KR19990052526A

KR19990052526A - Apparatus and Method for Noise Testing of Integrated Circuits

Info

Publication number: KR19990052526A
Application number: KR1019970072017A
Authority: KR
Inventors: 김영부; 김영창; 김정양
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1997-12-22
Filing date: 1997-12-22
Publication date: 1999-07-15

Abstract

집적회로의 잡음 테스트 장치 및 방법이 개시된다. 집적회로의 잡음을 테스트하는 이 장치는, 집적회로로부터 출력되는 잡음 신호의 최고 레벨을 검출하는 레벨 검출 수단 및 최고 레벨이 소정 레벨 이상인가를 비교하고, 비교된 결과를 집적회로의 양호/불량을 나타내는 신호로서 출력하는 레벨 비교 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.An apparatus and method for testing noise in an integrated circuit is disclosed. The apparatus for testing the noise of an integrated circuit compares the level detecting means for detecting the highest level of the noise signal output from the integrated circuit and whether the highest level is above a predetermined level, and compares the result of the integrated circuit with good / bad. It is characterized by including a level comparison means for outputting as a signal to be displayed.

Description

Apparatus and method for noise testing of integrated circuits

본 발명은 집적회로의 잡음특성을 테스트하는 것에 관한 것으로서, 특히, 집적회로의 잡음 특성을 정확하게 테스트할 수 있는 집적회로의 잡음 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to testing noise characteristics of integrated circuits, and more particularly, to an apparatus and method for testing noises in integrated circuits capable of accurately testing noise characteristics of integrated circuits.

반도체 집적회로의 테스트 장치에 있어서, 집적회로의 잡음 유/무와 특히, 비 주기적인 팝 잡음(pop noise)등을 일정 시간동안 모니터링하여 잡음의 크기를 측정하는 것은 순시값의 레벨을 가지고는 불가능하다. 그러므로, 종래에는 사람의 눈으로 집적회로의 출력을 계속 보면서 잡음이 존재하는가 또는 그렇지 않은가를 판단하여 집적회로의 잡음 특성을 테스트하였다.In the test apparatus of the semiconductor integrated circuit, it is impossible to measure the amount of noise by monitoring the presence / absence of the integrated circuit and, in particular, the non-periodic pop noise for a certain time without the instantaneous level. . Therefore, conventionally, the noise characteristics of the integrated circuit have been tested by determining whether noise exists or not while continuously watching the output of the integrated circuit with the human eye.

이하, 종래의 집적회로의 잡음 테스트 장치의 구성 및 동작을 첨부한 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다.Hereinafter, the configuration and operation of a conventional noise test apparatus of an integrated circuit will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 종래의 집적회로의 잡음 테스트 장치의 개략적인 블럭도로서, 집적회로(10) 및 오실로스코프(14)로 구성된다.1 is a schematic block diagram of a noise test apparatus of a conventional integrated circuit, which is composed of an integrated circuit 10 and an oscilloscope 14.

도 1에 도시된 집적회로(10)는 그 특성에 따라 연속적이고 비 주기적인 잡음 신호(14)를 발생한다. 이 때, 검사 계측기인 오실로스코프(14)가 잡음 신호를 입력하여 파형을 디스플레이하면, 검사자는 디스플레이되는 파형을 눈으로 관측하여 잡음의 레벨이 기준 레벨보다 크면 불량으,로 기준 레벨 보다 작으면 양품으로 판정하였다.The integrated circuit 10 shown in FIG. 1 generates a continuous and aperiodic noise signal 14 according to its characteristics. At this time, when the oscilloscope 14, which is an inspection instrument, inputs a noise signal to display a waveform, the inspector observes the displayed waveform visually, and if the level of noise is greater than the reference level, it is defective. Determined.

전술한 종래의 집적회로의 잡음 테스트 장치는, 사람의 시각을 이용하여 집적회로를 테스트하기 때문에, 검사에 오류가 발생할 수 있다. 그러므로, 작업중 오류로 인한 집적회로의 품질 문제가 기본적으로 발생한다.Since the noise test apparatus of the conventional integrated circuit described above uses the human eye to test the integrated circuit, an error may occur in the inspection. Therefore, the quality problem of the integrated circuit due to errors during operation basically occurs.

물론, 도 1에 도시된 전술한 종래의 집적회로의 잡음 테스트 장치는 자동 검사 장치(ATE:Auto Test Equipment)로 대치될 수 있으며, 고속 디지타이저를 사용하여 레벨을 모니터링하여 일부 구간에서의 측정이 가능하다. 그러나, 이 또한 디지타이징하는 시간이 충분히 길어저야 하기 때문에 데이타를 받아들일 수 있는 메모리의 제약이 수반되는 문제점이 있다.Of course, the aforementioned noise test apparatus of the conventional integrated circuit illustrated in FIG. 1 may be replaced by an automatic test equipment (ATE), and the measurement may be performed in some sections by monitoring the level using a high-speed digitizer. Do. However, this also has a problem that the time required to digitize is sufficiently long, which entails a limitation of memory that can accept data.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 반도체 집적회로의 잡음 특성을 오류없이 정확하고 빠르게 테스트할 수 있는 집적회로의 잡음 테스트 장치를 제공하는 데 있다.An object of the present invention is to provide a noise test apparatus for an integrated circuit capable of accurately and quickly testing a noise characteristic of a semiconductor integrated circuit without errors.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 반도체 집적회로의 잡음 특성을 오류없이 정확하고 빠르게 테스트할 수 있는 집적회로의 잡음 테스트 방법을 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to provide a noise test method for an integrated circuit capable of accurately and quickly testing a noise characteristic of a semiconductor integrated circuit without errors.

도 1은 종래의 집적회로의 잡음 테스트 장치의 개략적인 블럭도이다.1 is a schematic block diagram of a noise test apparatus of a conventional integrated circuit.

도 2는 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 장치를 설명하기 위한 개략적인 블럭도이다.2 is a schematic block diagram illustrating an apparatus for testing noise in an integrated circuit according to the present invention.

도 3은 도 2에 도시된 각 부의 파형도들이다.3 is a waveform diagram of each part shown in FIG. 2.

도 4는 도 2에 도시된 레벨 검출부의 본 발명에 의한 바람직한 일실시예의 회로도이다.4 is a circuit diagram of a preferred embodiment of the present invention of the level detector shown in FIG.

도 5는 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 방법을 설명하기 위한 플로우차트이다.5 is a flowchart illustrating a noise test method of an integrated circuit according to the present invention.

상기 과제를 이루기 위해, 집적회로의 잡음을 테스트하는 본 발명에 의한 집적 회로의 잡음 테스트 장치는, 상기 집적회로로부터 출력되는 잡음 신호의 최고 레벨을 검출하는 레벨 검출 수단 및 상기 최고 레벨이 소정 레벨 이상인가를 비교하고, 비교된 결과를 상기 집적회로의 양호/불량을 나타내는 신호로서 출력하는 레벨 비교 수단으로 구성되는 것이 바람직하다.In order to achieve the above object, the noise test apparatus of the integrated circuit according to the present invention for testing the noise of the integrated circuit, the level detecting means for detecting the highest level of the noise signal output from the integrated circuit and the highest level is more than a predetermined level It is preferable to constitute a level comparison means for comparing the application and outputting the compared result as a signal representing good / failure of the integrated circuit.

상기 다른 과제를 이루기 위해, 집적회로의 잡음을 테스트하는 본 발명에 의한 집적 회로의 잡음 테스트 방법은, 상기 집적회로로부터 발생되는 잡음 신호의 최고 레벨을 검출하는 단계와, 상기 최고 레벨이 소정 레벨 이상인가를 판단하는 단계와, 상기 최고 레벨이 상기 소정 레벨 이상이면, 상기 집적회로의 잡음 특성은 불량한 것으로 결정하는 단계 및 상기 최고 레벨이 상기 소정 레벨 보다 적으면, 상기 집적회로의 잡음 특성은 양호한 것으로 결정하는 단계로 이루어지는 것이 바람직하다.In order to achieve the above object, the noise test method of an integrated circuit according to the present invention for testing the noise of the integrated circuit, detecting the highest level of the noise signal generated from the integrated circuit, the highest level is more than a predetermined level Determining the application; if the highest level is above the predetermined level, determining that the noise characteristic of the integrated circuit is poor; and if the highest level is less than the predetermined level, the noise characteristic of the integrated circuit is good. It is preferred to consist of the step of determining.

이하, 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 장치의 구성 및 동작을 첨부한 도면들을 참조하여 다음과 같이 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings the configuration and operation of the noise test apparatus of the integrated circuit according to the present invention will be described as follows.

도 2는 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 장치를 설명하기 위한 개략적인 블럭도로서, 집적회로(40), 레벨 검출부(42) 및 레벨 비교부(44)로 구성된다. 여기서, 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 장치는 레벨 검출부(42) 및 레벨 비교부(44)로 구성된다.2 is a schematic block diagram illustrating an apparatus for testing noise in an integrated circuit according to the present invention, and includes an integrated circuit 40, a level detector 42, and a level comparator 44. Here, the noise test apparatus of the integrated circuit according to the present invention includes a level detector 42 and a level comparator 44.

도 2에 도시된 레벨 검출부(42)는 집적회로(40)로부터 연속적으로 출력되며 레벨 변화가 생기는 도 3에 도시된 잡음 신호(60)의 잡음 레벨을 충분한 시간동안 모니터링한 후, 최고 레벨(66)을 검출하고, 검출된 최고 레벨(66)을 갖는 신호를 레벨 비교부(44)로 출력한다.The level detector 42 shown in FIG. 2 continuously outputs from the integrated circuit 40 and monitors the noise level of the noise signal 60 shown in FIG. 3 for a sufficient time after the level change occurs. ) Is detected, and a signal having the detected highest level 66 is output to the level comparison section 44.

직류 측정기로 구현될 수 있는 레벨 비교부(44)는 레벨 검출부(42)로부터 출력되는 도 3에 도시된 최고 레벨(66)이 소정 레벨 이상인가를 비교하고, 비교된 결과를 집적회로의 양호/불량을 나타내는 신호로서 출력단자 OUT1을 통해 출력한다. 즉, 레벨 비교기(44)는 집적회로(40)에서 발생되는 잡음 신호의 최고 레벨을 읽음으로서, 집적회로(40)의 잡음 레벨을 알 수 있고, 측정할 수 있는 것이다.The level comparator 44, which can be implemented as a direct current meter, compares whether or not the highest level 66 shown in FIG. This signal indicates a failure and is output through the output terminal OUT1. In other words, the level comparator 44 reads the highest level of the noise signal generated by the integrated circuit 40 so that the noise level of the integrated circuit 40 can be known and measured.

결국, 도 3에 도시된 바와 같이, 입력된 잡음 신호의 레벨은 제1 레벨(64)에서 최소이고 시간이 흐르면서 제2 레벨(66)에서 최고점을 기록한 후, 제3 레벨(68)에서 레벨이 떨어지지만 제2 레벨(66)에서의 최고 레벨(66)이 계속 유지되어 레벨 비교부(44)로 출력된다. 따라서, 중간에 어떤 한 레벨의 변화가 발생한다 하더라도 항상 최고 레벨을 유지하기 때문에, 검출된 최고 레벨인 직류 전압을 이용하여 일정 시간 동안의 집적회로(40)의 잡음특성을 측정할 수 있는 것이다.As a result, as shown in FIG. 3, the level of the input noise signal is minimum at the first level 64 and records the highest point at the second level 66 over time, and then at the third level 68. Although falling, the highest level 66 at the second level 66 is maintained and output to the level comparison section 44. Therefore, the noise level of the integrated circuit 40 can be measured for a predetermined time by using the DC voltage, which is the highest level detected, since the highest level is always maintained even if any one level change occurs in the middle.

도 4는 도 2에 도시된 레벨 검출부(42)의 본 발명에 의한 바람직한 일실시예의 회로도로서, 제1, 제2 및 제3 연산 증폭기들(80, 86 및 88), 제1, 제2, 제3, 제4, 제5, 제6 및 제7 저항들(R1, R2, R3, R4, R5, R6 및 R7), 제1 및 제2 커패시터들(C1 및 C2), 제1 및 제2 다이오드들(D1 및 D2), 제1 및 제2 스위치들(82 및 84)로 구성된다.4 is a circuit diagram of a preferred embodiment of the level detector 42 shown in FIG. 2 according to the present invention, wherein the first, second and third operational amplifiers 80, 86 and 88, the first, second, Third, fourth, fifth, sixth and seventh resistors R1, R2, R3, R4, R5, R6 and R7, first and second capacitors C1 and C2, first and second It consists of diodes D1 and D2, first and second switches 82 and 84.

도 4에 도시된 레벨 검출부(42)는 일측이 도 3에 도시된 잡음 신호(60)와 연결되는 제1 저항(R1), 일측이 접지와 연결되는 제2 저항(R2), 제1 저항(R1)의 타측과 연결되는 음의 입력단자 및 제2 저항(R2)의 타측과 연결되는 양의 입력단자를 갖는 제1 연산 증폭기(80), 제1 연산 증폭기(80)의 음의 입력단자와 출력단자 사이에 양극 및 음극이 각각 연결되는 제1 다이오드(D1), 제1 연산 증폭기(80)의 출력단자에 양극이 연결되는 제2 다이오드(D2), 일측이 제2 다이오드(D2)의 음극과 연결되는 제3 저항(R3), 일측이 제1 연산 증폭기(80)의 출력단자와 연결되는 제4 저항(R4), 접지와 연결되는 양의 입력단자를 갖는 제2 연산 증폭기(86), 제3 저항(R3)의 타측과 제2 연산 증폭기(86)의 음의 입력단자 사이에 연결되어 제1 제어 신호(SC1)에 응답하여 스위칭되는 제1 스위치(82), 제4 저항(R4)의 타측과 제2 연산 증폭기(86)의 음의 입력단자 사이에 연결되어 제2 제어 신호(SC2)에 응답하여 스위칭되는 제2 스위치(84), 제2 연산 증폭기(86)의 음의 입력단자와 출력 단자 사이에 연결되는 제1 커패시터(C1), 일측이 제2 연산 증폭기(86)의 출력단자에 연결되는 제5 저항(R5), 제5 저항(R5)의 타측과 연결되는 음의 입력단자와 접지와 연결되는 양의 입력단자를 갖는 제3 연산 증폭기(88), 제3 연산 증폭기(88)의 음의 입력단자와 출력단자 사이에 연결되는 제6 저항(R6), 일측이 제3 연산 증폭기(88)의 출력단자와 연결되고, 타측이 제1 연산 증폭기(80)의 음의 입력단자와 연결되는 제7 저항(R7) 및 제7 저항(R7)의 타측과 제1 연산 증폭기(80)의 출력단자 사이에 연결되는 제2 커패시터(C2)로 구성된다.The level detector 42 shown in FIG. 4 has a first resistor R1 connected at one side to the noise signal 60 shown in FIG. 3, a second resistor R2 connected at one side to the ground, and a first resistor ( A first operational amplifier 80 having a negative input terminal connected to the other side of R1) and a positive input terminal connected to the other side of the second resistor R2, and a negative input terminal of the first operational amplifier 80; A first diode D1 having a positive electrode and a negative electrode connected between the output terminals, a second diode D2 having a positive electrode connected to an output terminal of the first operational amplifier 80, and one side of a negative electrode of the second diode D2. A third resistor R3 connected to the second resistor R4, a fourth resistor R4 connected at one side thereof to an output terminal of the first operational amplifier 80, a second operational amplifier 86 having a positive input terminal connected to ground; The first switch 82 and the fourth resistor R4 connected between the other side of the third resistor R3 and the negative input terminal of the second operational amplifier 86 and switched in response to the first control signal SC1. A second switch 84 connected between the other side of the second input amplifier and the negative input terminal of the second operational amplifier 86 and switched in response to the second control signal SC2, and the negative input terminal of the second operational amplifier 86 And a first capacitor C1 connected between the output terminal and the output terminal, and a negative input connected to the other end of the fifth resistor R5 and the fifth resistor R5, one side of which is connected to the output terminal of the second operational amplifier 86. A third operational amplifier 88 having a positive input terminal connected to the terminal and ground, a sixth resistor R6 connected between the negative input terminal and the output terminal of the third operational amplifier 88, and one side of the third operational amplifier 88 The other side of the seventh resistor R7 and the seventh resistor R7 connected to the output terminal of the operational amplifier 88 and the other side connected to the negative input terminal of the first operational amplifier 80 and the first operational amplifier ( It consists of a second capacitor (C2) connected between the output terminal of the 80.

여기서, 제3 연산 증폭기(88)로부터 출력단자 OUT2를 통해 출력되는 도 3에 도시된 신호(62)는 도 2에 도시된 레벨 검출부(42)로부터 출력되는 신호에 해당하고, 제1 및 제2 제어 신호들(SC1 및 SC2)은 집적회로(40)의 잡음 특성을 테스트할 것인가에 따라 테스트 시스템(미도시)으로부터 출력되는 릴레이(relay) 비트를 활용하여 발생될 수 있다. 즉, 도 2에 도시된 본 발명에 의한 테스트 장치를 포함하는 테스트 시스템(미도시)은 테스트하고자 하는 여러개의 집적회로들중에서 선택된 집적회로를 테스트하고자 할 때, 선택된 집적회로를 위한 제1 및 제2 제어 신호들(SC1 및 SC2)을 발생한다.Here, the signal 62 shown in FIG. 3 output from the third operational amplifier 88 through the output terminal OUT2 corresponds to the signal output from the level detector 42 shown in FIG. The control signals SC1 and SC2 may be generated by using a relay bit output from a test system (not shown) depending on whether the noise characteristic of the integrated circuit 40 is to be tested. That is, a test system (not shown) including a test apparatus according to the present invention shown in FIG. 2 may be used to test an integrated circuit selected from a plurality of integrated circuits to be tested. Generates two control signals SC1 and SC2.

상기 구성을 통한 도 4에 도시된 장치의 동작을 살펴보면, 먼저 제1 스위치(82)가 온 상태가 되면, 도 4에 도시된 회로는 잡음 레벨을 따라 움직이면서 최고 레벨 이후에서는 계속 그 최고 레벨을 유지하여, 잡음 신호의 원하는 최고 레벨이 측정될 수 있도록 한다.Referring to the operation of the apparatus shown in FIG. 4 through the above configuration, first, when the first switch 82 is turned on, the circuit shown in FIG. 4 moves along the noise level and continues to maintain the highest level after the highest level. Thus, the desired highest level of noise signal can be measured.

그러나, 집적회로(40)의 잡음 특성을 테스트하지 않을 경우에는 제1 스위치(82)는 오프된다. 또한, 입력된 잡음 신호의 레벨을 측정하지 않고, 계속적으로 모니터링할 때는 제2 스위치(84)를 온상태로 하여 출력단자 OUT2를 통해 출력되는 신호가 계속해서 입력된 잡음 신호의 레벨을 따라 움직이도록 한다. 즉, 이는 잡음 신호의 레벨을 추적하는 레벨 추적 기능에 해당한다.However, if the noise characteristic of the integrated circuit 40 is not tested, the first switch 82 is turned off. Also, without continuously measuring the level of the input noise signal, when continuously monitoring, the second switch 84 is turned on so that the signal output through the output terminal OUT2 continues to move along the level of the input noise signal. do. In other words, this corresponds to a level tracking function that tracks the level of the noise signal.

만일, 제1 및 제2 스위치들(82 및 84)이 모두 오프되면, 종래의 검출된 전압이 출력단자 OUT2를 통해 출력된다.If both the first and second switches 82 and 84 are off, the conventional detected voltage is output through the output terminal OUT2.

도 4에 도시된 제1 연산 증폭기(80)는 그 입력 임피던스가 일반적인 연산 증폭기의 입력 임피던스보다 약간 크다. 이는 입력단자 IN을 통해 입력되는 잡음 신호의 레벨이 매우 작기 때문에, 잡음 신호의 레벨을 최대한 그대로 감소없이 받아들이기 위해서이다.The first operational amplifier 80 shown in FIG. 4 has a slightly larger input impedance than that of a typical operational amplifier. This is because the level of the noise signal input through the input terminal IN is very small, so as to accept the level of the noise signal as it is without any reduction.

이를 위한 다른 방법으로, 제1 연산 증폭기(80)를 입력 임피던스가 매우 적은 일반적인 연산 증폭기로 사용하면서, 입력단자 IN의 전단에 증폭기(미도시)를 마련할 수도 있다. 이 때, 증폭기(미도시)에서 잡음 신호의 레벨이 증폭된 다음, 도 4에 도시된 레벨 검출부는 증폭된 잡음 신호를 입력단자 IN을 통해 입력하여 최고 레벨을 검출할 수도 있다.Alternatively, an amplifier (not shown) may be provided in front of the input terminal IN while using the first operational amplifier 80 as a general operational amplifier having a very low input impedance. In this case, after the level of the noise signal is amplified by the amplifier (not shown), the level detector illustrated in FIG. 4 may detect the highest level by inputting the amplified noise signal through the input terminal IN.

이하, 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 방법을 첨부한 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다.Hereinafter, a noise test method for an integrated circuit according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 방법을 설명하기 위한 플로우차트로서, 레벨을 검출하는 단계(제100단계), 검출된 레벨에 따라 집적회로의 양/불량을 결정하는 단계(제102 ∼ 제106단계)로 이루어진다.5 is a flowchart illustrating a noise test method for an integrated circuit according to an exemplary embodiment of the present invention, the method comprising: detecting a level (step 100) and determining a quantity / defect of an integrated circuit according to the detected level (102). To step 106).

도 5를 참조하면, 전술한 바와 같이 집적회로(40)로부터 발생되는 잡음 신호의 최고 레벨을 검출한다(제100단계). 제100단계후에, 검출된 최고 레벨이 소정 레벨 이상인가를 판단한다(제102단계).Referring to FIG. 5, as described above, the highest level of the noise signal generated from the integrated circuit 40 is detected (step 100). After step 100, it is determined whether the detected highest level is equal to or greater than a predetermined level (step 102).

만일, 검출된 최고 레벨이 소정 레벨 이상이면, 집적회로(40)의 잡음 특성은 불량한 것으로 결정한다(제104단계). 그러나, 검출된 최고 레벨이 소정 레벨 보다 적으면, 집적회로(40)의 잡음 특성은 양호한 것으로 결정한다(제106단계).If the detected maximum level is greater than or equal to the predetermined level, the noise characteristic of the integrated circuit 40 is determined to be poor (step 104). However, if the detected highest level is less than the predetermined level, it is determined that the noise characteristic of the integrated circuit 40 is good (step 106).

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 집적회로의 잡음 테스트 장치 및 방법은 오실로스코프를 보면서 사람의 눈으로 집적회로 잡음 특성의 양/불량을 판단하는 종래의 수동적인 테스트 방법과 달리, 집적회로의 잡음특성을 효율적으로 자동으로 빠른 속도로 테스트할 수 있는 효과가 있다.As described above, the noise test apparatus and method of the integrated circuit according to the present invention is different from the conventional passive test method of determining the amount / defect of the integrated circuit noise characteristic by the human eye while looking at the oscilloscope. The effect is to test the characteristics efficiently and automatically at high speed.

Claims

In the noise test apparatus of the integrated circuit for testing the noise of the integrated circuit,

Level detecting means for detecting a highest level of a noise signal output from the integrated circuit; And

And a level comparison means for comparing whether the highest level is equal to or greater than a predetermined level and outputting the result of the comparison as a signal representing good / failure of the integrated circuit.

The method of claim 1, wherein the level detecting means

A first resistor having one side connected to the noise signal;

A second resistor having one side connected to a reference potential;

A first operational amplifier having a negative input terminal connected to the other side of the first resistor and a positive input terminal connected to the other side of the second resistor;

A first diode having a positive electrode and a negative electrode connected between the negative input terminal and the output terminal of the first operational amplifier, respectively;

A second diode having an anode connected to an output terminal of the first operational amplifier;

A third resistor having one side connected to the cathode of the second diode;

A fourth resistor having one side connected to an output terminal of the first operational amplifier;

A second operational amplifier having a positive input terminal connected to the reference potential;

A first switch connected between the other side of the third resistor and the negative input terminal of the second operational amplifier and switched in response to a first control signal;

A second switch connected between the other side of the fourth resistor and the negative input terminal of the second operational amplifier and switched in response to a second control signal;

A first capacitor connected between the negative input terminal and the output terminal of the second operational amplifier;

A fifth resistor having one side connected to an output terminal of the second operational amplifier;

A third operational amplifier having a negative input terminal connected to the other side of the fifth resistor and a positive input terminal connected to the reference potential;

A sixth resistor connected between the negative input terminal and the output terminal of the third operational amplifier;

A seventh resistor having one side connected to an output terminal of the third operational amplifier and the other side connected to a negative input terminal of the first operational amplifier; And

A second capacitor connected between the other side of the seventh resistor and an output terminal of the first operational amplifier,

An output of the third operational amplifier is an output of the level detecting means, and the first and second control signals are generated according to whether to test a noise characteristic of the integrated circuit. Device.

The noise test apparatus of claim 2, wherein an input impedance of the first operational amplifier is equal to or greater than a predetermined value.

4. The noise test of claim 2 or 3, wherein the level detecting means further comprises an amplifier for inputting and amplifying the noise signal, and detecting the highest level of the amplified noise signal. Device.

In the noise test method of the integrated circuit for testing the noise of the integrated circuit,

Detecting the highest level of noise signal generated from the integrated circuit;

Determining whether the highest level is above a predetermined level;

If the highest level is above the predetermined level, determining that the noise characteristic of the integrated circuit is poor; And

If the highest level is less than the predetermined level, determining that the noise characteristic of the integrated circuit is good.