KR20040040636A - Liquid Crystal Display Panel And Fabricating Method Thereof - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A liquid crystal display and a manufacturing method thereof are provided to enable a spacer and an electrode pattern positioned at a non-display region simultaneously to be formed. CONSTITUTION: A lower substrate(51) of the liquid crystal display comprises a TFT(T) positioned at the crossing portion of a data line(54) and a gate line(52). A pixel electrode(72) is connected to a drain electrode(60) of the TFT(T). A storage capacitor(SC) is positioned at a superposed portion of the pixel electrode(72) and the gate line(52). A gate pad portion(GP) and a data pad portion(DP) are formed at a side of the data line(54) and the gate line(52). A spacer(76) is formed superposedly to the pixel electrode(72) positioned at the non-display region.

Description

액정표시패널 및 그 제조방법{Liquid Crystal Display Panel And Fabricating Method Thereof}Liquid Crystal Display Panel And Fabrication Method Thereof

본 발명은 액정표시패널에 관한 것으로, 특히 비표시영역에 위치하는 전극패턴과 동시에 스페이서를 형성할 수 있는 액정표시패널 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display panel, and more particularly, to a liquid crystal display panel capable of forming a spacer simultaneously with an electrode pattern positioned in a non-display area, and a manufacturing method thereof.

통상, 액정표시소자(Liquid Crystal Display; LCD)는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상이 표시된다. 이를 위하여, 액정표시소자는 액정셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정표시패널과, 이 액정표시패널을 구동하기 위한 구동회로를 구비하게 된다. 액정표시패널에는 액정셀들 각각에 전계를 인가하기 위한 화소전극들과 기준전극, 즉 공통전극이 마련되게 된다. 통상, 화소전극은 하부기판 상에 액정셀별로 형성되는 반면 공통전극은 상부기판의 전면에 일체화되어 형성된다. 화소전극들 각각은 스위칭소자로 사용되는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하 "TFT"라 함)에 접속된다. 화소전극은 TFT를 통해 공급되는 데이터신호에 따라 공통전극과 함께 액정셀이 구동된다.In general, a liquid crystal display (LCD) displays an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal using an electric field. To this end, the liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel in which liquid crystal cells are arranged in a matrix, and a driving circuit for driving the liquid crystal display panel. The liquid crystal display panel is provided with pixel electrodes and a reference electrode, that is, a common electrode, for applying an electric field to each of the liquid crystal cells. In general, the pixel electrode is formed for each liquid crystal cell on the lower substrate, while the common electrode is integrally formed on the front surface of the upper substrate. Each of the pixel electrodes is connected to a thin film transistor (hereinafter referred to as "TFT") used as a switching element. The liquid crystal cell is driven along with the common electrode in accordance with the data signal supplied through the TFT.

도 1을 참조하면, 종래의 액정표시패널은 상부기판(31) 상에 순차적으로 형성된 블랙매트릭스(2)와 칼라필터(30), 공통전극(28) 및 상부배향막(24a)으로 구성되는 상판과, 하부기판(1) 상에 형성된 TFT, 화소전극(22) 및 하부배향막(24b)으로 구성되는 하판과, 상판과 하판 사이에 형성되는 패턴스페이서(26)와, 상판 및 하판과 패턴스페이서(26)에 의해 마련된 내부공간에 주입되는 액정(도시하지 않음)을 구비한다.Referring to FIG. 1, a liquid crystal display panel according to the related art includes a top plate including a black matrix 2, a color filter 30, a common electrode 28, and an upper alignment layer 24a sequentially formed on an upper substrate 31. , A lower plate composed of a TFT formed on the lower substrate 1, a pixel electrode 22, and a lower alignment layer 24b, a pattern spacer 26 formed between the upper plate and the lower plate, the upper plate, the lower plate, and the pattern spacer 26. Liquid crystal (not shown) is injected into the inner space provided by the).

상판에서 블랙매트릭스(2)는 상부기판(31) 상에 매트릭스 형태로 형성되어 상부기판(31)의 표면을 칼라필터(30)들이 형성되어질 다수의 셀영역들로 나눔과 아울러 인접 셀간의 광간섭을 방지하는 역할을 하게 된다. 이 블랙매트릭스(2)가 형성된 상부기판(31) 상에 적, 녹, 청 삼원색의 칼라필터(30)들이 순차적으로 형성된다. 블랙매트릭스(2) 및 칼라필터(30)가 형성된 상부기판(31) 상에 그라운드 전위가 공급되는 공통전극(28)을 형성한다. 공통전극(28)이 형성된 상부기판(31) 상에 폴리이미드등과 같은 물질을 도포한 후 러빙공정을 수행함으로써 상부배향막(24a)이 형성된다.In the upper plate, the black matrix 2 is formed in a matrix form on the upper substrate 31 to divide the surface of the upper substrate 31 into a plurality of cell regions in which the color filters 30 are to be formed, as well as optical interference between adjacent cells. It will act to prevent. On the upper substrate 31 on which the black matrix 2 is formed, color filters 30 of red, green, and blue primary colors are sequentially formed. The common electrode 28 to which the ground potential is supplied is formed on the upper substrate 31 on which the black matrix 2 and the color filter 30 are formed. The upper alignment layer 24a is formed by applying a material such as polyimide onto the upper substrate 31 on which the common electrode 28 is formed and then performing a rubbing process.

하판에서 액정셀의 구동을 스위칭하는 TFT는 게이트라인(도시하지 않음)에 연결된 게이트전극(6), 데이터라인(도시하지 않음)에 연결된 소스전극(8) 및 접촉홀을 통해 화소전극(22)에 접속된 드레인전극(10)을 구비한다. 또한, TFT는 게이트전극(6)과 소스전극(8) 및 드레인 전극(10)의 절연을 위한 게이트절연막(12)과, 게이트전극(6)에 공급되는 게이트전압에 의해 소스전극(8)과 드레인전극(10)간에 도통채널을 형성하기 위한 반도체층(14,16)을 더 구비한다. 이러한 TFT는 게이트라인으로부터의 게이트신호에 응답하여 데이터라인으로부터의 데이터신호를 선택적으로 화소전극(22)에 공급한다. 화소전극(22)은 데이터라인과 게이트라인에 의해 분할된 셀영역에 위치하며 광투과율이 높은 투명전도성물질로 이루어진다. 화소전극(22)은 하부기판(1) 전면에 도포되는 보호막(18) 위에 형성되며, 보호막(18)에 형성된 접촉홀을 통해 드레인전극(10)과 전기적으로 접속된다. 화소전극(22)이 형성된 하부기판(1) 상에 패턴스페이서(26)가 형성된다. 패턴스페이서(26)는 상판과하판 사이에 액정(도시하지 않음)을 주입할 수 있는 공간을 마련하는 역할을 하게 된다. 이 패턴스페이서(26)와 화소전극(22)을 덮도록 하부 배향막(24b)이 형성된다.The TFT for switching the driving of the liquid crystal cell on the lower plate includes the gate electrode 6 connected to the gate line (not shown), the source electrode 8 connected to the data line (not shown), and the pixel electrode 22 through the contact hole. And a drain electrode 10 connected to it. Further, the TFT is formed by the gate insulating film 12 for insulating the gate electrode 6, the source electrode 8, and the drain electrode 10, and the source electrode 8 by the gate voltage supplied to the gate electrode 6; The semiconductor layers 14 and 16 are further provided to form a conductive channel between the drain electrodes 10. This TFT selectively supplies the data signal from the data line to the pixel electrode 22 in response to the gate signal from the gate line. The pixel electrode 22 is formed of a transparent conductive material having a high light transmittance and positioned in a cell region divided by a data line and a gate line. The pixel electrode 22 is formed on the passivation layer 18 coated on the entire surface of the lower substrate 1, and is electrically connected to the drain electrode 10 through a contact hole formed in the passivation layer 18. The pattern spacer 26 is formed on the lower substrate 1 on which the pixel electrode 22 is formed. The pattern spacer 26 serves to provide a space for injecting liquid crystal (not shown) between the upper plate and the lower plate. The lower alignment layer 24b is formed to cover the pattern spacer 26 and the pixel electrode 22.

끝으로, 전술한 바와 같이 별도로 만들어진 상판과 하판을 정위치시켜 합착한 후 패턴스페이서(26)에 의해 마련된 액정공간에 액정을 주입하여 봉지함으로써 액정표시소자를 완성하게 된다.Finally, the upper and lower plates made separately as described above are bonded to each other, and then the liquid crystal is injected into and sealed in the liquid crystal space provided by the pattern spacer 26 to complete the liquid crystal display device.

이러한 종래 패턴스페이서의 제조방법을 도 2a 내지 도 2d를 결부하여 설명하기로 한다.A conventional method for manufacturing a pattern spacer will be described with reference to FIGS. 2A to 2D.

먼저, 기판(11) 상에 도 2a에 도시된 바와 같이 용매, 바인더, 모노머(monomer), 광개시제(photoinitiator)를 혼합한 물질을 인쇄하고 건조하면 용매가 증발되어 바인더, 모노머 및 광개시제가 혼합된 스페이서물질(26a)이 형성된다. 여기서, 기판(11)은 TFT와 화소전극이 형성된 하부기판 및 공통전극이 형성된 상부기판 중 적어도 어느 하나를 이용한다.First, as shown in FIG. 2A, a material mixed with a solvent, a binder, a monomer, and a photoinitiator is printed and dried on the substrate 11, and then the solvent is evaporated to form a spacer in which the binder, the monomer, and the photoinitiator are mixed. Material 26a is formed. Here, the substrate 11 uses at least one of a lower substrate on which a TFT and a pixel electrode are formed and an upper substrate on which a common electrode is formed.

스페이서물질(26a)이 형성된 기판(11) 상에 포토레지스트(32)를 도포한 후, 도 2b에 도시된 바와 같이 포토마스크(MS)가 정렬된다. 포토마스크(MS)는 차단영역(S1)에 형성되는 차단층(36)과, 노광영역(S2)에 형성되는 투과층을 구비한다. 포토마스크(MS)는 노광영역(S2)에서 투명한 포토마스크기판(34)이 그대로 노출된다. 이러한 포토마스크(MS)를 이용하여 자외선광을 포토레지스트(32)에 선택적으로 조사하는 노광공정과 노광된 포토레지스트를 현상하는 현상공정을 실행하여 도 2c에 도시된 바와 같이 포토레지스트패턴(38)을 형성한다. 이포토레지스트패턴(38)을 마스크로 이용한 식각공정으로 스페이서물질(26a)이 패터닝됨으로써 도 2d에 도시된 바와 같이 소정 높이를 갖는 패턴스페이서(26)가 형성된다.After applying the photoresist 32 on the substrate 11 on which the spacer material 26a is formed, the photomask MS is aligned as shown in FIG. 2B. The photomask MS includes a blocking layer 36 formed in the blocking region S1 and a transmission layer formed in the exposure region S2. In the photomask MS, the transparent photomask substrate 34 is exposed as it is in the exposure area S2. By using the photomask MS, an exposure step of selectively irradiating the ultraviolet light to the photoresist 32 and a developing step of developing the exposed photoresist are performed, as shown in FIG. 2C. To form. The spacer material 26a is patterned by an etching process using the photoresist pattern 38 as a mask to form a pattern spacer 26 having a predetermined height as shown in FIG. 2D.

종래 액정표시소자의 패턴스페이서(26)는 기판(1,31)의 면적에 약 2%를 차지하고 있다. 이 패턴스페이서(26)를 형성하기 위해 기판(1,31) 상에 전면 인쇄된 스페이서물질(26a)은 노광, 현상 및 식각공정을 거치면서 약 95%이상이 제거될만큼 재료비 및 제조비가 많이 든다. 또한, 패턴스페이서(26)를 형성하기 위한 인쇄, 노광, 현상, 식각공정 등의 공정이 복잡한 문제점이 있다.The pattern spacer 26 of the conventional liquid crystal display device occupies about 2% of the area of the substrates 1 and 31. The spacer material 26a printed on the substrates 1 and 31 on the substrate 1 and 31 to form the pattern spacer 26 has a high material cost and a manufacturing cost such that more than about 95% of the spacer material 26a is removed during the exposure, development, and etching processes. . In addition, a process such as printing, exposure, development, and etching processes for forming the pattern spacer 26 is complicated.

이러한 문제점을 해결하기 위해, 도 3a 내지 도 3c에 도시된 바와 같이 잉크젯 분사장치를 이용하여 스페이서를 형성하였다.In order to solve this problem, as shown in FIGS. 3A to 3C, a spacer is formed by using an inkjet ejection apparatus.

스페이서의 형성위치와 중첩되게 기판(11) 상에는 도 3a에 도시된 바와 같이 잉크젯 분사장치(40)가 정렬된다. 여기서, 기판(11)은 TFT 및 화소전극이 형성된 하부기판(1) 및 공통전극이 형성된 상부기판(31) 중 적어도 어느 하나를 이용한다.The inkjet ejection apparatus 40 is aligned on the substrate 11 so as to overlap with the formation position of the spacer, as shown in FIG. 3A. The substrate 11 uses at least one of the lower substrate 1 on which the TFT and the pixel electrode are formed and the upper substrate 31 on which the common electrode is formed.

이러한 잉크젯 분사장치(40)를 이용하여 도 3b에 도시된 바와 같이 스페이서물질(26a)이 기판(11) 상에 분사된다. 즉, 잉크젯헤드(44)의 압전소자에 전압이 인가되면 물리적인 압력이 발생되어 스페이서물질(26a)이 담긴 용기(42)와 노즐(46) 사이의 유로가 수축, 이완을 반복하는 현상에 의해 스페이서물질(26a)이 노즐(46)을 통해 기판(11) 상에 분사된다.Using this inkjet ejection apparatus 40, a spacer material 26a is ejected onto the substrate 11 as shown in FIG. 3B. That is, when voltage is applied to the piezoelectric element of the inkjet head 44, a physical pressure is generated, and the flow path between the container 42 containing the spacer material 26a and the nozzle 46 is contracted and relaxed. Spacer material 26a is sprayed onto the substrate 11 through the nozzle 46.

스페이서물질(26a)이 노즐(46)을 통해 분사되어 형성된 스페이서(26)는 도 3c에 도시된 바와 같이 광원(48)에 의해 자외선에 노출되거나 열에 의한 소성과정을 거쳐 일정폭(W)과 높이(H)를 갖게 된다.The spacer 26 formed by spraying the spacer material 26a through the nozzle 46 is exposed to ultraviolet rays by the light source 48 or calcined by heat, as shown in FIG. 3C. Will have (H).

종래 잉크젯 방식으로 형성되는 스페이서(26)는 점도가 낮은 상태에서 노즐을 통해 기판(11)으로 떨어지면서 중력을 받게 된다. 이에 따라, 블랙매트릭스(2)와 중첩되게 형성되어야 하는 스페이서(26)가 기판(11) 상에 안착될 때 넓게 퍼지게 된다. 즉, 기판(11) 상에 안착되는 스페이서(26)는 높이/퍼짐폭의 비가 작아져 스페이서(26)는 블랙매트릭스(2)와 중첩되지 않는 표시영역에 형성되어 표시영역 상에 얼룩으로 보이는 문제점이 있다.The spacer 26 formed by the conventional inkjet method is subjected to gravity while falling to the substrate 11 through the nozzle in a state of low viscosity. Accordingly, the spacers 26, which should be formed to overlap with the black matrix 2, are widely spread when they are seated on the substrate 11. That is, the spacer 26 seated on the substrate 11 has a small height / spread width ratio, so that the spacer 26 is formed in a display area that does not overlap with the black matrix 2 and appears to be uneven on the display area. There is this.

따라서, 본 발명의 목적은 비표시영역에 위치하는 전극패턴과 동시에 스페이서를 형성할 수 있는 액정표시패널 및 그 제조방법을 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display panel and a method of manufacturing the same, which can form a spacer simultaneously with an electrode pattern positioned in a non-display area.

도 1은 종래의 액정표시패널을 나타내는 단면도.1 is a cross-sectional view showing a conventional liquid crystal display panel.

도 2a 내지 도 2d는 도 1에 도시된 패턴스페이서의 제조방법을 나타내는 단면도.2A to 2D are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the pattern spacer shown in FIG. 1.

도 3a 내지 도 3c은 종래의 잉크젯을 이용한 스페이서의 제조방법을 나타내는 도면.3A to 3C illustrate a method of manufacturing a spacer using a conventional inkjet.

도 4는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 평면도.4 is a plan view illustrating a lower substrate of a liquid crystal display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도 5는 도 4에서 선"Ⅰ-Ⅰ'"를 따라 절취한 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 단면도.FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a lower substrate of the liquid crystal display panel taken along the line "I-I '" in FIG.

도 6은 도 4에 도시된 하부기판과 대면되게 위치하는 상부기판 상에 형성되는 블랙매트릭스를 나타내는 평면도.6 is a plan view illustrating a black matrix formed on an upper substrate positioned to face the lower substrate illustrated in FIG. 4.

도 7a 내지 도 7e는 도 6에 도시된 액정표시패널의 하부기판의 제조방법을 나타내는 단면도.7A to 7E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a lower substrate of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 6.

도 8a 내지 도 8d는 도 7e에 도시된 스페이서의 제조방법을 상세히 나타내는단면도.8A to 8D are cross-sectional views illustrating in detail a method of manufacturing the spacer shown in FIG. 7E.

도 9는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 평면도.9 is a plan view illustrating a lower substrate of a liquid crystal display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 10은 도 9에서 선"Ⅱ-Ⅱ'"를 따라 절취한 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 단면도.FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a lower substrate of the liquid crystal display panel taken along the line " II-II '"

도 11a 내지 도 11e는 도 10에 도시된 액정표시패널의 하부기판의 제조방법을 나타내는 단면도.11A through 11E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a lower substrate of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 10.

도 12a 내지 도 12d는 도 11c에 도시된 스페이서의 제조방법을 상세히 나타내는 단면도.12A to 12D are cross-sectional views illustrating in detail a method of manufacturing the spacer illustrated in FIG. 11C.

〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>

1,31,51 : 기판 2,102 : 블랙매트릭스1,31,51: Substrate 2,102: Black Matrix

6,56 : 게이트전극8,58 : 소스전극6,56 gate electrode 8,58 source electrode

10,60 : 드레인전극12,62 : 게이트절연막10,60 drain electrode 12,62 gate insulating film

14,64 : 활성층16,66 : 오믹접촉층14,64: active layer 16,66: ohmic contact layer

18,68 : 보호층22,72 : 화소전극18,68 protective layer 22,72 pixel electrode

26,76 : 스페이서28 : 공통전극26, 76: spacer 28: common electrode

30 : 컬러필터30: color filter

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정표시패널은 블랙매트릭스를 갖는 상부기판과, 블랙매트릭스와 중첩되게 형성되는 스토리지전극과 스토리지전극과 일부 중첩되게 형성되는 화소전극을 갖는 하부기판과, 블랙매트릭스와 중첩되는 상기 화소전극 및 상기 스토리지전극 중 적어도 어느 하나와 동시에 형성되는 스페이서를 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the liquid crystal display panel according to the present invention, the upper substrate having a black matrix, the lower substrate having a storage electrode formed to overlap with the black matrix and a pixel electrode formed to partially overlap the storage electrode, and black And a spacer formed simultaneously with at least one of the pixel electrode and the storage electrode overlapping the matrix.

상기 하부기판 상에는 스토리지전극과 중첩되게 형성되는 게이트라인과, 게이트라인과 교차되게 형성되는 데이터라인과, 게이트라인과 데이터라인의 교차부에형성되는 박막트랜지스터와, 박막트랜지스터의 드레인전극과 접속되는 화소전극을 구비하는 것을 특징으로 한다.A gate line formed to overlap the storage electrode, a data line formed to cross the gate line, a thin film transistor formed at an intersection of the gate line and the data line, and a pixel connected to the drain electrode of the thin film transistor on the lower substrate; It is characterized by including an electrode.

상기 화소전극은 스토리전극과 접촉되는 것을 특징으로 한다.The pixel electrode is in contact with the story electrode.

상기 스페이서는 상기 화소전극의 일측과 중첩되게 형성되는 것을 특징으로 한다.The spacers may be formed to overlap one side of the pixel electrode.

상기 스페이서는 스토리지전극의 일측과 중첩되게 형성되는 것을 특징으로 한다.The spacer is formed to overlap one side of the storage electrode.

상기 스페이서는 광에 반응하는 물질로 형성되는 것을 특징으로 한다.The spacer may be formed of a material reacting to light.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정표시패널의 제조방법은 블랙매트릭스를 갖는 상부기판을 마련하는 단계와, 상부기판과 대면되는 하부기판 상에 상기 투명금속층을 증착하는 단계와, 블랙매트릭스와 일부 중첩되는 상기 투명금속층 상에 스페이서물질을 잉크젯방식으로 분사하는 단계와, 투명금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하여 화소전극을 형성함과 동시에 화소전극의 일측과 동일한 패턴을 갖는 스페이서를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a method of manufacturing a liquid crystal display panel according to the present invention comprises the steps of preparing an upper substrate having a black matrix, depositing the transparent metal layer on a lower substrate facing the upper substrate, black matrix And spraying a spacer material on the transparent metal layer partially overlapping with each other by an inkjet method, and simultaneously forming a pixel electrode by simultaneously patterning the transparent metal layer and the spacer material and forming a spacer having the same pattern as one side of the pixel electrode. Characterized in that it comprises a.

상기 스페이서물질은 광에 반응하는 물질인 것을 특징으로 한다.The spacer material is characterized in that the material that reacts to light.

상기 투명금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하는 단계는 투명금속층과 스페이서물질을 덮도록 포토레지스트를 형성하는 단계와, 포토레지스트가 형성된 하부기판을 노광 및 현상하여 포토레지스트패턴과 스페이서패턴을 형성하는 단계와, 포토레지스트패턴을 이용하여 상기 투명금속층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.Patterning the transparent metal layer and the spacer material at the same time includes forming a photoresist to cover the transparent metal layer and the spacer material, and exposing and developing a lower substrate on which the photoresist is formed to form a photoresist pattern and a spacer pattern; And etching the transparent metal layer using a photoresist pattern.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 액정표시패널의 제조방법은 블랙매트릭스를 갖는 상부기판을 마련하는 단계와, 상부기판과 대면되는 하부기판 상에 데이터금속층을 증착하는 단계와, 데이터금속층 상에 상기 블랙매트릭스와 중첩되도록 스페이서물질을 잉크젯방식으로 분사하는 단계와, 데이터금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하여 스토리지전극을 형성함과 동시에 스토리지전극의 일측과 동일 패턴을 갖는 스페이서를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a method of manufacturing a liquid crystal display panel according to another embodiment of the present invention comprises the steps of providing an upper substrate having a black matrix, and depositing a data metal layer on the lower substrate facing the upper substrate; Spraying a spacer material on the data metal layer by an inkjet method so as to overlap the black matrix, and simultaneously patterning the data metal layer and the spacer material to form a storage electrode and forming a spacer having the same pattern as one side of the storage electrode. Characterized in that it comprises a step.

상기 스페이서물질은 광에 반응하는 물질인 것을 특징으로 한다.The spacer material is characterized in that the material that reacts to light.

상기 데이터금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하는 단계는 데이터금속층과 스페이서물질을 덮도록 포토레지스트를 형성하는 단계와, 포토레지스트가 형성된 하부기판을 노광 및 현상하여 포토레지스트패턴과 스페이서패턴을 형성하는 단계와, 포토레지스트패턴을 이용하여 상기 투명금속층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The patterning of the data metal layer and the spacer material at the same time may include forming a photoresist to cover the data metal layer and the spacer material, exposing and developing a lower substrate on which the photoresist is formed, to form a photoresist pattern and a spacer pattern; And etching the transparent metal layer using a photoresist pattern.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시 예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and features of the present invention in addition to the above objects will be apparent from the description of the embodiments with reference to the accompanying drawings.

이하, 도 4 내지 도 12d를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 4 through 12D.

도 4는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 평면도이며, 도 5는 도 4에 도시된 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 단면도이다.4 is a plan view illustrating a lower substrate of the liquid crystal display panel according to the first exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a lower substrate of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 4.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 액정표시패널의 하부기판(51)은 데이터라인(54)과 게이트라인(52)의 교차부에 위치하는 TFT(T)와, TFT(T)의 드레인전극(60)에 접속되는 화소전극(72)과, 화소전극(72)과 게이트라인(52)과의 중첩부분에 위치하는 스토리지 캐패시터(SC)와, 데이터라인(54) 및 게이트라인(52)의 일측단에 형성되는 게이트패드부(GP) 및 데이터패드부(DP)와, 비표시영역에 위치하는 화소전극(72)과 중첩되게 형성되는 스페이서(76)를 구비한다.4 and 5, the lower substrate 51 of the liquid crystal display panel according to the first embodiment of the present invention may include a TFT (T) positioned at an intersection of the data line 54 and the gate line 52. The pixel electrode 72 connected to the drain electrode 60 of the TFT (T), the storage capacitor SC located at an overlapping portion of the pixel electrode 72 and the gate line 52, and the data line 54. ) And a gate pad portion GP and a data pad portion DP formed at one end of the gate line 52, and a spacer 76 formed to overlap the pixel electrode 72 positioned in the non-display area. do.

TFT(T)는 게이트라인(52)에 접속된 게이트전극(56), 데이터라인(54)에 접속된 소스전극(58) 및 드레인접촉홀(70a)을 통해 화소전극(72)에 접속된 드레인전극(60)을 구비한다. 또한, TFT(T)는 게이트전극(56)에 공급되는 게이트전압에 의해 소스전극(58)과 드레인전극(60)간에 도통채널을 형성하기 위한 반도체층들(64,66)을 더 구비한다. 이러한 TFT(T)는 게이트라인(52)으로부터의 게이트신호에 응답하여 데이터라인(54)으로부터의 데이터신호를 선택적으로 화소전극(72)에 공급한다.The TFT T is a drain electrode connected to the pixel electrode 72 through the gate electrode 56 connected to the gate line 52, the source electrode 58 connected to the data line 54, and the drain contact hole 70a. An electrode 60 is provided. In addition, the TFT (T) further includes semiconductor layers 64 and 66 for forming a conductive channel between the source electrode 58 and the drain electrode 60 by the gate voltage supplied to the gate electrode 56. The TFT T selectively supplies the data signal from the data line 54 to the pixel electrode 72 in response to the gate signal from the gate line 52.

화소전극(72)은 데이터라인(54)과 게이트라인(52)에 의해 분할된 셀 영역에 위치하며 광투과율이 높은 투명전도성물질로 이루어진다. 화소전극(72)은 기판(51) 전면에 도포되는 보호층(68) 상에 형성되며, 보호층(68)을 관통하는 드레인접촉홀(70a)을 통해 드레인전극(60)과 전기적으로 접속된다. 이러한 화소전극(72)은 TFT(T)를 경유하여 공급되는 데이터신호에 의해 상부기판(도시하지 않음)에 형성되는 공통전극(도시하지 않음)과 전위차를 발생시키게 된다. 이 전위차에 의해 하부기판(51)과 상부기판(도시하지 않음) 사이에 위치하는 액정은 유전율이방성에 기인하여 회전하게 된다. 이렇게 회전되는 액정에 의해 광원으로부터 화소전극(72)을 경유하여 상부기판 쪽으로 투과되는 광량이 조절된다.The pixel electrode 72 is formed in a cell region divided by the data line 54 and the gate line 52 and is made of a transparent conductive material having high light transmittance. The pixel electrode 72 is formed on the protective layer 68 coated on the entire surface of the substrate 51, and is electrically connected to the drain electrode 60 through the drain contact hole 70a penetrating through the protective layer 68. . The pixel electrode 72 generates a potential difference from a common electrode (not shown) formed on the upper substrate (not shown) by the data signal supplied through the TFT (T). Due to this potential difference, the liquid crystal located between the lower substrate 51 and the upper substrate (not shown) rotates due to the dielectric anisotropy. The amount of light transmitted from the light source to the upper substrate through the pixel electrode 72 is adjusted by the rotated liquid crystal.

스토리지 캐패시터(SC)는 화소전극(72)의 전압변동을 억제하는 역할을 하게 된다. 이러한 스토리지 캐패시터(SC)는 게이트라인(52)과, 게이트절연막(62)을 사이에 두고 형성되는 스토리지전극(74)으로 형성된다. 이 스토리지전극(74)은 스토리지접촉홀(70b)을 통해 화소전극(72)과 전기적으로 접촉된다.The storage capacitor SC serves to suppress voltage fluctuation of the pixel electrode 72. The storage capacitor SC is formed of a storage electrode 74 formed with a gate line 52 and a gate insulating layer 62 interposed therebetween. The storage electrode 74 is in electrical contact with the pixel electrode 72 through the storage contact hole 70b.

게이트패드부(GP) 및 데이터패드부(DP)는 게이트라인(52)과 데이터라인(54) 각각의 일측단에 위치되어 구동 집적회로(Integrated Circuit ;IC)와 접속된다. 이 게이트패드부(GP)는 TFT(T)를 제어하기 위한 게이트신호를 게이트라인(52)에 공급하고, 데이터패드부(DP)는 TFT(T)를 제어하기 위한 데이터신호를 데이터라인(54)에 공급한다.The gate pad part GP and the data pad part DP are positioned at one end of each of the gate line 52 and the data line 54 to be connected to a driving integrated circuit (IC). The gate pad part GP supplies a gate signal for controlling the TFT T to the gate line 52, and the data pad part DP supplies a data signal for controlling the TFT T to the data line 54. Supplies).

게이트패드(82)는 게이트접촉홀(70c)을 통해 게이트보호전극(86)과 전기적으로 접촉되며, 데이터패드(78)는 데이터접촉홀(70d)을 통해 데이터보호전극(80)과 전기적으로 접촉된다.The gate pad 82 is in electrical contact with the gate protection electrode 86 through the gate contact hole 70c, and the data pad 78 is in electrical contact with the data protection electrode 80 through the data contact hole 70d. do.

스페이서(76)는 도 6에 도시된 상부기판(도시하지 않음) 상에 형성되는 블랙매트릭스(102)와 일부 중첩되는 화소전극(72) 상에 화소전극(72)과 동시에 형성된다. 예를 들어, 스페이서(76)는 스토리지캐패시터(SC)를 이루는 화소전극(72) 상에 게이트라인(52) 및 스토리지전극(74) 중 적어도 어느 하나와 중첩되게 형성된다. 화소전극(72)과 동시에 형성되는 스페이서(76)는 화소전극(72)의 일측과 동일패턴으로 형성된다. 이 때, 스페이서(76)의 폭은 블랙매트릭스(102)이 폭보다 작거나 같게 형성된다. 이러한 스페이서(76)는 하부기판(51)과 상부기판과의 셀갭을 유지하는 역할을 하게 된다.The spacer 76 is formed simultaneously with the pixel electrode 72 on the pixel electrode 72 partially overlapping with the black matrix 102 formed on the upper substrate (not shown) shown in FIG. 6. For example, the spacer 76 is formed to overlap at least one of the gate line 52 and the storage electrode 74 on the pixel electrode 72 forming the storage capacitor SC. The spacer 76 formed at the same time as the pixel electrode 72 is formed in the same pattern as one side of the pixel electrode 72. At this time, the width of the spacer 76 is formed such that the black matrix 102 is smaller than or equal to the width. The spacer 76 serves to maintain a cell gap between the lower substrate 51 and the upper substrate.

이러한 액정표시패널의 하부기판의 제조방법을 도 4에서 선"Ⅰ-Ⅰ'"를 따라 절취한 도 7a 내지 도 7e를 결부하여 설명하기로 한다.A method of manufacturing the lower substrate of the liquid crystal display panel will be described with reference to FIGS. 7A to 7E taken along the line "I-I '" in FIG. 4.

도 7a를 참조하면, 하부기판(51) 상에 게이트전극(56), 게이트라인(52) 및 게이트패드(82)를 포함하는 게이트패턴이 형성된다.Referring to FIG. 7A, a gate pattern including a gate electrode 56, a gate line 52, and a gate pad 82 is formed on the lower substrate 51.

하부기판(51) 상에 스퍼터링(sputtering) 등의 증착방법으로 게이트금속층이 증착된다. 게이트금속층은 알루미늄(Al) 또는 알루미늄합금 등으로 이루어진다. 게이트금속층이 제1 마스크를 이용하여 식각공정을 포함하는 포토리쏘그래피 공정으로 패터닝됨으로써 게이트라인(52), 게이트전극(56) 및 게이트패드(82)를 포함하는 게이트패턴이 형성된다.The gate metal layer is deposited on the lower substrate 51 by a deposition method such as sputtering. The gate metal layer is made of aluminum (Al) or aluminum alloy. The gate metal layer is patterned by a photolithography process including an etching process using a first mask to form a gate pattern including the gate line 52, the gate electrode 56, and the gate pad 82.

도 7b를 참조하면, 게이트패턴이 형성된 하부기판(51) 상에 게이트절연막(62)과 활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된다.Referring to FIG. 7B, the gate insulating layer 62, the active layer 64, and the ohmic contact layer 66 are formed on the lower substrate 51 on which the gate pattern is formed.

게이트절연막(62)은 무기절연물질인 산화실리콘(SiOx) 또는 질화실리콘(SiNx)이 사용된다. 게이트절연막(62)상에는 제1 및 제2 반도체층이 화학기상증착(Chemical Vapor Deposition) 방법으로 연속 증착된다. 제1 반도체층은 불순물이 도핑되지 않은 비정질실리콘으로 형성되며, 제2 반도체층은 N형 또는 P형의 불순물이 도핑된 비정질실리콘으로 형성된다. 이어서, 제1 및 제2 반도체층이 제2 마스크를 이용하여 건식식각(Dry Etching) 공정을 포함하는 포토리쏘그래피 방법으로 패터닝됨으로써 활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된다.As the gate insulating layer 62, silicon oxide (SiOx) or silicon nitride (SiNx), which is an inorganic insulating material, is used. First and second semiconductor layers are successively deposited on the gate insulating layer 62 by a chemical vapor deposition method. The first semiconductor layer is formed of amorphous silicon that is not doped with impurities, and the second semiconductor layer is formed of amorphous silicon doped with N or P impurities. Subsequently, the first and second semiconductor layers are patterned by a photolithography method including a dry etching process using a second mask to form the active layer 64 and the ohmic contact layer 66.

도 7c를 참조하면, 활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된 하부기판(51) 상에 데이터패턴이 형성된다.Referring to FIG. 7C, a data pattern is formed on the lower substrate 51 on which the active layer 64 and the ohmic contact layer 66 are formed.

활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된 게이트절연막(62) 상에 CVD방법 또는 스퍼터링(sputtering) 등의 증착방법으로 데이터금속층이 증착된다. 데이터금속층으로는 크롬(Cr) 또는 몰리브덴(Mo)등으로 형성된다. 이어서, 데이터금속층은 제3 마스크를 이용하여 습식식각 공정을 포함하는 포토리쏘그래피 공정으로 패터닝됨으로써 소스전극(58), 드레인전극(60), 스토리지전극(74), 데이터라인(54) 및 데이터패드를 포함하는 데이터패턴이 형성된다. 그 다음, 소스전극(58)과 드레인전극(60) 사이로 노출된 오믹접촉층(66)이 건식식각 공정으로 제거되어 소스전극(58)과 드레인전극(60)을 분리시킨다. 오믹접촉층(66)이 일부 제거됨으로써 활성층(64)에서 소스 및 드레인전극(58,60)사이의 게이트전극(56)과 중첩되는 부분은 채널이 된다.The data metal layer is deposited on the gate insulating layer 62 on which the active layer 64 and the ohmic contact layer 66 are formed by a deposition method such as a CVD method or sputtering. The data metal layer is formed of chromium (Cr) or molybdenum (Mo). Subsequently, the data metal layer is patterned by a photolithography process including a wet etching process by using a third mask, so that the source electrode 58, the drain electrode 60, the storage electrode 74, the data line 54 and the data pad are formed. A data pattern comprising a is formed. Next, the ohmic contact layer 66 exposed between the source electrode 58 and the drain electrode 60 is removed by a dry etching process to separate the source electrode 58 and the drain electrode 60. As the ohmic contact layer 66 is partially removed, a portion of the active layer 64 overlapping with the gate electrode 56 between the source and drain electrodes 58 and 60 becomes a channel.

도 7d를 참조하면, 데이터패턴이 형성된 하부기판(51) 상에 보호막(68)이 형성된다.Referring to FIG. 7D, a passivation layer 68 is formed on the lower substrate 51 on which the data pattern is formed.

보호막(68)은 데이터패턴이 형성된 하부기판(51) 상에 절연물질이 증착됨으로써 형성된다. 절연물질로는 질화실리콘(SiNx) 및 산화실리콘(SiOx) 등의 무기절연물질 또는 아크릴(Acryl)계 유기화합물, BCB(benzocyclobutene) 및 PFCB(perfluorocyclobutane) 등의 유기 절연물질 등이 이용된다. 이어서, 보호막(68)을 제4 마스크를 이용하여 식각공정을 포함하는 포토리쏘그래피공정으로패터닝함으로써 드레인접촉홀(70a), 스토리지접촉홀(70b), 게이트접촉홀(70c) 및 데이터접촉홀(70d)이 형성된다.The passivation layer 68 is formed by depositing an insulating material on the lower substrate 51 on which the data pattern is formed. As the insulating material, inorganic insulating materials such as silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx), or organic insulating materials such as acryl-based organic compounds, benzocyclobutene (BCB) and perfluorocyclobutane (PFCB) are used. Subsequently, the passivation layer 68 is patterned by a photolithography process including an etching process using a fourth mask to drain drain holes 70a, storage contact holes 70b, gate contact holes 70c and data contact holes ( 70d) is formed.

도 7e를 참조하면, 보호막(68)이 형성된 하부기판(51) 상에 화소전극(72), 게이트보호전극(86) 및 데이터보호전극을 포함하는 투명전극패턴과 스페이서(76)가 형성된다.Referring to FIG. 7E, a transparent electrode pattern and a spacer 76 including the pixel electrode 72, the gate protection electrode 86, and the data protection electrode are formed on the lower substrate 51 on which the passivation layer 68 is formed.

보호막(68)이 형성된 하부기판(51) 상에 스퍼터링(sputtering) 등과 같은 증착방법으로 투명금속층을 형성한다. 투명금속층은 인듐-틴-옥사이드(Indium-Tin-Oxide : 이하 "ITO"라 함), 인듐-징크-옥사이드(Indium-Zinc-Oxide : 이하 "IZO"라 함) 또는 인듐-틴-징크-옥사이드(Indium-Tin-Zinc-Oxide : 이하 "ITZO"라 함) 등으로 이루어진다. 이어서, 투명금속층 상에 잉크젯분사장치를 이용하여 블랙매트릭스와 일부 중첩되는 투명금속층 상에 감광성스페이서물질이 분사된다. 그런 다음, 투명금속층과 감광성스페이서물질이 제5 마스크를 이용하여 식각공정을 포함하는 포토리쏘그래피 공정으로 동시에 패터닝됨으로써 화소전극(72), 게이트보호전극(86) 및 데이터보호전극을 포함하는 투명전극패턴과 스페이서(76)가 형성된다. 화소전극(72)은 보호막(68)을 관통하는 드레인접촉홀(70a)을 통해 드레인전극(60)과 접속되며, 보호막(68)을 관통하는 스토리지접촉홀(70b)을 통해 스토리지전극(74)과 접속된다. 게이트보호전극(86)은 게이트절연막(62) 및 보호막(68)을 관통하는 게이트접촉홀(70c)을 통해 게이트패드(82)와 접속된다. 데이터보호전극은 보호막(68)을 관통하는 데이터접촉홀을 통해 데이터패드와 접속된다.The transparent metal layer is formed on the lower substrate 51 on which the passivation layer 68 is formed by a deposition method such as sputtering. The transparent metal layer may be indium tin oxide (hereinafter referred to as "ITO"), indium zinc oxide (hereinafter referred to as "IZO"), or indium tin oxide (hereinafter referred to as "IZO"). (Indium-Tin-Zinc-Oxide: hereafter referred to as "ITZO"). Subsequently, the photosensitive spacer material is sprayed onto the transparent metal layer partially overlapping with the black matrix using an inkjet spraying value on the transparent metal layer. Then, the transparent metal layer and the photosensitive spacer material are simultaneously patterned in a photolithography process including an etching process using a fifth mask, thereby providing a transparent electrode including a pixel electrode 72, a gate protection electrode 86, and a data protection electrode. Patterns and spacers 76 are formed. The pixel electrode 72 is connected to the drain electrode 60 through the drain contact hole 70a passing through the passivation layer 68, and the storage electrode 74 through the storage contact hole 70b passing through the passivation layer 68. Connected with. The gate protection electrode 86 is connected to the gate pad 82 through a gate contact hole 70c penetrating through the gate insulating film 62 and the protection film 68. The data protection electrode is connected to the data pad through the data contact hole penetrating the passivation layer 68.

도 8a 내지 도 8d는 도 7e에 도시된 투명전극패턴과 스페이서의 형성방법을 상세히 나타내는 단면도이다.8A to 8D are cross-sectional views illustrating in detail a method of forming the transparent electrode pattern and the spacer illustrated in FIG. 7E.

먼저, 보호막(68)이 형성된 하부기판(51) 상에 도 8a에 도시된 바와 같이 투명금속층(72a)이 전면 증착된다. 이 투명금속층(72a)이 전면 증착된 하부기판(51) 상부에 잉크젯분사장치(90)가 정렬된다. 이 잉크젯 분사장치(90)를 이용하여 게이트라인(52)과 중첩되는 투명금속층(72a)에 감광성 스페이서물질(76a)이 분사된 후 소프트베이킹(soft-baking)하게 된다. 여기서, 감광성 스페이서물질(76a)은 추후에 실행되는 스트립공정의 스트립액에 반응하지 않는 물질이다. 이러한 감광성스페이서물질(76a)이 안착된 하부기판(51) 상에 도 8b에 도시된 바와 같이 네거티브형 포토레지스트(96)가 전면 도포된다. 포토레지스트(96)는 광에 반응하지 않는 영역이 현상공정에서 제거되는 네거티브(negative)형 포토레지스트 대신에 광에 반응하는 영역이 현상공정에서 제거되는 포지티브(positive)형 포토레지스트를 이용할 수도 있다. 이러한 포토레지스트(96)가 전면 도포된 하부기판(51) 상에 제5 마스크인 포토마스크(MS)가 정렬된다. 여기서, 포토마스크(MS)는 차단영역(S1)에 형성되는 차단층(94)과, 노광영역(S2)에 형성되는 투과층을 구비한다. 투과층은 투명한 포토마스크기판(92)이 그대로 노출되게 형성된다.First, a transparent metal layer 72a is entirely deposited on the lower substrate 51 on which the passivation layer 68 is formed, as shown in FIG. 8A. The inkjet injection apparatus 90 is aligned on the lower substrate 51 on which the transparent metal layer 72a is entirely deposited. The photosensitive spacer material 76a is sprayed onto the transparent metal layer 72a overlapping the gate line 52 using the inkjet jet apparatus 90, and then soft-baked. Here, the photosensitive spacer material 76a is a material that does not react to the stripping liquid of a stripping process performed later. A negative photoresist 96 is entirely coated on the lower substrate 51 on which the photosensitive spacer material 76a is mounted, as shown in FIG. 8B. The photoresist 96 may use a positive photoresist in which a region reactive to light is removed in the development process instead of a negative photoresist in which the region not reacting to the light is removed in the developing process. The photomask MS, which is the fifth mask, is aligned on the lower substrate 51 on which the photoresist 96 is entirely coated. Here, the photomask MS includes a blocking layer 94 formed in the blocking region S1 and a transmission layer formed in the exposure region S2. The transparent layer is formed such that the transparent photomask substrate 92 is exposed as it is.

이 포토마스크(MS)를 이용한 노광공정으로 포토마스크(MS)의 노광영역(S2)을 통해 포토레지스트는 노광된 후 도 8c에 도시된 바와 같이 현상장치(98)에서 분사되는 현상액(100)으로 차단영역(S1)을 통해 차광된 포토레지스트와 감광성스페이서물질(76a)은 모두 제거된다. 노광영역(S2)을 통해 노광된 포토레지스트는 남게 되어 하부기판(51) 상에 포토레지스트패턴(88)으로 형성되며, 노광영역을 통해 노광된 감광성스페이서물질(76a)은 하부기판(51) 상에 스페이서패턴(76b)으로 형성된다. 이러한 현상공정 후 스페이서패턴(76b)을 소정온도로 하드베이킹(hard-baking)하게 된다.In the exposure process using the photomask MS, the photoresist is exposed through the exposure area S2 of the photomask MS to the developer 100 sprayed from the developing apparatus 98 as shown in FIG. 8C. Both the photoresist and the photosensitive spacer material 76a that are shielded through the blocking region S1 are removed. The photoresist exposed through the exposure area S2 remains and is formed as a photoresist pattern 88 on the lower substrate 51, and the photosensitive spacer material 76a exposed through the exposure area is formed on the lower substrate 51. Formed in the spacer pattern 76b. After the development process, the spacer pattern 76b is hard-baked at a predetermined temperature.

포토레지스트패턴(88)을 마스크로 투명금속층(72a)을 식각한 후 하부기판(51) 상에 잔존하는 포토레지스트패턴(88)을 제거하는 스트립공정을 실행함으로써 도 8d에 도시된 바와 같이 화소전극(72), 게이트보호전극(86) 및 스페이서(76)가 형성된다. 스페이서(76)는 블랙매트릭스와 중첩되는 화소전극(72) 상에 화소전극(72)과 동시에 형성된다.After etching the transparent metal layer 72a using the photoresist pattern 88 as a mask, a stripping process is performed to remove the photoresist pattern 88 remaining on the lower substrate 51, as shown in FIG. 8D. 72, gate protection electrode 86 and spacer 76 are formed. The spacer 76 is formed simultaneously with the pixel electrode 72 on the pixel electrode 72 overlapping the black matrix.

이와 같이, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 스페이서는 블랙매트릭스와 중첩되는 화소전극 상에 화소전극과 동시에 형성한다. 이에 따라, 스페이서를 비표시영역에 형성할 수 있어 얼룩 등의 화질저하를 방지할 수 있으며, 화소전극과 동시에 형성되어 종래 패턴스페이서를 형성하기 위한 공정수를 줄일 수 있다. 또한, 잉크젯 분사장치를 이용하여 원하는 위치에만 스페이서물질을 도포함으로써 재료비를 줄일 수 있다.As described above, the spacer according to the first embodiment of the present invention is formed simultaneously with the pixel electrode on the pixel electrode overlapping the black matrix. Accordingly, the spacers can be formed in the non-display area to prevent deterioration of image quality such as spots, and can be formed simultaneously with the pixel electrodes to reduce the number of steps for forming a conventional pattern spacer. In addition, the material cost can be reduced by applying the spacer material only to a desired position using the ink jet ejection apparatus.

도 9는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 평면도이며, 도 10은 도 9에 도시된 액정표시패널의 하부기판을 나타내는 단면도이다.9 is a plan view illustrating a lower substrate of a liquid crystal display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a lower substrate of the liquid crystal display panel illustrated in FIG. 9.

도 9 및 도 10을 참조하면, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 액정표시패널의 하부기판은 도 4에 도시된 액정표시패널의 하부기판과 비교하여 스토리지전극과 동시에 형성되는 스페이서를 제외하고는 동일한 구성요소를 구비한다.9 and 10, the lower substrate of the liquid crystal display panel according to the second exemplary embodiment of the present invention is compared with the lower substrate of the liquid crystal display panel of FIG. 4 except for a spacer formed at the same time as the storage electrode. With the same components.

스페이서(76)는 상부기판(도시하지 않음) 상에 형성되는 블랙매트릭스(102)와 중첩되는 스토리지전극(74) 상에 스토리지전극(74)과 동시에 형성된다. 스토리지전극(74)과 동시에 형성되는 스페이서(76)는 스토리지전극(74)의 일측과 동일패턴으로 형성된다. 이 때, 스페이서(76)의 폭은 블랙매트릭스(102)이 폭보다 작거나 같게 형성된다. 이러한 스페이서(76)는 하부기판(51)과 상부기판과의 셀갭을 유지하는 역할을 하게 된다.The spacer 76 is formed simultaneously with the storage electrode 74 on the storage electrode 74 overlapping with the black matrix 102 formed on the upper substrate (not shown). The spacer 76 formed at the same time as the storage electrode 74 is formed in the same pattern as one side of the storage electrode 74. At this time, the width of the spacer 76 is formed such that the black matrix 102 is smaller than or equal to the width. The spacer 76 serves to maintain a cell gap between the lower substrate 51 and the upper substrate.

이러한 액정표시패널의 하부기판의 제조방법을 도 9에서 선"Ⅱ-Ⅱ'"를 따라 절취한 도 11a 내지 도 11e를 결부하여 설명하기로 한다.A method of manufacturing the lower substrate of the liquid crystal display panel will be described with reference to FIGS. 11A through 11E taken along the line " II-II '"

도 11a를 참조하면, 하부기판(51) 상에 게이트패턴이 형성된다.Referring to FIG. 11A, a gate pattern is formed on the lower substrate 51.

하부기판(51) 상에 스퍼터링(sputtering) 등의 증착방법으로 게이트금속층이 증착된다. 게이트금속층은 알루미늄(Al) 또는 알루미늄합금 등으로 이루어진다. 게이트금속층이 제1 마스크를 이용하여 식각공정을 포함하는 포토리쏘그래피 공정으로 패터닝됨으로써 게이트전극(56), 게이트라인(52) 및 게이트패드(82)를 포함하는 게이트패턴이 형성된다.The gate metal layer is deposited on the lower substrate 51 by a deposition method such as sputtering. The gate metal layer is made of aluminum (Al) or aluminum alloy. The gate metal layer is patterned by a photolithography process including an etching process using a first mask to form a gate pattern including the gate electrode 56, the gate line 52, and the gate pad 82.

도 11b를 참조하면, 게이트패턴이 형성된 하부기판(51) 상에 게이트절연막(62), 활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된다.Referring to FIG. 11B, a gate insulating layer 62, an active layer 64, and an ohmic contact layer 66 are formed on the lower substrate 51 on which the gate pattern is formed.

게이트절연막(62)은 무기절연물질인 산화실리콘(SiOx) 또는 질화실리콘(SiNx)이 사용된다. 게이트절연막(62)상에는 제1 및 제2 반도체층이 화학기상증착(Chemical Vapor Deposition) 방법으로 연속 증착된다. 제1 반도체층은불순물이 도핑되지 않은 비정질실리콘으로 형성되며, 제2 반도체층은 N형 또는 P형의 불순물이 도핑된 비정질실리콘으로 형성된다. 이어서, 제1 및 제2 반도체층이 제2 마스크를 이용하여 건식식각(Dry Etching) 공정을 포함하는 포토리쏘그래피 방법으로 패터닝됨으로써 활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된다.As the gate insulating layer 62, silicon oxide (SiOx) or silicon nitride (SiNx), which is an inorganic insulating material, is used. First and second semiconductor layers are successively deposited on the gate insulating layer 62 by a chemical vapor deposition method. The first semiconductor layer is formed of amorphous silicon that is not doped with impurities, and the second semiconductor layer is formed of amorphous silicon doped with N-type or P-type impurities. Subsequently, the first and second semiconductor layers are patterned by a photolithography method including a dry etching process using a second mask to form the active layer 64 and the ohmic contact layer 66.

도 11c를 참조하면, 활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된 하부기판(51) 상에 데이터패턴이 형성된다.Referring to FIG. 11C, a data pattern is formed on the lower substrate 51 on which the active layer 64 and the ohmic contact layer 66 are formed.

활성층(64) 및 오믹접촉층(66)이 형성된 게이트절연막(62) 상에 CVD방법 또는 스퍼터링(sputtering) 등의 증착방법으로 데이터금속층이 증착된다. 데이터금속층으로는 크롬(Cr) 또는 몰리브덴(Mo)등으로 형성된다. 이어서, 데이터금속층 상에 잉크젯분사장치를 이용하여 데이터금속층 상에 스페이서물질이 분사된다. 그런 다음, 제3 마스크를 이용하여 습식식각 공정을 포함하는 포토리쏘그래피 공정으로 패터닝됨으로써 소스전극(58), 드레인전극(60), 스토리지전극(74), 데이터라인 및 데이터패드를 포함하는 데이터패턴과 스페이서(76)가 형성된다. 그 다음, 소스전극(58)과 드레인전극(60) 사이로 노출된 오믹접촉층(66)이 건식식각 공정으로 제거되어 소스전극(58)과 드레인전극(60)을 분리시킨다. 오믹접촉층(66)이 일부 제거됨으로써 활성층(64)에서 소스 및 드레인전극(58,60)사이의 게이트전극(56)과 중첩되는 부분은 채널이 된다.The data metal layer is deposited on the gate insulating layer 62 on which the active layer 64 and the ohmic contact layer 66 are formed by a deposition method such as a CVD method or sputtering. The data metal layer is formed of chromium (Cr) or molybdenum (Mo). Subsequently, a spacer material is sprayed onto the data metal layer using an inkjet injection value on the data metal layer. Then, the pattern is patterned by a photolithography process including a wet etching process by using a third mask to form a data pattern including a source electrode 58, a drain electrode 60, a storage electrode 74, a data line, and a data pad. And spacer 76 are formed. Next, the ohmic contact layer 66 exposed between the source electrode 58 and the drain electrode 60 is removed by a dry etching process to separate the source electrode 58 and the drain electrode 60. As the ohmic contact layer 66 is partially removed, a portion of the active layer 64 overlapping with the gate electrode 56 between the source and drain electrodes 58 and 60 becomes a channel.

도 11d를 참조하면, 데이터패턴이 형성된 하부기판(51) 상에 보호막(68)이 형성된다.Referring to FIG. 11D, a passivation layer 68 is formed on the lower substrate 51 on which the data pattern is formed.

보호막(68)은 데이터패턴이 형성된 하부기판(51) 상에 절연물질이 증착됨으로써 형성된다. 절연물질로는 질화실리콘(SiNx) 및 산화실리콘(SiOx) 등의 무기절연물질 또는 아크릴(Acryl)계 유기화합물, BCB(benzocyclobutene) 및 PFCB(perfluorocyclobutane) 등의 유기 절연물질 등이 이용된다. 이어서, 보호막(68)을 제4 마스크를 이용하여 식각공정을 포함하는 포토리쏘그래피공정으로 패터닝함으로써 드레인접촉홀(70a), 스토리지접촉홀(70b), 게이트접촉홀(70c) 및 데이터접촉홀(70d)이 형성된다.The passivation layer 68 is formed by depositing an insulating material on the lower substrate 51 on which the data pattern is formed. As the insulating material, inorganic insulating materials such as silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx), or organic insulating materials such as acryl-based organic compounds, benzocyclobutene (BCB) and perfluorocyclobutane (PFCB) are used. Subsequently, the passivation layer 68 is patterned by a photolithography process including an etching process using a fourth mask to drain drain contact hole 70a, storage contact hole 70b, gate contact hole 70c and data contact hole ( 70d) is formed.

도 11e를 참조하면, 보호막(68)이 형성된 하부기판(51) 상에 투명전극패턴이 형성된다.Referring to FIG. 11E, a transparent electrode pattern is formed on the lower substrate 51 on which the passivation layer 68 is formed.

보호막(68)이 형성된 하부기판(51) 상에 스퍼터링(sputtering) 등과 같은 증착방법으로 투명금속층이 형성된다. 투명금속층은 ITO, IZO, ITZO 등으로 이루어진다. 이어서, 투명금속층이 제5 마스크를 이용하여 식각공정을 포함하는 포토리쏘그래피 공정으로 동시에 패터닝됨으로써 화소전극(72), 게이트보호전극(86) 및 데이터보호전극을 포함하는 투명전극패턴이 형성된다. 화소전극(72)은 보호막(68)을 관통하는 드레인접촉홀(70a)을 통해 드레인전극(60)과 접속되며, 보호막(68)을 관통하는 스토리지접촉홀(70b)을 통해 스토리지전극(74)과 접속된다. 게이트보호전극(86)은 게이트절연막(72) 및 보호막(78)을 관통하는 게이트접촉홀(70c)을 통해 게이트패드(82)와 접속된다. 데이터보호전극은 보호막(68)을 관통하는 데이터접촉홀을 통해 데이터패드와 접속된다.The transparent metal layer is formed on the lower substrate 51 on which the passivation layer 68 is formed by a deposition method such as sputtering. The transparent metal layer is made of ITO, IZO, ITZO, or the like. Subsequently, the transparent metal layer is simultaneously patterned in a photolithography process including an etching process using a fifth mask to form a transparent electrode pattern including the pixel electrode 72, the gate protection electrode 86, and the data protection electrode. The pixel electrode 72 is connected to the drain electrode 60 through the drain contact hole 70a passing through the passivation layer 68, and the storage electrode 74 through the storage contact hole 70b passing through the passivation layer 68. Connected with. The gate protection electrode 86 is connected to the gate pad 82 through a gate contact hole 70c penetrating through the gate insulating film 72 and the protection film 78. The data protection electrode is connected to the data pad through the data contact hole penetrating the passivation layer 68.

도 12a 내지 도 12d는 도 11c에 도시된 스토리지전극과 스페이서를 동시에 형성하는 방법을 상세히 나타내는 단면도이다.12A to 12D are cross-sectional views illustrating in detail a method of simultaneously forming the storage electrode and the spacer illustrated in FIG. 11C.

먼저, 게이트절연막(62)이 형성된 하부기판(51) 상에 도 12a에 도시된 바와 같이 데이터금속층(59)이 전면 증착된다. 이 데이터금속층(59)이 전면 증착된 하부기판(51) 상부에 잉크젯분사장치(90)가 정렬된다. 이 잉크젯 분사장치(90)를 이용하여 게이트라인(52)과 중첩되는 데이터금속층(59)에 감광성스페이서물질(76a)이 분사된 후 소프트베이킹(soft-baking)하게 된다. 여기서, 감광성스페이서물질(76a)은 추후에 실행되는 스트립공정의 스트립액에 반응하지 않는 물질이다.First, a data metal layer 59 is entirely deposited on the lower substrate 51 on which the gate insulating layer 62 is formed, as shown in FIG. 12A. The inkjet injection apparatus 90 is arranged on the lower substrate 51 on which the data metal layer 59 is deposited on the entire surface. The photosensitive spacer material 76a is sprayed onto the data metal layer 59 overlapping the gate line 52 by using the inkjet jet apparatus 90, and then soft-baked. Here, the photosensitive spacer material 76a is a material that does not react to the stripping liquid of a stripping process performed later.

감광성스페이서물질(76a)이 안착된 하부기판(51) 상에 도 12b에 도시된 바와 같이 네거티브형 포토레지스트(96)가 전면 도포된다. 광에 반응하지 않는 영역이 현상공정에서 제거되는 네거티브(negative)형 포토레지스트 대신에 광에 반응하는 영역이 현상공정에서 제거되는 포지티브(positive)형 포토레지스트를 이용할 수도 있다. 이러한 포토레지스트(96)가 전면 도포된 하부기판(51) 상에 제3 마스크인 포토마스크(MS)가 정렬된다. 여기서, 포토마스크(MS)는 차단영역(S1)에 형성되는 차단층(94)과, 노광영역(S2)에 형성되는 투과층을 구비한다. 투과층은 투명한 포토마스크기판(92)이 그대로 노출되게 형성된다.A negative photoresist 96 is applied to the entire surface of the lower substrate 51 on which the photosensitive spacer material 76a is mounted, as shown in FIG. 12B. Instead of a negative photoresist in which a region that does not react to light is removed in the developing process, a positive photoresist in which a region that reacts to light is removed in the developing process may be used. The photomask MS, which is the third mask, is aligned on the lower substrate 51 on which the photoresist 96 is entirely coated. Here, the photomask MS includes a blocking layer 94 formed in the blocking region S1 and a transmission layer formed in the exposure region S2. The transparent layer is formed such that the transparent photomask substrate 92 is exposed as it is.

이 포토마스크(MS)를 이용한 노광공정으로 포토레지스트(96)는 노광한 후 도 12c에 도시된 바와 같이 현상장치(98)에서 분사되는 현상액(100)으로 차단영역(S1)을 통해 차광된 포토레지스트(96)와 감광성스페이서물질(76a)은 모두 제거되고, 노광영역(S2)을 통해 노광된 포토레지스트(96)와 감광성스페이서물질(76a)는 남게 되어 각각 하부기판(51) 상에 포토레지스트패턴(88)과 스페이서패턴(76b)으로 형성된다. 현상공정 후 스페이서패턴(76b)을 소정온도로 하드베이킹(hard-baking)하게 된다.The photoresist 96 is exposed to light using the photomask MS, and then the photoresist is exposed to light through the blocking region S1 with the developer 100 sprayed from the developing apparatus 98 as shown in FIG. 12C. Both the resist 96 and the photosensitive spacer material 76a are removed, and the photoresist 96 and the photosensitive spacer material 76a exposed through the exposure area S2 remain to respectively photoresist on the lower substrate 51. It is formed of a pattern 88 and a spacer pattern 76b. After the developing process, the spacer pattern 76b is hard-baked at a predetermined temperature.

포토레지스트패턴(88)을 마스크로 데이터금속층(59)을 식각한 후 하부기판(51) 상에 잔존하는 포토레지스트패턴(88)을 제거하는 스트립공정을 실행함으로써 도 12d에 도시된 바와 같이 소스전극(58), 드레인전극(60), 스토리지전극(74) 및 스페이서(76)가 형성된다. 스페이서(76)는 블랙매트릭스와 중첩되는 스토리지전극(74) 상에 스토리지전극(74)과 동시에 형성된다.After etching the data metal layer 59 with the photoresist pattern 88 as a mask, a strip process of removing the photoresist pattern 88 remaining on the lower substrate 51 is carried out, as shown in FIG. 12D. (58), the drain electrode 60, the storage electrode 74 and the spacer 76 are formed. The spacer 76 is formed simultaneously with the storage electrode 74 on the storage electrode 74 overlapping the black matrix.

이와 같이, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 스페이서는 블랙매트릭스와 중첩되는 스토리지전극 상에 스토리지전극과 동시에 형성한다. 이에 따라, 스페이서를 비표시영역에 형성할 수 있어 얼룩 등의 화질저하를 방지할 수 있으며, 스토리지전극과 동시에 형성되어 종래 패턴스페이서를 형성하기 위한 공정수를 줄일 수 있다. 또한, 잉크젯 분사장치를 이용하여 원하는 위치에만 스페이서물질을 도포함으로써 재료비를 줄일 수 있다.As described above, the spacer according to the second embodiment of the present invention is formed on the storage electrode overlapping the black matrix at the same time as the storage electrode. Accordingly, the spacer can be formed in the non-display area to prevent deterioration of image quality such as spots, and can be formed at the same time as the storage electrode to reduce the number of processes for forming a conventional pattern spacer. In addition, the material cost can be reduced by applying the spacer material only to a desired position using the ink jet ejection apparatus.

한편, 본 발명의 제1 및 제2 실시 예에 따른 액정표시패널의 제조방법은 제1 내지 제5 마스크를 이용하여 형성하고 있지만, 마스크 수에 상관없이 비표시영역에 위치하는 전극패턴과 스페이서를 동시에 형성할 수 있다.On the other hand, the manufacturing method of the liquid crystal display panel according to the first and second embodiments of the present invention is formed using the first to fifth masks, the electrode pattern and the spacer located in the non-display area regardless of the number of masks It can be formed at the same time.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시패널 및 그 제조방법은 블랙매트릭스와 중첩되는 스토리지전극 및 화소전극 중 적어도 어느 하나와 동시에 형성한다. 이에 따라, 종래 잉크젯분사방법으로 형성되어 높이/퍼짐폭의 비가 작아 표시영역에 형성될 수 있는 스페이서는 비표시영역에 위치하는 전극패턴과 동시에 패터닝되어 제거됨으로써 얼룩 등의 화질저하를 방지할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 액정표시패널의 스페이서는 스토리지전극 및 화소전극 중 적어도 어느 하나와 동시에 형성되므로 종래 패턴스페이서를 형성하기 위한 공정수를 줄일 수 있다. 뿐만 아니라, 본 발명에 따른 액정표시패널의 스페이서는 잉크젯 분사방법를 이용하여 원하는 위치에만 스페이서물질을 도포함으로써 재료비를 줄일 수 있다.As described above, the liquid crystal display panel and the method of manufacturing the same according to the present invention are formed simultaneously with at least one of the storage electrode and the pixel electrode overlapping the black matrix. Accordingly, the spacer formed by the conventional inkjet injection method and formed in the display area having a small ratio of height / spread width is patterned and removed at the same time as the electrode pattern located in the non-display area, thereby preventing deterioration of image quality such as spots. . In addition, since the spacer of the liquid crystal display panel according to the present invention is formed simultaneously with at least one of the storage electrode and the pixel electrode, the number of processes for forming a conventional pattern spacer can be reduced. In addition, the spacer of the liquid crystal display panel according to the present invention can reduce the material cost by applying the spacer material only to a desired position by using the inkjet injection method.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (12)

블랙매트릭스를 갖는 상부기판과,An upper substrate having a black matrix, 상기 블랙매트릭스와 중첩되게 형성되는 스토리지전극과 상기 스토리지전극과 일부 중첩되게 형성되는 화소전극을 갖는 하부기판과,A lower substrate having a storage electrode formed to overlap the black matrix and a pixel electrode formed to partially overlap the storage electrode; 상기 블랙매트릭스와 중첩되는 상기 화소전극 및 상기 스토리지전극 중 적어도 어느 하나와 동시에 형성되는 스페이서를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And a spacer formed simultaneously with at least one of the pixel electrode and the storage electrode overlapping the black matrix. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 하부기판 상에는On the lower substrate 상기 스토리지전극과 중첩되게 형성되는 게이트라인과,A gate line formed to overlap the storage electrode; 상기 게이트라인과 교차되게 형성되는 데이터라인과,A data line formed to intersect the gate line; 상기 게이트라인과 데이터라인의 교차부에 형성되는 박막트랜지스터와,A thin film transistor formed at an intersection of the gate line and the data line; 상기 박막트랜지스터의 드레인전극과 접속되는 화소전극을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And a pixel electrode connected to the drain electrode of the thin film transistor. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 화소전극은 상기 스토리전극과 접촉되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the pixel electrode is in contact with the story electrode. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 스페이서는 상기 화소전극의 일측과 중첩되게 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the spacer is formed to overlap one side of the pixel electrode. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 스페이서는 상기 스토리지전극의 일측과 중첩되게 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the spacer is formed to overlap one side of the storage electrode. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 스페이서는 광에 반응하는 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널.And the spacer is formed of a material reacting to light. 블랙매트릭스를 갖는 상부기판을 마련하는 단계와,Preparing an upper substrate having a black matrix, 상기 상부기판과 대면되는 하부기판 상에 상기 투명금속층을 증착하는 단계와,Depositing the transparent metal layer on a lower substrate facing the upper substrate; 상기 블랙매트릭스와 일부 중첩되는 상기 투명금속층 상에 스페이서물질을 잉크젯방식으로 분사하는 단계와,Spraying a spacer material by an inkjet method on the transparent metal layer partially overlapping the black matrix; 상기 투명금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하여 화소전극을 형성함과 동시에 상기 화소전극의 일측과 동일한 패턴을 갖는 스페이서를 형성하는 단계를포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 제조방법.And patterning the transparent metal layer and the spacer material at the same time to form a pixel electrode and simultaneously forming a spacer having the same pattern as one side of the pixel electrode. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 스페이서물질은 광에 반응하는 물질인 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 제조방법.And the spacer material is a material reacting with light. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 투명금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하는 단계는Simultaneously patterning the transparent metal layer and the spacer material 상기 투명금속층과 스페이서물질을 덮도록 포토레지스트를 형성하는 단계와,Forming a photoresist to cover the transparent metal layer and the spacer material; 상기 포토레지스트가 형성된 하부기판을 노광 및 현상하여 포토레지스트패턴과 스페이서패턴을 형성하는 단계와,Exposing and developing the lower substrate on which the photoresist is formed to form a photoresist pattern and a spacer pattern; 상기 포토레지스트패턴을 이용하여 상기 투명금속층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 제조방법.And etching the transparent metal layer by using the photoresist pattern. 블랙매트릭스를 갖는 상부기판을 마련하는 단계와,Preparing an upper substrate having a black matrix, 상기 상부기판과 대면되는 하부기판 상에 데이터금속층을 증착하는 단계와,Depositing a data metal layer on a lower substrate facing the upper substrate; 상기 데이터금속층 상에 상기 블랙매트릭스와 중첩되도록 스페이서물질을 잉크젯방식으로 분사하는 단계와,Spraying a spacer material on the data metal layer by an inkjet method so as to overlap the black matrix; 상기 데이터금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하여 스토리지전극을 형성함과 동시에 상기 스토리지전극의 일측과 동일 패턴을 갖는 스페이서를 형성하는단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 제조방법.And simultaneously patterning the data metal layer and the spacer material to form a storage electrode and simultaneously forming a spacer having the same pattern as one side of the storage electrode. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 스페이서물질은 광에 반응하는 물질인 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 제조방법.And the spacer material is a material reacting with light. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 데이터금속층과 스페이서물질을 동시에 패터닝하는 단계는Simultaneously patterning the data metal layer and the spacer material 상기 데이터금속층과 스페이서물질을 덮도록 포토레지스트를 형성하는 단계와,Forming a photoresist to cover the data metal layer and the spacer material; 상기 포토레지스트가 형성된 하부기판을 노광 및 현상하여 포토레지스트패턴과 스페이서패턴을 형성하는 단계와,Exposing and developing the lower substrate on which the photoresist is formed to form a photoresist pattern and a spacer pattern; 상기 포토레지스트패턴을 이용하여 상기 투명금속층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 제조방법.And etching the transparent metal layer by using the photoresist pattern.
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