KR20020065278A - 로우-엔드 테스트용 고주파 발생 장치 - Google Patents
로우-엔드 테스트용 고주파 발생 장치 Download PDFInfo
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Abstract
여기에 개시되는 고주파 대역의 위상 동기 루프 장치를 테스트하는 로우-엔드 테스트 설비는 고주파 발생 장치를 포함한다. 상기 고주파 발생 장치는, 입력되는 디지털 데이터에 따라 가변되는 고주파 신호를 발생하는 전압 제어 발진기 모듈과, 상기 전압 제어 발진기 모듈로부터 출력되는 고주파 신호를 선 증폭하는 저 잡음 증폭 회로과, 상기 저 잡음 증폭 회로를 통해 제공되는 고주파 신호의 크기를 상기 위상 동기 루프 장치에 적합하도록 조정하는 감쇄 회로로 구성된다.
Description
본 발명은 테스트 장비에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 전압 제어 발진기를 이용하여 고주파 신호를 발생하는 저주파 로우-엔드 테스터 (low-end tester)용 고주파 발생 장치에 관한 것이다.
현재 사용되고 있는 로우-엔드 테스트 설비에서 고주파 테스트 가능한 주파수는 대략 130MHz까지로 제한되고 있다. 이에 반해서, 현재 개발 양산되고 있는 위상 동기 루프 (phase lock loop, PLL) 제품들의 사용 주파수는 GHz급으로 증가되고 있다. 이에 따라, 반도체 패키지의 최종 테스트 역시 고가의 혼합 설비를 사용하여 수행되며, 그 결과 테스트 비용이 증가되고 있다. 즉, 현재 사용되고 있는 로우-엔드 테스트 설비에서는 고주파 대역 (예를 들면, 130MHz-900MHz)을 사용하는 PLL 제품들을 테스트하는 것이 불가능하다. 그러므로, 테스트 비용의 증가 없이 고주파 대역의 PLL 제품들을 테스트할 수 있는 새로운 저주파 로우-엔드 테스트 설비가 요구된다.
본 발명의 목적은 전압 제어 발진기를 이용하여 테스트 유니트에 공급될 고주파 신호를 발생하는 고주파 발생 장치를 구비한 저주파 로우-엔드 테스트 설비를 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 로우-엔드 테스트용 고주파 발생 장치를 보여주는 블럭도;
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전압 제어 발진기 및 주변 회로를 보여주는 블럭도; 그리고
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 고주파 발생 장치를 보여주는 블럭도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *
100 : 고주파 발생 장치110 : 전압 제어 발진기 모듈
120 : 저 잡음 증폭기130 : 감쇄 블럭
140 : DUT201 : 크리스탈 발진 회로
202 : 프리-스케일러203 : 위상 검출기
204 : 루프 필터205 : 전압 제어 발진기
206 : 선 증폭기207 : 분주기
(구성)
상술한 제반 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따르면, 고주파 대역의위상 동기 루프 장치를 테스트하는 로우-엔드 테스트 설비는 고주파 발생 장치를 포함하고, 상기 고주파 발생 장치는, 입력되는 디지털 데이터에 따라 가변되는 고주파 신호를 발생하는 전압 제어 발진기 모듈과; 상기 전압 제어 발진기 모듈로부터 출력되는 고주파 신호를 선 증폭하는 저 잡음 증폭 회로 및; 상기 저 잡음 증폭 회로를 통해 제공되는 고주파 신호의 크기를 상기 위상 동기 루프 장치에 적합하도록 조정하는 감쇄 회로로 구성된다.
이 실시예에 있어서, 상기 전압 제어 발진기 모듈의 교체에 따라 다른 대역의 고주파 신호가 발생된다.
(작용)
이러한 장치에 의하면, 로우-엔드 테스트 설비에서 사용 주파수를 1GHz까지 발생하는 전압 제어 발진기 모듈을 사용함으로써 테스트될 장치 보드에 GHz급 고주파 신호를 공급할 수 있다.
(실시예)
이하 본 발명의 바람직한 실시예가 참조 도면들에 의거하여 상세히 설명된다.
전술한 바와 같이, 현재 사용되고 있는 로우-엔드 테스트 설비에서는 고주파 대역 (예를 들면, 130MHz-900MHz)을 사용하는 PLL 제품들을 테스트하는 것이 불가능하다. 그러므로, 테스트 비용의 증가 없이 고주파 대역의 PLL 제품들을 테스트할 수 있는 새로운 저주파 로우-엔드 테스트 설비가 요구된다.
이러한 요구를 만족시키기 위해서, 본 발명에 따르면, 로우-엔드 테스트 설비에서 사용 주파수를 1GHz까지 발생하는 전압 제어 발진기 모듈을 사용함으로써 테스트될 장치 (이하, "DUT" (device under test)라 칭함) 보드에 GHz급 고주파 신호가 인가될 수 있으며, 로우-엔드 설비에서 PLL 제품의 최종 테스트 방법을 개발하여 제품의 테스트 비용을 절감하고 고주파 테스트 기술력을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 로우-엔드 테스트 설비용 고주파 발생 장치를 보여주는 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 고주파 발생 장치 (100)는 전압 제어 발진기 (Voltage Controlled Oscillator) 블럭 (110), 저 잡음 증폭기 (Low Noise Amplifier) 블럭 (120), 그리고 감쇄 블럭 (attenuation block, 130)으로 구성되며, DUT (device under test) (140)에 연결된다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전압 제어 발진기 및 그 주변 회로 구성들을 보여주는 블럭도이다.
도 2를 참조하면, 크리스탈 발진 회로 (201)는 크리스탈 (X-TAL)에 연결되며, 소정 주파수의 발진 신호를 발생한다. 프리-스케일러 (202)는 크리스탈 발진 회로 (201)의 출력단에 연결되며, 크리스탈 발진 회로 (201)로부터 출력되는 발진 신호를 원하는 출력 주파수에 맞도록 분주한다. 그렇게 분주된 주파수 신호는 위상 검출기 (203)의 기준 신호 (reference signal)로서 제공된다.
저주파 필터 (low pass filter, LPF)인 루프 필터 (204)는 위상 검출기 (203)의 출력단에 연결되며, 상기 위상 검출기에서 나타나는 에러 성분을 dc로 변환한다. 그렇게 변화된 dc 에러 성분에 따라 전압 제어 발진기 (205)의 발진 주파수가 변화된다. 그렇게 변화된 발진 주파수는 증폭기 (206) 및 분주기 (207)를 통해 상기 위상 검출기 (203)로 전달된다. 이러한 동작은 위상 검출기 (203)에 제공되는 기준 신호와 일치할 때까지 반복적으로 수행되며, 그 결과 원하는 주파수 신호가 전압 제어 발진기 (205)로부터 얻어진다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 고주파 발생 장치를 보여주는 블럭도이다. 도 3을 참조하면, 로우-엔드 테스트 설비용 고주파 발생 장치는 전압 제어 발진기 블럭 (110), 저 잡음 증폭기 블럭 (120), 그리고 감쇄 블럭으로 구성되며, DUT (140)에 연결된다. 여기서, 감쇄 블럭 (140)은 병렬 연결된 복수의 감쇄기들로 구성된다.
본 발명에 따른 로우-엔드 테스트 설비용 고주파 발생 장치의 동작이 이하 참조 도면들에 의거하여 상세히 설명된다.
도 3에 도시된 전압 제어 발진기 모듈 (110)에 디지털 드라이버를 이용하여 데이터를 가변시키면, 전압 제어 발진기 모듈의 루프가 돌면서 해당하는 데이터에 락되면서 주파수 및 레벨 (980MHz, -60dbm)이 출력된다. 입력 데이터 (도 3의 8, 9, 10번 핀들, 22-비트 직렬 데이터)에 따라 주파수 락 범위는 940MHz 내지 980MHz를 만들 수 있고, 본 실시예에서는 하나의 주파수 (예를 들면, 980MHz)만 사용하고 제품 테스트에 맞는 레벨을 설정하고자 저 잡음 증폭기로 26dB 선 증폭하여 KB8825 디바이스에 원하는 레벨 (0dbm/-3dbm/-5dbm/-10dbm)을 고주파 감쇄기를 이용 전압 제어 발진기 모듈의 감쇄기 출력에서 제품 입력에 가해지는 크기를 조정하여 공급한다. 따라서, 제품의 원하는 주파수를 락 범위 (lock range) 안에서 데이터를 제어하여 만들 수 있고, 그 이상 또는 이하의 주파수 대역은 전압 제어 발진기 모듈만 변경함으로써 생성될 수 있다.
이상에서, 본 발명에 따른 회로의 구성 및 동작을 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만, 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능함은 물론이다.
상술한 바와 같이, GHz PLL 제품의 테스트 프로그램을 혼합 설비로 개발시와 비교하여 볼 때 로우-엔드 테스트 설비로 개발시에 상당히 적은 비용으로 테스트 가능하다. 게다가, 저가의 테스트 설비에서 고주파 대역의 PLL 제품을 테스트할 수 있다.
Claims (2)
- 고주파 대역의 위상 동기 루프 장치를 테스트하는 로우-엔드 테스트 설비는 고주파 발생 장치를 포함하고, 상기 고주파 발생 장치는,입력되는 디지털 데이터에 따라 가변되는 고주파 신호를 발생하는 전압 제어 발진기 모듈 (110)과;상기 전압 제어 발진기 모듈로부터 출력되는 고주파 신호를 선 증폭하는 저 잡음 증폭 회로 (120) 및;상기 저 잡음 증폭 회로를 통해 제공되는 고주파 신호의 크기를 상기 위상 동기 루프 장치에 적합하도록 조정하는 감쇄 회로 (130)로 구성되는 것을 특징으로 하는 로우-엔드 테스트 설비.
- 제 1 항에 있어서,상기 전압 제어 발진기 모듈 (110)의 교체에 따라 다른 대역의 고주파 신호가 발생되는 것을 특징으로 하는 로우-엔드 테스트 설비.
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2001
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