KR20040067559A - Apparatus and method for testing the operation state of main board in an lcd monitor - Google Patents
Apparatus and method for testing the operation state of main board in an lcd monitor Download PDFInfo
- Publication number
- KR20040067559A KR20040067559A KR1020030004739A KR20030004739A KR20040067559A KR 20040067559 A KR20040067559 A KR 20040067559A KR 1020030004739 A KR1020030004739 A KR 1020030004739A KR 20030004739 A KR20030004739 A KR 20030004739A KR 20040067559 A KR20040067559 A KR 20040067559A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- main board
- memory unit
- test pattern
- image signal
- pattern
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Abstract
Description
본 발명은 메인 보드의 동작을 검사하는 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 액정 표시 장치(LCD)용 메인 보드에서 출력되는 디지털 데이터를 이용하여 메인 보드의 동작을 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for inspecting the operation of the main board, and more particularly, to an apparatus and method for inspecting the operation of the main board using digital data output from the main board for liquid crystal display (LCD). will be.
통상적으로, 메인 보드를 제작한 후에 이를 조립하여 완전한 제품을 만들기 이전에, 메인 보드의 정상 동작 여부를 검사하여 제품의 양부(良否)를 판정한다.Typically, after fabricating the main board and before assembling it to make a complete product, the main board is inspected for normal operation to determine whether the product is good or bad.
도 1은 종래의 메인 보드 검사 장치의 일부 구성(10)을 개략적으로 도시한 사시도이다. 도 1을 참조하면, 메인 보드 검사 장치는 메인 보드(1)를 이동시키는 콘베이어 벨트(2)와, 상기 콘베이이어 벨트(2)에 힌지(hinge)식으로 결합된 상부 덮개(3)와, 상기 상부 덮개의 하측에 배치되어 메인 보드(1)를 지지하는 지그(jig)(4)를 포함한다.1 is a perspective view schematically showing some components 10 of a conventional main board inspection apparatus. Referring to FIG. 1, the main board inspection apparatus includes a conveyor belt 2 for moving the main board 1, an upper cover 3 hingedly coupled to the conveyor belt 2, and A jig 4 is disposed below the upper cover to support the main board 1.
메인 보드의 동작 검사시에, 상기 상부 덮개(3)가 하강하여 상기 지그(4)가 메인 보드(1)와 접촉되면, 상기 지그(4)를 통해 소정의 측정 신호를 검출하여 모니터(도시되지 않음)로 출력하게 된다. 작업자는 상기 모니터에 출력되는 신호의 파형, 주파수 또는 화질 상태를 확인하여 메인 보드(1) 제품의 양부(良否)를 판정한다.In the operation test of the main board, when the upper cover 3 is lowered and the jig 4 is in contact with the main board 1, a predetermined measurement signal is detected through the jig 4 to monitor the monitor (not shown). Will be printed). The operator checks the waveform, frequency or image quality of the signal output to the monitor to determine the quality of the main board 1 product.
그러나, 상기와 같은 종래의 메인 보드 동작 검사 방식에 따르면, 작업자가 모니터에 출력되는 신호의 파형, 주파수 또는 화질 상태를 일일이 확인해야 하는 번거로움이 있다. 또한, 작업자마다 정상 여부를 판정하는 기준이 상이하고, 작업자의 신체 상태에 따라 측정 정밀도가 좌우될 수 있으며, 작업의 반복 횟수에 따라피로도가 가중되어 장시간의 검사 측정시 작업 속도가 떨어져 생산성이 감소되는 문제점이 있다.However, according to the conventional main board operation test method as described above, the operator has to check the waveform, frequency or image quality state of the signal output to the monitor. In addition, the criteria for determining whether or not normal for each operator is different, the measurement accuracy may depend on the physical condition of the operator, the fatigue is increased according to the number of repetition of the work, the work speed is reduced during long-term inspection measurement, productivity is reduced There is a problem.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 메인 보드에서 출력되는 디지털 신호를 이용하여 메인 보드의 동작 상태를 빠르고 정확하게 판별할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an apparatus and method for quickly and accurately determining the operation state of the main board using a digital signal output from the main board.
전술한 본 발명의 목적 및 장점 이외의 다른 목적 및 장점은 이하의 상세한 설명 및 첨부 도면을 통하여 명백해질 것이다.Other objects and advantages other than the above objects and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.
도 1은 종래의 메인 보드 검사 장치의 일부 구성을 개략적으로 도시한 사시도.1 is a perspective view schematically showing some components of a conventional main board inspection apparatus.
도 2는 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 있어서, LCD 모니터용 메인 보드의 동작 검사 시스템을 개략적으로 도시한 블록도.2 is a block diagram schematically showing a system for checking an operation of a main board for an LCD monitor according to a preferred embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 있어서, LCD 모니터용 메인 보드의 동작 검사 절차를 개략적으로 도시한 흐름도3 is a flowchart schematically showing an operation test procedure of an LCD monitor main board according to a preferred embodiment of the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 설명>Description of the main parts of the drawing
20 : PC 30 : 피검사 메인 보드20: PC 30: main board to be inspected
32 : 데이터 송신부 34 : 집적 회로부32: data transmission unit 34: integrated circuit unit
40 : 검사 장치 42 : 데이터 수신부40: inspection device 42: data receiving unit
44 : DMA 제어부 46 : 메모리부44: DMA control section 46: memory section
48 : 마이콤 49 : LED48: Micom 49: LED
100 : 메인 보드 동작 검사 시스템100: main board operation inspection system
본 발명의 제1 특징에 따르면, 액정 표시 장치용 메인 보드의 동작 검사 장치는 소정의 테스트 패턴에 해당하는 영상 신호를 상기 메인 보드로 제공하는 테스트 패턴 발생부와, 상기 메인 보드의 정상 동작시 상기 소정의 테스트 패턴의 입력에 대한 출력 의 데이터 패턴을 저장하는 제1 메모리부와, 상기 메인 보드로부터 출력되는 디지털 영상 신호를 수신하여 출력하는 데이터 수신부와, 상기 데이터 수신부로부터 출력되는 디지털 영상 신호를 저장하는 제2 메모리부와, 상기 메인 보드의 동작 상태를 외부에 표시하는 표시부와, 상기 제1 메모리부에 저장된 데이터 패턴과 상기 제2 메모리부에 저장된 디지털 영상 신호의 데이터 패턴을 상호 비교하고, 그 비교 결과를 기초로하여 상기 메인 보드의 동작 상태를 상기 표시부에 표시하는 제어부를 포함한다.According to a first aspect of the present invention, an operation inspection apparatus of a main board for a liquid crystal display may include a test pattern generator which provides an image signal corresponding to a predetermined test pattern to the main board, A first memory unit for storing an output data pattern for an input of a predetermined test pattern, a data receiver for receiving and outputting a digital image signal output from the main board, and a digital image signal output from the data receiver Comparing a second memory unit, a display unit for displaying an operation state of the main board to the outside, a data pattern stored in the first memory unit and a data pattern of a digital image signal stored in the second memory unit, and A control unit which displays an operation state of the main board on the display unit based on a comparison result. All.
상기 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 소정의 테스트 패턴은 256 그레이 스케일 패턴(gray scale pattern)이고, 상기 표시부는 LED이다.In a preferred embodiment of the above feature, the predetermined test pattern is a 256 gray scale pattern, and the display portion is an LED.
본 발명의 제2 특징에 따르면, 액정 표시 장치용 메인 보드의 동작 검사 방법은 소정의 테스트 패턴에 해당하는 영상 신호를 상기 메인 보드로 제공하는 단계와, 상기 메인 보드의 정상 동작시 상기 소정의 테스트 패턴의 입력에 대한 출력 의 데이터 패턴을 제1 메모리부에 저장하는 단계와, 상기 메인 보드로부터 출력되는 디지털 영상 신호를 수신하는 단계와, 상기 수신된 디지털 영상 신호를 제2 메모리부에 저장하는 단계와, 상기 제1 메모리부에 저장된 데이터 패턴과 상기 제2 메모리부에 저장된 디지털 영상 신호의 데이터 패턴을 상호 비교하는 단계와, 상기 비교 결과를 기초로하여 상기 메인 보드의 동작 상태를 외부에 표시하는 단계를 포함한다.According to a second aspect of the present invention, an operation checking method of a main board for a liquid crystal display includes providing an image signal corresponding to a predetermined test pattern to the main board, and performing the predetermined test during normal operation of the main board. Storing a data pattern of an output for the input of the pattern in a first memory unit, receiving a digital image signal output from the main board, and storing the received digital image signal in a second memory unit And comparing the data pattern stored in the first memory unit with the data pattern of the digital image signal stored in the second memory unit, and displaying an operating state of the main board to the outside based on the comparison result. Steps.
본 발명의 상기 특징에 의하면, 액정 표시 장치용 메인 보드에서 출력되는 디지털 영상 신호의 논리 레벨을 비교함으로써 빠르고 정확하게 메인 보드의 동작 상태를 검사할 수 있게 된다.According to the above aspect of the present invention, it is possible to check the operation state of the main board quickly and accurately by comparing the logic level of the digital video signal output from the main board for the liquid crystal display device.
이하, 도 2 및 도 3을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 구체적으로 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 2 and 3.
도 2는 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 있어서, LCD 모니터용 메인 보드의 동작 검사 시스템을 개략적으로 도시한 블록도이다.2 is a block diagram schematically showing a system for checking an operation of a main board for an LCD monitor according to a preferred embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, LCD 모니터용 메인 보드의 동작 검사 시스템(100)은 PC(20)와, 피검사 메인 보드(30) 및 검사 장치(40)로 구성된다.Referring to FIG. 2, the operation inspection system 100 of the LCD monitor main board includes a PC 20, an inspection main board 30, and an inspection device 40.
상기 PC(20)는 상기 피검사 메인 보드(30)의 동작을 검사하기 위하여 소정의테스트 패턴에 해당하는 영상 신호를 발생시키는 테스트 패턴 발생부(22)와, 피검사 메인 보드(30)의 정상 동작시 상기 테스트 패턴의 입력에 대한 출력 결과를 저장하는 메모리부(24)와, 각 구성 요소의 동작을 제어하는 CPU(26)를 구비한다.The PC 20 may include a test pattern generator 22 that generates an image signal corresponding to a predetermined test pattern in order to inspect the operation of the main board 30 under test, and the normal of the main board 30 under test. A memory unit 24 for storing an output result of the input of the test pattern during the operation, and a CPU 26 for controlling the operation of each component.
상기 피검사 메인 보드(30)는 상기 PC(20)로부터 수신되는 영상 신호를 LCD 패널에 적합한 신호로 처리하는 집적 회로부(34)와, 상기 집적 회로부로부터 출력되는 신호를 전송하는 데이터 송신부(32)를 포함한다.The main board 30 to be tested includes an integrated circuit unit 34 for processing an image signal received from the PC 20 into a signal suitable for an LCD panel, and a data transmitter 32 for transmitting a signal output from the integrated circuit unit. It includes.
또한, 상기 검사 장치(40)는 상기 데이터 송신부에서 전송된 신호를 수신하여 출력하는 데이터 수신부(42)와, 상기 데이터 수신부로부터 출력되는 영상 신호를 메모리부(46)에 저장하는 DMA(Direct Memory Access) 제어부와, 메인 보드의 동작 상태를 표시하는 LED(49)와, 상기 구성 요소들을 제어하는 마이콤(48)으로 구성된다.In addition, the inspection apparatus 40 includes a data receiver 42 for receiving and outputting a signal transmitted from the data transmitter, and a DMA (Direct Memory Access) for storing an image signal output from the data receiver in the memory 46. A control unit, an LED 49 for displaying an operation state of the main board, and a microcomputer 48 for controlling the components.
상기 피검사 메인 보드(30)의 집적 회로부(34)는 상기 PC로부터 입력되는 소정의 테스트 패턴에 해당하는 아날로그 영상 신호를 수신하여 각각 8비트의 디지털 영상 신호로 변환한 후에, 차후 조립될 LCD 패널에 적합한 신호의 포맷으로 변환하여 데이터 송신부(32)로 출력한다. 상기 데이터 송신부(32)는 수신된 디지털 영상 신호를 LVDS(Low Voltage Differential Signalling) 방식에 적합한 신호로 변환한 후에 검사 장치(40)로 전송하게 된다.The integrated circuit unit 34 of the inspected main board 30 receives analog video signals corresponding to a predetermined test pattern input from the PC, converts them into 8-bit digital video signals, and then LCD panels to be assembled later. The signal is converted into a signal format suitable for the output signal and output to the data transmitter 32. The data transmitter 32 converts the received digital video signal into a signal suitable for a low voltage differential signaling (LVDS) scheme and then transmits the digital video signal to the inspection apparatus 40.
또한, 상기 검사 장치(40)의 데이터 수신부(42)는 LVDS 방식으로 전송되는 신호를 수신하여 다시 8비트의 디지털 영상 신호로 변환한 후에, 이를 DMA 제어부(44)로 전송한다. 상기 DMA 제어부(44)는 상기 디지털 영상 신호를마이콤(48)의 개입없이 검사 장치 내의 메모리부(46)로 전달하여 저장한다.In addition, the data receiver 42 of the inspection apparatus 40 receives a signal transmitted by the LVDS method, converts the signal into an 8-bit digital video signal, and then transmits the signal to the DMA controller 44. The DMA controller 44 transfers and stores the digital video signal to the memory unit 46 in the inspection apparatus without the intervention of the microcomputer 48.
마이콤(48)은 상기 DMA 제어부(44)를 통하여 상기 메모리부(46)에 저장된 영상 신호의 데이터를 불러와서 PC(20)로 전송한다. 한편, PC(20)의 CPU(26)는 상기 마이콤(48)으로부터 수신된 디지털 영상 신호의 데이터 패턴을 PC 내의 메모리부(24)에 기저장된 정상 동작시의 데이터 패턴과 비교를 한 후에, 그 비교 결과를 검사 장치 내의 마이콤(48)으로 재전송한다.The microcomputer 48 retrieves the data of the video signal stored in the memory 46 through the DMA controller 44 and transmits the data to the PC 20. On the other hand, the CPU 26 of the PC 20 compares the data pattern of the digital video signal received from the microcomputer 48 with the data pattern in normal operation previously stored in the memory unit 24 in the PC. The comparison result is retransmitted to the microcomputer 48 in the inspection apparatus.
또한, 상기 마이콤(48)은 PC의 CPU(36)로부터 전송되는 비교 결과를 표시부에 나타낸다. 수신된 비교 결과를 나타내는 상기 표시부로는 LED 등의 발광 소자, LCD, CRT 등의 모니터 등이 이용될 수 있다. 본 실시예에서는 LED(49)를 일예로서 설명한다.The microcomputer 48 also shows the comparison result transmitted from the CPU 36 of the PC. As the display unit indicating the received comparison result, a light emitting device such as an LED, a monitor such as an LCD, a CRT, or the like may be used. In the present embodiment, the LED 49 is described as an example.
한편, 본 실시예에서와 같이 LED(49)를 표시부로서 이용하는 경우에, 상기 마이콤(48)은 수신된 비교 결과에 응답하여 LED(49)를 점멸한다. 이로써, 작업자는 LED(49)에 표시되는 점멸 상태를 보고 피검사 메인 보드(30)의 정상 동작 여부를 쉽게 확인할 수 있게 된다.On the other hand, in the case of using the LED 49 as the display portion as in the present embodiment, the microcomputer 48 blinks the LED 49 in response to the received comparison result. As a result, the operator can easily check whether or not the main board 30 to be inspected normally by looking at the blinking state displayed on the LED 49.
본 실시예에서는 PC(20) 및 검사 장치(40)가 분리되어 동작되도록 구성되어 있으나, 상기 PC(20) 및 검사 장치(40)가 결합되어 하나의 구성 요소로서 동작하는 구성도 가능하다.In the present embodiment, the PC 20 and the test device 40 are configured to operate separately, but the PC 20 and the test device 40 may be combined to operate as one component.
본 실시예에서 검사 장치(40)와 PC(20)를 분리하고 그 기능을 분담시키는 것은 본 발명의 구성 및 동작 관계를 보다 명확히 드러내고, 또한 데이터 패턴의 비교 작업을 대용량 처리 능력을 갖는 PC(20)내의 CPU(26)에 전담시킴으로써, 작업속도를 보다 증가시키기 위한 것이다.In this embodiment, separating the inspection apparatus 40 and the PC 20 and sharing their functions more clearly reveals the configuration and operation relationship of the present invention, and also compares the data patterns with the PC 20 having a large capacity for processing. This is to increase the working speed further by dedicating to the CPU 26 in.
한편, LCD 모니터용 메인 보드의 불량 여부를 검사하는 테스트 패턴에는 일반적으로 256 그레이 스케일 패턴(gray scale pattern)이 이용된다. 통상적으로, LCD 모니터에서 이용되는 디지털 R,G,B 영상 신호의 그레이 스케일[gray scale; 계조(階調)]은 8 비트의 해상도를 가지며, OxFF∼Ox00(1111 1111 ∼ 0000 0000)까지 표현될 수 있다.On the other hand, a 256 gray scale pattern is generally used as a test pattern for checking whether the LCD monitor main board is defective. Typically, the gray scale of digital R, G, B video signals used in LCD monitors; Gray scale has an 8-bit resolution and can be expressed from OxFF to Ox00 (1111 1111 to 0000 0000).
따라서, LCD 모니터의 불량 여부, 특히 모니터용 메인 보드의 정상 동작 여부를 검사함에 있어서, 정상 동작시 영상 신호의 그레이 스케일 패턴과 메인 보드에서 출력되는 영상 신호의 그레이 스케일 패턴에 대한 논리 레벨을 상호 비교함으로써, 상기 메인 보드의 정상 동작 여부를 보다 빠르고 정확하게 검사할 수 있다.Therefore, in checking whether the LCD monitor is defective or not, in particular, whether the monitor main board is in normal operation, the logic level of the gray scale pattern of the image signal and the gray scale pattern of the image signal output from the main board in normal operation are compared with each other. By doing so, it is possible to quickly and accurately check whether the main board is normally operating.
이하, 상기 256 그레이 스케일 패턴을 이용하여 LCD 모니터용 메인 보드의 동작 검사를 수행하는 방법에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a method of performing an operation test of the LCD monitor main board using the 256 gray scale pattern will be described in more detail.
도 3은 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 있어서, LCD 모니터용 메인 보드의 동작 검사 절차를 개략적으로 도시한 흐름도이다.3 is a flowchart schematically illustrating an operation test procedure of an LCD monitor main board according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, PC(20)의 테스트 패턴 발생부(22)는 256 그레이 스케일 패턴의 소정의 테스트 패턴에 해당하는 영상 신호를 메인 보드(30)로 전송한다(단계 10). 메인 보드(30)의 집적 회로부(34)는 상기 테스트 패턴에 해당하는 영상 신호를 수신하여 차후 조립될 LCD 패널에 적합한 디지털 영상 신호로 변환하여 데이터 송신부(32)로 출력한다(단계 12). 다음, 상기 데이터 송신부(32)는 수신된 디지털 영상 신호를 검사 장치(40)로 전송한다(단계 14). 다음, 검사 장치(40)의 데이터수신부(42)는 상기 디지털 영상 신호를 수신한 후에, 이를 메모리부(46)에 저장한다(단계 16). 이때, DMA 방식을 통하여 마이콤의 개입없이 상기 디지털 영상 신호를 메모리부에 직접 저장할 수 있다. 다음, 마이콤(48)은 상기 메모리부(46)에 저장된 상기 디지털 영상 신호를 소환하여 PC(20)로 전송한다(단계 18). PC(20)내의 CPU(26)는 상기 수신된 디지털 영상 신호의 그레이 스케일 패턴을 메모리부(24)에 기저장된 정상 동작 상태의 그레이 스케일 패턴과 비교하고, 그 비교 결과를 검사 장치(40)로 전송한다(단계 20). 이때, 상기 CPU(26)는 수신된 디지털 영상 신호와 기저장된 정상 상태의 영상 신호의 그레이 스케일 패턴을 비교함에 있어서, 8 비트로 표현된 각 그레이 스케일의 논리 레벨을 각 비트 단위로 비교한 후에, 그 비교 결과를 검사 장치(40)로 전송하게 된다. 다음, 검사 장치(40)의 마이콤(48)은 상기 PC(20)로부터 전송되는 비교 결과를 수신하여, 그 결과에 따라 LED(49)를 점멸한다(단계 22). 이 때, 양쪽 영상 신호의 그레이 스케일 패턴을 비교한 결과, 논리 레벨이 상이한 비트가 발견되는 경우에 LED를 동작시켜 불량 상태임을 알릴 수 있다. 이로써, LCD 모니터용 메인 보드의 동작 검사를 수행하는 절차를 종료한다.Referring to FIG. 3, the test pattern generator 22 of the PC 20 transmits an image signal corresponding to a predetermined test pattern of 256 gray scale patterns to the main board 30 (step 10). The integrated circuit unit 34 of the main board 30 receives an image signal corresponding to the test pattern, converts it into a digital image signal suitable for an LCD panel to be assembled later, and outputs it to the data transmitter 32 (step 12). Next, the data transmitter 32 transmits the received digital video signal to the inspection apparatus 40 (step 14). Next, after receiving the digital image signal, the data receiving unit 42 of the inspection device 40 stores the digital image signal in the memory unit 46 (step 16). At this time, the digital video signal may be directly stored in the memory unit without the intervention of the microcomputer through the DMA method. Next, the microcomputer 48 summons the digital video signal stored in the memory unit 46 and transmits the digital video signal to the PC 20 (step 18). The CPU 26 in the PC 20 compares the gray scale pattern of the received digital image signal with the gray scale pattern in the normal operating state previously stored in the memory unit 24, and compares the result of the comparison to the inspection device 40. Transmit (step 20). At this time, the CPU 26 compares the logic level of each gray scale represented by 8 bits in each bit unit in comparing the gray scale pattern of the received digital image signal with the previously stored normal state image signal. The comparison result is transmitted to the inspection device 40. Next, the microcomputer 48 of the inspection apparatus 40 receives the comparison result transmitted from the PC 20, and blinks the LED 49 according to the result (step 22). At this time, as a result of comparing the gray scale patterns of both image signals, when a bit having a different logic level is found, the LED may be operated to indicate that the defective state is present. Thus, the procedure of performing the operation test of the LCD monitor main board is terminated.
본 발명에 따르면, LCD 모니터용 메인 보드에서 출력되는 디지털 영상 신호의 논리 레벨을 비교함으로써 빠르고 정확하게 메인 보드의 동작 상태를 검사할 수 있게 된다. 따라서, 메인 보드의 대량 양산 시스템에서 보드의 동작 상태를 빠른 시간 내에 검사할 수 있게 됨에 따라 작업 시간 및 경비를 줄일 수 있게 된다.According to the present invention, it is possible to check the operation state of the main board quickly and accurately by comparing the logic level of the digital video signal output from the main board for LCD monitor. Therefore, in the mass production system of the main board it is possible to quickly check the operating state of the board, it is possible to reduce the work time and expenses.
또한, LCD 모니터의 불량은 스트라이프 노이즈(stripe noise)가 대부분이므로, 1개이 수평 라인에 대한 검사만으로도 어느 정도 모니터의 양부(良否)를 판별할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따라 1개의 수평 라인에 대한 검사를 수행할 경우에, 빠른 시간 내에 적은 비용으로 검사가 이루어질 수 있다.In addition, since the defect of the LCD monitor is mostly stripe noise, it is possible to determine whether or not the monitor is to some extent only by inspecting one horizontal line. Therefore, when performing the inspection on one horizontal line according to the present invention, the inspection can be made at a low cost within a short time.
이상으로, 본 발명을 바람직한 실시예를 중심으로 살펴보았으나, 이 분야의 당업자라면, 본 발명이 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않는 한도에서 변경될 수 있음을 이해할 것이다. 즉, 본 발명은 첨부된 청구 범위 내에서 변경 가능하므로, 전술한 예시적인 실시예로 제한되는 것으로 간주되어서는 안 된다.While the present invention has been described with reference to the preferred embodiments, those skilled in the art will understand that the present invention may be modified without departing from the spirit and scope of the invention. In other words, the present invention may be modified within the scope of the appended claims and should not be considered as being limited to the above-described exemplary embodiments.
Claims (4)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030004739A KR20040067559A (en) | 2003-01-24 | 2003-01-24 | Apparatus and method for testing the operation state of main board in an lcd monitor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030004739A KR20040067559A (en) | 2003-01-24 | 2003-01-24 | Apparatus and method for testing the operation state of main board in an lcd monitor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20040067559A true KR20040067559A (en) | 2004-07-30 |
Family
ID=37357075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020030004739A KR20040067559A (en) | 2003-01-24 | 2003-01-24 | Apparatus and method for testing the operation state of main board in an lcd monitor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20040067559A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101308648B (en) * | 2007-05-15 | 2010-06-02 | 冠捷投资有限公司 | Method of automatic test display apparatus and system thereof |
| KR101294334B1 (en) * | 2012-06-05 | 2013-08-08 | 이영재 | Apparatus for testing without display panel the control pcb for display unit, and the method therefor |
-
2003
- 2003-01-24 KR KR1020030004739A patent/KR20040067559A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101308648B (en) * | 2007-05-15 | 2010-06-02 | 冠捷投资有限公司 | Method of automatic test display apparatus and system thereof |
| KR101294334B1 (en) * | 2012-06-05 | 2013-08-08 | 이영재 | Apparatus for testing without display panel the control pcb for display unit, and the method therefor |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6323828B1 (en) | Computer video output testing | |
| US7702703B2 (en) | Determination apparatus and determination method | |
| KR100945369B1 (en) | Apparatus for testing display and method for testing the same | |
| KR100341919B1 (en) | Apparatus for diagnosing of video signals in a liquid crystal display | |
| KR102020981B1 (en) | Display Device Included Touch Screen and Method for Inspect The Touch Screen | |
| KR970056992A (en) | Color linear CD (CCD) image device and driving method thereof | |
| KR20040067559A (en) | Apparatus and method for testing the operation state of main board in an lcd monitor | |
| KR100352508B1 (en) | Apparatus of self test and error check of LED display | |
| KR101552826B1 (en) | Test system for fail of display pane | |
| KR100976556B1 (en) | Testing Apparatus for Timing Controller And Testing Method Using The Same | |
| KR20000046767A (en) | Checking device of liquid crystal display module | |
| KR100674239B1 (en) | Detector for LCD module | |
| CN114664268B (en) | Horizontal crosstalk elimination method, common electrode voltage adjustment system and display device | |
| KR19980082202A (en) | Display method for video board inspection | |
| CN111414282B (en) | Data ordering conversion device and display testing system and testing method applying same | |
| KR950013336B1 (en) | Cable tester | |
| JP2005315776A (en) | Display defects detection method for flat-panel display device | |
| KR100674026B1 (en) | Method of detecting a board and apparatus for performing the same | |
| JPH11237847A (en) | Automatic checking device for liquid crystal panel | |
| CN106054418B (en) | LCD detection method and detection device | |
| KR20090049798A (en) | System for inspecting lcd driving module | |
| GB2334652A (en) | Apparatus and method for checking for defects in serial communication devices | |
| KR20050104778A (en) | Method for monitoring automatically key input and lcd display | |
| KR970056092A (en) | Automatic test apparatus for wireless equipment and its control method | |
| KR100870939B1 (en) | Testing device and method thereof |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |