KR19980077615A

KR19980077615A - Input buffer of semiconductor device

Info

Publication number: KR19980077615A
Application number: KR1019970014787A
Authority: KR
Inventors: 서영호
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1997-04-21
Filing date: 1997-04-21
Publication date: 1998-11-16
Also published as: KR100238240B1

Abstract

본 발명은 반도체 장치의 입력 버퍼에 관한 것으로서, 전원 전압과 접지 전압 사이에 입력 전압의 레벨을 반전시키는 수단을 가지며 제1 제어 신호에 의해 상기 입력 전압의 레벨을 반전시키는 제1 입력 전압 반전부 및 상기 제1 입력 전압 반전부에 연결되어 상기 접지 전압의 승압이 발생할 때 제1 제어 전압과 상기 제1 제어 신호에 의하여 상기 전원 전압과 출력단 및 상기 접지 전압과 출력단의 전류 공급 능력비를 조정하는 제1 입력 레벨 조정부를 구비함으로써 접지 전압의 승압이 발생하더라도 일정한 출력 전압을 출력할 수 있다. 또, 단순한 입력 레벨의 변경에 따른 반도체 장치의 전체 동작 속도의 저하, 입력 신호의 상태에 따른 동작 특성의 불균형 등 반도체 장치의 전체 동작 특성이 악화되지 않는다.The present invention relates to an input buffer of a semiconductor device, comprising: a first input voltage inverting unit having a means for inverting a level of an input voltage between a power supply voltage and a ground voltage and inverting the level of the input voltage by a first control signal; A current control capability ratio of the power supply voltage and the output terminal and the ground voltage and the output terminal according to the first control voltage and the first control signal when the voltage rise of the ground voltage occurs when the voltage rise of the ground voltage occurs; By providing an input level adjusting unit, a constant output voltage can be output even when a voltage rise of the ground voltage occurs. In addition, the overall operating characteristics of the semiconductor device, such as a decrease in the overall operating speed of the semiconductor device due to a simple change of the input level and an imbalance in operating characteristics according to the state of the input signal, are not deteriorated.

Description

Input buffer of semiconductor device

본 발명은 반도체 장치의 입력 버퍼(bufer)에 관한 것으로서, 특히 접지 전압의 승압이 발생하더라도 안정된 출력 전압을 출력하는 반도체 장치의 입력 버퍼에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an input buffer of a semiconductor device, and more particularly to an input buffer of a semiconductor device that outputs a stable output voltage even when a voltage rise of the ground voltage occurs.

입력 버퍼는 반도체 장치의 외부에서 공급되는 티티엘(TTL:Transistor-Transistor Logic) 레벨의 입력 신호를 받아서 씨모스(CMOS) 레벨의 신호로 변환하여 반도체 장치의 내부로 공급해주는 역할을 한다. 입력 버퍼와 더불어 대부분의 반도체 장치는 출력 버퍼를 구비하고 있다. 출력 버퍼는 대개 출력 버퍼의 출력단에 연결되는 큰 출력 부하를 구동하기 위해서 다른 회로단에 비해 상대적으로 큰 전류 특성을 갖는다. 이러한 큰 전류 특성을 갖는 출력 버퍼가 동작하게 되면 출력 버퍼를 구성하고 있는 반도체 소자들의 내부에 기생 유도 용량(inductance) 또는 정전 용량(capacitance)이 발생하게 되고, 이로 인하여 접지 전압이 순간적으로 높아지는 이른바 접지 전압의 승압(bouncing)이 발생하게 된다. 접지 전압의 승압은 복수의 데이터를 출력하여야 하는 멀티바이트(mult-byte)형 반도체 장치나 고속의 억세스 타임(access time)을 특징으로 하는 반도체 장치에서는 매우 심각한 문제로 대두되고 있다. 더욱이 티티엘 레벨을 입력으로 하는 반도체 장치의 입력 버퍼는 접지 전압의 승압이 발생할 경우 내부 회로에 불안정한 전압을 공급하게 되어 내부 회로가 오동작을 일으키는 원인이 될 수가 있다. 때문에 접지 전압의 승압이 발생하더라도 안정된 전압을 공급할 수 있는 입력 버퍼가 요구된다.The input buffer receives a TTL (Transistor-Transistor Logic) level input signal supplied from the outside of the semiconductor device, converts it into a CMOS level signal, and supplies the same to the inside of the semiconductor device. In addition to the input buffer, most semiconductor devices have an output buffer. The output buffer usually has a relatively large current characteristic compared to other circuit stages in order to drive a large output load connected to the output stage of the output buffer. When the output buffer having such a large current characteristic is operated, parasitic inductance or capacitance is generated inside the semiconductor elements constituting the output buffer, and thus, the ground voltage which is caused to increase the ground voltage momentarily. Voltage bouncing occurs. The boosting of the ground voltage is a very serious problem in a multi-byte semiconductor device that must output a plurality of data or a semiconductor device having a fast access time. In addition, the input buffer of a semiconductor device having a TTI level input may supply an unstable voltage to an internal circuit when a voltage rise of the ground voltage occurs, which may cause the internal circuit to malfunction. Therefore, an input buffer capable of supplying a stable voltage is required even when a voltage rise of the ground voltage occurs.

도 1은 종래의 반도체 장치의 입력 버퍼 회로도이다. 도 1에 도시된 회로의 구성을 살펴보면, 전원 전압인 Vdd에 PMOS트랜지스터인 P1과 P2가 직렬로 연결되어있고, 상기 P2에 NMOS트랜지스터인 N1이 연결되어있다. 상기 P2와 N1의 게이트들과 드레인들은 서로 공통으로 연결되어 인버터 역할을 한다. 또, 상기 N1에 병렬로 NMOS트랜지스터인 N2가 연결되어있으며, 상기 P2와 N1의 드레인들이 공통 연결된 노드(node)를 ND1이라 하고, ND1에 출력부(11)가 연결되어 상기 출력부(11)를 통해서 출력 신호인 A1과 A1b가 출력된다. A1b는 A1의 역상 신호이다. 그리고 상기 P2와 N1의 게이트들에 외부 신호인 XA1이 인가되고, 상기 P1과 N2의 게이트들에 칩인에이블(chip enable) 신호인 CS1b가 인가된다.1 is an input buffer circuit diagram of a conventional semiconductor device. 1, the PMOS transistors P1 and P2 are connected in series to the power supply voltage Vdd, and the NMOS transistor N1 is connected to the P2. The gates and the drains of the P2 and the N1 are commonly connected to each other to serve as an inverter. In addition, an NMOS transistor N2 is connected to N1 in parallel, and a node in which the drains of P2 and N1 are commonly connected is called ND1, and an output unit 11 is connected to ND1 so that the output unit 11 is connected. Through A1 and A1b, the output signals are output. A1b is the reverse phase signal of A1. An external signal XA1 is applied to the gates of P2 and N1, and a CS1b, a chip enable signal, is applied to the gates of P1 and N2.

도 2는 상기 도 1에 사용되는 신호들의 타이밍도이다. 도 2를 참조하여 도 1에 도시된 회로의 동작을 설명하기로 한다. 먼저, N1이 완전히 도통되게하는 입력 전압을 VIH(Input High Voltage)라고 한다. XA1의 전압이 VIH가 되면 N1은 도통하고 P2는 불통이 되므로 ND1은 논리 '0'이 된다. 그러면 A1은 논리 '1'이 되고 A1b는 논리 '0'이 된다. 그런데 도 2에 나타낸 것과 같이 T 시간동안 접지 전압의 승압이 발생하여 접지 전압이 Vt1만큼 상승하면, N1의 게이트와 소오스간 전압인 VGS가 VIH에서 (VIH-Vt1)으로 감소하게 되어 N1은 불통되고 P2가 도통된다. 때문에 ND1이 논리 '0'에서 논리 '1'로 천이되어 A1을 논리 '1'에서 논리 '0'로, A1b를 논리 '0'에서 논리 '1'로 천이시킨다. 이것은 출력부(11)가 비정상적인 출력 신호를 출력한 결과가 되어 버린다.2 is a timing diagram of signals used in FIG. 1. The operation of the circuit shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG. 2. First, the input voltage that causes N1 to be fully conducted is called input high voltage (VIH). When the voltage of XA1 becomes VIH, N1 becomes conductive and P2 becomes non-volatile, so ND1 becomes logic '0'. Then A1 becomes logic '1' and A1b becomes logic '0'. However, as shown in FIG. 2, when the ground voltage is increased during the T time and the ground voltage rises by Vt1, the gate voltage between the gate of N1 and VGS decreases from VIH to (VIH-Vt1), and N1 is unsuccessful. P2 is conducting. Therefore, ND1 transitions from logic '0' to logic '1', shifting A1 from logic '1' to logic '0' and A1b from logic '0' to logic '1'. This results in the output unit 11 outputting an abnormal output signal.

상술한 바와 같이 종래의 입력 버퍼는 접지 전압의 승압이 발생하면 비정상적인 출력 신호를 출력하는 경우가 발생할 수가 있다.As described above, the conventional input buffer may generate an abnormal output signal when the voltage rise of the ground voltage occurs.

따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 접지 전압의 승압이 발생하더라도 정상적인 출력 신호를 출력할 수 있는 반도체 장치의 입력 버퍼를 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an input buffer of a semiconductor device capable of outputting a normal output signal even when a voltage rise of the ground voltage occurs.

도 1은 종래의 반도체 장치의 입력 버퍼 회로도.1 is an input buffer circuit diagram of a conventional semiconductor device.

도 2는 상기 도 1에 사용되는 신호들의 타이밍도.2 is a timing diagram of signals used in FIG.

도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 장치의 입력 버퍼 회로도.3 is an input buffer circuit diagram of a semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.

도 4는 상기 도 3에 사용되는 신호들의 타이밍도.4 is a timing diagram of signals used in FIG. 3;

도 5는 상기 도 3에 도시된 제1 입력 레벨 조정부에 인가되는 제1 제어 전압을 제공하는 정전압 회로도.FIG. 5 is a constant voltage circuit diagram for providing a first control voltage applied to the first input level adjusting unit shown in FIG.

도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 반도체 장치의 입력 버퍼 회로도.6 is an input buffer circuit diagram of a semiconductor device according to the second embodiment of the present invention.

상기 과제를 이루기 위하여 본 발명은, 전원 전압과 접지 전압 사이에 입력 전압의 레벨을 반전시키는 수단을 가지며 제1 제어 신호에 의해 상기 입력 전압의 레벨을 반전시키는 제1 입력 전압 반전부 및 상기 제1 입력 전압 반전부에 연결되어 상기 접지 전압의 승압이 발생할 때 제1 제어 전압과 상기 제1 제어 신호에 의하여 상기 전원 전압과 출력단 및 상기 접지 전압과 출력단의 전류 공급 능력비를 조정하는 제1 입력 레벨 조정부를 구비하는 반도체 장치의 입력 버퍼를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a first input voltage inverting unit and the first input voltage inverting unit having a means for inverting the level of the input voltage between the power supply voltage and the ground voltage and inverting the level of the input voltage by a first control signal. A first input level connected to an input voltage inverter and configured to adjust a current supply capability ratio of the power supply voltage and the output terminal and the ground voltage and the output terminal according to a first control voltage and the first control signal when a boost of the ground voltage occurs; An input buffer of a semiconductor device having an adjusting unit is provided.

바람직하기는, 상기 제1 입력 전압 반전부는 그 출력단에 상기 제1 입력 전압 반전부에서 출력되는 신호와 동상인 신호 및 역상인 신호를 출력하는 제1 버퍼부를 더 구비한다.Preferably, the first input voltage inverting unit further includes a first buffer unit configured to output a signal in phase and a phase inverse to a signal output from the first input voltage inverting unit at an output terminal thereof.

또, 상기 제1 입력 전압 반전부는 상기 전원 전압에 소오스가 연결되고 상기 제1 제어 신호에 게이트가 연결된 제1 PMOS트랜지스터와, 상기 제1 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 게이트는 입력 신호에 연결되는 제2 PMOS트랜지스터와, 상기 제2 PMOS트랜지스터의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 접지 전압에 소오스가 연결된 제1 NMOS트랜지스터와, 상기 전원 전압에 소오스가 연결되고 상기 제1 입력 레벨 조정부에 게이트가 연결된 제3 PMOS트랜지스터와, 상기 제3 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제1 제어 신호에 게이트가 연결된 제4 PMOS트랜지스터와, 상기 제4 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제2 PMOS트랜지스터의 게이트에 게이트가 연결되며 상기 제2 PMOS트랜지스터의 드레인에 드레인이 연결된 제5 PMOS트랜지스터, 및 상기 제5 PMOS트랜지스터의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 제1 제어 신호에 게이트가 연결되며 접지 전압에 소오스가 연결된 제2 NMOS트랜지스터로 구성한다.The first input voltage inverting unit may include a first PMOS transistor having a source connected to the power supply voltage and a gate connected to the first control signal, a source connected to the drain of the first PMOS transistor, and a gate connected to the input signal. A second PMOS transistor, a first NMOS transistor having a drain and a gate connected to a drain and a gate of the second PMOS transistor, and a source connected to a ground voltage, and a source connected to the power voltage and the first input level controller A third PMOS transistor having a gate connected to the source; a fourth PMOS transistor having a source connected to the drain of the third PMOS transistor; and a source connected to a drain of the fourth control signal; and a source connected to the drain of the fourth PMOS transistor; A gate is connected to the gate of the second PMOS transistor and the drain is drained to the second PMOS transistor. A drain connected to the PMOS transistor 5, and the drain of the first PMOS transistor 5 is connected to a gate is connected to the first control signal is composed of the NMOS transistor source 2 is connected to a ground voltage.

또한, 상기 제1 입력 레벨 조정부는 상기 전원 전압에 소오스가 연결되고 상기 제1 제어 신호에 게이트가 연결된 제6 PMOS트랜지스터와, 상기 제6 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제1 제어 전압에 게이트가 연결되며 드레인이 상기 제1 입력 조정부의 출력단이 되는 제7 PMOS트랜지스터와, 상기 제7 PMOS트랜지스터의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 접지단에 소오스가 연결된 제3 NMOS트랜지스터, 및 상기 제3 NMOS트랜지스터의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 제1 제어 신호에 게이트가 연결되며 접지 전압에 소오스가 연결된 제4 NMOS트랜지스터로 구성한다.The first input level adjuster may include a sixth PMOS transistor having a source connected to the power supply voltage and a gate connected to the first control signal, and a source connected to the drain of the sixth PMOS transistor and connected to the first control voltage. A seventh PMOS transistor having a gate connected thereto and a drain thereof being an output terminal of the first input adjuster, a third NMOS transistor having a drain and a gate connected to the drain and the gate of the seventh PMOS transistor, and a source connected to the ground terminal; A fourth NMOS transistor includes a drain connected to a drain of the third NMOS transistor, a gate connected to the first control signal, and a source connected to a ground voltage.

상기 과제를 이루기 위하여 본 발명은 또한, 전원 전압과 접지 전압 사이에 입력 전압의 레벨을 반전시키는 수단을 가지며 제2 제어 신호에 의해 상기 입력 전압의 레벨을 반전시키는 제2 입력 전압 반전부와, 상기 제2 입력 전압 반전부의 출력단에 연결되어 상기 접지 전압과 출력단의 전류 공급 능력비를 높여주는 제어부 및 상기 제2 입력 전압 반전부에 연결되어 상기 접지 전압의 승압이 발생할 때 제2 제어 전압과 상기 제2 제어 신호에 의하여 상기 전원 전압과 출력단 및 상기 접지 전압과 출력단의 전류 공급 능력비를 조정하는 제2 입력 레벨 조정부를 구비하는 반도체 장치의 입력 버퍼를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention also provides a second input voltage inverting unit having a means for inverting the level of the input voltage between the power supply voltage and the ground voltage and inverting the level of the input voltage by a second control signal; A control unit connected to an output terminal of a second input voltage inverting unit to increase a current supply capability ratio of the ground voltage and an output terminal, and a second control voltage and the second control unit connected to the second input voltage inverting unit when a boost of the ground voltage occurs; And a second input level adjuster for adjusting a power supply voltage and an output terminal and a current supply capability ratio between the ground voltage and the output terminal according to a control signal.

바람직하기는, 상기 제2 입력 전압 반전부는 그 출력단에 상기 제2 입력 전압 반전부에서 출력되는 신호와 동상인 신호 및 역상인 신호를 출력하는 제2 버퍼부를 더 구비하며, 상기 제어부는 상기 제2 입력 전압 반전부의 출력단에 소오스가 연결되고 상기 제2 입력 레벨 조정부의 출력단에 게이트가 연결되며 상기 접지 전압에 소오스가 연결된 제9 NMOS트랜지스터로 구성한다.Preferably, the second input voltage inverting unit further includes a second buffer unit configured to output a signal in phase and a phase inverse to a signal output from the second input voltage inverting unit at an output terminal thereof, and the controller controls the second input voltage. A ninth NMOS transistor includes a source connected to an output terminal of an input voltage inverting unit, a gate connected to an output terminal of the second input level adjusting unit, and a source connected to the ground voltage.

또, 상기 제2 입력 전압 반전부는 상기 전원 전압에 소오스가 연결되고 상기 제2 제어 신호에 게이트가 연결된 제8 PMOS트랜지스터와, 상기 제8 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 게이트는 입력 신호에 연결된 제9 PMOS트랜지스터와, 상기 제9 PMOS트랜지스터의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 접지 전압에 소오스가 연결된 제5 NMOS트랜지스터와, 상기 전원 전압에 소오스가 연결되고 상기 제2 입력 레벨 조정부에 게이트가 연결된 제10 PMOS트랜지스터와, 상기 제10 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제2 제어 신호에 게이트가 연결된 제11 PMOS트랜지스터와, 상기 제11 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제9 PMOS트랜지스터의 게이트에 게이트가 연결되며 상기 제9 PMOS트랜지스터의 드레인에 드레인이 연결된 제12 PMOS트랜지스터, 및 상기 제12 PMOS트랜지스터의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 제2 제어 신호에 게이트가 연결되며 접지 전압에 소오스가 연결된 제6 NMOS트랜지스터로 구성한다.The second input voltage inverting unit may include an eighth PMOS transistor having a source connected to the power supply voltage and a gate connected to the second control signal, and a source connected to the drain of the eighth PMOS transistor and the gate connected to the input signal. A ninth PMOS transistor, a fifth NMOS transistor having a drain and a gate connected to a drain and a gate of the ninth PMOS transistor, and a source connected to a ground voltage, and a source connected to the power voltage and the second input level controller A tenth PMOS transistor having a gate connected thereto, an eleventh PMOS transistor having a source connected to a drain of the tenth PMOS transistor, and a gate connected to the second control signal, and a source connected to a drain of the eleventh PMOS transistor; A gate is connected to a gate of a 9th PMOS transistor and a drain is drained to the ninth PMOS transistor. Connected to the PMOS transistor 12, and the drain to a drain of the first PMOS transistor 12 is connected and the gate is connected to the second control signal is composed of the NMOS transistor source 6 is connected to a ground voltage.

또한, 상기 제2 입력 레벨 조정부는 상기 전원 전압에 소오스가 연결되고 상기 제2 제어 신호에 게이트가 연결된 제13 PMOS트랜지스터와, 상기 제13 PMOS트랜지스터의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제2 제어 전압에 게이트가 연결되며 드레인이 상기 제2 입력 조정부의 출력단이 되는 제14 PMOS트랜지스터와, 상기 제14 PMOS트랜지스터의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 접지 전압에 소오스가 연결된 제7 NMOS트랜지스터, 및 상기 제7 NMOS트랜지스터의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 제2 제어 신호에 게이트가 연결되며 접지 전압에 소오스가 연결된 제8 NMOS트랜지스터로 구성한다.The second input level adjuster may include a thirteenth PMOS transistor having a source connected to the power supply voltage and a gate connected to the second control signal, and a source connected to a drain of the thirteenth PMOS transistor and connected to the second control voltage. A fourteenth PMOS transistor having a gate connected thereto and a drain thereof being an output terminal of the second input adjuster; a seventh NMOS transistor having a drain and a gate connected to a drain and a gate of the fourteenth PMOS transistor and a source connected to a ground voltage; The eighth NMOS transistor includes a drain connected to a drain of the seventh NMOS transistor, a gate connected to the second control signal, and a source connected to a ground voltage.

상기 본 발명의 입력 버퍼에 따르면, 접지 전압의 승압이 발생하더라도 정상적인 출력 신호를 출력하게 된다.According to the input buffer of the present invention, a normal output signal is output even when a voltage rise of the ground voltage occurs.

이하, 실시예를 통하여 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail through examples.

도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 장치의 입력 버퍼 회로도이다. 도 3에 도시된 입력 버퍼 회로는 전원 전압인 Vdd와 접지 전압인 GND 사이에 제1 입력 전압인 XA2의 레벨을 반전시키는 수단을 가지며 제1 제어 신호인 CS2b에 의해 상기 XA2의 전압 레벨을 반전시키는 제1 입력 전압 반전부(21)와, 상기 제1 입력 전압 반전부(21)에 연결되어 상기 GND의 승압이 발생할 때 제1 제어 전압인 VREF2와 상기 CS2b에 의하여 상기 VDD와 출력단 및 상기 GND와 출력단의 전류 공급 능력비를 조정하는 제1 입력 레벨 조정부(23), 및 상기 제1 입력 전압 반전부(21)의 출력단에 연결되어 상기 제1 입력 전압 반전부(21)에서 출력되는 신호와 동상 신호인 A2 및 역상 신호인 A2b를 출력하는 제1 버퍼부(25)로 구성되어있다.3 is an input buffer circuit diagram of a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. The input buffer circuit shown in FIG. 3 has a means for inverting the level of the first input voltage XA2 between the power supply voltage Vdd and the ground voltage GND and inverts the voltage level of the XA2 by the first control signal CS2b. Connected to the first input voltage inverting unit 21 and the first input voltage inverting unit 21 when the voltage rising of the GND occurs, the first control voltage VREF2 and the CS2b are connected to the VDD and the output terminal and the GND; In phase with the signal output from the first input voltage inverting unit 21 connected to the first input level adjusting unit 23 for adjusting the current supply capability ratio of the output stage and the output terminal of the first input voltage inverting unit 21. The first buffer section 25 outputs A2 as a signal and A2b as a reverse phase signal.

상기 제1 입력 전압 반전부(21)는 상기 Vdd에 소오스가 연결되고 상기 CS2b에 게이트가 연결된 제1 PMOS트랜지스터(31)와, 상기 제1 PMOS트랜지스터(31)의 드레인에 소오스가 연결되고 게이트는 XA2에 연결되는 제2 PMOS트랜지스터(32)와, 상기 제2 PMOS트랜지스터(32)의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 GND에 소오스가 연결된 제1 NMOS트랜지스터(41)와, 상기 Vdd에 소오스가 연결되고 상기 제1 입력 레벨 조정부(23)에 게이트가 연결된 제3 PMOS트랜지스터(33)와, 상기 제3 PMOS트랜지스터(33)의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 CS2b에 게이트가 연결된 제4 PMOS트랜지스터(34)와, 상기 제4 PMOS트랜지스터(34)의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제2 PMOS트랜지스터(32)의 게이트에 게이트가 연결되며 상기 제2 PMOS트랜지스터(32)의 드레인에 드레인이 연결된 제5 PMOS트랜지스터(35), 및 상기 제5 PMOS트랜지스터(35)의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 CS2b에 게이트가 연결되며 GND에 소오스가 연결된 제2 NMOS트랜지스터(42)로 구성되어있다.The first input voltage inverting unit 21 has a first PMOS transistor 31 having a source connected to the Vdd and a gate connected to the CS2b, and a source connected to the drain of the first PMOS transistor 31. A second PMOS transistor 32 connected to XA2, a first NMOS transistor 41 having a drain and a gate connected to a drain and a gate of the second PMOS transistor 32, and a source connected to GND, and a Vdd A third PMOS transistor 33 having a source connected thereto and a gate connected to the first input level adjusting unit 23, and a fourth PMOS having a source connected to a drain of the third PMOS transistor 33 and a gate connected to the CS2b; A source is connected to the transistor 34 and the drain of the fourth PMOS transistor 34, a gate is connected to the gate of the second PMOS transistor 32, and a drain is connected to the drain of the second PMOS transistor 32. 5th PMOS A transistor 35 and a second NMOS transistor 42 having a drain connected to the drain of the fifth PMOS transistor 35, a gate connected to the CS2b, and a source connected to GND.

상기 제2 PMOS트랜지스터(32)와 제1 NMOS트랜지스터(41)와 제5 PMOS트랜지스터(35)와 제2 NMOS트랜지스터(42)의 각 드레인이 공통으로 연결되어있는 노드를 ND2라 한다.A node to which the respective drains of the second PMOS transistor 32, the first NMOS transistor 41, the fifth PMOS transistor 35, and the second NMOS transistor 42 are commonly connected is referred to as ND2.

상기 제1 입력 레벨 조정부(23)는 상기 Vdd에 소오스가 연결되고 상기 CS2b에 게이트가 연결된 제6 PMOS트랜지스터(36)와, 상기 제6 PMOS트랜지스터(36)의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 VREF2에 게이트가 연결되며 드레인이 상기 제1 입력 레벨 조정부(23)의 출력단이 되는 제7 PMOS트랜지스터(37)와, 상기 제7 PMOS트랜지스터(37)의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 GND에 소오스가 연결된 제3 NMOS트랜지스터(43), 및 상기 제3 NMOS트랜지스터(43)의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 CS2b에 게이트가 연결되며 GND에 소오스가 연결된 제4 NMOS트랜지스터(44)로 구성되어있다.The first input level adjuster 23 has a sixth PMOS transistor 36 having a source connected to the Vdd and a gate connected to the CS2b, and a source connected to the drain of the sixth PMOS transistor 36 and connected to the VREF2. A gate is connected and a drain is connected to a seventh PMOS transistor 37 and a drain and a gate of the seventh PMOS transistor 37, which are the output terminals of the first input level adjuster 23, respectively. A third NMOS transistor 43 having a source connected thereto, and a fourth NMOS transistor 44 having a drain connected to a drain of the third NMOS transistor 43 and a gate connected to CS2b and a source connected to GND. .

상기 제7 PMOS트랜지스터(37)와 제3 NMOS트랜지스터(43)와 제4 NMOS트랜지스터(44)의 각 드레인이 공통으로 연결되어있는 노드를 ND3이라 한다.A node in which the respective drains of the seventh PMOS transistor 37, the third NMOS transistor 43, and the fourth NMOS transistor 44 are connected in common is referred to as ND3.

상기 제1 버퍼부(25)는 상기 제1 입력 전압 반전부(21)의 출력단에 순차적으로 연결된 제1 내지 제3 인버터들(81,82,83)과, 상기 제1 인버터(81)의 출력을 입력으로 하는 제4 인버터(84)로 구성되어있다. 상기 제3 인버터(83)의 출력 신호가 상기 제1 입력 전압 반전부(21)의 출력 신호와 역상인 A2이고, 상기 제4 인버터(84)의 출력 신호가 상기 제1 입력 전압 반전부(21)의 출력 신호와 동상인 A2b이다.The first buffer unit 25 includes first to third inverters 81, 82, and 83 sequentially connected to an output terminal of the first input voltage inverting unit 21, and an output of the first inverter 81. It consists of the 4th inverter 84 which takes in an input. The output signal of the third inverter 83 is A2 which is in phase with the output signal of the first input voltage inverting unit 21, and the output signal of the fourth inverter 84 is the first input voltage inverting unit 21. ) Is A2b in phase with the output signal.

도 4는 상기 도 3에 사용되는 신호들의 타이밍도이다. 도 4를 참조하여 도 3의 입력 버퍼의 동작을 설명하기로 한다. 먼저, N1이 완전히 도통되게하는 입력 전압을 VIH라고 한다. 여기서, ND2의 전압이 논리 '1'이 되거나 논리 '0'이 되는 경계선 상의 전압은 제1 NMOS트랜지스터(41)와 제2 PMOS트랜지스터(32) 및 제5 PMOS트랜지스터(35)의 전류 구동 능력에 좌우되고 이러한 경계선 상의 전압을 입력 레벨이라고 한다. 즉, 제2 PMOS트랜지스터(32)에 비해 제1 NMOS트랜지스터(41)의 구동 능력이 상대적으로 크면 입력 레벨은 하향 조정되어 상대적으로 높은 VIH에서도 ND2의 전압은 논리 '0'을 유지할 것이고, 제2 PMOS트랜지스터(32)에 비해 제1 NMOS트랜지스터(41)의 전류 구동 능력이 상대적으로 작으면 입력 레벨은 상향 조정되어 상대적으로 낮은 VIH에서도 ND2의 전압은 쉽게 논리 '1'로 변화할 수 있다. 그런데 제2 PMOS트랜지스터(32)와 제5 PMOS트랜지스터(35)가 병렬로 연결되어있으므로 도 3과 같은 입력 버퍼에서는 제2 PMOS트랜지스터(32)와 제5 PMOS트랜지스터(35) 및 제1 NMOS트랜지스터(41)의 전류 구동 능력의 비에 따라 입력 레벨이 결정된다.4 is a timing diagram of signals used in FIG. 3. An operation of the input buffer of FIG. 3 will be described with reference to FIG. 4. First, the input voltage that causes N1 to be fully conducted is called VIH. Here, the voltage on the boundary line where the voltage of ND2 becomes logic '1' or logic '0' is based on the current driving capability of the first NMOS transistor 41, the second PMOS transistor 32, and the fifth PMOS transistor 35. The voltage on these boundaries is called the input level. That is, if the driving capability of the first NMOS transistor 41 is relatively larger than that of the second PMOS transistor 32, the input level is adjusted downward so that the voltage of ND2 is maintained at logic '0' even at a relatively high VIH. When the current driving capability of the first NMOS transistor 41 is relatively smaller than that of the PMOS transistor 32, the input level is adjusted upward so that the voltage of ND2 can be easily changed to logic '1' even at a relatively low VIH. However, since the second PMOS transistor 32 and the fifth PMOS transistor 35 are connected in parallel, in the input buffer as shown in FIG. 3, the second PMOS transistor 32, the fifth PMOS transistor 35, and the first NMOS transistor ( The input level is determined according to the ratio of the current driving capability of 41).

정상적인 동작 상태에서는 XA2의 전압은 VIH가 된다. 따라서 제1 NMOS트랜지스터(41)는 도통하고 제2 PMOS트랜지스터(32)는 불통이 되어 제1 입력 전압 반전부(21)의 출력 전압인 ND2는 논리 '0'이 된다. 그러면 A2는 논리 '1'이 되고 A2b는 논리 '0'이 된다. 이 때 도 4에 나타낸 것처럼 T 시간동안 접지 전압의 승압이 발생하여 GND가 Vt2만큼 상승하면, 제1 입력 전압 반전부(21)의 입력 레벨과 제1 입력 레벨 조정부(23)의 입력 레벨이 동시에 상승한다. 하지만, 제2 PMOS트랜지스터(32)와 제5 PMOS트랜지스터(35) 및 제1 NMOS트랜지스터(41)의 전류 구동 능력의 비율로 결정되는 제1 입력 전압 반전부(21)의 입력 레벨보다 제7 PMOS트랜지스터(37)와 제3 NMOS트랜지스터(43)의 전류 구동 능력의 비율로 결정되는 제1 입력 레벨 조정부(23)의 입력 레벨이 더 높은 경우, 낮은 VT2에서 제1 입력 레벨 조정부(23)의 출력 전압은 논리 '0'에서 논리 '1'로 천이된다. 그러나, 제1 입력 전압 반전부(21)의 입력 레벨은 제1 입력 레벨 조정부(23)의 입력 레벨보다 낮기 때문에 상기 낮은 VT2에서는 제1 입력 전압 반전부(21)의 출력 전압은 변하지 않는다. 제1 입력 레벨 반전부의 출력 전압이 논리 '1', 즉 ND3의 전압이 논리 '1'이기 때문에 제3 PMOS트랜지스터(33)는 불통이 된다. 그로 인하여 제1 입력 전압 반전부(21)의 입력 레벨은 제2 PMOS트랜지스터(32)와 제1 NMOS트랜지스터(41)의 전류 구동 능력의 비율에 의하여 결정되므로 제1 입력 전압 반전부(21)의 입력 레벨은 더 낮아져서 VT2가 더 높아지더라도 ND2의 전압 레벨은 변하지 않게 되어 도 3에 도시된 입력 버퍼는 정상적인 동작을 수행하게 된다.Under normal operating conditions, the voltage on XA2 is VIH. Accordingly, the first NMOS transistor 41 is turned on and the second PMOS transistor 32 is turned off so that ND2, which is the output voltage of the first input voltage inverting section 21, becomes a logic '0'. Then A2 becomes logic '1' and A2b becomes logic '0'. At this time, as shown in FIG. 4, when the voltage of the ground voltage is increased during T time and GND rises by Vt2, the input level of the first input voltage inverting unit 21 and the input level of the first input level adjusting unit 23 simultaneously occur. To rise. However, the seventh PMOS is greater than the input level of the first input voltage inverting unit 21 determined by the ratio of the current driving capability of the second PMOS transistor 32, the fifth PMOS transistor 35, and the first NMOS transistor 41. When the input level of the first input level adjuster 23, which is determined by the ratio of the current driving capability of the transistor 37 and the third NMOS transistor 43, is higher, the output of the first input level adjuster 23 at a low VT2. Voltage transitions from logic '0' to logic '1'. However, since the input level of the first input voltage inverting unit 21 is lower than the input level of the first input level adjusting unit 23, the output voltage of the first input voltage inverting unit 21 does not change at the low VT2. Since the output voltage of the first input level inverting unit is a logic '1', that is, the voltage of the ND3 is a logic '1', the third PMOS transistor 33 is turned off. Therefore, since the input level of the first input voltage inverting unit 21 is determined by the ratio of the current driving capability of the second PMOS transistor 32 and the first NMOS transistor 41, Even though the input level is lowered and VT2 is higher, the voltage level of ND2 does not change, so that the input buffer shown in FIG. 3 performs normal operation.

또한, 상기 제1 입력 레벨 조정부(23)는 잡음 신호에 의한 GND의 승압이 도 1의 입력 버퍼를 비정상적으로 동작시킬 정도로 발생하는 경우에만 동작하여 자동으로 입력 레벨을 하향 조정하므로 하향 조정된 입력 레벨에 의한 반도체 장치의 전체 동작 속도의 저하, 입력 신호의 상태에 따른 동작 특성의 불균형 등 반도체 장치 전체의 동작 특성을 악화시키는 동작 상태인 저동작 전압, 고동작 온도의 조건에서는 잡음 신호가 통상적으로 발생치 않아 상기 제1 입력 레벨 조정부(23)도 동작하지 않는다. 뿐만 아니라 잡음 신호가 흔히 발생하여 상기 입력 버퍼가 동작하는 고동작 전압, 저동작 온도에서는 입력 레벨 하향 조정에 따른 반도체 장치 전체의 동작 특성의 악화가 발생할 소지가 없어 입력 버퍼의 동작 상에 별 다른 문제가 없다.In addition, the first input level adjusting unit 23 operates only when the boost of the GND due to the noise signal occurs to abnormally operate the input buffer of FIG. Noise signals typically occur under conditions of low operating voltage and high operating temperature, which are operating conditions that degrade the overall operating characteristics of the semiconductor device, such as a decrease in the overall operating speed of the semiconductor device and an unbalance of operating characteristics depending on the state of the input signal. Therefore, the first input level adjuster 23 also does not operate. In addition, noise signals frequently occur, and therefore, the high operating voltage and the low operating temperature at which the input buffer operates may not deteriorate the operating characteristics of the entire semiconductor device due to the lowering of the input level. There is no.

도 5는 도 3에 도시된 제1 입력 레벨 조정부(23)에 인가되는 제1 제어 전압인 VREF2를 제공하는 정전압 회로도이다. 도 5의 정전압 회로(91)는 공지의 회로이므로 설명을 생략하기로 한다.FIG. 5 is a constant voltage circuit diagram of providing VREF2, which is a first control voltage applied to the first input level adjuster 23 shown in FIG. Since the constant voltage circuit 91 of FIG. 5 is a known circuit, description thereof will be omitted.

도 6는 본 발명의 제2 실시예에 따른 반도체 장치의 입력 버퍼 회로도이다. 도 5에 도시된 입력 버퍼는 전원 전압인 Vdd와 접지 전압인 GND 사이에 제2 입력 전압인 XA3의 레벨을 반전시키는 수단을 가지며 제2 제어 신호인 CS3b에 의해 상기 XA3의 레벨을 반전시키는 제2 입력 전압 반전부(51)와, 상기 제2 입력 전압 반전부(51)의 출력단에 연결되어 상기 GND와 출력단의 전류 공급 능력비를 높여주는 제어부(55)와, 상기 제2 입력 전압 반전부(51)에 연결되어 상기 GND의 승압이 발생할 때 VREF3와 상기 CS3b에 의하여 상기 Vdd와 출력단 및 상기 GND와 출력단의 전류 공급 능력비를 조정하는 제2 입력 레벨 조정부(53), 및 상기 제2 입력 전압 반전부(51)의 출력을 입력으로하여 상기 제2 입력 전압 반전부(51)에서 출력되는 신호와 동상 신호인 A3 및 역상 신호인 A3b를 출력하는 제2 버퍼부(57)로 구성되어있다.6 is an input buffer circuit diagram of a semiconductor device according to a second embodiment of the present invention. The input buffer shown in FIG. 5 has a means for inverting the level of the second input voltage XA3 between the power supply voltage Vdd and the ground voltage GND, and a second inverting the level of the XA3 by the second control signal CS3b. A control unit 55 connected to an input voltage inverting unit 51, an output terminal of the second input voltage inverting unit 51, and increasing a current supply capability ratio between the GND and the output terminal; and the second input voltage inverting unit ( A second input level adjuster 53 for adjusting a current supply capability ratio between the Vdd and the output terminal and the GND and the output terminal by VREF3 and CS3b when the voltage boosting of the GND occurs, and the second input voltage. The second buffer unit 57 is configured to output the inverting unit 51 as an input and output the signal output from the second input voltage inverting unit 51, A3, which is an in-phase signal, and A3b, which is an antiphase signal.

상기 제2 입력 전압 반전부(51)는 상기 Vdd에 소오스가 연결되고 상기 CS3b에 게이트가 연결된 제8 PMOS트랜지스터(61)와, 상기 제8 PMOS트랜지스터(61)의 드레인에 소오스가 연결되고 게이트는 XA3에 연결되는 제9 PMOS트랜지스터(62)와, 상기 제9 PMOS트랜지스터(62)의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 GND에 소오스가 연결된 제5 NMOS트랜지스터(71)와, 상기 Vdd에 소오스가 연결되고 상기 제2 입력 레벨 조정부(53)에 게이트가 연결된 제10 PMOS트랜지스터(63)와, 상기 제10 PMOS트랜지스터(63)의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 CS3b에 게이트가 연결된 제11 PMOS트랜지스터(64)와, 상기 제11 PMOS트랜지스터(64)의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 제9 PMOS트랜지스터(62)의 게이트에 게이트가 연결되며 상기 제9 PMOS트랜지스터(62)의 드레인에 드레인이 연결된 제12 PMOS트랜지스터(65), 및 상기 제12 PMOS트랜지스터(65)의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 CS3b에 게이트가 연결되며 GND에 소오스가 연결된 제6 NMOS트랜지스터(72)로 구성되어있다.The second input voltage inversion unit 51 has an eighth PMOS transistor 61 having a source connected to the Vdd and a gate connected to the CS3b, a source connected to a drain of the eighth PMOS transistor 61, and the gate A ninth PMOS transistor 62 connected to XA3, a fifth NMOS transistor 71 connected to a drain and a gate of the ninth PMOS transistor 62, and a source connected to GND, and to Vdd; An eleventh PMOS transistor 63 having a source connected thereto and a gate connected to the second input level adjuster 53, and an eleventh PMOS connected to a drain of the tenth PMOS transistor 63 and a gate connected to the CS3b. A source is connected to a transistor 64 and a drain of the eleventh PMOS transistor 64, a gate is connected to a gate of the ninth PMOS transistor 62, and a drain is connected to a drain of the ninth PMOS transistor 62. Article 12 A sixth NMOS transistor 72 includes a PMOS transistor 65 and a drain connected to a drain of the twelfth PMOS transistor 65, a gate connected to the CS3b, and a source connected to GND.

상기 제2 입력 레벨 조정부(53)는 상기 Vdd에 소오스가 연결되고 상기 CS3b에 게이트가 연결된 제13 PMOS트랜지스터(66)와, 상기 제13 PMOS트랜지스터(66)의 드레인에 소오스가 연결되고 상기 VREF3에 게이트가 연결되며 드레인이 상기 제2 입력 레벨 조정부의 출력단이 되는 제14 PMOS트랜지스터(67)와, 상기 제14 PMOS트랜지스터(67)의 드레인과 게이트에 드레인과 게이트가 각각 연결되고 GND에 소오스가 연결된 제7 NMOS트랜지스터(73), 및 상기 제7 NMOS트랜지스터(73)의 드레인에 드레인이 연결되고 상기 CS3b에 게이트가 연결되며 GND에 소오스가 연결된 제8 NMOS트랜지스터(74)로 구성되어있다.The second input level adjuster 53 has a thirteenth PMOS transistor 66 having a source connected to the Vdd and a gate connected to the CS3b, and a source connected to the drain of the thirteenth PMOS transistor 66 and connected to the VREF3. A gate is connected and a drain thereof is an output terminal of the second input level adjusting unit. A drain and a gate are connected to a drain and a gate of the fourteenth PMOS transistor 67, and a source is connected to GND. A seventh NMOS transistor 73 and an eighth NMOS transistor 74 having a drain connected to the drain of the seventh NMOS transistor 73, a gate connected to the CS3b, and a source connected to GND.

상기 제어부(55)는 상기 제2 입력 전압 반전부(51)의 출력단에 소오스가 연결되고 상기 제2 입력 레벨 조정부(53)의 출력단에 게이트가 연결되며 상기 GND에 소오스가 연결된 제9 NMOS트랜지스터(75)로 구성되어있다.The control unit 55 has a ninth NMOS transistor having a source connected to an output terminal of the second input voltage inverting unit 51, a gate connected to an output terminal of the second input level adjusting unit 53, and a source connected to the GND. 75).

상기 제2 버퍼부(57)는 상기 제2 입력 전압 반전부(51)의 출력단에 순차적으로 연결된 제5 내지 제7 인버터들(86,87,88)과, 상기 제5 인버터(86)의 출력을 입력으로 하는 제8 인버터(89)로 구성되어있다. 상기 제7 인버터(88)의 출력 신호가 상기 제2 입력 전압 반전부(51)의 출력 신호와 역상인 A3이고, 상기 제8 인버터(89)의 출력 신호가 상기 제2 입력 전압 반전부(51)의 출력 신호와 동상인 A3b이다.The second buffer unit 57 may include fifth to seventh inverters 86, 87, and 88 sequentially connected to an output terminal of the second input voltage inverting unit 51, and an output of the fifth inverter 86. And an eighth inverter 89 having the input as the input. The output signal of the seventh inverter 88 is A3 which is in phase with the output signal of the second input voltage inversion unit 51, and the output signal of the eighth inverter 89 is the second input voltage inversion unit 51. ) Is A3b in phase with the output signal.

상기 VREF3을 공급하는 회로로는 도 5의 정전압 회로(91)가 이용된다.As the circuit for supplying the VREF3, the constant voltage circuit 91 of FIG. 5 is used.

도 6에 도시된 입력 버퍼의 동작은 도 3에 도시된 회로의 동작과 동일하므로 중복 설명은 생략하기로 한다. 다만, GND가 증가할 경우 제2 입력 레벨 조정부(53)의 출력 전압이 논리 '1'이 되어 제9 NMOS트랜지스터(75)가 도통하게 되고 그로 인하여 제2 입력 전압 반전부(51)의 출력 전압은 제9 PMOS트랜지스터(62) 및 제5 NMOS트랜지스터(71)와 제9 NMOS트랜지스터(75)의 전류 구동 능력의 비율에 의해 결정된다.Since the operation of the input buffer shown in FIG. 6 is the same as the operation of the circuit shown in FIG. 3, redundant description will be omitted. However, when GND increases, the output voltage of the second input level adjuster 53 becomes logic '1', causing the ninth NMOS transistor 75 to conduct, thereby causing the output voltage of the second input voltage inverter 51. Is determined by the ratio of the current driving capability of the ninth PMOS transistor 62 and the fifth NMOS transistor 71 and the ninth NMOS transistor 75.

또한, 상기 도 5에서 제10 PMOS트랜지스터(63)와 제11 PMOS트랜지스터(64) 및 제12 PMOS트랜지스터(65)가 제거되어도 동일한 효과를 가져올 수 있다.In addition, even if the tenth PMOS transistor 63, the eleventh PMOS transistor 64, and the twelfth PMOS transistor 65 are removed in FIG. 5, the same effect may be obtained.

본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않으며, 많은 변형이 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 가능함은 명백하다.The present invention is not limited to the above embodiments, and it is apparent that many modifications are possible by those skilled in the art within the technical spirit of the present invention.

상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 접지 전압의 승압이 발생하더라도 일정한 출력 전압을 출력할 수 있다. 또, 단순한 입력 레벨의 변경에 따른 반도체 장치의 전체 동작 속도의 저하, 입력 신호의 상태에 따른 동작 특성의 불균형 등 반도체 장치의 전체 동작 특성이 악화되지 않는다.As described above, according to the present invention, a constant output voltage can be output even when a voltage rise of the ground voltage occurs. In addition, the overall operating characteristics of the semiconductor device, such as a decrease in the overall operating speed of the semiconductor device due to a simple change of the input level and an imbalance in operating characteristics according to the state of the input signal, are not deteriorated.

Claims

A first input voltage inverting portion having means for inverting the level of the first input voltage between a power supply voltage and a ground voltage and inverting the level of the first input voltage by a control signal; And

A current control capability ratio of the power supply voltage and the output terminal and the ground voltage and the output terminal according to the first control voltage and the first control signal when the voltage rise of the ground voltage occurs when the voltage rise of the ground voltage occurs; An input buffer of a semiconductor device, comprising: an input level adjusting unit.

The semiconductor device of claim 1, wherein the first input voltage inverting unit further comprises a first buffer unit configured to output a signal in phase and a phase inverse to a signal output from the first input voltage inverting unit at an output terminal thereof. Input buffer of the device.

3. The display device of claim 2, wherein the first buffer unit comprises first to third inverters sequentially connected to an output terminal of the first input voltage inverting unit, and a fourth inverter configured to receive an output of the first inverter. A third inverter outputs a signal in phase opposite to that output from the first input voltage inverting unit, and a signal in phase with the signal output from the first input voltage inverting unit is output from the fourth inverter. Input buffer of semiconductor device.

The gate driving circuit of claim 1, wherein the first input voltage inverting unit comprises: a first PMOS transistor having a source connected to the first power source and a gate connected to the first control signal; and a source connected to a drain of the first PMOS transistor; Is a second PMOS transistor connected to a first input signal, a first NMOS transistor having a drain and a gate connected to a drain and a gate of the second PMOS transistor, and a source connected to a ground voltage, and a source to the first power source. A third PMOS transistor connected to a gate of the first input level controller, a fourth PMOS transistor connected to a source of a drain of the third PMOS transistor, and a gate connected to the first control signal, and the fourth PMOS transistor; A source is connected to the drain of the gate and a gate is connected to the gate of the second PMOS transistor, and the drain of the second PMOS transistor is A fifth PMOS transistor having a drain connected to an in and a second NMOS transistor having a drain connected to a drain of the fifth PMOS transistor, a gate connected to the first control signal, and a source connected to a ground voltage; Input buffer of semiconductor device.

The sixth PMOS transistor of claim 1, wherein the first input level adjuster comprises a sixth PMOS transistor having a source connected to the first power supply and a gate connected to the first control signal, and a source connected to a drain of the sixth PMOS transistor. A seventh PMOS transistor having a gate connected to a first control voltage and a drain thereof being an output terminal of the first input adjuster, a drain and a gate connected to a drain and a gate of the seventh PMOS transistor, and a source connected to a ground voltage; And an NMOS transistor and a fourth NMOS transistor having a drain connected to a drain of the third NMOS transistor, a gate connected to the first control signal, and a source connected to a ground voltage.

A second input voltage inverting portion having means for inverting the level of the second input voltage between a power supply voltage and a ground voltage and inverting the level of the second input voltage by a second control signal;

A control unit connected to an output terminal of the second input voltage inverting unit to increase a ratio of the current supply capability of the ground voltage to the output terminal; And

A second control voltage connected to the second input voltage inverter and configured to adjust a current supply capability ratio between the power supply voltage and the output terminal and the ground voltage and the output terminal according to a second control voltage and the second control signal when a boost of the ground voltage occurs; 2. An input buffer of a semiconductor device, comprising: an input level adjusting unit.

The semiconductor device of claim 6, wherein the second input voltage inverting unit further includes a second buffer unit configured to output a signal in phase and a reverse phase to a signal output from the second input voltage inverting unit at an output terminal thereof. Input buffer of the device.

7. The gate driving circuit of claim 6, wherein the second input voltage inversion unit has an eighth PMOS transistor having a source connected to the power source and a gate connected to the second control signal, and a source connected to a drain of the eighth PMOS transistor. A ninth PMOS transistor connected to a signal, a fifth NMOS transistor having a drain and a gate connected to a drain and a gate of the ninth PMOS transistor, and a source connected to a ground voltage, and a source connected to the power supply and the second input; A tenth PMOS transistor having a gate connected to a level adjuster, a source connected to a drain of the tenth PMOS transistor, and a source connected to a drain of the eleventh PMOS transistor, and a source connected to a drain of the eleventh PMOS transistor And a gate is connected to a gate of the ninth PMOS transistor and connected to a drain of the ninth PMOS transistor. And a sixth NMOS transistor having a phosphorus connected twelfth PMOS transistor and a drain connected to a drain of the twelfth PMOS transistor, a gate connected to the second control signal, and a source connected to a ground voltage. Input buffer.

The semiconductor device of claim 6, wherein the second input level adjuster comprises a thirteenth PMOS transistor having a source connected to the power source, and a gate connected to the second control signal, and a source connected to a drain of the thirteenth PMOS transistor; A seventeenth PMOS transistor having a gate connected to a control voltage and a drain thereof being an output terminal of the input adjuster, a seventh NMOS transistor having a drain and a gate connected to a drain and a gate of the fourteenth PMOS transistor, and a source connected to a ground voltage, And an eighth NMOS transistor having a drain connected to a drain of the seventh NMOS transistor, a gate connected to the second control signal, and a source connected to a ground voltage.

The NMOS transistor of claim 6, wherein the controller comprises a ninth NMOS transistor having a source connected to an output terminal of the second input voltage inverting unit, a gate connected to an output terminal of the second input level adjusting unit, and a source connected to the ground voltage. Input buffer of semiconductor device.