KR19990037621A - Trunk test apparatus at the exchange - Google Patents

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    • H04M2203/055Aspects of automatic or semi-automatic exchanges related to OAM&P loopback testing

Abstract

교환기에서의 트렁크(Trunk) 시험장치에 관한 것으로서, 특히 손실(Loss), 이득 슬로프(Gain Slope), C-메세지 잡음(C-Message Noise) 등과 같은 선로의 아날로그 특성과 비트에러율(Bit Error Rate)과 같은 디지털 특성을 모두 측정할 수 있는 테스트 장치이다. 본 테스트 장치는 운용자와의 맨머신 인터페이스(man-machine interface)를 위한 L-BUS 인터페이스부와, PCM 하이웨이와의 연결을 위한 RS-422 인터페이스부와, 상기 RS-422 인터페이스부를 통해서 들어온 PCM 데이터를 처리하고 생성시키기 위한 다수의 디지털 시그널 프로세서부와, 상기 L-BUS 인터페이스부를 통해 상위 시스템과 명령을 주고받으며, 상기 L-BUS 인터페이스부, RS-422 인터페이스부, 상기 다수의 디지털 시그널 프로세서의 동작을 제어하는 제어부를 구비한다.Trunk test equipment at exchanges, particularly analogue and bit error rates of lines such as Loss, Gain Slope, C-Message Noise, etc. It is a test device that can measure all of the digital characteristics. The test device is an L-BUS interface for the man-machine interface with the operator, an RS-422 interface for connecting to the PCM highway, and PCM data received through the RS-422 interface. A plurality of digital signal processor units for processing and generating, and commands to and from the upper system through the L-BUS interface unit, and the operation of the L-BUS interface unit, RS-422 interface unit, the plurality of digital signal processor It is provided with a control part for controlling.

Description

교환기에서의 트렁크 시험장치Trunk test apparatus at the exchange

본 발명은 교환기에서의 트렁크(Trunk) 시험장치에 관한 것으로서, 특히 손실(Loss), 이득 슬로프(Gain Slope), C-메세지 잡음(C-Message Noise) 등과 같은 선로의 아날로그 특성과 비트에러율(Bit Error Rate)과 같은 디지털 특성을 모두 측정할 수 있는 테스트 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a trunk test apparatus in an exchange, and in particular, analog characteristics and bit error rates of lines such as loss, gain slope, C-message noise, etc. It relates to a test device capable of measuring all digital characteristics such as error rate.

트렁크는 교환기간에 연결되어 있는 국간(局間) 선로이다. 따라서, 트렁크를 시험하기 위해서는 피시험 대상인 트렁크에 연결되어 있는 두 교환기에 시험장치를 설치하고 시험하여야 한다. 이때 양측에 연결되는 시험장치는 각각 NER(Near End Responder)와 FER(Far End Responder)라고 불린다. 이때 이들의 역할은 유사하면서도 서로 다르다. 즉, NER에서 FER 방향으로의 특성을 측정하는 경우에는, 시험자가 있는 곳(시험국)의 시험장치인 NER가 시험신호를 전송하고 상대방 교환국(응답국)으로부터 결과를 수신하여 상위 시스템에 전송하는 역할을 하는 반면, 응답국의 시험장치인 FER는 시험국으로부터 수신된 신호를 분석하여 결과를 시험국으로 보내는 역할을 수행한다. 그리고 그 반대 방향의 특성을 측정하는 경우에는 FER가 시험신호를 전송하고 그 신호를 NER가 수신 및 분석하여 그 결과를 상위 시스템에 전송한다. 이때, 이러한 두가지의 다른 역할을 하나의 보드에서 모두 수행할 수 있는 시험장치가 요구된다.Trunks are stations between stations connected during the exchange. Therefore, in order to test the trunk, the test system should be installed and tested on two exchangers connected to the trunk under test. The test equipment connected to both sides is called NER (Near End Responder) and FER (Far End Responder), respectively. Their role is similar but different. That is, in the case of measuring the characteristic from NER to FER direction, NER, which is a test apparatus in the place where the tester is located, transmits a test signal, receives a result from the counterpart switching station (response station), and transmits the result to the host system. On the other hand, FER, the test equipment of the responding station, analyzes the signal received from the test station and sends the result to the test station. In the case of measuring the characteristic in the opposite direction, the FER sends the test signal, the NER receives and analyzes the signal, and transmits the result to the host system. At this time, a test apparatus capable of performing these two different roles in one board is required.

또한, 교환국과 교환국 사이에는 많은 데이터가 오고 가므로, 트렁크로는 보통 여러 채널의 디지털 데이터가 전송되게 된다. 따라서, 선로의 손실, 게인 슬로프(Gain Slope), C-메세지 노이즈, C-노치드 노이즈(C-Notched Noise), 복귀 손실(Return Loss) 등의 시험(Code-105 시험)과 비트에러율(Bit Error Rate, BER) 등의 디지털 특성 시험을 모두 행할 수 있는 시험장치가 요구된다.In addition, since a lot of data comes and goes between the switching center and the switching center, the digital data of several channels is usually transmitted through the trunk. Therefore, tests such as line loss, gain slope, C-message noise, C-notched noise, return loss, etc. (Code-105 test) and bit error rate (Bit) A test apparatus capable of performing all the digital characteristic tests such as Error Rate (BER) is required.

따라서, 본 발명의 목적은 NER 및 FER의 기능을 모두 수행할 수 있는 시험장치를 제공하는 것이다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a test apparatus capable of performing both the functions of NER and FER.

본 발명의 다른 목적은 선로의 손실 등의 코드-105 시험과 비트에러율 등의 디지털 특성 시험을 모두 행할 수 있는 시험장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a test apparatus capable of performing both the code-105 test such as line loss and the digital characteristic test such as bit error rate.

도 1은 트렁크 시험을 위해 본 발명의 장치가 시험국 및 응답국 교환기에 연결되어 있는 모습을 보여주는 개략도,1 is a schematic diagram showing a device of the present invention connected to a test station and a response station exchange for a trunk test;

도 2는 본 발명의 시험장치의 내부 구성을 보여주는 블록도,Figure 2 is a block diagram showing the internal configuration of the test apparatus of the present invention,

도 3은 코드-105 시험시의 PCM 데이터의 흐름을 보여주는 블록도,3 is a block diagram showing the flow of PCM data during Code-105 testing;

도 4는 디지털 특성 시험시의 PCM 데이터의 흐름을 보여주는 블록도이다.4 is a block diagram showing the flow of PCM data in the digital characteristic test.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 시험장치는 운용자와의 맨머신 인터페이스(man-machine interface)를 위한 L-BUS 인터페이스부와, PCM 하이웨이와의 연결을 위한 RS-422 인터페이스부와, 상기 RS-422 인터페이스부를 통해서 들어온 PCM 데이터를 처리하고 생성시키기 위한 다수의 디지털 시그널 프로세서부와, 상기 L-BUS 인터페이스부를 통해 상위 시스템과 명령을 주고받으며, 상기 L-BUS 인터페이스부, RS-422 인터페이스부, 상기 다수의 디지털 시그널 프로세서의 동작을 제어하는 제어부를 구비한다.The test apparatus of the present invention for achieving this purpose is an L-BUS interface unit for the man-machine interface with the operator, an RS-422 interface unit for connection to the PCM highway, and the RS- A plurality of digital signal processor units for processing and generating PCM data entered through the 422 interface unit, and commands to and from the upper system through the L-BUS interface unit, the L-BUS interface unit, RS-422 interface unit, A control unit controls an operation of a plurality of digital signal processors.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 트렁크 시험을 위해 본 발명의 장치가 시험국 및 응답국 교환기에 연결되어 있는 모습을 보여주는 개략도이고, 도 2는 본 발명의 시험장치의 내부 구성을 보여주는 블록도이다.Figure 1 is a schematic diagram showing the connection of the apparatus of the present invention to the test station and the response station exchange for the trunk test, Figure 2 is a block diagram showing the internal configuration of the test apparatus of the present invention.

먼저 도 1을 보면, 시험국(200a)에 시험장치 NER(100a)가 연결되어 있으며, 응답국(200b)에 시험장치 FER(100b)가 연결되어 있다. 시험국(200a)과 응답국(200b) 사이는 트렁크(T)에 의해 접속되어 있으며, 이를 위해서 도시하지 아니한 트렁크 인터페이스 카드가 각 교환국에 연결되어 있다. NER(100a) 및 FER(100b)는 동일한 구성을 가지고 있으며, 각각 L-BUS를 통해서 상위 시스템에 연결되어 있고, 또한 PCM 하이웨이를 통해서 PCM 데이터를 전송할 수 있도록 되어 있다. 따라서, 각 시험장치(100a,100b)로부터의 PCM 데이터는 교환기의 백플레인에 마련된 PCM 하이웨이를 통해 트렁크 인터페이스 카드로 전달되고, 각 트렁크 인터페이스 카드는 이를 트렁크를 통해서 전송하기에 적당한 형태로 변환시켜서 트렁크로 내보내도록 되어 있다.First, referring to FIG. 1, a test apparatus NER 100a is connected to a test station 200a, and a test apparatus FER 100b is connected to a response station 200b. The test station 200a and the answering station 200b are connected by a trunk T. For this purpose, a trunk interface card (not shown) is connected to each switching center. The NER 100a and the FER 100b have the same configuration, and are each connected to an upper system through the L-BUS, and are also capable of transmitting PCM data through the PCM highway. Therefore, the PCM data from each test apparatus 100a, 100b is transferred to the trunk interface card through the PCM highway provided in the backplane of the exchanger, and each trunk interface card converts it into a form suitable for transmission through the trunk to the trunk. It is supposed to be exported.

또한, 교환국에는 터미널(300)을 연결할 수 있어서, 트렁크 시험과정을 운용자가 제어할 수 있도록 되어 있다.In addition, the terminal 300 can be connected to the switching center, so that the operator can control the trunk test process.

다음으로, 도 2를 참조하여 본 발명의 시험장치의 구성을 설명한다.Next, with reference to FIG. 2, the structure of the test apparatus of this invention is demonstrated.

먼저, 시험장치의 제어를 담당하는 제어부에 대해서 설명한다. 제어부는 중앙연산장치(CPU)(110)와, 상기 CPU(110)의 동작에 필요한 메모리인 ROM(151), RAM(152), EEPROM(153)과, CPU 제어신호 생성, 어드레스 디코딩, 주변 칩들의 칩 선택 신호와 DSP 제어신호를 생성하는 제어로직(140)을 구비한다.First, the control part in charge of control of a test apparatus is demonstrated. The control unit includes a central processing unit (CPU) 110, a ROM 151, a RAM 152, and an EEPROM 153, which are memories required for the operation of the CPU 110, CPU control signal generation, address decoding, and peripheral chips. Control logic 140 for generating a chip select signal and a DSP control signal.

제어부는 시험내용에 따라서 DSP(161..164)를 제어하고 시험결과를 DSP(161..164)로부터 받아서 L-BUS 인터페이스(190)를 통해서 상위 시스템에 보고하는 역할을 하며, 또한 직렬인터페이스(120)를 통해 터미널에 연결되어 소프트웨어의 디버깅 등을 할 수 있도록 되어 있다.The controller controls the DSP (161..164) according to the test contents, receives the test result from the DSP (161..164), and reports the result to the host system through the L-BUS interface 190. It is connected to the terminal through 120) to enable debugging of software.

다음으로, 디지털 신호처리부에 대해서 설명한다. 디지털 신호처리부는 디지털 시그널 프로세서(DSP)(161..164)와, DSP의 동작에 필요한 메모리인 RAM(171..174)과, DSP(161..164)와 CPU(110)와의 사이의 어드레스 및 데이터 버퍼링을 위한 버퍼(180)를 구비한다.Next, the digital signal processing unit will be described. The digital signal processor (DSP) (161..164), RAM (171..174) which is a memory required for the operation of the DSP, and the address between the DSP (161..164) and the CPU 110 And a buffer 180 for data buffering.

장치가 파워온되면, CPU(110)는 DSP(161..164)의 동작에 필요한 프로그램을 ROM(151)에서 읽어들여서 버퍼(180)를 통해 디지털 신호처리부의 메모리(171..174)에 저장시키고 DSP(161..164)의 동작을 인에이블시킨다. 그러면, 그후부터 DSP(161..164)는 CPU(110)가 메모리(171..174)에 다운로드시킨 프로그램에 따라서 동작하게 된다.When the device is powered on, the CPU 110 reads a program required for the operation of the DSP 161..164 from the ROM 151 and stores it in the memory 171..174 of the digital signal processor through the buffer 180. And enable the operation of the DSP (161..164). Thereafter, the DSP 161..164 operates according to the program downloaded by the CPU 110 to the memory 171..174.

DSP(161..164)는 제어로직(140)을 통한 CPU(110)의 명령에 따라서 특정 채널의 PCM 데이터를 RS-422 인터페이스(130)를 통해 받아서 필터링 등의 처리를 하거나, 특정 주파수의 톤과 같은 PCM 데이터를 생성하여 RS-422 인터페이스(130)를 통해서 특정 채널로 보내거나 하는 역할을 한다.The DSP 161..164 receives PCM data of a specific channel through the RS-422 interface 130 according to a command of the CPU 110 through the control logic 140 to perform filtering or the like, or tones of a specific frequency. It generates a PCM data such as and sends or transmits to a specific channel through the RS-422 interface (130).

본 도면에서는 DSP가 4개 마련되어 있는 것으로 도시되어 있으므로 동시에 4개의 채널에 대해서 시험을 행할 수가 있지만, 본 발명은 DSP의 특정 개수에 한정되는 것은 아니다.In this figure, since four DSPs are provided, four channels can be tested at the same time. However, the present invention is not limited to a specific number of DSPs.

RS-422 인터페이스(130)는 장치내에서 사용되는 TTL 레벨의 신호를 교환기의 백플레인에서 사용되는 신호인 RS-422 신호로 변환하여주며, 교환기의 백플레인에 있는 PCM 하이웨이를 시험장치의 내부 디바이스에 인터페이스해주는 역할을 한다.The RS-422 interface 130 converts a TTL level signal used in the device into an RS-422 signal, which is a signal used in the backplane of the exchange, and interfaces the PCM highway in the backplane of the exchanger to the internal device of the test apparatus. It plays a role.

직렬인터페이스(120)는 RS-232C 등과 같이 직렬로 터미널과 데이터 통신을 할 수 있도록 해주는 규격과의 인터페이스 역할을 한다.The serial interface 120 serves as an interface with a standard that enables data communication with a terminal in series, such as RS-232C.

L-BUS 인터페이스(190)는 제어부(110)와 교환기 내의 상위 시스템과의 인터페이스를 위한 것으로서, 제어부(110)는 이를 통하여 상위 시스템과 명령과 시험결과 등을 주고받도록 되어 있다.The L-BUS interface 190 is for interface between the controller 110 and the host system in the exchange, and the controller 110 is configured to exchange commands and test results with the host system.

다음으로, 본 발명의 장치가 교환기에 연결되어 시험을 행할 때의 동작에 대해서 설명한다.Next, an operation when the apparatus of the present invention is connected to an exchanger and performs a test will be described.

먼저, 도 3을 참조하여 코드-105 시험시의 동작을 설명한다. 도 3은 코드-105 시험시의 PCM 데이터의 흐름을 보여주는 블록도이다.First, the operation during the code-105 test will be described with reference to FIG. 3 is a block diagram showing the flow of PCM data during Code-105 testing.

코드-105 시험에서는 주파수가 1004Hz이고 레벨이 0dBm인 신호를 전송했을 때의 손실을 측정하는 손실 시험과, 주파수가 각각 404Hz, 1004Hz, 2804Hz이고 레벨이 -16dBm인 신호를 전송했을 때의 손실을 측정하는 게인슬로프(Gain Slope) 시험과, C-메세지 잡음(C-Message Noise) 측정시험, C-노치드 잡음(C-Notched Noise) 측정시험, 선로의 임피던스 매칭 정도를 알아보는 복귀손실(Return Loss) 시험을 행한다.The Code-105 test measures loss when transmitting a signal with a frequency of 1004 Hz and a level of 0 dBm, and a loss when transmitting a signal with a frequency of 404 Hz, 1004 Hz, or 2804 Hz, and a level of -16 dBm, respectively. Gain Slope test, C-Message Noise measurement test, C-Notched Noise measurement test, Return Loss to determine the impedance matching of the line Perform the test.

우선, NER(100a)가 PCM 하이웨이를 통해 측정신호를 보내면, 이 신호는 트렁크 인터페이스 카드를 통해 트렁크(T)를 거쳐서 응답국(200b)에 설치된 트렁크 인터페이스 카드로 전달되며, 이는 다시 PCM 하이웨이를 통해 FER(100b)에 도달한다. 그러면, FER(100b)에서는 이 신호로부터 레벨, 잡음 등을 측정한 후 손실, 복귀손실 등을 계산하여 그 결과를 다시 NER(100a)에게로 보낸다. 그러면, NER(100a)는 이를 L-BUS를 통해서 상위 시스템에 보고함으로써 측정이 완료되게 된다.First, when the NER 100a sends a measurement signal through the PCM highway, the signal is passed through the trunk interface card via the trunk T to the trunk interface card installed in the answering station 200b, which in turn is via the PCM highway. FER 100b is reached. The FER 100b then measures the level, noise, etc. from this signal, calculates the loss, return loss, and the like, and sends the result back to the NER 100a. The NER 100a then reports this to the host system via the L-BUS to complete the measurement.

또한, 그 반대경로에서의 시험을 위해서는 FER(100b)가 신호를 발생하고 NER(100a)에서 측정하고 계산하여 그 결과를 L-BUS를 통해서 상위 시스템에 보고함으로써 측정이 완료되게 된다.In addition, for the test in the opposite path, the measurement is completed by the FER 100b generating a signal, measuring and calculating at the NER 100a, and reporting the result to the host system through the L-BUS.

다음에 도 4를 참조하여 디지털 특성 시험시의 동작을 설명한다. 도 4는 디지털 특성 시험시의 PCM 데이터의 흐름을 보여주는 블록도이다.Next, with reference to FIG. 4, the operation | movement at the time of a digital characteristic test is demonstrated. 4 is a block diagram showing the flow of PCM data in the digital characteristic test.

먼저, 디지털 특성 시험을 시작하면 응답국(200b)의 트렁크 인터페이스 카드는 루프백(loopback) 모드로 설정된다. 다음에 NER(100a)에서 테스트 패턴을 PCM 하이웨이를 통해서 보내면 이 패턴은 시험국(200a)의 트렁크 인터페이스 카드를 통해 트렁크(T)를 거쳐서 응답국(200b)의 트렁크 인터페이스 카드로 전달되고, 여기에서 루프백되어 다시 트렁크(T)를 거쳐서 시험국(200a)으로 되돌아온다. 시험국(200a)으로 되돌아온 데이터는 다시 PCM 하이웨이를 거쳐서 NER(100a)에 도착하고, NER(100a)는 도착한 데이터와 원래 전송해던 패턴 데이터를 비교하여 비트에러율(Bit Error Rate), 에러발생시간(Errored Second), 심한 에러 발생시간(Severely Errored Second) 등을 계산한다. 이렇게 계산된 측정결과는 L-BUS를 통해 상위 시스템에 보고됨으로써 측정이 완료하게 된다.First, when the digital characteristic test is started, the trunk interface card of the answering station 200b is set to the loopback mode. The next time the NER 100a sends a test pattern through the PCM highway, the pattern is passed through the trunk T through the trunk interface card of the test station 200a to the trunk interface card of the responding station 200b, where It loops back and returns to test station 200a via trunk T again. The data returned to the test station 200a arrives at the NER 100a via the PCM highway again, and the NER 100a compares the received data with the original transmitted pattern data to obtain a bit error rate and an error occurrence time. (Errored Second), Severely Errored Second, etc. The measurement results are reported to the host system via the L-BUS to complete the measurement.

또한, 본 발명의 장치는 CAROT(Centralized Automatic Reporting On Trunk)에 의한 시험도 수행 가능하다. CAROT에 의한 시험시에는 PSTN을 통해 CAROT이 시험국에 연결되고, 시험국의 NER은 CAROT으로부터 명령을 받아서 전술한 바와 같은 시험을 행한다. 즉, CAROT으로부터 호설정(call setup) 명령, 테스트 코드 등을 받으면 NER은 이에 따라 시험을 행하거나 FER에 명령을 전달하거나 하여 시험조건을 설정하고 시험을 실시하며, 시험결과는 NER에서 CAROT으로 보내게 된다.In addition, the apparatus of the present invention can also perform a test by CAROT (Centralized Automatic Reporting On Trunk). In the test by the CAROT, the CAROT is connected to the test station through the PSTN, and the NER of the test station receives an order from the CAROT and performs the test as described above. In other words, upon receiving a call setup command, test code, etc. from CAROT, NER performs the test according to the command or transmits the command to FER, and sets the test condition and performs the test, and the test result is sent from NER to CAROT. It becomes.

이상 본 발명을 바람직한 실시예를 사용하여 상세히 설명하였지만, 본 발명의 범위는 특정 실시예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의해서 해석되어야 할 것이다.Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, the scope of the present invention is not limited to the specific embodiments, and should be interpreted by the appended claims.

본 발명에 따르면, 트렁크의 테스트에 있어서 NER 및 FER의 기능을 한 종류의 보드로 수행할 수 있을 뿐만 아니라 코드-105 시험과 디지털 특성 시험을 모두 행할 수 있다는 효과를 얻을 수 있다.According to the present invention, the function of NER and FER can be performed by one type of board in the test of the trunk, and the effect of performing both the code-105 test and the digital characteristic test can be obtained.

Claims (1)

운용자와의 맨머신 인터페이스(man-machine interface)를 위한 L-BUS 인터페이스부와,L-BUS interface unit for man-machine interface with the operator, PCM 하이웨이와의 연결을 위한 RS-422 인터페이스부와,RS-422 interface for connecting to PCM highway, 상기 RS-422 인터페이스부를 통해서 들어온 PCM 데이터를 처리하고 생성시키기 위한 다수의 디지털 시그널 프로세서부와,A plurality of digital signal processor units for processing and generating PCM data entered through the RS-422 interface unit; 상기 L-BUS 인터페이스부를 통해 상위 시스템과 명령을 주고받으며, 상기 L-BUS 인터페이스부, RS-422 인터페이스부, 상기 다수의 디지털 시그널 프로세서의 동작을 제어하는 제어부A control unit for exchanging commands with an upper system through the L-BUS interface unit and controlling the operations of the L-BUS interface unit, the RS-422 interface unit, and the plurality of digital signal processors. 를 구비하는 교환기에서의 트렁크 시험 장치.Trunk test apparatus at the exchange having a.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100440510B1 (en) * 2000-12-05 2004-07-15 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for configuration information processing in switching system
KR100441049B1 (en) * 2000-12-15 2004-07-19 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for statistical information processing in switching system

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