KR20040033604A - Voltage to current converting circuit - Google Patents

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KR20040033604A
KR20040033604A KR1020020062761A KR20020062761A KR20040033604A KR 20040033604 A KR20040033604 A KR 20040033604A KR 1020020062761 A KR1020020062761 A KR 1020020062761A KR 20020062761 A KR20020062761 A KR 20020062761A KR 20040033604 A KR20040033604 A KR 20040033604A
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최현호
김영재
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삼성전자주식회사
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    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
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Abstract

PURPOSE: A voltage current converter circuit is provided to supply a constant current without regard to the variation of an input voltage. CONSTITUTION: According to the voltage/current converter circuit, an operational amplifier(20) controls to flow a constant current according to the variation of an input voltage. A transistor(22) supplies a constant current by a current control signal of the operational amplifier. And a resistor(24) is connected between a power supply voltage and an emitter of the transistor, and determines a current according to a potential difference between the input voltage and the power supply voltage. The input voltage is supplied to a non-inversion port of the operational amplifier. And an inversion port of the operational amplifier is connected to the emitter of the transistor.

Description

전압 전류변환회로{VOLTAGE TO CURRENT CONVERTING CIRCUIT}Voltage Current Converter Circuits {VOLTAGE TO CURRENT CONVERTING CIRCUIT}

본 발명은 전압-전류 변환회로에 관한 것으로, 특히 입력전압의 변동에 관계없이 항상 일정한 전류로 변환하는 전압/전류 변환회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a voltage-current conversion circuit, and more particularly, to a voltage / current conversion circuit that always converts into a constant current regardless of a change in an input voltage.

통상적으로 반도체 소자 제조업체는 품질보장의 일환으로 반도체 소자 제품이 모든 설계 파라미터를 만족하는지 여부를 확인하기 위하여 체계적으로 테스트를 수행한다. 일반적으로 수행되어지는 테스트의 종류 가운데, 장치 파라미터 테스팅(DC 테스팅), 장치 논리 기능 테스팅 및 장치 타이밍 테스팅(AC 테스팅)이 포함된다. 테스팅되고 있는 반도체 장치는 종종 '피시험 소자(DUT: Device Under Test)'라고 불리어지는데, 상기 DUT에 전술한 테스트를 수행하는데 사용되는 상기 테스트 시스템은 종종 '자동 테스트 장비(ATE: Automatic Test Equipment)'라고 불린다.Typically, semiconductor device manufacturers perform systematic tests to ensure that semiconductor device products meet all design parameters as part of quality assurance. Common types of tests to be performed include device parameter testing (DC testing), device logic function testing, and device timing testing (AC testing). The semiconductor device being tested is often referred to as a 'device under test' (DUT), and the test system used to perform the test described above on the DUT is often called an 'automatic test equipment (ATE)'. Is called.

상기 ATE는 반도체 장치와 같은 매우 민감한 DUT에 상기 기술한 테스팅들을 수행하도록 매우 정확해야 한다. 일반적으로, 상기 ATE 하드웨어는 정확한 전압, 전류, 타이밍 및 기능적인 상태를 상기 DUT에 제공하고 각각의 테스트에 대해 상기장치로부터의 반응을 모니터링하기 위해서 테스트 프로그램을 수행하는 컴퓨터에 의해 제어된다. 이후, 각각의 테스트의 결과는 기 설정된 한계와 비교되고, 패스/패일(pass/fail) 결정이 이루어진다. 상기 ATE 하드웨어는 그 자체로는 일반적으로 전원-공급장치, 계측기, 신호 발생기, 패턴 발생기 등으로 구성된 세트를 포함한다. 핀 전자(PE: Pin Electronics) 회로는 상기 ATE 및 상기 DUT 사이에 공간을 제공한다. 더욱 상세하게는, 상기 PE 회로는 상기 DUT에 입력 신호를 제공하고, 상기 DUT로부터 출력 신호를 수신한다. 예를 들면, 파라미터 테스팅에서, 입력 전압은 상기 DUT에 보내지고, 출력 전류를 상기 DUT로부터 수신하든지, 또는 입력 전류가 상기 DUT에 보내지고, 출력 전압을 상기 DUT로부터 수신한다. 따라서, 프로그램이 가능한 전류원(current source)은, 상기 DUT에 원하는 전류를 제공하기 위하여 상기 PE의 요구되어지는 요소들 중의 하나이다.The ATE must be very accurate to perform the described tests on highly sensitive DUTs such as semiconductor devices. In general, the ATE hardware is controlled by a computer that provides the correct voltage, current, timing and functional status to the DUT and executes a test program to monitor the response from the device for each test. The results of each test are then compared to preset limits and a pass / fail decision is made. The ATE hardware itself generally includes a set consisting of a power supply, an instrument, a signal generator, a pattern generator, and the like. Pin Electronics (PE) circuitry provides a space between the ATE and the DUT. More specifically, the PE circuit provides an input signal to the DUT and receives an output signal from the DUT. For example, in parameter testing, an input voltage is sent to the DUT and an output current is received from the DUT, or an input current is sent to the DUT and an output voltage is received from the DUT. Thus, a programmable current source is one of the required elements of the PE to provide the desired current to the DUT.

이러한 PE 회로에 사용되는 종래 기술에 의한 전류원이 대한민국 공개특허공보 공개번호 2001-0024938호에 도시되어 있다. 종래 기술에 따른 전류원은 전압( VBE)에 의존하고, 전압(VBE)은 온도 변화에 기인한 변화에 영향을 받으며, 이는 전류원의 정밀도에 크게 영향을 준다. 상기 기술한 바와 같이, 1℃의 변화도 최소 전류 설정시 200% 오차를 나타낸다. 더구나, 종래 기술 에 따른 전류원 에러는 전체 동작 범위에 걸쳐서 일정하므로, 작은 값들을 정확하게 프로그래밍하는 것이 불가능하다.A current source according to the prior art used in such a PE circuit is shown in Korean Laid-Open Patent Publication No. 2001-0024938. The current source according to the prior art depends on the voltage VBE, and the voltage VBE is affected by the change due to the temperature change, which greatly affects the precision of the current source. As described above, a change of 1 ° C. also exhibits a 200% error at the minimum current setting. Moreover, current source errors according to the prior art are constant over the entire operating range, making it impossible to accurately program small values.

한편, '하레야마(Hareyama)'에게 1981년 2월 17일에 특허가 부여된 미국 특허 제4,251,743호(이하, '하레야마'라 함)는 경시변화(經時變化)(aging)와 같이 구성요소의 특성의 변화와 마찬가지로 온도 변화를 보상하며 아날로그-디지털(A/D) 변환기에 사용되도록 설계된 전류원에 대해 개시하고 있다. 상기 '하레야마'에 개시된 전류원은 또한 전류 미러 개념을 포함한다.On the other hand, U.S. Patent No. 4,251,743 (hereinafter referred to as `` Hareyama ''), which was granted a patent to Hareyama on February 17, 1981, is configured as aging. Disclosed are current sources designed to be used in analog-to-digital (A / D) converters to compensate for temperature variations, as well as changes in the properties of elements. The current source disclosed in Hareyama also includes the concept of a current mirror.

그러나, '하레야마'에서의 상기 전류원은 에러를 보상하기 위하여, 자신의출력 전류(Iout)의 피드백 제어(즉,폐쇄 루프 제어)를 구현하고 있다. 결국, '하레야마'에 개시된 전류원은 더 많은 하드웨어를 필요로 하는 것과 함께, 피드백 제어의 고유의 특성(예를 들면, 잔여 에러 및 시간 지연)으로 인하여 요구되는 것만큼 정밀하고 민감하지 않을 수도 있다.However, the current source in Hareyama implements feedback control (i.e. closed loop control) of its output current Iout to compensate for errors. As a result, the current sources disclosed in Hareyama may not be as precise and sensitive as required due to the inherent nature of feedback control (e.g., residual error and time delay) with the need for more hardware. .

따라서, 온도 변화에 의해 야기되는 전류 변화를 제거하거나 또는 보상할 수 있는 양호한 다이내믹 범위를 갖는 컴퓨터제어 ATE에 사용되는 정밀한 전류원 회로가 요구되는 실정이다.Therefore, there is a need for a precise current source circuit used in a computer controlled ATE having a good dynamic range that can eliminate or compensate for current variations caused by temperature changes.

또한 종래의 일반적인 방법은 도 1에 도시한 바와 같이 저항을 이용하여 전류로 변환하는 방법이 적용된다. 단 여기서 Vpin이라는 부분이 고정된 값이거나 Vpp변화에 따라 Vpin이 일정비율로 유지가 되어야 한다는 전제가 필요로 한다.In addition, in the conventional general method, as shown in FIG. 1, a method of converting into a current using a resistor is applied. However, it is necessary to assume that Vpin is a fixed value or that Vpin should be maintained at a constant rate according to Vpp change.

상기 오토테스트 시스템(10)은 반도체 장치와 같은 매우 민감한 DUT(12)에 상기 기술한 테스팅들을 수행하도록 매우 정확해야 하며, 정확한 전압, 전류, 타이밍 및 기능적인 상태를 상기 DUT(12)에 제공하고, 각각의 테스트에 대해 상기장치로부터의 반응을 모니터링하기 위해서 테스트 프로그램을 수행하는 컴퓨터에 의해 제어된다. 상기 오토 테스트 시스템(10)은 전원-공급장치, 계측기, 신호 발생기, 패턴 발생기 등으로 구성된 세트를 포함한다. 저항(R)은 상기 DUT(12)에 입력 신호를 제공하고, 상기 DUT(12)로부터 출력 신호를 수신한다. 저항(R)은 상기 DUT(12)에 원하는 전류를 제공하기 위하여 저항(R)이 요구되어지는 요소들 중의 하나이다. 오토 테스트 시스템(10)으로부터 테스팅된 전압(Vpp)은 저항(R)을 통해 DUT(12)로 전류를 공급한다. 이때 DUT(12)로 인가되는 전류 Ipp=(Vpp-Vpin)/R이 된다.The autotest system 10 must be very accurate to perform the tests described above on a highly sensitive DUT 12 such as a semiconductor device, and provide the DUT 12 with the correct voltage, current, timing and functional status. Each computer is controlled by a computer executing a test program to monitor the response from the device for each test. The auto test system 10 includes a set consisting of a power supply, a meter, a signal generator, a pattern generator, and the like. Resistor R provides an input signal to the DUT 12 and receives an output signal from the DUT 12. Resistor R is one of the elements for which resistor R is required to provide the desired current to the DUT 12. The voltage Vpp tested from the auto test system 10 supplies current through the resistor R to the DUT 12. At this time, the current Ipp = (Vpp-Vpin) / R applied to the DUT 12 becomes.

그러나 많은 경우에서 Vpin의 전압이 일정하지 않는다. 입력되는 전류에 따라서 Dut Pin의 전압이 변한다든지 또는 일정한 비율(Linerity)로 변하지 않는 특성을 보인다면 위의 통상적인 방법을 적용할 수 는 없다.In many cases, however, the voltage at Vpin is not constant. If the voltage of the Dut Pin changes or the characteristic does not change at a constant ratio (Linerity) according to the input current, the above conventional method cannot be applied.

그리고 일반적으로 DC Source의 경우는 커런트(current) 또는 전압모드(Voltage mode)가 동시에 가능한 것이 대부분이나 AC Source의 경우 대부분 전압소스(Voltage Source)형태로 커런트모드(Current Mode)로서의 기능은 갖는 계측기나 ATE의 옵션은 거의 없다.In general, in the case of DC Source, most current or voltage mode can be simultaneously used, but in case of AC Source, most instruments measure voltage mode in the form of Voltage Source. There are few options for ATE.

따라서 본 발명의 목적은, 입력전압의 변동에 관계없이 항상 일정한 전류를 공급하는 전압 전류/변환기를 제공함에 있다.It is therefore an object of the present invention to provide a voltage current / converter which always supplies a constant current regardless of the variation of the input voltage.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전압/전류 변환회로는, 입력전압의 변동에 따라 항상 일정한 전류가 흐르도록 제어하는 연산증폭기와, 상기 연산증폭기의 전류제어신호에 의해 일정전류를 공급하는 트랜지스터와, 상기 트랜지스터의 에미터에 연결되어 상기 입력전압과 전원전압 간의 전위차에 따른 전류를 결정하기 위한 저항으로 구성함을 특징으로 한다.The voltage / current conversion circuit of the present invention for achieving the above object includes an operational amplifier for controlling a constant current to always flow in accordance with the change of the input voltage, a transistor for supplying a constant current by the current control signal of the operational amplifier; And a resistor connected to the emitter of the transistor to determine a current according to a potential difference between the input voltage and the power supply voltage.

도 1은 일반적인 전압소스를 이용한 전류변환장치의 구성도1 is a configuration diagram of a current converter using a general voltage source

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전압/전류 변환회로의 구성도2 is a configuration diagram of a voltage / current conversion circuit according to an embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 전압/전류변환을 위한 시뮬레이션 회로도3 is a simulation circuit diagram for voltage / current conversion according to an embodiment of the present invention

도 4는 본 발명의 실시 예에 입력전원 변화에 따른 출력전류 변화 특성도4 is a view illustrating an output current change characteristic according to an input power change according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5a는 본 발명의 실시 예에 따른 시뮬레이션 결과의 입력 AC전압의 파형도5A is a waveform diagram of an input AC voltage of a simulation result according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5b는 본 발명의 실시 예에 따른 시뮬레이션 결과의 출력 AC전류의 파형도5B is a waveform diagram of an output AC current of simulation results according to an embodiment of the present invention.

도 6은 아날로그 디바이스사에서 제조판매하는 AD8554의 QUAD OP앰프와 KEC(주)의 PNP트랜지스터를 사용하여 구현한 전압/전류변환회로도6 is a circuit diagram of a voltage / current conversion circuit implemented using a QUAD OP amplifier of AD8554 manufactured by Analog Devices Inc. and a PNP transistor of KEC Co., Ltd.

도 7은 도 6의 전압/전류변환회로도의 출력전압이 변경될 시 전류의 변화상태를 나타낸 시뮬레이션 결과도7 is a simulation result diagram illustrating a change state of a current when an output voltage of the voltage / current conversion circuit diagram of FIG. 6 is changed.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10: 오토 테스트 시스템 12: DUT10: Auto Test System 12: DUT

20: 연산증폭기 22: 트랜지스터20: operational amplifier 22: transistor

24: 저항24: resistance

이하 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, if it is determined that a specific description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전압/전류 변환회로의 구성도로서,2 is a configuration diagram of a voltage / current conversion circuit according to an embodiment of the present invention;

입력전압의 변동에 따라 항상 일정한 전류가 흐르도록 제어하는 연산증폭기(20)와, 상기 연산증폭기(20)의 전류제어신호에 의해 일정전류를 공급하는 트랜지스터(22)와, 상기 트랜지스터의 에미터에 연결되어 상기 입력전압과 전원전압 간의 전위차에 따른 전류를 결정하기 위한 저항(24)으로 구성되어 있다.The operational amplifier 20 controls the constant current to always flow in accordance with the variation of the input voltage, the transistor 22 supplying the constant current by the current control signal of the operational amplifier 20, and the emitter of the transistor. And a resistor 24 connected to determine a current according to a potential difference between the input voltage and the power supply voltage.

상술한 도 2를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예의 동작을 상세히 설명한다.Referring to Figure 2 described above will be described in detail the operation of the preferred embodiment of the present invention.

전압을 입력하기 위한 입력단자(18)와, 상기 입력단자(18)에 비반전단자(+)가 접속되고, 출력단자가 트랜지스터(22)의 베이스에 연결되는 연산증폭기(20)와, 상기 트랜지스터(22)의 에미터에 상기 연산증폭기(20)의 반전단자(-)가 접속되며, 전원(Vcc)에 저항(24)이 접속되어 트랜지스터(22)의 에미터에 접속되고, 상기 트랜지스터(22)의 콜렉터는 출력단자(26)에 연결되어 있다.An input terminal 18 for inputting a voltage, a non-inverting terminal (+) connected to the input terminal 18, an operational amplifier 20 having an output terminal connected to the base of the transistor 22, and the transistor ( The inverting terminal (-) of the operational amplifier 20 is connected to the emitter of 22, the resistor 24 is connected to the power supply Vcc, and is connected to the emitter of the transistor 22, and the transistor 22 The collector of is connected to the output terminal 26.

본 발명의 트랜지스터(22)의 액티브 영역에서 동작하도록 베이스 전위가 결정되면 트랜지스터(22)의 hfe에 의해 콜렉터와 에미터간 전류(Ice)의 양이 결정되고, 그 범위 내에서 콜렉터와 에미터 간의 전압(Vce)에 상관없이 일정한 전류를 출력단자(26)를 통해 흐르게 할 수 있다. 여기서 Vce>1.0V가 될 수 있다.When the base potential is determined to operate in the active region of the transistor 22 of the present invention, the amount of the collector-emitter current Ice is determined by the hfe of the transistor 22, and the voltage between the collector and the emitter within the range. Regardless of Vce, a constant current can flow through the output terminal 26. Where Vce> 1.0V.

따라서 트랜지스터(22)의 에미터에서 이미 결정된 전류량이 DUT(12)의 전압과 무관하게 일정전류로 사용할 수 있다.Therefore, the amount of current already determined in the emitter of the transistor 22 can be used as a constant current regardless of the voltage of the DUT 12.

먼저 연산증폭기(20)는 트랜지스터(22)의 액티브 영역에서 동작하도록 베이스 전위를 결정한다. 트랜지스터(22)의 입력전압이 변동되더라도 액티브 영역에 있도록 하여야 한다. 이때 트랜지스터(22)의 베이스 전압(Vb)은 연산증폭기(20)의 비반전단자(+)로 입력되는 전압(V)에 따라 트랜지스터(22)의 콜렉터전압(Vc)의 전위가 변하게 되어 피드백되어 제어된다. 이때 트랜지스터(22)는 액티브 영역의 동작상태를 유지하도록 한다.First, operational amplifier 20 determines the base potential to operate in the active region of transistor 22. Even if the input voltage of the transistor 22 changes, it must be in the active region. At this time, the base voltage Vb of the transistor 22 is fed back by changing the potential of the collector voltage Vc of the transistor 22 according to the voltage V input to the non-inverting terminal (+) of the operational amplifier 20. Controlled. At this time, the transistor 22 maintains the active state of the active region.

그리고 트랜지스터(22)의 에미터와 콜렉터간의 전류는 풀업저항(24)에 의해 전원전압(Vcc)과 입력단자(18)로 입력되는 전압(V)의 전위차에 의해 결정된다. 이때 트랜지스터(22)는 액티브영역 내에서 콜렉터와 에미터 간의 전위변화에 관계없이 콜에미터와 콜렉터간의 전류(Ice)는 항상 일정하게 유지할 수 있다. 즉, 노드(28)의 전압(입력전압 V)과 전원전압(Vcc) 간의 전압차가 저항(24)에 의해 결정되어 트랜지스터(22)의 콜렉터에 항상 일정한 전류가 흐르도록 한다.The current between the emitter and the collector of the transistor 22 is determined by the potential difference between the power supply voltage Vcc and the voltage V input to the input terminal 18 by the pull-up resistor 24. In this case, the transistor 22 may maintain the current Ice between the collector and the collector constantly regardless of the potential change between the collector and the emitter in the active region. That is, the voltage difference between the voltage of the node 28 (input voltage V) and the power supply voltage Vcc is determined by the resistor 24 so that a constant current always flows through the collector of the transistor 22.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 전압/전류변환을 위한 시뮬레이션 회로도이고,3 is a simulation circuit diagram for the voltage / current conversion according to an embodiment of the present invention,

도 4는 본 발명의 실시 예에 입력전원 변화에 따른 출력전류 변화 특성도이고,4 is a view illustrating a characteristic change of output current according to an input power change according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5a는 본 발명의 실시 예에 따른 시뮬레이션 결과의 입력 AC전압의 파형도이고,5A is a waveform diagram of an input AC voltage of a simulation result according to an embodiment of the present disclosure;

도 5b는 본 발명의 실시 예에 따른 시뮬레이션 결과의 출력 AC전류의 파형이다.5B is a waveform of output AC current of a simulation result according to an exemplary embodiment of the present invention.

연산증폭기(40)의 전원공급단자에 제2전원(V2)인 15V, 제3전원(V3)인 -15V를 각각 공급하고, 연산증폭기(40)의 비반전단자(+)에 제1전원(V1)인 3V를 공급하고, 전원전압(Vcc)를 제4전원(V4)인 5V를 공급되도록 하였다. 도 3을 이용한 시뮬레이션 결과 도 4와 같이 입력전압의 전원변화에 따라 전류변화특성이 선형성(Linearity)을 갖었다.15V, the second power source V2, and -15V, the third power source V3, are respectively supplied to the power supply terminal of the operational amplifier 40, and the first power source (+) is supplied to the non-inverting terminal (+) of the operational amplifier 40. 3V which is V1) was supplied, and 5V which is 4th power source V4 was supplied as the power supply voltage Vcc. Simulation result using FIG. 3 As shown in FIG. 4, the current change characteristic has linearity according to the power change of the input voltage.

그리고 도 5a의 입력 AC전압이 인가될 때 출력 AC전류는 도 5b와 같이 나타났다.When the input AC voltage of FIG. 5A is applied, the output AC current is shown in FIG. 5B.

도 6은 아날로그 디바이스사에서 제조판매하는 AD8554의 QUAD OP앰프와 KEC(주)의 PNP트랜지스터를 사용하여 구현한 전압/전류변환회로도이다.Fig. 6 is a circuit diagram of a voltage / current conversion circuit implemented using an AD8554's QUAD OP amplifier manufactured by Analog Devices Inc. and a PNP transistor manufactured by KEC Corporation.

도 6을 이용하여 시뮬레이션한 결과 도 7과 같이 리니어한 특성이 나타났으며, 1μΑ이내에서 특성이 나타남을 확인하였다. 도 7에서 출력전압이 변환될 경우 전류의 변화를 확인한 실험의 결과로서 입력전압이 3.6V일 경우와 2.2V의 두 경우에 대하여 출력 전압이 0.7V 내지 1.06V까지 가변하여 보았으나 역시 1μΑ이내의 에러정도로 만족한 특성을 보였음을 알수 있다.Simulation results using FIG. 6 showed linear characteristics as shown in FIG. 7, and it was confirmed that the characteristics appeared within 1 μΑ. As a result of the experiment confirming the change in current when the output voltage is converted in FIG. 7, the output voltage was varied from 0.7V to 1.06V for both the case of the input voltage of 3.6V and 2.2V, but also within 1 μA. It can be seen that it showed satisfactory characteristics with error degree.

상술한 바와 같이 본 발명은, 오토 테스트 시스템에서 공급되는 입력전압이 변동되더라도 DUT로 공급되는 전류는 항상 일정하도록 제어하여 입력전압의 변동에 관계없이 원하는 전류를 공급할 수 있는 이점이 있다.As described above, the present invention has the advantage that the current supplied to the DUT is always controlled even when the input voltage supplied from the auto test system is changed so that a desired current can be supplied regardless of the variation of the input voltage.

본 발명은 구체적인 실시 예에 대해서만 상세히 설명하였지만 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 변형이나 변경할 수 있음은 본 발명이 속하는 분야의 당업자에게는 명백한 것이며, 그러한 변형이나 변경은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 할 것이다.Although the present invention has been described in detail only with respect to specific embodiments, it is apparent to those skilled in the art that modifications or changes can be made within the scope of the technical idea of the present invention, and such modifications or changes belong to the claims of the present invention. something to do.

Claims (4)

전압/전류 변환회로에 있어서,In the voltage / current conversion circuit, 입력전압의 변동에 따라 항상 일정한 전류가 흐르도록 제어하는 연산증폭기와,An operational amplifier that controls a constant current to flow at all times according to the variation of the input voltage, 상기 연산증폭기의 전류제어신호에 의해 일정전류를 공급하는 트랜지스터와,A transistor for supplying a constant current by the current control signal of the operational amplifier; 전원전압과 상기 트랜지스터의 에미터에 사이에 연결되어 상기 입력전압과 전원전압 간의 전위차에 따른 전류를 결정하기 위한 저항으로 구성함을 특징으로 하는 전압/전류 변환회로.And a resistor connected between a power supply voltage and an emitter of the transistor and configured to determine a current according to a potential difference between the input voltage and the power supply voltage. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 입력전압은 상기 연산증폭기의 비반전단자로 공급함을 특징으로 하는 전압/전류 변환회로.The input voltage is supplied to a non-inverting terminal of the operational amplifier. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 연산증폭기의 반전단자는 상기 트랜지스터의 에미터에 연결함을 특징으로 하는 전압/전류 변환회로.The inverting terminal of the operational amplifier is connected to the emitter of the transistor. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 연산증폭기는 상기 트랜지스터가 액티브 영역에서 동작하도록 상기 트랜지스터의 베이스 전위를 제어함을 특징으로 하는 전압/전류 변환회로.And the operational amplifier controls the base potential of the transistor to operate the transistor in an active region.
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