KR102673793B1 - Method, device and system for measuring in conjunction with mobile terminal with increased usability - Google Patents

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Abstract

일실시예에 따르면, 장치에 의해 수행되는, 활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법에 있어서, 제1 전자 기기와 연결된 제1 측정 기기로부터, 미리 설정된 제1 기간마다 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 측정 결과를 수신하는 단계; 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 제1 측정 결과가 수신되면, 상기 제1 측정 결과를 기반으로, 상기 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류를 제1 전류로 확인하고, 상기 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전압을 제1 전압으로 확인하는 단계; 상기 제1 전류와 상기 제1 전자 기기의 허용 전류 범위를 비교하여, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전류 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 전류 이상 상태 지수를 설정하는 단계; 상기 제1 전압과 상기 제1 전자 기기의 허용 전압 범위를 비교하여, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전압 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 전압 이상 상태 지수를 설정하는 단계; 상기 제1 전류 이상 상태 지수 및 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 합산한 값으로, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 상태 지수를 설정하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 미리 설정된 제1 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 정상 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 상기 제1 기준 점수 보다 높지만 미리 설정된 제2 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 상기 제2 기준 점수 보다 높지만 미리 설정된 제3 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 상기 제3 기준 점수 보다 높은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 위험 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 전자 기기가 경고 기기로 분류된 경우, 상기 제1 전자 기기가 경고 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 제1 사용자 단말로 전송하는 단계; 및 상기 제1 전자 기기가 위험 기기로 분류된 경우, 상기 제1 전자 기기가 위험 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 상기 제1 사용자 단말로 전송하고, 상기 제1 전자 기기의 동작이 정지되도록 제어하는 단계를 포함하는, 활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법이 제공된다.According to one embodiment, in a mobile terminal linked measurement method with increased usability performed by a device, the current of the first electronic device is measured from a first measurement device connected to the first electronic device every first preset period. and receiving measurement results generated by measuring the voltage; When a first measurement result generated by measuring the current and voltage of the first electronic device at a first time is received, based on the first measurement result, the current of the first electronic device at the first time is checking the current and checking the voltage of the first electronic device at the first time as the first voltage; Comparing the first current with an allowable current range of the first electronic device and setting a first abnormal current state index numerically representing the current abnormal state of the first electronic device at the first time point; Comparing the first voltage and an allowable voltage range of the first electronic device, and setting a first voltage abnormality index that numerically represents the voltage abnormality state of the first electronic device at the first time point; setting a first state index that numerically represents the abnormal state of the first electronic device at the first point in time, as a sum of the first current abnormal state index and the first voltage abnormal state index; If the first condition index is confirmed to be lower than a preset first standard score, classifying the first electronic device as a normal device; If the first status index is confirmed to be higher than the first reference score but lower than a preset second reference score, classifying the first electronic device as a cautionary device; If the first condition index is confirmed to be higher than the second reference score but lower than a preset third reference score, classifying the first electronic device as a warning device; If the first condition index is confirmed to be higher than the third standard score, classifying the first electronic device as a dangerous device; If the first electronic device is classified as a warning device, transmitting a notification message notifying that the first electronic device is classified as a warning device to the first user terminal; And when the first electronic device is classified as a dangerous device, a notification message notifying that the first electronic device is classified as a dangerous device is transmitted to the first user terminal, and the operation of the first electronic device is stopped. A mobile terminal-linked measurement method with increased usability, including a control step, is provided.

Description

활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법, 장치 및 시스템 {METHOD, DEVICE AND SYSTEM FOR MEASURING IN CONJUNCTION WITH MOBILE TERMINAL WITH INCREASED USABILITY}Measurement method, device and system linked to mobile terminal with increased usability {METHOD, DEVICE AND SYSTEM FOR MEASURING IN CONJUNCTION WITH MOBILE TERMINAL WITH INCREASED USABILITY}

아래 실시예들은 활용성이 증대된 모바일 단말기와 연동하여 계측하기 위한 기술에 관한 것이다.The examples below relate to technology for measuring in conjunction with mobile terminals with increased usability.

최근 들어, 가정 또는 직장 내에서 사용되는 전자 기기의 수는 급증하고 있다. 이렇게 많은 전자 기기들을 사용함에 따라 이들 전자 기기가 정상적으로 동작하고 있는지에 대한 관리는 점차 어려워지고 있다.Recently, the number of electronic devices used at home or at work is rapidly increasing. As so many electronic devices are used, it is becoming increasingly difficult to manage whether these electronic devices are operating normally.

이에 따라, 다수의 전자 기기들을 통합적으로 관리하는 경우, 각 전자 기기에 어떠한 문제가 발생되는지를 즉시 확인하기 어려운 문제가 많아, 전자 기기의 문제를 빠르게 확인할 수 없으며, 이로 인해, 전자 기기의 폭발로 이어져 화재가 발생할 수도 있는 문제점이 있다.Accordingly, when managing multiple electronic devices in an integrated manner, there are many problems in which it is difficult to immediately determine what kind of problem occurs in each electronic device, making it impossible to quickly identify problems with the electronic device, which can lead to an explosion of the electronic device. There is a problem that could lead to a fire.

따라서, 각 전자 기기의 상태를 모니터링 하여, 다수의 전자 기기를 효율적으로 관리할 수 있는 기술의 개발이 필요한 실정이다.Therefore, there is a need to develop technology that can efficiently manage multiple electronic devices by monitoring the status of each electronic device.

한국등록특허 제10-2203470호Korean Patent No. 10-2203470 한국등록특허 제10-1708762호Korean Patent No. 10-1708762 한국등록특허 제10-1625566호Korean Patent No. 10-1625566 한국등록특허 제10-1473762호Korean Patent No. 10-1473762

일실시예에 따르면, 활용성이 증대된 모바일 단말기와 연동하여 계측하는 방법, 장치 및 시스템을 제공하기 위한 것을 그 목적으로 한다.According to one embodiment, the purpose is to provide a method, device, and system for measuring in conjunction with a mobile terminal with increased usability.

본 발명의 목적은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The object of the present invention is not limited to the object mentioned above, and other objects not mentioned can be clearly understood from the description below.

일실시예에 따르면, 장치에 의해 수행되는, 활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법에 있어서, 제1 전자 기기와 연결된 제1 측정 기기로부터, 미리 설정된 제1 기간마다 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 측정 결과를 수신하는 단계; 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 제1 측정 결과가 수신되면, 상기 제1 측정 결과를 기반으로, 상기 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류를 제1 전류로 확인하고, 상기 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전압을 제1 전압으로 확인하는 단계; 상기 제1 전류와 상기 제1 전자 기기의 허용 전류 범위를 비교하여, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전류 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 전류 이상 상태 지수를 설정하는 단계; 상기 제1 전압과 상기 제1 전자 기기의 허용 전압 범위를 비교하여, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전압 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 전압 이상 상태 지수를 설정하는 단계; 상기 제1 전류 이상 상태 지수 및 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 합산한 값으로, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 상태 지수를 설정하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 미리 설정된 제1 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 정상 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 상기 제1 기준 점수 보다 높지만 미리 설정된 제2 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 상기 제2 기준 점수 보다 높지만 미리 설정된 제3 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 상태 지수가 상기 제3 기준 점수 보다 높은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 위험 기기로 분류하는 단계; 상기 제1 전자 기기가 경고 기기로 분류된 경우, 상기 제1 전자 기기가 경고 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 제1 사용자 단말로 전송하는 단계; 및 상기 제1 전자 기기가 위험 기기로 분류된 경우, 상기 제1 전자 기기가 위험 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 상기 제1 사용자 단말로 전송하고, 상기 제1 전자 기기의 동작이 정지되도록 제어하는 단계를 포함하는, 활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법이 제공된다.According to one embodiment, in a mobile terminal linked measurement method with increased usability performed by a device, the current of the first electronic device is measured from a first measurement device connected to the first electronic device every first preset period. and receiving measurement results generated by measuring the voltage; When a first measurement result generated by measuring the current and voltage of the first electronic device at a first time is received, based on the first measurement result, the current of the first electronic device at the first time is checking the current and checking the voltage of the first electronic device at the first time as the first voltage; Comparing the first current with an allowable current range of the first electronic device and setting a first abnormal current state index numerically representing the current abnormal state of the first electronic device at the first time point; Comparing the first voltage and an allowable voltage range of the first electronic device, and setting a first voltage abnormality index that numerically represents the voltage abnormality state of the first electronic device at the first time point; setting a first state index that numerically represents the abnormal state of the first electronic device at the first point in time, as a sum of the first current abnormal state index and the first voltage abnormal state index; If the first condition index is confirmed to be lower than a preset first standard score, classifying the first electronic device as a normal device; If the first status index is confirmed to be higher than the first reference score but lower than a preset second reference score, classifying the first electronic device as a cautionary device; If the first condition index is confirmed to be higher than the second reference score but lower than a preset third reference score, classifying the first electronic device as a warning device; If the first condition index is confirmed to be higher than the third standard score, classifying the first electronic device as a dangerous device; If the first electronic device is classified as a warning device, transmitting a notification message notifying that the first electronic device is classified as a warning device to the first user terminal; And when the first electronic device is classified as a dangerous device, a notification message notifying that the first electronic device is classified as a dangerous device is transmitted to the first user terminal, and the operation of the first electronic device is stopped. A mobile terminal-linked measurement method with increased usability, including a control step, is provided.

상기 제1 전류 이상 상태 지수를 설정하는 단계는, 상기 제1 전류가 상기 허용 전류 범위 내에 포함되어 있는 것으로 확인되면, 상기 제1 전류 이상 상태 지수를 0으로 설정하는 단계; 상기 제1 전류가 상기 허용 전류 범위를 벗어나 상기 허용 전류 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, 상기 제1 전류와 상기 허용 전류 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 상기 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계; 및 상기 제1 전류가 상기 허용 전류 범위를 벗어나 상기 허용 전류 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, 상기 제1 전류와 상기 허용 전류 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 상기 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.Setting the first abnormal current state index may include setting the first abnormal current state index to 0 when it is confirmed that the first current is within the allowable current range; If it is confirmed that the first current is outside the allowable current range and is less than the minimum value of the allowable current range, the greater the difference between the first current and the minimum value of the allowable current range, the greater the first current or more within the range from 1 to 5. setting the status index to a high score; And when it is confirmed that the first current is outside the allowable current range and is greater than the maximum value of the allowable current range, the greater the difference between the first current and the maximum value of the allowable current range, the greater the first current within the range from 6 to 10. 1 It may include setting the current abnormal state index to a high score.

상기 제1 전압 이상 상태 지수를 설정하는 단계는, 상기 제1 전압이 상기 허용 전압 범위 내에 포함되어 있는 것으로 확인되면, 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 0으로 설정하는 단계; 상기 제1 전압이 상기 허용 전압 범위를 벗어나 상기 허용 전압 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, 상기 제1 전압과 상기 허용 전압 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계; 및 상기 제1 전압이 상기 허용 전압 범위를 벗어나 상기 허용 전압 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, 상기 제1 전압과 상기 허용 전압 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.Setting the first voltage abnormality index may include setting the first voltage abnormality index to 0 when it is confirmed that the first voltage is within the allowable voltage range; If it is confirmed that the first voltage is outside the allowable voltage range and is less than the minimum value of the allowable voltage range, the greater the difference between the first voltage and the minimum value of the allowable voltage range, the greater the first voltage or more within the range from 1 to 5. setting the status index to a high score; And if it is confirmed that the first voltage is outside the allowable voltage range and is greater than the maximum value of the allowable voltage range, the greater the difference between the first voltage and the maximum value of the allowable voltage range, the second voltage within the range from 6 to 10 1 It may include setting the voltage abnormality index to a high score.

상기 활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법은, 상기 제1 전자 기기를 정상 기기로 분류한 경우, 상기 제1 전자 기기의 측정 기간이 상기 제1 기간으로 유지되도록 제어하는 단계; 상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류한 경우, 상기 제1 기간에 100% 보다 작은 값으로 설정된 제1 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계; 상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류한 경우, 상기 제1 기간에 상기 제1 가중치 보다 작은 값으로 설정된 제2 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계; 및 상기 제1 전자 기기를 위험 기기로 분류한 경우, 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압이 측정되지 않도록, 상기 제1 기간을 무한대 값으로 조정하는 단계를 더 포함할 수 있다.The mobile terminal linked measurement method with increased usability includes the steps of controlling the measurement period of the first electronic device to be maintained at the first period when the first electronic device is classified as a normal device; If the first electronic device is classified as an attention device, adjusting the first period by applying a first weight set to a value less than 100% to the first period; If the first electronic device is classified as a warning device, adjusting the first period by applying a second weight set to a smaller value than the first weight to the first period; And when the first electronic device is classified as a dangerous device, the method may further include adjusting the first period to an infinite value so that the current and voltage of the first electronic device are not measured.

상기 활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법은, 상기 제1 전자 기기가 설치된 지점이 제1 지점으로 확인되면, 상기 제1 지점을 중심으로 미리 설정된 제1 기준 거리 이내에 있는 영역을 제1 기준 영역으로 설정하고, 상기 제1 지점을 중심으로 상기 제1 기준 거리 보다 긴 거리로 설정된 제2 기준 거리 이내에 있는 영역을 제2 기준 영역으로 설정하는 단계; 상기 제1 사용자 단말이 상기 제1 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기의 측정 기간이 상기 제1 기간으로 유지되도록 제어하는 단계; 상기 제1 사용자 단말이 상기 제1 기준 영역을 벗어나 상기 제2 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, 상기 제1 기간에 100% 보다 작은 값으로 설정된 제3 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계; 및 상기 제1 사용자 단말이 상기 제2 기준 영역을 벗어나 위치하는 것으로 확인되면, 상기 제1 기간에 상기 제3 가중치 보다 작은 값으로 설정된 제4 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계를 더 포함할 수 있다.In the mobile terminal linked measurement method with increased usability, when the point where the first electronic device is installed is identified as the first point, the area within a preset first reference distance centered on the first point is called the first reference area. , and setting an area within a second reference distance set to be longer than the first reference distance centered on the first point as a second reference area; When it is confirmed that the first user terminal is located within the first reference area, controlling the measurement period of the first electronic device to be maintained at the first period; If it is confirmed that the first user terminal is located outside the first reference area and within the second reference area, adjust the first period by applying a third weight set to a value less than 100% to the first period. steps; And when it is confirmed that the first user terminal is located outside the second reference area, adjusting the first period by applying a fourth weight set to a value smaller than the third weight to the first period. More may be included.

일실시예에 따르면, 전자 기기의 전압 및 전류를 측정한 결과를 통해, 전자 기기의 이상 상태를 수치로 설정하고, 전자 기기의 이상 상태를 수치로 나타낸 상태 지수를 이용하여, 전자 기기의 상태를 분류함으로써, 전자 기기를 효율적으로 관리할 수 있는 효과가 있다.According to one embodiment, the abnormal state of the electronic device is set as a numerical value through the results of measuring the voltage and current of the electronic device, and the state of the electronic device is determined using a condition index that represents the abnormal state of the electronic device in numbers. Classification has the effect of efficiently managing electronic devices.

한편, 실시예들에 따른 효과들은 이상에서 언급한 것으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 해당 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게 명확히 이해될 수 있을 것이다.Meanwhile, the effects according to the embodiments are not limited to those mentioned above, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

도 1은 일실시예에 따른 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 일실시예에 전자 기기의 이상 상태를 수치로 나타낸 상태 지수를 설정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 3은 일실시예에 따른 상태 지수를 통해 전자 기기를 분류하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 4는 일실시예에 따른 전류 이상 상태 지수를 설정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 5는 일실시예에 따른 전압 이상 상태 지수를 설정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 6은 일실시예에 따른 전자 기기의 분류 결과에 따라 측정 기간을 조정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 7은 일실시예에 따른 사용자 단말의 위치에 따라 측정 기간을 조정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 8은 일실시예에 따른 전자 기기의 분류 결과에 따라 상태 지수를 조정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 9는 일실시예에 따른 전자 기기의 교체가 필요한지 여부를 판단하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 10은 일실시예에 따른 교체가 필요한 전자 기기의 부품에 대한 검색 결과를 전송하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
도 11은 일실시예에 따른 장치의 구성의 예시도이다.
1 is a diagram schematically showing the configuration of a system according to an embodiment.
FIG. 2 is a flowchart illustrating a process for setting a condition index that numerically represents an abnormal state of an electronic device according to an embodiment.
FIG. 3 is a flowchart illustrating a process for classifying electronic devices through condition indices according to an embodiment.
Figure 4 is a flowchart for explaining the process of setting the current abnormal state index according to one embodiment.
Figure 5 is a flowchart for explaining a process for setting a voltage abnormality index according to an embodiment.
FIG. 6 is a flowchart illustrating a process for adjusting a measurement period according to a classification result of an electronic device according to an embodiment.
Figure 7 is a flow chart to explain the process of adjusting the measurement period according to the location of the user terminal according to one embodiment.
Figure 8 is a flow chart to explain the process of adjusting the condition index according to the classification result of the electronic device according to one embodiment.
9 is a flowchart illustrating a process for determining whether replacement of an electronic device is necessary according to an embodiment.
FIG. 10 is a flowchart illustrating a process for transmitting search results for parts of an electronic device requiring replacement, according to an embodiment.
Figure 11 is an exemplary diagram of the configuration of a device according to an embodiment.

이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 실시예들을 상세하게 설명한다. 그러나, 실시예들에는 다양한 변경이 가해질 수 있어서 특허출원의 권리 범위가 이러한 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 실시예들에 대한 모든 변경, 균등물 내지 대체물이 권리 범위에 포함되는 것으로 이해되어야 한다.Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the attached drawings. However, various changes can be made to the embodiments, so the scope of the patent application is not limited or limited by these embodiments. It should be understood that all changes, equivalents, or substitutes for the embodiments are included in the scope of rights.

실시예들에 대한 특정한 구조적 또는 기능적 설명들은 단지 예시를 위한 목적으로 개시된 것으로서, 다양한 형태로 변경되어 실시될 수 있다. 따라서, 실시예들은 특정한 개시형태로 한정되는 것이 아니며, 본 명세서의 범위는 기술적 사상에 포함되는 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.Specific structural or functional descriptions of the embodiments are disclosed for illustrative purposes only and may be modified and implemented in various forms. Accordingly, the embodiments are not limited to the specific disclosed form, and the scope of the present specification includes changes, equivalents, or substitutes included in the technical spirit.

제1 또는 제2 등의 용어를 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 이런 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 해석되어야 한다. 예를 들어, 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소는 제1 구성요소로도 명명될 수 있다.Terms such as first or second may be used to describe various components, but these terms should be interpreted only for the purpose of distinguishing one component from another component. For example, a first component may be named a second component, and similarly, the second component may also be named a first component.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.When a component is referred to as being “connected” to another component, it should be understood that it may be directly connected or connected to the other component, but that other components may exist in between.

실시예에서 사용한 용어는 단지 설명을 목적으로 사용된 것으로, 한정하려는 의도로 해석되어서는 안된다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the examples are for descriptive purposes only and should not be construed as limiting. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this specification, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate the presence of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but are not intended to indicate the presence of one or more other features. It should be understood that this does not exclude in advance the possibility of the existence or addition of elements, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as generally understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the embodiments belong. Terms defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and should not be interpreted in an ideal or excessively formal sense unless explicitly defined in the present application. No.

또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일한 참조부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 실시예의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.In addition, when describing with reference to the accompanying drawings, identical components will be assigned the same reference numerals regardless of the reference numerals, and overlapping descriptions thereof will be omitted. In describing the embodiments, if it is determined that detailed descriptions of related known technologies may unnecessarily obscure the gist of the embodiments, the detailed descriptions are omitted.

실시예들은 퍼스널 컴퓨터, 랩톱 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터, 스마트 폰, 텔레비전, 스마트 가전 기기, 지능형 자동차, 키오스크, 웨어러블 장치 등 다양한 형태의 제품으로 구현될 수 있다.Embodiments may be implemented in various types of products such as personal computers, laptop computers, tablet computers, smart phones, televisions, smart home appliances, intelligent vehicles, kiosks, and wearable devices.

도 1은 일실시예에 따른 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.1 is a diagram schematically showing the configuration of a system according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 일실시예에 따른 복수의 전자 기기(100), 복수의 측정 기기(200), 복수의 사용자 단말(300) 및 장치(400)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , it may include a plurality of electronic devices 100, a plurality of measuring devices 200, a plurality of user terminals 300, and a device 400 according to an embodiment.

먼저, 통신망은 유선 및 무선 등과 같이 그 통신 양태를 가리지 않고 구성될 수 있으며, 서버와 서버 간의 통신과 서버와 단말 간의 통신이 수행되도록 다양한 형태로 구현될 수 있다.First, a communication network can be configured regardless of the communication mode, such as wired or wireless, and can be implemented in various forms to enable communication between servers and between servers and terminals.

먼저, 복수의 전자 기기(100) 각각은 통신 기능을 갖춘 전자 기기로 구현될 수 있으며, 외부 장치와 연결되어 통신을 수행하고 전자적으로 구동되어 동작하는 다양한 형태의 기기로 구현될 수 있다. 예를 들어, 제1 전자 기기(110)는 컴퓨터이고, 제2 전자 기기(120)는 TV일 수 있으며, 이에 한정되지 않고 복수의 전자 기기(100) 각각은 다양한 종류의 기기로 구현될 수 있다.First, each of the plurality of electronic devices 100 may be implemented as an electronic device with a communication function, and may be implemented as various types of devices that are connected to external devices to perform communication and are driven and operated electronically. For example, the first electronic device 110 may be a computer, and the second electronic device 120 may be a TV, but are not limited to this and each of the plurality of electronic devices 100 may be implemented as various types of devices. .

복수의 전자 기기(100)는 복수의 측정 기기(200)와 유무선을 통해 통신하도록 구성될 수 있고, 장치(400)와 유무선을 통해 통신하도록 구성될 수 있다.The plurality of electronic devices 100 may be configured to communicate with the plurality of measuring devices 200 through wired or wireless means, and may be configured to communicate with the device 400 through wired or wireless means.

복수의 측정 기기(200) 각각은 전자 기기의 전류, 전압 등을 측정하는 측정 기기로 구현될 수 있으며, 복수의 전자 기기(100)와 연결되어 복수의 전자 기기(100) 각각의 전류, 전압 등을 실시간으로 측정할 수 있다.Each of the plurality of measuring devices 200 may be implemented as a measuring device that measures the current, voltage, etc. of the electronic devices, and is connected to the plurality of electronic devices 100 to measure the current, voltage, etc. of each of the plurality of electronic devices 100. can be measured in real time.

복수의 측정 기기(200)는 복수의 전자 기기(100)와 일대일 대응 관계를 가질 수 있으며, 예를 들어, 제1 측정 기기(210)는 제1 전자 기기(110)의 전원 라인에 연결되어 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정할 수 있고, 제2 측정 기기(220)는 제2 전자 기기(120)의 전원 라인에 연결되어 제2 전자 기기(120)의 전류 및 전압을 측정할 수 있다.The plurality of measuring devices 200 may have a one-to-one correspondence with the plurality of electronic devices 100. For example, the first measuring device 210 is connected to the power line of the first electronic device 110 and 1 The current and voltage of the electronic device 110 can be measured, and the second measuring device 220 is connected to the power line of the second electronic device 120 to measure the current and voltage of the second electronic device 120. can do.

복수의 측정 기기(200)는 복수의 전자 기기(100)의 전류 및 전압을 측정하여 측정 결과를 생성하고, 생성된 측정 결과를 장치(400)로 전송할 수 있다. 예를 들어, 제1 측정 기기(210)는 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 측정 결과를 생성하고, 생성된 측정 결과를 장치(400)로 전송할 수 있으며, 제2 측정 기기(220)는 제2 전자 기기(120)의 전류 및 전압을 측정하여 측정 결과를 생성하고, 생성된 측정 결과를 장치(400)로 전송할 수 있다. 이때, 미리 설정된 기간마다 전류 및 전압을 측정하여 측정 결과를 주기적으로 생성하고, 생성된 측정 결과를 주기적으로 전송할 수 있다.The plurality of measurement devices 200 may measure the current and voltage of the plurality of electronic devices 100 to generate measurement results, and transmit the generated measurement results to the device 400. For example, the first measurement device 210 may measure the current and voltage of the first electronic device 110 to generate a measurement result, and transmit the generated measurement result to the device 400, and the second measurement device 220 may measure the current and voltage of the second electronic device 120 to generate a measurement result, and transmit the generated measurement result to the device 400. At this time, the current and voltage can be measured at preset periods to periodically generate measurement results, and the generated measurement results can be transmitted periodically.

복수의 측정 기기(200)는 복수의 전자 기기(100)와 유무선을 통해 통신하도록 구성될 수 있고, 장치(400)와 유무선을 통해 통신하도록 구성될 수 있다.The plurality of measuring devices 200 may be configured to communicate with the plurality of electronic devices 100 through wired or wireless means, and may be configured to communicate with the device 400 through wired or wireless means.

복수의 사용자 단말(300)은 측정 기기를 통해 전자 기기를 관리하는 관리자들이 사용하는 단말로, 예를 들어, 스마트폰과 같은 모바일 단말기일 수 있으며, 제1 사용자가 사용하는 제1 사용자 단말(310), 제2 사용자가 사용하는 제2 사용자 단말(320) 등을 포함할 수 있다.The plurality of user terminals 300 are terminals used by managers who manage electronic devices through measuring devices. For example, they may be mobile terminals such as smartphones, and the first user terminal 310 used by the first user ), a second user terminal 320 used by a second user, etc.

복수의 사용자 단말(300)은 복수의 전자 기기(100)와 일대일 또는 일대다 대응 관계를 가질 수 있으며, 예를 들어, 제1 사용자가 제1 전자 기기(110)를 관리하는 사용자로 등록되어 있는 경우, 제1 사용자 단말(310)에는 제1 전자 기기(110)와 연결된 제1 측정 기기(210)에 대한 기기 정보가 등록될 수 있고, 제1 사용자가 제1 전자 기기(110) 및 제2 전자 기기(120)를 관리하는 사용자로 등록되어 있는 경우, 제1 사용자 단말(310)에는 제1 전자 기기(110)와 연결된 제1 측정 기기(210)에 대한 기기 정보와 제2 전자 기기(120)와 연결된 제2 측정 기기(220)에 대한 기기 정보가 등록되어 있다.The plurality of user terminals 300 may have a one-to-one or one-to-many correspondence relationship with the plurality of electronic devices 100. For example, the first user is registered as a user managing the first electronic device 110. In this case, device information about the first measurement device 210 connected to the first electronic device 110 may be registered in the first user terminal 310, and the first user may use the first electronic device 110 and the second If you are registered as a user managing the electronic device 120, the first user terminal 310 contains device information about the first measurement device 210 connected to the first electronic device 110 and the second electronic device 120. ) Device information about the second measuring device 220 connected to is registered.

복수의 사용자 단말(300) 각각은 통상의 컴퓨터가 가지는 연산 기능, 저장/참조 기능, 입출력 기능 및 제어 기능을 전부 또는 일부 수행하도록 구성될 수 있다. 복수의 사용자 단말(300)은 장치(400)와 유무선을 통해 통신하도록 구성될 수 있다.Each of the plurality of user terminals 300 may be configured to perform all or part of the calculation function, storage/reference function, input/output function, and control function of a typical computer. A plurality of user terminals 300 may be configured to communicate with the device 400 via wired or wireless communication.

이하에서는 설명의 편의상, 제1 전자 기기(110), 제1 측정 기기(210) 및 제1 사용자 단말(310)의 동작을 위주로 설명하지만, 제2 전자 기기(120) 등의 다른 전자 기기에서 제1 전자 기기(110)의 동작을 대신 수행하고, 제2 측정 기기(220) 등의 다른 측정 기기에서 제1 측정 기기(210)의 동작을 대신 수행하고, 제2 사용자 단말(320) 등의 다른 사용자 단말에서 제1 사용자 단말(310)의 동작을 대신 수행할 수 있다.Hereinafter, for convenience of explanation, the operation of the first electronic device 110, the first measurement device 210, and the first user terminal 310 will be mainly described, but other electronic devices such as the second electronic device 120 1 The operation of the electronic device 110 is performed instead, another measurement device such as the second measurement device 220 performs the operation of the first measurement device 210 instead, and another measurement device such as the second user terminal 320 is performed instead of the operation of the first measurement device 210. The user terminal may perform the operation of the first user terminal 310 instead.

장치(400)는 장치(400)를 이용하여 서비스를 제공하는 자 내지 단체가 보유한 자체 서버일수도 있고, 클라우드 서버일 수도 있고, 분산된 노드(node)들의 p2p(peer-to-peer) 집합일 수도 있다. 장치(400)는 통상의 컴퓨터가 가지는 연산 기능, 저장/참조 기능, 입출력 기능 및 제어 기능을 전부 또는 일부 수행하도록 구성될 수 있다. The device 400 may be its own server owned by a person or organization that provides services using the device 400, a cloud server, or a p2p (peer-to-peer) set of distributed nodes. It may be possible. The device 400 may be configured to perform all or part of the calculation function, storage/reference function, input/output function, and control function of a typical computer.

장치(400)는 복수의 전자 기기(100)와 유무선으로 통신하도록 구성될 수 있으며, 복수의 전자 기기(100) 각각의 동작을 제어할 수 있다.The device 400 may be configured to communicate wired or wirelessly with a plurality of electronic devices 100 and can control the operation of each of the plurality of electronic devices 100.

장치(400)는 복수의 측정 기기(200)와 유무선으로 통신하도록 구성될 수 있으며, 복수의 측정 기기(200) 각각의 동작을 제어하고, 복수의 측정 기기(200)로부터 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 측정 결과를 수신할 수 있다.The device 400 may be configured to communicate wired or wirelessly with a plurality of measuring devices 200, control the operation of each of the plurality of measuring devices 200, and transmit the current and voltage of the electronic device from the plurality of measuring devices 200. You can receive measurement results generated by measuring .

장치(400)는 복수의 사용자 단말(300)과 유무선으로 통신하도록 구성될 수 있으며, 복수의 사용자 단말(300) 각각의 동작을 제어하고, 복수의 사용자 단말(300) 각각의 화면에 어느 정보를 표시할 것인지에 대해 제어할 수 있다.The device 400 may be configured to communicate wired or wirelessly with a plurality of user terminals 300, control the operation of each of the plurality of user terminals 300, and display certain information on the screen of each of the plurality of user terminals 300. You can control whether to display it or not.

한편, 설명의 편의를 위해 도 1에서는 복수의 전자 기기(100) 중 제1 전자 기기(110) 및 제2 전자 기기(120)만을 도시하고, 복수의 측정 기기(200) 중 제1 측정 기기(210) 및 제2 측정 기기(220)만을 도시하고, 복수의 사용자 단말(300) 중 제1 사용자 단말(310) 및 제2 사용자 단말(320)만을 도시하였으나, 단말들의 수는 실시예에 따라 얼마든지 달라질 수 있다. 장치(400)의 처리 용량이 허용하는 한, 단말들의 수는 특별한 제한이 없다.Meanwhile, for convenience of explanation, FIG. 1 shows only the first electronic device 110 and the second electronic device 120 among the plurality of electronic devices 100, and the first measurement device ( 210) and the second measuring device 220, and only the first user terminal 310 and the second user terminal 320 among the plurality of user terminals 300 are shown, but the number of terminals varies depending on the embodiment. Anything can change. As long as the processing capacity of the device 400 allows, the number of terminals is not particularly limited.

도 2는 일실시예에 전자 기기의 이상 상태를 수치로 나타낸 상태 지수를 설정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.FIG. 2 is a flowchart illustrating a process for setting a condition index that numerically represents an abnormal state of an electronic device according to an embodiment.

먼저, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)와 연결된 제1 측정 기기(210)로부터, 제1 기간마다 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 측정 결과를 수신할 수 있다. 여기서, 측정 결과는 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 결과로, 전류 측정값, 전압 측정값 등을 포함할 수 있다. 또한, 제1 기간은 실시예에 따라 상이하게 설정될 수 있다.First, the device 400 receives measurement results generated by measuring the current and voltage of the first electronic device 110 in each first period from the first measurement device 210 connected to the first electronic device 110. You can. Here, the measurement result is a result generated by measuring the current and voltage of the first electronic device 110 and may include a current measurement value, a voltage measurement value, etc. Additionally, the first period may be set differently depending on the embodiment.

도 2를 참조하면, 먼저, S201 단계에서, 장치(400)는 제1 측정 기기(210)로부터 제1 측정 결과를 수신할 수 있다. 여기서, 제1 측정 결과는 제1 시점에 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 측정 결과로, 제1 시점에 측정된 제1 전자 기기(110)의 전류 측정값, 전압 측정값 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, first, in step S201, the device 400 may receive a first measurement result from the first measurement device 210. Here, the first measurement result is a measurement result generated by measuring the current and voltage of the first electronic device 110 at the first time, and the current measurement value and voltage of the first electronic device 110 measured at the first time. It may include measured values, etc.

즉, 제1 측정 기기(210)는 제1 시점에 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 제1 측정 결과를 생성할 수 있고, 생성된 제1 측정 결과를 장치(400)로 전송할 수 있고, 장치(400)는 제1 측정 기기(210)로부터 제1 측정 결과를 수신할 수 있다.That is, the first measurement device 210 may generate a first measurement result by measuring the current and voltage of the first electronic device 110 at a first time, and send the generated first measurement result to the device 400. may be transmitted, and the device 400 may receive the first measurement result from the first measurement device 210.

S202 단계에서, 장치(400)는 제1 측정 결과를 기반으로, 제1 시점에 제1 전자 기기(110)의 전류를 제1 전류로 확인할 수 있다.In step S202, the device 400 may identify the current of the first electronic device 110 as the first current at a first time, based on the first measurement result.

즉, 장치(400)는 제1 측정 결과를 기반으로, 제1 시점에 측정된 제1 전자 기기(110)의 전류 측정값을 확인하고, 확인된 전류 측정값을 제1 전류로 설정할 수 있다.That is, based on the first measurement result, the device 400 may check the current measurement value of the first electronic device 110 measured at the first time point and set the confirmed current measurement value as the first current.

S203 단계에서, 장치(400)는 제1 측정 결과를 기반으로, 제1 시점에 제1 전자 기기(110)의 전압을 제1 전압으로 확인할 수 있다.In step S203, the device 400 may confirm the voltage of the first electronic device 110 as the first voltage at the first time, based on the first measurement result.

즉, 장치(400)는 제1 측정 결과를 기반으로, 제1 시점에 측정된 제1 전자 기기(110)의 전압 측정값을 확인하고, 확인된 전압 측정값을 제1 전압으로 설정할 수 있다.That is, based on the first measurement result, the device 400 may check the voltage measurement value of the first electronic device 110 measured at the first time point and set the confirmed voltage measurement value as the first voltage.

S204 단계에서, 장치(400)는 제1 전류와 제1 전자 기기(110)의 허용 전류 범위를 비교하여, 제1 전류 이상 상태 지수를 설정할 수 있다. 여기서, 제1 전자 기기(110)의 허용 전류 범위는 제1 전자 기기(110)에서 흐르는 전류에 대해 허용할 수 있는 최소값부터 최대값까지 설정되어 있는 범위로, 제1 전자 기기(110)의 특징에 따라 상이하게 설정될 수 있으며, 장치(400)는 외부 서버 또는 데이터베이스로부터 제1 전자 기기 정보를 획득한 후, 제1 전자 기기 정보를 기반으로, 제1 전자 기기(110)의 허용 전류 범위를 확인할 수 있다. 이를 위해, 제1 전자 기기 정보는 제1 전자 기기(110)의 허용 전류 범위에 대한 정보를 포함할 수 있다.In step S204, the device 400 may compare the first current with the allowable current range of the first electronic device 110 and set the first abnormal current state index. Here, the allowable current range of the first electronic device 110 is a range set from the minimum to the maximum allowable current flowing in the first electronic device 110, and the characteristics of the first electronic device 110 It may be set differently depending on, and the device 400 obtains the first electronic device information from an external server or database and then sets the allowable current range of the first electronic device 110 based on the first electronic device information. You can check it. To this end, the first electronic device information may include information about the allowable current range of the first electronic device 110.

일실시예에 따르면, 제1 전류 이상 상태 지수는 제1 시점에 대한 제1 전자 기기(110)의 전류 이상 상태를 수치로 나타낸 것이다. 제1 전류 이상 상태 지수의 수치가 클수록 제1 전자 기기(110)의 전류의 상태가 정상적이지 않은 상태인 것을 나타낼 수 있고, 제1 전류 이상 상태 지수의 수치가 작을수록 제1 전자 기기(110)의 전류의 상태가 정상적인 상태인 것을 나타낼 수 있다. 제1 전류 이상 상태 지수를 설정하는 자세한 설명은 도 4를 참조하여 후술하기로 한다.According to one embodiment, the first current abnormal state index numerically represents the current abnormal state of the first electronic device 110 at a first point in time. A larger value of the first abnormal current state index indicates that the current state of the first electronic device 110 is not normal, and a smaller value of the first abnormal current state index indicates that the current state of the first electronic device 110 is abnormal. It can indicate that the state of the current is normal. A detailed description of setting the first abnormal current state index will be described later with reference to FIG. 4.

S205 단계에서, 장치(400)는 제1 전압과 제1 전자 기기(110)의 허용 전압 범위를 비교하여, 제1 전압 이상 상태 지수를 설정할 수 있다. 여기서, 제1 전자 기기(110)의 허용 전압 범위는 제1 전자 기기(110)에 가해지는 전압에 대해 허용할 수 있는 최소값부터 최대값까지 설정되어 있는 범위로, 제1 전자 기기(110)의 특징에 따라 상이하게 설정될 수 있으며, 장치(400)는 외부 서버 또는 데이터베이스로부터 제1 전자 기기 정보를 획득한 후, 제1 전자 기기 정보를 기반으로, 제1 전자 기기(110)의 허용 전압 범위를 확인할 수 있다. 이를 위해, 제1 전자 기기 정보는 제1 전자 기기(110)의 허용 전압 범위에 대한 정보를 포함할 수 있다.In step S205, the device 400 may compare the first voltage and the allowable voltage range of the first electronic device 110 to set the first voltage abnormality index. Here, the allowable voltage range of the first electronic device 110 is a range set from the minimum to the maximum allowable voltage for the voltage applied to the first electronic device 110. It may be set differently depending on the characteristics, and the device 400 obtains the first electronic device information from an external server or database and then determines the allowable voltage range of the first electronic device 110 based on the first electronic device information. You can check. To this end, the first electronic device information may include information about the allowable voltage range of the first electronic device 110.

일실시예에 따르면, 제1 전압 이상 상태 지수는 제1 시점에 대한 제1 전자 기기(110)의 전압 이상 상태를 수치로 나타낸 것이다. 제1 전압 이상 상태 지수의 수치가 클수록 제1 전자 기기(110)의 전압의 상태가 정상적이지 않은 상태인 것을 나타낼 수 있고, 제1 전압 이상 상태 지수의 수치가 작을수록 제1 전자 기기(110)의 전압의 상태가 정상적인 상태인 것을 나타낼 수 있다. 제1 전압 이상 상태 지수를 설정하는 자세한 설명은 도 5를 참조하여 후술하기로 한다.According to one embodiment, the first voltage abnormality index is a numerical representation of the voltage abnormality state of the first electronic device 110 at a first point in time. A larger value of the first voltage abnormality index indicates that the voltage of the first electronic device 110 is not normal, and a smaller value of the first voltage abnormality index indicates that the voltage of the first electronic device 110 is abnormal. It can indicate that the voltage state is normal. A detailed description of setting the first voltage abnormality state index will be described later with reference to FIG. 5.

S206 단계에서, 장치(400)는 제1 전류 이상 상태 지수 및 제1 전압 이상 상태 지수를 합산한 값으로, 제1 상태 지수를 설정할 수 있다. 여기서, 제1 상태 지수는 제1 시점에 대한 제1 전자 기기(110)의 이상 상태를 수치로 나타낸 것이다.In step S206, the device 400 may set the first state index as the sum of the first current abnormal state index and the first voltage abnormal state index. Here, the first state index is a numerical representation of the abnormal state of the first electronic device 110 at a first point in time.

도 3은 일실시예에 따른 상태 지수를 통해 전자 기기를 분류하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.FIG. 3 is a flowchart illustrating a process for classifying electronic devices through condition indices according to an embodiment.

일실시예에 따르면, 도 3에 도시된 각 단계는 도 2에 도시된 각 단계가 수행된 이후에 수행될 수 있다.According to one embodiment, each step shown in FIG. 3 may be performed after each step shown in FIG. 2 is performed.

도 3을 참조하면, 먼저, S301 단계에서, 장치(400)는 제1 상태 지수가 제1 기준 점수 보다 낮은지 여부를 확인할 수 있다. 여기서, 제1 기준 점수는 실시예에 따라 상이하게 설정될 수 있다.Referring to FIG. 3, first, in step S301, the device 400 may check whether the first condition index is lower than the first reference score. Here, the first reference score may be set differently depending on the embodiment.

S301 단계에서 제1 상태 지수가 제1 기준 점수 낮은 것으로 확인되면, S302 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 정상 기기로 분류할 수 있다. 여기서, 정상 기기는 전자 기기의 전류 및 전압이 매우 안정적인 상태로 문제가 없는 기기를 의미할 수 있다.If the first condition index is confirmed to be low in the first standard score in step S301, the device 400 may classify the first electronic device 110 as a normal device in step S302. Here, a normal device may mean a device in which the current and voltage of the electronic device are very stable and there are no problems.

S301 단계에서 제1 상태 지수가 제1 기준 점수 낮지 않고 높은 것으로 확인되면, S303 단계에서, 장치(400)는 제1 상태 지수가 제2 기준 점수 보다 낮은지 여부를 확인할 수 있다. 여기서, 제2 기준 점수는 제1 기준 점수 보다 높은 값으로 설정될 수 있다.If it is determined in step S301 that the first state index is higher than the first standard score, in step S303, the device 400 may check whether the first state index is lower than the second standard score. Here, the second standard score may be set to a higher value than the first standard score.

S303 단계에서 제1 상태 지수가 제2 기준 점수 낮은 것으로 확인되면, S304 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류할 수 있다. 여기서, 주의 기기는 전자 기기의 전류 및 전압이 어느 정도 불안정한 상태로 모니터링이 필요한 기기를 의미할 수 있다.If the first condition index is confirmed to be low in step S303, the device 400 may classify the first electronic device 110 as an attention device in step S304. Here, the cautionary device may refer to a device that requires monitoring because the current and voltage of the electronic device are somewhat unstable.

즉, 장치(400)는 제1 상태 지수가 제1 기준 점수 보다 높지만 제2 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first condition index is higher than the first standard score but lower than the second standard score, the device 400 may classify the first electronic device 110 as a cautionary device.

S303 단계에서 제1 상태 지수가 제2 기준 점수 낮지 않고 높은 것으로 확인되면, S305 단계에서, 장치(400)는 제1 상태 지수가 제3 기준 점수 보다 낮은지 여부를 확인할 수 있다. 여기서, 제3 기준 점수는 제2 기준 점수 보다 높은 값으로 설정될 수 있다.If it is determined in step S303 that the first state index is higher than the second standard score, in step S305, the device 400 may check whether the first state index is lower than the third standard score. Here, the third standard score may be set to a higher value than the second standard score.

S305 단계에서 제1 상태 지수가 제3 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, S306 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류할 수 있다. 여기서, 경고 기기는 전자 기기의 전류 및 전압이 일정 이상 불안정한 상태로 경고 알림이 필요한 기기를 의미할 수 있다.If the first condition index is confirmed to be lower than the third standard score in step S305, the device 400 may classify the first electronic device 110 as a warning device in step S306. Here, the warning device may refer to a device that requires a warning notification when the current and voltage of the electronic device are unstable above a certain level.

즉, 장치(400)는 제1 상태 지수가 제2 기준 점수 보다 높지만 제3 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first condition index is higher than the second standard score but lower than the third standard score, the device 400 may classify the first electronic device 110 as a warning device.

S305 단계에서 제1 상태 지수가 제3 기준 점수 보다 낮지 않고 높은 것으로 확인되면, S307 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 위험 기기로 분류할 수 있다. 여기서, 위험 기기는 전자 기기의 전류 및 전압이 매우 불안정한 상태로 경고 알림과 동작 정지가 필요한 기기를 의미할 수 있다.If it is confirmed that the first condition index is higher than the third standard score in step S305, the device 400 may classify the first electronic device 110 as a dangerous device in step S307. Here, a dangerous device may refer to a device whose current and voltage are very unstable and requires a warning notification and operation stoppage.

즉, 장치(400)는 제1 상태 지수가 제3 기준 점수 보다 높은 것으로 확인되면, 제1 전자 기기(110)를 위험 기기로 분류할 수 있다.That is, if the first condition index is confirmed to be higher than the third standard score, the device 400 may classify the first electronic device 110 as a dangerous device.

장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 정상 기기, 주의 기기, 경고 기기 및 위험 기기 중 어느 하나로 분류하는 방식과 동일하게, 복수의 전자 기기(100) 각각을 정상 기기, 주의 기기, 경고 기기 및 위험 기기 중 어느 하나로 분류할 수 있다.The device 400 classifies each of the plurality of electronic devices 100 as a normal device, a caution device, or a warning device in the same way that the first electronic device 110 is classified into one of a normal device, a caution device, a warning device, and a dangerous device. It can be classified as either a device or a hazardous device.

S306 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)가 경고 기기로 분류된 경우, 제1 전자 기기(110)가 경고 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.In step S306, when the first electronic device 110 is classified as a warning device, the device 400 sends a notification message indicating that the first electronic device 110 is classified as a warning device to the first user terminal 310. It can be sent to .

S307 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)가 위험 기기로 분류된 경우, 제1 전자 기기(110)가 위험 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 제1 사용자 단말(310)로 전송하고, 제1 전자 기기(110)의 동작이 정지되도록 제어할 수 있다.In step S307, when the first electronic device 110 is classified as a dangerous device, the device 400 sends a notification message indicating that the first electronic device 110 is classified as a dangerous device to the first user terminal 310. , and the operation of the first electronic device 110 can be controlled to stop.

도 4는 일실시예에 따른 전류 이상 상태 지수를 설정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.Figure 4 is a flowchart for explaining the process of setting the current abnormal state index according to one embodiment.

도 4를 참조하면, 먼저, S401 단계에서, 장치(400)는 제1 전류가 허용 전류 범위 내에 포함되어 있는지 여부를 확인할 수 있다. 이때, 허용 전류 범위는 제1 전자 기기(110)의 허용 전류 범위를 의미할 수 있다.Referring to FIG. 4, first, in step S401, the device 400 can check whether the first current is within the allowable current range. At this time, the allowable current range may mean the allowable current range of the first electronic device 110.

S401 단계에서 제1 전류가 허용 전류 범위 내에 포함되어 있는 것으로 확인되면, S402 단계에서, 장치(400)는 제1 전류 이상 상태 지수를 0으로 설정할 수 있다.If it is confirmed that the first current is within the allowable current range in step S401, the device 400 may set the first abnormal current state index to 0 in step S402.

예를 들어, 허용 전류 범위가 10A부터 20A까지로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전류가 15A로 확인되면, 제1 전류 이상 상태 지수를 0으로 설정할 수 있다.For example, when the allowable current range is set from 10A to 20A, the device 400 may set the first current abnormality index to 0 when the first current is confirmed to be 15A.

S401 단계에서 제1 전류가 허용 전류 범위 내에 포함되지 않고 벗어나는 것으로 확인되면, S403 단계에서, 장치(400)는 제1 전류가 허용 전류 범위의 최소값 보다 작은지 여부를 확인할 수 있다.If it is confirmed in step S401 that the first current is not within the allowable current range and is outside the range, in step S403, the device 400 may check whether the first current is less than the minimum value of the allowable current range.

S403 단계에서 제1 전류가 허용 전류 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, S404 단계에서, 장치(400)는 제1 전류와 허용 전류 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정할 수 있다.If it is determined in step S403 that the first current is less than the minimum value of the allowable current range, in step S404, the device 400 increases the first current in the range from 1 to 5 as the difference between the first current and the minimum value of the allowable current range increases. The abnormality index can be set to a high score.

예를 들어, 허용 전류 범위가 10A부터 20A까지로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전류가 9A로 확인되면, 제1 전류와 허용 전류 범위의 최소값 간의 차이를 1A로 확인하여, 제1 전류 이상 상태 지수를 1로 설정할 수 있고, 제1 전류가 8A로 확인되면, 제1 전류와 허용 전류 범위의 최소값 간의 차이를 2A로 확인하여, 제1 전류 이상 상태 지수를 2로 설정할 수 있다.For example, if the allowable current range is set from 10A to 20A, the device 400 determines the difference between the first current and the minimum value of the allowable current range as 1A when the first current is confirmed to be 9A, and determines the first current as 1A. 1 The current abnormal state index can be set to 1, and if the first current is confirmed to be 8A, the difference between the first current and the minimum value of the allowable current range can be confirmed to be 2A, and the first current abnormal state index can be set to 2. .

즉, 장치(400)는 제1 전류가 허용 전류 범위를 벗어나 허용 전류 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, 제1 전류와 허용 전류 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정함으로써, 제1 전류가 일정 이하로 낮은 경우, 제1 전류 이상 상태 지수를 1부터 5까지 범위 내에서 설정할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first current is outside the allowable current range and is smaller than the minimum value of the allowable current range, the larger the difference between the first current and the minimum value of the allowable current range, the greater the first current within the range from 1 to 5. By setting the abnormal state index to a high score, when the first current is low below a certain level, the first current abnormal state index can be set within the range from 1 to 5.

S403 단계에서 제1 전류가 허용 전류 범위의 최소값 보다 작지 않고 큰 것으로 확인되면, 제1 전류가 허용 전류 범위를 벗어나 있으므로, 제1 전류가 허용 전류 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인될 수 있으며, 제1 전류가 허용 전류 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, S405 단계에서, 장치(400)는 제1 전류와 허용 전류 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정할 수 있다.If it is confirmed in step S403 that the first current is greater than the minimum value of the allowable current range, since the first current is outside the allowable current range, it may be confirmed that the first current is greater than the maximum value of the allowable current range, 1 If the current is confirmed to be greater than the maximum value of the allowable current range, in step S405, the device 400 enters the first current abnormal state within the range from 6 to 10 as the difference between the first current and the maximum value of the allowable current range increases. The index can be set to a high score.

예를 들어, 허용 전류 범위가 10A부터 20A까지로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전류가 21A로 확인되면, 제1 전류와 허용 전류 범위의 최대값 간의 차이를 1A로 확인하여, 제1 전류 이상 상태 지수를 6으로 설정할 수 있고, 제1 전류가 22A로 확인되면, 제1 전류와 허용 전류 범위의 최대값 간의 차이를 2A로 확인하여, 제1 전류 이상 상태 지수를 7로 설정할 수 있다.For example, if the allowable current range is set from 10A to 20A, the device 400 determines the difference between the first current and the maximum value of the allowable current range to be 1A when the first current is confirmed to be 21A, The first current abnormal state index can be set to 6, and if the first current is confirmed to be 22A, the difference between the first current and the maximum value of the allowable current range is confirmed to be 2A, and the first current abnormal state index can be set to 7. You can.

즉, 장치(400)는 제1 전류가 허용 전류 범위를 벗어나 허용 전류 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, 제1 전류와 허용 전류 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정함으로써, 제1 전류가 일정 이상으로 높은 경우, 제1 전류 이상 상태 지수를 6부터 10까지 범위 내에서 설정할 수 있다. 이때, 제1 전자 기기(110)에서 흐르는 전류가 일정 이하로 낮을 때보다 일정 이상으로 높을 때 기기 위험성이 더 크기 때문에, 제1 전류가 일정 이하로 낮을 때에는 제1 전류 이상 상태 지수를 1부터 5까지 범위 내에서 설정하고, 제1 전류가 일정 이상으로 높을 때에는 제1 전류 이상 상태 지수를 6부터 10까지 범위 내에서 설정할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first current is outside the allowable current range and is greater than the maximum value of the allowable current range, the larger the difference between the first current and the maximum value of the allowable current range, the greater the difference between the first current and the maximum value of the allowable current range, the second current within the range from 6 to 10. 1 By setting the current abnormal state index to a high score, when the first current is higher than a certain level, the first current abnormal state index can be set in the range from 6 to 10. At this time, since the device risk is greater when the current flowing from the first electronic device 110 is higher than a certain level than when it is low below a certain level, when the first current is low below a certain level, the first current abnormal state index is set from 1 to 5. It can be set within the range, and when the first current is higher than a certain level, the first current abnormal state index can be set within the range from 6 to 10.

도 5는 일실시예에 따른 전압 이상 상태 지수를 설정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.Figure 5 is a flowchart for explaining a process for setting a voltage abnormality index according to an embodiment.

도 5를 참조하면, 먼저, S501 단계에서, 장치(400)는 제1 전압이 허용 전압 범위 내에 포함되어 있는지 여부를 확인할 수 있다. 이때, 허용 전압 범위는 제1 전자 기기(110)의 허용 전압 범위를 의미할 수 있다.Referring to FIG. 5, first, in step S501, the device 400 can check whether the first voltage is within the allowable voltage range. At this time, the allowable voltage range may mean the allowable voltage range of the first electronic device 110.

S501 단계에서 제1 전압이 허용 전압 범위 내에 포함되어 있는 것으로 확인되면, S502 단계에서, 장치(400)는 제1 전압 이상 상태 지수를 0으로 설정할 수 있다.If it is confirmed that the first voltage is within the allowable voltage range in step S501, the device 400 may set the first voltage abnormality state index to 0 in step S502.

예를 들어, 허용 전압 범위가 10V부터 20V까지로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전압이 15V로 확인되면, 제1 전압 이상 상태 지수를 0으로 설정할 수 있다.For example, when the allowable voltage range is set from 10V to 20V, the device 400 may set the first voltage abnormality state index to 0 when the first voltage is confirmed to be 15V.

S501 단계에서 제1 전압이 허용 전압 범위 내에 포함되지 않고 벗어나는 것으로 확인되면, S503 단계에서, 장치(400)는 제1 전압이 허용 전압 범위의 최소값 보다 작은지 여부를 확인할 수 있다.If it is confirmed in step S501 that the first voltage is not within the allowable voltage range and is outside the range, in step S503, the device 400 may check whether the first voltage is less than the minimum value of the allowable voltage range.

S503 단계에서 제1 전압이 허용 전압 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, S504 단계에서, 장치(400)는 제1 전압과 허용 전압 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정할 수 있다.If it is determined in step S503 that the first voltage is less than the minimum value of the allowable voltage range, in step S504, the device 400 increases the first voltage within the range from 1 to 5 as the difference between the first voltage and the minimum value of the allowable voltage range increases. The abnormality index can be set to a high score.

예를 들어, 허용 전압 범위가 10V부터 20V까지로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전압이 9V로 확인되면, 제1 전압과 허용 전압 범위의 최소값 간의 차이를 1V로 확인하여, 제1 전압 이상 상태 지수를 1로 설정할 수 있고, 제1 전압이 8V로 확인되면, 제1 전압과 허용 전압 범위의 최소값 간의 차이를 2V로 확인하여, 제1 전압 이상 상태 지수를 2로 설정할 수 있다.For example, when the allowable voltage range is set from 10V to 20V, the device 400 determines the difference between the first voltage and the minimum value of the allowable voltage range as 1V when the first voltage is confirmed to be 9V, and determines the first voltage as 1V. 1 The voltage abnormality state index can be set to 1, and when the first voltage is confirmed to be 8V, the difference between the first voltage and the minimum value of the allowable voltage range is confirmed to be 2V, and the first voltage abnormality state index can be set to 2. .

즉, 장치(400)는 제1 전압이 허용 전압 범위를 벗어나 허용 전압 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, 제1 전압과 허용 전압 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정함으로써, 제1 전압이 일정 이하로 낮은 경우, 제1 전압 이상 상태 지수를 1부터 5까지 범위 내에서 설정할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first voltage is outside the allowable voltage range and is less than the minimum value of the allowable voltage range, the larger the difference between the first voltage and the minimum value of the allowable voltage range, the greater the first voltage within the range from 1 to 5. By setting the abnormal state index to a high score, when the first voltage is low below a certain level, the first voltage abnormal state index can be set in the range from 1 to 5.

S503 단계에서 제1 전압이 허용 전압 범위의 최소값 보다 작지 않고 큰 것으로 확인되면, 제1 전압이 허용 전압 범위를 벗어나 있으므로, 제1 전압이 허용 전압 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인될 수 있으며, 제1 전압이 허용 전압 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, S505 단계에서, 장치(400)는 제1 전압과 허용 전압 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정할 수 있다.If it is confirmed in step S503 that the first voltage is greater than the minimum value of the allowable voltage range, since the first voltage is outside the allowable voltage range, it may be confirmed that the first voltage is greater than the maximum value of the allowable voltage range, 1 If the voltage is confirmed to be greater than the maximum value of the allowable voltage range, in step S505, the device 400 enters the first voltage abnormal state within the range from 6 to 10 as the difference between the first voltage and the maximum value of the allowable voltage range increases. The index can be set to a high score.

예를 들어, 허용 전압 범위가 10V부터 20V까지로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전압이 21V로 확인되면, 제1 전압과 허용 전압 범위의 최대값 간의 차이를 1V로 확인하여, 제1 전압 이상 상태 지수를 6으로 설정할 수 있고, 제1 전압이 22V로 확인되면, 제1 전압과 허용 전압 범위의 최대값 간의 차이를 2V로 확인하여, 제1 전압 이상 상태 지수를 7로 설정할 수 있다.For example, when the allowable voltage range is set from 10V to 20V, if the first voltage is confirmed to be 21V, the device 400 determines the difference between the first voltage and the maximum value of the allowable voltage range to be 1V, The first voltage abnormal state index can be set to 6, and when the first voltage is confirmed to be 22V, the difference between the first voltage and the maximum value of the allowable voltage range is confirmed to be 2V, and the first voltage abnormal state index can be set to 7. You can.

즉, 장치(400)는 제1 전압이 허용 전압 범위를 벗어나 허용 전압 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, 제1 전압과 허용 전압 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정함으로써, 제1 전압이 일정 이상으로 높은 경우, 제1 전압 이상 상태 지수를 6부터 10까지 범위 내에서 설정할 수 있다. 이때, 제1 전자 기기(110)에 가해지는 전압이 일정 이하로 낮을 때보다 일정 이상으로 높을 때 기기 위험성이 더 크기 때문에, 제1 전압이 일정 이하로 낮을 때에는 제1 전압 이상 상태 지수를 1부터 5까지 범위 내에서 설정하고, 제1 전압이 일정 이상으로 높을 때에는 제1 전압 이상 상태 지수를 6부터 10까지 범위 내에서 설정할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first voltage is outside the allowable voltage range and is greater than the maximum value of the allowable voltage range, the larger the difference between the first voltage and the maximum value of the allowable voltage range, the more the device 400 increases the number of voltages within the range from 6 to 10. 1 By setting the voltage abnormality index to a high score, when the first voltage is higher than a certain level, the first voltage abnormality index can be set in the range from 6 to 10. At this time, since the device risk is greater when the voltage applied to the first electronic device 110 is higher than a certain level than when it is lower than a certain level, when the first voltage is low below a certain level, the first voltage abnormality state index starts from 1. It can be set within the range of 5, and when the first voltage is higher than a certain level, the first voltage abnormal state index can be set within the range from 6 to 10.

도 6은 일실시예에 따른 전자 기기의 분류 결과에 따라 측정 기간을 조정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.FIG. 6 is a flowchart illustrating a process for adjusting a measurement period according to a classification result of an electronic device according to an embodiment.

일실시예에 따르면, 도 6에 도시된 각 단계는 도 3에 도시된 각 단계가 수행된 이후에 수행될 수 있다.According to one embodiment, each step shown in FIG. 6 may be performed after each step shown in FIG. 3 is performed.

도 6을 참조하면, 먼저, S601 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 정상 기기로 분류한 경우, 제1 전자 기기(110)의 측정 기간이 제1 기간으로 유지되도록 제어할 수 있다.Referring to FIG. 6, first, in step S601, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as a normal device, the device 400 controls the measurement period of the first electronic device 110 to be maintained at the first period. can do.

즉, 장치(400)는 S302 단계를 통해 제1 전자 기기(110)를 정상 기기로 분류한 경우, 제1 기간이 변경되지 않고 계속 유지되도록 제어할 수 있다.That is, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as a normal device through step S302, it can control the first period to remain unchanged.

S602 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 경우, 장치(400)는 제1 기간에 제1 가중치를 적용하여, 제1 기간을 조정할 수 있다. 여기서, 제1 가중치는 100% 보다 작은 값으로 설정될 수 있다.In step S602, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as an attention device, the device 400 may adjust the first period by applying a first weight to the first period. Here, the first weight may be set to a value less than 100%.

예를 들어, 제1 기간이 10일로 설정되어 있고, 제1 가중치가 90%로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 경우, 제1 기간에 제1 가중치를 적용하여 9일을 산출한 후, 제1 기간을 10일에서 9일로 변경하여, 제1 기간을 조정할 수 있다.For example, when the first period is set to 10 days and the first weight is set to 90%, the device 400 classifies the first electronic device 110 as a caution device in the first period. After calculating 9 days by applying the first weight, the first period can be adjusted by changing the first period from 10 days to 9 days.

즉, 장치(400)는 S304 단계를 통해 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 경우, 제1 기간에 제1 가중치를 적용하여, 제1 기간이 제1 가중치를 통해 단축되도록 조정할 수 있다.That is, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as an attention device through step S304, the first weight can be applied to the first period, and the first period can be adjusted to be shortened through the first weight. there is.

S603 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 경우, 장치(400)는 제1 기간에 제2 가중치를 적용하여, 제1 기간을 조정할 수 있다. 여기서, 제2 가중치는 제1 가중치 보다 작은 값으로 설정될 수 있다.In step S603, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as a warning device, the device 400 may adjust the first period by applying a second weight to the first period. Here, the second weight may be set to a smaller value than the first weight.

예를 들어, 제1 기간이 10일로 설정되어 있고, 제1 가중치가 90%로 설정되어 있고, 제2 가중치가 80%로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 경우, 제1 기간에 제2 가중치를 적용하여 8일을 산출한 후, 제1 기간을 10일에서 8일로 변경하여, 제1 기간을 조정할 수 있다.For example, if the first period is set to 10 days, the first weight is set to 90%, and the second weight is set to 80%, the device 400 uses the first electronic device 110 When classified as a warning device, the first period can be adjusted by applying the second weight to the first period to calculate 8 days and then changing the first period from 10 days to 8 days.

즉, 장치(400)는 S306 단계를 통해 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 경우, 제1 기간에 제2 가중치를 적용하여, 제1 기간이 제2 가중치를 통해 단축되도록 조정할 수 있다.That is, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as a warning device through step S306, the device 400 may apply a second weight to the first period and adjust the first period to be shortened through the second weight. there is.

S604 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 위험 기기로 분류한 경우, 장치(400)는 제1 기간을 무한대 값으로 조정할 수 있다.In step S604, if the device 400 classifies the first electronic device 110 as a dangerous device, the device 400 may adjust the first period to an infinite value.

즉, 장치(400)는 S307 단계를 통해 제1 전자 기기(110)를 위험 기기로 분류한 경우, 제1 전자 기기(110)의 동작이 정지되도록 제어할 수 있으며, 제1 전자 기기(110)의 동작이 정지되어 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압에 대한 측정이 필요하지 않으므로, 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압이 측정되지 않도록, 제1 기간을 무한대 값으로 조정할 수 있다.That is, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as a dangerous device through step S307, the device 400 can control the operation of the first electronic device 110 to stop, and the first electronic device 110 Since the operation of is stopped and measurement of the current and voltage of the first electronic device 110 is not required, the first period can be adjusted to an infinite value so that the current and voltage of the first electronic device 110 are not measured. .

도 7은 일실시예에 따른 사용자 단말의 위치에 따라 측정 기간을 조정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.Figure 7 is a flow chart to explain the process of adjusting the measurement period according to the location of the user terminal according to one embodiment.

일실시예에 따르면, 도 7에 도시된 각 단계는 도 6에 도시된 각 단계가 수행된 이후에 수행될 수 있다.According to one embodiment, each step shown in FIG. 7 may be performed after each step shown in FIG. 6 is performed.

도 7을 참조하면, 먼저, S701 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)가 설치된 지점을 제1 지점으로 확인할 수 있다. Referring to FIG. 7 , first, in step S701, the device 400 may identify the point where the first electronic device 110 is installed as the first point.

구체적으로, 장치(400)는 외부 서버 또는 데이터베이스로부터 제1 전자 기기 정보를 획득한 후, 제1 전자 기기 정보를 기반으로, 제1 전자 기기(110)가 설치된 지점을 제1 지점으로 확인할 수 있다. 이를 위해, 제1 전자 기기 정보는 제1 전자 기기(110)가 설치된 지점에 대한 정보를 포함할 수 있다.Specifically, the device 400 may obtain first electronic device information from an external server or database and then identify the point where the first electronic device 110 is installed as the first point based on the first electronic device information. . To this end, the first electronic device information may include information about the location where the first electronic device 110 is installed.

S702 단계에서, 장치(400)는 제1 지점을 중심으로 제1 기준 거리 이내에 있는 영역을 제1 기준 영역으로 설정하고, 제1 지점을 중심으로 제2 기준 거리 이내에 있는 영역을 제2 기준 영역으로 설정할 수 있다. 여기서, 제1 기준 거리는 실시예에 따라 상이하게 설정될 수 있으며, 제2 기준 거리는 제1 기준 거리 보다 긴 거리로 설정될 수 있다.In step S702, the device 400 sets the area within the first reference distance around the first point as the first reference area, and sets the area within the second reference distance around the first point as the second reference area. You can set it. Here, the first reference distance may be set differently depending on the embodiment, and the second reference distance may be set to be longer than the first reference distance.

예를 들어, 제1 기준 거리가 1km로 설정되어 있고, 제2 기준 거리가 2km로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 지점을 중심으로 반경 1km 이내에 있는 영역을 제1 기준 영역으로 설정하고, 제1 지점을 중심으로 반경 2km 이내에 있는 영역을 제2 기준 영역으로 설정할 수 있다.For example, if the first reference distance is set to 1km and the second reference distance is set to 2km, the device 400 sets the area within a radius of 1km around the first point as the first reference area. And, an area within a radius of 2km around the first point can be set as the second reference area.

S703 단계에서, 장치(400)는 제1 사용자 단말(310)이 제1 기준 영역 내에 위치하는지 여부를 확인할 수 있다.In step S703, the device 400 may check whether the first user terminal 310 is located within the first reference area.

구체적으로, 장치(400)는 제1 사용자 단말(310)로부터 제1 사용자 단말(310)의 위치 정보를 획득하고, 제1 사용자 단말(310)의 위치 정보를 기반으로, 제1 사용자 단말(310)의 현재 위치를 확인하여, 제1 사용자 단말(310)이 제1 기준 영역 내에 위치하는지 여부를 확인할 수 있다.Specifically, the device 400 obtains location information of the first user terminal 310 from the first user terminal 310, and based on the location information of the first user terminal 310, the first user terminal 310 ), it is possible to check whether the first user terminal 310 is located within the first reference area.

S703 단계에서 제1 사용자 단말(310)이 제1 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, S704 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)의 측정 기간이 제1 기간으로 유지되도록 제어할 수 있다.If it is confirmed that the first user terminal 310 is located within the first reference area in step S703, in step S704, the device 400 controls the measurement period of the first electronic device 110 to be maintained at the first period. You can.

즉, 장치(400)는 제1 사용자 단말(310)이 제1 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, 제1 기간이 변경되지 않고 계속 유지되도록 제어할 수 있다.That is, if it is confirmed that the first user terminal 310 is located within the first reference area, the device 400 can control the first period to remain unchanged.

S703 단계에서 제1 사용자 단말(310)이 제1 기준 영역 내에 위치하지 않고 벗어나는 것으로 확인되면, S705 단계에서, 장치(400)는 제1 사용자 단말(310)이 제2 기준 영역 내에 위치하는지 여부를 확인할 수 있다.If it is confirmed in step S703 that the first user terminal 310 is not located within the first reference area and that it deviates from the first reference area, in step S705, the device 400 determines whether the first user terminal 310 is located within the second reference area. You can check it.

S705 단계에서 제1 사용자 단말(310)이 제2 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, S706 단계에서, 장치(400)는 제1 기간에 제3 가중치를 적용하여, 제1 기간을 조정할 수 있다. 여기서, 제3 가중치는 100% 보다 작은 값으로 설정될 수 있다.If it is confirmed that the first user terminal 310 is located within the second reference area in step S705, the device 400 may adjust the first period by applying a third weight to the first period in step S706. Here, the third weight may be set to a value less than 100%.

즉, 장치(400)는 제1 사용자 단말(310)이 제1 기준 영역을 벗어나 제2 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, 제1 기간에 제3 가중치를 적용하여, 제1 기간이 제3 가중치를 통해 단축되도록 조정할 수 있다.That is, when the device 400 determines that the first user terminal 310 is outside the first reference area and is located within the second reference area, the device 400 applies the third weight to the first period, so that the first period is the third weight. It can be adjusted to be shortened through .

S705 단계에서 제1 사용자 단말(310)이 제2 기준 영역 내에 위치하지 않고 벗어나는 것으로 확인되면, S707 단계에서, 장치(400)는 제1 기간에 제4 가중치를 적용하여, 제1 기간을 조정할 수 있다. 여기서, 제4 가중치는 제3 가중치 보다 작은 값으로 설정될 수 있다.If it is confirmed in step S705 that the first user terminal 310 is not located within the second reference area and that it deviates from the second reference area, in step S707, the device 400 may adjust the first period by applying a fourth weight to the first period. there is. Here, the fourth weight may be set to a value smaller than the third weight.

즉, 장치(400)는 제1 사용자 단말(310)이 제2 기준 영역을 벗어나 위치하는 것으로 확인되면, 제1 기간에 제4 가중치를 적용하여, 제1 기간이 제4 가중치를 통해 단축되도록 조정할 수 있다.That is, when it is confirmed that the first user terminal 310 is located outside the second reference area, the device 400 applies the fourth weight to the first period and adjusts the first period to be shortened through the fourth weight. You can.

도 8은 일실시예에 따른 전자 기기의 분류 결과에 따라 상태 지수를 조정하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.Figure 8 is a flow chart to explain the process of adjusting the condition index according to the classification result of the electronic device according to one embodiment.

일실시예에 따르면, 도 8에 도시된 각 단계는 도 3에 도시된 각 단계가 수행된 이후에 수행될 수 있다.According to one embodiment, each step shown in FIG. 8 may be performed after each step shown in FIG. 3 is performed.

도 8을 참조하면, 먼저, S801 단계에서, 장치(400)는 제1 측정 기기(210)로부터 제2 측정 결과를 수신할 수 있다. 여기서, 제2 측정 결과는 제1 시점으로부터 제1 기간이 지난 이후인 제2 시점에 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 측정 결과로, 제2 시점에 측정된 제1 전자 기기(110)의 전류 측정값, 전압 측정값 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 8, first, in step S801, the device 400 may receive a second measurement result from the first measurement device 210. Here, the second measurement result is a measurement result generated by measuring the current and voltage of the first electronic device 110 at a second time point after the first period has passed from the first time point, and the first measurement result measured at the second time point is It may include current measurement values, voltage measurement values, etc. of the electronic device 110.

즉, 제1 측정 기기(210)는 제1 시점에 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 제1 측정 결과를 생성한 후, 제1 시점으로부터 제1 기간이 지난 이후인 제2 시점에 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압을 측정하여 제2 측정 결과를 생성할 수 있고, 생성된 제2 측정 결과를 장치(400)로 전송할 수 있고, 장치(400)는 제1 측정 기기(210)로부터 제2 측정 결과를 수신할 수 있다.That is, the first measurement device 210 measures the current and voltage of the first electronic device 110 at a first time point to generate a first measurement result, and then measures the second measurement result after a first period from the first time point. A second measurement result may be generated by measuring the current and voltage of the first electronic device 110 at the time, and the generated second measurement result may be transmitted to the device 400, and the device 400 may generate the first measurement result. A second measurement result may be received from the device 210.

S802 단계에서, 장치(400)는 제2 측정 결과를 기반으로, 제2 시점에 제1 전자 기기(110)의 전류를 제2 전류로 확인할 수 있다.In step S802, the device 400 may identify the current of the first electronic device 110 as the second current at a second time, based on the second measurement result.

즉, 장치(400)는 제2 측정 결과를 기반으로, 제2 시점에 측정된 제1 전자 기기(110)의 전류 측정값을 확인하고, 확인된 전류 측정값을 제2 전류로 설정할 수 있다.That is, based on the second measurement result, the device 400 may check the current measurement value of the first electronic device 110 measured at the second time point and set the confirmed current measurement value as the second current.

S803 단계에서, 장치(400)는 제2 측정 결과를 기반으로, 제2 시점에 제1 전자 기기(110)의 전압을 제2 전압으로 확인할 수 있다.In step S803, the device 400 may confirm the voltage of the first electronic device 110 as the second voltage at a second time, based on the second measurement result.

즉, 장치(400)는 제2 측정 결과를 기반으로, 제2 시점에 측정된 제1 전자 기기(110)의 전압 측정값을 확인하고, 확인된 전압 측정값을 제2 전압으로 설정할 수 있다.That is, based on the second measurement result, the device 400 may check the voltage measurement value of the first electronic device 110 measured at the second time point and set the confirmed voltage measurement value as the second voltage.

S804 단계에서, 장치(400)는 제2 전류와 제1 전자 기기(110)의 허용 전류 범위를 비교하여, 제2 전류 이상 상태 지수를 설정할 수 있다. 여기서, 제2 전류 이상 상태 지수는 제2 시점에 대한 제1 전자 기기(110)의 전류 이상 상태를 수치로 나타낸 것이다.In step S804, the device 400 may compare the second current with the allowable current range of the first electronic device 110 and set the second abnormal current state index. Here, the second abnormal current state index is a numerical representation of the current abnormal state of the first electronic device 110 at the second time point.

S805 단계에서, 장치(400)는 제2 전압과 제1 전자 기기(110)의 허용 전압 범위를 비교하여, 제2 전압 이상 상태 지수를 설정할 수 있다. 여기서, 제2 전압 이상 상태 지수는 제2 시점에 대한 제1 전자 기기(110)의 전압 이상 상태를 수치로 나타낸 것이다.In step S805, the device 400 may compare the second voltage with the allowable voltage range of the first electronic device 110 and set the second voltage abnormality index. Here, the second voltage abnormality index represents the voltage abnormality state of the first electronic device 110 at the second time point in numbers.

S806 단계에서, 장치(400)는 제2 전류 이상 상태 지수 및 제2 전압 이상 상태 지수를 합산한 값으로, 제2 상태 지수를 설정할 수 있다. 여기서, 제2 상태 지수는 제2 시점에 대한 제1 전자 기기(110)의 이상 상태를 수치로 나타낸 것이다.In step S806, the device 400 may set the second state index as the sum of the second current abnormal state index and the second voltage abnormal state index. Here, the second state index numerically represents the abnormal state of the first electronic device 110 at the second time point.

S807 단계에서, 장치(400)는 제1 상태 지수를 통해 제1 전자 기기(110)를 정상 기기로 분류하였는지 여부를 확인할 수 있다.In step S807, the device 400 may check whether the first electronic device 110 is classified as a normal device through the first status index.

S807 단계에서 제1 전자 기기(110)를 정상 기기로 분류한 것으로 확인되면, 장치(400)는 제2 상태 지수의 조정이 필요하지 않은 것으로 판단하여, 제2 상태 지수가 변경되지 않고 유지되도록 제어할 수 있다.If it is confirmed that the first electronic device 110 is classified as a normal device in step S807, the device 400 determines that adjustment of the second state index is not necessary, and controls the second state index to remain unchanged. can do.

S807 단계에서 제1 전자 기기(110)를 정상 기기로 분류하지 않은 것으로 확인되면, S808 단계에서, 장치(400)는 제1 상태 지수를 통해 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류하였는지 여부를 확인할 수 있다.If it is confirmed in step S807 that the first electronic device 110 is not classified as a normal device, in step S808, whether the device 400 classifies the first electronic device 110 as a warning device through the first status index. You can check.

S808 단계에서 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 것으로 확인되면, S809 단계에서, 장치(400)는 제2 상태 지수에 제5 가중치를 적용하여, 제2 상태 지수를 조정할 수 있다. 여기서, 제5 가중치는 100% 보다 큰 값으로 설정될 수 있다.If it is confirmed that the first electronic device 110 is classified as an attention device in step S808, the device 400 may adjust the second state index by applying a fifth weight to the second state index in step S809. Here, the fifth weight may be set to a value greater than 100%.

예를 들어, 제2 상태 지수가 10으로 설정되어 있고, 제5 가중치가 110%로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 상태 지수를 통해 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 것으로 확인되면, 제2 상태 지수에 제5 가중치를 적용하여 11을 산출한 후, 제2 상태 지수를 10에서 11로 변경하여, 제2 상태 지수를 조정할 수 있다.For example, if the second state index is set to 10 and the fifth weight is set to 110%, the device 400 classifies the first electronic device 110 as an attention device through the first state index. If it is confirmed that it is, the second state index can be adjusted by applying the fifth weight to the second state index to calculate 11 and then changing the second state index from 10 to 11.

즉, 장치(400)는 제1 상태 지수를 통해 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 경우, 제2 상태 지수에 제5 가중치를 적용하여, 제2 상태 지수가 제5 가중치를 통해 증가되도록 조정할 수 있다.That is, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as an attention device through the first state index, the fifth weight is applied to the second state index, so that the second state index is determined through the fifth weight. It can be adjusted to increase.

S808 단계에서 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류하지 않은 것으로 확인되면, 제1 전자 기기(110)가 경고 기기 또는 위험 기기로 분류된 것으로 확인될 수 있으나, 제1 전자 기기(110)가 위험 기기로 분류된 경우, 제1 전자 기기(110)의 동작이 정지되어 제1 전자 기기(110)의 전류 및 전압이 측정되지 않기 때문에 제2 측정 결과가 수신될 수 없으므로, 제1 전자 기기(110)가 경고 기기로 분류된 것으로 확인될 수 있으며, 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 것으로 확인되면, S810 단계에서, 장치(400)는 제2 상태 지수에 제6 가중치를 적용하여, 제2 상태 지수를 조정할 수 있다. 여기서, 제6 가중치는 제5 가중치 보다 큰 값으로 설정될 수 있다.If it is confirmed in step S808 that the first electronic device 110 is not classified as a warning device, it may be confirmed that the first electronic device 110 is classified as a warning device or a dangerous device, but the first electronic device 110 If it is classified as a dangerous device, the second measurement result cannot be received because the operation of the first electronic device 110 is stopped and the current and voltage of the first electronic device 110 are not measured, so the first electronic device 110 110 may be confirmed to be classified as a warning device, and if it is confirmed that the first electronic device 110 is classified as a warning device, in step S810, the device 400 applies a sixth weight to the second state index. By applying, the second state index can be adjusted. Here, the sixth weight may be set to a value greater than the fifth weight.

예를 들어, 제2 상태 지수가 10으로 설정되어 있고, 제5 가중치가 110%로 설정되어 있고, 제6 가중치가 120%로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 상태 지수를 통해 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 것으로 확인되면, 제2 상태 지수에 제6 가중치를 적용하여 12를 산출한 후, 제2 상태 지수를 10에서 12로 변경하여, 제2 상태 지수를 조정할 수 있다.For example, if the second state index is set to 10, the fifth weight is set to 110%, and the sixth weight is set to 120%, device 400 determines the first state index through the first state index. 1 If it is confirmed that the electronic device 110 is classified as a warning device, the sixth weight is applied to the second state index to calculate 12, and then the second state index is changed from 10 to 12 to change the second state index to It can be adjusted.

즉, 장치(400)는 제1 상태 지수를 통해 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 경우, 제2 상태 지수에 제6 가중치를 적용하여, 제2 상태 지수가 제6 가중치를 통해 증가되도록 조정할 수 있다.That is, when the device 400 classifies the first electronic device 110 as a warning device through the first state index, the sixth weight is applied to the second state index, and the second state index is calculated through the sixth weight. It can be adjusted to increase.

도 9는 일실시예에 따른 전자 기기의 교체가 필요한지 여부를 판단하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.9 is a flowchart illustrating a process for determining whether replacement of an electronic device is necessary according to an embodiment.

도 9를 참조하면, 먼저, S901 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)가 설치된 시점을 제3 시점으로 확인하고, 제1 전자 기기(110)의 최대 사용 가능 기간을 제2 기간으로 확인할 수 있다.Referring to FIG. 9, first, in step S901, the device 400 determines the time when the first electronic device 110 is installed as the third time, and sets the maximum usable period of the first electronic device 110 as the second time. It can be checked by period.

구체적으로, 장치(400)는 외부 서버 또는 데이터베이스로부터 제1 전자 기기 정보를 획득한 후, 제1 전자 기기 정보를 기반으로, 제1 전자 기기(110)가 설치된 시점을 제3 시점으로 확인하고, 제1 전자 기기(110)의 최대 사용 가능 기간을 제2 기간으로 확인할 수 있다. 이를 위해, 제1 전자 기기 정보는 제1 전자 기기(110)가 설치된 시점과 제1 전자 기기(110)의 최대 사용 가능 기간에 대한 정보를 포함할 수 있다.Specifically, the device 400 obtains first electronic device information from an external server or database and then, based on the first electronic device information, determines the time when the first electronic device 110 was installed as a third time point, The maximum usable period of the first electronic device 110 can be confirmed as the second period. To this end, the first electronic device information may include information about the time when the first electronic device 110 is installed and the maximum usable period of the first electronic device 110.

S902 단계에서, 장치(400)는 제3 시점으로부터 제2 기간이 지난 이후인 제4 시점을 제1 전자 기기(110)의 교체일로 설정할 수 있다.In step S902, the device 400 may set a fourth time point, which is after a second period has elapsed from the third time point, as the replacement date of the first electronic device 110.

예를 들어, 제3 시점이 1월10일이고 제2 기간이 6개월인 경우, 장치(400)는 1월10일부터 6개월이 지난 7월10일을 제1 전자 기기(110)의 교체일로 설정할 수 있다.For example, if the third time point is January 10th and the second period is 6 months, the device 400 replaces the first electronic device 110 on July 10th, 6 months after January 10th. It can be set to work.

S903 단계에서, 장치(400)는 현재 시점으로부터 제1 전자 기기(110)의 교체일까지 남아있는 잔여 기간을 제1 잔여 기간으로 설정할 수 있다.In step S903, the device 400 may set the remaining period remaining from the current time until the replacement date of the first electronic device 110 as the first remaining period.

예를 들어, 현재 시점이 7월5일이고 제1 전자 기기(110)의 교체일이 7월10일인 경우, 장치(400)는 5일을 제1 잔여 기간으로 설정할 수 있다.For example, if the current time is July 5th and the replacement date of the first electronic device 110 is July 10th, the device 400 may set 5 days as the first remaining period.

S904 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 정상 기기로 분류한 경우, 제1 잔여 기간이 변경되지 않고 유지되도록 제어할 수 있다.In step S904, when the first electronic device 110 is classified as a normal device, the device 400 may control the first remaining period to remain unchanged.

S905 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 경우, 제1 잔여 기간에서 제1 기준 기간을 차감하여, 제1 잔여 기간을 조정할 수 있다. 여기서, 제1 기준 기간은 실시예에 따라 상이하게 설정될 수 있다.In step S905, when the first electronic device 110 is classified as an attention device, the device 400 may adjust the first remaining period by subtracting the first reference period from the first remaining period. Here, the first reference period may be set differently depending on the embodiment.

예를 들어, 제1 잔여 기간이 10일이고 제1 기준 기간이 1일로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 주의 기기로 분류한 경우, 제1 잔여 기간에서 제1 기준 기간을 차감하여 9일을 산출한 후, 제1 잔여 기간을 10일에서 9일로 변경하여, 제1 잔여 기간을 조정할 수 있다.For example, if the first remaining period is 10 days and the first reference period is set to 1 day, if the device 400 classifies the first electronic device 110 as a caution device, the first remaining period is 10 days. 1 After subtracting the standard period to calculate 9 days, the first remaining period can be adjusted by changing the first remaining period from 10 days to 9 days.

S906 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 경우, 제1 잔여 기간에서 제2 기준 기간을 차감하여, 제1 잔여 기간을 조정할 수 있다. 여기서, 제2 기준 기간은 제1 기준 기간 보다 긴 값으로 설정될 수 있다.In step S906, when the first electronic device 110 is classified as a warning device, the device 400 may adjust the first remaining period by subtracting the second reference period from the first remaining period. Here, the second reference period may be set to a longer value than the first reference period.

예를 들어, 제1 잔여 기간이 10일이고 제1 기준 기간이 1일로 설정되어 있고, 제2 기준 기간이 2일로 설정되어 있는 경우, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 경고 기기로 분류한 경우, 제1 잔여 기간에서 제2 기준 기간을 차감하여 8일을 산출한 후, 제1 잔여 기간을 10일에서 8일로 변경하여, 제1 잔여 기간을 조정할 수 있다.For example, if the first remaining period is 10 days, the first reference period is set to 1 day, and the second reference period is set to 2 days, device 400 may set the first electronic device 110 as a warning device. In the case of classification, the first remaining period can be adjusted by subtracting the second standard period from the first remaining period to calculate 8 days, and then changing the first remaining period from 10 days to 8 days.

S907 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 위험 기기로 분류한 경우, 제1 잔여 기간을 0으로 설정할 수 있다.In step S907, if the device 400 classifies the first electronic device 110 as a dangerous device, the first remaining period may be set to 0.

S908 단계에서, 장치(400)는 제1 잔여 기간이 0 이하인지 여부를 확인할 수 있다.In step S908, the device 400 may check whether the first remaining period is 0 or less.

S908 단계에서 제1 잔여 기간이 0 보다 큰 것으로 확인되면, 일정 기간이 지난 이후, S903 단계로 되돌아가, 장치(400)는 제1 잔여 기간을 설정하는 과정부터 다시 수행할 수 있다.If the first remaining period is confirmed to be greater than 0 in step S908, after a certain period of time has elapsed, the process returns to step S903, and the device 400 can perform the process of setting the first remaining period again.

즉, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)가 주의 기기로 분류될 때마다, 제1 잔여 기간에서 제1 기준 기간을 차감하여, 제1 잔여 기간을 조정할 수 있고, 제1 전자 기기(110)가 경고 기기로 분류될 때마다, 제1 잔여 기간에서 제2 기준 기간을 차감하여, 제1 잔여 기간을 조정할 수 있다.That is, whenever the first electronic device 110 is classified as an attention device, the device 400 may adjust the first remaining period by subtracting the first reference period from the first remaining period, and the first electronic device ( Whenever 110) is classified as a warning device, the first remaining period can be adjusted by subtracting the second reference period from the first remaining period.

S908 단계에서 제1 잔여 기간이 0 이하로 확인되면, S909 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)를 교체가 필요한 기기로 분류할 수 있다.If the first remaining period is confirmed to be 0 or less in step S908, the device 400 may classify the first electronic device 110 as a device that needs to be replaced in step S909.

도 10은 일실시예에 따른 교체가 필요한 전자 기기의 부품에 대한 검색 결과를 전송하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.FIG. 10 is a flowchart illustrating a process for transmitting search results for parts of an electronic device requiring replacement, according to an embodiment.

일실시예에 따르면, 도 10에 도시된 각 단계는 S909 단계가 수행된 이후에 수행될 수 있다.According to one embodiment, each step shown in FIG. 10 may be performed after step S909 is performed.

도 10을 참조하면, S1001 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)가 교체가 필요한 기기로 분류된 경우, 제1 전자 기기(110)에서 가장 많이 교체되는 부품이 제1 부품인 것을 확인할 수 있다.Referring to FIG. 10, in step S1001, if the first electronic device 110 is classified as a device requiring replacement, the device 400 determines that the most frequently replaced part in the first electronic device 110 is the first part. You can check that.

구체적으로, 장치(400)는 외부 서버 또는 데이터베이스로부터 제1 전자 기기 정보를 획득한 후, 제1 전자 기기 정보를 기반으로, 제1 전자 기기(110)에서 가장 많이 교체되는 부품이 제1 부품인 것을 확인할 수 있다. 이를 위해, 제1 전자 기기 정보는 제1 전자 기기(110)에서 사용되는 부품들의 교체 기간, 횟수 등에 대한 정보를 포함할 수 있다.Specifically, the device 400 obtains the first electronic device information from an external server or database, and then, based on the first electronic device information, determines that the most frequently replaced part in the first electronic device 110 is the first part. You can check that. To this end, the first electronic device information may include information about the replacement period and number of parts used in the first electronic device 110.

S1002 단계에서, 장치(400)는 제1 부품에 대한 검색을 수행하여, 제1 부품에 대한 검색 결과를 획득할 수 있다. 여기서, 제1 부품에 대한 검색 결과는 제1 부품에 대한 사용 후기, 활용도, 효과, 위험성, 제1 부품의 판매 페이지 등을 포함할 수 있다.In step S1002, the device 400 may perform a search for the first part and obtain a search result for the first part. Here, the search results for the first part may include reviews of the first part, utilization, effectiveness, risk, sales page of the first part, etc.

S1003 단계에서, 장치(400)는 제1 부품에 대한 검색 결과의 수를 제1 수치로 확인할 수 있다.In step S1003, the device 400 may check the number of search results for the first part as a first value.

예를 들어, 장치(400)는 제1 부품에 대한 검색을 수행하여, 제1 부품에 대한 검색 결과로 5개의 검색 결과를 획득한 경우, 5개를 제1 수치로 확인할 수 있다.For example, when the device 400 performs a search for a first part and obtains 5 search results for the first part, 5 may be confirmed as the first value.

S1004 단계에서, 장치(400)는 제1 수치가 제1 기준치 보다 작은지 여부를 확인할 수 있다. 여기서, 제1 기준치는 최대 검색 결과를 설정하기 위한 기준으로, 실시예에 따라 상이하게 설정될 수 있으며, 예를 들어, 사용자의 요청에 의해 수동으로 설정될 수 있고, 제1 사용자 단말(310)의 화면 크기에 따라 자동으로 설정될 수도 있다.In step S1004, the device 400 may check whether the first numerical value is smaller than the first reference value. Here, the first reference value is a standard for setting the maximum search result and may be set differently depending on the embodiment. For example, it may be set manually at the user's request, and the first user terminal 310 It may be set automatically depending on the screen size.

S1004 단계에서 제1 수치가 제1 기준치 보다 작은 것으로 확인되면, S1005 단계에서, 장치(400)는 제1 부품에 대한 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.If it is confirmed that the first value is smaller than the first reference value in step S1004, the device 400 may transmit the search result for the first part to the first user terminal 310 in step S1005.

즉, 장치(400)는 제1 수치가 제1 기준치 보다 작은 것으로 확인되면, 제1 부품에 대한 검색 결과를 모두 포함시켜, 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first value is smaller than the first reference value, the device 400 may include all search results for the first part and transmit the search results to the first user terminal 310.

S1004 단계에서 제1 수치가 제1 기준치 보다 작지 않은 것으로 확인되면, S1006 단계에서, 장치(400)는 제1 전자 기기(110)에서 제1 부품 다음으로 많이 교체되는 부품이 제2 부품인 것을 확인할 수 있다. 이때, 장치(400)는 제1 전자 기기 정보를 기반으로, 제1 전자 기기(110)에서 제1 부품 다음으로 많이 교체되는 부품이 제2 부품인 것을 확인할 수 있다.If it is confirmed in step S1004 that the first value is not smaller than the first reference value, in step S1006, the device 400 confirms that the second part is the most frequently replaced part after the first part in the first electronic device 110. You can. At this time, based on the first electronic device information, the device 400 may confirm that the second component is the most frequently replaced component in the first electronic device 110 after the first component.

S1007 단계에서, 장치(400)는 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건으로 검색을 수행하여, 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과를 획득할 수 있다.In step S1007, the device 400 may perform a search using the AND condition of the first component and the second component to obtain a search result for the AND condition of the first component and the second component.

S1008 단계에서, 장치(400)는 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과를 수를 제2 수치로 확인할 수 있다.In step S1008, the device 400 may check the search result for the AND condition of the first part and the second part as a second number.

예를 들어, 장치(400)는 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건으로 검색을 수행하여, 제1 부품 및 제2 부품 둘 다 포함하는 검색 결과로 5개의 검색 결과를 획득한 경우, 5개를 제2 수치로 확인할 수 있다.For example, if the device 400 performs a search with an AND condition of the first part and the second part, and obtains 5 search results that include both the first part and the second part, then 5 can be confirmed with the second numerical value.

S1009 단계에서, 장치(400)는 제2 수치가 제1 기준치 보다 작은지 여부를 확인할 수 있다.In step S1009, the device 400 may check whether the second numerical value is smaller than the first reference value.

S1009 단계에서 제2 수치가 제1 기준치 보다 작은 것으로 확인되면, S1010 단계에서, 장치(400)는 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.If it is confirmed that the second value is smaller than the first reference value in step S1009, in step S1010, the device 400 may transmit the search result for the AND condition of the first part and the second part to the first user terminal 310. there is.

즉, 장치(400)는 제1 수치가 제1 기준치 보다 크지만 제2 수치가 제1 기준치 보다 작은 것으로 확인되면, 제1 부품에 대한 검색 결과가 아닌 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the first value is greater than the first reference value but the second value is less than the first reference value, the device 400 matches the AND condition of the first part and the second part rather than the search result for the first part. The search results may be transmitted to the first user terminal 310.

S1009 단계에서 제2 수치가 제1 기준치 보다 작지 않은 것으로 확인되면, S1011 단계에서, 장치(400)는 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과 내에서 제1 검색 결과, 제2 검색 결과 및 제3 검색 결과를 각각 분류할 수 있다. 여기서, 제1 검색 결과는 제1 부품 및 상기 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과 내에서 기준 기간 동안 새로 등록된 정보이고, 제2 검색 결과는 제1 부품 및 상기 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과 내에서 기준 기간 동안 갱신된 정보이고, 제3 검색 결과는 제1 부품 및 상기 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과 내에서 기준 기간 동안 변동 없이 유지되고 있는 정보이다. 이때, 기준 기간은 실시예에 따라 상이하게 설정될 수 있으며, 예를 들면, 최근 1주일로 설정될 수 있다.If it is confirmed in step S1009 that the second value is not smaller than the first reference value, in step S1011, the device 400 searches the first search result and the second search within the search results for the AND condition of the first part and the second part. The results and third search results can be classified respectively. Here, the first search result is information newly registered during the reference period within the search results for the AND condition of the first part and the second part, and the second search result is the information newly registered in the AND condition of the first part and the second part. The third search result is information that has been updated during the reference period within the search results, and the third search result is information that has been maintained without change during the reference period within the search results for the AND condition of the first part and the second part. At this time, the reference period may be set differently depending on the embodiment, for example, it may be set to the last one week.

즉, 장치(400)는 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과 내에서 기준 기간 동안 새로 등록된 정보를 제1 검색 결과로 분류하고, 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과 내에서 기준 기간 동안 갱신된 정보를 제2 검색 결과로 분류하고, 제1 부품 및 제2 부품의 AND 조건에 대한 검색 결과 내에서 기준 기간 동안 변동 없이 유지되고 있는 정보를 제3 검색 결과로 분류할 수 있다.That is, the device 400 classifies the newly registered information during the reference period within the search results for the AND conditions of the first part and the second part as the first search result, and classifies the newly registered information as the first search result and the AND condition of the first part and the second part. Information that has been updated during the standard period within the search results for It can be classified as:

S1012 단계에서, 장치(400)는 제1 검색 결과의 수를 제3 수치로 확인하고, 제2 검색 결과의 수를 제4 수치로 확인할 수 있다.In step S1012, the device 400 may check the number of first search results as a third number and the number of second search results as a fourth number.

S1013 단계에서, 장치(400)는 제3 수치 및 제4 수치를 합산한 값이 제1 기준치 보다 작은지 여부를 확인할 수 있다.In step S1013, the device 400 may check whether the sum of the third and fourth numerical values is less than the first reference value.

S1013 단계에서 제3 수치 및 제4 수치를 합산한 값이 제1 기준치 보다 작은 것으로 확인되면, S1014 단계에서, 장치(400)는 제1 검색 결과 및 제2 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.If it is confirmed that the sum of the third and fourth numbers is less than the first reference value in step S1013, in step S1014, the device 400 sends the first search result and the second search result to the first user terminal 310. It can be sent to .

즉, 장치(400)는 제2 수치가 제1 기준치 보다 작은 것으로 확인되면, 제1 검색 결과, 제2 검색 결과 및 제3 검색 결과를 모두 포함시켜, 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있고, 제2 수치가 제1 기준치 보다 크지만 제3 수치 및 제4 수치를 합산한 값이 제1 기준치 보다 작은 것으로 확인되면, 제3 검색 결과를 제외시키고 제1 검색 결과 및 제2 검색 결과만 포함시켜, 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the second value is smaller than the first reference value, the device 400 includes all the first search results, second search results, and third search results, and sends the search results to the first user terminal 310. If it is confirmed that the second value is greater than the first reference value but the sum of the third value and the fourth value is less than the first reference value, the third search result is excluded and the first search result and the second search result are confirmed. The search results can be transmitted to the first user terminal 310 by including only the results.

S1013 단계에서 제3 수치 및 제4 수치를 합산한 값이 제1 기준치 보다 작지 않은 것으로 확인되면, S1015 단계에서, 장치(400)는 제1 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.If it is confirmed that the sum of the third and fourth numbers is not less than the first reference value in step S1013, the device 400 may transmit the first search result to the first user terminal 310 in step S1015. .

즉, 장치(400)는 제3 수치 및 제4 수치를 합산한 값이 제1 기준치 보다 큰 것으로 확인되면, 제2 검색 결과 및 제3 검색 결과를 제외시키고 제1 검색 결과만 포함시켜, 검색 결과를 제1 사용자 단말(310)로 전송할 수 있다.That is, if the device 400 determines that the sum of the third and fourth values is greater than the first reference value, the device 400 excludes the second and third search results and includes only the first search result, resulting in a search result. Can be transmitted to the first user terminal 310.

도 11은 일실시예에 따른 장치의 구성의 예시도이다.Figure 11 is an exemplary diagram of the configuration of a device according to an embodiment.

일실시예에 따른 장치(400)는 프로세서(410) 및 메모리(420)를 포함한다. 프로세서(410)는 도 1 내지 도 10을 참조하여 전술된 적어도 하나의 장치들을 포함하거나, 도 1 내지 도 10을 참조하여 전술된 적어도 하나의 방법을 수행할 수 있다. 장치(400)를 이용하는 자 또는 단체는 도 1 내지 도 10을 참조하여 전술된 방법들 일부 또는 전부와 관련된 서비스를 제공할 수 있다.Device 400 according to one embodiment includes a processor 410 and memory 420. The processor 410 may include at least one device described above with reference to FIGS. 1 to 10 or may perform at least one method described above with reference to FIGS. 1 to 10 . A person or organization using device 400 may provide services related to some or all of the methods described above with reference to FIGS. 1 to 10 .

메모리(420)는 전술된 방법들과 관련된 정보를 저장하거나 후술되는 방법들이 구현된 프로그램을 저장할 수 있다. 메모리(420)는 휘발성 메모리 또는 비휘발성 메모리일 수 있다.The memory 420 may store information related to the methods described above or store a program in which methods described later are implemented. Memory 420 may be volatile memory or non-volatile memory.

프로세서(410)는 프로그램을 실행하고, 장치(400)를 제어할 수 있다. 프로세서(410)에 의하여 실행되는 프로그램의 코드는 메모리(420)에 저장될 수 있다. 장치(400)는 입출력 장치(도면 미 표시)를 통하여 외부 장치(예를 들어, 퍼스널 컴퓨터 또는 네트워크)에 연결되고, 유무선 통신을 통해 데이터를 교환할 수 있다.The processor 410 can execute programs and control the device 400. The code of the program executed by the processor 410 may be stored in the memory 420. The device 400 is connected to an external device (eg, a personal computer or a network) through an input/output device (not shown) and can exchange data through wired or wireless communication.

이상에서 설명된 실시예들은 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치, 방법 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPGA(field programmable gate array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.The embodiments described above may be implemented with hardware components, software components, and/or a combination of hardware components and software components. For example, the devices, methods, and components described in the embodiments may include, for example, a processor, a controller, an arithmetic logic unit (ALU), a digital signal processor, a microcomputer, and a field programmable gate (FPGA). It may be implemented using one or more general-purpose or special-purpose computers, such as an array, programmable logic unit (PLU), microprocessor, or any other device capable of executing and responding to instructions. A processing device may execute an operating system (OS) and one or more software applications that run on the operating system. Additionally, a processing device may access, store, manipulate, process, and generate data in response to the execution of software. For ease of understanding, a single processing device may be described as being used; however, those skilled in the art will understand that a processing device includes multiple processing elements and/or multiple types of processing elements. It can be seen that it may include. For example, a processing device may include a plurality of processors or one processor and one controller. Additionally, other processing configurations, such as parallel processors, are possible.

실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.The method according to the embodiment may be implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer means and recorded on a computer-readable medium. The computer-readable medium may include program instructions, data files, data structures, etc., singly or in combination. Program instructions recorded on the medium may be specially designed and configured for the embodiment or may be known and available to those skilled in the art of computer software. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical media such as CD-ROMs and DVDs, and magnetic media such as floptical disks. -Includes optical media (magneto-optical media) and hardware devices specifically configured to store and execute program instructions, such as ROM, RAM, flash memory, etc. Examples of program instructions include machine language code, such as that produced by a compiler, as well as high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter, etc. The hardware devices described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operations of the embodiments, and vice versa.

소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.Software may include a computer program, code, instructions, or a combination of one or more of these, which may configure a processing unit to operate as desired, or may be processed independently or collectively. You can command the device. Software and/or data may be used on any type of machine, component, physical device, virtual equipment, computer storage medium or device to be interpreted by or to provide instructions or data to a processing device. , or may be permanently or temporarily embodied in a transmitted signal wave. Software may be distributed over networked computer systems and stored or executed in a distributed manner. Software and data may be stored on one or more computer-readable recording media.

이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기를 기초로 다양한 기술적 수정 및 변형을 적용할 수 있다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.Although the embodiments have been described with limited drawings as described above, those skilled in the art can apply various technical modifications and variations based on the above. For example, the described techniques are performed in a different order than the described method, and/or components of the described system, structure, device, circuit, etc. are combined or combined in a different form than the described method, or other components are used. Alternatively, appropriate results may be achieved even if substituted or substituted by an equivalent.

그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.Therefore, other implementations, other embodiments, and equivalents of the claims also fall within the scope of the following claims.

Claims (3)

장치에 의해 수행되는, 활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법에 있어서,
제1 전자 기기와 연결된 제1 측정 기기로부터, 미리 설정된 제1 기간마다 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 측정 결과를 수신하는 단계;
제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 제1 측정 결과가 수신되면, 상기 제1 측정 결과를 기반으로, 상기 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류를 제1 전류로 확인하고, 상기 제1 시점에 상기 제1 전자 기기의 전압을 제1 전압으로 확인하는 단계;
상기 제1 전류와 상기 제1 전자 기기의 허용 전류 범위를 비교하여, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전류 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 전류 이상 상태 지수를 설정하는 단계;
상기 제1 전압과 상기 제1 전자 기기의 허용 전압 범위를 비교하여, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전압 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 전압 이상 상태 지수를 설정하는 단계;
상기 제1 전류 이상 상태 지수 및 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 합산한 값으로, 상기 제1 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 이상 상태를 수치로 나타낸 제1 상태 지수를 설정하는 단계;
상기 제1 상태 지수가 미리 설정된 제1 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 정상 기기로 분류하는 단계;
상기 제1 상태 지수가 상기 제1 기준 점수 보다 높지만 미리 설정된 제2 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류하는 단계;
상기 제1 상태 지수가 상기 제2 기준 점수 보다 높지만 미리 설정된 제3 기준 점수 보다 낮은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류하는 단계;
상기 제1 상태 지수가 상기 제3 기준 점수 보다 높은 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기를 위험 기기로 분류하는 단계;
상기 제1 전자 기기가 경고 기기로 분류된 경우, 상기 제1 전자 기기가 경고 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 제1 사용자 단말로 전송하는 단계; 및
상기 제1 전자 기기가 위험 기기로 분류된 경우, 상기 제1 전자 기기가 위험 기기로 분류된 것을 알려주는 알림 메시지를 상기 제1 사용자 단말로 전송하고, 상기 제1 전자 기기의 동작이 정지되도록 제어하는 단계를 포함하고,
상기 제1 전자 기기를 정상 기기로 분류하는 단계, 상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류하는 단계, 상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류하는 단계 및 상기 제1 전자 기기를 위험 기기로 분류하는 단계 중 어느 하나의 단계 이후에,
상기 제1 전자 기기를 정상 기기로 분류한 경우, 상기 제1 전자 기기의 측정 기간이 상기 제1 기간으로 유지되도록 제어하는 단계;
상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류한 경우, 상기 제1 기간에 100% 보다 작은 값으로 설정된 제1 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계;
상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류한 경우, 상기 제1 기간에 상기 제1 가중치 보다 작은 값으로 설정된 제2 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계; 및
상기 제1 전자 기기를 위험 기기로 분류한 경우, 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압이 측정되지 않도록, 상기 제1 기간을 무한대 값으로 조정하는 단계를 더 포함하고,
상기 제1 전자 기기의 측정 기간이 상기 제1 기간으로 유지되도록 제어하는 단계, 상기 제1 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계, 상기 제2 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계 및 상기 제1 기간을 무한대 값으로 조정하는 단계 중 어느 하나의 단계 이후에,
상기 제1 전자 기기가 설치된 지점이 제1 지점으로 확인되면, 상기 제1 지점을 중심으로 미리 설정된 제1 기준 거리 이내에 있는 영역을 제1 기준 영역으로 설정하고, 상기 제1 지점을 중심으로 상기 제1 기준 거리 보다 긴 거리로 설정된 제2 기준 거리 이내에 있는 영역을 제2 기준 영역으로 설정하는 단계;
상기 제1 사용자 단말이 상기 제1 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, 상기 제1 전자 기기의 측정 기간이 상기 제1 기간으로 유지되도록 제어하는 단계;
상기 제1 사용자 단말이 상기 제1 기준 영역을 벗어나 상기 제2 기준 영역 내에 위치하는 것으로 확인되면, 상기 제1 기간에 100% 보다 작은 값으로 설정된 제3 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계; 및
상기 제1 사용자 단말이 상기 제2 기준 영역을 벗어나 위치하는 것으로 확인되면, 상기 제1 기간에 상기 제3 가중치 보다 작은 값으로 설정된 제4 가중치를 적용하여, 상기 제1 기간을 조정하는 단계를 더 포함하고,
상기 제1 전자 기기를 정상 기기로 분류하는 단계, 상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류하는 단계, 상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류하는 단계 및 상기 제1 전자 기기를 위험 기기로 분류하는 단계 중 어느 하나의 단계 이후에,
상기 제1 시점으로부터 상기 제1 기간이 지난 이후인 제2 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류 및 전압을 측정하여 생성된 제2 측정 결과가 수신되면, 상기 제2 측정 결과를 기반으로, 상기 제2 시점에 상기 제1 전자 기기의 전류를 제2 전류로 확인하고, 상기 제2 시점에 상기 제1 전자 기기의 전압을 제2 전압으로 확인하는 단계;
상기 제2 전류와 상기 제1 전자 기기의 허용 전류 범위를 비교하여, 상기 제2 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전류 이상 상태를 수치로 나타낸 제2 전류 이상 상태 지수를 설정하는 단계;
상기 제2 전압과 상기 제1 전자 기기의 허용 전압 범위를 비교하여, 상기 제2 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 전압 이상 상태를 수치로 나타낸 제2 전압 이상 상태 지수를 설정하는 단계;
상기 제2 전류 이상 상태 지수 및 상기 제2 전압 이상 상태 지수를 합산한 값으로, 상기 제2 시점에 대한 상기 제1 전자 기기의 이상 상태를 수치로 나타낸 제2 상태 지수를 설정하는 단계;
상기 제1 상태 지수를 통해 상기 제1 전자 기기를 주의 기기로 분류한 경우, 상기 제2 상태 지수에 100% 보다 큰 값으로 설정된 제5 가중치를 적용하여, 상기 제2 상태 지수를 조정하는 단계; 및
상기 제1 상태 지수를 통해 상기 제1 전자 기기를 경고 기기로 분류한 경우, 상기 제5 가중치 보다 큰 값으로 설정된 제6 가중치를 적용하여, 상기 제2 상태 지수를 조정하는 단계를 더 포함하는,
활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법.
In a mobile terminal linked measurement method with increased usability performed by a device,
Receiving measurement results generated by measuring the current and voltage of the first electronic device at a first preset period from a first measuring device connected to the first electronic device;
When a first measurement result generated by measuring the current and voltage of the first electronic device at a first time is received, based on the first measurement result, the current of the first electronic device at the first time is checking the current and checking the voltage of the first electronic device at the first time as the first voltage;
Comparing the first current with an allowable current range of the first electronic device and setting a first abnormal current state index numerically representing the current abnormal state of the first electronic device at the first time point;
Comparing the first voltage and an allowable voltage range of the first electronic device, and setting a first voltage abnormality index that numerically represents the voltage abnormality state of the first electronic device at the first time point;
setting a first state index that numerically represents the abnormal state of the first electronic device at the first point in time, as a sum of the first current abnormal state index and the first voltage abnormal state index;
If the first condition index is confirmed to be lower than a preset first standard score, classifying the first electronic device as a normal device;
If the first status index is confirmed to be higher than the first reference score but lower than a preset second reference score, classifying the first electronic device as a cautionary device;
If the first condition index is confirmed to be higher than the second reference score but lower than a preset third reference score, classifying the first electronic device as a warning device;
If the first condition index is confirmed to be higher than the third standard score, classifying the first electronic device as a dangerous device;
If the first electronic device is classified as a warning device, transmitting a notification message notifying that the first electronic device is classified as a warning device to the first user terminal; and
If the first electronic device is classified as a dangerous device, a notification message notifying that the first electronic device is classified as a dangerous device is transmitted to the first user terminal, and the operation of the first electronic device is controlled to stop. Including the steps of:
Classifying the first electronic device as a normal device, classifying the first electronic device as a caution device, classifying the first electronic device as a warning device, and classifying the first electronic device as a dangerous device. After any one of the steps,
When the first electronic device is classified as a normal device, controlling the measurement period of the first electronic device to be maintained at the first period;
If the first electronic device is classified as an attention device, adjusting the first period by applying a first weight set to a value less than 100% to the first period;
If the first electronic device is classified as a warning device, adjusting the first period by applying a second weight set to a smaller value than the first weight to the first period; and
If the first electronic device is classified as a dangerous device, adjusting the first period to an infinite value so that the current and voltage of the first electronic device are not measured,
Controlling the measurement period of the first electronic device to be maintained at the first period, applying the first weight to adjust the first period, applying the second weight to adjust the first period After either adjusting or adjusting the first period to an infinity value,
When the point where the first electronic device is installed is confirmed to be the first point, an area within a preset first reference distance centered on the first point is set as the first reference area, and the first point is set as the first reference area. Setting an area within a second reference distance set to be longer than the first reference distance as a second reference area;
When it is confirmed that the first user terminal is located within the first reference area, controlling the measurement period of the first electronic device to be maintained at the first period;
If it is confirmed that the first user terminal is located outside the first reference area and within the second reference area, adjust the first period by applying a third weight set to a value less than 100% to the first period. steps; and
If it is confirmed that the first user terminal is located outside the second reference area, adjusting the first period by applying a fourth weight set to a value smaller than the third weight to the first period. Contains,
Classifying the first electronic device as a normal device, classifying the first electronic device as a caution device, classifying the first electronic device as a warning device, and classifying the first electronic device as a dangerous device. After any one of the steps,
When a second measurement result generated by measuring the current and voltage of the first electronic device is received at a second time after the first period has elapsed from the first time, based on the second measurement result, the Confirming the current of the first electronic device as a second current at a second time point, and confirming the voltage of the first electronic device as a second voltage at the second time point;
Comparing the second current with an allowable current range of the first electronic device and setting a second abnormal current state index numerically representing the current abnormal state of the first electronic device at the second time point;
Comparing the second voltage with an allowable voltage range of the first electronic device, and setting a second voltage abnormality index indicating the voltage abnormality state of the first electronic device at the second time point in numbers;
setting a second state index that numerically represents the abnormal state of the first electronic device at the second time point as a sum of the second current abnormal state index and the second voltage abnormal state index;
If the first electronic device is classified as an attention device through the first state index, adjusting the second state index by applying a fifth weight set to a value greater than 100% to the second state index; and
When the first electronic device is classified as a warning device through the first state index, adjusting the second state index by applying a sixth weight set to a value greater than the fifth weight.
Mobile terminal linked measurement method with increased usability.
제1항에 있어서,
상기 제1 전류 이상 상태 지수를 설정하는 단계는,
상기 제1 전류가 상기 허용 전류 범위 내에 포함되어 있는 것으로 확인되면, 상기 제1 전류 이상 상태 지수를 0으로 설정하는 단계;
상기 제1 전류가 상기 허용 전류 범위를 벗어나 상기 허용 전류 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, 상기 제1 전류와 상기 허용 전류 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 상기 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계; 및
상기 제1 전류가 상기 허용 전류 범위를 벗어나 상기 허용 전류 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, 상기 제1 전류와 상기 허용 전류 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 상기 제1 전류 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계를 포함하고,
상기 제1 전압 이상 상태 지수를 설정하는 단계는,
상기 제1 전압이 상기 허용 전압 범위 내에 포함되어 있는 것으로 확인되면, 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 0으로 설정하는 단계;
상기 제1 전압이 상기 허용 전압 범위를 벗어나 상기 허용 전압 범위의 최소값 보다 작은 것으로 확인되면, 상기 제1 전압과 상기 허용 전압 범위의 최소값 간의 차이가 클수록 1부터 5까지 범위 내에서 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계; 및
상기 제1 전압이 상기 허용 전압 범위를 벗어나 상기 허용 전압 범위의 최대값 보다 큰 것으로 확인되면, 상기 제1 전압과 상기 허용 전압 범위의 최대값 간의 차이가 클수록 6부터 10까지 범위 내에서 상기 제1 전압 이상 상태 지수를 높은 점수로 설정하는 단계를 포함하는,
활용성이 증대된 모바일 단말기 연동 계측 방법.
According to paragraph 1,
The step of setting the first current abnormal state index is,
If it is confirmed that the first current is within the allowable current range, setting the first current abnormal state index to 0;
If it is confirmed that the first current is outside the allowable current range and is less than the minimum value of the allowable current range, the greater the difference between the first current and the minimum value of the allowable current range, the greater the first current or more within the range from 1 to 5. setting the status index to a high score; and
If the first current is confirmed to be outside the allowable current range and greater than the maximum value of the allowable current range, the greater the difference between the first current and the maximum value of the allowable current range, the greater the first current within the range from 6 to 10. Setting the current abnormal state index to a high score,
The step of setting the first voltage abnormality index is,
If it is confirmed that the first voltage is within the allowable voltage range, setting the first voltage abnormality state index to 0;
If it is confirmed that the first voltage is outside the allowable voltage range and is less than the minimum value of the allowable voltage range, the greater the difference between the first voltage and the minimum value of the allowable voltage range, the greater the first voltage or more within the range from 1 to 5. setting the status index to a high score; and
If it is confirmed that the first voltage is outside the allowable voltage range and is greater than the maximum value of the allowable voltage range, the larger the difference between the first voltage and the maximum value of the allowable voltage range, the greater the first voltage within the range from 6 to 10. Including setting the voltage anomaly index to a high score,
Mobile terminal linked measurement method with increased usability.
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