KR200293731Y1

KR200293731Y1 - Test device of lamp accelerated life time

Info

Publication number: KR200293731Y1
Application number: KR2020020019424U
Authority: KR
Inventors: 유동수; 이재국
Original assignee: 대우전자주식회사
Priority date: 2002-06-27
Filing date: 2002-06-27
Publication date: 2002-11-02

Abstract

본 고안은 램프 가속 수명 시험장치에 관한 것으로서, 램프의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 한 것이다.The present invention relates to a lamp accelerated life test device, to improve the test reliability when performing the accelerated life test of the lamp.

본 고안은 내부 공간이 형성됨과 아울러 진동기(1) 상부에 위치될 수 있게 적정 크기로 형성되는 램프 시험 본체(10)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 상부와 측부에 다수개 고정되어 시험용 램프(2)가 결합되게 하는 램프 소켓(12)과, 상기 램프 시험 본체(10)의 내부에 설치됨과 아울러 상기 램프 소켓(12)에 각각 전기적으로 대응되게 연결되는 단자대(14)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 도어(16)에 설치되어 단자대(14)와 외부 전원선(3)을 선택적으로 연결하여 램프(2)로의 전원 인가가 이루어지게 하는 스위치(18)로 이루어진 것이다.The present invention has a lamp test body 10 is formed of an appropriate size so that the inner space is formed and can be positioned on the vibrator 1, and a plurality of lamp test body is fixed to the upper and side of the lamp test body 10 The lamp socket 12 to which the (2) is coupled, the terminal block 14 installed in the lamp test main body 10 and electrically connected to the lamp socket 12, respectively, and the lamp test Installed on the door 16 of the main body 10 is made of a switch 18 to selectively connect the terminal block 14 and the external power line (3) to apply the power to the lamp (2).

Description

Ramp Accelerated Life Test Device {TEST DEVICE OF LAMP ACCELERATED LIFE TIME}

본 고안은 램프 가속 수명 시험장치에 관한 것이다.The present invention relates to a lamp accelerated life test device.

일반적으로 알려진 바와 같이 가속 수명 시험이란 시험시간을 단축할 목적으로 기준보다 가혹한 조건에서 실시하는 시험으로서, 상기 가속 수명 시험은 실제 사용조건보다 가혹한 조건(온도, 습도, 진동, 전압, 전류) 또는 사용율을 높여 시험함으로써 빠른 시간 내에 설계 완성도를 평가하거나 수명(신뢰도)을 평가하기 위한 시험이다. 짧은 시간 내에 수명에 관한 더 많은 정보를 수집하여 사용조건에서의 수명을 빠른 시간 내에 추정이 가능하며, 개발검증 및 양산검증 시험의 평가와 납기단축, 신속한 신뢰성평가 및 확인, 잠재적 고장모드, 설계의 Weak Point를 드러나게 하는 시험방법이다.As is generally known, the accelerated life test is a test conducted under harsher conditions than the standard for the purpose of shortening the test time, and the accelerated life test is a harsher condition (temperature, humidity, vibration, voltage, current) or usage rate than the actual use condition. This test is designed to evaluate design completeness or life (reliability) in a short time. By gathering more information about lifespan in a short time, it is possible to estimate the lifespan in use condition in a short time, and to evaluate and shorten the development and mass production verification test, shorten the time of reliability evaluation and verification, potential failure mode, design This is a test method to reveal the weak point.

상기 가속 수명 시험에서 일반적으로 사용되는 방법은 Constant Stress Test와 Step Stress Test 이며, 하나 또는 두 개의 조건을 스트레스(예; 온도, 습도, 진동, 전압, 전류)로 사용한다. 상기 스트레스를 인가하는 수준은 사전에 결정을 해야하며, 일반적으로 시험대상 유니트의 동작한계(Operational Limit) 조건을 넘어서는 수준으로 실시한다.Commonly used methods in the accelerated life test are the Constant Stress Test and the Step Stress Test, and one or two conditions are used as stresses (eg, temperature, humidity, vibration, voltage, and current). The level of stress application must be determined in advance, and generally, the level exceeding the operational limit condition of the unit under test is implemented.

종래의 가속 수명 시험방법 중 냉장 및 냉동장치에 적용되는 램프의 가속 수명 시험방법은, 램프에 가혹 조건(환경)을 주기 위하여 온도와 전압 및 진동 등을 적정 시간 동안 가하는 바, 상기 가혹 조건을 가할 때 각각의 특성을 독립적(순차적)으로 수행하는 것이다.In the conventional accelerated life test method, the accelerated life test method of a lamp applied to a refrigerating and freezing device applies a temperature, a voltage, and a vibration for an appropriate time to impart a harsh condition (environment) to the lamp. When each characteristic is performed independently (sequential).

상기 가속 수명 시험을 행할 때 적정 개수의 램프를 이용하는 것으로서, 상기 가속 수명 시험중 램프의 수명이 정지되는 경우에는 해당 램프를 배제하면서 가속 수명 시험을 실시하는 것이다.When the accelerated life test is performed, an appropriate number of lamps are used. When the life of the lamp is stopped during the accelerated life test, the accelerated life test is performed while excluding the lamp.

그러나 상기한 램프 가속 수명 시험방법은, 램프에 가하는 가혹 조건을 독립적(순차적)으로 행하기 때문에 가속 수명 시험이 장시간에 걸쳐 이루어짐과 아울러 시험 신뢰성이 저하되는 문제점이 있었다.However, the ramp accelerated life test method described above has a problem in that the accelerated life test is performed for a long time and the test reliability is lowered because the harsh conditions applied to the lamp are independently performed (sequential).

본 고안은 상기한 문제점을 시정하여, 램프의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 한 램프 가속 수명 시험장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The object of the present invention is to provide a lamp acceleration life test apparatus which corrects the above problems and improves test reliability when carrying out an accelerated life test of a lamp.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 고안은 램프 시험 본체와, 상기 램프 시험 본체의 상부와 측부에 고정되는 램프 소켓과, 상기 램프 시험 본체의 내부에 설치됨과 아울러 상기 램프 소켓에 각각 연결되는 단자대와, 상기 램프 시험 본체의 도어에 설치되어 단자대와 외부 전원선을 연결하는 스위치로 이루어진 것이다.In order to achieve the above object, the present invention provides a lamp test body, a lamp socket fixed to the upper and side portions of the lamp test body, and a terminal block installed in the lamp test body and connected to the lamp socket, respectively; It is installed in the door of the lamp test body is made of a switch connecting the terminal block and the external power line.

도 1은 본 고안의 실시예의 사시도,1 is a perspective view of an embodiment of the present invention,

도 2는 본 고안의 실시예의 평면도,2 is a plan view of an embodiment of the present invention,

도 3은 본 고안의 실시예의 내부를 나타낸 정면도,3 is a front view showing the interior of the embodiment of the present invention,

도 4는 본 고안의 실시예의 사용상태도이다.4 is a state diagram used in the embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 사용된 부호의 설명><Description of the code used in the main part of the drawing>

2: 램프 10: 램프 시험 본체2: lamp 10: lamp test body

12: 램프 소켓 14: 단자대12: lamp socket 14: terminal block

16: 도어 18: 스위치16: door 18: switch

20: 휴즈20: Hughes

본 고안은 도 1 내지 도 4에 도시한 바와 같이, 내부 공간이 형성됨과 아울러 진동기(1) 상부에 위치될 수 있게 적정 크기로 형성되는 램프 시험 본체(10)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 상부와 측부에 다수개 고정되어 시험용 램프(2)가 결합되게 하는 램프 소켓(12)과, 상기 램프 시험 본체(10)의 내부에 설치됨과 아울러 상기 램프 소켓(12)에 각각 전기적으로 대응되게 연결되는 단자대(14)와, 상기 램프 시험 본체(10)의 도어(16)에 설치되어 단자대(14)와 외부 전원선(3)을 선택적으로 연결하여 램프(2)로의 전원 인가가 이루어지게 하는 스위치(18)로 이루어진 것이다.1 to 4, the lamp test main body 10 and the lamp test main body 10 is formed in an appropriate size so that the inner space is formed and can be positioned on the vibrator 1, as shown in FIG. A plurality of lamp sockets 12 fixed to the upper and side portions of the lamp socket 12 for coupling the test lamps 2 to the lamp sockets 12, and electrically connected to the lamp sockets 12, respectively. Installed in the terminal block 14 to be connected, and the door 16 of the lamp test body 10 to selectively connect the terminal block 14 and the external power line (3) to apply power to the lamp (2) It is made of a switch (18).

상기 램프 시험 본체(10)는 진동기(1)에 탑재되어 적정 시간 동안 램프 시험 본체(10)의 진동이 유지되게 하는 것이고, 상기 램프 시험 본체(10)의 진동이 이루어질 때 항온기(4) 내측으로 진동기(1)를 위치시키면 특정 온도(습도)로 램프 시험본체(10)가 전환되는 것이다. 상기 진동 및 온도(습도)를 특정 상태로 유지시킴과 아울러 스위치를 온(ON)시키면 각각의 램프(2)가 켜지는 것이며, 상기 램프(2)가 온되어 있을 때 적정 전류 및 전압을 인가시키는 것이다.The lamp test main body 10 is mounted on the vibrator 1 to maintain the vibration of the lamp test main body 10 for a predetermined time, and when the vibration of the lamp test main body 10 occurs, the inside of the thermostat 4. When the vibrator 1 is positioned, the lamp test body 10 is switched to a specific temperature (humidity). In addition to maintaining the vibration and temperature (humidity) in a specific state and turning on the switch, each lamp 2 is turned on, and when the lamp 2 is turned on, an appropriate current and voltage are applied. will be.

상기 램프(2)가 온된 상태에서 가속 수명 시험을 실시할 때 램프(2) 조건을 최악의 상태로 유지시키기 위하여 램프 소켓(12)을 불규칙적으로 배치시켜 고정하는 것으로서, 상기 램프 소켓(12)을 램프 시험 본체(10)의 측부에 설치할 때는 램프 시험 본체(10)의 수직방향(입설)으로 일부를 고정함과 아울러 일부는 램프 시험 본체(10)의 수평방향으로 고정하는 것이다. 그리고 상기 램프 소켓(12)을 램프 시험 본체(10)의 상부에 설치할 때는 램프 시험 본체(10)의 수평방향으로 일부를 고정함과 아울러 일부는 램프 시험 본체(10)의 수직방향(입설)으로 고정하는 것이다.When the accelerated life test is performed while the lamp 2 is turned on, the lamp socket 12 is irregularly arranged and fixed to maintain the lamp 2 conditions in the worst state. When installing in the side part of the lamp test main body 10, while fixing a part to the vertical direction (entrance) of the lamp test main body 10, a part is fixed to the horizontal direction of the lamp test main body 10. FIG. When the lamp socket 12 is installed above the lamp test body 10, a part of the lamp socket 12 is fixed in the horizontal direction of the lamp test body 10 and a part of the lamp socket 12 is perpendicular to the lamp test body 10. It is fixed.

또한 상기 램프 소켓(12)에 전기적으로 연결된 단자대(14)와 도어(16)에 설치된 스위치(18) 사이에 휴즈(20)를 설치함으로써 단자대(14) 및 램프(2)상에서 과부하가 발생되면 전원 인가가 이루어지지 않게 하는 것이다.In addition, by installing a fuse 20 between the terminal block 14 electrically connected to the lamp socket 12 and the switch 18 installed in the door 16, if an overload occurs on the terminal block 14 and the lamp 2, This is to prevent authorization.

이상과 같은 본 고안은 램프의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 하는 것으로서, 램프 시험 본체(10)의 상부와 측부에 다수개의 램프 소켓(12)을 설치함과 아울러 램프 시험 본체(10)의 내부에 단자대(14)를 설치하여 상기 램프 소켓(12)과 전기적으로 연결하고, 상기 단자대(14)로의 외부 전원 인가를 위하여 도어(16)에 스위치(18)를 설치하는 것이다.The present invention as described above is to improve the test reliability when performing the accelerated life test of the lamp, and a plurality of lamp sockets 12 are installed at the top and side of the lamp test body 10, and the lamp test body ( The terminal block 14 is installed in the inside of the 10 to be electrically connected to the lamp socket 12, and the switch 18 is installed in the door 16 to apply external power to the terminal block 14.

상기 램프 소켓(12)을 램프 시험 본체(10)에 설치할 때 각각의 램프 소켓(12)을 각 방향으로 위치되게 설치함으로써 램프 소켓(12)에 설치된 램프(2)의상태가 최악의 상태로 유지되게 하는 것이며, 상기 램프 소켓(12)에 램프(2)를 접속시킨 후 가속 수명 시험을 실시하는 것이다.When the lamp socket 12 is installed in the lamp test body 10, the lamp sockets 12 installed in the lamp sockets 12 are positioned in each direction so that the state of the lamp 2 installed in the lamp socket 12 is maintained in the worst state. After the lamp 2 is connected to the lamp socket 12, an accelerated life test is performed.

상기 가속 수명 시험을 실시할 때 램프(2)에 가하는 가혹 조건을 독립적(순차적)으로 행할수도 있지만 상기 가혹 조건을 동시에 수행할 수 있는 것으로서, 상기 가혹 조건을 동시에 수행하기 위하여 진동기(1)에 램프 시험 본체(10)를 탑재시키는 것이고, 상기 램프 시험 본체(10)가 탑재된 진동기(1)를 항온기(4) 내측으로 위치시켜 가속 수명 시험을 동시에 실시하는 것이다.Although the harsh conditions applied to the lamp 2 when performing the accelerated life test can be performed independently (sequential), the harsh conditions can be performed simultaneously, so that the ramp to the vibrator 1 can be performed simultaneously to perform the harsh conditions. The test body 10 is mounted, and the vibrator 1 on which the lamp test body 10 is mounted is placed inside the thermostat 4 to simultaneously perform an accelerated life test.

상기 가속 수명 시험중 진동기(1)에 의한 진동 기능이 이루어질 때 램프 소켓(12)에 접속된 램프(2)가 램프 시험 본체(10)를 중심으로 수평지게 설치되어 있거나 수직되게 설치되어 있는 경우 그 수명이 달라지는 것이다. 또한 그 상태에서의 온도 및 습도 영향도 달라지는 것으로서, 가혹 조건을 다각적으로 분석할 수 있음에 따라 제품의 시험 신뢰성이 향상되는 것이다.When the vibrating function of the vibrator 1 is performed during the accelerated life test, the lamp 2 connected to the lamp socket 12 is installed horizontally or vertically with respect to the lamp test body 10. The life is different. In addition, the effect of temperature and humidity in the state is also changed, and the test reliability of the product is improved as the severe conditions can be analyzed in various ways.

이상과 같이 본 고안은 램프 시험 본체의 측부 및 상부에 램프 소켓을 다양하게 설치함과 아울러 상기 램프 시험 본체를 진동기에 탑재될 수 있게 형성하여 램프 가속 수명 시험이 다각적으로 실시되게 하는 것으로서, 상기 램프 시험 본체를 통한 램프 가속 수명 시험이 적정하게 이루어짐에 따라 램프의 시험 신뢰성이 향상되는 것이다.As described above, the present invention is to install various lamp sockets on the side and top of the lamp test body and to form the lamp test body to be mounted on the vibrator so that the lamp accelerated life test can be performed in various ways. As the lamp accelerated life test is conducted properly through the test body, the test reliability of the lamp is improved.

그리고 상기 램프 가속 수명 시험을 실시할 때 램프의 가혹 조건을 최악의 상태로 유지되게 램프 소켓을 입설시켜 설치하는 것으로서, 상기 램프 소켓을 램프시험 본체의 수평방향 및 수직방향으로 배치시켜 고정함으로써 가혹 조건에 따른 가속 수명 시험이 세분화되어 나타나는 것이다.In addition, the lamp socket is installed by installing the lamp socket so that the harsh conditions of the lamp are maintained in the worst condition when the lamp accelerated life test is performed. Accelerated life test according to

또한 상기 단자대와 스위치 사이에 휴즈를 설치하여 램프와 램프 소켓 및 단자대에 이상 현상이 발생되는 경우 자동적으로 외부 전원이 차단됨으로써 안전 사고 발생이 일어나지 않는 것이다.In addition, when a fuse is installed between the terminal block and the switch, when an abnormal phenomenon occurs in the lamp, the lamp socket, and the terminal block, the external power is automatically shut off so that a safety accident does not occur.

Claims

The lamp test body 10, the lamp socket 12 fixed to the upper part and the side part of the lamp test body 10, and the lamp test body 10 is provided in the interior of the lamp socket 12, respectively Lamp acceleration life, characterized in that consisting of a terminal block 14 to be connected, and a switch 18 is installed on the door 16 of the lamp test body 10 to connect the terminal block 14 and the external power line (3). Test equipment.

The method of claim 1,

Lamp acceleration life test device, characterized in that part of the lamp socket 12 of the lamp socket 12 is installed to be installed.

The method of claim 1,

Lamp acceleration life test device, characterized in that the fuse 20 is installed between the terminal block and the switch (18).