KR200366552Y1 - a probe for electric current of a large quantity - Google Patents
a probe for electric current of a large quantity Download PDFInfo
- Publication number
- KR200366552Y1 KR200366552Y1 KR20-2004-0022923U KR20040022923U KR200366552Y1 KR 200366552 Y1 KR200366552 Y1 KR 200366552Y1 KR 20040022923 U KR20040022923 U KR 20040022923U KR 200366552 Y1 KR200366552 Y1 KR 200366552Y1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- contact
- outer cylinder
- plunger body
- plunger
- insertion groove
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Geometry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
본 고안은 대전류용 프로브에 관한 것으로, 플런저(100)가 외통(200) 내외로 출몰가능하도록 형성된 대전류용 프로브에 있어서, 상기 플런저(100)는, 상하로 개방형성된 상기 외통(200)에 상향돌출되게 결합되며, 하부에는 하측의 접촉핀(400) 상부가 삽입가능한 핀삽입홈(112)이 형성된 플런저본체(110)와; 상기 플런저본체의 핀삽입홈(112)에 삽입설치되어 상기 핀삽입홈(112)에 삽입되는 상기 접촉핀(400)과 접촉되며, 상기 핀삽입홈(112) 하측으로 돌출된 일단부가 외향절곡된 다수의 접촉선재(120)와; 상기 접촉선재(120)의 절곡단부를 상기 플런저본체(110) 외주상에 밀착고정시키는 선재고정링(130);을 포함하여 구성됨을 기술적 요지로 하여, 검사대상물과 접촉되어 하방이동될 시 회로기판과의 전기적 연결경로를 가지고 외통하부에 고정설치된 접촉핀과 안정되게 접촉될 수 있는 플런저 구조를 제공함으로써, 접촉안정성을 가지면서도 코일스프링을 거치지 않는 명확한 전류흐름경로와 상호 기밀한 조립구조에 의해 전류흐름이 안정적으로 이루어져 검사신뢰성을 향상시킬 수 있으며, 전류밀도 및 접촉저항이 최소화됨에 따라 열화에 따른 파손이 방지되어 프로브 자체 수명을 향상시킬 수 있고, 조립 및 해체가 용이하여 파손되기 쉬운 부품의 개별교체가 가능한 대전류용 프로브에 관한 것이다.The present invention relates to a large current probe, in the large current probe formed so that the plunger 100 can be mounted in and out of the outer cylinder 200, the plunger 100 is projected upward to the outer cylinder 200 is opened up and down A plunger body 110 having a pin insertion groove 112 formed therein, the upper contact pin 400 of which is inserted into a lower portion thereof; Inserted into the pin insertion groove 112 of the plunger body is in contact with the contact pin 400 is inserted into the pin insertion groove 112, one end portion protruded to the lower side of the pin insertion groove 112 is bent outwardly A plurality of contact wires 120; The wire rod fixing ring 130 for tightly fixing the bent end of the contact wire 120 on the outer circumference of the plunger body 110; and the circuit board when it is moved downward in contact with the inspection object By providing a plunger structure that can be stably contacted with a contact pin fixedly installed at the lower part of the outer cylinder with an electrical connection path to the bottom of the outer tube, the current is maintained by a clear current flow path without contacting the coil spring and an airtight assembly structure. As the flow is stable, inspection reliability can be improved, and damage due to deterioration can be prevented by minimizing current density and contact resistance, thereby improving the life of the probe itself, and easy to assemble and dismantle. The present invention relates to a replaceable high current probe.
Description
본 고안은 대전류용 프로브에 관한 것으로, 보다 상세하게는 외통 내외로 탄성적으로 출몰가능하도록 형성된 플런저가 검사대상물로부터 하방가압을 받으며 하방으로 이동될 시 하부에 형성된 핀삽입홈 내측에 삽입설치된 접촉선재와 회로기판에 연결설치된 하측의 접촉핀이 상호 접촉되면서 상단의 검사대상물로부터 하단의 회로기판까지 명확하고 안정된 전류흐름경로를 제공할 수 있는 구조의 대전류용 프로브에 관한 것이다.The present invention relates to a large current probe, and more particularly, a contact wire inserted into the pin insertion groove formed in the lower portion when the plunger formed to be retractable in and out of the outer cylinder is moved downward while receiving downward pressure from the inspection object. The present invention relates to a large current probe having a structure capable of providing a clear and stable current flow path from an upper inspection object to a lower circuit board while the lower contact pins connected to the circuit board are in contact with each other.
대전류용 프로브는 5A 이상에 해당되는 대용량의 전류를 통전시킴으로써 검사시험이 이루어지는 칩의 테스트용으로 사용되는 것으로, 미량의 전류로써 통전이 이루어지는 반도체 칩 검사용 프로브와 비교하여 전류의 안정적인 흐름경로 형성에 보다 비중을 둔 구조로 제작된다.The high current probe is used for testing a chip in which an inspection test is conducted by energizing a large current corresponding to 5 A or more, and compared to a semiconductor chip inspection probe in which electricity is supplied with a small amount of current, a stable flow path is formed. It is manufactured with more specific structure.
일반적으로 반도체 칩 검사용 프로브는 검사시험 시 코일스프링 및 코일스프링과 외통의 접촉부에 해당되는 극소면적의 경로를 통해 전류가 집중되어 흐르는 경우가 빈번하게 발생되는데, 5A 이하의 전류가 흐르게 될 경우 상기와 같이 극소경로를 통해 전류가 흐른다고 해도 프로브의 수명에 영향을 거의 끼치지 않으므로 탄성력을 보다 부여하는 등 접촉안정성을 위한 구조변형이 자유롭게 이루어지는 편이다.In general, a semiconductor chip inspection probe frequently generates a concentrated current through a coil spring and a path of a very small area corresponding to a contact portion between the coil spring and the outer cylinder during the inspection test. When a current of 5 A or less flows, As such, even though the current flows through the micropath, it hardly affects the life of the probe. Therefore, structural deformation for contact stability is freely provided, such as providing more elastic force.
이에 비해 대전류용 프로브는 5 ~ 500A 정도에 해당되는 대용량의 전류가 흐르게 되므로 전체적인 사이즈가 상기 반도체 칩 검사용 프로브보다 크며 코일스프링 및 극소접촉부를 통해 한곳으로 집중되어 흐르게 될 경우 상기 코일스프링 및 극소접촉부가 쉽게 열화됨에 따라 소재가 녹거나 열특성 변화가 발생되어 기계적인 작동이 제대로 이루어지지 않게 된다.On the contrary, since the large current probe flows a large amount of current corresponding to about 5 to 500 A, the overall size is larger than the semiconductor chip inspection probe, and the coil spring and the micro contact part are concentrated in one place through the coil spring and the micro contact part. Can easily deteriorate, causing the material to melt or change its thermal properties, resulting in improper mechanical operation.
이러한 대전류용 프로브라도 반도체 칩 검사용과 마찬가지로 플런저를 탄성유동시키기 위해 코일스프링을 수용결합시키는 구조가 불가피하며 되며, 이에 따라 종래에는 상기 코일스프링 및 구성요소 상호간 조립설치에 의한 접촉면적의 불확실성에 의해 전류경로가 불안정하게 제공되어 부품의 파손이 빈번하게 발생되며, 일부부품이 파손 될 시에는 일부라도 재사용이 불가능해 프로브 전체를 교환해야하는 문제점이 있었다.Similar to the semiconductor chip inspection, a structure for accommodating the coil springs in order to elastically flow the plunger is inevitable even in the case of the large current probe. Since the path is provided unstable, the breakage of parts occurs frequently, and when some parts are broken, there is a problem in that the entire probe needs to be replaced because some of them cannot be reused.
상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 본 고안은, 접촉안정성을 가지면서도 코일스프링을 거치지 않는 명확한 전류흐름경로와 상호 기밀한 조립구조에 의해 전류흐름이 안정적으로 이루어져 검사신뢰성을 향상시킬 수 있는 구조의 대용량용 프로브를 제공하는 데 목적이 있다.The present invention devised to solve the problems as described above, the current flow is stable by a clear current flow path and a mutually airtight assembly structure having a contact stability, but does not go through the coil spring can improve the inspection reliability An object of the present invention is to provide a large capacity probe having a structure.
또한, 검사대상물과 접촉되어 하방이동될 시 회로기판과의 전기적 연결경로를 가지고 외통하부에 고정설치된 접촉핀과 안정되게 접촉될 수 있는 플런저 구조를 가지는 대전류용 프로브를 제공하는 데 다른 목적이 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a high current probe having a plunger structure that can be stably contacted with a contact pin fixed to the lower portion of the outer cylinder and has an electrical connection path with the circuit board when it is moved downward in contact with the inspection object.
그리고, 전류밀도 및 접촉저항이 최소화됨에 따라 열화에 따른 파손이 방지되어 프로브 자체 수명을 향상시킬 수 있는 구조의 대용량용 프로브를 제공하는 데 다른 목적이 있다.In addition, there is another object to provide a large-capacity probe having a structure that can prevent damage due to deterioration as the current density and contact resistance is minimized to improve the life of the probe itself.
또한, 조립 및 해체가 용이하여 파손되기 쉬운 부품의 개별교체가 가능한 구조의 대용량용 프로브를 제공하는 데 다른 목적이 있다.In addition, there is another object to provide a large-capacity probe of the structure that can be easily replaced and dismantled, the individual replacement of the parts easily fragile.
도 1 - 본 고안에 따른 대전류용 프로브의 일실시예를 도시한 종단면도.1-A longitudinal cross-sectional view showing an embodiment of a high current probe according to the present invention.
도 2 - 본 고안에 따른 대전류용 프로브의 이실시예를 도시한 종단면도.Figure 2-A longitudinal sectional view showing this embodiment of a high current probe according to the present invention.
<도면에 사용된 주요 부호에 대한 설명><Description of Major Symbols Used in Drawings>
100 : 플런저 110 : 플런저본체100: plunger 110: plunger body
111 : 외통삽입부 112 : 핀삽입홈111: outer cylinder insertion portion 112: pin insertion groove
120 : 접촉선재 130 : 선재고정링120: contact wire 130: wire fixing ring
200 : 외통 210 : 걸림홈200: outer 210: locking groove
300 : 탄성스프링 400 : 접촉핀300: elastic spring 400: contact pin
상술한 바와 같은 목적 달성을 위한 본 고안은, 플런저(100)가 외통(200) 내외로 출몰가능하도록 형성된 대전류용 프로브에 있어서, 상기 플런저(100)는, 상하로 개방형성된 상기 외통(200)에 상향돌출되게 결합되며, 하부에는 하측의 접촉핀(400) 상부가 삽입가능한 핀삽입홈(112)이 형성된 플런저본체(110)와; 상기 플런저본체의 핀삽입홈(112)에 삽입설치되어 상기 핀삽입홈(112)에 삽입되는 상기 접촉핀(400)과 접촉되며, 상기 핀삽입홈(112) 하측으로 돌출된 일단부가 외향절곡된 다수의 접촉선재(120)와; 상기 접촉선재(120)의 절곡단부를 상기 플런저본체(110) 외주상에 밀착고정시키는 선재고정링(130);을 포함하여 구성되는 대전류용 프로브를 기술적 요지로 한다.The present invention for achieving the object as described above, in the large current probe formed so that the plunger 100 can be mounted in and out of the outer cylinder 200, the plunger 100, the outer cylinder 200 is opened up and down A plunger body 110 which is coupled to protrude upward and has a pin insertion groove 112 in which a lower contact pin 400 can be inserted into an upper portion thereof; Inserted into the pin insertion groove 112 of the plunger body is in contact with the contact pin 400 is inserted into the pin insertion groove 112, one end portion protruded to the lower side of the pin insertion groove 112 is bent outwardly A plurality of contact wires 120; The high current probe configured to include a; the wire rod fixing ring 130 for tightly fixing the bent end of the contact wire 120 on the outer circumference of the plunger body 110 as a technical gist.
여기서, 상기 플런저본체(110)는, 상단에 탐침돌기가 형성되며, 상기 외통(200) 내측에 위치한 외통삽입부(111)의 외주면이 원통형상으로 형성되는 실시예를 포함함이 바람직하다.Herein, the plunger body 110 may include an embodiment in which a probe protrusion is formed at an upper end thereof, and an outer circumferential surface of the outer cylinder inserting portion 111 located inside the outer cylinder 200 is formed in a cylindrical shape.
그리고, 상기 플런저본체(110)는, 내향돌출된 상기 외통의 걸림홈(210)에 의해 상하 이동제한되도록 상기 외통(200) 내측에 위치한 외통삽입부(111)의 일부가 외경축소형성되는 다른 실시예를 포함함이 바람직하다.In addition, the plunger main body 110 may have a portion of the outer cylinder insertion portion 111 positioned inside the outer cylinder 200 so as to be limited to move up and down by the locking groove 210 of the outer cylinder protruded inwardly. It is preferable to include an example.
또한, 상기 접촉선재(120)는, 상기 플런저본체의 핀삽입홈(112) 내측으로의 굴곡을 형성하며 설치됨이 바람직하다.In addition, the contact wire 120 is preferably installed to form a bend to the inside of the pin insertion groove 112 of the plunger body.
그리고, 상기 선재고정링(130)은, 상기 플런저본체(110)의 외주면에 연속되는 외경을 형성하며 상기 플런저본체(110)의 하부에 끼워짐이 바람직하다.In addition, the wire fixing ring 130, the outer circumference of the plunger body 110 to form a continuous outer diameter is preferably fitted to the lower portion of the plunger body (110).
또한, 상기 접촉핀(400)은, 상기 플런저본체(110)와의 사이에 탄성스프링(300)을 두고 상기 외통(200) 하부에 고정설치되며, 상기 플런저본체의 핀삽입홈(112)에 삽입가능한 상향돌기가 형성됨이 바람직하다.In addition, the contact pin 400 is fixed to the lower portion of the outer cylinder 200 with an elastic spring 300 between the plunger body 110, can be inserted into the pin insertion groove 112 of the plunger body. It is preferable that an upward protrusion is formed.
따라서, 검사대상물과 접촉되어 하방이동될 시 회로기판과의 전기적 연결경로를 가지고 외통하부에 고정설치된 접촉핀과 안정되게 접촉될 수 있는 플런저 구조를 제공한다는 이점이 있다.Therefore, there is an advantage to provide a plunger structure that can be stably in contact with the contact pin fixed to the lower portion of the outer cylinder having an electrical connection path with the circuit board when the object is moved downward in contact with the inspection object.
또한, 접촉안정성을 가지면서도 코일스프링을 거치지 않는 명확한 전류흐름경로와 상호 기밀한 조립구조에 의해 전류흐름이 안정적으로 이루어져 검사신뢰성을 향상시킬 수 있다는 다른 이점이 있다.In addition, there is another advantage that the current flow is stable by the clear current flow path and the airtight assembly structure which does not go through the coil spring while having contact stability, thereby improving inspection reliability.
그리고, 전류밀도 및 접촉저항이 최소화됨에 따라 열화에 따른 파손이 방지되어 프로브 자체 수명을 향상시킬 수 있다는 다른 이점이 있다.In addition, as the current density and the contact resistance are minimized, there is another advantage of preventing damage due to deterioration and improving the life of the probe itself.
또한, 조립 및 해체가 용이하여 파손되기 쉬운 부품의 개별교체가 가능하다는 다른 이점이 있다.In addition, there is another advantage that it is easy to assemble and dismantle, so that the individual replacement of the parts easily breakable.
상기와 같은 구성을 가지는 본 고안을 다음의 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 도 1은 본 고안에 따른 대전류용 프로브의 일실시예를 도시한 종단면도이고, 도 2는 본 고안에 따른 대전류용 프로브의 이실시예를 도시한 종단면도이다.The present invention having the configuration as described above will be described in detail with reference to the following drawings. 1 is a longitudinal sectional view showing an embodiment of a high current probe according to the present invention, Figure 2 is a longitudinal sectional view showing this embodiment of a high current probe according to the present invention.
본 고안에 따른 대전류용 프로브는, 검사 시험 시 상측의 검사대상물로부터 하방가압을 받아 외통(200) 내외로 탄성적으로 출몰되는 플런저(100)와, 상기 외통(200) 하부에 고정설치되어 회로기판에 하단부가 전기적으로 연결되는 접촉핀(400)을 구비한 대전류용 프로브에 있어서, 상기 플런저(100)를 플런저본체(110), 접촉선재(120), 선재고정링(130)을 포함하여 구성시킨 구조를 가진다.The high current probe according to the present invention is plunger 100 that is elastically retracted into and out of the outer cylinder 200 by receiving downward pressure from an upper inspection object during an inspection test, and is fixedly installed on the lower portion of the outer cylinder 200 to provide a circuit board. In the large current probe having a contact pin 400 that is electrically connected to the lower end of the plunger, the plunger 100 comprises a plunger body 110, a contact wire 120, a wire fixing ring 130 Has a structure.
상기 플런저본체(110)는 상하로 개방형성된 원통형상의 상기 외통(200) 내측에 상부가 상향돌출되도록 설치되며, 상기 외통(200)으로부터 돌출되어 검사대상물과 접촉 및 가압이 이루어지는 상단부에는 검사대상물과의 접촉신뢰성을 높일 수있도록 다수의 탐침돌기가 형성되고, 상기 외통(200) 내측에 위치한 외통삽입부(111)는 상기 외통(200) 외부로 이탈되지 않도록 상기 외통(200)형상에 대응되는 외주형상을 가지며, 상기 외통삽입부(111)의 하부에는 상기 외통(200)의 하부에 고정설치된 상기 접촉핀(400)의 상부가 삽입가능하도록 상기 접촉핀의 상부 위치 및 형상에 대응되도록 하단부에서 상측으로 핀삽입홈(112)이 형성된다.The plunger body 110 is installed so that an upper portion of the upper cylinder 200 is opened upwardly and upwardly upward and downwardly, and protrudes from the outer cylinder 200 to contact and pressurize an object to be tested with an inspection object. A plurality of probe protrusions are formed to increase contact reliability, and the outer cylinder insertion portion 111 located inside the outer cylinder 200 has an outer circumferential shape corresponding to the outer cylinder 200 shape so as not to be separated out of the outer cylinder 200. The lower part of the outer cylinder inserting portion 111 has a lower portion from the lower portion to correspond to the upper position and shape of the contact pin so that the upper portion of the contact pin 400 fixed to the lower portion of the outer cylinder 200 can be inserted. The pin insertion groove 112 is formed.
상기 접촉선재(120)는 상기 플런저본체의 핀삽입홈(112)에 삽입설치되어, 상기 플런저본체(110)가 가압을 받아 하방이동될 시 상기 핀삽입홈(112) 내측으로 삽입되는 상기 접촉핀(400)과 직접 접촉되어 주요한 전류의 흐름경로를 형성하게 된다.The contact wire 120 is inserted into the pin insertion groove 112 of the plunger body so that the contact pin is inserted into the pin insertion groove 112 when the plunger body 110 is moved downward under pressure. It is in direct contact with 400 to form a major current flow path.
상기 접촉선재(120)의 형상은 도 1, 2에 도시된 상기 일, 이실시예에서 상기 핀삽입홈(110) 내측으로 중앙부가 돌출되도록 굴곡형성된 형상에 한정되지 않고, 상기 접촉선재(120)의 상단부로 갈수록 상기 핀삽입홈(110) 내측으로 보다 내향되는 형상으로 형성되는 등 소재, 프로브의 사이즈, 상기 접촉핀(400)의 상부형상에 따라 다양한 실시예를 가지도록 함이 바람직하다.The shape of the contact wire 120 is not limited to the shape that is bent so as to protrude a central portion into the pin insertion groove 110 in the one, in this embodiment shown in Figures 1 and 2, the contact wire 120 It is preferable to have a variety of embodiments according to the material, the size of the probe, the upper shape of the contact pin 400, such as is formed in a more inward shape toward the upper end of the pin insertion groove 110.
그리고, 상기 일, 이실시예와 같은 형상을 가지더라도 상기 접촉선재(120)의 상단이 상기 핀삽입홈(110)의 상단과 소정의 이격거리를 두도록 하면 상기 접촉핀(400)과의 접촉부위가 가압을 받아 편평해지면서 상기 접촉핀(400)과의 접촉면적이 보다 확장되면서도 상기 접촉핀(400)과의 마찰을 최소화시킬 수 있으며, 상기 접촉선재(120)의 상단을 상기 핀삽입홈(110) 상단에 한정시키면 상기 접촉핀(400)과 접촉부위가 가압을 받아 탄성변형되면서 상기 접촉핀(400)과의 접촉부가 보다 확장됨과 동시에 접촉이 명확하게 이루어지도록 할 수 있다.Further, even if the upper end of the contact wire 120 has a predetermined distance from the upper end of the pin insertion groove 110, even if it has the same shape as this embodiment, the contact portion with the contact pin 400. While being flattened under pressure, the contact area with the contact pin 400 can be further expanded and the friction with the contact pin 400 can be minimized, and the upper end of the contact wire 120 has the pin insertion groove ( When the upper limit of the contact pin 400 and the contact portion is elastically deformed under pressure, the contact portion with the contact pin 400 can be more expanded and the contact can be made clearly.
상기 접촉선재(120)는 상기 핀삽입홈(112) 하측으로 돌출된 일단부가 외향절곡형성되며, 상기 접촉선재(120)의 절곡단부는 상기 플런저본체(110) 외측에 위치하게 되고 상기 플런저본체(110)의 하단부 외주상에 링형상으로 끼워지는 선재고정링(130)에 의해 상기 플런저본체(110) 외주상에 밀착고정된다.One end portion of the contact wire 120 protruding downward from the pin insertion groove 112 is formed outwardly, and a bent end of the contact wire 120 is located outside the plunger body 110 and the plunger body ( The plunger body 110 is fixed to the outer circumference of the plunger body 110 by a wire rod fixing ring 130 fitted in a ring shape on the outer circumference of the lower end portion.
본 고안에 따른 대전류용 프로브에서 검사대상물로부터 전달된 전류는 상기 플런저본체(110)를 타고 하측으로 흘러 상기 접촉선재(120)를 통해 회로기판에 연결된 상기 접촉핀(400)으로 전달되며, 상기 접촉선재(120)의 갯수가 많을수록 상기 접촉핀(400)과의 접촉면적이 확장되어 접촉안정성이 보다 향상될 수 있고, 코일스프링(400) 뿐만 아니라 상기 접촉선재(120) 및 접촉핀(400)의 접촉면적에 해당되는 명확한 전류흐름경로에 의해 전류흐름이 안정적으로 이루어져 검사신뢰성을 향상시키게 된다.In the high current probe according to the present invention, the current transmitted from the inspection object flows downward through the plunger body 110 and is transmitted to the contact pin 400 connected to the circuit board through the contact wire 120, and the contact As the number of wire rods 120 increases, the contact area with the contact pins 400 may be extended to improve contact stability, and the contact wires 120 and the contact pins 400 as well as the coil springs 400 may be improved. Clear current flow path corresponding to the contact area ensures stable current flow, improving inspection reliability.
상기 접촉선재(120)와 접촉핀(400)의 접촉면적에 해당되는 전류흐름경로가 형성됨에 따라 전류밀도 및 접촉저항이 현격히 저하되어 열화에 따른 파손이 방지되고, 조립 및 해체가 용이하여 손상된 각 구성요소의 개별교체 또한 가능하다.As the current flow path corresponding to the contact area of the contact wire 120 and the contact pin 400 is formed, the current density and the contact resistance are remarkably lowered to prevent breakage due to deterioration, and easy to assemble and dismantle. Individual replacement of the components is also possible.
도 1, 2에 도시된 상기 일실시예와 이실시예를 들어 보다 상세히 설명하기로 한다.1 and 2 will be described in more detail with reference to the embodiment and this embodiment.
상기 일실시예에서 상기 외통(200)의 상단부는 내측으로 완곡형성된 형상을 가지며 상기 플런저본체(110)는 상기 외통(200)의 상단부 형상에 대응되도록 상기 외통(200) 내측에 위치한 외통삽입부(111)의 외주면 형상을 원통형상으로 형성시키고, 상기 외통(200)에 돌출되는 돌출부를 상기 외통(200)의 개방공 크기에 해당되는 외경을 가지도록 형성시키고 있다.In the exemplary embodiment, the upper end of the outer cylinder 200 has a shape that is bent inwardly and the plunger body 110 has an outer cylinder inserting portion located inside the outer cylinder 200 to correspond to the upper end of the outer cylinder 200. The outer circumferential surface shape of the 111 is formed in a cylindrical shape, and the protrusions protruding from the outer cylinder 200 are formed to have an outer diameter corresponding to the size of the opening of the outer cylinder 200.
상기 이실시예에서 상기 외통(200)은 상부에 내향돌출된 걸림홈(210)이 형성된 구조를 가지며, 상기 플런저본체(110)는 상기 외통의 걸림홈(210)에 걸려 상하 이동이 한정되도록 상하이동거리에 해당되는 일부의 외경이 축소형성된 구조를 가진다.In this embodiment, the outer cylinder 200 has a structure in which the engaging groove 210 is projected inwardly formed on the upper portion, and the plunger body 110 is caught up by the engaging groove 210 of the outer cylinder so that the vertical movement is limited. Some of the outer diameter corresponding to the moving distance has a reduced structure.
상기 일, 이실시예에서 상기 외통(200)의 하부에는 상기 선재고정링(130)이 상기 접촉선재(120)의 외측단부를 수용하면서 상기 외통(200)에 끼워질 시 상기 플런저본체의 외통삽입부(111) 상부와 연속되는 매끈한 외경을 형성할 수 있도록 하단부 외주둘레에 링끼움홈 및 선재수용홈이 형성되고, 상기 선재고정링(130) 또한 상기 외통삽입부(111) 상부와 동일한 외경을 가지도록 형성되며, 상기 접촉선재(120)의 하단을 상기 플런저본체(110)의 하단에 가압고정시키는 걸림턱을 구비하여 상기 접촉선재(120)의 상기 외통(200)으로의 조립성, 밀착성, 견고성을 보다 향상시킨다.The one, in this embodiment, when the wire rod fixing ring 130 is fitted to the outer cylinder 200 while receiving the outer end of the contact wire 120 in the lower portion of the outer cylinder 200 is inserted into the outer cylinder of the plunger body A ring fitting groove and a wire receiving groove are formed at the outer circumference of the lower end so as to form a smooth outer diameter continuous with the upper part 111, and the wire fixing ring 130 also has the same outer diameter as the upper part of the outer cylinder inserting part 111. It is formed to have, the lower end of the contact wire 120 is provided with a locking jaw for pressing and fixing the lower end of the plunger body 110, the assembly of the contact wire 120 to the outer cylinder 200, adhesion, Improves robustness further.
상기 접촉핀(400)은 상기 플런저본체(110)와의 사이에 탄성스프링(300)을 두고 상기 외통(200) 하부에 고정설치되며, 상기 플런저본체의 핀삽입홈(112)에 삽입될 시 상기 접촉선재(120)의 접촉이 원만하게 이루어질 수 있는 형상의 상향돌기가 형성된다.The contact pin 400 has an elastic spring 300 between the plunger body 110 and is fixedly installed at the lower portion of the outer cylinder 200, when the contact pin 400 is inserted into the pin insertion groove 112 of the plunger body. The upward projection of the shape that can be made smoothly the contact of the wire rod 120 is formed.
상술한 바와 같은 구성에 의한 본 고안은, 검사대상물과 접촉되어 하방이동될 시 회로기판과의 전기적 연결경로를 가지고 외통하부에 고정설치된 접촉핀과 안정되게 접촉될 수 있는 플런저 구조를 제공한다는 효과가 있다.The present invention has the effect of providing a plunger structure that can be stably contacted with a contact pin fixed to the lower part of the outer cylinder with an electrical connection path with the circuit board when it is moved downward in contact with the inspection object. have.
또한, 접촉안정성을 가지면서도 코일스프링을 거치지 않는 명확한 전류흐름경로와 상호 기밀한 조립구조에 의해 전류흐름이 안정적으로 이루어져 검사신뢰성을 향상시킬 수 있다는 다른 효과가 있다.In addition, there is another effect that the current flow is stable by the clear current flow path and the airtight assembly structure which does not go through the coil spring while having contact stability, thereby improving inspection reliability.
그리고, 전류밀도 및 접촉저항이 최소화됨에 따라 열화에 따른 파손이 방지되어 프로브 자체 수명을 향상시킬 수 있다는 다른 효과가 있다.In addition, as the current density and the contact resistance are minimized, damage due to deterioration is prevented, thereby improving another life of the probe itself.
또한, 조립 및 해체가 용이하여 파손되기 쉬운 부품의 개별교체가 가능하다는 다른 효과가 있다.In addition, it is easy to assemble and dismantle, there is another effect that the individual replacement of parts that are easily broken.
Claims (6)
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20-2004-0022923U KR200366552Y1 (en) | 2004-08-11 | 2004-08-11 | a probe for electric current of a large quantity |
| JP2004350776A JP4089976B2 (en) | 2004-05-17 | 2004-12-03 | High current probe |
| US11/006,938 US7253647B2 (en) | 2004-05-17 | 2004-12-08 | Probe for high electric current |
| TW094113030A TWI264540B (en) | 2004-05-17 | 2005-04-25 | Probe used for high electric current |
| CNB2005100709076A CN100343678C (en) | 2004-05-17 | 2005-05-17 | Probe for high electric current |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20-2004-0022923U KR200366552Y1 (en) | 2004-08-11 | 2004-08-11 | a probe for electric current of a large quantity |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR200366552Y1 true KR200366552Y1 (en) | 2004-11-06 |
Family
ID=49440328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR20-2004-0022923U KR200366552Y1 (en) | 2004-05-17 | 2004-08-11 | a probe for electric current of a large quantity |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR200366552Y1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100837791B1 (en) * | 2006-10-26 | 2008-06-13 | 리노공업주식회사 | A contracting structure probe and receptacle for electric current of a large quantity |
-
2004
- 2004-08-11 KR KR20-2004-0022923U patent/KR200366552Y1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100837791B1 (en) * | 2006-10-26 | 2008-06-13 | 리노공업주식회사 | A contracting structure probe and receptacle for electric current of a large quantity |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101951705B1 (en) | Pogo pin and test socket for implementing array of the same | |
| KR101012712B1 (en) | Compliant electrical interconnect and electrical contact probe | |
| US9310395B2 (en) | Probe member for pogo pin | |
| KR20110065047A (en) | Test socket, the fabrication method thereof and pogo pin | |
| KR102715188B1 (en) | Contact pin for test socket and test socket comprising the same | |
| US7601008B2 (en) | Socket adaptor apparatus | |
| KR101266122B1 (en) | Contact device for test and fabrication method thereof | |
| JP6243130B2 (en) | Electrical contact and socket for electrical parts | |
| KR20170090586A (en) | Probe pin and manufacturing method thereof | |
| JP2006208329A (en) | Vertical coil spring probe | |
| JP4089976B2 (en) | High current probe | |
| US11555829B2 (en) | Probe member for pogo pin, manufacturing method therefor and pogo pin comprising same | |
| US20200393495A1 (en) | Replaceable double-type probe pin | |
| JP2006269366A (en) | Electric contactor and socket for electrical component | |
| US10962570B2 (en) | System, a tangent probe card and a probe head assembly for testing semiconductor wafer | |
| KR100608232B1 (en) | a probe for electric current of a large quantity | |
| KR200366552Y1 (en) | a probe for electric current of a large quantity | |
| CN111919123B (en) | Leaf spring type connecting pin | |
| KR200359220Y1 (en) | a probe for electric current of a large quantity | |
| JP3155679U (en) | Pogo pin connector | |
| JP5567523B2 (en) | Connection pin | |
| KR101843472B1 (en) | A fineness-double probe pin | |
| WO2008084906A1 (en) | Semiconductor chip package carrier | |
| KR100970898B1 (en) | test socket for memory module | |
| KR100947281B1 (en) | Probe contact for test socket and test socket including the same |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| REGI | Registration of establishment | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120921 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131015 Year of fee payment: 10 |
|
| EXPY | Expiration of term |