KR200294091Y1 - Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch - Google Patents

Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch Download PDF

Info

Publication number
KR200294091Y1
KR200294091Y1 KR2020020021841U KR20020021841U KR200294091Y1 KR 200294091 Y1 KR200294091 Y1 KR 200294091Y1 KR 2020020021841 U KR2020020021841 U KR 2020020021841U KR 20020021841 U KR20020021841 U KR 20020021841U KR 200294091 Y1 KR200294091 Y1 KR 200294091Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
cell
atm
board
cell path
Prior art date
Application number
KR2020020021841U
Other languages
Korean (ko)
Inventor
권성민
Original Assignee
엘지전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR2020020021841U priority Critical patent/KR200294091Y1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR200294091Y1 publication Critical patent/KR200294091Y1/en

Links

Landscapes

  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Abstract

본 고안은 ATM 교환기에서 시험 장비를 사용하지 않고 셀 경로(Cell Path) 시험용 보드를 통하여 셀을 송수신하여 시스템을 검증하기 위한 것으로, 셀 경로 시험시 스위칭 수단을 통한 가입자간 영구가상회선 연결을 설정하는 프로세서 모듈과; 가입자로의 상.하향 ATM 셀을 정합시키며, 테스트 셀의 송.수신을 담당하는 셀 경로 시험부를 구비하는 저속 가입자 정합 모듈과; 저속 가입자 정합 모듈에서 송신된 테스트 셀을 프로세서 모듈에 의해 설정된 영구가상회선 연결을 통하여 스위칭 수단으로 전달하고, 영구가상회선으로부터 수신되는 테스트 셀을 루프백시키는 고속 가입자 정합 모듈과; 고속 및 저속 가입자 정합 모듈간에 ATM 셀을 라우팅하는 스위칭 수단을 포함하여 이루어지며, 셀 경로 시험 보드를 ATM 물리계층 정합 보드와 연결되는 위치에 실장하여 측정 장비 없이 다수의 보드로 형성되는 시스템내 셀 경로를 검증할 수 있게 된다.The present invention is for verifying a system by transmitting and receiving a cell through a cell path test board without using test equipment in an ATM switch, and establishing a permanent virtual line connection between subscribers through a switching means during a cell path test. A processor module; A low speed subscriber matching module for matching up and down ATM cells to subscribers and having a cell path tester for transmitting and receiving test cells; A high speed subscriber matching module for transferring the test cells transmitted from the low speed subscriber matching module to the switching means through the permanent virtual line connection established by the processor module, and looping back the test cells received from the permanent virtual line; It includes switching means for routing ATM cells between high-speed and low-speed subscriber matching modules, and cell path test boards are mounted in positions connected with ATM physical layer matching boards to form cell boards without multiple measuring devices. Can be verified.

Description

비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치 {Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch}Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch}

본 고안은 비동기전송모드(Asynchronous Transfer Mode, ATM) 셀 경로 시험에 관한 것으로, 보다 상세하게는 ATM 교환기에서 시험 장비를 사용하지 않고 셀경로(Cell Path) 시험용 보드로 셀 경로 구간을 검증하기에 적당하도록 한 비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치에 관한 것이다.The present invention relates to asynchronous transfer mode (ATM) cell path test, and more particularly, it is suitable for verifying a cell path section with a cell path test board without using test equipment in an ATM switch. The present invention relates to a cell path test apparatus for an asynchronous transfer mode switch.

이하에서 사용되는 용어를 정의한다.The terms used below are defined.

AIM(ATM Interface Module) : 고속 가입자 정합 모듈.ATM Interface Module (AIM): High speed subscriber matching module.

AMM(Access Multiplex Module) : 저속 가입자망 정합 모듈.AMM (Access Multiplex Module): Low speed subscriber network matching module.

APIA(ATM Physical Interface Assembly) : ATM 물리계층 정합 보드.API Physical Interface Assembly (APIA): ATM physical layer matching board.

BAIA, HAIA, MAIA : Basic rate/High rate/Medium rate ATM Interface Assembly : 가입자 정합보드.BAIA, HAIA, MAIA: Basic rate / High rate / Medium rate ATM Interface Assembly: Subscriber registration board.

BPAA(Buffering and Port Adaptation board Assembly) : 입출력 버퍼 및 포트 연결 스위치 보드.BPAA (Buffering and Port Adaptation board Assembly): I / O buffer and port connection switch board.

CPTA(Cell Path Test board Assembly) : 셀 경로 시험 보드.Cell Path Test Board Assembly (CPTA): Cell Path Test Board.

CRIA(Cell Routing and Port Adaptation board Assembly) : 크로스 바 스위치 보드.Cell Routing and Port Adaptation board Assembly (CRIA): Cross Bar Switch Board.

FRIA(Frame Relay and Interconnection board Assembly) : 프레임 릴레이 가입자 인터페이스 보드.FRIA (Frame Relay and Interconnection board Assembly): Frame relay subscriber interface board.

HALA(High speed ATM Layer Assembly) : ATM 계층 처리 보드.HALA (High speed ATM Layer Assembly): ATM layer processing board.

MMCA(Media Gateway Module Control board Assembly) : 저속 가입자 제어 보드.MMCA (Media Gateway Module Control board Assembly): Low speed subscriber control board.

MP(Main Process) : 주 프로세서 모듈, SMC, ACC, AMC 포함.MP (Main Process): Including main processor module, SMC, ACC, AMC.

PIMA(Processor Interface Module board Assembly) : 프로세스 정합 모듈 보드.PIMA (Processor Interface Module board Assembly): Process matching module board.

PVC(Permanent Virtual Circuit) : 영구가상회선.PVC (Permanent Virtual Circuit): Permanent virtual circuit.

UNI(User to Network Interface) : 가입자 인터페이스.UNI (User to Network Interface): Subscriber interface.

일반적으로 ATM에서는 통신 채널 내에서 보수용 오퍼레이션 정보를 통지할 수가 있다. 이로써 통신 채널 내 네트워크에 고장이 생겼을 경우에도, 고장발생점보다 하위에 있는 고장나지 않은 통신채널의 나머지 부분을 사용해서 즉각 수신측 단말에 고장을 통지하고, 하위의 단말(수신측 단말)에서 즉각 반대방향 채널을 사용해서 상위 단말(송신측 단말)에 오퍼레이션 정보를 통지할 수 있다. 이처럼 ATM에서는 단말에서 단말까지의 종단간 시험이 쉽게 실현된다. 또 통신 채널에 비트 오류가 발생하는 경우에는 비트 오류의 특성을 시험하는 OAM셀을 보내 서비스를 중단하지 않고도 비트 오류 발생구간을 알아내고 검사할 수 있다.In general, an ATM can report maintenance operation information in a communication channel. Thus, even when a network in the communication channel fails, the remaining terminal of the unbroken communication channel below the point of failure is used to immediately notify the receiving terminal of the failure, and the lower terminal (receiving terminal) Operation information can be notified to the upper terminal (sending terminal) using the reverse channel. As such, end-to-end testing from terminal to terminal is easily realized in ATM. In the event of a bit error in the communication channel, the OAM cell that tests the nature of the bit error can be sent to identify and inspect the bit error interval without interrupting service.

HANbit ACE2000 ATM 교환기를 중심으로 ATM 셀 경로 구간 시험에 대해 설명한다.The ATM cell path section test will be described focusing on the HANbit ACE2000 ATM switch.

HANbit ACE2000 ATM 교환기는 40Gbps의 데이터 처리속도를 지원하며, 확장구조로 설계돼 최대 160Gbps까지 확장할 수 있고, 상용화된 개발언어인 C와 C++을 사용한다.The HANbit ACE2000 ATM Switch supports data rates of 40 Gbps, is designed to scale up to 160 Gbps, and uses commercially available development languages C and C ++.

도1은 일반적인 HANbit ACE2000 ATM 교환기의 블록도이다.1 is a block diagram of a typical HANbit ACE2000 ATM switch.

도1에 따르면, HANbit ACE2000 ATM 교환기는 크게 주 프로세서 모듈(110), 저속 가입자 정합 모듈(120), 고속 가입자 정합모듈(131A, 132A), 크로스 바 스위치 보드(Cell Routing and Interconnection board Assembly, CRIA)(140)로 구성된다.According to Figure 1, the HANbit ACE2000 ATM switch is largely divided into the main processor module 110, the low speed subscriber matching module 120, the high speed subscriber matching modules 131A and 132A, and the cross-routing board assembly (CRIA). 140.

ATM 교환기를 검증하기 위해서 시험장비를 사용한다. 시험장비가 테스트 셀을 발생시켜 ATM 교환기로 전송하면, 테스트 셀은 미리 설정된 PVC(Permanent Virtual Circuit, 영구가상회선) 연결을 통하여 ATM 스위치를 경유하여 다시 시험장비로 수신된다. 시험장비는 수신되는 테스트 셀과 송신된 테스트 셀을 비교하여 시스템, 즉 ATM 교환기의 이상 유무를 판별한다.Test equipment is used to verify the ATM exchange. When the test equipment generates a test cell and sends it to the ATM exchanger, the test cell is received back to the test equipment via an ATM switch through a pre-set Permanent Virtual Circuit (PVC) connection. The test equipment compares the received test cell with the transmitted test cell to determine whether there is an abnormality in the system, that is, the ATM switch.

도2는 종래기술에 따른 ATM 교환기의 시험 환경 구성예이다, 셀 경로 구간 시험이 수행되는 구체적인 절차는 다음과 같다.Figure 2 is a configuration example of the test environment of the ATM switch according to the prior art, the specific procedure for performing the cell path interval test is as follows.

도2를 참조하면, ATM 교환기(220)의 운용 터미널에서 각 가입자 보드간 PVC 연결을 설정한다. ATM 교환기내 PVC 연결은 가입자 정합보드(BAIA)(221), ATM 계층 처리 보드(HALA)(222), 입출력 버퍼 및 포트 연결 스위치 보드(BPAA)(223), 그리고 크로스 바 스위치 보드(CRIA)(224)를 포함하는 경로 연결이다.2, the PVC connection between each subscriber board is established at the operation terminal of the ATM switch 220. PVC connections within an ATM switch include a subscriber matching board (BAIA) 221, an ATM layer processing board (HALA) 222, an input / output buffer and port connection switch board (BPAA) 223, and a crossbar switch board (CRIA) ( 224).

셀 경로 구간 시험을 위해 시험장비(210)에서 테스트용 ATM 셀을 발생시킨다. 이때 생성된 ATM 셀이 테스트 셀이며, ATM 교환기(220)로 전송된다. ATM 교환기(220)와 시험장비(210)간에는 광케이블을 통한 셀 전송이 이루어진다.The test equipment 210 generates a test ATM cell for the cell path section test. At this time, the generated ATM cell is a test cell and is transmitted to the ATM switch 220. Cell transfer is performed through the optical cable between the ATM switch 220 and the test equipment 210.

시험장비(210)에서 출발한 테스트 셀이 ATM 교환기(220) 내부의 PVC 연결을 거쳐 다시 시험장비(210)로 수신된다.The test cell starting from the test equipment 210 is received back to the test equipment 210 via the PVC connection inside the ATM switch 220.

이처럼 시험장비(210)는 수신된 테스트 셀을 송신된 테스트 셀과 비교한다. 비교 결과 셀 손실이 발생하지 않았음을 확인하게 되면, 모든 보드가 정상 동작하는 것으로 판정한다.As such, the test equipment 210 compares the received test cell with the transmitted test cell. When the comparison confirms that no cell loss has occurred, it is determined that all boards are operating normally.

따라서 현재 HANbit ACE2000 ATM 교환기를 시험하기 위해서는 테스트 셀을 생성/측정할 수 있는 장비가 필수적으로 요구된다. 그런데 보드 생산 후 시험을 하거나 설치.운용시 검증을 하기 위해서 다종의 장비를 보유하지는 못하므로 시스템 검증을 위한 신뢰성 시험을 충분한 빈도로 수행하기가 어렵게 되는 문제가 있다.Therefore, in order to test the current HANbit ACE2000 ATM switch, equipment that can generate / measure test cells is indispensable. However, there is a problem that it is difficult to carry out a reliability test for system verification at a sufficient frequency because it does not have many kinds of equipment for testing after board production or verification during installation and operation.

또한, 기존에 셀 경로를 시험하기 위한 보드가 제작되었으나, 이러한 보드는 프로세서간 통신(IPC)을 통하여 경로 시험을 하기 때문에 실제 가입자가 셀을 전송하는 것에 비해 시험의 신뢰도가 낮은 단점이 있다.In addition, although a board for testing a cell path has been manufactured in the past, since such a board performs a path test through an interprocessor communication (IPC), the reliability of the test is lower than that of a real subscriber transmitting a cell.

본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해소하기 위해 창출된 것으로, 본 고안의 목적은 ATM 교환기에서 시험 장비를 사용하지 않고 셀 경로(Cell Path) 시험용 보드를 통하여 셀을 송수신하여 시스템을 검증하도록 된 비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치를 제공하는 것이다.The present invention was created to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to verify a system by transmitting and receiving a cell through a cell path test board without using test equipment in an ATM exchanger. The present invention provides a cell path test apparatus for an asynchronous transfer mode switch.

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치는, 셀 경로 시험시 스위칭 수단을 통한 가입자간 영구가상회선 연결을 설정하는 프로세서 모듈과; 가입자로의 상.하향 ATM 셀을 정합시키며, 테스트 셀의 송.수신을 담당하는 셀 경로 시험부를 구비하는 저속 가입자 정합 모듈과; 상기 저속 가입자 정합 모듈에서 송신된 테스트 셀을 상기 프로세서 모듈에 의해 설정된 영구가상회선 연결을 통하여 스위칭 수단으로 전달하고, 상기 영구가상회선으로부터 수신되는 테스트 셀을 루프백시키는 고속 가입자 정합 모듈과; 상기 고속 및 저속 가입자 정합 모듈간에 ATM 셀을 라우팅하는 스위칭 수단을 포함하는 것을 그 특징으로 한다.The cell path test apparatus of the asynchronous transmission mode switch of the present invention for achieving the above object comprises: a processor module for establishing a permanent virtual line connection between subscribers through a switching means in a cell path test; A low speed subscriber matching module for matching up and down ATM cells to subscribers and having a cell path tester for transmitting and receiving test cells; A high speed subscriber matching module for transmitting a test cell transmitted from the low speed subscriber matching module to a switching means through a permanent virtual line connection established by the processor module, and looping back a test cell received from the permanent virtual line; And switching means for routing ATM cells between the fast and slow subscriber matching modules.

도1은 일반적인 HANbit ACE2000 ATM 교환기의 블록도.1 is a block diagram of a typical HANbit ACE2000 ATM switch.

도2는 종래기술에 따른 ATM 교환기의 셀 경로 시험 장치의 블록도.2 is a block diagram of a cell path test apparatus of an ATM switch according to the prior art.

도3은 본 고안의 실시예에 따른 ATM 셀 경로 시험장치의 블록도.3 is a block diagram of an ATM cell path test apparatus according to an embodiment of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

410 : 주 프로세서 모듈 420 : 저속 가입자 정합 모듈410: main processor module 420: low-speed subscriber matching module

424 : 저속 가입자 제어 보드 430 : 고속 가입자 정합 모듈424: low speed subscriber control board 430: high speed subscriber matching module

431A, 431B : ATM 계층 처리 보드 432A, 432B : 입출력 버퍼 및 포트 연결 스위치 보드431A, 431B: ATM layer processing board 432A, 432B: I / O buffer and port connection switch board

440 : 크로스 바 스위치 보드 450 : PC440: crossbar switch board 450: PC

461 : 셀 경로 시험 보드 425, 462 : ATM 물리계층 정합 보드461: cell path test board 425, 462: ATM physical layer matching board

이하, 첨부도면을 참조하여 본 고안에 따른 바람직한 실시예를 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a preferred embodiment according to the present invention.

본 발명에서는 가입자 보드에서 스위치 보드와의 경로, 즉 ATM 셀 경로를 검증하도록 한 것으로, 이러한 기능을 달성하기 위해 다음과 같은 대표적인 실시예가 예정된다.In the present invention, the subscriber board to verify the path with the switch board, that is, the ATM cell path, to achieve this function, the following representative embodiments are expected.

제1 실시예는 HANbit ACE2000 ATM 교환 시스템에서 저속 가입자 제어 보드(MMCA)를 대신하여 테스트 셀 송수신을 담당하는 시험용 보드를 실장하여 테스트 셀을 가입자 정합 보드로 송신 및 수신하여 셀 손실 유무를 확인한다. 즉, 시험용 모듈을 준비하였다가 셀 경로 시험이 요구될 때 저속 가입자 제어 보드(MMCA)를 탈장한 후 그 위치에 실장하여 셀 경로를 시험하는 방식이다.In the first embodiment, a test board for transmitting and receiving test cells is mounted in place of a low speed subscriber control board (MMCA) in a HANbit ACE2000 ATM switching system, and a test cell is transmitted and received to a subscriber matching board to check for cell loss. In other words, when the cell path test is required after the test module is prepared, the low speed subscriber control board (MMCA) is mounted and then mounted at the location to test the cell path.

또 다른 실시예로는 ATM 물리계층 정합 보드(APIA)를 포함한 시험용 보드 및 백보드를 시스템에 고정 실장하여 셀 경로 시험 전용 모듈로 운용하는 방식이다. 이 방식은 셀 경로 시험시 가입자 정합 보드 및 시험용 보드를 탈장/실장하여야 하는 번거로움을 줄일 수 있는데, 제1 실시예의 간단한 변형을 통해 용이하게 구현될 수 있다.In another embodiment, a test board and a back board including an ATM physical layer matching board (APIA) are fixedly mounted in a system and operated as a module for cell path test. This method can reduce the trouble of mounting / mounting the subscriber matching board and the test board during the cell path test, and can be easily implemented through a simple modification of the first embodiment.

이하에서는 제1 실시예를 중심으로 설명한다.The following description will focus on the first embodiment.

도3은 본 고안의 제1 실시예에 따른 비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치의 블록도이다.3 is a block diagram of a cell path test apparatus of an asynchronous transmission mode switch according to a first embodiment of the present invention.

도3에 따르면, HANbit ACE2000 ATM 교환기는 크게 주 프로세서 모듈(410), 저속 가입자 정합 모듈(420), 고속 가입자 정합 모듈(430), 그리고 크로스 바 스위치 보드(440)로 구성되는데, 셀 경로 시험시 시험 대상이 되는 구간은 가입자 정합 모듈에서 크로스 바 스위치 보드(440)로 이어지는 경로 구간이다.According to Fig. 3, the HANbit ACE2000 ATM switch is composed of a main processor module 410, a low speed subscriber matching module 420, a high speed subscriber matching module 430, and a crossbar switch board 440. The section to be tested is a path section from the subscriber matching module to the crossbar switch board 440.

본 실시예는 셀 경로 시험을 위하여 셀 경로 시험 보드(461)를 별도로 구성한다. 가입자 서비스시에는 저속 가입자 정합 모듈(420)에 저속 가입자 제어 보드(424)가 포함된 상태로 ATM 셀 송수신 서비스를 제공하고, ATM 셀 경로를 시험하고자 하면 저속 가입자 제어 보드(424)를 대체하여 셀 경로 시험 보드(461)를 실장한다. 셀 경로 시험 보드(461)는 테스트 셀을 ATM 물리계층 정합 보드(462)를 통하여 크로스 바 스위치 보드(440)쪽으로 송수신하는 기능을 담당한다.This embodiment separately configures the cell path test board 461 for the cell path test. In the subscriber service, if the low speed subscriber matching module 420 includes the low speed subscriber control board 424 and provides the ATM cell transmission / reception service, and the test of the ATM cell path is performed, the low speed subscriber control board 424 is replaced with the cell. Mount the path test board 461. The cell path test board 461 is responsible for transmitting and receiving a test cell to the crossbar switch board 440 through the ATM physical layer matching board 462.

테스트 셀의 생성 및 시험 결과 보고는 개인용 컴퓨터(PC)(450)나 단말기, 운용 터미널 등이 담당하며, 테스트 셀의 송신, 수신, 및 셀 손실 등의 판단은 셀 경로 시험 보드(461)가 담당한다.The personal computer (PC) 450, the terminal, and the operation terminal are responsible for generating the test cell and reporting the test result, and the cell path test board 461 is responsible for determining the transmission, reception, and cell loss of the test cell. do.

이러한 장치에서 ATM 셀 경로 시험을 수행하는 절차는 다음과 같다.The procedure for performing an ATM cell path test in such a device is as follows.

우선, 주 프로세서 모듈(410)의 운용 터미널에서 크로스 바 스위치 보드(440)를 통한 가입자 사이의 PVC 연결을 설정한다(1).First, the PVC connection is established between subscribers through the crossbar switch board 440 at the operation terminal of the main processor module 410 (1).

PC(450) 또는 단말기가 테스트용 ATM 셀을 생성하여 직렬통신(예:RS232C)을 통해 셀 경로 시험 보드(461)로 전송한다(2).The PC 450 or the terminal generates a test ATM cell and transmits the generated ATM cell to the cell path test board 461 through serial communication (eg, RS232C) (2).

셀 경로 시험 보드(461)에서 테스트 셀을 ATM 물리계층 정합 보드(462)로 전송한다(3).The cell path test board 461 transmits the test cell to the ATM physical layer matching board 462 (3).

ATM 물리계층 정합 보드(462)에서 테스트 셀을 STM-1(동기전송모듈) 물리계층으로 변환한 후 가입자 정합 보드(BAIA)로 전송한다(4).The ATM physical layer matching board 462 converts the test cell into the STM-1 (synchronous transmission module) physical layer and transmits the test cell to the subscriber matching board (BAIA) (4).

가입자 정합 보드(BAIA)에서 테스트 셀을 다시 ATM 계층의 셀로 변환한 후 UTOPIA2(Universal Test and Operations Physical Interface for ATM level 2) 방식으로 ATM 계층 처리 보드(HALA)(431A)로 전달한다(5).The subscriber matching board (BAIA) converts the test cell back into a cell of the ATM layer and transfers the test cell to the ATM layer processing board (HALA) 431A in a UTOPIA2 (Universal Test and Operations Physical Interface for ATM level 2) scheme (5).

ATM 계층 처리 보드(431A)에서 미리 설정된 PVC 연결을 통하여 스위치를 경유하여 다른 ATM 계층 처리 보드(431B)로 전송한다(6).The ATM layer processing board 431A transmits to another ATM layer processing board 431B via a switch through a PVC connection preset (6).

테스트 셀을 수신한 ATM 계층 처리 보드(431B)에서는 루프백 케이블로 연결된 가입자 정합 보드(BAIA)를 통해 해당 테스트 셀을 송신한 ATM 계층 처리 보드(431A)측으로 전송한다(7).The ATM layer processing board 431B receiving the test cell transmits the test cell to the ATM layer processing board 431A side through the subscriber matching board BAIA connected with the loopback cable (7).

루프백된 테스트 셀을 수신한 ATM 계층 처리 보드(431A)는 다시 가입자 정합 보드(BAIA) 및 ATM 물리계층 정합 보드(462)를 통해 셀 경로 시험 보드(461)로 송신한다(8).The ATM layer processing board 431A receiving the loopback test cell transmits the data back to the cell path test board 461 via the subscriber matching board (BAIA) and the ATM physical layer matching board 462 (8).

테스트 셀을 수신한 셀 경로 시험 보드(461)는 송신한 셀과 수신한 셀을 비교하여 셀 손실 및 셀 카운트를 검출하고 직렬통신을 통해 PC(450), 단말기(또는 운용 터미널)로 보고한다.The cell path test board 461 receiving the test cell compares the transmitted cell with the received cell, detects cell loss and cell count, and reports the cell loss to the PC 450 or the terminal (or operating terminal) through serial communication.

이처럼 본 실시예는 스위치 보드쪽으로 셀 경로 시험할 경우에 셀 경로 시험 보드(461)를 저속 가입자 제어 보드(424)를 대체하여 실장한 후, 테스트 셀을 송.수신하고 셀 손실 및 셀 카운트를 운용 터미널 등에 보고하게 된다. 따라서 종래와 같은 별도의 시험장비를 운용하지 않아도 되며, 1개의 보드를 교체함으로써 셀 경로 시험이 용이하게 된다.As described above, in the present embodiment, when the cell path test is performed toward the switch board, the cell path test board 461 is replaced by the low speed subscriber control board 424, and the test cell is transmitted and received, and cell loss and cell count are operated. Report to the terminal. Therefore, it is not necessary to operate a separate test equipment as in the prior art, it is easy to test the cell path by replacing one board.

이상 설명한 실시예는 본 고안의 다양한 변화, 변경 및 균등물의 범위에 속한다. 따라서 실시예에 대한 기재내용으로 본 고안이 한정되지 않는다.The embodiments described above fall within the scope of various changes, modifications, and equivalents of the present invention. Therefore, the present invention is not limited to the description of the embodiments.

본 고안의 비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치에 따르면, 셀 경로 시험 보드를 ATM 물리계층 정합 보드와 연결되는 위치에 실장하면 측정 장비 없이 ATM 물리계층 정합 보드, 가입자 정합 보드, ATM 계층 처리 보드, 입출력 버퍼 및 포트 연결 스위치 보드, 크로스 바 스위치 보드 등 많은 보드로 형성되는 시스템내 셀 경로를 검증할 수 있게 됨으로써 측정 장비의 사용 부담이 줄고 시스템의 신뢰성이 향상된다.According to the cell path test apparatus of the asynchronous transfer mode switch of the present invention, when the cell path test board is mounted at a position connected to the ATM physical layer matching board, the ATM physical layer matching board, the subscriber matching board, the ATM layer processing board, By verifying the cell paths in the system, which consists of many boards such as I / O buffers and port-connected switch boards and cross-bar switch boards, the use of measurement equipment is reduced and system reliability is improved.

Claims (2)

셀 경로 시험시 스위칭 수단을 통한 가입자간 영구가상회선 연결을 설정하는 프로세서 모듈과;A processor module for establishing a permanent virtual line connection between subscribers through a switching means in a cell path test; 가입자로의 상.하향 ATM 셀을 정합시키며, 테스트 셀의 송.수신을 담당하는 셀 경로 시험부를 구비하는 저속 가입자 정합 모듈과;A low speed subscriber matching module for matching up and down ATM cells to subscribers and having a cell path tester for transmitting and receiving test cells; 상기 저속 가입자 정합 모듈에서 송신된 테스트 셀을 상기 프로세서 모듈에 의해 설정된 영구가상회선 연결을 통하여 스위칭 수단으로 전달하고, 상기 영구가상회선으로부터 수신되는 테스트 셀을 루프백시키는 고속 가입자 정합 모듈과;A high speed subscriber matching module for transmitting a test cell transmitted from the low speed subscriber matching module to a switching means through a permanent virtual line connection established by the processor module, and looping back a test cell received from the permanent virtual line; 상기 고속 및 저속 가입자 정합 모듈간에 ATM 셀을 라우팅하는 스위칭 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치.And switching means for routing ATM cells between the fast and slow subscriber matching modules. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 셀 경로 시험부는 셀 경로 시험시 저속 가입자 제어 보드를 대체하여 실장되며, 외부로부터 테스트 셀을 전송받아 ATM 물리계층 정합 보드를 거쳐 상기 고속 가입자 정합 모듈로 송신하고, 상기 고속 가입자 정합 모듈로부터 수신되는 테스트 셀을 상기 ATM 물리계층 정합 보드를 거쳐 전달받게 되는 것을 특징으로 하는 비동기전송모드 교환기의 셀 경로 시험장치.The cell path test unit replaces the low speed subscriber control board during cell path testing, receives a test cell from the outside, and transmits the test cell to the fast subscriber matching module via an ATM physical layer matching board, and is received from the fast subscriber matching module. And a test cell is received through the ATM physical layer matching board.
KR2020020021841U 2002-07-22 2002-07-22 Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch KR200294091Y1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020020021841U KR200294091Y1 (en) 2002-07-22 2002-07-22 Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020020021841U KR200294091Y1 (en) 2002-07-22 2002-07-22 Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR200294091Y1 true KR200294091Y1 (en) 2002-11-04

Family

ID=73126443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020020021841U KR200294091Y1 (en) 2002-07-22 2002-07-22 Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200294091Y1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1268272A (en) Access circuit diagnostics for integrated services digital network
US7567519B1 (en) Remote testing and monitoring to a cell site in a cellular communications network
KR200294091Y1 (en) Apparatus for ATM cell path test in a ATM switch
CN112738837B (en) WiFi AP equipment test system and method
Cisco BNI (Trunk) Cards
KR0163143B1 (en) No.7 signal monitoring method in a digital exchanger
KR100362575B1 (en) Tester for asynchronous transfer mode switch of base station subsystem
KR100267380B1 (en) Atm base access device
KR100247024B1 (en) The atm loopback test method and apparatus for pdh call service
KR100475182B1 (en) Link diagnosis method of Asynchronous Transfer Mode switch system
KR100289575B1 (en) Line tester in asynchronous transfer mode exchange
KR20030094971A (en) ATM path test apparatus and method by user packer
KR100360464B1 (en) Connection Apparatus for Line Maintenance and Repair
KR100248408B1 (en) Channel loopback device for testing pba
KR100384837B1 (en) Apparatus of Traffic Handling
KR100314539B1 (en) Method For Q.931 Protocol Message Analysis In ISDN Subscriber-Network Interface Of Exchange System
KR20040027020A (en) Apparatus for managing quality of service of connections in broadband integrated service digital network based asynchronous transfer mode
KR20000013621A (en) Continuous check testing method of asynchronous transfer mode of frame relay call
KR100417372B1 (en) Apparatus for testing taxi port in exchange
KR100302475B1 (en) Method For Interoffice Trunk Line R2 Signal Analysis In Exchange Switching System
KR100639244B1 (en) Mobile communication system having a changing module diagnosing function and controlling method therefore
KR20000033346A (en) Method of outputting trouble message of switch link with loop-back test
KR20000025510A (en) Method for testing dynamic feedback of frame relay call using asynchronous transfer mode path and device thereof
KR20000075216A (en) Method for testing switch port in asnchronous transfer mode
KR19980028476A (en) Remote Subscriber Test Method in Electronic Switching System

Legal Events

Date Code Title Description
REGI Registration of establishment
LAPS Lapse due to unpaid annual fee