KR19980075376A - Dedicated Test Equipment and Method of TQM - Google Patents

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KR19980075376A KR1019970011587A KR19970011587A KR19980075376A KR 19980075376 A KR19980075376 A KR 19980075376A KR 1019970011587 A KR1019970011587 A KR 1019970011587A KR 19970011587 A KR19970011587 A KR 19970011587A KR 19980075376 A KR19980075376 A KR 19980075376A
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전찬욱
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배순훈
대우전자 주식회사
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 역무자동화(AFC) 시스템장비인 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치 및 방법을 제공한다.The present invention provides a dedicated test apparatus and method for a machine control unit (TQM), which is an AFC system equipment.

이 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치는, 역무자동화(AFC) 시스템장비인 발매기 주제어부(TQM)의 수리를 위하여 그 이상여부를 시험하는 장치에 관한 것이며, TQM보드(1)를 배치하는 지지대(120)와; 상기 TQM보드(1)를 보호하기 위하여 상기 지지대(120)상에 형성되는 복수개의 돌출부로 구성되는 보드받침부재(140)와; 상기 TQM보드(1)가 작동하는데 필요한 전원을 공급하는 전원공급장치(160); 그리고 상기 전원공급장치(160)와 TQM보드(1)를 연결하는 전원인가선(180)으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The dedicated testing apparatus for the TQM machine is related to a device for testing whether or not the TQM, which is an AFC system equipment, is repaired for the repair of the TQM board. A support 120; A board support member 140 composed of a plurality of protrusions formed on the support 120 to protect the TQM board 1; A power supply device 160 for supplying power required for the TQM board 1 to operate; And it is characterized in that consisting of a power supply line 180 connecting the power supply device 160 and the TQM board (1).

이와 같은 본 발명의 구성에 의하면 발매기 주제어부(TQM)를 시험하고 수리하기 위한 전용수리장치가 제공되어 시험하거나 수리하는 작업이 용이해지는 효과가 있다.According to the configuration of the present invention as described above is provided with a dedicated repair apparatus for testing and repairing the main machine control unit (TQM) has the effect of making it easy to test or repair.

Description

발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치 및 방법Dedicated Test Equipment and Method of TQM

본 발명은 역무자동화(AFC) 시스템장비인 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치 및 방법에 관한 것이며, 특히 역무자동화 시스템 장비들인 보통권발매기, 정액권발매기, 정산기, 발권기 등에 장착되는 발매기 주제어부(TQM)를 각 기능의 이상여부를 파악하면서 수리가 가능하도록 하여 시험 및 수리작업을 용이하게 하는 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a dedicated test apparatus and method for a machine control unit (TQM), which is an AFC system equipment, and a machine control unit (e.g., a ticket machine, a fixed ticket machine, a payment machine, a ticket machine, etc.) The present invention relates to a dedicated testing apparatus and method for a main machine part (TQM) of a vending machine, which makes it possible to repair and check the abnormality of each function.

일반적으로 많은 이용자를 처리해야 하는 지하철에는 매표, 개찰, 집찰, 정산 등의 역무가 모두 무인으로 이루어지도록 하는 역무자동화(AFC) 시스템이 구축되어 다수의 승객을 신속히 처리하고 있다. AFC 시스템에 채용되는 장비에는 승차권발매를 기본 기능으로 하는 보통권발매기(ATVM), 정액권발매기(ATF), 정산기(AAM), 발권기(TOM) 등과 승객의 역내외 통행을 담당하는 개집표기와 같은 단말 장비가 있고, 이들 단말장비들은 상위레벨인 역단위전산시스템과 통신선으로 연결된다. 또한 이들 단말장비들은 단위장치, 예컨대 주제어부(TQM), 승차권발행부(TIU)를 포함하며 이외에도 동전처리부나 지폐처리부와 같은 요금관련 단위 장치와 승객이나 역무원이 단말장비를 조작할 수 있도록 하는 조작판넬 등을 구비하여 구성된다.In general, the subway, which has to deal with a large number of users, is equipped with an AFC system that allows all the tasks such as ticketing, ticketing, billing, and settlement to be done unattended. Equipment used in the AFC system includes terminals such as a general ticket vending machine (ATVM), flat ticket vending machine (ATF), payment machine (AAM), ticket vending machine (TOM), etc., which have a basic function of ticket sales. There is equipment, and these terminal equipments are connected to the upper level reverse computer system by communication line. In addition, these terminal equipments include unit devices such as a main control unit (TQM) and a ticket issuing unit (TIU). In addition, a fare-related unit device such as a coin processing unit or a bill processing unit and an operation for allowing a passenger or a station employee to operate the terminal equipment It is provided with a panel and the like.

도 1에 본 발명에 따른 시험장치가 적용되는 대상인 통상적인 발매기 주제어부(TQM)의 구성이 도식적으로 예시되어 있다. 상술한 바와 같은 단위장치들 중에서 주제어부(TQM)(1)는 보통권발매기나 발권기와 같은 단말장비들의 내부에 장착되어 다른 단위장치들인 승차권발행부(TIU)와 동전 및 지폐처리부 등의 동작을 제어하는 역할을 한다. 또한, TQM은 하나의 단말장비를 구성하는 각 단위장치들의 동작을 총괄적으로 제어할 뿐만 아니라, 각 단위장치와 상위레벨간에 중간에 위치하여 각 단위장치들로부터 수집되는 정보들 예컨대 승차권발매완료정보, 승차권 발매시 에러정보 등을 상위레벨로 송출하는 역할도 한다.1 schematically illustrates a configuration of a conventional machine main control unit (TQM) to which a test apparatus according to the present invention is applied. Among the unit devices described above, the main control unit (TQM) 1 is mounted inside terminal equipment such as a ticket machine or ticket machine, and operates other unit devices such as a ticket issuing unit (TIU), a coin and bill processing unit, and the like. It has a role to control. In addition, the TQM not only collectively controls the operation of each unit device constituting one terminal device, but also is located between each unit device and a higher level, and information collected from each unit device, for example, ticket sale completion information, It also plays a role of sending error information to the upper level when the ticket is released.

도 1에 도시되어 있는 바와 같이 TQM(1)은 보통권발매기와 같은 하나의 단말장비를 구성하는 모든 단위장치들 예컨대 저널프린터부, 역무원판넬부, 전면판넬부, 지폐처리부, 동전처리부, 승차권발행부(TIU)등과 연결되는 단위장치연결포트부(10)와, 역이나 구간 등을 설정하는 역, 구간설정스위치(14), 그리고 시험모드를 설정하는 스위치(16)와 리셋키(18)등 여러 가지 스위치를 구비한다. 또한 현재 제어되고 있는 단위장치와의 통신상태와 에러발생을 표시하는 7선분표시장치(30)가 구비되어 있다. 또한 보드의 중앙부에는 집적회로 칩으로 이루어지는 단위장치제어부(20)와 통신제어부(22)가 각각 단위장치제어용롬(24)과 통신제어용롬(26)과 함께 배치된다. 그리고 도 1에 도시되어 있는 바와 같이 통상적으로 세 개의 직렬포트(40) RS3, RS1, RS2가 차례로 설치되어 있다.As shown in FIG. 1, the TQM 1 includes all the unit devices constituting one terminal equipment such as a general ticket machine, for example, a journal printer unit, a station attendant panel unit, a front panel unit, a bill processing unit, a coin processing unit, and a ticket issuer. The unit device connection port 10 connected to the TUI, the station for setting the station or the section, the section setting switch 14, the switch 16 for setting the test mode and the reset key 18, etc. It is equipped with several switches. In addition, there is provided a seven-line display device 30 for displaying the communication status and the occurrence of an error with the unit device currently being controlled. In the center of the board, a unit device controller 20 and a communication controller 22 made of integrated circuit chips are disposed together with the unit device control ROM 24 and the communication control ROM 26, respectively. As shown in FIG. 1, three serial ports 40 RS3, RS1, and RS2 are installed in sequence.

도 2에 의하여 종래의 TQM보드(1)를 시험하는 장비의 연결구성을 도식적으로 예시되어 있다. 도시된 바와 같이, 종래에는 상술한 바와 같은 발매기 주제어부(TQM)(1)에 있어서, 직렬포트(40)의 RS1에 제 1 컴퓨터(42)를 연결하고, RS2에는 제 2 컴퓨터(42)를 연결한 후 두 개의 제어용롬(24, 26)을 시험용롬(24', 26')으로 교체하고 5V 전원을 인가하여, 상기 제 1, 제 2 컴퓨터(42, 44)에 내장되는 시험프로그램을 가동함으로써 TQM의 제어기능에 발생되는 이상을 점검한다. 그리고 TQM의 통신기능을 시험하는 경우에는 상기 RS1에 연결되는 제 1 컴퓨터를 RS3에 연결하고 동일한 방법으로 이상유무를 점검한다. 이상이 발생되는 경우에는 상기 제 1 및 제 2 컴퓨터에서 구동되고 있는 시험프로그램에 의하여 표시되어 작업자는 어느 기능에 이상이 발생하였는지를 인지할 수 있었다. 이상이 발생하면 통상적인 수리공구를 사용하여 기판의 회로를 점검하고 수리하게 된다.2 schematically illustrates the connection configuration of equipment for testing the conventional TQM board (1). As shown, conventionally, in the machine main control unit (TQM) 1 as described above, the first computer 42 is connected to RS1 of the serial port 40, and the second computer 42 is connected to RS2. After connection, the two control ROMs 24 and 26 are replaced with test ROMs 24 'and 26', and 5V power is applied to operate the test programs embedded in the first and second computers 42 and 44. Check the abnormality caused by the control function of the TQM. In the case of testing the communication function of the TQM, the first computer connected to the RS1 is connected to the RS3, and the same method is checked for abnormality. When an abnormality occurs, it is displayed by a test program running on the first and second computers so that the operator can recognize which function has occurred. If a fault occurs, the circuit of the board may be checked and repaired using a conventional repair tool.

그러나 상술한 바와 같은 종래의 시험작업에 있어서는, 별도의 전용 수리장치가 있는 것이 아니기 때문에 그 작업이 번거롭고 복잡하다는 문제가 있었다. 즉, 발매기 주제어부(TQM)의 각 기능을 손쉽게 점검하여 그 이상 유무를 알아낼 수는 있었으나, 어느 기능에 이상이 발생하여 수리하고자 할 경우에는 통상적인 수리공구를 사용하여야 하므로 작업이 번거로왔다.However, in the conventional test work as described above, there is a problem that the work is cumbersome and complicated because there is no separate dedicated repair apparatus. In other words, it was possible to easily check each function of the main machine (TQM) of the vending machine and find out whether there is more than that. However, when an abnormality occurs in any function and a repair is required, a normal repair tool must be used.

따라서, 본 발명은 수리하고자 하는 발매기 주제어부(TQM)를 시험하기 쉽도록 배치할 수 있으며, 시험과 동시에 수리작업이 이루어질 수 있어서 시험 및 수리작업이 용이해질 수 있는 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치 및 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.Therefore, the present invention can be arranged to easily test the main machine control unit (TQM) to be repaired, dedicated to the machine main control unit (TQM) that can be easily tested and repair work can be made at the same time as the test can be repaired Its purpose is to provide a test apparatus and method.

도 1은 일반적인 발매기 주제어부(TQM)의 구성을 도식적으로 예시하고 있는 외형도.1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a general machine main control unit (TQM).

도 2는 종래의 TQM 시험작업시 시험장비와의 연결을 도식적으로 예시하는 개략도.2 is a schematic diagram schematically illustrating a connection with test equipment during a conventional TQM test operation.

도 3은 본 발명에 따른 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치의 일실시예를 도식적으로 예시하는 개략도.Figure 3 is a schematic diagram illustrating one embodiment of a dedicated test apparatus of the machine main control unit (TQM) according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치의 다른 일실시예를 도식적으로 예시하는 개략도.Figure 4 is a schematic diagram illustrating another embodiment of a dedicated test apparatus of the machine main control unit (TQM) according to the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치를 사용하는 일실시예를 예시하는 개략도.Figure 5 is a schematic diagram illustrating an embodiment using a dedicated test apparatus of the machine main control unit (TQM) according to the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치를 사용하는 방법을 예시하는 순서도.Figure 6 is a flow chart illustrating a method of using a dedicated test apparatus of the machine main control unit (TQM) according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

1 : 발매기 주제어부(TQM)10 : 단위장치연결포트부1: Vending machine main control part (TQM) 10: Unit device connection port part

14 : 역, 구간설정 스위치16 : 시험모드설정스위치14: Reverse, section setting switch 16: Test mode setting switch

17 : 컴퓨터 시험모드 설정딥스위치18 : 리셋키17: Computer test mode setting dip switch 18: Reset key

20 : 단위장치제어부22 : 통신제어부20: unit device controller 22: communication controller

24 : 단위장치제어용 롬24' : 단위장치제어시험용 롬24: ROM for unit device control 24 ': ROM for unit device control test

26 : 통신제어용 롬26' : 통신제어시험용 롬26: ROM for communication control 26 ': ROM for communication control test

28 : 메모리카드30 : 7선분표시장치28: memory card 30: 7-line display device

40 : 직렬포트(RS1, RS2, RS3)42, 44 : 제 1, 제 2 컴퓨터40: Serial port (RS1, RS2, RS3) 42, 44: First and second computer

100, 200 : TQM전용시험장치120 : 지지대100, 200: TQM test device 120: Support

140 : 보드받침부재160, 260 : 전원공급장치140: board support member 160, 260: power supply device

180 : 전원인가선262 : 뚜껑180: power supply line 262: lid

이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 역무자동화(AFC) 시스템장비인 발매기 주제어부(TQM)의 수리를 위하여 그 이상여부를 시험하는 장치에 있어서, TQM보드를 배치하는 지지대와; 상기 TQM보드를 보호하기 위하여 상기 지지대상에 형성되는 복수개의 돌출부로 구성되는 보드받침부재와; 상기 TQM보드가 작동하는데 필요한 전원을 공급하는 전원공급장치; 그리고 상기 전원공급장치와 TQM보드를 연결하는 전원인가선으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발매기 주제어부의 전용시험장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention, an apparatus for testing whether or not for the repair of the main machine control unit (TQM) of the stationary automation (AFC) system equipment, comprising: a support for arranging the TQM board; A board support member comprising a plurality of protrusions formed on the support object to protect the TQM board; A power supply for supplying power required for the TQM board to operate; And it provides a dedicated test apparatus for the main control unit of the machine, characterized in that the power supply line connecting the power supply and the TQM board.

또한 본 발명이 제공하고자 하는 발매기 주제어부의 전용시험장치는, 상기 구성에 추가하여, 상기 전원공급장치는 외부에서 AC전원을 공급받아 변환하여 DC전원을 출력하는 것이거나 또는 밧데리를 장착하여 DC전원을 출력하는 것임을 특징으로 하여 구성될 수도 있다.In addition, the exclusive test apparatus for the main machine part of the vending machine to be provided by the present invention, in addition to the above configuration, the power supply device is to receive the AC power from the outside to convert the DC power output or to install a battery to install the DC power supply It may be configured to characterize the output.

또한 본 발명이 제공하고자 하는 발매기의 주제어부의 전용시험장치는, 상기 구성에 추가하여, 상기 보드받침부재는 상기 지지대와 일체로 형성되는 돌기와 그 상부에 부착되는 고무재질의 복수개의 부재로 이루어질 수 있으며, 또는 별도로 제작되어 상기 지지대에 조립되어 부착되는 것을 특징으로 구성될 수도 있다.In addition, the dedicated test apparatus of the main control unit of the vending machine to be provided by the present invention, in addition to the above configuration, the board support member may be formed of a plurality of members of a rubber material attached to the top and a protrusion formed integrally with the support and Alternatively, it may be configured to be separately assembled and attached to the support.

또한 본 발명은, 역무자동화(AFC) 시스템장비인 발매기 주제어부(TQM)의 수리를 위하여 그 이상여부를 시험하기 위한 방법에 있어서, TQM보드를 배치하는 지지대와 전원공급장치를 구비하는 시험장치에 상기 TQM보드를 배치하는 단계와; 상기 TQM보드상의 딥스위치(17)를 조정하여 시험모드로 변경하고 보드상의 직렬포트와 시험프로그램이 내장되어 있는 두개의 컴퓨터를 연결하며, 보드에 장착되어 있는 단위장치제어용롬과 통신제어용롬을 각각 단위장치시험용롬과 통신시험용롬으로 교체하는 시험작업설정단계와; 상기 TQM보드에 전원을 인가하고, 상기 컴퓨터에 내장되어 있는 시험프로그램을 시동하는 단계와; 상기 시험프로그램에 의한 제어하에 상기 TQM보드의 각 기능을 시험하고 그 결과를 분석하여 작업자에게 출력하는 단계; 그리고, 상기 분석에 의해 이상이 검출되지 않은 경우에는 다시 시험프로그램의 처음단계로 되돌아가 그 이후 단계를 반복하고, 분석에 의해 이상이 발견된 경우에는 해당 이상을 수리하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험방법을 제공한다.In addition, the present invention is a method for testing whether or not for the repair of the main machine control unit (TQM), which is a stationary automation (AFC) system equipment, in the test apparatus having a support and a power supply device for arranging the TQM board; Disposing the TQM board; The dip switch 17 on the TQM board is adjusted to the test mode, and the serial port on the board and the two computers with the test program are connected, and the unit device control ROM and the communication control ROM mounted on the board are respectively. A test operation setting step of replacing the unit device test ROM with the communication test ROM; Applying power to the TQM board and starting a test program embedded in the computer; Testing each function of the TQM board under control by the test program, analyzing the result, and outputting the result to an operator; When the abnormality is not detected by the analysis, the process returns to the first stage of the test program and repeats the subsequent steps, and when the abnormality is found by the analysis, repairing the abnormality. Provides a dedicated test method for the TQM.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3에 도시된 바에 의하여 본 발명에 따른 TQM 전용시험장치의 일실시예(100)를 설명하면 다음과 같다. 이 전용시험장치(100)는 TQM보드(1)를 배치하는 지지대(120)와 지지대(120)상에 형성되는 복수개의 돌출부로 구성되는 보드받침부재(140)와 전원공급장치(160) 그리고 전원인가선(180)으로 구성된다.Referring to Figure 1 illustrates an embodiment 100 of the TQM dedicated test apparatus according to the present invention. The dedicated test apparatus 100 includes a board support member 140 and a power supply device 160 and a power source including a support 120 for arranging the TQM board 1 and a plurality of protrusions formed on the support 120. It consists of an applying line 180.

도시되어 있는 바와 같이 지지대(120)는 보드가 배치되는 면과 그 아래에 전원공급장치(160) 등을 위한 공간을 확보하기 위한 옆면을 가지고 있는 것이 바람직하다. 상기 보드받침부재(140)는 지지대(120)의 상부에 형성되는 돌출부가 복수개 형성되어서 이루어지며, 보드받침부재(140)상에 배치되는 TQM보드(1) 면을 보호하기 위하여 부드러운 재질로 만들어지는 것이 좋다. 또한 상기 보드받침부재는 상기 지지대와 일체로 형성되는 돌기와 그 상부에 부착되는 고무재질의 복수개의 부재로 이루어질 수 있으며, 또는 별도로 제작되어 상기 지지대에 조립되어 부착될 수도 있다. 상기 전원공급장치(160)는 외부에서 예컨대 110V 또는 220V의 AC전압을 입력받아 변환하여 시험대상인 TQM보드(1)가 구동하는데 필요한 전압, 예컨대 DC 5V, 24V로 출력한다. 이 전원공급장치(160)는 도시된 바와 같이 상기 지지대(120)에 의하여 감추어져 있을 수도 있으나 물론 외부로 나와 있을 수도 있다. 이 전원공급장치(160)의 출력은 전원인가선(180)을 통하여 상기 보드받침부재(140)상에 배치될 TQM보드(1)에 인가된다. 이 전원인가선(180)은 한쪽은 상기 전원공급장치(160)의 출력단에 연결되며, 다른 한쪽은 TQM보드(1)의 전원포트에 연결된다.As shown, the support 120 preferably has a surface on which the board is disposed and a side surface for securing a space for the power supply unit 160 and the like below. The board support member 140 is made of a plurality of protrusions formed on the upper portion of the support 120, is made of a soft material to protect the TQM board (1) surface disposed on the board support member 140 It is good. In addition, the board support member may be formed of a plurality of members of a protrusion formed integrally with the support and a rubber material attached to the upper portion, or may be manufactured separately and assembled and attached to the support. The power supply device 160 receives and converts an AC voltage of 110V or 220V from the outside and outputs a voltage required for driving the TQM board 1 under test, for example, DC 5V or 24V. The power supply device 160 may be hidden by the support 120 as shown, but of course may be outward. The output of the power supply device 160 is applied to the TQM board 1 to be disposed on the board support member 140 through the power applying line 180. One end of the power supply line 180 is connected to the output terminal of the power supply device 160 and the other is connected to the power port of the TQM board 1.

상술한 바와 같은 본 발명에 따른 TQM 전용시험장치(100)를 사용하면, TQM보드(1)를 안전하고 쉽게 다룰 수가 있게 됨으로써 TQM보드(1)를 시험하고 수리하고자 하는 경우에 보다 작업이 용이해질 수가 있다.By using the TQM dedicated test apparatus 100 according to the present invention as described above, the TQM board 1 can be safely and easily handled, so that the work becomes easier when the TQM board 1 is to be tested and repaired. There is a number.

도 4에 도시된 바를 참조하여 본 발명에 따른 TQM 전용시험장치의 다른 일 실시예(200)를 설명하면 다음과 같다. 이 전용시험장치(200)의 구성은 전술한 전용시험장치(100)와 대체로 동일하며, 다만 전원공급장치(260)가 밧데리를 사용하는 것만이 다르다. 밧데리는 전원공급장치(260)의 내부에 장착되며 뚜껑(262)을 통하여 필요한 경우 교체, 장착될 수 있다.Referring to another embodiment 200 of the TQM dedicated test apparatus according to the present invention with reference to Figure 4 as follows. The configuration of the dedicated test apparatus 200 is substantially the same as the dedicated test apparatus 100 described above, except that the power supply 260 uses a battery. The battery may be mounted inside the power supply 260 and may be replaced or mounted if necessary through the lid 262.

따라서, 상술한 바와 같은 본 발명에 따른 TQM 전용시험장치(200)를 사용하면, TQM보드(1)를 안전하고 쉽게 다룰 수가 있게 됨으로써 TQM보드(1)를 시험하고 수리하고자 하는 경우에 보다 작업이 용이해질 수가 있다.Therefore, by using the TQM dedicated test apparatus 200 according to the present invention as described above, it is possible to handle the TQM board (1) safely and easily, so that more work is required when testing and repairing the TQM board (1). It can be easy.

도 5 및 도 6에 의하여 도시되어 있는 바를 참조하여, 전술한 본 발명에 따른 TQM 전용시험장치(100, 200) 중 하나를 사용하여 TQM보드를 시험하는 경우의 연결 구성과 그 시험방법을 설명하면 다음과 같다. 도 5에서는 간단하게 표현하기 위하여 전원공급장치는 생략되어 있다.With reference to the bar shown in Figure 5 and 6, the connection configuration and test method for the case of testing the TQM board using one of the TQM dedicated test apparatus (100, 200) according to the present invention described above As follows. In FIG. 5, the power supply device is omitted for simplicity.

도 5에 도시되어 있는 바와 같이, TQM보드(1)를 상기 지지대(120) 상에 형성되는 보드받침부재(140) 위로 배치한다(T1단계). 배치한 상태에서 직렬포트(40)의 RS1에 제 1 컴퓨터(42)를 연결하고 RS2에는 제 2 컴퓨터(44)를 연결한 후 두 개의 제어용롬(24, 26)을 시험용롬(24', 26')으로 교체(T2단계)하고 5V 전원을 인가(T3단계)하여, 상기 제 1, 제 2 컴퓨터에 내장되는 시험프로그램을 가동(T4단계)함으로써 TQM의 제어기능에 발생되는 이상을 점검한다. 그리고 TQM의 통신기능을 시험하는 경우에는 상기 RS1에 연결되는 제 1 컴퓨터를 RS3에 연결하고 동일한 방법으로 이상유무를 점검한다. 시험프로그램의 메뉴에서 이상유무를 시험하고 싶은 기능이나 소자를 선택(T5단계)하면, 상기 제 1, 제 2 컴퓨터(42, 44)에서 해당 기능이나 소자의 이상유무를 점검하고 그 결과를 출력하도록 하는 명령을 TQM보드(1)로 송출한다. TQM보드(1)의 각 제어부(20, 22)는 시험용롬(24', 26')에 저장되어 있는 데이터를 사용하여 명령받은 기능이나 소자의 작동상태를 점검하여 그 결과를 상기 제 1, 제 2 컴퓨터(42, 44)로 송신한다. 이 신호를 분석하여 상기 컴퓨터(42, 44)는 그 결과를 화면에 출력하게 된다(T7 단계). 이상이 발생되는 경우에는 상기 제 1 및 제 2 컴퓨터에서 구동되고 있는 시험프로그램에 의하여 표시된다. 작업자는 이 표시에 의하여 이상이 발생하였다고 나타난 기능을 구현하고 있는 회로를 다른 수리공구를 사용하여 점검하고 수리할 수 있다(T9 단계). 이런 식으로 하여 하나의 기능이 점검되면 즉시 수리작업에 들어갈 수 있으며, 수리작업이 끝나면 곧바로 점검작업을 계속할 수가 있다. 따라서, 도 5 및 도 6에 도시되어 있는 본 발명에 따른 구성에 의하면 작업자의 이상유무를 시험하고 점검하는 작업과 수리작업이 동시에 이루어질 수 있게 된다.As shown in FIG. 5, the TQM board 1 is disposed on the board support member 140 formed on the support 120 (step T1). After the first computer 42 is connected to RS1 of the serial port 40 and the second computer 44 is connected to RS2, the two control ROMs 24 and 26 are connected to the test ROMs 24 'and 26. (Step T2) and apply a 5V power supply (step T3) to check the abnormality caused by the control function of the TQM by starting the test program embedded in the first and second computers (step T4). In the case of testing the communication function of the TQM, the first computer connected to the RS1 is connected to the RS3, and the same method is checked for abnormality. If a function or device to be tested is selected from the menu of the test program (step T5), the first and second computers 42 and 44 check the abnormality of the corresponding function or device and output the result. Command to the TQM board (1). Each control unit 20 or 22 of the TQM board 1 checks the operation state of the commanded function or device using the data stored in the test ROMs 24 'and 26' and displays the results of the first and the second. 2 is sent to the computers 42 and 44. This signal is analyzed and the computers 42 and 44 output the result on the screen (step T7). If an abnormality occurs, it is indicated by a test program running on the first and second computers. The operator can check and repair the circuit which implements the function indicated by the indication that an abnormality has occurred (using step T9). In this way, once a function is checked, repair work can be started immediately, and the repair work can be continued immediately after the repair work is completed. Therefore, according to the configuration according to the present invention shown in Figures 5 and 6 it is possible to perform the work of testing and checking the presence or absence of abnormalities and repair work at the same time.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치 및 방법에 의하면 종래의 발매기 주제어부(TQM)의 각 기능을 시험한 후 이상이 발생한 경우 작업자가 일일이 각각의 소자들을 점검하여야 했던 것에 비하여, 수리하고자 하는 발매기 주제어부(TQM)를 시험하기 쉽도록 배치할 수 있고, 시험과 동시에 수리작업도 병행함으로써 시험 및 수리작업이 번거롭지 않으며 용이하게 될 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the exclusive testing apparatus and method of the machine main control unit (TQM) according to the present invention, if an abnormality occurs after testing each function of the conventional machine main control unit (TQM), the operator can individually Compared to the inspection, the main machine control unit (TQM) to be repaired can be arranged to be easy to test, and the test and repair work can be facilitated and facilitated by performing repair work simultaneously with the test.

본 발명은 특정의 바람직한 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 특허청구의 범위에 의해 마련되는 본 발명의 정신이나 분야를 이탈하지 않는 한도내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자는 용이하게 알 수 있다.While the invention has been shown and described with respect to certain preferred embodiments, it will be understood that the invention can be variously modified and modified without departing from the spirit or scope of the invention as set forth in the following claims. Those skilled in the art can easily know that.

Claims (6)

역무자동화(AFC) 시스템장비인 발매기 주제어부(TQM)의 수리를 위하여 그 이상여부를 시험하는 장치에 있어서,Apparatus for testing whether there is more than that for the repair of the TQM, the machine of the AFC system, TQM보드(1)를 배치하는 지지대(120)와;A support 120 for arranging the TQM board 1; 상기 TQM보드(1)를 보호하기 위하여 상기 지지대(120)상에 형성되는 복수개의 돌출부로 구성되는 보드받침부재(140)와;A board support member 140 composed of a plurality of protrusions formed on the support 120 to protect the TQM board 1; 상기 TQM보드(1)가 작동하는데 필요한 전원을 공급하는 전원공급장치(160); 그리고A power supply device 160 for supplying power required for the TQM board 1 to operate; And 상기 전원공급장치(160)와 TQM보드(1)를 연결하는 전원인가선(180)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험장치.Dedicated test device for the main machine part (TQM) of the vending machine, characterized in that consisting of a power supply line 180 connecting the power supply device 160 and the TQM board (1). 제 1 항에 있어서, 상기 전원공급장치(160)는 외부에서 AC전원을 공급받아 변환하여 DC전원을 출력하는 것임을 특징으로 하는 전용시험장치.According to claim 1, wherein the power supply unit 160 is a dedicated test device, characterized in that for receiving the AC power from the outside to convert the DC power output. 제 1 항에 있어서, 상기 전원공급장치(160)는 밧데리를 장착하여 DC전원을 출력하는 것임을 특징으로 하는 전용시험장치.According to claim 1, wherein the power supply unit 160 is a dedicated test device, characterized in that for outputting the DC power by mounting a battery. 제 1 항에 있어서, 상기 보드받침부재(140)는 상기 지지대(120)와 일체로 형성되는 돌기와 그 상부에 부착되는 고무재질의 복수개의 부재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전용시험장치According to claim 1, wherein the board support member 140 is a dedicated test device, characterized in that consisting of a plurality of members of a protrusion formed integrally with the support 120 and a rubber material attached to the upper portion. 제 1 항에 있어서, 상기 보드받침부재(140)는 별도로 제작되어 상기 지지대(120)에 조립되어 부착되는 복수개의 돌기인 것을 특징으로 하는 전용시험장치.According to claim 1, wherein the board support member 140 is a dedicated test device, characterized in that a plurality of projections are separately manufactured and attached to the support 120. 역무자동화(AFC) 시스템 장비인 발매기 주제어부(TQM)의 수리를 위하여 그 이상여부를 시험하기 위한 방법에 있어서,In the method for testing whether there is more for the repair of the machine control part (TQM) which is an AFC system equipment, TQM보드(1)를 배치하는 지지대(120)와 전원공급장치(160)를 구비하는 시험장치에 상기 TQM보드(1)를 배치하는 단계와;Placing the TQM board (1) in a test device having a support (120) and a power supply (160) for placing the TQM board (1); 상기 TQM보드(1)상의 딥스위치를 조정하여 시험모드로 변경하고 보드상의 직렬포트와 시험프로그램이 내장되어 있는 두개의 컴퓨터(42, 44)를 연결하며, 보드에 장착되어 있는 단위장치제어용롬(24)과 통신제어용롬(26)을 각각 단위장치시험용롬(24')과 통신시험용롬(26')으로 교체하는 시험작업설정단계와;The dip switch on the TQM board 1 is adjusted to change to the test mode, and the serial port on the board and the two computers 42 and 44 in which the test program is built are connected, and the unit device control ROM mounted on the board ( 24) a test work setting step of replacing the communication control ROM 26 with the unit device test ROM 24 'and the communication test ROM 26', respectively; 상기 TQM보드(1)에 전원을 인가하고, 상기 컴퓨터(42, 44)에 내장되어 있는 시험프로그램을 시동하는 단계와;Applying power to the TQM board (1) and starting a test program embedded in the computer (42, 44); 상기 시험프로그램에 의한 제어하에 상기 TQM보드(1)의 각 기능을 시험하고 그 결과를 분석하여 작업자에게 출력하는 단계; 그리고,Testing each function of the TQM board (1) under the control of the test program, analyzing the result, and outputting the result to an operator; And, 상기 분석에 의해 이상이 검출되지 않은 경우에는 다시 시험프로그램의 처음단계로 되돌아가 그 이후 단계를 반복하고, 분석에 의해 이상이 발견된 경우에는 해당 이상을 수리하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발매기 주제어부(TQM)의 전용시험방법.If no abnormality is detected by the analysis, the process returns to the first stage of the test program and repeats the subsequent steps, and when the abnormality is found by the analysis, repairing the abnormality. Dedicated test method of TQM.
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