KR20040089199A - A Surface Pollution Grade Inspecting Device Of A Flat Glass For An Overlap Glass Manufacturing - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A pollution grade inspecting device for a surface of flat glass is provided to inspect particulate dust formed on the surface of flat glass by using scattering, refraction, and reflection of light. CONSTITUTION: A pollution grade inspecting device includes first rollers(100), a second roller(300), a third roller(400), and a lamp(600). The first rollers(100) are aligned in series along a bottom(200). The second and third rollers(300,400) are installed at the other side of plate glass(2000) so as to support the other side of the plate glass(2000). The lamp(600) is installed at the other side of the plate glass(2000) in order to radiate light onto the plate glass(2000). The lamp(600) is inclined toward the other side of the plate glass(2000).

Description

복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치{A Surface Pollution Grade Inspecting Device Of A Flat Glass For An Overlap Glass Manufacturing}A Surface Pollution Grade Inspecting Device Of A Flat Glass For An Overlap Glass Manufacturing}

본 발명은 2장의 판유리를 일정간극으로 대면하도록 접합되어 복층을 이루는 유리(이하 복층유리라 통칭함)에 있어서 상기 각 판유리의 대면하는 각 일면에 부착된 미세먼지를 식별하기 위한 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 상기 판유리의 일면 및 타면에 광검출소자 및 광원을 설치하여 이루어지고 이 때 상기 광원은 상기 타면에 대해 경사지게 설치함으로써 미세먼지에 부딪히면서 산란, 굴절 또는 반사를 유도하도록 하여 일면의 광검출소자로 하여금 이에 따른 조도이 변화를 검출하도록 구성된 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus for identifying fine dust adhered to each of the facing surfaces of each of the plate glass in a glass (laminated glass) to be laminated to face two sheets of glass with a predetermined gap. In more detail, the light detection device and the light source are provided on one surface and the other surface of the plate glass, wherein the light source is inclined with respect to the other surface to induce scattering, refraction, or reflection while hitting fine dust to induce scattering, refraction, or reflection. It relates to an apparatus for inspecting the surface contamination of flat glass for laminated glass, which is configured to detect a change in roughness accordingly.

일반적으로 복층유리는 두 장의 판유리를 사용하여 일정한 규격으로 절단한 후 스페이서를 4각의 사이에 끼우고, 스페이서 내부에 부틸 등의 강력 흡수제를 투입한 후 각 테두리에 탄력성이 있는 실란트 등의 특수 접착제로 밀봉시켜 빛의 적절한 투과, 소음 차단, 방음 등의 기능을 극대화한 유리제품을 말한다.In general, the laminated glass is cut to a certain size using two sheets of glass, and the spacer is sandwiched between the four corners, and a strong adhesive such as butyl is inserted into the spacer, and then a special adhesive such as a sealant having elasticity on each edge is formed. It is a glass product that maximizes the functions such as light transmission, noise blocking, and sound insulation by sealing with

이러한 상기 복층유리의 제조과정에서는, 제조된 판유리를 세척 및 건조한 뒤, 각 판유리의 일면이 소정간극으로 대면하도록 접합시키게 되는데, 이 때 상기 대면하는 각 일면에 이물질이 묻어 있는 상태에서 복층유리가 완성될 경우, 복층유리의 결합상태를 해제하지 않는 이상 판유리의 각 일면 사이에 개재된 미세먼지를 제거할 수 있는 방법이 없다.In the manufacturing process of the multilayer glass, after washing and drying the manufactured plate glass, the one surface of each plate glass is bonded so as to face a predetermined gap, at this time, the laminated glass is completed in the state that the foreign matter on each of the facing surface If possible, there is no way to remove the fine dust interposed between the one surface of the plate glass, unless the release state of the laminated glass.

이에 따라 이물질에 의한 판유리의 검사를 위해 종래에는 광원을 접합과정 이전에 판유리에 비추어 이물질의 유무를 판별하고 있다.Accordingly, in order to inspect the plate glass by the foreign matter, the light source is conventionally illuminated on the plate glass before the bonding process to determine the presence or absence of the foreign matter.

이러한 종래 이물질 검사를 위한 장치가 도 1에 도시되었다. 상기 종래 이물질 검사장치는 복층유리를 이룰 판유리(70)가 일방향을 따라 세워져 이송되도록 구비되는 각 롤러(10,30,40)와, 상기 판유리(70)의 우측면 즉 각 판유리(70)끼리 접합될 경우 대면하지 않아 상대적으로 외곽에 위치하게 되는 면쪽에 설치되는 광원으로 구성된다.An apparatus for inspecting such a conventional foreign matter is shown in FIG. 1. The conventional foreign matter inspection apparatus is each plate (10, 30, 40) is provided so that the plate glass 70 to form a double-layer glass to stand up in one direction, and the right side of the plate glass 70, that is, the plate glass 70 to be bonded to each other In this case, it is composed of a light source installed on the side that is located in the outer side relatively without facing.

종래 검사장치에서, 상기 광원으로 사용되는 것은 보통 형광등(60)인데, 상기 우측면측에 형광등(60)을 세워 설치하고 빛(화살표식으로 표시됨)을 조사하게 된다. 상기 각 롤러(10,30,40)는 벽(50)을 따라 설치되는 것과, 바닥(20)을 따라 설치되는 것으로 구분되어 구성되며 상기 판유리(70)가 벽(50)을 따라 바닥(20)에 대해 수직으로 세워져 이송되도록 하는데 기능한다.In the conventional inspection apparatus, the light source is usually used as a fluorescent lamp 60, the fluorescent lamp 60 is installed upright on the right side and irradiated with light (indicated by arrow). The rollers 10, 30, and 40 are divided into ones installed along the wall 50 and ones installed along the bottom 20, and the plate glass 70 is disposed along the wall 50. It functions to be transported vertically with respect to.

이러한 각 롤러(10,30,40) 중 상기 벽(50)의 상부 및 하부을 따라 각각 설치되어 상기 판유리(70)의 우측면을 지지하는 것이 제 1롤러(10) 및 제 2롤러(30)이다. 그리고 바닥(20) 위에 일방향을 따라 설치되며 상기 판유리(70)의 하부 테두리가 밀착되는 것이 제 3롤러(40)이다.Among the rollers 10, 30, and 40, the first roller 10 and the second roller 30 are installed along the upper and lower portions of the wall 50 to support the right surface of the plate glass 70. And the third roller 40 is installed along the one direction on the bottom 20, the lower edge of the plate glass 70 is in close contact.

이에 따라 상기 판유리(70)는 상기 제 1롤러(10) 및 제 2롤러(30)에 기대어져 세워진 상태에서 하부 테두리를 지지하는 제 3롤러(40)가 회전하면 상기 제 3롤러(40)가 설치된 일방향을 따라 이송될 수 있다.Accordingly, when the third roller 40 supporting the lower edge is rotated while the plate glass 70 is leaned against the first roller 10 and the second roller 30, the third roller 40 is rotated. Can be transported along one direction installed.

이 때 상기 형광등(60)에서 빛을 조사할 경우 상기 판유리(70)를 우측면에서 좌측면까지 빛이 투과된다. 그런데 상기 좌측면에 먼지 등과 같은 이물질(71)이 부착되어 있을 경우 상기 투과된 빛이 이물질(71)에 부딪히면서 육안으로 이를 식별할 수 있다. 이에 따라 이물질(71)의 유무를 판단할 수 있으나, 이 때 상기 이물질(71)은 육안으로 식별이 가능할 정도로 비교적 큰 것이며 미크론 단위까지 미세한 이물질(71) 즉 미세먼지와 같은 이물질(71)의 식별은 사실상 불가능하다.In this case, when the light is irradiated from the fluorescent lamp 60, the light is transmitted from the right side to the left side of the plate glass 70. By the way, when the foreign matter 71 such as dust is attached to the left side, the transmitted light may be identified by the naked eye while hitting the foreign matter 71. Accordingly, the presence or absence of the foreign matter 71 can be determined, but at this time, the foreign matter 71 is relatively large enough to be identified with the naked eye, and the identification of the foreign matter 71 such as the fine foreign matter 71, ie, fine dust, to micron units. Is virtually impossible.

이는 앞에서 언급된 바와 같이 종래 검사장치에 광원으로 사용되는 것이 형광등(60)이다. 상기 형광등(60)이 바닥(20)에 세워져 판유리(70)의 우측면의 높이방향에 걸쳐 설치되는 바, 빛이 이물질(71)에 대해 수직으로 부딪히게 됨으로 빛이 투과하면서 이물질(71)에 부딪히면 해당 부위만 상대적으로 어둡게 표시되는 방식을 이용하려는 검사방식 자체의 원리상 문제점에서 비롯된다.As mentioned above, the fluorescent lamp 60 is used as a light source in a conventional inspection apparatus. When the fluorescent lamp 60 stands on the bottom 20 and is installed in the height direction of the right side of the plate glass 70, the light hits the foreign matter 71 perpendicularly to the foreign matter 71, so that the light hits the foreign matter 71 while transmitting. The problem arises from the principle of the test method itself, which attempts to use a method in which only the corresponding areas are displayed relatively dark.

또한 상기 형광등(60)의 밝기가 미세먼지 등과 같이 작은 이물질(71)을 식별하기에는 저조하는 등 광원으로서의 구성요소 채용 자체에 문제가 있다.In addition, there is a problem in employing a component as a light source itself such that the brightness of the fluorescent lamp 60 is low to identify the small foreign matter 71 such as fine dust.

그리고 종래 검사장치에는 판유리(70)를 향해 조사되는 광원으로서 형광등(60)은 구비되어 있지만, 판유리(70)를 투과한 빛이 이물질(71)에 부딪힐 경우 이를 정확하게 식별하기 위한 검출소자 등의 장치가 부재한 구성을 이루고 있는 문제점이 있다. 이에 따라 단지 육안으로 식별하다보니 식별력에 있어 그 신뢰성이 떨어지게 됨이 야기된다.And while the conventional inspection device is provided with a fluorescent lamp 60 as a light source to be irradiated toward the plate glass 70, when the light transmitted through the plate glass 70 hits the foreign matter 71, such as a detection element for accurately identifying There is a problem in that the apparatus has an absence configuration. This causes only the naked eye to discriminate the reliability of the discriminating power.

이러한 전반적인 검사장치의 구성 및 원리상의 문제점으로 제품의 하자 및불량이 야기되며 만일 제품으로 완성된 상태에서 판유리(70)의 좌측면에서 이물질(71)이 관찰될 경우에는 이를 제거하는 불가능하여 제품을 폐기해야 함으로 이에 따른 제조비용의 낭비폐해가 심각한 실정이다.The defects and defects of the product are caused by the configuration and principle of the overall inspection device. If the foreign matter 71 is observed on the left side of the plate glass 70 in the finished state, it is impossible to remove the product. Since waste must be disposed of, the waste of manufacturing cost is serious.

따라서 본 발명은 상기와 같은 종래 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 본 발명의 제 1목적은, 복층유리로 제조될 판유리의 타면에 대해 광원을 경사지게 설치하고 빛을 조사함으로써, 이물질에 빛이 부딪힐 경우 발생하는 산란, 굴절, 반사를 이용하여 미세먼지의 유무를 판별할 수 있는 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치를 제공하는 것이다.Therefore, the present invention has been made in view of the above-described conventional problems, the first object of the present invention, by installing a light source inclined to the other surface of the plate glass to be made of laminated glass and irradiated with light, the light hits the foreign matter It is to provide a surface contamination degree inspection apparatus of the plate glass for manufacturing laminated glass that can determine the presence or absence of fine dust by using scattering, refraction, reflection generated in the case.

그리고 본 발명의 제 2목적은, 이물질에 의한 산란, 굴절, 반사시 발생하는 조도의 변화를 감지하는 광검출소자가 구비되어 보다 정확한 이물질 판별이 가능한 구조의 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치를 제공하는 것이다.The second object of the present invention is to provide an apparatus for inspecting the surface contamination of a plate glass for manufacturing a multilayer glass having a structure capable of more precisely discriminating foreign substances by including a photodetecting device that detects a change in illuminance caused by scattering, refraction, and reflection caused by foreign substances. It is.

이러한 본 발명의 목적들은, 복층유리로 제조되는 판유리(2000)의 표면오염도를 검사하는 장치에 있어서, 바닥(200)을 따라 일렬로 설치되어 판유리(2000)를 이송하는 제 1롤러(100); 상기 판유리(2000)가 세워지도록 상기 바닥(200)에 인접한 벽(500)의 상부 및 하부에 상기 제 1롤러(100)의 설치방향을 따라 병렬로 설치되어 대응하는 상기 판유리(2000)의 타면을 지지하는 제 2롤러(300) 및 제 3롤러(400); 상기 판유리(2000)의 일면에 부착된 이물질(2100)이 식별될 수 있도록 상기 판유리(2000)의 타측에 설치되어 상기 판유리(2000)에 빛을 조사하는 램프(600);를 포함하여 이루어지고, 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000)의 타측을향해 하향 경사지도록 배치되며, 상기 판유리(2000)의 일측에는 상기 판유리(2000)를 투과한 상기 램프(600)의 빛을 감지하도록 대응하는 위치로 포토다이오드(700)가 설치되는 것을 특징으로 하는 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치에 의하여 달성된다.The object of the present invention, the apparatus for inspecting the surface contamination of the plate glass 2000 is made of a multilayer glass, the first roller 100 is installed in a line along the bottom 200 to convey the plate glass 2000; The other surface of the plate glass 2000 is installed in parallel to the upper and lower portions of the wall 500 adjacent to the floor 200 along the installation direction of the first roller 100 so that the plate glass 2000 is erected. Supporting the second roller 300 and the third roller 400; And a lamp 600 installed at the other side of the plate glass 2000 to irradiate light to the plate glass 2000 so that the foreign matter 2100 attached to one surface of the plate glass 2000 can be identified. The lamp 600 is disposed to be inclined downward toward the other side of the plate glass 2000, and a position corresponding to one side of the plate glass 2000 to sense light of the lamp 600 passing through the plate glass 2000. The surface contamination of the plate glass for manufacturing laminated glass, characterized in that the furnace photodiode 700 is installed is achieved by the inspection apparatus.

여기서 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000)의 타면에 대해 30∼50°의 경사각을 갖도록 배치되는 것이 바람직하다.Here, the lamp 600 is preferably arranged to have an inclination angle of 30 to 50 ° with respect to the other surface of the plate glass 2000.

그리고 상기 포토다이오드(700)가 안측에 내장되며 입구가 상기 판유리(2000)의 일면을 향해 형성되는 원통형의 차폐부재(710)가 더 구비되는 것이 바람직하다.In addition, the photodiode 700 is embedded in the inner side and the inlet is preferably provided with a cylindrical shield member 710 is formed toward one surface of the plate glass (2000).

또한 상기 램프(600)는 상기 벽(500)의 타측으로 설치되고 상기 벽(500)에는 상기 경사각에 대응하여 상기 램프(600)의 빛이 통과하도록 관통구(510)가 형성되는 것이 바람직하다.In addition, the lamp 600 is preferably installed on the other side of the wall 500 and the through hole 510 is formed in the wall 500 to pass the light of the lamp 600 corresponding to the inclination angle.

아울러 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000) 및 벽(500) 사이에 설치되고 상기 경사각을 따라 차양(610a)이 상기 램프(600)의 주변으로 형성되는 차광부재(610)가 구비되는 것이 바람직하다.In addition, the lamp 600 is preferably provided between the pane 2000 and the wall 500, the light blocking member 610 is provided with the shade 610a is formed around the lamp 600 along the inclination angle. Do.

본 발명의 그 밖의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되어지는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 분명해질 것이다.Other objects, specific advantages and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description and the preferred embodiments associated with the accompanying drawings.

도 1은 종래 검사장치의 구성도,1 is a block diagram of a conventional inspection device,

도 2는 본 발명의 제 1실시예에 따른 검사장치의 구성도,2 is a configuration diagram of a test apparatus according to a first embodiment of the present invention;

도 3은 도 2의 A선에 따른 확대구성도,3 is an enlarged configuration view taken along line A of FIG. 2;

도 4는 본 발명의 제 2실시예에 따른 검사장치의 구성도이다.4 is a block diagram of an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.

< 도면의 주요부분에 관한 부호의 설명 ><Description of the code | symbol about the principal part of drawing>

10: 제 1롤러 20: 바닥10: first roller 20: bottom

30: 제 2롤러 40: 제 3롤러30: second roller 40: third roller

50: 벽 60: 형광등50: wall 60: fluorescent light

70: 판유리 71: 이물질70: pane 71: foreign matter

100: 제 1롤러 200: 바닥100: first roller 200: bottom

300: 제 2롤러 400: 제 3롤러300: second roller 400: third roller

500: 벽 510: 관통구500: wall 510: through hole

600: 램프 610: 차광부재600: lamp 610: light blocking member

610a: 차양 620: 스탠드610a: shade 620: stand

700: 포토다이오드 710: 차폐부재700: photodiode 710: shielding member

1000: 검사장치 2000: 판유리1000: inspection apparatus 2000: plate glass

2100: 이물질2100: foreign matter

다음으로는 본 발명에 따른 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치에 관하여 첨부되어진 도면과 더불어 설명하기로 한다.Next, with reference to the accompanying drawings with respect to the surface contamination degree inspection apparatus of the plate glass for manufacturing a multilayer glass according to the present invention will be described.

도 2는 본 발명의 제 1실시예에 따른 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치의 구성도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 검사장치(1000)는, 판유리(2000)의 양면에 대해 광원 및 광검출소자를 각각 설치하여 상기 판유리(2000)를 투과하는 램프(600)의 빛(화살표식으로 표시됨)이 미세먼지에 부딪혀 산란, 굴절, 반사되면서 발생하는 조도의 변화를 광검출소자가 감지하도록 구성하여 판유리(2000)가 복층유리(미도시)로 제조되기 이전에 그 표면의 오염도를 미리 검사하기 위한 장치이다.2 is a block diagram of a surface contamination degree inspection apparatus of the plate glass for manufacturing a multilayer glass according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 2, the inspection apparatus 1000 includes light sources and photodetecting elements on both sides of the plate glass 2000, respectively, so that the light of the lamp 600 passing through the plate glass 2000 (in an arrow expression) may be used. The photodetecting device detects a change in illuminance caused by scattering, refraction, and reflection due to the impact of fine dust so that the surface glass 2000 can be inspected in advance for contamination of the surface of the glass before it is made of multilayer glass (not shown) It is a device for.

이러한 상기 검사장치(1000)에서, 바닥(200)에 설치된 것이 제 1롤러(100)이고 상기 바닥(200)에 인접한 우측의 벽(500)을 따라 위아래에 각각 설치된 것이 제 2롤러(300) 및 제 3롤러(400)이다. 이러한 상기 각 롤러(100,300,400)에 의해 우측부 및 하부가 지지되어 세워진 것이 판유리(2000)이다.In the inspection apparatus 1000, the first roller 100 is installed at the bottom 200, and the second roller 300 is installed above and below the wall 500 on the right side adjacent to the bottom 200. The third roller 400. The right and lower parts are supported by each of the rollers 100, 300, and 400, and the plate glass 2000 is erected.

그리고 상기 벽(500)에는 관통구(510)가 형성되어 있고, 상기 관통구(510)를 통해 빛을 조사하도록 벽(500)의 우측으로 설치된 것이 램프(600)이다. 또한 상기 판유리(2000)의 좌측으로 설치되어 상기 램프(600)의 빛이 판유리(2000)를 투과할 경우 이를 감지하는 것이 광검출소자이다.A through hole 510 is formed in the wall 500, and the lamp 600 is installed to the right side of the wall 500 to irradiate light through the through hole 510. In addition, the light detecting element is installed to the left side of the plate glass 2000 to detect when the light of the lamp 600 passes through the plate glass 2000.

여기서 상기 각 롤러(100,300,400) 중 상기 제 1롤러(100)가 구동되는 것으로, 상기 판유리(2000)를 하부에서 지지하면서 일방향을 따라 연속 이송시킨다. 이를 위해 상기 제 1롤러(100)는 바닥(200)을 따라 일렬로 다수개가 설치되어 있다.Here, the first roller 100 is driven among the rollers 100, 300, and 400, and is continuously transported in one direction while supporting the plate glass 2000 from the bottom. To this end, a plurality of first rollers 100 are installed in a line along the bottom 200.

그리고 상기 제 2롤러(300) 및 제 3롤러(400)는 상기 벽(500)의 위아래에 각각 설치되면서 그 설치위치에서 상기 벽(500)을 따라 2열로 설치되는 병렬 설치로, 상기 판유리(2000)의 우측면을 지지하여 판유리(2000)가 세워지도록 하면서 상기 제 1롤러(100)의 구동력으로 상기 판유리(2000)가 이송되도록 지지하는데 기능한다.The second roller 300 and the third roller 400 are installed in two rows along the wall 500 at the installation position while being installed above and below the wall 500, respectively, the plate glass 2000. It supports to the plate glass 2000 to be transported by the driving force of the first roller 100 while supporting the right side of the plate glass 2000 to stand.

이러한 각 롤러(100,300,400)의 배치구조에 따라 상기 판유리(2000)가 세워져 이송될 경우 판유리(2000)의 좌측면은, 각 판유리(2000)끼리 접합될 경우 서로 소정간격으로 대면하도록 접합되는 면이다. 이에 따라 상기 좌측면에 이물질(2100)이 묻어 있으면 접합 이후 제품의 하자로 남게 된다.When the plate glass 2000 is erected and conveyed according to the arrangement of the rollers 100, 300, and 400, the left side surface of the plate glass 2000 is a surface bonded to face each other at predetermined intervals when the plate glass 2000 is bonded to each other. Accordingly, if the foreign material 2100 is buried on the left side, the product remains as a defect after bonding.

따라서 이러한 접합과정 이전에 본 발명에 따른 검사장치(1000)에서, 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000)에 빛을 조사하여 투과시키면서 좌측면에 묻은 이물질(2100)이 빛에 부딪히도록 하기 위해 판유리(2000)의 우측면 측에 설치된다.Therefore, in the inspection apparatus 1000 according to the present invention before the bonding process, the lamp 600 is irradiated with light through the plate glass 2000 so that the foreign material 2100 buried on the left side hit the light In order to be installed on the right side of the pane 2000.

이 때 상기 램프(600)로부터 조사되는 빛이 판유리(2000)의 표면에 경사지게 조사되는 것이 이물질(2100)에 빛이 부딪히면서 산란, 굴절, 반사 등의 현상을 유발하는데 보다 기여할 수 있는 바, 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000)의 우측면에 대해 약 30∼50°정도의 경사각으로 빛이 조사되도록 배치된다.In this case, when the light emitted from the lamp 600 is inclined to the surface of the plate glass 2000 may be more contributing to the phenomenon of scattering, refraction, reflection, etc. as the light hits the foreign material 2100, the lamp 600 is disposed so that light is irradiated at an inclination angle of about 30 to 50 degrees with respect to the right side surface of the plate glass 2000.

그리고 램프(600)에서 방출되는 빛은 경사배치에 무관하게 각축방향으로 조사됨으로, 이 중 상기 판유리(2000)의 우측면에 상기 경사각으로 조사되는 빛만이 도달하고 이외의 빛은 차단되도록 벽(500)에 관통구(510)를 형성시켜 이를 통해서만 판유리(2000)에 빛이 조사되도록 하는 것이 바람직하다.And the light emitted from the lamp 600 is irradiated in the angular direction irrespective of the inclination arrangement, of which only the light irradiated at the inclination angle reaches the right side of the pane 2000, the wall 500 so that other light is blocked It is preferable to form a through hole 510 in such a manner that light is irradiated onto the plate glass 2000 only through the through hole 510.

따라서 상기 램프(600)는 벽(500)의 우측에서 스탠드(620)에 의해 지지된다.그리고 이 때 램프(600)의 경사각이 판유리(2000)의 타면에 대해 약 30∼50°정도 범위내에서 경사지도록 배치시키는데, 본 발명에서는 보다 바람직하도록 상기 경사각의 범위중 약 45°정도의 위치로 상기 램프(600)가 경사져 있다.Therefore, the lamp 600 is supported by the stand 620 on the right side of the wall 500. At this time, the inclination angle of the lamp 600 is in the range of about 30 to 50 degrees with respect to the other surface of the plate glass 2000. The lamp 600 is inclined at a position of about 45 ° in the range of the inclination angle in the present invention.

또한 상기 벽(500)에는 빛의 선별적 통과를 위해 램프(600)의 경사각에 대응하는 위치로 관통구(510)가 형성되어 있다. 이에 따라 상기 램프(600)의 빛 중 상기 관통구(510)를 통과하는 빛은 상기 판유리(2000)에 대해 약 45°내외의 경사각으로 조사될 수 있다.In addition, the through hole 510 is formed in the wall 500 at a position corresponding to the inclination angle of the lamp 600 to selectively pass light. Accordingly, the light passing through the through hole 510 among the light of the lamp 600 may be irradiated with an inclination angle of about 45 ° with respect to the plate glass 2000.

이러한 상기 램프(600)로서는 약 10000 cd 이상의 비교적 높은 조도와 낮은 조사각을 갖는 것이 판유리(2000)의 제조 및 검사장소 주변의 실내조명 등으로부터 영향을 비교적 덜 받는 동시에 수 미크론 단위의 작은 미세먼지를 식별하기에 바람직하며, 본 발명에서는 약 12500 cd 정도의 램프(600)가 채용된다.The lamp 600 has a relatively high illuminance and a low irradiation angle of about 10000 cd or more is relatively less affected by indoor lighting and the like around the manufacturing site and the inspection place of the plate glass 2000, and at the same time, small fine dust of a few microns. It is preferred to identify and in the present invention a lamp 600 of about 12500 cd is employed.

아울러 상기 판유리(2000)의 좌측으로 설치된 것이 광검출소자이다. 상기 광검출소자는 상기 판유리(2000)를 투과한 빛을 감지하기 위한 것으로, 상기 빛은 판유리(2000)를 투과하면서 판유리(2000) 자체의 굴절율에 의해 굴절 투과되다가 좌측면에 묻은 미세먼지와 같은 이물질(2100)에 부딪히면서 산란, 굴절, 반사된다. 이러한 광학적 현상이 일어나면 상기 빛의 조도는 변화되기 마련이다.In addition, the photodetecting device is installed on the left side of the plate glass 2000. The photodetecting device is for detecting light transmitted through the plate glass 2000. The light is transmitted through the plate glass 2000 while being refracted by the refractive index of the plate glass 2000 itself, and thus foreign matter such as fine dust on the left side. While hitting 2100, scattering, refraction, and reflection are performed. When such an optical phenomenon occurs, the illuminance of the light may change.

상기 광검출소자는 이러한 각 광학현상에 의한 빛의 조도변화를 감지하기 위한 것으로, 본 발명에서는 광신호를 감지하고 이를 전기신호로 변환하는 포토다이오드(700)가 광검출소자로서 채용된다. 이 때 상기 포토다이오드(700)의 주변을 길쭉한 차폐부재(710)가 외장하고 있다.The photodetecting device is used to detect changes in illuminance of light caused by each optical phenomenon. In the present invention, a photodiode 700 for detecting an optical signal and converting the light signal into an electrical signal is employed as the photodetecting device. At this time, the elongated shielding member 710 surrounds the periphery of the photodiode 700.

상기 차폐부재(710)는 상기 판유리(2000)의 좌측에 상기 포토다이오드(700)가 설치되었을 때 그 입구가 상기 판유리(2000)의 좌측면을 향하도록 배치되면서 그 안측에 상기 포토다이오드(700)를 포함시킨 구조로서, 타측이 막힌 원통형상을 취하고 있다. 따라서 해당 검사장소의 주변 실내등(미도시)의 방출광 등과 같은 외부 노이즈가 상기 포토다이오드(700)에 입사되는 것을 차폐할 수 있다.When the photodiode 700 is installed on the left side of the plate glass 2000, the shielding member 710 is disposed such that its entrance faces the left side of the plate glass 2000, and the photodiode 700 is located on the inner side thereof. As a structure including the above, the other side has a cylindrical shape clogged. Therefore, it is possible to shield the external noise, such as the emitted light of the ambient light (not shown) in the periphery of the inspection place incident on the photodiode 700.

이에 따라 상기 램프(600)의 빛이 미세먼지에 부딪히면서 산란, 굴절, 반사될 경우 조도의 변화를 갖고 진입하는 빛의 진행방향과, 이와 더불어 앞서 언급된 바와 같이 실내등으로부터 하향으로 조사되는 빛 즉 외부노이즈의 진행방향을 감안할 경우 상기 차폐부재(710)의 외주연에 의해 상기 외부노이즈는 차단되고, 상기 램프(600)의 빛은 차폐부재(710)의 입구를 통해 상기 포토다이오드(700)에 입사될 수 있다.Accordingly, when the light of the lamp 600 hits the fine dust and is scattered, refracted, or reflected, the direction of light entering with the change of illuminance, and the light irradiated downwardly from the indoor light as mentioned above, namely, the outside Considering the direction of noise, the external noise is blocked by the outer periphery of the shielding member 710, the light of the lamp 600 is incident on the photodiode 700 through the inlet of the shielding member 710. Can be.

이 때 상기 포토다이오드(700)에서는 상기 램프(600)의 빛 즉 광신호를 감지하여 이를 전기신호로 변화시켜 주게 된다. 이에 따라 상기 전기신호가 수치로 변환되어 이를 검사함으로써, 판유리(2000)의 좌측면 즉 판유리(2000)간 접합시 대면하는 면의 오염도를 알 수 있다.At this time, the photodiode 700 detects light, that is, an optical signal, of the lamp 600 and changes it into an electrical signal. Accordingly, the electrical signal is converted into a numerical value and inspected to determine the contamination level of the left side of the plate glass 2000, that is, the surface facing the plate glass 2000 when joined.

도 3은 도 2의 A선에 따른 확대구성도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 판유리(2000)의 좌측면 즉 판유리(2000)간 접합시 대면되는 면에 미세먼지와 같은 이물질(2100)이 묻어 있다.FIG. 3 is an enlarged configuration diagram along line A of FIG. 2. As shown in FIG. 3, the foreign material 2100 such as fine dust is buried on the left side of the plate glass 2000, that is, the surface facing when the plate glass 2000 is joined.

이 때 상기 판유리(2000)의 우측면에는 벽(500)의 관통구(510)를 통해 약 12500 cd 정도 조도의 빛이 약 45°정도의 입사각으로 입사된다.At this time, light of approximately 12500 cd is incident on the right side surface of the plate glass 2000 at an incident angle of about 45 ° through the through hole 510 of the wall 500.

이와 같이 입사된 빛은 판유리(2000)를 통과하면서 판유리(2000) 자체의 굴절율에 의해 굴절되다가 상기 이물질(2100)에 부딪히게 되며, 이에 따라 산란, 굴절, 반사 등의 광학현상을 일으키게 된다. 또한 이러한 광학현상의 발생시 램프(600)의 빛은 애초 판유리(2000)를 투과하기 이전의 12500 cd의 조도와 비교할 때 그 조도의 변화가 있게 마련이다.The incident light is refracted by the refractive index of the plate glass 2000 itself while passing through the plate glass 2000 and hit the foreign material 2100, thereby causing optical phenomena such as scattering, refraction, and reflection. In addition, when the optical phenomenon occurs, the light of the lamp 600 changes in the illuminance when compared to the illuminance of 12500 cd before passing through the pane 2000.

이러한 조도의 변화는 상기 판유리(2000)의 좌측면에는 설치된 포토다이오드(700)에서 감지하게 되는데, 포토다이오드(700)의 주변으로 입구가 상기 판유리(2000)의 좌측면을 향해 형성된 차폐부재(710)가 설치되어 이 때 만일 검사장소를 밝히기 위해 설치된 실내등이나 태양광의 하향 입사를 상기 차폐부재(710)가 차단한다. 그리고 상기 차폐부재(710)의 입구를 통해 상기 이물질(2100)에 부딪힌 빛이 입사되어 포토다이오드(700)에서 이를 감지할 수 있다.The change in the illuminance is detected by the photodiode 700 installed on the left side of the plate glass 2000. The shielding member 710 formed at the entrance of the photodiode 700 toward the left side of the plate glass 2000. In this case, the shielding member 710 blocks the downward incident of indoor light or sunlight installed to illuminate the inspection place. Light incident on the foreign material 2100 through the inlet of the shielding member 710 may be incident and detected by the photodiode 700.

상기와 같이 감지된 빛 즉 광신호는 포토다이오드(700)에서 전기신호로 변경되어 전기적으로 연결된 외부의 표시장치(예를 들어 컴퓨터 등)에 송출되고 애초 램프(600)의 초기 빛의 조도와 수치상으로 비교함으로써, 판유리(2000)의 표면오염도 즉 판유리(2000)간 접합되는 면의 오염도를 검사할 수 있다.Light detected as described above, or an optical signal, is converted into an electrical signal in the photodiode 700 and is sent to an externally connected display device (for example, a computer, etc.) electrically connected to the initial light intensity and numerical value of the initial lamp 600. By comparison, the degree of surface contamination of the plate glass 2000, that is, the degree of contamination of the surface to be bonded between the plate glass 2000 can be inspected.

도 4는 본 발명의 제 2실시예에 따른 검사장치의 구성도이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 검사장치(1000)에서, 판유리(2000)의 우측으로 벽(500)과의 사이에 광원으로서 램프(600)가 설치되어 있다.4 is a block diagram of an inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention. As shown in FIG. 4, in the inspection apparatus 1000, a lamp 600 is provided as a light source between the wall 500 and the right side of the pane 2000.

그리고 상기 램프(600)로부터 조사된 빛이 판유리(2000)를 투과하고이물질(2100)에 부딪히면서 겪게 되는 조도의 변화를 감지하도록 상기 판유리(2000)의 좌측면으로 포토다이오드(700)가 설치되어 있다. 이 때 상기 포토다이오드(700)는 입구가 상기 판유리(2000)의 좌측면으로 형성된 원통형의 차폐부재(710) 내에 내장되어 외부노이즈가 포토다이오드(700)에 도달하지 못하도록 차폐된다.A photodiode 700 is installed on the left side of the pane 2000 so as to sense a change in illuminance caused by the light emitted from the lamp 600 passing through the pane 2000 and hitting the foreign substance 2100. . At this time, the photodiode 700 is shielded to prevent external noise from reaching the photodiode 700 because the inlet is embedded in the cylindrical shielding member 710 formed as the left surface of the plate glass 2000.

여기서 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000)의 우측면에 대해 약 45°정도의 경사각을 갖도록 배치되어 벽(500)의 좌측면에 고정되어 있다. 이는 상기 램프(600)의 빛이 상기 판유리(2000)의 타측면에 경사져 입사되면서 투과 후 이물질(2100)에 부딪힐 경우 보다 큰 산란, 굴절, 반사가 일어나도록 하여 이물질(2100)에 대해 보다 식별력을 높이기 위함이다.Here, the lamp 600 is disposed to have an inclination angle of about 45 ° with respect to the right side of the pane 2000 and is fixed to the left side of the wall 500. This is because when the light of the lamp 600 is inclined to the other side of the plate glass 2000 and hits the foreign material 2100 after transmission, the scattering, refraction, and reflection occurs so that more discriminating power is detected on the foreign material 2100. To increase the

이 때 상기 램프(600)의 빛은 상기 경사각에도 불구하고 경사각을 따라 정면을 향해 조사되는 것을 포함하여 각축방향을 따라 무분별하게 방출된다. 이에 따라 경사각이 광조사각이 되도록 상기 램프(600)의 타측에 고정되고 일측으로는 상기 경사각을 따라 차양(610a)이 일체로 형성되는 차광부재(610)가 구비된다.At this time, the light of the lamp 600 is irradiated indiscriminately along the axial direction, including irradiating toward the front along the inclination angle despite the inclination angle. Accordingly, the light blocking member 610 is fixed to the other side of the lamp 600 so that the inclination angle becomes the light irradiation angle and one side is integrally formed with the shade 610a along the inclination angle.

상기 차광부재(610)의 구비로 상기 램프(600)의 빛 중 경사각을 따라 진행되는 빛만이 선별적으로 외부로 방출될 수 있으며 그외의 빛은 상기 차광부재(610)의 차양(610a)에 가로막혀 차단된다.Only the light traveling along the inclination angle of the light of the lamp 600 may be selectively emitted to the outside by the light blocking member 610, and the other light is horizontally disposed on the shade 610a of the light blocking member 610. Blocked and blocked.

따라서 상기 램프(600)의 경사각을 조사각으로 하는 빛이 상기 판유리(2000)의 좌측면에 입사되고, 판유리(2000) 자체의 굴절율에 따라 굴절된 뒤 판유리(2000)의 우측면에 묻은 미세먼지와 같은 이물질(2100)에 부딪혀 산란, 굴절또는 반사된다.Therefore, light having the inclination angle of the lamp 600 as the irradiation angle is incident on the left side of the plate glass 2000, is refracted according to the refractive index of the plate glass 2000 itself, and fine dust is deposited on the right side of the plate glass 2000. The same foreign material 2100 is hit by the scattering, refraction or reflection.

이 때 상기 판유리(2000)의 우측면 측에 설치된 차폐부재(710)의 입구로 상기 빛이 입사되면 차폐부재(710)의 안측에 설치된 포토다이오드(700)에서 이를 감지하여 전기신호로 변환하게 된다.At this time, when the light is incident to the inlet of the shielding member 710 installed on the right side of the pane 2000, the photodiode 700 installed on the inner side of the shielding member 710 detects it and converts it into an electrical signal.

이상에서와 같은 본 발명에 따른 복층유리 제조용 판유리의 오염도 검사장치(1000)에서, 이물질(2100)로서 미세먼지를 제시하였지만, 이외에 기름이나 유리파편 등과 같이 판유리(2000)와 별도로 묻은 이물질(2100)과 더불어 판유리(2000) 자체의 부분 파손정도 등도 검사할 수 있으며 이에 따라 복층유리 제조용 판유리(2000)에 국한되지 않고 단층 유리로 사용될 판유리(2000)의 표면 또는 내부 파손정도의 검사에도 사용할 수 있다.In the contamination level inspection apparatus 1000 of the multilayer glass manufacturing plate according to the present invention as described above, the fine dust as a foreign material 2100, but in addition to the foreign matter 2100 buried separately from the plate glass 2000, such as oil or glass fragments. In addition, the degree of partial breakage of the plate glass 2000 itself may be inspected. Accordingly, the plate glass 2000 may be used to inspect the surface or the internal breakage of the plate glass 2000 to be used as the single layer glass, without being limited to the plate glass 2000 for manufacturing the multilayer glass.

또한 상기 제 2롤러(300) 및 제 3롤러(400) 이외에, 벽(500)의 좌측면에는 상기 제 2롤러(300) 및 제 3롤러(400)의 설치방향을 따라 롤러(300,400)를 더 설치하여 판유리(2000)의 우측면을 지지하는데 사용할 수 있다. 또한 제 1롤러(100)를 대신하여 콘베이어밸트를 이송수단으로서 사용할 수 있다.In addition to the second roller 300 and the third roller 400, the left side of the wall 500, the roller (300, 400) further along the installation direction of the second roller 300 and the third roller 400 It can be installed and used to support the right side of the pane 2000. In addition, a conveyor belt may be used as a transfer means in place of the first roller 100.

아울러 벽(500)의 우측면으로 설치되는 램프(600)는 벽(500)의 높이방향 및 길이방향을 따라 그 설치개수를 늘려 사용할 수 있음은 물론이며, 이에 따라 벽(500)에는 대응하는 관통구(510)를 연장하여 형성할 수 있으며 포토다이오드(700)의 설치개수 또한 연장하여 사용할 수 있다.In addition, the lamp 600 installed on the right side of the wall 500 may be used by increasing the number of installations along the height direction and the length direction of the wall 500, and accordingly, the through hole corresponding to the wall 500. 510 may be extended, and the number of installation of the photodiode 700 may also be extended.

그리고 램프(600)의 차광부재(610)에서 차양(610a)의 내측면에는 수은을 발라 램프(600)의 빛이 전방으로 집중 조사되도록 반사하는 반사층으로 사용할 수 있다. 이러한 차광부재(610)의 사용으로 벽(500)의 좌측면에 고정되는 램프(600)는 벽(500)의 높이방향 또는 길이방향을 따라 그 개수를 늘려 사용할 수 있으며, 이에 따라 포토다이오드(700) 또한 대응하여 그 개수를 늘려 사용할 수 있음은 물론이다.In addition, mercury is applied to the inner surface of the shade 610a in the light blocking member 610 of the lamp 600, and may be used as a reflective layer that reflects the light of the lamp 600 to be focused forward. Lamp 600 fixed to the left side of the wall 500 by using the light blocking member 610 may be used to increase the number along the height direction or the longitudinal direction of the wall 500, accordingly the photodiode 700 Of course, the number can also be used to increase the number.

이상에서와 같은 본 발명에 따른 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치에 의하면, 복층유리의 제품화 이전에 판유리에 묻은 비교적 큰 이물질은 물론 작은 미세먼지까지 검사할 수 있는 구성을 갖추고 있기 때문에, 제품의 불량율을 현저하게 줄일 수 있는 특징이 있다.According to the surface contamination degree inspection apparatus of the plate glass for manufacturing laminated glass according to the present invention as described above, since it has a configuration capable of inspecting a relatively large foreign matter, as well as small fine dust deposited on the plate glass before commercialization of the laminated glass, There is a characteristic that can significantly reduce the defective rate.

아울러 육안검사를 대신하여 보다 정확한 포토다이오드와 같은 광검출소자를 채용함으로써, 보다 신뢰성 있는 검사가 이루어질 수 있는 장점이 있다.In addition, by employing a photodetector such as a more accurate photodiode instead of visual inspection, there is an advantage that a more reliable inspection can be made.

비록 본 발명이 상기에서 언급한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어졌지만, 본 발명의 요지와 범위으로부터 벗어남이 없이 다른 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서 첨부된 특허청구의 범위는 본 발명의 진정한 범위내에 속하는 그러한 수정 및 변형을 포함할 것이라고 여겨진다.Although the present invention has been described in connection with the above-mentioned preferred embodiments, other various modifications and variations may be made without departing from the spirit and scope of the invention. It is therefore contemplated that the appended claims will cover such modifications and variations as fall within the true scope of the invention.

Claims (5)

복층유리로 제조되는 판유리(2000)의 표면오염도를 검사하는 장치에 있어서,In the apparatus for inspecting the surface contamination of the plate glass 2000 made of a multilayer glass, 바닥(200)을 따라 일렬로 설치되어 판유리(2000)를 이송하는 제 1롤러(100);A first roller 100 installed in a line along the bottom 200 to transfer the plate glass 2000; 상기 판유리(2000)가 세워지도록 상기 바닥(200)에 인접한 벽(500)의 상부 및 하부에 상기 제 1롤러(100)의 설치방향을 따라 병렬로 설치되어 대응하는 상기 판유리(2000)의 타면을 지지하는 제 2롤러(300) 및 제 3롤러(400);The other surface of the plate glass 2000 is installed in parallel to the upper and lower portions of the wall 500 adjacent to the floor 200 along the installation direction of the first roller 100 so that the plate glass 2000 is erected. Supporting the second roller 300 and the third roller 400; 상기 판유리(2000)의 일면에 부착된 이물질(2100)이 식별될 수 있도록 상기 판유리(2000)의 타측에 설치되어 상기 판유리(2000)에 빛을 조사하는 램프(600);를 포함하여 이루어지고,And a lamp 600 installed at the other side of the plate glass 2000 to irradiate light to the plate glass 2000 so that the foreign matter 2100 attached to one surface of the plate glass 2000 can be identified. 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000)의 타측을 향해 하향 경사지도록 배치되며, 상기 판유리(2000)의 일측에는 상기 판유리(2000)를 투과한 상기 램프(600)의 빛을 감지하도록 대응하는 위치로 포토다이오드(700)가 설치되는 것을 특징으로 하는 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치.The lamp 600 is disposed to be inclined downward toward the other side of the plate glass 2000, and a position corresponding to one side of the plate glass 2000 to sense light of the lamp 600 passing through the plate glass 2000. Furnace photodiode 700 is installed, the surface contamination degree inspection apparatus of the plate glass for manufacturing laminated glass. 제 1항에 있어서, 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000)의 타면에 대해 30∼50°의 경사각을 갖도록 배치되는 것을 특징으로 하는 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치.The apparatus of claim 1, wherein the lamp 600 is disposed to have an inclination angle of 30 to 50 ° with respect to the other surface of the plate glass 2000. 제 1항에 있어서, 상기 포토다이오드(700)가 안측에 내장되며 입구가 상기판유리(2000)의 일면을 향해 형성되는 원통형의 차폐부재(710)가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치.According to claim 1, wherein the photodiode 700 is built in the inner side of the plate glass for manufacturing a laminated glass, characterized in that the inlet is further provided with a cylindrical shielding member 710 formed toward one surface of the plate glass (2000) Surface contamination tester. 제 2항에 있어서, 상기 램프(600)는 상기 벽(500)의 타측으로 설치되고 상기 벽(500)에는 상기 경사각에 대응하여 상기 램프(600)의 빛이 통과하도록 관통구(510)가 형성되는 것을 특징으로 하는 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치.According to claim 2, The lamp 600 is installed on the other side of the wall 500 and the through hole 510 is formed in the wall 500 to pass the light of the lamp 600 corresponding to the inclination angle Surface contamination degree inspection apparatus of the plate glass for manufacturing laminated glass. 제 2항에 있어서, 상기 램프(600)는 상기 판유리(2000) 및 벽(500) 사이에 설치되고 상기 경사각을 따라 차양(610a)이 상기 램프(600)의 주변으로 형성되는 차광부재(610)가 구비되는 것을 특징으로 하는 복층유리 제조용 판유리의 표면 오염도 검사장치.The light blocking member 610 of claim 2, wherein the lamp 600 is installed between the plate glass 2000 and the wall 500, and the shade 610a is formed around the lamp 600 along the inclination angle. Surface contamination degree inspection apparatus of the plate glass for manufacturing multilayer glass, characterized in that the provided.
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