KR20000007437A - 통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템 - Google Patents

통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템에 관한 것이다. 이러한 본 발명은 광 통신망의 광선로를 구성하는 복수개의 광심선을 운용/감시하는데 있어서, 광선로 상에서 산란, 반사되어 되돌아오는 통신광(back-scattered light)이 광선로 시험기측으로 역류되는 것을 방지하기 위하여, 역류방지용 파장분할다중화소자(WDM)와 통신광 여과용 광대역 필터를 이용한다.
한편, 본 발명의 광선로 운용감시시스템은 통신광의 파장대역을 가지는 광신호만을 통과시키는 시험광 여과용 필터, 및 통신광과 시험광을 다중화시켜 전송하거나 반사되어 되돌아오는 광신호를 역다중화하여 주는 파장분할다중화소자로 구성되는 복수개의 광소자카드, 광선로를 구성하는 광심선들 중 어느 하나로 시험광을 스위칭 하여 주는 2차 광심선 선택부, 임의의 파장을 갖는 시험광을 송/수신하는 광선로 시험기, 임의의 2차 광심선 선택기를 선택하여 이들 중의 하나로 광선로 시험기에서 출력된 시험광을 스위칭 하여 주는 1차 광심선 선택부, 그리고 1차 광심선 선택부와 광선로 시험기 사이에서 통신광을 차단하는 시험광 여과부로 이루어진다.
본 발명에 따르면, 종래의 기술에 비하여 보다 효율적인 광경로 구성이 가능하므로, 저비용/고효율의 광선로 운용감시시스템을 제작할 수 있는 효과가 있다.

Description

통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템(A fiber line operating and monitoring system using wavelength division multiplexer/demultiplexer to prevent the upstreaming of communication signal)
본 발명은 광선로 운용감시시스템에 관한 것으로서, 특히 운용중인 광심선의 시험 도중 광선로 상에서 산란, 반사되어 광선로 시험기로 역류되어 오는 통신광을 역류방지용 파장분할다중화소자와 통신광 여과용 필터, 또는 고분리도 파장분할다중화소자를 이용하여 분리하여 줌으로서, 효율적으로 광경로를 구성할 수 있는 광선로 운용감시시스템에 관한 것이다.
도 1은 광선로 운용감시시스템(300)이 사용되는 광통신망의 개요도로서, 광에 의한 통신을 수행하는 두 전화국의 교환기(110,120)들은 다수의 광심선으로 이루어진 광선로(130)를 통하여 서로 연결되어 있다. 또한, 광선로 운용감시시스템(300)은 이 광선로(130)를 운용 및 감시하는 목적으로 설치된다.
많은 통신 선진국에서는 각 전화국 및 가입자 선로의 운용국에서 광선로 운용감시시스템(300)이나 이와 유사한 광선로 시험장비를 이용하여, 원격으로 광선로(130)를 운용하고 감시한다.
이 때, 통신에 사용되고 있지 않은 광선로에 대해서는 광선로 운용감시시스템(300)의 광선로 시험기를 이용하여, 간단하게 고장이나 단선유무를 확인할 수 있다. 그러나 통신에 사용되고 있는 광선로의 검사를 위해서는 통신광과는 다른 파장을 가지는 시험광을 통신광과 함께 광선로 상에 입사시켜 주어야 한다. 이러한 통신광과 시험광은 서로 다른 파장의 빛을 다중화/역다중화시키는 기능을 갖는 파장분할다중화소자(WDM:Wavelength Division Multiplexing)를 통하여 광선로(130) 상에 입사된다.
이와 같이 통신 중인 광선로(130)에 입사된 시험광은 융착접속, 기계적 접속, 광케이블의 굴곡 및 절단 등, 광선로(130) 상에 존재하는 상태정보들을 제공하게 된다.
도 2는 종래의 광선로 운용감시시스템(300)의 광경로 구성도로서, 광선로 운용감시시스템(300)은 복수개의 광소자 카드(210)로 이루어진 광소자 카드부(200), 광선로 시험기(250), 1차 광심선 선택부(230), 및 2차 광심선 선택부(220)로 이루어지는데, 필요에 따라 2차 광심선 선택부(220)는 1550nm 용 2차 광심선 선택기(222)와 1310nm 용 2차 광심선 선택기(224)를 별개로 구성하거나 혹은 단일 광심선 선택기에서 포트별로 구분하여 사용한다.
한편, 광선로 시험기(250)는 소정의 파장을 가지는 시험광을 발생시켜 송신하거나, 반사되어 돌아온 시험광을 수신하여 분석하는 기능을 수행한다.
1차 광심선 선택부(230)는 광선로 시험기(250)로부터 출력되는 1개의 시험광을 하나 이상의 2 차 광심선 선택기(222,224)로 스위칭 시켜 주는 역할을 한다. 이 때, 도 2에 보인 광경로 중 점선은 1550nm의 파장을 가지는 시험광 경로를 의미하며, 실선은 1310nm의 파장을 가지는 시험광 경로를 의미한다.
광소자 카드(210)에서는 두개의 광신호(시험광과 통신광)를 파장분할다중화소자(213)에 입사시켜 다중화한 후 동시에 해당 광심선으로 보내고, 해당 광심선으로부터 되돌아오는 광신호를 다시 통신광과 시험광으로 분리하여 출력하는 기능을 수행한다.
한 예로, 송신측 교환기(110)의 광 송신기(111)에서 발생된 통신광의 파장대역이 1310nm(혹은 1550nm)인 경우, 광선로 시험기(250)에서는 1550nm(혹은 1310nm) 파장대역의 시험광을 방출한다.
시험광과 함께 광선로상에서 산란, 반사된 통신광은 광소자 카드(210)의 파장분할다중화소자(213)에서 역 다중화 되면서 일차적으로 여과되지만, 광소자 카드(210)에 사용되는 파장분할다중화소자(213)의 파장 분리도가 비교적 낮기 때문에, 이를 통과한 통신광이 광선로 시험기(250)로 역류되어 되돌아오게 된다. 이러한 역류 통신광은 광선로 시험기(250)에서 오류를 발생시키는 원인이 되므로 반드시 제거되어야 한다.
도 3은 종래의 광선로 운용감시시스템에 사용되는 광소자 카드의 구성도로서, 파장분할다중화소자(213)와 시험광 여과용 필터(211), 및 통신광 여과용 필터(212)로 이루어진다.
도 3에서 보는바와 같이 종래의 광선로 운용감시시스템(300)에 사용되는 광소자 카드(210)는 통신광의 역류를 방지하기 위하여, 파장분할다중화소자(213)의 송신측 교환기(110)와 접속되는 포트(OC1)와 광선로 시험기(250) 측 포트(OT1)에 일정 규격을 만족하는 광대역 필터, 즉 시험광 여과용 필터(211)와 통신광 여과용 필터(212)를 삽입하여 파장분리도(wavelength isolation)를 향상시켜 주고 있다.
이 때, 시험광 여과용 필터(211)는 반사되어 되돌아오는 광신호 중 시험광을 걸러내어 통신광만을 통과시키는 광필터이며, 통신광 여과용 필터(212)는 통신광을 걸러내어 시험광만을 통과시키는 광필터이다.
즉, 종래의 광소자 카드(210)를 사용하여 광경로를 구성하기 위해서는 1개의 광심선 당, 파장분할다중화소자 소자(213) 1개, 시험광 여과용 필터(211) 1개, 통신광 여과용 필터(212) 1개, 및 수신측 시험광 입사방지용 광대역 필터(214) 1개 등, 모두 4개의 광소자가 필요하였다. 여기서, 수신측 시험광 입사방지용 광대역 필터(214)는 수신측 교환기(120)의 광 수신기(121)로 시험광이 입사되는 것을 방지하기 위하여 시험광을 차단하는 광필터이다.
이렇게 다수의 광소자(211,212,213,214)를 사용하는 것은 광선로 운용감시시스템(300)의 제조 효율을 떨어뜨리고, 따라서 원가 상승의 요인이 된다. 또한, 시스템의 측면에서 보면 광소자 카드부(200)의 부피가 매우 커지게 되며, 수많은 광필터의 규격을 선로마다 모두 확인하여 관리해야 하는 문제점을 가지고 있다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 광통신망의 광선로(130) 상에서 산란, 반사되어 되돌아오는 통신광과 시험광을 효과적으로 분리하여, 효율적으로 광경로를 구성할 수 있는 광선로 운용감시시스템(300)을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템은 광선로를 구성하는 소정의 광심선으로부터 입력되는 소정의 통신광과 소정의 광선로 시험기로부터 입력되는 소정의 시험광을 다중화 하여 해당 광심선으로 출력시키거나, 해당 광심선으로부터 입력되는 광신호를 소정의 통신광과 시험광으로 각각 분리하여 출력하는 광소자 카드를 복수개 가지고 있는 광소자카드부; 상기 광소자 카드들 중 하나를 선택하여, 소정의 제 1 시험광을 주고받는 제 1 시험광용 2차 광심선 선택기를 하나 이상 가지고 있으며, 상기 광소자 카드들 중 하나를 선택하여, 소정의 제 2 시험광을 주고받는 제 2 시험광용 2차 광심선 선택기를 하나 이상 가지고 있는 2차 광심선 선택부; 상기 제 1 시험광용 2차 광심선 선택기들 중 어느 하나를 선택하여 상기 소정의 제 1 시험광을 주고받는 제 1 시험광용 1차 광심선 선택기, 및 상기 제 2 시험광용 2차 광심선 선택기들 중 어느 하나를 선택하여 상기 소정의 제 2 시험광을 주고받는 제 2 시험광용 1차 광심선 선택기로 이루어지는 1차 광심선 선택부; 상기 광선로 시험기로부터 출력되는 시험광을 각각 다른 파장을 가지는 제 1 시험광과 제 2 시험광으로 분리하여 해당 포트로 출력시키거나, 그 역과정을 수행하는 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM; 상기 통신광 여과부의 제 1 시험광 출력포트와 상기 제 1 시험광용 1차 광심선 선택기 사이에 위치하여, 제 1 시험광의 파장대를 가지는 광신호만을 통과시키는 제 1 광필터; 및 상기 통신광 여과부의 제 2 시험광 출력포트와 상기 제 2 시험광용 1차 광심선 선택기 사이에 위치하여, 제 2 시험광의 파장대를 가지는 신호만을 통과시키는 제 2 광필터를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 광소자 카드는 소정의 통신광이 입출력되는 통신광 입출력 포트, 소정의 시험광이 입출력되는 시험광 입출력 포트, 및 상기 통신광과 시험광이 다중화된 광신호가 입출력되는 혼합광 입출력 포트로 이루어지는 광 입출력 포트; 상기 통신광 입출력 포트에 한쪽단이 연결되어 통신광의 파장대역을 가지는 광신호만을 통과시키는 시험광 여과용 필터; 및 한쪽 단에는 상기 시험광 여과용 필터의 다른쪽단과 시험광 입출력 포트가 각각 연결되고, 다른쪽단은 상기 혼합광 입출력 포트에 연결된 파장분할다중화소자를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 본 발명에 따른 통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템은 상기 제 1 광필터와 제 2 광필터를 제거하고, 상기 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM은 1 × 2 고파장분리도 파장분할다중화소자(High- Isolation WDM)로 대체하는 것을 특징으로 하여 구성될 수 있다.
도 1은 광선로 운용감시시스템이 사용되는 광통신망의 개요도,
도 2는 종래의 광선로 운용감시시스템의 광경로 구성도,
도 3은 종래의 광선로 운용감시시스템에 사용되는 광소자 카드의 구성도,
도 4는 파장분할다중화소자와 시험광 여과 필터를 사용한 광선로 운용감시시스템의 광경로도,
도 5는 본 발명의 광선로 운용감시시스템에 사용되는 광소자 카드의 구성도,
도 6은 고분리도 파장분할다중화소자를 사용한 광선로 운용감시시스템의 광경로도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
110: 송신측 교환기 111: 광 송신기
120: 수신측 교환기 121: 광 수신기
200: 광소자 카드부 210: 광소자 카드
211: 시험광 여과용 필터 212: 통신광 여과용 필터
213: 파장분할다중화소자 220: 2차 광심선 선택부
222: 1550nm 용 2차 광심선 선택기 224: 1310nm 용 2차 광심선 선택기
230: 1차 광심선 선택부
232: 1550nm 용 1차 광심선 선택기 234: 1310nm 용 1차 광심선 선택기
240: 통신광 여과부 241: 제 1 광필터
242: 제 2 광필터
243: 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM
250: 광선로 시험기 300: 광선로 운용감시시스템
이하에 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.
도 4는 본 발명에 따른 파장분할다중화소자(213)와 시험광 여과 필터(211)를 사용한 광선로 운용감시시스템(300)의 광경로도이며, 도 5는 본 발명의 광선로 운용감시시스템(300)에 사용되는 광소자 카드(210)의 구성도이다.
이 때, 광선로 운용감시시스템(300)은 통신광 여과용 필터(212)가 제거된 복수개의 광소자 카드(210)로 이루어진 광소자카드부(200), 2차 광심선 선택부(220), 1차 광심선 선택부(230), 및 통신광 여과부(240)로 이루어지는데, 통신광 여과부(240)는 제 1 광필터(241), 제 2 광필터(242), 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243)으로 구성된다.
또한, 2차 광심선 선택부(220)는 하나 이상의 제 1 시험광용 2차 광심선 선택기(222)와 하나 이상의 제 2 시험광용 2차 광심선 선택기(224)로 이루어지며, 1차 광심선 선택부(230)는 하나의 제 1 시험광용 1차 광심선 선택기(232)와 하나의 제 2 시험광용 1차 광심선 선택기(234)로 이루어진다.
이하의 실시예에서는 제 1 시험광으로 1550nm의 파장을 가지는 광신호를 사용하고, 제 2 시험광으로는 1310nm의 파장을 가지는 광신호를 사용하는 것으로 하여 설명하기로 한다. 그러므로, 이하의 실시예에 대한 설명에서 제 1 시험광용 2차 광심선 선택기는 1550nm 용 2차 광심선 선택기로, 제 2 시험광용 2차 광심선 선택기는 1310nm 용 2차 광심선 선택기로, 제 1 시험광용 1차 광심선 선택기는 1550nm 용 1차 광심선 선택기로, 그리고 제 2 시험광용 1차 광심선 선택기는 1310nm 용 1차 광심선 선택기로 나타내기로 한다.
먼저 도 4의 광선로 운용감시시스템(300)의 시험광 송신과정을 설명한다.
이 때, 통신광이 1310nm인 경우, 시험광은 1550nm의 파장대역을 가지는 광신호가 사용되며, 통신광이 1550nm인 경우에는 1310nm의 파장을 가지는 시험광이 사용된다. 이하의 실시예에서는 통신광의 파장이 1310nm라고 가정하여 설명하기로 한다. 통신광의 파장이 1550nm인 경우에도 시험광으로 1310nm 파장의 광신호가 사용된다는 점 이외에는 동일하다.
먼저, 광선로 시험기(250)는 1550nm의 파장을 가지는 시험광을 출력한다.
이 시험광은 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243)의 1550nm 포트(TC2)로 출력되어, 1310nm 파장대의 광신호를 차단하는 제 1 광필터(241)를 거쳐서, 1550nm 용 1차 광심선 선택기(232)로 입사된다.
1550nm 용 1차 광심선 선택기(232)는 다시 1550nm 용 2차 광심선 선택기들 중 하나(222)를 선택하여 1550nm의 시험광을 보내고, 이 시험광은 1550nm 용 2차 광심선 선택기(222)의 출력 포트들 중에서 선택된 출력 포트(P1)로 출력된다.
이렇게 출력된 시험광은 해당 광소자 카드(210)의 1550nm 포트(OT1)로 입사되어, 해당 광소자 카드(210)에 있는 파장분할다중화소자(213)의 1550nm 포트로 입사된다. 여기서 제 1 시험광은 송신측 교환기(110)의 광 송신기(111)가 보낸 1310nm 통신광과 다중화된다.
이렇게 다중화된 통신광과 시험광은 파장분할다중화소자(213)의 혼합 광신호 포트(OM1)로 출력되어 광섬유의 종단까지 진행하면서, 전 구간의 산란, 반사에 따른 정보를 가지게 된다. 이 때, 수신측의 종단에는 시험광이 수신측 교환기(120)에 입사되는 것을 막기 위하여 수신측 시험광 여과용 필터(214)가 설치된다.
이러한 송신과정을 요약하면, 광선로 시험기(250)로부터 출력된 제 1 시험광, 즉 1550nm 파장의 시험광은 광선로 시험기(250) -> 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243) -> 제 1 광필터(241) -> 1550nm 용 1차 광심선 선택기(232) -> 1550nm 용 2차 광심선 선택기(222) -> 광소자 카드의 파장분할다중화소자(213) -> 광선로(130) -> 수신측 시험광 여과용 필터(214)를 거치는 광경로를 진행한다.
이제, 광선로(130) 상에서의 시험광 후방 산란 과정을 설명한다.
앞에서 설명한 송신과정을 통하여, 광선로(130) 상의 해당 광심선을 진행하는 통신광과 시험광에는 광섬유 매질 내의 밀도요동(density fluctuation)이나 이물질 개입등에 의한 산란과 융착접속, 기계적 접속자에 의한 접속, 광섬유의 크고 작은 굴곡(bending) 및 종단에 의한 반사 등에 의해 광손실(혹은 이득)이 발생한다. 그리고, 시험광과 통신광은 산란 또는 반사되어 해당 광심선을 따라 되돌아오게 된다.
이렇게 되돌아오는 시험광과 통신광은 해당 광소자 카드(210)의 혼합 광신호 포트(OM1)로 입사된 후, 파장분할다중화소자(213)에서 역다중화된다.
파장분할다중화소자(213)에서 역다중화된 통신광은 시험광 여과용 필터(211)를 통하여 한차례 걸러진 후 1310nm 포트(OC1)를 통하여, 송신측 교환기(110)로 되돌아간다. 한편, 파장분할다중화소자(213)에서 역다중화된 시험광은 1550nm 포트(OT1)를 통하여 해당 1550nm 용 2차 광심선 선택기(222)로 입사된다.
그리고, 해당 1550nm 용 2차 광심선 선택기(222)로 입사된 시험광은 1550nm 용 1차 광심선 선택기(222)와 제 1 광필터(241), 그리고 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243)을 통하여, 광선로 시험기(250)로 재 입사되어 분석된다.
요약하자면, 해당 광심선을 따라 되돌아오는 시험광은 입사될 때와 반대의 경로, 즉 광선로(130) -> 파장분할다중화소자(213) -> 1550nm 용 2차 광심선 선택기(222) -> 1550nm 용 1차 광심선 선택기(232) -> 제 1 광필터(241) -> 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243) ->광선로 시험기(250)를 거치는 광경로를 진행한다.
기존의 광선로 운용감시시스템에서는 1개의 1차 광심선 선택부(230)에 모든 2차 광심선 선택기가 접속됨으로 인하여, 각각의 광소자 카드(210)마다 통신광 여과용 광대역 필터(212)가 실장 되어야 하였다.
그러나, 이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에서는 1차 광심선 선택부(230)를 시험광의 파장에 따라 별도로 두어 각각의 파장에 사용될 2차 광심선 선택기를 접속하고, 광선로 시험기(250)와 1차 광심선 선택부(230) 사이에 각각의 파장에 적합한 통신광 여과용 광대역 필터(제 1 광필터:241, 제 2 광필터:242)를 접속하여 주었다.
또한, 광선로 시험기(250)에서 나온 시험광은 먼저 통신광 역류 방지용 파장분할다중화소자, 즉 통신광 여과부(240)를 거쳐 각각의 파장대에 해당하는 포트로 나뉘어진 후, 파장대별로 별도 구성된 1차 광심선 선택기(232,234)에 인가된다.
결과적으로, 본 발명의 광선로 운용감시시스템(300)의 광소자 카드(210)는 파장분할다중화소자(213) 1 개와 시험광 여과용 광필터(211) 1개로 구성될 수 있다. 즉, 필요한 광소자의 수가 2개로 감소되므로 종래의 광소자 카드(210)에 비하여 간단한 구조를 가진다. 이것은 시스템 전체로 보면, 상당수(전체 광소자 수의 약 25%)의 광소자가 제거되는 효과를 가져온다.
또한, 광선로 시험기(250)로 입사되는 시험광은 통신광 여과용 광대역 필터로 구성되는 제 1 광필터(241)나 제 2 광필터(242), 그리고 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243)으로 구성되는 통신광 여과부(240)에 의하여 2번 여과되므로, 전체적인 통신광 여과 능력은 더욱 향상될 수 있다.
도 6은 고분리도 파장분할다중화(High-Isolation WDM) 소자를 사용한 광선로 운용감시시스템(300)의 광경로도이다.
여기서 도 4의 광선로 운용감시시스템(300)과 다른 점은 통신광 여과부(240)를 이루던 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243)과 제 1 광필터(241) 및 제 2 광필터(242)의 기능을 고분리도 파장분할다중화소자 하나를 사용하여 구현한 것이다.
즉, 도 6의 통신광 여과부(240)로서, 도 4에 보인 제 1 광필터(241)나 제 2 광필터(242) 및 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243)에 의하여 이루어질 수 있는 파장분리도 만큼의 파장 분리 능력을 가지고 있는 고분리도 파장분할다중화소자를 사용하고, 제 1 광필터(241)와 제 2 광필터(242)를 제거한다. 이와 같은 구성에 의하여 도 6에 보인 광선로 운용감시시스템은 도 4에 보인 광선로 운용감시시스템에 비하여 보다 간단한 구조를 가지게 된다.
본 발명에 따르면 종래의 광선로 운용감시시스템(300)에 비하여 보다 효율적이고도 경제적인 광경로 구성이 가능하다. 또한 시험광의 파장에 따라서 별도의 광심선 선택기(232,234)를 사용함으로서, 주기 시험시 광선로 시험기(250)의 광원이 선번에 따라 잦은 변경을 하기 때문에 일어나는 안정성 저하 문제가 해결되는 효과가 있다.

Claims (3)

  1. 소정의 시험광을 출력시키거나 광선로(130)상에서 산란, 반사되어온 시험광을 분석하는 임의의 광선로 시험기(250)를 사용하여, 광통신망의 광선로(130)를 운용하고 감시하는 광선로 운용감시시스템에 있어서,
    상기 광선로(130)를 구성하는 소정의 광심선으로부터 입력되는 소정의 통신광과 상기 광선로 시험기(250)로부터 입력되는 소정의 시험광을 다중화 하여 해당 광심선으로 출력시키거나, 해당 광심선으로부터 산란, 반사되어 되돌아오는 광신호를 소정의 통신광과 시험광으로 각각 분리하여 출력하는 광소자 카드(210)를 복수개 가지고 있는 광소자카드부(200);
    상기 광소자 카드들 중 하나를 선택하여, 소정의 제 1 시험광을 주고받는 제 1 시험광용 2차 광심선 선택기(222)를 하나 이상 가지고 있으며, 상기 광소자 카드들 중 하나를 선택하여, 소정의 제 2 시험광을 주고받는 제 2 시험광용 2차 광심선 선택기(224)를 하나 이상 가지고 있는 2차 광심선 선택부(220);
    상기 제 1 시험광용 2차 광심선 선택기들 중 어느 하나를 선택하여 상기 소정의 제 1 시험광을 주고받는 제 1 시험광용 1차 광심선 선택기(232), 및 상기 제 2 시험광용 2차 광심선 선택기들 중 어느 하나를 선택하여 상기 소정의 제 2 시험광을 주고받는 제 2 시험광용 1차 광심선 선택기(234)로 이루어지는 1차 광심선 선택부(230);
    상기 광선로 시험기(250)로부터 출력되는 시험광을 각각 다른 파장을 가지는 제 1 시험광과 제 2 시험광으로 분리하여 해당 포트로 출력시키거나, 그 역과정을 수행하는 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243);
    상기 통신광 여과부(240)의 제 1 시험광 출력포트와 상기 제 1 시험광용 1차 광심선 선택기(232) 사이에 위치하여, 제 1 시험광의 파장대를 가지는 광신호만을 통과시키는 제 1 광필터(241); 및
    상기 통신광 여과부(240)의 제 2 시험광 출력포트와 상기 제 2 시험광용 1차 광심선 선택기(234) 사이에 위치하여, 제 2 시험광의 파장대를 가지는 신호만을 통과시키는 제 2 광필터(242)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 광소자 카드(210)는 소정의 통신광이 입출력되는 통신광 입출력 포트, 소정의 시험광이 입출력되는 시험광 입출력 포트, 및 상기 통신광과 시험광이 다중화된 광신호가 입출력되는 혼합광 입출력 포트로 이루어지는 광 입출력 포트;
    상기 통신광 입출력 포트에 한쪽단이 연결되어 통신광의 파장대역을 가지는 광신호만을 통과시키는 시험광 여과용 필터(211); 및
    한쪽 단에는 상기 시험광 여과용 필터(211)의 다른쪽단과 시험광 입출력 포트가 각각 연결되고, 다른쪽단은 상기 혼합광 입출력 포트에 연결된 파장분할다중화소자(213)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 광필터(241)와 제 2 광필터(242)가 제거되고, 상기 통신광 여과 및 광경로 구성용 WDM(243)은 1 × 2 고파장분리도 파장분할다중화소자(High-Isolation WDM)로 구성되는 것을 특징으로 하는 통신광 역류방지용 파장분할다중화소자를 이용한 광선로 운용감시시스템.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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