KR19980018455A - 변색 대역 보정 시스템 - Google Patents

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KR19980018455A
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테스타 진 케이.
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Abstract

음극선관은 포커스 마스크 컬러 선택 구조를 사용할 수 있다. 포커스 마스크 구조는 국부적인 천이 단락 회로 현상 또는 항복 현상이 발생하기 쉽다. 이들 현상은 상기 음극선관 내에서 자유로워진 전도성의 미립자에 의해 야기될 수 있고, 상기 포커스 마스크의 제 1 및 제 2층 사이의 단락 회로를 야기한다. 항복 현상은 마스크 소선(strand)의 자화를 야기하는 소선 양단간의 전류를 초래하고, 이러한 자화는 음극선관 화면상의 비디오 영상을 방해하므로, 항복현상은 바람직하지 않다. 항복 현상의 검출에 뒤이어 후속적인 다음의 수직 블랭킹 기간 중에 신속한 소자(degauss) 동작이 시작된다.

Description

변색 대역 보정 시스템
본 발명은 일반적으로 포커스-마스크(focus-mask) 형태의 음극선관 분야에 관한 것으로서, 특히 이러한 포커스-마스크 형태의 음극선관과 관련될 수 있는 변색 대역(discoloration band)의 제거에 관한 것이다.
텔레비전 수상기, 또는 컴퓨터 또는 비디오 표시 터미널과 같은 비디오 표시 장치에 있어서, 음극선관(CRT)은 주로 고강도 유리로 만들어진 진공 밀폐유리를 포함한다. 상기 밀폐유리는 깔때기 모양의 종 모양 부분 및 확장된 목 부분과 함께 일반적으로 편평한 부분 또는 약간 굴곡된 전면판을 포함한다. 상기 전면판의 내측은 인광체 화면을 지지한다.
컬러 CRT에 있어서, 다수의 전자총은 다른 컬러 광투과 특성을 갖는 복수의 인광체 영역을 지지하는 인광체 화면과 함께 사용된다. 전자빔이 인광체 화면과 충돌할 때, 이로부터 가시광이 방출된다. 컬러 선택 구조는 전자총과 인광체 화면 사이에 삽입되어, 각 전자총이 관련된 컬러광을 투사하는 인광체에만 도달토록 한다.
이러한 구조중의 하나는 새도우 마스크(shadow mask)이다. 새도우 마스크는 전자총이 인광체 화면에 도달하기 위하여 통과해야만 하는 다수의 구멍을 갖는 얇은 철판이다. 새도우 마스크는, 적절한 각도로 입사하는 전자빔들만이 그들의 구멍을 통과하여 적절한 위치의 인광체 화면에 도달하는 필터로서의 기능을 한다.
새도우 마스크의 한 단점은 대략 20%만이 전달될 수 있다는 점, 즉 CRT의 전자총에 의해 방출되는 전자의 대략 20%만이 궁극적으로 새도우 마스크의 구멍을 통과하여 인광체 화면에 도달한다는 점이다. 나머지 전자는 새도우 마스크에 의해 흡수되고, 여기에서 그들의 에너지는 열로서 방출된다. 새도우 마스크는 대략 33%의 이론적인 최대 전도도를 갖고, 전형적으로 대략 18% 정도의 전도도를 갖는다.
지금까지는 컬러 선택 구조를 통과하는 전자가 화면상의 관련된 컬러광을 방출하는 인광체만을 확실히 여기하도록 하면서, 컬러 선택 구조의 전도도를 증가시키기 위한 몇 가지의 기술이 공지되어 있다. 이러한 기술 중의 하나는 컬러 선택 구조의 각 구멍 내의 4중극 정전 렌즈를 한정하는 두 개 층의 포커스 마스크 컬러 선택 구조를 사용한다. 각 4중극 렌즈는, 4중극 렌즈를 포함하는 전계의 상대적인 크기와 극성에 따라, 4중극 렌즈를 통과하는 전자빔을 하나의 횡방향으로 집중시키고, 목표상의 직교 횡방향으로 이들을 흐트린다. 포커스 마스크 구조의 사용은 대략 60%의 극도의 전자 전도도를 가능케 하고, 포커스 마스크 구조가 1에 근접하는 이론상의 최대 전도도를 갖게 한다.
포커스 마스크 CRT는 성공적으로 구성되었지만, 치명적인 동작 결함이 언급되어 왔다. 특히, 실험적인 포커스 마스크 CRT는 변색 대역으로 설명되는 이형을 야기하는 것으로 알려졌고, 이 변색 대역은 화면을 가로질러 수평으로 확장된다. 이들 변색 대역은 매우 빈번하게 발생할 수 있고, 포커스 마스크 형태의 컬러 선택 수단을 채용하는 CRT의 사용을 상당히 저해할 수 있다.
본 발명 장치의 제 1의 특징에 있어서, 이러한 변색 대역은 포커스 마스크 구조내의 잔류 자화에 의해 야기되는 빔 랜딩(landing) 에러, 또는 부정합(misregistration)의 결과로 판단된다.
본 발명 장치의 제 2의 특징에 있어서, 마스크 구조의 잔류 자화는 천이 단락 회로에 의해 야기되는 국부적인 전류 또는 포커스 마스크 구조의 제 1 및 제 2 층 사이의 항복 현상에 기인하는 것으로 밝혀졌다. 이들 항복 현상은 CRT 내에 트랩된 도전성 미립자에 의해 촉진될 수 있다.
본 발명 장치의 제 3의 특징에 있어서, 변색 대역 보정 회로는 변색 대역을 신속히 제거하기 위하여 포커스 마스크를 소자(degauss)하여, 항복 현상의 효과가 비디오 표시 장치의 시청자에게 감지될 수 없도록 한다.
포커스 마스크 구조를 갖는 음극선관 내의 변색 대역을 제거하기 위한 장치는, 포커스 마스크 구조 내의 항복 현상을 검출하기 위한 항복 검출 회로와, 포커스 마스크를 소자하기 위해 상기 항복 검출 회로에 응답하는 소자 회로를 포함한다.
상기 소자 회로는 공진 토폴로지(topology)를 가질 수 있다. 상기 소자 회로는 공진 커패시터를 포함할 수 있고, 상기 커패시터의 대전은 항복 현상의 검출에 뒤따르는 소자 작용을 지연시킬 수 있다.
포커스 마스크 구조를 갖는 음극선관 내의 변색 대역을 제거하기 위한 다른 장치는, 포커스 마스크 구조 내의 항복 현상을 검출하기 위한 항복 검출 회로와, 상기 항복 검출 회로에 접속된 소자 제어 회로와, 포커스 마스크를 소자시키기 위해 상기 소자 제어 회로에 응답하는 소자 회로를 포함한다. 항복 검출 회로는 항복 현상의 검출 시에 상기 소자 제어 회로를 트리거(trigger)할 수 있다. 항복 검출 회로는 실질적으로 펄스 형태를 갖는 파형을 상기 소자 제어 회로에 공급할 수 있다.
상기 소자 제어 회로는, 항복 현상의 검출에 뒤따라 후속적으로 발생하는 음극선관 화면의 다음 블랭킹(blanking)까지, 소자 동작을 지연시킬 수 있다. 상기 블랭킹은 음극선관에 인가되는 비디오 신호의 수직 블랭킹 펄스에 응답할 수 있다.
상기 소자 제어 회로는, 항복 현상의 발생을 나타내는 정보를 저장하기 위한 수단과, 블랭킹 펄스를 상기 장치에 결합시키기 위한 수단과, 상기 저장 수단으로부터의 정보를 상기 블랭킹 펄스와 비교하기 위한 수단과, 상기 비교 수단에 응답하는 트리거 수단을 포함할 수 있다. 상기 트리거 수단은 동작의 재트리거 불가능 모드를 위해 구성될 수 있는 단안정 멀티-바이브레이터 회로를 포함할 수 있다. 상기 비교 수단은 후속하여 발생하는 다음의 블랭킹 펄스 중에 소자 동작을 가능케 할 수 있고, 이러한 블랭킹 펄스는 항복 현상의 검출에 뒤따르는 수직 블랭킹 펄스가 될 수 있다.
포커스 마스크 구조를 갖는 음극선관 내의 변색 대역을 제거하기 위한 또 다른 장치는, 항복 현상의 발생을 나타내는 정보를 저장하기 위한 수단과, 블랭킹 펄스를 상기 장치에 결합시키기 위한 수단과, 상기 저장 수단으로부터의 정보를 상기 블랭킹 펄스와 비교하기 위한 제 1의 수단과, 상기 비교 수단에 응답하는 트리거 수단과, 상기 제 1의 수단에 응답하는 펄스 파형을 발생시키기 위한 수단과, 상기 저장 수단으로부터의 정보를 상기 펄스 파형과 비교하기 위한 제 2의 수단과, 상기 포커스 마스크를 소자시키기 위해 상기 트리거 수단에 응답하는 소자 회로를 포함한다.
상기 제 2의 수단은 상기 펄스 파형 기간 중에 상기 포커스 마스크의 소자 동작을 지연시킬 수 있다. 상기 파형 발생 수단은 동작의 재트리거 불가능 모드를 위해 구성될 수 있는 단안정 멀티바이브레이터 회로를 포함할 수 있다.
본 발명의 상기 및 다른 특징과 장점은, 유사한 참조 번호가 동일한 요소를 나타내는 첨부된 도면에 관련된 다음의 설명으로부터 명백해질 것이다.
도 1은 종래의 포커스 마스크형 컬러 선택 구조를 도시한 도면.
도 2 내지 도 5는 포커스 마스크 컬러 선택 구조 내의 항복 현상을 설명하는 도면.
도 6은 본 발명 장치에 따른 변색 대역 보정 시스템을 도시한 블록도.
도 7 및 도 8은 도 6의 각 블록의 회로도.
도 9는 종래 기술의 공진 소자 회로도.
도 10은 도 9의 소자 회로의 동작을 설명하는 파형도.
도면 주요 부분에 대한 부호의 설명
10 : 금속 소선의 제 1 층 20 : 금속 소선
30 : 금속선의 제 2 층 40 : 수평 배향된 금속선
60 : 절연체 100 : 포커스 마스크 구조
200 : 변색 대역 보정 시스템 210 : 바이어스 전원
220 : 항복 검출 회로 230 : 소자 제어 회로
예증의 포커스 마스크 구조(100)가 도 1에 도시되었다. 상기 포커스 마스크는 수직 배향된 금속 소선(strand)(20)의 제 1의 층(10)을 포함할 수 있는데, 각각의 금속 소선은 예컨대 대략 10 밀(1 밀 = 2.54/1000 cm)의 폭과 대략 2 밀의 두께를 가질 수 있다. 이들 소선은 열처리된 AK 철 또는 퍼멀로이(permalloy)와 같은 강자성 재질로 구성될 수 있다. 예증의 포커스 마스크 구조는 수평 배향된 금속선(40)의 제 2의 층(30)을 포함할 수 있고, 각각의 금속선은 예컨대 대략 1 밀의 직경을 갖는다. 각각의 두 층 내의 도체는 모선(busbar)(도시 안됨)에 의해 각 단부에서 함께 연결된다. 커패시터(C)는 상기 포커스 마스크 구조의 두 층 사이의 고유 정전용량을 나타낸다. 수직 소선(30)과 수평 선(40)은, 예컨대 대략 20 밀의 수평 길이와 대략 15 밀의 수직 길이를 갖는 직사각형 마스크 구멍을 제공하도록 배치된다.
4중극 집속 동작은 수직 및 수평 도체(20, 40)를 각각 수백 내지 1000 V 이상 범위의 직류로 바이어스 시킴으로써 얻어진다. 예컨대 투과된 전자를 수직 인광체 줄무늬 상으로 향하도록 수평방향에서 전자빔을 집속시키기 위해서는, 수평 선(40)은 도 1에 도시된 바와 같이 수직 소선(20)에 대해 양의 극성을 가져야만 한다. 특정 CRT 기하학에 대한 바이어스 전압은 전형적으로 20 내지 30 kV 범위인 울터(ultor) 전압에 의존한다. 적절한 포커스 마스크 장치는 수직 소선(20)을 울터 전압에 접속시키고, 수평선(40)에 부가적인 양의 바이어스를 인가한다.
수직 소선(30)과 수평선(40)은 진공에서 사용가능한 전기 절연체(60) 예컨대 대략 3 밀의 두께를 가질 수 있는 유리 프릿(frit)에 의해 분리될 수 있다. 절연체(60)를 입사 전자빔에는 보이지 않도록 배치하여, 4중극 렌즈의 적절한 동작을 방해할 수 있는 절연체의 충전 효과가 방지될 수 있도록 하는 것이 유리하다.
변색 대역의 특성의 탐구를 통해 이들 대역이 포커스 마스크 구조의 잔류 자화에 의한 부정합에 기인하는 것을 알 수 있다. 더욱이, 국부적인 천이 단락 회로 또는 항복 현상이 잔류 자화의 주요 원인인 것으로 알려졌다.
이와 같은 항복 현상은 예컨대 CRT 내에 포함된 오염물질에 의해 야기될 수 있다. 상업적으로 대량 생산된 CRT는 반복적으로 일정 레벨의 오염을 나타내고, 이들은 전형적으로 전도성의 미립자, 예컨대 알루미늄 박편 또는 흑연 또는 철 입자와 같은 형태를 취하는 것은 공지된 사실이다. 변색 대역의 시험을 통해, CRT 내의 이들 전도성 미립자가 변색 대역 변형을 초래하는 항복 현상을 생성하는 주요 역할을 하는 것을 알 수 있다.
실험적인 연구를 기초로, 양호하게 구성된 포커스 마스크형 CRT라 할지라도 수분마다 한번 내지 수 백 시간마다 한번의 범위에서 임의의 장소에서 상기의 항복 현상이 나타나는 것으로 판단된다. 예컨대 운송 도중의 기계적인 진동은 느슨한 입자를 방출하기 쉽고, 따라서 포커스 마스크 구조 내의 항복 현상의 가능성을 증가시킨다. 더욱이, CRT의 정상 동작 중에 생성된 정전력은 느슨하게 고정된 입자를 방출시킬 수 있다. 따라서 CRT의 기대 수명 중에 변색 대역을 야기하는 항복 현상은 상당히 빈번하게 예상될 수 있다.
항복 현상과 변색 대역 사이의 관계는 도 2 내지 도 5를 참조로 이해될 수 있다. 도 2를 참조하면, 항복 현상은 점(A)에서 발생하는 것으로 가정되고, 이 점에서 전도성 미립자는 수평선(40')과 수직 소선(20')을 단락시킨다. 항복 현상을 한정하는 단락 회로는 저항(R)으로 표시되고, 이 저항의 사용은 항복 현상을 야기하는 전도성 미립자가 적기는 하지만 관련된 일정한 유한 저항값을 갖는다는 것을 나타낸다.
대략 4 A 가 될 수 있는 소선 양단간의 전류는 작용하는 수평선(40')을 통과하고 저항(R)을 통해 작용하는 수직 소선(20')으로 흐른다. 소선 양단간의 전류는, 주로 저항 열로 인한 전도성 미립자의 파괴 때문에 대략 수 마이크로 초 이후에는 흐름을 멈춘다. 또한, 제 1 및 제 2 층(10, 30)을 위한 바이어스 회로의 임피던스는 충분히 커서, 수 암페어의 전류가 회로를 통과하지 못하게 하므로, 소선 양단간의 전류의 기본 원인은 마스크 정전용량에 저장된 에너지이다. 이러한 에너지가 한번 분산되면, 소선 양단간의 전류는 떨어져야만 한다. 포커스 마스크(100)의 온도는 항복 현상 중에 크게 상승하지는 않는다.
소선 양단간의 전류의 흐름은 수평선(40') 주위의 자계(H)를 생성한다. 자계(H)의 크기는 수평선(40')에 가장 가까운 수직 소선(20)의 이들 점에서 대략 3000 A/m과 동일하다. 전도 수평선(40') 근처의 특정 점에서의 자계(H)의 크기는 특정 점으로부터 수평선(40')의 가장 가까운 점까지의 방사 거리에 역비례한다.
자계(H)는 도 3을 보아 알 수 있는 바와 같이, 수직 소선(20) 내에 플럭스 강도(B1)를 야기한다. 도 3a는 현재 선호되는 강자성 재질에 대한 B-H 곡선을 도시하고, 이 경우, 열처리된 AK 철이 수직 소선(20)을 구성하기 위해 사용될 수 있다. 도 3b는 퍼멀로이 재질을 위한 유사한 곡선을 도시한다. 소선(20')의 양측에서, 소선(20)은 도 2에 도시된 바와 같이, 서로에 대해 역으로 배향된 자계를 갖는다.
도 3a의 열처리된 AK 철을 참조하면, 소선 양단간의 전류에 의해 소선(20) 내에서 유도되는 플럭스 밀도(B1)는, 점(A) 상부 및 하부의 대략 150 밀의 거리 내에서, 대략 10,000 내지 대략 20,000 가우스(gauss) 범위이다.
소선 양단간의 전류가 한번 종료되면, 열처리된 AK 철을 위한 도 4a 및 퍼멀로이를 위한 도 4b에 의해 지시되는 바와 같이, 수직 소선(20)의 이들 포화 영역 내에 플럭스 강도(B1)의 대략 1/2이 유지된다. 이와 같이 자화된 수직 소선(20)은 이제 효과적으로 막대 자석이 되고, 자계 플럭스 밀도(B2)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 수직 소선(20)으로부터 진공 주위로 발산된다. 플럭스 밀도(B2)는, 수평선(40')으로부터 대략 10 밀 거리 내에서 대략 50 가우스의 크기를 갖고, 이 크기는 대략 150 밀의 거리에서는 대략 3 가우스로 줄어들 수 있다. 대략 675 밀과 동일한 Q-공간을 갖는 포커스 마스크형 CRT에 있어서, 이러한 형태의 플럭스 밀도 분포는 대략 60 마이크로메터의 최대 부정합 또는 빔 랜딩 에러를 야기할 수 있다.
변색 대역의 제거에 대한 명백한 해결책은 오염물을 제거하는 것이다. 그러나, 양호한 제조 방법으로 상당한 오염물을 줄일 수 있지만, 상업적으로 대량 생산된 CRT는 반복적으로 일정 레벨의 오염을 나타낸다는 것은 공지된 사실이다. 따라서, 제조 공정을 위해 오염이 없는 조건이 필요하다면, 포커스 마스크형 CRT 제조 원가를 상당히 아마도 엄청나게 증가시킬 것이다.
변색 대역 보정 시스템(200)에 있어서, 보다 양호한 해결책은 도 6의 블록 형태로 도시되어 있다. 포커스 마스크(100)의 제 1의 층(10)은 울터 전압에 접속되고, 이 울터 전압은 대략 20 kV 내지 대략 30 kV 의 범위를 가질 수 있다. 제 2의 층(30)은 바이어스 전원(210)에 접속되고, 이 바이어스 전원은 제 1의 층(10)에 대해 제 2의 층(30)을 양으로 바이어스시킨다. 바이어스 전원(210)은 종래의 설계로 구성될 수 있지만, 항복 현상이 발생하면, 제 1 및 제 2 층(10, 30) 사이에 각각 적절한 바이어스 전압을 신속하게 복구할 수 있도록, 충분히 강해야만 한다.
항복 검출 회로(220)는 바이어스 전원(210)의 동작점에서 순간적인 변화를 검출함으로써 포커스 마스크(100) 내의 항복 현상을 신속하게 검출한다. 예컨대, 항복 검출 회로(220)는 바이어스 전원(210)에 의해 제공되는 전압에서의 순간적인 감소 또는 바이어스 전원(210)으로부터의 전류에서의 순간적인 증가를 검출하도록 구성될 수 있다. 항복 현상이 한번 검출되면, 소자 제어 회로(230)는 소자 회로(270)에 의한 포커스 마스크(100)의 소자 동작을 개시시킨다.
항복 검출 회로(220)의 현재의 양호한 실시예를 나타내는 구성이 도 7에 도시되어 있다. 검출 수단(262)은 바이어스 전원(210)과 직렬로 연결되고, 또한 전파 정류기(227)에 접속된다. 검출 기능에 부가하여, 검출 수단(262)은 또한 고압 울터와 저압 항복 검출 회로(220) 사이의 전기적인 분리를 유익하게 제공한다.
검출 수단(262)은 수가지 방법으로 실현될 수 있고, 이중 일부가 도 7a 내지 도 7c에 도시되어 있다. 항복 검출 회로(220)의 현재의 양호한 실시예에 있어서, 검출 수단은, 도 7a에 도시된 바와 같이, 전류 트랜스(T1)이다. 대략 4번 감긴 1차 권선(221)은 포커스 마스크(100)의 제 2의 층(30)을 바이어스시키는데 사용되는 고압선(222)으로부터 구성된다. 이러한 형태의 고압선은 대략 35 kV까지의 전압에 통상적으로 사용될 수 있다. 2차 권선(223)은 200 번 감긴 24 AWG 배선이 될 수 있다. 트랜스(T1)의 1차 및 2차 권선의 감긴 회전수 및 그의 회전비는, 항복 검출 회로(220)의 특정 실시예에 의해 트랜스(T1)에 부가되는 요구에 따라 당업자에 의해 변화될 수 있다.
검출 수단(262)은, 포커스 마스크(100)의 두 층(10, 30) 사이의 정상 전압으로부터 임의의 편향을 검출함으로써 바이어스 전원(210)으로부터의 전류의 유입을 확인하기 위하여, 도 7b에 도시된 전압 트랜스(T2)로 선택적으로 동등하게 실현될 수 있다. 예컨대, 항복 현상이 발생하였을 때, 바이어스 전원(210)의 출력은 단락되고 전류는 바이어스 전원(210)에 의해 유입된다. 그러나, 바이어스 전원(210)의 출력이 단락되었기 때문에, 바이어스 전원(210)의 출력 전압은 순간적으로 떨어지고, 따라서 항복 현상의 발생을 나타낸다.
트랜스(T2)의 1차 권선(263)은 포커스 마스크(100)의 제 2 층(30)을 바이어스시키는데 사용되는 고압 배선(222)으로부터 형성될 수 있다. 트랜스(T2)의 1차 및 2차 권선(263, 264)의 각각의 감긴 회전수 및 그의 회전비는, 항복 검출 회로(220)의 특정 실시예에 의해 트랜스(T2)에 부가되는 요구에 따라 당업자에 의해 변화될 수 있다.
트랜스(T1, T2)의 1차 및 2차 권선은 환상면의 코어, 예컨대 산업 부품 번호(A-438381-2)를 가질 수 있고 아놀드 엔지니어링(Arnold Engineering)사로부터 제작되는 환상형 코어 상에 감겨질 수 있다. 실시예에서 환상형 코어의 사용은 도 7a 내지 도 7b에 도시되었고, 일부 다른 코어 형태도 사용될 수 있다.
도 7c를 참조하면, 검출 수단(262)은 광분리 장치(265)를 사용하여 실현될 수 있다. 도 7a 내지 도 7c에 도시된 검출 수단(262)은 단지 단순히 도시를 위한 것이고, 다른 실현도 본 발명 장치에서 사용될 수 있다는 것은 당업자에게는 명백할 것이다.
정상 동작에 있어서, 포커스 마스크(100)는 항복 현상을 거치지 않게 된다. 도 7을 참조하면, 정상 동작 중, 트랜지스터(Q1)는 비도통, 즉 오프 상태이다. 저항(R1)은 전압(Vcc)을 제 1의 단안정 멀티바이브레이터(225)의 하강 에지 트리거 입력(224)에 접속시키며, 이 멀티바이브레이터(225)는 예컨대, 산업 부품 번호(CD4098B)를 가질 수 있다. 멀티바이브레이터(225)의 반전 출력(226)은 이와 같은 정상 동작 중에는 논리 하이(high) 상태를 유지한다.
항복 현상이 포커스 마스크(100)에서 발생할 때, 소선 양단간의 전류는 마스크 정전용량과 바이어스 전원(210)에 의해 공급된다. 소선 양단간의 전류가 1차 권선(221)을 통해 흐름에 따라, 2차 전류(ISEC)가 2차 권선에 유도된다. 2차 전류(ISEC)의 크기는 소선 양단간의 전류의 크기와 트랜스(T1)의 1차-2차 권선수의 비의 곱과 같다.
상기 2차 전류(ISEC)는 전파 정류기(227)에 의해 정류된 후, 조정 저항(R2)과 인덕터(L1)를 통해 구동 트랜지스터(Q1)로 흐른다. 저항(R2)은, 항복 검출 회로(220)가 정상적으로 발생하는 리플 전압 및 전류로부터 진정한 항복 현상을 구별할 수 있도록, 조정된다.
이와 같이 트랜지스터(Q1)는 도통, 즉 턴온되기 시작하여, 기준 전압의 전위 예컨대, 접지 전위를 멀티바이브레이터(225)의 하강 에지 트리거 입력(224)에 접속시킨다. 다른 전자 장치, 예컨대 적절하게 구성된 연산 증폭기 회로 또는 비교기 회로가 이러한 접속을 제공하기 위해 트랜지스터(Q1)를 대신하여 사용될 수 있음을 당업자라면 인식할 것이다.
입력(224)에서 Vcc로부터 접지로의 천이는, 반전 입력(226)에서 음의 펄스(228)를 제공하기 위하여, 멀티바이브레이터(225)를 트리거한다. 펄스(228)는 대략 Vcc 전압과 동일한 피크-피크 사이의 값을 가질 수 있다. 펄스(228)의 펄스폭은 저항(R4)과 커패시터(C5)의 적절한 선택으로 설정된다. 항복 검출 회로(220)의 본 실시예에 있어서, 펄스(228)는 대략 50 마이크로 초와 동일한 펄스폭을 갖는다.
항복 검출 회로(220)의 저항(R6)은 펄스(228)를 도 8에 도시된 소자 제어 회로(230)에 접속시키다. 도 8의 스위치(S1, S2)는 소자 제어 회로(230)를 위한 수동(manual)소자 동작을 제공한다. 도 8에 도시된 스위치 위치는 자동 소자 동작을 가능케 한다.
도 8을 참조하면, 음의 펄스(228)는 다이오드(D5)와 저항(R13)에 의해 NAND 게이트(233)의 입력(231, 232)에 접속된다. 소자 제어 회로(230) 전반에 걸쳐 사용된 NAND 게이트는 산업 부품 번호(CD4093B)를 가질 수 있다.
따라서, NAND 게이트(233)의 출력은 논리 하이(high) 상태이고, 이는, 산업 부품 번호(CD4013B)를 가질 수 있는 D형 플립 플롭(235)의 세트(SET) 입력(234)에 인가된다. 입력(234)에서 논리 하이 상태에 대해, 플립 플롭(235)의 비반전 출력(236)은 논리 하이 상태가 된다.
출력(236)은 NAND 게이트(240)의 입력(237)에 접속된다. NAND 게이트(240)의 다른 입력(238)은, 본 설명의 이후의 부분에서 보다 상세하게 설명되는 바와 같이, 포커스 마스크(100)의 정상 동작 중 통상적으로 논리 하이 상태이다. 따라서, NAND 게이트(240)의 출력(239)은 논리 로우(low) 상태이고, 이는 항복 현상이 발생했음을 나타낸다. 이 논리 로우 상태는 D형 플립 플롭(244)의 데이터 입력(241)에 접속된다.
데이터 입력(241)에서 논리 로우 상태의 보수가, 클록 입력(243)에서 트리거 펄스의 상승 천이시에, 플립 플롭(244)의 비반전 출력(242)에 전달된다. 소자 제어 회로(230)의 본 양호한 실시예에 있어서, 트리거 펄스(245)는 비디오 표시 장치의 수직 블랭킹 펄스(246)로부터 양호하게 유도되어, 소자 동작은 항복 현상의 검출 후 다음 수직 블랭킹 기간까지 지연된다. 이것은 비디오 표시 장치의 시청자를 방해함이 없이 변색 대역 변형의 보정을 가능케 한다. 물론, 당업자라면 항복 현상의 검출에 즉각 소자 동작을 유효하게 하기 위하여, 소자 제어 회로(230)를 개선할 수 있거나, 또는 제거할 수도 있다.
수직 회귀 기간 중 수직 블랭킹 펄스(246)는, 도시된 바와 같이, 기준 전위 예컨대, 접지 전위 아래의 대략 4.5 V인 전압 레벨로 떨어진다. 수직 블랭킹 펄스(246)는, 광분리기(248)에 의해 또는 소자 제어 회로(230)로부터 수직 편향 회로를 적절하게 분리시키는 임의의 다른 수단에 의해, 반전 버퍼(247)에 접속될 수 있다. 반전 버퍼(247)는 양의 트리거 펄스(245)를 공급하고, 이 펄스는 대략 12 V의 피크-피크간의 값을 가질 수 있고, 대략 수직 블랭킹 기간, 즉 대략 1 밀리초(msec)와 동일한 펄스폭을 가질 수 있다.
트리거 펄스(245)가 한번 플립 플롭(244)의 클록 입력(243)에 인가되면, 반전 출력(242)에 논리 하이 상태가 유도되고, 이는 NAND 게이트(252)의 입력(249)에 접속된다. 트리거 펄스(245)는 NAND 게이트(252)의 다른 입력(250)에 공급된다. 출력(251)에서의 최종 논리 로우 상태는 반전 버퍼(253)에 의해 반전되고, 버퍼(253)의 출력(254)에서의 하이 상태로의 최종 천이는, 재트리거 불가능 구조 내에 접속된 단안정 멀티바이브레이터(255)를 트리거한다.
멀티바이브레이터(255)가 버퍼(253)에 의해 트리거될 때, 반전 출력(257)은 논리 로우 상태로 되고, 이 논리 로우 상태는 반전 버퍼(258, 259)에 의해 반전되어 논리 하이 상태를 공급한다. 이 논리 하이 상태의 지속 기간은 저항(R12)과 커패시터(C13)의 적절한 선택에 의해 설정된다. 본 양호한 실시예에 있어서, 이 논리 하이 상태의 지속 기간은 대략 수직 블랭킹 기간, 즉 대략 1 밀리초(msec)와 동일하다. 버퍼(258, 259)의 출력은, 도 9에 도시된 소자 회로(270)의 저항(R7, R8)에 의해 구성되는 전압 분할기에 접속된다.
도 9를 참조하면, 버퍼(258, 259)의 출력의 논리 하이 상태의 전압 분할기(R7, R8)로의 인가는 트랜지스터(Q2)가 도통, 즉 턴온되게 한다. 따라서 24V의 전압이 다이리스트(Q3)의 게이트 전극을 트리거하고, 결과적으로 소자 전류(IDG)는, 도 10에 도시된 줄어드는 공진의 방법으로, 공진 인덕터(L2)와 공진 커패시터(C6) 사이를 흐르게 되어, 포커스 마스크 구조를 소자시킨다.
이제 도 8 및 도 9를 참조하면, 포커스 마스크(100)의 정상 동작 중에 공진 커패시터(C6)는 890V DC의 공칭 전압으로 완전히 충전되고, NAND 게이트(240)의 입력(238)은 논리 하이 레벨이 된다. 그러나, 포커스 마스크(100)의 소자 동작 중에는, 소자 전류(IDG)가 소자 회로(270)를 통해 흐르고, 공진 커패시터(C6) 양단의 전압(Vc)은 공칭 전압 이하로 감소한다. 소자 동작이 한번 종료되면, 커패시터(C6)는 다음 소자 동작에 앞서 공칭 전압으로 재충전된다.
전압(Vc)이 그 공칭 전압 이하이면서, 항복 현상이 검출되고, 이에 따라 소자 동작이 시도된다면, 포커스 마스크(100)는 적절하게 소자되지 않는다. 예컨대 소자 동작이 이미 진해중이면서 항복 현상이 검출된다면, 이러한 상황이 발생할 수 있다.
소자 제어 회로(230)는 공진 커패시터(C6)가 완전히 충전될 때까지 소자 동작을 양호하게 지연시킨다. 따라서, 소자 동작이 항복 현상의 검출에 의해 한번 시작되면, 항복 현상의 검출에도 불구하고 후속하는 소자 동작은, 공진 커패시터(C6)가 완전히 충전된 후 첫 번째 수직 블랭킹 간격까지, 시작될 수 없다. 단안정 멀티바이브레이터(256)의 선행 에지 트리거 입력(260)은 단안정 멀티바이브레이터(255)의 대응하는 입력에 접속된다. 멀티바이브레이터(256)는 재트리거 불가능 구조로 연결된다. 멀티바이브레이터(255)가 버퍼(253)의 출력(254)에서 양으로 천이됨에 따라서 소자 동작의 시작에 의해 트리거될 때, 멀티바이브레이터(256)는 마찬가지로 트리거되고, 논리 로우 상태는 멀티바이브레이터(256)의 반전 출력(261)에 의해 NAND 게이트(240)의 입력(238)에 공급된다. 멀티바이브레이터(256)의 출력(261)이 NAND 게이트(240)의 입력(238)에 논리 하이 상태를 공급할 때까지 소자 동작은 시작될 수 없다. 이것은 멀티바이브레이터(256)가 먼저 트리거된 후 소정 시간에 발생한다. 상기 소정 시간 간격은 저항(R14)과 커패시터(C2)의 적절한 선택에 의해 설정된다.
본 발명이 특정 실시예로 설명되었지만, 당업자에게는 본 발명의 본질로부터 벗어나지 않고도 개시된 실시예에 개선과 변경이 이루어질 수 있음은 명백할 것이다. 예컨대, 당업자는 항복 검출 회로(220)와 소자 제어 회로(230)에서 수행되는 논리 기능이 마이크로프로세서와 관련 회로에 의해 수행될 수 있음을 인식할 것이다. 그러므로, 첨부된 청구범위가 선행 명세서와 예로부터 유도되는 모든 변경을 보호하려 의도된 것임을 이해해야 한다.

Claims (19)

  1. 포커스 마스크 구조를 갖는 음극선관에서의 변색(discoloration) 대역을 제거하기 위한 장치에 있어서,
    상기 포커스 마스크 구조내의 항복 현상을 검출하기 위한 항복 검출 회로와,
    상기 포커스 마스크 구조를 소자시키기 위해 상기 항복 검출 회로에 응답하는 소자 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 소자 회로는 공진 토폴로지(topology)를 갖는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 소자 회로는 공진 커패시터를 포함하고, 상기 커패시터의 충전은 상기 항복 현상의 검출에 뒤따르는 상기 소자 동작을 지연시키는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  4. 제 1항에 있어서, 항복 현상의 검출 시, 상기 포커스 마스크 구조의 자동 또는 수동 소자 동작을 선택하기 위한 제 1 스위치 수단과,
    수동 소자 동작을 시작시키기 위한 제 2의 스위치 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  5. 포커스 마스크 구조를 갖는 음극선관에서의 변색(discoloration) 대역을 제거하기 위한 장치에 있어서,
    상기 포커스 마스크 구조내의 항복 현상을 검출하기 위한 항복 검출 회로와,
    상기 항복 검출 회로에 접속된 소자 제어 회로와,
    상기 포커스 마스크 구조를 소자시키기 위해 상기 소자 제어 회로에 응답하는 소자 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  6. 제 5항에 있어서, 상기 항복 검출 회로는 상기 항복 현상의 검출 시 상기 소자 제어 회로를 트리거하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  7. 제 6항에 있어서, 상기 항복 검출 회로는 상기 소자 제어 회로에 파형을 제공하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  8. 제 7항에 있어서, 상기 파형은 실질적으로 펄스 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  9. 제 6항에 있어서, 상기 소자 제어 회로는, 상기 항복 현상의 검출에 뒤따라 후속적으로 발생하는 상기 음극선관 화면의 다음 블랭킹까지 소자 동작을 지연시키는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  10. 제 9항에 있어서, 상기 블랭킹은 상기 음극선관에 인가된 비디오 신호의 수직 블랭킹 펄스에 응답하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  11. 제 5항에 있어서, 상기 소자 제어 회로는, 항복 현상의 발생을 지시하는 정보를 저장하기 위한 수단과,
    블랭킹 펄스를 상기 장치에 접속하기 위한 수단과,
    상기 저장 수단으로부터의 상기 정보를 상기 블랭킹 펄스와 비교하기 위한 수단과,
    상기 비교 수단에 응답하는 트리거 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  12. 제 11항에 있어서, 상기 트리거 수단은 단안정 멀티바이브레이터 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  13. 제 12항에 있어서, 상기 멀티바이브레이터 회로는 동작의 재트리거 불가능 모드로 구성되는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  14. 제 11항에 있어서, 상기 비교 수단은, 상기 항복 현상의 검출에 뒤이어 다음에 후속적으로 발생하는 블랭킹 펄스 중에 소자 동작을 가능케 하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  15. 제 14항에 있어서, 상기 블랭킹 펄스는 수직 블랭킹 펄스인 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  16. 포커스 마스크 구조를 갖는 음극선관에서의 변색(discoloration) 대역을 제거하기 위한 장치에 있어서,
    항복 현상의 발생을 지시하는 정보를 저장하기 위한 수단과,
    블랭킹 펄스를 상기 장치에 접속하기 위한 수단과,
    상기 저장 수단으로부터의 상기 정보를 상기 블랭킹 펄스와 비교하기 위한 제 1의 수단과,
    상기 비교 수단에 응답하는 트리거 수단과,
    상기 제 1의 수단에 응답하여 펄스 파형을 생성하기 위한 수단과,
    상기 저장 수단으로부터의 상기 정보를 상기 펄스 파형과 비교하기 위한 제 2의 수단과,
    상기 포커스 마스크 구조를 소자시키기 위해 상기 트리거 수단에 응답하는 소자 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  17. 제 16항에 있어서, 상기 제 2의 수단은 상기 펄스 파형의 지속 기간 중에 상기 포커스 마스크 구조의 소자 동작을 지연시키는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  18. 제 16항에 있어서, 상기 펄스 파형 생성 수단은 단안정 멀티바이브레이터 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
  19. 제 18항에 있어서, 상기 멀티바이브레이터 회로는 동작의 재트리거 불가능 모드로 구성되는 것을 특징으로 하는 변색 대역 제거 장치.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6894445B2 (en) * 2001-08-31 2005-05-17 Thomson Licensing S.A. Cathode ray tube phosphor protection
US8936592B2 (en) 2010-06-03 2015-01-20 Ams Research Corporation Laser tissue ablation system
CN104953840B (zh) * 2014-03-31 2017-11-21 比亚迪股份有限公司 采样装置和具其的开关电源管理芯片及充电器

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4329648A (en) * 1980-07-21 1982-05-11 Rca Corporation Method of checking for electrical frit breakdown in kinescopes and apparatus therefor
US4445072A (en) * 1982-09-29 1984-04-24 Motorola, Inc. CRT Degaussing system
US4458178A (en) * 1982-09-29 1984-07-03 Motorola, Inc. Logic controlled degaussing system
US4514658A (en) * 1983-03-31 1985-04-30 Rca Corporation Mesh lens focus mask for a cathode-ray tube
US4535270A (en) * 1983-11-17 1985-08-13 Rca Corporation Resonant degaussing without residual magnetism
CA1238764A (en) * 1986-12-08 1988-07-05 Tenneco Canada Inc. Production of chlorine dioxide
US4636911A (en) * 1984-11-30 1987-01-13 Rca Corporation Resonant degaussing for a video display system
JPS61184470A (ja) * 1985-02-12 1986-08-18 Nec Corp 陰極線管の管内放電検出用カウンタ
EP0373156B1 (en) * 1985-10-11 1993-08-04 RCA Thomson Licensing Corporation Cathode ray tube degaussing circuitry
JPS63316589A (ja) * 1987-06-19 1988-12-23 Victor Co Of Japan Ltd テレビジョン受像機
JPH02305091A (ja) * 1989-05-18 1990-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 消磁回路
IT1248761B (it) * 1990-06-08 1995-01-27 Fimi Srl Circuito di compensazione della componente orizzontale del campo magnetico terrestre per cinescopio a colori di monitor ad alta risoluzione
JPH06237466A (ja) * 1993-02-10 1994-08-23 Sony Corp 映像表示装置の消磁装置
US5499156A (en) * 1994-11-18 1996-03-12 Hughes Aircraft Company Forced, resonant degaussing system and method
KR0164916B1 (ko) * 1995-01-25 1999-03-20 구자홍 차량탑재용 텔레비젼 수상기의 소자 회로와 소자 제어 방법
US5929641A (en) * 1996-08-22 1999-07-27 Thomson Consumer Electronics, Inc. Breakdown event detector

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ID18058A (id) 1998-02-26
US5729092A (en) 1998-03-17

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