KR20000003308A - 반도체 설비 데이터 관리 방법 - Google Patents

반도체 설비 데이터 관리 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20000003308A
KR20000003308A KR1019980024535A KR19980024535A KR20000003308A KR 20000003308 A KR20000003308 A KR 20000003308A KR 1019980024535 A KR1019980024535 A KR 1019980024535A KR 19980024535 A KR19980024535 A KR 19980024535A KR 20000003308 A KR20000003308 A KR 20000003308A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
semiconductor
list
speck
data list
Prior art date
Application number
KR1019980024535A
Other languages
English (en)
Inventor
이용호
Original Assignee
윤종용
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자 주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR1019980024535A priority Critical patent/KR20000003308A/ko
Publication of KR20000003308A publication Critical patent/KR20000003308A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06QINFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q50/00Systems or methods specially adapted for specific business sectors, e.g. utilities or tourism
    • G06Q50/04Manufacturing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/45Nc applications
    • G05B2219/45031Manufacturing semiconductor wafers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Tourism & Hospitality (AREA)
  • General Business, Economics & Management (AREA)
  • Marketing (AREA)
  • Primary Health Care (AREA)
  • Strategic Management (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Economics (AREA)
  • Human Resources & Organizations (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Factory Administration (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

설비 데이터가 상이한 복수개의 반도체 설비를 구비한 단위 공정 설비 그룹에 의하여 반도체 제조 공정이 진행될 때 임의의 반도체 설비가 결정되면 자동적으로 해당 설비 데이터의 스펙 데이터가 로딩되어 해당 데이터를 조회, 분석할 수 있도록 한 반도체 설비 데이터 관리 방법이 개시되고 있다.
본 발명에 의하면 공정 개시를 준비하는 단계와, 복수개의 반도체 설비중 해당 공정을 진행할 반도체 설비를 결정하는 단계와, 결정된 반도체 설비에 해당하는 스펙 데이터 목록을 로딩하는 단계와, 스펙 데이터 목록에 의하여 데이터 관리 작업을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

반도체 설비 데이터 관리 방법
본 발명은 반도체 설비 데이터 관리 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 설비 데이터가 상이한 복수개의 반도체 설비를 구비한 단위 공정 설비 그룹에 의하여 반도체 제조 공정이 진행될 때 임의의 반도체 설비가 결정되면 자동적으로 해당 설비 데이터의 스펙 데이터가 로딩되어 해당 데이터를 조회, 분석할 수 있도록 한 반도체 설비 데이터 관리 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 반도체 생산 공정중 발생하는 데이터는 크게 트랙킹 데이터와, 공정이 진행된 후 발생한 측정 데이터와 공정 데이터로 구성된 엔지니어 데이터로 구분된다. 이와 같은 트랙킹 데이터와 엔지니어 데이터는 프로세스 계획(process plan)에 의하여 연관된다.
이 프로세스 플랜은 제작 회사가 다른 복수개의 반도체 설비에 의하여 발생한 엔지니어 데이터를 모두 모아서 하나의 스펙 데이터 목록을 만들고 이 스펙 데이터 목록을 관리하게 된다.
그러나, 이와 같이 제작 회사가 다른 복수개의 반도체 설비의 엔지니어 데이터를 모두 모아서 만들어진 스펙 데이터 목록은 데이터 규모가 방대해지는 이유로 인하여 작업자가 수집된 데이터를 조회하거나 분석할 때 방대한 스펙 데이터 목록에 의하여 조회, 분석에 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 이와 같은 종래 문제점을 감안한 것으로써, 본 발명의 목적은 단위 반도체 설비에 단위 스펙 데이터 목록을 할당하여 해당 반도체 설비가 공정을 개시할 때 자동으로 해당 스펙 데이터 목록이 로딩되도록 하여 스펙 데이터 목록의 조회, 분석에 소요되는 시간을 단축시킴에 있다.
도 1은 본 발명에 의한 반도체 설비 데이터 관리 시스템을 도시한 블록도.
도 2는 본 발명에 의한 반도체 설비 데이터 관리 방법을 도시한 순서도.
이와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 반도체 설비 데이터 관리 방법은 공정 개시를 준비하는 단계와, 복수개의 반도체 설비중 해당 공정을 진행할 반도체 설비를 결정하는 단계와, 결정된 반도체 설비에 해당하는 스펙 데이터 목록을 로딩하는 단계와, 상기 스펙 데이터 목록에 의하여 데이터 관리 작업을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명 반도체 설비 데이터 관리 방법을 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1에는 본 발명에 의한 반도체 설비 데이터 관리 시스템이 개략적으로 도시되고 있다.
첨부된 도면을 참조하면, 단위 공정 장비 그룹(1)에는 제작 회사가 다른 복수개의 반도체 설비(2), 예를 들어 동일 공정을 수행하는 반도체 설비 A 로부터 반도체 설비 n이 속해 있다.
각각의 반도체 설비 A(2a) 로부터 반도체 설비 n(2n)에는 각각 이에 해당하는 스펙 데이터 목록 A(3a)로부터 스펙 데이터 목록 n(3n)이 형성되어 있다.
이와 같은 본 발명에 의한 반도체 설비 데이터 관리 시스템에 의한 반도체 설비 데이터 관리 방법을 첨부된 순서도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 여러개의 반도체 제조 공정중 임의의 단위 공정을 개시하기 위하여 사전 준비를 수행하는 단계와(단계 10), 준비 단계에서 복수개의 반도체 설비(2)중 공정이 진행될 반도체 설비(2)가 결정되었는가를 판단하는 단계와(단계 20), 반도체 제조 공정이 진행될 반도체 설비(2)가 결정되면 복수개의 스펙 데이터 목록(3)중 결정된 반도체 설비(2)에 해당하는 스펙 데이터 목록(3)이 결정된다(단계 30).
이후, 작업자는 결정된 해당 스펙 데이터 목록(3)에 의하여 데이터를 분석 또는 조회 작업을 수행한다(단계 40).
이상에서 설명한 바와 같이 제조 회사가 다른 이유로 상이한 스펙 데이터 목록을 방대한 하나의 스펙 데이터 목록으로 만들어 사용하지 않고 반도체 제조 공정이 진행될 해당 반도체 설비가 선택되면 해당 반도체 설비에 해당하는 스펙 데이터 목록만이 로딩되어 작업자의 데이터 분석, 조회를 용이하게 하는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 공정 개시를 준비하는 단계와;
    복수개의 반도체 설비중 해당 공정을 진행할 반도체 설비를 결정하는 단계와;
    결정된 반도체 설비에 해당하는 스펙 데이터 목록을 로딩하는 단계와,
    상기 스펙 데이터 목록에 의하여 데이터 관리 작업을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 설비 데이터 관리 방법.
KR1019980024535A 1998-06-27 1998-06-27 반도체 설비 데이터 관리 방법 KR20000003308A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980024535A KR20000003308A (ko) 1998-06-27 1998-06-27 반도체 설비 데이터 관리 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980024535A KR20000003308A (ko) 1998-06-27 1998-06-27 반도체 설비 데이터 관리 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20000003308A true KR20000003308A (ko) 2000-01-15

Family

ID=19541070

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980024535A KR20000003308A (ko) 1998-06-27 1998-06-27 반도체 설비 데이터 관리 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20000003308A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7549300B2 (en) 2003-12-09 2009-06-23 Lg Electronics Inc. Radiating apparatus of built-in refrigerator

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7549300B2 (en) 2003-12-09 2009-06-23 Lg Electronics Inc. Radiating apparatus of built-in refrigerator

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100297371B1 (ko) 반도체 공정 데이터 통합 관리 방법
Lawrence et al. Heuristic, optimal, static, and dynamic schedules when processing times are uncertain
US20090182794A1 (en) Error management apparatus
US6334097B1 (en) Method of determining lethality of defects in circuit pattern inspection method of selecting defects to be reviewed and inspection system of circuit patterns involved with the methods
KR20010014836A (ko) 예상되는 결함과 관련된 수율 손실을 사용하는 수율 예측및 통계적 처리 제어
US6748288B2 (en) Semiconductor wafer manufacturing execution system with recipe distribution management database
CN107480904B (zh) 一种化合物半导体致命缺陷分析系统和分析方法
US6968251B2 (en) Defect analysis sampling control
CN111800299A (zh) 一种边缘云的运营维护系统及其方法
CN109816191A (zh) 多工作站系统的质量预测方法及其系统
KR20000003308A (ko) 반도체 설비 데이터 관리 방법
CN103345666B (zh) Ye区域扫描机台的派工方法
Wong A statistical parametric and probe yield analysis methodology [IC manufacture]
CN110083636A (zh) 面板缺陷的检测系统及检测方法
JP2008070918A (ja) 生産管理システム
CN112558571A (zh) 一种基于信息安全的生产配方解析方法及系统
CN104615410A (zh) 一种多类型硬件接口指令处理方法及系统
CN110188034A (zh) 一种基于信息共享的软件测试方法
KR100472776B1 (ko) 반도체 장치의 웨이퍼 결함 검사 방법
CN114817410B (zh) 业务数据处理方法、装置、设备及存储介质
Zasadzień The effect of implementation maintenance cards in performance of machines in selected production company
Kádár et al. Co-analysing situations and production control rules in a large-scale manufacturing environment
KR19980067888A (ko) 반도체 계측공정의 선별 측정방법
KR100999846B1 (ko) 기술문서 통합 관리 시스템
JPH0934715A (ja) 組み合わせ最適化処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination