KR20010108732A - Electro-optical converter and it's sensing method - Google Patents

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KR20010108732A
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Abstract

본 발명은 평면표시장치의 결함상태를 검출하는 비접촉식 전기광학 장치에 관한 것으로, 평면상에 분포된 다수의 전극들의 전압을 비접촉으로 측정하도록 광원수단과, 전기광학물질층과, 공통전극수단과, 유전체박막수단과, 카메라수단으로 구성되는 비접촉식 전기광학 변환장치에 있어서, 상기 공통전극수단은, 상기 전기광학물질층이 부착되며 가로 길이가 화소전극의 크기보다 작고 세로 방향으로 긴 모양을 가지도록 다수의 부분으로 분할시켜 구성하고, 상기 전기광학물질층에서 변조가 이루어지도록 상기 광원수단에서 발생된 광의 입사를 유도하는 입사측 매체수단과, 상기 입사측 매체수단으로부터 조사되어 상기 전기광학물질층에서 변조되어 출사되는 광을 상기 카메라수단으로 유도하는 출사측 매체수단을 구성하였고,The present invention relates to a non-contact electro-optical device for detecting a defect state of a flat panel display device, comprising: a light source means, an electro-optic material layer, a common electrode means, for non-contact measurement of voltages of a plurality of electrodes distributed on a plane; In the non-contact electro-optical conversion device comprising a dielectric thin film means and a camera means, the common electrode means, the electro-optic material layer is attached, a plurality of horizontal length is smaller than the size of the pixel electrode and have a long shape in the longitudinal direction An incidence side medium means for inducing the incidence of light generated by the light source means to be modulated in the electro-optic material layer, and modulated in the electro-optic material layer by being irradiated from the incidence side medium means And a light emitting medium means for guiding the emitted light to the camera means,

화소전극이 배열된 화면 위를 구동장치가 이동하는 가운데 광원에서 발생된 광이 입사측 매체에 의해 전기광학물질층으로 유도하는 단계와, 유도된 광을 인가된 전류에 의해 전기광학물질층에서 전계에 의해 변조시켜 공통전극의 가운데 부분에서 다수회의 반사를 거치며 출사시키는 단계와, 출사되는 광을 출사측 매체에서 유도하며 매체에 의해 유도된 광을 광검출장치에서 포획하여 영상으로 변환하는 단계와, 배열전극의 검사를 실시하는 단계의 검사방법을 실시되도록 한 것이다.The light generated from the light source is guided to the electro-optic material layer by the incident medium while the driving device moves on the screen on which the pixel electrodes are arranged, and the induced light is applied to the electro-optic material layer by the applied current. Modulating the light emitting device and outputting the light through a plurality of reflections in the center of the common electrode, guiding the emitted light from the output medium, capturing the light induced by the medium in the photodetector, and converting the light into an image; The inspection method of performing the inspection of the array electrodes is performed.

Description

비접촉식 전기광학 변환장치 및 배열전극검사방법{Electro-optical converter and it's sensing method}Non-contact electro-optic converter and array electrode inspection method {Electro-optical converter and it's sensing method}

본 발명은 평면표시장치의 결함상태를 검출하는 비접촉식 전기광학 장치에 관한 것으로써, 특히 보다 빠른 속도의 검출작업이 가능한 장치 및 그에따른 검사방법을 제공하는 것을 구성한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a non-contact electro-optical device for detecting a defect state of a flat panel display device, and in particular, to provide a device capable of a faster detection operation and an inspection method accordingly.

액정표시장치(LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(PEP)등의 표시장치(FPD, Flat Display Panel) 의 상용화가 본격적으로 진행되고 있다.Commercialization of display devices (FPD, Flat Display Panel) such as liquid crystal display (LCD) and plasma display panel (PEP) is in full swing.

이러한 평면표시장치는 화면을 구성하는 각각의 화소(Pixel)에 전극을 만들고 화소전극에 걸리는 전압을 제어하여 화소전극상의 전기광학물질의 광특성(굴절율, 투과율, 발광성, 편광특성등)을 바꿈으로서, 화소 전극을 통과하거나 반사하는 광의 성질이 바뀌도록 하고, 화소의 배열을 이용하여 2차원적 영상을 표시할 수 있도록 한다.Such a flat panel display device makes an electrode in each pixel constituting the screen and controls the voltage applied to the pixel electrode to change the optical characteristics (refractive index, transmittance, light emission, polarization characteristics, etc.) of the electro-optic material on the pixel electrode. The characteristics of light passing or reflecting through the pixel electrodes are changed, and a two-dimensional image can be displayed by using the arrangement of the pixels.

이러한 평면표시장치의 생산공정에서 화소전극이 배열되어 있는 판과 전기광학물질과의 조립이 일단 이루어 지고 나면, 화소전극의 불량이 있는 경우 재생이 불가능하므로 조립이 이루어지기 전에 화소전극 배열의 결함을 검출할 필요가 있다.In the production process of such a flat panel display device, once the assembly of the pixel electrode is arranged with the electro-optic material, once the pixel electrode is defective, regeneration is impossible. It needs to be detected.

전선에 흐르는 전류는 눈에 보이지 않으므로 전압계등을 이용 접촉을 통해 측정하거나, 전파 방출이 있는 경우에는 안테나와 같은 전파감지장치로 측정할 수 있다.Since the current flowing through the wire is invisible, it can be measured through contact with a voltmeter, or in the case of radio wave emission, it can be measured by a radio wave sensing device such as an antenna.

그러나, 화소전극의 제조시 외부와의 절연층을 입히는 경우에는 접촉측정이 불가능하고 화소전극의 구조상 전파 방출이 곤란한 경우 안테나로 측정이 불가하며 특히, 이러한 전기적 측정에서는 다수의 화소를 동시에 측정하는 것이 어려우므로 빠른 검사 속도가 요구되는 대량 생산 공정에 적용하기에는 문제가 있다.However, when the insulating layer is coated with the outside during the manufacturing of the pixel electrode, contact measurement is impossible and when the radio wave emission is difficult due to the structure of the pixel electrode, the antenna cannot be measured. In particular, in the electrical measurement, measuring multiple pixels simultaneously is not possible. Difficult to apply in high volume production processes requiring fast inspection speeds.

따라서 다수의 화소를 동시에 고속으로 입력 받는 것이 가능한 카메라와 같은 광학적 수단을 이용할 수 있도록 하기 위하여, 화소전극의 전압을 영상으로 바꾸어주는 수단이 강구되었다.Therefore, in order to use an optical means such as a camera capable of simultaneously receiving a plurality of pixels at a high speed, a means for converting the voltage of the pixel electrode into an image has been devised.

이러한 수단의 예로써, 미국 포톤 다이나믹스사에서 개발한 전기광학 모듈레이터가 공개된 기술이며 (국내 특허 번호 특0168440, 미국 특허 5615039) 이 외에도 공개된 문헌상의 여러가지 구조를 이용하여 이를 구현할 수 있다.As an example of such a means, an electro-optic modulator developed by Photon Dynamics, Inc. is a published technique (Domestic Patent No. 0,168,440, US Pat. No. 56,150,39). In addition, it can be implemented using various structures in the published literature.

전기광학 효과에 의하여 전극의 전압을 비접촉식으로 검출하는 원리를 도1에 의해 설명하면 다음과 같다.The principle of non-contact detection of the voltage of the electrode by the electro-optic effect is described with reference to FIG.

전기광학물질층(1)의 양단에 전압원(Voltage source)(2)으로부터 전압이 인가되면 전기광학물질층(1)의 굴절률이나 투과율이 바뀌게 되므로 화소전극(3)의 상부에 있는 전기광학물질층(1)의 일부분이 국부적으로 다른 광학적 성질을 나타내게 된다.When voltage is applied from the voltage source 2 to both ends of the electro-optic material layer 1, the refractive index or transmittance of the electro-optic material layer 1 is changed, so that the electro-optic material layer on the upper part of the pixel electrode 3 Part of (1) will show different optical properties locally.

예를 들어 전기광학물질층(1)이 전압이 인가되지 않은 상태에서는 불투명하다가 전압이 인가되면 화소전극(3)의 바로 윗부분만 국부적으로 투명하게 되는 것이다.For example, the electro-optic material layer 1 is opaque in a state where no voltage is applied, and when the voltage is applied, only the upper portion of the pixel electrode 3 is locally transparent.

전압이 인가될 경우 공통전극(4)과 화소전극(3) 사이에 정전 용량이 형성될 수 있도록 유전체박막(5)이 전기광학물질층(1)과 화소전극(3) 사이에 놓여지게 된다.When a voltage is applied, the dielectric thin film 5 is disposed between the electro-optic material layer 1 and the pixel electrode 3 so that a capacitance can be formed between the common electrode 4 and the pixel electrode 3.

이러한 기본원리에 의하여 실제로 평판 배열 화소전극의 검사에 적용이 가능한 구조가 도2와 도3에 예시한 바와 같이 알려져 있다.Due to this basic principle, a structure that can be actually applied to the inspection of a flat array pixel electrode is known as illustrated in FIGS. 2 and 3.

도2는 입사하는 광을 반사시켜서 감지하는 구조이다.2 is a structure for detecting incident light by reflecting it.

도1의 전기광학물질층(1)과 유전체박막(5) 사이에 유전체 반사막(6)이 삽입되어 전기광학물질층(1)의 상부의 광원(7)으로부터 입사하는 광이 피측정 화소전극층에 다다르기 전에 반사되어 광검출소자(8)에 감지되도록 한 구조이다.A dielectric reflecting film 6 is inserted between the electro-optic material layer 1 and the dielectric thin film 5 of FIG. 1 so that light incident from the light source 7 above the electro-optic material layer 1 is applied to the pixel electrode layer under measurement. It is a structure that is reflected before reaching to be detected by the photodetecting device (8).

따라서 화소전극층을 지지하는 기저(9)가 불투명하여도 화소전극(3)의 검출이 가능하다.Accordingly, even if the base 9 supporting the pixel electrode layer is opaque, the pixel electrode 3 can be detected.

(10)은 빛을 일부는 투과하고 일부는 반사시키는 기능을 하는 하프미러이다.Denoted at 10 is a half mirror that functions to partially transmit light and partially reflect light.

도3는 광을 피측정체를 투과 시켜서 전극전압을 감지하는 구조이다.3 is a structure of sensing the electrode voltage by transmitting light through the object under test.

도2의 경우와 달리 유전체반사막(6)이 없다.Unlike the case of FIG. 2, there is no dielectric reflector 6.

이 경우에는 기저(9)가 반드시 투명체라야 한다.In this case, the base 9 must be transparent.

빛이 전기광학층을 통과하기 위하여 공통전극(4)은 투명하여야 하며 이러한 투명 전극은 ITO(Indium Tin Oxide)등을 증착하여 제작된다.In order for light to pass through the electro-optic layer, the common electrode 4 must be transparent, and the transparent electrode is manufactured by depositing indium tin oxide (ITO) or the like.

또한 전기 광학 모듈레이터가 화소전극(3)에 충분히 가깝게 근접하여야 인접 화소전극(3)에 의한 간섭(Crosstalk)이 줄어들 수 있고, 구동전압이 지나치게 높아지는 것을 방지할 수 있다.In addition, when the electro-optic modulator is close enough to the pixel electrode 3, crosstalk by the adjacent pixel electrode 3 may be reduced, and the driving voltage may be prevented from being excessively high.

간섭은 전기광학물질층(1) 자체의 특성에 의해서도 영향을 받는다.Interference is also affected by the properties of the electro-optic layer 1 itself.

전기광학물질층(1)의 대표적인 예가 액정인데, 액정은 액상이므로 공통전극(4)과 화소전극(3) 사이의 좁은 간극을 유지하면서 성형할 수가 없다.A representative example of the electro-optic material layer 1 is liquid crystal. Since the liquid crystal is a liquid phase, it cannot be molded while maintaining a narrow gap between the common electrode 4 and the pixel electrode 3.

따라서 액정방울을 고분자 매트릭스상에 분산시킨 고분자 분산형 액정(PDLC-Polymer Dispersed Liquid Crystal)이 많이 사용된다.Therefore, polymer dispersed liquid crystals (PDLC-Polymer Dispersed Liquid Crystal) in which liquid crystal droplets are dispersed on a polymer matrix are frequently used.

도4는 화소전극(3)과 공통 전극(4) 사이에 전압이 인가되어 전계가 형성되었을 때의 모양이다.4 is a diagram when a voltage is applied between the pixel electrode 3 and the common electrode 4 to form an electric field.

전계 효과가 투과율의 차이로 나타나는 전기광학물질층(1)의 경우를 예시하는데, 이 경우 화소전극(3) 부분은 투명하게 나머지 부분은 불투명 혹은 반투명하게 된다.The case of the electro-optic material layer 1 in which the electric field effect is represented by a difference in transmittance is illustrated. In this case, the portion of the pixel electrode 3 is transparent and the remaining portion is opaque or translucent.

고분자 분산형 액정을 전기광학물질층으로 사용한 경우가 이에 해당하며 도5에 고분자 분산형액정의 동작 원리로 (a)는 전계가 인가되지 않은 상태, (b)는 전계가 인가된 상태를 나타내어 설명하였다.This is the case where a polymer dispersed liquid crystal layer is used as an electro-optic material layer, and as shown in FIG. 5, the operation principle of the polymer dispersed liquid crystal (a) is a state in which no electric field is applied, and (b) is a state in which an electric field is applied. It was.

즉, 전계가 인가되었을 경우 액정분자의 배열성으로 인해 액정방울의 굴절율이 이를 둘러싸는 고분자의 굴절율과 유사하게 되어 투명하게 되고 전계가 제거되면 빛이 산란되어 불투명하게 된다.That is, when an electric field is applied, due to the arrangement of liquid crystal molecules, the refractive index of the liquid crystal droplets becomes similar to the refractive index of the polymer surrounding the liquid crystal, and when the electric field is removed, the light is scattered and becomes opaque.

전계전압을 낮추기 위하여는 공통전극과 화소전극 사이가 충분히 가까워야 하며, 이 경우 전기광학물질층의 두께가 얇아지므로 전압이 인가되지 않는 상태에서도 불투명하지 않은 경우가 생기게 되고 이것은 선명한 화상을 얻기 위한 대조비(Contrast)를 줄이게 되며 또한 기저의 원하지 않는 이미지가 검출소자에 감지되어 판단을 곤란하게 할 수도 있다.In order to lower the electric field voltage, the distance between the common electrode and the pixel electrode should be close enough. In this case, since the thickness of the electro-optic material layer becomes thin, it may not be opaque even when no voltage is applied, which is a contrast ratio for obtaining a clear image. Contrast can be reduced, and unwanted unwanted images can be detected by the detection element, making it difficult to judge.

따라서 유전체반사막을 통해 빛이 화소면이나 기저면에서 직접 반사하는 것을 방지하는 것이 실용화되어 있다.Therefore, it is practical to prevent light from directly reflecting on the pixel plane or the base plane through the dielectric reflector.

그러나 상기와 같은 기존의 전기광학 변환장치(모듈레이터)는 2차원의 고체 촬상 소자를 이용하여 화상을 얻을 수 있도록 제작되어 있다.However, the conventional electro-optic converter (modulator) as described above is manufactured to obtain an image by using a two-dimensional solid-state imaging device.

따라서 전기광학물질층(1)의 하부면이 2차원 평면으로 제작되는데, 넓은 면에 걸쳐서 전기광학물질층(1) 하부면과 화소전극(3)과의 틈새 거리가 균일하게 되어야, 카메라에 의해 감지되는 화상이 실제 화소 전극으로부터 얻어진 화상이라는 신뢰도를 얻을 수 있다.Therefore, the lower surface of the electro-optic material layer 1 is manufactured in a two-dimensional plane, and the gap distance between the lower surface of the electro-optic material layer 1 and the pixel electrode 3 is uniform over a wide surface, so that Reliability can be obtained that the sensed image is an image obtained from an actual pixel electrode.

즉, 전기광학물질층(1)의 특성이 전계에 의해 비례하는 특성 변화를 수반하는데, 이 전계의 세기를 결정하는 중요한 요소가 전극사이의 간격이다.In other words, the characteristics of the electro-optic material layer 1 are accompanied by a change in characteristics proportional to the electric field, and an important factor for determining the strength of the electric field is the spacing between the electrodes.

획득한 화상에서 비정상적인 부분적 영상이 있다면, 그 부분의 전기광학 변환치가 다르게 되고 화상 데이터 처리시에 그 비정상치가 이 틈새 간극의 불 균일에 의한 것인지, 화소전극(3) 배열의 결함에 의한 것인지 판단하기 어렵기 때문이다.If there is an abnormal partial image in the acquired image, it is determined whether the electro-optic conversion value of the portion is different and that the abnormal value is due to the irregularity of the gap gap or the defect of the arrangement of the pixel electrodes 3 during image data processing. Because it is difficult.

따라서 실제로 종래의 기술과 같은 전기광학변환기를 이용한 검사시스템을 구현하기 위하여는 고도의 정밀도로 전극간의 간격을 조절하여야만 한다.Therefore, in order to implement an inspection system using an electro-optic converter as in the prior art, the spacing between electrodes must be adjusted with high precision.

현재 상용화된 장비에 있어서 전기광학물질층의 면적이 약 72mm×72mm인데 이것이 전 면적에 대하여 20㎛의 간격을 유지하게 하기 위하여 복잡한 기계적 얼라인(Align) 장치가 사용되어야 하며, 전체적 간격을 맞추는데 (이것을 Gapping이라함) 수 분이 소요되는 문제점이 있다.In the current commercial equipment, the area of the electro-optic layer is about 72 mm x 72 mm, which requires a complex mechanical alignment device to maintain a 20 μm spacing over the entire area. This is called Gapping), which takes several minutes.

또한 2차원 카메라를 사용하는 경우 화상 전송 속도가 고정되어 있고, 그 해상도에도 한계가 있다.In addition, when a two-dimensional camera is used, the image transmission speed is fixed, and the resolution thereof is limited.

따라서 1차원 카메라(리니어 카메라)를 사용하는 방법을 생각할 수 있다.Therefore, a method of using a one-dimensional camera (linear camera) can be considered.

1차원 카메라는 화상을 한 라인씩 획득하여 전송하는데 일반적으로 해상도가 2차원에 비해 높으며 전송 속도가 높아서 더욱 고속의 검사가 가능하다.One-dimensional cameras acquire and transmit images line by line. Generally, the resolution is higher than that of 2D and the transmission speed is high, so that inspection can be performed at higher speed.

1차원 카메라는 2차원 카메라 보다 후퇴한 기술이 아니라 2차원 카메라가 한번에 일정한 영역을 획득하는데 반해 연속적으로 한 라인씩 획득할 수 있도록 하여 카메라나 혹은 피검사체가 움직이면서 화상을 획득할 수 있도록 특수하게 제작되는 것이다.One-dimensional camera is not a technology that has receded more than a two-dimensional camera, but a two-dimensional camera can acquire a certain area at a time, whereas one line can be acquired continuously so that the camera or a subject under test can be specially manufactured to acquire an image. Will be.

본 발명은 이러한 문제점을 해결하도록 한 것으로 평면표시장치의 결함상태를 보다 신속하게 검출하는 비접촉식 전기광학 장치를 구성하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve this problem, and to provide a non-contact electro-optical device for detecting a defect state of a flat panel display more quickly.

이러한 목적을 달성하기 위한 본발명의 전기광학변환장치는,Electro-optical conversion device of the present invention for achieving this purpose,

평면상에 분포된 다수의 전극들의 전압을 비접촉으로 측정하도록 광원수단과, 전기광학물질층과, 공통전극수단과, 유전체박막수단과, 카메라수단으로 구성되는 비접촉식 전기광학 변환장치에 있어서,In a non-contact electro-optical converter comprising a light source means, an electro-optic material layer, a common electrode means, a dielectric thin film means, and a camera means to measure the voltage of a plurality of electrodes distributed on a plane in a non-contact manner,

상기 공통전극수단은,The common electrode means,

하부에 전기광학물질층이 부착되며 가로 길이가 화소전극의 크기보다 작고 세로 방향으로 긴 모양을 가지도록 다수의 부분으로 분할시켜 구성하고,The electro-optic material layer is attached to the lower part and is divided into a plurality of parts so that the horizontal length is smaller than the size of the pixel electrode and has a long shape in the vertical direction.

상기 전기광학물질층에서 변조가 이루어지도록 상기 광원수단에서 발생된 광의 입사를 유도하는 입사측 매체수단과,An incidence side medium means for inducing the incidence of light generated by the light source means to be modulated in the electro-optic material layer;

상기 입사측 매체수단으로부터 조사되어 상기 전기광학물질층에서 변조된후 출사되는 광을 상기 카메라수단으로 유도하는 출사측 매체수단으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.And an emission-side medium means for guiding the light emitted from the incident-side medium means and emitted after being modulated in the electro-optic material layer to the camera means.

본 발명의 다른 특징은 화소전극이 배열된 화면 위를 구동장치가 이동하는 가운데 광원에서 발생된 광이 입사측 매체에 의해 전기광학물질층으로 유도하는 단계와,Another feature of the present invention is to guide the light generated from the light source to the electro-optic material layer by the incident medium while the driving device is moving on the screen on which the pixel electrode is arranged;

유도된 광을 인가된 전류에 의해 전기광학물질층에서 전계에 의해 변조시켜 공통전극의 가운데 부분에서 다수회의 반사를 거치며 출사시키는 단계와,The induced light is modulated by an electric field in the electro-optic material layer by an applied current and emitted through a plurality of reflections at the center of the common electrode;

출사되는 광을 출사측 매체에서 유도하며 매체에 의해 유도된 광을 광검출장치에서 포획하여 영상으로 변환하는 단계와,Inducing the emitted light from the output medium and capturing the light induced by the medium in a photodetector to convert the light into an image;

배열전극의 검사를 실시하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.Characterized in that the step of performing the inspection of the array electrode.

도 1 은 종래의 전극의 전압을 비접촉식으로 검출하는 원리를 보인 도면.1 is a view showing a principle of non-contact detection of the voltage of a conventional electrode.

도 2 는 종래의 평판 배열 화소전극의 검사에 적용한 검출 도면.2 is a detection diagram applied to inspection of a conventional flat panel array pixel electrode;

도 3 은 종래의 평판 배열 화소전극의 검사에 적용한 검출 도면.3 is a detection diagram applied to inspection of a conventional flat panel array pixel electrode;

도 4 는 종래의 화소전극과 공통전극 사이에 전압이 인가되어 형성된 전계의 도면.4 is a diagram of an electric field formed by applying a voltage between a conventional pixel electrode and a common electrode;

도 5 는 종래의 고분자 분산형액정의 동작원리를 보인 도면.5 is a view showing the operation principle of a conventional polymer dispersed liquid crystal.

도 6 은 본 발명의 구성도.6 is a block diagram of the present invention.

도 7 은 본 발명의 전기광학센서의 사시도.7 is a perspective view of the electro-optical sensor of the present invention.

도 8 은 본 발명의 동작 과정을 보인 도면.8 is a view showing the operation of the present invention.

도 9 는 본 발명으로 광학 화이버를 매체로 사용했을 경우을 보인 도면.9 is a view showing a case in which the optical fiber is used as a medium in the present invention.

도 10 은 본 발명으로 광이 측면에서 입사한 경우의 동작을 보인 도면.10 is a view showing the operation when the light is incident from the side in the present invention.

도 11 은 본 발명의 다른 실시예로, 전기광학물질의 한쪽 끝이 불투명한 상태의 광의 변화를 보인 도면.11 is a view showing a change of light in an opaque state of one end of the electro-optic material in another embodiment of the present invention.

도 12 는 본 발명으로 화소전극 위를 스캔하는 경우 화소전극 상에서의 각각 위치에 대한 광의 경로를 보인 도면.12 is a view showing a path of light for each position on a pixel electrode when scanning on the pixel electrode according to the present invention;

도 13 은 본 발명으로 공통전극을 포함하는 전기광학센서의 구동장치의 사시도.13 is a perspective view of a driving device of an electro-optical sensor including the common electrode according to the present invention.

*** 도면의 주요부분의 부호의 설명 ****** Explanation of symbols of main part of drawing ***

101 : 광원 102 : 전기광학물질101: light source 102: electro-optic material

103,103' : 입사측 매체 104 : 출사측 매체103,103 ': incident medium 104: exit medium

105 : 화소전극 106 : 공통전극105: pixel electrode 106: common electrode

107 : 유전체반사박막 108 : 카메라107: dielectric reflective thin film 108: camera

109 : 기저109: basis

본 발명인 비접촉식 전기광학 변환장치 및 검사방법을 도6 내지 도13에서 설명하면 다음과 같다.The non-contact electro-optic converter and inspection method of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 to 13.

평면상에 분포된 다수의 전극들의 전압을 비접촉으로 측정하는 장치에 있어서,In the apparatus for measuring the voltage of a plurality of electrodes distributed on a plane in a non-contact,

광을 발생시키는 수단인 광원(101)과, 상기 광원(101)에서 발생된 광을 전기광학물질층(102)으로 유도하는 수단인 입사측 매체(103,103')와, 상기 매체(103,103')를 통해 조사된 광을 전계에 의하여 변조(Modulation) 하는 수단인 전기광학물질층(102)과, 상기 전기광학물질층(102)에서 변조되어 출사하는 광을 유도하는 수단인 출사측 매체(104)와, 상기 전기광학물질층(102)에 도포된 전기광학물질이 광학적 효과를 일으키도록 화소전극(105)과 작용하여 전기광학물질층(102)의 전계의 변화를 만드는 도전체 층으로써, 3부분으로 구성되어 가운데 부분은 반사특성을 가지면서 불투명하고 양쪽은 투명한 공통전극(106), 혹은 2부분으로 구성되어 한쪽은 투명하고 다른 한쪽은 반사특성을 가지며, 또는 1부분의 투명 또는 불투명한 특성을 가진 공통전극(106)과, 입사한 광이 피측정 전극에 이르기 전에 전반사 시키도록 전기광학물질층(102) 하면에 위치한 유전체 반사박막(107)과, 최종적으로 광을 집광하여 영상으로 변환하는 수단인 카메라(108)로 구성한다.The light source 101 as a means for generating light, the incident medium 103 and 103 'as a means for guiding the light generated by the light source 101 to the electro-optic material layer 102, and the medium 103 and 103'. An electro-optic material layer 102, which is a means for modulating the light irradiated through the electric field, and an emission-side medium 104, which is a means for inducing light emitted by being modulated from the electro-optic material layer 102; In addition, the electro-optic material applied to the electro-optic material layer 102 acts as a conductive layer to work with the pixel electrode 105 to change the electric field of the electro-optic material layer 102 so as to produce an optical effect. The middle part is reflective and opaque and both sides are transparent common electrode 106, or two parts are transparent on one side and the other is reflective, or one part is transparent or opaque The common electrode 106 and the incident light It consists of a dielectric reflective thin film 107 located on the lower surface of the electro-optic material layer 102 so as to totally reflect before reaching the positive electrode, and a camera 108 which is a means for condensing and converting light into an image.

그리고, 상기 공통전극(106)은 도6와 같이 평판형이 아니라 가로 길이가 화소전극(105)의 크기보다 작고 세로 방향으로 긴 모양을 가지며, 확대 도시된 부분에서와 같이 가로 방향으로 세 부분으로 분리되는데 광이 입사는 매체쪽(a)과 출사하는 매체쪽(b)은 투명하게 되어서 광의 투과를 허용하고 중간 부분(c)은 불투명하고 반사특성이 아주 우수한 전도체로 되어 있다.In addition, the common electrode 106 has a shape in which the horizontal length is smaller than the size of the pixel electrode 105 and is long in the vertical direction, as shown in FIG. 6, and in three parts in the horizontal direction as in the enlarged portion. When light is incident, the medium side (a) and the exiting medium side (b) become transparent to allow the light to pass through, and the middle portion (c) is an opaque conductor having excellent reflection characteristics.

미설명 부호 109는 기저이고, 201은 거리측정계이고, 202는 힌지며, 203은 선형 서보 엑츄에이터이다.Reference numeral 109 is the basis, 201 is the rangefinder, 202 is the hinge, and 203 is the linear servo actuator.

이와 같이 구성한 본 발명의 특징을 아래에서 설명한다.Features of the present invention configured as described above will be described below.

도7은 본 발명의 핵심 부분에 해당하는 공통전극(106)을 포함하여 전기광학물질층(102)과 유전체반사박막(107)등으로 구성되는 전기광학쎈서의 개략적인 사시도로 가로방향의 폭에 비하여 세로 방향이 긴 구조를 특징으로 한다.7 is a schematic perspective view of an electro-optic sensor composed of an electro-optic material layer 102, a dielectric reflector thin film 107, etc., including a common electrode 106 corresponding to the core portion of the present invention. It is characterized by a long longitudinal structure in comparison.

도8은 본 발명의 동작도를 보인 것으로 전계가 작용하고 있을 경우, 전기광학물질층(102) 은 투명하게 되고 입사측 매체(103,103')를 통하여 입사되는 광은 도8의 (b)에 표시된 바와 같이 반사판 역할도 함께 하는 공통전극(106)의 중간부분(c)에서 다수회의 반사를 거치면서 전기광학물질층(102)을 통과하여 출사측 매체(104) 쪽으로 반사되어 나간다.FIG. 8 shows the operation diagram of the present invention, when the electric field is acting, the electro-optic material layer 102 becomes transparent and the light incident through the incidence side medium 103, 103 'is shown in FIG. 8 (b). As described above, the intermediate portion c of the common electrode 106, which also serves as a reflecting plate, passes through the electro-optic material layer 102 and is reflected toward the exit side medium 104 through a plurality of reflections.

전계가 작용하지 않을 경우 도8의 (b)와 같이 공통전극(106) 아래의 전기광학물질층(102)은 불투명하므로 출사되는 광이 없어서 광을 검출하는 카메라(108)에는 화상이 검출되지 않는다.When the electric field does not work, as shown in FIG. 8B, the electro-optic material layer 102 under the common electrode 106 is opaque, and thus no image is detected by the camera 108 which detects light because there is no light emitted. .

광의 입사 및 출사를 가이드하기 위해 사용되는 매체는 광학 화이버(d,d') 일 수 있다.The medium used to guide the entrance and exit of light may be optical fibers (d, d ').

광학 화이버(d,d')를 매체로 사용했을 경우 구현도를 도9에 예시하였다.The implementation diagram when the optical fibers d and d 'are used as a medium is illustrated in FIG.

이때 투명 전극층을 지지하기 위하여 투명 에폭시와 같은 투명한 매체(e)가광 가이드용 매체와 투명 전극층 사이에 삽입될 수 있다.In this case, a transparent medium (e) such as a transparent epoxy may be inserted between the light guide medium and the transparent electrode layer to support the transparent electrode layer.

또한 도10과 같이 전계에 의하여 굴절율이 변화하는 전기광학물질층(102)을 본 발명의 구조와 같이 한 경우 광이 광전달매체에 의해 측면에서 입사할 수도 있다.In addition, when the electro-optic material layer 102 whose refractive index is changed by an electric field as shown in FIG. 10 is configured as in the structure of the present invention, light may be incident from the side by the phototransmitter.

이 경우 공통전극의 투명 전극층(a,b)은 없어도 된다.In this case, the transparent electrode layers a and b of the common electrode do not need to be present.

기존 발명의 구조는 측면광을 이용하는 전기광학물질층을 사용하여 실시 할 수 없으나 본 발명에서는 이러한 구조의 실시가 가능하다.The structure of the existing invention can not be carried out using an electro-optic material layer using side light, but in the present invention, such a structure can be implemented.

본 발명의 또다른 실시로 예로 도11에 도시한 바와 같이 전기광학물질층(102)의 한쪽 끝이 불투명한 반사층으로 되어 있어 입사한 광이 다시 입사측 매체쪽으로 돌아나오게 되어 있다.In another embodiment of the present invention, for example, as shown in FIG. 11, one end of the electro-optic material layer 102 is an opaque reflective layer, and the incident light is returned to the incident side medium again.

이 광을 포집하여 카메라(108)로 유도함으로써 1차원으로 표시되는 전극 배열의 이미지를 볼 수 있다.By collecting this light and directing it to the camera 108, an image of an electrode array displayed in one dimension can be viewed.

본 발명에서 공통 전극(106))의 형상은 폭이 가늘고 긴모양으므로 박막으로 전극을 형성하는 경우 저항치가 높아질 수 있다.In the present invention, since the shape of the common electrode 106 is thin and long, the resistance value may be high when the electrode is formed of a thin film.

그러나, 전기광학물질의 전계 효과를 일으키는데 이상이 없는 경우 반사부인 입사하는 매체쪽(a)과, 투과부인 출사하는 매체쪽(b)를 박막으로 제작하는 것도 가능하다.However, when there is no abnormality in causing the electric field effect of the electro-optic material, it is also possible to produce a thin film on the side of the incident medium (a), which is the reflecting portion, and (b), which is the transmission portion, which is emitted.

이 경우 입사광과 출사광을 분리하는 격벽인 중간부분(c)은 불투명한 어떤 재료라도 가능하다.In this case, the middle portion c, which is a partition wall separating the incident light and the outgoing light, may be any opaque material.

공통전극(106)은 증착할 경우 일반적으로 아주 얇게 코팅되는데,공통전극(106)의 반사면이 도체가 아니라도 이 반사면 바로 아래에 도체가 있는 경우를 가정할 수 도 있다.The common electrode 106 is generally coated very thin when deposited, although it may be assumed that the conductor is directly below the reflecting surface, even if the reflecting surface of the common electrode 106 is not a conductor.

본 발명에서 설명된 장치는 여러가지 방법으로 제작이 가능하며 일예로 1/4원형 실린더 모양의 두개의 가는 유리막대 사이에 알루미늄이나 구리 박판을 끼우고 접합후 바닥면을 연마하고 이 연마면에 투명전극을 증착한다.The device described in the present invention can be manufactured in various ways, for example, sandwiched aluminum or copper between two thin glass rods of a 1 / 4-cylindrical cylinder shape and polished the bottom surface after bonding, and the transparent electrode on the polished surface. Deposit.

전극의 두께는 빛의 파장에 대해 충분히 작기 때문에 투명전극층을 통한 광의 누설은 무시할 만 하다.Since the thickness of the electrode is small enough for the wavelength of light, leakage of light through the transparent electrode layer is negligible.

이 전극면위에 유전체 반사 박막위에서 중합된 고분자 액정 필름을 덮어 씌움으로써 제작이 완료된다.The production is completed by covering the polymer liquid crystal film polymerized on the dielectric reflective thin film on the electrode surface.

본 발명을 이용한 검사장치는 배열된 화소전극면 위를 움직이면서(scan) 측정하게 된다.The inspection apparatus using the present invention measures while moving (scan) on the arranged pixel electrode surface.

본 발명품이 화소전극(105) 위를 스캔하는 경우의 화소전극(105) 상에서의 각각의 위치에 대한 광의 경로를 도12에 도시하였다.FIG. 12 shows a path of light for each position on the pixel electrode 105 when the present invention scans on the pixel electrode 105. FIG.

따라서 가로 방향 공통전극면 전체가 화소전극(105)의 바로 위에 위치하는 지점에서 본 발명품이 걸쳐있는 길이 방향 전체 영역의 출력광의 화상 이미지를 획득하여 분석함으로써 화소전극(105)의 결함을 검출할 수 있다.Accordingly, a defect of the pixel electrode 105 can be detected by acquiring and analyzing an image image of the output light of the entire longitudinal region in which the present invention spans at a point where the entire horizontal common electrode surface is located directly above the pixel electrode 105. have.

일반적으로 액정은 광학적 이방성을 가지고 있어서 전계의 방향으로 최대의 투과율을 가지나 고분자 분산형 액정의 경우 경사지게 입사하는 광에 대해서도 검출에 충분한 투과율을 가지게 된다.In general, liquid crystals have optical anisotropy so that they have the maximum transmittance in the direction of the electric field, but in the case of polymer dispersed liquid crystals, the liquid crystals have sufficient transmittance for detection even when the light is inclined.

따라서 광의 입사 방향이나 출사 방향이 검출력에 주는 방향이 크지 아니하다.Therefore, the direction in which the incident direction or the exit direction of light gives the detection force is not large.

전기광학물질(102)이 고분자 분산형 액정인 경우 전계가 걸린 후 시간이 경과함에 따라 투과율이 저하하게 되므로 전계를 교번시켜 주어야 한다.When the electro-optic material 102 is a polymer dispersed liquid crystal, the transmittance decreases as time passes after the electric field is applied, and thus the electric field must be alternated.

1차원 라인 카메라를 사용하는 경우 한 라인 스캔시마다 전계를 +에서 -로, -에서 +로 공통 전극 전압을 교번시켜주도록 한다.When using a 1-dimensional line camera, the common electrode voltage is alternated from + to-and-to + for each line scan.

이때 화소전극의 전압을 공통전압의 교번에 동기를 맞추어 교번시실 수 도 있다.At this time, the voltage of the pixel electrode may be alternately synchronized with the alternating of the common voltage.

액정은 전계에 의해 재배열하여 특성을 나타낼 때 까지 시간이 소요되므로 초당 교번할 수 있는 횟수에 한계가 있다.Since the liquid crystal takes a long time to be rearranged by the electric field and exhibits characteristics, there is a limit to the number of alternating cycles per second.

현재 1초에 약 1000회 까지는 가능하므로, 하나의 화소열에 대하여 1번 라인 카메라 입력을 받는다고 할 때, 화소간 거리가 150micron 이라고 하면 초당 150mm 범위를 검사할 수 있어서 종래의 영역카메라를 이용한 방식보다 수 배 빠르게 검사가 가능하다.Currently, about 1000 times per second is possible. Therefore, if the line camera input is received for one pixel column, the distance between pixels is 150 microns, so the range of 150mm per second can be inspected. It can be inspected several times faster.

본 발명도 화소전극(105)과 공통전극(106)간의 거리가 아주 정교하게 제어되어야 하는데, 종래의 발명에서 평면전극을 이용하는 경우 최소 3점의 지지가 필요한 반면, 본 발명은 발명품의 길이 방향으로 양 끝단의 두점에서의 지지만으로 수평유지가 가능하고 이의 제어 또한 간극을 직접 레이저 거리계등을 이용하여 측정하고 서보제어를 이용하여 실시간으로 제어하게 하는 것이 가능하다.In the present invention, the distance between the pixel electrode 105 and the common electrode 106 must be controlled very precisely. In the conventional invention, at least three points of support are required in the case of using the planar electrode. It is possible to maintain horizontality with only two points at both ends, and its control is also possible to measure the gap directly by using a laser rangefinder and to control in real time by using servo control.

도13과 같이 본 발명품의 양 끝단에 간극을 측정할 수 있는 거리측정계(201)를 부착하고, 그 결합체의 끝단을 힌지(202)를 이용하여 선형 서보액츄에이터(203)와 결합한다.As shown in Fig. 13, a distance measuring device 201 capable of measuring a gap is attached to both ends of the present invention, and the end of the combination is coupled with a linear servo actuator 203 using a hinge 202.

이 전체가 센서의 길이방향에 직각인 평면으로 주행하면서 배열화소전극의 점압값을 영상으로 변환시켜 입력하게 된다.The entirety travels in a plane perpendicular to the longitudinal direction of the sensor and converts the viscous value of the arrayed pixel electrode into an image for input.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따르면, 1차원적 전기광합물질의 배열을 통해 단순한 형태의 전기광학 변환센서를 제작할 수 있고, 두 점만으로 화소전극과 공통전극사이의 간격조절(Gapping)을 쉽게 할 수 으며, 화소전극 전압의 스캔을 실시간으로 연속적으로 가능하여 화소전극의 결함을 보다 빠르게 검출할 수 있는 등의 효과가 있다.As described above, according to the present invention, an electro-optic conversion sensor having a simple shape can be manufactured by arranging a one-dimensional electro photosynthetic material, and the gap between the pixel electrode and the common electrode can be easily adjusted by only two points. In addition, it is possible to continuously scan the pixel electrode voltage in real time, so that defects of the pixel electrode can be detected more quickly.

Claims (9)

평면상에 분포된 다수의 전극들의 전압을 비접촉으로 측정하도록 광원수단과, 전기광학물질층과, 공통전극수단과, 유전체박막수단과, 카메라수단으로 구성되는 비접촉식 전기광학 변환장치에 있어서,In a non-contact electro-optical converter comprising a light source means, an electro-optic material layer, a common electrode means, a dielectric thin film means, and a camera means to measure the voltage of a plurality of electrodes distributed on a plane in a non-contact manner, 상기 공통전극수단은,The common electrode means, 하부에 전기광학물질층이 부착되며 가로 길이가 화소전극의 크기보다 작고 세로 방향으로 긴 모양을 가지도록 다수의 부분으로 분할시켜 구성하고,The electro-optic material layer is attached to the lower part and is divided into a plurality of parts so that the horizontal length is smaller than the size of the pixel electrode and has a long shape in the vertical direction. 상기 전기광학물질층에서 변조가 이루어지도록 상기 광원수단에서 발생된 광의 입사를 유도하는 입사측 매체수단과,An incidence side medium means for inducing the incidence of light generated by the light source means to be modulated in the electro-optic material layer; 상기 입사측 매체수단으로부터 조사되어 상기 전기광학물질층에서 변조된후 출사되는 광을 상기 카메라수단으로 유도하는 출사측 매체수단을 구성한 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학변환장치.And an output side medium means for guiding the light emitted from the incident medium means to the camera means after being modulated in the electro-optic material layer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 공통전극수단은 가로방향으로 세부분으로 분리되어 광의 투과를 허용하도록 광이 입사하는 상기 입사측 매체수단 및 출사하는 상기 출사측 매체수단은 투명하고,The common electrode means is divided into subdivisions in the horizontal direction so that the incident side medium means to which light is incident and the exit side medium means to emit light are transparent, 중간부분은 불투명하며 반사특성을 갖는 전도체로 구성한 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 변환장치.A non-contact electro-optic converter characterized in that the middle portion is composed of an opaque and reflective conductor. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 공통전극수단은 한쪽은 투명하고 다른 한쪽은 반사특성을 가지도록 2 부분으로 구성한 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 변환장치.The common electrode means is a non-contact electro-optic converter, characterized in that composed of two parts so that one side is transparent and the other side has a reflective characteristic. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 공통전극수단은 1부분의 투명 또는 불투명한 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 변환장치.And said common electrode means has a one-part transparent or opaque characteristic. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 공통전극수단은 입사된 광이 상기 전기광학물질층의 상면과 하면을 충돌하면서 교대로 반사를 일으키도록 한 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 변환장치.The common electrode means is a non-contact electro-optic converter characterized in that the incident light is reflected to the upper surface and the lower surface of the electro-optic material layer alternately to reflect. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 공통전극수단은 광의 입사면이 상기 전기광학물질층의 상,하면이 아닌 사면 및 측면으로 입사하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 변환장치.The common electrode means is a non-contact electro-optic converter, characterized in that the incident surface of the light is incident on the slopes and sides, not the upper and lower surfaces of the electro-optic material layer. 평면상에 분포된 다수의 전극들의 전압을 비접촉으로 측정하도록 광원수단과, 입사측 매체수단과, 전기광학물질층과, 공통전극수단과, 유전체박막수단과, 출사측 매체수단과, 카메라수단으로 구성되는 비접촉식 전기광학 변환장치에 있어서,The light source means, the incident side media means, the electro-optic material layer, the common electrode means, the dielectric thin film means, the exit side media means, and the camera means to measure the voltage of a plurality of electrodes distributed on the plane in a non-contact manner. In the non-contact electro-optical converter configured, 상기 공통전극수단을 포함하는 전기광학 변환센서는 상기 카메라와 상기 광원과 두개 이상의 선형 액츄에이터가 동일 구조물상에 결합되어 있고, 선형 액츄에이터와는 힌지등의 플로우팅(floating) 구조를 통하여 상기 공통전극수단을 포함하는 전기광학 변환센서가 결합되어 있으며, 상기 전기광학 센서와 피측정 전극이 있는 기저와의 거리를 측정하기 위한 수단이 상기 구조물 혹은 상기 전기광학 센서와 결합되어 있어 전기광학센서의 긴 방향에 수직한 방향으로 진행하며 2차원 기저상의 전극의 전압을 측정하도록 구성한 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 변환장치.In the electro-optical conversion sensor including the common electrode means, the camera and the light source and two or more linear actuators are coupled on the same structure, and the common electrode means is connected to the linear actuator through a floating structure such as a hinge. An electro-optic conversion sensor is included, and means for measuring the distance between the electro-optic sensor and the base on which the electrode to be measured is coupled to the structure or the electro-optic sensor is provided in a long direction of the electro-optic sensor. Non-contact electro-optical converter characterized in that configured to measure the voltage of the electrode on the two-dimensional base running in the vertical direction. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 카메라는 리니어 카메라인 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 변환장치.The camera is a non-contact electro-optical converter, characterized in that the linear camera. 화소전극이 배열된 화면 위를 구동장치가 이동하는 가운데 광원에서 발생된 광이 입사측 매체에 의해 전기광학물질층으로 유도하는 단계와,Inducing light generated from the light source while the driving device moves on the screen on which the pixel electrodes are arranged to the electro-optic material layer by the incident medium; 유도된 광을 인가된 전류에 의해 전기광학물질층에서 전계에 의해 변조시켜 공통전극의 가운데 부분에서 다수회의 반사를 거치며 출사시키는 단계와,The induced light is modulated by an electric field in the electro-optic material layer by an applied current and emitted through a plurality of reflections at the center of the common electrode; 출사되는 광을 출사측 매체에서 유도하며 매체에 의해 유도된 광을 광검출장치에서 포획하여 영상으로 변환하는 단계와,Inducing the emitted light from the output medium and capturing the light induced by the medium in a photodetector to convert the light into an image; 배열전극의 검사를 실시하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비접촉식 전기광학 장치에 의한 배열전극의 검사방법.An inspection method of an array electrode by a non-contact electro-optical device, characterized in that the step of inspecting the array electrode.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100416962B1 (en) * 2000-11-14 2004-02-05 이주현 Non contact type voltage sensing apparatus
KR101259646B1 (en) * 2006-11-21 2013-04-30 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for contactless test of flat panel display using electro-optic effect
KR20200048293A (en) * 2018-10-29 2020-05-08 삼성전자주식회사 Apparatus and method for testing interconnect circuit

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4926043A (en) * 1987-03-31 1990-05-15 Siemens Aktiengesellschaft Apparatus and method for optical measuring and imaging of electrical potentials
DE3877628T2 (en) * 1987-05-31 1993-05-13 Hamamatsu Photonics Kk VOLTAGE DETECTOR.
JPH0695113B2 (en) * 1987-06-10 1994-11-24 浜松ホトニクス株式会社 Voltage detector
US5272434A (en) * 1987-06-20 1993-12-21 Schlumberger Technologies, Inc. Method and apparatus for electro-optically testing circuits
JP3961134B2 (en) * 1998-11-05 2007-08-22 フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド Inspection apparatus and method for liquid crystal drive substrate

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100416962B1 (en) * 2000-11-14 2004-02-05 이주현 Non contact type voltage sensing apparatus
KR101259646B1 (en) * 2006-11-21 2013-04-30 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for contactless test of flat panel display using electro-optic effect
KR20200048293A (en) * 2018-10-29 2020-05-08 삼성전자주식회사 Apparatus and method for testing interconnect circuit

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