KR200166937Y1 - Ｐｌｃ 검사 시스템 - Google Patents

Abstract

본 고안은 PLC 검사 시스템에 관한 것이다.

본 고안은 PLC의 각종 CPU, 파워, I/O 카드 등의 중간검사 또는 완제품검사를 하나의 검사 시스템에서 자동으로 검사할 수 있도록 함으로써, 검사시간과 검사인원을 단축시켜 생산원가를 낮추고 제품의 경쟁력을 향상시킬 수 있도록 하는 것이다.

본 고안은 컴퓨터의 CPU의 통신포트와 연결시킨 교체용 서브 PLC 및 메인 PLC와, 상기 서브 PLC의 I/O 버스와 연결되고 교체용 지그에 의해 검사장치에 장착되는 시험용 PLC와, 상기 시험용 PLC의 I/O 포트와 메인 PLC의 I/O 포트사이에 설치한 입력용 셀렉터 및 출력용 셀렉터 스위치와, 제품의 바코드를 인식하여 제어처리하는 바코더 스캐너와, 시험용 PLC의 전압, 전류를 표시하는 계측부와, 시험용 PLC의 작동상태를 감시하는 영상 검출부로 구성함을 특징으로 한다.

Description

ＰＬＣ 검사 시스템 {PLC Test System}

본 고안은 PLC(Progammable Logic Controller)검사 시스템에 관한 것이다.

주지하는 바와 같이, 산업기술의 발달로 인하여 과거 다량 소품종의 생산에서 현재는 소량 다품종의 생산체제로 변화되어 제품이 생산되고 있으나, 소량 다품종의 생산체제에 따른 검사장치 및 검사인원이 다수 필요하게 되어 생산원가가 높아지게 되고 제품의 경쟁력 역시 크게 저하되는 문제점을 안고 있다.

PLC는 그 성능이나 기능에 따라 여러가지 종류가 있고, 이들 제품의 시험종류 역시 다양하다. 즉, PLC의 CPU 및 I/O 테스트 항목을 보면 PLC의 기종에 따라 다소 차이가 있지만 대체적으로 SMPS 시험, 통신기능 시험, 전명령 시험, HSC 시험, RTC 시험, 정격전압 시험, 극성전환 시험, 소비전류 시험, LED 시험, 출력 실험, 전압강하 시험, 누설전류 시험 등이 있다. 이와 같은 시험을 하기 위한 종래의 시험방법은 간이 검사장치를 이용한 1 : 1 수동 및 육안검사로서 한가지 제품의 검사를 위하여 각기 한 대씩의 검사장치를 필요로 하고, 많은 장비를 보유하여야 하므로 검사시간이 장시간 걸리게 되고 검사자의 육체적 정신적 피로에 의한 오검이 발생하는 등 검사에 대한 신뢰도가 극히 저하되며 많은 검사인원의 필요에 의해 검사에 드는 비용이 과다하여 결국 제품의 원가상승을 초래하고 경쟁력이 극히 저하되는 문제점을 안고 있다.

따라서, 최소의 인원으로 최단시간 이내에 검사를 하기 위하여 자동화된 검사 시스템이 필요하다.

본 고안은 PLC의 검사시간을 최대한 단축하고 검사인원을 대폭 줄임은 물론 검사에 대한 신뢰도를 향상시키고, PLC 제품의 제작 원가를 줄여 제품의 경쟁력을 크게 향상 도모함을 목적으로 한다.

본 고안은 시험용 PLC 각 기종에 알맞는 CPU를 가지는 교체형 서브 PLC를 선택하고, 시험용 PLC를 자동적으로 지그에 의해 장착시켜 각종 시험을 수행하도록 함을 기술적 과제로 삼는다.

본 고안은 컴퓨터의 CPU의 통신포트와 연결시킨 교체용 서브 PLC 및 메인 PLC와, 상기 서브 PLC의 I/O 버스와 연결되고 교체용 지그에 의해 검사장치에 장착되는 시험용 PLC와, 상기 시험용 PLC의 I/O 포트와 메인 PLC의 I/O 포트사이에 설치한 입력용 셀렉터 및 출력용 셀렉터 스위치와, 제품의 바코드를 인식하여 제어처리하는 바코더 스캐너와, 시험용 PLC의 전압, 전류를 표시하는 계측부와, 시험용 PLC의 작동상태를 감시하는 영상 검출부로 구성하여 본 고안의 기술적 과제를 해결한다.

도 1은 본 고안의 검사 시스템 블록도

도 2는 본 고안의 전체 상세 구성도

도 3은 본 고안의 흐름도

＜ 도면의 주요부분에 대한 부호 설명 >

1 : 컴퓨터 2 : 서브 PLC 3 : 메인 PLC

4 : 시험용 PLC 5 : 바코드 스캐너 6 : 계측부

7 : 영상 검출부

도 1은 본 고안의 블록도 이고, 도 2는 본 고안의 전체 구성도 이다.

본 고안은 컴퓨터(1)의 CPU의 통신포트와 연결시킨 교체용 서브 PLC(2) 및 메인 PLC(3)와, 상기 메인 PLC(3)의 I/O 버스와 연결되고 교체용 지그(미도시)에 의해 검사장치(미도시)에 장착되는 시험용 PLC(4)와, 상기 시험용 PLC(4)의 I/O 포트와 메인 PLC(2)의 I/O 포트사이에 설치한 입력용 셀렉터 및 `출력용 셀렉터 스위치(S1),(S2)와, 제품의 바코드를 인식하여 제어처리하는 바코더 스캐너(5)와, 시험용 PLC(4)의 전압, 전류를 표시하는 계측부(6)와, 시험용 PLC(4)의 작동상태를 감시하는 영상 검출부(7)로 구성 한다. 상기의 서브 PLC(2)는 서브 랙(SUB RACK)으로서, 시험용 PLC(4)의 CPU와 호환성을 가지도록 자동 선택할 수 있게 하고, 미도시한 지그는 콘베어 벨트를 이용하여 시험용 PLC(4)를 이송하고 검사장치에 지그에 의해 삽탈자재 토록 하여 검사를 수행하도록 하며, 상기 지그는 시험용 PLC(4)의 기종에 다라 그 형상을 달리하는 것을 사용한다. 그리고 상기 계측부(6)는 디지털 멀티 메터로 이루어지며 도면 중 8과 9는 DC 파워 서플라이, AC 파워 서플라이, SW는 입력용 스위치, RY는 출력 릴레이, L은 동작 표시등 이다.

본 고안의 특징은 시험용 PLC(4)를 지그에 의해 자동으로 장착 하고, 상기 시험용 PLC(4)와 호환성이 있는 서브 PLC(2)를 자동 선택하여 시험용 PLC(4)의 각종 시험을 자동적으로 이루어지게 함에 있다.

이와같은 구성의 본 고안을 도 3의 흐름도에 의해 구체적으로 설명 한다.

시험하고자 하는 시험용 PLC(4)의 기종을 선택하는 단계와, 선택된 기종에 따라 교체용 서브 PLC(2)를 선택함과 동시에 교체용 지그를 선택하는 단계와, 검사장치에 전원을 공급하여 검사장치를 가동하는 단계와, 시험용 PLC(4)의 검사항목을 선택하는 단계와, 시험용 PLC(4)를 지그에 의해 자동으로 검사장치에 장착하는 단계와, 시험용 PLC(4)의 검사항목을 컴퓨터(1)내의 프로그램에 의해 자동적으로 검사하는 단계와, 시험의 검사가 합격이면 제품 포장 출하하고, 계속 시험을 할 경우에는 시험용 PLC(4)를 교체하여 기종을 선택하는 단계를 통하여 시험용 PLC(4)를 연속적으로 시험하게 한다.

이와같은 본 고안은 시험하고자 하는 시험용 PLC(4)와 호환성을 갖는 서브 PLC(2)를 자동선택하여 시험용 PLC(4)의 각종 CPU, 파워, I/O 카드 등의 중간검사 또는 완제품의 자동 검사를 통해 불량/양품을 판별하고 불량내역 및 불량부품의 교체를 통해 불량률을 감소 시켜 검사의 신뢰도를 크게 향상 시키게 된다.

본 고안은 적은 인원으로 검사시간을 크게 단축시키는 PLC 자동 검사 시스템 으로서, 제품의 생산원가를 극력 줄여 제품의 경쟁력을 향상시키고, 오검의 염려를 배제하여 제품의 신뢰성을 극력 도모하는 효과를 가지며, 검사자의 육체적 정신적 피로를 배제하는 검사의 편의성을 가진다.

Claims (3)

1. 컴퓨터(1)의 CPU의 통신포트와 연결시킨 교체용 서브 PLC(2) 및 메인 PLC(3)와, 상기 서브 PLC(3)의 I/O 버스와 연결되고 교체용 지그에 의해 검사장치에 장착되는 시험용 PLC(4)와, 상기 시험용 PLC(4)의 I/O 포트와 메인 PLC(2)의 I/O 포트사이에 설치한 입력용 셀렉터 및 출력용 셀렉터 스위치(S1),(S2)와, 제품의 바코드를 인식하여 제어 처리하는 바코더 스캐너(5)와, 시험용 PLC(4)의 전압, 전류를 표시하는 계측부(6)와, 시험용 PLC(4)의 작동상태를 감시하는 영상 검출부(7)로 구성함을 특징으로 하는 PLC 검사 시스템.
2. 제 1항에 있어서, 서브 PLC(2)를 시험용 PLC(4)와 호환성 있게 자동 선택하여 검사를 수행토록 함을 특징으로 하는 PLC 검사 시스템.
3. 제 1항에 있어서, 시험용 PLC(4)를 교체용 지그에 의해 자동 선택함을 특징으로 하는 PLC 검사 시스템.