KR19990046398A - Time-Measuring System for Industrial Machinery and Tools - Google Patents
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Abstract
본 발명은 산업기기용 타임밍 측정 시스템에 관 한 것이다.The present invention relates to a timing device for industrial equipment.
본 발명은 각종 차단기와 같은 산업용 기기의 동작시간을 정확히 측정하여 정해진 양식의 시험 데이타를 취득하게 하여 사용목적에 적합한 제품인가 또는 타제품에 비해 성능이 우수한 가를 수월하게 판단할 수 있도록 하는데 사용하는 것이다.The present invention is to be used to easily determine whether the product is suitable for the purpose of use or the performance is superior to other products by accurately measuring the operating time of the industrial equipment such as various circuit breakers to obtain a test data of a predetermined form.
본 발명은 시험하고자 하는 제품에 전원을 인가하여 출력되는 아날로그 신호를 왜곡방지 시켜 출력케 하는 왜곡방지 회로부와, 상기 왜곡방지 회로부로 부터 입력된 아날로그 신호를 수집하여 디지털 신호로 변경하여 처리토록 하는 DAQ 시스템과, 상기 DAQ 시스템으로 부터의 데이타를 분석처리하는 프로세서와, 상기 DAQ 시스템의 데이타를 저장시키는 백업 디스크와, 상기 DAQ 시스템으로 부터 입/출력신호를 처리토록 하는 DIO 트리거장치와, 상기 프로세서로부터 데이타를 처리하여 프린트하거나 모니터에 표시 또는 DAQ 시스템으로 부터 직접 모니터에 표시토록 함을 특징으로 한다.According to the present invention, a distortion prevention circuit unit for preventing distortion and outputting an analog signal outputted by applying power to a product to be tested, and a DAQ for collecting and converting an analog signal input from the distortion prevention circuit unit into a digital signal for processing. A system, a processor for analyzing and processing data from the DAQ system, a backup disk for storing data of the DAQ system, a DIO trigger device for processing input / output signals from the DAQ system, and from the processor Data can be processed and printed, displayed on a monitor, or displayed directly on a monitor from a DAQ system.
Description
본 발명은 산업기기용 타임밍 측정 시스템 및 타이밍 측정 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 각종 차단기와 같은 산업용 기기의 동작시간을 정확히 측정하여 정해진 양식의 시험 데이타를 취득하게 하여 사용목적에 적합한 제품인가 또는 타제품에 비해 성능이 우수한 가를 수월하게 판단할 수 있도록 하는데 사용하는 것이다.The present invention relates to a timing measurement system and a timing measurement method for industrial equipment, and more particularly, to accurately measure the operating time of industrial equipment such as various circuit breakers to obtain test data in a predetermined form, and is a product suitable for use purposes? Or it is used to make it easier to determine whether the performance is superior to other products.
종래 고전압 환경의 각종 차단기의 성능측정을 위하여 사용되는 오실로스코프와 같은 측정시스템은 대상 제품으로 부터 발생된 신호를 단순히 측정하는데 그 목적을 두고 있어 이들 각종 산업용 기기가 사용목적에 적합한 가를 판정하기가 매우 어렵고, 타제품에 비하여 성능이 우수한가를 판정하기가 불가능하였다. 이를 극복하기 위하여 명령어가 외국어로된 타이밍 측정 시스템을 수입하여 각종 차단기의 성능등을 측정하여 왔으나, 이는 하드웨어의 설정이 매우 복잡하고 어려운 점이 있어 실제 사용에 크게 제한을 받는 문제점이 지적되어 왔다.Measurement systems such as oscilloscopes used to measure the performance of various circuit breakers in conventional high voltage environments are aimed at simply measuring signals generated from a target product. Therefore, it is very difficult to determine whether these various industrial devices are suitable for the purpose of use. In addition, it was impossible to determine whether the performance was superior to other products. In order to overcome this problem, a timing measurement system in which a command is written in a foreign language has been imported, and performance of various circuit breakers has been measured. However, it has been pointed out that the hardware configuration is very complicated and difficult, which greatly limits the practical use.
본 발명은 대상제품으로 부터 출력되는 신호를 하드웨어적으로 간단하고도 신속하게 처리토록 함을 목적으로 한다.An object of the present invention is to enable a simple and quick processing of a signal output from a target product in hardware.
본 발명은 고속 데이타의 분석을 용이하게 하고 쉬운 사용자 인터페이스를 갖추도록 함을 기술적 과제로 삼는다.The present invention makes it easy to analyze high-speed data and to provide an easy user interface.
본 발명은 시험하고자 하는 제품에 전원을 인가하여 출력되는 아날로그 신호를 왜곡방지 시켜 출력케 하는 왜곡방지 회로부와, 상기 왜곡방지 회로부로 부터 입력된 아날로그 신호를 수집하여 디지털 신호로 변경하여 처리토록 하는 DAQ 시스템과, 상기 DAQ 시스템으로 부터의 데이타를 분석처리하는 프로세서와, 상기 DAQ 시스템의 데이타를 저장시키는 백업 디스크와, 상기 DAQ 시스템으로 부터 입/출력신호를 처리토록 하는 DIO 트리거장치와, 상기 프로세서로부터 데이타를 처리하여 프린트하거나 모니터에 표시 또는 DAQ 시스템으로 부터 직접 모니터에 표시토록 함을 특징으로 한다.According to the present invention, a distortion prevention circuit unit for preventing distortion and outputting an analog signal outputted by applying power to a product to be tested, and a DAQ for collecting and converting an analog signal input from the distortion prevention circuit unit into a digital signal for processing. A system, a processor for analyzing and processing data from the DAQ system, a backup disk for storing data of the DAQ system, a DIO trigger device for processing input / output signals from the DAQ system, and from the processor Data can be processed and printed, displayed on a monitor, or displayed directly on a monitor from a DAQ system.
도 1은 본 발명의 전체 회로 블럭도1 is an overall circuit block diagram of the present invention
도 2는 본 발명의 흐름도2 is a flow chart of the present invention
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>
1 : 파워 서플라이 2 : 전송수단 3 : 시험제품1: power supply 2: transmission means 3: test product
4 : 왜곡방지 회로부 5 : DAQ 시스템 6 : 프로세서4: distortion prevention circuit 5: DAQ system 6: processor
7 : 백업 디스크 8 : DIO 트리거장치7: Backup disk 8: DIO trigger device
도 1은 본 발명의 전체 회로 블럭도이다. 시험하고자 하는 제품에 전원을 인가하기 위한 파워 서플라이(1)와, 상기 파워 서플라이(1)로 부터 공급받은 전원을 시험하고자 하는 제품(3)에 케이블로 공급하기 위한 전송수단(2)과, 시험하고자 하는 제품(3)으로 부터 출력되는 아날로그 신호를 왜곡방지 시켜 출력케 하는 왜곡방지 회로부(4)와, 상기 왜곡방지 회로부(4)로 부터 입력된 아날로그 신호를 수집하여 디지털 신호로 변경하여 처리토록 하는 DAQ(Data Acquisition) 시스템(5)과, 상기 DAQ 시스템(5)으로 부터의 데이타를 분석처리하는 프로세서(6)와, 상기 DAQ 시스템(5)의 데이타를 저장시키는 백업 디스크(7)와, 상기 DAQ 시스템(5)으로 부터 입/출력신호를 처리토록 하는 DIO(DIGITAL INPUT OUTPUT) 트리거장치(8)와, 상기 프로세서(6)로부터 데이타를 처리하여 프린트하거나 모니터에 표시 또는 DAQ 시스템(5)으로 부터 직접 모니터에 표시토록 함으로써, 시험제품(3)의 동작시간(타이밍)을 측정, 분석하게 하는 것이다.1 is an overall circuit block diagram of the present invention. A power supply (1) for applying power to the product to be tested, a transmission means (2) for supplying the power supplied from the power supply (1) to the product (3) to be tested by a cable, and a test Distortion prevention circuit section 4 for distorting and outputting analog signals outputted from products 3 to be processed, and analog signals inputted from the distortion prevention circuit section 4 are collected and converted into digital signals for processing. A Data Acquisition (DAQ) system (5), a processor (6) for analyzing and processing data from the DAQ system (5), a backup disk (7) for storing data of the DAQ system (5), DIO (DIGITAL INPUT OUTPUT) trigger device 8 for processing the input / output signal from the DAQ system 5, and processing the data from the processor 6 to print or display on a monitor or DAQ system 5 Wealth By directly displaying on the monitor, the operating time (timing) of the test product 3 is measured and analyzed.
상기에서 사용자가 DIO 트리거를 사용시 데이타를 상기 트리거장치(8)로 직접 전송하고, DAQ 작업시작과 동시에 자동으로 데이타를 백업 디스크(7)에 저장하며, 이 저장된 데이타를 프로세서(6)의 프로그램에 따라 분석된 데이타를 프린터 (9)로 전송하거나 다시 백업 디스크(7)에 저장 처리하게 한다.In the above, when the user uses the DIO trigger, the data is directly transmitted to the trigger device 8, and the data is automatically stored on the backup disk 7 at the beginning of the DAQ operation, and the stored data is stored in the program of the processor 6. The data thus analyzed is sent to the printer 9 or stored in the backup disk 7 again.
상기에 있어서, DAQ 시스템(5)은 기본 100KHz 최대 250MHz의 고속 시스템을 사용하고, 기본 16 Ch AD(Analog to Digital Input)입력이 가능하게 하며 모든 Ch을 디지털 타이밍 신호로 전환 가능하게 한다. 그리고, 기본 2Ch 최대 10Ch DA 출력신호를 얻도록 하고, 기본 8Ch DIO 트리거 장치(8)를 사용하며 1 타임당 최대 1,000,000,000 포인트 데이타 저장/표시 가능하게 하고 12비트 또는 16비트 해상도를 갖도록 한다. 또한, 동시 실시간 측정, 실시간 디지털 표시/실시간 6모드 그래프표시가 가능하게 하고, 데이타를 32,000배 확대 분석기능을 가지며, 실시간 X-Y그래프/레코더 기능을 가지게 한다.In the above, the DAQ system 5 uses a high speed system of 100 KHz up to 250 MHz, enables basic 16 Ch AD (Analog to Digital Input) input, and converts all Ch into digital timing signals. In addition, a basic 2Ch up to 10Ch DA output signal is obtained, and a basic 8Ch DIO trigger device 8 is used to enable storage / display of up to 1,000,000,000 points of data per hour and have a 12-bit or 16-bit resolution. In addition, it enables simultaneous real-time measurement, real-time digital display / real-time 6-mode graph display, has 32,000x magnification analysis function, and real-time X-Y graph / recorder function.
그리고, 본 발명에 적용하는 시험제품(3)은 고전압 환경의 각종 차단기이다.And the test product 3 applied to this invention is various circuit breakers of a high voltage environment.
도면 중 9는 데이타 프린터이고, 10은 사용자를 표시하며, 11은 모니터(디스플레이부) 이다.In the figure, 9 is a data printer, 10 represents a user, and 11 is a monitor (display unit).
이와 같이 구성된 본 발명은 도 2의 흐름도를 통하여 사용여부를 결정하고, 통제된다.The present invention configured as described above is used and determined through the flow chart of FIG. 2.
즉, 시험제품(3)으로 부터 출력되는 데이타 입력신호를 검출하는 단계(S1)와, 채널별 데이타 포착 파라메터를 설정하는 단계(S2)와, 채널전체의 데이타 포착 파라메터를 설정하는 단계(S3)와, 상기 설정된 정보를 DAQ 시스템(5)에서 처리토록 하는 단계(S4)와, 상기 단계(S4)에서 사용자가 DIO 트리거를 사용시 데이타를 DIO 트리거장치(8)로 전송하는 단계(S5)와, 상기 전송된 데이타를 메모리로 전송하는 단계(S6)와, 상기 단계(S6)에서의 데이타를 하드 디스크 드라이버에 저장할 것인가를 결정하여 저장하는 단계(S7)를 통하여 본 발명의 시스템을 통제하게 하는 것이다.That is, detecting the data input signal output from the test product 3 (S1), setting the data acquisition parameters for each channel (S2), and setting the data acquisition parameters for the entire channel (S3). And (S4) processing the set information in the DAQ system 5 (S4), transmitting the data to the DIO trigger device 8 when the user uses the DIO trigger in the step S4, It is to control the system of the present invention through the step (S6) of transferring the transmitted data to the memory, and the step (S7) of determining and storing whether to store the data in the step (S6) in the hard disk drive. .
상기에 있어서, 단계(S2)에서는 각 채널의 항목, 단위, 크기, 화면크기, 그래프표시여부/형식, 색상, 상한치, 하한치, 신호연결 방식등을 설정하며, 단계(S3)에서는 채널전체의 변수를 설정하여 본 발명의 각 구성품의 사용여부를 결정하고, 채널개개의 설정되지 않은 변수들 저장매체(디스크, 메모리등)의 선택, 전체 데이타 수집속도, 트리거방식 등을 설정한다.In the above step, in step S2, items, units, sizes, screen sizes, graph display / format, color, upper limit, lower limit, signal connection method, etc. of each channel are set. It is set to determine whether to use each component of the present invention, the selection of the storage medium (disk, memory, etc.) for each unset variable of the channel, the total data collection speed, the trigger method and the like.
이와 같이 본 발명은 채널의 변수를 설정하여 시험제품(3)으로 부터 출력되는 아날로그신호를 DAQ 시스템(5)에 의해 디지털 신호로 변경하여 처리토록 하고, 상기 DAQ 시스템(5)에서 얻어진 데이타를 저장하거나 프로세서(6)에서 분석처리하여 시험제품(3)의 각 성능을 시험할 수 있게 되는 것이다.As described above, the present invention sets the variable of the channel to convert the analog signal output from the test product 3 into a digital signal by the DAQ system 5 to process the data, and stores the data obtained from the DAQ system 5. Alternatively, the processor 6 may analyze the performance of each test product 3.
본 발명은 시험제품의 계측된 값을 디지털로 표시부에 표시함과 동시에 데이타가 실시간으로 그래프로 표시되어 시험제품의 분석이 수월하게 되고, 다채널을 동시에 장시간 계측가능하며, 많은 데이타를 사용자의 조작 없이도 스스로 계측저장이 가능함과 동시에 하드 디스크 드라이버에 자동적으로 저장케 함으로써 사용자의 업무시간을 줄일 수 있고, 각 채널의 항목이 세분되어 표시되므로 타제품과의 성능비교가 수월해 진다. 따라서 본 발명은 각종 차단기와 같은 산업용 기기의 동작시간을 정확히 측정하여 정해진 양식의 시험 데이타를 취득하게 하여 사용목적에 적합한 제품인가 또는 타제품에 비해 성능이 우수한 가를 수월하게 판단 할 수 있는데 탁월한 효과를 가진다.According to the present invention, the measured value of the test product is displayed on a digital display and the data is displayed in real time in a graph, so that the test product can be easily analyzed, and multiple channels can be simultaneously measured for a long time, and a lot of data can be operated by the user. It is possible to save the measurement by itself and save it automatically to the hard disk drive, thereby reducing the user's working time, and it is easy to compare the performance with other products because the items of each channel are displayed in detail. Therefore, the present invention has an excellent effect in accurately determining the operation time of industrial devices such as various circuit breakers and acquiring test data in a predetermined form to easily determine whether the product is suitable for the purpose of use or whether the performance is superior to other products. .
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Publications (1)
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| KR19990046398A true KR19990046398A (en) | 1999-07-05 |
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|---|---|
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20010079126A (en) * | 2001-06-15 | 2001-08-22 | 박성배 | In-Situ Measuring and Controlling system for Inner Condition of Fermentor |
| KR100400103B1 (en) * | 2000-12-21 | 2003-09-29 | 주식회사 리액션엔지니어링 | In-Situ Controlling system for Condition of Reactor |
| KR100439103B1 (en) * | 2002-07-16 | 2004-07-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | Manufacturing Method of Semiconductor Device |
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1999
- 1999-03-06 KR KR1019990007453A patent/KR19990046398A/en not_active Application Discontinuation
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