KR19990055444A

KR19990055444A - Disc scratch detection circuit of optical disc player

Info

Publication number: KR19990055444A
Application number: KR1019970075388A
Authority: KR
Inventors: 김낙석; 조찬동
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1997-12-27
Filing date: 1997-12-27
Publication date: 1999-07-15

Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야end. The technical field to which the invention described in the claims belongs

광 디스크 재생장치에서 디스크로부터 픽업된 신호로부터 디스크의 흠집을 감지하는 회로에 관한 것이다.An optical disc reproducing apparatus relates to a circuit for detecting scratches of a disc from a signal picked up from the disc.

나. 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제I. The technical problem to be solved by the invention

디스크에 비정상적인 흠집이나 인터럽션이 있는 경우에도 흠집을 감지할 수 있는 디스크 흠집 감지회로를 제공한다.It provides a disk scratch detection circuit that can detect a scratch even if there is an abnormal scratch or interruption on the disk.

다. 발명의 해결방법의 요지All. Summary of Solution of the Invention

디스크에 기록되어 있는 정보를 광학적으로 리드하여 재생한 RF신호의 피이크 레벨을 레벨 변화에 추종하면서 검출하는 피이크 홀드회로와, RF신호의 바텀 레벨을 레벨 변화에 추종하면서 검출하는 바텀 홀드회로와, 피이크 홀드회로와 바텀 홀드회로의 출력을 차동 증폭하는 차동 증폭기와, 차동 증폭기의 출력 레벨을 일정 기준레벨과 비교하여 디스크상의 흠집 여부를 나타내는 흠집 모니터신호를 발생하는 비교기를 구비한다.A peak hold circuit that detects the peak level of the RF signal reproduced by optically reading the information recorded on the disc while following the level change, a bottom hold circuit that detects the bottom level of the RF signal while following the level change, and the peak And a differential amplifier for differentially amplifying the outputs of the hold circuit and the bottom hold circuit, and a comparator for generating a scratch monitor signal indicating whether the disc is scratched by comparing the output level of the differential amplifier with a predetermined reference level.

라. 발명의 중요한 용도la. Important uses of the invention

광 디스크 재생장치에서 디스크 흠집을 감지하는데 이용한다.It is used to detect disc scratches in the optical disc player.

Description

Disc scratch detection circuit of optical disc player

본 발명은 광 디스크(optical disc) 재생장치에 관한 것으로, 특히 디스크로부터 픽업(pick-up)된 신호로부터 디스크의 흠집(defect)을 감지하는 회로에 관한 것이다.The present invention relates to an optical disc reproducing apparatus, and more particularly to a circuit for detecting a defect of a disc from a signal picked up from the disc.

통상적으로 광 디스크 재생장치는 CD(Compact Disc), CD-ROM(Compact Disc - Read Only Memory), LD(Laser Disc), MD(Mini Disc), DVD(Digital Video Disc)등과 같은 각종 디스크들중에 해당하는 디스크에 기록되어 있는 정보를 재생하는 장치이다. 이러한 디스크는 제조 공정상이나 사용중 취급 부주의로 인해 흠집을 가지게 된다. 이와 같이 디스크상에 흠집이 있을 경우 흠집으로 인해 잘못된 신호가 읽혀짐에 따라 데이터를 정확히 복원해 낼 수 없게 된다. 이에따라 광 디스크 재생장치는 디스크상의 흠집을 감안하여 데이터를 복원하기 위해 흠집 여부와 그 길이를 모니터(monitoring)하기 위한 디스크 흠집 감지회로를 채용하고 있다.In general, an optical disc player corresponds to a variety of discs such as CD (Compact Disc), CD-ROM (Compact Disc-Read Only Memory), LD (Laser Disc), MD (Mini Disc) and DVD (Digital Video Disc). Is a device for reproducing information recorded on a disc. Such discs are scratched due to careless handling during manufacturing or during use. In this way, if there is a scratch on the disk, the wrong signal is read due to the scratch, so that the data cannot be correctly restored. Accordingly, the optical disc reproducing apparatus employs a disc flaw detection circuit for monitoring the flaw and its length in order to recover data in consideration of the flaw on the disc.

도 1은 통상적인 디스크 흠집 감지회로도를 보인 것이다. 광 픽업(100)은 디스크(도시하지 않았음)에 기록되어 있는 정보를 광학적으로 픽업하고 광 검출에 의해 전기적인 신호들을 출력한다. RF 총합(summing)회로(102)는 이를 총합하여 RF신호를 출력한다. 제1 피이크 홀드(peak hold)회로(104)는 RF신호의 피이크 레벨을 레벨 변화에 빠르게 추종하면서 검출한다. 정전압 레벨 쉬프터(shifter)(106)는 제1 피이크 홀드회로(104)의 출력 Vp1을 일정 레벨만큼 쉬프트시킨다. 제2 피이크 홀드회로(108)는 RF신호의 피이크 레벨을 레벨 변화에 느리게 추종하면서 검출한다. 비교기(110)는 정전압 레벨 쉬프터(106)의 출력 Vp1'와 제2 피이크 홀드회로(108)의 출력 Vp2을 비교하여 디스크상의 흠집 여부를 나타내는 흠집 모니터신호 DFCT를 발생한다. 이때 디스크상에 흠집이 있는 경우 흠집 모니터신호 DFCT는 흠집의 길이에 대응하는 만큼의 폭을 가지는 펄스로 출력된다.1 shows a conventional disk scratch detection circuit diagram. The optical pickup 100 optically picks up the information recorded on the disc (not shown) and outputs electrical signals by light detection. The RF summing circuit 102 sums these and outputs an RF signal. The first peak hold circuit 104 detects the peak level of the RF signal while rapidly following the level change. The constant voltage level shifter 106 shifts the output Vp1 of the first peak hold circuit 104 by a predetermined level. The second peak hold circuit 108 detects the peak level of the RF signal while slowly following the level change. The comparator 110 compares the output Vp1 'of the constant voltage level shifter 106 with the output Vp2 of the second peak hold circuit 108 to generate a scratch monitor signal DFCT indicating whether the disc is scratched. At this time, if there is a scratch on the disk, the scratch monitor signal DFCT is output as a pulse having a width corresponding to the length of the scratch.

한편 상기한 디스크 흠집 감지회로는 디스크에 블랙 도트(black dot)나 스크래치(scratch)와 같은 일반적인 흠집이 있는 경우에만 흠집을 감지할 수 있었다. 즉, 디스크상에 물방울이 있거나 형광펜이 그어져 있는 것과 같은 비정상적인 흠집이 있는 경우에는 광 픽업(100)이나 디스크로부터 비정상적인 신호가 출력된다. 이러한 경우에는 상기한 디스크 흠집 감지회로로서는 이를 감지할 수 없었다. 또한 디스크에 인터럽션(interruption)이 나타나는 경우에도 광 픽업(100)이나 디스크로부터 비정상적인 신호가 출력됨으로써 이를 감지할 수 없었다. 상기 인터럽션은 마스터(master) 디스크로 인한 것으로, 피트(pit)가 있어야 할 곳에 없는 것을 의미하며, 이러한 경우 광 픽업(100)의 레이저 빔이 전반사되는 현상이 나타난다.On the other hand, the disk scratch detection circuit can detect a scratch only when the disk has a general scratch such as black dots or scratches. That is, when there are abnormal scratches such as water droplets on the disk or the highlighter is drawn, abnormal signals are output from the optical pickup 100 or the disk. In this case, the above-described disk scratch detection circuit could not detect this. In addition, even when an interruption (interruption) appears on the disk, it could not be detected because an abnormal signal is output from the optical pickup 100 or the disk. The interruption is due to the master disk, meaning that there is no pit where it should be, in which case the laser beam of the optical pickup 100 is totally reflected.

이러한 예를 도 1의 각 부분의 동작 파형도를 보인 도 2a 내지 도 2c를 참조하여 살펴본다. 먼저 도 2a는 디스크에 일반적인 흠집이 있는 경우를 보인 것이다. 즉, RF 총합회로(102)로부터 출력되는 RF신호가 도 2a의 (a)와 같을 때 제1 피이크 홀드회로(104)의 출력 Vp1과 정전압 레벨 쉬프터(106)의 출력 Vp1'과 제2 피이크 홀드회로(108)의 출력 Vp2는 도 2a의 (b)와 같이 된다. 이에따라 정전압 레벨 쉬프터(106)의 출력 Vp1'와 제2 피이크 홀드회로(108)의 출력 Vp2을 비교하는 비교기(110)로부터 발생되는 흠집 모니터신호 DFCT는 도 2a의 (c)와 같이 펄스 길이 T가 실제 디스크상의 흠집 길이에 대응된다.This example will be described with reference to FIGS. 2A to 2C, which show operational waveform diagrams of respective parts of FIG. 1. First, FIG. 2A shows a case where a general scratch is on a disk. That is, when the RF signal output from the RF sum circuit 102 is equal to (a) of FIG. 2A, the output Vp1 of the first peak hold circuit 104 and the output Vp1 'and the second peak hold of the constant voltage level shifter 106 are shown. The output Vp2 of the circuit 108 becomes as shown in Fig. 2A (b). Accordingly, the scratch monitor signal DFCT generated from the comparator 110 comparing the output Vp1 'of the constant voltage level shifter 106 and the output Vp2 of the second peak hold circuit 108 has a pulse length T as shown in FIG. Corresponds to the scratch length on the actual disc.

이와 달리 도 2b는 디스크에 비정상적인 흠집이 있는 경우를 보인 것이다. 이러한 경우 RF 총합회로(102)로부터 출력되는 RF신호는 도 2b의 (a)와 같이 된다. 이에따라 제1 피이크 홀드회로(104)의 출력 Vp1과 정전압 레벨 쉬프터(106)의 출력 Vp1'과 제2 피이크 홀드회로(108)의 출력 Vp2는 도 2b의 (b)와 같이 되므로 비교기(110)로부터 발생되는 흠집 모니터신호 DFCT는 도 2b의 (c)와 같이 펄스가 나타나지 않는다. 그러므로 실제 흠집이 있음에도 불구하고 이를 감지하지 못하였었다.On the contrary, FIG. 2B shows an abnormal scratch on the disk. In this case, the RF signal output from the RF sum circuit 102 becomes as shown in FIG. Accordingly, the output Vp1 of the first peak hold circuit 104, the output Vp1 'of the constant voltage level shifter 106, and the output Vp2 of the second peak hold circuit 108 are as shown in FIG. In the generated scratch monitor signal DFCT, a pulse does not appear as shown in FIG. Therefore, despite the actual scratch, it was not detected.

그리고 도 2c는 디스크에 인터럽션이 있는 경우를 보인 것이다. 이러한 경우 RF 총합회로(102)로부터 출력되는 RF신호는 도 2c의 (a)와 같이 된다. 이에따라 제1 피이크 홀드회로(104)의 출력 Vp1과 정전압 레벨 쉬프터(106)의 출력 Vp1'과 제2 피이크 홀드회로(108)의 출력 Vp2는 도 2c의 (b)와 같이 되므로 비교기(110)로부터 발생되는 흠집 모니터신호 DFCT는 도 2c의 (c)와 같이 펄스가 나타나지 않는다. 그러므로 이러한 경우에도 실제 인터럽션이 있음에도 불구하고 이를 감지하지 못하였었다.2C shows a case where there is an interruption in the disk. In this case, the RF signal output from the RF sum circuit 102 becomes as shown in FIG. Accordingly, the output Vp1 of the first peak hold circuit 104, the output Vp1 'of the constant voltage level shifter 106, and the output Vp2 of the second peak hold circuit 108 are as shown in FIG. In the generated scratch monitor signal DFCT, a pulse does not appear as shown in (c) of FIG. 2C. Therefore, even in this case, despite the actual interruption, it was not detected.

상술한 바와 같이 종래의 디스크 흠집 감지회로는 광 픽업이나 디스크로부터 비정상적인 흠집이나 인터럽션으로 인한 신호에 대하여는 흠집을 감지하지 못함으로써 오동작의 원인이 되는 문제점이 있었다.As described above, the conventional disk scratch detection circuit has a problem that causes a malfunction by not detecting a scratch on a signal due to abnormal scratches or interruptions from an optical pickup or a disk.

따라서 본 발명의 목적은 디스크에 비정상적인 흠집이나 인터럽션이 있는 경우에도 흠집을 감지할 수 있는 광 디스크 흠집 감지회로를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical disk scratch detection circuit that can detect a scratch even when there is an abnormal scratch or interruption on the disk.

도 1은 통상적인 디스크 흠집 감지회로도,1 is a conventional disk scratch detection circuit diagram,

도 2a 내지 도 2c는 도 1의 각 부분의 동작 파형도,2A to 2C are operation waveform diagrams of respective parts of FIG. 1,

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디스크 흠집 감지회로도,3 is a disk scratch detection circuit according to an embodiment of the present invention;

도 4a 내지 도 4c는 도 3의 각 부분의 동작 파형도.4A to 4C are operational waveform diagrams of respective parts of FIG. 3.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 디스크에 기록되어 있는 정보를 광학적으로 리드하여 재생한 RF신호의 피이크 레벨을 레벨 변화에 추종하면서 검출하는 피이크 홀드회로와, RF신호의 바텀 레벨을 레벨 변화에 추종하면서 검출하는 바텀 홀드회로와, 피이크 홀드회로와 바텀 홀드회로의 출력을 차동 증폭하는 차동 증폭기와, 차동 증폭기의 출력 레벨을 일정 기준레벨과 비교하여 디스크상의 흠집 여부를 나타내는 흠집 모니터신호를 발생하는 비교기를 구비함을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is a peak hold circuit for detecting the peak level of the RF signal reproduced by optically reading the information recorded on the disk while following the level change, and the bottom level of the RF signal to the level change A bottom hold circuit that detects and tracks the signal, a differential amplifier that differentially amplifies the outputs of the peak hold circuit and the bottom hold circuit, and compares the output level of the differential amplifier with a predetermined reference level to generate a scratch monitor signal indicating whether the disc is scratched. And a comparator.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기 설명 및 첨부 도면에서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description and the annexed drawings, detailed descriptions of well-known functions and configurations that may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention will be omitted.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 디스크 흠집 감지회로도를 보인 것으로 광 픽업(200)과 RF 총합회로(202)는 전술한 도 1의 광 픽업(100) 및 RF 총합회로(202)와 동일하다. 그러므로 광 픽업(200)은 디스크(도시하지 않았음)에 기록되어 있는 정보를 광학적으로 픽업하고 광 검출에 의해 전기적인 신호들을 출력한다. RF 총합회로(202)는 이를 총합하여 RF신호를 출력한다.3 shows a disk scratch detection circuit diagram according to an embodiment of the present invention, in which the optical pickup 200 and the RF total circuit 202 are the same as the optical pickup 100 and the RF total circuit 202 of FIG. . Therefore, the optical pickup 200 optically picks up the information recorded on the disc (not shown) and outputs electrical signals by light detection. The RF sum circuit 202 sums these and outputs an RF signal.

이와 같이 출력되는 RF신호는 피이크 홀드회로(204)와 바텀(bottom) 홀드회로(206)에 공통으로 인가된다. 피이크 홀드회로(204)는 RF신호의 피이크 레벨을 레벨 변화에 추종하면서 검출한다. 바텀 홀드회로(206)는 RF신호의 바텀 레벨을 레벨 변화에 추종하면서 검출한다. 이러한 피이크 홀드회로(204)의 출력 Vp은 차동 증폭기(208)의 비반전 입력단자(+)에 입력되고, 바텀 홀드회로(206)의 출력 Vb은 차동 증폭기(208)의 반전 입력단자(-)에 입력된다. 그러면 차동 증폭기(208)는 피이크 홀드회로(204)의 출력 Vp과 바텀 홀드회로(206)의 출력 Vb을 차동 증폭한다. 그러므로 차동 증폭기(208)의 출력 Vdif은 RF신호의 피이크 레벨과 바텀 레벨간의 차가 된다.The RF signal output in this manner is commonly applied to the peak hold circuit 204 and the bottom hold circuit 206. The peak hold circuit 204 detects the peak level of the RF signal while following the level change. The bottom hold circuit 206 detects the bottom level of the RF signal while following the level change. The output Vp of the peak hold circuit 204 is input to the non-inverting input terminal (+) of the differential amplifier 208, and the output Vb of the bottom hold circuit 206 is the inverting input terminal (−) of the differential amplifier 208. Is entered. The differential amplifier 208 then differentially amplifies the output Vp of the peak hold circuit 204 and the output Vb of the bottom hold circuit 206. Therefore, the output Vdif of the differential amplifier 208 becomes the difference between the peak level and the bottom level of the RF signal.

이러한 차동 증폭기(208)의 출력 Vdif은 비교기(210)에 인가되는데, 이때 비교기(210)에는 전술한 도 1의 비교기(110)에서와 달리 일정 기준레벨 Vref가 인가된다. 그러면 비교기(210)는 차동 증폭기(208)의 출력 Vdif을 일정 기준레벨 Vref과 비교하여 디스크상의 흠집 여부를 나타내는 흠집 모니터신호 DFCT를 발생한다.The output Vdif of the differential amplifier 208 is applied to the comparator 210, where a certain reference level Vref is applied to the comparator 210 unlike the comparator 110 of FIG. 1. The comparator 210 then compares the output Vdif of the differential amplifier 208 with a predetermined reference level Vref to generate a scratch monitor signal DFCT indicating whether the disc is scratched.

도 4a 내지 도 4c는 상기한 도 3의 각 부분의 동작 파형도를 보인 것으로, 도 4a는 일반적인 흠집 입력이 들어온 경우를 보인 것이고, 도 4b는 비정상적인 흠집 입력이 들어온 경우를 보인 것이며, 도 4c는 인터럽션 입력이 들어온 경우를 보인 것이다.4A to 4C show the operation waveforms of the respective parts of FIG. 3, FIG. 4A shows a case where a general scratch input is input, FIG. 4B shows a case where an abnormal scratch input is input, and FIG. 4C shows The interruption input is shown.

먼저 도 4a를 참조하면, RF 총합회로(202)로부터 출력되는 RF신호가 도 4a의 (a)와 같을 때 피이크 홀드회로(204)의 출력 Vp과 바텀 홀드회로(206)의 출력 Vb은 도 4a의 (b)와 같이 된다. 이에따라 차동 증폭기(208)의 출력 Vdif은 도 4a의 (c)와 같이 되어 비교기(210)에 인가된다. 이때 기준레벨 Vref이 도 4a의 (c)와 같이 일정 레벨을 유지하므로 비교기(210)로부터 발생되는 흠집 모니터신호 DFCT는 도 4a의 (d)와 같이 디스크에 있는 흠집을 나타내는 펄스가 출력된다.First, referring to FIG. 4A, when the RF signal output from the RF sum circuit 202 is equal to that of FIG. 4A, the output Vp of the peak hold circuit 204 and the output Vb of the bottom hold circuit 206 are shown in FIG. 4A. It becomes like (b) of. Accordingly, the output Vdif of the differential amplifier 208 is applied to the comparator 210 as shown in FIG. 4A (c). At this time, since the reference level Vref maintains a constant level as shown in FIG. 4A, the scratch monitor signal DFCT generated from the comparator 210 outputs a pulse representing a scratch in the disk as shown in FIG. 4A.

이와달리 디스크에 비정상적인 흠집이 있는 경우를 보인 도 4b를 참조하면, RF 총합회로(202)로부터 출력되는 RF신호는 도 4b의 (a)와 같이 된다. 그러면 홀드회로(204)의 출력 Vp과 바텀 홀드회로(206)의 출력 Vb은 도 4b의 (b)와 같이 된다. 이에따라 차동 증폭기(208)의 출력 Vdif은 도 4b의 (c)와 같이 되어 비교기(210)에 인가된다. 이때 기준레벨 Vref이 도 4b의 (c)와 같이 일정 레벨을 유지하므로 비교기(210)로부터 발생되는 흠집 모니터신호 DFCT는 도 4b의 (d)와 같이 디스크에 있는 흠집을 나타내는 펄스가 출력된다.In contrast, referring to FIG. 4B, which shows an abnormal scratch on the disk, the RF signal output from the RF sum circuit 202 becomes as shown in FIG. 4B (a). Then, the output Vp of the hold circuit 204 and the output Vb of the bottom hold circuit 206 are as shown in Fig. 4B (b). Accordingly, the output Vdif of the differential amplifier 208 is applied to the comparator 210 as shown in FIG. 4B (c). At this time, since the reference level Vref maintains a constant level as shown in (c) of FIG. 4B, the scratch monitor signal DFCT generated from the comparator 210 outputs a pulse representing a scratch in the disk as shown in (d) of FIG. 4B.

그리고 디스크에 인터럽션이 있는 경우를 보인 도 4c를 참조하면, RF 총합회로(202)로부터 출력되는 RF신호는 도 4c의 (a)와 같이 된다. 그러면 피이크 홀드회로(204)의 출력 Vp과 바텀 홀드회로(206)의 출력 Vb은 도 4c의 (b)와 같이 된다. 이에따라 차동 증폭기(208)의 출력 Vdif은 도 4c의 (c)와 같이 되어 비교기(210)에 인가된다. 이때 기준레벨 Vref이 도 4c의 (c)와 같이 일정 레벨을 유지하므로 비교기(210)로부터 발생되는 흠집 모니터신호 DFCT는 도 4c의 (d)와 같이 디스크에 있는 흠집을 나타내는 펄스가 출력된다.Referring to FIG. 4C which shows the case where the disk has an interruption, the RF signal output from the RF sum circuit 202 becomes as shown in FIG. 4C (a). Then, the output Vp of the peak hold circuit 204 and the output Vb of the bottom hold circuit 206 become as shown in Fig. 4C (b). Accordingly, the output Vdif of the differential amplifier 208 is applied to the comparator 210 as shown in FIG. 4C (c). At this time, since the reference level Vref maintains a constant level as shown in (c) of FIG. 4C, the scratch monitor signal DFCT generated from the comparator 210 outputs a pulse representing a scratch in the disk as shown in (d) of FIG. 4C.

상기한 바와 같은 도 4b 및 도 4c를 전술한 도 2b 및 도 2c와 비교해 보면 비정상적인 흠집이나 인터럽션이 있는 경우에도 흠집을 감지할 수 있게 됨을 알 수 있다. 따라서 디스크에 비정상적인 흠집이나 인터럽션이 있는 경우에도 흠집을 감지할 수 있다.Comparing FIG. 4B and FIG. 4C as described above with FIG. 2B and FIG. 2C, it can be seen that a scratch can be detected even when there is an abnormal scratch or interruption. This makes it possible to detect scratches even when the disc has abnormal scratches or interruptions.

상술한 바와 같이 본 발명은 디스크에 비정상적인 흠집이나 인터럽션이 있는 경우에도 흠집을 감지할 수 있는 잇점이 있다.As described above, the present invention has an advantage of detecting a scratch even when there is an abnormal scratch or interruption on the disk.

Claims

A circuit for detecting scratches of a disc from a signal picked up from the disc in an optical disc reproducing apparatus,

A peak hold circuit which optically reads the information recorded on the disc and detects the peak level of the reproduced RF signal while following the level change;

A bottom hold circuit for detecting a bottom level of the RF signal while following a level change;

A differential amplifier for differentially amplifying the outputs of the peak hold circuit and the bottom hold circuit;

And a comparator for comparing the output level of the differential amplifier with a predetermined reference level to generate a scratch monitor signal indicating whether there is a scratch on the disk.