KR20030026551A - A memory module having the function of compensating output driving circuits of memory chips - Google Patents

A memory module having the function of compensating output driving circuits of memory chips Download PDF

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Abstract

PURPOSE: A memory module having function of correcting output a driving circuit of a memory chip is provided, which are capable of controlling a drive property of an output driving circuit by including control circuits for adjusting the drive property in a module. CONSTITUTION: An output driving circuit outputs data in response to a control signal. Each of a plurality of memory chips(32-1-32-4) has an output voltage detecting and controlling circuit(22) that compares a voltage from a control node(N2) with a reference voltage and adjusts a drive property of the output driving circuit. A reference load(24) maintains a voltage of the control node which is changed according to a voltage level of data output from the output driving circuit. The reference load is embedded in a different function block from the memory chips in a memory module(30).

Description

메모리 칩의 출력 구동회로 보정 기능을 구비한 메모리 모듈{A MEMORY MODULE HAVING THE FUNCTION OF COMPENSATING OUTPUT DRIVING CIRCUITS OF MEMORY CHIPS}Memory module with correction function of output driving circuit of memory chip {A MEMORY MODULE HAVING THE FUNCTION OF COMPENSATING OUTPUT DRIVING CIRCUITS OF MEMORY CHIPS}

본 발명은 메모리 모듈에 관한 것으로, 특히 메모리 칩내의 출력 구동회로를 제어하는 기능을 구비한 메모리 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a memory module, and more particularly, to a memory module having a function of controlling an output driving circuit in a memory chip.

최근의 컴퓨터 및 이에 수반되는 메모리 제어 시스템은 고속화 및 저전력화를 지향하고 있다. 데이터의 입출력 전송속도는 점점 더 빨라지고, 동작전압은 점점 더 낮아지고 있는 추세이다. 이와 같은 메모리 동작속도의 고속화와 동작전압의 감소는 고주파 잡음의 증가 및 신호 진폭의 감소 등으로 이어져, 전체 시스템의 마아진을 크게 줄이는 요인이 되며 이에 따라 시스템의 각 부분에 보다 엄격한 제한 조건이 가해지게 되었다.Recent computers and accompanying memory control systems have been sought for high speed and low power. The input / output transmission speed of data is getting faster and the operating voltage is getting lower. This increase in memory operating speed and decrease in operating voltage lead to an increase in high frequency noise and a decrease in signal amplitude, which greatly reduces the margin of the entire system, thereby imposing stricter constraints on the parts of the system. It became.

메모리 제어 시스템의 경우를 예로 들면, 메모리 버스채널 선로의 임피던스나 길이 등과 같이 버스를 구성하는 각종 파라미터의 변동폭을 최소화하여야 고속·저전압 동작에 필요한 시스템 구성요건을 충족시킬 수 있다. 이와 관련하여 메모리 칩내에서 직접 버스채널을 구동하는 출력 구동회로는 채널상의 신호특성을 결정하는데 있어서 직접적인 영향을 끼치기 때문에, 이의 특성을 시스템에서 요구하는 수준으로 엄격히 관리해야 한다. 따라서, 고속 메모리 제어 시스템에서는 채널의 신호전송 특성을 만족시키기 위해 출력 구동회로의 구동 강도, 구동 저항, 그리고, 슬루율(slew rate) 등과 같은 구동 특성을 정해진 사양내에서 유지하도록 규정하는 경우가 대부분이다.For example, in the case of a memory control system, it is necessary to minimize fluctuations in various parameters constituting the bus such as impedance and length of a memory bus channel line to satisfy system configuration requirements for high speed and low voltage operation. In this regard, since the output driving circuit which directly drives the bus channel in the memory chip has a direct influence on determining the signal characteristics on the channel, its characteristics must be strictly managed to the level required by the system. Therefore, in the high-speed memory control system, in order to satisfy the signal transmission characteristic of the channel, in most cases, it is required to maintain the driving characteristics such as the driving strength, the driving resistance, and the slew rate of the output driving circuit within a predetermined specification. to be.

그러나, 집적회로의 특성상 공정에 의해 메모리 칩내의 출력 구동회로의 특성이 달라지게 되며, 동일한 메모리 칩이라 하더라도 시스템에서 회로의 구동전압이나 온도 등 주위환경에 의한 트랜지스터 특성의 변화에 의해 구동회로의 특성은 계속해서 변화한다. 따라서, 모든 공정 및 동작환경이 변화하는 조건에서는 설계적인 방법만으로 메모리 칩 구동회로의 특성을 일정 범위내로 만족시키는 데에는 한계가 있다. 최근에는 고속 메모리 제어 시스템에서 메모리 칩내의 구동회로를 보정하기 위한 보정회로를 사용하여 구동회로의 특성을 미세하게 조정함으로써, 원하는 동작특성을 얻는 방식이 널리 이용되고 있다.However, due to the characteristics of the integrated circuit, the characteristics of the output driving circuit in the memory chip are changed by the process, and even in the same memory chip, the characteristics of the driving circuit are changed by the change of transistor characteristics by the ambient environment such as the driving voltage and temperature of the circuit in the system. Continues to change. Therefore, there is a limit to satisfying the characteristics of the memory chip driving circuit within a certain range by a design method only under conditions where all processes and operating environments change. Recently, a method of obtaining desired operating characteristics by finely adjusting the characteristics of the driving circuit using a correction circuit for correcting the driving circuit in the memory chip in a high speed memory control system has been widely used.

일반적으로, 구동회로의 출력에 보정용 기준부하를 연결했을 때 나타나는 출력신호를 검출하여, 이 신호를 미리 설정된 기준 값과 비교한 후 그 결과에 따라 출력 구동회로의 구동 특성을 적절히 조절하는 구동회로 보정방식이 사용되고 있다. 종래의 메모리 제어 시스템에서는, 일반적으로 메모리 칩으로부터 구동된 신호를 메모리 제어 칩 세트에서 검출하고, 그 결과에 따라 해당 메모리 칩의 출력 구동회로의 구동 특성을 보정하기 위한 보정 명령을 보내면, 메모리 칩에서 이를 받아서 구동회로 특성을 조절하는 방식을 취하고 있다.Generally, the drive circuit correction detects an output signal that appears when the reference load for correction is connected to the output of the drive circuit, compares this signal with a preset reference value, and then adjusts the drive characteristics of the output drive circuit accordingly as a result. The method is being used. In a conventional memory control system, generally, a signal driven from a memory chip is detected in a memory control chip set, and a correction command for correcting driving characteristics of an output driving circuit of the corresponding memory chip is sent when the signal is driven from the memory chip. In response to this, the driving circuit characteristics are adjusted.

본 발명의 목적은 메모리 칩내의 출력 구동회로의 구동 특성을 조절하기 위한 제어회로들을 모듈내에 구비함으로써 출력 구동회로의 구동 특성을 정확하게 제어할 수 있는 메모리 모듈을 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a memory module capable of accurately controlling the driving characteristics of an output driving circuit by including control circuits in the module for adjusting the driving characteristics of the output driving circuit in the memory chip.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 메모리 모듈의 일 형태는 제어신호에 응답하여 데이터를 출력하기 위한 출력 구동회로와 제어노드로부터의 전압과 기준전압을 비교하여 상기 출력 구동회로의 구동 특성을 조절하기 위한 출력 전압 검출 및 제어회로를 각각 구비한 복수개의 메모리 칩들, 및 상기 출력 구동회로로부터 출력되는 데이터의 전압 레벨에 따라 변화되는 상기 제어노드의 전압을 유지하기 위한 기준부하를 구비하는 것을 특징으로 한다.One embodiment of the memory module of the present invention for achieving the above object is to adjust the drive characteristics of the output drive circuit by comparing the output voltage and the reference voltage from the output node and the control node for outputting data in response to the control signal And a plurality of memory chips each having an output voltage detection and control circuit, and a reference load for maintaining a voltage of the control node that is changed according to a voltage level of data output from the output driving circuit. .

상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 메모리 모듈의 다른 형태는 제어신호에 응답하여 데이터를 출력하기 위한 출력 구동회로를 각각 구비한 복수개의 메모리 칩들, 제어노드로부터의 전압과 기준전압을 비교하여 상기 출력 구동회로의 구동 특성을 조절하기 위한 출력 전압 검출 및 제어회로, 및 상기 출력 구동회로로부터 출력되는 데이터의 전압 레벨에 따라 변화되는 상기 제어노드의 전압을 유지하기 위한 기준부하를 구비하는 것을 특징으로 한다.Another aspect of the memory module of the present invention for achieving the above object is a plurality of memory chips each having an output drive circuit for outputting data in response to a control signal, by comparing the voltage from the control node and the reference voltage An output voltage detection and control circuit for adjusting the driving characteristics of the output driving circuit, and a reference load for maintaining the voltage of the control node which is changed in accordance with the voltage level of data output from the output driving circuit. do.

도1은 일반적인 메모리 칩의 출력 구동회로의 보정 과정을 단순화시켜 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a simplified process of correcting an output driving circuit of a general memory chip.

도2는 종래의 메모리 모듈과 메모리 제어회로의 구성을 나타내는 블록도이다.2 is a block diagram showing the configuration of a conventional memory module and a memory control circuit.

도3은 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 칩의 출력 구동회로 보정 기능을 구비한 메모리 모듈을 나타내는 블록도이다.3 is a block diagram illustrating a memory module having an output driving circuit correction function of the memory chip according to an embodiment of the present invention.

도4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 메모리 칩의 출력 구동회로 보정 기능을 구비한 메모리 모듈을 나타내는 블록도이다.4 is a block diagram illustrating a memory module having an output driving circuit correction function of a memory chip according to another exemplary embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10, 32-1 ~ 32-4 : 메모리 칩 20 : 메모리 제어회로10, 32-1 to 32-4: memory chip 20: memory control circuit

24, 38 : 기준부하 34-1 ~ 34-4 : 출력 구동회로24, 38: Reference load 34-1 ~ 34-4: Output drive circuit

22, 36-1 ~ 36-4 : 출력전압 검출 및 제어회로22, 36-1 ~ 36-4: Output voltage detection and control circuit

30, 40, 60 : 메모리 모듈 50 : 기능 칩30, 40, 60: memory module 50: function chip

첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명에 따른 메모리 모듈을 설명하기 전에 종래의 메모리 모듈 및 메모리 제어 시스템을 설명하면 다음과 같다.Before describing the memory module according to the present invention with reference to the accompanying drawings will be described a conventional memory module and memory control system as follows.

도1은 일반적인 메모리 칩의 출력 구동회로의 보정 과정을 단순화시켜 나타낸 블록도로서, 출력 구동회로(12)를 구비한 메모리 칩(10), 출력전압 검출 및 제어회로(22)와 기준부하(24)를 구비한 메모리 제어회로(20)로 구성되어 있다.FIG. 1 is a block diagram illustrating a simplified process of correcting an output driving circuit of a general memory chip. The memory chip 10 including the output driving circuit 12, the output voltage detection and control circuit 22, and the reference load 24 are illustrated in FIG. Memory control circuit 20 is provided.

도1에서, 출력 구동회로(12)는 메모리 칩(10)내부에서 발생되는 데이터(DO)에 응답하여 출력 데이터(DOUT)를 발생한다. 기준부하(24)는 변화되는 출력 데이터(DOUT)에 따라 노드(N1)의 레벨을 유지한다. 출력전압 검출 및 제어회로(22)는 노드(N1)의 레벨과 미리 설정된 기준 레벨을 비교하여 출력 구동회로(12)의 구동 특성을 조절한다.In FIG. 1, the output driving circuit 12 generates output data DOUT in response to data DO generated inside the memory chip 10. The reference load 24 maintains the level of the node N1 according to the output data DOUT that is changed. The output voltage detection and control circuit 22 compares the level of the node N1 with a preset reference level to adjust the driving characteristics of the output driving circuit 12.

도2는 종래의 메모리 모듈 및 메모리 제어회로의 구성을 나타내는 블록도로서, 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)을 각각 구비한 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4)을 구비한 메모리 모듈(30), 출력전압 검출 및 제어회로(22)와 기준부하(24)를 구비한 메모리 제어회로(20)로 구성되어 있다.Fig. 2 is a block diagram showing the structure of a conventional memory module and a memory control circuit, and includes memory chips 32-1 to 32-4 each having output driving circuits 34-1 to 34-4. It is composed of a memory module 30, an output voltage detection and control circuit 22, and a memory control circuit 20 having a reference load 24.

도2에 나타낸 블록도는 하나의 메모리 칩이 인에이블되어 동작을 수행하는 동안 나머지 메모리 칩들은 디스에이블되어 동작을 수행하지 않게 된다. 즉, 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4)이 하나의 기준부하(24)를 공유하고, 인에이블된 하나의 메모리 칩에 대한 출력 드라이버의 구동 특성을 조절하게 되고, 디스에이블된 다른 메모리 칩들에 대한 구동 특성에는 영향을 미치지 않게 된다.The block diagram shown in FIG. 2 shows that while one memory chip is enabled to perform an operation, the remaining memory chips are disabled to not perform an operation. That is, the memory chips 32-1 to 32-4 share one reference load 24, adjust driving characteristics of an output driver with respect to one enabled memory chip, and disable other memory chips. It does not affect the driving characteristics for.

도2에서, 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4) 각각은 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4) 각각의 내부로부터 발생되는 데이터(DO1, DO2, DO3, DO4) 각각에 응답하여 출력 데이터(DOUT1 ~ DOUT4)를 발생한다. 기준부하(24)는 변화되는 출력 데이터(DOUT1 ~ DOUT4)에 따라 노드(N2)의 레벨을 유지한다. 출력전압 검출 및 제어회로(22)는 노드(N2)의 레벨과 미리 설정된 기준 레벨을 비교하여 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)의 구동 특성을 조절하기 위한 제어신호(CON)를 발생한다. 이때, 상술한 바와 같이 제어신호(CON)가 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)로 인가되지만 인에이블된 메모리 칩내의 출력 구동회로의 구동 특성만 조절되게 되고, 디스에이블된 나머지 다른 메모리 칩들내의 출력 구동회로들의 구동 특성은 조절되지 않게 된다.In Fig. 2, each of the output driving circuits 34-1 to 34-4 is in response to each of data DO1, DO2, DO3, DO4 generated from inside each of the memory chips 32-1 to 32-4. Generates output data (DOUT1 to DOUT4). The reference load 24 maintains the level of the node N2 according to the output data DOUT1 to DOUT4 that are changed. The output voltage detection and control circuit 22 compares the level of the node N2 with a preset reference level and generates a control signal CON for adjusting the driving characteristics of the output driving circuits 34-1 to 34-4. Occurs. At this time, as described above, the control signal CON is applied to the output driving circuits 34-1 to 34-4, but only driving characteristics of the output driving circuit in the enabled memory chip are adjusted. The driving characteristics of the output driving circuits in the memory chips are not adjusted.

즉, 종래의 메모리 제어 시스템은 메모리 제어회로가 출력전압 검출 및 제어회로(22)와 기준부하(24)를 구비하고, 메모리 모듈내의 메모리 칩들은 단순하게 메모리 제어회로(20)로부터의 제어신호(CON)에 응답하여 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)의 구동 특성이 조절되게 된다.That is, in the conventional memory control system, the memory control circuit includes an output voltage detection and control circuit 22 and a reference load 24, and the memory chips in the memory module simply control signals from the memory control circuit 20 ( In response to CON), driving characteristics of the output driving circuits 34-1 to 34-4 are adjusted.

따라서, 종래의 메모리 제어 시스템의 메모리 제어방법은 메모리 칩 출력 구동회로 제어과정이 메모리 모듈내의 메모리 칩들과 메모리 제어회로의 상호 작용으로 이루어져 있기 때문에, 구동 특성 제어 절차가 다소 복잡하며 이에 따라 제어 시간도 길어지는 단점이 있다.Therefore, in the memory control method of the conventional memory control system, since the process of controlling the memory chip output driving circuit is performed by the interaction between the memory chips in the memory module and the memory control circuit, the driving characteristic control procedure is somewhat complicated, and thus the control time is also reduced. There is a drawback to lengthening.

또한, 메모리 모듈과 메모리 제어회로는 상당한 거리를 두고 버스를 통해서 연결되기 때문에 메모리 제어 시스템의 메모리 모듈로부터 출력되는 신호가 메모리 제어회로로 가는 경로상에서 여러 가지 시스템 노이즈에 노출될 가능성이 커지며, 이 때문에 출력 구동회로의 제어의 정확성에도 상당한 오차가 발생될 가능성이 있다는 문제점이 있다.In addition, since the memory module and the memory control circuit are connected via a bus at a considerable distance, the signal output from the memory module of the memory control system is more likely to be exposed to various system noises on the path to the memory control circuit. There is a problem that a significant error may occur in the control accuracy of the output drive circuit.

도3은 본 발명에 따른 메모리 모듈의 실시예의 블록도로서, 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)을 구비한 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4)과 기준부하(38)를 구비한 메모리 모듈(40)로 구성되어 있다.Fig. 3 is a block diagram of an embodiment of a memory module according to the present invention, in which the memory chips 32-1 to 32-4 and the reference load 38 including the output driving circuits 34-1 to 34-4 are shown. It consists of the memory module 40 provided.

도3에 나타낸 메모리 모듈은 출력전압 검출 및 제어회로들(36-1 ~ 36-4)과 기준부하(38)가 메모리 모듈내에 구비되어 있다.In the memory module shown in Fig. 3, output voltage detection and control circuits 36-1 to 36-4 and reference load 38 are provided in the memory module.

도3에 나타낸 구성 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.The function of each of the building blocks shown in FIG. 3 will now be described.

메모리 칩(32-1)이 인에이블되고 메모리 칩들(32-2 ~ 32-4)이 디스에이블되는 경우에 출력 구동회로(34-1)가 데이터(DO1)를 데이터(DOUT1)로 출력한다. 기준부하(38)는 데이터(DOUT1)의 전압 레벨의 변화에 따라 노드(N3)의 전압을 변화한다. 출력전압 검출 및 제어회로(36-1)는 노드(N3)의 전압에 응답하여 출력 구동회로(34-1)의 구동 특성을 제어하기 위한 제어신호(CON1)를 발생한다. 마찬가지로, 메모리 칩들(32-2 ~ 32-4) 각각은 해당 메모리 칩의 인에이블시에 출력 구동회로들(34-2 ~ 34-4) 각각이 데이터(DO2 ~ DO4)를 데이터(DOUT2 ~ DOUT4)로 각각 출력하고, 출력전압 검출 및 제어회로들(36-2 ~ 36-4) 각각은 노드(N3)의 전압에 응답하여 출력 구동회로들(34-2 ~ 34-4) 각각의 구동 특성을 제어하기 위한 제어신호들(CON2 ~ CON4)을 각각 발생한다.When the memory chip 32-1 is enabled and the memory chips 32-2 to 32-4 are disabled, the output driving circuit 34-1 outputs data DO1 as data DOUT1. The reference load 38 changes the voltage of the node N3 according to the change of the voltage level of the data DOUT1. The output voltage detection and control circuit 36-1 generates a control signal CON1 for controlling the driving characteristics of the output driving circuit 34-1 in response to the voltage of the node N3. Similarly, each of the memory chips 32-2 to 32-4 may output data DO2 to DO4 from each of the output driving circuits 34-2 to 34-4 when the corresponding memory chip is enabled. Respectively, and the output voltage detection and control circuits 36-2 to 36-4 each drive characteristics of the output driving circuits 34-2 to 34-4 in response to the voltage of the node N3. Each of the control signals CON2 to CON4 is generated.

즉, 도3에 나타낸 메모리 모듈은 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4) 각각의 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)의 구동 특성을 조절하기 위하여 노드(N3)의 신호가 메모리 제어회로로 전송될 필요가 없다. 따라서, 메모리 모듈(40)로부터 메모리 제어회로로까지의 긴 신호 라인을 거치지 않아도 됨으로써 시스템 노이즈에 노출될 가능성이 적어지게 되어 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4)내의 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)의 구동 특성을 정확하게 조절할 수 있다.That is, in the memory module illustrated in FIG. 3, a signal of the node N3 is stored in order to adjust driving characteristics of the output driving circuits 34-1 to 34-4 of each of the memory chips 32-1 to 32-4. It does not need to be sent to the control circuit. Therefore, the possibility of being exposed to system noise is reduced by not having to go through the long signal line from the memory module 40 to the memory control circuit, thereby output driving circuits 34- 34 in the memory chips 32-1 to 32-4. 1 ~ 34-4) can accurately adjust the driving characteristics.

본 발명의 메모리 모듈은 모듈내에 기준부하 및 출력전압 검출 및 제어회로를 구비함으로써 자체적으로 메모리 칩의 출력 구동회로의 구동 특성을 조절할 수 있다.The memory module of the present invention can adjust driving characteristics of an output driving circuit of a memory chip by providing a reference load and an output voltage detection and control circuit in the module.

도4는 본 발명에 따른 메모리 모듈의 다른 실시예의 블록도로서, 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)을 구비한 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4)과 기준부하(38)를 구비한 기능 블록(50)을 구비한 메모리 모듈(60)로 구성되어 있다.Fig. 4 is a block diagram of another embodiment of a memory module according to the present invention, in which memory chips 32-1 to 32-4 and output loads having output driving circuits 34-1 to 34-4 and reference load 38 are shown. It consists of a memory module 60 having a function block 50 having a.

도4에 나타낸 블록도 또한 도3에 나타낸 블록도와 마찬가지로 기준부하(38)를 메모리 모듈(60)내에 구비하는 점에서는 동일하나, 기준부하(38)가 별도로 존재하는 것이 아니라 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4)이외의 다른 기능 블록(50)내에 존재하는 것이 도3에 나타낸 블록도와 상이하다.The block shown in FIG. 4 is also the same in that the reference load 38 is provided in the memory module 60 similarly to the block diagram shown in FIG. 3, but the memory chips 32-1 are not separately present. 32-4) is different from the block diagram shown in FIG.

도4에 나타낸 각 구성 블록들의 기능은 도3에 나타낸 구성 블록들의 기능과 동일하므로, 여기에서는 생략하기로 한다.Since the functions of the respective building blocks shown in FIG. 4 are the same as those of the building blocks shown in FIG. 3, they will be omitted here.

즉, 도4에 나타낸 메모리 모듈 또한 도3에 나타낸 메모리 모듈과 마찬가지로, 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4) 각각의 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)의 구동 특성을 조절하기 위하여 노드(N3)의 신호가 메모리 제어회로로 전송될 필요가 없으므로, 시스템 노이즈에 노출되지 않게 된다. 따라서, 메모리 칩들(32-1 ~ 32-4)내의 출력 구동회로들(34-1 ~ 34-4)의 구동 특성을 정확하게 조절할 수 있다.That is, the memory module shown in FIG. 4 also adjusts the driving characteristics of the output driving circuits 34-1 to 34-4 of each of the memory chips 32-1 to 32-4, similarly to the memory module shown in FIG. Since the signal of the node N3 does not need to be transmitted to the memory control circuit, it is not exposed to system noise. Therefore, the driving characteristics of the output driving circuits 34-1 to 34-4 in the memory chips 32-1 to 32-4 can be accurately adjusted.

상술한 실시예의 본 발명의 메모리 모듈은 출력전압 검출 및 제어회로가 메모리 칩들 각각에 내장되는 형태를 예로 하여 나타내었으나, 출력전압 검출 및 제어회로를 기준부하처럼 별도로 구성하여도 상관없다.In the memory module of the present invention described above, the output voltage detection and control circuit is embedded in each of the memory chips as an example, but the output voltage detection and control circuit may be separately configured as a reference load.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed within the scope of the invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.

따라서, 본 발명의 메모리 모듈은 출력 구동회로의 구동 특성을 보정하기 위한 기준부하 및 출력전압 검출회로가 메모리 모듈내에 구비됨으로 인해서 시스템 노이즈에 영향을 받지 않고 정확하게 출력 구동회로의 구동 특성을 보정할 수 있다.Accordingly, the memory module of the present invention can accurately correct the driving characteristics of the output driving circuit without being affected by system noise due to the reference load and the output voltage detecting circuit for correcting the driving characteristics of the output driving circuit. have.

Claims (4)

제어신호에 응답하여 데이터를 출력하기 위한 출력 구동회로; 및An output driving circuit for outputting data in response to a control signal; And 제어노드로부터의 전압과 기준전압을 비교하여 상기 출력 구동회로의 구동 특성을 조절하기 위한 출력 전압 검출 및 제어회로를 각각 구비한 복수개의 메모리 칩들; 및A plurality of memory chips each having an output voltage detection and control circuit for adjusting a driving characteristic of the output driving circuit by comparing a voltage from a control node with a reference voltage; And 상기 출력 구동회로로부터 출력되는 데이터의 전압 레벨에 따라 변화되는 상기 제어노드의 전압을 유지하기 위한 기준부하를 구비하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈.And a reference load for maintaining a voltage of the control node that is changed according to a voltage level of data output from the output driving circuit. 제1항에 있어서, 상기 기준부하가The method of claim 1, wherein the reference load is 상기 메모리 모듈내의 상기 복수개의 메모리 칩들이외의 다른 기능 블록내에 내장되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈.And the plurality of memory chips in the memory module are embedded in other functional blocks. 제어신호에 응답하여 데이터를 출력하기 위한 출력 구동회로를 각각 구비한 복수개의 메모리 칩들;A plurality of memory chips each having an output driving circuit for outputting data in response to a control signal; 제어노드로부터의 전압과 기준전압을 비교하여 상기 출력 구동회로의 구동 특성을 조절하기 위한 출력 전압 검출 및 제어회로; 및An output voltage detection and control circuit for adjusting driving characteristics of the output driving circuit by comparing a voltage from a control node with a reference voltage; And 상기 출력 구동회로로부터 출력되는 데이터의 전압 레벨에 따라 변화하는 상기 제어노드의 전압을 유지하기 위한 기준부하를 구비하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈.And a reference load for maintaining the voltage of the control node that changes according to the voltage level of the data output from the output driving circuit. 제3항에 있어서, 상기 기준부하가The method of claim 3, wherein the reference load is 상기 메모리 모듈내의 상기 복수개의 메모리 칩들이외의 다른 기능 블록내에 내장되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈.And the plurality of memory chips in the memory module are embedded in other functional blocks.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100683096B1 (en) * 2005-08-19 2007-02-16 후지쯔 가부시끼가이샤 Semiconductor device and control method in semiconductor device

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