KR200281305Y1

KR200281305Y1 - Magnetic inspection tester

Info

Publication number: KR200281305Y1
Application number: KR2020020009125U
Authority: KR
Inventors: 이주형
Original assignee: 세안기술 주식회사; 이주형
Priority date: 2002-03-27
Filing date: 2002-03-27
Publication date: 2002-07-13

Abstract

본 고안은 자분탐상검사장치에 관한 것으로, 소정의 형태로 절곡되고 표면 일측에 코일(11a)이 권선된 철심부재(10)와, 이 철심부재(10)의 둘레부 일측에 소정의 절연재로 도포된 코팅부(12)를 구비하는 자분탐상검사장치에 있어서, 상기 철심부재(10)의 일측에 착탈가능하게 연결되는 조명기구(15)와, 상기 조명기구(15)의 일측에 조명기구(15)로부터 조광된 빛을 반사시키기 위해 구비되는 반사판(16)과, 상기 조명기구(15)의 다른 일측에 조명기구(15)를 보호하기 위해 구비되는 커버부재(17)를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 구조를 제공한다.The present invention relates to a magnetic particle inspection device, which is bent in a predetermined shape and coated with a predetermined insulating material on one side of the iron core member 10 on which a coil 11a is wound, and a circumferential side of the iron core member 10. In the magnetic particle inspection device having a coated portion 12, the lighting device 15 is detachably connected to one side of the iron core member 10, and the lighting device 15 on one side of the lighting device 15; Reflecting plate 16 is provided to reflect the light dimmed from) and the cover member 17 is provided on the other side of the luminaire 15 to protect the luminaire 15 Provides a structure to

이와 같은 본 고안의 자분탐상검사장치는 블랙램프 또는 일반 형광램프로 된 조명기구를 착탈가능하게 결합한 구조를 갖춤으로써 구성이 더욱 단순화되고 휴대 및 작업이 보다 용이해지는 효과를 달성하게 된다.The magnetic particle inspection device of the present invention has a structure that detachably couples a luminaire made of a black lamp or a general fluorescent lamp to achieve an effect of simplifying the configuration and making it easier to carry and work.

Description

Magnetic particle inspection device {MAGNETIC INSPECTION TESTER}

본 고안은 자분탐상검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 자분탐상검사에 필요한 장비의 수를 최소화하여 휴대 및 작업이 더욱 용이한 자분탐상검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a magnetic particle inspection device, and more particularly to a magnetic particle inspection device that is more portable and easier to work by minimizing the number of equipment required for magnetic particle inspection.

피검사체를 파괴하지 않고 그 제품의 결함유무를 확인하는데는 일반적으로 비파괴 검사가 사용되고 있으며, 이러한 비파괴 검사의 종류에는 방사선검사법, 초음파검사법, 육안검사법, 자분탐상법 등 다양한 검사방법이 있다.Non-destructive testing is generally used to check the defects of the product without destroying the test object. There are various types of non-destructive testing such as radiographic examination, ultrasonic examination, visual inspection, magnetic particle examination.

상기의 다양한 검사방법 중 자분탐상검사법은 금속의 자화 성질을 이용한 소정의 자력을 가지는 매체, 즉 자화철분을 사용하여 기계나 부품 등에서 결함(crack)이 있는 불연속 부위를 재현시키는 검사법을 일컫는 것으로, 이를 보다 알기 쉽게 설명하면, 자분액을 도포한 시편을 코일내로 통과시키거나 자화시키면 시편의 결함부위에 자분이 모여들어 이를 육안으로 식별할 수 있게 되는 검사법을 말한다. 이와 같은 자분탐상검사법은 결함검출이 보다 용이하고 간단하므로 기계나 부품제작 및 실험공정에서 광범위하게 적용되고 있다.Among the various inspection methods described above, the magnetic particle inspection method refers to an inspection method for reproducing a discontinuous part having a crack in a machine or a component by using a medium having a predetermined magnetic force using the magnetizing property of metal, that is, iron powder. To explain more clearly, it is a test method in which magnetic particles are collected at a defective part of the specimen when the specimen coated with magnetic powder is passed or magnetized into the coil, and the naked eye can be identified. This magnetic particle inspection method has been widely applied in the manufacturing process and the manufacturing process of the machine or parts because the defect detection is easier and simpler.

첨부도면 도 1은 종래 자분탐상검사장치의 일 례를 도시한 사시도이고, 도 2는 도 1에 따른 종래 자분탐상검사장치의 개략적인 구성을 도시한 정면도로서, 도시된 바와 같이 종래의 자분탐상검사장치는 "ㄷ"자 형태로 절곡된 철심부재(10)로 이루어져 있다.1 is a perspective view showing an example of a conventional magnetic particle inspection device, Figure 2 is a front view showing a schematic configuration of a conventional magnetic particle inspection device according to Figure 1, as shown in the conventional magnetic particle inspection The device consists of an iron core member (10) bent in a "c" shape.

상기 철심부재(10)의 표면에는 다수의 코일(11a)이 권선된 코일부(11)가 형성되어 있고, 이 코일부(11)의 외측에는 소정의 절연재로 도포된 코팅부(12)가 형성되어 있다.On the surface of the iron core member 10, a coil portion 11 is formed in which a plurality of coils 11a are wound, and a coating portion 12 coated with a predetermined insulating material is formed on the outer side of the coil portion 11. It is.

또한, 상기 철심부재(10)의 일측으로는 전력케이블(13)이 인입되어 이 전력케이블(13)이 상기 철심부재(10)의 일측에 위치된 통전스위치(14)에 연결되어 있으며, 이 통전스위치(14)를 온/오프(ON/OFF)시키면서 코일(11a)을 통해 전기를 흘려보내 철심부재(10)를 자화시키게 된다.In addition, a power cable 13 is introduced into one side of the iron core member 10, and the power cable 13 is connected to an energization switch 14 located at one side of the iron core member 10. The iron core member 10 is magnetized by flowing electricity through the coil 11a while turning the switch 14 ON / OFF.

이와 같은 구성을 갖는 종래의 자분탐상검사장치는 시편(20)의 결함 검사시 시편(20)의 표면을 비춰주기 위해 별도의 조명기구(블랙라이트;30)를 구비하여야 하였는 바, 휴대가 불편하고 작업이 용이하지 않은 문제점이 있었다.The conventional magnetic particle inspection device having such a configuration had to be provided with a separate lighting device (black light; 30) to illuminate the surface of the specimen 20 when inspecting the defect of the specimen 20. There was a problem that the operation was not easy.

또한, 종래 자분탐상검사장치를 이용한 검사에서 상기 조명기구(30)에 구비되는 전구(31)의 경우 통상 수은등이 사용되고 있고, 이 수은등(31)은 전면이 블랙유리로 이루어져 있어 과열될 경우, 수은등이 꺼지는 문제가 자주 발생하며, 이같이 수은등이 꺼질 경우 일정시간이 경과하기까지는 재사용이 불가능한 문제점이 있었다.In addition, a conventional mercury lamp is used in the case of the bulb 31 provided in the luminaire 30 in the inspection using a magnetic particle inspection device, the mercury lamp 31 is made of black glass in front of the mercury lamp, if overheated This problem is often turned off, and if the mercury lamp is turned off, there was a problem that can not be reused until a certain time passes.

이에 본 고안은 상기와 같은 종래 자분탐상검사장치의 제반 문제점을 해결하기 위해 개발된 것으로, 수은등의 단점을 보완함과 아울러, 자분탐상검사에 필요한 장비의 수를 최소화하여 휴대가 용이하고 효율적이며 신속한 검사가 가능한 자분탐상검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.Therefore, the present invention was developed to solve all the problems of the conventional magnetic particle inspection device as described above, and to compensate for the disadvantages of mercury lamp, and to minimize the number of equipment required for magnetic particle inspection, easy to carry, efficient and quick An object of the present invention is to provide a magnetic particle inspection device capable of inspecting.

도 1은 종래 자분탐상검사장치의 일 례를 도시한 사시도1 is a perspective view showing an example of a conventional magnetic particle inspection device

도 2는 도 1에 따른 종래 자분탐상검사장치의 개략적인 구성을 도시한 정면도Figure 2 is a front view showing a schematic configuration of a conventional magnetic particle inspection device according to Figure 1

도 3은 본 고안에 따른 자분탐상검사장치를 도시한 사시도Figure 3 is a perspective view of a magnetic particle inspection device according to the present invention

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

10 : 철심부재 11 : 코일부10: iron core member 11: coil portion

11a : 코일 12 : 코팅부11a: coil 12: coating

13 : 전력케이블 14 : 통전스위치13 power cable 14 power switch

15,30 : 조명기구 16 : 반사판15,30: lighting fixture 16: reflector

17 : 커버부재 20 : 시편17 cover member 20 specimen

31 : 전구31: bulb

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은 소정의 형태로 절곡되고 표면 일측에 코일이 권선된 철심부재와, 이 철심부재의 둘레부 일측에 소정의 절연재로 도포된 코팅부를 구비하는 자분탐상검사장치에 있어서, 상기 철심부재의 일측에 착탈가능하게 연결되는 조명기구와, 상기 조명기구의 일측에 조명기구로부터 조광된 빛을 반사시키기 위해 구비되는 반사판과, 상기 조명기구의 다른 일측에 조명기구를 보호하기 위해 구비되는 커버부재를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 자분탐상검사장치를 제공한다.The present invention for achieving the above object is a magnetic particle inspection device having an iron core member bent in a predetermined shape and the coil is wound on one side of the surface, and a coating portion coated with a predetermined insulating material on one side of the peripheral portion of the iron core member. A lighting apparatus detachably connected to one side of the iron core member, a reflecting plate provided to reflect light dimmed from the lighting apparatus on one side of the lighting apparatus, and protecting the lighting apparatus on the other side of the lighting apparatus. It provides a magnetic particle inspection device characterized in that it comprises a cover member provided to.

본 고안은 그 구체적인 예로, 상기 조명기구는 블랙램프 또는 형광램프인 것을 특징으로 한다.The present invention is a specific example, the luminaire is characterized in that the black lamp or fluorescent lamp.

본 고안은 더욱 구체적인 예로, 상기 커버부재는 투명체인 것을 특징으로 한다.The present invention is a more specific example, the cover member is characterized in that the transparent body.

위와 같이, 본 고안의 자분탐상검사장치는 블랙램프 또는 일반 형광램프로 된 조명기구를 착탈가능하게 결합한 구조를 제공함으로써 구성이 단순화되고 휴대 및 작업이 보다 용이해지는 것이다.As described above, the magnetic particle inspection device of the present invention is to simplify the configuration and to facilitate the carrying and operation by providing a structure that is detachably coupled to the luminaire of a black lamp or a general fluorescent lamp.

이하 첨부된 예시도면을 참조하여 본 고안의 구체적인 실시예를 상세하게 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 고안은 종래기술과 동일한 구성요소로 이루어지는 바, 종래와 동일한 구성요소에 대해 동일한 부호를 부여하고, 설명의 중복을 피하기 위해 그에 대한 상세한 설명을 생략하기로 한다.The present invention is made of the same components as the prior art, the same reference numerals are assigned to the same components as the prior art, and detailed description thereof will be omitted in order to avoid duplication of description.

첨부도면 도 3에 도시된 본 고안의 자분탐상검사장치를 살펴보면, 코팅부(12)의 양측에 하나 이상의 조명기구(15)가 장착되고, 이 조명기구(15)의 상부에는 조명기구(15)로부터 조광된 빛을 반사시켜 시편(20)을 비추기 위한 반사판(16)이 구비되며, 상기 조명기구(15)의 하부에는 조명기구(15)를 보호하기 위한 커버부재(17)가 구비되어 있다.Referring to the magnetic particle inspection device of the present invention shown in FIG. 3, at least one lighting device 15 is mounted on both sides of the coating part 12, and the lighting device 15 is mounted on the upper part of the lighting device 15. Reflecting plate 16 for reflecting the light dimmed from the light to the specimen 20 is provided, the lower portion of the light fixture 15 is provided with a cover member 17 for protecting the light fixture (15).

상기 조명기구(15)는 코팅부(12)의 내측에 구비된 철심부재(10) 또는 코일(11a)에 착탈가능하게 연결되며, 통전스위치(14)의 온/오프(ON/OFF)에 따라 시편(20)을 향해 조광할 수 있게 된다.The lighting device 15 is detachably connected to the iron core member 10 or the coil 11a provided inside the coating unit 12, and according to the on / off of the energization switch 14 It is possible to dim toward the specimen (20).

또한, 상기 조명기구(15)는 형광법과 비형광법을 모두 이용할 수 있는데, 이를 위해서는 형광램프와 블랙램프를 선택적으로 교환하여 사용하게 된다.In addition, the luminaire 15 may use both a fluorescence method and a non-fluorescence method. For this purpose, the fluorescent lamp and the black lamp are selectively exchanged.

일반적으로 형광법은 시편(20)에 형광물질(미도시)이 도포된 자분(미도시)을 도포하고 주변의 조도는 최고 32룩스까지 맞춰진 상태에서 블랙라이트로부터 발생된 자외선을 조사하여 형광물질을 발광시킴으로써 결함의 분포와 위치를 찾아내는 방법이다. 이러한 형광법의 경우, 블랙라이트의 역할을 수행하기 위해 조명기구(15)는 블랙램프로 선택하여 사용한다.In general, the fluorescence method applies a magnetic powder (not shown) coated with a fluorescent material (not shown) to the specimen 20, and emits a fluorescent material by irradiating ultraviolet rays generated from black light with the ambient illuminance of up to 32 lux. This is to find the distribution and location of defects. In the case of the fluorescence method, in order to perform the role of black light, the luminaire 15 is selected and used as a black lamp.

비형광법은 색료를 도포한 자분을 시편(20)에 도포하여 식별이 용이하도록 한 것으로, 이 경우 주변의 조도는 최저 350룩스로 규정되며 형광법에서 사용된 블랙램프 대신 일반 형광램프로 교체하여 사용할 수 있다.The non-fluorescence method is applied to the specimen 20 by applying magnetic powder coated to the specimen 20 for easy identification. In this case, the ambient illuminance is defined as a minimum of 350 lux. have.

한편, 상기 반사판(16)은 조명기구(15)로부터 역광을 차단하는 것으로, 빛을 시편(20)측으로 반사시켜 조명기구(15)의 효율을 높일 수 있게 한다. 또한, 상기 커버부재(17)는 조명기구(15)의 하부에 설치되는 것으로, 소정의 투명체, 바람직하게는 투명한 플라스틱 재질로 이루어진다.On the other hand, the reflector 16 is to block the backlight from the light fixture 15, it is possible to reflect the light toward the specimen 20 to increase the efficiency of the light fixture 15. In addition, the cover member 17 is installed below the lighting device 15, and is made of a predetermined transparent body, preferably a transparent plastic material.

본 고안의 자분탐상검사장치는 상기 도면상의 실시예에만 한정하지 않고, 반사판(16) 내부에 전자식 안정기(미도시)를 내장시켜 외장을 보다 단순화하거나, 코팅부(12)의 상단에 손으로 잡을 시 미끄러짐을 방지하도록 소정의 미끄럼 방지 패드(미도시)를 부착한 구조 등 본 고안의 기술적 사상의 범주내에서 다양한 형태로의 변환이 가능하다.The magnetic particle inspection device of the present invention is not limited to the embodiment shown in the drawings, the electronic ballast (not shown) inside the reflection plate 16 to simplify the exterior or to hold the hand on the top of the coating 12 Conversion to various forms is possible within the scope of the technical idea of the present invention, such as a structure in which a predetermined non-slip pad (not shown) is attached to prevent slippage.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안의 자분탐상검사장치는 블랙램프 또는 일반 형광램프로 된 조명기구를 착탈가능하게 결합한 구조를 갖춤함으로써 구성이 더욱 단순화되고 휴대 및 작업이 보다 용이해지는 효과를 달성하게 된다.As described above, the magnetic particle inspection device of the present invention has a structure that detachably couples a luminaire made of a black lamp or a general fluorescent lamp to achieve an effect of simplifying the configuration and making it easier to carry and work. .

Claims

Magnetic particle inspection including an iron core member 10 bent in a predetermined shape and a coil 11a wound on one surface thereof, and a coating portion 12 coated on one side of the iron core member 10 with a predetermined insulating material. In the inspection apparatus,

A lighting device 15 detachably connected to one side of the iron core member 10;

A reflector 16 provided on one side of the luminaire 15 to reflect light dimmed from the luminaire 15;

Magnetic particle inspection device, characterized in that it comprises a cover member (17) provided on the other side of the luminaire (15) to protect the luminaire (15).

The method of claim 1,

The luminaire 15 is a magnetic particle inspection device, characterized in that the black lamp or fluorescent lamp.

The method of claim 1,

The cover member 17 is a magnetic particle inspection device, characterized in that the transparent body.