KR20000015694U - Apparatus for inspecting PCB - Google Patents

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Abstract

인쇄회로기판 검사기구 및 상기 검사기구를 구비한 인쇄회로기판 검사장치에 관한 본 고안은, 지지프레임과; 상기 지지프레임에 설치되며, 각각 이격되어 층을 이루는 적어도 세 개 이상의 설치판과; 상기 각 관통설치구에 삽입되어, 상단은 검사부위에 접하도록 최상층 설치판의 상부로 일정높이 연장되고, 하단은 최하층 설치판의 하부로 연장되어 소켓 및 도선을 통하여 외부테스터와 연결되고, 설치판에 지지되는 스프링에 의해 상방향으로 탄성지지되는 검사핀을 포함한다. 아울러, 적어도 두 개 이상의 가이드포스트가 바닥판에 대해 수직으로 구비되며, 바닥판의 설치위치에 상기 인쇄회로기판 검사기구가 설치된 하부프레임과; 상기 하부프레임과 대향한 상태로 하부프레임의 상부에서 승강운동하며, 대향면의 설치위치에 상기 인쇄회로기판 검사기구가 설치되고, 승강운동시 상기 가이드포스트를 내부에 포함하여 가이드하는 슬라이딩홀더를 구비하는 상부프레임을 포함하는 것을 특징으로 한다. 상기와 같이 이루어진 본 고안의 인쇄회로기판 검사기구 및 상기 검사기구를 구비한 인쇄회로기판 검사장치는, 각 검사핀간의 간격이 매우 조밀하더라도 이웃하는 검사핀과의 접촉이 발생하지 않아 검사의 신뢰성이 높고, 검사핀이 수직으로 설치되어 검사핀의 벤딩을 방지할 수 있어 장치의 사용수명이 길며 유지보수가 용이하고 검사에 소요되는 원가를 매우 많이 줄일 수 있다.The present invention relates to a printed circuit board inspection mechanism and a printed circuit board inspection apparatus including the inspection mechanism; At least three mounting plates installed on the support frame and spaced apart from each other to form a layer; Inserted into each of the through-holes, the upper end is extended to a certain height to the upper portion of the uppermost mounting plate to contact the inspection site, the lower end is extended to the lower portion of the lowermost mounting plate is connected to the external tester through the socket and the conductor, the mounting plate It includes an inspection pin that is elastically supported in the upward direction by a spring supported on. In addition, at least two guide posts are provided perpendicular to the bottom plate, the lower frame is installed the printed circuit board inspection mechanism in the installation position of the bottom plate; Lifting movement in the upper portion of the lower frame in a state facing the lower frame, the printed circuit board inspection mechanism is installed at the installation position of the opposite surface, and provided with a sliding holder for guiding the guide posts in the lifting movement It characterized in that it comprises an upper frame. The printed circuit board inspection mechanism of the present invention and the printed circuit board inspection apparatus provided with the inspection mechanism, as described above, do not come into contact with neighboring inspection pins even if the spacing between the inspection pins is very tight. High, the test pin is installed vertically to prevent the bending of the test pin, the service life of the device is long, easy maintenance and can greatly reduce the cost of inspection.

Description

인쇄회로기판 검사기구 및 상기 검사기구를 구비한 인쇄회로기판 검사장치{Apparatus for inspecting PCB}Printed circuit board inspection device and a printed circuit board inspection device provided with the inspection device {Apparatus for inspecting PCB}

본 고안은 인쇄회로기판은 물론 인쇄회로기판에 실장된 각종 부품을 포함하는 전기회로가 올바르게 형성되었나 검사하는 인쇄회로기판 검사기구 및 상기 검사기구를 탑재하여 검사를 수행하는 인쇄회로기판 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a printed circuit board inspection mechanism for inspecting whether an electric circuit including various components mounted on a printed circuit board as well as a printed circuit board is correctly formed and a printed circuit board inspection apparatus for carrying out the inspection by mounting the inspection mechanism. will be.

인쇄회로기판에 있어서, 각종부품의 정확한 실장 및 적절한 회로의 형성여부는 제품의 신뢰성과 직결되므로, 인쇄회로기판은 물론 부품실장이 완료된 인쇄회로기판의 요소요소에 검사핀을 접촉시켜 회로의 상태를 점검하는 여러장치가 사용되고 있다.In printed circuit boards, the correct mounting of various components and the formation of appropriate circuits are directly related to the reliability of the product. Therefore, the test pins are brought into contact with the printed circuit board as well as with the component elements of the printed circuit board where the component mounting is completed. Several devices are being used to check.

수많은 종류의 인쇄회로기판의 올바른 구성여부를 체크하기 위하여, 종래로부터 여러종류의 검사장비가 사용되어 왔다. 이는 회로기판의 패턴에 따라 지지판에 고정한 검사핀을, 인쇄회로기판의 검사부위와 전기적으로 접속시켜 전류의 흐름을 감지함으로써 검사를 수행하는 원리를 따른 것이다.In order to check the correct configuration of many types of printed circuit boards, various types of inspection equipment have been used in the past. This is in accordance with the principle of performing the inspection by sensing the flow of current by electrically connecting the test pin fixed to the support plate in accordance with the pattern of the circuit board, the test portion of the printed circuit board.

그러나, 상기와 같이 지지판에 고정시킨 수많은 검사핀을 검사부위에 접촉시켜 전류의 이동을 감지하는 종래의 방법은, 검사핀내에 스프링을 내장하여야 하므로 핀의 두께에 의해 집적도가 높은 회로를 검사할 수 없었다. 또한 집적도가 높은 회로를 검사하기 위해 바늘 형태의 탐침과 탄성핀을 겸용하여 검사를 수행할 수 있었지만, 이 또한 고가의 탄성핀을 필요로 하고 특히 탐침을 검사부위에 접촉시키기 위하여 사선방향으로 기울여야 하므로, 탐침의 벤딩이 발생하여 정확한 검사를 수행할 수 없어 검사의 신뢰성을 기할 수 없다는 문제가 있었다.However, in the conventional method of detecting the movement of current by contacting a large number of test pins fixed to the support plate to the test site, a spring must be built in the test pin, so that a high integration circuit can be tested by the thickness of the pin. There was no. In addition, the test could be performed by using a needle-type probe and an elastic pin to test a highly integrated circuit, but this also requires an expensive elastic pin, and in particular, the probe must be inclined diagonally to contact the inspection site. As a result, the bending of the probe occurred, so that the accurate test could not be performed and thus the reliability of the test could not be achieved.

본 고안은 상기 문제점을 해소하고자 안출한 것으로서, 별도의 탄성핀을 사용함 없이 스프링이 구비된 검사핀을 수직으로 설치하되, 이웃하는 검사핀간의 접촉이 발생하지 않도록 하여, 집적도가 높은 회로의 검사라 하더라도 검사의 신뢰성이 매우 높으며, 검사핀의 벤딩을 방지할 수 있어 사용수명이 길고, 또한 설치판에 검사핀을 고정하지 않고 분리와 설치가 가능하도록하여 장치의 유지보수가 용이하고, 유지보수에 소요되는 원가를 매우 많이 절감할 수 있는 인쇄회로기판 검사기구를 제공함과, 상기와 같이 구성되어 있는 검사기구를 탑재하여 정확한 승강운동을 통하여, 검사기구의 정확한 작동을 구현할 수 있도록 구성된 인쇄회로기판 검사장치를 제공함에 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the vertical installation of the test pin with a spring without using a separate elastic pin, but the contact between the neighboring test pin does not occur, it is a test of high integration circuit Even though the inspection reliability is very high, the bending of the test pins can be prevented, the service life is long, and the device can be easily removed and installed without fixing the test pins on the mounting plate. Printed circuit board inspection configured to provide a printed circuit board inspection mechanism that can greatly reduce the required cost, and to implement accurate operation of the inspection mechanism through an accurate lifting movement by mounting the inspection mechanism configured as described above. It is an object to provide a device.

도 1은 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구의 구성을 개략적으로 도시한 도면.1 is a view schematically showing the configuration of a printed circuit board inspection mechanism according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구에 있어서, 검사핀의 설치구조를 도시한 단면도.Figure 2 is a cross-sectional view showing the installation structure of the test pin in the printed circuit board inspection mechanism according to an embodiment of the present invention.

도 3a 및 도 3b은 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구에 적용되는 검사핀의 일 예를 도시한 사시도.3A and 3B are perspective views illustrating an example of a test pin applied to a PCB test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구가 장착되는 프레임의 구조를 설명하기 위하여 개략적으로 도시한 절제 사시도.Figure 4 is a schematic perspective view illustrating the structure of a frame on which a printed circuit board inspection mechanism is mounted according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사장치의 작동을 설명키 위해 개략적으로 도시한 도면.Figure 5 is a schematic view illustrating the operation of the printed circuit board inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 6은 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사장치를 사용하는 작업자의 작업동선을 설명하기 위하여 도시한 도면.Figure 6 is a view showing for explaining the operation of the worker using the printed circuit board inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Description of the code | symbol about the principal part of drawing>

11:인쇄회로기판 검사기구 13:지지프레임11: Printed circuit board inspection mechanism 13: Support frame

15:인쇄회로기판 17:검사부위15: printed circuit board 17: inspection site

19:관통설치구 21:설치판19: through hole 21: mounting plate

23:소켓 25:외부테스터23: socket 25: external tester

27:스프링 29,31:검사핀27: Spring 29, 31: Inspection pin

33:지지턱 35:걸림턱33: support jaw 35: locking jaw

37:덮개판 39;구멍37: cover plate 39; hole

41:돌기부 43:가이드포스트41: protrusion 43: guide post

45:바닥판 47:설치구45: bottom plate 47: mounting holes

49:하부프레임 51:슬라이딩홀더49: lower frame 51: sliding holder

53:상부프레임 55:도선53: upper frame 55: lead wire

57:볼트구멍 59:고정볼트57: Bolt hole 59: Fixing bolt

61:작업자 63:설치위치61: operator 63: mounting position

상기 목적을 달성하기 위하여 본 고안은, 지지프레임과; 상기 지지프레임에 설치되며, 인쇄회로기판의 검사부위에 해당하는 위치에 다수의 관통설치구가 동일형태로 형성되고, 각각 이격되어 층을 이루는 적어도 세 개 이상의 설치판과; 상기 각 관통설치구에 삽입되어, 상단은 검사부위에 접하도록 최상층 설치판의 상부로 일정높이 연장되고, 하단은 최하층 설치판의 하부로 연장되어 소켓 및 도선을 통하여 외부테스터와 연결되고, 설치판에 지지되는 스프링에 의해 상방향으로 탄성지지되는 검사핀을 포함하는 것을 특징으로 한다. 또한 상기 다수의 검사핀에 각각 설치되는 스프링은 여러층을 이루는 설치판에 고르게 분산되어, 서로 이웃하는 검사핀에 구비된 스프링은 다른 층의 설치판에 위치하여 상호 접촉이 이루어지지 않도록 구성된 것을 특징으로 한다.The present invention to achieve the above object, the support frame; At least three or more mounting plates installed on the support frame and having a plurality of through-holes formed in the same shape at positions corresponding to inspection portions of the printed circuit board, and spaced apart from each other to form layers; Inserted into each of the through-holes, the upper end is extended to a certain height to the upper portion of the uppermost mounting plate to contact the inspection site, the lower end is extended to the lower portion of the lowermost mounting plate is connected to the external tester through the socket and the conductor, the mounting plate It characterized in that it comprises a test pin elastically supported in the upward direction by a spring supported on. In addition, each of the springs installed on the plurality of test pins is evenly distributed on the mounting plate constituting a plurality of layers, the springs provided on the test pins adjacent to each other is located on the mounting plate of the other layer is configured so that mutual contact is not made It is done.

아울러, 상기 검사핀은 상방향으로 탄성지지되도록 외주에 지지턱이 형성되어 스프링에 의해 상부로 가압되며, 검사핀이 상부로 빠지지 않도록 검사핀의 상부에 걸림턱이 형성되며, 최상측 설치판의 상면에 구비되어 상기 검사핀의 상부를 내부에 포함하며 걸림턱을 하부로 가압하는 구멍이 형성되어 있는 덮개판을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.In addition, the test pin is formed on the outer periphery so that the support pin is elastically supported in the upper direction is pressed to the upper by a spring, the locking jaw is formed on the upper portion of the test pin so that the test pin does not fall to the top, It is characterized in that it further comprises a cover plate which is provided on the upper surface and includes an upper portion of the test pin therein and a hole for pressing the locking step to the bottom.

또한 상기 검사핀의 몸체에는 관통설치구의 지름보다 크게 형성된 돌기부가 마련되어, 검사핀이 관통설치구를 통해 설치판의 상부로 빠져나가지 않으며, 상기 돌기부의 하부와 설치판 상면사이에 스프링이 설치되어 검사핀을 상부로 탄성지지하는 것을 특징으로 한다.In addition, the body of the test pin is provided with a projection formed larger than the diameter of the through mounting hole, the test pin does not escape to the upper portion of the mounting plate through the through mounting hole, the spring is installed between the lower portion of the protrusion and the upper surface of the mounting plate It characterized in that the pin is elastically supported to the top.

아울러, 본 고안은 적어도 두 개 이상의 가이드포스트가 바닥판에 대해 수직으로 구비되며, 바닥판의 설치위치에 상기 인쇄회로기판 검사기구가 설치된 하부프레임과; 상기 하부프레임과 대향한 상태로 하부프레임의 상부에서 승강운동하며, 대향면의 설치위치에 상기 인쇄회로기판 검사기구가 설치되고, 승강운동시 상기 가이드포스트를 내부에 포함하여 가이드하는 슬라이딩홀더를 구비하는 상부프레임을 포함하는 것을 특징으로 하며, 상부프레임에 구비된 검사핀과 하부프레임에 구비된 검사핀은 동일 수직선상에 위치하여, 상호 근접시 인쇄회로기판의 검사부위를 사이에 두고 전기적 접속을 이루는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention is provided with at least two guide posts vertically with respect to the bottom plate, the lower frame is provided with the printed circuit board inspection mechanism in the installation position of the bottom plate; Lifting movement in the upper portion of the lower frame in a state facing the lower frame, the printed circuit board inspection mechanism is installed at the installation position of the opposite surface, and provided with a sliding holder for guiding the guide posts in the lifting movement And an inspection frame provided in the upper frame and an inspection pin provided in the lower frame are positioned on the same vertical line, and when the proximity pins are adjacent to each other, an electrical connection is made between the inspection portions of the printed circuit board. Characterized in forming.

이하, 본 고안을 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구의 구성을 설명하리 위하여 개략적으로 도시한 도면이다.1 is a view schematically showing the configuration of a printed circuit board inspection mechanism according to an embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 본 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구(11)는, 바닥판에 볼트구멍(57)을 구비하며 세 개의 설치판(21)을 검사대상인 인쇄회로기판(15)의 하부에 위치시키는 지지프레임(13)과, 상기 지지프레임(13)에 설치되어 지지되는 세 개의 설치판(21)과, 상기 설치판(21)을 관통하며 지지되고 외부 테스터(도 5의 25)와 연결되는 검사핀(29,31)을 포함하여 구성된다.As shown, the printed circuit board inspection mechanism 11 according to the present embodiment includes a bolt hole 57 in the bottom plate and three mounting plates 21 at the lower portion of the printed circuit board 15 to be inspected. A support frame 13 to be positioned, three mounting plates 21 installed and supported on the support frame 13, and are supported through the mounting plate 21 and connected to an external tester (25 in FIG. 5). It is configured to include a test pin (29,31).

먼저, 상기 설치판(21)은 절연체로 이루어진 플레이트로서, 여러종류의 검사핀(29,31)이 관통하여 설치될 수 있도록 관통설치구(19)가 형성되어 있다. 상기 관통설치구(19)는 검사핀의 승강운동을 가이드하며 검사핀의 종류에 따라 상이한 지름을 갖는다. 본 실시예에서는 설치판(21)이 세 개가 구비되어 있지만, 설치판(21)의 개수는 검사핀의 길이에 비례하여 세 개 이상으로 구성할 수 도 있음은 물론이다. 상기 각 설치판(21)에 형성되어 있는 관통설치구(19)는 수직으로 형성되며 각 설치판(21)에 동일한 패턴으로 이루어져 검사핀(29,31)은 세 개의 설치판(21)을 동시에 관통하여 수직으로 위치지워질 수 있다.First, the mounting plate 21 is a plate made of an insulator, and a through mounting hole 19 is formed so that various kinds of inspection pins 29 and 31 can be installed therethrough. The through hole 19 guides the lifting motion of the test pin and has a different diameter according to the type of the test pin. In this embodiment, three mounting plates 21 are provided, but the number of mounting plates 21 may be configured in three or more in proportion to the length of the test pin. The through-holes 19 formed in each of the mounting plates 21 are formed vertically and have the same pattern on each of the mounting plates 21, so that the test pins 29 and 31 simultaneously form three mounting plates 21. It can be positioned vertically through.

한편, 상기 설치판(21)중의 최상측 설치판(21)의 상면에는 덮개판(37)이 구비된다. 상기 덮개판(37)은 후술할 검사핀(29)이 상부로 빠져 나가지 않도록 검사핀(29)에 가압력을 제공하는 지지판으로서, 다수의 구멍(39)이 형성되어 있다. 상기 구멍(39)은 설치판(21)에 형성되어 있는 관통설치구(19)와 동일한 배열로 형성되어 있어, 덮개판(37)의 상면으로부터 각 검사핀(29,31)의 상단부가 돌출되도록 한다.On the other hand, the cover plate 37 is provided on the upper surface of the uppermost mounting plate 21 of the mounting plate 21. The cover plate 37 is a support plate for providing a pressing force to the test pin 29 so that the test pin 29 to be described later does not escape upward, and a plurality of holes 39 are formed. The holes 39 are formed in the same arrangement as the through mounting holes 19 formed in the mounting plate 21 so that the upper end portions of the test pins 29 and 31 protrude from the upper surface of the cover plate 37. do.

상기 설치판(21)의 각 관통설치구(19)에 설치되는 검사핀(29,31)은 검사부위에 대응하여 여러 가지 종류의 검사핀을 적용할 수 있다. 본 실시예에서는 도 2에 도시한 바와 같이 두 가지 종류의 검사핀을 적용하였지만, 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)의 특성에 따라 여러종류의 검사핀을 사용할 수 있다. 즉, 검사대상부위가 비교적 넓게 형성되어 있다면 두꺼운 검사핀을 사용하고, 반대로 검사대상부위가 매우 얇거나 좁은 경우에는 얇은 검사핀을 사용하는 것이다.The inspection pins 29 and 31 installed in the through-holes 19 of the mounting plate 21 may apply various types of inspection pins corresponding to the inspection sites. In the present embodiment, two types of test pins are applied as shown in FIG. 2, but various types of test pins may be used according to the characteristics of the test part 17 of the printed circuit board 15. That is, if the inspection target region is formed relatively wide, use a thick inspection pin, on the contrary, if the inspection target region is very thin or narrow, use a thin inspection pin.

각 검사핀(29,31)은 관통설치구(19)와 구멍(39)를 통하여 상단부가 검사할 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)에 충분히 접촉할 수 있도록 돌출되어 위치하며, 하단부는 소켓(23)과 도선(55)을 통해 외부테스터(도 5의 25)에 연결된다. 아울러 상기 각 검사핀(29,31)은 스프링(27)에 의해 상방향으로 탄성지지되고 있어, 각 검사핀(29,31)과 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)와의 접촉은 탄성적으로 이루어진다.The inspection pins 29 and 31 protrude from the through-hole 19 and the hole 39 so that the upper end thereof can sufficiently contact the inspection part 17 of the printed circuit board 15 to be inspected. Is connected to the external tester (25 in FIG. 5) through the socket 23 and the lead 55. In addition, the test pins 29 and 31 are elastically supported upward by the springs 27, and the test pins 29 and 31 are in contact with the test portion 17 of the printed circuit board 15. It is done sexually.

도 2는 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구에 있어서, 검사핀의 설치구조를 설명하기 위하여 도시한 부분 단면도이다.2 is a partial cross-sectional view illustrating the installation structure of the test pin in the printed circuit board inspection mechanism according to an embodiment of the present invention.

상기한 도면부호와 동일한 도면부호는 동일한 기능의 동일한 부재를 가리킨다.The same reference numerals as the above reference numerals denote the same members having the same function.

도시한 바와 같이, 본 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구에 적용되는 검사핀은 두 가지 종류의 검사핀으로 이루어진다. 즉, 도면상 좌측에 설치되어 있는 검사핀(29)은 우측에 설치되어 있는 검사핀(31)에 비해 두께가 굵다. 상기와 같은 검사핀의 굵기는 인쇄회로기판의 검사대상부위(도 1의 17)의 상태에 대응하여 결정되어짐은 상기한 바와 같다. 따라서 도면에 도시하지 않은 다른 구조의 검사핀이 적용될 수 도 있는 것이다.As shown, the test pins applied to the printed circuit board test mechanism according to the present embodiment consists of two types of test pins. That is, the inspection pin 29 provided on the left side in the drawing is thicker than the inspection pin 31 provided on the right side. The thickness of the test pin as described above is determined in correspondence with the state of the inspection target region (17 in Fig. 1) of the printed circuit board as described above. Therefore, test pins of other structures not shown in the drawings may be applied.

세 개의 설치판(21)에 수직으로 설치되어 있는 도면상 좌측의 검사핀(29)은 스프링(27)에 의해 상방향으로 탄성지지된다. 먼저, 검사핀(29)은 상단부가 덮개판(37)의 상부로 돌출되어 있으며, 덮개판(37)의 구멍(39) 테두리부에 의해 걸려 외부로 빠져 나가지 못하도록 외주면에 걸림턱(35)이 형성되어 있다. 상기 걸림턱(35)이 형성되어 있는 부위는 관통설치구(19)내부에 포함되며, 관통설치구(19)의 내주면에 의해 상하 승강운동이 가이드 된다.The inspection pin 29 on the left side of the drawing installed vertically on the three mounting plates 21 is elastically supported upward by the spring 27. First, the inspection pin 29 has an upper end protruding to an upper portion of the cover plate 37, and the locking jaw 35 is formed on the outer circumferential surface of the test pin 29 so as to be caught by the edge of the hole 39 of the cover plate 37 so as not to escape to the outside. Formed. A part where the locking jaw 35 is formed is included in the penetrating fitting 19, and the up and down lifting movement is guided by the inner circumferential surface of the penetrating fitting 19.

상기 걸림턱(35)의 하측부에는 지지턱(33)이 형성되어 있다. 상기 지지턱(33)은 스프링(27)의 탄성력을 전달받기 위해 형성한 턱으로써, 스프링(27)의 상단부와 접하여 상방향으로 탄성력을 받는다. 상기 지지턱(33) 및 걸림턱(35)은 검사핀(29)과 일체로 형성되며 전체적으로 원통형의 형상을 취한다.The support jaw 33 is formed at the lower side of the locking jaw 35. The support jaw 33 is a jaw formed to receive the elastic force of the spring 27 and is in contact with the upper end of the spring 27 to receive the elastic force in the upward direction. The support jaw 33 and the locking jaw 35 are integrally formed with the test pin 29 and have a cylindrical shape as a whole.

검사핀(29)을 감싸며 지지턱(33)의 하부에 설치된 스프링(27)의 하단은 설치판(21)에 올려져 상방향으로 지지된다. 따라서, 각각의 스프링(27)은 검사핀(29)를 감싼 상태로 설치판(21)과 지지턱(33) 사이에서 압축된 상태로 설치되어, 지지턱(33)을 화살표 a방향으로 가압지지한다. 상기 스프링(27)의 외경은 관통설치구(19)의 직경보다 크고, 내경은 지지턱(33)보다 작게 형성하여 검사핀(29)을 상방향으로 가압한다.The lower end of the spring 27 wrapped around the test pin 29 and installed on the lower side of the support jaw 33 is mounted on the mounting plate 21 and supported upward. Therefore, each spring 27 is installed in a compressed state between the mounting plate 21 and the support jaw 33 while wrapping the test pin 29, the support jaw 33 is pressed in the direction of the arrow a do. The outer diameter of the spring 27 is larger than the diameter of the through-hole 19, the inner diameter is formed smaller than the support jaw 33 to press the test pin 29 in the upward direction.

한편, 회로의 집적기술이 점차 첨단화 하는 경향에 따라, 회로검사기구도 정밀해져야 하는데, 이와같은 요구에 의해 각 검사핀간의 간격이 점차 미세해지고 있다. 그런데 각 검사핀 및 검사핀에 구비된 스프링의 직경에 의해 검사핀을 더 이상 조밀하게 설치할 수 없는 경우가 발생한다. 이와 같은 경우는 각 검사핀의 간격이 매우 조밀해져 상호 이웃한 검사핀이 승강운동중 서로 접촉될 수 있기 때문에 발생한다. 특히 스프링(27)은 검사핀를 감싸고 있으므로, 외경이 커 상기와 같은 경우가 더욱 발생할 수 있는데, 본 고안에서는 상기와 같은 문제를 해결하기 위해 스프링(27)을 설치판(21)의 각 층에 고르게 분배하여 구성하였다. 즉, 상호 이웃하는 검사핀에 구비되는 스프링(27)을 설치판(21)의 서로 다른 층에 구비하여, 이웃하는 스프링(27)이 서로 부딪혀 간섭하거나 또는 전기적인 접속이 일어나지 않도록 한다.On the other hand, as the circuit integration technology is gradually advanced, the circuit inspection mechanism must be precise, and the gap between the inspection pins is gradually getting smaller due to such a requirement. However, due to the diameter of the spring provided in each test pin and the test pin can not be installed densely any more test pin. This case occurs because the space between the test pins is very dense so that adjacent test pins can contact each other during the lifting motion. In particular, since the spring 27 surrounds the test pin, the outer diameter may be larger, so that the above case may occur. In order to solve the above problem, the spring 27 is evenly applied to each layer of the mounting plate 21. Dispensed. That is, the springs 27 provided on the test pins adjacent to each other are provided on different layers of the mounting plate 21 so that the neighboring springs 27 do not collide with each other to interfere with each other or electrical connection occurs.

따라서, 도 2에 도시한 바와 같이 검사핀 29중에서 좌측에 도시되어 있는 검사핀과 우측에 도시되어 있는 검사핀(29)의 스프링이 설치판(21)의 서로 다른 층에 설치되어 접촉이 이루어지지 않는다. 따라서, z만큼의 스프링(27)의 겹침거리에 의한 간섭을 방지할 수 있다. 만약 스프링(27)이 같은 층에 설치되어 있다면, 스프링(27)이 간격 z만큼 겹쳐 전기적으로 접속되어 검사를 수행할 수 없을 것이다. 설치판(21)의 개수가 더 많아지면 스프링(27)도 각 층별로 고르게 설치할 수 있으므로 스프링(27)의 설치위치도 더욱 다양해진다.Therefore, as shown in FIG. 2, the springs of the test pins shown on the left side and the test pins 29 shown on the right side of the test pins 29 are installed on different layers of the mounting plate 21 so that contact is not made. Do not. Therefore, interference by the overlapping distance of the springs 27 as much as z can be prevented. If the springs 27 are installed on the same layer, the springs 27 will be electrically connected by overlapping the interval z and the inspection will not be possible. If the number of the mounting plate 21 is more, the spring 27 can also be installed evenly for each floor, the installation position of the spring 27 also becomes more diverse.

상기 검사핀(29,31)의 하단부에는 소켓(23)이 물려있다. 상기 소켓(23)은 도선(55)을 통해 외부테스터(도 5의 25)와 연결을 이루며, 검사핀(29,31)과 외부테스터를 연결시켜준다.The socket 23 is bitten at the lower end of the test pins 29 and 31. The socket 23 is connected to the external tester (25 in FIG. 5) through the conductive wire 55, and connects the test pins (29, 31) and the external tester.

상기한 검사핀(29)의 우측에 도시한 검사핀(31)은, 검사핀 29에 비하여 상대적으로 가는 형상을 취한다. 검사핀(31)은 상기한 검사핀 29보다 더욱 가늘어 지지턱(33)이나 걸림턱(35)를 가공할 수 없어, 그 대신 동일한 기능을 하는 돌기부(41)를 구비한다. 상기 돌기부(41)는 지지턱(33) 및 걸림턱(35)의 역할을 하여, 검사핀(31)이 설치판(21)으로부터 외부로 빠져나가지 않도록 하며, 또한 스프링(27)에 의해 검사핀(31)이 상부로 탄성지지되도록 한다. 즉, 검사핀(31)에 형성된 돌기부(41)는 설치판(21)의 저면에 걸려 상부로 이동하지 못하게 하는 스토퍼의 역할을 하며, 이와동시에 돌기부(41)와 설치판(21)사이에 스프링(27)이 압축된 상태로 설치되어, 스프링(27)으로부터 상방향 탄성력을 받는다. 따라서, 상기 스프링(27)은 설치판(21)에 의해 지지된 상태로, 검사핀(31)의 돌기부(41)를 화살표 a의 방향으로 탄성지지한다. 상기한 바와 마찬가지로 검사핀(31)를 감싸며 설치된 스프링(27)은 설치판(21)의 각 층에 고르게 분산되어 설치된다. 따라서, 서로 이웃하는 스프링(27)간의 접촉이 발생하지 않아 검사의 신뢰성을 기할 수 있다.The test pin 31 shown on the right side of the test pin 29 has a relatively thin shape as compared with the test pin 29. The test pin 31 is thinner than the test pin 29 described above and cannot process the supporting jaw 33 or the locking jaw 35, and instead includes the protrusion 41 having the same function. The protrusion 41 serves as the support jaw 33 and the locking jaw 35 to prevent the test pin 31 from escaping from the mounting plate 21 to the outside, and also by the spring 27. The 31 is elastically supported upwards. That is, the protrusion 41 formed on the inspection pin 31 serves as a stopper that is caught on the bottom of the mounting plate 21 and prevents it from moving upward, and at the same time, a spring between the protrusion 41 and the mounting plate 21. The 27 is installed in a compressed state, and receives an upward elastic force from the spring 27. Therefore, the spring 27 is supported by the mounting plate 21, and elastically supports the projection 41 of the test pin 31 in the direction of the arrow a. As described above, the springs 27 installed surrounding the test pins 31 are evenly distributed on each layer of the mounting plate 21. Therefore, contact between the adjacent springs 27 does not occur, thereby ensuring the reliability of the inspection.

도 3a 및 도 3b는 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구에 적용된 검사핀의 형상을 도시한 사시도이다.3A and 3B are perspective views illustrating the shape of a test pin applied to a printed circuit board test mechanism according to an embodiment of the present invention.

도 3a에 도시한 검사핀(31)은 마치 바늘과 같은 형상을 취하여 매우 가늘게 형성되고 상단부는 빼쭉하게 하여, 극세밀한 검사부위에도 용이하게 접촉시킬 수 있으며, 몸통부에는 돌기부(41)가 마련되어 있다. 상기 돌기부(41)는 검사핀(31)을 측방향으로 프레싱하여 소성변형시켜 형성한 것으로, 돌기부(41)의 형성위치는 사전에 설계된 설치판(21)의 개수나 두께에 따라 결정된다.The inspection pin 31 shown in Fig. 3a is shaped like a needle and is very thin, and the upper end is thickened so that the inspection pin 31 can be easily brought into contact with the minute inspection part, and the body 41 is provided with a protrusion 41. . The protrusion 41 is formed by pressing the test pin 31 in the lateral direction and plastically deforming. The position of the protrusion 41 is determined according to the number or thickness of the mounting plate 21 previously designed.

이에 비하여 도 3b에 도시한 검사핀(29)에는 걸림턱(35)과 지지턱(33)이 기계가공에 의해 형성되어 있다. 도면부호 35는 덮개판(37)의 구멍(39)에 걸려 외부로 빠져나가지 않게하는 걸림턱이며, 상기 걸림턱(35)의 하부에는 지지턱(33)이 형성되어 검사핀(29)이 스프링(도 2의 27)으로부터 탄성력을 받도록 한다.On the other hand, on the inspection pin 29 shown in FIG. 3B, the locking jaw 35 and the support jaw 33 are formed by machining. Reference numeral 35 is a locking jaw to catch the hole 39 of the cover plate 37 so as not to escape to the outside, the support jaw 33 is formed in the lower portion of the locking jaw 35 so that the test pin 29 is a spring To receive the elastic force from (27 in Fig. 2).

검사핀(29,31)을 이루는 소재의 지름이 대략 0.7mm보다 작을 경우에는, 소재를 프레싱하여 도 3a에 도시한 바와 같이 돌기부(41)를 형성한 검사핀(31)을 제작하며, 소재의 지름이 0.7mm보다 클 경우에는, 소재를 기계가공 하여 도 3b에 도시한 바와 같이 걸림턱(35) 및 지지턱(33)을 형성한 검사핀(29)을 제작함이 바람직하다.When the diameter of the material forming the test pins 29 and 31 is smaller than approximately 0.7 mm, the test pin 31 is formed by pressing the material to form the protrusions 41 as shown in FIG. 3A. When the diameter is larger than 0.7mm, it is preferable to manufacture the test pin 29 having the engaging jaw 35 and the supporting jaw 33 by machining the material.

도 4는 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사기구를 탑재하여 승강운동시킴으로써 검사를 수행하는 인쇄회로기판 검사장치의 상하부 프레임을 개략적으로 도시한 부분 절제 사시도이다.4 is a partial cutaway perspective view schematically illustrating a top and bottom frames of a printed circuit board inspection apparatus for performing inspection by mounting and lifting a printed circuit board inspection mechanism according to an embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 인쇄회로기판 검사장치는 상부프레임(53)과 하부프레임(49)를 포함하여 구성된다.As shown, the printed circuit board inspection apparatus includes an upper frame 53 and a lower frame 49.

상기 하부프레임(49)에는 네 개의 가이드포스트(43, guide post)가 바닥판(45)에 대해 대체로 수직으로 고정 설치되어 있다. 상기 가이드포스트(43)는 후술할 상부프레임(53)의 슬라이딩홀더(51)내에 삽입되어 상부프레임의 승강운동을 가이드하는 부재로서 일정두께를 가져 강성을 구비한다. 상기 바닥판(45)의 중앙부에는 네 개의 설치구(47)가 마련되어 있다. 상기 설치구(47)는 지지프레임(13)에 형성되어 있는 볼트구멍(57)과 동일축상에 위치하여 고정볼트(59)가 끼워지는 구멍으로서, 고정볼트(59)에 의해 인쇄회로기판 검사기구(11)는 하부프레임(49)의 설치위치(63)에 설치될 수 있는 것이다.Four guide posts 43 are fixed to the lower frame 49 in a substantially vertical manner with respect to the bottom plate 45. The guide post 43 is inserted into the sliding holder 51 of the upper frame 53 to be described later as a member for guiding the lifting movement of the upper frame has a certain thickness and has rigidity. Four mounting holes 47 are provided at the center of the bottom plate 45. The mounting hole 47 is located on the same axis as the bolt hole 57 formed in the support frame 13 and is a hole into which the fixing bolt 59 is fitted. The fixing bolt 59 is a printed circuit board inspection mechanism. 11 is to be installed in the installation position 63 of the lower frame (49).

한편, 상기 하부프레임(49)의 상부에서 승강운동하는 상부프레임(53)에는 네 개의 슬라이딩홀더(51)가 구비되어 있다. 상기 슬라이딩홀더(51)는 가이드포스트(43)와 동일한 축중심을 가지며, 대략 파이프의 형상을 가져 상부프레임(53)이 하강할 때 내부에 가이드포스트(43)를 수용하여 상부프레임(53)의 승강운동을 가이드한다. 아울러, 상부프레임(53)의 하부프레임(49)에 대향하는 대향면에도 설치구(47)가 형성되며, 상기 설치구(47)에 고정볼트(59)에 의해 인쇄회로기판 검사기구(11)가 설치된다.Meanwhile, four sliding holders 51 are provided on the upper frame 53 that moves up and down on the lower frame 49. The sliding holder 51 has the same axial center as the guide post 43, and has a shape of a pipe, and accommodates the guide post 43 therein when the upper frame 53 descends, thereby Guide your lifting exercises. In addition, an installation tool 47 is formed on an opposite surface of the upper frame 53 facing the lower frame 49, and the printed circuit board inspection mechanism 11 is fixed to the installation tool 47 by a fixing bolt 59. Is installed.

도 5는 상기 상부프레임과 하부프레임에 인쇄회로기판 검사기구(11)가 설치된 인쇄회로기판 검사장치의 작동을 설명하기 위하여 도시한 도면이다.5 is a view for explaining the operation of the printed circuit board inspection apparatus provided with the printed circuit board inspection mechanism 11 in the upper frame and the lower frame.

상기한 도면부호와 동일한 도면부호는 동일한 기능의 동일한 부재를 가리킨다.The same reference numerals as the above reference numerals denote the same members having the same function.

도시한 바와 같이, 본 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사장치는 검사의 대상인 인쇄회로기판(15)을 사이에 두고, 상호 대향하는 하부프레임(49)과 상부프레임(53)을 포함하여 구성된다. 하부프레임(49)의 설치위치(도 4의 63)에 고정볼트(59)로써 설치된, 인쇄회로기판 검사기구(11)의 각 검사핀(29,31)은 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)에 대응하며 수직으로 설치되고, 하단은 도선(55)에 의해 외부테스터(25)와 연결된다. 또한 상기 상부프레임(53)에 설치된 검사기구(11)는, 아래를 향하여 거꾸로 고정 설치되어, 하부프레임(49)에 설치된 검사기구(11)와 대향하고 있다.As shown, the printed circuit board inspection apparatus according to the present embodiment includes a lower frame 49 and an upper frame 53 which face each other with the printed circuit board 15 to be inspected therebetween. The inspection pins 29 and 31 of the printed circuit board inspection mechanism 11, which are installed as fixing bolts 59 at the installation position (63 in FIG. 4) of the lower frame 49, are inspected portions of the printed circuit board 15. Corresponding to (17) and installed vertically, the lower end is connected to the external tester 25 by a conductive wire (55). In addition, the inspection mechanism 11 provided in the upper frame 53 is fixedly installed backwards and faces the inspection mechanism 11 provided in the lower frame 49.

따라서, 하부프레임(49)에 설치된 검사기구(11)에 구비한 검사핀(29,31)과 상부프레임(53)에 구비된 검사핀(29,31)은 상호 대응하며 동일 수직선상에 위치하여, 상부프레임(53)의 하강시 상호 근접하여 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)를 사이에 두고 전기적 접속을 이루도록 되어 있다. 상부프레임(53)에 위치한 각 검사핀(29,31)도 도선(55)에 의해 외부 테스터(25)와 연결됨은 물론이다.Therefore, the test pins 29 and 31 provided in the inspection mechanism 11 installed on the lower frame 49 and the test pins 29 and 31 provided in the upper frame 53 correspond to each other and are located on the same vertical line. When the upper frame 53 descends, the electrical connection is made to be close to each other with the inspection part 17 of the printed circuit board 15 interposed therebetween. Each of the test pins 29 and 31 positioned in the upper frame 53 is also connected to the external tester 25 by the conductor 55.

상기와 같이 이루어진 인쇄회로기판 검사장치를 작동하기 위해 검사대상물인 인쇄회로기판(15)을 상부 및 하부검사기구(11)사이에 위치시킨 상태로, 상부프레임(53)을 화살표 d의 방향으로 하강시키면, 먼저 가이드포스트(43)가 슬라이딩홀더(51)내로 삽입되며, 하부프레임(49)에 대한 상부프레임(53)의 하강운동을 가이드한다. 상부프레임(53)의 하강이 계속되면 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)에 상부프레임(53)의 검사핀과 하부프레임(49)의 검사핀이 접하게 되고, 상하부 검사핀(29,31)과 인쇄회로기판(15)와 도선(55) 및 외부테스터(25)를 포함하는 폐회로가 구성됨으로써 검사가 수행된다. 따라서, 만일 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)가 불량생산되어 단락되어 있다면, 상기 폐회로가 개방되어 외부테스터(25)에 정상신호가 전달되지 않아 인쇄회로기판의 불량을 확인할 수 있는 것이다.In order to operate the printed circuit board inspection apparatus made as described above, the upper frame 53 is lowered in the direction of the arrow d while the printed circuit board 15, which is an inspection object, is positioned between the upper and lower inspection mechanisms 11. Then, the guide post 43 is first inserted into the sliding holder 51, and guides the downward movement of the upper frame 53 with respect to the lower frame 49. When the lowering of the upper frame 53 continues, the test pins of the upper frame 53 and the test pins of the lower frame 49 come into contact with the test portion 17 of the printed circuit board 15, and the upper and lower test pins 29, 31, the closed circuit including the printed circuit board 15, the conducting wire 55 and the external tester 25 is constituted so that the inspection is performed. Therefore, if the inspection part 17 of the printed circuit board 15 is badly produced and short-circuited, the closed circuit is opened so that a normal signal is not transmitted to the external tester 25 so that the defect of the printed circuit board can be confirmed. .

상부프레임(53)에 설치된 검사기구와 하부프레임(49)에 설치된 검사기구 사이에 위치한 인쇄회로기판(15)의 검사가 완료되면, 상부프레임(53)은 하부프레임(49)으로부터 이격되며 상승한다. 이 때 가이드포스트(53)는 슬라이딩홀더(51)로부터 외부로 빠지면서 상부프레임(53)의 상승운동이 가이드된다. 하부프레임(49)에 대한 상부프레임(53)의 상승이 완료되면, 검사가 완료된 인쇄회로기판(15)을 빼내고 다음 검사할 인쇄회로기판을 위치시켜 상기와 동일한 과정을 거쳐 검사를 수행한다.When the inspection of the printed circuit board 15 positioned between the inspection mechanism installed on the upper frame 53 and the inspection mechanism installed on the lower frame 49 is completed, the upper frame 53 is spaced apart from the lower frame 49 to rise. . At this time, the guide post 53 is guided by the upward movement of the upper frame 53 while being pulled out from the sliding holder 51. When the rising of the upper frame 53 relative to the lower frame 49 is completed, the inspection is completed by removing the printed circuit board 15 after the inspection and placing the printed circuit board to be inspected next.

만일 다음에 검사할 인쇄회로기판의 모델이 달라 회로구성이 변경되었을 경우에는, 사용하던 인쇄회로기판 검사기구(11)를 상하부 프레임(53,49)으로부터 통째로 분리해 내고, 새로이 변경된 회로구성에 대응하도록 구성된 인쇄회로기판 검사기구(11)를 상하부 프레임의 설치위치(도 4의 63)에 결합함으로써, 다른 회로구성을 갖는 인쇄회로기판의 검사를 수행한다.If the circuit configuration is changed due to different models of the printed circuit board to be inspected next time, the used printed circuit board inspection mechanism 11 is separated from the upper and lower frames 53 and 49 to respond to the newly changed circuit configuration. By coupling the printed circuit board inspection mechanism 11 configured to be in the installation position (63 in FIG. 4) of the upper and lower frames, inspection of the printed circuit board having a different circuit configuration is performed.

도 6은 본 고안의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 검사장치를 사용하는 작업자의 작업동선을 개략적으로 도시한 검사장치의 평면도이다.6 is a plan view illustrating an inspection apparatus schematically showing a working line of a worker using the apparatus for inspecting a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 본 고안의 인쇄회로기판 검사장치로서 인쇄회로기판을 검사하기 위하여 작업자(61)는 검사장치 앞에서 작업을 하게 되는데, 작업자는 작업할 인쇄회로기판(15)을 검사장치내의 소정위치에 위치시키기 위하여 손을 가령 화살표 화살표 u의 방향으로 움직여야 한다. 또한 검사가 완료된 인쇄회로기판(15)을 다음공정으로 보내기 위해 다시 화살표 v방향으로 손을 움직여야 한다.As shown, the operator 61 is working in front of the inspection apparatus to inspect the printed circuit board as a printed circuit board inspection apparatus of the present invention, the operator to place the printed circuit board 15 to work in a predetermined position in the inspection apparatus The hand must be moved in the direction of arrow u for example. In addition, in order to send the completed printed circuit board 15 to the next process, the hand must move in the direction of the arrow v.

상기와 같이 본 고안의 인쇄회로기판 검사장치에 있어서, 작업자가 작업중 손을 움직이면서 가이드포스트(43)이나, 슬라이딩홀더(51)에 부딪치지 않도록, 가이드포스트 및 슬라이딩홀더를 화살표 c의 방향으로 이동시켜 위치시켰다. 따라서, 화살표 u와 화살표 v를 따르는 작업자 손의 동선이 검사장치에 부딪침이 없이 능률적으로 검사작업을 수행할 수 있다.As described above, in the printed circuit board inspection apparatus of the present invention, the guide post and the sliding holder are moved in the direction of the arrow c so that the operator does not collide with the guide post 43 or the sliding holder 51 while moving the hand during operation. I was. Therefore, the inspection work can be efficiently performed without the copper wire of the worker's hand following the arrow u and the arrow v hitting the inspection apparatus.

이상, 본 고안을 구체적인 실시예를 통하여 상세하게 설명하였으나, 본 고안은 상기한 실시예에 한정되지 않고 본 고안의 기술적 사상의 범위내에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형이 가능하다.The present invention has been described in detail through specific embodiments, but the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made by those skilled in the art within the scope of the technical idea of the present invention.

상기와 같이 이루어진 본 고안의 인쇄회로기판 검사기구 및 상기 검사기구를 구비한 인쇄회로기판 검사장치는, 각 검사핀간의 간격이 매우 조밀하더라도 이웃하는 검사핀과의 접촉이 발생하지 않아 검사의 신뢰성이 높고, 검사핀이 수직으로 설치되어 검사핀의 벤딩을 방지할 수 있어 장치의 사용수명이 길다. 또한 지지판에 검사핀을 고정하지 않고 분리와 설치가 가능하도록하여 장치의 유지보수가 용이하며 소요되는 원가를 크게 절감할 수 있다. 또한 검사기구를 검사장치에 대해 설치 및 분리 할 수 있어, 인쇄회로기판의 회로패턴이 변경되더라도 검사기구를 간단히 교환하여 검사대상 회로패턴의 변경에 신속히 대응할 수 있다는 효과가 있다.The printed circuit board inspection mechanism of the present invention and the printed circuit board inspection apparatus provided with the inspection mechanism, as described above, do not come into contact with neighboring inspection pins even if the spacing between the inspection pins is very tight. High, the test pin is installed vertically to prevent bending of the test pin, so the service life of the device is long. In addition, it is possible to remove and install without fixing the test pin to the support plate, so the maintenance of the device is easy and the cost can be greatly reduced. In addition, since the inspection mechanism can be installed and separated from the inspection apparatus, even if the circuit pattern of the printed circuit board is changed, the inspection mechanism can be easily replaced to quickly respond to the change of the inspection target circuit pattern.

Claims (6)

지지프레임(13)과;A support frame 13; 상기 지지프레임(13)에 설치되며, 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)에 해당하는 위치에 다수의 관통설치구(19)가 동일형태로 형성되고, 각각 이격되어 층을 이루는 적어도 세 개 이상의 설치판(21)과;Installed in the support frame 13, a plurality of through-holes 19 are formed in the same shape at the position corresponding to the inspection portion 17 of the printed circuit board 15, each of which is spaced at least three One or more mounting plates 21; 상기 각 관통설치구(19)에 삽입되어, 상단은 검사부위(17)에 접하도록 최상층 설치판의 상부로 일정높이 연장되고, 하단은 최하층 설치판의 하부로 연장되어 소켓(23) 및 도선(55)을 통하여 외부테스터와 연결되고, 설치판(21)에 지지되는 스프링(27)에 의해 상방향으로 탄성지지되는 검사핀(29,31)을 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기구.Inserted into each of the through-holes 19, the upper end is extended to a certain height to the upper portion of the uppermost mounting plate to contact the inspection site 17, the lower end is extended to the lower portion of the lowermost mounting plate to the socket 23 and the conducting wire ( 55. A printed circuit board inspection mechanism, comprising: test pins (29, 31) connected to an external tester through a spring (55) and elastically supported upward by a spring (27) supported by an installation plate (21). 제 1항에 있어서, 상기 다수의 검사핀(29,31)에 각각 설치되는 스프링(27)은 여러층을 이루는 설치판(27)에 고르게 분산되어, 서로 이웃하는 검사핀(29,31)에 구비된 스프링(27)은 다른 층의 설치판에 위치하여 상호 접촉이 이루어지지 않도록 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기구.The method according to claim 1, wherein the springs 27 installed on the plurality of test pins 29 and 31 are evenly distributed on the mounting plates 27 constituting a plurality of layers, and adjacent to the test pins 29 and 31 adjacent to each other. Printed circuit board inspection mechanism, characterized in that the spring is provided 27 is located on the installation plate of the other layer so that mutual contact is not made. 제 2항에 있어서, 상기 검사핀(29)은 상방향으로 탄성지지되도록 외주에 지지턱(33)이 형성되어 스프링(27)에 의해 상부로 가압되며, 검사핀(29)이 상부로 빠지지 않도록 검사핀(29)의 상부에 걸림턱(35)이 형성되며, 최상측 설치판의 상면에 구비되어 상기 검사핀(29)의 상부를 내부에 포함하며 걸림턱(35)을 하부로 가압하는 구멍(39)이 형성되어 있는 덮개판을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기구.The method according to claim 2, wherein the test pin 29 is formed in the outer circumferential support jaw 33 to be elastically supported in the upward direction is pressed upward by the spring 27, so that the test pin 29 does not fall out A locking jaw 35 is formed on an upper portion of the inspection pin 29, and is provided on an upper surface of the uppermost mounting plate to include the upper portion of the inspection pin 29 therein, and to press the locking jaw 35 downward. Printed circuit board inspection mechanism, characterized in that it further comprises a cover plate (39) is formed. 제 2항에 있어서, 상기 검사핀(31)의 몸체에는 관통설치구(19)의 지름보다 크게 형성된 돌기부(41)가 마련되어, 검사핀(31)이 관통설치구(19)를 통해 설치판(21)의 상부로 빠져나가지 않으며, 상기 돌기부(41)의 하부와 설치판 상면사이에 스프링(27)이 설치되어 검사핀(31)을 상부로 탄성지지하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사기구.The body of the test pin 31 is provided with a projection 41 formed larger than the diameter of the through-hole 19, the test pin 31 is installed through the through-hole 19 21 is not escaped to the upper portion, the printed circuit board inspection mechanism, characterized in that the spring (27) is installed between the lower portion of the protrusion 41 and the upper surface of the mounting plate to support the test pin (31) to the top. 적어도 두 개 이상의 가이드포스트(43)가 바닥판(45)에 대해 수직으로 구비되며, 바닥판(45)의 설치위치에 상기 인쇄회로기판 검사기구(11)가 설치된 하부프레임(49)과;At least two guide posts 43 are provided perpendicular to the bottom plate 45, the lower frame 49, the printed circuit board inspection mechanism 11 is installed in the installation position of the bottom plate 45; 상기 하부프레임(49)과 대향한 상태로 하부프레임(49)의 상부에서 승강운동하며, 대향면의 설치위치에 상기 인쇄회로기판 검사기구(11)가 설치되고, 승강운동시 상기 가이드포스트(43)를 내부에 포함하여 가이드하는 슬라이딩홀더(51)를 구비하는 상부프레임(53)을 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.Lifting motion in the upper portion of the lower frame 49 in a state facing the lower frame 49, the printed circuit board inspection mechanism 11 is installed at the installation position of the opposite surface, the guide post 43 during the lifting movement Printed circuit board inspection apparatus comprising an upper frame (53) having a sliding holder (51) for guiding the inside. 제 5항에 있어서, 상부프레임(53)에 구비된 검사핀(29,31)과 하부프레임(49)에 구비된 검사핀(29,31)은 동일 수직선상에 위치하여, 상호 근접시 인쇄회로기판(15)의 검사부위(17)를 사이에 두고 전기적 접속을 이루는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.The method of claim 5, wherein the test pins 29 and 31 provided in the upper frame 53 and the test pins 29 and 31 provided in the lower frame 49 are positioned on the same vertical line, so that the printed circuits are in close proximity to each other. Printed circuit board inspection apparatus, characterized in that the electrical connection is made with the inspection portion (17) of the substrate (15) in between.
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