KR19990047519A - Noise Canceling Device for Printed Circuit Board Inspector - Google Patents
Noise Canceling Device for Printed Circuit Board Inspector Download PDFInfo
- Publication number
- KR19990047519A KR19990047519A KR1019970065972A KR19970065972A KR19990047519A KR 19990047519 A KR19990047519 A KR 19990047519A KR 1019970065972 A KR1019970065972 A KR 1019970065972A KR 19970065972 A KR19970065972 A KR 19970065972A KR 19990047519 A KR19990047519 A KR 19990047519A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- inspector
- signal lines
- noise
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
Abstract
본 발명은 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치에 관한 것으로, 인쇄회로기판 검사기와 인쇄회로기판을 서로 연결하여 신호를 주고 받는 복수개의 신호선 각각에 다이오드(D1∼Dn) 및 저항(R1∼Rn)이 차례로 연결되고, 상기 각 저항(R1∼Rn)의 일단이 모두 동일한 와이어에 연결되어 릴레이(RY)를 통해 그라운드에 연결되어, 모든 신호선의 임피던스를 낮게 유지할 수 있어, 고주파 및 저주파의 공중 방사 노이즈를 모두 차단할 수 있는 효과가 있고, 아날로그 검사시에도 모든 신호선이 역방향 다이오드에 의해 서로 절연된 것 처럼 동작함에 따라 정확한 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a noise removing device of a printed circuit board inspector, wherein diodes (D1 to Dn) and resistors (R1 to Rn) are connected to a plurality of signal lines that connect and send signals by connecting a printed circuit board inspector and a printed circuit board to each other. One end of each of the resistors R1 to Rn is connected to the same wire, and is connected to the ground through the relay RY, so that the impedance of all signal lines can be kept low, thereby preventing high-frequency and low-frequency air emission noise. There is an effect that can block all, and even during the analog test, all signal lines operate as if they are insulated from each other by the reverse diode, so that an accurate test can be performed.
Description
본 발명은 인쇄회로기판(PCB; Printed Circuit Board) 검사기의 노이즈 제거장치에 관한 것으로, 좀더 상세하게는 인쇄회로기판을 검사할 때 발생되는 공중 방사 노이즈를 제거하여 보다 정확하게 인쇄회로기판을 검사할 수 있도록 하는 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치에 관한 것이다.The present invention relates to a noise removing device of a printed circuit board (PCB) inspector, and more particularly, to remove a public radiation noise generated when inspecting a printed circuit board, thereby inspecting a printed circuit board more accurately. The present invention relates to a noise removing device of a printed circuit board inspector.
일반적으로, 인쇄회로기판 검사기는 디지털 소자가 장착된 인쇄회로기판의 양호/불량 여부를 검사하는 장비로서, 이러한 인쇄회로기판 검사기는 인쇄회로기판에 복잡한 디지털 신호를 인가한 다음 인쇄회로기판에서 발생하는 여러 가지 디지털 신호를 읽어들여 읽어들인 신호와 정상적인 신호를 비교함으로써 인쇄회로기판의 양호/불량 여부를 검사한다.In general, a printed circuit board inspector is a device for inspecting whether a printed circuit board on which a digital device is mounted is good or bad. The printed circuit board inspector applies a complex digital signal to a printed circuit board and then generates a printed circuit board. By reading various digital signals and comparing the read signals with normal signals, the PCB is tested for good or bad.
그리고, 상기와 같은 인쇄회로기판 검사기는 인쇄회로기판 전체를 대상으로 디지털 신호를 인가하기도 검사하기도 하고, 인쇄회로기판 내에 장착된 특정 디지털 소자에만 디지털 신호를 인가하여 검사하기도 한다.The printed circuit board inspector may apply or inspect a digital signal to the entire printed circuit board, or may apply a digital signal only to a specific digital element mounted in the printed circuit board.
이와 같이 전체 인쇄회로기판 또는 커다란 블록 단위로 신호를 인가하여 검사하는 인쇄회로기판 검사기를 기능 검사기(Functional Tester)라고 하며, 특정한 디지털 소자에 신호를 인가하여 검사하는 인쇄회로기판 검사기를 인서킷 테스터(In-Circuit Tester)라고 한다.As such, a printed circuit board tester that applies a signal to an entire printed circuit board or a large block unit and inspects it is called a functional tester, and a printed circuit board tester that applies a signal to a specific digital device and inspects it using an in-circuit tester ( In-Circuit Tester).
이때, 상기 인쇄회로기판 검사기는 검사 대상인 집적회로(IC)의 핀과 인쇄회로기판 검사기 사이에 신호선을 연결하여 검사 신호를 주고 받는다. 즉, 인쇄회로기판에 인가하는 신호와 인쇄회로기판으로부터 읽어 들이는 신호는 모두 신호선을 통해 이루어짐에 따라 상기 신호선에 외부 노이즈가 인가되지 않도록 신호선을 관리하여야만 한다.In this case, the printed circuit board inspector connects a signal line between a pin of an integrated circuit (IC) to be inspected and a printed circuit board inspector to exchange an inspection signal. That is, since the signal applied to the printed circuit board and the signal read from the printed circuit board are both made through the signal line, the signal line must be managed so that external noise is not applied to the signal line.
특히, 최근의 인쇄회로기판은 반도체 기술의 발달에 따라 매우 복잡한 기능을 가진 집적회로(IC), 즉 대규모 집적회로(LSI; Large Scale Integration), 초대규모 집적회로(VLSI; Very Large Scale Integration)는 집적도가 매우 높음에 따라 많은 입출력 핀을 가지고 있다.In particular, recently, printed circuit boards have been developed according to the development of semiconductor technology, such as integrated circuits (ICs) having very complicated functions, that is, large scale integration (LSI) and very large scale integration (VLSI). As the density is very high, it has many input and output pins.
따라서, 상기와 같은 집적회로(IC)를 검사하기 위해서는 집적회로(IC)의 입출력 핀 수 만큼의 신호선이 필요한데, 인쇄회로기판에는 많은 수의 집적회로(IC)가 장착되기 때문에 하나의 인쇄회로기판 검사기에는 매우 많은 신호선이 구비되어야만 한다.Therefore, in order to inspect the integrated circuit (IC) as described above, as many signal lines as the number of input / output pins of the integrated circuit (IC) are required. Since a large number of integrated circuits (ICs) are mounted on the printed circuit board, one printed circuit board is used. The inspector must be equipped with very many signal lines.
그리고, 상기와 같이 매우 많은 신호선이 구비된 인쇄회로기판 검사기는 집적회로(IC)를 순차적으로 검사하는데, 하나의 집적회로(IC)만 검사할 때는 그 집적회로(IC)에 연결된 신호선만 사용하고, 일부 신호선은 다른 집적회로(IC)에 중복시켜 사용하기도 한다.In addition, the printed circuit board inspector having a large number of signal lines as described above sequentially inspects an integrated circuit (IC). When only one integrated circuit (IC) is inspected, only a signal line connected to the integrated circuit (IC) is used. For example, some signal lines may be overlapped with other integrated circuits (ICs).
즉, 도 1에 도시된 바와 같이, 인쇄회로기판 검사기(10)는 인쇄회로기판(20)에 장착된 집적회로(IC1)을 검사하는 경우에는 신호선1,2,3,4만 사용하며, 신호선5,6,7은 사용하지 않는다. 그리고, 집적회로(IC2)를 검사하는 경우에는 신호선3,5,6,7만 사용하며 신호선1,2,4는 사용하지 않는다.That is, as shown in FIG. 1, the printed circuit board inspector 10 uses only signal lines 1, 2, 3, and 4 when inspecting the integrated circuit IC1 mounted on the printed circuit board 20. Do not use 5, 6, 7. When the integrated circuit IC2 is inspected, only the signal lines 3, 5, 6, and 7 are used, and the signal lines 1, 2, and 4 are not used.
이때, 도 2에 도시된 바와 같이, 사용되는 신호선은 릴레이(RY1, RY2)가 "온"되어 인쇄회로기판 검사기(10)의 디지털출력부(11-1, 11-2)에 연결되지만, 사용되지 않은 신호선은 릴레이(RY3, RY4)가 "오프"되어 인쇄회로기판 검사기(10)의 디지털출력부(11-3, 11-4)로부터 분리되기 때문에 높은 임피던스 상태로 놓여진다.At this time, as shown in Fig. 2, the signal lines used are connected to the digital outputs 11-1 and 11-2 of the printed circuit board inspector 10 by using the relays RY1 and RY2 "on". The non-signaled signal line is placed in a high impedance state because the relays RY3 and RY4 are " off " and are separated from the digital outputs 11-3 and 11-4 of the printed circuit board inspector 10.
그리고, 상기와 같이 높은 임피던스 상태로 놓여진 신호선들은 마치 안테나와 같이 동작하여 주변의 공중 방사 노이즈를 인쇄회로기판(20) 내로 끌어 모으는 역할을 하게 되므로, 인쇄회로기판(20)에 많은 노이즈가 발생하게 되어 인쇄회로기판(20) 검사시 에러 발생의 원인중 하나가 된다.And, the signal lines placed in the high impedance state as described above acts as an antenna to draw the surrounding air radiation noise into the printed circuit board 20, so that a lot of noise is generated in the printed circuit board 20 This is one of the causes of the error in the inspection of the printed circuit board 20.
따라서, 인쇄회로기판 검사기는 이와 같은 노이즈에 대한 대책을 필요로 하는데, 상기와 같이 노이즈의 근본적인 원인은 사용하지 않은 신호선이 높은 임피던스 상태에 놓여 있어 노이즈가 유기되기 쉬우므로, 노이즈에 대한 대책은 사용하지 않은 신호선을 낮은 임피던스 상태로 유지하는 것이다.Therefore, a printed circuit board tester needs to counter such noise. As a fundamental cause of the noise, the unused signal line is placed in a high impedance state, and thus noise is likely to be induced. Therefore, a countermeasure against noise is used. The signal line is left in a low impedance state.
한편, 일반적인 인쇄회로기판 검사기는 도 3에 도시된 바와 같이, 디지털 출력부(11)를 포함하는 디지털 측정회로와, 아날로그 측정회로(13)를 모두 가지고 있으며, 릴레이(RY5, RY6, RY7, RY8)를 온/오프시켜 각각 디지털 측정회로와 아날로그측정회로(13)로 신호를 전달하거나 신호선을 분리시킨다.Meanwhile, as shown in FIG. 3, a general printed circuit board inspector has a digital measuring circuit including a digital output unit 11 and an analog measuring circuit 13, and relays RY5, RY6, RY7, and RY8. ) To turn on / off the signal to the digital measurement circuit and the analog measurement circuit 13, or separate the signal line.
상기와 같이 구성된 인쇄회로기판 검사기에서 신호선의 임피던스를 낮추는 종래의 1실시예에 의한 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치는, 도 4에 도시된 바와 같이, 신호선에 풀-다운(Pull-Down) 저항(R)이 연결되어 있다.In the printed circuit board inspector according to the related art, the noise removing device according to the first embodiment reduces the impedance of the signal line in the above-described printed circuit board inspector. As shown in FIG. 4, a pull-down resistance is applied to the signal line. (R) is connected.
그러나, 상기와 같은 종래의 1실시예에 의한 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치는, 디지털 검사에는 유익한 반면에 아날로그 검사시에는 아날로그 신호의 측정에 영향을 주어 아날로그 측정을 정확히 할 수 없게 되는 문제점이 있었다.However, the noise canceling apparatus of the conventional printed circuit board inspection apparatus according to the first embodiment is advantageous for digital inspection, while in analog inspection, the measurement of the analog signal is affected and the analog measurement cannot be made accurately. there was.
따라서, 상기와 같은 문제점을 해소하기 위한 종래의 2실시예에 의한 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치는, 도 5에 도시된 바와 같이, 신호선과 신호선 사이에 그라운드선이 삽입되어 있다.Therefore, in the noise removing device of the PCB tester according to the second embodiment to solve the above problems, as shown in Figure 5, a ground line is inserted between the signal line and the signal line.
즉, 종래의 2실시예에 의한 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치는, 도 6의 등가회로도에 도시된 바와 같이, 모든 신호선 사이에 작은 용량의 콘덴서(C)를 그라운드에 연결시킨 것과 같아 고주파 노이즈를 차단할 수 있다.That is, the noise removing device of the conventional PCB inspection apparatus according to the second embodiment is as if the capacitor (C) having a small capacitance is connected to the ground between all signal lines as shown in the equivalent circuit diagram of FIG. Can be blocked.
그러나, 상기와 같은 종래의 2실시예에 의한 인쇄회로기판의 노이즈 제거장치는, 고주파 노이즈를 차단할 수는 있으나, 저주파 노이즈를 차단하지 못하고, 아날로그 측정시에도 약간의 에러를 발생시킬 수 있는 문제점이 있었다.However, the noise canceling apparatus of the conventional printed circuit board according to the above-described two embodiments can block high frequency noise, but does not block low frequency noise, and may cause some errors even in analog measurement. there was.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 제 문제점을 해소하기 위한 것으로, 고주파 및 저주파의 공중 방사 노이즈를 모두 제거하면서도 아날로그 측정시에 아무런 영향을 미치지 않는 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention is to solve the problems of the prior art, and to provide a noise removing device of a printed circuit board inspector that removes all high and low frequency air radiation noises and does not affect analog measurement. There is a purpose.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 노이즈 검사장치는, 인쇄회로기판에 복수개의 신호선을 연결하여 인쇄회로기판을 검사하는 인쇄회로기판 검사기에 있어서,The noise inspection apparatus of a printed circuit board according to the present invention for achieving the above object, in the printed circuit board inspector for inspecting the printed circuit board by connecting a plurality of signal lines to the printed circuit board,
상기 수개의 신호선 각각에 다이오드 및 저항이 차례로 연결되고, 상기 각 저항의 일단이 공통으로 릴레이를 통해 그라운드에 연결되어 것을 특징으로 한다.A diode and a resistor are sequentially connected to each of the several signal lines, and one end of each of the resistors is commonly connected to the ground through a relay.
도 1은 일반적인 인쇄회로기판 검사기와 인쇄회로기판의 결선도,1 is a connection diagram of a general printed circuit board tester and a printed circuit board,
도 2는 일반적인 인쇄회로기판 검사기의 인쇄회로기판 검사 동작 상태도,2 is a view illustrating a printed circuit board inspection operation of a general printed circuit board inspector;
도 3은 일반적인 인쇄회로기판 검사기의 내부 결선도,3 is an internal connection diagram of a general printed circuit board inspector,
도 4는 종래의 1실시예에 의한 인쇄회로기판의 노이즈 제거장치의 회로도,4 is a circuit diagram of a noise removing device of a printed circuit board according to a conventional embodiment;
도 5는 종래의 2실시예에 의한 인쇄회로기판의 노이즈 제거장치의 회로도,5 is a circuit diagram of an apparatus for removing noise of a printed circuit board according to an exemplary embodiment of the present invention;
도 6은 도 5의 등가 회로도,6 is an equivalent circuit diagram of FIG. 5;
도 7은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치의 회로도,7 is a circuit diagram of a noise removing apparatus of a printed circuit board inspector according to the present invention;
도 8은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치를 사용하여 디지털 검사를 수행할 때의 회로도,8 is a circuit diagram when a digital inspection is performed using a noise removing device of a printed circuit board inspector according to the present invention;
도 9는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치를 사용하여 아날로그 검사를 수행할 때의 회로도이다.9 is a circuit diagram when an analog inspection is performed using the noise removing device of the printed circuit board inspector according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>
10 : 인쇄회로기판 검사기 20 : 인쇄회로기판10: printed circuit board inspection machine 20: printed circuit board
11 : 디지털 출력부 13 : 아날로그 측정회로11 digital output 13 analog measuring circuit
RY : 릴레이 R : 저항RY: Relay R: Resistance
D : 다이오드 C : 캐패시터D: Diode C: Capacitor
IC : 집적회로IC: Integrated Circuit
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 7은 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치의 회로도로서, 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치는, 인쇄회로기판 검사기와 인쇄회로기판을 서로 연결하여 신호를 주고 받는 복수개의 신호선 각각에 다이오드(D1∼Dn) 및 저항(R1∼Rn)이 차례로 연결되고, 상기 각 저항(R1∼Rn)의 일단이 모두 동일한 와이어에 연결되어 릴레이(RY)를 통해 그라운드에 연결되어 있다.7 is a circuit diagram of an apparatus for removing noise of a printed circuit board inspector according to an exemplary embodiment of the present invention, wherein the apparatus for removing noise of a printed circuit board inspector includes a plurality of signals connected to each other by connecting a printed circuit board inspector and a printed circuit board. Diodes D1 to Dn and resistors R1 to Rn are sequentially connected to each of the signal lines, and one end of each of the resistors R1 to Rn is connected to the same wire, and is connected to the ground through relay RY. .
그리고, 상기 릴레이(RY)는 디지털 검사시에 "온'되고, 아날로그 검사시에는 "오프"되도록 되어 있어, 디지털 검사시에는 저항(R1∼Rn)을 그라운드에 연결시키고, 아날로그 검사시에는 저항(R1∼Rn)을 그라운드로부터 분리시켜 준다.The relay RY is " on " during digital inspection and " off " during analog inspection, so that the resistors R1 to Rn are connected to ground during digital inspection, and the resistor (for analog inspection). R1 to Rn) are separated from the ground.
상기 다이오드(D1∼Dn)는 디지털 신호 검사시에 순방향으로 동작하여 저항(R1∼Rn)을 풀-다운(Pull-Down)시켜 신호선이 낮은 임피던스를 가지도록 하고, 아날로그 검사시에는 역방향으로 동작하여 신호선과 신호선을 전기적으로 분리시켜주는 역할을 한다.The diodes D1 to Dn operate in the forward direction during the digital signal inspection to pull down the resistors R1 to Rn so that the signal lines have a low impedance, and in the reverse direction during the analog inspection. It serves to electrically separate the signal line from the signal line.
그리고, 상기 저항(R1∼Rn)은 디지털 신호 검사시에 신호선을 낮은 임피던스로 유지시켜주는 역할을 수행한다.In addition, the resistors R1 to Rn maintain the signal line at a low impedance during digital signal inspection.
상기와 같이 이루어진 본 발명에 따른 인쇄회로기판 검사기의 노이즈 제거장치의 작용 및 효과를 도 8 및 도 9를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation and effects of the noise removing device of the printed circuit board tester according to the present invention made as described above will be described in detail with reference to FIGS. 8 and 9.
디지털 검사의 경우에는 릴레이(RY)를 "온"시킨다. 이와 같이 릴레이(RY)를 "온"시킨 상태에서 디지털 출력부(11-1∼11-n)가 디지털 신호를 출력하여 디지털 검사를 수행한다.In the case of digital inspection, the relay RY is "on". In this state, the digital output units 11-1 to 11-n output digital signals in the state where the relay RY is turned on to perform digital inspection.
이때, 상기와 같이 릴레이(RY)가 "온"되면 도 8에 도시된 바와 같이, 모든 신호선이 순방향의 다이오드(D)와 저항(R)을 통해 그라운드에 연결되어, 모든 신호선이 낮은 임피던스 상태로 유지되므로, 공중 방사 노이즈를 제거할 수 있는 것이다.At this time, when the relay RY is "on" as described above, as shown in FIG. 8, all signal lines are connected to the ground through the diode D and the resistor R in the forward direction, so that all the signal lines are in a low impedance state. As a result, airborne noise can be eliminated.
즉, 신호선이 저항(R)을 통해 그라운드에 연결되므로 저주파 및 고주파 공중 방사 노이즈를 모두 제거할 수 있는 것이다.That is, since the signal line is connected to the ground through the resistor (R), it is possible to remove both low frequency and high frequency airborne noise.
그리고, 아날로그 측정시에는 릴레이(RY)를 "오프"시킨다. 이와 같이 릴레이(RY)를 "오프"시키면 모든 신호선은 그라운드로부터 완전히 분리되게 된다.In the analog measurement, the relay RY is " off ". By turning off the relay RY in this manner, all signal lines are completely disconnected from the ground.
즉, 도 9에 도시된 바와 같이, 릴레이(RY)가 "오프"되면 모든 신호선들은 다이오드(D1, D2)와 저항(R1, R2)을 통해 서로 연결되어 있는데, 모든 신호선 사이에는 역방향의 다이오드(D1, D2)가 놓여지므로 전기적으로 절연된 상태와 같아지는 것이다.That is, as shown in FIG. 9, when the relay RY is "off", all signal lines are connected to each other through the diodes D1 and D2 and the resistors R1 and R2. D1, D2) is placed, so that it is the same as the electrically insulated state.
상기와 같이 신호선 사이가 전기적으로 절연 상태를 이루므로 아날로그 측정시에 아무런 영향을 미치지 않게 된다.As described above, since the signal lines are electrically insulated, they do not affect the analog measurement.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 인쇄회로기판 검사기와 인쇄회로기판을 연결하는 모든 신호선에 다이오드와 저항을 연결시킴으로써 간단하게 모든 신호선의 임피던스를 낮게 유지할 수 있어, 고주파 및 저주파의 공중 방사 노이즈를 모두 차단할 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention can keep the impedance of all signal lines low simply by connecting a diode and a resistor to all signal lines connecting the printed circuit board tester and the printed circuit board, thereby preventing both high-frequency and low-frequency air radiation noise. It can be effective.
또한, 아날로그 검사시에도 모든 신호선이 역방향 다이오드에 의해 서로 절연된 것 처럼 동작함에 따라 정확한 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.In addition, even during analog inspection, all signal lines operate as if they are insulated from each other by reverse diodes, so that accurate inspection can be performed.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970065972A KR100252658B1 (en) | 1997-12-04 | 1997-12-04 | device for removing noise in a PCB tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970065972A KR100252658B1 (en) | 1997-12-04 | 1997-12-04 | device for removing noise in a PCB tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19990047519A true KR19990047519A (en) | 1999-07-05 |
| KR100252658B1 KR100252658B1 (en) | 2000-04-15 |
Family
ID=19526476
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019970065972A KR100252658B1 (en) | 1997-12-04 | 1997-12-04 | device for removing noise in a PCB tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100252658B1 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100504427B1 (en) * | 1997-12-30 | 2005-10-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | Noise Clamping Circuit of Semiconductor Device |
| KR100894489B1 (en) * | 2007-11-02 | 2009-04-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor device and semiconductor memory device |
-
1997
- 1997-12-04 KR KR1019970065972A patent/KR100252658B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100504427B1 (en) * | 1997-12-30 | 2005-10-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | Noise Clamping Circuit of Semiconductor Device |
| KR100894489B1 (en) * | 2007-11-02 | 2009-04-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor device and semiconductor memory device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100252658B1 (en) | 2000-04-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3228982B2 (en) | In-circuit test equipment | |
| US6476630B1 (en) | Method for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester | |
| US6104198A (en) | Testing the integrity of an electrical connection to a device using an onboard controllable signal source | |
| US7702982B2 (en) | Electronic device testing system and method | |
| KR100512218B1 (en) | Test apparatus | |
| US20030146763A1 (en) | Circuit and method for determining the location of defect in a circuit | |
| US20030158690A1 (en) | Systems and methods for facilitating automated test equipment functionality within integrated circuits | |
| JPH01112179A (en) | Circuit board inspection instrument | |
| US6724209B1 (en) | Method for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester | |
| KR100252658B1 (en) | device for removing noise in a PCB tester | |
| US6442718B1 (en) | Memory module test system with reduced driver output impedance | |
| US5442301A (en) | LSI test circuit | |
| JPH1164428A (en) | Component inspection device | |
| JPS5883282A (en) | Method and device for testing electronic assembly | |
| JP2001264398A (en) | Inspection device and method for electronic component | |
| JPH0843494A (en) | Electronic circuit | |
| JP3978269B2 (en) | Test method for printed circuit boards | |
| JP3645748B2 (en) | Solder defect inspection device | |
| JPH04315068A (en) | Apparatus for inspecting printed circuit board | |
| KR100311010B1 (en) | Method for testing ic | |
| KR100505613B1 (en) | Printed circuit board for performing burn-in test of semiconductor memory device | |
| JPH1183946A (en) | Testing apparatus for measured substrate | |
| JP3114655B2 (en) | Integrated circuit for test board failure detection of semiconductor integrated circuit | |
| US20030094964A1 (en) | Dut testing board | |
| JPH06130108A (en) | Testing of printed circuit board |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20090112 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |