KR20030060959A - 다중 레이저 광 감지 시스템 및 방법 - Google Patents
다중 레이저 광 감지 시스템 및 방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (33)
- 표적 특성을 검출하는 다중 레이저 광 감지 시스템에 있어서,적어도 두 개의 방사구(emission aperture)가 있는 레이저원;상기 레이저원에 동작식으로 응답하는 적어도 하나의 검출기; 및상기 적어도 하나의 검출기에 동작식으로 결합된 마이크로프로세서를 구비하며,상기 레이저원은 목표가 위치한 환경에 적어도 두 개의 레이저 신호를 방사하고, 상기 적어도 하나의 검출기는 상기 환경을 통과한 상기 적어도 두 개의 레이저 신호를 검출하며, 상기 마이크로프로세서는 상기 검출기가 수용한 상기 신호에 기초하여 표적 특성을 결정하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 레이저원은 수직 공동 표면 발광 레이저(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)인 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 레이저원은 적어도 두 개의 레이저 신호를 정적으로(statically) 방사하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 레이저원은 시간에 따라 연속적으로 적어도 하나의 레이저 신호를 방사하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 검출기는 클로즈 캡션 카메라(closed-captioned camera)인 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 검출기는 광 다이오드인 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 적어도 두 개의 레이저 신호는 동일한 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 적어도 두 개의 레이저 신호는 동일하지 않는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 적어도 두 개의 레이저 신호가 통과하는 적어도 하나의 렌즈를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 레이저 신호를 반사하는 거울을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제1항에 있어서, 상기 적어도 두 개의 레이저 신호가 통과하는 코드 휠(code wheel)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 수직 공동 표면 발광 레이저(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)를 이용하여 표적 특성을 검출하는 다중 레이저 광 감지 시스템에 있어서,사진평판에 의해 형성된 적어도 두 개의 방사구가 있는 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체;상기 수직 공동 표면 발광 레이저에 동작식으로 응답하는 적어도 하나의 검출기; 및상기 적어도 하나의 검출기에 동작식으로 결합된 마이크로프로세서를 구비하며,상기 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체는 적어도 두 개의 레이저 신호를 환경에 방사하고, 상기 적어도 하나의 검출기는 상기 환경을 통과한 상기 적어도 두 개의 레이저 신호를 검출하며, 상기 마이크로프로세서는 상기 검출기가 수용한 상기 신호에 기초하여 표적 특성을 결정하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제12항에 있어서, 상기 레이저원은 적어도 두 개의 레이저 신호를 정적으로(statically) 방사하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
- 제12항에 있어서, 상기 레이저원은 시간에 따라 연속적으로 적어도 하나의 레이저 신호를 방사하는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 광 감지 시스템.
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- 수직 공동 표면 발광 레이저(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)를 투과식으로 이용하여 표적 특성을 검출하는 방법에 있어서,수직 공동 표면 발광 레이저 구조체가 적어도 두 개의 레이저 신호를 환경에 정적으로 방사하는 단계;적어도 하나의 표적이 상기 레이저 신호를 차단하는 단계;상기 레이저 신호 중에서 상기 표적에 의해 차단되지 않은 신호를 적어도 하나의 검출기가 투과식으로 수용하는 단계; 및마이크로프로세서가 상기 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체에 의해 방사된 상기 레이저 신호의 특성을 상기 검출기에 의해 수용된 상기 레이저 신호의 특성과 비교하여 표적 특성을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 투과식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제22항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는, 상이한 어레이의 상기 레이저신호가 상기 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체에 의해 방사된 후에, 상기 레이저 신호 중의 어떤 신호가 상기 검출기에 의해 수용되는 지를 결정함으로써, 상기 표적의 크기 또는 형태를 결정하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 투과식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제22항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 상기 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체에 의해 방사된 상기 레이저 신호의 어레이를 상기 검출기에 의해 수용된 상기 레이저 신호의 어레이와 비교하여 특정한 표적의 존재 유무를 결정하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 투과식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제22항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 상기 표적에 의해 차단되는 상기 레이저 신호의 어레이의 변화를 검출하여 상기 표적의 동작을 검출하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 투과식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제22항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 특정한 표적에 의해 차단되는 상기 레이저 신호의 특정한 어레이의 변화를 검출하여 상기 특정 표적의 동작을 검출하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 투과식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 수직 공동 표면 발광 레이저(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)를 반사식으로 이용하여 표적 특성을 검출하는 방법에 있어서,수직 공동 표면 발광 레이저 구조체가 시간에 따라 적어도 하나의 레이저 신호를 환경에 연속적으로 방사하는 단계;적어도 하나의 표적이 상기 레이저 신호 중의 적어도 하나의 신호를 차단하는 단계;적어도 하나의 검출기가 상기 표적에 의해 반사된 상기 레이저 신호 중의 적어도 일부를 수용하는 단계; 및마이크로프로세서가 상기 수직 공동 표면 발광 레이저에 의해 방사된 상기 레이저 신호의 시간적 특성을 상기 검출기에 의해 수용된 상기 레이저 신호의 시간적 특성과 비교하여 표적 특성을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 반사식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제27항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는, 상이한 어레이의 상기 레이저신호가 상기 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체에 의해 방사된 후에, 상기 레이저 신호 중의 어떤 신호가 상기 검출기에 의해 수용되는 지를 결정함으로써, 상기 표적의 크기 또는 형태를 결정하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 반사식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제27항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는, 상기 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체에 의해 방사된 상기 레이저 신호의 어레이를 상기 검출기에 의해 수용된 상기 레이저 신호의 어레이와 비교하여 특정한 표적의 시간외 부재(over time absence)를 비교함으로써, 상기 표적의 각도 위치 또는 공간 위치를 결정하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 반사식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제27항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는, 상기 수직 공동 표면 발광 레이저 구조체에 의해 방사된 상기 레이저 신호의 어레이를 상기 검출기에 의해 수용된 상기 레이저 신호의 어레이와 비교함으로써, 특정한 상기 표적의 존재 유무를 결정하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 반사식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
- 제27항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 상기 표적에 의해 차단되는 상기 레이저 신호의 어레이의 변화를 검출하여 상기 표적의 동작을 검출하는 것을 특징으로 하는 수직 공동 표면 발광 레이저를 반사식으로 이용한 표적 특성 검출 방법.
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JPS5435495U (ko) | 1977-07-29 | 1979-03-08 | ||
US4373804A (en) | 1979-04-30 | 1983-02-15 | Diffracto Ltd. | Method and apparatus for electro-optically determining the dimension, location and attitude of objects |
EP0099453A3 (en) | 1980-02-12 | 1984-08-22 | Supermarket Systems | Machine for the deconsignment of articles, such as bottles |
US4509075A (en) | 1981-06-15 | 1985-04-02 | Oxbridge, Inc. | Automatic optical inspection apparatus |
WO1988000745A1 (en) | 1986-07-24 | 1988-01-28 | Keith Jeffrey Gate | Detection system |
JPH0175817U (ko) * | 1987-11-09 | 1989-05-23 | ||
US5166741A (en) * | 1991-04-29 | 1992-11-24 | Motorola, Inc. | Optoelectronic speed/direction detector |
US5266810A (en) | 1992-04-14 | 1993-11-30 | Imtec, Inc. | Package height detector having a first group of light sensors selectively enabled by the detector outputs of a second group of light sensors |
US5382785A (en) | 1992-05-04 | 1995-01-17 | Diolase Corporation | Laser beam delivery path and target proximity sensor |
US5835613A (en) | 1992-05-05 | 1998-11-10 | Automotive Technologies International, Inc. | Optical identification and monitoring system using pattern recognition for use with vehicles |
DE4404483A1 (de) | 1994-02-12 | 1995-08-17 | Junghans Gmbh Geb | Verfahren zur Erkennung von Gegenständen |
US5793485A (en) | 1995-03-20 | 1998-08-11 | Sandia Corporation | Resonant-cavity apparatus for cytometry or particle analysis |
US5635724A (en) | 1995-06-07 | 1997-06-03 | Intecolor | Method and apparatus for detecting the location of an object on a surface |
AUPN744696A0 (en) | 1996-01-05 | 1996-02-01 | Appleyard, Thomas John | Safety apparatus and protection method for machines |
US6091504A (en) | 1998-05-21 | 2000-07-18 | Square One Technology, Inc. | Method and apparatus for measuring gas concentration using a semiconductor laser |
US6288644B1 (en) | 1998-09-01 | 2001-09-11 | Caretaker System, Inc. | Perimeter monitoring system |
US6203985B1 (en) | 1998-09-08 | 2001-03-20 | Motorola, Inc. | Bio-molecule analyzer with photosensitive material and fabrication |
DE19843176C1 (de) * | 1998-09-21 | 2000-10-19 | Siemens Ag | Optischer Encoder zur Erfassung von Dreh- und Linearbewegungen |
US6115111A (en) | 1998-10-05 | 2000-09-05 | Korah; John K. | Semiconductor laser based sensing device |
US6353502B1 (en) | 2000-06-13 | 2002-03-05 | Eastman Kodak Company | VCSEL field correction |
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