KR20000003008U - Ball Grid Array Sockets and Contacts for Integrated Circuit Chips - Google Patents
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Abstract
본 고안은 IC칩용 볼 그리드 어레이 소켓 및 콘택트에 관한 것으로서, 상부 덮개와, 슬라이더와, 플라스틱 하우징과, 핸들바와, 복수의 금속성 콘택트와, 스프링과, 4개의 다리를 포함한다. 이 신규하게 설계된 구조는, PCB에 대한 손상이나 변형을 방지하기 위하여 하향 압력 대신에 균일한 측압으로 BGA칩 아래에서 소켓 내의 금속성 콘택트를 금속성 볼과 접촉하게 한다. 상부 부분과 하부 핀 부분에 각각 금속성 콘택트의 아크 모양 및 V자 모양의 설계에 의하여, 금속성 콘택트와 금속성 볼 사이의 접촉을 확실하게 보장한다. 미리 기울어진 핀 부분은 이 기울어진 핀 부분에 의하여 형성된 공간에 더 많은 액체 납땜 재료를 수용하는 것을 도울 수도 있으며, 이로 인하여 더 우수한 납땜 효과를 얻는다. 플라스틱 하우징 상에 제공된 검사 구멍에 의하여, 작업자는 정교한 측정 장치를 사용하지 않고도 납땜의 질에 관해서 가시적인 예비검사를 할 수 있다.The present invention relates to a ball grid array socket and a contact for an IC chip, and includes an upper cover, a slider, a plastic housing, a handlebar, a plurality of metallic contacts, a spring, and four legs. This newly designed structure allows the metallic contacts in the socket to contact metallic balls under the BGA chip at a uniform lateral pressure instead of downward pressure to prevent damage or deformation to the PCB. The arc-shaped and V-shaped designs of the metallic contacts respectively on the upper and lower pin portions ensure the contact between the metallic contacts and the metallic balls. The pretilted pin portion may help to accommodate more liquid brazing material in the space formed by the inclined pin portion, thereby obtaining a better soldering effect. Inspection holes provided on the plastic housing allow the operator to make a visual preliminary check on the quality of the solder without using sophisticated measuring devices.
Description
본 고안은, 집적회로 칩용 볼 그리드 어레이 소켓(Ball grid array socket) 및 콘택트를 위한 구조물에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 균일하게 분포된 측압(side pressure)으로 칩 아래에 장착되어 있는 금속성 볼과 IC칩의 소켓 내부의 콘택트가 슬라이더의 이동을 이용하여 완전 접촉할 수도 있으며, 이로 인하여 신호는 정확하게 전달될 수 있는 볼 그리드 어레이 소켓 및 콘택트에 관한 것이다.The present invention relates to ball grid array sockets and structures for contacts for integrated circuit chips, more specifically metallic balls and ICs mounted beneath the chip with uniformly distributed side pressure. The contacts inside the sockets of the chip may be in full contact using the movement of the slider, whereby the signals are directed to ball grid array sockets and contacts that can be transmitted accurately.
오랫동안 컴퓨터 부품으로서 IC칩(Integrated Circuit chip)이 널리 사용되어왔다. PCB(Printed Circuit Board) 위에 IC칩을 부착하는 종래 방법은 보통 DIP 납땜 프로세스(Dip Soldering Process)를 이용하지만 이 프로세스는 제어가 곤란하다. IC칩 터미널 핀(IC chip terminal pin)은 쉽게 변형되거나 구부러진다. IC칩의 터미널 핀들이 구형으로 제작되며 IC칩과 기판이 납땜에 의해 연결되는 SMT(Surface Mounting Technology)라 불리는 향상된 기술이 이용되어 왔다. 그러나 또한 SMT는, 고밀도의 IC칩 터미널 핀들이 납땜되어져야 하는 경우에, 터미널 핀들을 납땜하기 위해 필요한 열이 한 그룹의 터미널 핀들 내부에 전달되기 어려워서 결과적으로 점검과 교정이 어려운 불량한 납땜 프로세스가 되었다.IC chips (Integrated Circuit chips) have been widely used as computer components for a long time. Conventional methods for attaching an IC chip on a printed circuit board (PCB) usually use a dip soldering process, but this process is difficult to control. IC chip terminal pins are easily deformed or bent. An advanced technology called Surface Mounting Technology (SMT) has been used in which the terminal pins of the IC chip are made in a spherical shape and the IC chip and the board are connected by soldering. However, SMT also results in a poor soldering process, where high-density IC chip terminal pins must be soldered, so that the heat required to solder the terminal pins is difficult to transfer into a group of terminal pins, making it difficult to check and correct. .
불량 IC칩을 교환하거나 심지어는 컴퓨터 설치물 전체를 개조할 필요가 있는 경우에, 상술한 종래의 DIP와 SMT 기술은 작업을 만족할 만하게 수행할 수 없다. 또한 이러한 형태의 소켓은 PC 머더보드(mother board)와 같은 원하는 MPU 업그레이드 교환 장치의 이용시에 필요로 한다.In the case where it is necessary to replace a defective IC chip or even modify the whole computer installation, the above-described conventional DIP and SMT techniques cannot perform satisfactorily. This type of socket is also required when using a desired MPU upgrade exchange device such as a PC motherboard.
상술한 문제점들을 해결하기 위하여, 본 고안의 고안자에 의하여 발표된 두 가지 발명, "IC칩용 볼 그리드 어레이 소켓"(대만특허 제 119885 호)과 "IC칩용 볼 그리드 어레이 소켓을 위한 개선된 구조물"(대만특허 제 86219485 호)이 있다. 그러나 이들 두 발명의 경우에, BGA칩의 바닥 아래에 장착된 콘택트와 금속성 볼들은 PCB에 손상을 주거나 PCB의 변형을 초래할 수도 있는 하향 압력으로 눌려져 있다. 이러한 점에서 본 고안의 고안자는 그의 두 발명에 대해 만족하지 못하여 이들 문제점에 대한 해결책을 찾고자 한다.In order to solve the above problems, two inventions published by the inventors of the present invention, "ball chip array socket for IC chip" (Taiwan Patent No. 119885) and "improved structure for ball grid array socket for IC chip" ( Taiwan Patent No. 86219485). In the case of these two inventions, however, the contacts and metallic balls mounted under the bottom of the BGA chip are pressed under downward pressure which may damage the PCB or cause deformation of the PCB. In this regard, the inventors of the present invention are not satisfied with the two inventions and seek to find a solution to these problems.
오랜 동안의 노력을 통하여, 본 고안자는 마침내 이하에서 설명할 본 고안, 즉 "IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트"로써 상술한 문제점들의 해결책을 찾아내었다.Through long efforts, the inventors have finally found a solution to the above-mentioned problems with the present invention described below, "BGA socket and contact for IC chip."
본 고안의 제 1 목적은, PCB의 손상이나 변형을 방지하기 위하여 하향 압력 대신에 균일하게 분포된 측압으로 IC칩 아래에 장착되어 있는 금속성 볼들과 IC칩의 소켓 내부의 콘택트가 슬라이드의 이동을 이용하므로써 완전 접촉할 수도 있는 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 구조물을 제공하는 것이다.In order to prevent damage or deformation of the PCB, the first object of the present invention utilizes the movement of the slide of the metallic balls mounted under the IC chip and the contacts inside the socket of the IC chip with uniformly distributed side pressure instead of downward pressure. This provides a BGA socket and contact structure for an IC chip that may be in full contact.
본 고안의 제 2 목적은, V형 하부핀과 함께 BGA칩 아래에 장착된 금속성 볼과의 접촉이 아크형으로 신규하게 설계된 금속성 콘택트의 상부에 의하여 개선되어 결과적으로 그들 사이의 콘택트의 질이 개선된 IC칩용 BGA 소켓과 콘택트의 구조물을 제공하는 것이다.The second object of the present invention is that the contact with the metallic ball mounted under the BGA chip with the V-type lower pin is improved by the upper part of the newly designed metallic contact in arc shape, and consequently the quality of the contact therebetween is improved. To provide a structure of the BGA socket and contacts for the integrated IC chip.
본 고안의 제 3 목적은, 금속성 콘택트 핀들을 기울어진 각으로 형성하므로써 PCB의 납땜의 질을 개선한 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 구조물을 제공하는 것이다.It is a third object of the present invention to provide a structure of a BGA socket and a contact for an IC chip which improves the soldering quality of a PCB by forming metallic contact pins at an inclined angle.
본 고안의 제 4 목적은, 작업자가 정교한 측정 장치를 사용하지 않고도 독창적으로 설계된 검사 구멍에 의하여 납땜의 질에 따라 가시적인 예비검사를 할 수 있는 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 구조물을 제공하는 것이다.It is a fourth object of the present invention to provide a structure of a BGA socket and a contact for an IC chip, which enables the operator to visually perform preliminary inspections according to the quality of soldering by means of inspection holes that are uniquely designed without using sophisticated measuring devices.
이들 및 다른 목적들을 성취하기 위하여, 본 고안의 요지는 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 구조물을 제공하며, 상술한 이로운 기능들을 수행하기 위하여 여기에 기재된 이 구조물은 상부 덮개와, 슬라이더와, 플라스틱 하우징과, 핸들바(handle bar)와, 복수의 금속성 콘택트와, 스프링과 4개의 다리를 포함한다.In order to achieve these and other objects, the subject matter of the present invention provides a structure of a BGA socket and contact for an IC chip, and the structure described herein to perform the above-described advantageous functions, the top cover, the slider, the plastic housing and And a handle bar, a plurality of metallic contacts, a spring and four legs.
도면들은 본 고안의 여러 가지 장점들과 목적들을 예시하는 역할을 하는 실시예들을 도식적으로 나타낸다.The drawings schematically illustrate embodiments which serve to illustrate various advantages and objectives of the present invention.
도 1은 본 고안의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 조립도.1 is an assembly view of the BGA socket and contacts for the IC chip of the present invention.
도 2는 본 고안의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 3차원 분해도.Figure 2 is a three-dimensional exploded view of the BGA socket and contact for the IC chip of the present invention.
도 3은 본 고안의 콘택트의 정면도, 평면도 및 측면도.3 is a front view, a plan view and a side view of a contact of the present invention.
도 4는 본 고안의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 횡단면도.Figure 4 is a cross-sectional view of the BGA socket and contact for the IC chip of the present invention.
도 5는 본 고안의 소켓에 BGA 칩이 어떻게 장착되는지를 개략적으로 도시한 도면.5 is a view schematically showing how the BGA chip is mounted in the socket of the present invention.
도 6은 본 고안의 실시예(슬라이더의 작동 전)에서의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 개략적인 단면도.6 is a schematic cross-sectional view of a BGA socket and contact for an IC chip in an embodiment of the present invention (before the operation of the slider).
도 7은 슬라이더의 작동 후 상태를 나타낸 것을 제외하고는 도 6과 유사한 도면.FIG. 7 is a view similar to FIG. 6 except that the state after the operation of the slider is shown;
도 8은 본 고안의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트에서의 각 부품들의 이동을 개략적으로 도시한 도면.8 is a view schematically showing the movement of each component in the BGA socket and contact for the IC chip of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
10 : 상부 덮개 20 : 슬라이더10: top cover 20: slider
30 : 플라스틱 하우징 40 : 핸들바30 plastic housing 40 handlebar
50 : 금속성 콘택트 60 : 스프링50: metallic contact 60: spring
70 : 다리70: legs
도 1과 도 2를 참조하면, 본 고안의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트는 상부 덮개(10)와, 슬라이더(20)와, 플라스틱 하우징(30)과, 핸들바(40)와, 복수의 금속성 콘택트(50)와, 스프링(60)과 4개의 다리(70)를 포함한다. 상부 덮개(10)는, 상부 덮개(10)가 덮혀질 때 플라스틱 하우징(30)에 제공된 각각의 슬롯(31)과 맞물리는 2개의 걸쇠(12)를 갖는 중공판(hollow plate)으로 형성된다. 슬라이더(20)는 플라스틱 하우징(30)에 대향하는 복수의 정사각형 구멍(28)들이 제공된 오목한 표면을 갖는 정사각형 플라스틱 본체이다. 그리고 이 슬라이더의 전방 가장자리에는 돌출된 블록이 형성되어 있으며, 측면 가장자리에는 오른쪽과 왼쪽에 각각 2개의 슬라이딩 슬롯(25)들을 갖춘 4개의 슬라이딩 슬롯(25)이 형성되어 있다. 또한 플라스틱 하우징(30)에는 복수의 정사각형 구멍(33)이 제공된 정사각형의 오목한 표면이 형성되어 있으며, 오목한 표면을 바라보는 2개의 가장자리들의 내측에는 오른쪽과 왼쪽에 각각 2개의 위치 설정용 블록(37)들을 갖춘 4개의 위치 설정용 블록(37)들이 형성되어 있다. 플라스틱 하우징(30)의 전방부에는 원형 구멍(35)을 형성하도록 뚫려 있으며, 핸들바(40)를 걸기 위하여 한쪽 가장자리에 후크(39)가 제공된다. L자와 유사하게 형성된 핸들바(40)는 단부에 회전 샤프트(43)를 가지며, 이 단부에서 편심부(46)와 또한 복수의 금속성 콘택트(50)를 포함한다. 플라스틱 하우징(30)에는 4개의 다리와 스프링(60)이 제공된다.1 and 2, the BGA socket and the contact for the IC chip of the present invention include a top cover 10, a slider 20, a plastic housing 30, a handlebar 40, and a plurality of metallic contacts. 50, a spring 60 and four legs 70. The top cover 10 is formed of a hollow plate with two clasps 12 that engage each slot 31 provided in the plastic housing 30 when the top cover 10 is covered. The slider 20 is a square plastic body having a concave surface provided with a plurality of square holes 28 opposite the plastic housing 30. A protruding block is formed on the front edge of the slider, and four sliding slots 25 having two sliding slots 25 on the right and left sides are formed on the side edges. In addition, the plastic housing 30 is formed with a square concave surface provided with a plurality of square holes 33, and two positioning blocks 37 on the right and left sides inside the two edges facing the concave surface. Four positioning blocks 37 are formed. The front part of the plastic housing 30 is drilled to form a circular hole 35, and a hook 39 is provided at one edge to hook the handlebar 40. Handlebar 40 formed similarly to L has a rotating shaft 43 at its end, which includes an eccentric 46 and also a plurality of metallic contacts 50 at this end. The plastic housing 30 is provided with four legs and a spring 60.
금속성 콘택트들은 플라스틱 하우징(30)에 장착되며 핸들바(40)는 다리(70)로 하우징(30)에 고정된다. 회전 샤프트(43)는 플라스틱 하우징(30)의 전방부에 형성된 원형 구멍(35) 내로 삽입된다. 상부 덮개(10)는 4개의 다리(70)로 플라스틱 하우징(30) 상에 고정된다.The metallic contacts are mounted to the plastic housing 30 and the handlebar 40 is secured to the housing 30 with the legs 70. The rotating shaft 43 is inserted into the circular hole 35 formed in the front part of the plastic housing 30. Top cover 10 is secured on plastic housing 30 with four legs 70.
본 고안에 따른 금속성 콘택트의 정면도, 평면도 및 측면도를 도시한 도 3을 참조하면, 금속성 콘택트(50)에 하향 압력이 가해질 때 금속성 콘택트(50)의 상부 부분이 그 아래에 위치한 금속성 볼(85)을 부드럽게 누르기 위하여 거의 아크 모양으로 형성되어 있다는 것을 도면으로부터 알 수 있다. 콘택트(50)의 접촉 단부(53)가 V자형으로 형성되므로써 콘택트 접촉 면적의 증가에 의해 더 우수한 접촉을 얻을 수 있다. 콘택트(50)의 핀 부분(56)은 기울어진 핀 부분(56)에 의하여 형성된 공간에 더 많은 액체 납땜을 수용하기 위하여 임의의 각도로 미리 경사지게 하여, PCB(95)에 대한 금속성 콘택트(50)의 땜납 신뢰성을 향상시킨다(도 8의 D 참고).Referring to FIG. 3, which shows a front view, a plan view, and a side view of a metallic contact according to the present invention, when the downward pressure is applied to the metallic contact 50, the upper portion of the metallic contact 50 is positioned below the metallic ball 85. It can be seen from the figure that it is formed almost in an arc shape in order to gently press). Since the contact end 53 of the contact 50 is formed in a V shape, better contact can be obtained by increasing the contact contact area. The pin portion 56 of the contact 50 is inclined in advance at an angle to accommodate more liquid solder in the space formed by the inclined pin portion 56, thereby making the metallic contact 50 to the PCB 95. Improves solder reliability (see FIG. 8D).
도 4는 본 고안의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 단면도를 도시한 도면이며, 이 도면은 힘을 가하기 전에 플라스틱 하우징(33)에 제공되어 있는 정사각형 구멍(33) 내에 삽입된 복수의 금속성 콘택트(50)를 도시한다.4 is a cross-sectional view of a BGA socket and a contact for an IC chip of the present invention, which shows a plurality of metallic contacts 50 inserted in a square hole 33 provided in the plastic housing 33 before applying a force. ).
도 5는 본 고안의 소켓에 BGA 칩이 어떻게 삽입되는가를 개략적으로 나타내는 도면이며, 또한 도 6은 슬라이더의 작동 전에 본 고안의 실시예로서 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트의 개략적인 단면도를 도시한 도면이며, 여기서 BGA 칩(80)이 소켓(90) 내에 삽입될 때 BGA 칩(80) 아래에 제공된 복수의 금속성 볼(85)들은 정사각형 구멍(33)에 진입하며, 정사각형 구멍(33) 내에 이미 수용된 금속성 콘택트(50)와 가볍게 접촉함을 이들 두 개의 도면으로부터 알 수 있다. 그러나 금속성 콘택트(50)의 핀 부분(56)의 질을 확실히 믿을 수 없다면, 모든 금속성 콘택트(50)와 금속성 볼(85) 사이의 완전한 접촉은 기대할 수 없으며, 심지어는 콘택트(50)와 금속성 볼(85)의 일부는 서로 전혀 접촉하지 않는다. 그러한 상황이 발생하면 확실히 불량 통신 신호 상태가 되며, 심지어는 장치가 그러한 불완전한 부품들로 제작된다면 신호는 완전히 두절된다.FIG. 5 is a view schematically showing how a BGA chip is inserted into a socket of the present invention, and FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of a BGA socket and a contact for an IC chip as an embodiment of the present invention before operation of a slider. Wherein, when the BGA chip 80 is inserted into the socket 90, the plurality of metallic balls 85 provided below the BGA chip 80 enter the square hole 33, and the metallic hole already received in the square hole 33. Light contact with the contact 50 can be seen from these two figures. However, if the quality of the pin portion 56 of the metallic contact 50 is unreliable, a complete contact between all metallic contacts 50 and metallic balls 85 cannot be expected, even contact 50 and metallic balls. Some of the 85 are not in contact with each other at all. When such a situation occurs, it is certainly a bad communication signal, and even if the device is made of such incomplete parts, the signal is completely lost.
도 7을 참조하면, BGA 칩(80)이 소켓(90)에 장착된 후인 슬라이더의 작동 이후 상태를 나타낸 것을 제외하고는 도 6과 유사하다. 슬라이더(20)의 전방 단부에 제공된 돌출된 블록(22)은, 핸들바(40)가 아래로 눌린 이후에 핸들바(40)의 편심부(46)의 작동으로 밀려서, 슬라이더(20)를 플라스틱 하우징(30) 내로 이동시켜 그 결과 BGA칩(80) 아래에 존재하는 금속성 볼(85)이 측압으로 금속성 콘택트(50)와 접촉하게 한다. 그러한 작동에 의하여, 각각의 금속성 콘택트(50)는 상응하는 금속성 볼(85)과 확실한 접촉을 보장한다. 독창적으로 설계된 본 고안의 이러한 이상적인 구조물을 통하여, 신호는 정확하고 확실하게 전달될 수 있으며, 이것이 본 고안의 가장 중요하며 특징적인 요지이다(도 8의 A 내지 도 8의 C 참고).Referring to FIG. 7, it is similar to FIG. 6 except that the state after the operation of the slider after the BGA chip 80 is mounted in the socket 90 is shown. The protruding block 22 provided at the front end of the slider 20 is pushed by the operation of the eccentric portion 46 of the handlebar 40 after the handlebar 40 is pressed down, thereby pushing the slider 20 to plastic. It moves into the housing 30 and as a result causes the metallic balls 85 under the BGA chip 80 to come into contact with the metallic contacts 50 at lateral pressure. By such operation, each metallic contact 50 ensures reliable contact with the corresponding metallic ball 85. With this ideally designed structure of the present invention, the signal can be transmitted accurately and reliably, which is the most important and characteristic point of the present invention (see FIGS. 8A-8C).
여기에 추가하여 도 8의 E를 참조하면, 또 하나의 장점은, 제조 공정동안 불완전한 납땜 작업에 의해 원인이 되어 앞으로 있을 수 있는 실패의 가능성을 방지하기 위하여 금속성 콘택트(50)의 핀 부분(56)이 PCB(95)에 확실하게 납땜되는지에 관해, 작업자가 소켓(90)의 상부로부터 가시적인 예비검사를 할 수 있는 검사 구멍(도시 안함)에 의하여 얻어진다.In addition to this, referring to E of FIG. 8, another advantage is that the pin portion 56 of the metallic contact 50 may be prevented by the possibility of future failures caused by incomplete soldering operations during the manufacturing process. ) Is obtained by an inspection hole (not shown) that allows the operator to make a preliminary visual inspection from the top of the socket 90 as to whether or not it is reliably soldered to the PCB 95.
결론적으로 본 고안의 IC칩용 BGA 소켓 및 콘택트는 여기서 인용된 발명이나 다른 동등한 발명의 장점 이상의 여러 가지 장점들을 갖는다. 다시 말해서,In conclusion, the BGA socket and contact for the IC chip of the present invention have several advantages over the advantages of the invention cited herein or other equivalent inventions. In other words,
1. BGA 칩 아래에서 금속성 콘택트 및 금속성 볼 사이의 측압에 의한 접촉에 의하여 종래 기술에 이용된 하향 압력에 의하여 원인이 된 PCB에 대한 손상 가능성이나 변형의 단점을 해결한다.1. Addresses the possibility of damage or deformation to the PCB caused by the downward pressure used in the prior art by side pressure contact between the metallic contacts and the metallic balls under the BGA chip.
2. 본 고안에 따라 제공된 검사 구멍으로써, 작업자는 PCB의 금속성 콘택트와 금속성 볼들의 납땜의 질에 관해서 가시적인 예비검사를 용이하게 할 수 있다.2. With the inspection holes provided according to the present invention, the operator can facilitate visual preliminary inspection regarding the quality of soldering of metallic contacts and metallic balls on the PCB.
3. 본 고안에 따른 금속성 콘택트의 상부를 아크 모양으로 설계하므로써, 그 아래에서 금속성 볼을 누르도록 힘을 전달하여 상부에 가해진 힘을 줄일 수 있으며, 그 결과로 슬라이더 운동에 의하여 칩이 소켓으로부터 튀어 오르는 것을 방지한다. 콘택트의 V자형 콘택트 단부는 더 우수한 콘택트 효율을 생성할 수 있는 콘택트 면적을 증가시킨다.3. By designing the upper part of the metallic contact according to the present invention in an arc shape, it is possible to reduce the force applied to the upper part by transmitting a force to press the metallic ball beneath it, and as a result, the chip pops out of the socket by the slider movement. Prevents climbing The V-shaped contact ends of the contacts increase the contact area, which can produce better contact efficiency.
4. 본 고안에 따른 금속성 콘택트의 기울어진 핀 부분은, PCB와 접촉하는 금속성 콘택트의 더 우수한 납땜 효과를 위해 더 많은 액체 상태 납땜 물질을 수용하는 공간을 제공한다.4. The inclined pin portion of the metallic contact according to the present invention provides space for accommodating more liquid state solder material for better soldering effect of the metallic contact in contact with the PCB.
물론, 본 고안의 상술한 실시예에서 여러 가지 변화와 변용들은 그것의 범주를 벗어나지 않고도 수행될 수 있다. 따라서 과학과 유용한 기술의 진보를 촉진하기 위해서, 본 고안을 밝히며 첨부한 청구항의 범주에 의하여서만 제한한다.Of course, in the above-described embodiment of the present invention, various changes and modifications can be made without departing from its scope. Thus, in order to facilitate the advancement of science and useful technologies, the present invention is disclosed and limited only by the scope of the appended claims.
Claims (1)
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KR2019980013016U KR20000003008U (en) | 1998-07-15 | 1998-07-15 | Ball Grid Array Sockets and Contacts for Integrated Circuit Chips |
Applications Claiming Priority (1)
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KR2019980013016U KR20000003008U (en) | 1998-07-15 | 1998-07-15 | Ball Grid Array Sockets and Contacts for Integrated Circuit Chips |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116774012A (en) * | 2023-08-15 | 2023-09-19 | 深圳市微特精密科技股份有限公司 | ICT test fixture and testing arrangement |
-
1998
- 1998-07-15 KR KR2019980013016U patent/KR20000003008U/en active IP Right Grant
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CN116774012A (en) * | 2023-08-15 | 2023-09-19 | 深圳市微特精密科技股份有限公司 | ICT test fixture and testing arrangement |
CN116774012B (en) * | 2023-08-15 | 2023-10-20 | 深圳市微特精密科技股份有限公司 | ICT test fixture and testing arrangement |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
NORF | Unpaid initial registration fee |