KR20020024655A - Apparatus for inspecting parts - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 부품 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 모아레(Moire) 간섭 무늬를 이용하는 부품 장치에서 비임 스프리터를 구비함으로써 성능이 개선된 부품 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a component inspection apparatus, and more particularly, to a component inspection apparatus having improved performance by providing a beam splitter in a component apparatus using a moire interference fringe.
통상적으로 전자 부품을 인쇄 회로 기판에 장착하는 표면 실장기에서는 부품 정렬 장치와 함께, 부품 자체의 이상을 검사하는 부품 검사 장치가 구비된다. 부품 검사 장치는 예를 들면 전자 부품의 리드의 들뜸 및, 볼 그리드 어레이의 볼을 검사하게 된다.Usually, in the surface mounter which mounts an electronic component to a printed circuit board, with the component aligning apparatus, the component inspection apparatus which inspects the abnormality of a component itself is provided. The component inspection device inspects, for example, the lift of the lead of the electronic component and the ball of the ball grid array.
부품 검사 장치중에는 모아레 간섭 무늬를 이용하여 3 차원 형상을 측정하는 경우가 있다. 모아레를 이용한 부품 검사 장치로 3 차원의 형상을 측정시에는 측정 대상 물체의 표면에 격자를 새기는데, 이것은 그림자식과 영사식으로 구분할 수 있다. 즉, 격자를 물체위에 형성하는 방법은 물체의 표면에 직접 격자를 새기는 그림자식 모아레 방법과, 조명광에 의해서 투과형 격자의 그림자가 물체에 비쳐서 마치 격자가 있는 것처럼 보이게 하는 영사식 모아레 방법이 있다.In parts inspection devices, a three-dimensional shape may be measured using a moire interference fringe. When measuring the three-dimensional shape with the moiré part inspection device, a grid is engraved on the surface of the object to be measured, which can be divided into a shadow type and a projection type. That is, a method of forming a grid on an object includes a shadow moiré method of engraving the grating directly on the surface of the object, and a projection moiré method in which the shadow of the transmissive grating is illuminated by the illumination light to the object to make it look as if the grid is present.
상기 두가지 방법중 영사식 모아레는 기준 격자를 물체와 근접하게 위치시키는 것과는 달리 투영 렌즈를 이용하여 측정 대상인 물체면에 격자를 투영시킨다. 영사식 모아레의 광학계는 영사 격자의 투영을 위한 투영 시스템과 투영 렌즈에 의해서 측정 대상 물체에 투영되어지고, 측정 대상물에 의해 변형된 격자는 다시 결상 렌즈에 의해 기준 격자상에 결상된다. 이때 제대로 된 모아레 무늬를 얻기 위해서는 투영 시스템과 결상 시스템에서 격자와 렌즈가 광축과 평행한 축에 대해서 대칭적으로 구성되어야 한다.The projection moiré of the two methods projects the grating on the object surface to be measured by using the projection lens, unlike the reference grating is positioned close to the object. The optical system of the projection moiré is projected onto the measurement object by the projection system and projection lens for projection of the projection grating, and the grating deformed by the measurement object is again imaged on the reference grating by the imaging lens. In this case, in order to obtain a proper moiré pattern, the grating and the lens in the projection system and the imaging system must be symmetrically configured about an axis parallel to the optical axis.
도 1에 도시된 것은 영사식 모아레 방법을 이용하는 통상적인 부품 검사 장치의 개략적인 사시도이며, 도 2는 도 1의 장치에 대한 개략적인 구성도이다.Shown in FIG. 1 is a schematic perspective view of a conventional component inspection apparatus using the projection moiré method, and FIG. 2 is a schematic configuration diagram of the apparatus of FIG.
도 1을 참조하면, 전자 부품의 표면에 투영된 격자 무늬 영상을 형성하기 위해서, 조명 장치(12)와, 상기 조명 장치(12)로부터의 광으로 투영 격자의 영상을 만들기 위한 투영 격자(13a, 도 2)와, 상기 측정 부품(16)의 표면에 투영 격자 영상을 투영시키는 투영 렌즈(14)를 구비한다. 측정 대상인 전자 부품(16)은 노즐(15)에 흡착된 상태로 이동하게 되며, 전자 부품(16)의 표면에 대한 투영 격자 영상의 투영은 미러(17)를 통해서 이루어진다. 조명 장치(12)로부터 입사된 광은 투영 렌즈(14)를 통해서 전자 부품(16)의 표면에 투영 격자의 영상을 투영함으로써 투영 격자 무늬 영상를 형성한다. 이때 전자 부품(16)의 표면이 변형되어 있으면 변형된 표면의 형상에 따라서 투영 격자 무늬가 휘어진 형태로 전자 부품(16)의 표면에 결상될 것이다.Referring to FIG. 1, in order to form a plaid image projected on the surface of an electronic component, a projection grating 13a for making an image of a projection grating with the illumination device 12 and the light from the illumination device 12, 2) and a projection lens 14 for projecting a projection grid image onto the surface of the measurement component 16. FIG. The electronic component 16 to be measured moves in a state of being adsorbed by the nozzle 15, and the projection of the projection grid image onto the surface of the electronic component 16 is performed through the mirror 17. The light incident from the illumination device 12 forms a projection grid pattern image by projecting an image of the projection grid onto the surface of the electronic component 16 through the projection lens 14. At this time, if the surface of the electronic component 16 is deformed, the projection grid pattern will be curved on the surface of the electronic component 16 according to the shape of the deformed surface.
한편, 전자 부품(16)의 표면에 형성된 투영 격자 무늬 영상이 기준 격자와 겹쳐져서 모아레 무늬를 형성하도록, 결상 렌즈(18)와 기준 격자를 구비한다. 상기의 투영 격자와 기준 격자는 단일의 글래스상에 형성되거나, 또는 별개의 글래스상에 형성될 수 있다. 도 1에 도시된 예에서는 투영 격자와 기준 격자가 단일의 글래스상에 형성되며, 도면 번호 13으로 표시된 것은 투영 격자와 기준 격자가 함께 형성된 격자 글래스(13a, 도 2)를 설치한 격자 글래스 설치부이다.On the other hand, the imaging lens 18 and the reference grating are provided so that the projection lattice image formed on the surface of the electronic component 16 overlaps with the reference grating to form a moire fringe. The projection grating and the reference grating may be formed on a single glass, or may be formed on separate glasses. In the example shown in FIG. 1, the projection grating and the reference grating are formed on a single glass, and the reference numeral 13 denotes the grating glass installation unit provided with the grating glass 13a (FIG. 2) in which the projection grating and the reference grating are formed together. to be.
미러(17)에서 반사된 투영 격자 무늬 영상은 결상 렌즈(18)를 통해서 기준격자와 겹쳐짐으로써 모아레 무늬를 형성하게 된다. 기준 격자는 격자 글래스(13a)상에 형성되어 있으며, 이렇게 형성된 모아레 무늬는 렌즈(19)에 의해 초점이 맞추어져서 촬상용 CCD 카메라(20)에 의해 촬상되며, 도시되지 아니한 신호 처리부에서 영상 처리를 통해서 3차원적으로 재구성되며, 이러한 3차원 영상을 통해서 전자 부품(16)의 이상 여부를 검사할 수 있다. 또한 흡착 노즐(15)을 제외하고는 모든 구성 요소들이 하나의 모듈(11)내에 설치되어 있다.The projection grid pattern image reflected by the mirror 17 overlaps with the reference grid through the imaging lens 18 to form a moire pattern. The reference grating is formed on the grating glass 13a, and the moiré pattern thus formed is focused by the lens 19 to be picked up by the imaging CCD camera 20, and image processing is performed by a signal processor (not shown). Through the three-dimensional reconstruction through the three-dimensional image, it is possible to check whether the electronic component 16 is abnormal. In addition, all components except the suction nozzle 15 are installed in one module 11.
상기 모듈(11)내에서, 각각의 투영 광학계와 결상 광학계의 광축은 서로 평행하여야 하며, 광학계가 가지는 수차등의 영향을 최소화 하기 위해서는 동일한 광학계를 사용하는 것이 바람직스럽다. 또한 렌즈들이 두 광축에 수직인 한 평면상에 위치해야 하며, 정확한 높이 정보를 얻기 위해서는 렌즈의 왜곡이 없어야 한다. 더욱이 두개의 광학계는 동일한 상태로 세팅되어야 하는데, 예를 들면 배율, 두 광학계 사이의 평행도, 광축과의 직작도등이 맞아야 하며, 투영 광학계 렌즈의 중심이 아닌 부분을 사용함으로써 생기는 왜곡을 없애야 한다. 이러한 에러 요인을 없애기 위해서는 정밀 가공을 통해서 두 광학계를 정확히 맞추어야 하며, 왜곡이 없는 결상 렌즈를 설계하여 사용해야 한다. 그러나, 실제에 있어서는 두개의 투영 렌즈 및, 결상 렌즈를 별도로 구비하고 있으므로 이들의 광학계를 동일한 상태로 세팅하는 것은 매우 곤란하여, 정확한 측정에 많은 어려움이 따른다.In the module 11, the optical axes of each projection optical system and the imaging optical system should be parallel to each other, and it is preferable to use the same optical system in order to minimize the effects of aberration and the like of the optical system. In addition, the lenses must be located on a plane perpendicular to the two optical axes, and there must be no distortion of the lens to obtain accurate height information. Moreover, the two optics should be set in the same state, for example, magnification, parallelism between the two optics, linearity with the optical axis, etc., and the distortion caused by using a part other than the center of the projection optical lens. In order to eliminate this error factor, the two optical systems must be accurately aligned through precision machining, and an imaging lens without distortion should be designed and used. However, in reality, since two projection lenses and an imaging lens are separately provided, it is very difficult to set these optical systems in the same state, which brings a lot of difficulties in accurate measurement.
본 발명은 위와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 모아레 간섭 무늬를 이용하는 개선된 부품 검사 장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an improved component inspection apparatus using a moire interference fringe.
본 발명의 다른 목적은 모아레 간섭 무늬를 형성하는데 있어서 광학계의 제어를 용이하게 하도록 캐서그레인 렌즈를 구비하는 개선된 부품 검사 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an improved component inspection apparatus having a casserole lens to facilitate control of the optical system in forming the moire interference fringe.
도 1에 도시된 것은 모아레 간섭 무늬를 이용하는 통상적인 부품 검사 장치에 대한 개략적인 사시도.1 is a schematic perspective view of a conventional component inspection apparatus using a moire interference fringe.
도 2는 도 1에 도시된 부품 검사 장치에 대한 개략적인 구성도.FIG. 2 is a schematic configuration diagram of an apparatus for inspecting parts shown in FIG. 1. FIG.
도 3은 본 발명에 따른 부품 검사 장치에 대한 개략적인 구성도.3 is a schematic diagram of a component inspection apparatus according to the present invention;
도 4a 및, 도 4b는 결상 격자 및, 투영 격자에 대한 설명도.4A and 4B are explanatory diagrams of an imaging grating and a projection grating.
< 도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명 ><Brief Description of Major Codes in Drawings>
11. 측정 장치 모듈 12. 조명 장치11.Measurement module 12. Lighting device
13. 격자 글래스 설치부 14. 투영 렌즈13. Lattice glass mounting 14. Projection lens
15. 흡착 노즐 16. 전자 부품15. Adsorption Nozzle 16. Electronic Components
17. 미러 18. 결상 렌즈17. Mirror 18. Imaging Lens
32. 조명 장치 34. 렌즈32. Lighting device 34. Lens
39. 릴레이 렌즈 41. 비임 스프리터39.Relay Lens 41. Beam Splitter
42. 결상 격자 글래스 43. 투영 격자 글래스42. Imaging grating glass 43. Projection grating glass
46'.전자 부품46'.Electronic Components
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따르면, 조명 장치와; 상기 조명 장치로부터의 광으로써 투영 격자의 영상을 만드는 투영 격자와; 상기 투영 격자의 영상을 전자 부품의 표면에 투영함으로써 상기 전자 부품의 표면에 투영 격자 무늬 영상을 형성함과 동시에, 반사된 상기 투영 격자 무늬 영상을 결상시키는 렌즈와; 상기 렌즈를 통과한 투영 격자 무늬 영상에 간섭됨으로써 모아레 무늬를 형성하기 위한 결상 격자와; 상기 모아레 무늬를 결상시키는 릴레이 렌즈와; 상기 모아레 무늬를 촬상하기 위한 CCD 카메라와; 상기 투영 격자에 의해 형성된 무늬 영상을 상기 렌즈를 향해 반사시킴과 동시에, 상기 전자 부품의 표면으로부터 반사되는 투영 격자 무늬 영상을 투과시키도록 배치된 비임 스프리터와; 상기 CCD 카메라에서 촬상된 모아레 무늬를 신호 처리 하여 3차원 영상을 형성하는 신호 처리부;를 구비하는 부품 검사 장치가 제공된다.In order to achieve the above object, according to the present invention, a lighting device; A projection grating for producing an image of the projection grating with light from the illumination device; A lens for forming a projection lattice image on the surface of the electronic component by projecting the image of the projection lattice onto the surface of the electronic component and simultaneously imaging the reflected projection lattice image; An imaging grating for forming a moire fringe by interfering with the projection lattice image passing through the lens; A relay lens for forming the moiré pattern; A CCD camera for photographing the moire fringes; A beam splitter arranged to reflect the pattern image formed by the projection grid toward the lens and to transmit the projected image of the grid pattern reflected from the surface of the electronic component; And a signal processor configured to signal-process a moire fringe photographed by the CCD camera to form a three-dimensional image.
본 발명의 일 특징에 따르면, 상기 투영 격자와 기준 격자는 글래스 상에 크롬 재료를 소정 형상으로 도포함으로써 형성된 것이다.According to one feature of the invention, the projection grating and the reference grating are formed by applying a chromium material on a glass in a predetermined shape.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 투영 격자는 격자 주기의 1/4 주기 만큼씩 변위시켜서 형성된 다섯개의 투영 격자로서 형성되고, 상기 투영 격자와 기준 격자는 별도의 격자 글래스 상에 형성된다.According to another feature of the invention, the projection grating is formed as five projection gratings formed by displacement by one quarter of the grating period, and the projection grating and the reference grating are formed on separate grating glasses.
이하 본 발명을 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 보다 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to an embodiment shown in the accompanying drawings.
도 3에 도시된 것은 본 발명에 따른 부품 검사 장치에 대한 개략적인 구성도이다.3 is a schematic diagram of a component inspection apparatus according to the present invention.
도면을 참조하면, 전자 부품의 표면에 투영된 격자 무늬 영상을 형성하기 위해서, 조명 장치(32)와, 상기 조명 장치(32)로부터의 광으로 투영 격자의 영상을 만들기 위해서 조명 장치의 전방에 배치된 투영 격자 글래스(43)와, 측정 부품(46')의 표면에 투영 격자 영상을 투영시키는 렌즈(34)와, 상기 투영 격자 글래스(43)를 통과한 조명광을 상기 렌즈(34)를 향해 반사시키기 위한 비임 스프리터(41)를 구비한다. 측정 대상인 전자 부품(46')은 위에서 설명된 바와 같이 노즐(미도시)에 흡착된 상태로 이동하게 되며, 전자 부품(46)의 표면에 대한 투영 격자 영상의 투영은 미러(미도시)를 통해서 이루어진다. 조명 장치(32)로부터 입사된 광은 비임 스프리터(41)에서 90도 각도로 반사되어 렌즈(34)를 통해서 전자 부품(46')의 표면에 투영 격자의 영상을 투영함으로써 투영 격자 무늬 영상을 형성한다. 이때 전자 부품(46')의 표면이 변형되어 있으면 변형된 표면의 형상에 따라서 투영 격자 무늬가 휘어진 형태로 전자 부품(46')의 표면에 결상될 것이다.Referring to the drawings, in order to form a plaid image projected on the surface of the electronic component, the lighting device 32 and the light disposed from the lighting device 32 are placed in front of the lighting device to make an image of the projection grid. The reflected projection grating glass 43, the lens 34 for projecting the projection grating image onto the surface of the measuring component 46 ′, and the illumination light passing through the projection grating glass 43 toward the lens 34. And a beam splitter 41 for the purpose of operation. The electronic component 46 ′ to be measured moves in an adsorbed state to a nozzle (not shown) as described above, and the projection of the projection grid image onto the surface of the electronic component 46 is through a mirror (not shown). Is done. The light incident from the illumination device 32 is reflected at a 90 degree angle in the beam splitter 41 to form a projection grid pattern image by projecting an image of the projection grid onto the surface of the electronic component 46 ′ through the lens 34. do. At this time, if the surface of the electronic component 46 'is deformed, the projection grid pattern will be curved on the surface of the electronic component 46' according to the shape of the deformed surface.
한편, 전자 부품(46')의 표면에 형성된 투영 격자 무늬 영상이 기준 격자 무늬와 겹쳐져서 모아레 무늬를 형성하는 것은, 렌즈(34)를 통과한 투영 격자의 무늬가 기준 격자인 결상 격자 글래스(42)의 무늬와 합쳐짐으로써 이루어진다. 이렇게 형성된 모아레 무늬는 릴레이 렌즈(39)를 통해서 CCD 카메라에 촬상된다. 이때, 렌즈(34)를 통해서 결상 격자(42)를 향해 입사되는 투영 격자의 무늬는 비임 스프리터(41)를 투과하게 된다. 즉, 비임 스프리터(41)는 투영 격자(43)로부터 입사되는 투영 격자 무늬를 90도 각도로 반사시키는 반면에, 결상 격자 글래스(42)를 향해 입사되는 투영 격자의 무늬는 그대로 투과시킴으로써 투영 격자의 무늬가 결상 격자의 무늬와 함께 합쳐질 수 있게 한다. 또한 렌즈(34)는 도 2 의 투영 렌즈(14) 및, 결상 렌즈(18)의 역할을 겸용하는 것이다.On the other hand, the projection lattice image formed on the surface of the electronic component 46 'overlaps with the reference lattice pattern to form a moire pattern. ) Is combined with the pattern. The moire fringe thus formed is captured by the CCD camera through the relay lens 39. At this time, the pattern of the projection grating incident on the imaging grating 42 through the lens 34 is transmitted through the beam splitter 41. That is, the beam splitter 41 reflects the projection grid pattern incident from the projection grid 43 at a 90 degree angle, while the pattern of the projection grid incident toward the imaging grid glass 42 is transmitted as it is. Allows the pattern to merge with the pattern of the imaging grid. The lens 34 also serves as the projection lens 14 and the imaging lens 18 of FIG. 2.
위에서 설명된 바와 같이, 도시되지 아니한 미러에서 반사된 투영 격자 무늬 영상은 결상 렌즈(34)를 통해서 기준 격자인 결상 격자 글래스(42)의 격자 무늬와 겹쳐짐으로써 모아레 무늬를 형성하게 된다. 결상 격자는 도 4a에 도시된 바와 같은 격자 글래스(47)상에 형성되어 있으며, 투영 격자는 도 4b에 도시된 바와 같이 투영 격자 글래스(48)에 형성되어 있다. 투영 격자는 그 격자의 무늬가 1/4 주기 만큼씩 이동된 것이다. 즉, 격자(49a)는 격자 무늬의 주기 이동이 제로인데 반해서, 다른 격자(49b)는 주기가 1/4λ 만큼 이동된 것이고, 다른 격자(49c,49d,49e)들도 그 이전의 격자들보다 주기가 1/4λ 만큼 이동된 것이다. 격자(49)는 투명한 글래스 위에 블랙의 색상을 가지는 크롬을 소정 형상으로 도포함으로써 얻어진 것이다.As described above, the projection lattice image reflected from the mirror (not shown) overlaps the lattice pattern of the imaging lattice glass 42 which is a reference lattice through the imaging lens 34 to form a moire fringe. An imaging grating is formed on the grating glass 47 as shown in FIG. 4A, and the projection grating is formed on the projection grating glass 48 as shown in FIG. 4B. The projection grid is one in which the pattern of the grid is shifted by one quarter of a cycle. That is, while the lattice 49a has zero periodic movement of the lattice pattern, the other lattice 49b has shifted the period by 1 / 4λ, and the other lattice 49c, 49d, 49e are also smaller than the previous lattice. The period is shifted by 1 / 4λ. The grating 49 is obtained by applying chromium having a black color on a transparent glass in a predetermined shape.
위와 같이 형성된 모아레 무늬는 릴레이 렌즈(39)에 의해 초점이 맞추어져서 촬상용 CCD 카메라(30)에 의해 촬상되며, 도시되지 아니한 신호 처리부에서 영상 처리를 통해서 3차원적으로 재구성되며, 이러한 3차원 영상을 통해서 전자 부품(46')의 이상 여부를 검사할 수 있다. 또한 흡착 노즐(미도시)을 제외한 모든구성 요소들이 하나의 모듈내에 설치되어 있다는 점은 당해 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자들에게 명백할 것이다.The moire fringe formed as described above is focused by the relay lens 39 and captured by the imaging CCD camera 30, and reconstructed three-dimensionally through image processing in a signal processing unit (not shown). Through this, the electronic component 46 'may be inspected for abnormality. It will also be apparent to those of ordinary skill in the art that all components except the adsorption nozzle (not shown) are installed in one module.
위와 같은 부품 검사 장치의 작동을 살펴보면, 투영 격자 영상을 전자 부품의 하단에 투영하고 이를 다시 기준 격자에 결상시켜서 모아레 무늬를 얻게 되며, 이렇게 얻어진 모아레 무늬는 그 위상을 검출하여야 한다. 위상을 검출하는 방법은 투영 격자를 격자 주기의 1/4 주기 만큼씩 5회 이동시켜서 제 1 내지 제 5의 모아레 무늬 영상을 만들고, 각 위치마다의 강도 분포를 구해서 그것을 다음의 소정식에 대입함으로써 위상을 검출하는 것이다. 투영 격자 글래스(48)를 1/4 주기로 5회 이동시키면, 투영 격자의 위상은 각각 0도, 90도, 180도 및, 360도가 된다. 이러한 투영 격자의 각 위상에서의 강도 분포를 I1,I2,I3,I4, 및,I5라 하면, 다음 식에 의해서 각 점의 위상 값을 얻을 수 있다.Referring to the operation of the component inspection device as described above, the projection grid image is projected on the bottom of the electronic component and the image is formed again on the reference grid to obtain a moire pattern, the moire pattern thus obtained should detect its phase. The phase detection method includes moving the projection grid five times by one quarter of the lattice period to make the first to fifth moiré patterned images, obtaining the intensity distribution for each position, and substituting it into the following predetermined equation. To detect phase. When the projection grid glass 48 is moved five times in a quarter cycle, the phases of the projection grid are 0 degrees, 90 degrees, 180 degrees, and 360 degrees, respectively. If the intensity distribution in each phase of such a projection grating is I 1 , I 2 , I 3 , I 4 , and I 5 , the phase value of each point can be obtained by the following equation.
Φ(x,y)= tan-12(I4-I2)/(I1-2I3+3I5)Φ (x, y) = tan -1 2 (I 4 -I 2 ) / (I 1 -2I 3 + 3I 5 )
상기의 식으로부터 구한 강도 분포의 위상값을 다음의 식에 대입함으로써 각 지점에서의 변위 h(x,y)를 구하여 3차원의 영상을 만들 수 있다.By substituting the phase value of the intensity distribution obtained from the above equation into the following equation, it is possible to obtain a three-dimensional image by obtaining the displacement h (x, y) at each point.
h(x,y)=λeqㆍΦ(x,y)/2πh (x, y) = λ eq · Φ (x, y) / 2π
여기에서 λeq는 다음과 같은 식으로 나타낼 수 있다.Here, λ eq can be expressed by the following equation.
λeq==ℓ2 ㆍg/fㆍdλ eq = = ℓ 2 ㆍ g / f
상기의 ℓ 는 결상렌즈의 작동 거리, g 는 격자의 피치, f 는 결상렌즈의 초점 거리, d 는 결상렌즈와 투영 렌즈의 광축 사이의 거리를 표시한다.L denotes the operating distance of the imaging lens, g denotes the pitch of the grating, f denotes the focal length of the imaging lens, and d denotes the distance between the optical axis of the imaging lens and the projection lens.
위에 설명된 식을 사용하여 각 점에서의 변위를 구하면 3 차원 영상을 만들 수 있다. 이러한 3차원 영상은 부품의 위치 및, 리드 또는 볼에 관련된 정보를 가지고 있고 이를 통해서 부품의 위치, 리드 들뜸의 측정 및, 볼의 검사를 수행할 수있다.Using the equations described above, you can create a three-dimensional image by finding the displacement at each point. The three-dimensional image has information regarding the position of the part and the lead or the ball, through which the position of the part, the measurement of the lead lift, and the inspection of the ball can be performed.
위와 같은 방법으로 검사된 전자 부품들은 그 불량 여부에 따라서, 양품인 부품을 흡착한 흡착 노즐이 인쇄 회로 기판의 상부로 이동하여 부품 장착을 수행하던지, 또는 불량품인 전자 부품을 폐기시키던지 한다.The electronic components inspected in the above manner depend on whether or not the defective components are absorbed by the adsorption nozzles that adsorb the good components to the upper part of the printed circuit board to perform component mounting, or discard the defective electronic components.
본 발명에 따른 부품 검사 장치는 비임 스프리터를 구비함으로써 결상 및, 투영을 위해 필요하였던 렌즈들의 기능을 하나의 렌즈로써 수행할 수 있으므로, 렌즈의 왜곡을 제거하기가 용이하다는 장점이 있다. 또한 두개의 투영, 결상 광학계를 하나로 통합하였기 때문에 두 광학계의 광축의 평행성 및, 동일성을 획득하는 곤란함으로 경감시킬 수 있다는 장점을 가진다.Part inspection apparatus according to the present invention has the advantage that it is easy to remove the distortion of the lens because it can perform the functions of the lenses required for imaging and projection by having a beam splitter, as a single lens. In addition, since two projection and imaging optical systems are integrated into one, the parallelism and optical identity of the two optical systems can be reduced by difficulty in obtaining the sameness.
본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예지적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings, this is only illustrative, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Could be. Therefore, the true scope of protection of the present invention should be defined only by the appended claims.
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