KR200272432Y1 - Socket for testing ram module - Google Patents
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Abstract
본 고안은 제1 및 제2 단자블록의 접촉핀 중간부를 인서트사출에 의해 일정간격을 두고 위치고정시킴과 동시에, 접촉핀의 중간부를 인서트 사출에 의해 형성되는 제1 및 제3 플라스틱 사출성형체의 배면에 일체적으로 형성된 돌기가 제2 및 제4 플라스틱 사출성형체에 각각 형성된 제2 수용홈내에 각각 삽입되어 위치고정되어 있기 때문에, 제1 및 제2 단자블록에 설치된 접촉핀의 위치가 일정하므로 램 모듈을 확실하게 테스트할 수 있다는 효과가 있을 뿐만 아니라, 장시간 사용하여 제1 및 제2 단자블록의 접촉핀이 마모되거나 또는 절단되었을 경우에는 하우징의 제1 및 제2 수용홈내에 삽입되어 있는 제1 및 제2 단자블록을 용이하게 교체할 수 있으므로, 보수/유지를 용이하게 할 수 있고, 또한 제1 및 제2 단자블록의 제1 및 제3 플라스틱 사출성형체에 의해 단자핀을 일정간격을 두고 병렬로 배치하고 있으므로, 제조 코스트를 절감시킬 수 있다.The present invention fixes the intermediate parts of the contact pins of the first and second terminal blocks at insert intervals by insert injection, and at the same time, the back of the first and third plastic injection molded bodies formed by insert injection. Since the projections integrally formed in the second and fourth plastic injection molded bodies are respectively inserted into and fixed in the second receiving grooves formed in the second and fourth plastic injection molded bodies, the positions of the contact pins provided in the first and second terminal blocks are constant, thereby providing In addition to the effect that it can be tested reliably, when the contact pins of the first and second terminal blocks are worn or cut off for a long time, the first and second inserts inserted into the first and second receiving grooves of the housing Since the second terminal block can be easily replaced, maintenance / maintenance can be facilitated, and also the first and third plastic injection molded bodies of the first and second terminal blocks can be Since the terminal pins are arranged in parallel at regular intervals, manufacturing cost can be reduced.
Description
본 고안은 램 모듈 테스트용 소켓에 관한 것으로서, 특히 일정한 간격을 두고 병렬로 다수개 배열된 접촉핀의 중간부를 인서트 사출성형한 좌/우측 단자블록을 하우징의 수용홈에 용이하게 탈착할 수 있는 램 모듈 테스트용 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a ram module test socket, and in particular, a ram which can easily detach a left / right terminal block insert-molded in the middle part of a plurality of contact pins arranged in parallel at regular intervals into a housing groove of a housing. A socket for module testing.
종래로 부터 램 모듈 테스트용 소켓이 여러가지가 제안되어 있으나, 그 중에서도 대표적인 종래의 램 모듈 테스트용 소켓으로서는 한국 공개실용신안공보 실1999-8193호에 개시되어 있다.Conventionally, various ram module test sockets have been proposed. Among them, a typical conventional ram module test socket is disclosed in Korean Laid-Open Model Publication No. 1999-8193.
동 한국 공개실용신안공보 실1999-8193호에 개시되어 있는 램 모듈 테스트용 소켓은 소켓본체의 상단 및 하단에 실리콘 고무를 삽입하고, 하단부의 접촉핀과 인쇄회로기판 사이의 접촉이 확실하게 이루어지도록 실리콘 고무와 고정볼트를 가지고 있으며, 상단부의 접촉핀은 상단부의 실리콘 고무에 의해 접촉핀간의 평탄도 및탄성을 지속적으로 유지하도록 구성되어 있고, 상기 접촉핀등은 열접착테이프로 접착해서 위치이동이 없도록 구성한 것이다.The RAM module test socket disclosed in Korean Patent Application Laid-Open No. 1999-8193 inserts silicone rubber into the upper and lower ends of the socket body and ensures contact between the contact pins of the lower end and the printed circuit board. It has a silicone rubber and a fixing bolt, the upper contact pin is configured to continuously maintain the flatness and elasticity between the contact pins by the silicone rubber at the upper end, the contact pins, etc. are bonded by a thermal adhesive tape to move the position It is configured not to.
그런데, 이와 같이 구성된 종래의 램 모듈 테스트용 소켓은 IC나 램 모듈을 테스트하기 위하여 IC나 램 모듈을 빈번하게 탈착하면 경시변화를 일으켜서 열접착테이프에 의해 고정된 접촉핀들의 위치가 변하여 IC나 램 모듈을 장기간 테스트하는데 제한을 받는다는 문제점이 있었다.However, the conventional RAM module test socket configured as described above may change over time when the IC or RAM module is frequently detached to test the IC or RAM module, thereby changing the position of the contact pins fixed by the thermal adhesive tape. The problem was that the module was limited to long-term testing.
따라서, 본 고안은 상기 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로서, 본 고안의 목적은 IC나 램 모듈을 장시간 테스트해도 일정한 간격을 두고 병렬로 다수개 배열된 접촉핀의 위치를 일정하게 유지할 수 있는 램 모듈 테스트용 소켓을 제공하는데 있다.Therefore, the present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to test the RAM module that can maintain the position of a plurality of contact pins arranged in parallel at regular intervals even after testing the IC or RAM module for a long time. To provide a socket for.
본 고안의 다른 목적은 좌/우측 단자블록을 용이하게 교체할 수 있는 램 모듈 테스트용 소켓을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a RAM module test socket that can easily replace the left and right terminal block.
본 고안의 다른 목적은 제조 코스트를 절감시킬 수 있는 램 모듈 테스트용 소켓을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a RAM module test socket that can reduce the manufacturing cost.
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 고안은 절연재질의 합성수지재를 사출성형해서 이루어진 하우징과, 상기 하우징의 제1 및 제2 수용홈에 삽입고정되어 제1 인쇄회로기판을 하부에서 상부로 밀어서 방출하도록 상기 하우징의 양측에 힌지핀을 중심으로 상하 작동가능하게 설치된 좌/우측레버와, 하부의 제2 인쇄회로기판에 형성된 관통공에 삽입되어 상기 하우징을 위치고정하도록 상기 하우징의 양단부측 하부에 대해 수직으로 하부를 향해서 설치되는 한쌍의 가이드 포스트 핀을 구비하고 있는 램 모듈 테스트용 소켓에 있어서, 상기 하우징의 제1 및 제2 수용홈에 삽입고정되어 상기 제1 인쇄회로기판의 양측에 형성된 접속단자와 전기적으로 접촉되는 접촉핀의 중간부분을 인서트 사출하여 상기 접속핀을 위치고정시킴과 동시에, 상기 접속핀을 탄성적으로 지지하는 제1 및 제2 단자블록을 구비한 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a housing formed by injection molding an insulating synthetic resin material and inserted into and fixed to the first and second receiving grooves of the housing so as to push the first printed circuit board from the bottom to the top. Vertically with respect to the lower side of both ends of the housing to be inserted into the left and right levers installed on the hinge pins on both sides of the housing so as to be operated up and down, and through holes formed in the lower second printed circuit board to fix the housing. A RAM module test socket having a pair of guide post pins installed downwards, the connecting terminal being inserted into and fixed to the first and second receiving grooves of the housing and formed on both sides of the first printed circuit board. Insert injection of the middle part of the contact pin that is in electrical contact to fix the position of the contact pin, and at the same time The first and the enemy support the claim is characterized in that it includes a second terminal block.
도 1은 본 고안의 일실시예에 의한 램 모듈 테스트용 소켓을 개략적으로 도시한 평면도,1 is a plan view schematically showing a ram module test socket according to an embodiment of the present invention;
도 2는 도 1에서 화살표 Ⅱ-Ⅱ를 따라 취한 도면으로서, 상부에서 하우징의 상부홈을 통해 제1 인쇄회로기판이 삽입되어 있는 상태를 도시한 종단면도,FIG. 2 is a view taken along arrow II-II in FIG. 1, and a longitudinal cross-sectional view showing a state in which a first printed circuit board is inserted through an upper groove of a housing from an upper portion thereof;
도 3은 도 1에서 화살표 Ⅲ-Ⅲ을 따라 취한 종단면도,3 is a longitudinal sectional view taken along the arrow III-III in FIG. 1, FIG.
도 4는 도 3에서 제1 및 제2 단자블록을 하부로 제거한 상태의 분해단면도,4 is an exploded cross-sectional view of a state in which the first and second terminal blocks are removed from the bottom in FIG. 3;
도 5은 도 3의 좌/우측 단자블록을 분해해서 도시한 분해단면도이다.FIG. 5 is an exploded cross-sectional view illustrating the left and right terminal blocks of FIG.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10:하우징 11:상부홈10: housing 11: upper groove
12:힌지핀 13:제1 수용홈12: hinge pin 13: first receiving groove
14:제2 수용홈 15:격벽14: second receiving groove 15: partition wall
15a:길다란 중앙 관통공 16:리브15a: Long central through hole 16: Rib
20:제1 단자블록 21:접촉핀20: first terminal block 21: contact pin
22:제1 플라스틱 사출성형체 22a:돌기22: 1st plastic injection molding 22a: protrusion
23:제1 탄성부재 24:제2 탄성부재23: first elastic member 24: second elastic member
25:제2 플라스틱 사출성형체 25a:제1 수용홈25: second plastic injection molding 25a: first receiving groove
25b:제2 수용홈 25c:제3 수용홈25b: second accommodation groove 25c: third accommodation groove
30:제2 단자블록 40:제1 인쇄회로기판30: second terminal block 40: the first printed circuit board
40a,40b:접속단자 50L:좌측레버40a, 40b: Connection terminal 50L: Left lever
50R:우측레버 60:제2 인쇄회로키판50R: Right lever 60: Second printed circuit board
70:가이드 포스트 핀70: guide post pin
이하, 본 고안의 일실시예에 의한 램 모듈 테스트용 소켓에 관하여 첨부 도면에 의거하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a ram module test socket according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 고안의 일실시예에 의한 램 모듈 테스트용 소켓을 개략적으로 도시한 평면도이고, 도 2는 도 1에서 화살표 Ⅱ-Ⅱ를 따라 취한 도면으로서, 상부에서 하우징의 상부홈을 통해 제1 인쇄회로기판이 삽입되어 있는 상태를 도시한 종단면도이고, 도 3은 도 1에서 화살표 Ⅲ-Ⅲ을 따라 취한 종단면도이고, 도 4는 도 3에서 제1 및 제2 단자블록을 하부로 제거한 상태의 분해단면도, 도 5는 도 3의 제1 및 제2 단자블록을 분해해서 도시한 분해단면도이다.1 is a plan view schematically showing a socket for testing a RAM module according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a view taken along arrow II-II in FIG. 3 is a longitudinal cross-sectional view illustrating a state in which a printed circuit board is inserted, and FIG. 3 is a longitudinal cross-sectional view taken along arrow III-III in FIG. 1, and FIG. 4 is a state in which the first and second terminal blocks are removed below in FIG. 3. 5 is an exploded cross-sectional view showing an exploded view of the first and second terminal blocks of FIG.
도 1 내지 도 5에 상세히 도시한 바와 같이 본 고안의 일실시예에 따른 램 모듈 테스트용 소켓은 절연재질의 합성수지재를 사출성형해서 이루어진 하우징(10)과, 상기 하우징(10)의 제1 및 제2 수용홈(13,14)에 삽입고정되어 상기 제1 인쇄회로기판(40)의 양측에 형성된 접속단자(40a,40b)와 전기적으로 접촉되는 접촉핀(21,31)를 각각 가지는 제1 및 제2 단자블록(20,30) 사이에 끼워진 제1 인쇄회로기판(40)을 하부에서 상부로 밀어서 방출하도록 상기 하우징(10)의 양측에 힌지핀(12)을 중심으로 상하 작동가능하게 설치된 좌/우측레버(50L,50R)와, 하부의 제2 인쇄회로키판(60)에 형성된 관통공(도시하지 않음)에 삽입되어 상기 하우징(10)을 위치고정하도록 상기 하우징(10)의 양단부측 하부에 대해 수직으로 하부를 향해서 설치되는 한쌍의 가이드 포스트 핀(70)을 구비하고 있다.1 to 5, the RAM module test socket according to an embodiment of the present invention includes a housing 10 formed by injection molding an insulating synthetic resin material, and the first and the first housings 10. A first pin having a plurality of contact pins 21 and 31 inserted into and fixed to second receiving grooves 13 and 14 and electrically contacting connection terminals 40a and 40b formed at both sides of the first printed circuit board 40. And a hinge pin 12 disposed on both sides of the housing 10 so that the first printed circuit board 40 inserted between the second terminal blocks 20 and 30 is pushed upward from the bottom to be discharged. Both ends of the housing 10 are inserted into left and right levers 50L and 50R and through holes (not shown) formed in the lower second printed circuit board 60 to fix the housing 10 in position. It has a pair of guide post pins 70 installed vertically downward with respect to the lower part have.
상기 하우징(10)은 상부 중앙에 길이방향을 따라 하부가 좁아지는 테이퍼 형상의 상부홈(11)이 형성되고, 하부에 중앙선(ℓ)을 중심으로 대칭되게 형성되는 제1 및 제2 수용홈(13,14)이 형성되고, 상기 상부홈(11)과 제1 및 제2 수용홈(13,14) 사이에 길다란 중앙 관통공(15a)이 형성된 격벽(15)과, 상기 제1 인쇄회로기판(40)의 오삽입을 방지하도록 상기 격벽(15)의 길다란 중앙 관통공(15a) 사이의 일측벽부에 일체적으로 형성된 리브(16;rib)로 구성되어 있다.The housing 10 has a tapered upper groove 11 in which a lower portion thereof is narrowed along a longitudinal direction at an upper center thereof, and first and second receiving grooves symmetrically formed about a center line ℓ at a lower portion thereof. 13 and 14, a partition wall 15 having a long central through hole 15a formed between the upper groove 11 and the first and second receiving grooves 13 and 14, and the first printed circuit board. It is comprised by the rib 16 (rib) integrally formed in the one side wall part between the elongate center through-hole 15a of the said partition wall 15 so that the wrong insertion of 40 may be carried out.
상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)는 서로 대칭형상을 이루는 것이다.The first and second terminal blocks 20 and 30 are symmetrical to each other.
상기 제1 단자블록(20)은 다수개가 일정간격을 두고 병렬로 배열된 접촉핀(21)과, 상기 접촉핀(21)들의 위치 이동을 규제하도록 상기 접촉핀(21)들의 중간 높이를 합성수지재로 인서트 사출하여 일체적으로 팩킹하며, 배면측을 향하여 위치고정용 돌기(22a)가 형성된 제1 플라스틱 사출성형체(22)와, 상기 제1 및 제2 인쇄회로기판(40,60)의 접촉단자에 전기적으로 접촉하도록 상기 접촉핀(21)들의 상부 및 하부에 각각 절곡된 부분을 탄성적으로 지지하는 제1 및 제2 탄성부재(23,24)와, 상기 제1 플라스틱 사출성형체(22)를 위치고정시킴과 동시에, 상기 제1 플라스틱 사출성형체(22)의 배면측에 일체적으로 돌출형성된 위치고정용 돌기(22a)를 수용하는 제2 수용홈(25b)이 형성되고, 상기 접촉핀(21)을 탄성적으로 지지하는 제1 및 제2 탄성부재(23,24)를 수용하는 제1 수용홈(25a) 및 제3 수용홈(25c)이 형성된 제2 플라스틱 사출성형체(25)로 구성되어 있다.The first terminal block 20 is made of a synthetic resin material having a plurality of contact pins 21 arranged in parallel with a predetermined interval, and the middle height of the contact pins 21 so as to regulate the positional movement of the contact pins 21. The first plastic injection molded body 22 and the first and second printed circuit boards 40 and 60 are formed to be integrally packed by insert molding into a furnace and are formed to have a fixing protrusion 22a toward the rear side. First and second elastic members 23 and 24 elastically supporting the bent portions on the upper and lower portions of the contact pins 21 so as to be in electrical contact with the first plastic injection molded body 22. At the same time as fixing the position, the second receiving groove 25b for receiving the position fixing projection 22a integrally protruding formed on the back side of the first plastic injection molded body 22 is formed, the contact pin 21 ) First receiving groove for accommodating the first and second elastic members (23, 24) to elastically support It consists of the 2nd plastic injection molded object 25 in which 25a and the 3rd receiving groove 25c were formed.
더욱 구체적으로 설명하면, 상기 제2 플라스틱 사출성형체(25)는 제1 탄성부재(23)를 수용하도록 우측상부에 형성된 제1 수용홈(25a)과, 상기 제1 플라스틱 사출성형체(22)를 수용함과 동시에, 상기 제1 플라스틱 사출성형체(22)의 배면측에 일체적으로 형성된 돌기(22a)를 수용하도록 우측하부에 넓고 좁은 2단 형상으로 이루어진 제2 수용홈(25b)과, 상기 접촉핀(21)의 하부를 탄성적으로 지지함과 동시에, 상기 제2 탄성부재(24)를 수용하도록 하부면에 하부를 향해서 개구된 사각형 형상의 제3 수용홈(25c)으로 구성되어 있다.More specifically, the second plastic injection molded body 25 accommodates the first receiving groove 25a formed on the upper right side to accommodate the first elastic member 23 and the first plastic injection molded body 22. At the same time, the second receiving groove 25b having a wide and narrow two-stage shape at the lower right side to receive the protrusion 22a integrally formed on the rear side of the first plastic injection molded body 22, and the contact pin At the same time, the lower portion of the 21 is elastically supported, and the third receiving groove 25c having a rectangular shape is opened downward in the lower surface to accommodate the second elastic member 24.
상기 제2 단자블록(30)은 다수개가 일정간격을 두고 병렬로 배열된 접촉핀(31)과, 상기 접촉핀(31)들의 위치 이동을 규제하도록 상기 접촉핀(31)들의 중간 높이를 인서트 사출하여 일체적으로 팩킹하며, 배면측을 향하여 위치고정용 돌기(32a)가 형성된 제3 플라스틱 사출성형체(32)와, 상기 제1 및 제2 인쇄회로기판(40,60)의 접촉단자에 전기적으로 접촉하도록 상기 접촉핀(31)들의 상부 및 하부에 각각 절곡된 부분을 탄성적으로 지지하는 제3 및 제4 탄성부재(33,34)와, 상기 제3 플라스틱 사출성형체(32)를 위치고정시킴과 동시에, 상기 제3 플라스틱 사출성형체(32)의 배면측에 일체적으로 돌출형성된 위치고정용 돌기(32a)를 수용하는 제2 수용홈(35b)이 형성되고, 상기 접촉핀(31)을 탄성적으로 지지하도록 상기 제1 및 제2 탄성부재(33,34)를 수용하는 제1 수용홈(35a) 및 제3 수용홈(35c)이 형성된 제4 플라스틱 사출성형체(35)로 구성되어 있다.The second terminal block 30 inserts a plurality of contact pins 31 arranged in parallel with a predetermined interval and a middle height of the contact pins 31 to regulate the positional movement of the contact pins 31. And the third plastic injection molded body 32 having the position fixing protrusion 32a formed toward the rear side and electrically contacting the contact terminals of the first and second printed circuit boards 40 and 60. Position and fix the third and fourth elastic members 33 and 34 and the third plastic injection molded body 32 to elastically support the bent portions on the upper and lower portions of the contact pins 31 so as to contact each other. At the same time, a second receiving groove 35b is formed on the rear side of the third plastic injection molded body 32 to receive the position fixing protrusion 32a integrally formed thereon, and the contact pin 31 is burned. A first receiving groove 35a for receiving the first and second elastic members 33 and 34 to be sexually supported; It consists of the 4th plastic injection molded object 35 in which the 3rd receiving groove 35c was formed.
더욱 구체적으로 설명하면, 상기 제4 플라스틱 사출성형체(35)는 제1 탄성부재(33)를 수용하도록 우측상부에 형성된 제1 수용홈(35a)과, 상기 제3 플라스틱 사출성형체(32)를 수용함과 동시에, 상기 제3 플라스틱 사출성형체(32)의 배면측에 일체적으로 형성된 돌기(32a)를 수용하도록 우측하부에 넓고 좁은 2단 형상으로 이루어진 제2 수용홈(35b)과, 상기 접촉핀(31)의 하부를 탄성적으로 지지함과 동시에, 상기 제2 탄성부재(34)를 수용하도록 하부면에 하부를 향해서 개구된 사각형 형상의 제3 수용홈(35c)으로 구성되어 있다.More specifically, the fourth plastic injection molded body 35 accommodates the first receiving groove 35a formed on the upper right side to accommodate the first elastic member 33 and the third plastic injection molded body 32. At the same time, the second receiving groove 35b having a wide and narrow two-stage shape at the lower right side to receive the projection 32a integrally formed on the back side of the third plastic injection molded body 32, and the contact pin At the same time, the lower portion of the 31 is elastically supported, and the third receiving groove 35c having a rectangular shape is opened toward the lower portion of the lower surface to accommodate the second elastic member 34.
다음에, 이와 같이 구성된 본 고안의 일실시예에 따른 램 모듈 테스트용 소켓의 작용 및 효과에 대하여 설명한다.Next, the operation and effects of the RAM module test socket according to the embodiment of the present invention configured as described above will be described.
먼저, 금속판재, 예를 들면 베릴륨 동판을 프레스가공하여 제1 접촉핀(21,31)들이 일정간격(0.1 내지 1mm의 간격)을 두고 평행하게 위치결정되도록 상기 제1 접촉핀(21,31)들의 중간부(예를 들면, 상부 절곡부와 하부 바닥의 절곡부)를 절연재질의 합성수지로 인서트 사출한 후, 상기 제1 접촉핀(21,31)을 대체로 L자 또는 낚시 바늘 형상으로 가공하고, 제1 및 제4 플라스틱 사출성형체(25,35)를 절연재질의 합성수지로 사출성형하면서 제1 및 제4 플라스틱사출성형체(25,35)의 한쪽면에 제1 수용홈(25a,35a) 및 제2 수용홈(25b,35b)을 각각 형성함과 동시에, 제1 및 제4 플라스틱 사출성형체(25,35)의 바닥면에 제3 수용홈(25c,35c)을 각각 형성한다.First, the first contact pins 21 and 31 are positioned so that the first contact pins 21 and 31 are positioned in parallel at a predetermined interval (a gap of 0.1 to 1 mm) by pressing a metal sheet material, for example, beryllium copper plate. After inserting the middle part of the field (for example, the upper bent portion and the lower bent portion) into the synthetic resin of an insulating material, the first contact pins 21 and 31 are generally processed into L or fish hook shapes. First injection grooves 25a and 35a on one side of the first and fourth plastic injection molded bodies 25 and 35 while injection molding the first and fourth plastic injection molded bodies 25 and 35 with synthetic resin of insulating material. The second receiving grooves 25b and 35b are formed, respectively, and the third receiving grooves 25c and 35c are formed in the bottom surfaces of the first and fourth plastic injection molded bodies 25 and 35, respectively.
다음에, 상기 제1 및 제4 플라스틱 사출성형체(25,35)에 각각 형성된 제1 수용홈(25a,35a)내에 제1 탄성부재(23,33)를 삽입하여 위치고정시키고, 상기 제1 및 제4 플라스틱 사출성형체(25,35)에 각각 형성된 제3 수용홈(25c,35c)내에 제2 탄성부재(24,34)를 삽입하여 위치고정시킨 다음, 상기 제1 및 제4 플라스틱 사출성형체(25,35)에 각각 형성된 제2 수용홈(25b,35b)내에 제1 및 제3 플라스틱 사출성형체(22,32)를 삽입하여 위치고정시켜서 제1 및 제2 단자블록(20,30)을 조립해서 제조한다.Next, the first elastic members 23 and 33 are inserted into the first receiving grooves 25a and 35a respectively formed in the first and fourth plastic injection molded bodies 25 and 35 to fix the positions. The second elastic members 24 and 34 are inserted into and fixed in the third receiving grooves 25c and 35c respectively formed in the fourth plastic injection moldings 25 and 35, and then the first and fourth plastic injection moldings ( Assemble the first and second terminal blocks 20 and 30 by inserting and fixing the first and third plastic injection molded bodies 22 and 32 into the second receiving grooves 25b and 35b formed in the 25 and 35, respectively. To manufacture.
이와 같이 조립된 제1 및 제2 단자블록(20,30)을 본 고안의 램 모듈 테스트용 소켓을 구성하는 하우징(10)의 하부에 형성된 제1 및 제2 수용홈(13,14)내에 하부로 부터 도 3과 같이 각각 삽입한다.The first and second terminal blocks 20 and 30 assembled as described above are lowered in the first and second receiving grooves 13 and 14 formed in the lower part of the housing 10 constituting the RAM module test socket of the present invention. Insert each from as shown in FIG.
이때, 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 접촉핀(21,31)은 도 3에서 중앙선(ℓ)에 대해서 일정간격을 두고 서로 대향해서 위치한다.In this case, the contact pins 21 and 31 of the first and second terminal blocks 20 and 30 are disposed to face each other with a predetermined interval with respect to the center line l in FIG. 3.
상술한 바와 같이 제조된 본 고안의 램 모듈 테스트용 소켓에 있어서, 상기 하우징(10)의 하부에 수직으로 하부를 향해서 설치된 한쌍의 가이드 포스트 핀(70)을 도 2에 도시한 바와 같이 제2 인쇄회로기판(60)에 형성된 구멍(부호 표시하지 않음)삽입한 후, 상기 하우징(10)의 상부홈(11)을 통해서 상기 하우징(10)의 중앙부에 형성된 길다란 중앙 관통공(15a)내에 제1 인쇄회로기판(40)의접촉단자(40a,40b)가 형성된 쪽을 삽입하면, 상기 제1 인쇄회로기판(40)의 접촉단자(40a,40b)와 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 접촉핀(21,31)이 전기적으로 접촉됨과 동시에, 제2 인쇄회로기판(60)의 접촉단자(도시하지 않음)가 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 접촉핀(21,31)에 전기적으로 접속되어 램 모듈을 테스트할 수 있는 상태가 된다.In the RAM module test socket of the present invention manufactured as described above, the second printing as shown in Figure 2 a pair of guide post pin 70 is installed vertically downward to the lower portion of the housing 10 After inserting a hole (not shown) formed in the circuit board 60, the first inside the elongated central through hole 15a formed in the center of the housing 10 through the upper groove 11 of the housing 10. When the side where the contact terminals 40a and 40b of the printed circuit board 40 are formed is inserted, the contact terminals 40a and 40b of the first printed circuit board 40 and the first and second terminal blocks 20, While the contact pins 21 and 31 of 30 are electrically contacted, the contact terminals (not shown) of the second printed circuit board 60 are contact pins of the first and second terminal blocks 20 and 30. It is electrically connected to (21, 31), and it becomes a state which can test a ram module.
이와 같은 상태에서 본 고안의 램 모듈 테스트용 소켓을 사용하여 램 모듈을 테스트한 후에, 상기 제1 인쇄회로기판(40)을 하우징(10)으로 부터 제거하기 위해서 상기 좌/우측레버(50L,50R)를 잡고, 상기 좌측레버(50L)는 반시계방향으로 회전시키면서 상기 우측레버(50R)를 시계방향으로 회전시키면, 상기 좌/우측레버(50L,50R)의 선단부가 상부로 올라가면서 제1 인쇄회로기판(40)이 하우징(10)으로 부터 제거된다.In this state, after testing the ram module using the ram module test socket of the present invention, the left and right levers 50L and 50R to remove the first printed circuit board 40 from the housing 10. ) And the left lever 50L rotates counterclockwise while the right lever 50R rotates clockwise, the first and second ends of the left and right levers 50L and 50R rise upward. The circuit board 40 is removed from the housing 10.
상술한 바와 같이 램 모듈을 빈번하게 전기적 특성시험을 계속해도, 본 고안은 램 모듈 테스트용 소켓은 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 접촉핀(21,31) 중간부를 인서트사출에 의해 일정간격을 두고 위치고정시킴과 동시에, 상기 접촉핀(21,31)의 중간부를 인서트 사출에 의해 형성되는 제1 및 제3 플라스틱 사출성형체(22,32)의 배면에 일체적으로 형성된 돌기(22a,32a)가 상기 제2 및 제4 플라스틱 사출성형체(25,35)에 각각 형성된 제2 수용홈(25b,35b)내에 각각 삽입되어 위치고정되어 있기 때문에, 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 위치가 일정(좀 더 구체적으로는 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 접촉핀(21,31)의 위치가 일정)하므로 램 모듈을 확실하게 테스트할 수 있다.As described above, even if the RAM module continues to test the electrical characteristics frequently, the present invention is a socket for testing the RAM module insert the middle of the contact pins (21, 31) of the first and second terminal blocks (20, 30) The projection is formed integrally on the rear surface of the first and third plastic injection molded bodies 22 and 32 formed by insert injection while fixing the position at a predetermined interval by the injection molding. Since the first and second terminal blocks 22a and 32a are respectively inserted into and fixed in the second receiving grooves 25b and 35b formed in the second and fourth plastic injection molded bodies 25 and 35, respectively. Since the position of (20, 30) is constant (more specifically, the position of the contact pins 21, 31 of the first and second terminal blocks 20, 30 is constant), the ram module can be reliably tested. have.
또한, 본 고안은 램 모듈 테스트용 소켓을 장시간 사용하여 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 접촉핀(21,31)이 마모되거나 또는 절단되었을 경우에는 하우징(10)의 제1 및 제2 수용홈(13,14)내에 삽입되어 있는 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)을 용이하게 교체할 수 있으므로, 보수/유지를 용이하게 할 수 있고, 또한 상기 제1 및 제2 단자블록(20,30)의 제1 및 제3 플라스틱 사출성형체(22,32)에 의해 단자핀(21,31)을 일정간격을 두고 병렬로 배치하고 있는 일체형 구조이므로, 제조 코스트를 절감시킬 수 있다.In addition, the present invention, if the contact pins 21 and 31 of the first and second terminal blocks 20 and 30 are worn or cut by using the RAM module test socket for a long time, the first of the housing 10 And the first and second terminal blocks 20 and 30 inserted in the second receiving grooves 13 and 14 can be easily replaced, thereby making it easy to maintain and maintain the first and second terminal blocks 20 and 30. Since the first and third plastic injection molded bodies 22 and 32 of the second terminal blocks 20 and 30 are integrally arranged in parallel at regular intervals, the manufacturing cost is reduced. You can.
상기 설명에 있어서, 상기 제1 및 제4 플라스틱 사출성형체(25,35)의 제1 접촉핀(21,31)이 위치하는 면, 즉 상기 제1 플라스틱 사출성형체(25)의 우측면 및 제4 플라스틱 사출성형체(35)의 좌측면에는 상기 제1 접촉핀(21,31)이 길이방향을 따라 대체로 두께의 1/2 이하가 감입되어 위치고정되도록 세로방향을 따라 다수개의 홈(예를들면 제1 접촉핀(21,31)의 갯수만큼의 홈)을 형성해도 본 고안의 개념에 포함되는 것은 물론이다.In the above description, the surface on which the first contact pins 21 and 31 of the first and fourth plastic injection molded bodies 25 and 35 are positioned, that is, the right side surface and the fourth plastic of the first plastic injection molded body 25. On the left side of the injection molded body 35, a plurality of grooves (eg, first) are disposed along the longitudinal direction such that the first contact pins 21 and 31 are inserted in a length less than 1/2 of the thickness in the longitudinal direction. Even if the number of the contact pins (21, 31) the number of grooves) is formed of course the concept of the present invention.
상기 설명에 있어서, 특정 실시예를 들어서 도시하고 설명하였으나, 본 고안은 이에 한정되는 것은 아니며, 예를 들면 본 고안의 개념을 이탈하지 않는 범위내에서 이 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 여러가지로 설계변경할 수 있음은 물론이다.In the above description, although illustrated and described with reference to specific embodiments, the present invention is not limited to this, for example, by those of ordinary skill in the art without departing from the concept of the present invention Of course, the design can be changed in various ways.
앞에서 설명한 바와 같이 본 고안의 램 모듈 테스트용 소켓에 의하면, 제1및 제2 단자블록의 접촉핀 중간부를 인서트사출에 의해 일정간격을 두고 위치고정시킴과 동시에, 접촉핀의 중간부를 인서트 사출에 의해 형성되는 제1 및 제3 플라스틱 사출성형체의 배면에 일체적으로 형성된 돌기가 상기 제2 및 제4 플라스틱 사출성형체에 각각 형성된 제2 수용홈내에 각각 삽입되어 위치고정되어 있기 때문에, 제1 및 제2 단자블록에 설치된 접촉핀의 위치가 일정하므로 램 모듈을 확실하게 테스트할 수 있다는 효과 가 있을 뿐만 아니라, 장시간 사용하여 제1 및 제2 단자블록의 접촉핀이 마모되거나 또는 절단되었을 경우에는 하우징의 제1 및 제2 수용홈내에 삽입되어 있는 제1 및 제2 단자블록을 용이하게 교체할 수 있으므로, 보수/유지를 용이하게 할 수 있고, 또한 제1 및 제2 단자블록의 제1 및 제3 플라스틱 사출성형체에 의해 단자핀을 일정간격을 두고 병렬로 배치하고 있으므로, 제조 코스트를 절감시킬 수 있다는 매우 뛰어난 효과가 있다.As described above, according to the RAM module test socket of the present invention, the middle parts of the contact pins of the first and second terminal blocks are fixed at a predetermined interval by insert injection, and the middle parts of the contact pins are inserted by insert injection. Since the protrusions integrally formed on the rear surfaces of the first and third plastic injection molded bodies to be formed are respectively inserted into and fixed in the second receiving grooves formed in the second and fourth plastic injection molded bodies, respectively, the first and second Since the location of the contact pins installed in the terminal block is constant, the ram module can be reliably tested. In addition, if the contact pins of the first and second terminal blocks are worn or cut for a long time, Since the first and second terminal blocks inserted into the first and second receiving grooves can be easily replaced, maintenance and maintenance can be facilitated. In addition, since the terminal pins are arranged in parallel with a predetermined interval by the first and third plastic injection molded bodies of the first and second terminal blocks, the manufacturing cost can be reduced.
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Cited By (2)
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KR20200109492A (en) * | 2019-03-13 | 2020-09-23 | 주식회사 오킨스전자 | Vertical gender for semiconductor test and manufacturing method thereof |
KR102159271B1 (en) * | 2019-10-01 | 2020-09-23 | 홍성호 | Pin block socket device for connector checker |
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2002
- 2002-01-12 KR KR2020020001020U patent/KR200272432Y1/en not_active IP Right Cessation
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KR102172787B1 (en) * | 2019-03-13 | 2020-11-02 | 주식회사 오킨스전자 | Vertical gender for semiconductor test and manufacturing method thereof |
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