KR200290640Y1 - Accelerated life time test device of tantalum solid electrolytic capacitor - Google Patents
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Abstract
본 고안은 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 가속 수명 시험장치에 관한 것으로서, 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 한 것이다.The present invention relates to an accelerated life test apparatus for tantalum solid electrolytic capacitors, and to improve test reliability when performing accelerated life tests on tantalum solid electrolytic capacitors.
본 고안은 일정 높이의 지지봉(12)에 탑재됨과 아울러 판상으로 형성되는 시험 설치편(10)과, 상기 시험 설치편(10)에 등간격으로 다열 배치되어 형성되는 제 1, 2 단자 안착부(14,16)와, 상기 제 1 단자 안착부(14)에 스크류(20)를 통해 고정되는 플러스 단자(18)와, 상기 제 2 단자 안착부(16)에 스크류(20)를 통해 고정되는 마이너스 단자(22)와, 상기 플러스 단자(18) 및 마이너스 단자(22)가 상호 마주보는 각 단자(18,22)의 전방인 시험 설치편(10)에 일정 크기의 공간으로 형성되어 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)가 결합되어 접속되는 캐패시터 접속홈(24)과, 상기 플러스 단자(18) 및 마이너스 단자(22)를 전원단자(28)에 전기적으로 연결하여 외부 전원이 인가되게 하는 연결수단(26)으로 이루어진 것이다.The present invention is mounted on the support rod 12 of a certain height, and the test installation piece 10 is formed in a plate shape, and the first and second terminal seating portions formed by being arranged in multiple rows at equal intervals on the test installation piece ( 14 and 16, plus terminal 18 fixed to the first terminal seat 14 through a screw 20, and negative fixed to the second terminal seat 16 via a screw 20 A tantalum solid electrolytic capacitor is formed in a space of a predetermined size in the test installation piece 10 which is the front of each terminal 18, 22 where the terminal 22, the plus terminal 18 and the minus terminal 22 face each other. (1) is connected to the capacitor connecting groove (24) coupled and connected to the power supply terminal (28) electrically connecting the plus terminal 18 and the negative terminal 22, the connecting means 26 for applying external power It is made up of.
Description
본 고안은 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 가속 수명 시험장치에 관한 것이다.The present invention relates to an accelerated life test apparatus for tantalum solid electrolytic capacitors.
일반적으로 알려진 바와 같이 가속 수명 시험이란 시험시간을 단축할 목적으로 기준보다 가혹한 조건에서 실시하는 시험으로서, 상기 가속 수명 시험은 실제 사용조건보다 가혹한 조건(온도, 습도, 진동, 전압, 전류) 또는 사용율을 높여 시험함으로써 빠른 시간 내에 설계 완성도를 평가하거나 수명(신뢰도)을 평가하기 위한 시험이다. 짧은 시간 내에 수명에 관한 더 많은 정보를 수집하여 사용조건에서의 수명을 빠른 시간 내에 추정이 가능하며, 개발검증 및 양산검증 시험의 평가와 납기단축, 신속한 신뢰성평가 및 확인, 잠재적 고장모드, 설계의 Weak Point를 드러나게 하는 시험방법이다.As is generally known, the accelerated life test is a test conducted under harsher conditions than the standard for the purpose of shortening the test time, and the accelerated life test is a harsher condition (temperature, humidity, vibration, voltage, current) or usage rate than the actual use condition. This test is designed to evaluate design completeness or life (reliability) in a short time. By gathering more information about lifespan in a short time, it is possible to estimate the lifespan in use condition in a short time, and to evaluate and shorten the development and mass production verification test, shorten the time of reliability evaluation and verification, potential failure mode, design This is a test method to reveal the weak point.
상기 가속 수명 시험에서 일반적으로 사용되는 방법은 Constant Stress Test와 Step Stress Test 이며, 하나 또는 두 개의 조건을 스트레스(예; 온도, 습도, 진동, 전압, 전류)로 사용한다. 상기 스트레스를 인가하는 수준은 사전에 결정을 해야하며, 일반적으로 시험대상 유니트의 동작한계(Operational Limit) 조건을 넘어서는 수준으로 실시한다.Commonly used methods in the accelerated life test are the Constant Stress Test and the Step Stress Test, and one or two conditions are used as stresses (eg, temperature, humidity, vibration, voltage, and current). The level of stress application must be determined in advance, and generally, the level exceeding the operational limit condition of the unit under test is implemented.
종래의 가속 수명 시험방법 중 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 가속 수명 시험방법은, 탄탈륨 고체 전해 캐패시터에 가혹 조건(환경)을 주기 위하여 온도와 전압 등을 적정 시간 동안 가하는 바, 상기 가혹 조건을 가할 때 각각의 탄탈륨 고체 전해 캐패시터에 대한 온도 시험을 실시함과 아울러 전압 시험 등을 순차적으로 한개씩 수행하는 것이다.Among the conventional accelerated life test methods, the accelerated life test method of tantalum solid electrolytic capacitors is applied to the tantalum solid electrolytic capacitors for a suitable time in order to impart harsh conditions (environments). The tantalum solid electrolytic capacitor is subjected to a temperature test, and a voltage test is performed one by one.
상기 가속 수명 시험을 행할 때 적정 개수의 탄탈륨 고체 전해 캐패시터를이용하는 것으로서, 상기 가속 수명 시험중 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 수명이 정지되는 경우에는 해당 탄탈륨 고체 전해 캐패시터에 대한 가속 수명 시험이 정지되는 것이다.When the accelerated life test is performed, an appropriate number of tantalum solid electrolytic capacitors are used. When the life of the tantalum solid electrolytic capacitor is stopped during the accelerated life test, the accelerated life test on the tantalum solid electrolytic capacitor is stopped.
그러나 상기한 탄탈륨 고체 전해 캐패시터 가속 수명 시험방법은, 탄탈륨 고체 전해 캐패시터에 가하는 가혹 조건을 순차적으로 행하기 때문에 가속 수명 시험이 장시간에 걸쳐 이루어짐과 아울러 시험 신뢰성이 저하되는 문제점이 있었다.However, the above-described tantalum solid electrolytic capacitor accelerated life test method has a problem in that the accelerated life test is performed for a long time and the test reliability is deteriorated since the harsh conditions applied to the tantalum solid electrolytic capacitor are sequentially performed.
본 고안은 상기한 문제점을 시정하여, 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 한 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 가속 수명 시험장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The object of the present invention is to provide an apparatus for accelerating life test of a tantalum solid electrolytic capacitor, which corrects the above problems and improves test reliability when performing an accelerated life test of a tantalum solid electrolytic capacitor.
상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 고안은 지지봉에 탑재되는 시험 설치편과, 상기 시험 설치편에 등간격으로 배치되어 형성되는 제 1, 2 단자 안착부와, 상기 제 1 단자 안착부에 스크류를 통해 고정되는 플러스 단자와, 상기 제 2 단자 안착부에 스크류를 통해 고정되는 마이너스 단자와, 상기 플러스 단자 및 마이너스 단자가 상호 마주보는 각 단자의 전방인 시험 설치편에 형성되어 탄탈륨 고체 전해 캐패시터가 결합되는 캐패시터 접속홈과, 상기 플러스 단자 및 마이너스 단자를 전원단자에 전기적으로 연결하는 연결수단으로 이루어진 것이다.In order to achieve the above object, the present invention provides a test mounting piece mounted on the support rod, the first and second terminal seating portions formed at equal intervals on the test mounting piece, and a screw in the first terminal seating portion. Tantalum solid electrolytic capacitors are formed by forming a positive terminal fixed through the terminal, a negative terminal fixed through a screw to the second terminal seating portion, and a test installation piece in front of each terminal where the positive terminal and the negative terminal face each other. Capacitor connection groove, and the connecting means for electrically connecting the positive terminal and the negative terminal to the power terminal.
도 1은 본 고안의 실시예의 사시도,1 is a perspective view of an embodiment of the present invention,
도 2는 본 고안의 실시예의 저면도,2 is a bottom view of an embodiment of the present invention,
도 3은 도 1의 A부 확대도,3 is an enlarged view of a portion A of FIG. 1;
도 4는 도 3의 단면도,4 is a cross-sectional view of FIG.
도 5는 본 고안의 실시예의 사용상태 배치도이다.5 is a layout view of the use state of the embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 사용된 부호의 설명><Description of the code used in the main part of the drawing>
1: 탄탈륨 고체 전해 캐패시터 10: 시험 설치편1: Tantalum Solid Electrolytic Capacitor 10: Test Installation
12: 지지봉 14: 제 1 단자 안착부12: support rod 14: first terminal seating portion
16: 제 2 단자 안착부 18: 플러스 단자16: 2nd terminal seating part 18: plus terminal
22: 마이너스 단자 24: 캐패시터 접속홈22: minus terminal 24: capacitor connection groove
26: 연결수단 30: 연결라인26: connecting means 30: connecting line
32: 전원선32: power line
본 고안은 도 1 내지 도 5에 도시한 바와 같이, 일정 높이의 지지봉(12)에 탑재됨과 아울러 판상으로 형성되는 시험 설치편(10)과, 상기 시험 설치편(10)에등간격으로 다열 배치되어 형성되는 제 1, 2 단자 안착부(14,16)와, 상기 제 1 단자 안착부(14)에 스크류(20)를 통해 고정되는 플러스 단자(18)와, 상기 제 2 단자 안착부(16)에 스크류(20)를 통해 고정되는 마이너스 단자(22)와, 상기 플러스 단자(18) 및 마이너스 단자(22)가 상호 마주보는 각 단자(18,22)의 전방인 시험 설치편(10)에 일정 크기의 공간으로 형성되어 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)가 결합되어 접속되는 캐패시터 접속홈(24)과, 상기 플러스 단자(18) 및 마이너스 단자(22)를 전원단자(28)에 전기적으로 연결하여 외부 전원이 인가되게 하는 연결수단(26)으로 이루어진 것이다.The present invention, as shown in Figures 1 to 5, is mounted on the support rod 12 of a certain height, and is arranged in a multi-row at the same interval between the test installation piece 10 and the test installation piece 10 formed in a plate shape. And the first and second terminal seating portions 14 and 16, the positive terminal 18 fixed to the first terminal seating portion 14 through a screw 20, and the second terminal seating portion 16. To the test mounting piece 10 which is the front of each of the terminals 18 and 22 that the positive terminal 22 and the positive terminal 18 and the negative terminal 22 face each other. The capacitor connection groove 24 is formed to have a predetermined size and the tantalum solid electrolytic capacitor 1 is coupled and connected, and the positive terminal 18 and the negative terminal 22 are electrically connected to the power terminal 28. It is made of a connecting means 26 for applying an external power source.
상기 연결수단(26)은 각각의 플러스 단자(18)가 연결되어 동시에 전원이 인가되게 시험 설치편(10) 상면에 플러스 단자(18)와 일체로 고정되는 연결라인(30)과, 각각의 마이너스 단자(22) 하단에 개별적으로 연결되어 전기적인 회로구성이 형성됨과 아울러 전원단자(28) 및 디스플레이(34)로 연결되는 전원선(32)으로 구성되는 것이다.The connecting means 26 is connected to each of the plus terminal 18, the connection line 30 is fixed integrally with the plus terminal 18 on the upper surface of the test piece 10 so that the power is applied at the same time, each minus It is composed of a power line 32 connected to the power supply terminal 28 and the display 34 as well as the electrical circuit configuration is formed by being individually connected to the lower terminal (22).
그리고 상기 캐패시터 접속홈(24)의 중앙에는 분리홈(36)을 형성하여 캐패시터 접속홈(36)에 위치된 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)의 분해가 용이하게 이루어질 수 있도록 하는 것이다.In addition, the separation groove 36 is formed at the center of the capacitor connection groove 24 so that the tantalum solid electrolytic capacitor 1 located in the capacitor connection groove 36 can be easily disassembled.
상기 시험 설치편(10)은 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)를 가속 수명 시험할 때 다수개를 동시에 수행할 수 있도록 하는 것으로서, 상기 시험 설치편(10)에 설치된 플러스 단자(18)와 마이너스 단자(22) 사이의 캐패시터 접속홈(24)에 다수개의 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)를 위치시킴과 아울러 전원단자(28)를 통해 외부전원을 인가시키면 특정 전압이 각각의 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)에 걸리는 것이며, 상기 전압을 시험 설치편(10)으로 가할 때 시험 설치편(10)을 항온조(3) 내부로 위치시켜 특정 온도로 유지시켜 실시간적으로 가혹 조건을 병행할 수 있는 것이다.The test installation piece 10 is to be able to simultaneously perform a plurality of tantalum solid electrolytic capacitors 1 when the accelerated life test, the positive terminal 18 and the negative terminal (installed in the test installation piece 10 ( When a plurality of tantalum solid electrolytic capacitors 1 are placed in the capacitor connecting grooves 24 between them and an external power source is applied through the power supply terminal 28, a specific voltage is applied to each tantalum solid electrolytic capacitor 1. When the voltage is applied to the test installation piece 10, the test installation piece 10 may be placed inside the thermostat 3 to be maintained at a specific temperature so that harsh conditions may be performed in real time.
상기 가혹 조건을 실시할 때 특정 위치의 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)가 오프(OFF)되는 경우에는 디스플레이(34)로 해당 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)의 오프 여부가 판별되는 것이다.When the tantalum solid electrolytic capacitor 1 at a specific position is turned off when the harsh conditions are implemented, the display 34 determines whether the tantalum solid electrolytic capacitor 1 is turned off.
이상과 같은 본 고안은 탄탈륨 고체 전해 캐패시터의 가속 수명 시험을 실시할 때 시험 신뢰성이 향상되도록 하는 것으로서, 시험 설치편(10)에 등간격으로 다열 배치되어 형성되는 제 1, 2 단자 안착부(14,16)와, 상기 제 1, 2 단자 안착부(14,16)에 각각 고정되는 플러스 단자(18) 및 마이너스 단자(22)와, 상기 플러스 단자(18) 및 마이너스 단자(22)의 상호 마주보는 전방에 형성되는 캐패시터 접속홈(24)과, 상기 플러스 단자(18) 및 마이너스 단자(22)를 전원단자(28)에 전기적으로 연결하는 연결수단(26)으로 이루어진 것이다.The present invention as described above is to improve the test reliability when performing the accelerated life test of the tantalum solid electrolytic capacitor, the first and second terminal seating portion 14 formed by being arranged in multiple rows at equal intervals on the test piece 10 16 and the positive terminal 18 and the negative terminal 22 fixed to the first and second terminal seats 14 and 16, respectively, and the positive terminal 18 and the negative terminal 22 face each other. A capacitor connecting groove 24 formed in front of the beam, and a connecting means 26 for electrically connecting the positive terminal 18 and the negative terminal 22 to the power supply terminal 28.
상기 플러스 단자(18)와 마이너스 단자(22) 사이에 형성된 캐패시터 접속홈(24)에 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)를 위치시킴과 아울러 연결수단(26)인 전원선(32)을 전원단자(28) 및 디스플레이(34)에 연결하고, 상기 시험 설치편(10)을 항온조(3) 내부에 위치시켜 가속 수명 시험을 실시하는 것이다.The tantalum solid electrolytic capacitor 1 is positioned in the capacitor connecting groove 24 formed between the positive terminal 18 and the negative terminal 22, and the power supply line 32 serving as the connecting means 26 is connected to the power supply terminal 28. ) And the display 34, and the test installation piece 10 is placed inside the thermostat 3 to perform an accelerated life test.
상기 가속 수명 시험을 실시할 때 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)에 가하는 가혹 조건을 독립적(순차적)으로 행할수도 있지만 상기 가혹 조건을 동시에 수행할수 있는 것으로서, 상기 가혹 조건을 동시에 다수개 수행하기 위하여 지지봉(12)에 시험 설치편(10)을 탑재시키는 것이고, 상기 시험 설치편(10) 상측으로 다른 지지봉(12)을 위치시킨 후 다른 시험 설치편(10)을 층층이 적층시켜 사용할 수도 있는 것이다.Although the harsh conditions applied to the tantalum solid electrolytic capacitor 1 may be performed independently (sequentially) when the accelerated life test is performed, the harsh conditions may be simultaneously performed, and in order to simultaneously perform a plurality of the harsh conditions, a supporting rod ( The test mounting piece 10 is mounted on 12), and another test mounting piece 10 may be laminated and used after placing another supporting rod 12 above the test mounting piece 10.
상기 가속 수명 시험을 할때 전원단자(28)를 통한 전원이 인가되면 각각의 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)는 적정 이상의 전압이 걸리는 것이고, 상기 전압이 걸릴때 항온조(3)의 설정 온도(습도)에 의해서 최악의 상태로 시험이 실시되는 것이다. 상기와 같이 가혹 조건인 전압 및 온도를 투입시켜 시험을 실시할 때 각각의 설정값을 변화시킬 수도 있는 것이고, 상기 가혹 조건을 다각적으로 동시에 분석할 수 있음에 따라 제품의 시험 신뢰성이 향상되는 것이다.When the power through the power supply terminal 28 is applied during the accelerated life test, each tantalum solid electrolytic capacitor 1 is subjected to a voltage higher than an appropriate value, and when the voltage is applied, the set temperature (humidity) of the thermostat 3 is applied. The test is carried out in the worst case. As described above, each input value may be changed when the test is performed by applying voltage and temperature, which are harsh conditions, and the test reliability of the product may be improved as the harsh conditions can be analyzed simultaneously in various ways.
또한 상기 가속 수명 시험을 행한 후 시험 설치편(10)의 분리홈(36)으로 분리용 걸쇠(미도시)를 위치시켜 탄탈륨 고체 전해 캐패시터(1)를 간단하게 분리하는 것이다.In addition, after performing the accelerated life test, the separation shackle (not shown) is placed in the separation groove 36 of the test installation piece 10 to simply detach the tantalum solid electrolytic capacitor 1.
이상과 같이 본 고안은 시험 설치편에 등간격으로 제 1, 2 단자 안착부를 형성함과 아울러 상기 제 1, 2 단자 안착부에 플러스 단자 및 마이너스 단자를 고정하고, 상기 플러스 단자와 마이너스 단자 전방에 형성된 캐패시터 접속홈에 탄탈륨 고체 전해 캐패시터를 위치시켜 가속 수명 시험을 실시하는 것으로서, 상기 시험 설치편에 다수개의 캐패시터 접속홈을 형성함과 아울러 탄탈륨 고체 전해 캐패시터를 배치시켜 시험할 수 있으므로 가속 수명 시험이 동시에 다각적으로 이루어지고,시험 설치편을 항온조 내부로 위치시켜 시험할 수 있으므로 가속 수명 시험이 다양하게 일어짐으로써 제품의 신뢰성이 향상되는 것이다.As described above, the present invention forms the first and second terminal seating portions at equal intervals on the test installation piece, and fixes the positive and negative terminals to the first and second terminal seating portions, and in front of the positive terminal and the negative terminal. The accelerated life test is performed by placing a tantalum solid electrolytic capacitor in the formed capacitor connection groove, and a plurality of capacitor connection grooves can be formed in the test installation piece and the tantalum solid electrolytic capacitor can be tested so that the accelerated life test is performed. At the same time, it is multi-faceted and the test installation can be placed inside the thermostat, so that the accelerated life test can be performed in various ways to improve the reliability of the product.
또한 연결수단인 연결라인과 디스플레이를 통해 전기적인 회로 구성이 안정적으로 이루어짐과 아울러 캐패시터 접속홈에 배치된 특정 탄탈륨 고체 전해 캐패시터 상태가 디스플레이를 통해 실시간적으로 확인할 수 있어 시험 편리성이 향상되는 것이다.In addition, the electrical circuit configuration is made stable through the connection line and the display means, and the state of a specific tantalum solid electrolytic capacitor disposed in the capacitor connection groove can be checked in real time on the display, thereby improving test convenience.
그리고 가속 수명 시험을 완료한 후 캐패시터 접속홈에 결합된 탄탈륨 고체 전해 캐패시터가 분리홈을 통해서 간편하게 분리되는 것이다.After the accelerated life test is completed, the tantalum solid electrolytic capacitor coupled to the capacitor connection groove is easily separated through the separation groove.
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Family Applications (1)
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