KR20010048129A - 비동기전송모드 시험장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 IMT-2000 시스템내 제어국의 ATM 환경을 시험하기 위해 제어국내 ATM 장비의 각 포트에 적용되는 각종 ATM 셀들을 발생하여 모니터링하고 비트 레이트를 변환시켜 줌으로써 고가의 ATM 분석기 없이도 ATM 환경의 통신 시스템을 시험할 수 있도록 한 ATM 시험장치에 관한 것으로, 다수의 E1, 25.6M, DS3, STM-1과 인터페이스할 수 있고, 자기 자신의 포트에서 루프백 기능이 가능하여 각종 ATM 셀을 모니터링 할 수 있으며, UTP를 통해 입력된 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀을 광 케이블을 통해 STM-1로 전송할 수 있고 또한 다른 E1, 25.6M, DS3, STM-1 중의 어느 포트로도 전송할 수 있도록 함을 특징으로 하며, 이와 같이 ATM 환경의 통신 시스템을 용이하게 시험할 수 있으며, 고가의 ATM 분석기를 사용하지 않아 경제적 부담을 줄일 수 있게 되는 효과가 있다.

Description

비동기 전송 모드 시험장치 {ATM testing apparatus}
본 발명은 IMT(International Mobile Telecommunication)-2000 시스템내 제어국의 비동기 전송 모드(Asynchronous Transfer Mode ; 이하, 'ATM'이라 함) 환경을 시험하기 위해 제어국내 ATM 장비의 각 포트(Port)에 적용되는 각종 ATM 셀(Cell)들을 발생하여 모니터링(Monitoring)하고 비트 레이트(Bit Rate)를 변환(Conversion)시켜 줌으로써 고가의 ATM 분석기(Analyzer) 없이도 ATM 환경의 통신 시스템을 시험할 수 있도록 한 ATM 시험장치에 관한 것이다.
일반적으로 3세대 통신 시스템인 IMT-2000 시스템에 있어서 제어국(Radio Network Controller)은 ATM을 근간으로 각 구성 부분이 접속되는데, 특히 제어국내 ATM 스위치를 통해서 ATM 셀의 전송이 이루어진다.
한편, 종래에는 상기와 같이 제어국내 ATM 스위치를 비롯한 ATM 장비의 ATM 환경을 시험하기 위해 주로 ATM 분석기를 이용하여 시험하였다.
그러나, 상기 ATM 분석기가 고가여서 경제적 부담이 적지 않을 뿐만 아니라, 제어국내 ATM 장비의 각 포트가 분리되어 있어 각종 ATM 셀을 시험하려면 전송 시스템의 하드웨어나 알고리즘을 수정하거나 각 포트의 모듈별로 상기 ATM 분석기를 사용해야 하는 매우 번거로운 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 그 목적은 IMT-2000 시스템내 제어국의 ATM 환경을 시험하기 위해 제어국내 ATM 장비의 각 포트에 적용되는 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등에 해당하는 각종 ATM 셀들을 발생하여 루프백(Loopback) 기능을 통해 모니터링하고 비트 레이트를 변환시켜 줌으로써 고가의 ATM 분석기 없이도 ATM 환경의 통신 시스템을 시험할 수 있도록 한 ATM 시험장치를 제공하는 데에 있다.
도 1은 본 발명에 의한 비동기 전송 모드 시험장치의 블록 구성도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
1 : E1 인터페이스부 2 : 25.6M 인터페이스부
3 : DS3 인터페이스부 4 : STM-1 인터페이스부
5 ∼8 : UTOPIA 인터페이스부 9 : 먹스/디먹스
10 : 제어부 11 : EPROM
12 : DRAM 13 : 플래쉬 메모리
14 : 어드레스 디코더 15 : 클럭 발생부
16 : RS232 인터페이스부
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 ATM 시험장치는, 다수의 E1, 25.6M, DS3, STM-1과 인터페이스할 수 있고, 자기 자신의 포트에서 루프백 기능이 가능하여 각종 ATM 셀을 모니터링 할 수 있으며, UTP를 통해 입력된 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀을 광 케이블을 통해 STM-1로 전송할 수 있고 또한 다른 E1, 25.6M, DS3, STM-1 중의 어느 포트로도 전송할 수 있도록 함을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 의한 ATM 시험장치의 구성 및 동작을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 의한 ATM 시험장치의 블록 구성도로서, 2.048M의 E1 ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스(Line Interface) 기능을 수행하는 E1 인터페이스부(1)와, 25.6M ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하는 25.6M 인터페이스부(2)와, 44.736M의 DS(Digital Signal)3 ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하는 DS3 인터페이스부(3)와, 155.52M의 STM(Synchronous Transfer Mode)-1 광신호를 전기신호로 변환하거나 그 역기능을 수행하는 STM-1 인터페이스부(4)와, 물리 계층 기능을 수행하여 상기 E1 인터페이스부(1)를 통해 입력되는 2.048M의 E1 ATM 신호에 대한 유토피아(Universal Test & Operation PHY Interface for ATM ; 이하, 'UTOPIA'라 칭함) 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부(5)와, 물리 계층 기능을 수행하여 상기 25.6M 인터페이스부(2)를 통해 입력되는 25.6M ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부(6)와, 물리 계층 기능을 수행하여 상기 DS3 인터페이스부(3)를 통해 입력되는 44.736M의 DS3 ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부(7)와, ATM 포럼(Forum) 155.52M의 물리 계층 기능을 수행하여 상기 STM-1 인터페이스부(4)를 통해 입력되는 155.52M의 STM-1 ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부(8)와, 상기 UTOPIA 인터페이스부(5∼8)의 독립된 8 비트 UTOPIA 레벨-1 포트를 통해 입력되는 각종 ATM 셀들을 다중화하여 UTOPIA 인터페이스를 통해 상향 ATM 셀 데이터로 전송하고, 후술될 제어부로부터 수신되는 하향 ATM 셀 데이터들을 역다중화하여 상기 UTOPIA 인터페이스부(5∼8)를 거쳐 상기 E1 인터페이스부(1), 25.6M 인터페이스부(2), DS3 인터페이스부(3), STM-1 인터페이스부(4)를 통해 해당 ATM 블록으로 전송하는 먹스/디먹스(Mux/Demux)(9)와, 시스템 성능 모니터링, 고장 및 결함 검출, 시스템 보호, 고장 및 성능 정보 보고 및 고장 시험 등의 특정 기능을 수행하여 상기 UTOPIA 인터페이스부(5∼8)를 거쳐 상기 E1 인터페이스부(1), 25.6M 인터페이스부(2), DS3 인터페이스부(3), STM-1 인터페이스부(4)에서 출력되는 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀들을 루프백 기능을 통해 모니터링하고 비트 레이트를 변환시켜 줌으로써 ATM 장비의 ATM 환경을 시험하는 제어부(10)와, 상기 제어부(10)의 ATM 장비의 ATM 환경 시험을 위해 필요한 프로그램 및 시험시 발생하는 각종 데이터를 저장하기 위한 EPROM(11), DRAM(12), 플래쉬 메모리(Flash Memory)(13)와, 상기 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀들을 송수신하는 해당 ATM 블록의 주소를 디코딩하여 해당 ATM 블록을 선택하기 위한 어드레스 디코더(Address Decoder)(14)와, 상기 제어부(15)로 각종 구성 블록에서 필요한 클럭을 발생하여 공급하는 클럭 발생부(15)와, ATM 시험장치의 관리 및 제어와 보드 모니터링용 포트를 지원하기 위한 RS232 인터페이스부(16)로 구성된다.
상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 ATM 시험장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.
상기 E1 인터페이스부(1)는 2.048M의 E1 ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하고, UTOPIA 인터페이스부(5)는 물리 계층 기능을 수행하여 상기 E1 인터페이스부(1)를 통해 입력되는 2.048M의 E1 ATM 신호에 대한UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하며, 상기 E1 인터페이스부(1)와 UTOPIA 인터페이스부(5)는 상기 제어부(10)와 인터페이스를 통해 ATM 처리 및 접속기능, 인터럽트 핸들러(Interrupt Handler) 기능, 상태 관리 등의 기능을 수행한다.
그리고, 상기 E1 인터페이스부(1)는 다수의 비트 레이트를 UTP(Unshield Twisted pair Copper line)를 사용하여 접속할 수 있고, 또한 광 케이블도 사용할 수 있다.
상기 25.6M 인터페이스부(2)는 25.6M ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하고, 트랜스미션 컨버젼스(Transmission Convergence ; TC)와 PMD 레이어(Layer)를 지원하여 구현하기 쉽다.
이때, 상기 UTOPIA 인터페이스부(6)는 물리 계층 기능을 수행하여 상기 25.6M 인터페이스부(2)를 통해 입력되는 25.6M ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는데, 즉 상기 먹스/디먹스(9)와의 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원한다.
상기 25.6M 인터페이스부(2) 역시 상기 제어부(10)와 인터페이스를 통해 ATM 처리 및 접속기능, 인터럽트 핸들러 기능, 상태 관리 등의 기능을 수행한다.
상기 DS3 인터페이스부(3)는 44.736M의 DS3 ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하고, 피지컬 레이어 컨버젼스 프로토콜(Physical Layer Convergence Protocol ; PLCP)을 지원하며, 물리 계층 기능을 수행하여 상기 DS3 인터페이스부(3)를 통해 입력되는 44.736M의 DS3 ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부(7)를 통해 상기 먹스/디먹스(9)와의 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하고, 상기 제어부(10)와 인터페이스를 통해 ATM 처리 및 접속기능, 인터럽트 핸들러 기능, 상태 관리 등의 기능을 수행한다.
상기 STM-1 인터페이스부(4)는 155.52M의 STM-1 광신호를 전기신호로 변환하거나 UTOPIA 인터페이스부(8)를 통해 입력되는 전기신호를 광신호로 변환하는 기능을 수행하며, UTOPIA 인터페이스부(8)는 ATM 포럼 155.52M의 물리 계층 기능을 수행하여 상기 STM-1 인터페이스부(4)를 통해 입력되는 155.52M의 STM-1 ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원한다.
그리고, 상기 STM-1 인터페이스부(4)는 STM-1 프레임 구성, 셀 딜리니에이션(Cell Delineation), 클럭 리커버리(Clock Recovery)기능 등을 수행한다.
상기 먹스/디먹스(9)는 상기 UTOPIA 인터페이스부(5∼8)의 독립된 8 비트 UTOPIA 레벨-1 포트를 통해 입력되는 상기 E1 인터페이스부(1), 25.6M 인터페이스부(2), DS3 인터페이스부(3), STM-1 인터페이스부(4)의 각종 ATM 셀들을 다중화하여 다시 UTOPIA 인터페이스를 통해 상향 ATM 셀 데이터로 전송하고, 상기 제어부(10)로부터 수신되는 하향 ATM 셀 데이터들을 역다중화하여 상기 UTOPIA 인터페이스부(5∼8)를 거쳐 상기 E1 인터페이스부(1), 25.6M 인터페이스부(2), DS3 인터페이스부(3), STM-1 인터페이스부(4)를 통해 해당 ATM 블록으로 전송한다.
그리고, 상기 먹스/디먹스(9)는 VP-리플레이스먼트 바이올레이션(replacement violation), 드롭 셀(Drop cell)에 대한 인터럽트 지원을 수행한다.
상기 제어부(10)는 시스템 성능 모니터링, 고장 및 결함 검출, 시스템 보호, 고장 및 성능 정보 보고 및 고장 시험 등의 특정 기능을 수행하여 상기 UTOPIA 인터페이스부(5∼8)를 거쳐 상기 E1 인터페이스부(1), 25.6M 인터페이스부(2), DS3 인터페이스부(3), STM-1 인터페이스부(4)에서 출력되는 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀들을 루프백 기능을 통해 모니터링하고 비트 레이트를 변환시켜 줌으로써 ATM 장비의 ATM 환경을 시험한다.
그리고, 상기 제어부(10)는 SAR 프로세싱(Processing) 기능을 제공하여 입력된 신호 및 패킷 등의 데이터 핸들링이 가능하다.
상기 EPROM(11), DRAM(12), 플래쉬 메모리(13)는 상기 제어부(10)의 ATM 장비의 ATM 환경 시험을 위해 필요한 프로그램 및 시험시 발생하는 각종 데이터를 저장하기 위한 메모리이며, 어드레스 디코더(14)는 상기 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀들을 송수신하는 해당 ATM 블록의 주소를 디코딩하여 시험을 위한 해당 ATM 블록을 선택할 수 있도록 한다.
상기 클럭 발생부(15)는 상기 제어부(15)로 각종 구성 블록에서 필요한 클럭을 발생하여 공급하며, 상기 RS232 인터페이스부(16)는 사용자가 RS232 포트를 통해 ATM 시험장치의 관리 및 제어와 보드 모니터링용 포트를 지원하기 위한 구성으로, 커넥터는 DB9를 사용한다.
상기와 같이 구성된 ATM 시험장치는 각종 E1 인터페이스, 25.6M 인터페이스, DS3 인터페이스, STM-1 인터페이스 등의 멀티 피지컬 인터페이스(Multi Physical Interface) 기능 및 AAL(ATM Adaption Layer)0/5 역다중 및 다중 기능, 셀 발생(Generation) 및 비교 기능, 물리 계층 이상 상태 검출 기능 등을 수행한다.
즉, 본 발명에 의한 ATM 시험장치는 다수의 E1, 25.6M, DS3, STM-1과 인터페이스할 수 있고, 자기 자신의 포트에서 루프백 기능이 가능하여 각종 ATM 셀을 모니터링 할 수 있으며, UTP를 통해 입력된 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀을 광 케이블을 통해 STM-1로 전송할 수 있고 또한 다른 E1, 25.6M, DS3, STM-1 중의 어느 포트로도 전송할 수 있다.
그리고, 입력된 VPI(Virtual Pass Identifier) 및 VCI(Virtual Channel Identifier) 처리 등의 ATM 기반의 ATM 셀들을 분리 및 결합할 수 있으며, 입력된 셀의 카운터 값과 출력된 셀의 카운터 값을 비교하여 전송하는 기능을 수행할 수 있다.
상기와 같이 본 발명에서는 다수의 포트, 즉 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등에 해당하는 각종 ATM 셀을 발생하여 루프백 기능을 통해 모니터링할 수 있고, RS-232인터페이스를 통해 운용 환경 설정 및 모드 수정 등을 쉽게 할 수 있으며, OS(Operating System)의 업 그레이드(Up Grade)가 가능하다.
이상, 상기 설명에서와 같이 본 발명은, IMT-2000 시스템내 제어국의 ATM 환경을 시험하기 위해 제어국내 ATM 장비의 각 포트에 적용되는 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등에 해당하는 각종 ATM 셀들을 발생하여 루프백 기능을 통해 모니터링하고 비트 레이트를 변환시켜 줌으로써 ATM 환경의 통신 시스템을 용이하게 시험할 수 있으며, 고가의 ATM 분석기를 사용하지 않아 경제적 부담을 줄일 수 있게 되는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 2.048M의 E1 ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하는 E1 인터페이스부와, 25.6M ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하는 25.6M 인터페이스부와, 44.736M의 DS3 ATM 신호를 물리 계층에 연결시키는 라인 인터페이스 기능을 수행하는 DS3 인터페이스부와, 155.52M의 STM-1 광신호를 전기신호로 변환하거나 그 역기능을 수행하는 STM-1 인터페이스부와, 물리 계층 기능을 수행하여 상기 E1 인터페이스부를 통해 입력되는 2.048M의 E1 ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부와, 물리 계층 기능을 수행하여 상기 25.6M 인터페이스부를 통해 입력되는 25.6M ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부와, 물리 계층 기능을 수행하여 상기 DS3 인터페이스부를 통해 입력되는 44.736M의 DS3 ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부와, ATM 포럼 155.52M의 물리 계층 기능을 수행하여 상기 STM-1 인터페이스부를 통해 입력되는 155.52M의 STM-1 ATM 신호에 대한 UTOPIA 레벨-1 인터페이스를 지원하는 UTOPIA 인터페이스부와, 상기 UTOPIA 인터페이스부의 독립된 8 비트 UTOPIA 레벨-1 포트를 통해 입력되는 각종 ATM 셀들을 다중화하여 UTOPIA 인터페이스를 통해 상향 ATM 셀 데이터로 전송하고, 후술될 제어부로부터 수신되는 하향 ATM 셀 데이터들을 역다중화하여 상기 UTOPIA 인터페이스부를 거쳐 상기 E1 인터페이스부, 25.6M 인터페이스부, DS3 인터페이스부, STM-1 인터페이스부를 통해 해당 ATM 블록으로 전송하는 먹스/디먹스와, 시스템 성능 모니터링, 고장 및 결함 검출, 시스템 보호, 고장 및 성능 정보 보고 및 고장 시험 등의 특정 기능을 수행하여 상기 UTOPIA 인터페이스부를 거쳐 상기 E1 인터페이스부, 25.6M 인터페이스부, DS3 인터페이스부, STM-1 인터페이스부에서 출력되는 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀들을 루프백 기능을 통해 모니터링하고 비트 레이트를 변환시켜 줌으로써 ATM 장비의 ATM 환경을 시험하는 제어부와, 상기 제어부의 ATM 장비의 ATM 환경 시험을 위해 필요한 프로그램 및 시험시 발생하는 각종 데이터를 저장하기 위한 EPROM, DRAM, 플래쉬 메모리와, 상기 E1, 25.6M, DS3, STM-1 등의 각종 ATM 셀들을 송수신하는 해당 ATM 블록의 주소를 디코딩하여 해당 ATM 블록을 선택하기 위한 어드레스 디코더와, 상기 제어부로 각종 구성 블록에서 필요한 클럭을 발생하여 공급하는 클럭 발생부와, ATM 시험장치의 관리 및 제어와 보드 모니터링용 포트를 지원하기 위한 RS232 인터페이스부로 구성됨을 특징으로 하는 비동기 전송 모드 시험장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100460489B1 (ko) * 2000-12-28 2004-12-08 엘지전자 주식회사 셀경로 시험장치 및 그 방법
KR100680077B1 (ko) * 2000-03-13 2007-02-09 유티스타콤코리아 유한회사 비동기전송모드 광신호 정합장치

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