KR19990029704A - Soldering ball placement system for ball grid array packaging of IC chips - Google Patents

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KR19990029704A
KR19990029704A KR1019980037471A KR19980037471A KR19990029704A KR 19990029704 A KR19990029704 A KR 19990029704A KR 1019980037471 A KR1019980037471 A KR 1019980037471A KR 19980037471 A KR19980037471 A KR 19980037471A KR 19990029704 A KR19990029704 A KR 19990029704A
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운 쉥 카이
테이 호크 로
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탄 펭 후이
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

템플레이트 배열을 위한 수단, 납땜 볼 배치를 위한 수단 그리고 레이저 헤드로 구성된 BGA 포장상에서 납땜 볼 배치를 위한 시스템 하나의 템플레이트가 사전에 적용된 흐름을 갖는 기판표면상에 위치하는 연결패드와 정렬된다. 상기 정렬된 템플레이트는 상기 작은 배치 수단에 의해 패드상으로 볼의 정확한 안내를 허용한다. 하나의 볼이 상기 템플레이트내 각각의 구멍내로 떨어져 패드상에 배치된다. 다음에 상기 패드상에 위치하는 볼들이 짧은 시간동안 레이저헤드를 통해 한 레이저에 노출되어 볼이 부분적으로 용융될 수 있도록 한다. 레이저에 이와같이 짧은 시간동안 노출되므로써 상기 기판의 패드로 원만한 접착 또는 상기 볼들의 태그(tag)를 발생시키게 된다. 일단 상기 볼들이 태크 되기만하면, 이들 볼들은 쉽게 이동되지 않고 상기 재흐름 오븐으로 전달될 수 있다.One template for solder ball placement on a BGA package consisting of means for template arrangement, solder ball placement and a laser head is aligned with a connection pad located on a substrate surface with a pre-applied flow. The aligned template allows for accurate guidance of the ball onto the pad by the small positioning means. One ball is placed on the pad away into each hole in the template. The balls located on the pad are then exposed to a laser through the laser head for a short time to allow the balls to partially melt. This short exposure to the laser results in a smooth adhesion to the pad of the substrate or a tag of the balls. Once the balls are tackled, these balls are not easily moved and can be delivered to the reflow oven.

Description

IC 칩의 볼 그리드 배열 포장을 위한 납땜 볼 배치 시스템Soldering ball placement system for ball grid array packaging of IC chips

본 발명은 IC소자와 인쇄회로판사이의 전기 연결시 납땜 사용에 대한 것이다. 특히, 본 발명은 생산 공정시 볼 그리드 배열(ball grid array)(BGA)상에 납땜 볼을 정확하게 배치시킴에 대한 것이다.The present invention is directed to the use of solder in the electrical connection between IC devices and printed circuit boards. In particular, the present invention relates to the precise placement of solder balls on a ball grid array (BGA) during the production process.

집적 회로(IC)소자의 볼 그리드 배열(BGA) 포장은 IC 소자 생산시 날로 그 중요성을 더하고 있다. BGA 포장시, IC 칩은 통상 패드가 있는 구리 기판상에 장착되며, 상기 기판상에서 흐름이 적용되고 다음에 납땜 볼의 위치정함이 발생된다. 다음에 상기 납땜 볼은 재흐름 오븐내에서 상기 패드위에 납땜된다.Ball grid array (BGA) packaging of integrated circuit (IC) devices is becoming increasingly important in IC device production. In BGA packaging, IC chips are typically mounted on a padded copper substrate, where a flow is applied on the substrate followed by positioning of the solder balls. The solder ball is then soldered onto the pad in a reflow oven.

납땜 볼 배치의 종래의 방법은 납땜 볼을 픽-엎하기위해 적절한 흡입 구멍 배열을 갖는 진공 흡입 헤드를 사용하는 것이다. 적절한 배열로 상기 헤드로 흡입된 볼들은 사전에 적용된 흐름을 갖는 한 기판로 내려놓는다. 이같은 BGA 어셈블 리가 다음에 재흐름 오븐으로 전달되어 상기 납땜 볼을 납땜하도록 한다.The conventional method of solder ball placement is to use a vacuum suction head with an appropriate suction hole arrangement to pick-up the solder ball. The balls sucked into the head in the proper arrangement are lowered onto one substrate with a pre-applied flow. This BGA assembly is then passed to a reflow oven to solder the solder ball.

IC 칩 생산에서의 현재의 경향은 칩에 더욱더 많은 IC를 집적하는 것이다. IC 의 밀도가 높을수록, 같은 칩 크기상에서 요구되는 상호연결의 수는 더욱더 많아진다. 따라서, 높은 밀도의 패드와 납땜 볼에서 BGA 패키지에 대한 수효가 있어왔다. 이같은 높은 밀도의 BGA 포장에서, 칩마다의 상호연결 패드의 수는 같은 표면적을 갖는 칩의 경우 400개이하의 패드를 갖는 낮은 밀도의 BGA 패키지와 비교해 1,000-2,000개의 높은 수치를 기록한다. 칩마다 400 패드이상인 높은 밀도의 패키지의 경우, 피치(pitch)(납땜 볼 사이의 거리)와 납땜 볼 크기는 따라서 줄어들어야 한다. 가령, 패드 직경이 25mil이고 피치가 50mil인 칩의 경우 400패드 이하의 낮은 밀도 BGA 구성은 30mil 직경의 납땜 볼을 사용한다. 가령 패드직경이 10mil이고 피치가 20mil인 패드를 갖는 높은 밀도 BGA 구성의 경우에는 12mil 직경의 낮은 납땜 볼이 대신에 사용되어야 한다.The current trend in IC chip production is to integrate more and more ICs on the chip. The higher the density of the IC, the greater the number of interconnections required on the same chip size. Thus, there have been a number of BGA packages in high density pads and solder balls. In such a high density BGA package, the number of interconnect pads per chip is 1,000-2,000 higher compared to low density BGA packages with less than 400 pads for chips with the same surface area. For high density packages with more than 400 pads per chip, the pitch (the distance between the solder balls) and the solder ball size should be reduced accordingly. For example, for chips with a pad diameter of 25 mils and a pitch of 50 mils, a low density BGA configuration of 400 pads or less uses a 30 mil diameter solder ball. For example, for high density BGA configurations with pads with 10 mil pad diameter and 20 mil pitch, low 12 mil diameter solder balls should be used instead.

이같이 줄어든 피치와 볼 크기는 납땜 처리의 경우에 문제를 일으킨다. 납땜 볼의 크기가 작고 경량이기 때문에 불과 1분정도의 공기 난류 또는 상기 기판의 미세한 휨은 상기 볼 위치를 이동시키도록 한다. 높은 밀도 배열에서 요구되는 상기 피치 때문에, 브리징(bridging)을 일으키는데, 이는 재흐름 오븐에서의 납땜 처리중에 한 연결을 형성시키기 위해 두 납땜 볼의 혼합이된다. 일단 브리징이 일어나게 되면, 전체 패키지는 거절되어야 한다. 결과적으로, 진공 흡입 헤드 사용하여 볼의 위치를 정하는 종래의 방법은 상기 브리징 때문에 높은 거절율을 일으키게 한다. 두 번째 문제는 볼의 배치 장소로부터 재흐름 오븐으로 포장을 이전하는데서 일어난다. 납땜 볼의 위치가 정확하게 정해진다해도, 상기 포장을 재흐름 오븐으로 전달하기 위해 필요한 이동은 상기 볼들이 이동하게할 것이다. 따라서 상기 납땜 볼의 이동과 브리징을 막도록한 볼의 배치에 대한 개념을 디자인하므로써 상기 포장 처리를 개선시킬 필요가 있다.This reduced pitch and ball size are problematic for soldering. Since the solder ball is small and lightweight, air turbulence or minute warpage of the substrate for only one minute causes the ball to shift. Because of the pitch required in high density arrangements, bridging occurs, which results in a mixture of two solder balls to form one connection during the soldering process in the reflow oven. Once bridging occurs, the entire package must be rejected. As a result, the conventional method of positioning the balls using a vacuum suction head causes high rejection rates due to the bridging. The second problem arises from the transfer of packaging from the ball placement location to the reflow oven. Even if the solder balls are positioned correctly, the movement required to deliver the package to the reflow oven will cause the balls to move. Therefore, there is a need to improve the packaging process by designing the concept of ball placement to prevent movement and bridging of the solder balls.

본 발명의 목적은 BGA 장치의 포장시에 작은 납땜 볼 배치의 방법을 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a method of small solder ball placement in the packaging of a BGA device.

본 발명의 또다른 목적은 BGA 어셈블리 처리에서 납땜 볼 브리징의 발생을 줄이고자 하는 것이다.It is another object of the present invention to reduce the occurrence of solder ball bridging in BGA assembly processing.

도 1 은 본 발명에 따른 템플레이트에 의해 안내되는 볼 배치 단계에 대한 개략적 설명도.1 is a schematic illustration of a ball placement step guided by a template according to the present invention;

도 2 는 본 발명에 따른 레이저 태그(tag) 단계에 대한 개략적 설명도.2 is a schematic illustration of a laser tag step in accordance with the present invention.

도 3 은 납땜 볼의 태그를 위해 레이저헤드의 위치를 정함을 도시하기 위한 개략적 설명도.3 is a schematic illustration to illustrate positioning of the laser head for the tag of solder balls.

도 4 는 본 발명에 따른 레이저 태그 시스템에 포함된 단계를 설명하기 위한 흐름도.4 is a flow chart for explaining the steps included in the laser tag system according to the present invention.

* 부호 설명* Code Description

20 ... 기판 22 ... 템플레이트(template)20 ... substrate 22 ... template

24 ... 볼 흡입헤드 27 ... 공동24 ... ball suction head 27 ... cavity

28 ... 납땜 볼 29 ... 템플레이트28 ... solder ball 29 ... template

30 ... 레이저 헤드 32 ... 흐름 층30 ... laser head 32 ... flow layer

34 ... 하우징 36 ... 광섬유34 ... housing 36 ... optical fiber

42 ... 볼 흡입헤드42 ... ball suction head

본 발명은 템플레이트 배열을 위한 수단, 납땜 볼 배치를 위한 수단 그리고 레이저 헤드로 구성된 BGA 포장 기판의 패드상에서 납땜 볼 배치를 위한 시스템을 제공하는 것이다. 하나의 템플레이트가 사전에 적용된 흐름을 갖는 기판 표면상에 위치하는 연결패드와 정렬된다. 상기 정렬된 템플레이트는 상기 작은 배치 볼 수단에 의해 패드상으로 볼의 정확한 안내를 허용한다. 하나의 볼이 상기 템플레이트내 각각의 구멍내로 떨어져 패드상에 배치된다. 다음에 상기 패드상에 위치하는 볼들이 짧은 시간동안 레이저 헤드를 통해 한 레이저에 노출되어 볼이 부분적으로 용융될 수 있도록 한다. 레이저에 이와같이 짧은 시간동안 노출되므로써 상기 기판의 패드로 원만한 접착 또는 상기 볼들의 태그(tag)를 발생시키게 된다. 일단 상기 볼들이 태그되기만하면, 이들 볼들은 쉽게 이동되지 않고 상기 재흐름 오븐으로 전달될 수 있다.The present invention provides a system for solder ball placement on a pad of a BGA package substrate consisting of means for template arrangement, means for solder ball placement and a laser head. One template is aligned with a connection pad located on the substrate surface with a pre-applied flow. The aligned template allows accurate guidance of the ball onto the pad by the small placement ball means. One ball is placed on the pad away into each hole in the template. The balls located on the pad are then exposed to a laser through the laser head for a short time to allow the balls to partially melt. This short exposure to the laser results in a smooth adhesion to the pad of the substrate or a tag of the balls. Once the balls are tagged, these balls are not easily moved and can be delivered to the reflow oven.

도 1 은 본 발명에 따른 볼 배치 처리 첫 번째 단계에 대한 개략적 설명을 도시한 것이다. 흐름이 종래의 방법에 따라 기판(20)으로 적용된후, 고밀도 배열의 템플레이트(22)가 상기 기판위에 놓여진다. 납땜 볼을 갖는 볼 흡입헤드(24)가 안내장치로서 상기 템플레이트를 사용하여 상기 기판위에 정렬이된다. 볼 흡입헤드내의 상기 배열이 상기 템플레이트 배열에 따라 정렬되는때 상기 볼 흡입 헤드에서의 진공이 릴리이스되며, 상기 납땜 볼이 흐름으로 상기 가판위로 떨어진다. 상기 볼 흡입 헤드는 BGA 포장에서 통상 사용되는 종래의 것이며 상기 템플레이트 배열은 밀도가 높은 장치에 적합하도록 된다. 상기의 템플레이트는 필요한 밀도를 갖는 메쉬 사이즈(mesh size)를 갖는 와이어 메쉬일 수 있다. 상기 템플레이트는 스텐레스 스틸 또는 알루미늄과 같은 내열성 물질로 만들어질 수 있다. 이때의 바람직한 내열성 물질재료로는 스텐레스 스틸이 바람직하다. 상기 메쉬 와이어는 두께가 충분히 두꺼워서 납땜 볼이 상기 와이어를 지나 구르는 것을 막을 수 있다. 가령, 12mil의 직경을 갖는 납땜 볼의 경우, 도 3 의 도면부호 (26)으로 표시된 바와 같이 메시 와이어의 두께는 약 12mil 이어서 상기 볼이 공동(cavity)(27)으로부터 벗어나 구르는 것을 막도록 한다. 또한, 상기 공동의 표면적은 상기 볼 흡입헤드에 의한 배치를 용이하게 하고 볼이 상기 와이어 메쉬에 용이하게 부착되는 것을 막도록 하기 위해 납땜 볼의 직경보다 다소 큰 것이 바람직하다. 상기의 바람직한 면적은 상기 납땜 볼 단면적보다 15-35%가 크다.1 shows a schematic description of the first stage of the ball placement process according to the invention. After the flow is applied to the substrate 20 in accordance with conventional methods, a template 22 of high density arrangement is placed on the substrate. A ball suction head 24 with solder balls is aligned on the substrate using the template as a guide. When the arrangement in the ball suction head is aligned with the template arrangement, the vacuum at the ball suction head is released and the solder balls flow down onto the substrate. The ball suction head is a conventional one commonly used in BGA packaging and the template arrangement is adapted for high density devices. The template may be a wire mesh having a mesh size having a required density. The template may be made of a heat resistant material such as stainless steel or aluminum. Stainless steel is preferable as a preferable heat resistant material material at this time. The mesh wire is thick enough to prevent solder balls from rolling past the wire. For example, for a solder ball having a diameter of 12 mils, the thickness of the mesh wire is approximately 12 mils, as indicated by reference numeral 26 in FIG. 3, to prevent the ball from rolling away from the cavity 27. In addition, the surface area of the cavity is preferably somewhat larger than the diameter of the solder ball to facilitate placement by the ball suction head and to prevent the ball from easily attaching to the wire mesh. The preferred area is 15-35% larger than the solder ball cross-sectional area.

도 2 는 납땜 볼을 태그하기 위해 매트릭스 레이저 헤드가 어떻게 사용되는가를 설명한다. 상기의 볼 흡입 헤드는 볼의 배치 이후에 상기 기판으로부터 멀리 떨어지도록 이동되며, 레이저 헤드(30)가 템플레이트와 납땜 볼 위에 올려 놓이게 된다. 상기 납땜 볼로는 짧은 레이저 노출이 제공되므로 국지적 용융을 발생시키도록 하며, 결국 상기 기판위로 납땜 볼의 태그가 발생되도록 한다. 상기 레이저 헤드는 상기 볼 배열과 동일한 배열내에 배치된 일련의 광섬유로 구성된 자이로스코프 헤드 또는 매트릭스 타입 헤드인 것이 바람직하다. 네오디뮴: 이트륨-알루미늄-가닛(Nd: YAG)레이저와 같은 레이저가 상기의 태그 작업에 적당하다. 상기의 노출 시간 및 세기는 상기 납땜 볼의 크기에 달려있다.2 illustrates how a matrix laser head is used to tag solder balls. The ball suction head is moved away from the substrate after placement of the ball and the laser head 30 is placed on the template and the solder ball. The solder balls are provided with a short laser exposure to cause local melting, which in turn results in the tag of solder balls onto the substrate. The laser head is preferably a gyroscope head or matrix type head composed of a series of optical fibers arranged in the same arrangement as the ball arrangement. Lasers such as neodymium: yttrium-aluminum-garnet (Nd: YAG) lasers are suitable for the tag operation above. The exposure time and strength depends on the size of the solder ball.

도 3 은 흐름층(32)위의 템플레이트(29) 공동(27)내에 위치하는 납땜 볼(28)을 갖는 레이저 헤드의 광섬유 정렬을 도시한 것이다. 상기의 광섬유는 상기 패드의 위치와 납땜 볼의 위치를 매치시키기 위해 상기 광섬유(26)의 위치를 고정시키는 한 하우징(34)내에 수용된다. 템플레이트에 대한 상기 와이어 매치는 상기 납땜 볼 직경과 대략 같은 높이(26)를 갖는다.FIG. 3 shows the optical fiber alignment of the laser head with solder balls 28 located in template 29 cavity 27 over flow layer 32. The optical fiber is received in the housing 34 as long as the optical fiber 26 is fixed to match the position of the pad and the position of the solder ball. The wire match to the template has a height 26 approximately equal to the solder ball diameter.

도 4 는 본 발명에 따른 공정을 도시하는 흐름도이다. 흐름의 적용(40)후에, 상기 템플레이트가 상기 기판에 정렬되며 그뒤에 볼 흡입 헤드(42)로 볼 배치가 있게된다. 단계(42)이후에, 상기의 볼들이 제위치에 놓여짐을 보장하도록 가령 CCD(축전기 충전 장치) 카메라와 같은 카메라로 육안 검사(44)가 적적히 수행되며 그뒤에 레이저 태그(46)가 실행된다. 단계(42-46)는 일단 상기 볼들이 상기 기판위에 올려놓이게되면 볼로의 어떠한 방해도 최소화하도록 패키지가 고정된 상태로 수행되는 것이 바람직하다.4 is a flow chart illustrating a process according to the present invention. After application of the flow 40, the template is aligned with the substrate followed by a ball placement with the ball suction head 42. After step 42, a visual inspection 44 is suitably performed with a camera, such as a CCD (capacitor charging device) camera, to ensure that the balls are in place, followed by a laser tag 46. . Steps 42-46 are preferably performed with the package fixed to minimize any disturbance to the ball once the balls are placed on the substrate.

상기 마지막 단계(48)는 상기 볼들의 납땜을 위해 상기 재흐름 오븐으로 패키지를 전달시키는 것이다.The final step 48 is to deliver a package to the reflow oven for soldering the balls.

본 발명은 고밀도 BGA 장치 포장에 대한 두 분리된 기술의 조합을 사용한다. 어느 한 기술만을 적용하게되면 만족스럽지 못한 결과를 가져다주게되나, 적절한 순수로 두 기술을 조합하게되면 기대된 추가이익을 상승적으로 상회하는 결과를 가져다준다. 이같은 첫 번째 기술은 종래의 볼 흡입헤드로부터 볼을 릴리이스하고 배치시키기 위해 한 템플레이트의 사용을 포함한다. 일단 상기 볼들이 상기 기판위에서 템플레이트내에 적절히 배치되기만 하면 두 번째 기술인 레이저 태그작업이 사용되며, 이같은 작업은 납땜 볼의 국지적 용융을 발생시킨다. 이와같이 하므로써 볼들이 기판에 원만하게 부착되거나 태그되어지도록 한다. 다음에 상기 템플레이트가 제거되고 상기 장치가 적절한 납땜을 위해 재흐름 오븐으로 전달된다. 그 결과가 납땜 볼에 대한 품질이 우수한 납땜이 제공된 BGA 포장이 되는 것이다. 납땜 볼의 브리징으로 인한 불량은 따라서 최소가 된다.The present invention uses a combination of two separate techniques for high density BGA device packaging. Applying only one technique will result in unsatisfactory results, but a combination of the two techniques with appropriate purity will result in synergistically exceeding expected additional gains. This first technique involves the use of a template to release and position the ball from a conventional ball suction head. Once the balls are properly placed in the template on the substrate, a second technique, laser tagging, is used, which results in local melting of the solder balls. This allows the balls to be smoothly attached or tagged to the substrate. The template is then removed and the device is passed to a reflow oven for proper soldering. The result is a BGA package provided with high quality solder to solder balls. The defects due to bridging of the solder balls are therefore minimal.

Claims (5)

템플레이트(template) 정렬을 위한 수단,Means for template alignment, 패드(pad) 배열에 매칭되는 공동의 배열을 갖는 템플레이트,A template having an array of cavities that match the pad array, 납땜볼 배치를 위한 수단, 그리고Means for placing solder balls, and 적어도 하나의 레이저 비임이 상기 납땜 볼로 향하도록 적용된 레이저 헤드를 갖는 레이저 모듈을 포함하는 패드를 포함하며,A pad comprising a laser module having a laser head adapted to direct at least one laser beam to the solder ball, 사전-적용된 흐름을 갖는 상기 패드 배열에 상기 템플레이트의 공동을 정렬시키고,Align the cavities of the template to the pad array with pre-applied flow, 상기 납땜 볼의 배열이 상기 패드의 배열에 정렬되도록 한 가이드로서 상기 템플레이트를 사용하여 납땜 볼 배치를 위한 수단을 상기 기판에 정렬시키며,Using the template as a guide to align the array of solder balls with the array of pads, aligning means for solder ball placement to the substrate, 상기 정렬된 납땜 볼을 사전-적용된 흐름으로 상기 패드위로 릴리이스하여 한 납땜볼이 상기 템플레이트의 각 공동내에 위치하도록 하고,Release the aligned solder balls onto the pad in a pre-applied flow such that one solder ball is located in each cavity of the template, 상기 레이저 헤드를 상기 기판에 정렬시키며, 그리고Align the laser head to the substrate, and 상기 납땜 볼이 상기 패드상에서 다소 용융되고 태그(tag)되는 연속적 단계를 포함하는 한 패드 배열을 갖는 기판으로 IC 칩의 볼그리드 배열 포장을 위한 납땜 볼 배치 시스템.A soldering ball placement system for packaging ball grid arrays of IC chips into a substrate having a pad arrangement, wherein the solder ball comprises a continuous step of melting and tagging the solder balls somewhat on the pads. 제 1 항에 있어서, 상기 시스템이 카메라를 더욱더 포함하고, 육안 검사의 추가 단계가 납땜 볼 배치이후에 수행됨을 특징으로 하는 납땜 볼 배치 시스템.2. The solder ball placement system of claim 1, wherein the system further comprises a camera, and wherein an additional step of visual inspection is performed after solder ball placement. 제 1 항에 있어서, 상기 레이저 헤드가 매트릭스 레이저 헤드임을 특징으로 하는 납땜 볼 배치 시스템.The solder ball placement system of claim 1, wherein said laser head is a matrix laser head. 제 1 항에 있어서, 상기 레이저 헤드가 Nd: YAG 레이저 비임을 전달시킴을 특징으로 하는 납땜 볼 배치 시스템.The solder ball placement system of claim 1, wherein the laser head delivers a Nd: YAG laser beam. 템플레이트 정렬을 위한 수단,Means for template alignment, 상기 패드상에 납땜 볼 배치를 위한 수단, 그리고Means for placing solder balls on the pad, and 상기 납땜 볼로 레이저 비임을 보내도록된 레이저 헤드를 포함하는 상호연결을 위해 패드 배열을 갖는 기판으로 IC 칩의 볼 그리드 배열 포장의 납땜 볼 배치를 위한 장치.And an apparatus for solder ball placement of a ball grid array package of IC chips into a substrate having a pad array for interconnection comprising a laser head adapted to direct a laser beam to the solder ball.
KR1019980037471A 1997-09-26 1998-09-11 Soldering ball placement system for ball grid array packaging of IC chips KR19990029704A (en)

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