KR19980086524A - 패턴 추출 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 패턴이 괘선인지의 여부를 정확히 판별하기 위한 것이다.

요철 정도 산출 수단(2)은 패턴 입력 수단(1)에 입력된 패턴의 요철 정도를 산출하고, 패턴 판별 수단(3)은 요철 정도 산출 수단(2)에서 산출된 요철 정도가 큰 패턴을 문자로 간주하고, 요철 정도 산출 수단(2)에서 산출된 요철 정도가 작은 패턴을 괘선으로 간주한다.

Description

패턴 추출 장치

본 발명은 패턴 추출 장치 및 패턴 추출 방법에 관한 것으로, 특히 수기용 문자 인식 장치, 인쇄 문자 인식 장치, 도면 인식 장치 등에 있어서, 문자, 도형, 기호 또는 이미지 등의 패턴의 범위를 나타내는 틀과 괘선 등을 추출하는 경우에 적용하는데 적합한 패턴 추출 장치 및 패턴 추출 방법에 관한 것이다.

근래, 금융 문서, 비지니스 문서 등의 입력 주변 기기로서, 광학 문자 판독 장치 OCR(optica1 character reader) 등으로 대표되는 수기 문자 인식 장치의 수요가 증가하고 있다.

종래의 광학 문자 판독 장치에서는 문자 인식을 행하기 전에, 입력된 화상으로부터 문자 패턴을 1 문자씩 절출(切出)하는 문자의 절출 처리가 행하게 된다. 광학 문자 판독 장치에 있어서, 개개의 문자가 높은 인식율을 실현하기 위해서는 인식의 전처리인 문자의 절출 처리를 정확히 행하는 것이 중요하게 된다.

이 때문에, 종래의 광학 문자 판독 장치로 문자를 판독하는 경우, 장표 등의 문자의 기입 위치를 미리 지정한 문서(드롭 아웃 컬러가 아니고, 흑색틀 등의 괘선과 문자가 같은 색 또는 농도로 기입된 문서)에 대하여, 지정된 범위내에 문자를 기입함으로써, 높은 인식율을 실현하도록 하고 있었다.

그러나, 종래의 광학 문자 판독 장치는 지정 범위를 나타내는 괘선이라든지 틀에 문자가 접촉하거나, 지정 범위를 나타내는 괘선이라든지 틀로부터 문자가 비어져 나온 경우, 문자를 정확히 절출하는 것이 곤란하게 되어 문자의 인식율이 저하되는 문제가 있었다. 예컨대, 현재 사용되고 있는 광학 문자 판독 장치로는 틀을 제거할 때 문자틀이 다소의 기울기라든지 요철에 대응할 수 없고, 문자틀의 위치라든지 선폭의 변동에 의해 본래의 문자 부분의 일부가 빠져 버리거나, 틀이 잔존하기도 한다.

또한, 장표내에서 문자를 기입하는 범위를 지정하는 경우, 괘선의 위치라든지 선의 굵기 등의 정보를 미리 격납하여 놓을 필요가 있는 동시에, 장표 포맷이 변경되면 문자가 기입되어 있는 범위를 나타내는 정보를 갱신할 필요가 있고, 이용자의 부담이 컸다. 또한, 문자를 기입하는 범위를 지정하는 방법으로는, 미지(未知)의 형식의 장표는 처리할 수 없다고 하는 문제도 있었다.

그래서, 본출원인은 선출원인 일본 특허 출원 평7-203259호에 있어서, 틀의 위치라든지 사이즈 등의 포맷 정보의 입력을 필요로 하지 않고, 틀의 추출이라든지 제거를 행하는 것이 가능한 기술을 제안하였다. 여기에 기재되어 있는 방법에 의해 처리가능한 장표는 一문자틀, 블록틀(횡 일행틀 또는 프리포맷틀), 또는 틀의 외형이 직사각형이 되어 있고 횡틀선이 규칙적으로 배치되어 있는 구조를 갖는 표를 가지는 것이었다. 또한, 외형이 직사각형으로 되어 있지 않은 표를 갖는 장표라든지 표의 일부분에 더욱 미세한 표 구조를 가지는 장표, 또는 점선과 실선이 혼재되어 있는 장표 등에 대해서도 대응하는 것이 가능하였다.

이하, 선출원인 특허 출원 평7-203259호의 명세서 및 도면에 기재되어 있는 패턴 추출 장치의 처리의 개요에 관해서 설명한다.

우선, 입력된 화상에 라벨링을 행하고, 종, 횡 또는 경사의 8 방향의 어느 하나에 화소가 연계되어 있는 8 연결의 부분 패턴을 연결 패턴으로서 추출한다.

이어서, 라벨링에 의해 추출된 연결 패턴에 대하여 마스크 처리를 행함으로써, 종횡 선분을 세선화하고, 문자와 틀의 굵기의 차를 줄인다. 여기에서, 마스크 처리는 연결 패턴에 대하여, 화상 전체에 대하여 횡 길이, 종 길이의 2 종류의 마스크에 의한 주사를 행하여 패턴이 마스크내에서 차지하는 비율을 산출하며, 그 비율이 어느 한 소정치보다 크면 그 마스크내를 모두 패턴으로 간주하고, 또한 소정치 이하이면 마스크내의 패턴을 삭제함으로써 종횡 성분을 추출하는 것이다.

이어서, 마스크 처리된 패턴을 횡 방향 및 종 방향으로 복수로 분할하여 횡 방향 및 종 방향으로 분할한 각각의 범위내에서 패턴의 인접 투영치를 산출하고, 이 인접 투영치에 기초하여 어떤 일정한 길이의 선분 또는 직선의 일부를 직사각형과 거의 같게 하여 검출한다. 여기에서, 인접 투영치란 주목행 또는 주목열의 투영치에 주위의 행 또는 열의 투영치를 더하여 합한 것이다.

다음에, 인접 투영법에 의해 구한 직사각형 선분 중, 근린의 직사각형 선분끼리를 통합하여 긴 직선으로 하고, 통합하여 얻어지는 직선을 직사각형과 거의 같게 하여 장표의 횡틀 또는 종틀을 구성하는 괘선 후보로 한다.

다음에, 괘선 후보로 된 횡선 또는 종선의 탐색을 행하고, 횡선의 경우에는 좌우단, 종선의 경우에는 상하단을 검출한다.

다음에, 어떤 일정한 간격으로 나열되어 있는 작은 패턴을 검출하여 점선을 추출하고, 이 점선에 대하여 상술한 직선과 동일하게 직사각형과 거의 같게 한다.

다음에, 상술한 처리에 의해 검출된 횡선 중에서, 각행의 횡틀을 구성하고 있는 2개의 횡선의 조를 결정한다. 이것은 위로부터 순서대로 횡선을 2개 추출하고, 추출한 2개의 횡선의 길이가 같거나 아래의 직선쪽이 길면, 그 2개를 횡선의 조로 한다. 그리고, 추출한 2개의 횡선의 길이가 같거나 또는 아래의 직선 쪽이 긴 것으로 할 수 없는 경우에 한하여, 아래 직선 쪽이 짧아도 조로 한다.

다음에, 상술한 처리에 의해 검출된 횡선 중에서, 횡틀의 2개조로서 결정된 2개의 횡선의 상하 모두에 도달하고 있는 것을 종틀로 한다.

다음에, 2개조의 횡틀과, 상기 2개조의 횡틀의 상하에 도달하고 있는 2개의 종틀로 둘러싸인 직사각형 범위를 셀로서 추출하여, 셀을 구성하는 틀을 괘선으로 간주, 셀을 구성하지 않는 틀을 괘선 이외의 패턴으로 간주한다.

다음에, 상술한 처리에 의해 결정된 횡틀과 종틀에 의해서 4변을 둘러싼 직사각형 범위의 내부가 더욱 미세하게 분할되어 있는 경우, 그 직사각형 범위를 새롭게 표로 간주하여 상술한 처리를 반복함으로써, 그 직사각형 범위를 더욱 작은 직사각형으로 분할한다.

이와 같이, 종래의 기술에서는 틀의 형상에 관하여, 규칙적인 구조와 불규칙적인 구조 중 어느 쪽에 대해서도, 직사각형 영역으로 구성되어 있는 표인 경우 처리가능하였다. 또한, 처리의 대상으로 하는 괘선에 관하여 실선이나 점선 중 어느 쪽에 대해서도 처리가능하였다.

그러나, 상술한 패턴 추출 장치에서는 화소 밀도가 높은 영역을 괘선 후보로 하고 있기 때문에, 문자끼리 접근하거나 접촉하는 경우, 그 영역의 화소 밀도가 높아지므로, 문자 영역이 괘선 후보로 간주되는 일이 있었다.

예컨대, 도 40의 (a)에 있어서, 장표(200)내에 「문자」라는 문자열(201)이 기입되어 있는 경우, 직사각형 영역(202)내의 패턴은 화소 밀도가 높으므로, 문자열(201)의 일부임에도 불구하고, 괘선 후보로 간주된다. 그러나, 이 직사각형 영역(202)은 장표(200)를 구성하고 있는 어느 쪽의 틀에도 접촉되어 있지 않으므로, 직사각형 영역(202)은 셀을 구성할 수 없어도, 괘선이 아닌 것으로 간주하는 것이 가능하다.

한편, 도 40의 (b)에 있어서, 장표(203)내에 「문자」라는 문자열(204)이 기입되어 있는 경우, 직사각형 영역(205)내의 패턴은 화소 밀도가 높으므로, 문자열(204)의 일부임에도 불구하고 괘선 후보로 간주된다. 그리고, 이 직사각형 영역(205)은 장표(203)를 구성하고 있는 종틀(207,208)에 접촉하여 직사각형 영역(205)은 종틀(207,208) 및 횡틀(206)과 동시에 셀을 구성하는 것이 가능하므로, 괘선으로 간주되는 일이 있었다. 이 때문에, 문자열(204)의 일부가 괘선으로 간주되어, 장표(203)로부터 「문자」라는 문자열(204)을 정확히 절출하는 것이 곤란하게 되므로, 문자 인식을 정확히 행할 수 없게 되는 문제가 있었다.

그래서, 본 발명의 목적은 패턴이 괘선인지 여부를 정확히 판별하는 것이 가능한 패턴 추출 장치를 제공하는 것이다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 관계되는 패턴 추출 장치의 구성을 나타내는 블록도.

도 2는 도 1의 요철 정도 산출 수단의 구성예를 나타내는 블록도.

도 3은 본 발명의 제2 실시예에 관계되는 패턴 추출 장치의 구성을 나타내는 블록도.

도 4는 본 발명의 일실시예에 관계되는 패턴 추출 장치의 시스템 구성을 나타내는 블록도.

도 5는 본 발명의 일실시예에 관계되는 연결 패턴의 추출 방법을 나타내는 도면.

도 6은 본 발명의 일실시예에 관계되는 마스크 처리의 방법을 나타내는 도면.

도 7은 본 발명의 일실시예에 관계되는 마스크 처리의 결과를 나타내는 도면.

도 8은 본 발명의 일실시예에 관계되는 마스크 처리를 나타내는 흐름도.

도 9는 직사각형 선분의 투영 결과를 나타내는 도면.

도 10은 본 발명의 일실시예에 관계되는 인접 투영법을 설명하는 도면.

도 11은 본 발명의 일실시예에 관계되는 인접 투영 처리를 나타내는 흐름도.

도 12는 본 발명의 일실시예에 관계되는 선분 추출 방법을 설명하는 도면.

도 13은 본 발명의 일실시예에 관계되는 선분 추출 처리를 나타내는 흐름도.

도 14는 본 발명의 일실시예에 관계되는 선분 통합 방법을 설명하는 도면.

도 15는 본 발명의 일실시예에 관계되는 선분 통합 처리를 나타내는 흐름도.

도 16은 본 발명의 일실시예에 관계되는 직선 추출 방법을 설명하는 도면.

도 17은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 추출 결과를 나타내는 도면.

도 18은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 패턴의 탐색 결과를 나타내는 도면.

도 19는 본 발명의 일실시예에 관계되는 패턴의 요철 정도의 임계치의 설정예를 나타내는 도면.

도 20은 본 발명의 일실시예에 관계되는 문자의 탐색시의 탐색 방향 변화 회수의 천이를 나타내는 도면.

도 21은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선의 탐색시의 탐색 방향 변화 회수의 천이를 나타내는 도면.

도 22는 본 발명의 일실시예에 관계되는 문자가 접촉하고 있는 괘선의 탐색시의 탐색 방향 변화 회수의 천이를 나타내는 도면.

도 23은 본 발명의 일실시예에 관계되는 화소의 탐색 방향을 나타내는 도면.

도 24는 본 발명의 일실시예에 관계되는 긁힘 패턴의 탐색 방법을 나타내는 도면.

도 25는 본 발명의 일실시예에 관계되는 요철 정도 산출 처리를 나타내는 흐름도.

도 26은 도 25의 흐름도의 계속이다.

도 27은 본 발명의 일실시예에 관계되는 화소의 배치 관계를 나타내는 도면.

도 28은 본 발명의 일실시예에 관계되는 셀 추출 처리를 설명하는 도면.

도 29는 본 발명의 일실시예에 관계되는 횡틀 결정 방법을 설명하는 도면.

도 30은 본 발명의 일실시예에 관계되는 종틀 결정 방법을 설명하는 도면.

도 31은 본 발명의 일실시예에 관계되는 셀 추출 방법을 설명하는 도면.

도 32는 본 발명의 일실시예에 관계되는 겹쳐지는 구조의 추출 방법을 설명하는 도면.

도 33은 본 발명의 일실시예에 관계되는 횡틀 결정 처리를 나타내는 흐름도.

도 34는 본 발명의 일실시예에 관계되는 횡 직선의 배치 상태를 설명하는 도면.

도 35는 본 발명의 일실시예에 관계되는 종틀 결정 및 겹쳐짐 처리(nesting process)를 나타내는 흐름도.

도 36은 본 발명의 일실시예에 관계되는 규칙적인 장표(帳票)와 불규칙한 장표의 예를 나타내는 도면.

도 37은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 분할 방법을 설명하는 도면.

도 38은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 요철 정도를 부분적으로 구하는 방법을 설명하는 도면.

도 39는 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 요철 정도를 부분적으로 구하는 방법을 설명하는 도면.

도 40은 장표내에 문자가 기입된 상태를 나타내는 도면.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 패턴 입력 수단

2 : 요철 정도 산출 수단

3 : 패턴 판별 수단

11 : 제1 탐색 수단

12 : 제2 탐색 수단

21 : 연결 패턴 추출부

22 : 마스크 처리부

23 : 선분 추출부

24 : 직선 추출부

25 : 괘선 판별 처리부

26 : 셀 영역 추출 처리부

31 : CPU

32 : 프로그램 메모리

33 : 화상 메모리

34 : 워크 메모리

35 : 스캐너

36 : 메모리

37 : 사전

38 : 디스플레이

39 : 프린터

40 : 입출력 인터페이스

41 : 버스

42 : 통신 인터페이스

43 : 통신 네트워크

44 : 드라이버

45 : 하드 디스크

46 : IC 메모리 카드

47 : 자기 테이프

48 : 플로피 디스크

49 : 광디스크

상술한 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 의하면 패턴을 입력하는 패턴 입력 수단과, 상기 패턴의 요철 정도를 산출하는 요철 정도 산출 수단과, 상기 요철 정도에 기초하여, 상기 패턴의 속성을 판별하는 패턴 판별 수단을 구비하고 있다.

이것에 의해, 괘선이나 직선 등의 요철 정도가 작은 패턴과 문자나 기호 등의 요철 정도가 큰 패턴을 구별하는 것이 가능하게 되어, 괘선과 직선 등이 문자나 기호 등으로 잘못 판별되는 일을 줄이는 것이 가능하게 되기 때문에, 패턴의 판별 정밀도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 탐색 방향의 변화 회수에 기초하여 요철 정도를 산출하도록 하고 있다.

이것에 의해, 패턴의 요철 정도를 정확하게 산출하는 것이 가능하게 되고, 요철 정도가 작은 패턴과 요철 정도가 큰 패턴을 정확히 구별하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 소정 방향으로 화소를 탐색하고, 상기 소정 방향에 인접 화소가 존재하지 않은 경우에 한하여, 상기 소정 방향과 다른 방향의 화소를 탐색하여 다른 방향으로 탐색된 화소를 계수하도록 하고 있다.

이것에 의해, 소정 방향에 인접 화소가 존재하고 있는 동안에는 동일 방향으로 화소의 탐색이 행하여지고, 괘선이나 직선 등에 문자와 기호 등의 다른 패턴이 접촉하고 있는 경우에 있어서도, 괘선이나 직선을 정확히 검출하는 것이 가능한 동시에, 패턴의 요철에 대응하여 탐색 방향에 인접 화소가 존재하지 않는 경우에는, 화소의 탐색 방향이 변화하여, 그 변화 회수가 계수됨으로써, 패턴의 탐색을 행하면서 패턴의 요철 정도를 조사하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 소정 방향으로 인접 화소가 존재하지 않는 경우, 경사 인접 화소를 탐색하도록 하고 있다.

이것에 의해, 패턴의 양단의 탐색 도중에 패턴의 요철을 조사하는 것이 가능하게 되므로, 패턴을 1회 주사하는 것만으로 패턴의 양단을 정확하게 검출하는 것이 가능한 동시에, 패턴의 요철을 효율적으로 검출하는 것이 가능하다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 경사에 기초하여 탐색 방향의 변화 회수를 산출함으로써 패턴의 요철 정도를 보정할 수 있도록 하고 있다.

이것에 의해, 패턴이 경사진 경우에 있어서도, 패턴의 요철 정도를 정밀도 좋게 산출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 소정치 이하의 공백을 통하여 패턴을 분리한 경우, 그 공백에 화소가 존재하고 있는 것으로 간주하여 탐색을 행한다.

이것에 의해, 패턴이 긁힘에 의해 분리되어 있는 경우에 있어서도, 그 패턴의 요철 정도를 산출하는 것이 가능해진다.

또한, 본발명의 하나의 양태에 의하면, 경사 인접 위치에서 탐색된 화소의 탐색 회수를 탐색된 패턴의 길이로 규격화하도록 하고 있다.

이것에 의해, 탐색사의 크기를 패턴별로 변화시킨 범위에 있어서도, 탐색 범위의 큰 차이에 의한 패턴의 요철 정도의 변동을 제거하는 것이 가능해지고, 그 패턴 자체의 형상에 기초하여 요철 정도를 산출하는 것이 가능해진다.

또한, 본발명의 하나의 양태에 의하면, 탐색 방향에 대하여 교차하는 패턴의 수에 기초하여 요철 정도를 산출하도록 하고 있다.

이것에 의해, 패턴의 요철 정도를 산출할 때에, 패턴의 교차 회수도 고려할 수 있게 되어 패턴의 요철 정도를 보다 정확하게 구할 수 있다.

또한, 본발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 요철 정도가 임계치 이하의 값인 경우, 그 패턴은 괘선을 구성하는 것으로 판별하도록 하고 있다.

이것에 의해, 문자의 일부를 잘못하여 괘선 후보로 추출된 경우에 있어서도, 문자의 일부가 괘선으로 간주되는 것을 방지하는 것이 가능하므로, 문자가 기입되어 있는 장표내에서 인식 처리의 대상이 되는 문자만을 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능 하게 되어 문자 인식의 정밀도를 향상시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 요철 정도가 임계치 이상인 경우, 그 패턴은 문자를 구성하는 것으로 판별하도록 하고 있다.

이것에 의해, 문자의 일부를 잘못하여 괘선 후보로서 추출된 경우에 있어서도, 문자의 일부가 괘선으로 간주되는 것을 방지하는 것이 가능해지므로, 문자 인식의 정밀도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 판별 대상이 되는 패턴으로부터 소정의 범위내에 다른 패턴이 존재하는 경우, 패턴의 요철 정도를 판별하는 임계치를 변화시키도록 하고 있다.

이것에 의해, 문자의 일부가 괘선 후보로서 추출된 경우, 그 문자의 나머지의 패턴이 그 괘선 후보에 접하여 존재하고 있으므로, 그 외의 패턴이 근접하여 존재하는 괘선 후보에 대해서는, 패턴의 요철 정도의 임계치를 작게 설정함으로써, 그 괘선 후보의 패턴이 문자로 판정되는 확률을 높게 하는 것이 가능하게 된다.

한편, 괘선이 괘선 후보로서 정확하게 추출된 경우, 문자 등의 다른 패턴은 그 괘선 후보로부터 이격하여 존재하고 있으므로, 다른 패턴으로부터 이격하여 존재하고 있는 괘선 후보에 대해서는, 패턴의 요철 정도의 임계치를 크게 설정함으로써, 괘선이 긁혀 있는 경우에 있어서도, 그 괘선 후보의 패턴이 문자라고 잘못 판정되는 확률을 낮게 하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 입력된 원화상 데이타로부터 연결한 화소로 구성되는 부분 패턴을 추출하는 연결 패턴 추출 수단과, 상기 부분 패턴으로부터 화소 밀도가 높은 직사각형 영역을 괘선 후보로서 추출하는 괘선 후보 추출 수단과, 상기 직사각형 영역내의 부분 패턴을 탐색하는 탐색 수단과, 상기 탐색 수단의 탐색 결과에 기초하여 상기 부분 패턴의 요철 정도를 산출하는 요철 정도 산출 수단과, 상기 요철 정도에 기초하여 상기 부분 패턴이 괘선을 구성하는지의 여부를 판별하는 괘선 판별 수단을 구비하고 있다.

이것에 의해, 문자가 근접하여 존재하거나, 문자가 손상되기 때문에, 문자가 존재하는 부분의 화소 밀도가 높게 되고, 문자가 괘선 후보로서 추출된 경우에 있어서도, 문자는 괘선에 비하여 요철 정도가 크므로, 요철 정도에 기초하여 문자와 괘선을 구별하는 것이 가능하게 되어 문자가 괘선이라고 잘못 판별되는 것을 줄일 수있다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 부분 패턴을 소정의 영역마다 분할하여 요철 정도를 산출하도록 하고 있다.

이것에 의해, 문자와 괘선이 혼재한 영역이 1개의 괘선 후보로서 추출된 경우에 있어서도, 괘선 부분과 문자의 부분을 나눠 따로따로 요철 정도를 산출하는 것이 가능하게 되어, 괘선과 문자가 1개의 부분 패턴으로서 일괄해서 처리되는 것을 방지하는 것이 가능하므로, 괘선의 요철 정도가 문자의 요철 정도에 영향을 받아 괘선이 문자로 간주되기도 하고, 문자의 요철 정도가 괘선의 요철 정도에 영향을 받아 문자가 괘선으로 간주되기도 하는 것을 없앨 수 있다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 상기 부분 패턴을 소정 크기의 마스크로주사하여, 상기 부분 패턴이 상기 마스크내에서 차지하는 비율이 소정치 이상인 경우, 상기 마스크내의 화소를 모두 상기 부분 패턴으로 간주하고, 상기 부분 패턴이 상기 마스크내에서 차지하는 비율이 상기 소정치보다 작은 경우, 상기 마스크내에는 상기 부분 패턴이 없는 것으로 간주하는 마스크 처리 수단을 구비하고 있다.

이것에 의해, 마스크가 소정 방향으로 길게 되어 있는 경우, 마스크의 길이 방향으로 나열되어 있는 화소에 대해서는 마스크내에서 차지하는 비율이 커지고, 마스크의 길이 방향과는 다른 방향에 나란하게 되어 있는 화소에 대해서는 마스크내에서 차지하는 비율이 작게 되므로, 원화상에 존재하는 극단적인 경사 성분을 제거하는 것이 가능하게 되어 괘선 후보의 추출을 용이하게 하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 괘선 후보로 사방이 둘러싸인 직사각형영역을 셀로서 추출하여, 셀을 구성하지 않는 괘선 후보를 괘선으로부터 제외하도록 하고 있다.

이것에 의해, 예컨대 문자에 하선이 빠져 있는 경우 등에 있어서, 하선의 부분은 셀을 구성하지 않기 때문에, 하선이 괘선 후보로서 추출된 경우에 있어서도, 하선을 괘선으로부터 제외하는 것이 가능하게 되어 괘선 추출의 신뢰도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 요철 정도 산출 수단은 괘선 후보를 셀 단위마다 분할하여 요철 정도를 산출하도록 하고 있다.

이것에 의해, 각 셀을 구성하고 있는 틀의 요철 정도를 각셀마다 독립하여 구하는 것이 가능하게 되고, 불규칙한 장표내에서 괘선과 문자가 서로 접촉하여, 문자의 일부가 괘선 후보로서 추출된 경우에 있어서도, 그 문자의 일부 큼 착안하여 요철 정도와 구하는 것이 가능하게 되므로, 장표가 불규칙한 경우에 있어서도 괘선 추출의 정밀도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 어떤 행 또는 열의 투영치에 주위의 행또는 열의 투영치를 더하여 합한 값이 소정치 이상인 부분 패턴을 직사각형 선분으로서 검출하여, 소정의 범위내의 복수의 직사각형 선분을 통합한 결과를 괘선 후보로 하도록 하고 있다.

이것에 의해, 원화상이 경사져 있는 경우에 있어서도, 괘선 후보를 원화상으로부터 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능하게 되어, 괘선 추출의 신뢰도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 소정 범위내의 직사각형 선분을 통합하고나서, 요철 정도를 산출하도록 하고 있다.

이것에 의해, 긴 거리의 탐색을 행하였을 때에, 탐색 방향의 변화가 거의 없었던 패턴은 괘선인 확률이 높으므로, 괘선의 추출을 정밀도 좋게 행하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 주변의 괘선 후보와 다른 길이를 갖는 괘선 후보가 존재하는 경우, 그 괘선 후보의 길이가 다른 부분에 대해서의 요철 정도에 기초하여 괘선 후보의 길이가 다른 부분이 괘선의 일부가 어떠한지를 판정하도록 하고 있다.

이것에 의해, 주변의 괘선 후보와 길이가 다른 부분이 괘선의 일부인지 괘선에 접촉하고 있는 문자인지를 정밀도 좋게 판별하는 것이 가능하게 되어, 장표가 길이가 불규칙한 괘선에 의해 구성되어 있는 경우에 있어서도, 그 장표로부터 괘선을 정밀도 좋게 추출할 수 있다.

이하, 본 발명의 제1 실시예에 의한 패턴 추출 장치의 기능적인 구성을 도면을 참조하면서 설명한다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 패턴 추출 장치의 기능 구성을 나타내는 블록도이다.

도 1에 있어서, 패턴 입력 수단(1)은 패턴을 입력하고, 요철 정도 산출 수단(2)은 패턴 입력 수단(1)에 입력된 패턴의 요철 정도를 산출하며, 패턴 판별 수단(3)은 요철 정도 산출 수단(2)에서 산출된 요철 정도에 기초하여, 패턴 입력 수단(1)에 입력된 패턴의 속성을 판별한다.

여기에서, 요철 정도 산출 수단(2)이 패턴의 요철 정도를 산출하는 경우, 예컨대 패턴의 탐색 방향의 변화 회수에 기초하여 요철 정도를 산출할 수 있다. 또한, 탐색 방향에 대하여 교차하는 패턴의 수에 기초하여 요철 정도를 산출하도록 하여도 좋다.

패턴 판별 수단(3)이 패턴의 속성을 판별하는 경우, 예컨대, 요철 정도가 소정치 이하의 패턴은 괘선을 구성하는 것으로 하고, 요철 정도가 소정치 이상의 패턴은 문자를 구성하는 것으로 한다.

이와 같이, 패턴의 요철 정도를 산출함으로써, 요철 정도가 작은 괘선이라든지 직선 등의 패턴과, 요철 정도가 큰 문자라든지 기호 등의 패턴을 구별하는 것이 가능하게 되고, 장표내에 기입된 문자라든지 기호 등을 정확히 추출하는 것이 가능하게 되므로, 문자 인식의 정밀도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

도 2는 도 1의 요철 정도 산출 수단(2)의 기능 구성을 나타내는 블록도이다.

도 2에 있어서, 제1 탐색 수단(11)은 소정 방향으로 화소를 탐색하고, 제2 탐색 수단(12)은 소정 방향으로 인접 화소가 존재하지 않는 경우, 그 소정 방향과 다른 방향의 화소를 탐색하고, 계수 수단(13)은 제2 탐색 수단(12)에 의한 화소의 탐색 회수를 계수한다.

여기에서, 제1 탐색 수단은 소정치 이하의 공백을 무시하고 화소의 탐색을 행함으로써, 패턴의 긁힘을 흡수하도록 하여도 좋다.

계수 수단(13)은 제2 탐색 수단(12)에 의한 화소의 탐색 회수를 패턴의 기울기에 대응하여 보정하도록 하여도 되고, 제2 탐색 수단에 의한 화소의 탐색 회수를 탐색된 패턴의 길이로 규격화하도록 하여도 된다.

이와 같이, 패턴의 탐색 방향의 변화 회수에 기초하여 요철 정도를 산출함으로써, 패턴의 양단의 탐색 처리 중에 패턴의 요철을 검출하는 것이 가능하게 되어, 패턴의 양단의 탐색과 패턴의 요철 정도의 검출을 동시에 행하는 것이 가능하게 되므로, 패턴의 요철 정도를 효율적으로 구하는 것이 가능하게 된다.

도 3은 본 발명의 제2 실시예에 의한 패턴 추출 장치의 기능 구성을 나타내는 블록도이다.

도 3에 있어서, 연결 패턴 추출부(21)는 입력된 원화상 데이타로부터 연결한 화소로 구성되는 부분 패턴을 추출하는 것이다.

마스크 처리부(22)는 연결 패턴 추출부(21)에서 추출된 부분 패턴에 대하여, 종 길이 또는 횡 길이의 마스크로 마스크 처리를 행함으로써, 괘선을 구성하지 않는 경사 성분의 패턴을 제거하는 것이다. 선분 추출부(23)는 마스크 처리가 행해진 부분 패턴에 대하여 인접 투영을 행함으로써, 화소 밀도가 높은 직사각형 영역을 괘선 후보로서 추출하는 것이다.

직선 추출부(24)는 선분 추출부(23)에 의해 추출된 직사각형 영역 중, 서로 근접하여 존재하는 것을 통합함으로써, 직선을 추출하는 것이다.

괘선 판별 처리부(25)는 괘선 후보 영역내의 부분 패턴을 탐색하고, 탐색 방향의 변화 회수에 기초하여 부분 패턴의 요철 정도를 산출한다. 그리고, 괘선 후보영역내의 부분 패턴 중 요철 정도가 작은 부분 패턴을 괘선을 구성하는 것으로 간주한다.

셀 영역 추출 처리부(26)는 괘선으로 사방이 둘러싸인 직사각형 영역을 셀로서 추출하여, 괘선 판별 처리부(25)에서 괘선으로 판별된 괘선 후보로부터 셀을 구성하지않는 괘선 후보를 제외한 것이다.

도 4는 도 3의 패턴 추출 장치가 적용되는 문자 인식 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다.

도 4에 있어서, 31은 전체적인 처리를 행하는 중앙 연산 처리 유닛(CPU), 32는 CPU(31)로 실행되는 프로그램을 격납하는 프로그램 메모리, 33은 화상 데이타를 비트 맵형식으로 격납하는 화상 메모리, 34는 화상 처리에 사용하는 워크 메모리, 35는 화상을 광학적으로 판독하는 스캐너, 36은 스캐너(35)에 의해 판독된 정보를 일시적으로 격납하는 메모리, 37은 각 문자 화상의 특징을 격납한 사전 화일, 38은 인식 결과를 표시하는 디스플레이, 39는 인식 결과를 인쇄하는 프린터, 40은 디스플레이(38) 및 프린터(39)의 입출력 인터페이스, 41은 CPU(31), 프로그램 메모리(32), 화상 메모리(33), 워크 메모리(34), 메모리(36), 사전 화일(37), 입출력 인터페이스(40) 및 드라이버(44)를 접속하고 있는 버스, 42는 통신 네트워크(43)를 통해 데이타와 프로그램의 송수신을 하는 통신 인터페이스, 44는 드라이버, 45는 하드디스크, 46은 IC 메모리 카드, 47은 자기 테이프, 48은 플로피 디스크, 49는 CD-R0M과 DVD-R0M 등의 광디스크이다.

이 문자 인식 시스템은 스캐너(35)에 의해 판독한 화상 데이타를 메모리(36)에 일시적으로 격납하여, 그 화상 데이타를 비트 맵 형식으로 화상 메모리(33)에 전개한다. 그리고, 화상 메모리(33)로부터 워크 메모리(34)에 복사된 2값 화상 데이타에 대하여 패턴 추출 처리를 행한다. 그 결과에 기초하여 스캐너(35)에 의해 판독한 화상 데이타로부터 문자 화상의 절출을 행하여, 절출된 문자 화상의 특징과 사전 화일(37)에 격납된 특징 데이타와 비교하여 문자 인식을 행한다. 그 후, 그 인식 결과를 디스플레이(38) 또는 프린터(39)에 출력한다.

이 문자 인식 시스템에 있어서, 도 3의 패턴 추출 장치는 프로그램 메모리(32)에 격납된 프로그램에 따라서 처리를 행하는 CPU(31)의 기능으로서 실현된다. 여기에서, 패턴 추출 처리를 행하는 프로그램은, 프로그램 메모리(32)의 R0M에 미리 격납하여 놓는 것이 가능하다. 또한, 패턴 추출 처리를 행하는 프로그램을 하드디스크(32), IC 메모리 카드(33), 자기 테이프(34), 플로피 디스크(35), 또는 광디스크(36) 등의 기억 매체로부터 프로그램 메모리(32)의 RAM에 로드한 후, 이 프로그램을 CPU(31)에서 실행시키도록 하여도 좋다.

또한, 패턴 추출 처리를 행하는 프로그램을, 통신 인터페이스(42)를 통해 통신 네트워크(43)로부터 추출할 수도 있다. 통신 인터페이스(42)와 접속되는 통신 네트워크(43)로서, 예컨대, LAN(Local Area Network), WAN(Wide Area Network), 인터넷, 아날로그 전화망, 디지탈 전화망(ISDN: Integral Service Digital Network), PHS(퍼스널 핸디 시스템) 또는 위성 통신 등의 무선 통신망 등을 이용하는 것이 가능하다.

이하, 도 3의 패턴 추출 장치에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.

연결 패턴 추출부(21)는 원화상의 입력 패턴에 대하여 라벨링을 행하고, 8 연결로 연계되어 있는 각 부분 패턴에 라벨을 붙이고, 이것들의 부분 패턴 중에서 가장 큰 외접 직사각형을 가지는 부분 패턴을 추출한다. 여기에서, 「8 연결」로 연계된 부분 패턴이란 종, 횡, 경사의 8 방향에서, 특정 화소에 관하여 그 폐접 화소가 존재할 때 연계되어 있다고 하고, 존재하지 않을 때 연계되어 있지 않다고 함으로써 형성된 일련의(연결) 패턴을 말한다. 또, 원화상은 극단적인 기울기가 없는 2값 화상이다.

8 연결로 연계되어 있는 부분 패턴을 라벨링으로 추출함으로써, 복수의 틀이배치되어 있는 위치가 상대적인 관계에 의존하지 않고, 연결 패턴을 추출할 수 있다.

예컨대, 도 5의 (a)에 도시된 바와 같이, 장표(51)의 틀내에 「1」,「2」,「3」,「4」,「5」의 숫자가 기입된 화상이 처리 대상으로서 입력되었다고 하면, 「1」,「2」,「3」,「4」의 숫자에 대해서는, 라벨 1로부터 4가 각각 첨부되어, 「5」의 숫자는 장표(51)에 접촉하고, 「5」의 숫자와 장표(51)와는 1개의 연결 패턴으로 간주되므로, 라벨 5가 첨부된다. 또, 라벨링에 의해 얻을 수 있는 부분 패턴의 사이즈가 후처리로 필요하게 되기 때문에, 이 부분 패턴을 직사각형과 거의 같게 하여 얻을 수 있는 직사각형의 각의 좌표를 라벨링의 처리중에 산출하여 격납하여 놓는다.

다음에, 도 5의 (b)에 도시된 바와 같이, 라벨 1∼5가 첨부되어 있는 부분 패턴중에서, 가장 큰 외접 직사각형을 가지는 라벨 5가 첨부되어 있는 부분 패턴을 추출한다.

마스크 처리부(22)는 연결 패턴 추출부(21)에서 추출된 어느 일정한 크기를 가지고 있는 부분 패턴에 대하여, 화상으로부터 극단적인 경사 성분을 생략하고, 틀에만 존재하는 긴 직선의 추출을 용이하게 하기 위한 처리를 행한다.

예컨대, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 횡 성분을 추출하는 경우, 세로×가로가 1×6 화소의 직사각형 범위를 지정하는 횡 길이의 마스크(M1∼M9)를 이용한다. 여기에서, 마스크 처리의 결과로 얻어지는 선분간의 극간이 벌어지지 않도록 하기 위해서, 마스크 처리를 행하는 범위가 서로 겹쳐지도록 설정한다.

다음에, 예컨대, 도 15의 (b)의 원화상에 대하여, 마스크(M1∼M9)내에서 흑색 화소가 차지하는 비율을 산출하여, 그 비율이 어떤 소정치보다 크면 그 마스크(M1 ∼M9)내의 화소를 모두 흑색 화소로 간주하고, 또한 소정치 이하이면 마스크내의 화소를 모두 백색 화소로 간주한다. 여기에서, 원화상을 횡 길이의 마스크로 주사하는 경우, 횡 방향에 나란히 존재하고 있는 화소에 관해서는, 그것들의 화소가 마스크내에서 차지하는 비율이 커지고, 경사 방향에 나란히 존재하고 있는 화소에 대해서는, 그것들의 화소가 마스크내에서 차지하는 비율이 작아지게 되므로, 원화상에 존재하는 극단적인 경사 성분을 제거하는 것이 가능하게 되어, 횡성분을 효율적으로 추출하는 것이 가능하게 된다.

그 결과, 도 15의 (c)에 도시된 바와 같이, 흑색 원으로 표시된 횡 성분의 화소가 추출되고, 경사 성분을 제거하는 동시에 선폭을 균일화하는 것이 가능하게 된다.

또, 종 성분을 추출하는 경우, 예컨대, 세로×가로가 6×1 화소의 직사각형 범위를 지정하는 종 길이의 마스크를 이용한다.

도 7은 본 발명의 일실시예에 관계되는 마스크 처리의 결과를 나타내는 도면이다.

도 7의 (a)에 있어서, 연결 패턴 추출부(21)에서 추출된 라벨(5)의 부분 패턴에는 장표(51)에 접촉되어 있는 숫자의 「5」 등의 틀을 구성하지 않은 패턴도 함유되고있다. 이 부분 패턴의 화상 전체에 대하여, 횡 길이, 종 길이의 2종류의 마스크에 의한 주사를 행한다. 그리고, 마스크내에서 패턴이 차지하는 비율을 산출하여, 그 비율이 있는 소정치보다 크면 그 마스크내를 모두 패턴과 간주하여, 소정치이하이면 마스크내의 패턴을 삭제함으로써, 종횡 성분을 추출한다. 그리고, 복수의 행 또는 열이 계속해서, 마스크내에서의 흑색 화소가 차지하는 비율이 소정치 보다 커진 경우, 그것들을 합치어 직사각형 범위를 만들고, 그 중심선을 처리 결과로 한다.

이 결과, 도 7의 (b)에 도시된 바와 같이, 경사 성분이 제거되어 선폭이 균일화된 패턴(52)을 얻을 수 있고, 틀의 추출을 용이하게 할 수 있다. 또, 원화상은 마스크 처리 화상과는 별도로 기억하여 놓는다.

도 8은 본 발명의 일실시예에 관계되는 마스크 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 8에 있어서, 우선, 단계 S1에 도시된 바와 같이, 연결 패턴 추출부(21)에서 얻어지는 부분 패턴의 원화상 전체에 대하여, 횡 길이 및 종 길이의 2종류의 마스크로 주사를 행한다.

다음에, 단계 S2에 도시된 바와 같이, 마스크내의 패턴이 차지하는 비율, 즉, 마스크의 면적에 대한 마스크내의 패턴의 면적을 산출하여, 이 비율이 소정치보다 큰 지의 여부의 판단을 행한다. 그리고, 마스크내의 패턴이 차지하는 비율이 소정치보다 작다고 판단된 경우, 단계 S3으로 진행하여 종 성분 또는 횡 성분이 없는 것으로 하여 처리를 종료한다.

한편, 단계 S2에서 마스크내의 패턴이 차지하는 비율이 소정치보다 크다고 판단된 경우, 단계 S4로 진행하여, 마스크내를 모두 패턴으로 간주하고, 이 패턴을 모두 종 성분 또는 횡성분으로 한다.

다음에, 단계 S5에 도시된 바와 같이, 단계 S4에서 얻어지는 성분이 상하의 성분 또는 좌우의 성분과 접하고 있는지의 여부의 판단을 한다. 그리고, 상하의 성분 또는 좌우의 성분과 접하지 않고 있다고 판단된 경우, 단계 S6으로 진행하고, 단계 S4에서 얻어지는 성분을 처리 결과로서 출력한다.

한편, 단계 S5에서 상하의 성분 또는 좌우의 성분과 접하고 있다고 판단된 경우, 단계 S7로 진행하여 서로 접하고 있는 성분을 통합한다. 그리고, 단계 S8에 있어서, 단계 S7에서 통합된 성분으로부터 직사각형 범위를 작성하고, 단계 S9에 있어서, 단계 S8에서 얻어지는 직사각형 범위의 중심선을 처리 결과로서 출력한다.

선분 추출부(23)는 마스크 처리된 패턴을 횡 방향 및 종 방향으로 복수로 분할하여, 횡 방향 및 종 방향에 분할한 각각의 범위내에서 패턴의 인접 투영을 산출하고, 어떤 일정한 길이의 선분 또는 직선의 일부를 직사각형과 거의 같게 함으로써 검출한다. 여기에서, 인접 투영이란, 주목행 또는 주목열의 투영치에 주위의 행 또는 열의 투영치를 더하여 합한 것이다. 또한, 주목행 또는 주목열의 투영치는 그 행 또는 열에 존재하는 흑색 화소의 총계를 얻은 것이다. 이 인접 투영에 의해, 직선이 기울어져 있어 복수의 행 또는 복수의 열에 걸쳐서 그 직선이 존재하고 있는 경우에 있어서도, 직선을 정확히 검출할 수 있다. 이 때문에, 블록틀 등의 큰 틀을 검출하는 경우, 그 틀이 기울어져 있더라도 틀을 구성하는 직선을 검출하는 것이 가능하게 된다.

도 9는 직사각형 선분의 투영 결과를 나타내는 도면이다.

도 9에 있어서, 종 방향의 길이가 L_Y, 횡 방향의 길이가 L_X인 직사각형틀(61)의 수평 방향(j)의 투영치 Ph(i)를 HP(i), 직사각형틀(61)의 수직 방향(i)의 투영치 Pv(j)를 VP(j)로 하면, HP(1)=HP(n)=m, HP(2)∼HP(n-1)=2, VP(1)=VP(m)=n, VP(2)∼VP(m-1)=2이다.

이와 같이, 직사각형틀(61)을 구성하는 직선이 존재하고 있는 부분은 그 투영치가 커지기 때문에, 이 투영치를 산출함으로써 직사각형틀(61)을 구성하고 있는 직선을 추출할 수 있다.

도 10은 본 발명의 하나의 실시예에 관계되는 인접 투영법을 설명하는 도이다.

도 10에 있어서, i행의 투영치를 p(i) 로 하면, 인접 투영치 P(i)는 수학식 1에 의해 산출할 수 있다.

예컨대, 도 10에 있어서, 수학식 1의 j=1로 하면, i-1행째에는 흑색 화소가 9개만 존재하고 있기 때문에, p(i-1)=9가 되고, i행째에는 흑색 화소가 6개만 존재하고 있기 때문에, p(i)=6이 되며, i+1행째에는 흑색 화소가 6개만 존재하기 때문에, p(i+1)=6이 된다. 이 결과, P(i)=p(i-1)+p(i)+p(i+1)=21이 된다.

이와 같이, 직선이 기울어져 있기 때문에, 복수의 행 또는 복수의 열에 걸쳐서 직선이 존재하고 있는 경우, 그 기운 직선의 인접 투영치는 커지므로, 틀이 기울어져 있는 경우에 있어서도, 틀을 구성하는 직선을 효율적으로 검출하는 것이 가능하게 된다.

도 11은 본 발명의 하나의 실시예에 관계되는 인접 투영 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 11에 있어서, 우선 단계 S11에 도시된 바와 같이, 마스크 처리부(22)에서 얻을 수 있는 동일한 라벨을 가지는 부분 패턴을 횡 방향 및 종 방향으로 복수의 부분으로 분할한다.

다음에, 단계 Sl2에 도시된 바와 같이, 횡 방향 및 종 방향의 각각의 분할 범위내에서 투영치를 산출한다.

다음에, 단계 Sl3에 있어서, 단계 Sl2에서 산출된 각각의 투영치에 주위의 투영치를 가산한다.

다음에, 단계 S14에서, 수학식 1에 기초하여 인접 투영치 P(i)를 산출한다.

선분 추출부(23)는 부분 패턴의 마스크 처리 화상에 대한 인접 투영치에 기초하여 횡 방향 및 종 방향에서의 어느 일정 길이의 선분 또는 직선의 일부를 직사각형과 거의 같게 함으로써 검출한다.

즉, 분할된 부분 패턴의 인접 투영치와 종횡 각각의 분할 길이의 비가 소정의 임계치 이상인 부분을 직선의 후보가 존재하는 위치로 한다. 또한, 연속하는 복수의 행 또는 열이 소정의 임계치 이상이 된 경우에는, 그것들이 연속하는 복수의 행 또는 열을 통합한 직사각형 범위를 직선의 후보가 존재하는 위치로 한다. 또, 이 직사각형과 거의 같게 검출한 일정한 길이의 선분 또는 직선의 일부를 「직사각형 선분」이라고 칭한다.

예컨대, 도 12의 (a)에 도시된 바와 같이, 비스듬히 경사진 횡선(61)을 3개의 부분으로 분할하고, 인접 투영치가 임계치 이상으로 되어있는 위치를 산출한다. 이 결과, 도 12의 (b)에 도시된 바와 같이, 횡 방향으로 분할된 3개의 직사각형 선분(62)을 얻을 수 있다.

여기에서, 인접 투영법이 아니라, 통상의 투영법을 이용하여 비스듬히 기울어져 있는 직선(61)의 위치를 검출한 경우, 그 투영치는 작아져 버리기 때문에, 직선(61)을 검출하는 것은 불가능하게 된다. 한편, 비스듬히 기울어져 있는 직선(61)을 통상의 투영법으로 검출하기 위해 부분 패턴의 분할수를 증가시켜 분할길이를 짧게 한 경우, 문자를 구성하고 있는 짧은 직선도 다수 검출되어 문자와 틀을 구별하는 것이 곤란하게 된다.

이에 비하여, 인접 투영법을 이용함으로써, 직선(61)이 비스듬히 기울어져 있는 경우에도, 부분 패턴의 분할 길이를 극단적으로 작게 하는 일이 없고, 인접 투영치를 크게하는 것이 가능하게 되므로, 틀을 구성하는 비교적 긴 직선을 문자를 구성하고 있는 짧은 직선과 구별하면서 정확히 검출할 수 있다.

도 13은 본 발명의 일실시예에 관계되는 선분 추출 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 13에 있어서, 우선 단계 21에서, 분할된 부분 패턴의 인접 투영치와 종횡각각의 분할 길이의 비가 소정의 임계치 이상인지의 여부를 판정한다. 그리고, 인접 투영치와 종횡 각각의 분할 길이의 비가 소정의 임계치 이상이 아니라고 판단된 경우, 단계 S22로 진행하여 선분이 존재하지 않는 것으로 간주한다.

한편, 단계 S21에서 인접 투영치와 종횡 각각의 분할 길이의 비가 소정의 임계치 이상이라고 판단된 경우, 단계 S23으로 진행하여 선분이 존재하는 것으로 간주한다.

다음에, 단계 S24에 있어서, 단계 S23에서 선분으로 간주된 패턴이 그 위 밑으로 존재하는 선분과 접하고 있는지의 여부를 판단한다. 그리고, 상기 패턴이 상하로 존재하는 선분과 접하지 않고 있다고 판단된 경우, 단계 S25로 진행하여 그 패턴을 직사각형 선분으로 한다.

한편, 단계 S24에 있어서, 단계 S23에서 선분으로 간주된 패턴이 그 상하에 존재하는 선분과 접하고 있다고 판단된 경우, 단계 S26으로 진행하여, 선분으로 간주된 패턴이 그 상하로 존재하는 선분을 통합한다. 그리고, 단계 S27에 있어서, 단계 S26에서 통합된 선분을 직사각형 선분으로서 검출한다.

직선 추출부(24)는 선분 추출부(23)에서 검출된 직사각형 선분 중, 최근의 직사각형 선분 끼리를 통합하여 긴 직선으로 하고, 통합된 직선을 직사각형에 근사한다.

예컨대, 도 14의 (a)에 도시된 바와 같이, 도면 중에서 도중에서 끊기고 없는 직사각형 선분(x,y,z)가 접촉하고 있거나 또는 연계되어 있는 경우, 이것들의 직사각형 선분(x,y,z)를 통합하여 긴 직선으로 한다. 또한, 도 14의 (b)에 도시된 바와 같이, 직사각형 선분(x,y)가 연계되어 있지 않는 경우, 직사각형 선분(x,y)의 수직 방향의 거리가 인접 투영법에 있어서 가산하는 행 또는 열 수(j) 이내이면, 직사각형 선분(x,y,z)을 통합하여 긴 직선으로 한다.

여기에서, 통합된 선분의 양단의 좌표로부터 검출된 직선의 기울기를 산출하고, 다른 직선의 기울기와 비교하여 다른 기울기를 가지는 직선을 틀 안에 쓰여진 경사의 지움선 등 틀이 아닌 부분으로 간주하고, 직선의 후보로부터 제외한다.

도 15는 본 발명의 일실시예에 관계되는 선분 통합 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 15에 있어서, 우선, 단계 S31에 도시된 바와 같이, 선분 추출부(23)에서 검출된 직사각형 선분에 대하여, 직사각형 선분간의 거리를 산출한다.

다음에, 단계 S32에 도시된 바와 같이, 단계 S31에서 산출된 직사각형 선분간의 거리가, 인접 투영법에 있어서 가산하는 행 또는 열수(j) 이내인지의 여부를 판정한다. 그리고, 직사각형 선분간의 거리가 인접 투영법에 있어서 가산하는 행 또는 열수(j) 이내가 아닌 경우, 단계 S33으로 진행하여 직사각형 선분의 통합을 하지 않는 것으로 한다.

한편, 단계 S32에 있어서, 직사각형 선분간의 거리가 인접 투영법에 있어서 가산하는 행 또는 열수(j) 이내라고 판단된 경우, 단계 S34로 진행하여 직사각형선분의 통합을 행한다.

다음에, 직선 추출부(24)는 통합된 직선을 직사각형과 거의 같게 하고, 횡틀 또는 종틀을 구성하는 괘선 후보로 한다.

예컨대, 도 16에 있어서, 통합된 직선(71)을 직사각형과 거의 같게 함으로써, 괘선 후보(72)를 얻을 수 있다.

또, 직사각형 선분이 검출된 이후의 처리에서는, 마스크 처리를 행하기 이전의 원래의 화상을 이용하여 처리를 행한다.

도 17은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 추출 결과를 나타내는 도면이다.

도 17에 있어서, 괘선의 상측에 「연구부」의 문자열이 기입되고, 괘선의 부분이 괘선 후보(82)로서 추출되는 동시에, 「연」의 문자와 「구」의 문자와 「부」의 문자가 서로 근접하고 있기 때문에, 「연구부」의 문자열의 일부가 괘선 후보(81)로서 추출되어 있다.

괘선 후보(81)로서 추출된 「연구부」의 문자열의 일부가, 괘선이로 간주 되면, 「연구부」의 문자열을 정확하게 절출할 수 없기 때문에, 「연」의 문자, 「구」의 문자 및「부」의 문자를 인식하는 것이 곤란하게 된다. 이 때문에, 괘선 판별 처리부(25)는 괘선 후보(81,82)내의 패턴에 관해서 요철 정도를 산출함으로써, 괘선 후보(81,82)내의 패턴이 괘선이 어떠한지를 판별한다.

도 18은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 패턴의 탐색 결과를 나타내는 도면이다.

도 18에 있어서, 괘선간에 「연구부」의 문자열이 기입되고, 「연구부」의 문자열은 하측의 괘선에 접촉하고 있다. 그리고, 상측의 괘선이 괘선 후보(91)로서 추출되는 동시에, 하측의 괘선이 괘선 후보(93)로서 추출되어, 「연」의 문자와 「구」의 문자와 「부」의 문자가 서로 근접하고 있기 때문에, 「연구부」의 문자열의 일부가 괘선 후보(92)로서 추출되어 있다.

괘선 판별 처리부(25)는 직선 추출부(24)에서 추출된 횡선 또는 종선의 직선에 관해서, 횡선인 경우에는 좌우단, 종선인 경우에는 상하단을 정확히 검출하기 위해서, 이들 괘선 후보(91,92,93)내의 패턴에 관해서 탐색을 행한다. 이 때에, 탐색 방향의 변화 회수를 계수한다. 여기에서, 괘선 후보(91)의 패턴은 원래 괘선이므로 똑바르게 탐색되고, 탐색 방향의 변화 회수의 값이 작아진다. 한편, 괘선 후보(92)의 패턴은 원래 문자이므로, 문자의 형상이 반영되어 탐색 경로가 굴곡되고, 탐색 방향의 변화 회수의 값이 커진다.

이 결과, 탐색 방향의 변화 회수의 값이 작은 패턴을 괘선으로 간주하고, 탐색 방향의 변화 회수의 값이 큰 패턴을 괘선이 아닌 것으로 간주함으로써, 괘선 후보(91)의 패턴을 괘선이라고 판정하는 것이 가능한 동시에, 괘선 후보(92)의 패턴을 괘선이 아니라고 판정하는 것이 가능하게 된다.

또한, 탐색 방향에 인접 화소가 존재하지 않는 경우에 한하여, 경사 방향의 화소를 탐색하고, 탐색 방향에 인접 화소가 존재하고 있는 사이에는, 동일 방향으로 탐색함으로써, 「연구부」의 문자열이 접촉하고 있는 괘선 후보(93)의 패턴에 관해서도, 탐색 방향의 변화 회수의 값이 작게 되므로, 괘선 후보(93)의 패턴을 괘선이라고 판정하는 것이 가능하게 된다.

도 19는 본 발명의 하나의 실시예에 관계되는 패턴의 요철 정도 값의 설정예를 나타내는 도면이다.

도 19에 있어서, 긁힌 괘선의 상측에 「연구부」의 문자열이 기입되고, 긁힌 괘선이 괘선 후보(102)로서 추출되는 동시에, 「연」의 문자와 「구」의 문자와 「부」의 문자가 서로 근접하고 있기 때문에, 「연구부」의 문자열의 일부가 괘선 후보(101)로서 추출되어 있다.

여기에서, 괘선 후보(101)는 「연구부」의 문자열의 일부로부터 잘못 추출된 것이고, 괘선 후보(101)의 가까이에는, 괘선 후보(101)로서 추출된 「연구부」의 문자열의 나머지 패턴이 존재하고 있다. 이 때문에, 괘선 후보(101)의 가까이 다른 패턴이 존재하고 있는 경우, 괘선 후보(101)의 패턴의 요철 정도 임계치(TH1)를 작게 설정한다. 이것에 의해, 괘선 후보(101)로서 추출된 「연구부」의 문자열의 일부를 괘선 후보로부터 제외하는 것을 보다 정확히 행하는 것이 가능하게 된다.

한편, 괘선 후보(102)는 괘선으로부터 정확하게 추출된 것으로, 「연구부」의 문자열은 괘선으로부터 이격되어 기입되어 있기 때문에, 괘선 후보(102)의 가까이에는 문자 등의 다른 패턴은 존재하지 않는다. 이 때문에, 괘선 후보(102)의 가까이 다른 패턴이 존재하지 않는 경우, 괘선 후보(102)의 패턴의 요철 정도 임계치(TH2)를 크게 설정한다. 이것에 의해, 괘선 후보(102)로서 추출된 괘선이 긁혀 있기 때문에, 괘선 후보(102)로서 정확하게 추출된 괘선의 요철 정도가 커지고, 괘선 후보(102)로서 정확하게 추출된 괘선이 괘선 후보가 아닌 것으로 간주 되는 것을 방지하는 것이 가능하게 된다.

또, 패턴의 요철 정도를 판정하는 임계치는 여러가지 패턴을 이용하여 실험적으로 구하는 것이 가능하다.

도 20은 본 발명의 하나의 실시예에 관계되는 문자의 탐색 시간의 탐색 방향 변화 회수의 천이를 나타내는 도면이다.

도 20에 있어서, 문자의 일부 패턴이 괘선 후보로서 추출되어 있는 것으로 하고, 이 패턴은 흑색 화소로 구성되어 있는 것으로 한다. 우선, 탐색 개시점을 흑색 화소 ①로 설정하고, 횡 선분인 경우에는 탐색 방향을 횡 방향으로 설정하고, 탐색을 개시한다. 여기에서, 우측 상승의 변화 회수를 카운트하는 변수 hup, 우측 하강의 변화 회수를 카운트하는 변수 hbl 및 수직 방향선 횡단 회수를 카운트하는 변수 hver를 0으로 설정한다.

흑색 화소 ①로부터 흑색 화소 ②까지는 우측 인접 위치에 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 우측 방향으로 똑바르게 진행한다.

탐색이 흑색 화소 ②의 위치에 진행하면, 흑색 화소 ②의 우측 인접 위치에는 인접하는 흑색 화소가 존재하지 않고, 흑색 화소 ②의 상측 경사 인접 위치에는 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 흑색 화소 ②의 위치로 탐색 방향을 상측 경사 인접 위치에 변경시키어, 흑색 화소 ②로부터 흑색 화소 ⑧로 진행한다. 여기에서, 변수 hup가 1만 카운트업되어, 변수 hup의 값이 0으로부터 1이 된다.

흑색 화소 ⑧에서 흑색 화소 ④까지는, 우측 인접 위치에 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 우측 방향으로 똑바르게 진행된다.

탐색이 흑색 화소 ④의 위치로 진행하면, 흑색 화소 ④의 우측 인접 위치에 인접하는 흑색 화소가 존재하지 않고, 흑색 화소 ④의 하측 경사 인접 위치에는 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 흑색 화소 ④의 위치로 탐색 방향을 하측 경사 인접 위치로 변경시켜, 흑색 화소 ④로부터 흑색 화소 ⑤로 진행된다. 여기에서, 변수 hbl가 1만큼 카운트업되어, 변수 hbl의 값이 0으로부터 1이 된다.

흑색 화소 ⑤에서 흑색 화소 ⑥까지는 우측 인접 위치에 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 우측 방향으로 똑바르게 진행한다.

탐색이 흑색 화소 ⑥의 위치로 진행하면, 흑색 화소 ⑥의 우측에는 인접하는 흑색 화소가 존재하지 않고, 흑색 화소 ⑥의 하측 경사 인접 위치에는 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 흑색 화소 ⑥의 위치에서 탐색 방향을 하측 경사 인접 위치으로 변경시켜, 흑색 화소 ⑥으로부터 흑색 화소 ⑦로 진행한다. 여기에서, 변수 hbl가 1만큼 카운트업되어, 변수 hbl의 값이 1로부터 2가 된다.

흑색 화소 ⑦로부터 흑색 화소 ⑧까지는 우측 인접 위치에 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 우측 방향으로 똑바르게 진행한다.

탐색이 흑색 화소 ⑧의 위치에 진행하면, 흑색 화소 ⑧의 우측 인접 위치에 인접하는 흑색 화소가 존재하지 않고, 흑색 화소 ⑧의 상측 경사 인접 위치에는 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 흑색 화소 ⑧의 위치로 탐색 방향을 상측 경사 인접 위치으로 변경시켜, 흑색 화소 ⑧에서 흑색 화소 ⑨로 진행한다. 여기에서, 변수 hup가 1만큼 카운트업되어, 변수 hup의 값이 1에서 2가 된다.

흑색 화소 ⑨에서 흑색 화소(원 10)까지는, 우측 인접 위치에 인접하는 흑색 화소가 존재하기 때문에, 우측 방향으로 똑바르게 진행한다.

탐색이 흑색 화소(원 10)의 위치에 진행하면, 흑색 화소(원 10)의 우측 인접 위치에는 인접하는 흑색 화소가 존재하지 않고, 흑색 화소(원 10)의 상측 경사 인접 위치 및 하측 경사 인접 위치에도 인접하는 흑색 화소가 존재하지 않기 때문에, 흑색 화소(원 10)의 상하에 인접하는 화소가 존재하는지의 여부를 조사한다. 이 결과, 흑색 화소(원 10)의 상하에 인접하는 화소가 존재하는 경우, 탐색 방향에 대하여 수직 방향의 패턴을 횡단하는 것으로 간주하고, 변수 hver를 1만큼 카운트업한다. 이 결과, 변수 hver의 값이 0으로부터 1이 된다. 또, 흑색 화소(원 10)에서 흑색 화소(원 11)까지의 거리가 소정치 이하인 경우, 그 사이의 공백을 무시하고, 흑색 화소(원 10)에서 흑색 화소(원 11)로 진행하여 탐색을 속행한다.

이와 같이, 문자의 일부의 패턴에 관해서 탐색이 행하여진 경우, 문자의 형상을 반영하여, 탐색 방향이 변화하게 된다.

도 21은 본 발명의 하나의 실시예에 관계되는 괘선의 탐색 시간의 탐색 방향 변화 회수의 천이를 나타내는 도면이다.

도 21에 있어서, 괘선을 구성하는 패턴이 괘선 후보로서 추출되는 것으로 하고, 이 패턴은 흑색 화소로 구성되어 있는 것으로 한다. 우선, 탐색 개시점을 흑색 화소 ①로 설정하고, 횡 선분인 경우에는, 탐색 방향을 횡 방향에 설정하여, 탐색을 개시한다. 여기에서, 우측 상승 변화 회수를 카운트하는 변수 hup, 우측 하강 변화 회수를 카운트하는 변수 hbl 및 수직 방향선 횡단 회수를 카운트하는 변수 hver를 0에 설정한다.

또, 탐색 개시점은 괘선 후보의 패턴 중에서 가장 가는 부분에 존재하는 흑색 화소로 한다. 이것은 패턴이 굵은 부분은 문자가 괘선에 접촉하고 있는 영역일 가능성이 있어, 이 영역에서 탐색을 개시하면, 괘선의 탐색이 정확히 행할 수 없는 경우가 있기 때문이다.

흑색 화소 ①로부터 탐색을 행하면, 탐색 방향에 대하여 인접 화소가 연속하여 존재하고 있으므로 탐색이 똑바르게 행하여지고, 변수 hup, 변수 hbl 및 변수hver는 어느것이나 0 그대로가 된다.

이와 같이, 괘선을 구성하는 패턴에 관해서 탐색이 행하여진 경우, 탐색 방향의 변화는 거의 검출되지 않은 것이 된다.

도 22는 본 발명의 일실시예에 관계되는 문자가 접촉하고 있는 괘선의 탐색 시간의 탐색 방향 변화 회수의 천이를 나타내는 도면이다.

도 22에 있어서, 괘선을 구성하는 패턴이 괘선 후보로서 추출되어 있는 것으로 하고, 이 패턴은 흑색 화소로 구성되어 있는 것으로 한다. 또한, 괘선에는 문자가 접촉하고 있는 것으로 한다. 우선, 탐색 개시점을 흑색 화소 ①에 설정하고, 횡 선분인 경우에는 탐색 방향을 횡 방향으로 설정하여, 탐색을 개시한다. 여기에서, 우측 상승의 변화 회수를 카운트하는 변수 hup, 우측 하강의 변화 회수를 카운트하는 변수 hbl 및 수직 방향선 횡단 회수를 카운트하는 변수 hver를 0으로 설정한다.

또, 탐색 개시점은 괘선 후보의 패턴 중에서 가장 가는 부분에 존재하는 흑색 화소로 한다. 이것은, 패턴이 굵은 부분은 문자가 괘선에 접촉하고 있는 영역인 경우가 있고, 이 영역에서 탐색을 개시하면, 괘선의 탐색이 정확히 행할 수 없는 경우가 있기 때문이다.

흑색 화소 ①로부터 탐색을 행하면, 탐색 방향에 대하여 인접 화소가 연속하여 존재하고 있으므로, 탐색이 똑바르게 행하여지고, 변수 hup, 변수 hbl 및 변수 hver는 어느 것이나 0 그대로가 된다.

이와 같이, 탐색 방향에 대하여 인접 화소가 존재하고 있는 사이는, 탐색 방향이 변화하지 않기 때문에, 괘선에 문자가 접촉하고 있는 경우에 있어서도, 괘선자체의 요철을 조사할 수 있어, 괘선 추출의 정밀도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

도 23은 본 발명의 일실시예에 관계되는 화소의 탐색 방향을 나타내는 도면이다.

도 23에 있어서, 우측 방향의 탐색으로는 현재지의 화소(111)에 인접하는 화소(112)의 방향으로 탐색이 행하여지고, 현재지의 화소(113)에 인접하는 화소가 존재하지 않는 경우에 한하여, 현재지의 화소(113)의 상측 경사 인접 화소(114a) 또는 하측 경사 인접 화소(114b)의 방향으로 탐색이 행해진다.

한편, 좌측 방향의 탐색으로는 현재지의 화소(115)에 인접하는 화소(116)의 방향으로 탐색이 행하여지고, 현재지의 화소(117)에 인접하는 화소가 존재하지 않는 경우에 한하여, 현재지의 화소(117)의 상측 경사 인접 화소(118a) 또는 하측 경사 인접 화소(118b)의 방향으로 탐색이 행해진다.

도 24는 본 발명의 하나의 실시예에 관하여 긁힘 패턴의 탐색 방법을 나타내는 도면이다.

도 24에 있어서, 직사각형과 거의 같은 직선(121)에 대하여 직선(121)을 구성하는 화소(122)의 검색을 행하는 경우, 일정한 화소수 이하의 공백 영역(123)에 대하여서는 화소(122)가 있다고 간주하고 탐색을 한다. 그리고, 이 검색에서 얻어진 화소(122)의 좌우단의 좌표를 직사각형과 거의 같은 직선(121)의 좌우단의 대신에 이용한다.

이와 같이, 소정치 이하의 공백을 무시하여 탐색을 행함으로써, 패턴이 긁히어 분리되어 있는 경우에 있어서도, 그 패턴의 요철 정도를 산출하는 것이 가능하게 된다.

도 25 및 도 26은 본 발명의 일실시예에 관계되는 요철 정도 산출 처리를 나타내는 흐름도이다. 또, 이 흐름도에서는, 탐색을 횡 방향으로 행하는 경우에 관해서 나타내고 있다.

도 25에 있어서, 우선, 단계 S41에 도시된 바와 같이, 괘선 후보의 직사각형 영역을 탐색 범위로 설정한다. 다음에, 단계 S42에 도시된 바와 같이, 괘선 후보의 직사각형 영역내의 패턴 중, 가장 가는 부분의 횡 방향의 좌표를 산출하고, 이 가장 가는 부분의 횡 방향의 좌표에 있어서의 패턴의 중심점을 산출한다. 그리고, 이 패턴의 중심점을 탐색의 개시점으로 한다. 여기에서, 탐색의 개시점을 패턴의 가장 가는 부분으로 하는 것은, 가장 가는 부분은 괘선일 가능성이 높고, 틀이 되는 직선의 탐색을 보다 확실히 행할 수 있기 때문이다.

다음에, 단계 S43에 도시된 바와 같이, 직선의 탐색 방향을 우측으로 설정한다.

다음에, 단계 S44에 도시된 바와 같이, 단계 S42에서 설정한 탐색 개시점을 주목 화소로서 설정한다.

다음에, 단계 S45에 도시된 바와 같이, 공백 영역의 길이를 카운트하는 변수K의 초기치를 0으로 설정한다.

다음에, 단계 S46에 도시된 바와 같이, 우측 상승 또는 좌측 하강으로 탐색 방향이 변화한 회수를 카운트하는 변수 hup를 0으로 설정한다.

다음에, 단계 S47에 도시된 바와 같이, 우측 하강 또는 좌측 하강으로 탐색 방향이 변화한 회수를 카운트하는 변수 hbl을 0으로 설정한다.

다음에, 단계 S48에 도시된 바와 같이, 수직 방향선을 횡단하는 회수를 카운트하는 변수 hver을 0으로 설정한다.

도 27은 본 발명의 일실시예에 관계되는 화소의 배치 관계를 나타내는 도면이다.

도 27에 있어서, × 표시로 나타내는 주목 화소에 대하여, D1은 좌측 상측 경사 인접 위치에 인접하는 화소, D2는 좌측으로 인접하는 화소, D3은 좌측 하측 경사 인접 위치에 인접하는것 화소, D4는 위에 인접하는 화소, D5는 밑으로 인접하는 화소, D6은 우측상 경사 인접 위치에 인접하는 화소, D7는 우측으로 인접하는 화소, D8는 우측 하측 경사 인접 위치에 인접하는것 화소이다. 그리고, 탐색이 주목 화소로부터 화소 D6으로 진행한 경우, 탐색 방향이 우측 상승으로 변화하고, 탐색이 주목 화소로부터 화소 D8로 진행한 경우, 탐색 방향이 우측 하강으로 변화하며, 탐색이 주목 화소로부터 화소 Dl로 진행한 경우, 탐색 방향이 좌측 상승으로 변화하여, 탐색이 주목 화소로부터 화소 D3으로 진행한 경우, 탐색 방향이 좌측 하강으로 변화하기로 한다.

다음에, 단계 S49에 도시된 바와 같이, 주목 화소가 탐색을 행하는 패턴의 직사각형 영역의 내부인지 여부를 판정하여, 주목 화소가 탐색을 행하는 패턴의 직사각형 영역의 내부가 아닌 경우, 단계 S63으로 진행하여, 공백 영역의 길이를 카운트하는 변수 K의 값을 0으로 설정하고 나서, 단계 S64로 진행한다.

한편, 단계 S49에서 주목 화소가 탐색을 행하는 패턴의 직사각형 영역의 내부라고 판정된 경우, 단계 S50으로 진행하여, 주목 화소에 대하여 D7의 위치에 흑색 화소가 있는지 여부를 판단한다. 그리고, D7의 위치에 흑색 화소가 있는 경우, 단계 S51로 진행하여, 주목 화소를 D7의 위치의 화소로 하고, 주목 화소에 대하여 D7의 위치에 흑색 화소가 있는 사이는, 우측 방향으로 탐색을 진행시킨다.

한편, 주목 화소에 대하여 D7의 위치에 흑색 화소가 없는 경우, 단계 S52로 진행하여, 주목 화소에 대하여 D6의 위치에 흑색 화소가 있는지 여부를 판단한다. 그리고, D6의 위치에 흑색 화소가 있는 경우, 단계 S53에 진행하여, 변수 hup의 값을 1만큼 증가시키고 나서, 단계 S54로 진행하여, 주목 화소를 D6의 위치의 화소로 한다. 이것에 의해, 탐색 방향이 우측 상승으로 변화하는 동시에, 탐색 방향이 우측 상승으로 변화한 회수가 카운트된다. 주목 화소가 D6의 위치에 옮긴 후에는, 단계 S49∼단계 S51의 처리가 반복된다.

한편, 단계 S52에서 D6의 위치에 흑색 화소가 없다고 판단된 경우, 단계 S55으로 진행하여, 주목 화소에 대하여 D8의 위치에 흑색 화소가 있는지의 여부를 판단한다. 그리고, D8의 위치에 흑색 화소가 있는 경우, 단계 S56에 진행하여, 변수 h bl의 값을 1만큼 증가시키고 나서, 단계 S57로 진행하여, 주목 화소를 D8의 위치의 화소로 한다. 이것에 의해, 탐색 방향이 우측 하강으로 변화하는 동시에, 탐색 방향이 우측 하강으로 변화한 회수가 카운트된다. 주목 화소가 D8의 위치에 옮긴 뒤에는, 단계 S49∼단계 S51의 처리가 반복된다.

한편, 단계 S55로에서 D8의 위치에 흑색 화소가 없다고 판단된 경우, 단계 S58로 진행하여, 공백 영역의 길이를 카운트하는 변수 K가 임계치 이하인지의 여부를 판정한다. 그리고, 공백 영역의 길이를 카운트하는 변수 K가 임계치 이하인 경우, 단계 S59로 진행하여, 주목 화소가 흑색 화소이고, 또한, 주목 화소에 대하여 D4 및 D5의 위치에 흑색 화소가 존재하고 있는지의 여부를 판단한다.

그리고, 주목 화소가 흑색 화소이고, 또한, 주목 화소에 대하여 D4 및 D5의 위치에 흑색 화소가 존재하고 있는 경우, 수직 방향선을 황단한다고 간주하고, 단계 S60에 진행하여, 변수 hver을 1만큼 증가시키고 나서, 단계 S61로 진행하여, 주목 화소를 D7의 위치의 화소로 한다.

한편, 주목 화소가 흑색 화소이고, 또한, 주목 화소에 대하여 D4 및 D5의 위치에 흑색 화소가 존재하고 있다고 하는 조건이 이루어지어 성립하지 않는 경우, 단계 S61로 직접 진행하여, 주목 화소를 D7의 위치의 화소로 한다.

다음에, 단계 S62에 도시된 바와 같이, 공백 영역의 길이를 카운트하는 변수K를 1만큼 증가시키어, 단계 S49로 옮긴다.

한편, 단계 S58에서 공백 영역의 길이를 카운트하는 변수 K가 임계치보다 크다고 판단된 경우, 단계 S64로 진행하고, 탐색 방향은 오른쪽으로 설정되어 있는지의 여부를 판정한다. 여기에서, 탐색 방향이 오른쪽으로 설정되어 있는 경우, 단계 S65에 진행하고, 탐색 방향을 왼쪽으로 설정하고 나서, 단계 S66에 진행하고, 단계 S42에서 결정한 탐색 개시점을 주목 화소에 설정한다. 그리고, 단계 S49로 진행하여, 좌측 방향의 탐색을 한다.

한편, 단계 S64에서 탐색 방향이 우측이 아니라고 판단된 경우, 단계 S67에 진행하여, 변수 hup 및 변수 hbl의 값으로부터 화상의 기울기에 대응하는 값을 감산함으로써, 화상의 기울기의 보정을 한다. 여기에서, 화상의 기울기에 대응하는 값은, 괘선 후보의 기울기의 평균치로부터 미리 산출하여 놓는다.

다음에, 단계 S68에 도시된 바와 같이, 변수 hup, 변수 hbl 및 변수 hver의 값을, 어떤 일정 길이당의 값으로 환산한다.

다음에, 단계 S69에 도시된 바와 같이, 어떤 일정 길이당의 값으로 환산된 변수 hup, 변수 hbl 또는 변수 hver의 값이 임계치 이상이 된 경우, 그 패턴을 괘선 후보로부터 제외한다.

여기에서, 변수 hup, 변수 hbl 및 변수 hver의 값을 가산하고, 그 결과를 직선의 길이에 대하는 비교적 환산하여, 그 값을 주목하고 있는 직선의 변화성으로 하도록 하여도 좋다.

또, 도 25 및 도 26의 흐름도에서는 횡 방향으로 탐색을 행하는 경우에 관해서 설명하였지만, 탐색 방향을 좌우로부터 상하로 변경함으로써 종 방향으로 탐색을 행하는 경우에 관해서도 동일하게 행하는 것이 가능하다.

또한, 허용 가능한 공백의 길이를, 각각의 부분 패턴의 크기에 대응시키어 변화시키도록 하여도 되고, 이것에 의해 문자 선분을 틀로 간주하여 버리는 가능성을 낮게 할 수 있다.

또한, 상술한 실시예에서는 직선 추출부(24)에서 추출된 직선에 대하여 요철 정도를 산출하는 경우에 관해서 설명했으나, 선분 추출부(23)에서 추출된 선분에 대하여 요철 정도를 산출하여도 된다.

셀 영역 추출 처리부(26)는 괘선 판별 처리부(25)에서 판별된 괘선 후보로부터 틀을 구성하는 직선을 결정하고, 상하 좌우의 4변이 틀로 둘러싸인 직사각형 범위를 셀로서 추출한다.

도 28은 본발명의 일실시예에 관한 셀 추출 처리를 설명하는 도이다.

도 28의 (a)에 있어서, 입력 화상으로부터 괘선 후보를 추출함으로써, 장표(131)를 구성하는 직선이 결정된다.

다음에, 도 28의 (b)에 도시한 바와 같이, 장표(131)를 구성하는 직선으로부터 종틀을 결정함으로써, 장표(131)를 행단위로 분할한다.

다음에, 도 28의 (c)에 도시한 바와 같이, 장표(131)를 구성하는 직선으로부터 종틀을 결정함으로써, 장표(131)로부터 셀을 추출한다. 여기에서, 장표(131)로부터 추출된 셀 중에서, 겹쳐지는 구조(132)가 있는지의 여부를 조사한다.

다음에 도 28의 (d)에 도시한 바와 같이, 겹쳐지는 구조(132)를 새로운 장표로 간주하고 겹쳐지는 구조(132)로부터 셀을 추출한다.

이와 같이, 장표(131)로부터 셀이 추출된 경우, 장표(131)를 구성하는 직선을 셀 단위로 분할하고, 이 분할된 직선별로 요철 정도를 산출하는 것도 가능하다. 이 분할된 직선별로 요철 정도를 산출함으로써, 괘선으로 간주된 패턴 일부로부터 문자만을 꺼낼 수 있고, 불규칙한 구조를 가지는 장표(131)로부터 괘선만을 추출하는 것이 가능하게 된다.

도 29는 본발명의 일실시예에 관한 횡틀의 결정 방법을 설명하는 도이다.

도 29에 있어서, 장표(131)에 대하여 횡 직선 ①∼⑥ 및 종 직선 (Ⅰ)∼(Ⅵ)가 추출되고, 횡 직선 ①∼⑥의 최상측으로부터 순서대로 한행씩 조가 됨으로써, 횡틀을 결정한다. 예컨대, 횡 직선 ①과 횡 직선 ②가 2개조의 횡선으로 판단되고, 이 횡 직선 ①과 횡 직선 ②가 횡틀이 된다.

이 횡틀 결정 방법은 이하의 순서에 의해 행하게 된다.

1) 괘선 판별 처리부(25)에서 괘선 후보로 판별된 횡 직선 중에서, 위로부터 순서대로 횡 직선을 2개 추출하여, 이들을 2개의 횡 직선의 조의 후보로 한다.

2) 조의 후보로 한 2개의 횡 직선의 길이가 같거나, 또는 하측 직선쪽이 길면, 그 2개를 횡 직선의 조로 한다. 이 때, 2개의 횡 직선의 길이가 다른 경우, 긴 쪽의 횡 직선을 재사용 가능하게 한다.

3) 조의 후보로 한 2개의 횡선 중, 하측의 횡 직선의 쪽이 짧으면, 더 그 아래의 횡 직선을 횡틀의 후보로 하고, 이것들의 횡 직선의 길이를 비교한다. 또한, 아래의 횡 직선의 쪽이 우측 방향 또는 좌측 방향으로 짧으면, 더 그 하측의 횡 직선을 조의 후보로 하여, 이것들의 횡 직선의 길이를 비교한다.

4) 횡 직선의 길이의 비교한 결과, 조건2)를 만족하는 횡 직선이 하부에 없다는 것을 알면, 이 경우에 한하여, 상측의 횡 직선과 그 하측의 횡 직선을 조로 한다.

5) 최하단의 횡 직선 처리후, 상부에 아직 미처리의 횡 직선이 있는 경우에는, 다시 상측으로부터 순서대로 미처리의 횡 직선과 재사용 가능의 횡 직선을 이용하여, 상기 1)∼4)의 처리를 행하여, 2개의 횡 직선의 조를 만든다.

도 30은 본 발명의 일실시예에 관계되는 종틀 결정 방법을 설명하는 도면이다.

도 30에 있어서, 장표(131)에 대하여, 횡 직선 ①∼⑥ 및 종 직선 (Ⅰ) ∼(VI)가 추출되고, 조로 되어있는 횡틀의 상하 모두에 도달하고 있는 종 직선 (Ⅰ)∼(VI)를 종틀로 결정한다. 예컨대, 종 직선 (Ⅰ)과 종 직선 (VI)가 횡틀로 간주된 횡 직선 ① 및 횡 직선 ②의 상하 모두에 도달하고 있기 때문에, 종 직선 (Ⅰ)과 종 직선 (VI)가 종틀이 된다.

도 31은 본 발명의 일실시예에 관계되는 셀추출 방법을 설명하는 도면이다.

도 31에 있어서, 장표(131)에 대하여, 횡 직선 ①∼⑥ 및 종 직선(I)∼(VI)가 추출되어, 사방이 횡틀 및 종틀로 둘러싸인 직사각형 영역을 셀로서 추출한다. 예컨대, 횡 직선 ①과 종 직선 (IV)와 횡 직선 ②과 종 직선 (I)로 둘러싸인 직사각형 영역이 셀로서 추출되는 동시에, 횡 직선 ①과 종 직선 (VI)와 횡 직선 ②와 종 직선 (IV)로 둘러싸인 직사각형 영역이 셀로서 추출된다.

도 32는 본 발명의 일실시예에 관계되는 겹쳐지는 구조의 추출 방법을 설명하는 도면이다.

도 32에 있어서, 횡 직선 ②와 종 직선 (III)과 횡 직선 ⑧과 종 직선 (I)로 둘러싸인 직사각형 영역이 셀로서 추출된 경우, 이 셀은 겹쳐지는 구조(132)로 되어 있다. 이 때문에, 겹쳐지는 구조(132)를 구성하는 직선으로부터 횡틀 및 종틀을 결정하여, 겹쳐지는 구조(132)내에서 사방이 횡틀 및 종틀로 둘러싸인 직사각형 영역을 셀로서 추출한다. 예컨대, 횡 직선 ②와 종 직선 (III)과 횡 직선 ⑧과 종 직선 (I)로 둘러싸인 직사각형 영역, 횡 직선 ⑧과 종 직선 (II)와 횡 직선 ⑧과 종 직선 (I)로 둘러싸인 직사각형 영역 및 횡 직선 ⑧과 종 직선 (III)과 횡 직선 ⑧과 종 직선 (II)로 둘러싸인 직사각형 영역이, 셀로서 추출된다. 도 33은 본 발명의 일실시예에 관계되는 횡틀 결정 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 33에 있어서, 우선 단계 S71에 도시된 바와 같이, 괘선 판별 처리부(25)에서 괘선 후보로 판별된 횡 직선 중에서, 최상부의 2개를 추출한다.

다음에, 단계 S72에 도시된 바와 같이, 꺼낸 2개의 횡 직선 중, 상측의 횡 직선을 upline, 하측의 횡 직선을 blline으로 한다.

다음에, 단계 S73에 도시된 바와 같이, 직선 upline과 직선 blline에 종 방향이 겹치고 있는지 여부를 판정한다. 그리고, 직선 upline과 직선 blline에 종 방향의 겹침이 없는 경우, 단계 S74로 진행하여, 직선 blline의 하측의 직선을 새롭게 blline으로 하여, 이 처리를 직선 upline과 직선 blline에 종 방향의 겹침이 있을 때까지 계속한다.

한편, 단계 S73에 있어서, 직선 upline과 직선 blline에 종 방향의 겹침이 있는 경우, 단계 S75로 진행하여, 직선 upline과 직선 blline의 길이가 같은지, 또는 직선 up1ine보다 직선 blline의 쪽이 긴지 여부를 판정한다. 그리고, 상기 조건을 만족하는 직선 upline과 직선 blline가 존재하는 경우, 단계 S78로 진행하고, 직선 upline과 상기 직선 blline을 2개의 횡선의 조(2개조의 횡틀)로 한다.

한편, 단계 S75에 있어서, 직선 upline과 직선 blline의 길이가 다르고, 또한, 직선 upline보다 직선 blline의 쪽이 짧은 경우, 단계 S76로 진행하여, 직선blline보다 하측으로 직선 upline과 길이가 같은지 또는 직선 upline보다 긴 직선blline2가 존재하는지의 여부를 판정한다. 그리고, 상기 조건을 만족하는 직선blline과 직선 upline이 존재하는 경우, 단계 S77로 진행하여, 직선 blline을 직선blline2로 변경하고 단계 S78로 진행한다.

도 34는 본 발명의 일실시예에 관계되는 횡 직선의 배치 상태를 설명하는 도면이다. 도 34에 있어서, 직선 upline과 직선 bl1ine의 길이가 같다면, 도34의 (a)와 같은 상태를 나타내고, 직선 upline보다 직선 blline의 쪽이 짧다면, 도 34의 (b)와 같은 상태를 나타내고, 직선 upline보다 직선 blline의 쪽이 길다면, 도 34의 (c)와 같은 상태를 나타낸다.

한편, 단계 S76에 있어서, 직선 blline보다 하측으로 직선 upline과 길이가 같거나 또는 직선 upline보다 긴 직선 blline2가 존재하지 않는 경우, 단계 S78로 진행하여, 직선 upline과 직선 blline을 2개조의 횡틀로 한다.

다음에, 단계 S79에서, 도 35의 흐름으로 나타내는 종틀 결정 처리 및 겹침 처리를 행한다.

다음에, 단계 S80에서, 단계 S78에서 2개조의 횡틀로 한 직선 upline과 직선 blline의 길이가 다른지 여부를 판정한다. 그리고, 직선 upline과 직선 blline의 길이가 다른 경우, 단계 S81로 진행하여, 우측 방향으로 긴 직선 또는 좌측 방향으로 긴 직선을 재이용 가능하게 하여, 단계 S82로 진행한다.

여기에서, 우측 방향으로 긴 직선이란, 도 34의 (d)에 나타내는 직선 blline, 좌측 방향으로 긴 직선이란, 도 34의 (e)에 나타내는 직선 blline이다.

한편, 단계 S80에 있어서, 직선 upline과 직선 blline의 길이가 같다고 판정된 경우, 단계 S82로 진행하여, 직선 blline보다 하측으로 직선이 존재하는지의 여부를 판정한다. 그리고, 직선 blline보다 하측으로 직선이 존재하는 경우, 단계 S83에 진행하여, 직선 blline과 그 하측의 직선을 추출하고, 단계 S72로 돌아간다.

한편, 단계 S82에 있어서, 직선 blline보다 하측으로 직선이 존재하지 않는다고 판정된 경우, 단계 S84로 진행하여 재사용의 직선을 제외하고, 처리 종료의 직선을 처리 대상으로부터 제외한다.

다음에, 단계 S85에서, 미처리의 직선이 존재하는지 여부를 판정한다. 그리고, 미처리의 직선이 존재하지 않는 경우, 처리를 종료한다. 한편, 단계 S85에 있어서, 미처리의 직선이 존재한다고 판정된 경우, 단계 S86로 진행하여 최상부에서 직선을 2개 추출하고, 단계 S72로 되돌아간다.

도 35는 본 발명의 일실시예에 관계되는 종틀 결정 및 겹침 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 35에 있어서, 우선, 단계 S91에 도시된 바와 같이, 최상위의 행의 2개조의 횡틀을 선택하고, 이어서 단계 S92에 도시된 바와 같이, 괘선 판별 처리부(25)에서 괘선 후보로 판별된 종 직선 중에서, 상단과 하단 양방이 2개조의 횡틀에 도달하고 있는 것을 선택한다.

다음에, 단계 S93에 도시된 바와 같이, 선택한 종 직선을 종틀로 결정한다.

다음에, 단계 S94에 도시된 바와 같이, 2개조의 횡틀과 2개의 종틀로 둘러싸인 직사각형 영역을 추출한다. 다음에, 단계 S95에 도시된 바와 같이, 직사각형 영역의 좌우 2개의 종틀에 양단이 도달하고 있는 횡 직선이 존재하는지 여부를 판정한다. 그리고, 그와 같은 횡 직선이 존재하지 않는 경우, 다음 행의 횡틀을 선택하는 처리를 행하여, 이것에 의해 새롭게 결정된 2개조의 횡틀에 대하여 상기 단계 S92∼S97과 동일한 처리를 실행한다.

한편, 단계 S95에 있어서, 좌우 2개의 종틀에 양단이 도달하고 있는 횡 직선이 존재한다고 판정된 경우, 단계 S96으로 진행하여 그 직사각형 영역을 새롭게 작은 표(겹쳐지는 구조의 직사각형)로 간주하고, 이 겹쳐지는 구조의 직사각형 영역내에 존재하는 작은 직사각형 영역의 횡틀을 결정한다.

다음에, 단계 S97에 도시된 바와 같이, 겹쳐지는 구조의 직사각형 영역내의 종틀을 결정하는 처리를 행한다.

도 36은 본 발명의 일실시예에 관계되는 규칙적인 장표와 불규칙한 장표의 예를 나타내는 도면이다.

도 36의 (a)는 규칙적인 장표의 예를 나타내고, 도 36의 (b) 및 도 36의 (c)는 불규칙한 장표의 예를 나타내고 있다. 규칙적인 장표는 횡틀을 구성하고 있는 횡 직선이 서로 같은 길이로 되어있는 동시에, 종틀을 구성하고 있는 종 직선이 서로 같은 길이로 되어 있다. 한편, 불규칙한 장표는 횡틀을 구성하고 있는 횡 직선의 길이, 또는 종틀을 구성하고 있는 종 직선의 길이가 불규칙하게 되어 있다.

도 37은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보 영역의 분할 방법을 설명하는 도면이다.

도 37의 (a)에 있어서, 장표(141)는 불규칙한 구조를 가지어, 장표(141)를 구성하고 있는 횡 직선(142)은 다른 횡 직선보다도 짧게 되어 있는 것으로 한다. 이 장표(141)에 대하여, 「문자」라는 문자열이 도 37의 (b)에 도시된 바와 같이, 횡 직선(142)의 횡에 기입된 경우, 횡 직선(142)과 「문자」라는 문자열의 일부가 괘선 후보(145)로서 추출된다. 이 괘선 후보(145)에 대하여, 요철 정도를 산출한 경우, 「문자」라는 문자열의 일부에 관해서는, 요철 정도가 크다고 간주 되지만, 횡 직선(142)에 관해서는, 요철 정도가 작다고 간주 되어, 괘선 후보(145) 전체의 요철 정도는 횡 직선(142)의 요철 정도가 보다 크게 반영되어 작다고 간주 된다.

이 결과, 「문자」라는 문자열의 일부는 괘선 후보(145)의 일부로 간주되고, 괘선 후보(145)는 장표(141)내에서 횡틀을 구성한다고 간주되어 괘선으로 간주된다. 이 때문에, 장표(141)로부터 「문자」라는 문자열을 정확히 절출할 수 없게 되어, 문자 인식의 신뢰도가 저하한다.

여기에서, 괘선 후보(145)를 최소의 셀마다 분할함으로써, 괘선 후보(l43,144,146)를 생성하고, 이 괘선 후보(143,144,146)의 요철 정도를 각각 독립적으로 산출한다. 이 결과, 괘선 후보(143,146)에 관해서는, 각각 요철 정도가 작다고 간주되고, 괘선 후보(143,146)가 괘선이면 정확하게 결정하는 것이 가능한 동시에, 괘선 후보(144)에 관해서는, 요철 정도가 크다고 간주 되어, 괘선 후보(144)는 괘선이 아니면 정확하게 결정하는 것이 가능하게 된다.

이와 같이, 괘선 후보(145)를 최소의 셀마다 분할하여, 분할된 괘선 후보(143,144,146)마다 요철 정도를 산출함으로써, 불규칙한 장표내에 기입된 문자의 일부가 괘선 후보145의 일부로서 오판되어 추출된 경우에 있어서도, 괘선을 구성하는 횡 직선(142)의 부분만을 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능하게 된다.

도 38은 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보의 요철 정도를 부분적으로 구하는 방법을 설명하는 도이다.

도 38의 (a)에 있어서, 장표(151)는 불규칙한 구조를 가지며, 장표(151)를 구성하고 있는 횡 직선(152∼155)은 외틀의 횡 직선보다도 짧게 되어 있는 것으로 한다.

이 장표(151)에 대하여, 「문자」라는 문자열이 도 38의 (b)에 도시된 바와 같이, 횡 직선(153)의 횡에 기입된 경우, 횡 직선(153)과 「문자」라는 문자열의 일부(156)가 혼재하여 괘선 후보로서 추출된다. 이 괘선 후보에 대하여, 요철 정도를 산출한 경우, 「문자」라는 문자열의 일부(156)에 관해서는, 요철 정도가 크다고 간주되지만, 횡 직선(153)에 관해서는 요철 정도가 작다고 간주되어 횡 직선(153)과 「문자」라는 문자열의 일부(156)가 혼재하고 있는 괘선 후보 전체의 요철 정도는 횡 직선(153)의 요철 정도가 보다 크게 반영되기 때문에, 작다고 간주 된다.

이 결과, 「문자」라는 문자열의 일부(156)는 괘선 후보의 일부로 간주 되고, 장표(151)로부터 「문자」라는 문자열을 정확히 절출할 수 없게 되어, 문자 인식의 신뢰도가 저하된다.

여기에서, 횡 직선(153)과 「문자」라는 문자열의 일부(156)가 혼재하고 있는 괘선 후보의 길이를 다른 횡 직선(152,154,155)으로 이루어지는 괘선 후보의 길이와 비교한다. 그리고, 다른 횡 직선(152,154,155)으로 이루어지는 괘선 후보에 대하여, 횡 직선(153)과 「문자」라는 문자열의 일부(156)가 혼재하고 있는 괘선 후보로부터 길이가 다른 부분을 분할함으로써, 「문자」라는 문자열의 일부(156)에 대응한 괘선 후보를 생성한다.

그리고, 이 분할된 괘선 후보에 관해서 요철 정도를 산출함으로써, 「문자」라는 문자열의 일부(156)에 관해서만 요철 정도를 산출할 수 있고, 분할된 괘선 후보에 관해서는 요철 정도가 크다고 간주하고, 분할된 괘선 후보는 괘선이 아니면 정확하게 결정하는 것이 가능하게 된다.

도 39는 본 발명의 일실시예에 관계되는 괘선 후보의 요철 정도를 부분적으로 구하는 방법을 설명하는 도이다.

도 39에 있어서, 장표(161)는 불규칙한 구조를 가지고, 장표(161)를 구성하고 있는 횡 직선(162,164,165)은 횡 직선(163)보다도 짧게 되어 있는 것으로 한다. 이 장표(161)로부터 횡 직선(162∼165)이 추출되고, 횡 직선(163)의 길이가 다른 횡 직선(162,164,165)의 길이에 비하여 긴 것이 검출된 경우 이 횡 직선(163)이 돌출된 부분(166)에 관해서, 요철 정도를 산출한다. 그리고 이 돌출된 부분(166)의 요철 정도가 작은 경우, 돌출된 부분(166)은 괘선이라고 결정하고, 돌출된 부분(166)의 요철 정도가 큰 경우, 돌출된 부분(166)은 괘선이 아니로 간주하고, 괘선 후보로부터 제외한다.

이상, 본 발명의 실시예에 관해서 설명하였지만, 본 발명은 상술한 실시예에 한정되는 일 없이, 본 발명의 기술적 사상의 범위내에서 다른 여러가지의 변경이 가능하다. 예컨대, 상술한 실시예에서는, 괘선 후보내의 패턴의 탐색에 의해, 그 괘선 후보내의 패턴의 요철 정도를 산출하는 경우에 관해서 설명하였지만, 탐색 이외의 방법으로 요철 정도를 산출하도록 하여도 좋다. 예컨대, 괘선 후보로서 추출된 패턴을 소정의 방향으로 투영하여, 그 괘선 후보의 각부분에서의 투영치의 변동의 크기를 산출함으로써, 패턴의 요철 정도를 구하도록 하여도 좋다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 패턴의 요철 정도를 산출함으로써, 요철 정도가 작은 괘선이라든지 직선 등의 패턴과, 요철 정도가 큰 문자라든지 기호 등의 패턴을 구별하는 것이 가능하게 되어, 괘선과 직선 등이 문자와 기호 등이라고 잘못 판별되는 것을 줄이는 것이 가능하여지므로, 패턴의 판별 정밀도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 탐색 방향의 변화 회수에 기초하여 요철 정도를 산출함으로써, 패턴의 요철 정도를 적확하게 산출하는 것이 가능하여지므로, 요철 정도가 작은 패턴과 요철 정도가 큰 패턴을 정확히 구별하는 것이 가능하게 되어, 패턴의 판별 정밀도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 소정 방향에 인접 화소가 존재하지 않는 경우에 한하여, 소정 방향과 다른 방향의 화소를 탐색함으로써, 문자와 기호 등의 다른 패턴이 괘선과 직선 등에 접촉하고 있는 경우에 있어서도, 괘선이라든지 직선 등을 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 경사 인접 화소의 탐색 회수를 계수함으로써, 패턴의 탐색을 행하면서 패턴의 요철을 효율적으로 검출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 탐색 방향의 변화 회수를 패턴의 기울기를 따라서 보정함으로써 패턴이 기울어져 있는 경우에 있어서도, 패턴의 요철 정도를 정밀도 좋게 산출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 소정치 이하의 공백을 무시하고 탐색을 행함으로써, 패턴이 긁힘에 의해 분리되어 있는 경우에 있어서도, 그 패턴의 요철 정도를 산출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 탐색 방향의 변화 회수를 패턴의 길이로 규격화함으로써, 탐색에 의해 산출된 패턴의 요철 정도로부터, 패턴의 크기의 영향을 제거하는 것이 가능하게 되어, 그 패턴 자체의 형상에 기초하는 요철 정도를 산출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 교차 회수를 고려하면서 패턴의 요철 정도를 산출함으로써, 패턴의 요철 정도를 보다 정확하게 구하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 요철 정도가 임계치 이하인 경우, 그 패턴은 괘선을 구성하는 것으로 간주함으로써, 문자가 괘선이라고 잘못 판별되는 것을 방지하고, 괘선을 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 요철 정도가 임계치 이상인 경우, 그 패턴은 문자를 구성하는 것으로 간주함으로써, 괘선이 문자라고 잘못 판별되는 것을 방지하고, 문자를 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 패턴의 배치 상황에 기초하여 패턴의 요철 정도의 임계치를 변화시킴으로써, 괘선을 보다 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 화소 밀도가 높은 직사각형 영역에 존재하는 연결 패턴의 요철 정도를 산출함으로써, 괘선 후보로서 추출된 문자가 괘선인지 여부를 정확하게 판별하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 연결 패턴을 소정의 영역마다 분할하여 요철 정도를 산출함으로써, 괘선과 문자의 접촉시의 괘선의 부분과 문자의 부분을 나눠 나누어 요철 정도를 산출하는 것이 가능하여지므로, 괘선의 요철 정도가 문자의 요철 정도에 영향을 받아 괘선이 문자로 간주되기도 하고, 문자의 요철 정도가 괘선의 요철 정도에 영향을 받아 문자가 괘선으로 간주되기도 하는 일을 없앨 수 있다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 마스크 처리를 행함으로써, 원화상에 존재하는 극단적인 경사 성분을 제거하는 것이 가능하게 되고, 괘선 후보의 추출을 용이하게 하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 괘선으로 사방이 둘러싸인 직사각형 영역을 셀로서 추출하여, 셀을 구성하지 않는 괘선을 괘선으로부터 제외함으로써, 괘선을 구성하지 않는 직선을 괘선으로부터 제외하는 것이 가능하게 되어, 괘선 추출의 신뢰도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 인접 투영법을 이용하여 괘선 후보를 추출함으로써, 원화상이 기울어져 있는 경우에 있어서도, 괘선 후보를 원화상으로부터 정밀도 좋게 추출하는 것이 가능하게 되어, 괘선 추출의 신뢰도를 향상시키는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 인접 투영에 의해 검출된 직사각형 선분마다 요철 정도를 산출함으로써, 통합 전의 작은 영역에 분리된 상태에서 요철 정도의 산출을 하는 것이 가능하게 되어, 괘선과 문자가 서로 접촉하고 있는 경우에 있어서도, 괘선과 문자를 따로따로 처리하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 직사각형 선분을 통합하고 나서 요철 정도를 산출함으로써, 괘선을 정밀도 좋게 행하는 것이 가능하게 된다.

또한, 본 발명의 하나의 양태에 의하면, 주변의 괘선 후보로부터 돌출되어 있는있는 괘선 후보가 존재하는 경우, 그 돌출 되어 있는 부분에 관해서 요철 정도를 산출함으로써, 그 돌출된 부분이 괘선의 일부인지, 괘선에 접촉하고 있는 문자인지를 정밀도 좋게 판별하는 것이 가능하게 되어, 장표가 길이가 불규칙한 괘선에 의해 구성되어 있는 경우에 있어서도, 그 장표로부터 괘선을 정밀도 좋게 추출할 수 있다.

Claims (28)

1. 패턴을 입력하는 패턴 입력 수단과, 상기 패턴의 요철 정도를 산출하는 요철 정도 산출 수단과, 상기 요철 정도에 기초하여 상기 패턴의 속성을 판별하는 패턴 판별 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 요철 정도 산출 수단은 패턴의 탐색 방향의 변화 회수에 기초하여 상기 요철 정도를 산출하는 변화 회수 계수 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
3. 제2항에 있어서, 상기 변화 회수 계수 수단은 소정 방향으로 화소를 탐색하는 제1 탐색 수단과, 상기 소정 방향에 인접 화소가 존재하지 않는 경우, 상기 소정 방향과 다른 방향의 화소를 탐색하는 제2 탐색 수단과, 상기 제2 탐색 수단에 의한 화소의 탐색 회수를 계수하는 계수 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
4. 제3항에 있어서, 상기 제2 탐색 수단은 상기 소정 방향에 인접 화소가 존재하지 않는 경우, 경사 인접 화소를 탐색하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
5. 제4항에 있어서, 패턴의 기울기를 검출하는 기울기 검출 수단과, 상기 패턴의 기울기에 대응하는 탐색 방향의 변화 회수를 산출하는 산출 수단과, 상기 산출 수단에서 산출된 값에 기초하여 상기 계수 수단에서 계수된 탐색 회수를 보정하는 보정 수단을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
6. 제3항에 있어서, 상기 제1 탐색 수단은 패턴이 소정치 이하의 공백을 통해 분리되어 있는 경우, 상기 공백에는 화소가 존재하고 있는 것으로 간주하여 탐색을 행하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
7. 제3항에 있어서, 상기 제2 탐색 수단에 의한 화소의 탐색 회수를 탐색된 패턴의 길이로 규격화하는 규격화 수단을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
8. 제1항에 있어서, 상기 요철 정도 산출 수단은 패턴의 교차 회수에 기초하여 상기 요철 정도를 산출하는 교차 회수 계수 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
9. 제8항에 있어서, 상기 교차 회수 계수 수단은 주목 화소에 대하여, 탐색 방향 인접 위치 및 경사 인접 위치에 화소가 존재하지 않고, 또한 상기 탐색 방향에 수직인 방향에 인접하는 화소가 존재하는 경우, 상기 교차 회수의 값을 1만큼 증가시키는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
10. 제1항에 있어서, 상기 패턴 판별 수단은 상기 패턴의 요철 정도가 임계치 이하인 경우, 상기 패턴은 괘선을 구성하는 것으로 판별하는 괘선 판별 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
11. 제1항에 있어서, 상기 패턴 판별 수단은 상기 패턴의 요철 정도가 임계치 이상인 경우, 상기 패턴은 문자를 구성하는 것으로 판별하는 문자 판별 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
12. 제10항에 있어서, 상기 패턴 판별 수단은 판별 대상이 되는 패턴으로부터 소정의 범위내에 다른 패턴이 존재하는 경우, 상기 임계치를 변화시키는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
13. 제12항에 있어서, 상기 패턴 판별 수단은 판별 대상이 되는 패턴으로부터 소정의 범위내에 다른 패턴이 존재할 때의 임계치를 판별 대상이 되는 패턴으로부터 소정의 범위내에 다른 패턴이 존재하지 않을 때의 임계치보다도 작게 설정하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
14. 입력된 원화상 데이타로부터 연결한 화소로 구성되는 부분 패턴을 추출하는 연결 패턴 추출 수단과, 상기 부분 패턴으로부터 화소 밀도가 높은 직사각형 영역을 괘선 후보로서 추출하는 괘선 후보 추출 수단과, 상기 직사각형 영역내의 부분 패턴을 탐색하는 탐색 수단과, 상기 탐색 수단의 탐색 결과에 기초하여 상기 부분 패턴의 요철 정도를 산출하는 요철 정도 산출 수단과, 상기 요철 정도에 기초하여 상기 부분 패턴이 괘선을 구성하는 것인지의 여부를 판별하는 괘선 판별 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
15. 제14항에 있어서, 상기 요철 정도 산출 수단은 상기 부분 패턴을 소정의 영역마다 분할하여 요철 정도를 산출하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
16. 제14항에 있어서, 상기 부분 패턴을 소정의 크기의 마스크로 주사하고, 상기 부분 패턴이 상기 마스크내에서 차지하는 비율이 소정치 이상인 경우, 상기 마스크내의 화소를 모두 상기 부분 패턴으로 간주하고, 상기 부분 패턴이 상기 마스크내에서 차지하는 비율이 상기 소정치보다 작은 경우, 상기 마스크내에는 상기 부분 패턴이 없는 것으로 간주하는 마스크 처리 수단을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
17. 제14항에 있어서, 상기 괘선으로 사방이 둘러싸인 직사각형 영역을 셀로서 추출하는 셀 영역 추출 수단과, 상기 괘선 판별 수단으로 판별된 괘선으로부터 셀을 구성하지 않는 괘선을 제외하는 괘선 제외 수단을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
18. 제17항에 있어서, 상기 요철 정도 산출 수단은 상기 괘선 후보를 상기 셀 단위마다 분할하여 요철 정도를 산출하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
19. 제14항에 있어서, 상기 괘선 후보 추출 수단은 어느 한 행 또는 열의 투영치에 주위의 행 또는 열의 투영치를 더하여 합한 값이 소정치 이상의 부분 패턴을 직사각형 선분으로서 검출하는 선분 검출 수단과, 소정의 범위내의 복수의 직사각형 선분을 통합하여, 이 통합된 직사각형 선분을 직사각형과 거의 같게 하여 직선을 검출하는 직선 검출 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
20. 제19항에 있어서, 상기 요철 정도 산출 수단은 상기 직선 검출 수단으로 통합된 직사각형 선분마다 요철 정도를 산출하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
21. 제14항에 있어서, 괘선 후보의 길이를 산출하는 길이 산출 수단과, 괘선 후보의 길이를 주변의 괘선 후보의 길이와 비교하는 길이 비교 수단과, 괘선 후보의 길이가 주변의 괘선 후보와 다른 부분에 대한 요철 정도를 취득하는 요철 정도 취득 수단과, 괘선 후보의 길이가 다른 부분에 대한 요철 정도가 소정치 이상인 경우, 길이가 다른 부분에 관해서는 괘선이 아니로 간주하는 괘선 삭제 수단을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
22. 제14항에 있어서, 상기 괘선으로 구성되는 장표가 규칙적인 장표인지 불규칙한 장표인지를 판별하는 장표 판별 수단과, 상기 불규칙한 장표의 불규칙성의 원인으로 되어있는 괘선의 일부에 대해서, 요철 정도를 산출하는 부분 요철 정도 산출 수단을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 장치.
23. 패턴을 입력하는 단계와, 상기 패턴의 요철 정도를 산출하는 단계와, 상기 요철 정도에 기초하여 상기 패턴의 속성을 판별하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 방법.
24. 입력된 패턴의 화소를 소정 방향으로 탐색하는 단계와, 상기 소정 방향으로 인접 화소가 존재하지 않는 경우, 경사 인접 화소를 탐색하는 단계와, 경사 인접 화소를 탐색한 회수를 계수하는 단계와, 경사 인접 화소를 탐색한 회수가 소정치 이하인 경우, 상기 패턴을 괘선으로 간주하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 방법.
25. 입력된 원화상 데이타로부터 연결한 화소로 구성되는 부분 패턴을 추출하는 단계와, 상기 부분 패턴으로부터 화소 밀도가 높은 직사각형 영역을 괘선 후보로서 추출하는 단계와, 상기 직사각형 영역내의 부분 패턴을 탐색하는 단계와, 상기 부분 패턴의 탐색 결과에 기초하여 상기 부분 패턴의 요철 정도를 산출하는 단계와, 상기 요철 정도가 소정치 이상인 경우, 상기 부분 패턴은 괘선을 구성하는 것으로 판별하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 패턴 추출 방법.
26. 컴퓨터가 판독할 수 있는 기억 매체에 있어서, 패턴을 입력하는 기능과, 상기 패턴의 요철 정도를 산출하는 기능과, 상기 요철 정도에 기초하여 상기 패턴의 속성을 판별하는 기능을 컴퓨터에 실행시키는 프로그램을 격납한 것을 특징으로 하는 기억 매체.
27. 컴퓨터가 판독할 수 있는 기억 매체에 있어서, 입력된 패턴의 화소를 소정 방향으로 탐색하는 기능과, 상기 소정 방향에 인접 화소가 존재하지 않는 경우, 경사 인접 화소를 탐색하는 기능과, 경사 인접 화소를 탐색한 회수를 계수하는 기능과, 경사 인접 화소를 탐색한 회수가 소정치 이하인 경우, 상기 패턴을 괘선이로 간주하는 기능을 컴퓨터에 실행시키는 프로그램을 격납한 것을 특징으로 하는 기억 매체.
28. 컴퓨터가 판독할 수 있는 기억 매체에 있어서, 입력된 원화상 데이타로부터 연결된 화소로 구성되는 부분 패턴을 추출하는 기능과, 상기 부분 패턴으로부터 화소 밀도가 높은 직사각형 영역을 괘선 후보로서 추출하는 기능과, 상기 직사각형 영역내의 부분 패턴을 탐색하는 기능과, 상기 부분 패턴의 탐색 결과에 기초하여 상기 부분 패턴의 요철 정도를 산출하는 기능과, 상기 요철 정도가 소정치 이상인 경우, 상기 부분 패턴은 괘선을 구성하는 것으로 판별하는 기능을 컴퓨터에 실행시키는 프로그램을 격납한 것을 특징으로 하는 기억 매체.