KR19990085258A - 음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법 - Google Patents

음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법 Download PDF

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KR19990085258A
KR19990085258A KR1019980017543A KR19980017543A KR19990085258A KR 19990085258 A KR19990085258 A KR 19990085258A KR 1019980017543 A KR1019980017543 A KR 1019980017543A KR 19980017543 A KR19980017543 A KR 19980017543A KR 19990085258 A KR19990085258 A KR 19990085258A
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김윤주
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서두칠
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Abstract

본 발명은, 음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 음극선관용 패널의 광학적 검사장치는, 음극선관용 패널을 이송하는 패널이송수단과; 상기 패널이송수단에 의해 이송되는 패널에 빛을 조사하여 상기 패널의 결점을 검색하는 광학적 검사부와; 상기 패널의 출입을 위한 출구 및 입구를 가지고 상기 광학적 검사부를 둘러 싸는 케이싱과; 상기 패널의 상기 광학적 검사부의 투입전 영역에 배치되어 상기 패널에 이온화된 공기를 공급함으로써 상기 패널에 대전된 정전하가 방전되도록 하는 정전하방전수단을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 패널에 대전된 정전하를 방전시켜 패널의 표면에 먼지 등의 이물질이 부착되지 않도록 함으로써 검사정밀도를 향상시킬 수 있다.

Description

음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법
본 발명은, 음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 패널에 이온화된 공기를 분사하여 패널에 대전된 정전하를 방전시킬 수 있도록 한 음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
일반적으로 음극선관은 화상이 투사되는 패널과, 패널의 배후에 결합되는 깔때기 형상의 펀넬과, 전자총을 구비하여 펀넬에 결합되는 넥크를 가진다. 패널은 화상이 투사되는 페이스부와, 페이스부의 연부로부터 둘레 방향을 따라 절곡형성된 스커트부를 가지며 스커트부의 접합단면을 통하여 플리트 실링에 의해 펀넬에 접합된다.
음극선관용 패널은, 용융 글라스원료의 프레스성형에 의해 만들어 지며, 성형과정에서 여러 가지 요인에 의해 다양한 결점이 발생될 수 있다. 일정 이상의 크기를 갖는 결점들은 패널의 광학적 특성을 손상시킬 수 있다. 전형적인 결점의 예로서는, 스톤(Stone), 블리스터(Blister) 및 피트(Pit) 등의 결점을 들수 있다. 스톤은 글라스원료의 용융과정에서 글라스에 혼입된 이물질 등에 의해 생성되며, 블리스터는 글라스내에 잔류한 기포를 말한다. 그리고, 피트는 글라스고브를 가압성형하는 성형장치의 성형면과 글라스고브사이에 이물질 등이 개재됨으로써 패널의 표면에 함몰형성되는 요홈상의 결점을 말한다.
패널에 형성된 결점은 검사장치에 의한 자동적 검사나 작업자에 의한 육안검사에 의해 검출되어 그 정도에 따라 분류된다. 패널의 자동검사장치는 패널에 빛을 투과 또는 반사되도록 조사하고 투과 또는 반사된 빛의 투과율이나 반사율의 변화를 이용하여 결점을 검출한다.
그런데, 성형장치에 의해 성형된 패널은 여러 가지 공정 등을 거치면서 다른 기기들과 접촉에 의해 양의 정전하를 가지도록 대전되게 된다. 그럴 경우, 패널의 표면에는 공기중에 부유되는 먼지 등의 이물질이 패널에 대전된 전기적 에너지에 의해 부착되기 쉽다. 이러한 먼지 등의 이물질은 패널의 광학적 검사에 영향을 미쳐 검사정밀도를 저해시키게 되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은, 패널에 대전된 정전하를 방전시켜 패널의 표면에 먼지 등의 이물질이 부착되지 않도록 함으로써 검사정밀도를 향상시킬 수 있는 음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법을 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 음극선관용 패널의 광학적 검사장치의 사시도,
도 2 및 도 3은 각각 도 1의 Ⅱ- Ⅱ 및 Ⅲ- Ⅲ선에 따른 단면도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 패널 3 : 이송콘베이어
10 : 케이싱 20 : 이송장치
24 : 구동스프로킷휠 26 : 피동스프로킷휠
27 : 체인 29 : 어태치먼트
31 : 광투과검사부 33 : 광반사검사부
35 : 비젼처리부 40 : 공기공급관
41 : 관통공 45 : 이온발생부
47 : 송풍기
상기 목적은, 본 발명에 따라, 음극선관용 패널의 광학적 검사장치에 있어서, 음극선관용 패널을 이송하는 패널이송수단과; 상기 패널이송수단에 의해 이송되는 패널에 빛을 조사하여 상기 패널의 결점을 검색하는 광학적 검사부와; 상기 패널의 출입을 위한 출구 및 입구를 가지고 상기 광학적 검사부를 둘러 싸는 케이싱과; 상기 패널의 상기 광학적검사부의 투입전 영역에 배치되어 상기 패널에 이온화된 공기를 공급함으로써 상기 패널에 대전된 정전하가 방전되도록 하는 정전하방전수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 패널의 광학적 검사장치에 의하여 달성된다.
여기서, 상기 정전하방전수단은, 상기 패널이송수단과 상기 패널의 통과간격을 두고 배치되는 공기공급관과, 상기 공기공급관의 일측에 상호 연통되도록 결합되어 상기 공기공급관으로 공기를 제공하는 송풍부와, 상기 공기공급관과 상호 연통되도록 결합되어 이온을 생성시키는 이온발생부를 포함하는 것이 바람직하다.
한편, 본 발명의 다른 분야에 따르면, 음극선관용 패널의 광학적 검사방법에 있어서, 소정의 검사영역을 향하여 상기 패널을 이송하는 단계와; 상기 패널의 상기 검사영역 투입전에 상기 패널을 향하여 이온화된 공기를 분사하는 단계와; 상기 패널에 빛을 조사하여 상기 패널의 결점을 검색하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 패널의 광학적 검사방법이 제공된다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 대하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 음극선관용 패널의 광학적 검사장치의 사시도이고, 도 2 및 도 3은 각각 도 1의 Ⅱ- Ⅱ 및 Ⅲ- Ⅲ선에 따른 단면도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 음극선관용 패널의 광학적 검사장치는, 소정의 검사영역을 둘러 싸도록 설치되는 케이싱(10)과, 검사영역내로 패널(1)을 이송시킬 수 있도록 케이싱(10)에 설치되는 이송장치(20)와, 케이싱(10)내에 마련되어 이송장치(20)에 의해 이송되는 패널(1)의 결점을 자동으로 검색하는 자동검사부(30)를 가진다.
케이싱(10)은 거의 역“T”형상을 가지도록 형성되며, 사각통형상의 지지부(11)와 지지부(11)의 상단 중앙영역으로부터 돌출된 돌출부(13)를 가진다. 지지부(11)는 상단면이 전공정으로부터 패널(1)을 이송하도록 설치된 이송콘베이어(3)의 이송면과 거의 나란하도록 형성되어 있다. 패널(1)의 이송방향을 따라 돌출부(13)의 일측연부에는 패널(1)이 유입될 수 있도록 판면을 관통하여 입구(15)가 형성되어 있으며, 입구(15)에 대향한 타측연부에는 출구(16)가 형성되어 있다. 지지부(11)의 상단면에는 패널(11)을 검사영역내로 이송할 수 있도록 지지부(11)의 길이방향을 따라 이송장치(20)가 마련되어 있다.
이송장치(20)는 지지부(11)의 길이방향을 따라 양측 연부에 상호 평행하게 배치되는 구동축(21) 및 피동축(22)과, 구동축(21)의 양단에 각각 결합되는 한 쌍의 구동스프로킷휠(24)과, 피동축(22)의 양단부영역에 상호 이격결합되는 한 쌍의 피동스프로킷휠(26)과, 각 구동스프로킷휠(24)과 피동스프로킷휠(26)에 결합되는 한 쌍의 체인(27)을 가진다. 구동축(21)은 일측에 마련된 도시 않은 구동모터에 연결되어 구동력을 제공받으며, 체인(27)의 내측에는 패널(1)의 접합단면부를 하측으로부터 지지하며 패널(1)의 이탈을 방지할 수 있도록 거의 “L”형상을 가지는 복수의 어태치먼트(29)가 결합되어 있다.
자동검사부(30)는, 이송장치(20)에 의하여 이송되는 패널(1)에 빛을 조사하고, 투과되는 빛의 투과율의 변화를 측정함으로써 패널내부의 결점을 검색하는 광투과검사부(31)와, 패널(1)의 페이스부의 배면에 빛이 반사되도록 조사하여 패널(1)의 표면의 결점을 검색하는 광반사검사부(33)를 가진다.
광투과검사부(31)는 돌출부(13)의 내부 입구영역에는 이송장치(20)에 의하여 케이싱(10)내로 이송된 패널(1)에 빛이 투과되도록 조사할 수 있게 마련된 제1발광부(32)와, 지지부(11)내에 패널(1)의 통과구간을 사이에 두고 제1발광부(32)에 대향하게 설치되어 패널(1)을 투과한 빛이 흡수되도록 패널(1)을 촬상하는 제1카메라(34)를 가진다.
광반사검사부(33)는 지지부(11)의 일측영역에 마련되어 빛을 발출하는 제2발광부(36)와, 제2발광부(36)와 소정 이격설치되어 제2발광부(36)로부터의 빛을 패널(1)의 페이스부의 배면에 반사되도록 조사하는 반사부재(37)와, 제2발광부(36)에 인접되게 설치되어 반사부재(37)로부터 반사되는 빛이 흡수되도록 패널(1)을 촬상하는 제2카메라(38)를 가진다.
이들 제1카메라(34)와 제2카메라(36)는 촬상된 패널(1)의 화상을 픽셀단위로 분해하여 비젼처리부(35)로 전송하도록 각각 비젼처리부(35)에 연결되어 있다. 비젼처리부(35)는 제1카메라(34) 및 제2카메라(36)로부터의 수광신호를 연산처리하여 처리된 패널(1)의 검사정보를 디스플레이할 수 있도록 외부에 설치된 모니터(미도시)에 연결된다.
한편, 케이싱(10)의 입구측영역에는 지지부(11)의 상단면으로부터 돌출되어 패널(1)이 통과할 수 있도록 거의 역 “U”형상을 가지도록 공기공급관(40)이 설치되어 있다. 공기공급관(40)에는 체인(27)에 의해 지지이송되는 패널(1)을 향해 공기를 공급할 수 있도록 다수의 관통공(41)이 형성되어 있다. 케이싱(10)의 내부에는 공기공급관(40)과 상호 연통되도록 설치되며 공기통과시 음이온이 발생되도록 하는 이온발생부(45)가 설치되어 있으며, 이온발생부(45)에는 이온발생부(45)로 공기를 공급할 수 있도록 송풍기(47)가 결합되어 있다.
이러한 구성에 의하여, 이송콘베이어(3)에 의해 전공정으로부터 이송된 패널(1)은 도시 않은 가이드수단에 의해 장변이 이송방향을 향하도록 안내되어 지지부(11)의 상단에 설치된 체인(27)을 향하게 된다. 패널(1)은 구동모터에 의해 일방향으로 회전하는 체인(27)의 어태치먼트(29)에 접합단면부가 지지되어 돌출부(13)에 형성된 입구(15)를 향하게 된다.
한편, 송풍기(47)의 작동에 의해 이온발생부(45)로 제공된 공기는 음이온화되어 공기공급관(40)을 따라 유동하게 된다. 음이온화된 공기는 공기공급관(40)의 관통공(41)을 통하여 패널(1)과 접촉함으로써 패널(1)의 표면에 대전된 양전하가 방전되도록 한다. 패널(1)에 대전된 정전하가 방전됨과 거의 동시에 패널(1)의 표면에 전기적 에너지에 의해 고착되어 있던 먼지 등의 이물질이 패널(1)의 표면으로부터 분리제거되게 된다.
이송콘베이어(3)에 의해 패널(1)이 케이싱(10)의 입구(15)를 통과하여 소정의 위치에 도달하게 되면, 제1발광부(32)는 패널(1)을 향하여 빛을 조사하고, 제1발광부(32)에 대향하도록 설치된 제1카메라(34)는 패널(1)의 조사영역을 촬상하게 된다. 제1카메라(34)는 촬상된 화상을 전기신호로 변환하여 비젼처리부(35)로 전송하게 된다. 비젼처리부(35)는 제1카메라(33)로부터의 픽셀단위의 화상데이터를 연산처리하여 패널(1)의 내부에 형성된 블리스터 및 스톤 등의 결점을 검출하게 된다.
광투과검사부(31)를 통과한 패널(1)이 소정의 위치에 도달하게 되면, 제2발광부(36)는 반사부재(37)를 향하여 빛을 조사한다. 반사부재(37)는 소정의 입사각을 가지도록 패널(1)의 페이스부 배면을 향하여 빛을 반사시키게 된다. 패널(1)의 페이스부 배면으로부터 반사된 빛은 반사부재(37)에 의하여 재반사되며, 이 때, 제2카메라(38)는 패널(1)의 조사영역을 촬상하여 촬상된 화상을 전기신호로 변환하여 비젼처리부(35)로 전송하게 된다. 비젼처리부(35)는 제2카메라(38)로부터의 수령된 화상데이터를 연산처리하여 패널(1)의 페이스부 배면에 형성된 피트 등의 결점을 검출하게 된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 검사영역내에 패널이 도달하기전에 패널을 향하여 이온화된 공기를 분사시켜 패널에 대전된 정전하가 방전되도록 함으로써, 패널의 표면에 전기적 에너지에 의해 부착된 먼지 등의 이물질을 분리제거시킬 수 있다. 이에 의해, 먼지 등에 기인된 오차를 줄일 수 있어 검사정밀도를 향상시킬 수 있는 음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법이 제공된다.

Claims (3)

  1. 음극선관용 패널의 광학적 검사장치에 있어서,
    음극선관용 패널을 이송하는 패널이송수단과;
    상기 패널이송수단에 의해 이송되는 패널에 빛을 조사하여 상기 패널의 결점을 검색하는 광학적 검사부와;
    상기 패널의 출입을 위한 출구 및 입구를 가지고 상기 광학적 검사부를 둘러 싸는 케이싱과;
    상기 패널의 상기 광학적검사부의 투입전 영역에 배치되어 상기 패널에 이온화된 공기를 공급함으로써 상기 패널에 대전된 정전하가 방전되도록 하는 정전하방전수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 패널의 광학적 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 정전하방전수단은,
    상기 패널이송수단과 상기 패널의 통과간격을 두고 배치되는 공기공급관과, 상기 공기공급관의 일측에 상호 연통되도록 결합되어 상기 공기공급관으로 공기를 제공하는 송풍부와, 상기 공기공급관과 상호 연통되도록 결합되어 이온을 생성시키는 이온발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 패널의 광학적 검사장치.
  3. 음극선관용 패널의 광학적 검사방법에 있어서,
    소정의 검사영역을 향하여 상기 패널을 이송하는 단계와;
    상기 패널의 상기 검사영역 투입전에 상기 패널을 향하여 이온화된 공기를 분사하는 단계와;
    상기 패널에 빛을 조사하여 상기 패널의 결점을 검색하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관용 패널의 광학적 검사방법.
KR1019980017543A 1998-05-15 1998-05-15 음극선관용 패널의 광학적 검사장치 및 검사방법 KR19990085258A (ko)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9588060B2 (en) 2013-11-15 2017-03-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Non-destructive inspection system for display panel and method, and non-destructive inspection apparatus thereof

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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