconductor 154 has a substantially planar shape with the plurality of data lines 171 and the plurality of drain electrodes 175 except for the channel region of the thin film transistor. That is, although the data line 171 and the drain electrode 175 are separated from each other in the channel region, the linear semiconductor 154 is connected without being disconnected here to form a channel of the thin film transistor.

이때, 도 9에서 보는 바와 같이, 공통 전극 표시판에 형성되어 있는 차광막(220)은 박막 트랜지스터의 상부를 덮고 차광막의 경계가 게이트선(121) 및 데이터선(171) 상부에 위치하도록 형성되어 있다.In this case, as shown in FIG. 9, the light blocking film 220 formed on the common electrode display panel covers the upper portion of the thin film transistor and the boundary of the light blocking film is formed on the gate line 121 and the data line 171.

이와 같이, 차광막(220)의 경계가 박막 트랜지스터 기판의 박막 트랜지스터 채널부와 인접하는 게이트선 및 데이터선 등의 불투명 패턴 상부에 위치하도록 함으로써 차광막(220)의 경계부 단차로 인하여 발생하는 빛샘을 불투명 패턴이 차단할 수 있다.As such, the boundary of the light blocking film 220 is positioned above the opaque patterns such as the gate line and the data line adjacent to the thin film transistor channel portion of the thin film transistor substrate, thereby preventing the light leakage generated by the step difference of the light blocking film 220. You can block this.

그러면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치용 기판의 제조 방법에 대하여 도 12a 내지 17b와 앞서의 도 9 내지 도 11을 참고로 하여 상세히 설명한다.Next, a method of manufacturing a liquid crystal display substrate according to a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 12A to 17B and FIGS. 9 to 11.

도 12b는 도 12a에서 XIIb-XIIb' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이며, 도 13, 14, 15는 각각 도 12a에서 XIIb-XIIb'선을 따라 잘라 도시한 단면도로서 도 12b 다음 단계들을 공정 순서에 따라 도시한 단면도이고, 도 16a는 도 15 다음 단계에서의 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고, 도 16b는 도 16a에서 XVIb-XVIb' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이며, 도 17a는 도 16a에서 XVIIb-XVIIb'선을 따라 잘라 도시한 단면도이고, 도 17b는 도 17a에서 XVIIb-XVIIb' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.12B is a cross-sectional view taken along the line XIIb-XIIb 'in FIG. 12A, and FIGS. 13, 14, and 15 are cross-sectional views taken along the line XIIb-XIIb' in FIG. 12A, respectively. FIG. 16A is a layout view of a thin film transistor array panel in a next step of FIG. 15, and FIG. 16B is a cross-sectional view taken along the line XVIb-XVIb ′ in FIG. 16A, and FIG. 17A is XVIIb-XVIIb in FIG. 16A. FIG. 17B is a cross-sectional view taken along the line XVIIb-XVIIb 'of FIG. 17A.

먼저, 도 12a 내지 12b에 도시한 바와 같이, 금속 따위의 도전체층을 스퍼터링 따위의 방법으로 1,000 Å 내지 3,000 Å의 두께로 증착하고 사진 및 식각 공정으로 패터닝하여 복수의 게이트선(121) 및 복수의 유지 전극선(131)을 형성한다.First, as shown in FIGS. 12A to 12B, a conductive layer such as a metal is deposited to a thickness of 1,000 to 3,000 mm by a sputtering method and patterned by a photo and etching process to form a plurality of gate lines 121 and a plurality of gate lines. The storage electrode line 131 is formed.

다음, 도 13에 도시한 바와 같이, 게이트 절연막(140), 반도체층(150), 저항성 접촉층(160)를 화학 기상 증착법을 이용하여 각각 1,1600 Å 내지 5,000 Å, 1600 Å 내지 2,000 Å, 11400 Å 내지 600 Å의 두께로 연속 증착한다. 이어 금속 따위의 데이터 도전층(170)을 스퍼터링 등의 방법으로 1,1600 Å 내지 3,000 Å의 두께로 증착한 다음 그 위에 감광막(60)을 1 μm 내지 2 μm의 두께로 도포한다.Next, as shown in FIG. 13, the gate insulating layer 140, the semiconductor layer 150, and the ohmic contact layer 160 are each 1,600 kPa to 5,000 kPa, 1600 kPa to 2,000 kPa, using chemical vapor deposition. Successive depositions with a thickness of 11400 kPa to 600 kPa. Subsequently, a data conductive layer 170 such as metal is deposited to a thickness of 1,1600 kPa to 3,000 kPa by a method such as sputtering, and then a photosensitive film 60 is applied thereon to a thickness of 1 μm to 2 μm.

그 후, 광마스크를 통하여 감광막(210)에 빛을 조사한 후 현상하여, 두께가 서로 다른 제1 부분(61)과 제2부분(62)을 포함하는 감광막 패턴(61, 62)을 형성한다. 이때, 박막 트랜지스터의 채널 영역(C)에 위치한 제2 부분(62)은 데이터 영역(A)에 위치한 제1 부분(61)보다 두께가 작게 되도록 하며, 기타 영역(B)의 감광막(60) 부분은 모두 제거하거나 매우 작은 두께를 가지도록 한다. 이 때, 채널 영역(C)에 남아 있는 제2 부분(62)의 두께와 데이터 영역(A)에 남아 있는 제1 부분(61)의 두께의 비는 후에 후술할 식각 단계에서의 식각 조건에 따라 다르게 하되, 제2 부분(62)의 두께를 제1 부분(61)의 두께의 1/2 이하로 하는 것이 바람직하며, 예를 들면, 4,000 Å 이하인 것이 좋다.Thereafter, the photosensitive film 210 is irradiated with light through a photomask and then developed to form photosensitive film patterns 61 and 62 including first and second portions 61 and 62 having different thicknesses. In this case, the second portion 62 positioned in the channel region C of the thin film transistor is smaller than the first portion 61 positioned in the data region A, and the photoresist 60 portion of the other region B is thinner. Remove all or have a very small thickness. At this time, the ratio of the thickness of the second portion 62 remaining in the channel region C and the thickness of the first portion 61 remaining in the data region A is determined according to the etching conditions in the etching step described later. The thickness of the second portion 62 is preferably 1/2 or less of the thickness of the first portion 61, for example, 4,000 kPa or less.

이와 같이, 위치에 따라 감광막 패턴의 두께를 달리하는 방법으로 여러 가지가 있을 수 있는데, 예를 들면 광마스크에 투명 영역(transparent area) 및 차광 영역(light blocking area) 외에 반투명 영역(translucent area)을 두는 방법이 있다. 반투명 영역에는 슬릿(slit) 패턴, 격자 패턴(lattice pattern) 또는 투과율이 중간이거나 두께가 중간인 박막이 구비된다. 슬릿 패턴을 사용할 때에는, 슬릿의 폭이나 슬릿 사이의 간격이 사진 공정에 사용하는 노광기의 분해능(resolution)보다 작은 것이 바람직하다.As such, there may be various methods of varying the thickness of the photoresist pattern according to the position. For example, a translucent area may be added to the photomask in addition to the transparent area and the light blocking area. There is a way to put it. The translucent region is provided with a slit pattern, a lattice pattern, or a thin film having a medium transmittance or a medium thickness. When using the slit pattern, it is preferable that the width of the slits and the interval between the slits are smaller than the resolution of the exposure machine used for the photographic process.

감광막 패턴의 두께를 달리하는 다른 방법으로 리플로우가 가능한 감광막을 사용하는 것이 있다. 즉, 투명 영역과 차광 영역만을 지닌 통상의 마스크로 리플로우 가능한 감광막 패턴을 형성한 다음 리플로우시켜 감광막이 잔류하지 않은 영역으로 흘러내리도록 함으로써 얇은 부분을 형성한다.Another method of varying the thickness of the photoresist pattern is to use a photoresist that can be reflowed. That is, a thin portion is formed by forming a reflowable photoresist pattern with a normal mask having only a transparent region and a light shielding region and then reflowing so that the photoresist film flows into an area where no photoresist remains.

먼저, 도 14에 도시한 것처럼, 기타 영역(B)의 노출되어 있는 데이터 도전층(170) 부분을 제거하여 그 하부의 저항성 접촉층(160)을 노출시킨다. 알루미늄 또는 알루미늄 합금을 포함하는 데이터 도전층(170)에 대해서는 건식 식각 또는 습식 식각 방법을 모두 사용할 수 있다. 크롬에 대해서는 CeNHO3 따위를 식각제로 하는 습식 식각이 바람직하다. 건식 식각의 경우 감광막 패턴(61, 62)도 함께 식각되어 두께가 줄어들 수 있다. 도면 부호 172은 데이터 도전층(170) 중 남아 있는 부분을 가리키며 앞으로는 각각 도전체라 한다.First, as shown in FIG. 14, the exposed portion of the data conductive layer 170 of the other region B is removed to expose the lower ohmic contact layer 160. For the data conductive layer 170 including aluminum or an aluminum alloy, either a dry etching method or a wet etching method may be used. For chromium, wet etching using CeNHO 3 as an etchant is preferable. In the case of dry etching, the photoresist patterns 61 and 62 may also be etched to reduce the thickness. Reference numeral 172 denotes a remaining portion of the data conductive layer 170 and will be referred to as conductors in the future.

이어, 도 15에 도시한 바와 같이, 기타 영역(B)의 노출된 저항성 접촉층(160) 부분 및 그 하부의 반도체층(150) 부분을 건식 식각으로 제거하여 아래의 도전체(172)를 노출시킨다. 감광막 패턴의 제2 부분(62)은 노출된 저항성 접촉층(160) 부분 및 반도체층(150) 부분과 동시에, 또는 따로 제거한다. 채널 영역(C)에 남아 있는 제2부분(62) 찌꺼기는 애싱(ashing)으로 제거한다. 도면 부호 154는 반도체층(150)의 남아 있는 부분을 가리키며, 도면 부호 162는 저항성 접촉층(160)의 남아 있는 부분을 나타낸다. 다음 채널 영역(C)의 노출된 도전체(172) 부분 및 그 하부의 저항성 접촉층(162) 부분을 제거한다.Next, as shown in FIG. 15, a portion of the exposed ohmic contact layer 160 of the other region B and a portion of the semiconductor layer 150 below it are removed by dry etching to expose the lower conductor 172. Let's do it. The second portion 62 of the photoresist pattern is removed at the same time as or separately from the exposed portion of the ohmic contact layer 160 and the semiconductor layer 150. The second part 62 residue remaining in the channel region C is removed by ashing. Reference numeral 154 denotes a remaining portion of the semiconductor layer 150, and reference numeral 162 denotes a remaining portion of the ohmic contact layer 160. The exposed portion of the conductor 172 and the portion of the ohmic contact layer 162 below it in the channel region C are then removed.

이때, 도 16에 도시한 것처럼 채널 영역(C)의 섬형 반도체(154)의 상부 일부가 제거되어 두께가 작아질 수도 있으며 감광막 패턴의 제1 부분(61)도 이때 어느 정도의 두께로 식각된다.At this time, as shown in FIG. 16, a portion of the upper portion of the island-like semiconductor 154 of the channel region C may be removed to reduce the thickness, and the first portion 61 of the photoresist pattern may also be etched to a certain thickness at this time.

이렇게 하면, 채널 영역(C)의 도전체(172) 각각이 데이터선(171)과 복수의 드레인 전극(175)으로 분리되면서 완성되고, 채널 영역(C)의 저항성 접촉층(162)각각이 하나의 선형 저항성 접촉 부재(163)와 복수의 섬형 저항성 접촉 부재(165)로 나뉘어 완성된다.In this way, each of the conductors 172 of the channel region C is completed by separating the data line 171 and the plurality of drain electrodes 175, and each of the ohmic contacts 162 of the channel region C is one. The linear ohmic contact 163 and the plurality of islands of ohmic contact 165 are completed.

데이터 영역(A)에 남아 있는 감광막 패턴의 제1 부분(61)은 채널 영역(C)의 노출된 도전체(172) 부분을 제거한 후 또는 그 밑의 저항성 접촉층(162)를 제거한 후에 제거한다.The first portion 61 of the photoresist pattern remaining in the data region A is removed after removing the exposed conductor 172 portion of the channel region C or after removing the ohmic contact layer 162 thereunder. .

이와 같이 하여 데이터선(171)과 드레인 전극(175)을 완성한 후, 도 17a 내지 17b에 도시한 바와 같이 적, 녹, 청의 안료를 포함하는 감광성 물질을 도포하고 노광 및 현상 공정을 통한 사진 공정으로 패터닝하여 적, 녹, 청의 색 필터(R, G, B)를 차례로 형성한다.After completing the data line 171 and the drain electrode 175 in this manner, as shown in Figs. 17A to 17B, a photosensitive material containing pigments of red, green, and blue is applied, and a photo process is performed through an exposure and development process. Patterning forms red, green, and blue color filters (R, G, B) in turn.

이때, 박막 트랜지스터의 채널부(C) 상부에 적 또는 녹의 색 필터로 이루어진 광차단층을 형성할 수 있으며, 이는 박막 트랜지스터의 채널부(C)로 입사하는 단파장의 가시 광선을 보다 완전히 차단하거나 흡수하기 위함이다.In this case, a light blocking layer made of a red or green color filter may be formed on the channel portion C of the thin film transistor, which may more completely block or absorb visible light having a short wavelength incident to the channel portion C of the thin film transistor. For sake.

이어, 기판(110)의 상부에 적, 녹, 청의 색 필터(R, G, B)를 덮는 보호막(180)을 화학 기상 증착으로 적층하고 사진 식각 공정으로 게이트 절연막(140)과 함께 패터닝하여 게이트선(121) 및 데이터선(171)의 끝 부분(129, 179) 및 드레인 전극(175)을 각각 드러내는 접촉 구멍(181, 182, 185)을 형성한다.Subsequently, the passivation layer 180 covering the red, green, and blue color filters R, G, and B on the substrate 110 is laminated by chemical vapor deposition, and patterned together with the gate insulating layer 140 by a photolithography process to form a gate. Contact holes 181, 182, and 185 exposing the end portions 129 and 179 and the drain electrode 175 of the line 121 and the data line 171, respectively, are formed.

마지막으로, 도 9 내지 도 11에 도시한 바와 같이, 1400 Å 내지 1600 Å 두께의 화소 전극(190) 및 접촉 보조 부재(81, 82)를 형성한 다음, 하부 배향막(11)을 형성한다.Finally, as shown in FIGS. 9 to 11, the pixel electrode 190 and the contact auxiliary members 81 and 82 having a thickness of 1400 μs to 1600 μs are formed, and then the lower alignment layer 11 is formed.

이러한 본 발명의 제2 실시예에서는 제1 실시예에 따른 효과뿐만 아니라 데이터선(171)과 그 하부의 선형 및 섬형 저항성 접촉층 패턴(163, 165) 및 선형 반도체(154)을 하나의 마스크를 이용하여 형성하고 이 과정에서 소스 전극(173)과 드레인 전극(175)이 분리하여 제조 공정을 단순화할 수 있다.In the second embodiment of the present invention, in addition to the effect according to the first embodiment, the data line 171 and the linear and island resistive contact layer patterns 163 and 165 and the linear semiconductor 154 under the single mask may be used. In this process, the source electrode 173 and the drain electrode 175 may be separated to simplify the manufacturing process.

이러한 본 발명의 실시예에 따른 표시판 및 그 제조 방법과 그 기판을 포함하는 액정 표시 장치는 이외에도 여러 가지 변형된 형태 및 방법으로 제조할 수 있다.Such a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention, a manufacturing method thereof, and a liquid crystal display including the substrate may be manufactured in various modified forms and methods.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.

이와 같은 본 발명에 따르면 화소 영역의 공통 전극 표시판에 차광막을 형성하되, 차광막의 경계가 박막 트랜지스터 기판의 박막 트랜지스터 채널부와 인접하는 게이트선 및 데이터선 등의 불투명 패턴 위에 위치하도록 함으로써, 개구율의 감소를 최소화하면서 차광막의 끝부분에서 차광막의 단차로 인하여 발생하는 빛샘 현상을 방지할 수 있다.According to the present invention, the light blocking film is formed on the common electrode display panel of the pixel region, and the boundary of the light blocking film is positioned on opaque patterns such as gate lines and data lines adjacent to the thin film transistor channel portion of the thin film transistor substrate, thereby reducing the aperture ratio. While minimizing the light leakage phenomenon due to the step of the light shielding film at the end of the light shielding film can be prevented.

Claims (2)

제1 절연 기판,First insulating substrate, 상기 제1 절연 기판 위에 형성되어 있는 게이트선,A gate line formed on the first insulating substrate, 상기 제1 절연 기판 위에 형성되어 있으며 상기 게이트선과 절연되어 교차하는 데이터선,A data line formed on the first insulating substrate and insulated from and intersecting the gate line; 3개의 단자 중 2개의 단자가 상기 게이트선과 상기 데이터선에 각각 연결되어 있는 박막 트랜지스터,A thin film transistor having two of three terminals connected to the gate line and the data line, respectively; 상기 박막 트랜지스터의 나머지 1개의 단자에 연결되어 있는 화소 전극,A pixel electrode connected to the remaining one terminal of the thin film transistor, 상기 제1 절연 기판과 마주보고 있는 제2 기판,A second substrate facing the first insulating substrate, 상기 제2 절연 기판 위에 형성되어 있는 공통 전극, 및A common electrode formed on the second insulating substrate, and 상기 제2 절연 기판에 형성되어 있는 차광막Light blocking film formed on the second insulating substrate 을 포함하고, 상기 차광막은 상기 제1 절연 기판 위에 형성되어 있는 박막 트랜지스터와 중첩하는 위치에 형성되어 있으며 상기 차광막의 경계가 상기 게이트선 및 상기 데이터선을 비롯한 상기 제1 절연 기판 위에 형성되어 있는 불투명 패턴과 중첩하게 형성되어 있으며, 불투명 패턴의 경계선 내부에 위치하게 배치되어 있는 액정 표시 장치.Wherein the light blocking film is formed at a position overlapping the thin film transistor formed on the first insulating substrate, and the boundary of the light blocking film is formed on the first insulating substrate including the gate line and the data line. The liquid crystal display device which is formed to overlap with the pattern and is disposed in the boundary line of the opaque pattern. 제1항에서,In claim 1, 상기 제1 기판 위에 형성되어 있는 적색, 녹색 및 청색의 색 필터를 더 포함하는 액정 표시 장치.And a red, green, and blue color filter formed on the first substrate.
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