KR20000038296A - Panel for testing back membrane of liquid crystal display and a method for manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A panel for testing back membrane of liquid crystal display and a method for manufacturing the same is provided to simplify the structure of the back membrane of the liquid crystal display. CONSTITUTION: A panel for testing back membrane of liquid crystal display includes a first and second optical transparent substrate(10,20), back membranes(14,24), a spacer, and seal lines(32,33). The first and second optical transparent substrate(10,20) include node each formed on fore face of inner surface, and include a pair of first edges and a pair of second edges perpendicular to the first edges. The back membranes(14,24) are formed on each node of the first and second substrates. The spacer is implemented between the first and second substrates and is applied to the substrates with a predetermined distance from the terminal of the first edges. The seal lines(32,33) are arranged along with the application line of the first edges.

Description

액정표시장치의 배향막 불량 검사용 패널 및 그의 제조방법Panel for defect inspection of liquid crystal display device and manufacturing method thereof

본 발명은 액정표시기에 사용되는 배향막의 불량 검사에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 배향막 불량 검사용 액정표시기 패널 및 그의 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to defect inspection of alignment films used in liquid crystal displays, and more particularly, to a liquid crystal display panel for alignment film defect inspection and a manufacturing method thereof.

액정표시기에 사용되는 액정의 물성은 액정분자들의 배열상태에 의존하므로, 배열상태에 따라 전계 등의 외력에 대한 응답에도 차이가 생긴다. 따라서, 액정 분자의 배열 제어는 액정의 물성 연구는 물론 표시소자의 구성상에서도 필수 기술이다.Since the physical properties of the liquid crystal used in the liquid crystal display depend on the arrangement state of the liquid crystal molecules, there is a difference in response to external force such as an electric field depending on the arrangement state. Therefore, the arrangement control of the liquid crystal molecules is an essential technique not only in the study of the physical properties of the liquid crystal but also in the configuration of the display device.

액정물질을 단순히 유리 기판 사이에 채우는 것만으로는 균일한 분자배열을 얻기 어렵기 때문에 일반적으로 유리 기판에 배향막을 형성한다.By simply filling the liquid crystal material between the glass substrates, it is difficult to obtain a uniform molecular arrangement. Therefore, an alignment layer is generally formed on the glass substrate.

액정분자들의 배열상태를 제어하는 배향막의 재질로는 무기물이 주체인 것과 유기물이 주체인 것 및 양자 병용인 것이 있고, 배향막을 유리기판에 형성하는 방법으로는, 스핀 방식, 스프레이 방식, 인쇄방식 등의 여러 가지가 있다.The materials of the alignment film for controlling the arrangement of the liquid crystal molecules include a main material of inorganic material, a main material of organic material, and a combination of quantum materials. A method of forming an alignment film on a glass substrate includes a spin method, a spray method and a printing method. There are many ways.

배향막은 도포 후, 러빙공정을 통하여 표면 상태가 변화되는 것에 의하여, 액정의 배열을 제어한다.After the alignment film is applied, the surface state is changed through the rubbing process to control the arrangement of the liquid crystals.

이러한 배향막의 도포 및 러빙공정에서 발생한 불량은 표시불량을 일으키는 중요한 공정이므로, 배향막의 불량 검사를 정확하게 하는 것이 강하게 요구된다.Since the defects generated in the application and rubbing process of such an alignment film are important processes that cause display defects, it is strongly required to accurately perform defect inspection of the alignment film.

종래의 배향 불량 검사 방법에는, 배향막을 인쇄한 후에 인쇄된 배향막의 표면에 얼룩의 여부나 핀홀(Pin-hole)의 존재여부를 검사하는 1차 검사와, 러빙후, 러빙된 배향막의 표면에 스크래치의 존재여부를 검사하는 2차 검사가 있다.Conventional misalignment inspection method includes a first inspection for inspecting the surface of the printed alignment film after the alignment film is printed or the presence of pin-holes, and scratching the surface of the rubbed alignment film after rubbing. There is a second test to check for the presence of.

1차 및 2차 검사는 목시 검사로서, 특히 2차 검사에서는 검사자의 눈에 잘 보이지 않는 불량을 관측하기 위하여, 러빙된 배향막의 표면에 폐액정이나 수증기를 분사하여 스크래치를 검사한다.The primary and secondary inspections are visual inspections. In particular, in the secondary inspection, scratches are injected by spraying waste liquid crystal or water vapor on the surface of the rubbed alignment layer in order to observe defects that are hardly seen by the inspector.

그러나, 액정패널의 조립전 2차에 걸친 배향막의 검사에도 불구하고 조립과, 절단, 액정의 주입 및 봉입 공정이 완료된 액정표시기 패널의 전극에 전압을 인가하여 배향막의 상태를 최종 검사하면, 전단에서 언급한 검사과정에서 인식하지 못했던 불량들이 종종 나타난다.However, despite the inspection of the alignment film during the second stage before assembling the liquid crystal panel, when the state of the alignment film is finally inspected by applying a voltage to the electrodes of the liquid crystal display panel in which the assembly, cutting, liquid crystal injection, and encapsulation processes are completed, Defects that were not recognized during the mentioned inspection process often appear.

상기한 1차 및 2차 검사에서 불량이 확인되면, 불량난 배향막을 제거하고, 다시 배향막을 형성하는 리워킹 작업을 수행한다. 그런데, 최종 검사에서 불량이 관측되면, 1차 및 2차 검사와는 달리 리워킹 작업이 어렵고, 가능하다고 하더라도, 조립에 걸리는 2 내지 3일의 기간 손실과, 재료의 낭비와 같은 큰 손실이 발생한다.When the defects are confirmed in the first and second inspections described above, a reworking operation of removing the defective alignment layer and forming the alignment layer is performed again. However, if a defect is observed in the final inspection, unlike the first and second inspections, reworking is difficult, and even if possible, a large loss such as a two to three-day loss in assembly and a waste of materials occurs. do.

최종 검사에서 확인되는 불량을 1차 및 2차 검사에서 관측하지 못하는 것은 1차 및 2차 검사의 환경과 최종 검사의 환경이 서로 다르기 때문이다.The failure of the primary and secondary inspections to observe the defects identified in the final inspection is due to the difference between the environment of the primary and secondary inspections and the final inspection.

상기한 이유로부터, 최종 검사환경과 동일한 환경을 갖는 테스트용 샘플의 제작이 요구되지만, 하나의 검사용 패널을 별도로 제작하기 위하여 대량생산용 공정 라인을 가동하는 것은 경제적으로 극히 불리하다.From the above reasons, the production of a test sample having the same environment as the final inspection environment is required, but it is economically extremely disadvantageous to operate a mass production process line to separately manufacture one inspection panel.

따라서, 본 발명은 최종 검사를 위한 액정표시기 패널과 가장 유사한 환경과 단순 구조를 갖는 배향막 불량 검사용 패널을 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention is to provide an alignment film defect inspection panel having an environment and simple structure most similar to the liquid crystal display panel for the final inspection.

본 발명의 또 다른 목적은, 짧은 시간내에 별도 공정의 추가없이 제작 가능한 배향막 불량 검사용 패널 제조방법을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a method for manufacturing an alignment film defect inspection panel which can be manufactured without additional process in a short time.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른, 액정표시장치의 배향막 불량검사를 위한 패널의 평면도.1 is a plan view of a panel for defect inspection of an alignment film of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 도 1의 Ⅳ-Ⅳ선을 따라 절단된 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. 1.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 배향막 불량 검사용 패널 제작 과정을 설명하기 위한 박막 트랜지스터 액정표시기 패널의 제조 공정도.3 is a manufacturing process diagram of a thin film transistor liquid crystal display panel for explaining a manufacturing process of the alignment film defect inspection panel according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른, 배향막 불량검사를 위한 검사용 패널을 제조하는 과정을 보여주는 제조 공정도.Figure 4 is a manufacturing process showing a process for manufacturing a test panel for the alignment film defect inspection, according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른, 액정표시장치의 배향막 불량검사를 위한 패널의 씰 제 디스펜싱 및 스프레이 산포 과정을 보여주는 설명도.FIG. 5 is an explanatory view showing a sealant dispensing and spray spreading process of a panel for defect inspection of an alignment layer of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention. FIG.

도 6은 도 5의 제조과정에서 적용된 씰 제 디스펜싱 장치와 스페이서 스프레이 장치의 개략적 평면도.6 is a schematic plan view of a sealant dispensing device and a spacer spray device applied in the manufacturing process of FIG.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른, 액정표시장치의 배향막 불량검사를 위한 패널의 합착 과정을 보여주는 설명도.FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating a bonding process of a panel for inspecting defects of alignment films of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention. FIG.

도 8은 본 발명의 실시예에 따른, 액정표시장치의 배향막 불량검사를 위한 패널의 액정주입 과정을 보여주는 설명도.8 is an explanatory diagram showing a liquid crystal injection process of a panel for defect inspection of an alignment layer of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 9는 도 1의 검사용 패널을 이용하여 배향막 불량을 검사하는 방법을 보여주는 설명도.9 is an explanatory diagram showing a method of inspecting an alignment layer defect using the inspection panel of FIG. 1;

상기한 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르는, 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널은, 각각 한 쌍의 제 1 변과 상기 제 1 변에 수직한 한 쌍의 제 2 변을 갖는 사각판 구조의 제 1, 제 2 투광성 절연기판을 포함한다. 제 1, 제 2 투광성 절연기판의 내표면 상의 전면에 각각 전극이 형성되어 있고, 이들 전극중 적어도 하나의 기판의 내표면에 형성된 전극은 투명하다. 상기 1 내지 제 2 기판의 각각의 전극 위에는 배향막이 배치된다. 제 1 기판과 제 2 기판은, 상기 제 1 기판의 제 1 변의 단부가, 대응하는 상기 제 2 기판의 제 1 변의 단부로부터 소정 거리만큼 이동된 상태로 합착된다. 합착된 상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판의 내표면 사이에는 액정과 스페이서가 개재된다. 상기 제 1, 제 2 기판의 제 1 변 방향의 합착선을 따라 씰 라인이 배치된다.In order to achieve the above objects, according to an aspect of the present invention, the alignment film defect inspection panel of the liquid crystal display, each of the square having a pair of first sides and a pair of second sides perpendicular to the first side. And a first and second translucent insulating substrate having a plate structure. Electrodes are formed on the front surfaces on the inner surfaces of the first and second translucent insulating substrates, respectively, and the electrodes formed on the inner surfaces of at least one of these electrodes are transparent. An alignment film is disposed on each electrode of the first to second substrates. The 1st board | substrate and the 2nd board | substrate are joined by the edge part of the 1st side of the said 1st board | substrate moved by the predetermined distance from the edge part of the 1st side of the said 2nd board | substrate. The liquid crystal and the spacer are interposed between the bonded first substrate and the inner surface of the second substrate. The seal line is disposed along the joining line in the first side direction of the first and second substrates.

여기서, 제 1, 제 2 기판은 다수의 단위 패널들의 면적을 합한 면적에 해당하는 면적을 갖는 모 유리기판이다.Here, the first and second substrates are mother glass substrates having an area corresponding to the sum of the areas of the plurality of unit panels.

선택적으로, 상기 검사용 패널은, 상기 한 쌍의 씰 라인 내에, 상기 한 쌍의 씰 라인과 평행하고, 상기 제 1 변과 수직한 한 쌍의 제 2 변의 각 단부로부터 소정 길이를 가지며, 제 2 폭과 제 2 간격을 갖는 다수의 보조 씰 라인을 추가로 포함한다. 여기서, 보조 씰 라인은, 액정의 셀 갭을 일정하게 유지하기 위한 것이다.Optionally, the inspection panel has a predetermined length from each end of the pair of second sides parallel to the pair of seal lines and perpendicular to the first side, in the pair of seal lines, and the second And a plurality of auxiliary seal lines having a width and a second gap. Here, the auxiliary seal line is for keeping the cell gap of the liquid crystal constant.

본 발명의 다른 측면에 따르면, 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법은 다음의 과정들을 포함한다. 먼저, 각 내표면의 전면에 전극만이 형성된 제 1, 제 2 투광성 절연기판을 준비한다. 적어도 하나의 기판의 내표면에 형성된 전극은 투명하다. 다음으로, 상기 제 1, 제 2 기판의 내표면에 배향막을 형성하고, 러빙, 및 세정을 행한다. 상기 제 1 기판의 내표면에 씰 제의 디스펜싱과 스페이서의 스프레이를 통하여, 상기 제 1 기판의 선택된 하나의 변과 평행하고, 선택 폭과 선택 간격을 갖는 한 쌍의 씰 라인을 형성한다. 다음으로, 상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판의 내표면이 대향하도록 정렬한 후에, 이들 두 기판의 외표면을 가압하고, 형성된 씰 라인을 경화하는 것에 의하여 두 기판을 합착한다. 그런 다음, 상기 합착된 상기 제 1, 제 2 기판의 내표면 사이에 액정을 주입한다.According to another aspect of the invention, the manufacturing method of the alignment film defect inspection panel of the liquid crystal display includes the following processes. First, first and second translucent insulating substrates having only electrodes formed on the front surface of each inner surface are prepared. The electrode formed on the inner surface of the at least one substrate is transparent. Next, an alignment film is formed on the inner surfaces of the first and second substrates, and rubbing and washing are performed. Through the dispensing of the sealant and spraying of the spacer on the inner surface of the first substrate, a pair of seal lines parallel to the selected one side of the first substrate and having a selection width and a selection interval are formed. Next, after aligning the inner surfaces of the first substrate and the second substrate to face each other, the two substrates are bonded by pressing the outer surfaces of these two substrates and curing the formed seal lines. Then, the liquid crystal is injected between the inner surfaces of the bonded first and second substrates.

선택적으로, 상기 씰 라인의 형성동안, 상기 한 쌍의 씰 라인 내에, 상기 한 쌍의 씰 라인과 평행하고, 상기 제 1 변과 수직한 한 쌍의 제 2 변의 각 단부로부터 소정 길이를 가지며, 제 2 폭과 제 2 간격을 갖는 다수의 보조 씰 라인을 추가로 형성할 수 있다. 여기서, 보조 씰 라인은, 셀 갭을 유지하기 위한 것이다.Optionally, during formation of the seal line, within the pair of seal lines, a predetermined length from each end of the pair of second sides parallel to the pair of seal lines and perpendicular to the first side, It is further possible to form a plurality of auxiliary seal lines having a second width and a second spacing. Here, the auxiliary seal line is for maintaining the cell gap.

본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법은 다음의 단계들을 포함한다. 먼저, 매트릭스 배열의 투명전극, 상기 투명전극에 데이터 신호를 인가하기 위한 신호선, 상기 신호선으로부터 상기 투명전극에 인가되는 데이터 신호를 스위칭 하는 스위칭 소자, 상기 스위칭 소자의 스위칭을 제어하기 위한 제어신호를 상기 스위칭 소자로 전송하는 주사선이 내표면 상에 형성된 적어도 하나의 제 1 투광성 절연기판과, 컬러필터층과 투명 대향전극이 내표면 상에 형성된 적어도 하나의 제 2 투광성 절연기판의 형성동안, 각 내표면의 전면에 전극만이 형성되고, 적어도 하나의 내표면에 형성된 전극이 투명한 제 3, 제 4 투광성 절연기판을 함께 준비한다. 다음으로, 상기 제 1 내지 제 4 기판의 내표면에 배향막을 형성하고, 러빙, 및 세정한다. 다음으로, 상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판의 조립 전에, 상기 제 3, 제 4 기판 중 어느 하나의 선택 기판의 내표면에 씰 제의 디스펜싱과 스페이서의 스프레이를 통하여, 상기 제 3 기판의 제 1 변과 평행하고, 선택 폭과 선택 간격을 갖는 한 쌍의 씰 라인을 형성한다. 다음으로, 상기 제 3 기판과 상기 제 4 기판의 내표면이 대향하도록 정렬한 후에, 이들 두 기판의 외표면을 가압하고, 형성된 씰 라인을 경화하는 것에 의하여 두 기판을 합착한다. 그런 다음, 합착된 상기 제 3, 제 4 기판의 내표면 사이에 액정을 주입한다.According to another aspect of the invention, the manufacturing method of the alignment film defect inspection panel of the liquid crystal display includes the following steps. First, a transparent electrode of a matrix array, a signal line for applying a data signal to the transparent electrode, a switching element for switching the data signal applied to the transparent electrode from the signal line, a control signal for controlling the switching of the switching element During the formation of at least one first translucent insulating substrate on which the scanning lines transmitted to the switching element are formed on the inner surface, and at least one second translucent insulating substrate on which the color filter layer and the transparent counter electrode are formed on the inner surface, Only electrodes are formed on the front surface, and electrodes formed on at least one inner surface of the transparent third and fourth transmissive insulating substrates are prepared together. Next, an alignment film is formed on the inner surfaces of the first to fourth substrates, followed by rubbing and washing. Next, before assembling the first substrate and the second substrate, the sealant is dispensed on the inner surface of any one of the third and fourth substrates through the dispensing of the sealant and the spray of the spacer. A pair of seal lines parallel to the first side and having a selection width and a selection interval are formed. Next, after aligning the inner surfaces of the third substrate and the fourth substrate to face each other, the two substrates are bonded by pressing the outer surfaces of these two substrates and curing the formed seal lines. Then, the liquid crystal is injected between the inner surfaces of the third and fourth bonded substrates.

선택적으로, 상기 씰 라인의 형성동안, 상기 한 쌍의 씰 라인 내에, 상기 한 쌍의 씰 라인과 평행하고, 상기 제 1 변과 수직한 한 쌍의 제 2 변의 각 단부로부터 소정 길이를 가지며, 제 2 폭과 제 2 간격을 갖는 다수의 보조 씰 라인을 추가로 형성할 수 있다. 여기서, 보조 씰 라인은, 검사용 패널의 셀 갭을 일정하게 유지하기 위한 것이다.Optionally, during formation of the seal line, within the pair of seal lines, a predetermined length from each end of the pair of second sides parallel to the pair of seal lines and perpendicular to the first side, It is further possible to form a plurality of auxiliary seal lines having a second width and a second spacing. Here, the auxiliary seal line is for keeping the cell gap of the inspection panel constant.

본 발명의 다른 목적과 장점들은 첨부한 도면을 참조하는 다음의 상세한 설명으로부터 보다 명백해 질 것이다.Other objects and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description with reference to the accompanying drawings.

도 1은 단순 구조를 갖는 배향막 불량 검사용 패널의 평면도이고, 도 2는 도 1의 Ⅳ-Ⅳ선을 따라 절단한 단면도이다.1 is a plan view of an alignment film defect inspection panel having a simple structure, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. 1.

도 1과 도 2를 참조하면, 서로 대향하는 내표면을 갖는 두 기판(10, 20)이 제공된다. 기판(10, 20)은 투광성의 절연기판, 예를 들어 6매의 단위 패널 면적에 대응하는 면적을 갖는 모 유리기판이다. 기판(10, 20)의 내표면에는 인듐주석산화물(Indium Tin Oxide:ITO)로 된 투명전극(12, 22)이 형성된다. 투명전극(12, 22)은 실제 액정표시기 패널의 화소전극과는 달리 특정 구조의 패턴을 갖지 않는다. 투명전극(12, 22)의 내표면에는 배향막(14, 24)가 각각 형성된다.1 and 2, two substrates 10, 20 having inner surfaces facing each other are provided. The substrates 10 and 20 are transmissive insulating substrates, for example, mother glass substrates having an area corresponding to six unit panel areas. Transparent electrodes 12 and 22 made of indium tin oxide (ITO) are formed on the inner surfaces of the substrates 10 and 20. The transparent electrodes 12 and 22 do not have a specific structure pattern unlike the pixel electrodes of the actual liquid crystal display panel. Alignment films 14 and 24 are formed on the inner surfaces of the transparent electrodes 12 and 22, respectively.

하부 기판(20)의 우측 장변(E20)의 가장자리와, 좌측 장변(E21)으로부터 소정 거리(ℓ)만큼 이격된 부분을 따라서 제 1 폭의 씰 제가 도포된 주 씰 라인(32, 33)이 위치하고, 주 씰 라인(32) 사이의 양 단변 측에는 상, 하 두 기판(10, 20) 사이의 셀 갭 유지를 위한 보조 씰 라인(34, 36)이 위치한다. 이들 각 보조 씰 라인(34, 36) 간의 간격(I)은 2 ~ 20mm이다.The main seal lines 32 and 33 coated with the sealant of the first width are positioned along an edge of the right long side E20 of the lower substrate 20 and a portion spaced apart from the left long side E21 by a predetermined distance ℓ. On both short sides between the main seal lines 32, auxiliary seal lines 34 and 36 for maintaining cell gaps between the upper and lower substrates 10 and 20 are positioned. The spacing I between each of these auxiliary seal lines 34, 36 is 2-20 mm.

이들 상, 하 기판(10, 20)은 서로 엇갈리게 합착되므로, 상부 기판(10)의 우측 장변(E11)으로부터 거리 ℓ에 해당하는 부분과, 하부 기판(20)의 좌측 장변(E21)으로부터 거리 ℓ에 해당하는 부분의 투명전극(12, 22)이 외부로 노출된다. 여기서, 노출된 투명전극(12, 22) 위의 배향막은 제 3, 제 4 기판의 합착 전에 패터닝에 의하여 제거하거나, 합착 후에 원하는 부분만이 제거된다. 선택적으로, 노출된 투명전극(12, 22) 위의 배향막은 제거되지 않고 남아 있을 수도 있다.Since the upper and lower substrates 10 and 20 are alternately bonded to each other, the portion corresponding to the distance ℓ from the right long side E11 of the upper substrate 10 and the distance ℓ from the left long side E21 of the lower substrate 20. The transparent electrodes 12 and 22 of the corresponding portion are exposed to the outside. Here, the alignment layer on the exposed transparent electrodes 12 and 22 is removed by patterning before bonding of the third and fourth substrates, or only desired portions are removed after bonding. Optionally, the alignment layer on the exposed transparent electrodes 12 and 22 may remain without being removed.

상기한 구성의 검사용 패널에서, 상부 기판(10)과 하부 기판(20) 사이의 간격에 해당하는 셀 갭은 3 ~ 20 μm의 범위를 갖도록 하고, 균일도(Uniformity)는 ±2μm이하로 하는 것이 바람직하다.In the inspection panel having the above-described configuration, the cell gap corresponding to the gap between the upper substrate 10 and the lower substrate 20 should be in the range of 3 to 20 μm, and the uniformity should be ± 2 μm or less. desirable.

도 1과 도 2에 도시한 검사용 패널은 단순 구조를 가지지만, 배향막 불량의 최종 검사를 위한 실제 박막 트랜지스터 액정표시기 패널에 근접한 환경을 갖는다. 그러므로, 상기한 검사용 패널의 사용으로 실제 박막 트랜지스터 액정표시기 패널을 최종 배향막 검사에서 발견할 수 있는 배향막 불량의 관측이 가능하다.The inspection panel shown in Figs. 1 and 2 has a simple structure, but has an environment close to the actual thin film transistor liquid crystal display panel for the final inspection of the alignment film defects. Therefore, the use of the above-described inspection panel enables the observation of the alignment film defects in which the actual thin film transistor liquid crystal display panel can be found in the final alignment film inspection.

도 3은 도 1과 도 2에서 제시된 배향막 불량 검사용 패널의 제조과정을 설명하기 위한 실제 박막 트랜지스터 액정표시기 패널의 제조 공정도이다.3 is a manufacturing process diagram of an actual thin film transistor liquid crystal display panel for explaining the manufacturing process of the alignment film defect inspection panel shown in FIGS.

도 3을 참조하면, 예를 들어 50매의 투광성 절연기판이 준비된다. 여기서 사용되는 투광성 절연기판은, 대량생산을 위하여, 다수의 단위 패널, 예를 들어 6개의 단위 액정패널의 면적에 대응하는 면적을 가지는 모 유리기판(Mother glass substrate)이다.Referring to FIG. 3, for example, 50 transmissive insulating substrates are prepared. The translucent insulating substrate used here is a mother glass substrate having an area corresponding to the area of a plurality of unit panels, for example, six unit liquid crystal panels, for mass production.

50매의 투광성 절연기판은 25매의 TFT 기판 제 1 그룹과 25매의 컬러 필터 기판용 제 2 그룹으로 구성된다.The 50 light-transmissive insulating substrates are composed of a first group of 25 TFT substrates and a second group of 25 color filter substrates.

제 1 그룹의 25매의 TFT 기판 중, 24매는, 매트릭스 배열의 투명전극, 투명전극에 데이터 신호를 인가하기 위한 신호선, 신호선으로부터 투명전극에 인가되는 데이터 신호를 스위칭 하는 스위칭 소자, 스위칭 소자의 스위칭을 제어하기 위한 제어신호를 스위칭 소자로 전송하는 주사선이 내표면 상에 형성된 기판(이하, 제 1 투광성 절연기판으로 언급함)이고, 1매는 내표면의 전면에 투명전극, 예를 들어 인듐주석산화물(Indium Tin Oxide; ITO)의 재질을 갖는 전극만이 형성되어 있는 기판(또는, 제 3 유리기판)이다.Of the 25 TFT substrates in the first group, 24 are a transparent electrode in a matrix array, a signal line for applying a data signal to the transparent electrode, a switching element for switching a data signal applied from the signal line to the transparent electrode, and a switching of the switching element. The scanning line for transmitting the control signal to the switching element is a substrate (hereinafter referred to as a first transmissive insulating substrate) formed on the inner surface, and one sheet is a transparent electrode, for example, indium tin oxide, on the front surface of the inner surface. A substrate (or a third glass substrate) on which only electrodes having a material of (Indium Tin Oxide; ITO) are formed.

또한, 제 2 그룹의 25매의 투광성 절연기판 중, 24매는, 컬러필터층과 투명 대향전극이 내표면 상에 형성된 기판(이하, 제 2 유리기판으로 언급함)이고, 1매는 내표면의 전면에 투명전극, 예를 들어 ITO의 재질을 갖는 전극만이 형성되어 있는 기판(또는, 제 4 투광성 절연기판)이다.In addition, of the twenty-five translucent insulating substrates of the second group, 24 sheets are substrates (hereinafter referred to as second glass substrates) on which the color filter layer and the transparent counter electrode are formed on the inner surface, and one sheet is placed on the entire surface of the inner surface. It is a board | substrate (or 4th translucent insulating board | substrate) in which only the transparent electrode, for example, the electrode which has a material of ITO is formed.

여기서, 제 1 유리기판과 제 2 유리기판을 각각 24매씩 준비하는 것은 제조공정에서 실제 적용되는 경우의 예로서, 1대에 25매의 모 유리기판이 장착되는 카세트를 사용한다는 것을 의미한다. 1대의 카세트의 비어있는 1매의 공간에는 제 3 유리기판이 장착되고, 다른 1대의 카세트의 비어있는 1매의 공간에는 제 4 유리기판이 장착된다.Here, preparing 24 sheets each of the first glass substrate and the second glass substrate means that a cassette having 25 sheets of mother glass substrates in one unit is used as an example of actual application in the manufacturing process. The third glass substrate is mounted in one empty space of one cassette, and the fourth glass substrate is mounted in one empty space of another cassette.

이들 제 1 유리기판과 제 2 유리기판의 숫자는 24매로 한정되지 않으며, 각각 적어도 1매이면 가능하다.The number of these 1st glass substrates and the 2nd glass substrate is not limited to 24 sheets, It is possible if it is at least 1 sheet, respectively.

또한, 제 3 유리기판과 제 4 유리기판의 전면에 투명전극이 배치된 경우를 예로 들었지만, 제 3 투광성 절연기판의 전극은 투명전극이고, 제 4 투광성 절연기판의 전극은 불투명한 재질의 금속재가 사용될 수 있다. 이 경우, 불량의 관찰은 제 3 투광성 절연기판의 표면에서 행하여진다.In addition, although the transparent electrode is disposed on the front surface of the third glass substrate and the fourth glass substrate as an example, the electrode of the third transparent insulating substrate is a transparent electrode, the electrode of the fourth transparent insulating substrate is a metal material of opaque material Can be used. In this case, the defect is observed on the surface of the third translucent insulating substrate.

아울러, 제 1 투광성 절연기판 위에 배치되어 있는 스위칭 소자는, 비정질 실리콘 박막 트랜지스터, 폴리실리콘 박막 트랜지스터, 다이오드 및 MIM으로 구성되는 능동 스위칭 소자의 그룹으로부터 선택된 하나이면, 충분하고, 바람직하게는 박막 트랜지스터이다.In addition, the switching element disposed on the first light-transmissive insulating substrate may be one selected from the group of active switching elements composed of an amorphous silicon thin film transistor, a polysilicon thin film transistor, a diode, and a MIM, and is preferably a thin film transistor. .

한편, TFT기판 제작용 카세트에 장착된 제 1, 제 3 기판은 배향막 형성공정(ST2), 러빙 공정(ST3), 세정 공정(ST4)을 수행하고, 컬러필터 기판 제작용 카세트에 장착된 제 2, 제 4 기판 또한 배향막 형성공정(ST22), 러빙 공정(ST23), 및 세정 공정(ST24)을 거쳐서 조립대기 상태에 있게 된다. 여기서, 사용된 배향막의 재료는 유기물인 폴리이미드(Polyimide:PI)로서, 대량생산에 적합한 인쇄법으로 도포된다.On the other hand, the first and third substrates mounted on the TFT substrate manufacturing cassette perform an alignment film forming step (ST2), a rubbing process (ST3), and a cleaning process (ST4), and the second substrate mounted on the color filter substrate manufacturing cassette. The fourth substrate is also in the assembly standby state through the alignment film forming step (ST22), the rubbing step (ST23), and the cleaning step (ST24). Here, the material of the alignment film used is polyimide (PI), which is an organic material, and is applied by a printing method suitable for mass production.

세정 공정(ST4, ST24)이 완료된 50매의 유리기판 중, 투명전극만이 전면에 형성된 2매의 제 3, 제 4 유리기판은 분리된다. 분리된 2매의 기판은 도 1과 도 2에 도시한 구조를 갖는 검사 패널로 제작되어(ST7), 검사를 수행한다(ST8).Of the 50 glass substrates on which the cleaning processes ST4 and ST24 have been completed, the two third and fourth glass substrates on which only the transparent electrode is formed on the entire surface are separated. The two separated substrates are made of an inspection panel having the structures shown in Figs. 1 and 2 (ST7), and inspection is performed (ST8).

도 4는 분리된 제 3, 제 4 모 유리기판을 이용하여 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널을 제조하는 과정을 보여주는 공정 순서도이다.FIG. 4 is a flowchart illustrating a process of manufacturing a panel for inspecting defects of alignment layers of a liquid crystal display using separated third and fourth mother glass substrates.

도 4를 참조하면, 준비된 제 3, 제 4 모 유리기판은 씰 디스펜싱 및 스페이서 산포 공정(ST42), 두 기판을 합착하는 조립 및 씰 제를 자외선에 노광하는 자외선 노광 공정(ST43), 두 기판 사이에 액정을 주입하는 액정 주입공정(ST44)을 통하여 검사용 패널이 제작된다(ST44). 제작된 패널을 이용하여 배향막 불량이 검사된다(ST45).Referring to FIG. 4, the prepared third and fourth mother glass substrates include a seal dispensing and spacer dispersing process (ST42), an ultraviolet exposure process (ST43) for assembling and bonding the two substrates to which the two substrates are bonded, and two substrates. An inspection panel is produced through the liquid crystal injection process (ST44) for injecting the liquid crystal in between (ST44). The alignment film defect is inspected using the manufactured panel (ST45).

세정(ST4, ST24)이 완료된 제 3, 제 4 투광성 절연기판 중 어느 하나의 기판, 예를 들어, 제 4 절연기판의 내표면에 스페이서(Spacer)를 산포하고, 스페이서의 산포와 동시에 제 4 절연기판의 내표면에 제 3 절연기판과의 합착을 위한 씰 제(Sealant)를 디스펜싱(Dispensing)한다. 즉, 스페이서와 씰 제가 동일 기판에 형성된다. 한편, 실제 액정표시기 패널의 제조에서는 스페이서가 산포되는 기판과 씰 제가 산포되는 기판은 서로 다르다.The spacer is spread on the inner surface of any one of the third and fourth translucent insulating substrates having been cleaned (ST4, ST24), for example, the fourth insulating substrate, and the fourth insulating layer is simultaneously spread with the spacers. Dispensing a sealant for bonding to the third insulating substrate on the inner surface of the substrate. In other words, the spacer and the seal are formed on the same substrate. On the other hand, in actual production of the liquid crystal display panel, the substrate on which the spacer is dispersed and the substrate on which the sealant is distributed are different from each other.

도 5는 스페이서의 산포와 씰 제의 디스펜싱 과정을 보여주는 도면이다.5 is a view showing the dispersion of the spacer and the dispensing process of the sealant.

도 5를 참조하면, 세정이 완료된 기판 중, 어느 하나, 예를 들어 제 4 절연기판(20)은, 그의 내표면이 상부를 향하도록, 컨베이어(42)의 로울러(44) 위에 안치된다. 안치된 제 4 절연기판(20)은, 좌측에서 우측으로 이동하면서 스페이서 산포기(120)와 먼저 만나고, 그 이후에 씰 제 디스펜서(130)와 만나게 된다.Referring to FIG. 5, one of the cleaned substrates, for example, the fourth insulating substrate 20, is placed on the roller 44 of the conveyor 42 so that its inner surface faces upward. The fourth insulating substrate 20 placed therein first meets the spacer spreader 120 while moving from left to right, and then meets the seal dispenser 130.

씰 제(134)는 제 4 절연기판(56)의 장변과 평행하게 직선으로 형성되므로, 제 4 절연기판(56)은 멈추거나 방향을 바꾸지 않고 직진하면서 공정이 이루어진다. 그러므로, 씰 제의 디스펜싱 및 스페이서의 산포에 소요되는 시간이 단축되어, 결과적으로 검사용 패널의 제조시간이 단축된다.Since the seal agent 134 is formed in a straight line in parallel with the long side of the fourth insulating substrate 56, the fourth insulating substrate 56 is processed while going straight without stopping or changing the direction. Therefore, the time required for dispensing the sealant and dispersing the spacer is shortened, and as a result, the manufacturing time for the inspection panel is shortened.

본 발명의 검사용 패널은 셀 갭 및 스페이서(124)의 분포상태에 크게 영향을 받지 않으므로, 노즐(122)로 산포시키는 것이 가능하다.Since the inspection panel of the present invention is not greatly influenced by the cell gap and the distribution of the spacers 124, it is possible to spread it with the nozzle 122.

도 6는 본 발명의 배향막 불량 검사용 패널의 제작동안 씰 제의 디스펜싱 및 스페이서를 산포하는 장치의 개략적인 블록 구성도로서, 다이(110)와, 다이(110)에 설치된 스페이서 산포기(120) 및 씰 디스펜서(132)를 포함한다.FIG. 6 is a schematic block diagram of an apparatus for dispersing a sealant and dispersing a spacer during fabrication of an alignment film defect inspection panel according to the present invention, and includes a die 110 and a spacer spreader 120 installed in the die 110. ) And seal dispenser 132.

스페이서 산포기(120)는, 길이방향을 따라 이동하는 기판의 폭 방향과 나란하게 다수 개가 다이(110)의 하부에 설치되어, 직선운동하는 기판에 스페이서를 산포하는 노즐(122)을 포함한다. 이들 노즐(122)들 간의 간격과 노즐 단부와 하부의 기판간의 간격은 기판에 산포되는 스페이서의 분포도에 따라 조절가능하다.The spacer spreader 120 includes a plurality of nozzles 122 disposed in the lower portion of the die 110 in parallel with the width direction of the substrate moving along the longitudinal direction and dispersing the spacers on the linearly moving substrate. The spacing between these nozzles 122 and the spacing between the nozzle end and the substrate below are adjustable according to the distribution of spacers scattered on the substrate.

씰 디스펜서(132)는 다이(110)의 하부면의 양측 가장자리에 각각 하나씩 설치되어, 도 1에 도시된 것처럼, 기판의 장변을 따라 두 개의 주 씰 라인이 형성되도록 하는 주 씰 라인 형성용 실린지(Syringe;132a, 132b)와, 패널의 단변측에 있는 보조 씰 라인 형성용 실린지(132c)를 포함한다.The seal dispenser 132 is provided at each of the two edges of the lower surface of the die 110, respectively, and as shown in FIG. 1, the main seal line forming syringe for forming two main seal lines along the long side of the substrate. (Syringe; 132a, 132b) and the auxiliary seal line formation syringe 132c on the short side of a panel are included.

주 씰 라인 형성용 실린지(132a, 132b)는 하부에서 이동하는 기판이 실린지(132a, 132b)의 수직 하방에 진입하는 시점부터 씰 제를 디스펜싱하기 시작하고, 실린지(132a, 132b)의 수직 하방을 지나는 시점까지 씰 제를 디스펜싱하여, 도 1에 도시된 것처럼, 기판(10, 20)의 장변에 평행한 한 쌍의 주 씰 라인(32)을 형성한다.The main seal line forming syringes 132a and 132b start dispensing the sealant from the time when the substrate moving from the lower portion enters the vertically lower side of the syringes 132a and 132b, and the syringes 132a and 132b. The sealant is dispensed to a time point passing through the vertical downward of to form a pair of main seal lines 32 parallel to the long sides of the substrates 10 and 20, as shown in FIG.

보조 씰 라인 형성용 실린지(132c)는 하부에서 이동하는 기판이 실린지(132a, 132b)의 수직 하방에 진입하는 시점부터 제 1 시간동안 씰 제를 1차 디스펜싱하고, 제 2 시간의 경과후, 제 3 시간동안 씰 제를 2차 디스펜싱하여, 도 1에 도시된 것처럼, 기판(10, 20)의 장변에 평행하고, 단변 측의 양측 단부로부터 장변 방향을 따라 소정 길이를 갖는 다수의 보조 씰 라인(34, 36)을 형성한다.The auxiliary seal line forming syringe 132c firstly dispenses the sealant for a first time from the time when the substrate moving from the lower portion enters the vertically lower side of the syringes 132a and 132b, and the second time elapses. After the second dispensing of the sealant for a third time, as shown in Fig. 1, a plurality of substrates, which are parallel to the long sides of the substrates 10 and 20 and have a predetermined length along the long side direction from both end portions on the short side, Auxiliary seal lines 34 and 36 are formed.

여기서, 제 1 시간은, 도 1에 도시한 패널의 일측 기판, 예를 들어 제 4 투광성 절연기판(20)이 도 5에 도시한 컨베이어(42)에 탑재되어 도 1의 상측에서 하측으로 이동하고 있다고 가정할 때, 하측의 제 1 보조 씰 라인(34)의 수직 길이를 형성하는데 걸리는 시간을 의미하고, 제 3 시간은, 상측의 제 2 보조 씰 라인(34)의 수직 길이를 형성하는데 걸리는 시간을, 그리고 제 2 시간은 제 1, 제 2 보조 씰 라인(34, 36) 간의 거리를 기판(20)이 이동하는 데 걸린 시간을 의미한다.Here, in the first time, one side substrate of the panel shown in FIG. 1, for example, the fourth transmissive insulating substrate 20, is mounted on the conveyor 42 shown in FIG. 5 and moves from the upper side to the lower side in FIG. Assuming that there is, it means the time taken to form the vertical length of the lower first auxiliary seal line 34, the third time is the time taken to form the vertical length of the upper second auxiliary seal line 34 The second time means the time taken for the substrate 20 to move the distance between the first and second auxiliary seal lines 34 and 36.

씰 라인의 형성 및 스페이서의 산포가 완료된 제 4 투광성 절연기판(20)과 다른 하나의 제 3 투광성 절연기판(10)은 서로 합착된다.The fourth transparent insulating substrate 20 and the other third transparent insulating substrate 10 having completed the formation of the seal line and the dispersion of the spacers are bonded to each other.

도 7은 이들 두 기판(10, 20)의 합착 과정을 보여주는 개략적 단면도로서, 참조부호 62와 66은 합착된 패널을 가압하기 위한 하부 가압 스테이지와 상부 가압 스테이지이고, 참조부호 64는 자외선 조사부, 참조부호 68은 마스크이다. 마스크(68)는, 자외선 조사부(64)로부터 광을 조사하여, 도포된 주 씰 라인과 보조 씰 라인을 경화시킬 때, 씰 라인 도포 부분을 제외한 부분을 가려서 자외선에 의한 배향막의 손상을 방지하는 역할을 한다.FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing the bonding process of these two substrates 10 and 20, with reference numerals 62 and 66 being a lower pressurizing stage and an upper pressurizing stage for pressing the bonded panels, and reference numeral 64 denotes an ultraviolet irradiator; Reference numeral 68 is a mask. When the mask 68 irradiates light from the ultraviolet irradiation unit 64 to cure the applied main seal line and the auxiliary seal line, the mask 68 covers a portion except the seal line application portion to prevent damage of the alignment film due to ultraviolet rays. Do it.

도 8은 합착이 완료된 패널에 액정을 주입하는 과정을 보여주는 도면이다.8 is a view illustrating a process of injecting liquid crystal into a panel in which bonding is completed.

도 8을 참조하면, 합착된 패널(60)은, 액정을 담을 수 있고, 소정 각도의 경사를 가지며, 액정주입동안 상부에 안치된 패널(60)의 온도를 비교적 고온으로 유지할 수 있는 액정 주입용 다이(72)에 안치된다.Referring to FIG. 8, the bonded panel 60 may contain a liquid crystal, have a predetermined inclination, and may maintain a relatively high temperature of the panel 60 placed thereon during liquid crystal injection at a relatively high temperature. It is placed in the die 72.

액정 주입용 다이(72)의 경사면의 저부에는 컨테이너(76)가 설치되고, 이 컨테이너(76)에는 액정(78)이 담겨있다.The container 76 is provided in the bottom part of the inclined surface of the liquid crystal injection die 72, and the liquid crystal 78 is contained in this container 76. As shown in FIG.

보조 씰 라인을 갖는 패널(60)의 일측 단변 부분이 컨테이너(76)의 액정에 담겨지고, 타측 단변부는 공기를 흡입하는 공기 흡입장치(74)에 물려진다.One short side portion of the panel 60 having the auxiliary seal line is immersed in the liquid crystal of the container 76, and the other short side portion is bitten by the air intake device 74 that sucks air.

공기 흡입장치(74)가 합착된 패널(60) 내의 공기를 흡입하면, 컨테이너(76)에 담겨진 액정은 패널(60) 사이로 주입된다.When the air suction device 74 sucks air in the panel 60 to which the air suction device 74 is attached, the liquid crystal contained in the container 76 is injected between the panels 60.

액정의 주입동안 패널(60)과 접하는 경사부를 온도 조절판에 의하여 고온으로 유지하는 것에 의하여, 액정이 주입되면서 열처리 효과를 이룰 수 있도록 한다.By maintaining the inclined portion in contact with the panel 60 at a high temperature by the temperature control plate during the injection of the liquid crystal, the liquid crystal is injected to achieve the heat treatment effect.

상기와 같은 액정주입장치의 사용은 액정의 주입 속도를 향상시킨다.The use of the liquid crystal injection device as described above improves the injection speed of the liquid crystal.

다음으로, 상기와 같이 준비된 패널을 이용하여 배향막의 불량을 검사하는 방법을 설명한다.Next, the method of inspecting the defect of an oriented film using the panel prepared as mentioned above is demonstrated.

도 9를 참조하면, 배향막 불량 검사용 패널의 상하부에 상, 하 편광판(82, 84)이 배치된다. 여기서, 상, 하 편광판(82, 84)은 편광방향이 회전가능하게 놓여진다.Referring to FIG. 9, upper and lower polarizing plates 82 and 84 are disposed above and below the alignment film defect inspection panel. Here, the upper and lower polarizing plates 82 and 84 are placed so that the polarization direction is rotatable.

하부 편광판(84)의 하측에는 광을 조사하기 위한 광원, 예를 들어 백 라이트(86)가 설치되고, 테스트 패널의 노출된 투명전극에는 전압을 인가하기 위한 전압 인가장치가 준비된다. 전압 인가 장치의 일측 단자는 제 3 기판(10)의 돌출된 부분에 노출된 투명전극(12)에 연결되고, 타측 단자는 제 4 기판(20)의 돌출된 부분의 노출된 투명전극(14)에 연결된다.A light source for irradiating light, for example, a backlight 86 is provided below the lower polarizing plate 84, and a voltage applying device for applying a voltage to the exposed transparent electrode of the test panel is prepared. One terminal of the voltage applying device is connected to the transparent electrode 12 exposed to the protruding portion of the third substrate 10, and the other terminal is the exposed transparent electrode 14 of the protruding portion of the fourth substrate 20. Is connected to.

여기서, 도 5에 도시된 경우와는 달리, 제 3 기판(10)과 제 4 기판(20)의 돌출된 부분의 상부에 배향막이 남아 있는 경우에도, 배향막은 얇기 때문에, 그 하부의 투명전극으로 전압을 인가하는 데에는 별 문제가 없다.Here, unlike the case shown in FIG. 5, even when the alignment film remains on the upper portions of the protruding portions of the third substrate 10 and the fourth substrate 20, since the alignment film is thin, the transparent electrode under the transparent electrode is formed. There is no problem in applying the voltage.

한편, 제 3 기판, 제 4 기판(10, 20) 사이에 개재된 액정(30)은, 예를 들어 트위스티드 네마틱(Twisted Nematic) 타입으로서, 투명전극에 전압이 인가되지 않은 상태에서는 소정의 프리틸트(pretilt) 각을 갖고서, 약 90도 정도 꼬여진 상태로 배향막의 러빙 방향을 따라서 정렬되어 있다. 선택적으로 액정(30)은 꼬임각이 약 180 도 내지 270도 범위를 갖는 슈퍼 트위스티드 네마틱 타입이 사용될 수 있다.Meanwhile, the liquid crystal 30 interposed between the third and fourth substrates 10 and 20 is, for example, a twisted nematic type and has a predetermined free state in a state where no voltage is applied to the transparent electrode. It has a tilt angle and is aligned along the rubbing direction of the alignment film while being twisted about 90 degrees. Optionally, the liquid crystal 30 may be a super twisted nematic type having a twist angle in the range of about 180 degrees to 270 degrees.

다음으로, 인가된 전압을 가변하여 그레이 스케일(Gray scale)을 변화시키는 동시에 상하 편광판의 상대적인 편광 방향을 변화시켜서 배향막의 불량을 검사한다.Next, the applied voltage is varied to change the gray scale, and the relative polarization direction of the upper and lower polarizers is changed to inspect the defect of the alignment layer.

이로부터 배향막(14, 24)의 양불 여부를 판단하여, 불량이 없는 경우, 도 3에 도시한 것처럼, 24매의 제 1 유리기판과 24매의 제 2 유리기판을 조립하는 조립공정(ST6)과, 이들을 단위 패널로 분리하는 절단 공정, 액정을 주입하고, 액정 주입구를 봉입하는 주입 및 봉입 공정, 및 최종 검사가 순차적으로 실시된다.From this, it is judged whether or not the alignment films 14 and 24 are unsatisfactory, and when there is no defect, the assembling step of assembling the 24 first glass substrates and the 24 second glass substrates as shown in FIG. 3 (ST6) And a cutting step of separating them into a unit panel, an injection and sealing step of injecting liquid crystal, encapsulating a liquid crystal injection hole, and a final inspection are sequentially performed.

한편, 테스트 패널에서 불량이 발견된 경우, 조립대기 상태에 있는 48매의 패널들의 표면에 있는 배향막을 제거하고, 다시 배향막을 도포하는 단계로 되돌아 간다.On the other hand, when a defect is found in the test panel, the alignment film on the surface of the 48 panels in the assembly standby state is removed, and the process returns to the step of applying the alignment film again.

세정 공정이 완료된 상태에서 본원 발명의 테스트 패널을 제작하는데 걸리는 시간은 대략 30분 정도이고, 이 테스트 패널은 조립전 대기 상태에서 제작되므로, 별도의 시간 손실이 많지 않다.The time taken to manufacture the test panel of the present invention in the state where the cleaning process is completed is about 30 minutes, and since the test panel is manufactured in the standby state before assembling, there is not much time loss.

상기한 실시예에서는, 실제 패널을 제작하는 부분 공정동안 검사용 패널 제작을 위한 모 유리기판을 2매 투입하여 실제 패널의 제작과 동일 라인에서 배향막 불량 검사용 패널을 제작하는 경우를 예를 들어 설명하였지만, 실제 패널의 제작시에 적용되는 전극의 형성공정, 배향막의 형성 및 러빙 공정, 세정공정을 적용하는 경우, 실제 패널의 제작과는 별도로 배향막 불량 검사용 패널을 제작하는 것이 가능하다. 그러나, 이러한 별도 제작방법은, 전단에서 설명한 방법과는 달리, 검사용 패널의 제작을 위한 별도의 제조 라인을 구축해야 하므로, 앞선 실시예에 비하여, 비용 측면에서 바람직하지 못하다.In the above-described embodiment, a case in which two mother glass substrates for the production of the inspection panel are added during the partial process of manufacturing the actual panel is manufactured to produce the alignment film defect inspection panel in the same line as the production of the actual panel. However, when applying the electrode formation process, the alignment film formation and rubbing process, and the washing process applied at the time of manufacturing the actual panel, it is possible to produce a panel for the inspection of the alignment film defect separately from the production of the actual panel. However, such a separate manufacturing method, unlike the method described in the previous step, because it is necessary to build a separate production line for the production of the inspection panel, it is not preferable in terms of cost, compared to the previous embodiment.

한편, 도 1과 도 2의 검사용 패널은 상기한 공정과는 다른 과정을 통하여 제조될 수 있다.Meanwhile, the inspection panel of FIGS. 1 and 2 may be manufactured through a process different from the above process.

다시 도 3을 참조하면, 세정 공정(ST4, ST24)이 완료된 25매의 TFT 기판과, 25매의 컬러필터 기판은 각각 스페이서 산포 공정(ST5)과 씰 제 디스펜싱 공정을 수행한다. 물론, 25매의 TFT기판 중, 1매의 내표면에는 ITO의 투명전극과 배향막만이 형성되어 있고, 25매의 컬러필터 기판 중, 1매의 내표면에는 ITO의 투명전극과 배향막이 형성되어 있다. 여기서, 스페이서 산포 공정(ST5)와 씰 제 디스펜싱 공정(ST25)은 앞서 설명한 실시예와는 달리 실제 액정표시기 패널용 제조 라인에서 수행된다. 그러므로, 전단의 실시예와는 달리, 스페이서 산포는 TFT기판에 행해지고, 씰 제 디스펜싱은 컬러필터 기판에 행해진다.Referring to FIG. 3 again, the 25 TFT substrates on which the cleaning processes ST4 and ST24 have been completed and the 25 color filter substrates perform the spacer spreading process ST5 and the sealant dispensing process, respectively. Of course, only one transparent electrode and an alignment film of ITO are formed on one inner surface of the 25 TFT substrates, and one transparent electrode and an alignment film of ITO are formed on one inner surface of the 25 color filter substrates. have. Here, the spacer spreading process ST5 and the sealant dispensing process ST25 are performed in the actual production line for the liquid crystal display panel, unlike the embodiment described above. Therefore, unlike the embodiment of the front end, spacer scattering is performed on the TFT substrate, and sealant dispensing is performed on the color filter substrate.

투명전극만이 전면에 형성된 2매의 모 유리기판(또는 제 3, 제 4 모 유리기판)은 분리된다. 분리된 2매의 기판은 도 4에 도시한 씰 디스펜싱 및 스페이서 산포 공정(ST42)을 수행하지 않고, 바로 조립 및 자외선 노광 공정(ST43)과, 액정 주입공정(ST44)을 통하여 도 1과 도 2에 도시한 구조를 갖는 검사 패널로 제작되어(ST26), 검사를 수행한다(ST27).Two mother glass substrates (or third and fourth mother glass substrates) formed only on the transparent electrode are separated. The two separated substrates do not perform the seal dispensing and spacer dispersing process (ST42) shown in FIG. 4, but are directly assembled and UV exposed (ST43) and the liquid crystal injection process (ST44). An inspection panel having the structure shown in Fig. 2 was produced (ST26), and inspection was performed (ST27).

여기서, 조립 및 자외선 노광 공정(ST43)과 액정 주입공정(ST44)은 도 7 및 도 8에 도시한 간이 지그를 이용하여 동일하게 수행되므로, 여기서는 그 설명을 생략한다.Here, the assembly and ultraviolet exposure process (ST43) and the liquid crystal injection process (ST44) are performed in the same manner using the simple jig shown in Figs. 7 and 8, and thus description thereof is omitted here.

현재의 실시예에 따르면, 실제 박막 트랜지스터 액정표시기 패널 제작용 24매의 TFT기판과 24매의 컬러필터 기판에 스페이서 산포 공정과 씰제 디스펜싱 공정이 수행되었으므로, 앞선 실시예와는 달리 리워킹 작업이 어렵지만, 제작된 검사용 패널을 이용하여 배향막 불량 검사를 수행하므로써, 후속 조립공정에 소요되는 재료와 시간의 손실을 방지할 수 있다.According to the present embodiment, since the spacer spreading process and the sealant dispensing process were performed on 24 TFT substrates and 24 color filter substrates for actual thin film transistor liquid crystal display panel fabrication, unlike the previous embodiment, reworking is not performed. Although it is difficult, by performing the alignment film defect inspection using the manufactured inspection panel, it is possible to prevent the loss of material and time required for the subsequent assembly process.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 배향막 불량 검사용 패널은 실제 패널에 비하여, 그 구성이 간단하면서도 실제 액정표시기 패널과 동일한 환경에서 배향막 불량 검사를 가능하게 한다.As described above, the alignment film defect inspection panel of the present invention enables the alignment film defect inspection in the same environment as the actual liquid crystal display panel while having a simpler configuration than the actual panel.

또한, 본 발명의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법은, 실제 액정표시기 패널의 조립을 위한 대기 시간동안 간단한 장비와, 약 30분 정도의 짧은 시간만으로 제작이 가능하므로, 실제 액정표시기 패널의 제작 시간에 영향을 주지 않는다.In addition, the manufacturing method of the alignment film defect inspection panel of the present invention can be manufactured in a short time of about 30 minutes and a simple equipment during the waiting time for the actual assembly of the liquid crystal display panel, the actual production time of the liquid crystal display panel Does not affect

여기에서는 본 발명의 특정 실시예에 대하여 설명하고 도시하였지만, 통상의 지식을 가진 자에 의하여 상기한 설명으로부터 변형과 변경이 가능할 것이다. 따라서, 이하 특허청구범위는 그러한 변형과 변경을 모두 포함하는 것으로 간주된다.Although specific embodiments of the present invention have been described and illustrated herein, modifications and variations may be made by those skilled in the art from the foregoing description. Accordingly, the following claims are intended to embrace all such modifications and variations.

Claims (46)

내표면 상의 전면에 각각 형성된 전극을 갖으며, 적어도 하나의 기판의 내표면에 형성된 전극이 투명하고, 각각 한 쌍의 제 1 변과 상기 제 1 변에 수직한 한 쌍의 제 2 변을 갖는 사각판 구조의 제 1, 제 2 투광성 절연기판;A square having electrodes formed on the front surface on the inner surface, the electrodes formed on the inner surface of the at least one substrate being transparent, each having a pair of first sides and a pair of second sides perpendicular to the first side First and second translucent insulating substrates having a plate structure; 상기 제 1 내지 제 2 기판의 각각의 전극 위에 형성된 배향막;An alignment film formed on each electrode of the first to second substrates; 상기 제 1 기판의 제 1 변의 단부가 대응하는 상기 제 2 기판의 제 1 변의 단부로부터 소정 거리만큼 이동된 상태로 합착된 상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판의 내표면 사이에 개재된 액정과 스페이서; 및Liquid crystals and spacers interposed between the inner surface of the first substrate and the second substrate bonded to each other with the end portion of the first side of the first substrate moved by a predetermined distance from the end of the first side of the corresponding second substrate. ; And 상기 제 1, 제 2 기판의 제 1 변 방향의 합착선을 따라 배치된 씰 라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량검사용 패널.And a seal line arranged along a joining line in a first side direction of the first and second substrates. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1, 제 2 기판은, 6매의 단위 패널에 대응하는 면적을 갖는 모 유리기판인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.The panel for inspecting defects of alignment films of a liquid crystal display according to claim 1, wherein the first and second substrates are mother glass substrates having an area corresponding to six unit panels. 제 1 항에 있어서, 상기 배향막은 폴리이미드인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.The panel for inspecting defects of alignment films of a liquid crystal display according to claim 1, wherein the alignment film is polyimide. 제 1 항에 있어서, 상기 투명한 전극은 인듐주석산화물인 것을 특징을 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.The panel for inspecting defects of alignment films of the liquid crystal display according to claim 1, wherein the transparent electrode is indium tin oxide. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 기판의 제 1 변과, 상기 제 2 기판의 제 1 변은 장변인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.The panel of claim 1, wherein the first side of the first substrate and the first side of the second substrate are long sides. 제 1 항에 있어서, 상기 한 쌍의 주 씰 라인 내에, 상기 한 쌍의 주 씰 라인과 평행하고, 상기 제 1 변과 수직한 한 쌍의 제 2 변의 각 단부로부터 소정 길이를 가지며, 제 2 폭과 제 2 간격을 갖는 다수의 보조 씰 라인을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.2. The second width of claim 1, wherein the pair of main seal lines have a predetermined length from each end of the pair of second sides parallel to the pair of main seal lines and perpendicular to the first side, and having a second width. And a plurality of auxiliary seal lines having a second spacing therebetween. 제 6 항에 있어서, 상기 보조 씰 라인의 제 2 간격은 약 2 ~ 20 mm인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.7. The panel of claim 6, wherein the second gap of the auxiliary seal line is about 2 to 20 mm. 제 1 항 또는 제 6 항에 있어서, 상기 액정은 약 90도의 꼬임각을 갖는 트위스티드 네마틱 액정인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.7. A panel according to claim 1 or 6, wherein the liquid crystal is a twisted nematic liquid crystal having a twist angle of about 90 degrees. 제 8 항에 있어서, 상기 패널은 상기 제 1, 제 2 기판의 외표면에 배치된 상, 하 편광판을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.The panel of claim 8, wherein the panel further comprises upper and lower polarizers disposed on outer surfaces of the first and second substrates. 제 8 항에 있어서, 상기 상, 하 편광판의 편광축은 서로 직교하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.10. The panel for inspecting defects in alignment film defects of a liquid crystal display according to claim 8, wherein the polarization axes of the upper and lower polarizing plates are perpendicular to each other. 제 1 항 또는 제 6 항에 있어서, 상기 액정은 약 180 내지 270도의 꼬임각을 갖는 슈퍼 트위스티드 네마틱 액정인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.7. A panel according to claim 1 or 6, wherein the liquid crystal is a super twisted nematic liquid crystal having a twist angle of about 180 to 270 degrees. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 기판과 제 2 기판 사이의 간격은 3 ~ 20μm이고, 상기 간격의 균일도는 ±2μm이하인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널.The panel of claim 1, wherein an interval between the first substrate and the second substrate is 3 to 20 µm, and a uniformity of the interval is ± 2 µm or less. 각 내표면의 전면에 전극만이 형성되고, 적어도 하나의 내표면에 형성된 전극이 투명한 제 1, 제 2 투광성 절연기판을 준비하는 단계;Preparing only first and second translucent insulating substrates having electrodes formed on a front surface of each inner surface, and transparent electrodes formed on at least one inner surface; 상기 제 1, 제 2 기판의 내표면에 배향막을 형성하고, 러빙, 및 세정하는 단계;Forming, rubbing, and cleaning an alignment layer on inner surfaces of the first and second substrates; 상기 제 1 기판의 내표면에 씰 제의 디스펜싱과 스페이서의 스프레이를 통하여, 상기 제 1 기판의 선택된 하나의 변과 평행하고, 선택 폭과 선택 간격을 갖는 한 쌍의 주 씰 라인을 형성하는 단계;Forming a pair of main seal lines on the inner surface of the first substrate, through the dispensing of the sealant and spraying the spacers, parallel to the selected one side of the first substrate and having a selected width and a selected spacing ; 상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판의 내표면이 대향하도록 합착하는 단계;Bonding the inner surface of the first substrate and the second substrate to face each other; 상기 합착된 기판의 주 씰 라인을 경화하는 단계;Curing the main seal line of the bonded substrate; 상기 합착된 상기 제 1, 제 2 기판의 내표면 사이에 액정을 주입하는 단계를 포함하며, 상기 제 1, 제 2 기판의 내표면에 형성된 상기 전극에 전압을 인가하여 배향막의 불량을 검사하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량검사용 패널의 제조방법.And injecting a liquid crystal between inner surfaces of the first and second substrates bonded to each other, and inspecting a defect of the alignment layer by applying a voltage to the electrodes formed on the inner surfaces of the first and second substrates. A method for producing a panel for inspecting alignment film defects of a liquid crystal display. 제 13 항에 있어서, 상기 제 1, 제 2 기판은, 다수의 단위 패널에 대응하는 면적을 갖는 모 유리기판인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The method of claim 13, wherein the first and second substrates are mother glass substrates having areas corresponding to a plurality of unit panels. 제 13 항에 있어서, 상기 배향막은 폴리이미드이고, 인쇄법으로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The method of manufacturing a panel for inspecting an alignment film defect of a liquid crystal display according to claim 13, wherein the alignment film is polyimide and formed by a printing method. 제 13 항에 있어서, 상기 투명한 전극은 인듐주석산화물인 것을 특징을 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The method of claim 13, wherein the transparent electrode is indium tin oxide. 제 13 항에 있어서, 상기 한 쌍의 주 씰 라인은 제 1 라인과 제 2 라인으로 구성되고, 상기 제 1 라인은, 상기 제 1 기판의 한 쌍의 상기 제 1 변의 제 1 단부를 따라서 형성되고, 제 2 라인은, 상기 제 1 변의 제 1 단부와 대향하는 제 2 단부로부터 소정 거리만큼 이격된 위치를 따라 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The pair of main seal lines of claim 13, wherein the pair of main seal lines comprise a first line and a second line, and the first line is formed along a first end of the pair of first sides of the first substrate. And a second line is formed along a position spaced apart by a predetermined distance from a second end opposite to the first end of the first side, wherein the alignment film defect inspection panel of the liquid crystal display is manufactured. 제 17 항에 있어서, 상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판의 합착은, 상기 제 1 기판의 제 1 변에 대응하는, 상기 제 2 기판의 한 쌍의 제 1 변의 일측 단부가 상기 제 2 라인을 따라서, 정렬되도록 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.18. The method of claim 17, wherein the bonding of the first substrate and the second substrate, one end of the pair of first sides of the second substrate corresponding to the first side of the first substrate is connected to the second line. Therefore, the manufacturing method of the alignment film defect inspection panel of the liquid crystal display characterized by being performed so that it may be aligned. 제 13 항에 있어서, 상기 제 1 기판의 제 1 변과, 상기 제 2 기판의 제 1 변은 장변인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The method for manufacturing an alignment film defect inspection panel according to claim 13, wherein the first side of the first substrate and the first side of the second substrate are long sides. 제 13 항에 있어서, 상기 주 씰 라인의 형성단계동안, 상기 제 1 기판의 내표면의 상기 한 쌍의 주 씰 라인 내에, 상기 한 쌍의 주 씰 라인과 평행하고, 상기 제 1 변과 수직한 한 쌍의 제 2 변의 각 단부로부터 소정 길이를 가지며, 제 2 폭과 제 2 간격을 갖는 다수의 보조 씰 라인을 추가로 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.14. The method of claim 13, wherein during the forming of the main seal line, in the pair of main seal lines of the inner surface of the first substrate, parallel to the pair of main seal lines and perpendicular to the first side. A plurality of auxiliary seal lines having a predetermined length from each end of the pair of second sides and having a second width and a second interval are further formed. 제 20 항에 있어서, 상기 보조 씰 라인의 제 2 간격은 약 2 ~ 20 mm인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.21. The method of claim 20, wherein the second interval of the auxiliary seal line is about 2 to 20 mm. 제 13 항, 제 20 항, 및 제 21 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 주 씰 라인과 상기 보조 씰 라인은 자외선의 조사에 의하여 경화되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.22. The manufacture of an alignment film defect inspection panel according to any one of claims 13, 20, and 21, wherein the main seal line and the auxiliary seal line are cured by irradiation of ultraviolet rays. Way. 제 22 항에 있어서, 상기 자외선의 조사동안, 상기 주 씰 라인 및 상기 보조 씰 라인내의 배향막으로 상기 자외선이 입사하는 것을 방지하기 위한 자외선 차단 마스크가 상기 패널의 상부에 배치되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.23. The liquid crystal display of claim 22, wherein an ultraviolet blocking mask is disposed on an upper portion of the panel to prevent the ultraviolet rays from entering the alignment layer in the main seal line and the auxiliary seal line during the irradiation of the ultraviolet rays. The manufacturing method of the panel for inspection of the orientation film defect of 제 13 항에 있어서, 상기 액정의 주입은, 합착된 상기 제 1, 제 2 기판의 한 쌍의 제 2 변의 일측변을 액정이 담겨 있는 액정용기에 담그고, 타측변에서 공기를 흡입하는 것에 의하여 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The liquid crystal injection of claim 13, wherein the liquid crystal is injected by dipping one side of the pair of second sides of the bonded first and second substrates into a liquid crystal container containing liquid crystals and sucking air from the other side. A method of manufacturing a panel for inspection of defects in alignment films of a liquid crystal display. 제 24 항에 있어서, 상기 액정은 약 90도의 꼬임각을 갖는 트위스티드 네마틱 액정인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.25. The method of claim 24, wherein the liquid crystal is a twisted nematic liquid crystal having a twist angle of about 90 degrees. 제 24 항에 있어서, 상기 액정은 약 180 내지 270도의 꼬임각을 갖는 슈퍼 트위스티드 네마틱 액정인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.25. The method of claim 24, wherein the liquid crystal is a super twisted nematic liquid crystal having a twist angle of about 180 to 270 degrees. 제 24 항에 있어서, 상기 액정의 흡입은, 상기 공기 흡입부 측이 상기 액정 주입부보다 높게 위치하도록, 상기 합착된 패널이 소정의 경사각을 가진 상태로 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.25. The alignment film defect of the liquid crystal display according to claim 24, wherein the suction of the liquid crystal is performed in a state in which the bonded panel has a predetermined inclination angle so that the air intake portion is positioned higher than the liquid crystal injecting portion. Method of manufacturing the inspection panel. 제 27 항에 있어서, 상기 액정의 흡입은, 상기 패널이 온도 조절이 가능한 온도 조절판에 안치된 상태로 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.28. The method of claim 27, wherein the suction of the liquid crystal is performed while the panel is placed on a temperature control plate capable of temperature control. 제 28 항에 있어서, 상기 온도 조절판은 소정의 경사면을 가지며, 상기 경사면의 저부에 액정을 담을 수 있는 용기 설치부분을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.29. The method of claim 28, wherein the temperature control plate has a predetermined inclined surface and includes a container mounting portion capable of containing a liquid crystal at a bottom of the inclined surface. 제 13 항에 있어서, 상기 씰 제의 디스펜싱과 상기 스페이서의 스프레이는 동시에 진행되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 불량 검사용 패널의 제조방법.The method of claim 13, wherein the dispensing of the sealant and the spraying of the spacer proceed simultaneously. 매트릭스 배열의 투명전극, 상기 투명전극에 데이터 신호를 인가하기 위한 신호선, 상기 신호선으로부터 상기 투명전극에 인가되는 데이터 신호를 스위칭 하는 스위칭 소자, 상기 스위칭 소자의 스위칭을 제어하기 위한 제어신호를 상기 스위칭 소자로 전송하는 주사선이 내표면 상에 형성된 적어도 하나의 제 1 투광성 절연기판과, 컬러필터층과 투명 대향전극이 내표면 상에 형성된 적어도 하나의 제 2 투광성 절연기판의 형성동안, 각 내표면의 전면에 전극만이 형성되고, 적어도 하나의 내표면에 형성된 전극이 투명한 제 3, 제 4 투광성 절연기판을 함께 준비하는 단계;A transparent electrode having a matrix array, a signal line for applying a data signal to the transparent electrode, a switching element for switching a data signal applied to the transparent electrode from the signal line, and a control signal for controlling switching of the switching element. At the front of each inner surface during formation of at least one first translucent insulating substrate having a scanning line transmitted to the inner surface, and at least one second translucent insulating substrate having a color filter layer and a transparent counter electrode formed on the inner surface. Preparing only the third and fourth light-transmitting insulating substrates on which only electrodes are formed and the electrodes formed on at least one inner surface are transparent; 상기 제 1 내지 제 4 기판의 내표면에 배향막을 형성하고, 러빙, 및 세정하는 단계;Forming, rubbing, and cleaning an alignment layer on an inner surface of the first to fourth substrates; 상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판의 조립 전에, 상기 제 3, 제 4 기판 중 어느 하나의 선택 기판의 내표면에 씰 제의 디스펜싱과 스페이서의 스프레이를 통하여, 상기 제 3 기판의 제 1 변과 평행하고, 선택 폭과 선택 간격을 갖는 한 쌍의 주 씰 라인을 형성하는 단계;Before assembling the first substrate and the second substrate, a first side of the third substrate is formed by dispensing a sealant and spraying spacers on an inner surface of one of the third and fourth substrates. Forming a pair of main seal lines parallel to and having a selection width and a selection spacing; 상기 제 3 기판과 상기 제 4 기판의 내표면이 대향하도록 합착하는 단계;Bonding the inner surface of the third substrate and the fourth substrate to face each other; 상기 합착된 기판의 주 씰 라인을 경화하는 단계;Curing the main seal line of the bonded substrate; 상기 합착된 상기 제 3, 제 4 기판의 내표면 사이에 액정을 주입하는 단계를 포함하며, 상기 제 3, 제 4 기판의 내표면에 형성된 상기 전극에 전압을 인가하여 배향막의 불량을 검사하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량검사용 패널의 제조방법.And injecting a liquid crystal between the inner surfaces of the third and fourth substrates bonded to each other, and inspecting a defect of the alignment layer by applying a voltage to the electrodes formed on the inner surfaces of the third and fourth substrates. A method for producing a panel for inspecting alignment film defects of a liquid crystal display. 제 31 항에 있어서, 상기 제 3, 제 4 기판은, 다수의 단위 패널에 대응하는 면적을 갖는 모 유리기판인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.32. The method of claim 31, wherein the third and fourth substrates are parent glass substrates having an area corresponding to a plurality of unit panels. 제 31 항에 있어서, 상기 배향막은 폴리이미드이고, 인쇄법으로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.32. The method of claim 31, wherein the alignment film is polyimide and formed by a printing method. 제 31 항에 있어서, 상기 투명한 전극은 인듐주석산화물인 것을 특징을 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.32. The method of claim 31, wherein the transparent electrode is indium tin oxide. 제 31 항에 있어서, 상기 한 쌍의 주 씰 라인은 제 1 라인과 제 2 라인으로 구성되고, 상기 제 1 라인은, 상기 제 3 기판의 한 쌍의 상기 제 1 변의 제 1 단부를 따라서 형성되고, 제 2 라인은, 상기 제 1 변의 제 1 단부와 대향하는 제 2 단부로부터 소정 거리만큼 이격된 위치를 따라 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.32. The method of claim 31, wherein the pair of main seal lines comprise a first line and a second line, wherein the first line is formed along a first end of the pair of first sides of the third substrate; And a second line is formed along a position spaced apart by a predetermined distance from a second end opposite to the first end of the first side, wherein the alignment film defect inspection panel of the liquid crystal display is manufactured. 제 35 항에 있어서, 상기 제 3 기판과 상기 제 4 기판의 합착은, 상기 제 3 기판의 제 1 변에 대응하는, 상기 제 4 기판의 한 쌍의 제 1 변의 일측 단부가 상기 제 2 라인을 따라서, 정렬되도록 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.36. The method of claim 35, wherein the bonding of the third substrate and the fourth substrate is such that one end of the pair of first sides of the fourth substrate corresponding to the first side of the third substrate has the second line. Therefore, the manufacturing method of the alignment film defect inspection panel of the liquid crystal display characterized by being performed so that it may be aligned. 제 31 항에 있어서, 상기 제 3 기판의 제 1 변과, 상기 제 4 기판의 제 1 변은 장변인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.32. The method of claim 31, wherein the first side of the third substrate and the first side of the fourth substrate are long sides. 제 31 항에 있어서, 상기 주 씰 라인의 형성단계동안, 상기 제 3 기판의 내표면의 상기 한 쌍의 주 씰 라인 내에, 상기 한 쌍의 주 씰 라인과 평행하고, 상기 제 1 변과 수직한 한 쌍의 제 2 변의 각 단부로부터 소정 길이를 가지며, 제 2 폭과 제 2 간격을 갖는 다수의 보조 씰 라인을 추가로 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.32. The method of claim 31, wherein during the forming of the main seal line, within the pair of main seal lines of the inner surface of the third substrate, parallel to the pair of main seal lines and perpendicular to the first side A plurality of auxiliary seal lines having a predetermined length from each end of the pair of second sides and having a second width and a second interval are further formed. 제 38 항에 있어서, 상기 보조 씰 라인의 제 2 간격은 약 2 ~ 20 mm인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The method of claim 38, wherein the second gap between the auxiliary seal lines is about 2 to 20 mm. 제 31 항, 제 38 항, 및 제 39 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 주 씰 라인과 상기 보조 씰 라인은 자외선의 조사에 의하여 경화되는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.40. The manufacture of an alignment film defect inspection panel according to any one of claims 31, 38, and 39, wherein the main seal line and the auxiliary seal line are cured by irradiation of ultraviolet rays. Way. 제 31 항에 있어서, 상기 액정의 주입은, 합착된 상기 제 3, 제 4 기판의 한 쌍의 제 2 변의 일측변을 액정이 담겨 있는 액정용기에 담그고, 타측변에서 공기를 흡입하는 것에 의하여 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.The liquid crystal injection according to claim 31, wherein the liquid crystal is injected by dipping one side of a pair of second sides of the bonded third and fourth substrates into a liquid crystal container containing liquid crystals and sucking air from the other side. A method of manufacturing a panel for inspection of defects in alignment films of a liquid crystal display. 제 41 항에 있어서, 상기 액정은 약 90도의 꼬임각을 갖는 트위스티드 네마틱 액정인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.42. The method of claim 41, wherein the liquid crystal is a twisted nematic liquid crystal having a twist angle of about 90 degrees. 제 41 항에 있어서, 상기 액정은 약 180 내지 270도의 꼬임각을 갖는 슈퍼 트위스티드 네마틱 액정인 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.42. The method of claim 41, wherein the liquid crystal is a super twisted nematic liquid crystal having a twist angle of about 180 to 270 degrees. 제 41 항에 있어서, 상기 액정의 흡입은, 상기 공기 흡입부 측이 상기 액정 주입부보다 높게 위치하도록, 상기 합착된 패널이 소정의 경사각을 가진 상태로 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.42. The alignment film defect of the liquid crystal display according to claim 41, wherein the suction of the liquid crystal is performed in a state in which the bonded panel has a predetermined inclination angle so that the air intake portion is positioned higher than the liquid crystal injecting portion. Method of manufacturing the inspection panel. 제 44 항에 있어서, 상기 액정의 흡입은, 상기 패널이 온도 조절이 가능한 온도 조절판에 안치된 상태로 행하여지는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.45. The method of claim 44, wherein the suction of the liquid crystal is performed while the panel is placed on a temperature control plate capable of temperature control. 제 45 항에 있어서, 상기 온도 조절판은 소정의 경사면을 가지며, 낮은 측에 액정을 담을 수 있는 용기 설치부분을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시기의 배향막 불량 검사용 패널의 제조방법.46. The method of claim 45, wherein the temperature control plate has a predetermined inclined surface and includes a container mounting portion capable of containing liquid crystals on a lower side thereof.
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