KR102673207B1 - An aging method and appratus for oled instrument pannel modole for vehicle - Google Patents

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Abstract

입구와 출구가 하부에 배치되는 에이징 챔버와, 에이징 챔버의 내부에서 입구와 출구를 경유하여 상하방향으로 주행가능하게 설치되어 에이징 대상물을 수용한 팔렛을 상하 이동시키는 이송컨베이어와, 에이징 챔버 내부를 승온시키기 위한 열풍유닛과, 에이징 챔버 내부의 상부 및 하부 복수 지점의 온도를 측정하기 위한 모니터링부 및 모니터링부에서 측정된 온도차를 근거로 하여 상기 열퓽유닛의 가열온도를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 장치 및 이를 이용한 에이징방법이 개시된다.An aging chamber with an inlet and an outlet located at the bottom, a transfer conveyor installed to be able to travel in the up and down direction through the inlet and outlet inside the aging chamber to move the pallet containing the aging object up and down, and a conveyor that raises the temperature inside the aging chamber. A hot air unit for heating the aging chamber, a monitoring unit for measuring the temperature of the upper and lower plurality of points inside the aging chamber, and a control unit for controlling the heating temperature of the hot air unit based on the temperature difference measured by the monitoring unit. A vehicle OLED instrument panel module aging device and an aging method using the same are disclosed.

Description

차량용 OLED 계기판모듈 에이징 방법 및 에이징장치{AN AGING METHOD AND APPRATUS FOR OLED INSTRUMENT PANNEL MODOLE FOR VEHICLE}Automotive OLED instrument panel module aging method and aging device {AN AGING METHOD AND APPRATUS FOR OLED INSTRUMENT PANNEL MODOLE FOR VEHICLE}

본 발명은 에이징 방법 및 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 에이징 챔버 내에서 차량용 OLED 계기판모듈을 상하로 이동시키면서 에이징할 수 있는 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 방법 및 에이징장치에 관한 것이다.The present invention relates to an aging method and device, and more specifically, to a method and aging device for aging a vehicle OLED instrument panel module that can age the vehicle OLED instrument panel module by moving it up and down in an aging chamber.

일반적으로 반도체, LCD, LED 디스플레이 등의 제품들은 다수의 공정으로 이루어지는 제조 과정 중 일정시간 동안 제품의 특성을 검사하는 에이징(aging) 공정을 거치게 된다. In general, products such as semiconductors, LCDs, and LED displays go through an aging process that examines the characteristics of the products for a certain period of time during the manufacturing process, which consists of multiple processes.

이러한 에이징 공정은 제품이 고온의 환경을 제공하는 에이징 장치인 에이징 챔버(또는 오븐) 내에서 일정시간 동안 체류하면서 시간의 경과에 따라 제품의 특성이 어떻게 변화하는지의 작동상태를 점검하며 수행된다. 이때, 상기 제품들은 제품의 종류에 따라서 에이징 챔버의 내부에서 대략 60℃ 내지 120℃의 온도를 유지하면서, 설정된 시간동안 체유하게 된다.This aging process is performed while the product stays in an aging chamber (or oven), an aging device that provides a high temperature environment, for a certain period of time and checks the operating status of how the product's characteristics change over time. At this time, the products are maintained for a set time while maintaining a temperature of approximately 60°C to 120°C inside the aging chamber depending on the type of product.

상기와 같은 에이징 공정 중에 챔버 내의 온도가 균일하게 유지되지 못하면, 대상 제품의 온도가 전체적으로 균일하게 가열되지 않게 되어 정확한 에이징 공정이 이루어지지 못하므로, 에이징 공정이 이루어지는 동안 챔버 내부의 온도를 균일하게 유지하는 것이 필요하다.If the temperature inside the chamber is not maintained uniformly during the aging process as described above, the temperature of the target product will not be heated uniformly as a whole and an accurate aging process will not be achieved. Therefore, the temperature inside the chamber must be maintained uniformly during the aging process. It is necessary to do

이를 위해서, 종래에는 에이징 공정이 이루어지는 동안, 챔버 내부에 수납된 제품들로 열풍을 순환시키면서 지속적으로 재가열하여 공급함으로써 챔버 내부의 온도를 일정하게 유지하였다.For this purpose, in the past, while the aging process was taking place, the temperature inside the chamber was maintained constant by continuously reheating and supplying the products stored inside the chamber while circulating hot air.

즉, 상기와 같이 반도체, LCD 디스플레이, OLED 디스플레이 등의 제품은 트레이에 적재한 상태에서, 트레이를 챔버 내부에 배치한 상태에서 열풍을 이용하여 가열하는 방법을 사용하여 에이징공정을 수행하였다.That is, as described above, the aging process was performed on products such as semiconductors, LCD displays, and OLED displays by loading them on trays and heating them using hot air while placing the trays inside a chamber.

한편, 최근에는 OLED의 사용처가 다양해짐에 따라서, 디스플레이장치의 모양이나 사이즈, 형태가 다양해지고 있다. 예를 들어, 차량의 계기판모듈의 경우에는, 최근에 OLED 계기판이 적용되고 있는데, 이러한 차량용 OLED 계기판모듈의 경우에도, 제조공정 중에 에이징공정을 거처야 한다.Meanwhile, recently, as the uses of OLED have become more diverse, the shape, size, and form of display devices have become more diverse. For example, in the case of vehicle instrument panel modules, OLED instrument panels have recently been applied, and even in the case of these vehicle OLED instrument panel modules, an aging process must be performed during the manufacturing process.

그런데, 상기와 같은 차량용 OLED 계기판모듈의 경우는 사이즈가 크고, 모델별로 다양한 형상을 가지므로, 별도의 트레이에 담아서 챔버 내에서 고정한 상태에서 에이징공정을 수행하게 되면, 시간이 오래 걸리고 균일하게 가열하는 것이 쉽지 않은 문제점이 있다.However, in the case of the OLED instrument panel module for vehicles as described above, the size is large and has various shapes for each model, so if the aging process is performed while placed in a separate tray and fixed in the chamber, it takes a long time and does not heat uniformly. There is a problem that is not easy to do.

이를 위해서, 차량용 OLED 계기판 모듈을 챔버 내부를 수평 이동시키면서 가열하여 에이징공정을 수행하는 방법이 사용되고 있는데, 이 경우에는 챔버 내부에서의 상부 및 하부의 온도가 차이가 발생하게 되어, 챔버 내부의 온도를 균일하게 제어하는데 어려움이 있다.For this purpose, a method is used to perform the aging process by heating the vehicle OLED instrument panel module while moving it horizontally inside the chamber. In this case, a difference occurs in the temperature of the upper and lower parts of the chamber, so the temperature inside the chamber is increased. It is difficult to control it uniformly.

또한, 차량용 OLED 계기판 모듈을 에이징챔버의 입구에서 출구까지 수평이동시키면서 가열할 때, 입구에서부터 출구까지 테스터를 연결한 상태로 이동하므로 그에 따른 전기소모량이 증가하는 문제점이 있다.Additionally, when heating the OLED instrument panel module for a vehicle while moving it horizontally from the entrance to the outlet of the aging chamber, there is a problem in that electricity consumption increases because the tester is moved from the entrance to the outlet.

또한, 비교적 체적이 큰 차량용 OLED 계기판모듈을 챔버 내에서 수평이동시키면서 가열하여 에이징하게 되므로, 상하 전체적으로 균일한 온도로 유지시키는데 어려움이 있다.In addition, since the OLED instrument panel module for a vehicle, which has a relatively large volume, is heated and aged while moving horizontally within the chamber, it is difficult to maintain a uniform temperature throughout the top and bottom.

국내 등록특허 제10-0875907호Domestic Registered Patent No. 10-0875907

본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 창안된 것으로서, 챔버 내에서 차량용 OLED 계기판모듈을 상하로 이동시키면서 에이징할 수 있는 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 방법 및 에이징장치를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention was created in consideration of the above points, and its purpose is to provide a method and aging device for aging an OLED instrument panel module for a vehicle that can age the OLED instrument panel module for a vehicle by moving it up and down in a chamber.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 방법 은, 에이징챔버의 하부에 위치한 입구에 위치한 팔렛에 에이징처리할 차량용 OLED 계기판 모듈을 투입하는 단계; 상기 입구에서 차량용 OLED 계기판 모듈을 전기적으로 테스트하는 단계; 상기 입구에서 상기 팔렛을 상부로 이동 후, 다시 하강시켜서 상기 에이징챔버의 하부에 위치한 출구로 이동시키면서, 상기 에이징챔버 내부를 열풍가열하는 단계; 상기 에이징챔버 내부의 상부온도(T1)와, 상기 출구 측의 하부온도(T2)의 차를 측정하는 단계; 상기 상부온도(T1)와 하부온도(T2)의 차이를 근거로 하여 상기 에이징챔버 내부의 열풍온도를 조절하는 단계; 및 상기 출구로 이동된 팔렛에 장착된 차량용 OLED 계기판 모듈을 전기적으로 테스트하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.The method of aging a vehicle OLED instrument panel module of the present invention for achieving the above object includes the steps of inserting a vehicle OLED instrument panel module to be aged into a pallet located at an entrance located at the bottom of an aging chamber; Electrically testing the vehicle OLED instrument panel module at the entrance; Moving the pallet upward from the inlet, then lowering it again and moving it to an outlet located at the bottom of the aging chamber, while heating the inside of the aging chamber with hot air; Measuring the difference between the upper temperature (T1) inside the aging chamber and the lower temperature (T2) at the outlet side; Adjusting the hot air temperature inside the aging chamber based on the difference between the upper temperature (T1) and the lower temperature (T2); and electrically testing the vehicle OLED instrument panel module mounted on the pallet moved to the exit.

이로써, 에이징 대상물인 계기판 모듈을 상하 높이 상관없이 균일한 온도가 가열하여 에이징가공할 수 있다.As a result, the instrument panel module, which is an aging object, can be subjected to aging processing by heating to a uniform temperature regardless of the top and bottom height.

또한, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 차량용 OLED 계기판 모듈 에이장 장치는, 입구와 출구가 하부에 배치되는 에이징 챔버; 상기 에이징 챔버의 내부에서 상기 입구와 출구를 경유하여 상하방향으로 주행 가능하게 설치되어, 에이징 가공할 대상물을 수용한 팔렛을 상하 이동시키는 이송컨베이어; 상기 에이징 챔버 내부를 승온시키기 위한 열풍유닛; 상기 에이징 챔버 내부의 상부 및 하부 복수 지점의 온도를 측정하기 위한 모니터링부;및 상기 모니터링부에서 측정된 온도차를 근거로 하여 상기 열풍유닛의 가열온도를 제어하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the OLED instrument panel module aging device for a vehicle of the present invention for achieving the above object includes an aging chamber in which an inlet and an outlet are disposed at the bottom; A transfer conveyor installed to be able to travel in an upward and downward direction through the inlet and outlet within the aging chamber to move a pallet containing an object to be aged processed up and down; A hot air unit for increasing the temperature inside the aging chamber; It is characterized in that it includes a monitoring unit for measuring the temperature of the upper and lower plurality of points inside the aging chamber; and a control unit for controlling the heating temperature of the hot air unit based on the temperature difference measured by the monitoring unit.

여기서, 상기 모니터링부는, 상기 에이징 챔버 내부의 상부 중앙부분의 온도를 측정하는 상부 온도센서; 및 상기 에이징 챔버의 출구부분의 온도를 측정하는 하부 온도센서;를 포함하는 것이 바람직하다.Here, the monitoring unit includes an upper temperature sensor that measures the temperature of the upper central portion inside the aging chamber; and a lower temperature sensor that measures the temperature of the outlet portion of the aging chamber.

이로써, 에이징챔버 내부의 상부와 하부 각각의 온도를 측정하여 온도차를 구하여 열풍온도를 조절할 수 있다.As a result, the hot air temperature can be adjusted by measuring the temperature of the upper and lower parts of the aging chamber and obtaining the temperature difference.

또한, 상기 에이징 챔버의 입구로 진입하기 전의 팔렛에 장착된 대상물을 전기적으로 접속하여 테스트하는 입측 테스터부; 및 상기 에이징 챔버의 출구로 나온 팔렛에 장착된 대상물을 전기적으로 접속하여 테스트하는 출측 테스터부;를 더 포함하는 것이 좋다.In addition, an entrance tester unit that electrically connects and tests an object mounted on a pallet before entering the entrance of the aging chamber; and an exit tester unit that electrically connects and tests an object mounted on a pallet exiting the aging chamber.

이로써, 에이징챔버의 입구와 출구 각각에서만 전기를 공급하여 테스트함으로써, 전기소비량을 대폭 줄일 수 있다.As a result, electricity consumption can be significantly reduced by supplying electricity only to the inlet and outlet of the aging chamber for testing.

또한, 상기 에이징 대상물은 차량용 OLED 계기판모듈인 것이 좋다.Additionally, the aging object is preferably an OLED instrument panel module for a vehicle.

본 발명의 차량용 OLED 계기판 모듈 에이징 방법 및 에이징 장치는, 에이징 챔버의 입구와 출구를 에이징챔버의 하부에 위치시켜서, 입구와 출구 각각에서만 전기적인 테스트를 하여 전시소비량을 줄일 수 있다.The vehicle OLED instrument panel module aging method and aging device of the present invention can reduce display consumption by locating the inlet and outlet of the aging chamber at the lower part of the aging chamber and performing electrical tests only at the inlet and outlet.

또한, 에이징챔버 내부에서 에이징 대상물을 상승 및 하강시키면서 열풍 가열함으로써, 높이 차에 다른 차별적인 가열을 방지하고, 균일하게 가열하여 에이징할 수 있다.In addition, by heating the aging object with hot air while raising and lowering it inside the aging chamber, differential heating due to height differences can be prevented and aging can be achieved by uniform heating.

그리고 에이징챔버 내부의 상부와 출구의 온도차를 이용하여 열풍온도를 최적의 상태로 제어할 수 있다.In addition, the temperature of the hot air can be optimally controlled by using the temperature difference between the upper part of the aging chamber and the outlet.

도 1a는 본 발명의 실시예에 따른 차량용 OLED 계기판 모듈 에이징 장치를 나타내 보인 사시도이다.
도 1b는 팔렛에 계기판 모듈이 장착된 상태를 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 2는 도 1a의 Ⅰ-Ⅰ선 단면도이다.
도 3은 도 1a의 Ⅱ-Ⅱ선 단면도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 에이징 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 차량용 OLED 계기판 모듈 에이징 장치를 설명하기 위한 블록구성도이다.
Figure 1a is a perspective view showing an OLED instrument panel module aging device for a vehicle according to an embodiment of the present invention.
Figure 1b is a schematic diagram for explaining a state in which an instrument panel module is mounted on a pallet.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line I-I of FIG. 1A.
Figure 3 is a cross-sectional view taken along line II-II of Figure 1A.
Figure 4 is a flowchart for explaining an aging method according to an embodiment of the present invention.
Figure 5 is a block diagram for explaining an OLED instrument panel module aging device for a vehicle according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 차량용 OLED 계기판 모듈 에이징 장치를 자세히 설명하기로 한다.Hereinafter, an OLED instrument panel module aging device for a vehicle according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings.

도 1a 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 차량용 OLED 계기판 모듈 에이징 장치는, 에이징 챔버(110)와, 팔렛(120)과, 이송부(130)와, 열풍유닛(140), 모니터링부(150), 제어부(160), 저장부(171), 입력부(173), 입구측 테스터(180) 및 출구측 테스터(190)를 구비한다.1A to 5, the vehicle OLED instrument panel module aging device according to an embodiment of the present invention includes an aging chamber 110, a pallet 120, a transfer unit 130, a hot air unit 140, and a monitoring device. It is provided with a unit 150, a control unit 160, a storage unit 171, an input unit 173, an inlet tester 180, and an outlet tester 190.

상기 에이징 챔버(110)는 에이징 대상물 즉, 차량용 OLED 계기판모듈(10; 이하 "계기판모듈" 이라 함)을 상하방향으로 이동시키면서 에이징하기 위한 구성을 가진다. 이러한 에이징 챔버(110)는 하부에 서로 이격된 입구(111)와 출구(113)를 가진다. 에이징 챔버(110)의 내부 공간은 입구(111)에서 상부로 연장되는 상승공간(110a)과, 격벽(115)에 의해서 수평방향으로 격리되어 출구(113)로 연결되는 하강공간(110b)으로 이루어진다. 상기 공간들(110a,110b)의 상부는 서려 연통되어 팔렛(120)이 상승공간(110a)에서 하강공간(110b)으로 수평이동될 수 있다.The aging chamber 110 is configured to age the aging object, that is, the vehicle OLED instrument panel module 10 (hereinafter referred to as “instrument panel module”) by moving it in the vertical direction. This aging chamber 110 has an inlet 111 and an outlet 113 spaced apart from each other at the bottom. The internal space of the aging chamber 110 consists of a rising space 110a extending upward from the inlet 111 and a descending space 110b separated horizontally by a partition wall 115 and connected to the outlet 113. . The upper portions of the spaces 110a and 110b are connected so that the pallet 120 can be horizontally moved from the rising space 110a to the lowering space 110b.

상기 팔렛(120)은 이송부(130)에 의해서 입구(111)로 진입하여 에이징 챔버(110) 배부를 상하로 경유한 뒤, 출구(113)로 배출되도록 이동되며, 내부에 에이징 대상물인 계기판모듈(10)이 장착될 수 있는 장착구조를 가진다. 그리고 팔렛에는 내부에 장착된 계기판 모듈(10)에 대해서 전기적으로 접속하여 계기판모듈(10)의 전기적인 구동상태를 점검할 수 있는 패턴 구동부(121)가 연결된다. 패턴구동부(121)에는 외부 즉, 상기 입구측 및 출구측 테스터(180, 190)가 접속되는 커넥터 부(121a)가 구비된다. The pallet 120 enters the inlet 111 by the transfer unit 130, passes up and down the distribution of the aging chamber 110, and is then moved to be discharged to the outlet 113, and the instrument panel module (the aging object) is inside. 10) has a mounting structure that can be mounted. And the pallet is connected to a pattern driving unit 121 that is electrically connected to the instrument panel module 10 mounted inside and can check the electrical driving state of the instrument panel module 10. The pattern driving unit 121 is provided with an external connector unit 121a to which the inlet and outlet testers 180 and 190 are connected.

상기 팔렛(120)은 에이징할 계기판모듈(10)의 모델에 따라서 다양한 사이즈와 형상으로 마련될 수 있다.The pallet 120 may be provided in various sizes and shapes depending on the model of the instrument panel module 10 to be aged.

상기 이송부(130)는 입구(111)로부터 상승공간(110a)의 상부까지 팔렛(120)을 이송시키는 상승 이송부(131)와, 하강공간(110b)의 상부에서 출구(113)까지 팔렛(120)을 이송시키는 하강이송부(133) 및 상승이송부(131)의 팔렛(120)을 하강이송부(133)로 이동시키는 수평이송부(135)를 구비한다.The transfer unit 130 includes a rising transfer unit 131 that transfers the pallet 120 from the entrance 111 to the upper part of the rising space 110a, and a pallet 120 from the upper part of the lowering space 110b to the exit 113. It is provided with a downward transfer unit 133 that transfers and a horizontal transfer unit 135 that moves the pallet 120 of the upward transfer unit 131 to the lower transfer unit 133.

상승이송부(131)는 상승공간(110a)에서 상하로 무한궤도상을 주행하도록 설치되는 상승컨베이어(131a)와, 상승 컨베이어(131a)에 일정 간격으로 배치되어 팔렛(120)이 장착되는 팔렛 장착부(131b)를 가진다. 상승컨베이어(131a)는 미도시된 구동부에 의해서 구동되는 구동풀리 또는 구동스프라켓에 의해서 무한궤도상을 주행하며, 그 주행속도를 제어부(160)에 의해 제어된다. 이러한 상승 이송부(131)에 의해서 입구(111)에서 팔렛 장착부(131b)에 장착된 팔렛(120)이 상승공간(110a)의 상부로 이동된 후, 수평이송부(135)에 의해서 하강이송부(133)로 옮겨질 수 있다.The rising conveyor 131 includes a rising conveyor 131a installed to travel on an endless track up and down in the rising space 110a, and a pallet mounting unit disposed at regular intervals on the rising conveyor 131a and on which the pallet 120 is mounted. It has (131b). The rising conveyor 131a travels on an endless track by a driving pulley or driving sprocket driven by a driving unit (not shown), and its traveling speed is controlled by the control unit 160. After the pallet 120 mounted on the pallet mounting unit 131b at the entrance 111 is moved to the upper part of the rising space 110a by this upward transfer unit 131, the downward transfer unit ( 133).

하강이송부(133)는 상승 이송부(131)와 동일한 구조 즉, 하강공간(110b)에서 상하로 무한궤도를 주행하는 하강컨베이어(133a)와, 하강컨베이어(133a)에 일정 간격으로 배치되는 팔렛장착부(133b)를 가진다. 이러한 하강이송부(133)는 하강공간(110b)의 상부에서 수평이송부(135)에 의해 상승이송부(131)에서 이동된 팔렛(120)을 넘겨받아서 출구(113) 쪽으로 이동시키는 역할을 한다. 상기 하강컨베이어(133a)의 구동속도도 제어부(160)에 의해 제어된다.The lowering conveyor 133 has the same structure as the rising conveyor 131, that is, a lowering conveyor 133a that travels in an endless orbit up and down in the lowering space 110b, and a pallet mounting unit disposed at regular intervals on the lowering conveyor 133a. It has (133b). This lowering transport unit 133 takes over the pallet 120 moved from the upward transport unit 131 by the horizontal transport unit 135 at the upper part of the lowering space 110b and serves to move it toward the exit 113. . The driving speed of the lowering conveyor 133a is also controlled by the control unit 160.

상기 수평이송부(133)는 제1이송부(131)에 의해서 상부공간(110a)의 상부로 이동된 팔렛(120)을 하부공간(110b)의 상부에 위치한 제2이송부(133)의 팔렛장착부(133)로 이동시킨다. 이러한 수평이송부(133)는 팔렛(120)을 밀어서 이동시킬 수 있도록 에이징 챔버(110)에 설치되어 수평구동되는 액추에이터를 구비할 수 있다. 물론, 이외에도 수평이송부(133)는 에이징 챔버(110) 내부에서 수평 이동되면서 팔렛(120)을 이동시키는 픽업수단을 구비할 수도 있다. 이처럼 수평이송부(133)는 대상물을 수평이동시킬 수 있는 다양한 공지의 기술이 적용될 수 있으며, 특정 실시예에 의해서 한정되는 것은 아니다.The horizontal transfer unit 133 moves the pallet 120 to the upper part of the upper space 110a by the first transfer unit 131 to the pallet mounting part of the second transfer unit 133 located at the upper part of the lower space 110b ( 133). This horizontal transfer unit 133 may be provided with an actuator installed in the aging chamber 110 and driven horizontally so that the pallet 120 can be pushed and moved. Of course, in addition, the horizontal transfer unit 133 may be provided with a pickup means for moving the pallet 120 while moving horizontally within the aging chamber 110. In this way, the horizontal transfer unit 133 can apply various known technologies for horizontally moving an object, and is not limited to a specific embodiment.

여기서, 상기 팔렛장착부(131a,133a)는 미도시된 가이드를 따라서 수평자세로 상하 이동가이드되고, 수평이동시에는 수평자세로 유지되도록 가이드되어 이동이 가능하게 된다.Here, the pallet mounting portions 131a and 133a are guided to move up and down in a horizontal position along a guide (not shown), and are guided to be maintained in a horizontal position during horizontal movement to enable movement.

상기 열풍유닛(140)은 에이징 챔버(110) 내부의 온도를 설정된 소위 에이징온도 범위로 가열하기 위한 것으로서, 히터와 송풍팬을 구비할 수 있다. 바람직하게는, 열풍유닛(140)은 상승공간(110a)을 가열하기 위해 상승공간(110a)에 설치되는 제1열풍유닛(141)과, 하강공간(110b)을 가열하기 위해 하강공간(110b)에 설치되는 제2열풍유닛(143)을 구비하는 것이 좋다. 각 열풍유닛(141,143)은 히터(141a,143a)와, 송풍팬(141b,143b)을 구비한다. 이러한 구성에 의하면, 제어부(160)에 의해서 제1 및 제2열풍유닛(141,143)이 독립적으로 구동제어됨으로써, 에이징 챔버(110) 내부의 온도를 원하는 범위의 온도로 용이하게 제어할 수 있다.The hot air unit 140 is used to heat the temperature inside the aging chamber 110 to a set so-called aging temperature range, and may be equipped with a heater and a blowing fan. Preferably, the hot air unit 140 includes a first hot air unit 141 installed in the rising space 110a to heat the rising space 110a, and a lowering space 110b to heat the lowering space 110b. It is advisable to have a second hot air unit 143 installed in. Each hot air unit (141, 143) is provided with heaters (141a, 143a) and blowing fans (141b, 143b). According to this configuration, the first and second hot air units 141 and 143 are independently driven and controlled by the control unit 160, so that the temperature inside the aging chamber 110 can be easily controlled to a desired temperature range.

상기 모니터링부(150)는 제1온도센서(151)와, 제2온도센서(153)를 구비한다.The monitoring unit 150 includes a first temperature sensor 151 and a second temperature sensor 153.

제1온도센서(151)는 에이징챔버(110) 내부의 상부온도를 측정하여 제어부(160)로 제공하고, 제2온도센서(153)는 출구(113)쪽 온도를 측정하여 제어부(160)로 제공한다. 제어부(160)는 상기 제1 및 제2온도센서(151,153)에서 측정된 온도차를 근거로 하여 열풍유닛(140)의 구동을 제어함으로써, 에이징 대상물의 모델별 적정 에이징온도가 되도록 에이징챔버(110) 내부온도를 제어할 수 있다. 따라서, 에이징 효율을 높이고, 신뢰성을 높일 수 있다.The first temperature sensor 151 measures the upper temperature inside the aging chamber 110 and provides it to the control unit 160, and the second temperature sensor 153 measures the temperature at the outlet 113 and provides it to the control unit 160. to provide. The control unit 160 controls the operation of the hot air unit 140 based on the temperature difference measured by the first and second temperature sensors 151 and 153, thereby adjusting the aging chamber 110 to an appropriate aging temperature for each model of the aging object. The internal temperature can be controlled. Therefore, aging efficiency can be increased and reliability can be improved.

또한, 상기 제어부(160)는 입구측 테스터(180)와 출구측 테스터(190)를 각각 구동제어한다. 즉, 제어부(160)는 먼저 입구(111)에 장착되어 위치한 팔렛(120)의 커넥터부(121a)에 입구측 테스터(180)가 전기적으로 접속하도록 이동제어하여 전기를 제공하여, 에이징 처리 전의 계기판모듈(10)을 테스트하도록 한다. 그리고 제어부(160)는 출구(113)로 나온 팔렛(120)의 커넥터부(121a)에 출구측 테스터(190)가 전기적으로 접속하도록 제어하여, 에이징처리된 계기판모듈(10)을 전기적으로 테스트한다.Additionally, the control unit 160 controls the operation of the inlet tester 180 and the outlet tester 190, respectively. That is, the control unit 160 first controls the movement of the entrance tester 180 to electrically connect to the connector part 121a of the pallet 120 located at the entrance 111 and provides electricity, so that the instrument panel before aging treatment Let's test the module (10). And the control unit 160 controls the outlet tester 190 to be electrically connected to the connector part 121a of the pallet 120 coming out of the outlet 113, and electrically tests the aged instrument panel module 10. .

상기 입구측 테스터(180)와 출구측 테스터(190) 각각은, 전 후진 이동되는 리니어모터에 의해 테스터 접속모듈이 전 후진 이동되어, 팔렛(120)의 커넥터부(121a)에 접속 및 분리됨으로써, 팔렛(120)에 전기를 제공하거나 단락되어 테스트공정을 할 수 있다. 이러한 입구측 및 출구측 테스터(180,190) 각각의 구체적인 구성이 본 발명을 한정하는 것이 아니므로, 자세한 설명은 생략한다.Each of the inlet tester 180 and the outlet tester 190 is connected to and separated from the connector portion 121a of the pallet 120 by moving the tester connection module forward and backward by a linear motor that moves forward and backward, The test process can be performed by providing electricity to the pallet 120 or by short-circuiting it. Since the specific configuration of each of the inlet and outlet testers 180 and 190 does not limit the present invention, detailed description will be omitted.

상기 저장부(171)에는 에이징 처리할 계기판모듈(10)의 모델별 에이징 조건 즉, 상기 제1 및 제2온도센서(151,153)에서의 온도차에 다른 모델별 에이징온도와 시간 등의 정보가 저장된다. 저장부(171)에 저장되는 정보는 입력부(173)를 통해 입력된다.The storage unit 171 stores aging conditions for each model of the instrument panel module 10 to be aged, that is, information such as aging temperature and time for each model depending on the temperature difference between the first and second temperature sensors 151 and 153. . Information stored in the storage unit 171 is input through the input unit 173.

상기 구성을 가지는 에이징 장치를 이용하여 계기판모듈(10)을 에이징하는 방법에 대해서 설명하기로 한다.A method of aging the instrument panel module 10 using the aging device having the above configuration will be described.

먼저, 에이징 공정이 시작되면, 입구(111)에 위치한 팔렛(120)에 계기판 모듈(10)을 로딩하여 장착한다(S10).First, when the aging process begins, the instrument panel module 10 is loaded and mounted on the pallet 120 located at the entrance 111 (S10).

다음으로 제어부(160)는 입구(111)에서 계기판 모듈(10)이 장착된 팔렛(120)에 입구측 테스터(180)를 접근이동시켜서, 전기적으로 접속한 상태로 전기를 공급하면서 계기판 모듈(10)의 구동상태를 점검한다(S11).Next, the control unit 160 moves the entrance tester 180 to approach the pallet 120 on which the instrument panel module 10 is mounted at the entrance 111, and supplies electricity while electrically connected to the instrument panel module 10. ) Check the driving status (S11).

상기와 같은 방법으로 이송부(130)를 구동하면서, 복수의 계기판 모듈(10)을 팔렛(120)에 장착하여 입구(111)에서 테스트한 후, 에이징 챔버(110) 내부의 상부로 이동시킨다. While driving the transfer unit 130 in the same manner as above, a plurality of instrument panel modules 10 are mounted on the pallet 120 and tested at the entrance 111, and then moved to the upper part of the aging chamber 110.

이때, 제어부(160)는 열풍유닛(140)을 구동하여 에이징챔버(110) 내부의 온도를 에이징 적정범위 온도로 유지한다(S12).At this time, the control unit 160 drives the hot air unit 140 to maintain the temperature inside the aging chamber 110 in an appropriate aging range (S12).

그리고 에이징공정이 이루어지는 동안, 제1 및 제2온도센서(151,153)에서는 에이징챔버(110) 내부의 상부와 출구 쪽 온도를 각각 측정하여 제어부(160)로 제공한다(S13). And while the aging process is taking place, the first and second temperature sensors 151 and 153 measure the temperature at the top and the outlet side of the aging chamber 110, respectively, and provide the measurements to the control unit 160 (S13).

제어부(160)는 상기 단계(S13)에서 측정된 각각의 온도(T1,T2)의 차에 따라서 열풍유닛(140)을 제어하여, 계기판모듈(10) 별로 설정된 에이징온도가 되도록 에이징챔버(110) 내부의 온도를 효과적으로 제어할 수 있다(S14).The control unit 160 controls the hot air unit 140 according to the difference between the temperatures T1 and T2 measured in step S13, so that the aging chamber 110 is set to the aging temperature set for each instrument panel module 10. The internal temperature can be effectively controlled (S14).

그리고 에이징챔버 내부를 입구(111)에서 출구(113) 방향으로 상승 및 하강이동되면서 에이징처리된 계기판모듈(10)은 출구(113)에서 출구측 테스터(190)에 접속되어 전기적인 테스트과정을 거치게된다(S15).Then, while moving upward and downward inside the aging chamber from the inlet 111 to the outlet 113, the aged instrument panel module 10 is connected to the outlet tester 190 at the outlet 113 and undergoes an electrical test process. (S15).

이처럼, 본 발명에 의하면, 입구(111)에서 전기를 인가하여 전기적인 테스트를 하고, 이후에 에이징과정중에는 전기적인 연결이 단락된 상태로, 에이징 챔버(110) 내부의 하부에서 상부로 이동하다가 다시 하부로 이동되어 출구(113)에서 가열된 상태로 출구측 테스터(190)에 의해 전기를 공급받아 전기적인 테스트를 거치게 된다. 따라서, 전기소모량을 획기적으로 줄일 수 있게 된다.In this way, according to the present invention, electricity is applied at the inlet 111 to conduct an electrical test, and then during the aging process, the electrical connection is short-circuited and moves from the bottom to the top inside the aging chamber 110 and then again. It is moved to the bottom, heated at the outlet 113, supplied with electricity by the outlet tester 190, and subjected to an electrical test. Therefore, electricity consumption can be dramatically reduced.

또한, 에이징 챔버(110) 내부에서 열풍가열에 의해 계기판 모듈(10)이 전체적으로 균일하게 가열되되, 에이징챔버(110) 내부에서도 상하로 이동되면서 에이징처리되므로, 상하 온도차에 의한 문제를 해결할 수 있게 된다.In addition, the instrument panel module 10 is heated uniformly as a whole by hot air heating inside the aging chamber 110, and is also aged while moving up and down inside the aging chamber 110, making it possible to solve the problem caused by the upper and lower temperature difference. .

또한, 에이징 챔버(110) 내부의 상부 및 하부의 온도차를 측정하여 열풍가열 온도를 제어함으로써, 계기판 모듈별로 설정된 에이징온도범위로 제어하여 신뢰성을 좁일 수 있게 된다.In addition, by measuring the temperature difference between the upper and lower parts of the aging chamber 110 and controlling the hot air heating temperature, reliability can be narrowed by controlling the aging temperature range set for each instrument panel module.

앞에서, 본 발명의 특정한 실시예가 설명되고 도시되었지만 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 일이다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 기술적 사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어서는 안 되며, 변형된 실시예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.Although specific embodiments of the present invention have been described and shown above, it is known in the art that the present invention is not limited to the described embodiments, and that various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. This is self-evident to those who have it. Accordingly, such modifications or variations should not be understood individually from the technical idea or viewpoint of the present invention, and the modified embodiments should be regarded as falling within the scope of the claims of the present invention.

10..계기판 모듈 110..에이징 챔버
120..팔렛 130..이송부
140..열풍유닛 150..모니터링부
160..제어부 171..저장부
173..입력부 180..입구측 테스터
190..출구측 테스터
10..Instrument panel module 110..Aging chamber
120..Pallet 130..Transfer unit
140..Hot air unit 150..Monitoring unit
160..Control unit 171..Storage unit
173..Input unit 180..Inlet tester
190..Exit side tester

Claims (5)

입구와 출구가 하부에 배치되는 에이징 챔버;
상기 에이징 챔버의 내부에서 상기 입구와 출구를 경유하여 상하방향으로 주행 가능하게 설치되어, 에이징 대상물을 수용한 팔렛을 상하 이동시키는 이송부;
상기 에이징 챔버 내부를 승온시키기 위한 열풍유닛;
상기 에이징 챔버 내부의 상부 및 하부 복수 지점의 온도를 측정하기 위한 모니터링부;
상기 모니터링부에서 측정된 온도차를 근거로 하여 상기 열풍유닛의 가열온도를 제어하는 제어부;
상기 에이징 챔버의 입구로 진입하기 전의 팔렛에 장착된 대상물을 전기적으로 접속하여 테스트하는 입측 테스터부; 및
상기 에이징 챔버의 출구로 나온 팔렛에 장착된 대상물을 전기적으로 접속하여 테스트하는 출측 테스터부;를 포함하며,
상기 에이징 챔버에서, 상기 입구 및 출구는 하부에 상호 이격되게 배치되고, 내부 공간은 입구에서 상부로 연장되는 상승공간과 격벽에 의해 상기 상승공간과 격리되는 하강공간이 형성되며, 상기 상승공간과 하강공간의 상부는 서로 연통되어 상기 팔렛이 상승공간에서 하강공간으로 수평 이동되며,
상기 이송부는, 상기 입구부터 상승공간의 상부까지 상기 팔렛을 이송시키는 상승 이송부, 상기 하강공간의 상부에서 출구까지 팔렛을 이송시키는 하강 이송부 및 상기 팔렛을 상승 이송부에서 하강 이송부로 수평 이동시키는 수평 이송부를 포함하며,
상기 입측 테스터부 및 출측 테스터부는, 전후진 이동시키는 리니어모터에 의해 테스터 접속모듈이 전후진 이동되어 상기 팔렛의 커넥터부에 접속 및 분리됨으로써 상기 팔렛에 전기를 제공하거나 단락시켜 테스트 공정을 진행하는 것을 특징으로 하는 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 장치.
an aging chamber in which an inlet and an outlet are disposed at the bottom;
A transfer unit installed to be movable in an upward and downward direction through the inlet and outlet within the aging chamber to move a pallet containing an aging object up and down;
A hot air unit for increasing the temperature inside the aging chamber;
a monitoring unit for measuring temperatures at multiple points at the top and bottom of the aging chamber;
a control unit that controls the heating temperature of the hot air unit based on the temperature difference measured by the monitoring unit;
An entrance tester unit that electrically connects and tests an object mounted on a pallet before entering the entrance of the aging chamber; and
It includes an exit tester unit that electrically connects and tests an object mounted on a pallet exiting the aging chamber,
In the aging chamber, the inlet and outlet are arranged to be spaced apart from each other in the lower part, and the internal space is formed by a rising space extending from the inlet to the upper part and a lowering space isolated from the rising space by a partition wall, and the rising space and the lowering space are formed. The upper parts of the spaces communicate with each other so that the pallet moves horizontally from the ascending space to the descending space,
The transfer unit includes a rising transfer unit that transfers the pallet from the entrance to the upper part of the rising space, a lowering transfer unit that transfers the pallet from the upper part of the lowering space to the exit, and a horizontal transfer unit that horizontally moves the pallet from the rising transfer unit to the lowering transfer unit. Includes,
The entrance tester unit and the exit tester unit move the tester connection module forward and backward by a linear motor that moves forward and backward to connect and disconnect the connector part of the pallet, thereby providing or short-circuiting electricity to the pallet to proceed with the testing process. Features a vehicle OLED instrument panel module aging device.
제1항에 있어서, 상기 모니터링부는,
상기 에이징 챔버 내부의 상부 중앙부분의 온도를 측정하는 상부 온도센서; 및
상기 에이징 챔버의 출구부분의 온도를 측정하는 하부 온도센서;를 포함하는 것을 특징으로 하는 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 장치.
The method of claim 1, wherein the monitoring unit,
An upper temperature sensor that measures the temperature of the upper central portion of the aging chamber; and
An OLED instrument panel module aging device for a vehicle, comprising a lower temperature sensor that measures the temperature of the outlet portion of the aging chamber.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 에이징 대상물은 차량용 OLED 계기판모듈인 것을 특징으로 하는 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 장치.
According to paragraph 1,
An OLED instrument panel module aging device for a vehicle, characterized in that the aging object is an OLED instrument panel module for a vehicle.
제1항, 제2항 및 제4항 중 어느 하나의 항에 의한 차량용 OLED 계기판모듈 에이징 장치의 에이징챔버의 하부에 위치한 입구에 위치한 팔렛에 에이징처리할 차량용 OLED 계기판 모듈을 투입하는 단계;
상기 입구에서 차량용 OLED 계기판 모듈을 전기적으로 테스트하는 단계;
상기 입구에서 상기 팔렛을 상부로 이동 후, 다시 하강시켜서 상기 에이징챔버의 하부에 위치한 출구로 이동시키면서, 상기 에이징챔버 내부를 열풍가열하는 단계;
상기 에이징챔버 내부의 상부온도(T1)와, 상기 출구 측의 하부온도(T2)의 차를 측정하는 단계;
상기 상부온도(T1)와 하부온도(T2)의 차이를 근거로 하여 상기 에이징챔버 내부의 열풍온도를 조절하는 단계; 및
상기 출구로 이동된 팔렛에 장착된 차량용 OLED 계기판 모듈을 전기적으로 테스트하는 단계;를 포함하며,
상기 입구 및 출구에서 전기적으로 테스트하는 단계는,
리니어모터에 의해 테스터 접속모듈을 전후진 이동시키고 상기 팔렛의 커넥터부에 접속 및 분리됨으로써 상기 팔렛에 전기를 제공하거나 단락시켜 테스트 공정이 진행되는 것을 특징으로 하는 차량용 OLED 계기판 모듈 에이징방법.
Inserting a vehicle OLED instrument panel module to be aged into a pallet located at the entrance located at the bottom of the aging chamber of the vehicle OLED instrument panel module aging device according to any one of claims 1, 2, and 4;
Electrically testing the vehicle OLED instrument panel module at the entrance;
Moving the pallet upward from the inlet, then lowering it again and moving it to an outlet located at the bottom of the aging chamber, while heating the inside of the aging chamber with hot air;
Measuring the difference between the upper temperature (T1) inside the aging chamber and the lower temperature (T2) at the outlet side;
Adjusting the hot air temperature inside the aging chamber based on the difference between the upper temperature (T1) and the lower temperature (T2); and
It includes electrically testing the vehicle OLED instrument panel module mounted on the pallet moved to the exit,
The step of electrically testing at the inlet and outlet is,
An automotive OLED instrument panel module aging method, characterized in that the test process is carried out by moving the tester connection module forward and backward using a linear motor and connecting and disconnecting to the connector part of the pallet to provide electricity to the pallet or short-circuit it.
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