KR19980051286A - Comparator circuit tester of optical proximity fuse - Google Patents

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KR19980051286A
KR19980051286A KR1019960070162A KR19960070162A KR19980051286A KR 19980051286 A KR19980051286 A KR 19980051286A KR 1019960070162 A KR1019960070162 A KR 1019960070162A KR 19960070162 A KR19960070162 A KR 19960070162A KR 19980051286 A KR19980051286 A KR 19980051286A
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이상현
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배순훈
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본 발명은 광학식 근접신관의 작동 점검장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 표적탐지장치와 안전장전 장치로 구성되는 광학식 근접신관에 있어서 그 표적탐지장치에서의 수신장치를 구성하는 비교기 회로의 정상작동을 시험하기 위한 장치에 대한 것이다.The present invention relates to a device for checking the operation of an optical proximity fuse, and more particularly, in an optical proximity fuse composed of a target detection device and a safety loading device, the normal operation of a comparator circuit constituting a receiver in the target detection device. It is about a device for testing.

본 발명은, 가변저항기의 저항값을 변경함에 따른 일정한 첨두값을 발생시키기 위한 연산증폭기를 포함하는 첨두값 신호 발생회로부, 소정 주파수로 신호를 출력시키기 위한 발진회로, 상기 발진회로의 발진주파수에 따라 소정폭의 펄스를 출력하기 위한 멀티 바이브레이터회로, 상기 멀티 바이브레이터회로의 출력파형을 안정화시키기 위한 완충증폭회로, 입력단에 연결된 가변저항기와 이 가변저항기와 직렬로 연결되어 각각의 가변저항기를 연결하거나 차단하기 위한 스위치를 통한 입력부를 갖는 전압출력 연산증폭기를 포함하는 실효값 신호 발생회로부, 그리고, 소정조건에 따라 사용자가 스위치를 온시키면, 소정폭의 펄스신호를 출력하기 위한 모드신호 발생회로부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광학식 근접신관의 비교기 회로 시험장치를 제공함으로서, 광학식 근접신관의 성능점검시 시험에 소요되는 시간을 단축하고, 효율적 시험을 가능하게 하는 효과가 달성된다.The present invention provides a peak value signal generation circuit unit including an operational amplifier for generating a constant peak value by changing the resistance value of the variable resistor, an oscillation circuit for outputting a signal at a predetermined frequency, according to the oscillation frequency of the oscillation circuit. A multi-vibrator circuit for outputting a pulse having a predetermined width, a buffer amplifier circuit for stabilizing an output waveform of the multi-vibrator circuit, a variable resistor connected to an input terminal and connected in series with the variable resistor to connect or disconnect each variable resistor An effective value signal generation circuit unit including a voltage output operational amplifier having an input unit through a switch for switching, and a mode signal generation circuit unit for outputting a pulse signal having a predetermined width when the user turns on the switch according to a predetermined condition. Comparator circuit of optical proximity fuse, characterized in that By providing a test device, the time taken to check the performance of the test of the optical proximity fuze, and is achieved an effect that allows the efficient testing.

Description

광학식 근접신관의 비교기 회로 시험장치Comparator circuit tester of optical proximity fuse

본 발명은 광학식 근접신관의 작동 점검장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 표적탐지장치와 안전장전 장치로 구성되는 광학식 근접신관에 있어서 그 표적탐지장치에서의 수신장치를 구성하는 비교기 회로의 정상작동을 시험하기 위한 장치에 대한 것이다.The present invention relates to a device for checking the operation of an optical proximity fuse, and more particularly, in an optical proximity fuse composed of a target detection device and a safety loading device, the normal operation of a comparator circuit constituting a receiver in the target detection device. It is about a device for testing.

신관이란 폭발장치의 작약을 점화시켜 폭발시키도록, 폭발물연쇄의 최초과정을 일으키는 기능을 가지며, 폭발물이 기폭되면 다음 폭발물에 도폭케 하여 마침내 포탄의 작약에까지 점화되도록 하기 위한 장치를 말한다.A fuse is a device that causes the initial process of the explosive chain to ignite and explode the explosives of the explosive device.

상기 포탄 신관을 그 작용형태 또는 기능에 따라 분류해 보면, 충격신관, 시한신관, 주위신관, 근접신관 및 명령신관으로 분류해 볼 수 있다.When the shell fuse is classified according to its function or function, it can be classified into an impact fuse, a time fuse, a peripheral fuse, a proximity fuse and a command fuse.

근접신관이란 송신과 수신의 기능을 가진 전자장치를 그 신관에 구비하고, 이 송신장치를 통해 전파를 송신하고, 이 전파가 목표물에 의해 반사되는 신호를 수신장치를 통해 수신하여, 최적의 접근거리에서 그 기폭장치를 작동시키는 기능을 가진 신관을 말한다.Proximity fuses are provided with electronic devices having the functions of transmitting and receiving in their fuses, transmitting radio waves through these transmission devices, and receiving signals reflected by targets through the receiving device, thus providing an optimum approach distance. Means a fuse with the ability to actuate the detonator.

이러한 근접신관은 송신과 수신의 동작원리 즉 연속파 도플러 효과, 주파수 변조, 펄스 레이다 및 펄스 도플러 등을 이용하고 있다.Such proximity fuse uses the operation principle of transmission and reception, that is, continuous wave Doppler effect, frequency modulation, pulse radar and pulse Doppler.

본 발명의 대상인 광학식 근접신관은 광학 송신장치를 통하여 레이져 광을 송신하고, 송신된 레이저광이 목표물에서 반사되는 것을 수신하여, 이 수신신호를 처리하여 최적의 접근거리가 감지되는 순간 작용되도록 되어있다.The optical proximity fuse, which is the object of the present invention, transmits laser light through an optical transmission device, receives the transmitted laser light reflected from the target, and processes the received signal to act as soon as an optimum approach distance is detected. .

도 1은 광학식 근접신관의 표적탐지장치의 기본 구성도를 보이고 있다.Figure 1 shows the basic configuration of the target detection device of the optical proximity fuse.

이 표적탐지장치는 크게 보아 송신부와 수신부, 신호처리부 및 전원공급부를 포함하여 구성된다.This target detection device is largely comprised of a transmitter, a receiver, a signal processor, and a power supply.

송신부는 레이져 다이오드의 출력을 부채꼴 모양으로 펼쳐주기 위한 송신광학장치와 에너지원이 되는 레이져 다이오드, 그리고 이 레이져 다이오드를 구동하기위한 구동회로로 구성되어 있다.The transmitting unit is composed of a transmission optical device for unfolding the output of the laser diode in a fan shape, a laser diode as an energy source, and a driving circuit for driving the laser diode.

수신부는 반사된 광에너지를 감지하여 전기적 신호로 변환하여 주는 포토 디텍터와 이 포토 디텍터에서 검출한 미약한 신호를 증폭하여 주는 수신 증폭회로, 그리고 상기 포토 디텍터에서의 수신신호 감지영역을 결정지어 주는 수신 광학장치로 구성되어 있다.The receiving unit detects the reflected light energy and converts it into an electrical signal, a reception amplifier circuit for amplifying a weak signal detected by the photo detector, and a reception that determines the reception signal detection area in the photo detector. It consists of an optical device.

신호처리부는 수신부에서 검출되어 증폭된 신호를 입력으로 하고, 이를 비교기에 입력한 후 설정된 레벨 이상의 신호만을 선별하여 참(True) 신호판별 알고리즘을 통해 신호의 진위를 판단하여 목표물의 존재여부를 판단하고, 최종적으로 점화회로로 점화명령을 내보내는 역할을 수행한다.The signal processor inputs the signal detected and amplified by the receiver, inputs it to the comparator, selects only signals above the set level, and judges the authenticity of the signal through a true signal discrimination algorithm to determine whether there is a target. Finally, it sends out the ignition command to the ignition circuit.

전원공급부는 신관내의 열전지로부터 28V의 전원을 공급받아 표적 탐지장치의 각부분에 필요한 전원(+15V, -15V, +5V, +70V)을 발생하는 부분이다.The power supply unit receives 28V of power from the thermal cell in the fuse and generates power (+ 15V, -15V, + 5V, + 70V) required for each part of the target detection device.

신호처리부에서 수행되는 상술한 비교기 기준 전압 설정방법과 참(True) 신호 판별 알고리즘에 따른 디지탈 신호처리의 회로를 자세히 설명하면 아래와 같다.The circuit of the digital signal processing according to the above-described comparator reference voltage setting method and the true signal discrimination algorithm performed by the signal processor will be described in detail as follows.

비교기는 증폭회로에서 출력된 신호가 비교기에서 설정된 문턱 레벨보다 클때만 디지탈 신호처리가 가능한 논리신호로 변환된다.The comparator is converted into a logic signal capable of digital signal processing only when the signal output from the amplifier circuit is larger than the threshold level set by the comparator.

실효치 변환회로는 광잡음에 의한 오동작의 확률을 줄이기 위해 잡음의 변화에 적응하여 비교기의 기준전압을 가변시켜주는 역할을 담당한다.The effective value conversion circuit plays a role of varying the reference voltage of the comparator by adapting to the change of noise in order to reduce the probability of malfunction due to optical noise.

첨두신호 검출회로는 송신부에서 방사된 송신신호가 비나 구름등에 충돌하면서 산란되어 수신부로 들어오는 신호의 크기를 감지하여 비교기의 문턱전압을 가감시켜 오동작의 확률을 줄이기 위한 회로이다.The peak signal detection circuit is a circuit for reducing the probability of a malfunction by sensing the magnitude of a signal that is scattered as the transmission signal radiated from the transmitter collides with a rain or a cloud and enters the receiver.

상술한 비교기 회로는 집적회로를 포함하는 회로로 형성되어 있으므로, 그 회로의 특성 및 정상작동여부를 시험하기 위하여는 많은 인원 및 시간이 소요되는 바, 효율적인 검사를 수행할 수 없으며, 검사에 필요한 부가회로를 연결하는 등의 번거로움의 문제를 안고 있다.Since the comparator circuit described above is formed of a circuit including an integrated circuit, a large number of personnel and time are required to test the characteristics and normal operation of the circuit. It has troubles such as connecting circuits.

본 발명은 상술한 광학식 근접신관의 비교기 회로의 기능 및 전기적 특성을 점검하여 신관의 정상작동 여부를 그 사용자가 쉽게 확인할 수 있도록 하기 위한 점검장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.It is an object of the present invention to provide a check device for checking the function and electrical characteristics of the comparator circuit of the optical proximity fuse described above so that the user can easily check whether the fuse is normally operating.

도 1은 광학식 근접신관의 표적탐지장치의 기본 구성도,1 is a basic configuration of the target detection device of the optical proximity fuse,

도 2는 본 발명의 비교기 회로 시험장치와 광학식 근접신관의 비교기 회로를 연결하는 구성을 보인 블럭도,Figure 2 is a block diagram showing the configuration of connecting the comparator circuit test apparatus of the present invention and the comparator circuit of the optical proximity fuse;

도 3은 본 발명에 따른 비교기 회로 시험장치의 구성의 일례를 보인 회로도로서,3 is a circuit diagram showing an example of the configuration of a comparator circuit test apparatus according to the present invention;

도 3a는 첨두값 발생회로부의 회로도,3A is a circuit diagram of a peak value generating circuit portion;

도 3b는 실효값 발생회로부의 회로도,3B is a circuit diagram of an effective value generation circuit unit;

도 3c는 모드신호 발생회로부의 회로도이다.3C is a circuit diagram of a mode signal generation circuit unit.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

100 : 첨두값 신호 발생회로부 200 : 실효값 신호 발생회로부100: peak value signal generating circuit portion 200: effective value signal generating circuit portion

300 : 모드신호 발생회로부 210 : 발진회로300: mode signal generator circuit 210: oscillation circuit

220 : 멀티 바이브레이터회로 230 : 완충증폭회로220: multivibrator circuit 230: buffer amplifier circuit

VR l,2,3,4 : 첨두값 조정용 가변저항기VR l, 2,3,4: Variable resistor for peak value adjustment

SW 1,2,3,4 : 스위치 D 1 : 다이오드SW 1,2,3,4: Switch D 1: Diode

TR 1 : 증폭용 트랜지스터TR 1: Amplification Transistor

상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 가변저항기의 저항값을 변경함에 따른 일정한 첨두값을 발생시키기 위한 연산증폭기를 포함하는 첨두값 신호 발생회로부, 소정 주파수로 신호를 출력시키기 위한 발진회로, 상기 발진회로의 발진주파수에 따라 소정폭의 펄스를 출력하기 위한 멀티 바이브레이터회로, 상기 멀티 바이브레이터회로의 출력파형을 안정화시키기 위한 완충증폭회로, 입력단에 연결된 가변저항기와 이 가변저항기와 직렬로 연결되어 각각의 가변저항기를 연결하거나 차단하기 위한 스위치를 통한 입력부를 갖는 전압출력 연산증폭기를 포함하는 실효값 신호 발생회로부, 그리고, 소정조건에 따라 사용자가 스위치를 온시키면, 소정폭의 펄스신호를 출력하기 위한 모드신호 발생회로부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광학식 근접신관의 비교기 회로 시험장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention, a peak value signal generation circuit unit including an operational amplifier for generating a constant peak value by changing the resistance value of the variable resistor, an oscillator circuit for outputting a signal at a predetermined frequency, the A multivibrator circuit for outputting a pulse having a predetermined width according to the oscillation frequency of the oscillation circuit, a buffer amplifier circuit for stabilizing an output waveform of the multivibrator circuit, a variable resistor connected to an input terminal and a variable resistor connected in series with each other An effective value signal generation circuit unit including a voltage output operational amplifier having an input unit through a switch for connecting or disconnecting a variable resistor, and a mode for outputting a pulse signal having a predetermined width when the user turns on the switch according to a predetermined condition. Characterized in that it comprises a signal generating circuit portion Learning-up provides the test apparatus the comparator circuit of the fuze.

[실시예]EXAMPLE

첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일실시예를 설명하면 다음과 같다.Referring to the accompanying drawings, a preferred embodiment of the present invention will be described.

도 2는 본 발명의 비교기 회로 시험장치와 광학식 근접신관의 비교기 회로를 연결하는 구성을 보인 블럭도이다.2 is a block diagram showing the configuration of connecting a comparator circuit test apparatus of the present invention and a comparator circuit of an optical proximity fuse.

도 3은 본 발명에 따른 비교기 회로 시험장치의 구성의 일례를 보인 회로도로서, 도 3a는 본 발명에 따른 첨두값신호 발생회로부의 회로도, 도 3b는 본 발명에 따른 실효값신호 발생회로 및 상기 실효값 신호 발생회로로부터의 출력을 전압조정 및 완충증폭하기 위한 버퍼회로의 회로도, 도 2c는 본 발명에 따른 모드신호 발생회로부의 회로도이다.Figure 3 is a circuit diagram showing an example of the configuration of a comparator circuit test apparatus according to the present invention, Figure 3a is a circuit diagram of the peak value signal generation circuit portion according to the present invention, Figure 3b is an effective value signal generation circuit according to the present invention and the effective Fig. 2C is a circuit diagram of the mode signal generation circuit section according to the present invention.

본 발명의 첨두값신호 발생장치는 연산증폭기(IC 1), 상기 연산증폭기의 입력단의 입력전압을 조절하기 위한 저항기(R 1) 및 가변저항기(VR 1)를 포함하여 구성된다.The peak value signal generator of the present invention includes an operational amplifier (IC 1), a resistor (R 1) and a variable resistor (VR 1) for adjusting the input voltage of the input terminal of the operational amplifier.

첨두값신호 발생장치의 가변저항기(VR 1)의 가변저항을 조정하면 그 출력단자에서는 일정한 첨두값을 갖는 출력신호가 발생된다. 이 첨두값의 일례로서 2V의 첨두값 신호가 그 출력단자를 통해 출력된다.When the variable resistor of the variable resistor VR 1 of the peak value signal generator is adjusted, an output signal having a constant peak value is generated at the output terminal thereof. As an example of this peak value, a 2V peak value signal is output through the output terminal.

본 발명의 실효값신호 발생기 및 상기 실효값 신호 발생기로부터의 출력을 전압조정 및 완충증폭하기 위한 버퍼회로는 타이밍신호 발생수단(IC 2), 멀티 바이브레이터 수단(IC 3), 트랜지스터(TR 1) 증폭회로, 완충회로(IC 4) 및 원하는 실효값레벨을 설정하기 위한 연산증폭기(IC 5)를 포함하는 실효값 출력회로부를 포함하여 구성된다.The effective value signal generator of the present invention and a buffer circuit for voltage adjustment and buffer amplification of the output from the effective value signal generator include timing signal generating means (IC 2), multivibrator means (IC 3), and transistor (TR 1) amplification. An effective value output circuit section including a circuit, a buffer circuit IC 4, and an operational amplifier IC 5 for setting a desired effective value level.

타이밍신호 발생수단(IC 2)은 구형파 발진회로가 내장된 집적회로를 사용하여 구성가능하다. 도 2b에서는 그 일실시예로서 발진회로가 내장된 555 IC를 사용하여 구성한 일례를 보이고 있다.The timing signal generating means IC 2 can be configured using an integrated circuit in which a square wave oscillation circuit is incorporated. FIG. 2B shows an example in which the 555 IC including the oscillation circuit is used as an embodiment.

이 발진회로는 저항기(R a) 저항기(R b), 및 커패시터(C 1)에 의한 시정수로서 발진하며, 이때의 주파수는 f=(Ra+Rb)×(C 1)으로 결정된다.This oscillation circuit oscillates as a time constant by the resistor Ra a resistor R b and the capacitor C 1, and the frequency at this time is determined by f = (Ra + Rb) × (C 1).

멀티바이브레이터 회로는 상기 발진회로에서 발생한 주파수 신호 f를 받아 원하는 펄스폭을 갖는 신호를 발생시켜 출력한다.The multivibrator circuit receives the frequency signal f generated by the oscillator circuit and generates and outputs a signal having a desired pulse width.

이때의 펄스폭은 저항기(R x)와 커패시터(C x)의 값을 조정하여 결정된다.The pulse width at this time is determined by adjusting the values of the resistor R x and the capacitor C x.

이러한 펄스폭은 τ=0.7×(R x)×(C x)에 의해 결정된다. 이러한 펄스폭의 일례로서 200μs의 펄스폭을 갖는 신호가 출력된다.This pulse width is determined by tau = 0.7 x (R x) x (C x). As an example of such a pulse width, a signal having a pulse width of 200 s is output.

이러한 출력신호는 트랜지스터(TR 1)를 거쳐 증폭되고 그 출력은 반전되어 버퍼회로에 입력된다.This output signal is amplified via the transistor TR 1 and its output is inverted and input to the buffer circuit.

여기서 본 발명의 일실시예로서, 상기 실효값 신호 발생회로부(200)는, 구형파 신호의 언더슈트 및 발진현상을 감쇄시키기 위해, 완충증폭회로(230)와 전압출력연산증폭기(IC 5) 사이에 다이오드(D 1)를 더 포함하는 것을 특징으로 하여 구성되는 것도 가능하다.Here, as an embodiment of the present invention, the RMS signal generating circuit unit 200 is provided between the buffer amplifier circuit 230 and the voltage output operational amplifier IC 5 to attenuate the undershoot and oscillation of the square wave signal. It may also be configured to further include a diode (D 1).

출력단의 연산증폭기(IC 5)는 반전회로로서 작용함과 동시에 출력되는 실효값신호의 크기를 조절하는 기능을 담당한다. 이 연산증폭기(IC 5)는 그 입력단에 세개의 가변저항기(VR 2, VR 3, VR 4) 및 각각의 가변저항기(VR 2, VR 3, VR 4)에 직렬로 연결된 세개의 스위치(SW 1, SW 2, SW 3)가 연결되어 있다.The operational amplifier IC 5 of the output stage acts as an inverting circuit and is responsible for adjusting the magnitude of the effective value signal output. The operational amplifier (IC 5) has three switches (SW 1) connected in series to three variable resistors (VR 2, VR 3, VR 4) and respective variable resistors (VR 2, VR 3, VR 4) at its input. , SW 2, SW 3) are connected.

상기 세개의 스위치(SW 1, SW 2, SW 3)중에서 하나를 연결하면 그 스위치의 연결된 가변저항기가 상기 연산증폭기(IC 5)의 입력에 연결되어 소정의 실효값 출력이 얻어진다. 본 발명의 일례로서 상기 각각의 스위치에 대응하는 출력값은 2Vp-p, 4Vp-p, 8Vp-p의 실효값이 출력된다.When one of the three switches SW 1, SW 2, and SW 3 is connected, the connected variable resistor of the switch is connected to the input of the operational amplifier IC 5 to obtain a predetermined effective value output. As an example of this invention, the output value corresponding to each said switch outputs the effective value of 2Vp-p, 4Vp-p, and 8Vp-p.

도 3c는 본 발명에 따른 모드신호 발생기의 회로도이다.3c is a circuit diagram of a mode signal generator according to the present invention.

이 회로는 스위치(SW 4), 반전회로 및 멀티 바이브레이터(IC 6)를 포함하여 구성된다.This circuit comprises a switch SW 4, an inverting circuit and a multivibrator IC 6.

이 모드신호는 신관이 저공으로 비행하는 경우에, 지면에 의해 반사되는 적외선 파장에 의해 신관에 점화신호가 인가될 수 있으므로 비교기 기준전압을 보다 높게 설정하도록 모드신호를 출력하게 하여 신관의 오동작을 방지하는 기능을 수행한다.When the fuse is flying low, the ignition signal may be applied to the fuse due to the infrared wavelength reflected by the ground, so that the mode signal is output to set the comparator reference voltage higher, thereby preventing the fuse from malfunctioning. It performs the function.

이 회로는 비, 구름 조건을 시뮬레이션하기 위한 스위치로서 그 스위치를 온으로 하면, 인버터 집적회로에 네가티브 신호가 입력된다. 이 신호는 인버터 집적회로를 거쳐 포지티브 신호로 변환되어 멀티 바이브레이터에 입력되고, 멀티바이브레이터 회로는 상기 입력된 신호에 따라 단발펄스를 출력한다.This circuit is a switch for simulating rain and cloud conditions. When the switch is turned on, a negative signal is input to an inverter integrated circuit. This signal is converted into a positive signal through an inverter integrated circuit and input to the multivibrator, which outputs a single pulse in accordance with the input signal.

이때, 펄스폭은 저항기(R m)와 커패시터(C m)의 값을 조정하여 결정된다. 이러한 펄스폭은 τ=0.7×(R m)×(C m)에 의해 결정된다. 이러한 펄스폭의 일례로서 단발펄스로서 약 700μs의 펄스폭을 갖는 신호가 출력된다.At this time, the pulse width is determined by adjusting the values of the resistor R m and the capacitor C m. This pulse width is determined by τ = 0.7 × (R m) × (C m). As an example of such a pulse width, a signal having a pulse width of about 700 mu s is output as a single pulse.

상술한 구성을 갖는 본 발명의 시험장치를 사용하여 광학식 신관의 비교기회로를 시험하는 경우의 작용을 설명하면 다음과 같다.The operation in the case of testing the comparator circuit of the optical fuse using the test apparatus of the present invention having the above-described configuration is as follows.

신관의 점검은 신관을 본 장치에 연결하여 시작된다. 본 장치에는 신관과의 광학적 인터페이스를 담당하는 4개의 광학부가 부착되어 있고 그 전기적 인터페이스는 점검케이블을 통해 이루어진다.The inspection of the fuse begins by connecting the fuse to the apparatus. The device is equipped with four optics that are responsible for the optical interface with the fuse, and the electrical interface is via a check cable.

이 케이블을 통해 신관에 각종 명령을 인가하여 신관 작동시의 광학적인 신호인가와 반응의 점검을 점검장비의 광학부를 이용하는 한편, 전기적인 점검은 신관의 컨넥터를 통하여 확인된다.Through this cable, various commands are applied to the fuse to check the application of the optical signal and the reaction during the operation of the fuse. The optical part of the inspection equipment is used, while the electrical check is confirmed through the connector of the fuse.

상술한 구성과 그 작용에 의해 본 발명은 광학식 근접신관의 비교기 회로의 정상동작여부를 시험가능한 장치를 제공함으로서, 광학식 근접신관의 성능점검시 시험에 소요되는 시간을 단축하고, 효율적 시험을 가능하게 하는 효과가 달성된다.By the above-described configuration and its operation, the present invention provides a device capable of testing the normal operation of the comparator circuit of the optical proximity fuse, thereby reducing the time required for testing the performance of the optical proximity fuse and enabling efficient testing. Effect is achieved.

본 발명은 특정의 바람직한 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 특허청구의 범위에 의해 마련되는 본 발명의 정신이나 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자는 용이하게 알 수 있다.While the invention has been shown and described with reference to certain preferred embodiments, it will be understood that the invention can be variously modified and modified without departing from the spirit or scope of the invention as set forth in the claims below Those skilled in the art can easily know that.

Claims (2)

가변저항기(VR 1)의 저항값을 변경함에 따른 일정한 첨두값을 발생시키기 위한 연산증폭기(IC 1)를 포함하는 첨두값 신호 발생회로부(100), 소정 주파수로 신호를 출력시키기 위한 발진회로(210), 상기 발진회로의 발진주파수에 따라 소정폭의 펄스를 출력하기 위한 멀티 바이브레이터회로(220), 상기 멀티 바이브레이터회로(220)의 출력파형을 안정화시키기 위한 완충증폭회로(230), 입력단에 연결된 가변저항기(VR 2, VR 3, VR 4)와 이 가변저항기(VR 2, VR 3, VR 4)와 직렬로 연결되어 각각의 가변저항기를 연결하거나 차단하기 위한 스위치(SW 1, SW2, SW 3)를 통한 입력부를 갖는 전압출력 연산증폭기(IC 5)를 포함하는 실효값 신호 발생회로부(200), 그리고, 소정조건에 따라 사용자가 스위치(SW 4)를 온시키면, 소정폭의 펄스신호를 출력하기 위한 모드신호 발생회로부(300)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광학식 근접신관의 비교기 회로 시험장치.Peak value signal generation circuit unit 100 including an operational amplifier IC 1 for generating a constant peak value by changing the resistance value of the variable resistor VR 1, and an oscillation circuit 210 for outputting a signal at a predetermined frequency. ), A multi-vibrator circuit 220 for outputting a pulse of a predetermined width according to the oscillation frequency of the oscillation circuit, a buffer amplifier circuit 230 for stabilizing the output waveform of the multi-vibrator circuit 220, variable connected to the input terminal Switch (SW 1, SW2, SW 3) connected in series with resistors (VR 2, VR 3, VR 4) and this potentiometer (VR 2, VR 3, VR 4) to connect or disconnect each potentiometer. An effective value signal generation circuit unit 200 including a voltage output operational amplifier IC 5 having an input unit through the output unit, and outputting a pulse signal having a predetermined width when the user turns on the switch SW 4 according to a predetermined condition. Mode signal generation circuit unit 300 for Optical proximity fuse of the comparator circuit testing apparatus characterized in that should be configured. 제 1항에 있어서, 상기 실효값 신호 발생회로부(200)는, 구형파 신호의 언더슈트 및 발진현상을 감쇄시키기 위해, 완충증폭회로(230)와 전압출력 연산증폭기(IC5) 사이에 다이오드(D 1)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학식 근접신관의 비교기 회로 시험장치.2. The diode D 1 of claim 1, wherein the RMS signal generating circuit unit 200 is configured between the buffer amplifier circuit 230 and the voltage output operational amplifier IC 5 to reduce undershoot and oscillation of the square wave signal. Comparator circuit test apparatus of an optical proximity fuse further comprises a).
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