KR100338928B1 - Input buffer circuit - Google Patents

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Abstract

본 발명은 입력 버퍼 회로에 관한 것으로, 종래의 기술에 있어서의 입력 버퍼는 입력 전압(Vin)과 기준 전압(VREF)의 비교해서 동작을 하게 되는데, 동작 수행을 위해 엔모스 트랜지스터(Q1)가 턴온되면 저항값이 작아져 순간적으로 '노드2'에 '글리치'가 발생하여 입력 전압(Vin)에 관계없는 전압을 출력하여 오동작을 일으키게 되는 문제점이 있었다. 따라서, 본 발명은 외부에서 입력되는 신호를 기준전압과 비교해 그 전압 레벨을 판별하는 비교부와; 상기 비교부에서 출력된 신호를 버퍼링하여 출력하는 인버터부와; 상기 비교부 및 인버터부의 동작을 제어하기 위한 제어신호를 입력받는 제어신호 입력부로 구성된 입력 버퍼에 있어서, 제어신호가 입력되기 전에 상기 비교부의 출력 레벨을 높혀 전압 강하를 보정하기 위한 전압 보정부를 더 포함하여 입력 버퍼 동작을 위해 엔모스 트랜지스터(Q1)가 턴온되어 발생하는 전압 강하분 만큼 비교부의 출력을 보상하여 전압 강하에 의한 '글리치'현상이 발생하지 않도록 함으로써, 출력 오동작을 방지할 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to an input buffer circuit, in which the input buffer in the prior art operates by comparing the input voltage Vin and the reference voltage VREF, and the NMOS transistor Q1 is turned on to perform the operation. When the resistance value becomes small, 'glitches' are generated in the 'node 2' instantaneously, thereby causing a malfunction by outputting a voltage irrelevant to the input voltage Vin. Accordingly, the present invention includes a comparison unit for comparing the signal input from the outside with a reference voltage to determine the voltage level; An inverter unit for buffering and outputting the signal output from the comparison unit; An input buffer comprising a control signal input unit for receiving a control signal for controlling the operation of the comparing unit and the inverter unit, the input buffer further comprising: a voltage correcting unit for correcting a voltage drop by increasing an output level of the comparing unit before a control signal is input; By compensating the output of the comparator by the voltage drop generated by turning on the NMOS transistor Q1 for the input buffer operation, it is possible to prevent the output malfunction by preventing the 'glit' phenomenon due to the voltage drop. have.

Description

입력 버퍼 회로{INPUT BUFFER CIRCUIT}Input buffer circuit {INPUT BUFFER CIRCUIT}

본 발명은 입력 버퍼 회로에 관한 것으로, 특히 SSTL(Stub Series Terminated Logic)용 입력 버퍼의 글리치에 의한 오동작을 방지할 수 있도록 하는 입력 버퍼 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an input buffer circuit, and more particularly, to an input buffer circuit capable of preventing malfunction due to glitches of an input buffer for a SSTL (Stub Series Terminated Logic).

최근에는 메모리 제품이 고속으로 변해가면서 LVTL(Low Voltage Transistor Logic)용 입/출력 버퍼 대신에 내부에 전류 미러(Current mirror)를 사용한 SSTL(Stub Series Terminated Logic)용 입/출력 버퍼 인터페이스를 많이 채택하고 있다.Recently, memory products are changing at a high speed, and instead of input / output buffers for low voltage transistor logic (LVTL), many input / output buffer interfaces for stub series terminated logic (SSTL) using current mirrors are adopted. have.

도1은 종래의 SSTL용 입력 버퍼 회로의 일실시예를 보인 회로도로서, 이에 도시된 바와 같이 외부에서 입력되는 신호를 기준전압과 비교해 그 전압 레벨을 판별하는 비교부(1)와; 상기 비교부(1)에서 출력된 신호를 버퍼링하여 출력하는 인버터부(2)와; 상기 비교부(1) 및 인버터부(2)의 동작을 제어하기 위한 제어신호를 입력받는 제어신호 입력부(3)로 구성된 것으로, 이의 동작 및 작용을 설명하면 다음과 같다.FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a conventional input buffer circuit for SSTL, and as shown therein, a comparison section 1 for comparing an externally input signal with a reference voltage and determining a voltage level thereof; An inverter unit (2) for buffering and outputting the signal output from the comparison unit (1); It is composed of a control signal input unit 3 for receiving a control signal for controlling the operation of the comparison unit 1 and the inverter unit 2, the operation and operation thereof will be described as follows.

일단, 제어신호 입력부(3)는 외부의 입력 전압(Vin)이 입력되기 전에 제어신호(CTRL1,2,3)에 의해 비교부(1)의 엔모스 트랜지스터(Q1)를 턴온시켜 입력 버퍼가 동작할 수 있게 한다.First, the control signal input unit 3 turns on the NMOS transistor Q1 of the comparator 1 by the control signals CTRL1, 2 and 3 before the external input voltage Vin is inputted so that the input buffer operates. To do it.

다음, 전류 미러로 구성된 비교부(1)는 외부에서 입력되는 신호(Vin)를 기준 신호(VREF = VDD/2)와 비교 한다.Next, the comparator 1 composed of a current mirror compares an externally input signal Vin with a reference signal VREF = VDD / 2.

이에 따라 입력 신호(Vin)가 기준 신호(VREF)보다 높으면 논리 '하이'로 인식하고,입력 신호(Vin)가 기준 신호(VREF)보다 낮으면 논리 '로우'로 인식하게 된다.Accordingly, if the input signal Vin is higher than the reference signal VREF, it is recognized as a logic 'high', and if the input signal Vin is lower than the reference signal VREF, it is recognized as a logic 'low'.

이때 인버터부(2)는 상기 비교부(1)의 출력을 버퍼링하는 곳으로 비교부(1)에서 출력되는 미약한 신호를 확실히 구분짓는 효과가 있다.At this time, the inverter unit 2 has the effect of reliably distinguishing the weak signal output from the comparator 1 as a place for buffering the output of the comparator 1.

이를 시뮬레이션에 의해 구한 도2의 타이밍도를 참조하여 다시 설명하면 다음과 같다.This will be described again with reference to the timing diagram of FIG. 2 obtained by the simulation.

일단, 초기 입력 전압(Vin)은 고임피던스(Hi-Z) 상태이고, 기준 전압(VREF)은 전원전압(VDD)/2 으로 한다.First, the initial input voltage Vin is in the high impedance Hi-Z state, and the reference voltage VREF is the power supply voltage VDD / 2.

이와 같은 상태에서 '노드2'의 레벨은 엔모스 트랜지스터(Q3)와 엔모스 트랜지스터(Q1)의 전압 분배에 의해 결정된다.In this state, the level of 'node 2' is determined by the voltage distribution of the NMOS transistor Q3 and the NMOS transistor Q1.

즉, 제어신호(CTRL1,2,3)가 입력되기 전에는 엔모스 트랜지스터(Q1)의 게이트가 오프상태 이므로 도2의 (a)의 앞부분과 같이 '노드2'의 전압이 기준 전압(VREF=VDD/2) 보다 높은 전압을 유지하고 있다.That is, since the gate of the NMOS transistor Q1 is turned off before the control signals CTRL1, 2, and 3 are input, the voltage of 'node 2' becomes the reference voltage (VREF = VDD) as shown in FIG. / 2) maintaining a higher voltage.

이와 같은 상태에서 제어신호(CTRL1,2,3)가 입력되면 도2의 (c)와 같이 '노드1'의 레벨이 '하이'로 되면서 엔모스 트랜지스터(Q1)를 턴온시키게 되면 도2의 (b)와 같이 순간적으로 '노드2'의 레벨이 떨어지는 '글리치'현상이 발생하게 된다.In this state, when the control signals CTRL1, 2, and 3 are input, the level of 'node 1' becomes 'high' as shown in FIG. 2 (c), and when the NMOS transistor Q1 is turned on, FIG. As in b), the 'glitches' phenomenon occurs in which the level of 'Node 2' falls momentarily.

상기 영향으로 출력에는 도2의 (d)와 같이 순간적으로 '하이'레벨이 출력되는 오동작이 발생했다가 이후로 '노드2'의 레벨이 안정되면, 그때부터 비로소 입력 전압(Vin)과 기준 전압(VREF)의 전압차에 의해 정상적으로 '하이','로우'가 출력된다.Due to this effect, a malfunction occurs in which the 'high' level is instantaneously outputted as shown in (d) of FIG. 2, and when the level of 'node 2' is stabilized thereafter, the input voltage Vin and the reference voltage are not available until then. 'High' and 'Low' are normally output by the voltage difference of (VREF).

이와 같이, 상기 종래의 기술에 있어서의 입력 버퍼는 입력 전압(Vin)과 기준 전압(VREF)을 비교해서 동작을 하게 되는데, 동작 수행을 위해 엔모스 트랜지스터(Q1)가 턴온되면 순간적으로 저항값이 작아져 '노드2'에 '글리치'가 발생하여 입력 전압(Vin)과 전혀 관계없는 전압을 출력하여 오동작을 일으키게 되는 문제점이 있었다.As described above, the input buffer according to the related art operates by comparing the input voltage Vin and the reference voltage VREF. When the NMOS transistor Q1 is turned on to perform the operation, the resistance value is momentarily increased. There was a problem in that 'glitch' occurred in 'Node 2', causing a malfunction by outputting a voltage that is not related to the input voltage Vin at all.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창출한 것으로, 입력 버퍼 동작을 위해 엔모스 트랜지스터(Q1)가 턴온되어 발생하는 전압 강하분 만큼 비교부의 출력을 보상하여 순간적 전압 강하에 의한 '글리치'현상이 발생하지 않도록 함으로써, 출력 오동작을 방지할 수 있도록 하는 입력 버퍼 회로를 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention was created to solve the above-mentioned conventional problems, and compensates the output of the comparator by the voltage drop generated by turning on the NMOS transistor Q1 for the input buffer operation. It is an object of the present invention to provide an input buffer circuit which prevents an output malfunction by preventing a 'glit' phenomenon.

도 1은 종래의 SSTL용 입력 버퍼 회로의 일실시예를 보인 회로도.1 is a circuit diagram showing an embodiment of a conventional input buffer circuit for SSTL.

도 2는 상기 도1에서 각 노드에서의 신호 형태를 보인 타이밍도.FIG. 2 is a timing diagram showing a signal shape at each node in FIG. 1; FIG.

도 3은 본 발명에 의한 입력 버퍼 회로의 일실시예를 보인 회로도.3 is a circuit diagram showing an embodiment of an input buffer circuit according to the present invention;

도 4는 상기 도3에서 각 노드에서의 신호 형태를 보인 타이밍도.4 is a timing diagram showing a signal shape at each node in FIG.

***도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명****** Description of the symbols for the main parts of the drawings ***

10 : 전압 보정부 Q2 : 피모스 트랜지스터10: voltage correction unit Q2: PMOS transistor

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 외부에서 입력되는 신호를 기준전압과 비교해 그 전압 레벨을 판별하는 비교부와; 상기 비교부에서 출력된 신호를 버퍼링하여 출력하는 인버터부와; 상기 비교부 및 인버터부의 동작을 제어하기 위한 제어신호를 입력받는 제어신호 입력부로 구성된 입력 버퍼에 있어서, 제어신호가 입력되기 전에 상기 비교부의 출력 레벨을 높혀 전압 강하를 보정하기 위한 전압 보정부를 더 포함하여 구성한 것을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object comprises a comparison unit for comparing the signal input from the outside with a reference voltage to determine the voltage level; An inverter unit for buffering and outputting the signal output from the comparison unit; An input buffer comprising a control signal input unit for receiving a control signal for controlling the operation of the comparing unit and the inverter unit, the input buffer further comprising: a voltage correcting unit for correcting a voltage drop by increasing an output level of the comparing unit before a control signal is input; Characterized in that configured.

이하, 본 발명에 따른 일실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도3은 본 발명에 의한 입력 버퍼 회로의 일실시예를 보인 회로도로서, 이에 도시한 바와 같이 외부에서 입력되는 신호를 기준전압과 비교해 그 전압 레벨을 판별하는비교부(1)와; 상기 비교부(1)에서 출력된 신호를 버퍼링하여 출력하는 인버터부(2)와; 상기 비교부(1) 및 인버터부(2)의 동작을 제어하기 위한 제어신호를 입력받는 제어신호 입력부(3)로 구성된 입력 버퍼에 있어서, 제어신호가 입력되기 전에 상기 비교부(1)의 출력 레벨을 높혀 전압 강하를 보정하기 위한 전압 보정부(10)를 더 포함하여 구성한다.FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of an input buffer circuit according to the present invention, and a comparison section 1 for comparing an externally input signal with a reference voltage to determine the voltage level thereof; An inverter unit (2) for buffering and outputting the signal output from the comparison unit (1); In the input buffer consisting of a control signal input unit 3 for receiving a control signal for controlling the operation of the comparison unit 1 and the inverter unit 2, the output of the comparison unit 1 before the control signal is input It further comprises a voltage correction unit 10 for increasing the level to correct the voltage drop.

여기서, 상기 전압 보정부(10)는 피모스 트랜지스터(Q2)의 게이트에 제어신호 입력부(3)에서 출력되는 신호를 인가받고, 소오스에 전원전압을 인가받고, 드레인에 비교부의 출력단(node2)을 연결하여 구성한다.The voltage corrector 10 receives a signal output from the control signal input unit 3 to a gate of the PMOS transistor Q2, receives a power supply voltage to a source, and applies an output node node2 of the comparator to a drain. Connect and configure.

이와 같이 구성한 본 발명에 따른 일실시예를 첨부한 도4의 타이밍도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.If described with reference to the timing diagram of Figure 4 attached to an embodiment according to the present invention configured as described above are as follows.

일단, 도1의 구성과 크게 다른점은 피모스 트랜지스터(Q2)로 구성된 전압 보정부(10)에 의해 제어신호(CTRL1,2,3)가 입력되기 전에 '노드2'의 레벨을 전원전압(VDD) 레벨로 높여주는 것이다.First, the difference from the configuration of FIG. 1 is that before the control signals CTRL1, 2, and 3 are inputted by the voltage corrector 10 constituted by the PMOS transistor Q2, the level of 'node 2' is increased. VDD) level.

즉, 도4의 (b)와 같이 '노드2'의 레벨이 높아진 상태에서 제어신호(CTRL1,2,3)가 입력되어 (c)와 같이 '노드1'의 레벨이 '하이'가 되고, 엔모스 트랜지스터(Q1)를 턴온시키게 되면 그 저항값이 작아져 종래와 마찬가지로 '노드2'의 전압 레벨이 순간적으로 떨어지는 현상이 발생하게 된다.That is, the control signals CTRL1, 2, and 3 are input in a state where the level of 'node 2' is increased as shown in (b) of FIG. 4, and the level of 'node 1' becomes 'high' as shown in (c). When the NMOS transistor Q1 is turned on, the resistance value thereof becomes small, and as in the prior art, a phenomenon in which the voltage level of 'node 2' falls momentarily occurs.

그러나, 종래와는 달리 본 발명에서는 전압 보정부(10)에 의해 '노드2'의 레벨을 상기 전압 강하분 만큼 보상하여 높혀놨기 때문에 트랜지스터(Q1) 턴온에 따른 전압 강하의 영향을 받지 않게 된다.However, unlike the related art, since the voltage corrector 10 compensates and raises the level of 'node 2' by the voltage drop, the voltage drop due to the transistor Q1 is turned on.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명 입력 버퍼 회로는, SSTL용 입력 버퍼 동작을 위해 외부의 입력 전압(Vin)이 인가되기 전에 입력 버퍼가 동작할 수 있도록, 제어신호에 의해 비교부가 턴온되도록 하는 엔모스 트랜지스터(Q1)가 턴온될 때 발생하는 전압 강하분 만큼 비교부의 출력을 보상하여 순간적 전압 강하에 의한 '글리치'현상이 발생하지 않도록 함으로써, 출력 오동작을 방지할 수 있도록 하는 효과가 있다.As described above, the input buffer circuit of the present invention allows the comparator to be turned on by a control signal so that the input buffer can operate before an external input voltage Vin is applied for the SSTL input buffer operation. By compensating the output of the comparator by the voltage drop generated when (Q1) is turned on, the 'glit' phenomenon due to the instantaneous voltage drop does not occur, thereby preventing output malfunction.

Claims (2)

외부에서 입력되는 신호를 기준전압과 비교해 그 전압 레벨을 판별하는 비교부와; 상기 비교부에서 출력된 신호를 버퍼링하여 출력하는 인버터부와; 상기 비교부 및 인버터부의 동작을 제어하기 위한 제어신호를 입력받는 제어신호 입력부로 구성된 입력 버퍼에 있어서, 제어신호가 입력되기 전에 상기 비교부의 출력 레벨을 높혀 전압 강하를 보정하기 위한 전압 보정부를 더 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.A comparison unit which compares an externally input signal with a reference voltage and determines a voltage level thereof; An inverter unit for buffering and outputting the signal output from the comparison unit; An input buffer comprising a control signal input unit for receiving a control signal for controlling the operation of the comparing unit and the inverter unit, the input buffer further comprising: a voltage correcting unit for correcting a voltage drop by increasing an output level of the comparing unit before a control signal is input; And an input buffer circuit. 제1항에 있어서, 상기 전압 보정부는 게이트에 제어신호 입력부에서 출력되는 신호를 인가받고, 소오스에 전원전압을 인가받고, 드레인에 비교부의 출력단이 연결된 피모스 트랜지스터로 구성한 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.The input buffer circuit of claim 1, wherein the voltage corrector comprises a PMOS transistor connected to a gate, a signal output from a control signal input unit, a source voltage applied to a source, and a comparator output terminal connected to a drain. .
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